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UNIVERSIDAD AUTÓNOMA DEL ESTADO DE HIDALGO INSTITUTO DE CIENCIAS BASICAS E INGENIERÍA AREA ACADEMICA DE COMPUTACION

Alumna: L.S.C. Esbeidy Alejandra Hernandez Salazar

Tema : Obtención de Parámetros de una Imagen Tridimensional para su Aplicación en Micro sensores Asesores de tesis: Dr. Heberto Gómez Pozos Dr. José Luis González Vidal

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CONTENIDO
1.- Introducción 2.- Métodos Analizados y Ejemplos 3.- Conclusión

L.S.C. Esbeidy Alejandra Hernandez Salazar

L. que en el presente análisis se pretende conocer las técnicas mas esenciales en el estudio de la microestructura de los materiales. Cristalografía de Rayos X. su utilización e interpretación de resultados Los técnicas a estudiar y analizar cada función son la Difracción de Rayos X. Esbeidy Alejandra Hernandez Salazar . Microscopio Electrónico de Barrido y por último el Microscopio Electrónico de Transmisión. Así como la información que se puede adquirir con cada técnica.S. De ahí.INTRODUCCIÓN 3 Resulta bastante evidente que el conocimiento de la estructura real de los sólidos es fundamental y necesario para interpretar y relacionar estas propiedades. Microscopio de Fuerza Atómico.C.

Método s 4 Rayos X Los rayos X son ondas electromagnéticas producidas por la desaceleración de los electrones cuando se detienen en un blanco. Los rayos X son una radiación de elevada energía y pequeña longitud de onda. Esbeidy Alejandra Hernandez Salazar . Los rayos x fueron descubiertos por Roentgen en 1895. mientras trabajaba con un tubo de rayos catódicos. la cual se encuentra entre 10-8 y 10-12 m.C. L.S.

C.Rayos X 5 L.S. Esbeidy Alejandra Hernandez Salazar Ejemplo de Rayos .

es decir. .S.Método s 6 Difracción de Rayos X (DRX) Es una técnica que sirve para determinar la estructura detallada de un material. Debido a este ordenamiento podemos determinar propiedades tanto físicas como químicas de los materiales.C. permite conocer la posición que ocupan los átomos. Los actuales sistemas digitales permiten la obtención y visualización de la imagen radiográfica directamente en Alejandracomputadora sin necesidad una Hernandez Salazar L. Esbeidy de imprimirla. iones o moléculas que lo forman.

Formas cristalinas 7 L. Esbeidy Alejandra Hernandez Salazar .S.C.

S. Esbeidy Alejandra Hernandez Salazar .Orientación cristalina 8 Z Y (1 1 0) X Y Z X Orientación Del Resultado Del Espectro L.C.

) ZnO:F ZnO:Al 20 30 40 50 60 80 2 (deg) El análisis de la Difracción de Rayos X A COMPARATIVE STUDY ON GAS SENSING PROPERTIES OF ZNO:RU AND ZNO:CR FILMS IN PROPANE ATMOSPHERE. GONZÁLEZ-VIDAL. OLVERA. DRX .Esbeidy Alejandra Hernandez Salazar L.patrones de (a) polvo sinterizado y (b) polvo oxidado (004) . MEXICO. a. H. M.C. QUINTANA ROO. CANCUN. L. GÓMEZ. XX INTERNATIONAL MATERIALS RESEARCH CONGRESS.(002) (101) (102) (103) (112) 70 ZnO:In ZnO:Ga 9 Relative intensity (u. DE LA L.. J. 14-19 DE AGOSTO DE 2011. ARTURO MALDONADO.S.

el haz se divide en varias direcciones debido a la simetría y agrupación de los átomos y.S. da lugar a un patrón de intensidades que puede interpretarse según la ubicación de los átomos de los cristales.Método s 10 Cristalografía de Rayos X Es una técnica que utiliza un haz de rayos X que atraviesa un cristal. Al entrar en contacto con el cristal.C. Esbeidy Alejandra Hernandez Salazar . L. por difracción.

Esbeidy Alejandra Hernandez Salazar .S. L. tomadas de una base de datos cristalográfica.Cristalografía de Rayos X 11 Se simulan diferentes diagramas de difracción a partir de la información estructural de minerales.C.

S.C. Esbeidy Alejandra Hernandez Salazar .Cristalografía de Rayos X 12 Estructura de átomos del estaño (Sn) Estructura cristalográfica del estaño (Sn) L.

Esbeidy Alejandra fuerzaSalazar los átomos del midiendo la Hernandez de . se trata de una aguja minúscula (apenas 5 nanómetros) que va recorriendo a cierta distancia la superficie de un material y L.Método s 13 Microscopio de Fuerza Atómica (AFM) Microscopia de Fuerzas Atómicas (AFM) permite visualizar los materiales y muchas de sus propiedades con una extraordinaria resolución espacial.S.C. Explicado de forma sencilla. Su funcionamiento se basa en la detección de las minúsculas fuerzas atómicas o moleculares de interacción entre una punta y la superficie del material a estudiar.

S.C.Microscopio de Fuerza Atómica (AFM) 14 Representación esquemática de los componentes de un microscopio de fuerza atómica (AFM) L. Esbeidy Alejandra Hernandez Salazar .

Esbeidy Alejandra Hernandez Salazar .Microscopio de Fuerza Atómica (AFM) 15 Ejemplos del Laboratorio AFM L.C.S.

C.Método s 16 Microscopio Electrónico de Barrido (SEM) Es aquel que utiliza un haz de electrones en lugar de un haz de luz para formar una imagen.S. Esbeidy Alejandra Hernandez Salazar . También produce imágenes de alta resolución. que significa que características especialmente cercanas en la muestra pueden ser examinadas a una alta magnificación L.

ARTURO MALDONADO. Hernandez Salazar MATERIALS Esbeidy AlejandraCANCUN. L. QUINTANA ROO. RESEARCH CONGRESS.Microscopio Electrónico de Barrido (SEM) 17 Como se muestra en la Figura superficies morfológicas diferentes. OLVERA. J. M. GONZÁLEZ-VIDAL.C. MEXICO. . XX INTERNATIONAL L. se observan las películas delgadas de ZnO. A COMPARATIVE STUDY ON GAS SENSING PROPERTIES OF ZNO:RU AND ZNO:CR FILMS IN PROPANE ATMOSPHERE. DE LA L. 14-19 DE AGOSTO DE 2011.S. H. GÓMEZ. la morfología de las superficies de las películas es fuertemente dependiente del tipo de los átomos dopantes.

o para ser detectada por un sensor tal como un CCD cámara . Se forma una imagen a partir de la interacción de los electrones de transmisión a través del espécimen. L.Método s 18 Microscopía electrónica de transmisión (TEM) Es una microscopía técnica mediante la cual un haz de electrones se transmite a través de un espécimen ultra fino.C. sobre una capa de película fotográfica . tales como una pantalla fluorescente . interactuando con el espécimen.S. la imagen es ampliada y centrada en un dispositivo de imágenes. Esbeidy Alejandra Hernandez Salazar .

C. .S. Esbeidy Alejandra Hernandez Salazar Las micrografías TEM de (a) el polvo tal como se sintetiza y (b) el polvo oxidado.Microscopía electrónica de transmisión (TEM) 19 L.

CRISTALOGRAFIA.Conclusión 20 Las técnicas de análisis de superficies y estructuras de materiales en este caso nosotros utilizamos semiconductores (DRX. tiene una funcionalidad (relación estructura-propiedades-funcionalidad). AFM.S. ya que se pretende desarrollar un software de análisis de espectros de rayos X y de micrografías de películas delgadas para la comparación de composición superficial L. TEM) son técnicas útiles y potenciales para el estudio de la microestructura y morfología. así como también para entender la relación de la estructura que da cierta propiedad y que a su vez.C. Esbeidy Alejandra Hernandez Salazar . Estas técnicas nos dan como resultado un espectro o una imagen digital proporcionada por su respectivo aparato. SEM. la cual será útil para poder cumplir el objetivo de la tesis a realizar.

S.C. Cancun.S. Anqiang Pana. J. India Jae-pyoung Ahn. H. Rao Indian Institute Of Chemical Technology. India Fabrication Of Nanostructured Superhydrophobic Film On Aluminum By Controllable Immersing Method Ruomei Wua. Indian Institute Of Chemical Technology.Bibliografía 21 Sensitivity Behavior Of Tin Oxide Based Semiconducting Sensor For Fluorocarbons B.Com 2004 •Tin Dioxide Base Sensors For The Detection Of Liquified Petromeum Gas G. Mexico. Hyderabad 500 007. Xx International Materials Research Congress. González-vidal. Madhavendra Inorganic An Physical Chemistral Division. V.Sciencedirect. S. Shuquan Lianga. . Rao . M. Jong-ku Park. J. Moo-young Huh Microstructure And Gas. De La L.S. Olvera. Esbeidy Alejandra Hernandez Salazar De Agosto De 2011. 14-19 L. Arturo Maldonado. A Comparative Study On Gas Sensing Properties Of Zno:ru And Zno:cr Films In Dikai Guana. Hyderabad 500 007.B. Zhiqing Yuanb. Ya Yua Propane Atmosphere. Jung Han Kim. Quintana Roo.b. L.Trivikrama Rao.Sensing Properties Of Thick Film Sensor Using Nanophase Sno2 Powder Www. Xiaoping Tana. Yan Tanga.∗. Gómez.