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captulo 3

3. materiales cristalinos
-Estructura cristalina: Conceptos
Fundamentales,
celda unidad,
- sistemas cristalinos,
- Polimorfismo y altropo
- Direcciones y planos cristalogrficos,
anisotropa,
- Determinacin de la estructura cristalina por
difraccin de rayos X.
captulo 3
La estructura de slido cristalino
Por qu estudiar la estructura de los slidos
cristalinos?
Las propiedades de algunos materiales estn directamente relacionadas con sus
estructuras cristalinas.
por ejemplo, magnesio y berilio tiene la misma estructura se deforman
mucho menos que el oro y la plata que tiene una estructura cristalina
diferente.

Se explica diferencias significativas en las propiedades mostradas por materiales


cristalinos y no cristalinos que tienen la misma composicin.

Ejemplo: cermicas y polmeros no cristalinos suelen ser pticamente


transparente; los mismos materiales en forma cristalina tienden a ser
opaco, o, en el mejor, translcido.
Estructuras de cristal (CONT.)

Los materiales slidos se pueden clasificar


en cristalina o no cristalina de acuerdo
con la regularidad en el que los tomos o
iones estn dispuestos en relacin con sus
vecinos.
material cristalino Es que en el que los
tomos estn orden a travs de largas
distancias atmicas formando una
estructura tridimensional que se llama red
cristalina
Todos los metales, muchas cermicas y
algunos polmeros forman estructuras
cristalinas en condiciones normales de
solidificacin
El cristal perfecto - Estructura de cristal
Muchos materiales - metales, cermicas, algunas algunos
polmeros - para solidificar, se organizan en una red geomtrica
3D - la celosa.
estos materiales cristalinoTienen una estructura altamente
organizada, en contraposicin a los materiales amorfoEn el que
no hay es orden de largo alcance.
Cristal 1

frontera

Cristal 2
Lmite entre dos cristales de TiO2. carbono amorfo.
Tenga en cuenta la organizacin geomtrica de Tenga
los tomos.
en cuenta la posicin de los tomos en el desord
Las imgenes de microscopa electrnica de transmisin (TEM).
nosotros Materiales no cristalinos y amorfos no hay ninguna orden de
largo alcance en disposicin de los tomos

tomos espaciales regulares La planificacin solo cortas distancias

Las propiedades de los materiales slidos cristalinos depende de la


estructura cristalina, es decir, la forma en que los tomos, iones o
molculas estn dispuestas espacialmente.

Un gran nmero de diferentes estructuras de cristal a partir de


estructuras simples mostrados por los metales incluso estructuras ms
complejas exhibidas por cermicas y polmeros
Unidad celular
(unidad bsica repetitiva de la estructura tridimensional)
A medida que la red cristalina tiene una estructura
repetitiva, puede describirlo de una estructura bsica,
como por ejemplo un "ladrillo" que se repite en todo el
espacio.

clulas no unitario

Unidad celular
Ms pequeo "ladrillo" que
repite juega la red cristalina
celda unidad (CONT.)
(Unidad bsica repetitiva de la estructura tridimensional)

Se compone de pequeos grupos de tomos que forman un patrn de


repeticin a lo largo de la estructura tridimensional (analoga de los
eslabones de la cadena)
La celda unitaria se elige para representar la simetra de la estructura
cristalina

Los tomos se representan como esferas rgidas


sistemas cristalinos
Estos sistemas incluyen todas las posibles geometras de
divisin de espacio por superficies planas continuas
reticular

x, y, z = ejes Unidad celular


a, b, c = longitudes de borde de
, , = La inter-ngulos
7 Sistemas cristalinos
Slo hay 7 tipos de celdas unitarias que llenan
completamente el espacio

cbico tetragonal ortorrmbica


a = b = c, a = bc, labc,

rombodrica hexagonal * monoclnico triclnico


a = b = c, a = bc, labc, labc,
sistemas cristalinos y de red Bravais
Los sistemas cristalinos son nicas entidades geomtricas.
Cuando se coloca dentro de estos tomos de formar sistemas de
redes (o estructuras) de cristal.
Slo hay 14 redes que permiten el espacio 3D completa.

Vamos a estudiar slo el ms simple de las redes:

un simple cbico - CS (CS - cbica simple)


la centrada en el cuerpo cbico - CCC (bcc - centrada en el cuerpo
cbico)
centrada en las caras CFC cbico - (fcc - cara cbica centrada)
el compacto hexagonal - hc (hcp - hexagonal lleno)
AS 14 redes de Bravais

De los siete sistemas cristalinos podemos identificar 14


tipos diferentes de clulas unitarias, conocidos a las redes
de Bravais. Cada una de estas celdas unitarias tienen
ciertas caractersticas que ayudan a diferenciarlas de las
otras celdas unitarias. Adems, estas caractersticas
tambin ayudan en la definicin de las propiedades de un
material particular.
Las 14 redes de Bravais

cbica simple Centrada en el Centrada cara cbica sencilla Centrada en el


cuerpo cbico tetragonal cuerpo tetragonal

sencilla Ortorrrmbica Ortorrrmbica Base Ortorrrmbica simple


Ortorrrmbica centrada en el cuerpo Centrado centrada en las rombodrica
caras

hexagonal monoclnica Monoclnico Base triclnico


sencilla Centrado
Polimorfismo o altropo
Algunos metales y no metales pueden tener ms de
una estructura cristalina dependiendo de la
temperatura y la presin. Este fenmeno se conoce
comopolimorfismo.

cambios Generalmente polimrficas son


acompaados por cambios en la densidad y los
cambios en otras propiedades fsicas.
Ejemplo MATERIALES polimorfismo
ANEXO

hierro
titanio
Carbono (grafito y Diamente)
SiC (20 alcanza modificaciones cristalinas tienen)
Etctera
altropo HIERRO
A temperatura ambiente, Hierro
ccc de 1394PF-C tiene estructura ccc, nmero de
coordinacin 8, factor de
embalaje de 0,68 y un radio
atmico de 1241.
CFC de 910-1394C el 910C, la hierro pasa
estructura cfc, nmero de
coordinacin 12, el factor de
0,74 y un radio atmico de
1.292 embalaje.
ccc para 910C
el 1394C hierro se remonta a
ccc.
Las estructuras cristalinas de los
metales
Como el enlace metlico no es direccional no hay
restricciones principales sobre el nmero y posicin de los
tomos vecinos. Por lo tanto, los metales tienen alta
apilamiento CN y compacto.

La mayora de los metales estn en la estructura de red CFC,


ccc y HC
A partir de ahora representamos a los tomos como esferas
rgidas que tocan. Las esferas estn centrados en los puntos
de la red.
La red ccc
La red cbica es una red cbica centrada en el cuerpo en el que
hay un tomo en cada vrtice y un tomo en el centro del cubo.
Los tomos se tocan a lo largo de la diagonal.
factor de empaquetamiento atmico
(APF - factor de empaquetamiento
atmico)
Volume(tomos)
FEA
la Volume(clula)
R N (tomos)V (1tomo)
3

a
4
N (tomos) R 3
1 tomo de toda tomo de 1/8 3

a3
Nmero de tomos en la celda unidad
4 8 3
En 8x + 1 = (1/8) = 2 2 R 3 R
3 3 3
Relacin entre aer FEAccc 3
3
0,68
4 R = a3 => a = 4R /3 NC = 8 4R 64 R 8

Fe, Cr, W cristalizan en ccc 3 3 3
estructura cristalina cbica centrada en el Cuerpo (CCC)

2 tomos / cu
NC = 8
FEA = 0,68
Cr, Fe (a) W
La red de CFC
La red cbica es una red cbica centrada en las caras en la cual
hay un tomo en cada vrtice y un tomo en el centro de cada
cara del cubo. Los tomos se tocan a lo largo de la diagonal de
las caras del cubo.

Al, Ag, Cu, Au

la
tomo de 1/8

R
tomo de media
Nmero de tomos en la celda unidad factor de empaquetamiento atmico
NA = 6x1 / 2 + 8 x (1/8) = 4 FEACFC = Volumen de tomos = 0,74
Relacin entre aer volumen celular
4 R = a2 => a = 2R2 NC = 12 La red de CFC es el ms compacto
estructura cristalina cbica centrada en las caras (CFC)

a = parmetro de red
radio R = Atmica

4 tomos / cu
NC = 12
FEA = 0,74
Al, Cu, Au, Pb, Ni, Pt, Ag
EST. HEXAGONAL COMPACT

Cada tomo de tangencia 3


tomos de la capa superior
6 tomos en su propio
plano y la capa inferior 3
del plan
El nmero de coordinacin
para la estructura HC es 12 a = parmetro de red
y por lo tanto el factor de radio R = Atmica
empaquetamiento es el
mismo que cfc, es decir,
0,74. Relacin entre R y:
a = 2R
La red de HC
La red hexagonal compacta puede ser representado por un
prisma hexagonal con la base, la base y la parte superior
tomos, y un plano de tomos en el medio de la altura.
Cd, Mg, Ti, Zn

Nmero de tomos en la celda


unidad
c Na = 12x1 / 6 + 2 x (1/2) = 3 +
6
Relacin entre aer
2R = a
c/2 FEA = 0,74 Carolina del
Norte = 12
La red de HC es tan compacto
como el CFC
la
La red hc (cont.)
Clculo de la relacin c / a vista desde arriba

a/2
30
d
la dcos30 = a / 2
c/2 d3/2 = a / 2
d = a /3

la d
la2 = a2/ 3 + c 2/ 4 c2 8a =2/ 3
la la Motivo w / el ideal
la2 d =2 + (W / 2)c2 / a = 8 /3 = 1,633
sin embargo, este valor vara en metales reale
La red hc (cont.)
Clculo del factor de empaquetamiento atmico

Vatomos
FEA
Vcelula
4
Vatomos 6 r 3 8r 3 vista desde arriba
3
Vcelula Abase Altura Ahexagono c 6 Atriang. c
3
b h a a
Atriang. 2 a2 3
2 2 4
2 3 2 3 8
Vcelula 6 a c 6 a a 3 2a 3 3 2 8r 3 h
4 4 3
60a
3
8r
FEA 0.74
3 2 8r 3
3 2 la
gran empaquetado
El factor de empaquetamiento 0,74, obtenido en HC y redes de
CFC, es el ms grande posible apilar esferas 3D.
la la la
B B
C C C
la la la la
B B B
CFC C C C C
la la la la la
B B B B
C C C
la la la la
B B B
C C
la la la
hc
Apilar los planes compactas de CFC y las estructuras de HC
cristalografa
Con el fin de describir la estructura cristalina es necesario
elegir una notacin para las posiciones, direcciones y planes.
posiciones
Ellos se definen dentro de un cubo de lado unitario.
direcciones cristalogrficas y puntos de retculos
vectores
descomposicin del vector

direccin cristalogrfica
Un vector se coloca de modo que pase por el origen de los sistemas de
coordenadas;
La proyeccin de la longitud del vector para cada uno de los tres ejes es
determinado;
Estos tres nmeros se reducen al nmero entero ms bajo;
Estn representados dentro de corchetes, [UVW]
El contenido de una direccin [120]
x y z
proyecciones a/2 b 0c
proyecciones 1/2 1 0
reducciones 1 2 0
representacin [120]
direcciones cristalogrficas
Las direcciones se definen a partir de la fuente.
Sus coordenadas son dadas por los puntos de cruce del cubo
unitario. Si estos puntos son multiplican fraccional para
enteros.
[0 0 1]

[1 1 1]
[1 -1 1]
1 1 1 [1 0 1/2] = [0 1 2]

[0 0 1]

[1/2 0 1] = [0 1 2]
[1 1 0]
[1 0 0]
direcciones cristalogrficas (cont.)
familias direcciones
Formado en posiciones similares dentro de la estructura
cristalina.
<111> = [111] [111] [111] [111] [111] [111] [111] [111]
ngulo entre las direcciones en el sistema cbico
Dado que el producto escalar entre las direcciones tratados
como vectores.
D vb = agua + wc
D '= u'a + + v'b w'c
Ex: [100] y [010]
D.D '= / A / L / R' / cos cos= 1,0 + 0,1 + 0,0 = 0
1
= 90
cos D.D = '/ / R / / R' / = uu '+ vv' + ww '/ u2+ v2+ w2 u '2+ V '2+ W '2
Ex: [111] y [210]
cos= 1,2 + 1,1 + 1,0 = 3
3.5 5
= 39,2
INSTRUCCIONES EN
CRISTALES

representado
= corchetes [uvw]
Cmo llegar Family:
<UVW>
Algunas de las direcciones
Cmo llegar Family <100>
INSTRUCCIONES EN
CRISTALES
Representado en
parntesis = [hkl]

Si el resta se vuelve
negativa, se coloca un
nmero de barra
ambas direcciones
Pertenecen a la misma
familia?

[101]
INSTRUCCIONES EN
CRISTALES

Representado en
parntesis = [hkl]
Cuando pasa por el
origen
INSTRUCCIONES EN
CRISTALES
Representado en
parntesis = [hkl]

Los nmeros deben ser divididos


o multiplicado por una
factor comn para dar los nmeros
todo
INSTRUCCIONES PARA EL
sistema cbico
La simetra de esta estructura permite que las direcciones equivalentes
se unen para formar una familia de direcciones:
<100> enfrenta a
<110> Las diagonales de las caras
<111> Para cubo diagonal

<110>

<111>
<100>
INSTRUCCIONES PARA EL
SISTEMA CCC
Los tomos ccc sistema
tctil a lo largo del cubo
diagonal, correspondiente a
la familia de direcciones
<111>
A continuacin, la direccin
<111> es el ms alto de
cohesin atmica para el
sistema ccc
INSTRUCCIONES PARA EL
SISTEMA DE CFC
El sistema de tomos de
CFC se tocan a lo largo de
la diagonal de la cara, lo
que corresponde a la
familia de direcciones
<110>
A continuacin, la
direccin <110> es el ms
alto de cohesin atmica
para el sistema de CFC
PLANES cristalina
Por qu son importantes?
Para la determinacin de la estructura cristalinaLos mtodos de
difraccin medir directamente la distancia entre los planos paralelos
de los puntos de la red cristalina. Esta informacin se utiliza para
determinar la red de un parmetros de cristal.

Los mtodos de difraccintambin medir los ngulos entre los planos


de la red. Estos se utilizan para determinar la inter-ngulos de un
cristal.

Para la deformacin plstica


La deformacin plstica (permanente) de tomos de metal se produce
por el deslizamiento, deslizndose una sobre otra en el cristal. Este
deslizamiento tiende a ocurrir preferentemente sobre planes instrucciones
especficas del cristal.
planos cristalogrficos
La notacin para los planes usa ndices de MillerQue
se obtienen de la siguiente manera:
Obtenido el plano de interseccin con los ejes.
Para encontrar la inversa de las intersecciones.
Multiplicar para los nmeros enteros ms pequeos.

Intersecciones: 1/2, 1
Inverse: 2, 0, 1
ndices de Miller: (201)
En el plano de sistema cbico (hkl)
es normal a la direccin [hkl]
1/2
planos cristalogrficos (cont.)

1 11 1/2 11, 1
0, 1, 0 1, 1, 0 0, 2, 0 1, 1, 1
(010) (110) (020) (111)

Donde las
intersecciones de los
ejes no son obvias,
debe ser plana o
mover el origen para
obtener las
intersecciones 1, -1 1, -1, 1
derecha. 1, -1, 0 1, -1, 1
(110) (111)
Planes de la red hexagonal
c
Los tres ejes, la1la2 y3 ejes estn
contenidos dentro de la base
plana;

El ngulo entre ellos es 120la

El eje Z es perpendicular para la3


base plana.

[h' k ' l ' ]


[hkil]
1
la2
i ( h k )
-1
los ndices de Miller-Bravais
, 1, -1,
la1
4 coordenadas
redundancia 0, 1, -1, 0
(1 0 1 0)
la cara del prisma
resumen
instrucciones
[UVW]
familias direcciones
<UVW>
planes
(Hkl) (ndices de Miller)
En hexagonal (hkil) (ndices de Miller-Bravais)
i = - (h + k)
Los planes para familias
{} Hkl
Planes de la familia {110}
Es paralela a un eje
Planes de la familia {111}
3 ejes intercepta
PLANES en el sistema cbico
La simetra del sistema cbico hace que los planes de la familia tienen
la misma densidad y arranjamento

La deformacin de metales implica deslizamiento planos atmicos.


resbaln Se produce con mayor facilidad en los planes y las direcciones
de mayor densidad atmica
Principales planes de densidad atmica
EN EL SISTEMA CCC

La familia de planos
{110} sistema CCC es
de la ms alta densidad
atmica
PLANES DE MAYOR DENSIDAD
ATMICA SISTEMA CFC

La familia de planos
{111} en el sistema de
CFC es la ms alta
densidad atmica

Fuente: Eleani Maria da Costa


DEM / PUCRS
Planar densidad atmica
Anlogo al factor de empaquetamiento atmico, que es la
densidad aparente de los tomos, podemos definir la densidad
planar atmica
rea DAP = total de tomos de rea / Plan de
ejemplo
Calcular los planes DAP {100} en la red de CFC

Nmero total de tomos = 4 * 1 + 1/4 = 2

Total tomo de rea Area = 2 x = 1 Atom 2R2

Plan de rea = a2 y 4 R = a2 => a = 2R2

DAP = 2R2/ a2 = 2R2/ 8R2 =


1 tomo de
tomo de 1/4
Lineal de densidad atmica
Anloga a la DAP puede establecer el densidad atmica lineal
DAL = longitud total de tomos / longitud de una direccin
(Igual al factor de empaquetamiento en una dimensin)
tomos de fracciones interceptados por una lnea de

ejemplo
Calcular la DAL las direcciones <100> Red de CFC

nmero total de tomos = 1 + 1 = 2

Total de radio tomo de longitud = 2 x 2R = 1 tomo de

Longitud de la Direccin = y 4 R = a2 => a = 2R2

DEL = 2R / a = 2R / 2R2 = 1 /2
1/ 2 tomo
Planes y llegar compacto
Como hemos visto, la CFC y las redes son ms densas HC punto
de vista volumtrico.
Por otro lado, en cada red, hay planes y direcciones con
diferentes valores de DAP y DAL.
En cada red, hay una serie de planes y direcciones compactos
(mayor valor de DAP y DAL)

direcciones compactas estn contenidas en los planes


compactos
Estos planes y direcciones sern clave en la deformacin
mecnica de los materiales.
La deformacin mecnica se produce normalmente a travs
de la planos de deslizamiento.
sistemas de deslizamiento
El deslizamiento se produce ms fcilmente en ciertos planes y
direcciones que en otras.

En general, el deslizamiento se produce en paralelo a los planes


compactos que conservan su integridad.

Dentro de un plano de deslizamiento existen direcciones


preferenciales para el deslizamiento.

La combinacin de planos y direcciones forman los sistemas de


deslizamiento (sistemas de deslizamiento), caractersticos de las
diferentes estructuras cristalinas.
deslizamiento sistemas (cont.)
El deslizamiento es ms No densa
plan de
probable en direcciones distancia
planas y compactas ya
que en estos casos la
distancia que la red tiene
que viajar es mnima.
Dependiendo de la
simetra de la estructura, Plan densa
distancia
otros sistemas de
deslizamiento pueden
estar presentes.
deslizamiento sistemas (cont.)

Deslizando un plan compacto Deslizando un plan no compacta


pequeo desliz pequea potencia gran deslizamiento gran energa
Ms probable menos probable
deslizamiento sistemas (cont.)
Nmero de
estructura planes de direcciones de geometra de la
sistemas de Ejemplos
cristalina deslizamiento deslizamiento celda unidad
correderas

{110} 6x2 = 12
CCC {211} <111> 12 -Fc, Mo, W
{321} 24

Al, Cu,
CFC {111} <110> 4x3 = 12
-fe, Ni

{0001}
{1010} 3
Cd, Mg, -ti,
HC {1011} <1120> 3
Zn
6

La tabla muestra los sistemas de deslizamiento de tres redes bsicas. enrojo Al parecer, los principales
sistemas. engrisaparece lado. Por ejemplo: A medida que la red de CFC tiene cuatro veces ms sistemas
primarios que la HC, es mucho ms dctil.
Determinacin de la estructura
pregunta bsica
Cmo puede determinar experimentalmente la estructura
cristalina de un material?
Una buena respuesta
Para estudiar los efectos causados por el material en un haz de
radiacin.
La cual la radiacin sera ms sensible a la estructura?
La radiacin cuya longitud de onda es similar a la
distancia interplanar (del orden de 0,1 nm).
difraccin de rayos X.
El espectro electromagntico

la luz visible

De rayos X microonda

gama UV infrarrojos ondas de radio

Longitud de onda (nm)

Como los rayos X tienen longitudes de onda del orden de la


distancia entre los planos atmicos, sufren difraccin
cuando se transmiten o reflejan por un cristal.
DETERMINACIN DE CRYSTAL
ESTRUCTURA DE X-difraccin de rayos

LA fenmeno de la difraccin:
Cuando un haz de rayos X se dirige a
un material cristalino, estos rayos son
difractados por los planos de tomos
o iones dentro del cristal
Difraccin (revisin?)
La difraccin es un fenmeno de interferencia
La interferencia constructiva

-Considere las ondas 1 y 2 con la


misma longitud de onda () En la fase
+ en el punto que'.
- Cuando se dispersa (1 'y 2') la
diferencia en la longitud de la
trayectoria corresponde a un nmero
entero de longitudes de onda, tambin
estn en fase, se dice que se refuerzan
= entre s (constritivamente interfieren
entre s.

La interferencia destructiva
La ley de Bragg
De rayos X De rayos X
incidentes difractada

planes
atmico = distancia
interplanar

Los dos rayos diferencia de camino:


AB + BC = 2AB = 2d sen
Condicin para la interferencia constructiva
2d sen = n
donde n Es un entero y
d Es la longitud de onda de los rayos x
Vlida para el
la C dhkl= la sistema cbico
(h2+ k2+ l2)1/2
B
Los mtodos de difraccin de rayos X
Laue
Una muestra mono-cristalina se expone a los rayos X con diversas
longitudes de onda (poli-cromtica).
La ley de Bragg se satisface con diferentes juegos de planos para diferentes
longitudes de onda.
Para cada condicin se reuni, habr una fuerte intensidad difractada en un
ngulo dado.

Film o detector

colimador 180 -2

Mono-cristal
fuente
De rayos X
policromo
DIFRACCIN TCNICA
Powder Tcnica:
Es bastante comn, el material a ser analizado es
en forma de polvo (partculas finas orientadas al
azar) que estn expuestas a la radiacin
monocromtica x. El gran nmero de partculas
con diferente orientacin asegura que la ley de
Bragg se satisface para algunos planos
cristalogrficos
El difractmetro
RADIOGRAFAS
T = X-ray fuente
S = Muestra
Detector = C
fuent = El eje largo de la cual la
e muestra y el detector giran
Los mtodos de difraccin de rayos X
Difractmetro (o mtodo de polvo)
una muestra poli-cristalinoSe expone a los rayos X
monocromticos. El ngulo de incidencia vara continuamente.
Para ciertos ngulos, la ley de Bragg se satisface para cualquier
plan de algunos de los mono-cristales en orientacin aleatoria.

colimador colimador

detector
fuente
De rayos X
monocromo
muestra
policristalino
(Polvo)
espectro de difraccin por ejemplo, para Al (difraccin)

= 0,1542 nm (CuK)
Intensidad (agua)

ngulo (2)

Una muestra desconocida se analiza y su pico en comparacin con los


materiales conocidos y tabulados, permitiendo as la identificacin del
material.
Ley de Bragg (cont.)
La ley de Bragg enumera cuatro variables:
2d sen = n
- la longitud de onda de los rayos X
puede tener slo un valor (monocromo)
Se puede tomar muchos valores - de rayos X "blanca"
(policromtica)
d - la distancia entre los planos
azar varan dependiendo de la posicin relativa de los diversos mono-
cristales que forman una muestra de poli-cristalino
- el ngulo de incidencia de los rayos X
puede variar de forma continua dentro de un intervalo
Puede tomar valores diferentes, dependiendo del conjunto de planes que
difracta el haz de rayos X
n - la orden de difraccin
Para la estructura de cristal de hierro con CCC, Calcular (a) el espaciamiento
interplanar, y (b) el ngulo de difraccin para el conjunto de los planes (220).El
parmetro de red para el hierro es equivalente a 0,2866 nm (2866 A). Adems, se supone
que se utiliza una radiacin monocromtica como longitud de onda de 0,1790 nm (1,790
A), y que el orden de reflexin es 1.
El valor de la distancia interplanar d se determina por la ecuacin:

a
una nm = 0.2866,
d
h2 k 2 l 2 h = 2, k = 2 y l = 0, puesto que
Teniendo en cuenta los planes (2 2 0)
0 ,2866 nm
d 0 ,1013nm ( 1 ,013 A)
( 2 )2 ( 2 )2 ( 0 )2

La aplicacin de la ley de Bragg;


n = 2 d pecado
n ( 1 )( 0 ,1790nm
sen 0 ,884
2d ( 2 )( 0 ,1013nm )

sen1 ( 0 ,884 ) 62 ,13


El ngulo de difraccin es 2 2 = (2) (62,13) = 124,26
Los rayos X de una longitud de onda desconocida son difractados por el cobre 43,4 CFC,
lo cual
Tiene un parmetro celular lade 0,3615 nm. determinaciones separadas indican que este
lnea de difraccin para el cobre es 1er orden (N = 1) a d111.
a) Cul es la longitud de onda de los rayos X?
b) Los mismos rayos X se utilizan para analizar tungsteno (CCC). Qu ngulo
2Para las lneas de segundo orden de difraccin (n = 2) d espaciamiento010 ?

Dnde: 2 = 43,4 , y el uso de ecuaciones:

a
d
n = 2 d pecado
h2 k 2 l 2

a
n 2 = [ ] sen
h2 k 2 l 2
0 ,3615 nm
(1)2 = [ ] sen 21 ,7 0 ,1543 nm
12 12 12
b) Los mismos rayos X se utilizan para analizar tungsteno (CCC). Qu ngulo 2Para las
lneas de segundo orden de difraccin (n = 2) d espaciamiento010 ?

Apndice B (Van vlack)

RW= 0,1376 nm
(laccc) = 4R /3

law= 4 (0,1367nm / 3 = 0,3157 nm


a
n 2 = [ ] sen
h2 k 2 l 2

sen = 2 (0.154) nm0 + 1 + 0 / (2) (0,3157nm)

2 = 58,4