TESTAREA ECHIPAMENTELOR ELECTRONICE

LUCRAREA Nr. 4

Defecte la transmisia semnalelor pe linii lungi

Impulsuri eronate datorate reflexiei semnalelor pe linii lungi O conexiune ntre dou circuite este considerat linie lung dac timpul n care semnalele parcurg aceast linie este comparabil cu parametrii temporali ai semnalului (perioad, durat a impulsului, durat a fronturilor). Principalele fenomene perturbative generate la transmisia semnalelor pe o asemenea linie sunt legate de neadaptrile de impedan dintre impedana de und a liniei Zu i impedanele ce se conecteaz la acesta. O analiz a acestor fenomene pune n eviden apariia unor semnale reflectate n punctele de neadaptare de impedan.

Fig. 1 Exemplu ilustrativ pentru erori cauzate de transmisia semnalelor pe linii lungi

n exemplul prezentat n continuare (Fig. 1) este simulat o situaie n care un circuit conectat la intrarea liniei lungi (bistabilul) are funcionarea modificat datorit fenomenelor amintite. Pentru linia lung este utilizat modelul T1 din biblioteca PSPICE. Formele de und prezentate pun n eviden ntrzierile suplimentare care apar pentru fronturile declanatoare. De asemenea, pot apare fronturi declanatoare multiple. Se observ c n declanarea comutrii bistabilului apr fenomene de incertitudine datorit modificrii formei fronturilor declanatoare.

TESTAREA ECHIPAMENTELOR ELECTRONICE

Fig. 2 Formele de und pentru exemplul prezentat referitor la erorile introduse de transmisia semnalelor pe linii lungi

Impulsuri eronate datorate diafoniilor Liniile lungi se manifest perturbativ i n situaiile n care se gsesc una n vecintatea celeilalte. n aceste situaii intervine fenomenul diafoniilor cauzat de cuplajele (capacitive i inductive) distribuite pe lungimea liniilor. Factorii care determin amploarea fenomenului perturbativ sunt parametrii de cuplaj dintre cele dou linii i lungimea pe care acestea sunt paralele. n Fig. 3 este descris o astfel de situaie. Liniile nvecinate cuplate prin diafonie sunt modelate de elementul T2coupled.

Fig. 3 Exemplul unui circuit ilustrativ pentru apariia diafoniilor

n Fig. 4 sunt prezentate formele de und obinute n urma simulrii. Semnalul V(V1+) este semnalul cu care s-a comandat poarta U1A. Semnalele logice afiate sunt obinute la ieirile porilor U2A i U4A V(T1:in1) reprezint semnalul aplicat la poarta de intrare a liniei 1. Se observ c i acesta sufer unele modificri. V(T1:out1) reprezint semnalul la ieirea liniei 1, deci semnalul care comanda poarta U2A. Se observ c acest

TESTAREA ECHIPAMENTELOR ELECTRONICE

semnal este marcat de influena diafoniilor. V(T1:in2) reprezint semnalul care apare datorit diafoniei pe linia 2 la intrarea porii U4A. Se remarc i n cazul lui amplitudinea semnificativ a perturbaiei.

Fig. 4 Formele de und obinute prin simulare

Chiar dac n exemplul prezentat impulsurile cuplate prin diafonie nu genereaz comutaii false ale celor dou circuite comandate (U2A, U4A), exist posibilitatea ca acest fenomen singur sau n combinaie cu altele s provoace comutaii false ale ieirilor circuitelor logice. Desfurarea lucrrii 1. Cu ajutorul schemei din Fig. 6 se analizeaz efectul reflexiilor asupra comportrii circuitelor logice. n acest scop se vor alege pori din familii diferite i de asemenea, se vor modifica parametrii liniei de ntrziere pentru a observa efectul acestor schimbri. 2. Se modific schema analizat prin adugarea unui rezistor de adaptare ca n Fig. 5. Se compar formele de und obinute cu cele anterioare. 3. Pentru circuitul din Fig. 3 se studiaz efectul diafoniilor analiznd cazurile n care modific familia din care fac parte porile. Pentru fiecare familie considerat se analizeaz i situaia n care semnalele se transmit pe liniile cuplate n acelai sens.

TESTAREA ECHIPAMENTELOR ELECTRONICE

Fig. 6 Schem pentru analiza impulsurilor eronate datorate reflexiilor

Fig. 5 Schem pentru analiza efectului rezistenei de adaptare