You are on page 1of 65

Prof. dr hab. in.

Jerzy Kisilowski




M Ma at te er ri ia a y y p po om mo oc cn ni ic cz ze e
z z p pr rz ze ed dm mi io ot tu u M Me et tr ro ol lo og gi ia a
d dl la a s st tu ud de en nt t w w k ki ie er ru un nk ku u
T Tr ra an ns sp po or rt t

















Wszelkie prawa autorskie zastrzeone.
2

1. WSTP

Materiay pomocnicze stanowi uzupenienie wykadu. podane zostan
podstawowe pojcia, definicje oraz objanienia do tematw. Materiay s
przygotowane w oparciu o wykad z tego przedmiotu.
Ujcie przedmiotu dla kierunku Transport zawiera w podstawowej czci
przedstawienie metod pomiarw wielkoci staych i zmiennych w czasie oraz
przedstawienie przyrzdu jako zoonej struktury zawierajcej elementarne stopnie
przetwarzania. Dla wielkoci staych i zmiennych w czasie przedstawione s
elementy teorii bdu oraz metody wyznaczania funkcji opisujcych cechy
probabilistyczne pomiarw. Rozszerzenie materiau mona znale w czterech
pracach [1,2,3,4], w ktrych s przedstawione szczegowe omwienia tej
problematyki.
W Materiaach jest rwnie przedstawiona ta cz wykadu, ktr trudno
znale w podanych podrcznikach. Jest to materia zawierajcy rwnie
dowiadczenie z wasnych prac badawczych. W Materiaach cytowane bd
niektre definicje i okrelenia podane w tych czterech pracach, bez odnonikw,
skd zaczerpnito. Jest to materia bdcy przedstawieniem podstawowych
zagadnie omawianych na wykadzie.
Prezentowane omwienia s obarczone pewnymi uproszczeniami i dlatego
mog w czciach zawiera braki w precyzji sformuowa. Tak naleaoby
traktowa wiele wyprowadze, w ktrych pominito peny tok wyprowadze
matematycznych.
Przedstawione Materiay posiadaj ukad zgodny z organizacj toku studiw
zaocznych.. Przedmiot ten zawiera osiem dwugodzinnych wykadw i w takim
ukadzie starano si przedstawi Materiay .
Wykady tworz rwnie podstaw do wicze laboratoryjnych; wszystkie
wiczenia s wykonane w oparciu o programy informatyczne, istnieje wic
potrzeba posiadania wiedzy, co w trakcie oblicze jest realizowane.
Jest to pierwsze wydanie Materiaw pomocniczych i co roku bdzie ich korekta.
Materiay s drukowane jednostronnie, tak, aby wolne (niezadrukowane) strony
umoliwiy robienie notatek na wykadach.

3

Literatura:
[1] J. Piotrowski Podstawy metrologii , PWN, Warszawa 1978 i wydania nastpne.
[2] Praca zbiorowa pod red. J Kisilowskiego, Dynamika ukadu mechanicznego
pojazd szynowy - tor (rozdzia 14), PWN 1992.
[3] J. Kisilowski, Pomiary wielkoci staych i zmiennych w czasie, wyd. PW,
Warszawa 1997.
[4] W. Styburski Przetworniki tensometryczne, konstrukcje, projektowanie,
uytkowanie. WNT, Warszawa, 1976.
4

2. PODSTAWOWE POJCIA Z PODSTAW TECHNIKI POMIAROWEJ. NARZDZIA
POMIAROWE. WZORCE

W pomiarach wystpuj wielkoci mierzone i pomierzone. Wielkoci
mierzone potraktujmy jako zbir. Dla zbioru, jako wielkoci mierzonej mona
podporzdkowa nastpujce wasnoci: zbir moe by ograniczony bd
nieograniczony; kady z tych dwch moe by nieprzeliczalny bd przeliczalny.
Odpowiada to traktowanym funkcjom o zmiennoci od - do + ; tak traktowany
zakres zmiennoci jest waciwy dla rozwaa teoretycznych. W praktyce
pomiarowej bdziemy wielko mierzon traktowa jako zbir ograniczony, co dla
funkcji oznacza zakres zmiennoci od x
min
do x
max
.
Zbiory nieprzeliczalne mona podporzdkowa funkcjom cigym, bdcymi
wielkociami mierzonymi. Zbiory przeliczalne to funkcje dyskretne, w ktrych
mamy dyskretyzacj i kwantyfikacj, tj. podzielonym wartociom zmiennych
niemierzonych odpowiada warto zmiennej zalenej; w praktyce jest to jak na
rys.1. Tych poj bdziemy uywa definiujc nastpne okrelenia.
W pomiarach przyjmiemy szereg zaoe, ktre dotycz zarwno wielkoci
mierzonych, pomiarw oraz przyrzdw pomiarowych.
Zaoenie 1
Pomiar wykonywany jest z niedokadnoci rn od 0.
Zaoenie 2
Wielko mierzona jest zbiorem zdarze losowych; czyli wielko mierzona jest
losow. Moemy przyj zaoenie, e mona traktowa wielko mierzon jako
zdeterminowan. Z definicji zmiennych losowych przyjmiemy, e zdarzenie pewne
tj. prawdopodobiestwo rwne 1 wystpuje, gdy zmienna przyjmie wartoci od -
do + . Jak ograniczy ten zakres dla praktycznych zastosowa powiemy w dalszej
czci wykadu.
Zaoenie 3
Przyjmuje si, e przyrzdy maj charakterystyki liniowe. Wiemy, e w
rzeczywistoci wszelkie charakterystyki bd miay mechaniczny charakter.
Zaoenie 4
Sygna pomiarowy posiada trzy dziedziny, dla ktrych wyznacza si funkcje bdce
wynikiem pomiaru. Te dziedziny to dziedzina czasu, amplitudy i czstotliwoci.
rys. 1.
5

Zaoenie 5
Losowy sygna pomiarowy bdzie traktowany jako proces stochastyczny i
stacjonarny w szerszym sensie i globalnie ergodyczny. Te wasnoci pozwol
prowadzi pomiar i analiz sygnau na podstawie jednej realizacji (rys. 2.b.).
Warunki, jakie winna spenia ta realizacja zostan omwione w dalszej czci.
x
i
t
i

x
t t
x

x - wielko mierzona, t - zmienna niezalena (moe by to czas)
Rys. 1.
a.)
t
x
x
i
(t) x
1
(t) x
n
(t)

x - wielko mierzona - proces stochastyczny, t - zbir okresowoci procesu stochastycznego
(najczciej jest to czas, ale moe to by inna wielko).
b.)
t
x
x
i
(t)

Rys. 2. a.) Zbir realizacji, b.) Jedna realizacja


6

Zgodnie z Polsk Norm przyjmuje si nazw narzdzi pomiarowych, ktre s
traktowane jako rodki techniczne przeznaczone do wykonywania pomiarw.
Narzdzia pomiarowe bdziemy dzieli na wzorce i narzdzia pomiarowe.
Omwmy niektre wymagania i wasnoci wzorcw. Wzorce jednostek miar
powinny posiada nastpujce cechy:
Niezmienno w czasie; warunek ten jest niezgodny z zaoeniem 1. i dlatego
zapiszemy to w postaci rwnania X = W
0
+ f(t), gdzie W
0
- jest stae, a f(t) jest
losow funkcj czasu. Mona wykaza, e f
max
(t)
0
dla okrelonych
warunkw (w ktrych wzorce si znajduj) i dla okrelonego czasu. Wtedy
0 0
= W W X gdzie
0
jest zmienna. Tak wic parametrami wzorw s W
0
-
nominalna miara wzorca, - niedokadno miary wzorca oraz okres zachowania
niedokadnoci miary wzorca. Parametry te s podawane na wzorcach lub w
metryce wzorca.
atwo odtworzenia
atwo stosowania
Najwiksza dokadno odczytu.
Wzorce dziel si na podstawowe, I rzdu, II rzdu. Wzorce podstawowe s
zdefiniowane zgodnie z ukadem SI. Jednostkami podstawowymi bdcymi
wzorami podstawowymi zgodnie z ukadem SI s:
1 metr, niedokadno 2 10
-8

1 kilogram masy, niedokadno 2 10
-9

1 sekunda, niedokadno 10
-15

1 Amper, niedokadno 10
-5

Kelwin, w zalenoci od metody niedokadno od 0,1K do 0,0001K
Kandela, niedokadno (12) 10
-3

Mol - liczba atomw wgla zawarta w 0,012 kg czystego nuklidu wgla 12C
Definicje tych wzorw s podawane we wszelkich rdach omawiajcych ukad SI.
Poniej w tabeli podane zostan jednostki podstawowe i pochodne zgodnie z
ukadem SI.
7

Tabela 1. Jednostki miar w ukadzie SI.

Lp. Nazwa wielkoci Nazwa jednostki miary Skrt nazwy
jednostki
I II III IV
Jednostki podstawowe
1. dugo metr M
2. masa kilogram Kg
3. czas sekunda S
4. natenie prdu elektrycznego amper A
5. temperatura termodynamiczna kelwin K
6. wiato kandela Cd
7. ilo materii mol Mol
Jednostki uzupeniajce
1. kt paski radian Rad
2. kt bryowy steradian Sr
Jednostki pochodne
1. pole powierzchni metr kwadratowy M
2

2. objto metr szecienny M
3

3. czsto herc Hz
4. gsto kilogram na metr szecienny Kg/m
3

5. prdko metr na sekund M/s
6. prdko ktowa radian na sekund Rad/s
7. przyspieszenie metr na sekund do kwadratu M/s
2

8. przyspieszenie ktowe radian na sekund do kwadratu Rad/s
2

9. sia niuton N
10. cinienie
(naprenie mechaniczne)
niuton na metr kwadratowy
(paskal)
N/m
2
(Pa)
11. dynamiczny wspczynnik
lepkoci
niutonosekunda na metr
kwadratowy
Ns/m
2



8

I II III IV
12. kinematyczny wspczynnik
lepkoci
metr kwadratowy na sekund m
2
/s
13. praca, energia, ilo ciepa Dul J
14. moc wat W = AV
15. ilo elektrycznoci (adunek) kulomb C As =
16. napicie elektryczne,
rnica potencjaw,
sia elektromotoryczna
wolt
V =
kg m
A s
2
3

17. natenie pola elektrycznego wolt na metr
V m / =
kg m
A s
3

18. rezystancja om
=
kg m
A s
2
2 3

19. pojemno elektryczna farad
F
s
=
A
kg m
2
2
4

20. strumie indukcji magnetycznej weber
Wb
s
=
A
kg m
3
2
3

21. indukcyjno henr
H =
kg m
A s
2
2 2

22. indukcja magnetyczna tesla
T
s
=
A
kg m
2
2
2

23. natenie pola magnetycznego amper na metr A/m
24. sia magnetoelektryczna amper A
25. strumie wietlny lumen lm = cd sr
26. luminacja (gsto wiatoci) kandela na metr kwadratowy cd/m
2

27. natenie owietlenia luks
lx
cd sr
m
2
=
9

3. DEFINICJE POMIARU. MODEL ZMIANY WIELKOCI MIERZONEJ NA POMIERZON.
W pomiarze bior udzia dwa zbiory:
x - zbir wielkoci mierzonych; jest to zbir, ktry prcz innych cech (podane w
poprzednim rozdziale) jest nieuporzdkowany,
y - zbir wielkoci pomierzonych; zbir uporzdkowany wedug wartoci bd
wedug innych elementw, na przykad wedug czasu.
Pomiar jest to czynno pobrania ze zbioru x wielkoci x
i
i podporzdkowania do
uporzdkowanego zbioru y (rys. 3.). W zbiorze y istniej elementy tego zbioru
uoone na przykad wedug rosncych indeksw, czyli podporzdkowanie
wielkoci x
i
do zbioru y, tj. znalezienie wielkoci y
i
i y
i + 1
, ktre to wartoci bd
speniay nierwno:
1 +

i i i
y x y
Z nierwnoci tej wynika tej wynika rwnanie
0 2
1
> =
+ i i i
y y
Przyjmuje si, e 2 jest to niedokadno pomiaru, ktrego warto jest
symetrycznie rozoona po dwch stronach osi symetrii rozkadu
prawdopodobiestwa wystpienia bdu. Zaoenia o tematycznoci rozkadzie
bdu w pomiarach przyjmuje si powszechnie w teorii bdw wielkoci
mierzonych.
Definiujc wielko mierzon i pomierzon przyjmijmy model zamiany wielkoci
mierzonej na wielko pomierzon. Mona to przedstawi na rys. 4.

y
i
zbir x
x
i
y
i+1
zbiory

Rys. 3.
rys. 3.
rys. 4.
10

P()
- +

- + = 2
Rys. 4.


EF
x y

x - wielko mierzona, y - wielko przeliczona,
EF - element funkcjonalny, nazywany rwnie elementarnym stopniem przetwarzania.
Rys. 5.
11

4. CECHY METROLOGICZNE PRZYRZDW POMIAROWYCH. PARAMETRY
CHARAKTERYZUJCE PRZYRZDY POMIAROWE.

a. Wskaniki ograniczajce miar
b. Skala - podziaki
c. Dziaka elementarna
d. Warto dziaki elementarnej
e. Obszar mierniczy podziaki
f. Obszar mierniczy narzdzia
g. Czuo przyrzdu
h. Dokadno przyrzdu
i. Przeoenie wskaza
j. Bd wskaza przyrzdu

Kady przyrzd charakteryzuj parametry, ktre mwi o cechach tych przyrzdw.
Nazwa przyrzdu moe zawiera rodzaj wielkoci mierzonej, zasad lub metod
pomiaru.
Klasa niedokadnoci np. dla przyrzdw do pomiarw parametrw elektrycznych
cig klas niedokadnoci jest znormalizowany 0,1; 0,16; 0,25; 0,4; 0,6; 1; 1,6; 2,5;;
4; 6; 10. Niedokadno ta jest podana w procentach.
Bdy dodatkowe przyrzdu - gdy stosujemy przyrzd w warunkach odmiennych od
warunkw odniesienia.
Wasno dynamiczna przyrzdu; zdolno przyrzdu do pomiaru wielkoci
zmieniajcej si w czasie. Zakres okrelony oddzielnie w trzech dziedzinach.
Niezawodno przyrzdu; prawdopodobiestwo bezbdnego wykonania
okrelonego pomiaru. Miara niezawodnoci to intensywno uszkodze
( ) ( )( ) t
n
dn
dt
=
1
, gdzie n - liczba sprawnych elementw w przyrzdzie lub
przyrzdw w ukadzie pozornym, t - czas. Jeeli = constans to
prawdopodobiestwo sprawnej pracy przyrzdu opisuje rozkad: p e
n
n
t
e
= =

,
gdzie n
e
- liczba wszystkich przyrzdw lub elementw. Jeeli constans , to
prawdopodobiestwo sprawnej pracy przyrzdu opisuje rozkad Weibulla.

12

5. PRZETWARZANIE WIELKOCI MIERZONEJ NA POMIERZON.

Bdziemy rozrnia dwa rodzaje przetwarza: przetwarzanie statyczne i
przetwarzanie dynamiczne.
Przetwarzanie statyczne to takie, gdy zbir wielkoci mierzonej zamieniony zostaje
na jedn warto. Tych wartoci moe by tyle, ile razy zosta wykonany proces
zamiany.
Przetwarzanie dynamiczne to takie, gdy zbir wielkoci mierzonych zosta
przetworzony w caoci na zbir wielkoci pomierzonych. Zbir wielkoci
pomierzonych zosta uporzdkowany wedug zmiennej niezalenej, jak jest czas.
Przetwarzanie statyczne jest szczeglnym przypadkiem przetwarzania
dynamicznego.
13

6. PRZETWORNIKI POMIAROWE
Przetwornik pomiarowy jest to element przyrzdu pomiarowego bd przyrzd
pomiarowy, ktry przetwarza wielko mierzon na wielko pomierzon. Przetworniki
pomiarowe mog posiada szereg cech; mog by nieliniowe lub liniowe; przyjmijmy,
e w metrologii przetworniki bd miay charakterystyki liniowe.
Przetworniki mog by czynne lub bierne. Czynne to takie, gdy na wyjciu
wielko pomierzona ma cechy energetyczne, bierne to takie, gdy wielko na wyjciu
mamy sygna nie majcy cech energetycznych. Czsto te przetworniki nazywamy
parametrycznymi; na wyjciu obserwujemy zmian parametrw, ktra to zmiana moe
wywoa zmiany sygnaw posiadajcych cechy energetyczne. Na przykad zmiana
opornoci wywouje w ukadzie mostkowym zmian napicia lub prdu.
W przetwornikach do ich opisu uywamy parametrw skupionych i ich opis to
w przetwornikach dynamicznych rwnania rniczkowe zwyczajne. Jeli byyby to
parametry rozoone, to do opisu zjawisk dynamicznych naleaoby stosowa rwnania
rniczkowe czstkowe.
Przetworniki posiadaj szereg cech metrologicznych. Cechy te dotycz
przetwornikw dynamicznych. S to nastpujce cechy:
warto sygnau y zaley wycznie od zmiany wielkoci x. Powszechnie mwi si o
selektywnoci i dokadnoci przetwornikw.
Funkcja przetworzenia powinna by jednoznaczna w caym zakresie pomiarowym
i by niezalena od czasu. Przez t cech rozumie si zakres pomiarowy i
stabilnoci.
pochodna
dy
dx
(nazywana czstoczuoci) powinna mie okrelon warto i by
niezalena od x.
przetwornik na wyjciu powinien zapewnia dogodn posta energii, najlepiej
elektryczn bd atw moliwo zamiany wielkoci y na sygna energetyczny.
w przetworniku poziom szumw powinien w stosunku do sygnau mierzonego nie
ma warto (co najmniej o rzd mniejsz ni minimalny zakres pomiarowy).
przetwornik powinien posiada mae oddziaywanie na wielko mierzon.
przetwornik powinien posiada znane przesunicie fazowe lub powinien
charakteryzowa si brakiem przesunicia fazowego.
14

7. PRZYRZDY POMIAROWE; ZASADY DZIAANIA
Przyrzd pomiarowy mona przedstawi w postaci schematu rys. 6.
przyrzd
energia
wielko mierzona wielko pomierzona
x y

Rys. 6.
Przyrzd mona rozoy na elementy, ktre nazwiemy elementarnym stopniem
przetwarzania. Elementarny stopie przetwarzania daje opisa si jednym prawem
fizycznym.
Elementarne stopnie przetwarzania mona czy w ukady otwarte bd zamknite.
Rozwamy nastpujce ukady; otwarte to poczenie elementarnych stopni
przetwarzania w obwd szeregowy bd rwnolegy. Ukad zamknity to obwd ze
sprzeniem zwrotnym. Rozwaanie nasze przeprowadzimy dla rwnania y = kx;
rwnanie to opisuje elementarny stopie przetwarzania statycznego. Jest to
rwnanie dla przetwarzania statycznego. Wyznaczmy rwnania dla rnych
obwodw i nazwijmy to schematami strukturalnymi przyrzdw. Rwnanie
przetwarzania dla struktury szeregowej ma przedstawia rys. 7.
x y
1
x
2
y
2
x
i
y
k
1
k
2
.........
k
i

Rys. 7. Poczenie szeregowe elementarnych stopni przetwarzania
y = k
1
k
2
....... k
i
x
Rwnanie przetwarzania dla struktury rwnolegej ma przedstawia rys. 8.
y x
1
k
k
i

Rys. 8. Przetwarzanie rwnolege elementarnego stopnia przetwarzania
y = (k
1
+ k
2
+ ........ + k
i
) x
Rys. 6.
Rys. 8.
Rys. 7.
15

Przed wyznaczeniem obwodu zamknitego w postaci schematu strukturalnego ze
sprzeniem zwrotnym zdefiniujemy wze rozgany i sumacyjny (rys. 9.).
Nastpnie wyznaczmy rwnanie obwodu zamknitego ze sprzeniem zwrotnym.
a.)
x
x

b.)
x
1
x
2
x
3
x

c.)

x x
1
y
+
x
2

k
1
k
2
x

Rys. 9.
x
k k
k
y
2 1
1
1m
=
W kadym schemacie k
1
moe by zoone z dowolnej struktury w postaci
pocze szeregowych, rwnolegych czy ze sprzeniem zwrotnym. Przedstawione
tu rne rodzaje struktur przyrzdu pomiarowego zostan wykorzystane rwnie do
przetworzenia dynamicznego. Trzeba tylko znale rwnanie przetworzenia
elementarnego stopnia dla przetworzenia dynamicznego. Mona stwierdzi, e w
przetworzeniu dynamicznym zmiany wielkoci wejciowych (wielkoci mierzonych)
powoduj zmian stanu energetycznego przyrzdu. Dlatego zmiany stopni
energetycznych opisuj rwnania rniczkowe. Przy zaoeniach przedstawionych w
rozdziale 2., s to rwnania rniczkowe zwyczajne o staych wspczynnikach. Dla
przyrzdu zoonego z n elementarnych stopni przetworzenia otrzymuje si n rnych
rwnaniach rniczkowych, struktura caego przyrzdu daje rwnanie:
f f f f f
y x x x
n
= ( , , . . . )
1 2
,
gdzie f to funkcjona, jego posta moe wynika ze struktury przyrzdu.
Rys. 9.
wze rozgany
wze sumacyjny
ukad zamknity
16

Dla przyrzdu i przetwarzania dynamicznego bdziemy rozwaa nastpujce
przypadki (dla trzech dziedzin).
na wejciu wielkoci mierzon jest sygna zdeterminowany. Wtedy stosuje si
transformat Laplacea i uzyskujemy rwnanie:
y s k s x s ( ) ( ) ( ) =
gdzie s
d
dt
= - operator Laplacea, k(s) - transmitancja operatorowa elementarnego
stopnia przetwarzania. Majc struktur przyrzdu mona korzystajc z podanych
powyej zalenoci znale zaleno midzy wejciem i wyjciem z przyrzdu.
Naley da odpowied, jakie bd zalenoci w dziedzinie czstotliwoci;
wprowadmy operator Fouriera s j . Otrzymamy wtedy zaleno nastpujc:
y j k j x j ( ) ( ) ( ) =
W tym rwnaniu ) ( j k jest to widmowa transmitancja elementarnego stopnia
przetwarzania. To rwnanie mona rwnie wykorzysta dla wyznaczenia opisu dla
caego przyrzdu (posiadajc jego struktur). Oddzielnym zagadnieniem jest
szukanie zalenoci midzy wejciem a wyjciem, gdy na wejciu do przyrzdu
pojawia si sygna losowy. Omwimy to w nastpnym punkcie.
17

8. WYZNACZENIE FUNKCJI CHARAKTERYZUJCYCH SYGNA LOSOWY W DWCH
DZIEDZINACH
Rozwaa bdziemy dwie dziedziny - czasu i czstotliwoci. Dla dziedziny
amplitudy analiz przeprowadzimy w dalszej czci pracy. Wyznaczenie funkcji w
dziedzinie czstotliwoci jest konieczne ze wzgldu na zdefiniowanie zalenoci
midzy wejciem a wyjciem w elementarnym stopniu przetworzenia, gdy na
wejciu jest sygna losowy.
Jedn z funkcji charakteryzujcych sygna losowy w dziedzinie czstotliwoci jest
gsto widmowa mocy. Pokaemy metod analogow wyznaczenie tej funkcji.
Metoda ta czsto nazywa si metod filtracji. Zasad tej metody przedstawia rys. 10.
t t t
T
y
3
y
2
y
1

y y
1
y
2
y
3
UC F K

Rys. 10
gdzie: F - filtr pasmowy, K kwadrator, UC - ukad caujcy,
T - czas trwania analizy

Charakterystyk filtru pasmowego przedstawia rys. 11.
f
0
f
3dB
f
A [dB]

Rys. 11
gdzie: f - szeroko pasma przetwarzania (90120) dB wielko tumienia filtru
na zewntrz pasma przenoszenia, 3 db - zakres dopuszczalnych waha
sygnau wewntrz pasma przenoszenia.
rys. 10.
rys. 11.
18

Objanijmy kolejne elementy tego ukadu. Nachylenie charakterystyk dla filtrw
profesjonalnych wynosi od 90120 dB. Pierwsze filtry pasmowe byy filtrami
tercjowo-oktawowymi. W filtrach tercjowo-oktawowych szeroko pasmowa jest
sta funkcj czstotliwoci rodkowej filtru. Tak wic w miar wzrostu
czstotliwoci ronie szeroko pasma przetwarzania.
Obecnie stosuje si filtry pasmowe o staej szerokoci. W typowych przyrzdach do
wyznaczania funkcji gstoci mocy, zakres czstotliwoci dzieli si na 400 rwnych
pasm przenoszenia. Korzystajc z ukadu rys. 10. wzr na gsto widmow jest
nastpujcy:
S
T
y dt
y
T
( )


1
2
0


Wyjcie y
3
jest w postaci napicia rejestrowanego na woltomierzu cyfrowym.
Otrzymujemy wykres w postaci jak na rys. 12. Na tym wykresie przyjto, e
wykorzystujemy filtry o staej szerokoci.

S()

1

2

3

Rys. 12.
Przedstawiona procedura jest przykadem i prezentowana jest dla wyjanienia istoty
funkcji gstoci widmowej.
Przeprowadmy analiz w gstoci widma, aby odpowiedzie, co moe ona
obrazowa dla rnych sygnaw.
I tak jeli y jest przemieszczeniem to kwadrat amplitudy dla danej czstotliwoci,
jeli jest lokalnie maksymalny, to mona przyj, e dla tej czstotliwoci moe
wystpi zjawisko rezonansu, gdy bdzie to drgajcy ukad mechaniczny czy
elektryczny. Zgodnie z rys. 12 mona przypuszcza, e w ukadzie, ktrego gsto
widmow przemieszczenia wyznaczono, bdzie mia trzy czstotliwoci
rezonansowe.
rys. 12.
19

Jeeli y jest prdkoci (w ukadzie mechanicznym), to gsto widmowa prdkoci
obrazuje jaki w danej czstoci jest poziom energii kinetycznej; kwadrat prdkoci
dla danego ukadu mechanicznego obrazuje poziom energii kinetycznej ukadu.
Jeeli y jest przyspieszeniem, to mona oceni, dla ktrych czstoci bd
wystpoway maksymalne siy.
Jak wida, mona na podstawie gstoci widmowej mocy mona przeprowadzi
rne rodzaje analiz. Mona rwnie, posiadajc gsto widmow przemieszcze,
wyznaczy gsto widmow prdkoci i przyspiesze. Przedstawione poniej
zalenoci pokazuj, e gsto widmowa prdkoci i przyspiesze jest jawn
funkcj czstoci.
Jeeli
) sin(
2 i i
t A y + =
jest to sygna po wyjciu z filtra, to
) cos(
2 i i i
t A y + = &
oraz
) sin(
2
2 i i i
t A y + = & & .
Dla danej czstotliwoci:
)] ( sin ; [ ) (
2
i i i i y
t A f S + =
)] ( cos ; ; [ ) (
2 2 2
i i i i y
t A f S + =
&

)] ( sin ; ; [ ) (
2 4 2
i i i i y
t A f S + =
& &
.
Z tych zalenoci mona wyznacza wszystkie trzy funkcje w dowolnej kolejnoci.
Kolejn funkcj charakteryzujc sygna losowy w dziedzinie czstotliwoci, jest
funkcja koherencji. Korzystajc z oznacze jak na rys. 5., mona wyznaczy funkcj
koherencji. Oznaczmy funkcj koherencji
xy

) ( ) (
) (
) (
2
2
k y k x
k xy
k xy
S S
S

= ,
to funkcja ta przybiera wartoci z przedziau [0,1]. W zalenoci od wartoci z
przedziau [0,1], jakie moe przybiera funkcja koherencji (warto mniejsza od 1),
moemy mie do czynienia z jednym z trzech moliwych przypadkw:


20

wyniki pomiaru s obarczone bdem wynikajcym z obecnoci szumw
zewntrznych,
ukad wicy sygnay x(t) i y(t) jest nieliniowy,
sygna y(t) jest wynikiem nie tylko oddziaywania na wejciu x(t), ale rwnie
innych sygnaw pojawiajcych si na wejciu. Czsto nazywamy te sygnay
sygnaami dodatkowymi, bdcymi tego samego rodzaju, co wielko mierzona.
W praktyce analizy w dziedzinie czstotliwoci mona znale wiele innych funkcji,
jednak wymienione s podstawowymi, pokazujcymi podstawowe wasnoci
sygnaw losowych w dziedzinie czstotliwoci.
Przedstawmy pozostae funkcje charakteryzujce sygna losowy w dziedzinie czasu.
Realizacja, tj. sygna bdcy funkcj czasu jest podstawowym charakteryzujcym
sygna losowy. Trzeba pamita, e sygna przedstawiony przez jedn realizacj
musi posiada wasnoci stacjonarnoci w szerszym sensie i by globalnie
ergodyczny.
Drug funkcj charakteryzujc sygna losowy w dziedzinie czasu jest funkcja
autokorelacji. Funkcj t wyznaczamy zakadajc, e moment zwyky rzdu I, tj.
warto rednia jest rwna zero. Dla sygnaw, ktre s np. w polu potencjalnym
grawitacji ziemskiej te wasnoci zawsze mona przyj. Funkcj autokorelacji
wyznacza si zgodnie z zalenoci:

+ =
T
y
dt t y t y
T
k
0
) ( ) (
1
) ( .
Obraz graficzny przedstawia rys.13.

y(t
i
) y(t
I
+ )
t
i
t

T

t zmienia si od 0 do T czas analizy
Rys. 13.
Dla 0 = ,

=
T
y
dt t y
T
k
0
2
) (
1
) ( - jest to funkcja redniokwadratowa. Jeeli warto
rednia jest rna od zera, to wyznaczona funkcja nosi nazw funkcji
Rys. 13.
21

autokowariancji, a dla 0 = warto funkcji autokowariancji jest rwna wariancji.
W dziedzinie amplitudy funkcj charakteryzujc sygna losowy jest gsto
prawdopodobiestwa wystpienia amplitudy. To zadanie zostanie omwione w
nastpnych rozdziaach.
22

9. ZALENOCI MIDZY TRZEMA DZIEDZINAMI SYGNAU BDCEGO PROCESEM
STOCHASTYCZNYM

y(t)
k()
cov()
t czas
- czstotliwo
A - amplituda
gen.
2
, , y y
y

F
-1
F
FFT
= 0
P(A) S
y
()

Rys. 14.
gdzie: P(A) gsto prawdopodobiestwa wystpienia amplitudy,
k() funkcja autokorelacji
y(t) realizacja sygnau bdcego procesem stochastycznym
cov() funkcja autokowariancji
S
y
() gsto widma mocy
y - warto rednia moment zwyky I rzdu

2
- wariancja
y
2
warto redniokwadratowa

Na rys. 14. pokazano relacj midzy trzema dziedzinami charakteryzujcymi sygna
losowy. Przeksztacenie funkcji z dziedziny czasu do dziedziny czstotliwoci
odbywa si wykorzystujc transformat Fouriera. Opracowanie algorytmu i
implementacja dla wyznaczenia bezporednio z realizacji ) (
y
S , wykorzystano do
tego celu szybk transformat Fouriera. Czsto uywa si angielskiego skrtu FFT.
Mona rwnie, wykorzystujce odwrotn transformat Fouriera
1
F wyznaczy z
gstoci widmowej funkcj autokorelacji lub autokowariancji. Dla wyznaczenia
funkcji charakteryzujcych gsto prawdopodobiestwa wystpienia amplitudy
naley wyznaczy zazwyczaj momenty zwyke I i II rzdu, tj. wartoci rednie i
Rys. 14.
23

wartoci redniokwadratowe lub wariancj. Z gstoci widmowej mona moment II
rzdu wyznaczy (nie bdzie to dokadne wyznaczenie), wyznaczajc pole pod
krzyw ) ( j S
y
, a nastpnie uredniajc po zbiorze czstotliwoci. Bezporednie
wyznaczenie z ) ( A P gstoci widmowej mocy jest trudne. Naley wygenerowa
) (t y na podstawie ) ( A P i generatora liczb losowych. Takie aplikacje
informatyczne istniej.
24

10. ZALENOCI MIDZY WEJCIEM A WYJCIEM ELEMENTARNEGO STOPNIA
PRZETWARZANIA
Przedstawimy dla rnych sposobw przetwarzania i dla rnych sygnaw
wejciowych zalenoci midzy wejciem a wyjciem dla elementarnego stopnia
przetwarzania.
Przetwarzanie statyczne
kx y =
Wielkoci wyznaczone tworz cig losowych zdarze.
Przetwarzanie dynamiczne
na wejciu sygna zdeterminowany
w dziedzinie amplitudy mocy
) ( ) ( ) ( s x s k s y =
w dziedzinie czstotliwoci
) ( ) ( ) ( j x j k j y =
na wejciu sygna losowy
) ( ) ( ) (
2
j S j k j S
x y
=
Otrzymalimy zalenoci dla elementarnego stopnia przetwarzania. Dla przyrzdu
lub systemu pomiarowego otrzymamy zalenoci wynikajce ze struktury przyrzdu
czy systemu pomiarowego. Struktura moe by kompilacj struktur szeregowych,
rwnolegych bd ze sprzeniem zwrotnym.
Naley doda, e w praktyce pomiarowej najczciej stosowan struktur jest
poczenie szeregowe przyrzdu i w zalenoci od rodzaju przetwarzania i rodzaju
sygnau bdzie odpowiednia posta wyraenia analitycznego.
25

11. WYZNACZENIE CECH PROBABILISTYCZNYCH W DZIEDZINIE AMPLITUDY DLA
SYGNAU LOSOWEGO
Zgodnie z zaoeniami przyjtymi w rozdziale 1 Materiaw sygna pomiarowy
traktujemy jako zmienn losow. Ze wzgldu, e w tym sygnale zmienn
niezalen jest czas, to zmienn losow traktujemy jako proces stochastyczny. Dla
procesw stochastycznych przyjto, e posiadaj one wasnoci stacjonarnoci w
szerszym sensie i s globalnie ergodyczne, co stwarza moliwo przeprowadzenia
analizy jednej realizacji. Kilka uwag o procesach stochastycznych.
W zastosowaniach bardzo czsto napotykamy procesy stochastyczne przebiegajce
w czasie, w przyblieniu w sposb jednorodny, i majce posta drga losowych
wok pewnej wartoci redniej, przy czym ani rednia amplituda, ani charakter tych
fluktuacji nie wykazuj istotnych zalenoci od konkretnej chwili czasu. Takie
procesy nazywaj si stacjonarnymi. Mona poda wiele przykadw realnych
procesw fizycznych, ktrych charakterystyki probabilistyczne nie zmieniaj si
przy translacji osi czasu (lub zmieniaj si bardzo wolno) i ktre wobec tego mog
by opisywane przez stacjonarne procesy stochastyczne. Tutaj przyjmiemy
stacjonarno w szerszym sensie. Takimi procesami s np.: napicie w elektrycznej
sieci owietleniowej, szumy losowe w radiotechnice, proces koysania si statku na
falujcej powierzchni morza, proces drga dowolnego punktu pojazdu szynowego
poruszajcego si ze sta prdkoci po torze prostym i in. Klasyfikacj sygnaw
losowych przedstawiono na rys. 15.
sygnay
stochastyczne
sygnay
niestacjonarne
sygnay
stacjonarne w szerszym sensie
specjalne odmiany
niestacjonarnoci
sygnay
nieergodyczne
sygnay
ergodyczne

Rys. 15. Klasyfikacja sygnaw losowych
Rys. 15
26

Sygnay stochastyczne mog by zbiorem nieprzeliczalnym lub przeliczalnym i
bdziemy mieli do czynienia z sygnaem cigym lub dyskretnym. Sygna cigy
mona zawsze zamieni na dyskretny, natomiast odwrotny proces posiada szereg
ogranicze.
Dla porzdku podajmy definicj procesu stacjonarnoci w wszym i szerszym
sensie (definicje te s podawane dla przedstawienia rnicy tych dwch rodzajw
procesw stacjonarnych).
Powiemy, e proces stochastyczny x(t) jest stacjonarny w wszym sensie, jeeli dla
dowolnego n, dowolnego ukadu wartoci t
1
,..., t
n
parametru tT i dowolnego h
takiego, e (t
i
+ h)T (i = 1,....,n) jest speniona nierwno:
) ,..., ( ) ,..., (
1 ,..., 1 ,...,
1 1
n h t h t n t t
x x F x x F
n n
+ +
=
gdzie: ) ,..., (
1 ,...,
1
n t t
x x F
n
- dystrybuanta rozkadu wielowymiarowego
) ( ) ( ) (
0
x F x F x F
t t t
= =


) , ( ) , (
2 1 , 0 2 1 ,
1 2 2 1
x x F x x F
t t t t
=
Oznacza to, e rozkad jednowymiarowy procesu stacjonarnego w wszym sensie
jest jednakowy dla kadej chwili, natomiast rozkad dwuwymiarowy zaley tylko od
rnicy chwil, dla ktrych przyjto wartoci procesu.
Proces stochastyczny X(t), dla ktrego istnieje warto przecitna E
x
(t) i funkcja
korelacyjna K
x
(t
1
, t
2
) jest stacjonarny w szerszym sensie, jeeli:
const t E
x
= ) ( ,
) ( ) ( ) , (
2 1 2 1

x x x
K t t K t t K = = ;
2 1
t t =
tzn. wartoci funkcji autokorelacji zale tylko od rnicy
2 1
t t = .
Przyjo si nazywa procesy stacjonarne w szerszym sensie procesami
stacjonarnymi.
Waciwoci procesw losowych mona kreli dwiema metodami:
metod uredniania w czasie poszczeglnych funkcji losowych zbioru,
metod uredniania w zbiorze poszczeglnych chwilach czasu.
Rozpatrzmy na przykad i-t realizacj x
i
(t) procesu stochastycznego.
Jeeli proces stochastyczny x(t) jest stacjonarny i wartoci E
x
(i) i K
x
(,i) okrelone
s zalenociami:

27


=
T
i
T
x
dt t x
T
i E
0
) (
1
lim ) ( ,

+ =

T
i i
T
x
dt t x t x
T
i K
0
) ( ) (
1
lim ) , ( ,
s jednakowe dla rnych realizacji, to taki proces losowy nazywa si ergodyczny.
Ta definicja jest skrtowym opisem i rozrnia si j jako ergodyczno globalna
(szersze rozwaania na ten temat mona znale np. w pracy J. Szabatin).
Powszechnie przyjmuje si, e proces stochastyczny jest ergodyczny, rozumiejc, e
mwimy o ergodycznoci globalnej.
Dla ergodycznego procesu losowego, warto rednia i funkcja korelacji (jak
i inne momenty uzyskane przy wyznaczaniu w czasie) rwnaj si odpowiednim
rednim w zbiorze, a wic E
x
(i)=E
x
i K
x
(,i)=K
x
(). Naley zauway, e tylko
procesy stacjonarne mog wykazywa cech ergodycznoci. Ergodyczne procesy
losowe stanowi wan klas procesw losowych, poniewa wszystkie waciwoci
procesw ergodycznych mog by wyznaczone z jednej realizacji. Na szczcie w
praktyce procesy stochastyczne odpowiadajce stacjonarnym zjawiskom fizycznym
s na og ergodyczne. Dlatego w wikszoci przypadkw mona prawidowo
wyznaczy charakterystyki stacjonarnego procesu losowego na podstawie jednej
realizacji, ktra posiada dostatecznie dugi czas trwania (pomiaru). Czas trwania
pomiaru zazwyczaj oznaczamy jako T i wyznaczenie jego wartoci jest zwizane z
analiz w dziedzinie czstotliwoci. Jeli ustalimy charakter badanego zjawiska,
ktrego parametry i funkcje mierzymy, to wanym zadaniem jest okrelenie zakresu
pomiaru w trzech dziedzinach. Zakres pomiaru w dziedzinie czstotliwoci ustalimy
wyznaczajc dolny zakres czstotliwoci (bdziemy posugiwa si czstotliwoci
f) oraz grny zakres czstotliwoci. Na jakie wielkoci w innych dziedzinach ma
zakres czstotliwoci wpyw? Dolna czstotliwo wpywa na czas pomiaru T.
Zobaczmy to na rys. 16.
f maleje
T ronie
0 f

Rys. 16.



Rys. 16.
28

Jeeli f maleje do 0, to T ronie do . Przy czstotliwoci 0 mamy pomiar statyczny,
dla f rnego od 0 pomiar dynamiczny. Mona przyj, e czas trwania pomiaru
musi by wikszy lub rwny okresowi najmniejszej czstotliwoci.
Grny zakres czstotliwoci ma wpyw na czstotliwo prbkowan w procesie
zamiany sygnau cigego w dyskretny. Czsto prbkowania najczciej nazywana
t, aby mona byo mwi o grnym zakresie czstotliwoci w analizie sygnau
dyskretnego, to t musi spenia warunek Nyugvista, tj. t musi by tak mae, aby
mona byo zrobi co najmniej dwa odczyty w okresie najwyszej czstotliwoci
Te dwa elementy s niezwykle wane w praktycznej analizie sygnaw bdcych
realizacj procesu stochastycznego. Trzeba pamita, e wszelkie obliczenia analizy
s wykonywane z wykorzystaniem komputera, czyli s to zbiory przeliczalne
ograniczone.
Rozwamy teraz realizacj procesu stochastycznego i wyznaczmy czstoci
wystpowania amplitudy o okrelonej wartoci (rys. 17).

x x
i
+

i
x
) (t x

=
i
i x
t T
i

1
t
2
t

3
t
4
t 5
t
6
t
7
t
8
t
t

Rys. 17.

Zadanie to bdziemy rozwizywa na trzy sposoby. Pierwszy sposb to
wyznaczenie czstoci w postaci czasu przebywania realizacji w wielkoci x
i
+x,
gdzie x
i
to warto sygnau, x warto przedziau, w ktrym znajduje si

Rys. 17.
29

realizacja. Oznaczmy czas przebywania wielkoci x
i
w przedziale x
i
+x jako
i
x
T .
T
T
W
i
it
x
x
=
Jeeli T dy do nieskoczonoci a x dy do zera, to czsto dy do
prawdopodobiestwa.
Drugi sposb wyznaczania czstoci zdarze wie si z liczb przekrocze
realizacji przez poziom x
i
. Zakres od minimalnego do maksymalnego wartoci realizacji
podzielmy przez x; otrzymamy k przedziaw. Wszystkie przekroczenia wszystkich k
przedziaw zsumujemy i otrzymamy liczno N, traktujemy to jako sum wszystkich
zdarze, przekroczenia k poziomw. Czsto zdarze wynosi w i-tym przedziale:
N
n
W
i
i
x
x
=
Wyznaczamy czstotliwo dla wszystkich przedziaw.
Trzeci sposb to jako zdarzenie w i-tym przedziale potraktujemy takie, w
ktrym nastpi zmiana znaku pochodnej (mona nazwa to jako lokalne maksimum).
Liczb tych zdarze w i-tym przedziale oznaczmy
'
i
x
n , a liczb wszystkich takich
punktw realizacji oznaczmy N, wtedy czsto zdarzenia wyniesie:
'
'
'
N
n
W
i
x
i
x
= .
Oczywicie wszystkie te czstoci wyznaczamy dla wszystkich k przedziaw. Ostatnia
metoda ma due znaczenie np. w badaniach wytrzymaociowych; istotnym jest
maksymalne naprenie a nie wielko uredniona.
Otrzymane w ten sposb czstoci moemy odoy w ukadzie wsprzdnych W(x).
Otrzymamy histogram (rys. 18) lub krzyw schodkow (rys. 19). Odpowiadaj te
krzywe supkowe krzywym cigym tj. gstoci prawdopodobiestwa i dystrybuancie.

30

W(x) P(x)
0 x x x +
1
x x +
2
... x

W(x)- czsto zdarze danej amplitudy histogram
P(x) funkcja gstoci prawdopodobiestwa
Rys. 18.

W(x) F(x)
0 x x x +
1
x x +
2
... x

W(x) krzywa schodkowa, F(x) dystrybuanta ciga
Rys. 19
31

11.1. WYZNACZENIE ZAKRESU MINIMALNEJ I MAKSYMALNEJ AMPLITUDY
REALIZACJI PROCESU STOCHASTYCZNEGO.
Wiadomo z zasad rachunku prawdopodobiestwa, e zdarzenie pewne
(prawdopodobiestwo rwne 1) wystpi, jeli wielko zmiany x bdzie w zakresie
od - do +. Takie zdarzenie w praktyce jest nierealizowalne Naley wyznaczy
warto, ktra bdzie w zakresie realnie wystpujcych dla danego sygnau, czyli
wyznaczy wielkoci minimaln i maksymaln sygnau, ktre bdziemy traktowali
jako poprawne pozostae wielkoci odrzucimy (mniejsze od minimalnej i wiksze
od maksymalnej). Zgodnie z zasadami dotyczcymi bdw wielkoci odrzucone
traktujemy jako obarczone bdem grubym. Zgodnie z definicj gruby to taki,
ktrego wartoci przekraczaj pewn warto zwan graniczn.
Mona przyj, e jeli przyrzd ma dokadno a, to jeli bd jest wikszy o rzd
od a, to traktujemy, e bd jest gruby i odczyt pomiaru odrzucamy. Przedstawiona
definicja moe by sformuowana inaczej i dotyczy ona pomiarw, w ktrych
wyniki traktujemy jako zdarzenia losowe, np. w przetwarzaniu statycznym. Naley
pamita, e powodw powstania bdw grubych nie jestemy w stanie ustali.
Bdy, ze wzgldu na charakter bdziemy dzielili na: grube, systematyczne i
przypadkowe. Bdy systematyczne to takie, w ktrych znamy rda ich
powstawania. S one co do znaku i wartoci stae. Mona w wyniku pomiaru je
uwzgldni. Bdy przypadkowe omwimy w dalszej czci wykadu.
Przejdmy do wyznaczenia maksymalnej i minimalnej wartoci realizacji
procesu stochastycznego. Zadanie mona przedstawi dwojako; po pierwsze, mamy
histogram a nastpnie funkcj gstoci prawdopodobiestwa, wielkoci maksymalne
i minimalne i znajdujemy odpowied, jakie jest prawdopodobiestwo wystpienia
tych maksymalnych i minimalnych. Po drugie, mamy histogram a nastpnie funkcj
gstoci prawdopodobiestw; przyjmujemy, e interesuje nas, aby wartoci
maksymalne i minimalne wystpiy z prawdopodobiestwa 1 , zakadamy
wielko , jeli te wielkoci s poza t granic, to obliczamy je i powtarzamy
procedur. Przedstawiamy to na rys. 20.
Dla tego rozkadu wyznaczylimy pierwsze dwa momenty x x E ) ( oraz
2
i
na podstawie wynikw pomiarw i procedur, o ktrych powiemy w dalszej czci
pracy.
Rys. 20
32

P(x)
x
min
x
min
x
max
x
max
x

1

1


2

2
1-(
1+

2
)
1-(
1

2
)

Rys. 20.

x
min
i x
max
z pomiarw

1
pole pod krzyw na lewo od x
min
do -

2
pole pod krzyw na prawo od x
max
do +

Prawdopodobiestwo wystpienia x
min
i x
max
wynosi ) ( 1
2 1
+ , jest to
postpowanie pierwsze.
Postpowanie drugie przyjmujemy
'
2
'
1
+ = oraz
'
2
'
1
= - rozkad symetryczny.
Jak wida, po przyjciu , wyznaczymy
'
max
x i
'
min
x mniejsze i wiksze od x
min
i
x
max
, dla naszego zaoenia odrzucimy
max
x i
min
x , poniewa prawdopodobiestwo
ich wystpienia jest wiksze od danego, dlatego odrzucimy wyniki
max
x i
min
x ,
czyli postpujemy tak, jak z bdem grubym. Nastpnie wyznaczmy nowe x oraz
2
i i powtarzamy cae rozumowanie. Powtarzamy postpowanie tyle razy, a
dane warunki zostan spenione.
Omwimy tok postpowania stosujc test Romanowskiego (inny tok postpowania
moe wynika z testu Grubtsa). Tok postpowania w tym przypadku jest
nastpujcy:
z danych eksperymentalnych wyznaczamy ) (t x
i
(i-tej realizacji procesu x
i
)
warto redni i x oraz
min
i
x ,
max
i
x ,
przyjmujemy poziom istnienia oraz dla danej N (liczby zdarze) odczytujemy
z tablic

t (tablica jest wprowadzona do pamici komputera),


33

jeli s spenione nierwnoci:

t
x x
i i
>

min
oraz

t
x x
i i
>

min
, to naley
odrzuci wyniki
min
i
x i
max
i
x jako obarczone bdem grubym na poziomie
istotnoci . Po odrzuceniu wynikw
min
i
x i
max
i
x powtarzamy obliczenie i x oraz
2
i i powtarzamy procedur tak dugo, a ilorazy bd mniejsze od

t . W
ten sposb uzyskalimy wyniki, ktre mog by dalej podmiotem analizy.
Naley doda jeszcze jeden element , a mianowicie, ile ma wynosi K, tj. ile
przedziaw dla danej realizacji powinnimy przyj. Zaley to od liczby zdarze N
lub N. Orientacyjne zalenoci midzy iloci K przedziaw a iloci N zdarze
podaje poniej zamieszczona tablica.

N 200 400 600 800 1000
K 10 20 24 27 30

Jak wida z przedstawionej tablicy w miar wzrostu K maleje x (dla tej samej
realizacji) i ronie ilo zdarze N, prawdziwa jest zaleno , e jeli x0, to
N i histogram mona zastpi krzyw cig przedstawiajc gsto
prawdopodobiestwa. Dla sygnaw pomiarowych i ich dalszej analizy w dziedzinie
amplitud te wasnoci maj zasadnicze znaczenie.
34

11.2. WYZNACZANIE GSTOCI PRAWDOPODOBIESTWA WYSTPIENIA AMPLITUDY
DLA SYGNAW BDCYCH REALIZACJ PROCESU STOCHASTYCZNEGO
Proces wyznaczania gstoci prawdopodobiestwa wystpowania amplitudy jest
wieloelementowy. W trakcie wicze laboratoryjnych to zadanie jest w peni
skomputeryzowane . Podane poniej zostan poszczeglne elementy tych dziaa
bez ich szczegowego omwienia. Zakres tych dziaa jest nastpujcy:
wyznaczenie funkcji najwikszej wiarygodnoci a nastpnie wyznaczenie
parametrw, ktre wystpuj w zalenociach analitycznych, opisujcych
gsto prawdopodobiestwa wystpienia amplitudy. S to nastpujce
rozkady: normalny, logarytmo-normalny, Rayleigna, gamma,
wybr tekstu zgodnoci; wyboru dokonano z dwch testw
2
i . Wybrano
test - Smirnowa-Komogorowa jako dogodniejszy dla badania sygnau
bdcego realizacj procesu stochastycznego, gdy sygna ma znaczenie
inynierskie (sia, prdko, przyspieszenie, naprenie, itp.),
przyjcie poziomu istotnoci , dla ktrego jest prowadzony test zgodnoci.
Powszechnie rozumie si rozkad empiryczny jako krzyw schodkow a rozkad
teoretyczny jako funkcj cig opisujc gsto prawdopodobiestwa
wystpienia amplitudy. Mona obrazowo wielko przedstawi na wykresie
rys. 21.

F(x) W(x)
1



Rys. 21.



0 x
1
x
1
+x x
x
2
x
2
+x
x
3
Rys. 21.
35

Nastpnie dokonuje si weryfikacji hipotezy
0
H , ktra mwi, e dwa rozkady
teoretyczny i praktyczny nie mog by opisane t sam zalenoci
matematyczn. W naszym przypadku zgodno tych dwch krzywych to
odrzucenie hipotezy
0
H . Otrzymujemy rezultaty hipotezy
0
H dla kadego
przedziau x x
i
+ . Moe okaza si, e dla rnych przedziaw mog by
rne rezultaty, raz odrzucimy hipotez
0
H , raz t hipotez przyjmiemy. Mona
wic dokona testowania hipotezy
0
H w kadym przedziale.
Nastpnym elementem w procesie stochastycznej oceny wyniku procesw jest
znajdowanie ocen (wartoci przyblionych) dla momentw otrzymanych z pomiaru.
Takie wartoci bdziemy nazywa estymatorami i bdziemy je oznacza daszkiem
x

czy
2

x
, ..... Tutaj trzeba pamita, e przy wzrocie liczebnoci N, warto
estymatora dy do ocenianego parametru.
Mona przypomnie podstawowe wzory na poszczeglne parametry,
momenty; i tak:
warto rednia z N dowiadcze

=
=
N
i
i
x
N
x
1
1


ten estymator jest nieobciony (nieobcienie oznacza, e nie popeniono bdu,
rwnie statystycznego)
Nieobcionym estymatorem wariancji jest zaleno:
2
1
2
)

(
1
1
x x
N
N
n
i

=

=

Jeli badana zmienna losowa (proces stochastyczny) jest normalna (rozumiemy, e
gsto prawdopodobiestwa wystpienia amplitudy w realizacji procesu
stochastycznego jest opisana funkcj Gaussa), to ocen nieobcion estymatora
odchylenia standardowego jest zaleno:

=
n
i
i N
x
a
x
N
K
1
2
) (
1
1
,
gdzie:
) (
)] 1 ( [
2
1
2
1
2
1
N
N N
K
N


,
gdzie


=
0
1
) ( dt e t x
t x
- to funkcja Gamma-Eulera
36

Dla dowolnego rozkadu opisujcego prawdopodobiestwo wystpienia amplitudy
realizacji x(t)_ przy znanej wartoci x ocen nieobcion wariancji jest:
2
1
2
)

(
1
1

=
N
i
i x
x x
N
.
Wprowadmy pojcie
s
m - moment zwyky rzdu s,
s
- moment centralny
rzdu s. Przykadem momentu zwykego rzdu 1 jest x m
1
, a momentu
centralnego rzdu 2:
2
2
.
Badamy hipotez H, ktra mwi o tym, e
1 1
m m = i dlatego przyjmiemy hipotez
albo j odrzucimy. Jest to relacja bezporednia (nie taka, jak hipoteza
0
H ).
Testowanie tej hipotezy wykonuje si w oparciu o program matematyczny bdcy
implementacj matematyczn tego postpowania.
Przedstawiony tok postpowania jest wystarczajcy dla zakresu studiw zaocznych.
37

12. ELEMENTY TEORII BDW
Zgodnie z przyjtymi w rozdziale 11 zasadami ze wzgldu na sposb
powstawania bdu bdziemy mwili o bdach grubych, systematycznych i
przypadkowych. W poprzednim rozdziale omwiono bdy grube i systematyczne.
Obecnie omwimy zasady wyznaczania bdw przypadkowych. Ze wzgldu na
sposb wyznaczania bdw bdziemy rozrnia bdy bezwzgldne i wzgldne.

12.1. BDY PRZYPADKOWE

) (x P ) ( P
1



0

1


0

1


x
x

Rys. 22.

Jeli zgodnie z rys. 22. wyniki pomiaru mona przedstawi jako rozkad gstoci
prawdopodobiestwa wystpienia amplitudy, zgodnie z definicj bdu
bezwzgldnego otrzymamy:
p
x x = ,
gdzie: x - wielko pomierzona,

p
x - wielko poprawna.
Przyjto traktowa, e wielko poprawna to moment zwyky I rzdu, a estymator
wyznaczany z dowiadcze to warto rednia x x
p

= .
Jeeli przesuniemy o P(x) o warto x

, to nastpi zamiana znanych; x bdzie


rwnowane x , a zamiast ) (x P otrzymamy ) ( x P . Tak wic na skutek
Rys. 22.
38

przeksztacenia liniowego nie zmieni si charakter krzywej obrazujcej gsto
prawdopodobiestwa. Obydwie krzywe ) (x P i ) ( P s co do ksztatu identyczne.
Przy wyznaczaniu bdu bdziemy rozwaa dwa przypadki; pierwszy, gdy
ilo zdarze 30 > N i drugi, gdy 15 < N . Drugi przypadek wynika z faktu
moliwoci podziau 30 pomiarw na dwie serie lub moliwoci wykonania
mniejszej liczby pomiarw.
Z przedstawionego na rys. 22. wykresu ) (x P naley odpowiedzie na pytanie, jakie
jest prawdopodobiestwo wystpienia bdu o zakresie
1
,
1
. W pomiarach np.
wielkoci elementw maszyn przyjto traktowa za pewien standardowy bd
wielkoci 3 . Naley pamita, e krzywa na rys. 22. jest opisana zalenoci
(jest to rozkad normalny).
(

=
2
2
2
exp
2
1
) (

P
Jak wida w wyej podanym wzorze parametrem okrelajcym ksztat krzywej jest
wielko . Z rys. 22. wynika, i
1
> . Naley doda, e dla malejcej wartoci
max ) ( P ronie, gdy dy do 0, to rzdna ) ( P maksymalnie dy do . Jak
wic wida s spenione warunki, aby mona byo zdefiniowa - Direca,
wykorzystujc gsto prawdopodobiestwa.
Dla bdu 3 prawdopodobiestwo jego wystpienia wynosi 0,9973. Bd
trzysigmy traktuje si jako bd standardowy i najczciej si go wyznacza.
Jak wida ze wzoru na ) ( P wielko prawdopodobiestwa wystpienia bdu nie
zaley od iloci pomiarw. Przyjto traktowa, e liczba pomiarw przy
wyznaczaniu bdu z wykorzystaniem krzywej Gaussa powinna by dostatecznie
dua i przyjto jako granic liczb 30 pomiarw. Korzystajc z przedstawionych
rozwaa mona wyznaczy bd trzysigmowy wedug nastpujcej procedury:
wyznaczy warto redni x

,
obliczy odchylenie redniokwadratowe,
jeli mamy kilka serii pomiarw, wyznaczy ' ,
wynik pomiaru wyniesie 3

x .
Mona, korzystajc z zalenoci na ) ( P wyznaczy bd dla dowolnego
prawdopodobiestwa jego wystpienia, np. 95 , 0 1 = , gdzie 05 , 0 = poziomu

39

istotnoci.
Przygotowane wiczenia laboratoryjne pozwalaj wyznaczy tego typu bdy
bezwzgldne.
Rozwamy teraz przypadek drugi, gdy liczba pomiarw jest mniejsza ni 15.
Dla tak maej iloci pomiarw posta krzywej gstoci prawdopodobiestwa
powinna zalee od liczby pomiarw, a waciwie uywa si pojcia liczby stopni
swobody 1 = N K , czyli mona otrzyma bd ju dla dwch pomiarw. Dla tego
celu uywa si rozkadu t studenta (rys. 23.).
) , ( K t T

2

1
2


1
t 0
2
t t
x

Rys. 23.

Przy zaoeniach, e wyniki pomiarw maj ukad normalny, mona dowie, e
zmienna losowa unormowana.

1 ) (
=
n x x
t
podlega rozkadowi t studenta, ) , ( K t T , gdzie 1 = N K - liczba stopni swobody.
Ze wzgldu na do skomplikowan posta funkcji ) , ( K t T bdziemy posugiwa
si tylko jej symbolem. Pominiemy szczegowe rozwaania, przyjmiemy
prawdopodobiestwo 1 i moemy korzystajc z tablic znale
1
t (rozkad jest
symetryczny)
2 1
t t = , wtedy mierzona warto bdzie zawarta w granicach:
1

1 1

n
t x x
n
t x


przy czym: 1 - poziom ufnoci
- poziom istotnoci.
rys. 23.
40

Mona dowie, e obliczenie wartoci bdu, korzystajc z rozkadu normalnego
dla maej iloci pomiarw bdzie rnio si od wyznaczonego bdu metod
wykorzystujc rozkadu t studenta, zwaszcza dla 15 < N . W miar wzrostu N
wicej ni 30 obydwie metody s zbiene.
Wyznaczanie bdu na poziomie istotnoci odbywa si wedug
nastpujcej procedury:
wyznaczamy x

,
obliczamy ,
przyjmujemy ,
majc , 1 = N K z tablic odczytujemy
1
t ,
podajemy wyniki pomiaru
1

n
t x

.
Otrzymane wyniki pomiarw odpowiadaj na pytanie, jaka jest warto bdu dla
danej serii pomiarw w zalenoci czy 30 > N , czy 15 < N .

12.2. BDY W POMIARACH DYNAMICZNYCH (REALIZACJI PROCESU
STOCHASTYCZNEGO)
Wyznaczymy bd powstajcy w pomiarach bdcych realizacj procesu
stochastycznego. Poprzednio wyznaczylimy bdy bdce wielkoci, o jak rni
si warto poprawna, a waciwie w jakim zakresie warto poprawn mona uzna
za pomiar obarczony bdem przypadkowym. Obecnie wyznaczymy moliwoci
wyznaczenia bdu bdcego funkcj czasu.
Bd dynamiczny jest to rnica midzy wielkoci ) (t y - warto wyjciowa z
przetwornika dynamicznego a wielkoci poprawn , tj. ) (
0
t y . Jeeli przyjmiemy,
e wielko poprawna ) (
0
t y to estymator wartoci redniej ) (

t y a wiadomo, e
warto rednia dla pomiaru stochastycznego stacjonarnego w szerszym sensie i
globalnie ergodycznego jest staa w funkcji czasu i mona napisa, e
) ( ) (

0
t y t y ,
wtedy bd dynamiczny bezwzgldny bdzie wynosi:
) ( ) ( ) (
0
t y t y t
dyn
= .
Miar bdu dynamicznego przyjto przyjmowa redni bd kwadratowy, ktry
41

=
T
dyn dyn
dt t t
0
2 2 '
) ( ) (
mona policzy bd redni u uredniony jako:

=
T
dyn
dyn dt t
T
t
0
2
2 '
) (
1
) (
Interpretacj bdu dynamicznego redniokwadratowego przyjmuje si jak na rys. 24.
a.
y ) (t y
) (
0
t y

t

T
b.
2
0
)] ( ) ( [ t y t y

t

T

Rys. 24
gdzie: T - czas pomiaru, bd redniokwadratowy to pole pod krzyw na rys. 24.b.

Bd ten zosta zdefiniowany w dziedzinie czasu. Zdefiniujmy go w dziedzinie
czstotliwoci. Skorzystamy tu z twierdzenia Porsevala, ktre podaje zaleno
midzy kwadratem funkcji w dziedzinie czasu a kwadratem funkcji w dziedzinie
czstotliwoci, tj.:

+

= dt j f dt t f
2
0
2
) (
2
1
) (
Oczywicie dla pomiarw bdcych funkcjami ograniczonymi w czasie do czasu
trwania reakcji T ; 0 mona wyprowadzi inne granice czstkowe.
Rys. 24.
42

Wykorzystujc to twierdzenie do naszych zalenoci na bd
redniokwadratowy otrzymamy:

+

+

= dw j y j y dw j dt t
dyn dyn
2
0
2
0
2
) ( ) (
2
1
) (
2
1
) (
Tak wic istnieje rwno midzy bdem redniokwadratowym w dziedzinie czasu
i czstotliwoci. Jeli zgodnie z zalenoci midzy wejciem a wyjciem z
przetwornika w dziedzinie czstotliwoci zapiszemy:
) ( ) ( ) ( j x j k j y =
to otrzymamy:
[ ]

= dw j S j k j k j
x dyn
) ( ) ( ) (
2
1
) (
2
0
2 '

Bd wzgldny wynosi:
[ ]

+

=

=
dw j S k
dw j S j k j k
dt t y
dt t
S
x
t
x dyn
dyn
) (
) ( ) ( ) (
) (
) (
2
0
0
2
0
0
2
0
0
2


.
43

12.3. KLASYFIKACJA RDE BDW
Bdy powstaj na skutek wielu przyczyn. Postaramy si te przyczyny wymieni i
scharakteryzowa. Mona wc mwi o rdach bdw. Rozrnimy trzy grupy
rde bdw; tj. od metody pomiarowej, od przetworzenia oraz od czynnoci
metrologicznych. Na rys. 25.a. pokazano rda pochodzce od dla metody
pomiarowej, na rys. 25.b. rda pochodzce od przetwarzania i na rys. 25.c.
pokazano rda pochodzce od czynnoci metrologicznych. Klasyfikacj rde
bdw podaje si za prac J. Piotrowskiego [1].

prbkowani e,
kwant owani e
ni esel ekt ywnosc
przyrzadu
oddzi al ywani a
przyrzadu
paral aksa dl a
przyrzadw
wskazwkowych
przybli zeni a,
uproszczeni a
odczyt
opracowani e
wyni kw
zrdl a pochodzeni a
bl edw od met ody
pomi arowej
przyrzad
zakl ceni a wkanal e
wej sci owy m
reprezent at ywnosc
pomi aru
]
pobrani e
wi el kosci

Rys. 25.a
44

rda pochodzenia
bdw od
przetworze
transport energii
(czas martwy)
magazynowanie
energii
cechy dynamiczne
przyrzdu
niezauwaalna zmiana
warunkw pomiaru
starzenie i zuycie
niestao waciwoci
przyrzdu
tarcie (przyrzdy
wychyowe) histereza
zjawiska
molekularne
inne wielkoci
wpywajce do
przyrzdu
pooenie
zmiana warunkw
pomiaru
zasilanie
temperatura
niestao waciwoci
przyrzdu

Rys. 25.b.
45

subi ekt ywnosc
wrazen
ni eczul osc
obser wat ora
ni edokl adnosc
ut r wal eni a
charakt eryst yki
zrdl a bl edw
pochodzacych
od czynnosci
met rol ogi cznej
wz orcowani e
odczyt
ni edokl adnosc
wyznaczeni a
charakt eryst yki
ni edokl adnosc mi ary
wz orca
paral aksa
przyblizeni a
i pomyl ki
i nt erpret acj a
opracowani e
wyni ku
myl ne
pol aczeni a
ni ewl asci wa
ekspl oat acj a
ukl adw
pomi arowych

Rys. 25.c.
46

Krtko scharakteryzujemy poszczeglne rda bdw. Rozpocznijmy od rde
pochodzcych od metody (rys. 26.).

rdo
doprowadzenie
do przyrzdu
przyrzd obserwator
opracowanie
wyniku
wynik
bd
pobrania
bd
przyrzdu
bd
opracowania
bd
odczytu
Rys. 26.

Przedstawiony schemat pokazuje, jakie wystpuj relacje w metodzie pomiarowej i
jakie powstaj bdy. Jak wida z przedstawionego schematu przyjmuje si
szeregowe poczenie poszczeglnych elementw w metodzie pomiarowej. Z niej
te wynika bd bdy sumaryczne.
Przedstawione rda bdw oraz pozostae bdy pochodzce od metody
pomiarowej wynikaj z charakteru pomiaru i przyrzdw pomiarowych. Charakter
pomiaru wpywa zarwno na bdy pomiaru, jak i sposb opracowania wynikw.
Grupa rde bdw pochodzi od przyrzdu, jego konstrukcji, sposobu prezentacji
wynikw. Te dwie grupy rde naley uwzgldnia dobierajc metod pomiarow
do pomiaru okrelonych wielkoci w pomiarze statycznym czy funkcji w pomiarze
dynamicznym. Przy tej okazji chciabym doda, e w procesie stochastycznym
zmienn niezalen (dla pojedynczej realizacji) moe by nie tylko czas. Mog by
to inne wielkoci. Jest to istotne przy doborze metody pomiarowej; i tak np. przy
pomiarze nierwnoci drogi zmienn niezalen jest droga, a dziedziny bd
rwnie inaczej zdefiniowane. Bd to: dziedzina drogi, dugo fali nierwnoci,
amplituda nierwnoci. Tak wic dobr metody pomiarowej zaley od tego, jakiego
rodzaju s wielkoci mierzone. Metoda okrelania rde bdw bdzie taka sama..
Druga grupa rde bdw wynika z przetwarzania wielkoci mierzonej na
pomierzon. W procesie przetwarzania s trzy elementy przyrzdu a waciwie jego
wasnoci i ich zmiana w funkcji czasu. W prezentowanych rdach bdw
zaprezentowano wielkoci, o ktrych mona powiedzie, e te rda gwnie
dotycz przyrzdw pomiarowych wychyowych. Naley dla kadego przyrzdu
tak analiz ze wzgldw konstrukcyjnych przeprowadzi, co umoliwi okrelenie
rnych rde bdw.

Rys. 26.
47

Druga grupa to rda, ktre pochodz od warunkw pomiarw, w ktrych
si dokonuje pomiaru i stosunku do warunkw, ktre s zapisane dla danego rodzaju
przyrzdu. W rdach przedstawionych na rys. 24.b. podane s przykadowe rda
bdw dla warunkw pomiarw typowych przyrzdw. Jeli chcemy uy
przyrzdu, ktry nie ma typowych warunkw pracy, musimy je zdefiniowa,
okreli rodzaj i jednorazowo okreli rda i wielkoci bdu. Wyjanienia mog
wymaga warunki okrelone jako pooenie. Dla przyrzdw wychyowych klasy
01 okrela si pooenie osi obrotu elementu ruchomego w przyrzdzie
pomiarowym do paszczyzny, na ktrej przyrzd jest posadowiony; przyjmuje si,
e o obrotu powinna by rwnolega do paszczyzny, na ktrej przyrzd stoi, unika
si wtedy dodatkowych reakcji w punktach podparcia elementu ruchomego.
W procesie poszukiwania rde bdw pochodzcych od czynnoci
metrologicznych wanym elementem jest proces wzorcowania (traktowany jako
proces nadajcy urzdzeniu waciwoci przyrzdu pomiarowego ze wszystkimi
jego cechami) oraz proces legalizacji przyrzdu. Legalizacj przyrzdu traktuje si
jako proces, umoliwiajcy odpowied na pytanie, czy przyrzd spenia cechy
umoliwiajce wykonywanie pomiarw z zaoon dokadnoci. Przy tej okazji
naley doda, e w procesie legalizacji przyrzdu mamy przyrzd legalizowany i
wzorzec; wzorzec powinien mie dokadno co najmniej o 1 rzd (10 razy)
mniejsz ni przyrzd legalizowany. W procesach legalizacyjnych wzorcem moe
by przyrzd, speniajcy wyej podany warunek.
Podany zbir rde bdw moliwych do wystpienia nie jest ani peny, ani
wyczerpujcy moliwoci ich powstania. Zaprezentowane rda stanowi kryteria,
ktre wskazuj na metodologi postpowania przy poszukiwaniu rde bdw w
nowych przyrzdach pomiarowych.
48

13. METODY POMIAROWE
Metody pomiarowe mona sklasyfikowa ze wzgldu na rodzaj wyniku otrzymanego z
pomiaru; bdziemy mieli pomiar bezporedni i pomiar poredni.
Pomiar bezporedni to taki, w ktrym odczyt z przyrzdu pomiarowego jest wynikiem
pomiaru. Metody bezporednie mona podzieli na dwie grupy; grup pierwsz, gdy
wskazania przyrzdu s wynikiem oddziaywa wielkoci mierzonej na przyrzd, czyli
zmiana wskaza przyrzdu jest wynikiem oddziaywania na przyrzd wielkoci
mierzonej. S to zarwno mierniki wychyowe jak i cyfrowe. Druga grupa metody
bezporedniej s to metody zerowe; metoda zerowa to taka, w ktrej wskazania
przyrzdu wynikaj z wielkoci wzorca zainstalowanego w przyrzdzie pomiarowym,
ktry ma znak przeciwny do wielkoci mierzonej i wystpuje proces rwnowaenia
(doprowadzanie do zera rnicy midzy wielkoci wzorcow a wielkoci mierzon).
W metodach zerowych bdziemy wyrnia metod kompensacyjn. komperacyjn i
metod przez podstawienie.
Pomiar poredni to taki, w ktrym wynik pomiaru powstaje przez wstawienie do
rwnania definicyjnego wynikw pomiarw. Rwnania definicyjne to takie, w ktrych
w postaci zalenoci matematycznej podaje si wyniki pomiaru, np. rwnanie
definicyjne moe by typu
2 1
y y y + = czy
2 1
y y y = .
Wyznaczymy wynik pomiaru np. dla rwnania definicyjnego:
2 1
y y y + = , gdzie y
1
odczyt z przyrzdu pomiarowego,
y
2
odczyt z przyrzdu pomiarowego
Naley znale, jakim bdem bdzie obarczony wynik pomiaru.
Wynik pomiaru y y y =
1
; y bd wyznaczony ktr z omwionych
poprzednio metod,
y - warto rednia traktowana jako warto
poprawna,
1 1 1
y y y = - w rwnaniach tych odpowiednio
1
y i
2
y to
wartoci rednie wyznaczone na podstawie wynikw
pomiarw oraz odpowiednie y
1
i y
2
s to bdy
wyznaczone jedn ze znanych metod wyznaczania
bdw
2 2 2
y y y =
49

Zapiszmy rne definicje uwzgldniajce rwnania pochodzce z pomiarw x:
2 2 1 1
y y y y y y + =
Rwnanie zapiszmy w postaci dwch:
2 1
y y y + = i
2 1
y y y =
Jak wida bd bezwzgldny jest rwny sumie bdw. Wyznaczmy bd wzgldny:
2 1
2
2
2 1
1
1
2 1
2
2
2
2 1
1
1
1
2 1
2
2 1
1
y y
y
y
y y
y
y
y y
y
y
y
y y
y
y
y
y y
y
y y
y
y
y
+
+
+
=
=
+


+
+


=
+

+
+

=



gdzie
2 1
, y y - bdny wzgldne pomierzonych wielkoci
1
y i
2
y .
Mona wyznaczy bdy bezwzgldne i wzgldne dla innych rwna definicyjnych.
Wyznaczmy dla pomiarw porednich bdy wykorzystujc metod
rniczki zupenej i metod pochodnej logarytmicznej. Przyjmijmy, e rwnanie
definicyjne ma posta:
) ,...., , (
2 1 i
y y y f y =
gdzie
i
y - wielko odczytana z przyrzdu pomiarowego. Np. przy wyznaczaniu
moduu Younga metod tensometryczn wielkociami mierzonymi s: sia
obciajca prbk
1
y , wzgldne wyduenie prbki
2
y oraz jej wymiary
3
y ,
4
y ;
wyznaczony ostatecznie modu jest funkcj kilku zmiennych.
Metod rniczki zupenej przedstawiamy poniej. Zakadajc, e bdy
wielkoci mierzonych
n
y y y ,.... ,
2 1
s mae w porwnaniu z
n
y y ,....
1
i rozwijajc
rwnanie definicyjne w szereg ,.... 3 , 2 = i otrzymamy:
(

+ +

=
n
n
y
y
f
y
y
f
y
y
f
y ...
2
2
1
1
. 13.1
Przyjto take:
i i
dy y = jako graniczne bdy pomiaru. Bd wzgldny okrela si:
)
`

+ +

n
n n
y
y
f
y
y
f
y
y
f
y y y f y
y
...
) ... , (
1
2
2
1
1 2 1
. 13.2
W dwch powyszych wzorach zaoono najmniej korzystny przypadek, tzn.
sumowanie si wszystkich bdw czstkowych, prawdopodobiestwo
wystpienia takiego bdu jest znacznie mniejsze ni bdw
i
y .

50

Jeli bdy
i
y mona traktowa jako przypadkowe, wwczas bdy
czstkowe mona skada wedug zasad sumowania bdw przypadkowych
2 2
2
2
2
1
1
....
|
|

\
|

+ +
|
|

\
|

+
|
|

\
|

=
n
n
y
y
f
y
y
f
y
y
f
y 13.3
Obliczone z powyszego wzoru y ma takie samo prawdopodobiestwo,
co bdy czstkowe
i
y , i = (1, 2, ..., n).
Jednak obliczenie y z powyszego wzoru jest bardziej pracochonne ni
ze wzoru 13.1. Std dla maej liczby pomiarw (np. 5 n ) stosujemy wzr 13.2,
a dla duej liczby pomiarw wzr 13.3.
Pochodne
i
y
f

, (i = (1, 2, ..., n)., oblicza si dla wartoci rednich


i
y .
Metod wyznaczania bdu pomiaru poredniego za pomoc pochodnej
logarytmicznej przedstawimy poniej.
W przypadku, gdy wyznaczona wielko jest iloczynem dowolnych
potg mierzonych wielkoci
n
a
n
a a
y y Dy y ...
2 1
2 1
= ; 13.4
przy wyznaczaniu bdu y wygodnie posuy si tzw. rniczkowaniem
logarytmicznym na podstawie rwnania 13.4.:
n n
y a y a y a D y ln ... ln ln ln ln
2 2 1 1
+ + + + = ; D = const.
a po zrniczkowaniu bdzie: ) , (
,
dy y dD D dy y
i i
= = =
|
|

\
|

+ +

n
n n
y
y a
y
y a
y
y a
y
y
...
2
2 2
1
1 1
. 13.5
Bd bezwzgldny otrzymuje si mnoc obie strony przez y :
|
|

\
|

+ +

=
n
n n
y
y a
y
y a
y
y a
y y ...
2
2 2
1
1 1
, 13.6
gdzie: ) ,... 1 ( n i y
i
= - bdy graniczne;

i
y - obliczony dla wartoci rednich:
n
y
y
n
i
i

+
=
1
1
.
Rwnanie 13.6. daje maksymalne wartoci bdu bezwzgldnego.
Byy to najczciej stosowane metody wyznaczania bdw dla pomiarw
porednich.
51

14. PRZYKADOWY PRZETWORNIK POMIAROWY; ZASADY DZIAANIA,
MOLIWOCI WYKORZYSTANIA
W poprzedniej czci wykadu omwione zostay przyrzdy pomiarowe, sygnay,
elementy teorii bdw. Obecnie omwimy przykadowy przetwornik pomiarowy.
Dlatego uywamy pojcie przykadowy, gdy zasada jego funkcjonowania moe i
jest zastosowana w innych przetwornikach.
Przetworniki, ze wzgldu na posta wielko na wyjciu, dzielimy na czynne i
bierne. Czynne to takie, w ktrych na wyjciu pojawia si sygna majcy cechy
energetyczne, np. sygna elektryczny. Przetworniki bierne to takie, w ktrych na
wyjciu pojawia si sygna bdcy zmian parametrw; sygna ten nie posiada cech
energetycznych. Przykadem takich przetwornikw s takie urzdzenia, gdzie na
wyjciu pojawiaj wielkoci typu zmiana opornoci, indukcyjnoci czy pojemnoci.
Zajmiemy si tylko przetwornikami z wykorzystaniem zmiany opornoci.

14.1. ZASADY DZIAANIA TRANSOMETRU OPOROWEGO.
Podstawa zalenoci, na podstawie ktrej wyprowadza si rwnanie
tensometru jest nastpujca:
S
l
R = 14.1
gdzie: R - oporno drutu o opornoci waciwej , dugoci l i przekroju S .
Jeli drut zostanie poddany sile rozcigajcej, to przyrost dugoci i przyrost siy
reguluje prawo Hookea zgodnie z wykresem na rys. 27.

P
1 2
3
0 ' 0 l

Rys. 27.
Rys. 27.
52

Przyrost dugoci to skutek przyrostu siy w pierwszej czci, wykres do punktu 1
jest odksztaceniem sprystym. Od punktu 1 do punktu 2 mamy odksztacenie
plastyczne, punkt 3 to zerwanie prbki. Jeli midzy punktem 0 a punktem 1
przestaniemy dokada si P, to nastpuje powrt do stanu zerowego po prostej 01.
Przy przyrocie l pojawia si przewenie, czyli nastpuje zmniejszenie przekroju
S , czyli l ronie a S maleje. Jeli odejmiemy si midzy punktem 1 a 2, to
powstae odksztacenie plastyczne pozostaje i przy odczeniu siy P drut wrci do
poziomu 0. Jest to opis, ktry obrazowo przedstawia procesy zachodzce w trybie
dziaania siy na drut, ktrego oporno opisuje zaleno 14.1. Ten opis bdzie
wykorzystany w dalszej czci opisujcej zalenoci tensometru oporowego.
Pomijajc wyprowadzenie, mona rwnanie tensometru zapisa nastpujco:
( )
(

+ +

1
2 1
S
S
l
l
R
R
14.2.
gdzie: R - przyrost opornoci, wywoany wydueniem drutu oporowego
nazywanego tensometrem oporowym,
l - przyrost dugoci na skutek dziaania siy,
- liczba Poissonea.
Jak wida, dla penej znajomoci zasad dziaania transometru opornego trzeba
rozumie trzy prawa fizyki, tj. opornoci przewodu, prawo Hookea, liczba
Poissonea (relacja midzy przyrostem przekroju, moe by ujemny a przyrostem
wyduenia wzgldnego). Rwnanie tensometru 14.2. mona zapisa:
K
R
R
=

14.3
gdzie: - wyduenie wzgldne
l
l
,
K staa tensometru zalena od liczby Poissonea
Dla rnych metali K przyjmuje warto od 2 do 6. Aby zwikszy K naleao
szuka materiaw charakteryzujcych si du wielkoci K . Gwne
poszukiwania poszy w kierunku zmiany rezystancji waciwej w funkcji
odksztace czyli

S
S
. Okazao si, e korzystne waciwoci posiadaj
materiay pprzewodnikowe i nazwano t waciwo efektem
piezorezystancyjnym. Mona t waciwo sformuowa jako zmian rezystancji
53

wzgldnej materiaw pprzewodnikowych pod wpywem odksztace. Mona
przyj, e dla materiaw pprzewodnikowych mamy:
) 2 1 ( PE K + + = ,
gdzie P wspczynnik piezorezystywnoci,
E modu Younga
Dla materiaw pprzewodnikowych (krzem, german) K przyjmie wartoci od 40
do 200. Tensometry pprzewodnikowe w stosunku do tensometrw drutowych
maj szereg wad; gwnie to
R
R
jest nieliniowo zalene od odksztace, s czue na
zmian temperatury. Tensometr posiadaj szereg parametrw wanych ze wzgldu
na uytkownikw, i tak:
rezystancja i jej tolerancja,
wymiary gabarytowe,
maksymalne dopuszczalne odksztacenie,
staa tensometru K ,
wytrzymao zmczeniowa,
zakres temperatury uytkowania
maksymalne dopuszczalne natenie prdu pomiarowego,
pezanie,
rezystancja izolacji.
Te parametry charakteryzuj cechy tensometrw.
Tensometry mona wykorzystywa do pomiaru wielu wielkoci
mechanicznych. Zasad pokazuje poniej zamieszczony schemat (rys. 28.):

urzdzenie
pomiarowe
wielko
mierzona
odksztacenie
elementu
sprystego
odksztacenie
tensometru
zmiana
opornoci
tensometru

Rys. 27.

Podstawowy element to zamiana wielkoci mierzonej na odksztacenie spryste
elementu na stae poczonego z tensometrem zasad pokazan na rys. 28.

Rys. 28.
54


1-drucik oporowy, 2-papierowa podkadka nona, 3-warstwy kleju,
4-druty odprowadzajce, 5-nakadka papierowa, 6-przedmiot badany
Rys. 28. Tensometr wykowy SR-4

Zasad pomiaru rnie dziaajcych si pokazano na rys 29., 30. i 31.


Rys. 29. Schemat przetwornika do pomiaru siy w ukadzie ciskanym





Rys. 30. Schemat przetwornika do pomiaru siy w ukadzie zginanym



Rys. 31. Schemat przetwornika do pomiaru siy w ukadzie piercienia

Rys. 29.
30. 31.
55

Zasad pomiaru cinienia w rnych warunkach pokazano na rys. 32., 33. i 34.


Rys. 32. Schemat przetwornika do pomiaru cinienia
z elementami sprystymi o ksztacie membrany

Rys. 33. Schemat przetwornika do pomiaru cinienia
z elementem porednim



Rys. 34. Schemat przetwornika do pomiaru cinienia
z elementem sprystym o ksztacie naczynia cienkociennego

Przemieszczenie mona pomierzy jak na rys. 35.


Rys. 35. Schemat przetwornika do pomiaru przemieszcze


Pomiary parametrw ruchw drgajcych pokazano na rys. 36. i 37.

Rys. 36. Schemat przetwornika do pomiaru drga i przemieszcze

Rys. 32.,
33., 34.
Rys. 36. 37.
Rys. 35.
56


Rys. 37. Schemat ukadu sejsmicznego

Przykady pomiaru momentu obrotowego pokazano na rys. 38. i 39.

Rys. 38. Schemat ukadu do pomiaru momentu obrotowego


Rys. 39. Schemat ukadu do pomiaru maych momentw skrcajcych

Przykady te zaczerpnito z pracy [4]. W dalszej czci rozdziau 14 rysunki
zaczerpnito z pracy [4].
Powysze przykady pokazuj, jak zmieni wielko mierzon na
odksztacenie elementu i tensometru. Oddzielnym problemem s zalenoci
analityczne, ktre wyznacza si oddzielnie dla kadego przykadu pomiarowego (nie
bd one zamieszczone w pracy).
Przedstawione przykady pokazuj jedynie zasady dziaania tensometrw dla
rnych rodzajw pomiarw. Rozwizania szczegowe i obliczenia analityczne
naley przeprowadzi oddzielnie.




Rys. 38. 39.
57

14.2. ZASADY PRZEKSZTACENIA OPORNOCI NA SYGNAY ELEKTRYCZNE.
Zasada, ktr wykorzystano do zamiany wielkoci przyrostu opornoci na
wielko posiadajc cechy energetyczne czyli np. na zmian wielkoci napicia
bd prdu zostaa sformuowana przy definiowaniu zasady dziaania mostka
Wheatestonea. Zasad t przedstawiamy poniej.
Nie wchodzc w cay szereg zaoe i uproszcze zwizanych z warunkami
wykorzystania mostka Wheatestonea, naley jednak rozpatrzy podstawowe
zalenoci wice parametry wejciowe (tzn. zmian rezystancji tensometrw) z
napiciem wyjciowym mostka. Ukad pomiarowy mostka Wheatestonea (rys. 40.)
skada si ze rda zasilajcego, czterech gazi oporowych i przyrzdu mierzcego
napicie wyjciowe.


Rys. 40. Schemat elektryczny mostka Wheatestonea

Zakadajc, e napicie rda zasilajcego jest podczas pomiarw stae i
wynosi U oraz, e napicie wyjciowe U jest mierzone przyrzdem o duej
impedancji wejciowej (praktycznie nie obciajcym ukadu), przy spenieniu
pewnych dodatkowych warunkw, otrzymuje si nastpujc zaleno:
|
|

\
|
+

+
=
4 3
3
2 1
1
R R
R
R R
R
U U 14.4.
atwo wykaza, e gdy
4 3 2 1
R R R R = = = , przyrzd pomiarowy wykazuje 0 = U .
W przypadku pomiarw tensometryczne
4 1
R R s tensometrami, a
pocztkowe ich wartoci s rwne i wynosz R . Zadajc z kolei pewne przyrosty
rezystancji tensometrw
4 1
R R , otrzymuje si zaleno:
|

\
|

R
R
R
R
R
R
R
R
U
U
4 3 2 1
4
1
. 14.5.
Rys. 40.
58

Wzr powyszy, korzystajc ze zwizku k
R
R
=

, mona zapisa w postaci:


) (
4
4 3 2 1
+ =
k
U
U
, 14.6.
gdzie
4 1
- odksztacenia (wyduenie wzgldne) tensometrw w kadej
z czterech gazi mostka pomiarowego.
Z zalenoci 14.5. i 14.6. wynika szereg istotnych wnioskw dla
wykorzystania tensometrw w pomiarach wielkoci mechanicznych. czc
tensometry zgodnie z podanym na rys. 41. Schematem a) i c), mona otrzyma
przy takim samym odksztaceniu elementu sprystego sygna wyjciowy
dwukrotnie wikszy ni przy wykorzystaniu tensometru pojedynczego. Efekt
dodatkowego podwojenia sygnau mona osign, konstruujc element sprysty w
ten sposb, aby wystpoway w nim odksztacenia rwne co wielkoci, lecz
przeciwne co do znaku (rys. 41.d.) .


Rys. 41. Schemat elektryczny mostka Wheatestonea
a) z dwoma tensometrami czynnymi w przeciwlegych gaziach; znak
odksztace jednakowy,
b) z dwoma tensometrami czynnymi w przylegych gaziach; znak
odksztace jednakowy,
c) z dwoma tensometrami czynnymi w przylegych gaziach; znak
odksztace przeciwny,
d) z czterema tensometrami czynnymi; znaki odksztace parami
przeciwne

Waciwo niereagowania ukadu mostkowego na jednakowy co do wielkoci i
kierunku sygna przyoony w przylegych gaziach, bd do wszystkich czterech
tensometrw rwnoczenie, moe by w praktyce wykorzystana do
skompensowania wielkoci niepodanych w pomiarze.
Rys. 41.
59

Na rys. 42. podano przykad, w ktrym wszystkie tensometry jednoczenie
poddawane s dziaaniu temperatury, co powoduje zmian ich wielkoci we
wszystkich gaziach i na wyjciu 0 = U .



Rys. 42. Zasada kompensacji wpywu temperatury


Tablica 14.1. Wzgldna czuo mostka Wheatestonea i kompensacja wpywu
wielkoci zakcajcych w przypadkach obcie zoonych.


60

Jak wida z przedstawionych na rys. 40. na wyjciu z mostka pojawia si
napicie stae lub zmienne.
Pomiary wykonywane przez ukady staoprdowe posiadaj podstawow
wad a mianowicie wpyw zmiany temperatury na wielko napicia wejciowego.
Szczegy rozwaa mona znale w pracy [1]. Mona nazwa zjawisko
generujce dodatkowe sygnay; jest to problem termoogniw dla dwch rnych
materiaw, np. konstantanu (z tego materiau wykonany jest tensometr) i
miedziowych przewodw odprowadzajce zmiany opornoci. Zjawiska te s
eliminowane w ukadach zmiennoprdowych. Ukady zmiennoprdowe pracuj z
wykorzystaniem zasady modulacji czstotliwoci nonej.


Rys. 43.Zasada modulacji czstotliwoci nonej

Jak wida, czstotliwo grna mierzonego przebiegu musi by co najmniej
od 3 do 10 razy mniejsza ni czstotliwo fali nonej, czyli np. jeli ta rnica
wynosi 5 razy, to przy grnej czstotliwoci mierzonej 1000 Hz, fala nona powinna
by w zakresie od 3500 Hz do 10000 Hz .
Typow aparatur do pomiaru sygnaw z wykorzystaniem zmiennoprdowych
elementw przedstawia rys. 44.

Rys. 44. Schemat blokowy tensometrycznej aparatury wzmacniajcej
pracujcej na fali nonej
61

Na schemacie pokazano zasad funkcjonowania aparatury tensometrycznej z fal
non. Aktualnie ukady takie s produkowane jako moduy, ktre maj tylko
charakterystyk wejciow i wyjciow.
S to podstawowe wiadomoci z zakresu aparatury wspczesnej z
tensometrii oporowej.
Ostatnim tematem, ktry zostanie omwiony w Materiaach jest pomiar
parametrw ruchu dowolnego obrotowego ukadu mechanicznego.
rodki transportu s przykadem mechanicznych ukadw drgajcych,
dlatego omwimy ten przypadek jako szczeglny element techniki pomiarowej. Nie
bd omawia caej czci dotyczcej elementw teorii drga, przedstawi tylko
niektre pojcia:
a - amplituda drga (najwiksze wychylenie)
- czstotliwo koowa drga
f - czstotliwo drga; f = 2
Mona przyj, e dla ukadu mechanicznego bez tumienia

m
K
r
=
gdzie:
r
- czsto rezonansowa (wasna) ukadu
K - sztywno ukadu
m - masa zwizana z sztywnoci K .
Mona w przyblieniu przyj, e czsto wasna ukadu z tumieniem, jest nieco
mniejsza ni w ukadzie bez tumienia (jest to jednak przyblienie). W ukadach z
tumieniem przebieg drga przedstawia rys. 45.

Rys. 45.

Wanym elementem jest, jak wida z rys. 45. tumienie. Wprowadzimy tumienie
krytyczne
kr
b ; to takie, gdy krzywa na tys. 45. Nie przetnie osi t . Uywa si czsto
Rys. 45.
62

Rys. 47. Zaleno wzgldnej amplitudy
drga wymuszonych od stosunku drga
wymuszonych do czstotliwoci drga
wasnych, dla rnych wspczynnikw
tumienia b/b
kr
.
wielkoci
kr
b
b
n = . Wielko n wyznacza si z logarytmicznego dekrementu tumie,
ktry jest zdefiniowany nastpujco:
2
1
1
2 ln
n
n
A
A
D
i
i

=
|
|

\
|
=
+

Dla wyznaczenia stosunku
kr
b
b
wyznacza si dwa stosunki
1 + i
i
A
A
oraz
2 + i
i
A
A
.
Wyznaczono
kr
b
b
zgodnie z rys. 46.

Rys. 46. Zaleno wspczynnika tumienia b/b
kr
od stosunku
amplitud drga tumionych

Jeli na ukad mechaniczny dziaa wymuszenie w postaci funkcji czasu, to wykres
okrelajcy zaleno amplitud drga wasnych do wymuszonych przedstawia rys. 47.

63

Wykorzystano te relacje i na rys. 48. i 49. Przedstawiono schematycznie ukad
przetwornika sejsmicznego. Przetwornik ten moe mierzy zarwno
przemieszczenie, jak i przyspieszenie. Pokazano to na rys. 50. i 51., gdzie y oznacza
wielko pomierzon a x - wielko mierzon. Jeli czstotliwo mierzona jest
poniej czstotliwoci wasnej, to ugicie spryny pokazuje przyspieszenie obwodu
rys. 49., gdy czstotliwo mierzona jest wiksza od czstotliwoci wasnej, to
ugicie spryny wskazuje mierzone przemieszczenie.

Rys. 48. Schemat ukadu przetwornika sejsmicznego.



Rys. 49. Schemat dziaania przetwornika sejsmicznego:
1 element drgajcy, 2 obudowa, 3 masa sejsmiczna,
4 element sprysty, 5 ukad drgajcy



Rys. 50.
64


Rys. 51.



***

Przedstawione Materiay zawieraj treci niezbdne do zaliczenie czci
wykadowej z przedmiotu Podstawy Techniki Pomiarowej.
Przedstawione Materiay s objte prawem autorskim autora Prof. J.
Kisilowskiego. Materiay zawieraj 64 strony oraz spis treci.
65

SPIS TRECI

1. Wstp...........................................................................................................................2
2. Podstawowe pojcia z Podstaw techniki pomiarowej. Narzdzia pomiarowe.
Wzorce ........................................................................................................................ 4
3. Definicje pomiaru. Model zmiany wielkoci mierzonej na pomierzon. ................... 9
4. Cechy metrologiczne przyrzdw pomiarowych. Parametry charakteryzujce
przyrzdy pomiarowe ............................................................................................... 11
5. Przetwarzanie wielkoci mierzonej na pomierzon. ................................................. 12
6. Przetworniki pomiarowe ........................................................................................... 13
7. Przyrzdy pomiarowe; zasady dziaania....................................................................14
8. Wyznaczenie funkcji charakteryzujcych sygna losowy w dwch dziedzinach ..... 17
9. Zalenoci midzy trzema dziedzinami sygnau bdcego procesem
stochastycznym ......................................................................................................... 22
10. Zalenoci midzy wejciem a wyjciem elementarnego stopnia przetwarzania ..... 24
11. Wyznaczenie cech probabilistycznych w dziedzinie amplitudy dla sygnau
losowego ................................................................................................................... 25
11.1. Wyznaczenie zakresu minimalnej i maksymalnej amplitudy realizacji procesu
stochastycznego.........................................................................................................31
11.2. Wyznaczanie gstoci prawdopodobiestwa wystpienia amplitudy dla sygnaw
bdcych realizacj procesu stochastycznego...................................................................34
12. Elementy teorii bdw ............................................................................................. 37
12.1. Bdy przypadkowe ................................................................................................... 37
12.2. Bdy w pomiarach dynamicznych (realizacji procesu stochastycznego) ................ 40
12.3. Klasyfikacja rde bdw ....................................................................................... 43
13. Metody pomiarowe ................................................................................................... 48
14. Przykadowy przetwornik pomiarowy; zasady dziaania, moliwoci
wykorzystania ........................................................................................................... 51
14.1. Zasady dziaania transometru oporowego. .................................................................. 51
14.2. Zasady przeksztacenia opornoci na sygnay elektryczne........................................58
Spis treci...................................................................................................................65

You might also like