DIFRAKCIJA X-ZRAKA

1. dio




Iva Boi!evi"






Seminar iz Uvoda u fiziku materijala

prof. Dinko Babi"































2



DIFRAKCIJA X-ZRAKA



1. UVOD


U seminaru !e biti govora o geometrijskom pristupu difrakciji, izvest !e se Braggov
zakon preko vektora recipro"ne reetke, bit !e rije"i i o Brillouinovim zonama u
difrakciji, te o ure#ajima koji koriste difrakciju x-zraka.

Elektromagnetski valovi visokih frekvencija ("ije su valne duljine malo ve!e od
udaljenosti izme#u ravnina u kristalu) padaju na uzorak pri "emu dolazi do
interferencije valova koji se reflektiraju na atomima uzorka. Iz difrakcijske slike koju
oni stvore mogu!e je s velikom to"no!u protuma"iti o kojoj se kristalnoj strukturi
radi.


2. GEOMETRIJSKI PRISTUP DIFRAKCIJI X-ZRAKA


Op!e pravilo za udaljenost d izme#u susjednih ravnina (samo za kubi"nu strukturu) je
(h, k, l su indeksi ravnina, a konstanta reetke):
2 2 2
l k h
a
d
hkl
+ +
= ($)

to se deava prilikom difrakcije, moe se vidjeti na slici $.

Slika $. Difrakcija x-zraka

X-zraka sustretne kristal pod kutem , raspri se na paralelnim ravninama atoma u
kristalu, a ono to mi mjerimo je kut difrakcije 2 - kut izme#u zrake koja pro#e kroz
kristal i reflektirane zrake. Da bi na nekoj udaljenosti reflektirane zrake ostale u fazi,
razlika prije#enih puteva mora biti jednaka cijelom broju valnih duljina (n):
n d = sin 2 (2)
3
Vidljivo je da kut difrakcije ovisi o valnoj duljini zraka ! i udaljenosti d izme#u
ravnina. Pri tome se dobije ograni"enje na valnu duljinu svjetlosti kod koje dolazi do
difrakcije: d 2 . To je i objanjenje zato ne dolazi do difrakcije vidljive svjetlosti:
valne duljine vidljive svjetlosti su puno ve!e od udaljenosti izme#u ravnina u kristalu.

Budu!i da svaka ravnina reflektira $0
-3
do $0
-5
upadne zrake, $0
3
do $0
5
ravnina
sudjeluje u stvaranju reflektirane zrake.


3. BRAGGOV ZAKON PREKO VEKTORA RECIPRO#NE REETKE


Zraka sa valnim vektorom k
!
pada na uzorak, a sa uzorka se reflektira zraka sa ' k
!
.
Amplituda reflektirane zrake ovisi o lokalnoj elektronskoj gusto!i n( r
!
)

=
G
G
r G i n r n ) exp( ) (
!
!
!
!
(3)
i dana je izrazom (dV element volumena na kojem dolazi do rasprenja, G
!
vektor
recipro"ne reetke):

= = ) exp( ) ( ) ) ' ( exp( ) ( r k i r dVn r k k i r dVn F
!
!
! !
! !
!
(4)
pri "emu k
!
mjeri promjenu izme#u valnih vektora k
!
i ' k
!
:
' k k k
! ! !
= + (5)
Kada se (3) stavi u (4), dobije se amplituda rasprenja oblika:

=
G
G
r k G i dVn F ) ) ( exp(
!
! !
!
(6)
Najve!a amplituda rasprenja
G
Vn F
!
= se dobije kada je
G k
! !
= (7)
Ako se k
!
razlikuje od G
!
, tada je amplituda rasprenja zanemarivo mala.
Iz (5) i (7) plus uvijet da se radi o elasti"nom rasprenja ( ' k k
! !
= ), dobije se uvjet za
difrakciju:
2
2 G G k
! ! !
= (8)


4. BRILLOUIN-OVA ZONA


Brillouinova zona daje geometrijski uvid u uvjet difrakcije tj. pokazuje sve valne
vektore koji !e se reflektirati po Braggovom zakonu. Kada se uvijet difrakcije (8)
podijeli sa 4, dobije se oblik:
2
)
2
$
( )
2
$
( G G k
! ! !
= (9)







4


Slika 2.

Prvo se odabere neki vektor G
!
koji ide od O do to"ke recipro"ne reetke (Slika 2.).
Zatim se odredi ravnina koja je okomita na G
!
na polovici G
!
. Ta ravnina predstavlja
grani"nu zonu. Postupak se ponovi za vie to"aka u blizini O. Do difrakcije !e do!i
ako postoji takav valni vektor
$
k
!
koji po"inj u O, a zavrava na ravnini $ i on !e
zadovoljavati difrakcijski uvjet:

2
$
)
2
$
( )
2
$
(
C C
G G k
! ! !
=
Prva Brillouinova zona je najmanji volumen kojeg zatvaraju ravnine okomite na G
!

na polovici G
!
.


5. PRIMJENA


Promatranjem difrakcijskog uzorka mogu!e je odrediti o kojoj se kristalnoj strukturi
radi. Intenziteti maksimuma ovise o vrsti atoma u reetki i prostornom rasporedu pa se
taj princip moe iskoristiti za razna prou"avanja materijala.
%esto se koristi Debye-Scherrer-ova metoda te difraktometri.
5


5.$. DEBYE-SCHERRER-OVA METODA

Da bi se lake shvatio princip na kojem radi ova metoda, moe se zamisliti situacija u
kojoj imamo samo jedan kristal namjeten tako da je jedna ravnina pod kutom ".
Nakon refleksije x-zrake sa kristala, bit !e vidljiva samo jedna zraka. Ukoliko se
kristal zarotira oko upadne zrake, reflektirana zraka !e ocrtati konus "iji !e vrh biti na
kristalu.
U drugoj situaciji imamo stotinu kristala koji su namjeteni tako da je bar jedan set
ravnina pod odre#enim kutom ", opazit !emo stotinu reflektiraju!ih zraka pri "emu !e
nam svaka zraka dati to"ku koju !emo mo!i vidjeti. Ukoliko i ovu skupinu kristala
zarotiramo oko osi upadne zrake, reflektirane zrake !e ocrtati stotinu konusa.
Ukoliko na materijal sameljemo u sitni prah koji moe sadravati pravu gomilu
kristala i kad ga stavimo u snop x-zraka, uvijek !e postojati bar neki kristali koji su
postavljeni u povoljan poloaj za difrakciju. Ono to !e se dobiti je kontinuirani set
to"kastih refleksija koje !e leati na luku konusa. Zapravo !e se pojaviti vie konusa
sa razli"itim kutevima koji odgovaraju to"no odre#enom setu ravnina. Upravo na
ovom principu radi Debye-Scherrerova metoda. Kamera se sastoji od metalnog
cilindra u "ijem se sreditu nalazi uzorak usitnjen u prah. Unutar cilindra se nalazi
film na koji se biljee dijelovi konusa. Budu!i da svi npr. FCC metali imaju iste
difrakcijske linije, ali razli"ite kuteve 2", moemo odrediti kristalnu strukturu i
konstantu reetke.(Shematski prikaz difraktometra moe se vidjeti na stranici:
http://www.iucr.org/iucr-top/comm/cteach/pamphlets/2/node8.html)

5.2. DIFRAKTOMETAR

Kod difraktometra se umjesto filma koristi Geigerov broja" ili neki drugi elektronski
detektor da bi se odredili prisutstvo i intenzitet svake reflektirane zrake. Budu!i da je
cijela aparatura kompjuterizirana, u kratkom vremenu mogu!e je dobiti vrijednosti
h,k,l, intenzitet te cijelu molekularnu strukturu (do oko $00 atoma) u roku od samo
nekoliko tjedana. (Prikaz difraktometra se moe na!i na:
http://www.iucr.org/iucr-top/comm/cteach/pamphlets/2/node$4.html)
Difrakcija se koristi i u odre#ivanju struktura slitina, deformacija zbog mehani"kog ili
toplinskog utjecaja, faznih dijagrama, ovisnosti duljine kemijske veze i kuteva izme#u
njih o temperaturi.
Pored obi"nog x zra"enja koristi se i sinhrotronsko zra"enje koje je do tisu!u puta
intenzivnije od obi"nog. Difrakcijski podaci se dobivaju u kratkom vremenu pa je
mogu!e pratiti dinami"ke pojave u kristalu.











6



LITERATURA

L.H.Van Vlack: Elements od Materials Science and Engineering, 6
th
edition,
Addison-Wesley, Reading,$989.
C. Kittel: Introduction to Solid State Physics, 6
th
edition, John Wiley & Sons, New
York, $986.
http://www.iucr.org/iucr-top/comm/cteach/pamphlets
http://www.hfd.hr/ljskola/96/popovic/popovic.htm