Pojam oteenja i loma

Lom inenjerskih materijala je uvek neeljen dogaaj, pre svega, zbog: mogunosti
ugroavanja ljudskih ivota, direktnog ekonomskog gubitka, zastoja neizvesnog trajanja i
mogueg pada raspoloivosti postrojenja. Kod inenjerskih materijala su mogua dva
osnovna moda razaranja: ilav i krt - ija je pojava u funkciji sposobnosti materijala da
se pre loma plastino deformie Osnovni tipovi loma pri statikom optereenju prikazani su
na slici 1 za duktilni i krti lom pri zateznom optereenju. Krti lom nema deformaciju u zoni
loma i moe da se iri interkristalno i transkristalno, slika 2, dok je duktilni lom praen
deformacijom koja ne mora da bude po celoj zapremini, ve je najee kombinacija
duktilnog i krtog karaktera. Ova kombinacija jasno moe da se uoi na mikrofotografijama
loma i karakteristina je za sve meovite lomove, slika 3.

Slika 1: Prikaz loma pri zateznom optereenju:

a) ilav prinudni lom i b) krti prinudni lom

Slika 2: Nain irenja krtog loma desno SEM mikrofotografija lomova prikazanih na
skici
Poznato je iz literature da se ilavost materijala menja sa temperaturom, to znai
da se i vlaknast i kristalast lom, u zavisnosti od temperature ispitivanja, mogu da pojave
kod istog materijala. Temperaturni interval u kome dolazi do promene karaktera razaranja
je poznat kao temperaturni interval prelaza u krto stanje, slika 3. Uobiajeno se za
kritinu temperaturu prelaza u krto stanje usvaja ona temperatura na kojoj je jasno
izraena smena mehanizama razaranja na odreenoj prelomnoj povrini. S obzirom na
znaaj ove temperature ne samo za projektovanje i izbor materijala neke strukture, ve i

za praenje ponaanja materijala tokom eksploatacije, neophodno je za svaki materijal

pojedinano poznavati njenu vrednost. Makrofraktografska metoda odreivanja kritine
temperature prelaza u krto stanje kod metalnih materijala se zasniva na odreivanju
procentualnog udela ilavog loma na seriji uzoraka istih dimenzija koji su napravljeni od
istog materijala i koji su ispitivani na razliitim temperaturama. ilava komponenta loma
predstavlja oblasti prelomne povrine koje se vizuelnom karakterizacijom opisuju kao
vlaknaste.
Prelaz iz duktilnog u krti lom

Slika 3: Meoviti lom: a) mikrofotografija SEM;

b) dijagram promene udarne ilavosti sa temperaturom
1. PCK reetka; 2. ZCK reetka; 3. elici poviene vrstoe
Svaki lom ukljuuje dve faze razvoja kao odgovor na delujui napon:
1. fazu nukleacije prsline i
2. fazu irenja prsline.
Primarna klasifikacija lomova prema mikrogeometriji prelomne povrine na
kristalast i vlaknast istovremeno ukazuje i na mikromehanizam razaranja kristalast
karakter loma je osobenost krtog, a vlaknasti ilavog mikromehanizma razaranja.
Prema sloenosti, lom moe da bude jednostavan (prost) i sloen.
Jednostavan lom je razdvajanje tela na dva ili vie delova koje je usledilo kao
odgovor tela na delujui napon koji je statikog karaktera (konstantan ili lagano promenljiv
sa vremenom) i temperaturu koja je relativno niska u odnosu na temperaturu topljenja. U
svim ostalim uslovima delovanja napona i temperature, lom je sloenog karaktera.
Primenjeni napon moe da bude inae statikog ili dinamikog karaktera, a po smeru
dejstva: zatezni, pritisni, smicajni, uvojni, savojni i kombinovani. U Tabeli 1 je dat pregled
najvanijih i najeih klasifikacija lomova.
Lom po svojoj orijentaciji moe da bude ravan, ravan sa kosim ivicama, kos i kupast,
tabela 1.

Za ravan lom je karakteristino da su prelomne povrine normalne na pravac

najveih zateznih (normalnih) napona a obino se javlja pri makrokrtom
razaranju.

Ravan lom sa kosim ivicama (poznat i kao lom aa-kupa oblika) se najee
javlja kod cilindrinih uzoraka izraenih od konstrukcionih legiranih elika
razaranje zapoinje u ravni koja je normalna na osu uzorka, a zatim, zbog
promene naponsko-deformacionog stanja, prslina u povrinskim slojevima

menja svoj pravac, tangencijalni naponi postaju dominantni a razaranje

zavrava se obrazovanjem glatkih kosih povrina.

Kosi lom. Razaranje anizotropnih materijala sa ogranienom sposobnou

plastinog deformisanja i otpora ka razaranju, kao to su npr. legure
aluminijuma i magnezijuma za gnjeenje, odvija se smicanjem u ravnima
najveih tangencijalnih napona a lom je po orijentaciji kos. Za razliku od ravnog
loma, poslednja dva su karakteristika makroilavog razaranja.

Kupast lom. Kod materijala koji se odlikuju velikom sposobnou plastinog

deformisanja i otpora ka razaranju, u zoni razaranja tokom delovanja zateznih
napona se obrazuju potpuno kose ivice, odnosno javlja se kupast lom.

Tabela 1: Osnovne klasifikacije lomova

Aspekt klasifikacije
Izgled Vrsta Karakteristina osobenost loma
lomova:
Karakter optereenja

Jednostavan lom statiki lom

Lom usled puzanja
Lom usled naponske
korozije
Lom usled usporenog
razaranja
Lom usled zamora
Lom usled niskociklinog
zamora
Lom usled korozionog
zamora
Lom usled termikog
zamora

Lom usled dugotrajnog statikog

optereenja

Zamorni lom

Orijentacija loma
Mikromehanizam
razaranja

Ravan lom

Ravan lom sa
kosim ivicama

ilav

Kosi lom

Krt

Kvazikrt

Kupast lom
Zamorni

Stepen plastine
deformacije pre loma

vei od 15 %
ilav lom

do 1,5%
krt lom

do 15 %
kvazikrt lom

Veza sa elementima
mikrostrukture

Transkristalni lom

Interkristalni lom

Meoviti lom

Krt (A<5J)

Kvazikrt
(A=5.....20J)

ilav (A>20J)

Energija razaranja

Orijentacija prelomne povrine je u tesnoj vezi sa karakterom optereenja, naponskim

stanjem i normalnim i tangencijalnim naponima koji dovode do razaranja. U tabeli 2 su
ematski prikazani neki primeri orijentacije loma materijala u zavisnosti od vrste
kratkotrajnog statikog optereenja. Poznavanje svih specifinosti prelomnih povrina,
mogue je ve na osnovu makrofraktografske analize doneti validne zakljuke o uzrocima
koji su delovali, a svakako i odrediti preventivne mere kojima ti uzroci mogu da se svedu
na najmanju moguu meru.

Tabela 2: ematski prikaz razaranja u zavisnosti od vrste delujueg optereenja

Vrsta optereenja

Zatezno

Pritisno

Smicajno

Uvojno

Savojno

Napon
normalni,
max

Vrsta razdvajanja
tangencijal
ni, max

prekid

smicanje

Ispitivanje mikrostrukture metodom replika IBR

Acetatne replike su tanke folije koje imaju ulogu da preslikaju mikrostrukturu, koja se
potom pregleda pod mikroskopom. Faze razvijanja mikrostrukture su identine kao kod
metalografskih uzoraka: na licu mesta se brusi i fino polira povrina metala, zatim nagriza
u odgovarajuem sredstvu, a potom se nanosi omekala replika. Nakon njenog
ovravanja, lagano se podie sa povrine metala i nanosi na staklenu podlogu. Repliku
je mogue prevui tankim slojem ugljenika, zlata ili aluminijuma (tzv. Naparavanje,
odnosno postizanje vrlo tankih slojeva uniformne debljine), tako da moe da se posmatra i
pod SEM mikroskopima. Metod replika je jedan od osnovnih vidova eksploatacione
kontrole.

Slika 4: Ispitivanje mikrostrukture metodom replika

a) Mesto uzimanja replika na komponenti;
b) Replike presvuene (naparene): zlatom, aluminijumom, grafitom
Osnove mikroskopije
Prva konstrukcija ureaja za posmatranje sitnih detalja i predmeta, odnosno
mikroskopa (mikron mali i scopos gledam), je napravljena jo u srednjem veku po
idejama koje potiu jo iz Stare Grke. Pronalaza mikroskopa je holandski optiar
Zaharijas Jansen iz Midelburga (1590.god.) koji je otkrio da se sa dva obostrano
konveksna soiva dobija uveana slika ako se postave na odreenom rastojanju.
Postavljanjem soiva u metalnu cev napravljen je prvi optiki mikroskop. Ova naelna
konstrukcija je do dananjih dana zadrana, s tim to je modernizovana upotrebom drugih
provodinika svetlosti kao to su prizme i ogledala, uz neizbeni dodatak za digitalizaciju
slike, tako da danas maksimalna poveanja koja se postiu optikom mikroskopijom
iznose od 1000-1500x (uz digitalnu podrku do 5000x). Osnovna osobina optike
mikroskopije je da koristi vidljivi deo optikog zraenja za posmatranje i da nema
mogunost dubinskog posmatranja.
Veliki napredak u mogunostima dostizanja veih poveanja je postignut kada je
svetlosni zrak zamenjen snopom elektrona, pa je ova tehnika ispitivanja dobila naziv
elektronska mikroskopija. Kod elektronskog mikroskopa se umesto vidljive svetlosti i
optikih soiva za dobijanje uveliane slike objekta koristi snop elektrona koji se usmerava
i fokusira uz pomo elektromagnetnog polja. Postoje dve osnovne tehnike elektronske
mikroskopije:

TEM transmisiona elektronska mikroskopija (uzorak vrlo male debljine se

prozrauje).
SEM skening elektronska mikroskopija.

Kod obe tehnike primenjuju se elektronski zraci, ali za stvaranje slike se koriste
razliiti mehanizmi, slika 5, TEM oblikuje sliku pomou elektrona koji se proputaju kroz
uzorak, dok SEM skenira povrinu uzorka a slika dobija oblik detekcijom elektrona koji se
odbijaju od spoljanje povrine uzorka to daje utisak dubine (3D).

Primarni elektroni
(Izvor)

Primarni elektroni
(Izvor)

Odbijeni
elektroni
Augerovi elektroni

Uzorak

Elastino odbijeni
elektroni

(emisija usled pobude

pri popunjavanju niih
el. nivoa)

Elektroni
koji daju
sliku
X zraci

a)

Sekundarni
elektroni

Uzorak

b)

Slika 5: Mehanizmi stvaranja slike kod: a) TEM; b) SEM

Kod elektronskih mikroskopa bitan pojam je rezolucija, odnosno najmanje rastojanje
izmeu dve take pri kome se one raspoznaju kao razdvojeni objekti. Rezolucija je
odreena talasnom duinom snopa koji se koristi za pregled uzorka i iznosi je oko 1/2
talasne duine. Kod svetlosnog mikroskopa za osvetljavanje uzorka se koristi snop vidljive
svetlosti koja obuhvata talasne duine od 380-780 nm, tako da najbolja rezolucija iznosi
do 200 nm. Detalji uzorka koji se posmatra ne mogu da se raspoznaju ako su manji od
talasne duine osvetljavajueg snopa zbog pojave difrakcije i interferencije koji stvaraju
senku. Tako da plavi deo spektra ima bolju mogunost raspoznavanja detalja od crvenog.
Elektroni koji se kreu i osvetljavaju povrinu uzorka imaju talasnu i materijalnu
prirodu, tako da se talasna duina elektronskog snopa menja sa brzinom kretanja
elektrona (De Broglie-v zakon: = h / me v; me = 9.11 1031 kg; h = 6.63 1034 J s).
Na primer, za raspoznavanje objekta veliine 109m (1nm), potrebno je na njega usmeriti
elektrone koji imaju brzinu priblino 100000 ms1. Ubrzavanje elektrona do potrebnih
brzina zahteva veliki napon, od 50000-100000 V a elektroni pri ovim naponima postiu
talasnu duinu od 0.55 - 0.39 nm. Elektronski mikroskop ima oko 100 puta veu rezoluciju
od svetlosnog mikroskopa i postie uveanje do 100000 puta, i neophodan je za objekte
koji se nalaze na rastojanju manjem od 100nm.
Kod snopa elektrona nije mogue koristiti soiva, pa se snop fokusira magnetnim
poljem (magnetnim kalemovima). Da bi se spreilo rasipanje elektrona i jonizacija vazduha
u mikroskopima mora da se ostvari visok stepen vakuuma.

a)

b)

Slika 6: Osnovni delovi elektronskog mikroskopa: a) TEM; b SEM)

TEM. Osnovni delovi TEM su smeteni unutar glavne mikroskopske kolone
metalnog cilindra u kome je vakuum, slika 6, a kao izvor elektrona se koristi tzv.
elektronski top: izvor elektrona je katoda uarena volframova nit. ili uareni kristal lantanheksaborida presvuen slojem cirkonijum-oksida. Primenom ovog elektronskog topa moe
da se dobije vrlo uzan snop elektrona, to odreuje visoku rezoluciju mikroskopa.
Emitovani elektroni ubrzavaju se prema anodi koja ima funkciju proputanja elektrona
tano definisanih energija. Elektronski snop fokusira se sistemom elektromagnetnih soiva
(kalemova) smetenih u sredinjemu delu mikroskopske kolone i prozrauje uzorak a
elektroni koji su proli uzorak padaju na fluorescentnu plovrinu koja omoguuje emisiju
vidljivom spektru svetlosti. Kod TEM uzorak za analizu mora da bude u obliku tanke folije
(<100 nm), da bi elektroni primarnog snopa mogli da prou kroz uzorak. TEM se uglavnom
koristi za anlizu unutranjih struktura uzoraka.
SEM. I osnovni delovi SEM su smeteni untar kolone, slika B. Skeniranje povrine
se ostvaruje prelaenjem uskog snopa (primarnih) elektrona preko povrine uzorka. Sliku
daju sekundarni elektroni koji su dislocirani izbaeni sa povrine skeniranog uzorka
nakon bombardovanja od strane primarnog el. snopa. Sekundarni elektroni dolaze do
detektora (pozitvnog naelektrisanja) gde se indukuje elektrini signal koji se pojaava i
digitalizuje, a na ekranu se pojavljuje topografska slika povrine ispitivanog objektapovrina metalnog omotaa objekta. Osim sekundarnih elektrona i drugi oblici emisije sa
uzorka (X zraci, katodo-luminescencija, reflektovani elektroni itd.) mogu se skupljati i
analizirati od strane specifinih detektora. Otrina slike zavisi od jaine signala sa uzorka
(energija sekundarnih elektrona). Primarni elektronski snop se fokusira na uzorak (prenik
ispod 10 nm) i prelazi taku po taku, liniju po liniju. Interakcija primarnog elektronskog
snopa i uzorka, slika A b), daje signal odnosno sliku. Povrina uzorka se analizira snopom
elektrona odreenog prenika (10 nm), a signal se prenosi na monitor znatno vee
povrine ime se dobija poveanje od nekoliko desetina hiljada puta. Svaki uzorak mora
da provodi struju pa se povrina uobiajeno prevlai tankim slojem ugljenika, zlata ili
platine (2nm), to istovremeno spreava akumulaciju naelektrisanja i eroziju uzorka.
U tabeli 3 date su osnovne karakteristike svetlosnog SEM i TEM mikroskopa.
Tabela 3 Osnovne karakteristike svetlosnog SEM i TEM Mikroskopa.
Tip mikroskopa
Karakteristika
Svetlosni
TEM
SEM
Rezolucija
500 nm
10 nm
2 nm

Max rezolucija
Uvelianje
Dubina
pregledanog polja
Priprema uzoraka
Debljina uzorka
Vidno polje
Izvor zraenja
Medijum
Soiva
Fokusiranje
Podeavanje
uvelianja
Dobijanje slike kontrast

100 nm
do 1500X

0.5 nm
do 300000X

0.2 nm
~ 100000X

slaba

promenljiva

visoka

jednostavna
srednja
relativno veliko
vidljiva svetlost
vazduh
staklena
mehaniko
promena
objektiva
apsorpcija
proputene
svetlosti

sloena
Izuzetno mala
ogranieno
elektroni
vakuum
elektromagnetna
e.m. kalemovi

jednostavna
promenljiva
veliko
elektroni
vakuum
elektromagnetna
e.m.kalemovi

e.m.kalemovi

e.m.kalemovi

skretanje
elektrona

skretanje
elektrona

Primer A:
Analiza toplotno postojanog elika 1Cr0.5Mo0.3V posle 170000h rada
Mikrostruktura uzorka koji je bio u eksploataciji 170000h, sa veliinom zrna No6-7, slike A1 (a-f) i
A2 (a-d) se odlikuje velikim stepenom degradacije, odnosno sferoidizacijom. Faze koje su prisutne
kod ispitivanog uzorka ine ferit i karbidi. Feritno zrno je neujednaene veliine zbog migracija
granica zrna i njihovog srastanja. Karbidna faza je uglavnom izdvojena u pojasu bivih granica
zrna (subgranice - granica je migrirala) i po trenutnim granicama zrna, kao i na granicama
nemetalnih ukljuaka. Morfologija karbida je tapiasta (karbidi veinski na bazi Cr i Fe tipa M23C7,
duine do 2.5m), ili nepravilnog oblika (veliine do 1.5m) to takoe odgovara karbidima sa
veinskim udelom hroma, kao i soivasta karakteristina za karbide na bazi molibdena.

a)

b)

c)

d)

e)
f)
Slika A1(a-f). Mikrostruktura uzorka 12H1MF koji je proveo u eksploataciji 170000h
Ukljuci u materijalu su razliitog tipa i oblika sa potpunom dekohezijom u graninoj povrini kod
ukljuaka oksidnog tipa i deliminom dekohezijom kod ukljuaka MnS tipa.
Pore, kao vremenska oteenja, mogu da se uoe u granicama ukljuak-osnova, karbid-granica
zrna, u samim zrnima na mestima bivih granica zrna, ali i kao pojedinane na granicama zrna.
Posebno je specifina granica ukljuak-karbid-granica zrna, slika A1d, gde se uoava kompletna
dekohezija granine oblasti ukljuak-granica zrna, ali i pora na trojnoj granici ukljuak-karbid-zrno
(mikroprslina duine ukljuka 4.37m).

Rezultati EDS analize uzorka koji je proveo u eksploataciji 170000h su dati u tabeli A1 a
pozicije ispitivanja na slici A3. Karbidi, iji je sastav proveravan, su izdvojeni na granicama zrna, a
njihova veliina ukazuje na fazu ogrubljavanja usled dugotrajne eksploatacije, s tim to je
uglavnom re o legiranim karbidima tipa (Cr, Fe, Mo, V, Mn)xCy, dok su karbidi cementitnog tipa
praktino potpuno rastvoreni i nestali. Analizirani nemetalni ukljuak je MnS tipa, izduene
morfologije.
Tabela A1: Sastav karbida i ukljuka odreen EDS analizom
Faza
Karbid
Ukljuak
Spektar
spec 4
spec 1
Element %te.
%te.
Cr K
10.34
0.72
Mo L
4.68
0
VK
0.5
0.35
Mn K
4.14
37.23
Si K
0
SK
22.57
Ni K
0
Al K
0
Fe K
80.34
39.12
Totals
100
100
Slika A3. Pozicije EDS analize

Ispitivanje transmisionom elektronskom mikroskopijom

U cilju odreivanja stanja osnove sa aspekta koherentnosti finog taloga u osnovi, formiranja
dislokacionih zidova i generalno promena koje se odvijaju u strukturi izvreno je posmatranje tri
karakteristina stanja materijala polazno stanje, uzorak koji je radio 125000h (uoena znaajnija
degradacija) i uzorak koji je radio 219000h (krajnji stepen degradacije, pre znaajnijeg razvoja
oteenja tipa pora). Na slikama A4 A6 prikazane su odabrane TEM mikrofotografije ispitanih
uzoraka.

Slika A4. Polazno stanje - 0h - fina feritno

beinitna struktura; krupniji karbidi

Slika A5. Uzorak 125000h - Feritno zrno sa malo

taloga i velikom gustinom dislokacija; dislokacioni
zidovi; karbidi po granicama

Slika A6. Uzorak 219000h - velika gustina dislokacija u blizini granice u feritu i izraena granica
zrna; talog je krupniji sa manjom gustinom i transformacionim dislokacijama
Sa prikazanih mikrofotografija uoljiva je znaajna razlika u mikrostrukturi odabranih uzoraka.
Kod polaznog uzorka je prisutna fina feritno-perlitno-beinitna struktura, koja kod uzorka od
219000h potpuno odsustvuje. Kod uzorka koji je proveo u radu 125000h izraene su granice zrna i
subzrna sa prisutnim krupnijim karbidima izdvojenim po granicama zrna. Unutar feritnog zrna je
primetna velika gustina dislokacija koje obrazuju dislokacione zidove, sa malo vidljivog taloga. Kod
uzorka koji je radio 219000h uoava se velika koliina sitnog taloga, koji je zbog duine izlaganja
povienoj temperaturi postao polukoherentan, odnosno nekoherentan sa brojnim transformacionim
dislokacijama ije prisustvo ukazuje na proces gubitka koherentnosti.

Primer B*: Upotreba SEM i TEM kod ispitivanja karakteristika zavarenog spoja mikrolegiranog
elika
Glavne odlike mikrolegiranih elika poviene vrstoe su visoke vrednosti napona teenja,
niska prelazna temperatura krtosti, pogodnost za oblikovanje, kao i prilino dobra zavarljivost.
Postizanje eljenih osobina kod ovih elika ostvaruje se uglavnom na dva naina: usitnjavanjem
zrna i talonim ojaavanjem. U oba sluaja, znaajnu ulogu imaju estice taloga mikrolegirnih
elemenata. Medjutim, dobra kombinacija mehanikih osobina se ipak moe u velikoj meri naruiti
pri procesima zavarivanja topljenjem. Kao najznaajniji problemi koji se javljaju u toku zavarivanja
su pojava neravnotenih struktura, i taloenje estica mikrolegirnih elemenata po granicama zrna.
Za poboljanje osobina zavarenih spojeva veoma je bitna termika obrada nakon
zavarivanja, zbog relaksacije zaostalih napona, poboljanja mikrostrukture, smanjenja opasnosti
od krtog loma, smanjenja koncentracije difundovanog vodonika i postizanja dimenzionalne
stabilnosti. Medjutim, pokazalo se da termika obrada posle zavarivanja moe dovesti do
pogoranja osobina zavarenog spoja.
U nastavku je prikazan uticaj parametara zavarivanja, temperature predgrevanja i
otputanja
na
mehanike
osobine
zavarenih
spojeva
mikrolegiranog
0.15C1.5Mn0.5Ni0.15V0.18Mo elika. Zavarivanje je izvedeno elektrolunim postupkom pod
prahom (ica EPP 2 Ni u kombinaciji sa prakom OP121 TT Jesenice, praak je suen na
temperaturi od 300C/2h) i zavarivane su tri serije proba ije su dimenzije i redosled zavarivanja
prikazane na slici B1. Zavarivanje je vreno sa unosom toplote od 2 kJ/mm (I serija AW), zatim sa
predgrevanjem od 150C i sa unosom toplote od 3 kJ/mm (II serija AW). Deo uzoraka je dodatno
otputan na temperaturi od 580C/2h (III serija - SR). Parametri zavarivanja su prikazani u tabeli
B1.

Slika B1 Oblik i dimenzije ljeba i redosled nanoenja slojeva

Zavarivanje je izvedeno u 6 prolaza, po tri sa svake strane. Koliina linijski unete toplote je
odredjena izrazom:
Q = U*I*60/v
gde je: Q koliina linijski unete toplote, kJ/mm;U napon luka, V; I jaina struje zavarivanja, A;
v brzina zavarivanja, cm/s.
Tabela B1 Parametri zavarivanja za sve tri serije
Broj prolaza
Serije I i II
Serija III
Parametri zavarivanja
I
II
III i IV
V i VI
I
II
III i IV
V i VI
U napon luka, V
26
26
31
30
26
26
33
34
I jaina struje
610
650
600
600
600
650
630
630
zavarivanja, A
v brzina zavarivanja,
55
55
52
50
55
55
40
40
cm/s
Qkoliina unete toplote,
kJ/mm
1.75
1.84
2.14
2.16
1.70
1.84
3.12
3.21

Rezultati ispitivanja udarne ilavosti su prikazani na slikama B2 i B3. Generalni zakljuak

koji proizilazi iz ispitivanja ilavosti ZUT je da su dobijene veoma visoke vrednosti, ak i na
temperaturi ispitivanja od 60C. Najvie vrednosti su dobijene kod serije I t.j. kod zavarivanja sa
manjom koliinom unete toplote. Medjutim, nije zapaen uticaj temperature predgrevanja na
ilavost ZUT. Moe se uoiti pozitivan uticaj termike obrade nakon zavarivanja koji je izraeniji na
temperaturi ispitivanja od +20C.

Makro i mikrostrukturna ispitivanja. Na slici B4 (a i b) su prikazane makrofotogragfije prelomljenih

arpi epruveta sa zarezom u ZUT ispitanih na +20 i 60C. Pomou ovih fotogragfija utvrdjena je
putanja irenja prsline od vrha zareza do loma epruvete.

a)
b)
Slika B4 Makrofotografije prelomljenih arpi epruveta sa zarezom u ZUT
a) tisp +20C b) tisp -60C
Na slici B5 je prikazana mikrostruktura OM, mikrolegiranog Mn-Ni-V elika, i karakteristina
podruja ZUT-a. Najblie OM tokom zavarivanja je interkritino podruje (sl.5b) ili podruje
nepotpune / transformacije, u kome se OM zagreva izmedju A1 i A3 temperatura. Kao rezultat
nepotpune transformacije, perlit i deo ferita se transformiu u sitnozrni austenit. Usled naknadnog
hladjenja ferit ostaje nepromenjen, dok se austenit transformie u sitnozrni perlit.

a)
b)
c)
Slika B5 Karakteristina podruja: a) OM, ZUT: b) sitnozrno, c) krpunozrno, uveanje 500X
Elektronska mikroskopija izvedena na transmisionom elektronskom mikroskopu (TEM), tipa
JEOL 7A, gde je za pripremu uzoraka koriena tehnika grafitnih replika i na skening elektronskom
mikroskopu (SEM), tipa JEOL 733.

Na TEM mikrofotografijama jasno se vide feritna zrna i perlitne kolonije, koje su veoma
dobro oformljene sa pravilno poredjanim cementitnim lamelama, slika B6 a). Prisustvo karbida i
drugih faza po / granicama zrna je vrlo malo. Sa slike B6 b) se vidi da se u osnovnom materijalu
u AW stanju zapaa prisustvo fino dispergovanih estica u feritnoj osnovi, najverovatnije karbida
vanadijuma, (prisutan u OM). Za razliku od niobijuma i titana, kod povoljnih brzina hladjenja
vanadijum se taloi u feritnoj osnovi u obliku fino dispergovanih koherentnih estica koje
poveavaju vrstou OM.
Usled termike obrade (sl.B6 c) dolazi do deliminog raspada perlita. Pravilnost lamela je
naruena, a zapaa se njihovo skraenje i sferoidizacija. Prenik kolonija je smanjen, to je
verovatno i osnovni razlog za poboljanje ilavosti osnovnog materijala. Zapaa se i vee prisustvo
sekundarnih faza po / granicama, od kojih je jedan deo verovatno rezultat raspada perlitnih
kolonija. Drugi zakljuak koji se namee je da je smanjeno prisustvo vanadijumovih estica
najverovatnije rezultat njihovog deliminog rastvaranja usled termike obrade.

a) OM u polaznom (AW) stanju,

TEM, uveanje 20000X

b) istaloene V estice u feritu,

TEM uveanje 5000 X

c) termiki tretirano (SR)

stanje, TEM uveanje
20000X

Slika B6 Mikrostruktura osnovnog materijala

TEM fotografije interkritinog i krupnozrnog podruja je prikazane su na slikama 7 a) i b).
Najblie granici topljenja je krupnozrno podruje sa glavnom feritno-beinitnom i Widmanstatenovom strukturom. Na TEM fotografiji (sl.11b) je prikazan deo krupnozrnog podruja. Zapaa se da
u mikrostrukturi dominira ferit koji je u obliku zrna i iglica. U feritu se zapaa mali broj relativno
krupnih vanadijumovih estica. Moe se rei da je ovo podruje bilo zagrejano neto ispod
1050C, jer se smatra da su iznad ove temperature vanadijumove estice praktino potpuno
rastvorene u feritu.

a)

b)
Slika B7 Mikrostruktura sa TEM a) interkritinog podruja ZUT,
b) krupnozrnog podruja ZUT, 5000X

Na slikama B8 a) i b) prikazana prelomna povrina loma arpi epruvete dobijena na SEM.

Poto je OM je mikrolegirani vanadijumov elik sa sadrajem 0.15% V i 0.15%C, prisustvo
mangana od 1.5% doprinosi izrazito trakavoj feritno-perlitnoj mikrostrukturi OM. Prethodna
saznanja ukazuju da mangan u prisustvu vee koncentracije sumpora stvara mangan sulfidne
ukljuke koji su veoma plastini i koji se lako izduuju u pravcu valjanja. Medjutim, zbog slabe veze
na granici ukljuak/matrica lako dolazi do stvaranja prslina, to se moe videti i na prelomnoj

povrini, slici B8a). Takodje, sa mikrofotografije (slika B8 b) se vidi da du samih traka valjanja
veoma lako dolazi do cepanja u OM iako nije zapaen uticaj pravca valjanja kao i termike obrade
nakon zavarivanja na zatezne karakteristike OM. Pri ispitivanju udarne ilavosti OM, u skladu sa
oekivanjima, vee vrednosti su dobijene kod epruveta sa zarezom normalnim na pravac valjanja,
jer je u ovakvim sluajevima irenje prsline praeno veim utrokom energije. Sa dijagrama (sl.2 i
3) se moe videti i pozitivan uticaj termike obrade nakon zavarivanja na ilavost osnovnog
materijala, emu u prilog idu i rezultati TEM mikroskopije.

a)
b)
Slika B8 Prelom sa arpi epruvete (SEM) osnovnog materijala sa izduenim ukljukom a) i irenje
prsline u osnovnom materijalu b); [14]

*LITERATURA
S. Cvetkovski, V. Grabulov, D. Slavkov, J. Magdeski KARAKTERISTIKE ZAVARENOG SPOJA MIKROLEGIRANOG ELIKA U
ZAVISNOSTI OD PARAMETARA ZAVARIVANJA I TERMIKE OBRADE NAKONZAVARIVANJA UDK/UDC:
621.791.754.051:669.15'74'24'292, 2003.god.