You are on page 1of 109

Merenja u telekomunikacijama

- skripta -

Prof. dr Neboja Donov

Ni, 09.06.2009.

Analizatori spektra i spektralna merenja

1. Analizatori spektra i spektralna merenja


1.1. Naini prikazivanja elektrinih signala
Najei nain prikazivanja elektrinih signala je u vremenskom domenu koji se
dobija na ekranu osciloskopa. Karakterizacija komponenata i podsklopova sistema
moe se izvriti merenjem odskonog odziva, impulsnog odziva ili odziva na signal
nekog drugog oblika (npr. Gausov oblik).
Drugi nain prikazivanja signala je prikaz u frekvencijskom domenu (npr.
prikazivanje amplitude u funkciji frekvencije). Furijeova teorija povezuje vremenski i
frekvencijski odziv. Korienje Furijeove transformacije F omoguava prelaz funkcije
u vremenskom domenu x(t) u funkciju u frekvencijskom domenu X(f):
X ( f ) = F {x(t )} =

x(t )e

j 2 f t

dt

(1.1)

Korienje Inverzne Furijeove transformacije F-1 omoguava prelaz funkcije u


frekvencijskom domenu X(f) u funkciju u vremenskom domenu x(t):
x(t ) = F

{X ( f )} = X ( f )e j 2 f t df

(1.2)

Kako su savremeni merni instrumenti najee opremljeni mikroprocesorima,


koristi se diskretna Furijeova transformacija (DFT):

X (k ) =

n = +

x(nTs )e j 2 k n / N , k = 0,1,2, ..., N-1

(1.3)

n =

ili brza Furijeova transformacija (Fast Fourier Transformation - FFT) koja zahteva
obavljanje znatno manjeg broja raunskih operacija. DFT se izraunava za diskretne
f
2
odnosno f = s .
uestanosti iji je inkrement =
N
N
Kod DFT je broj operacija srazmeran N2 gde je N broj uzoraka, dok je kod FFT
portebno N*log2(N) operacija. Najee FFT algoritmi zahtevaju da N bude stepen
broja 2. Tipina vrednost za N je 210 odnosno 1024. To znai da DFT zahteva preko
milion operacija, dok je za FFT potrebno samo 10.240 izraunavanja. Pod uslovom da
sve raunske operacije zahtevaju isto vreme izraunavanja, FFT e biti zavrena za
manje od 1% vremena potrebnog za izraunavanje DFT. Jasno je da se radi o
znaajnoj utedi vremena, to objanjava razloge korienja FFT kod mernih
instrumenata. Instrument koji omoguava prikaz signala u frekvencijskom
domenu je analizator spektra. On je, poput osciloskopa za merenja u
vremenskom domenu, bazini instrument za merenja parametara signala u
frekvencijskom domenu. Za prikazivanje karakteristika komponenata i podsklopova
koristi se analizator spektra sa odgovarajuim promenljivim oscilatorom.
Treba napomenuti da su se poslednjih godina na tritu pojavili takozvani
analizatori u modulacionom domenu koji daju treu dimenziju vremenu i frekvenciji.
Ovakvi analizatori omoguavaju prikazivanje npr:
frekvencije u funkciji vremena,
faze u funkciji vremena.

Analizatori spektra i spektralna merenja

frekvencijska osa
modulacioni
domen

f-domen
(spektar signala)

amplitudska osa

vremenska osa
t-domen
(odziv signala)

Slika 1.1. Analizatori u modulacionom domenu koji daju treu dimenziju vremenu i
frekvenciji

1.2. Prednosti merenja u frekvencijskom domenu


Uskopojasna merenja u frekvencijskom domenu imaju veu ostetljivost nego
merenja u vremenskom domenu. Kako se frekvencijski opseg merenja moe,
praktino proizvoljno suziti, analizatori spektra mogu znaajno smanjiti prisustvo
umova u merenjima. Osim toga, uskopojasna merenja mogu da eliminiu signale
interferencije prilikom merenja. Uzmimo kao primer merenje harmonijske distrozije
signala priblinog idealnoj sinusoidi. Analizator spektra moe da ignorie signal
osnovne frekvencije prilikom merenja nivoa harmonika. Osciloskop bi istovremeno
prikazao i signal osnovne frekvencije i sve harmonike. Zbog toga je tanost merenja
harmonijske distrorzije ograniena na nekoliko procenata, dok se analizatorom
spektra standarno postie tanost od 0.01%.
Neki sistemi su, po prirodi, orjentisani ka frekvencijskom domenu. Na primer,
frekvencijski multipleksi (FDM) koji se esto koriste u telekomunikacionim
sistemima predstavljaju "sendvi" signale u frekvencijskom domenu. Radio i TV
stanice su takoe multipleksirane u frekvencijskom domenu, pri emu svaka stanica u
odreenoj geografskoj oblasti zauzima odreeni deo spektra. Radio i TV prijemnici
su, po prirodi, ureaji u frekvencijskom domenu, koji sadre frekvencijski osetljiv
detektor.
ak i sistemi koji nisu po prirodi frekvencijski orjentisani zahtevaju merenja u
frekvencijskom domenu. Na primer, (stray) kapacitivnosti i otporni gubici u
digitalnim kolima mogu da ogranie propusni opseg kola, a time i brzinu digitalnih
impulsa. Analizator mrea moe jednostavno da odredi propusni frekvencijski opseg
kola merei prenosnu karakteristiku kola u frekvencijskom domenu.
Viestruki signali se mnogo jednostavanije odvajaju u frekvencijskom domenu.
Primer su kablovski sistemi gde se frekvencijski opseg od 50 do 800 MHz koristi za
prenos signala u direktnom smeru a opseg od 30 do 50 MHz za povratni smer. Osim
toga, istim kablom je mogue i prenosti jednosmerni signal za napajanje udaljenih
pojaavaa.

Analizatori spektra i spektralna merenja

1.3. Spektralna merenja na analizatoru spektra


Karakterizacija signala analizatorom spektra je prikazana na slici 1.2. Postupak
merenja je obino jako jednostavan i sastoji u prikljuivanju izvora signala na
analizator spektra (ulazni prikljuak IN).

Slika 1.2. Merenje analizatorom spektra


Na TEST ulaz se generie sinusoida frekvencije 50 MHz koja se, u sluaju da se
sumnja u ispravnost analizatora spektra, dovodi na IN ulaz i na displeju se pogleda
spektar signala.
Na displeju analizatora bie prikazan spektar signala (Slika 1.3).

39.60 dB

referentni
nivo

990 Hz

Slika 1.3. Spektar amplitudski modulisanog signala na displeju analizatora spektra


Iznad mree skracenica REF ukazuje na poloaj referentnog nivoa u dB-ima (5
dBm na slici 1.3). Poloaj referentnog nivoa na vertikalnoj skali se obino oznaava
sa strelicom ili sa dve kratke crtice. Obino se na displeju stavlja i promena nivoa
signala u dB po jednom kvadratiu na vertikalnoj osi (na slici 1.3 je 10 dB/). Razlika
u amplitudama dva pika sa desne strane je stoga oko 40 dB.

Analizatori spektra i spektralna merenja

Sloenost merenja varira zavisno od aplikacije. U najjednostavnijen sluaju


analizatori spektra se koriste za odreivanje amplitude i frekvencije spektralne linije.
Najee se mere harmonici, modulacione komponente, parazitne komponente itd.
Moe se meriti i nivo uma u funkciji frekvencije (pod uslovom da je mereni um
iznad sopstvenog uma analizatora spektra).
Standardno vertikalna skala analizatora spektra je logaritamska i oznaena je u
decibelima. Na taj nain se veliki dinamiki opseg moe prikazati na ekranu
instrumenta. Mnogi analizatori omoguavaju i prikaz u voltima, u linearnoj skali.
Horizontalna osa je, naravno, frekvencijska. Najee je u linearnoj razmeri, mada
ima aplikacija kod kojih se koristi logaritamska razmera. U linearnoj razmeri zadaje
se na dva naina:
start i stop frekvencija.
centralna frekvencija i opseg (tkz. span) oko centralne frekvencije.
Na slici 1.3 frekvencija na horizontalnoj osi je data preko centralne frekvencije
(10 MHz) i span-a (5 kHz) to znai da svaki kvadrati na horizonatalnoj osi daje
promenu frekvencije od 500 Hz. Razlika u frekvencijama dva pika sa desne strane je
stoga oko 1 kHz.

1.4. Kategorizacija analizatora spektra


Najosnovniji parametar za kategorizaciju analizatora spektra je frekvencijski
opseg. Razliite merne tehnologije se primenjuju za razliite opsege. Na niskim
frekvencijama FFT analizatori spektra omoguava dobre performanse na
frekvencijama bliskim nuli (DC) pa do nekoliko stotina kHz. Sledea grupa su
analizatori za HF opseg od 10 Hz do oko 100 MHz. RF/mikrotalasni analizatori
spektra imaju donju graninu frekvenciju reda 100 kHz, dok je gornja granica negde
od 1 do 100 GHz. Analizatori za druga dva opsega se najee realizuju kao swept
heterodinski analizatori.
Ostali relevantni parametri pri izboru analizatora spektra, pored frekvencijskog
opsega, su: cena, dinamiki opseg, osetljivost, tanost, itd.

1.5. Tipovi analizatora spektra


1.5.1 Analizator spektra sa bankom filara
Analizator spektra sa bankom filtara ne koristi se esto koristi u elektronskoj
instrumentaciji, ali se ponekad koristi kod audio merenja (1/3-octave spektrum
analyzers). Meutim, ova tehnika moe dobro posluiti za razumevanje principa rada
analizatora spektra.
Jedan jednostavan nain za implementaciju analizatora spektra je prikljuivanje
banke filtara propusnika opsega, pri emu je svaki sa sopstvenim izlazim sklopovima
(Slika 1.4). U sluaju malog broja filtara, jednostavnost u realizaciji ovog analizatora
predstavlja njegovu znaajnu prednost. Osim toga, ova merna tehnika je brza jer nema
obrade signala i moe da podrava sisteme u realnom vremenu.

Analizatori spektra i spektralna merenja

Slika 1.4. Analizator spektra sa bankom filtara

1.5.2. FFT analizatori spektra


Brza Furijeova transformacija FFT se moe primenii za analizu spektra,
digitalizujuu ulazni signal na koji se primenjuje FFT da bi se od signala u
vremenskom domenu dobila predstava u frekvencijskom domenu. Uz pretpostavku da
se za neophodna preraunavanja koriste brzi mikroprocesori, FFT analizatori su
znatno bri od tradicionalnih swept analizatora. FFT analizatori obino imaju limitiran
frekvencijski opseg (manji od nekoliko stotina kiloherca), zbog nepostojanja brzih
A/D konvertora visoke rezolucije. FFT analizatori se nazivaju i dinamikim
analizatorima spektra. Na slici 1.5. prikazana je blok ema FFT analizatora spektra.

Slika 1.5. Pojednostavljena blok ema FFT analizatora spektra


Oslabljiva (atten) na ulazu analizatora spektra omoguava merenja sa razliitim
nivoima signala. Posle odgovarajueg slabljenja, signal se dovodi na NF filtar (low
pass filter) koji eliminie neeljene visokofrekvencije komponente koje su izvan
mernog opsega ureaja. Signal u vremenskom domenu se uzorkuje (sempluje) i
prevodi u digitalni oblik kombinacijom semplera i A/D konvertora (sampler + ADC).
Mikroprocesor (micro-processor) prima digitalizovani signal, proraunava spektar i
prikazuje ga na ekranu.

Analizatori spektra i spektralna merenja

FFT analizatori spektra rade isto to i analizator spektra sa bankom filtara, ali bez
potrebe korienja velikog broja filtara. Umesto toga, FFT analizatori koriste DSP
tehniku za implementaciju velikog broja individualnih filtara. Konceptualno, FFT
prilaz je vrlo jednostavan i jasan - digitalaizacija signala i izraunavanje spektra. U
praksi, meutim, postoje efekti koji se moraju uzeti u obzir da bi merenje bilo
korektno.
Da bi merenja FFT analizatorom spektra bila korektno potrebno je da budu
zadovoljena dva uslova:
Ulazni signal mora biti frekvencijski ogranien. Drugim reima, mora da
postoji frekvencija fmax iznad koje nema frekvencijskih komponenata (ili su
znaajno manje tako da ne utiu na merenje). To se reava anti-aliasing NF
filtrom na ulazu analizatora.
Ulazni signal se mora uzorkovati brzinom koja je u saglasnosti sa teoremom o
uzorkovanju po kojoj minimalna frekvencija uzorkovanja mora da zadovolji
sledeu jednainu.
(1.4)
f s 2 f max
gde je fs frekvencija uzorkovanja, a fmax najvea frekvencija opsega od interesa.
Ukoliko ovaj uslov nije ispunjen, spektar signala u osnosnom ospegu i spektar
semplovanog signala (oko fs). Ovaj fenomen se zove aliasing, s obzirom da se
komponente uzorkovanog signala pojavljuju pod aliasom osnovnog frekvencijskog
opsega, odnosno prelaze prelomnu (folded) frekvenciju ff koja je zapravo fs/2.

FFT analizator spektra sa kontrolom frekvencijskog koraka


FFT je po prirodi transformacija osnovnog opsega. Drugim reima, frekvencijski
opseg FFT poinje od 0 Hz i protee se do maksimalne frekvencije fs/2. Ovo moe biti
znaajno ogranienje kada je potrebno analizirati mali frekvencijski opseg.
Primer: Pretpostavimo da FFT analizator ima frekvencija uzorkovanja fs=256 kHz.
Frekvencijski opseg e biti od 0 Hz do 128 kHz (fs/2). Ukoliko je broj odmeraka
N=1024, frekvencijska rezolucija e biti fs/N=250 Hz. Znai, spektralne linije koje su
blie od 250 Hz se nee razlikovati na ovom analizatoru spektra.
Jedan nain za poboljanje rezolucije je poveanje broja odmeraka N. Naalost,
poveanje broja odmeraka poveava duinu niza koji se transformie primenom FFTa, to dovodi do poveanja vremena izraunavanja ime se kvare performanse
instrumenta u pogledu brzine osveavanja slike na ekranu.
Drugi nain za poboljanje rezolucije je smanjivanje frekvencije semplovanja fs
ime se smanjuje gornja frekvencijska granica za FFT, a time i frekvencijski opseg
instrumenta. Ako se menja frekvencijski opseg, potrebno je promenti i graninu
frekvenciju anti-aliasing filtra, to zahteva promenljivi NF filtar na ulazu.
Mnogo ekonominije reenje je korienje digitalnog filtra u digitalnom delu
ureaja. Digitalni filter sa decimacijom (tehnike interpolacije i ekstrapolacije)
istovremeno redukuje frekvencijski opseg signala i smanjuje frekvenciju uzorkovanja
(slika 1.6). Frekvencija uzorkovanja na ulazu u digitalni filter je fs, a na izlazu fs/n,
gde je n faktor decimacije koji je ceo broj. Slino, frekvencijski opseg signala je
BW/n, gde je BW irina opsega signala na ulazu.

Analizatori spektra i spektralna merenja

Slika 1.6. FFT analizator spektra sa kontrolom frekvencijskog koraka (koristi NF filtar
sa decimacijom za redukovanje frekvencije uzorkovanja na FFT analizatoru)

FFT analizator spektra sa promenljivim frekvencijskim opsegom


Promenom frekvencije uzorkovanja, frekvencijski opseg analizatora se moe
kontrolisati, ali poetna frekvencija je uvek 0 Hz. Frekvencijska rezolucija se moe
znaajno poboljati, ali po cenu smanjenja maksimalne frekvencije. FFT analizator sa
promenljivim frekvencijskim opsegom (poznat i kao FFT analizator sa osobinom
zumiranja) dozvoljava korisniku da smanji opseg frekvencija koji se posmatra, pri
emu srednja frekvencija ostaje nepromenjena. Drugim reima, prikazani
frekvencijski opseg ne poinje na DC. Ovo je veoma korisno jer se mogu analizirati
uzani opsezi daleko od DC.
Ovakva analiza se postie ukljuivanjem digitalnog meaa koji mnoi signal sa
izlaza A/D konvertora digitalnom sinusoidom, ime se vri konverzija na nie (slika
1.7). To se moe lako razumeti ako se protumai kao digitalna verzija heterodinske
tehnike koja se esto koristi kod radio prijemnika i swept analizatora spektra.
Frekvencijski opseg od interesa se mea sa kompleksnom sinusoidom na centralnoj
frekvenciji. ime se frekvencijski opseg transformie na osnovni opseg. Digitalni filter
se odgovarajuom decimacijom konfigurie se za eljeni frekvencijski opseg. Izlaz
digitalnog filtra se moe proizvoljno smanjiti ime se ostvaruje frekvencijski opseg
reda 1 Hz.

Slika 1.7. FFT analizator spektra sa promenljivim frekvencijskim opsegom

Analizatori spektra i spektralna merenja

1.5.3. Analizator talasa


Analizator spektra sa bankom filtara koristi veliki broj pojedninanih filtara za
implementaciju analizatora spektra. Drugi pristup je korienje jednog filtra
propusnika opsega, ali promenljivog unutra frekvencijskog opsega od interesa (slika
1.8). Kako ovakva tehnika omoguava analizu samo jedne frekvencije u jednom
trenutku, to nije analizator spektra, ve analizator talasa (wave analyzer).

Slika 1.8. Analizator talasa


Operater podeava analizator talasa na eljenu frekvenciju i oitava nivo signala.
Poeljno je da promenljivi filter ima to ravniju karakteristiku u propusnom opsegu, i
to strmiji odziv. irina propusnog opsega filtra predstavlja rezolucioni opseg
instrumenta. Ovakvi instrumeni se i danas koriste kao selektivni merai nivoa signala.

Heterodinska realizacija analizatora talasa


Klasina realizacija analizatora spekta bazira se na swept heterodinskoj
konfiguraciji. Poput radio-prijemnika, analizator spektra automatski prebrisava
frekvencijski opseg od interesa. Na niskim frekvencijama je ovaj tip analizatora
znaajno potisnut od strane FFT analizatora, dok je na RF i mikrotalasnim
frekvencijama dominantno reenje. Analizator talasa realizaovan sa heterodinskom
detekcijom prikazan je na slici 1.9.

Slika 1.9. Heterodinska realizacija analizatora talasa


Da bi se postiglo "prebrisavanje" kompletnog frekvencijskog opsega potrebno je
da IF filtar propusnik opsega bude promenljiv, ili ee da frekvencija lokalnog
oscilatora bude promenljiva (to se znatno lake realizuje).

Analizatori spektra i spektralna merenja

1.5.4. Swept analizator spektra


Analizator talasa moe da meri samo jednu frekvenciju u jednom trenutku.
Neophodno poboljanje je da analizator automatski prebrisava frekvencijski opseg od
interesa za merenje. To se, kod analizatora spektra, postie svipovanjem frekvencije
lokalnog oscilatora. Na slici 1.10 prikazano je kako se analizator talasa moe, uz
korienje naponski kontrolisanog oscilatora (VCO), pretvoriti u analizator spektra.

Slika 1.10. Pojednostavljena blok ema swept analizatora spektra realizovanog u


analognoj tehnologiji
Generator testerastog napona (ramp generator) pobuuje VCO, a istovremeno se
dovodi na X osu displeja. Izlaz detektora se filtrira NF filtrom i dovodi na Y ose
displeja. Kako lokalni oscilator svipuje frekvenciju, na displeju se automatski
prikazuje spektar signala. NF filter na izlazu detektora je tzv. video filter i ima ulogu
postdetekcijskog filtra koji ima zadatak da ublai odziv analizatora spektra.
Oigledno je da se radi o analizatoru spektra koji je realizovan u kompletno
analognoj tehnologiji. U savremenijim analizatorima, meutim, ipak se koristi
mikroprocesorska tehnologija (slika 1.11).

Slika 1.11. Pojednostavljena blok ema


swept analizatora spektra sa mikroprocesorom
Na primer, lokalni oscillator (LO) se esto realizuje sa digitalnim sintetizatorom
frekvencija (moe da svipuje frekvenciju u opsegu ili da se menja sa nekim korakom).
Izlaz IF filtra se moe semplovati i dovesti na A/D konvertor i dalje do procesora.
Displej kod modernih analizatora spektra je gotovo uvek digitalni grafiki displej.
Time se eliminie problem sa vremenom osveavanja ekrana koje je znatno manje od
vremena svipovanja. Frekvencijski opseg poslednjeg IF filtra odreuje rezolucioni
opseg instrumenta BWrez.

Merenja analizatorom spektra

10

2. Merenja analizatorom spektra


2.1. Merenje modulacije
Jo od samih poetak radija, modulacione tehnike igraju znaajnu ulogu u
telekomunikacionim sistemima. Niskofrekvencijskim signalom (video, audio, podaci
itd.) se modulie signal nosilac. Ovo predstavlja namernu (eljenu) modulaciju. Osim
toga, u telekomunikacionim sistemima se pojavljuje neeljena modulacija, kao to su
modulacije signal oscilatora mrenim naponom, ili zaostala frekvencijska modulacija
amplitudski modulisanog signala.
Osnovni principi merenja analizatorom spektra bie objanjeni na amplitudskoj
modulaciji, a sline su i karakterizacije ostalih modulacionih tehnika.
2.1.1. Amplitudska modulacija
Amplitudska modulacija (AM) je generalno najjednostavniji modulacioni sistem.
AM signal sa nosiocem se moe predstaviti jednainom:

v(t ) = A0 [1 + a m(t )] cos(2f 0 t )

(2.1)

gde je:
A0 - konstanta koja odreuje ukupnu ampliudu,
a - modulacioni indeks,
m(t) - normalizovani moduliui signal i
f0 - frekvencija nosioca.
Moduliui signal je normalizovan, to znai da je uvek izmeu -1 i 1. Praktino
ukupna amplituda modulisanog nosica moe doi do nule, ali ne moe biti negativna,
menjajui znak anvelope (ako bi se to desilo, signal bi bio premodulisan i ne bi se
mogla obaviti korektna detekcija).
U sluaju sinusne modulacije do spektra signala se moe jednostavno doi
primenom Furijeove transformacije. Meutim, nakon zamene m(t)=cos(2fmt) u
jednaini (2.1) mogue je iz vremenskog oblika AM signala pretpostaviti njegov
spektar (slika 2.1):
aA
v(t ) = A0 cos(2f 0 t ) + 0 [cos 2 ( f 0 + f m )t + cos 2 ( f 0 f m )t ]
(2.2)
2

Slika 2.1. Spektar amplitudski modulisanog signala sa sinusnom modulacijom

Merenja analizatorom spektra

11

Praktino, signal v(t) se sastoji od signala nosee frekvencije ija je amplituda Ac i


dva bona opsega (po jedna komponenta), jedan na frekvenciji f0 + fm i drugi na
f0 - fm, oba sa amplitudom aA0/2. Modulacioni indeks a, moe varirati od 0 do 100%.
Ako je a=100%, amplituda svakog bonog opsega je A0/2, odnosno polovina
amplitude nosioca.
Analizator spekta se moe upotrebiti za karakterizaciju amplitudski modulisanog
siganla u frekvencijskom domenu (slika 2.2). Parametri koji se mogu odrediti su:
amplituda nosioca,
frekvencija nosioca,
modulaciona frekvencija i
indeks modulacije.

39.60 dB

referentni
nivo

990 Hz

Slika 2.2. Merenje amplitudski modulisanog signala analizatorom spektra


Amplituda i frekvencija signala nosioca se odreuju uz pomo mree na ekranu ili
oitavanjem pomou kursora i markera (na slici 2.2 je A0=50 dBm, f0=10 MHz).
Modulaciona frekvencija je razlika izmeu frekvencije nosioca i frekvencije
opsega (simetrini su). Ovo merenje se moe obaviti pomou offset ili delta svojstva
analizatora (na slici 2.2 je fm=990 Hz).
Indeks modulacija se moe odrediti merenjem razlike amplitude nosioca i
amplitude opsega. Ako se ova razlika obelei sa AdB (na slici 2.2 je AdB=-39.60 dB),
,indeks modulacije je:

a = 2 10 ( AdB / 20)

(2.3)

2.2. Merenje distorzije


Mnoga kola koja se koriste u elektronskim sistemima razmatraju se kao linearna.
To znai da, za sinusoidalni ulazni signal, signal na izlazu iz sistema e takoe biti
sinusoda, ali sa razliitom amplitudom i fazom. Jedna definicija nedistorzionog
sistema je da je njegova prenosna funkcija konstantna u pogledu amplitude i

Merenja analizatorom spektra

12

linearna u pogledu faze. To praktino znai da je u vremenskom domenu, signal na


izlazu istog oblika kao i ulazni signal. U frekvencijskom domenu oekuje se signal
iste frekvencije (i to samo te iste frekvencije). Ukoliko se u spektru signala jave i
spektralne komponente na drugim frekvencijama, kaemo da je sistem nelinearan, a
te komponente nazivamo produktima distorzije.
2.2.1. Model distorzije

U telekomunikacijama se sreemo sa sistemima koji imaju vrlo male


nelinearnosti. Takav sistem male nelinearnosti se moe predstaviti sledeim
polinomskim razvojem:
Vout = k 0 + k1Vin + k 2Vin2 + k 3Vin3 + k 4Vin4 + L

(2.4)

Prvi koeficijent, k0, predstavlja DC offset sistema. Drugi koeficijent, k1, je


pojaanje sistema u saglasnosti sa teorijom linernih kola. Ostali koeficijenti, k2 i vii,
karakteriu nelinerno ponaanje sistema. Ukoliko je sistem potpuno lineran, svi
koeficijenti, osim k1, e biti jednaki nuli.
U praksi se, esto, model pojednostavljuje zanemarujui sve lanove iznad
kubnog lana sa koeficijentom k3. Za tkz. postepene nelinearnosti, vrednost
koeficijenata kn opada brzo sa poveanjem reda n. Za mnoge aplikacije, dovoljan je
redukovan model (tkz. model treeg reda), s obzirom da efekti drugog i treeg reda
dominiraju.

Vout = k 0 + k1Vin + k 2Vin2 + k 3Vin3

(2.5)

2.2.2. Merenje harmonijske distorzije

Najjednostavniji test distorzije sistema je dovoenje iste sinusoide na ulaz i


posmatranje frekvencijskog sadraja na izlazu sistema (test merenja harmonijske
distorzije signal jedne frekvencije na ulazu):
Vin = A cos t

(2.6)

gde je ugaona frekvencija.


Primenom distorzionog modela (2.5), za signal na izlazu sistema dobija se:
Vout = k 0 + k1 A cos t + k 2 A 2 cos 2 t + k 3 A3 cos 3 t

(2.7)

odnosno
Vout = k 0 + k1 A cos t + (k 2 A 2 / 2)(1 + cos 2t ) + k 3 A3 (3 / 4 cos t + 1 / 4 cos 3t ) (2.8)

Grupisanjem lanova se dobija:


Vout = k 0 + k 2 A 2 / 2 + (k1 A + 3k 3 A3 / 4) cos t
+ (k 2 A 2 / 2) cos 2t + (k 3 A3 / 4) cos 3t

(2.8)

Zapaa se da, signal na izlazu ima DC (jednosmernu) komponentu, originalnu


(osnovnu) frekvenciju, i drugi i trei harmonik. Naravno, da je korien model vieg

Merenja analizatorom spektra

13

reda, na izlazu bi se pojavili i harmonici vieg reda. Primeuje se da na amplitudu


signala osnovne frekvencije utie i nelinerni koeficijent treeg reda, k3. Slino, na
jednosmernu komponentu utie koeficijent drugog reda. Zapaamo da je signal
osnovne frekvenije prvenstveno proporcionalan amplitudi A, drugi harmonik je
proporcionalan A2, dok je trei harmonik proporcionalan A3.
Izvedeni model je, donekle, ogranien jer su koeficijenti k0, k1, k2 i k3 obino
nepoznati za konkretne sklopove. Meutim, u svakom sluaju iz modela moemo
dobiti neke korisne informacije. Posmatrajmo ta se deava kada se nivo ulaznog
signala, A, promeni. Amplituda signala osnovne frekvencije e praktino biti
promenjena u istom iznosu (jer je direktno proporcionalna amplitudi ulaznog signala).
Moe se rei da se amplituda signala osnovne frekvencije menja 1 dB po dB
promene nivoa ulaznog signala.
Drugi harmonik se menja sa A2, ili u decibelima:

20 log( A 2 ) = 2(20 log A) = 2 A[dB ]

(2.9)

Ovo znai da e se amplituda drugog harmonika menjati 2 dB po dB


promene nivoa ulaznog signala.
Slino, trei harmonik ima amplitudu proporcionalnu A3. Posmatrano u
decibelima:

20 log( A3 ) = 3(20 log A) = 3 A[dB ]

(2.10)

to znai da e se amplituda treeg harmonika menjati 3dB po dB promene nivoa


ulaznog signala.
Na slici 2.3 je prikazan spektar tipinog signala sa harmonijskom distorzijom.
U idealnom sluaju, ista sinusoida nema harmonika. Zapazimo da su neparni
harmonici, naroito harmonik treeg reda, vei od parnih harmonika. Kvadratna
"sinusoida" sa jednakom pozitivnom i negativnom periodom e imati samo neparne
harmonike Distorzioni mehanizmi koji naruavaju simetriju, stvaraju parne
harmonike.

Slika 2.3. Spektar tipinog signala sa harmonijskom distorzijom

Merenja analizatorom spektra

14

Ako nam je na raspolaganju kvalitetan analizator spektra, zakljuiemo da se ista


sinusoida veoma retko sree (Slika 2.4). Na primer, dobar signal ili funkcijski
generator moe imati trei harmonik koji je 30 ili 40 dB ispod osnovnog signala. Na
osciloskopu se ovi harmonici veoma teko mogu zapaziti, dok, ak i kod analizator
spektra osrednjeg kvaliteta, harmonici se lako mogu zapaziti. To ilustruje prednost
uskopojasnih prijemnika (analizator spektra) u poreenju sa irokopojasnim
prijemnicima (osciloskop).

a)
b)
Slika 2.4. Realan sinusoidalni signal frekvencije f=20 MHz na: a) ekranu osciloskopa,
b) ekranu analizatora spektra
Karakterizacija harmonijske distorzije koristei analizator spektra

Harmonijska distorzija sklopa (device under test DUT) se jednostavno meri


spektralno istim izvorom signala (source) i analizatorom spektra (spectrum
analyzer). Blok ema merenja prikazana je na slici 2.5.

Slika 2.5. Blok ema za merenje harmonijske distorzije. NF filtar (lowpass filter) se
koristi za eliminisanje harmonika izvora signala.
Nivo distorzije se jednostavno definie kao odnos amplitude najveeg harmonika i
amplitude osnovnog signala (ili u logaritamskoj razmeri kao razlika nivoa najveeg
harmonika i nivoa osnovnog signala) tkz relativna harmonijska distorzije (Slika
2.6). Alternativno, distorzija se moe specificirati kao totalna harmonijska
distorzija (THD), obino u % osnovnog signala. THD uzima u obzir sve harmonike:
THD = V22 + V32 + L /V1

(2.11)

Naravno, uzimaju se samo oni harmonici koji se mogu izmeriti. Sreom,


amplituda harmonika opada sa porastom reda, tako da je dovoljno uzeti konaan broj
harmonika. Neki analizatori spektra imaju ugraenu THD funkciju.

Merenja analizatorom spektra

15

Slika 2.6. Relativna harmonijska distorzija definisana u logaritamskoj razmeri kao


razlika nivoa najveeg harmonika i nivoa osnovnog signala
2.2.3. Merenje intermodulacione distorzije

Drugi karakteristini signal koji se koristi pri testiranju distorzije sistema je signal
dve frekvencije:
Vin = A1 cos 1t + A2 cos 2 t

(2.12)

Primenom distorzionog modela (2.5), za signal na izlazu sistema dobija se:


Vout = c0 + c1 cos 1t + c 2 cos 2 t + c3 cos 21t
+ c4 cos 2 2 t + c5 cos 31t + c6 cos 3 2t
+ c7 cos(1t + 2 t ) + c8 cos(1t 2 t )

(2.13)

+ c9 cos(21t + 2 t ) + c10 cos(21t 2 t )


+ c11 cos(2 2 t + 1t ) + c12 cos(2 2 t 1t )
gde su c0, ..., c12 koeficijenti odreeni parametrima k0,...,k3, A1 i A2.
Zapaamo da se pored osnovnih frekvencija (kao i u sluaju signala jedne
frekvencije) pojavljuju i sume i razlike frekvencija. Ove nove frekvencijske
komponente nazivaju se intermodulacijskom distorzijama (IMD), zato to su
nastale od dva signala koji se zajedniki moduliu. Frekvencije prisutne na izlazu
zadovoljavaju sledei kriterijum:

nm = n1 m 2

(2.14)

gde su n i m pozitivni celi brojevi takvi da je n + m 3. Ako se distorzioni model


proiri od treeg na neki vii red, limit sume n + m e se poveati na isti nain.
Red odreene frekvencijske komponente predstavlja sumu vrednosti n i m
korienih za dobijanje te frekvencije (npr. f12 i f21 su lanovi treeg reda, dok su f20 i

Merenja analizatorom spektra

16

f11 lanovi drugog reda). Kao i u sluaju jedne frekvencije, lanovi drugog reda e se
menjati 2 dB po decibelu promene nivoa ulaznog signala. Slino, lanovi treeg reda
se menjaju 3 dB po decibelu promene nivoa ulaznog signala, i tako dalje sa lanovima
vieg reda, ako postoje.
Primer: Koristei distorzioni model treeg reda, odrediti koje e frekvencije biti
prisutne na izlazu sistema za ulazni signal koji ima frekvencije f1=10.7 MHz i
f2=10.8 MHz. Nacrtati spektar signala na izlazu sistema.
Reenje prisutne frekvencijske komponente: Na izlazu se, najpre, pojavljuju po tri
harmonika osnovnih frekvencija, dakle:
10.7 MHz; 21.4 MHz; 32.1 MHz; 10.8 MHz, 21.6 MHz; 32.4 MHz.
Pojavljuju se komponente na frekvencijama koje predstavljaju zbir i razliku osnovnih
frekvencija, i to:
:
| 10.7 MHz 10.8 MHz | = 0.1 MHz; 21.5 MHz
| 2(10.7 MHz) 10.8 MHz | = 10.6 MHz; 32.2 MHz
| 10.7 MHz 2(10.8 MHz) | = 10.9 MHz; 32.3 MHz
Reenje spektar signala: Spektar izlaznog signala prikazan je na slici 2.7.
Amplitude frekvencijskih komponeneta zavisie od nivoa ulaznih komponenata i
koeficijenata distorzionog modela. Meutim, amplitude prikazane na slici su tipine
za distorzioni signal.

Slika 2.7. Spektar izlaznog signala sa sluaj ulaznog signala dve frekvencije i
korienjem distorzionog modela treeg reda
Reenje zakljuak:
Dve ulazne frekvencije su odabrene tako da budu bliske, kao to se to i radi pri
merenju intermodulacione distrozije.
Ovaj primer pokazuje da spektralne komponente imaju tendenciju da se
grupiu u etiri grupe:
Prva grupa - razlika frekvencija f1 - f2 (0.1 MHz) pada blizu
jednosmerne komponente (DC). Druga grupa (10.6 i 10.9 MHz) se
grupie oko osnovnih komponenti (10.7 i 10.8 MHz), trea grupa
(21.5 MHz) oko drugih harmonika (21.4 i 21.6 MHz) i etvrta grupa
(32.2 i 32.3 MHz) oko treih harmonika (32.1 i 32.4 MHz) dva
osnovna tona. Zavisno od sistema koji se koristi, neke distorzione
komponente mogu biti zanemarene. esto se, na primer, koristi
uskopojasni MF filtar koji odvaja dva osnovna tona.

Merenja analizatorom spektra

17

Spektralne komponente drugog i treeg reda se mogu lako eliminisati.


U praksi, najvei problem predstavljaju komponente u blizini osnovnih
tonova (to su na slici 2.7 komponente f21 i f12 na 10.6 MHz i 10.9 MHz)
zbog svoje blizine sa osnovnim tonovima.
Generalno, intermodulacioni produkti neparnog reda su u centru panje
RF dizajnera jer padaju u opseg od interesa.

Karakterizacija intermodulacione distorzije koristei analizator spektra

Intermodulaciona distorzija se meri korienjem dva nezavisna izvora signala


(source) koja preko kombajnera (combiner), tj. delitelja snage, pobuuju test sklop
(DUT) (Slika 2.8).

Slika 2.8. Blok ema za merenje intermodulacione distorzije


Kombajner unosi slabljenje od 6 dB. Spektar
intermodulacionom distorzijom prikazan je na slici 2.9.

tipinog

signala

Slika 2.9. Tipino dvo-tonsko merenje intermodulacione distorzije

sa

Merenja analizatorom spektra

18

Vidi se da se dve komponente treeg reda f12 i f21 nalaze u neposrednoj blizini
osnovnih frekvencija, to je uobiajen sluaj u praksi. Ukoliko je izolacija izmeu
izvora nedovoljna, moe se desiti da se pojavi intermodalaciona distorzija izmeu
izvora.
2.2.4. Koncept presenih taaka

Koncept presenih taaka je veoma vaan u specificiranju i predikciji nivoa


distorzije sistema. Osnovni nedostatak izraavanja distorzije kao odnosa nivoa
osnovne komponente i harmonika je zavisnost od ulazne snage. Tako nije mogue ni
poreenje karakteristika dva sklopa. Presene take drugog i treeg reda su
karakteristike nezavisne od nivoa signala tako da se sklopovi mogu jednostavno
porediti ako su poznate ove take.
Poveanje nivoa signala na ulazu malo nelinernog sistema stvara distorzione
produkte na izlazu. I to ne samo da se distorzioni produkti javljaju, ve rastu bre od
ulaznog signala i osnovnog harmonika signala na izlazu. Na slici 2.10 prikazana je
zavisnost izlazne snage u funkciji ulazne snage, za osnovni signal, komponente
drugog i komponente treeg reda.

Slika 2.10. Karakteristika na kojoj je prikazana osnovna frekvencija, drugi harmonik i


trei harmonik ilustruje koncept presene take drugog i presene take treeg reda.
Pri poveanju nivoa ulaznog signala, osnovna komponenta izlaznog signala raste
linearno, saglasno pojaanju ili slabljenju ureaja. U odreenoj taki, dolazi do
kompresije pojaanja i snaga osnovne komponente vie ne raste sa porastom snage
ulaznog signala. Najee se definie 1 dB kompesiona taka kao izlazna snaga pri
kojoj pojaanje opadne za 1 dB. Ova izlazna snaga je:

Merenja analizatorom spektra

Piz 1dB (dBm) = Pul 1dB (dBm) + G (dB) 1dB

19

(2.15)

Snaga drugog distorzionog harmonika na izlazu takoe raste sa snagom ulaznog


signala, ali veom brzinom. Prisetimo se da se kod distorzionog modela snaga drugog
harmonika menja 2 dB po 1 dB promene nivoa ulaznog signala. U decibelskoj
notaciji, to znai da linija koja predstavlja harmonike drugog reda ima dva puta
vei nagib od karakteristike za osnovnu komponentu.
Slino distorzioni produkti treeg reda stvaraju promenu od 3 dB po 1 dB
promene nivoa ulaznog signala, to znai da odgovarajua linija ima tri puta vei
nagib od karakteristike za osnovnu komponentu.
Kad ne bi bilo kompresije pojaanja snaga ulaznog signala bi se mogla poveavati
sve dok se snaga osnovnog izlaznog signala i drugog harmonika ne izjednae. Ta
taka se naziva presenom takom drugog reda, IP2, (second order intercept point
na slici 2.10). Distrozioni produkti treeg reda takoe rastu brze od osnovnog
harmonika i dve krive e se presei u presenoj taki treeg reda, IP3, (third order
intercept point, na slici 2.10). Ove dve take se vrlo reko mogu meriti direktno,
upravo zbog kompresije pojaanja osnovnog harmonika. Presene take se odreuju
ekstrapolacijom merenja osnovnog harmonika i distorzionih produkata pri snagama
ne kojima nema kompresije pojaanja. Presene tako se obino specificiraju u dBm i
mogu se definisati kao ulazne ili izlazne, to je neophodno naglasiti. Ove dve take
zavise od pojaanja sklopa i predstavljaju njegovu veoma vanu karakteristiku.
Znaaj poznavanja presenih taaka

Najee inenjere interesuje nivo distorzionih produkata u odnosu na nivo


osnovnog signala. Mada se ini da presene take ne omoguavaju jednostavno
odreivanje ovih nivoa, ipak nije tako.
Razlika izmeu nivoa distorzionih produkata drugog reda i nivoa osnovnog
signala jednaka je razlici osnovnog signala i presene take drugog reda (sve u
odnosu na izlazne nivoe). Neka je IP2 na +15 dBm, a nivo osnovnog signala na
-10 dBm. Razlika je 25 dB. Znai da su distorzioni produkti drugog reda 25 dB ispod
osnovnog signala ili na -35 dBm.
Razlika izmeu nivoa distorzionih produkata treeg reda i nivoa osnovnog
signala jednaka je dvostrukoj razlici osnovnog signala i presene take treeg reda
(sve u odnosu na izlazne nivoe). Neka je IP3 na +5 dBm, a nivo osnovnog signala
na -25 dBm. Razlika je 30 dB. Znai da su distorzioni produkti treeg reda 60 dB
ispod osnovnog signala ili na -85 dBm.

Merenje faznog uma

20

3. um i merenje umova
Prilikom merenja u frekvencijskom domenu, umovi se pojavljuju na dva sutinski
razliita naina:
Prvi nain je prilikom merenja odreenih parametara, pri emu se um
pojavljuje kao propratna pojava. Primer je merenje distorzije pojaavaa
uz prisustvo uma.
Druga nain je kade je um sistema parametar koji treba meriti. Primer je
merenje uma na izlazu pomenutog pojaavaa.
Mnogi principi merenja su slini, ali je potrebno razdvojiti kada je um predmet
merenja, a kada propratna pojava koja degradira merenje. Elektronski um kojim
emo se baviti mora da potie ili od ureaja koji merimo (DUT) ili od samog
analizatora spektra. Ako se meri um DUT-a, interni um analizatora mora biti manji.

3.1. Fazni um
Idealni (ist) sinusoidni signal se moe predstaviti na sledei nain:
V (t ) = V0 [sin 2f 0 t ]
gde je:
V (t ) = trenutna vrednost signala,
V0 = nominalna amplituda signala,
f 0 = prosena (nominalna) vrednost frekvencije signala.

(3.1)

Ovaj signal u vremenskom domenu izgleda kao idealna sinusoida (slika 3.1a) a u
frekvencijskom domenu kao jedinstvena spektralna linija (Slika 3.1b).

a)
b)
Slika 3.1. Idealni sinusoidalni signal u: a) vremenskom domenu, b) frekvencijskom
domenu
U stvarnosti svi signali poseduju neeljene amplitudne, frekvencijske i fazne
fluktuacije i mogu se predstaviti kao:
V (t ) = [V0 + (T )]sin[2f 0 t + (t )]
(3.2)
gde je:

Merenje faznog uma

21

(t ) = trenutna fluktuacija amplitude signala (tkz. amplitudski um),


(t ) = trenutna fluktuacija faze signala (tkz. fazni um).
Fluktuacije (t ) su unete u jednainu (3.2) preko izraza za fazni ugao. Meutim
poto su frekvencija i faza povezane (frekvencija je izvod faze), ove trenutne
nestabilnosti mogu biti tretirane kao neeljene fazne ili frekvencijske fluktuacije.
Traba zapaziti da um utie na procese amplitudske i fazne modulacije, pri emu je
izvor modulacije sluajni mehanizam uma. Amplitudski um moe biti znaajan,
ak i kod kvalitetnih signal oscilatora. Meutim, u mnogim sistemima, amplitudski
um se moe otkloniti prolaskom signala kroz sklop koji ograniava amplitudu, kao
to je mea.
Fazni um je znaajna mera spektralne istoe sinusoidalnog talasa. Pojam
fazni um ustvari spada pod iru kategoriju frekvencijske stabilnosti:
Frekvencijska stabilnost je mera (stepen) kojim izvor frekvencije generie
istu vrednost frekvencije u odreenom periodu vremena.
Stabilnost izvora signala opada ukoliko talasni oblik signal odstupa od
idealne sinusoide.
Fazne fluktuacije (fazni um) se ispoljavaju u vremenskom domenu kao
odstupanje signala pri prolasku kroz nulu u odnosu na idealni signal bez faznog uma
(tj. fazni um se ispoljava se kao diter u prolasku talasnog oblika kroz nulu) (Slika
3.2). S obzirom da fazni um nastaje od kompozitnih nisko frekvencijskih signala
(mnogo nie frekvencije nego nosei signal), fazni um je teko uoiti u vremenskom
domenu ak i korienjem kvalitetnih osciloskopa. Kako je frekvencija uma mnogo
manja od frekvencije nosioca potreban je ve broj ciklusa nosioca kako bi se primetilo
odstupanje pri prolasku kroz nulu (u vremenskom domenu fazni um lii na
frekvencijski modulisan signal sa malim modulacionim indeksom).

a)
b)
Slika 3.2. Fazni um u a) vremenskom domenu, b) na ekranu osciloskopa
U frekvencijskom domenu (kao to se moe uoiti na analizatoru spektra), fazne
fluktuacije se javljaju kao neeljeni boni opsezi, koji se pruaju iznad i ispod
nominalne frekvencije, to se moe videti iz spektra bonih opsega RF signala (Slika
3.3). Fazni um se u frekvencijskom domenu moe shvatiti kao beskonaan broj
bonih opsega fazne modulacije, pri emu svaki boni opseg potie od
niskofrekvencijskog modulacionog signala.

Merenje faznog uma

22

a)
b)
Slika 3.3. Fazni um u a) frekvencijskom domenu (RF spektar), b) na ekranu
analizatora spektra

3.2. Znaaj analize faznog uma


Na primer, neka se na frekvencijski konvertor (mea) dovodu dva signala: eljeni
signal (slabiji) i interferirajui signal (jai). Ovi signali se meaju sa signalom
lokalnog oscilatora (LO) u cilju dobijanja signala na meufrekvenciji (IF) (Slika
3.4a). Fazni um lokalnog oscilatora translirae se u rezultujui signal na izlazu
miksera (Slika 3.4b). Iako filtriranje signala meufrekvencije u prijemniku moe biti
dovoljno da ukloni signal interferencije (jai signal) koji je dominantniji signal u
rezultujuem signalu, eljeni (slabiji) signal je maskiran faznim umom lokalnog
oscilatora. Stoga fazni um LO degradira selektivnost i osetljivost prijemnika.

a)
b)
Slika 3.4. Fazni um moe degradirati osetljivost prijemnika u okruenju sa vie
signala. Fazni um koji se translira na IF signal moe maskirati signal nieg nivoa

3.3. Princip merenja faznog uma


Za bolje razumevanje postupaka merenja faznog uma, na slici 3.5 prikazana je
jednostavna tehnika direktnog ponitenja (cancellation). Ureaj koji se testira
(device under test - DUT) sa faznim umom je pridruen idealnom referentnom izvoru

Merenje faznog uma

23

bez faznog uma (reference no phase noise). Ukoliko dva ulazna signala imaju istu
frekvenciju, istu amplitudu i fazno su pomereni za 180, nosea frekvencija se anulira
pri emu ostaje samo komponenta signala uma. Na taj nain mogue je izmeriti
rezultujui signal uma uz pomo irokopojasnog meraa snage pri emu se dobija
ukupan um ili uz pomo selektivnog meraa nivoa ime se dobija energija uma u
zavisnosti od frekvencije.

Slika 3.5. Direktni metod za merenje faznog uma. Ukoliko dva ulazna signala imaju
istu frekvenciju, istu amplitudu i fazno su pomereni za 180, nosea frekvencija se
anulira pri emu ostaje samo komponenta uma koja se meri

3.4. Karakterizacija faznog uma


U frekvencijskom domenu, karakteristika faznog uma je najbolje se opisuje,
umesto preko RF spektra, preko funkcije spektralne gustine snage faznog uma, tj.
raspodele relativne snage faznog uma u zavisnosti od frekvencije. Jedinice u kojima
se izraava fazni um obino opisuju:
snagu faznih fluktuacija,
snagu frekvencijskih fluktuacija,
snagu RF bonog opsega.
Razliitim metodama merenja dobijaju se vrednosti faznog uma u razliitim
jedinicama koje su matematiki ekvivalente.
Na slici 3.6 izvreno je poreenje spektra RF signala i demodulisane raspodele
spektralne gustine. Funkcija spektralne gustine snage S ( f m ) je raspodela snage u
funkciji offset frekvencije od nosioca. U osnovi nosilac je koherentno demodulisan na
0 Hz, i snaga frekvencijske ili fazne fluktuacije je opisana kao funkcija frekvencije pri
kojoj se ova fazna modulacija javlja. Frekvencija modulisanih signala, ili njen
ekvivalent offset frekvencija u odnosu na nosioc, je oznaena sa f m (oznaka za
moduliuu frekvenciju ili offset frekvenciju).
Spektralna gustina snage obino se daje u normalizovanom opsegu od 1 Hz,
premda je spektralna gustina esto data (integrisana) u celom opsegu zavisno od
primene. Takoe, zbog velikih varijacija amplitude faznog uma na oscilatoru, fazni
um je esto pogodno dati u logaritamskoj razmeri (10log od spektralne gustine
koriene funkcije).

Merenje faznog uma

24

a)
b)
Slika 3.6. a) RF spektar na analizatoru spektra. b) demodulisana spektralna gustina
snage faznog uma (fazni um se obino daje kao snaga u funkciji offset frekvencije
od nosioca pri emu je nosioc transliran na DC).
3.4.1 Spektralna gustina faznih fluktuacija, S ( f m )

U osnovi se fazni um opisuje preko spektralne gustine faznih fluktuacija,


S ( f m ) , gde je S ( f m ) definisana kao srednje-kvadratna snaga fluktuacija faze u
jedininom opsegu:

rms 2 ( f m )
(3.3)
rad 2 /Hz
BW
gde je BW opseg merenja, zanemarljiv u odnosu na bilo kakve promene S u
S ( f m ) =

zavisnosti od offset frekvencije f m .


Logaritamski se S ( f m ) moe predstaviti kao:
10 log S ( f m ) = 10 log

rms 2
BW

(3.4)

odnosno

(rad)
/Hz
(3.5)
1 (rad)
gde dBr/Hz oznaava dB u odnosu na 1 rad po jedinici bonog opsega (1 Hz).
S ( f m ) se meri direktno kada se koristi fazni demodulator za merenje faznog
S ( f m ) [dBr/Hz] = 20 log

uma. Ovi podaci su korisni za analizu efekta faznog uma kod sistema sa kolima sa
osetljivom fazom kao to su digitalni FM, PSK i QAM komunikacioni linkovi.
3.4.2. Spektralna gustina frekvencijskih fluktuacija, S f ( f m )

Spektralna gustina frekvencijskih fluktuacija, S f ( f m ) , je definisana kao


srednje-kvadratna snaga fluktuacija frekvencije u jedininom opsegu:

f rms 2 ( f m )
(3.6)
Hz 2 /Hz
BW
Kao i kod S ( f m ) , opseg merenja BW mora biti zanemarljiv u odnosu na bilo
kakve promene veliine S f ( f m )
S f ( f m ) =

Merenje faznog uma

25

S f ( f m ) se dobija kada se meri fazni um uz pomo frekvencijskog


diskriminatora. Logaritamski izraen S f ( f m ) je oblika:
S f ( f m ) = 10 log f rms 2 / BW

(3.7)

odnosno:

f (Hz)
/Hz
(3.8)
1 (Hz)
gde dBHz/Hz oznaava dB u odnosu na 1 Hz po jedinici bonog opsega (1 Hz).
S f ( f m ) (dBHz/Hz) = 20 log

Kako su frekvencija i faza povezani, fazni um se moe istovremeno razmatrati


bilo preko faznih fluktuacija S ( f m ) ili preko frekvencijskih fluktuacija S f ( f m ) .
Vrednost za S f ( f m ) moe biti direktno izvedena iz vrednosti za S ( f m )
korienjem Laplasove transformacije, prilikom ega se dobija veza:
S f ( f m ) = f m 2 S ( f m )

(3.9)

Logaritamski se ova veza moe napisati u sledeem obliku:


S f ( f m ) (dBHz/Hz) = S ( f m ) (dBr/Hz) + 20 log

fm
1 (Hz)

(3.10)

Na slici 3.7 grafiki je prikazan ovaj odnos. Fazni um izvora od 10 GHz prikazan
je preko frekvencijskih i faznih fluktuacija u odnosu na offset frekvenciju od nosioca.
Uoava se da se grafici razlikuju za oekivanu vrednost f m 2 .

Slika 3.7. Fazni um izvora 10 GHz prikazan preko faznih fluktuacija i frekvencijskih
fluktuacija. Na istom dijagramu S ( f m ) i S f ( f m ) se razlikuju za nagib od f m 2 .
3.4.3. Odnos uma jednog bonog opsega i snage signala nosioca (Single Side
Band Noise-to-Carrier-Power Ratio), L f m

( )

( )

Izraz koji se najee koristi za fazni um L f m ustvari ne predstavlja sam fazni


um. L f m predstavlja odnos spektralne gustine snage u jednom faznom bonom

( )

opsegu Pssb i ukupne snage signala nosioca Pssb (slika 3.8).

Merenje faznog uma

26

P
spektralna gustina snage (u jednom BO) W
L( f m ) = ssb =
Ps
ukupna snaga nosioca
W

(3.11)

( )

Slika 3.8. Funkcija L f m definisana kao odnos spektralne gustine snage u jednom
faznom bonom opsegu Pssb i ukupne snage signala nosioca Ps .
Za izraavanje faznog uma, veliina L( f m ) se esto koristi prvenstveno jer je
povezana sa spektrom RF snage koji se meri analizatorom spektra, a to je merni
ureaj koji se najee koristi pri merenju faznog uma. L( f m ) se obino izraava
logaritamski kao razlika nivoa snage jednog faznog bonog opsega (u dBm) i nivoa
nosioca (u dBm) po jedinici opsega:

( )

10log L f m (dBc/Hz) = 10log Pssb (dBm ) 10log Ps (dBm )

(3.12)

gde dBc/Hz oznaava dB u odnosu na nosioc po jedinici bonog opsega (1 Hz).

( )

L f m je indirektna mera energije uma koja se ponekad moe direktno povezati


sa osnovnom jedinicom za fazni um - S ( f m ) sledeom aproksimacijom. Ako su
modulacioni boni opsezi izvora takvi da je maksimalna fazna devijacija, pri datoj
offset frekvenciji, mnogo manja od 1 rad ( pk << 1 rad ) tada je:

( )

S f f m
1
L f m S f m =
2
2 fm2

( )

( )

(3.13)

( )

Drugim reima, poto se L f m definie kao snaga u jednom bonom opsegu,


izraz za fazni um vai ukoliko je energija u viim bonim opsezima neznatna. Veza
izmeu L f m i S ( f m ) se moe izvesti iz osnovne modulacione teorije.

( )

Aproksimacija u prethodnoj jednaini je data za indeks modulacije = pk manji


od 0.2 rad.

( )

U logaritamskim jedinicama veza izmeu L f m , S ( f m ) i S f ( f m ) data je


izrazom:

Merenje faznog uma

27

( )

( )

L f m (dBc/Hz) = S f m (dBr/Hz) - 3 dB
i

( )

(3.14)

( )

L f m (dBc/Hz) = S f f m (dBr/Hz) - 20 log f m - 3 dB

(3.15)

Za veinu fazno sinhronizovanih izvora, maksimalna devijacija faze pri bilo kojoj
modulacionoj uestanosti bie manja od 0.2 rad. Ipak, za tzv. free-running izvore,
velikih amplituda, niskofrekvencijske fazne fluktuacije odgovaraju visokom
modulacionom indeksu na niskim uestanostima tako da se L f m ne moe koristiti

( )

za opisivanje faznog uma koji se javlja blizu signala nosioca.

3.5. Direktno spektralno merenje faznog uma


Najjednostavniji metod za analizu faznog uma izvora je direktni spektralni
metod. Izvor koji se testira je direktno povezan sa spektralnim analizatorom. Fazni
um se meri preko L( f m ) = Pssb / Ps . Na spektralnom analizatoru L f m moe biti

( )

( )

direktno izraunat sa displeja. Poto je skala analizatora logaritamska, L f m


L( f m )[dBc/ Hz] = 10 log Pssb (dBm) 10 log Ps (dBm) .

je

3.5.1. Postupak merenja

Najpre se meri nivo nosioca ili nivo signala Ps , a zatim se meri snaga uma na
offset frekvenciji Pm ( Pm je snaga uma za opseg Bm), kao to je prikazano na slici
3.9. Poto se L f m definie za opseg od 1 Hz, merena snaga bonog opsega mora

( )

biti konvertovana u ekvivalentnu snagu u opsegu 1 Hz. To je normalizacioni proces,


gde je normalizovani faktor opsega uma, SFBW :
B
SFBW = 10 log m
(3.16)
BM
gde je:
Bm - opseg u kome se vri merenje,
BM - ekvivalentni opseg od 1 Hz.

Slika 3.9. L( f m )[dBc/ Hz] = 10 log Pssb (dBm) 10 log Ps (dBm) . Nivo merenog
bonog opsega Pm mora biti normalizovan sa 1 Hz da bi dobili Pssb .

Merenje faznog uma

28

Ako je Pssb ekvivalentna snaga jednog faznog bonog opsega u 1 Hz opsega, a


Pm merena snaga faznog uma u opsegu Bm tada se moe pisati:
Pssb = Pm SFbw
(3.17)
Izmereni um moe biti korigovan za svaku netanost koju sistem za merenje
moe da ima kada vri sluajno merenje uma. Uoptena formula koja se koristi za
proraun L f m sa displeja spektralnog analizatora data je sa:

( )

L( f m )(dBc / Hz ) = 10 log Pssb 10 log Ps = Pm SB BW + C m Ps

(3.18)

gde je:
Pm - mereni nivo uma u opsegu Bm i daje se u dBm,
SFBW - normalizacija opsega uma i daje se u dB,
C m - korekcija zbog uticaja mernog sistema i daje se u dB,
Ps - nivo signala nosioca i daje se u dBm.
3.5.2. Osetljivost i ogranienja

Glavno ogranienje direktnog spektralnog metoda je prag uma ili osetljivost.


Spektralni analizatori obino nemaju dovoljno nizak prag uma da bi vrili
merenja na offset frekvencijama veim od 10 KHz od nosioca.
Kao dodatak nedovoljnoj osetljivosti, direktni spektralni metod ima i druga
ogranienja:
Ovaj metod se ne koristi za izvore sa visokim AM umom. Skalarni
analizatori spektra ne mogu da razlikuju amplitudnu i faznu modulaciju pa
mere kombinovani um. Izmerena snaga uma mora se sastojati samo od
fazno modulisanih opsega da bi za L f m dobili tanu vrednost faznog

( )

uma. Ukoliko izvor ima visoki AM um, spektralni analizator e takoe


meriti i ovaj AM um dajui netaan rezultat.
Metod se ne koristi za merenja blizu nosee frekvencije. Za offset
frekvencije blizu nosioca, spektralni analizator koristi uzak opseg
rezolucije. Suavanje irine opsega rezolucije poveava vreme svipovanja
(vremenski raspon). Ukoliko izvor pomera vie od 1/20-ti deo ukupnog
frekvencijskog raspona analizatora u toku vremenskog raspona, rezultujui
podaci mogu da imaju veliku greku.

3.6. Metod frekvencijskog diskriminatora za merenje faznog uma


Metodom frekvencijskog diskriminatora, za merenje uma, postie se vea
osetljivost, u odnosu na prethodni metod, anuliranjem ili demodulisanjem nosioca a
zatim merenjem uma u rezultujuem osnovnom opsegu signala. Kod ovog metoda
(koji se takoe naziva i metod jednog izvora), kratkotrajne frekvencijske
fluktuacije izvora koji se testira transliraju se u niskofrekvencijske fluktuacije
napona koje se mogu meriti u pomou niskofrekvencijskog analizatora (slika
3.10). Kao analizatori, koji mogu da mere snagu u funkciji frekvencije, mogu se

Merenje faznog uma

29

koristiti; selektivni voltmetri, analizatori talasa ili analizatori spektra. Kao rezultat
metoda frekvencijskog diskriminatora dobija se spektralna gustina frekvencijskih
fluktuacija S f ( f m ) .

Slika 3.10. Metodom frekvencijskog diskriminatora, frekvencijske fluktuacije ureaja


koji se testira (DUT-a) se transliraju u nisko frekvencijske fluktuacije napona koje se
mere analizatorom za niske frekvencije.
3.6.1. Mikser sa linijom za kanjenje kao diskriminator

Na slici 3.10 prikazana je implementacija linija za kanjenje + mikser za


realizaciju frekvencijskog diskriminatora. Najpre se signal ureaja koji se testira deli
u dva kanala. Signal iz prvog kanala (koji se naziva i kanal bez kanjenja, referentni
ili LO kanal) se dovodi na LO ulaz dvostruko-balansnog miksera. U drugom kanalu je
linija za kanjenje pa se zakanjeni signal dovodi na ulaz miksera.
Linija za kanjenje radi kao pretvara frekvencije u fazu (f - ). Linijom za
kanjenje se dobija signal sa faznim pomerajem u odnosu na referentni signal,
0 = 2 d f 0
(3.19)
gde je:
0 - nominalni fazni pomeraj,
d - propagaciono kanjenje linije,
f 0 - nominalna frekvencija nosioca.

U okolini nominalne frekvencije, trenutne frekvencijske fluktuacije prouzrokuju


linearno proporcionalne fazne pomeraje:
= 2 d f
(3.20)
gde je:
- trenutna promena faze,
f - trenutna frekvencijska fluktuacija.
Linija za kanjenje uklanja korelaciju uma izvora koji dolazi do miksera preko
dva razliita puta.

30

Merenje faznog uma

Na kraju linije za kanjenje i referentnog kanala nalazi se dvostruko balansni


mikser koji radi kao fazni detektor tako to konvertuje fazne fluktuacije u promene
napona koje se mogu meriti pomou niskofrekventnog analizatora. Da bi mikser
radio kao fazni detektor signali na ulazu u mikser moraju biti u kvadraturi
(fazno pomereni za 90). Nakon filtriranja, frekvencija razlike je 0 Hz. Prema tome
izlazni signal sainjavaju male fluktuacije jednosmernog naona. Za male devijacije
faze promena napona V je proporcionalna fluktuaciji faze izmeu dva signala.
Konverzija faze u napon definisana je preko konstante faznog detektora (konverziona
konstanta detektora) K (V/rad) na nain.
V ( f m ) = K ( f m )

(3.21)

Nakon konverzije, napon u osnovnom opsegu se pojaava pomou maloumnog


pojaavaa (LNA) kako bi se postigla dodatna osetljivost sistema. Tipino pojaanje
pojaavaa iznosi oko 40dB a faktor uma oko 2-3dB. Kao analizator obino se
koristi analizator spektra koji pokriva frekvencijski opseg od interesa. Ako se ele da
izve merenja na frekvencijama bliskim noseim potrebno je da analogni analizator
poseduje LO ili moe biti korien i FFT analizator.
Prag uma ovih stabilnih analizatora obino nije kritian. Metod
frekvencijskog diskriminatora poboljava osetljivost time to:
eliminie nosioc i
koristi LNA da bi poveao faktor uma analizatora pa je ukupna
osetljivost sistema data preko prenosne funkcije diskriminatora.
3.6.2. Prenosna funkcija frekvencijskog diskriminatora

Prenosna funkcija frekvencijskog diskriminatora, koji koristi liniju za


kanjenje/mikser, data je sledeim izrazom:
sin(f m d )
(3.22)
V ( f m ) = K 2 d f ( f m )
(f m d )
gde je:
V ( f m ) - naponski izlaz diskriminatora,
f ( f m ) - kratkotrajne frekvencijske fluktuacije.
Uoavamo da je funkcija periodina (sa periodom =2fm), da prati karakteristiku
sinx/x pa stoga ima pikove i nule, gde je prva nula u taki 1/d. Na slici 3.11 prikazana
je amplituda karakteristike prenosa sistema koji koristi liniju za kanjenje od 500 ns.
Prva se nula javlja u taki 1/d =1/(500ns), to odgovara offset frekvenciji od 2 MHz.

Slika 3.11. Prenosna funkcija sistema frekvencijskog diskriminatora realizovanog sa


linijom za kanjenje od 500 ns. Funkcija prenosa prati karakteristiku sinx/x sa prvom
nulom u taki 1/d

31

Merenje faznog uma

Mogue je izvriti merenja i za offset frekvencije koje su izvan ili sa druge strane
nula tako to se rezultati merenja skaliraju sa karakteristikom sinx/x. Ipak, zbog male
osetljivosti u oblasti nula, metod frekvencijskog diskriminatora se koristi za merenja
na offset frekvencijama manjim od 1/2d gde je amplituda prenosne funkcije
maksimalna i linearna. U ovoj oblasti,
V ( f m ) K 2 d f ( f m ) = K d f ( f m )

(3.23)

Veliina Kd, predstavlja konstantu frekvencijskog diskriminatora (daje se u V/Hz),


i definie ukupni prenosni faktor izmeu trenutnih frekvencijskih fluktuacija na izlazu
diskriminatora i odgovarajueg napona. Za offset frekvencije manje od 1/2d vai:
K d [V/Hz ] = K 2 d

(3.24)

Redukovana prenosna funkcija iz jednaine (3.23) je linearno proporcionalna


trenutnim frekvencijskim fluktuacijama f(fm) i u funkciji je parametara K i d.
Poveanje osetljivosti frekvencijskog diskriminatora

Moe se zakljuiti da se osetljivost frekvencijskog diskriminatora, Kd, moe


poveati poeanjem kanjenja d ili poveanjem konstante faznog detektora K. Ova
pretpostavka nije u potpunosti tana zbog propratnih efekata koji se mogu izazvati
poveanjem ovih faktora:
Iz redukovane prenosne funkcije (3.23) se vidi da se poveanjem d moe
poboljati osetljivost sistema. Ipak, poveanjem d smanjuje se opseg offset
frekvencija na kojima se mogu vriti merenja bez kompenzacije sa
karakteristikom sinx/x.
Na primer, linija za kanjenje 200 ns daje bolju osetljivost nego linija
od 50 ns, ali se moe upotrebiti do offset frekvencija od 2.5 MHz bez
kompenzacije sa karakteristikom sinx/x; dok je linija od 50 ns
upotrebljiva za offset frekvencije do 10 MHz.

Konstanta K zavisi od nivoa ulaznog signala u mikser. Na primer za


konstantni nivo referentnog signala porast zakanjenog signala dovodi do
porasta K sve do vrednosti dok detektor ne dostigne maksimalnu vrednost tj.
dok ne doe do kompresije. Nakon ove kompresione take miksera, dalje
poveanje nivoa zakanjenog signala nee doprinositi poveanju osetljivosti.
Takoe, K i d su zavisne veliine tj. poveanjem vremenskog kanjenja d (tj.
duine linije) smanjuje se ulazni nivo zakanjenog signala pa samim tim i
vrednost K. Stoga se maksimalna osetljivost sistema postie kompromisom
izmeu duine linije i slabljenja koje se javlja unutar te linije.

Optimalna duina linije se dobija kada pad nivoa ulaznog napona u detektoru koji
potie od zakanjenog signala bude u potpunosti kompenzovan sa porastom 1/2d.
Ovaj uslov je ispunjen pri slabljenju linije od 8.686 dB. Pri tome, duina linije koja
treba se koristi zavisi kako od nosee frekvencije tako i od elementa za kanjenje koji
se koristi. Takoe, bitno je uoiti da prenosna funkcija diskriminatora ne zavisi od
frekvencije nosioca f0. Ukoliko je nivo ulaznog signala u mikser konstantan, tako da

32

Merenje faznog uma

se faktor K ne smanjuje, linijom od 50 ns postie se ista osetljivost sistema i za


10 MHz i za 10 GHz.
3.6.3. Ukupni prag uma i konverzija jedinica

Izlazni napon diskriminatora je linearno proporcionalan ulaznim frekvencijskim


fluktuacijama gde je konstanta proporcionalnosti konstanta diskriminatora Kd. Tada se
za spektralnu gustinu frekvencijskih fluktuacija, S f ( f m ) , dobija se izraz:
S f ( f m ) =

2
2
2
f rms
Vrms
( f m ) Vrms
( fm )
=
=
2
BW
Kd
K 2 d 2

(3.25)

2
gde je Vrms
( f m ) normalizovano na opseg od 1 Hz.
Da bi se uporedio metod diskriminatora se drugim mernim metodama potrebno je
izlazni signal diskriminatora opisati preko faznih fluktuacija, a to se izvodi

uvoenjem smene S f ( f m ) = f m2 S ( f m ) tako da se dobija izraz:


S ( f m ) =

2
( fm )
1 Vrms
f m2 K 2 d 2

(3.26)

Kada se izrazi u jedinicama faznih fluktuacija, signal na izlazu diskriminatora je u


zavisnosti od offset frekvencija.
3.6.4. Postupak merenja

Postupak merenja faznog uma, metodom frekvencijskog diskriminatora, sastoji


se iz vie koraka:
Postavljanje,
Kalibracija,
Merenje i
Konverzija u jedinice za opisivanje faznog-uma
Postavljanje sistema
Postavljanje sistema je prikazano na slici 3.10. Najpre nivoi snage na ulazu
meaa moraju da se provere. Ovo omoguava da:
diskriminator radi sa eljenom osetljivou (dovoljno K) i
da se koristi izvor za kalibraciju.

Slabljenje kroz liniju za kanjenje zavisi kako od elementa kanjenja tako i od


frekvencije nosioca. Ukoliko se na izlazu linije za kanjenje eljene duine javi signal
sa nedovoljnom snagom, mogue je dodati niskoumni pojaava ispred delitelja, kao
to je prikazano isprekidanom linijom na slici 3.10. um koji unosi pojaava mora
biti manji od uma signala koji se testira kako ne bi dolo do degradacije osetljivosti
sistema.
Za merenje mikrotalasnih frekvencija mogue je koristiti i kolo prikazano na slici
3.11. U ovom sluaju visokofrekvencijski signal ureaja koji se testira se najpre
konvertuje nanie uz pomo maloumnog referentnog izvora. Signal konvertovan na
meufrekvenciju sada sadri um visokofrekvencijskog signala (koji se testira), ali
moe biti povezan sa linijom za kanjenje/diskriminatorom koji radi na IF

33

Merenje faznog uma

frekvencijama (obino manjim od 1 GHz). Za IF frekvencije znatno manje je


slabljenje po duini linije za kanjenje nego na noseoj frekvenciji.

Slika 3.11. Konvertovanje nanie, a zatim razdvajanje za signal na meufrekvenciji


IF. Poto je IF signal na nioj frekvenciji nego signal nosioc, moe se koristiti linija za
kanjenje vee duine sa veom osetljivou i manjim gubicima nego to je potrebno
za signal na noseoj frekvenciji.
Kalibracija i merenje
Pre samog postupka merenja potrebno je najpre izviti kalibracionu proceduru u
toku koje se odreuje konstanta diskriminatora Kd:

V ( f m ) = K d f ( f m )

(3.27)

Konstanta diskriminatora Kd moe biti odreena na dva naina:


Merenjem K i d odvojeno,
Merenjem Kd na osnovu analize odziva sistema za poznati ulaz (najea
metoda).
Najei i najlaki metod za merenje Kd je merenje na osnovu odziva sistema
za poznati ulazni signal. Najbolje je da se koristi FM modulisani signal jedne
modulacione frekvencije. Modulacioni indeks treba da bude manji od 0.2 dB rad
tako da snaga u bonim opsezima vieg reda bude zanemarljiva. esto izvor koji se
testira moe biti frekvencijski modulisan tako da sam generie kalibracioni signal. U
suprotnom, test signal se zamenjuje alternativnim izvorom iste snage na istoj
frekvenciji.
Poto kalibraciona procedura karakterie sistem koji radi kao diskriminator, mea
radi kao fazni detektor u toku procesa kalibracije. Ulazni signali u meau moraju biti
u kvadraturi (pomereni za 90). Postoje nekoliko naina da se uspostavi kvadratura na
faznom detektoru (koja se na osciloskopu prati kao napon od 0 V). Prvo, kako je
nominalna faza koja stie do faznog detektora 0 = 2 d f 0 , faza se moe promeniti

neznatnim menjanjem frekvencije izvora f 0 . Ovo je jedan od najlakih naina za


dobijanje signala u kvadraturi jer je za liniju duine 50 ns potrebna promena
frekvencije od nekoliko MHz da bi se postigla promena faze za 90.
Ukoliko frekvencija izvora ne moe da se menja, mogue je pridodati fiksni
element za kanjenje i na taj nain menjati d dok se ne postigne kvadratura. Obino je
potrebna promenljiva duina manje od nekoliko inch-a. Ukoliko nije podesno koristiti
neku od ovih tehnika, mogu se koristiti bilo analogni ili digitalni pomerai faze.
Na slici 3.12 prikazan je kalibracioni signal, FM modulisani signal jedne
modulacione frekvencije sa moduliuom frekvencijom od 1 KHz i 100 Hz
maksimalnom FM devijacijom za modulacioni indeks =100/1 kHz=0.1. Sa faznim
detektorom u kvadraturi sistem demodulie nosilac i izlazna snaga na 1 kHz

Merenje faznog uma

34

predstavlje odziv sistema na signal modulisan frekvencijom 1 KHz sa devijacijom


frekvencije od 100 Hz. Tada je:
Vcal pk
2Vcal rms
=
(3.28)
Kd =
f cal pk
f cal pk

Slika 3. 12. Kalibracija frekvencijskog diskriminatora merenjem odziva poznatog


ulaznog signala:
a) ulazni signal za kalibraciju sa poznatim odnosom boni opseg/nosilac
( SB cal = -26 dBc ) sa poznatom moduliuom frekvencijom f m cal ,
b) odziv diskriminatora na kalibracioni signal,
c) Detektovani fazni um test signala, u voltima proporcionalnim trenutnim
frekvencijskim fluktuacijama signala test izvora

Merenje faznog uma

35

Konvertovanje u jedinice za fazni um

Spektralna gustina frekvencijskih fluktuacija signala izvora koji se testira, je data


2
u odnosu na detektovanu izlaznu snagu (Vrms
( f m )) i konstantu diskriminatora K d .
Zamenom kalibracione konstante iz jednaine (3.28), detektovani um se moe
izraziti u jedinicama S f ( f m ) na nain:

S f ( f m ) =

2
( fm )
Vrms

(3.29)

2
2Vrms
cal
2
f pk
cal

gde je:
2
( f m ) - normalizovana snaga frekvencijskih fluktuacija i
Vrms
2
Vrms
cal - snaga signala odziva na kalibracioni signal.

Logaritamski se S f ( f m ) moe predstaviti kao:


S f ( f m ) = Pm Pcal + 20 log f cal 3dB
Ukoliko se trai

( )

(3.30)

L f m i ako je zadovoljen kriterijum malog ugla


( pk << 0.2 rad ) tada izraz za S f ( f m ) moe biti konvertovan u L f m
korienjem prethodno datih jednaina.

( )

( )

Ukoliko se trai L f m odziv sistema se moe kalibrisati direktno pomou


poznatog odnosa boni opseg/nosilac SB cal sa poznatom moduliuom frekvencijom
f m cal . Na primer, na slici 3.12a dato je SB cal od -26 dBc za f m cal od 1 kHz. Snaga
signala odziva na SB cal merena na izlazu diskriminatora predstavlja odziv ukupnog
sistema na um pri toj snazi i frekvenciji (slika 3.12b). Vrednost za izmerenu snagu
uma za neku offset frekvenciju mora biti skalirana odnosom merenog offset-a i
offset-a kalibracije.
Faktor skaliranja sistema, SFsys je definisan kao prenosna funkcija
diskriminatora za poznat nivi uma na poznatoj frekvenciji:
SFsys = SBcal Pcal

(3.31)

pa je
L(f m ) = Pm + SFsys 20 log

fm
f m cal

f
L(f m ) = Pm + SBcal Pcal 20 log m SFbw + C m
f m cal
gde je:
P
m
SBcal

- merena snaga uma i daje se u dBm,


- kalibracioni odnos boni opseg/nosilac i daje se u dBc,

(3.32)
(3.33)

Merenje faznog uma


- merena kalibraciona snaga i daje se u dBm,

P
cal
20 log

36

fm
f m cal

- konverzija na merenoj offset frekvenciji i daje se u dB,

SFBW
- konverzija u um jedininog bonog opsega i daje se u dB
- korekcija za merni sistem i daje se u dB,
C
m
- Izmerena snaga uma je normalizovana po snazi uma
L (f )
m
jedininog opsega i daje se u dBc/Hz.

3.7. Metod faznog detektora za merenje faznog uma


Kao i metod frekvencijskog diskriminatora, metod faznog detektora (ili metod
dva izvora) poveava osetljivost sistema demodulisanjem nosioca i zatim merenjem
uma u rezultujuem osnovnom opsegu signala. Osnova metode faznog detektora
prikazana je na slici 3.13. U ovom metodu, kratkotrajne fazne flukuacije izvora se
direktno trasnsliraju na promene napona u osnovnom opsegu, koje se mogu meriti
niskofrekvencijskim analizatorom. Konstanta faznog detektora, K , data u voltima po
radijanu, je konstanta proporcionalnosti za fazni um testiranog izvora i
odgovarajueg napona na izlazu:
V ( f m ) = K ( f m )

(3.34)

Izlaz na faznom detektoru je napon proporcionalan fazi, a preko njega je mogue


proraunati spektralnu gustinu faznih fluktuacija, S ( f m ) .

Slika 3.13. U metodi faznog detektora, dva izvora na istoj frekvenci i fazno pomereni
za 90 povezani su na dvostruko-balansni mikser. Mikser se ponaa kao fazni
detektor, translira fazne fluktuacije testiranog izvora na niskofrekvencijske naponske
fluktuacije. PLL je potrebna da zadri faznu razliku od 90 izmeu dva izvora.
Premda metod faznog detektora nudi najbolju osetljivost, to nije uvek najbolje
reenje. Izvori sa visokim odstupanjem (drift-om) ili veoma visokim faznim umom
mogli bi biti teki za merenje metodom faznog detektora. Takoe, ovaj metod je
mnogo kompeksniji nego direktni spektralni metod ili metod frekvencijskog
diskriminatora. Ukoliko dodatna osetljivost nije potrebna drugi metodi su mnogo
jednostavniji.

Merenje faznog uma

37

3.7.1. Fazni detektor, procesiranje signal/um i analizator


Glavni deo metoda faznog detektora je dvostruko-balansni mikser (mea)
korien kao fazni detektor (slika 3.13). Dva razdvojena izvora na istoj frekvenciji
povezana su na mikser. Suma i razlika frekvencije proputa se zatim kroz filtar
propusnik niskih frekvencija (LPF). Kada su signali u kvadraturi, razlika frekvencija
je 0 Hz, sa srednjim izlaznim naponom od 0 V. Ovaj DC signal predstavlja male
fluktuacije AC napona koji je direktno proporcionalan kombinovanom faznom umu
iz dva ulazna signala. Za male fazne devijacije, mikser radi u linearnoj oblasti oko 0 V
(slika 3.14), gde je izlazni napon povezan konstantom K sa fazom ulaznog signala.

Slika 3.14. Mikser radi u okolini kvadrature gde je izlazni napon linearno
proporcionalan fluktuacijama faze ( K je konstanta faznog detektora)
Napomena:
Kada mikser radi u okolini kvadrature, javlja se mali DC offset na izlazu (umesto
0 V). Ovaj mali DC offset obino doprinosi stvaranju veoma male greke prilikom
merenja.
Kao i kod metoda faznog diskriminatora, posle detektora signal prolazi kroz LNA
i analizator. Zbog niskog praga uma sistema, kada se radi o metodi faznog detektora,
LNA je presudan (veoma bitan). LNA mora da ima dovoljno pojaanje da bi pojaao
detektovan um iznad praga uma analizatora.
Da bi se ostvario sistem sa niskim pragom uma metodom faznog detektora,
naroito u blizini nosioca, mora se koristiti stabilni analizator (npr. FFT analizator).
Sa stabilnim analizatorom i dodatom pojaanju LNA-u, ukupna osetljivost metode
faznog detektora bie podeena faznim detektorom i LNA-om ali ne i umom
analizatora.

3.7.2. Referentni izvor


Najznaajnija komponenta u metodi faznog detektora (a ujedno i najskuplja) je
referentni izvor. Dok izlaz detektora predstavlja rms snagu uma oba oscilatora,
najznaajniji kriterijum za izbor referentnog izvora je da njegov fazni um manji nego
um testiranog izvora. Margina od 10 dB je obino dovoljna da osigura da nema
znaajnih uticaja na rezultate merenja. Greka merenja kombinovanog uma (meri se
ukupni um DUT-a i referentnog izvora):

Merenje faznog uma

38
L ref L dut

Error (dB) = 10 log1 + 10 10

(3.35)

gde je:
L ref - um referentnog izvora,
L dut - um DUT-a.
Ukoliko je referentni izvor sa pragom uma za koji izvor koji se testira nije
dostupan, najednostavnije je koristiti dva jednaka izvora unutar testa. Sa
pretpostavljenim jednakim umovima, 3 dB se oduzima od merene vrednosti da bi
dobili um bilo kog izvora. Za precizno merenje uma izvora sa uporedivim umom
(3-6 dB razlike) koriste se tri izvora u tri merenja. Dobijaju se tri jednaine sa tri
nepoznate iz kojih se moe izraunati um sva tri izvora.
Ukoliko merimo maloumni izvor, referentni izvor bi imao nizak AM um. Kako
mikser u kvadraturi priguuje AM um sa oko 20 dB, nizak AM um na referentnom
izvoru poveava pouzdanost merenja.
3.7.3. Postupak merenja

Postoji mnogo slinosti izmeu postupka merenja metodom faznog detekotora i


metodom frekvencijskog diskriminatora. Kao i u metodi frekvencijskog
diskriminatora, metod faznog detektora podeljen je na etri jednostavna koraka:
Podeavanje
Kalibracija
Utvrivanje kvadrature i merenja
Konverzija u jedinice faznog uma.
Podeavanja
Podeavanje sistema prikazano je na slici 3.13. Izvoenje kalibracije sistema
zavisi od konstante faznog detektora K koja se koristi u funkciji prenosa

V ( f m ) = K ( f m ) , i postoji nekoliko naina za njeno odreivanje. Kako je izlaz


1
faznog detektora proporcionalan S ( f m ) i kako je L( f m ) S ( f m ) , izlaz faznog
2
detektora moe se kalibrisati poznatim odnosom snage bonog opsega i nosioca na
nain na koji je to ve opisano kod metode frekvencijskog diskriminatora.

Konverzija u jedinice faznog uma


Izmeren um je linearno povezan sa spektralnom snagom faznih fluktuacija,
S ( f m ) . Dokle god odziv faznog detektora nije funkcija offset frekvencije, fazni um

na bilo kojoj offset frekvenci odreuje se iz merenog uma i faktora skaliranja


sistema, SFsys = SB cal Pcal .
Fazni um izraem u jedinicama dBc/Hz je:
L( f m ) = Pm + SF sys

ili tanije:

(3.36)

Merenje faznog uma

39
L( f m ) = Pm + SFsys SB BW + C m

(3.37)

gde je:
Pm - merena snaga uma i daje se u dBm,
SFsys- prenosna funkcija sistema i daje se u dB,
SFBW- normalizovani opseg uma i daje se u dB,
Cm - korekcija za mereni sistem i daje se u dB.
L( f m ) se izraava u dBc/Hz.

3.8. Poreenje metoda za merenje faznog uma


Direktni spektralni metod je optimalan za merenje stabilnih izvora sa relativno
visokim umom. On se takoe moe koristiti za davanje brze procene merenog uma
izvora; ukoliko je mereni um isti kao i poznati um spektralnog analizatora, tada se
zna da je um test izvora barem toliki. Direktni spektralni metod se ne koristi za
merenje maloumnih izvora, izvora sa visokom AM ili izvora sa visokim driftom.
Metod frekvencijskog diskriminatora optimalan je za izvore sa visokim bonim
opsezima close-in uma. Linija za kanjenje/mikser diskriminator ima manju
osetljivost na odstupanje (drift) u test izvoru nego direktni metod ili metod faznog
detektora. Metod diskriminatora se ne koristi za merenje close-in stabilizovanih
izvora, niti se koristi za merenje signala sa niskom frekvencijom nosioca.
Od mnogih implementacija diskriminatora, uvoenje linije za kanjenje/miksera
ima najiri ulazni frekvencijski opseg. Ipak, oekivano vee slabljenje u liniji za
kanjenje, moe prestavljati potekou za postizanje niskog praga uma za liniju za
kanjenje/mikser diskriminatora koji radi direkno na frekvenciji nosioca. Za bolju
osetljivost sa linijom za kanjenje/mikser diskriminatorom na viim frekvencijama
nosioca, izvor unutar testa mora se prvo konvertovati nanie sa niskim faznim umom
referentnog signala.
Metod faznog detektora je najprilagodljiviji od sva tri metoda. U praksi je
osetljivost ovog metoda ograniena umom referentnog izvora koji se koristi. On se
moe koristiti za merenja na milihercnim offsetima od nosioca ili offsetima od
desetina megaherca.
Zbog toga to su izvori u telekomunikacionim sistemima obino stabilisani
(zakljuani na stabilnoj frekvenciji) najee korieni metod za merenje faze uma u
ovoj primeni je metod fazne detekcije.

40

Merenje frekvencije - merai frekvencije

4. Merenje frekvencije
4. 1. Osnovna konfiguracija meraa frekvencija
Frekvencija f, periodino ponovljivog signala, moe se definisati kao broj ciklusa
tog signala u jedinici vremena. To se moe predstaviti jednainom:
f =

n
t

(4.1)

gde je n broj ciklusa periodinog signala koji se deava u vremenskom intervalu t.


Ukoliko je npr. t=1 sekunda, frekvencija se iskazuje kao n ciklusa u sekundi ili kao
n Hz.
Kao to pokazuje jednaina (4.1), frekvencija f, periodinog signala moe da se
meri standardnim brojaem koji broji broj ciklusa n, a zatim taj broj deli vremenskim
intervalom t. Osnovna blok ema brojaa u modu za merenje frekvencija je prikazana
na slici 4.1.

Slika 4.1. Osnovna blok ema klasinog brojaa koji radi u modu za merenje
frekvencije

Ulazni signal se najpre kondicionira (input conditioning), tako da bude


kompatibilan sa internim kolima brojaa. Obraeni signal se dovodi na glavnu kapiju
(main gate), odnosno I kolo, kao niz impulsa, pri emu svaki impuls odgovara jednom
ciklusu ulaznog signala. Kada je glavna kapija (I kolo) otvorena, impulsi mogu da
prou kroz kapiju i dou na brojako kolo (counting register).
Vreme otvaranja i zatvaranja glavne kapije se kontrolie vremenskom bazom. Iz
jedanine (4.1) je oigledno da tanost merenja frekvencije zavisi od tanosti
odreivanja vremenskog intervala t. U najveem broju meraa frekvencije (tkz.
frekvencmetara) koriste se kristal oscilatori sa frekvencijama od 1, 5 ili 10 MHz kao
osnovnim elementima vremenske baze (time base oscillator). Delitelj vremenske baze
(time base divider), na ijem se ulazu dovodi signal iz oscilatora vremenske baze, na
svom izlazu generie povorku impulsa ija je frekvencija promenljiva u dekadnim
koracima, to se regulie vremenskim prekidaem baze. Broj impulsa koje odbroji
brojako kolo, za odreeno vreme, predstavlja frekvenciju ulaznog signala. Izbrojana
frekvencija se prikazuje na numerikom displeju (display). Na primer, ako je broj
impulsa odbrojanih na brojau 50 000 i odabrano vreme vremenske kapije je jedna
sekunda, frekvencija ulaznog signala je 50 000 Hz.

Merenje frekvencije - merai frekvencije

41

4.2 Najvaniji faktori koji utiu na tanost konvencionalnog brojaa


4.2.1. Kola za kondicioniranje
Osnovna konfiguracija kola za kondicioniranje prikazana je na slici 4.2 i sastoji se
od atenuatora (attenuator), pojaavaa (amplifier) i mitovog trigerskog kola (schmitt
trigger). mitovo trigersko kolo ima zadatak da konvertuje analogni izlaz ulaznog
pojaava u digitalni oblik kompatibilan sa brojakim registrima brojaa.

Slika 4.2. Glavni elementi ulaznog kola za kondicioniranje

Osnovne karakteristike ulaznog kola za kondicioniranje su: osetljivost, AC-DC


sprega, nivo trigera, kontrola nagiba, dinamiki opseg, slabljenje atenuatora, ulazna
impedansa i automatska kontrola pojaanja.
4.2.2. Oscilator vremenske baze
Izvor preciznog vremena t, zavisi od oscilatora vremenske baze. Svaka greka
inherentna u vrednosti vremenskog intervala t e se reflektovati na tanost merenja
frekvencije U najveem broju frekvencmetra kao oscilujui elemet se koristi kvarcni
kristal oscilator.
Osnovni tipovi kristal oscilatora su:
Kristal oscilator na sobnoj temperaturi (Room Temperature Crystal
Oscillator - RTXO)
Temperaturno kompenzovan kristal oscilator (Temperature Compensated
Crystal Oscillator - TCXO)
Termostatski kontrolisan kristal oscilator (Oven Controlled Crystal
Oscillator)
Kristal oscilatori na sobnoj temperaturi su sposobni da podnesu relativno male
promene temperature - tipino od 0 do 50 C. Visoko kvaliteni RTXO ima stabilnost
oko 2.5*10-6 u pomenutom temperaturnom opsegu.
Ekvivalentna elektrina ema kvarcnog oscilatora je prikazana na slici 4.3.
Vrednosti za R1, C1, L1 i C0 su odreene fizikim svojstvima kristala i temperaturno
su zavisne. Eksterni promenljivi kondenzator se obino dodaje kao element za
podeavanje.

Slika 4.3. Ekvivalentno kolo kvarcnog kristal oscilatora

Drugi nain za kompenzaciju frekvencijskih promena sa temperaturom predstavlja


korienje komponenata sa temperaturnim promenama u suprotnom smeru, od onog u

Merenje frekvencije - merai frekvencije

42

kome se menjaju vrednosti za R1, C1, L1 i C0, da bi se dobila stabilnija frekvencija.


Oscilatori sa ovom metodom kompenzacije nazivaju se temperaturno kompenzovanim
kristal oscilatorima (TCXO). Ovakvi oscilatori su za klasu kvalitetniji od RTXO i
njihova stabilnost je 5*10-7, odnosno pet puta su bolji od RTXO.
Trei tip oscilatora koji se koriste u brojaima su Oven Controlled kristal
oscilatori. U ovom sluaju kristal oscliator se nalazi u komori (penici) koja
minimizira temperaturne promene u okolini kristala. Najee se koriste dva tipa
komore - penice:
Jednostavna ON/OFF komora
Proporcionalna komora
Prva vrsta komore (ON/OFF komora) se iskljuuje kada je postignuta maksimalna
temperatura, a ukljuuje se kada se dostigne minimum. Soficistiranije proporcionalne
komore kontroliu i ukljuuju grejanje koje je proporcionalno razlici izmeu trenutne
i eljene temperature u okolini kristala. Tipine promene u frekvenciji kod oscilatora
sa proporcionalnom komorom su manje od 7*10-9 u temperaturnom opsegu od 0 do
50 stepeni.
Osim temperaturnih efekata postoje mnogi drugi efekti koji utiu na tanost
frekvencija oscilatora. Ti drugi efekti su:
Varijacije napona napajanja
Aging (starenje) ili dugotrajna stabilnost
Kratkotrajna stabilonost
Magnetsko polje
Gravitaciono polje
Uticaji okoline (vibracije, vlaga i udarci)
Najznaajna su prva tri efekta i njima se poklanja posebna panja. U tabeli 4.1
prikazane se neke od karakteristika kvalitetnih kristal oscilatora.
Tabel 4.1. Tipine specifikacije za etiri osnovne vrste kristal oscilatora

4.2.3. Glavna kapija


Kao i kod fizikih kapija, glavna kapija frekvencmetra pokazuje propagaciono
kanjenje koje zahteva neko odreeno vreme za otvaranje ili zatvaranje (ON i OFF).

Merenje frekvencije - merai frekvencije

43

Ovo konano vreme preklapanja utie na ukupno vreme tokom kojeg je kapija
otvorena. Ukoliko je to vreme znaajno u poreenju sa najveom frekvencijom iz
mernog opsega, pojavie se greka merenja, dok je, u suprotnom greka zanemarljiva.
Za signal od 500 MHz, ija je perioda 2 ns, greka e biti zanemarljiva ako je vreme
preklapanja manje od 1 ns, to znai da su neophodna veoma brza kola.

4.3. Izvori greaka i greka merenja frekvencije


4.3.1. Izvori greaka
Najvaniji izvori greaka merenja elektronskih meraa frekvencija se generalno
mogu klasifikovati u sledee 4 kategorije:
Greka 1 cifra
Greka vremenske baze
Greka trigera
Sistematska greka
4.3.2. Greka merenja frekvencije
Greka frekvencmetra zavisi od moda rada. Ukupna greka merenja frekvencije
priblino je jednaka zbiru greke 1 cifre i greke vremenske baze.
Greka 1 cifra se esto naziva kvantizaciona greka i posledica je
neusaglaenosti frekvencije internog takta i ulaznog signala kao to je prikazano na
slici 4.4. Glavna kapija je otvorena za isto vreme tm u oba sluaja. Neusaglaenost
izmeu takta i ulaznog signala prouzrokuje dva validna brojanja pri emu je broj
odbrojanih impulsa u prvom sluaju 1, a u drugom sluaju 2.

Slika 4.4. Ilustracija greke 1 cifra.

Relativna greka merenja frekvencije zbog greke 1 cifre je:

f
1
=
(4.2)
f
f ul
gde je ful ulazna frekvencija. Tako, ako je vea frekvencija signala, manja je relativna
frekvencijska greka zbog greke 1 cifre.
Relativna greka merenja frekvencije zbog greke vremenske baze je
bezdimenzionalna veliina i obiino se izraava npr. kao 1*10-6. Ako se meri

Merenje frekvencije - merai frekvencije

44

frekvencija signala f=10 MHz, ukupna greka merenja frekvencije koja se ini zbog
greke vremenske baze je 1*10-6*107 Hz = 10 Hz.
Za nie frekvencije (manje od 1 MHz) dominantna je greka 1 cifre, dok je za
vee frekvencije dominantna greka vremenske baze.

4.4. Frekvencmetri u nanie konvertovanom frekvencijskom opsegu


Frekvencmetri, kao digitalna kola, imaju ogranien frekvencijski opseg zbog
ograniene brzine rada logikih kola. Danas, najsavremenija kola omoguavaju
konstrukciju brojaa za frekvencijske opsege do 500 MHz, ili maksimalno do 1 GHz.
Za merenje veih frekvencija neophodno je primeniti neku od metoda konverzije
nanie. Danas se koriste etiri osnovne tehnike za konvertovanje opsega frekvencija:
Tehnika preskaliranja za opseg do 1.5 GHz,
Tehnika heterodinske konverzije koja se najee koristi za opseg do 20
GHz,
Transfer oscilatori za opseg do 23 GHz,
Harmonijski heterodinski konvertori, nova tehnika koja omoguava merenja
do 40 GHz.
4.4.1. Frekvencmetri sa preskaliranjem

Ovi frekvencmetri jednostavno koriste deljenje ulazne frekvencije ime se dobija


signal nie frekvencije koji se jednostavno moe procesirati digitalnim kolima.
Preskaler (prescaler), odnosno delitelj, deli frekvenciju ulaznog signala faktorom N,
pre nego to se ovaj signal dovede na glavnu kapiju. Frekvencija koju meri broja
jednostavno je povezana sa izmerenom frekvencijom preko faktora N. Prikazivanje
korektne informacije o frekvenciji omogueno je jednostavnim mnoenjem sadraja
brojaa konstantom N. Tipino, faktor N se kree od 2 do 16. Ova tehnika se koristi
za frekvencije do 1.3 ili 1.5 GHz. Blok ema frekvencmetra sa preskaliranjem
prikazana je na slici 4.5.

Slika 4.5. Blok ema frekvencmetra sa preskaliranjem


Mogue je da se i signal vremenske baze podeli istim faktorom (blok N prikazan
isprekidanom linijom na slici 4.5) tako da se vreme merenja povea N puta. U tom

Merenje frekvencije - merai frekvencije

45

sluaju sadraj brojaa predstavlja direktno ulaznu frekvenciju (bez potrebe da se vri
mnoenje sa faktorom N). Poveanje frekvencijskog opsega je na taj nain postignuto
na raun produenog vremena merenja. Ukoliko se ostaje pri istom vremenskom
intervalu (ne deli se signal vremenske baze) poveanje opsega ide na raun rezolucije.
Glavi nedostaci frekvencmetra sa preskaliranjem su:
Loija rezolucija za faktor N pri istom vremenu merenja,
Mala vremena merenja (brza merenja) se teko postiu.
4.4.2. Frekvencmetri sa heterodinskom konverzijom

Heterodinska konverzija koristi mea, koji zahvaljujui visokostabilnom


oscilatoru, konvertuje ulaznu frekvenciju u opseg do 500 MHz koji je pogodan za
konvencionalne brojae (frekvencmetre). Na slici 4.6 je prikazana blok ema
automatskog mikrotalasnog brojaa koji koristi tehniku heterodinske konverzije na
nie.

Slika 4.6. Blok ema frekvencmetra sa tehnikom heterodinske konverzije


Sekcija heterodinskog konvertora na nie oiviena je isprekidanom linijom na slici
4.6. Izvan isprekidane linije je blok dijagram konvencionalnog brojaa. uz dodatak
novog bloka procesora (processor). Procesor ima zadatak da donosi odluke kako bi
broja vodio kroz merni proces.
Viskostabilni lokalni oscilator se dobija mnoenjem frekvencije vremenske baze
instrumenta do dobijanja pogodne fundamantalne frekvencije (fin), koja je tipino u
opsegu od 100 do 500 MHz. U tu svrhu koristi se blok multiplier. Signal
fundamentalne frekvencije fin se zatim dovodi do harmonijskog generatora (harmonic
ili comb generator) koji stvara tkz. spektralni ealj frekvencija na rastojanju fin
(umnoci frekvencije fin), koji prekriva itav opseg instrumenta. Jednu liniju tog
elja, oznaenu sa Kfin, selektujemo mikrotalasnim filtrom (YIG/PIN switch filter) i
usmeravamo prema meau (mixer). Na izlazu miksera dobijamo signal frekvencije
koja iznosi fvideo=fx Kfin. Samo se signal video frekvencije fx - Kfin pojaava video
pojaavaem (video amp) i posle kondicioniranja (schmitt trigger) vodi na broja
(counting register) kada je glavna kapija (main gate) otvorena.
Na dipleju (display) se prikazuje suma video frekvencije i Kfin, to u rezultatu daje
merenu frekvenciju sa ulaza frekvencmetra: fx - Kfin + Kfin = fx. Ovo sumiranje
obrauje procesor budui da procesor kontrolie rad mikrotalasnog filtra preko bloka

Merenje frekvencije - merai frekvencije

46

filter control i bloka signal detector uz pomo kojih se odreuje koja je linija elja
selektovana (odreivanje korektne vrednosti K). U praksi, procesor e zapoeti sa
vrednou K=1, i menjae vrednost K sve dok signal detektor ne detektuje postojanje
video frekvencije. U ovoj taki proces podeavanja je zavren i proces merenja moe
poeti.
U okviru sekcije heterodinskog konvertora nalazi se kolo za automatsku regulaciju
pojaanja (automatic gain control amplifier- AGC amp). Ovo kolo doprinosi veoj
imunosti sistema na um, time to poveava osetljivost video pojaavaa samo na
najveoj spektralnoj komponenti, koja e se potom dovesti na mitovo trigersko kolo.
Kljuna komponenta u automatizaciji heterodinske konverzije na nie je
mikrotalasni filtar. U ovu svrhu se koriste dve vrste filtara: (1) YIG filtri i (2) niz
planarnih filtara koji se selektuju prekidaam realizovanim u tehnici PIN dioda.
4.4.3. Transfer oscilator

Kod transfer oscilatora se koristi tehnika faznog lokovanja niskofrekvencijskog


oscilatora sa mikrotalasnim ulaznim signalom. Frekvencija niskofrekvencijskog
oscilatora se moe izmeriti konvencionalnim brojaem, i samo je jo neophodno
odrediti harmonijsku vezu izmeu ulaza i izlaza.
Na slici 4.7 je prikazana blok ema automatskog transfer oscilatora. Kolo za
konverziju na nie ogranieno je isprekidanom linijom.

Slika 4.7. Blog ema kola za konverziju na nie realizovanog pomou transfer
oscilatora.
Ulazni signal frekvencije fx se fazno lokuje sa naponski kontrolisanim
oscilatorom 1 (VCO 1) u gornjem delu sekcije konvertora na nie koristei blok

Merenje frekvencije - merai frekvencije

47

sampler koji predstavlja komparator faze. Kada se postigne fazno lokovanje, izmeu
frekvencije ulaznog signala, fx, i frekvencije VCO 1, F1, postoji sledea relacija:
f x = NF1 Fif 1

(4.3)

gde je N ceo broj. Kvadraturni detektor (phase detector) obezbeuje da se fazno


lokovanje postie pri uslovu f x = NF1 Fif 1 , a ne pri uslovu f x = NF1 + Fif 1 .
Donji deo sekcije konvertora na nie se koristi za odreivanje broja N.
Pomeranjem frekvencije F1 poznatom frekvencijom F0, na izlazu VCO 2 imamo
signal frekvencije:

F2 = F1 F0

(4.4)

Signal ove frekvencije se zatim koristi da tk. fazno lokuje ulazni signal
frekvencije fx pomou donjeg sampler-a, tako da je izlazna frekvencija iz ovog bloka
Fif2 data kao:
Fif 2 = NF2 f x
(4.5)
Nakon zamene jednaine (4.4) u jednainu (4.5) i koristei jednainu (4.3) moe
se pisati:
Fif 2 = Fif 1 NF0

(4.6)

Signal ove frekvencije Fif2 se na meau (mixer) mnoi sa Fif1 da bi se na


njegovom izlazu generisao signal frekvencije NF0. Vrednost celog broja N se
odreuje proporcionalnim brojaem koji je na slici 4.7 predstavljen samo blokom N
counter dok je na slici 4.8 data kompletna ema ovog proporcionalnog brojaa (tkz.
ratio counter) sa signalima NF0 i F0 kao ulazima. Ovaj broja nalazi odnos izmeu
dve ulazne frekvencije pri emu se nia frekvencija (F0) koristi za kontrolu glavne
kapije (vreme tokom kojeg je glavna kapija otvorena je t=1/F0), a meri se vea
frekvencija (NF0).

Slika 4.8. Proporcionalni broja za odreivanje celog broja N (predstavljen blokom N


counter na slici 4.7)
Kada je jednom broj N odreen, on se koristi za proirivanje vremenske baze, pri
emu se meri F1 klasinim brojakim kolima prikazanim na slici 4.7 ispod kola za
konveriju na nie. Osfetovanjem dobijenog rezultata (NF1) za Fif1, reava se
jednaina (4.3) i odreuje se nepoznata frekvencija sa ulaza fx.

Merenje frekvencije - merai frekvencije

48

4.4.4. Harmonijski heterodinski konvertor


Ova tehnika predstavlja hibrid prethodno dve opisane tehnike. Frekvencmetar koji
koristi ovu tehniku prihvata ulaznu frekvenciju na nain kao kod transfer oscilator, ali
se samo merenje obavlja kao kod heterodinskog meraa (slika 4.9).

Slika 4.9. Blok dijagram harmonijskog heterodinskog konvertora


Signal nepoznate frekvencije, fx, se dovodi na sampler, koji generie nanie
konvertovan video signal f if = f x Nf s , koji se zatim pojaava i alje na broja.
Frekvencija semplovanja, fs, se generie uz pomo sintetizator bloka (synthesizer)
kojim upravlja procesor (processor).
Proces akvizicije za konvertor na nie sastoji se od podeavanja sintetizatora fs sve
dok signal detektor (signal detector) ne pronae video signal fif u podesnom
frekvencijskom opsegu, to je odreeno filtrom propusnikom opsega (band-pass
filter).
Sledei korak je odreivanje harmonijskog broja N, kao kod transfer oscilatora.
Jedno reenje za odreivanje N je druga petlja kao kod transfer oscilatora. Drugi
metod je pomeranje sintetizatora napred-nazad izmeu dve bliske frekvencije i
posmatranje razlike pokazivanja brojaa. Odreivanje N je potom jednostavan
zadatak za procesor.
Merenje frekvencije se konano obavlja u procesoru, mnoenjem poznate
frekvencije sintetizatora fs sa N, i dodajui rezultat video frekvenciji fif koju je izmerio
brojaki registar, i prikazujui odgovor: f x = Nf s + f if .
Harmoniski heterodinski konvertor moe biti znatno jeftiniji od prethodne dve
tehnike jer ima samo jednu mikrotalasnu komponentu (sampler), a kontrola,
odluivanje i preraunavanje se moe obaviti jeftinim mikroprocesorom.

Merenje RF i mikrotalasne snage

49

5. Merenje RF i mikrotalasne snage


5.1. Uvod
Meraima snage se moe meriti:
elektrina snaga koju izvor moe da preda odreenom optereenju, ili
snaga koju prima odreeni potroa.
Na izbor samog instrumenta utiu mnogi faktori kao to su: frekvencijski opseg,
nivo snage koja se meri, spektralni sastav signala i eljena tanost. Naravno, ne
postoji instrument koji moe istovremeno da zadovolji sve ove zahteve, ve se koristi
itav niz ureaja za razlite zahteve.

5.2. Osnovne definicije snage


Razlikujemo dve osnove vrste tehnika za merenje snage:
Merai ili merne tehnike koje definiu prenos snage kroz mera ili merni
sistem od izvora do optereenja (tkz. transmisiona merenja)
Merai ili merne tehnike koje apsorbuju merenu snagu (tkz. apsorpciona
merenja).
Osnove definicije snage i energije su:

Snaga

d ( Energija)
dt

(5.1)

Energija (Snaga)dt

(5.2)

Trenutna snaga je odreena relacijom:

Snaga napon struja

odnosno

pt vt i t

gde su p(t), v(t) i i(t) vrednosti snage, napona i struje, respektivno, u odreenom
vremenskom intervalu. Ako napon i struja ne variraju u vremenu (DC komponente),
odgovarajua snaga je konstantna i postaje veliina koja se moe meriti.
Merai snage za AC signale omoguavaju merenje srednje snage, koja predstavlja
promenu energije u vremenu koja se odigrava u jednoj periodi signala. Srednja snaga
P je povezana sa trenutnom snagom p(t) sledeem relacijom:
T

1
v(t ) i(t) dt
T 0

gde je:

P = srednja snaga,
v(t) = trenutna vrednost napona,
i(t) = trenutna vrednost struje,
T = perioda signala.

(5.3)

Merenje RF i mikrotalasne snage

50

Mada postoje veoma brzi elementi za detekciju snage, ije je vreme odziva reda
nekoliko nanosekundi, to ipak ne odgovara trenutnim vrednostima snage, ve se moe
govoriti o srednjoj snazi u toku vremenskog intervala od nekoliko nanosekundi.
Drugi tipovi meraa snage odgovaraju "dugotrajnom" usrednjavanju snage
signala. Ako su struja i napon predstavljeni sinusoidalnim funkcijama, izraz za snagu
postaje:
(5.4)
P VI cos
gde je:
P = srednja snaga (W),
V = efektivna vrednost napona,
I = efektivna vrednost struje,
= faza napona u odnosu na struju.
U praksi su senzori snage napravljeni tako da apsorbuju snagu na otpornom
optereenju tako da su napon i struja u fazi ( = 0), i kako je V=RI, koristi se sledea
relacija:
V2
ili
P I2R
P
R
U nekim realizacijama senzor snage je realizovan kao kvadratni detektor. Kod
ovih detektora je signal na izlazu proporcionalan kvadratu napona ili struje na ulazu,
to odgovara prethodnim relacijama.

5.3. Transmisiona merenja snage


Transmisioni merai snage su projektovani tako da se prikljuuju izmeu izvora i
potroaa. Za merenja na niskim frekvencijama, mera snage ima detektor struje i
detektor napona (slika 5.1).

Slika 5.1. Princip merenja snage za signale niskih frekvencija

Merai snage koji rade pri RF i mikrotalasnim frekvencijama imaju spreni


element, koji omoguava merenje protoka snage izmeu izvora i potroaa. Na slici
5.2. prikazano je kako se merai snage povezuju za merenje snage koju izvor predaje
potroau (incidentna snaga) i snage koja koja se vraa prema izvoru (reflektovana
snaga). Kao spreni element se koristi usmereni sprenik. Na ovaj nain se, praktino,
transmisiona merenja svode na apsorpciona merenja.

51

Merenje RF i mikrotalasne snage

a)
b)
Slika 5.2. Transmisiona merenja RF snage: a) merenje incidentne snage; b) merenje
reflektovane snage
Snaga koju izvor predaje potroau odreena je sledeom relacijom:
Pload Pincident Prelfected

(5.5)

Usled prisustva sprenika, efekat sprege treba uzeti u obzir na sledei nain
Pload

Pincident Prelfected
C

(5.6)

gde je C faktor sprege usmerenog sprenika. U praksi se faktor sprege kree od 3 dB


do 60 dB.

5.4. Merenja apsorpcionog tipa


Merai snage apsorpcionog tipa se generalno sastoje iz dve komponente:
Senzor snage koji terminie (kao prilagoeni potroa) transmisionu liniju, na
njemu se disipira snaga, i ima ugraen mehanizam da generie DC ili
niskofrekvencijski signal koji je proporcionalan dovedenoj snazi.
Mera snage koji sadri pojaavae i kola za obradu signala koja generiu
rezultat merenja. Uobiajeno je da se uz jedan mera snage koristi itava
familija senzora snage koji se razlikuju po opsegu snage, opsegu frekvencija i
karakteristinoj impedansi. Sloenost samih meraa snage je razliita, od
jednostavnih, runo kontrolisanih analognih ureaja do viekanalnih ureaja sa
mikroprocesorskom kontrolom.

Apsorpcioni gubici i gubici usled neprilagoenja stvaraju odreene varijacije


osetljivosti koje se mogu korigovati pomou kalibracionog faktora senzora. Definicija
kalibracionog faktora Kb je sledea:
K b (1 2 ) 100
gde je:

Kb - kalibracioni faktor u procentima,


- efektivna efikasnost (apsorpcioni gubici),
(1 - 2) - gubici usled refleksije (neprilagoenja),
- moduo koeficijenta refeksije.

(5.7)

Merenje RF i mikrotalasne snage

52

Savremeni merai snage imaju mogunost unoenja vrednosti kalibracionog


faktora, ime se ili menja pojaanje pojaavakih kola ili se vri matematika
korekcija izmerenih vrednosti za vrednost kalibracionog faktora. Danas se koriste
sledee vrste senzora snage:
termistorski senzori snage,
senzori snage sa termoparom,
diodni senzori snage.

5.5. Termistorski senzori i merai


Termistor je otpornik nainjen od oksida metala koji pokazuje veliku promenu
otpornosti u zavisnosti od temperature. Ako se termistor upotrebi kao optereenje u
senzoru snage, njegova otpornost postaje funkcija porasta temperature do kojeg dolazi
pod dejstvom primenjene RF snage koja se meri. Na slici 5.3 je prikazana zavisnost
otpornosti od primenjene snage u irokom temperaturnom opsegu, za tipian
termistor. Sa slike se moe videti da termistori imaju negativni temperaturni
koeficijent otpornosti sa veoma nelinearnom karakteristikom.

Slika 5.3. Karakteristika otpornosti u funkciji primenjene snage, u irokom


temperaturnom opsegu, za tipian termistor
Osnovni koncept termistorskog meraa snage je ilustrovan na slici 5.4.
Termistorski senzor snage je na slici 5.4a realizovan preko dva termistora koji su
paralelno vezani za RF signale (koji dolaze na RF input), a redno su vezani u odnosu
na mera snage (u smeru ka bolometer bridge-u). Mera snage je vezan paraleno sa
bypass kondenzatorom kako bi se eliminisalo curenje RF signala iza termistora.
(kondenzator predstavlja prekid u kolu za DC signale odnosno kratak spoj za RF
signale).
Kljuna komponenta termistorskog meraa snage je samo-podeavajui most
(Slika 5.4b), koji generie DC napon koji odrava otpornost termistora RT na vrednost
R. Ako se RF snaga na termistorskom senzoru snage povea, napon (bias) na mostu
se smanjuje u istom iznosu. Ako se RF snaga smanjuje, most izaziva poveanja
napona (bias-a) da bi se otpornost termistora odrala konstantnom i jednakom
otpornosti ostalih grana na mostu. Dodatna kola u merau obrauju ove promene DC
snage da bi se tano prikazala izmerena RF snaga.

Merenje RF i mikrotalasne snage

53

a)
b)
Slika 5.4. Osnovna koncepcija termistorskih meraa snage: a) termistorski senzor
snage; b) samo-podeavajui most
Otpornost termistora je, osim u funkciji primenjene RF i DC snage, i u funkciji
temperature okoline, tako da svaka promena temperature okoline moe da utie na
rezultat merenja. Savremeni termistorski senzori snage minimiziraju ovaj problem
korienjem drugog seta od dva termistora (Rc) koji su termiki spregnuti sa RF
termistorskim senzorima (Rd), ali su elektrino izolovani. Kolo temperaturno
kompenzovanog termistorskog senzora, prikazano je na slici 5.5.

Slika 5.5. Temperaturno kompenzovan termistorski senzor snage


Ovakav senzor zahteva mera specijalne konstrukcije koji ima dva samopodeavajua mosta i kola koja obezbeuju merenje RF snage na termistorskom i na
temperaturno kompenzovanom termistorskom senzoru. Blok ema ovakvog meraa
snage prikazana je na slici 5.6a, dok je neto detaljnija ema ovakvog meraa
prikazana na slici 5.6b. Temperaturne promene okoline utiu na oba mosta
podjednako tako da u sluaju da se ne dovodi RF signal ne postoji razlika na izlazu.
Blok sum and difference circuits na slici 5.6a ima zadatak da detektuje i meri promene
snage.

Merenje RF i mikrotalasne snage

54

Slika 5.6a. Mera snage za temperaturno kompenzovan termistorski senzor snage

Slika 5.6b. Detaljnija ema meraa snage za temperaturno kompenzovan termistorski


senzor snage
Ako sa Vc oznaimo napon na izlazu svakog od mostova kada nije dovedena RF
snaga na odgovarajui senzor snage tada je merena izlazna snaga 0 ili:

V2 V2
PM c c 0
(5.8)
4R 4R
gde je R otpornost termistorskog senzora snage za most u ravnotei ( i iznosi 1 k na
slici 5.6b).
Kada se dovede RF snaga, DC izlaz na gornjem (RF) mostu se menja i postaje Vrf
pa je:
2
Vc2 Vrf
1
PM

(5.9)
Vc2 Vrf2
4R 4R 4R

Merenje RF i mikrotalasne snage

55

Merena snaga PM je proporcionalna ulaznoj RF snazi i moe se proraunati kao


suma i razlika napona na izlazu gornjeg RF i donjeg kompenzatorskog mosta
(compensation bridge):
1
(5.10)
PM
Vc Vrf Vc Vrf
4R
gde je:
PM = merena RF snaga,
Vc = napon na kompenzatorskom mostu,
Vrf = napon na RF mostu.

Mera snage ima elektronski prekida (blok Electronic switch na slici 5.6b) koji je
zatvoren za vremenski interval proporcionalan zbiru napona Vc i Vrf. Na taj nain je
omogueno da kroz instrument sa kretnim kalemom M protekne struja proporcionalna
razlici napona Vc i Vrf. Srednja vrednost struje zadovoljava jednainu (5.10). Kada
nema RF signala tada je Vc=Vrf, i pri takvim okolnostima se vri podeavanje nule
instrumenta (blok auto-zero circiuit na slici 5.6b).

Savremeni merai snage na termistorskom principu omoguavaju merenje


snage od 10 mW do 1 W (dinamiki opseg je 40 dB), a senzori snage rade u
frekvencijskom opsegu od 100 kHz do 100 GHz. Termistorski senzori su ranije bili
esto korieni, ali su kasnije zamenjeni drugim vrstama senzora. Danas se
termistorski senzori uglavnom koriste za kalibraciju senzora drugih vrsta i kalibraciju
meraa snage.

5.6. Senzori snage sa termoparom


Senzori snage sa termoparom omoguavaju rad u irokom frekvencijskom opsegu,
imaju mali drift i mali KST, i u stanju su da mere snagu na veom broju razliitih
frekvencija.
Spoj dva razliita metala predstavlja termopar. Na termoparu e se pojaviti
napon ako se na njegovim krajevima uspostavi temperaturni gradijent (razlika u
temperaturi). Senzor snage sa termoparom sadri i otpornik na kojem se disipira
najvei deo snage. Temperatura otpornika raste ime se na termoparu, usled
temeperaturnog gradijenta, stvara DC napon koji je proprcionalan dovedenoj RF
snazi.
Dva ovakva seta (u kombinaciji termopar i otpornik) mogu se fiziki orijentisati
tako da se generisani DC naponi usled porasta temperature zbog dovedene RF snage
sabiraju, dok se DC naponi generisani porastom temperature ambijenta ponitavaju,
ime se minimizira drift podeavanje nule. Vrednosti otpornika su odabrane tako da
senzor idealno prilagoava transmisionu liniju.
Termopar se moe realizovati kao kombinacija zlata i silicijuma n-tipa, dok se za
otpronik koristi tantal nitrid. Tehnoloki se moe izraditi u tankoslojnoj strukturi koja
omoguava veliku preciznost i rad do frekvencija reda 40 GHz. ematski prikaz
takvog senzora snage dat je na slici 5.7.

Merenje RF i mikrotalasne snage

56

Slika 5.7. ematski prikaz senzora snage sa termoparom


Osetljivost senzora snage sa termoparom se definie kao vrednost DC napona na
njegovom izlazu u odnosu na snagu RF signala dovedenog na njegov ulaz. Tipina
osetljivost je oko 160 V/mW i ovim senzorom se mogu meriti snage ak i reda
1 W. Odgovarajui DC napon bi bio oko 0.16 V, to znai da pojaavaka kola
unutar meraa moraju obezbediti veoma veliko pojaanje. Vano je rei da u ovom
sluaju nije potrebno da pojaavai imaju mogunost dodavanja ili oduzimanja nekih
offset napona (kao u sluaju meraa snage za termistorske senzore), to bi
predstavljalo veliki problem, imajui u vidu da se radi o veoma malim naponima.
Glavne komponente meraa snage za senzor snage sa termoparom jesu operski
ulazni pojaava i sinhroni detektor (slika 5.8). Ove komponente omoguavaju veliko
pojaanje DC napona reda V koji se dobija sa izlaza senzora snage sa termoparom.
Rad opera omoguava kvadratni signal (generisan od strane drajva na
frekvenciji od 220 Hz) koji ulazni kondenzator AC pojaavaa preklapa ili
na izlaz senzora ili na masu. Ulazni kondenzator se puni jednosmernim
naponom (sa izlaza senzora), a prazni se povezivanjem na masu, tako da je
na ulazu pojaavaa kvadratni signal ija je amplituda proprocionalna
jednosmernom naponu sa izlaza senzora. AC spregnut pojaava ima
dovoljno veliko pojaanje da generie signal amplitude nekoliko volti.
Sinhroni detektor je jo jedno kolo koje radi sa istim signalima kao i oper, a
povezano je sa izlazom pojaavaa preko RC filtra ili umauje ulaz filtra.
Izlaz filtra je DC napon reda V koji se jednostavno moe obraditi i prikazati.

Slika 5.8. operski ulazni pojaava i sinhroni detektor

Merenje RF i mikrotalasne snage

57

Na slici 5.9 prikazana je blok ema ovakvog meraa snage. oper i deo prvog
pojaavaa nalazi se u samom senzoru, ime je obezbeeno da se merau snage alje
relativno veliki signal koji se moe lako dodatno pojaati i prikazati. Slina je
struktura i digitalnih instrumenata za merenje snage. Savremeni merai snage sa
termoparom omoguavaju merenja snage u opsegu od 100 mW do 1 W
(dinamiki opseg je 50 dB).

Slika 5.9. Blok ema meraa snage za senzor snage sa termoparom


Mnogi merai snage sa termoparom imaju ugraen referentni izlaz koji
omoguava podeavanje pojaanja sistema ime se kompenzuju razlike osetljivosti od
senzora do senzora. Uvek kada se prikljui neki drugi senzor potrebno je izvriti
kalibraciju sistema, a to se praktino radi povezivanjem senzora na referentni oscilator
i pritiskanjem odgovarajueg tastera.

5.7. Diodni senzori


Diodni senzor snage bazira se na korienju poluprovodnike diode kao
detektujueg elementa to omoguava merenje veoma malih nivoa snage.
Najjednostavniji oblik diodnog senzora snage prikazan je na slici 5.10. Moe se videti
da se sastoji od kondenzatora za blokadu jednosmerne komponente, otpornika za
terminisanje, diode i bypass kondenzatora za prespajanje RF signala.

Slika 5.10. Detektorsko kolo diodnog meraa snage


Struja koja protie kroz diodu je nelinearna funkcija dovedenog napona koji se
pojavljuje na otporniku za terminisanje. Neke diode e voditi znatnu struju (reda A)
za veoma male napone (reda mikovolta), ali e nelinearnost ipak postojati i izazvati da
izlazni DC napon bude proporcionalan kvadratu dovedenog RF napona odnosno
proporcionalan RF snazi (tkz. kvadratna oblast rada diode na slici 5.11, V0=cPrf):

Merenje RF i mikrotalasne snage

58

V2
R

(5.11)

za prostoperiodian signal odnosno:


V12 V22 V32 V42 Vn2
R
za signal kompleksnog talasnog oblika.
Ptotal

(5.12)

Slika 5.11. Izlazni napon diodnog senzora snage V0 u funkciji ulazne snage Prf.
Da bi se obezbedilo da izlaz diode (DC napon) direkno odgovara RF snazi, kod
nekih diodnih senzora je ogranien radni opseg (po snazi) samo na kvadratni deo
karakteristike. Takvi senzori omoguavaju merenje snage od 0.10 nW (-70 dBm), i
oni e obezbediti tano merenje snage nezavisno od talasnog oblika signala. Korisni
dinamiki opseg u kvadratnom reimu rada je oko 50 dB, tako da se mogu koristiti
isti merai snage kao i za senzore sa termoparom.

Merai snage koji proiruju rad diodnih senzora do viih niovoa snage (10 do
100 mW) mogu obezbediti merenja u veoma irokom opsegu (dinamiki opseg 70
dB i vie), ali se za snage vee od 10 W korektni rezultati mogu dobiti samo za
CW (sinusoidalne) signale, zato to pri viim nivoima snage dioda radi kao
linearni detektor koji prikazuje vrnu vrednost primenjenog napona (V0=cVrf).
Sa slike 5.11 u linearnoj oblasti se vidi da je potrebno obezbediti promenu napona
10:1 za promenu snage 100:1. U ovoj oblasti rada izlaz diodnog senzora je neophodno
kvadrirati kako bi se dobila indikacija snage.
Merai snage koji koriste diodne senzore u linearnom reimu sadre kola koja
obezbeuju kvadriranje napona na izlazu diode, da bi se obezbedilo korektno merenje
snage CW signala. Mera koji treba da obezbedi merenje srednje snage CW signala
nee tano meriti snagu signala koji sadri bilo kakvu amplitudsku modulaciju.
Reenje tog problema je smanjivanje amplitude signala, sve dok se dioda ne dovede u
kvadratnu oblast rada, gde je izlaz diode proporcionalan totalnoj snazi na ulazu.

Merenje RF i mikrotalasne snage

59

Harnonici nosee frekvencije mogu stvoriti znaajnu greku merenja ako senzor
radi u linearnom reimu rada. Na primer, ako je nivo harmonika 20 dB ispod osnovne
komponente (amplituda harmonika je 10% od amplitude osnovne komponente) oni
uestvuju sa 1 % u ukupnoj snazi. Senzor koji radi u kvadratnoj oblasti e korektno
prikazati ukupnu snagu. Meutim, napon harmonika se moe dodati ili oduzeti od
osnovnog signala, tako da e linearni detektor generisati izlaz koji varira od 0.9 do 1.1
signala bez distorzije. Kako se izlaz senzora potom kvadrira, prikazana vrednost e
biti 20 % iznad ili ispod stvarne.
Tana vrna vrednost ukupnog signala varira u zavisnosti od fazne razlike signala
osnovne frekvencije i harmonika, tako da ne postoji nain za korekciju ove greke.
Full wave detektor prikazan na slici 5.12. meri vrednost od pika do pika i stvara
znatnu greku samo ako signal sadri neparne harmonike.

Slika 5.12. Full wave detektor za diodni senzor snage

Reflektometrija i reflektometri

60

6. Reflektometrija i reflektometri
6.1. Uvod
Reflektometrija u vremenskom domenu (en. Time Domain Reflectometry - TDR)
predstavlja svakako najefikasniju metodu za testiranje telekomunikacionih kablova.
Odgovarajui ureaji nazivaju se reflektometrima. Postoje tri vrste reflekometrije:

Standarna TDR sa merenjem refleksije impulsa


Reflektometrija na bazi inverzne FFT tehnike
Optika reflektometrija u vremenskom domenu (en. Optical Time Domain
Reflectometry - OTDR).

6.2. Standardna TDR sa merenjem refleksije impulsa


Standardna TDR koristi tehniku merenje refleksije impulsa, koja je testirana
godinama na energetskim vodovima. Impuls, ili niz impulsa, alje se na liniju. Ako
impuls naie na npr. kratak spoj ili otvoreni kraj, javlja se reflektovani impuls koji se
vraa prema pristupnoj taki. Poreenjem faze, vremena kanjenja i amplitude
reflektovanog impulsa sa originalnim impulsom, moe se odrediti:
udaljenost diskontinuiteta od pristupne take i
indikacija njegove prirode (kratak spoj, otvoreni kraj, itd.).
Prema tome, reflektometrija je vrsta zatvorene petlje, jednodimenzionog
radarskog sistema, kod kojeg je emitovani signal vrlo brza step funkcija, a
reflektovani signal se posmatra na ekranu osciloskopa. Pored toga, kako je amplituda
reflektovanog signala direktno povezana sa impedansom na kraju linije, to se svaka
devijacija optereenje u odnosu na 50 moe lako detektovati i izmeriti. Na taj
nain, mogu se detektovati loi konektori, oteenja na liniji, itd. Funkcionalni blok
dijagram TDR-a i njegov odziv na diskontinuitet prikazani su na slici 6.1.

a)
b)
Slika 6.1. a) Funkcionalni blok dijagram TDR-a, b) odziv TDR-a na diskontinuitet
Z L Z 0 (Ei amplituda emitovanog step impulsa, Er amplituda reflektovanog
impulsa)
Lokacija diskontinuiteta moe se lako odrediti korienem jednostavne relacije
ct
d
(6.1)
2 t
gde je:

Reflektometrija i reflektometri

61

c - brzina prostiranja elektromagnetskih talasa,


t - vreme kanjenja (vremenski interval od trenutka slanja direktnog step
impulsa do trenutka pristizanja reflektovanog impulsa na pristupnoj taki),
t - dielektrina konstanta transmisionog sistema.

Limitirajui faktor kod ovog merenja je mogue odstupanje emitovanog impulsa


od idealne step funkcije zbog, recimo, male antne kapacitivnosti na ulazu sistema.
isto otporno optereenje, prikljueno na izlaz reflektometra, uz korienje step
funkcije, dae na ekranu osciloskopa tk. step funkciju ija amplituda zavisi od
otpornosti optereenja. Praksa je da se, kod TDR sistema, izmeu reflektometra i
testiranog sistema postavlja sekcija transmisione line duine bar 20 cm, ime se
refleksije udaljavaju od originalnog signala, a kako bi se bolje uoili parametri
reflektovanog impulsa. Amplituda reflektovanog step impulsa koji potie od otpornog
optereenja bie uveana ili umanjenja u odnosu na amplitudu emitovanog step
impulsa za vrednost (slika 6.2):
R 50
L
(6.2)
R L 50

Slika 6.2. Otporno optereenje na izlazu TDR-a


Sa slike se vidi da e nakon vremena kanjenja t, odziv TDR sistema biti impuls
ija je amplituda:

jednaka nuli u sluaju kada je amplituda reflektovanog impulsa V V ,


= -1, tj. RL=0 kratak spoj,
dvostruko vea od amplitude emitovanog impulsa V u sluaju kada je
amplituda reflektovanog impulsa V V , = 1, tj. R L otvoreni kraj,
jednaka amplitudi emitovanog impulsa V u sluaju kada je amplituda
reflektovanog impulsa V 0 , = 0, tj. RL = 50 prilagoenje,

uveana u odnosu na amplitudu emitovanog impulsa V za vrednost u


sluaju kada je RL > 50 ili
umanjena u odnosu na amplitudu emitovanog impulsa V za vrednost u
sluaju kada je RL < 50.

Za isto reaktivno optereenje (L ili C) prikljueno na izlaz reflektometra, odziv


TDR sistema je prikazan na slici 6.3. Impedansa kalema L, ZL=jL, se u poetku

Reflektometrija i reflektometri

62

ponaa kao kratko spojeno kolo u odnosu na uzlaznu ivicu TDR step impulsa
(Napomena: uzlazna ivica step impulsa sadri visoko frekvencijske komponente, a
ravni deo step impulsa sadri nisko frekvencijske komponente). Stoga je inicijalno
= 1. Kasnije u toku vremena, impedansa kalema se ponaa kao otvoreno kolo u
odnosu na ravni deo step impulsa (niske frekvencije i DC) pa je = -1. Talasni oblik
koji povezuje ove dve take je eksponencijalan. Kondenzator se ponaa na potpuno
suprotan nain u odnosu na kalem.

Slika 6.3. isto reaktivno optereenje na izlazu TDR-a


Odziv TDR-a na razliita kompleksna optereenja dat je na slici 6.4.

Slika 6.4. Odziv TDR-a na razliita kompleksna optereenja

Reflektometrija i reflektometri

63

Korienjem TDR tehnike mogue je jednostavno odrediti:


Karakteristinu impedansu kabla
Stepen otpornog neprilagoenja na kraju kabla
Stepen reaktivnog neprilagoenja na kraju kabla
Duinu kabla.
Vrlo vana injenica kod korienja TDR tehnike je kalibracija sistema. Uz
odgovarajuu kalibraciju dobija se veoma pouzdan instrument za proveru kablova,
konektora i transmisionih linija. Uz dobro kalibrisani imstrument lako je odrediti
impedansu kabla iz premaenja reflektovanog isgnala. Grafik sa slike 6.5 omoguava
jednostavno odreivanje impedanse iz premaenja.

Slika 6.5. Karakteristina impedansa kabla Z1 kao funkcija premaenja


Za sisteme sa velikim brojem diskontinuiteta, posebna panja se mora posvetiti
dvostrukim i viestrukim refleksijama. Ove viestruke refleksije se mogu
identifikovati namernim pogoravanjem poznatih poremeaja i praenjem promena
oblika reflektovanog impulsa. Viestruke reflekcije e biti izraenije kada se primarni
poremeaji pogoraju. U sloenim situacijama, najbolje je poi od ulaza testiranog
prenosnog sistema i sukcesivno otklanjati diskontinuitete prema kraju. Mogunost da
se signali fiziki interpretiraju, ini ovu proceduru vrlo jednostavnom.
Automatizacija, uz korienje mikroprocesora, znatno pojednostavljuje proceduru
i poveava tanost merenja. Jedan ovakav sistem prikazan je na slici 6.6.

Slika 6.6. TDR sa digitalnim procesiranjem signala

Reflektometrija i reflektometri

64

Standarna TDR tehnika je vrlo jednostavna, ali ima znaajna ogranienja:


Odnos signal/um moe biti prilino lo,
Vrlo je teko (ponekad i nemogue) izvriti merenja u sistemima sa
ogranienim frekvencijskim opsegom.

6.3. Reflektometrija na bazi inverzne FFT tehnike


Drugi pristup za dobijanje podataka o diskontinuitetima du linije je korienje
analizatora mrea i inverzne brze furijeove transformacije. Sutina tehnike prikazana
je na slici 6.7.

Slika 6.7. Sutina tehnike reflektometrije sa inverznom brzom Furijeovom


transformacijom

Reflektometrija i reflektometri

65

6.4. Optika reflektometrija u vremenskom domenu (OTDR)


Optika reflektometrija u vremenskom domenu je tehnika koja se koristi za
utvrivanje osobina optike linije veze koja se sastoji od sekcija optikih vlakana
spojenih konektorima ili splajsevima (spojnicama). Uz pomo OTDR-a mogue je
vriti:
karakterizaciju slabljenja optikog vlakna i njegove uniformnosti,
merenje slabljenja splajseva,
merenje slabljenja konektora,
merenje refleksije,
odreivanje mesta prekida i duine optikog vlakna, itd.
Refleksija se u optikom vlaknu javlja na mestima na kojima postoji nagla
promena indeksa prelamanja du pravca prostiranja svetlosti, poznata pod nazivom
Frenelova refleksija (en. Fresnel reflections). Do refleksije dolazi na povrinama
prekida vlakna ili, u manjoj meri, na konektorima ili mehanikim splajsevima (ako su
loe izvedeni) ili na neprilagoenim krajevima optikog vlakna.
Pomou OTDR testera je mogue i merenje multimodne disperzije uz korienje
kratkotrajnih impulsa velikog intenziteta. Osnovna prednost optike reflektometrije u
vremenskom domenu je da je to jednoprilazni merni pristup, bez potrebe da drugi kraj
optikog vlakna bude dostupan.
6.4.1. Tehnika merenja snage povratnog rasejanja

Optika reflektometrija bazira se na tehnici merenja snage povratnog rasejanja


(en. backscattered technique) merenje reflektovane snage periodino ubaenih
impulsa u optiko vlakno.
Prilikom prostiranja svetlosti kroz optiko vlakno dolazi do njenog rasejanja (tkz.
Rayleigh scattering). Rasejanje nastaje kao posledica mikropromena gustine ili
sastava stakla, koji menjaju indeks prelamanja, na prostoru manjem od talasne duine
svetlosti, tzv. Rejlijevo rasejanje (en. Rayleigh scattering). Svetlosni zrak se
delimino rasipa u svim pravcima usled ega se deo svetlosne energije gubi. Rejlijevo
rasejanje opada sa etvrtim stepenom talasne duine.
Rasejana svetlost prostire se na sve strane i veinom naputa vlakno. Samo manji
deo rasejane svetlosti se vraa nazad i ovaj deo, zajedno sa reflektovanom svetlou,
oslabljen dolazi na poetak vlakna i preko razdelnika snopa, koji igra ulogu
usmerenog sprenika dospeva na fotodektor (Slika 6.8). Posle pojaanja signal iz
fotodetektora se vodi na osciloskop.

Slika 6.8. ema za merenje tehnikom povratnog rasejanja

Reflektometrija i reflektometri

66

Optika snaga u vlaknu na rastojanju z od ulaznog kraja iznosi:


z d

(6.3)
P z P0 exp
0 10 log e
gde je () koeficijent slabljenja optike snage u vlaknu. Poto pojedini modovi imaju
razliito slabljenje, koeficijent zavisi od raspodele ukupne snage po modovima, a to
znai da zavisi od uslova pobude i koordinate z.
Deo rasejane snage koji se u preseku odreenom koordinatom z reflektuje prema
poetku direktno je proporcionalan upadnoj snazi u ovom preseku pa se moe pisati
da je:
PR z SPz
(6.4)
gde je S koeficijent koji odreuje deo optike snage koja je rasejana nazad i nastavlja
prostiranje prema ulaznom kraju. Povratna snaga od take z koja se registruje
fotodetektorom iznosi:
z d

PD z PR z exp 1
(6.5)
0 10 log e
gde je 1() koeficijent slabljenja unazad rasejane optike snage. Zbog razliite modne
strukture direktne i povratne svetlosti koeficijenti i 1 u optem sluaju imaju
razliite vrednosti.
Zamenom (6.3) i (6.4) u (6.5) dobija se da je:
2 z z
(6.6)
PD z SP0 exp

10 log e
gde je z srednja vrednost koeficijenta slabljenja, odreena kao:
z

1 d

(6.7)
2z
Koristei prethodnu relaciju, na osnovu podataka PD(z2) i PD(z1), koji se odnose
na dve take z1 i z2 (z2 > z1), dobija se da je:
10log PD z 2 log PD z1
z
(6.8)
2 z 2 z1

Srednja vrednost koeficijenta slabljenja, z , se moe odrediti izmeu bilo koje


dve take vlakna, poto se na osciloskopu na ulaznoj strani registruje zavisnost PD(z).
Pri tome reflektovana snaga je funkcija vremena koje je povezano sa rastojanjem z
preko relacije:
ct
z
(6.9)
2n1
gde je n1 je indeks prelamanja jezgra vlakna, a c brzina prostiranja svetlosti u
vakuumu.

6.4.2. Princip rada OTDR-a

Tipina konfiguracija optikog reflektometra prikazana je na slici 6.9. Impulsni


generator (pulse generator) pobuuje lasersku diodu (laser diode) koja emituje
optike impulse (snage 10 mW ili vee). irina impulsa se kree od nanosekunde

Reflektometrija i reflektometri

67

do mikrosekunde brzinom ponavljanja od 1 kHz za dugake kablove, pa do 20


kHz za kratke kablove. Brzina ponavljanja impulsa treba da bude tako izabrana da
se direktni i reflektovani impulsi ne preklapaju. Povratni reflektovani signali se
odvajaju od emitovanih pomou 3 dB usmerenog sprenika ili se koristi polarizacioni
razdvaja (beam splitter) svetlosnog zraka.

Slika 6.9. Blok ema OTDR-a


Kao fotoosetljivi detektor se koristi avalan foto dioda (avalanche photo diode APD) ili PIN (p-type-intrinsic-n-type) detektor. Reflektovani signal se potom vodi na
pojaava i digitajzer, odakle ide na sistem za poboljanje odnosa signal-um (Boxcar
Averger). Ovaj sistem koristi viestruko usrednjavanje za poboljanje odnosa
signal/um. Na kraju se signal prikazuje u logaritamskom odnosu (logarithmic
converter) na displeju. Vrednosti su podeljene sa 2 jer vertikalna skala treba da
prikae slabljenje vlakna samo u jednom smeru. Horizontalna osa je kalibrisana po
duini vlakna takoe samo u jednom smeru.
Elektrini ekvivalent snage povratnog rasejanja, dobijen posle detekcije i
numeriki obraen, na displeju se prikazuje kao tkz. kriva refleksije koja predstavlja
slabljenje snage povratnog rasejanja sa rastojanjem mereno od poetka vlakna. Ova
kriva refleksije na displeju daje kompletnu sliku optikog vlakna koje se ispituje,
odnosno optike veze izmeu dve regeneratorske stanice.
Iako se podaci na OTDR-u (elektrini ekvivalent snage povratnog rasejanja)
dobijaju u funkciji vremena oni se prikazuju u funkciji rastojanja koristei
konverzacioni faktor koji je priblino jednak 10 s/km to predstavlja kruno (roundtrip) propagaciono kanjenje svetlosti u optikom vlaknu (Slika 6.10a).

a)
b)
Slika 6.10. a) Tipian OTDR odziv, b) Karakteristike u odzivu OTDR-a

Reflektometrija i reflektometri

68

Prikazani odziv, koji bi za idealno optiko vlakno (bez prekida, splajseva i


refleksija) bio ravna karakteristika podlona eksponencijalnom padu zbog gubitaka
prostiranja, pokazuje dve karakteristike (Slika 6.10b):
pozitivne pikove zbog Frenelove refleksije - tkz. refleksivni diskontinuiteti
koji se javljaju zbog konektora /ili mehanikih splajseva i
relativno blago eksponencijalno opadajue signale kao posledica Rejlijevog
rasejanja - tkz. nerefleksivni diskontinuiteti koji su posledica fuzionih
splajseva, preloma vlakna, otrih savijanja, itd.
Na slici 6.11 prikazana je refleksivna kriva za 20 km optiko vlakno na 1310 nm
(drugi optiki prozor) dobijena korienjem OTDR-a. Refleksija na daljem kraju
vlakna se uvek javlja bez obzira da li je vlakno zavreno konektorom ili odseeno.
Frenelova refleksija
Snaga uba
ubaena
u vlakno

Refleksija na
daljem kraju
vlakna

Prva velika refleksija


(od ulaznog konektora)

Slika 6.11. Nivoi slabljenja za 20 km monomodno vlakno na 1310 nm


Kriva refleksije na OTDR-u, dakle, moe da da mnogo podataka o optikoj liniji
veze:
gubici na fuzionim slajsevima, prelomima vlakna, otrim savijanjima se
javljaju kao mali stepeniasti pad (usled rejlijevog rasejanja).
gubici koje unose konektori ili mehaniki splajsevi okarakterisani su beim
padom i vrhom koji je posledica Frenelove refleksije.
refleksija na daljem kraju daje mogunost izraunavanja duine vlakna
ukoliko nije poznata.
6.4.3. Parametri OTDR-a

Maksimalna duina kabla koji se moe meriti OTDR-om definisana je njegovim


dinamikim opsegom. Dinamiki opseg, za odnos signal/um jednak jedinici,
definie se kao polovina razlike nivoa maksimalnog reflektovanog signala odnosno
snage povratnog rasejanja (od prvog konektora) i nivoa ekvivalente snage uma (en.
Noise Equivalent Power - NEP) (Slika 6.12a). Uzima se polovina razlike zbog
dvostrukog slabljenja na trasi.

Reflektometrija i reflektometri

69

Karakteristike tipinih dananjih OTDR-a su da imaju dinamiki opseg od oko 28


dB. Kako je za merenje splajseva potrebno 8 dB ostaje 20 dB to je dovoljno za
merenja optikih kablova duine oko 50 km.
Prostorna rezolucija odziva OTDR-a izmeu dve take je definisana kao mera
sposobnosti OTDR-a da razdvoji i izmeri 2 diskontinuiteta (Slika 6.12b).
Osetljivost amplitude je parametar koji definie minimalne amplitudne varijacije
merenog signala koje se mogu detektovati na odreenoj lokaciji i koji je ogranien
umom (Slika 6.12c).

Slika 6.12. Parametri OTDR-a: a) dinamiki opseg, b) prostorna rezolucija, c)


osetljivost
Iako se slabljenje optikog kabla moe mereti i direktno, sa jedim izvorom i
meraem snage, korienje OTDR tehnike prua mogunost pogleda u unutranjost
kabla.

Merenja u optikim komunikacionim sistemima

70

7. Merenja u optikim komunikacionim sistemima


7.1 Podruje optikih merenja u telekomunikacijama
Komunikacaioni sistemi sa optikim vlaknima imaju znaajne i viestruke
prednosti nad konvencionalnim provodnicima sa metalnim provodnicima. Meutim,
zbog svoje sasvim drugaije strukture i dielektrine prirode, merni instrumenti i
merne metode koji se koriste za procenu performansi optikih komunikacionih
sistema se razlikuju od klasinih mernih instrumenata i mernih tehnika.
Posmatrajui put signala od izvora informacija do mesta prijema (slika 7.1)
optika merenja se ograniavaju na samo jedan deo tog puta: od elektrooptikog
pretvaraa (E/O converter) do optoelektrinog pretvaraa (O/E converter).

Slika 7.1. Podruje optikih merenja u telekomunikacijama


S obzirom na deo spekta svetlosnih signala koji se koriste u optikim
komunikacijama (obuhvata talasne duine od 0.76 m do 1.6 m u kojma se nalaze tri
upotrebljiva tkz. optika prozora: 0.88 m, 1.31 m i 1.55 m), merni instrumeni su
prilagoeni za merenja u ovim optikim podrujima. Meutim, veina proizvoaa
nudi tritu instrumente koji pokrivaju znatno iri talasni opseg svetlosti, od vidljive
do duboko u oblasti infracrvenih talasa. Ipak, kod nabavke mernih instrumenata za
optika merenja, proizvoau treba navesti za koje e se podruje instrumenti
koristititi.
Merni instrumenti koji se koriste za merenja u optikim komunikacionim
sistemima su:
Svetlosni izvori: laseri (nivo izlaznog signala reda -5 dBm), LED dioda
(-20 dBm), halogeni izvor (-40 dBm)
Merai svetlosne snage: opseg merenja od -110 dBm do +10 dBm
Optiki multimetri koriste se najee za merenja na monomodnim i
multimodnim vlaknima. U sebi imaju ugraene mogunosti svetlosnih izvora
(laser ili LED), meraa optike snage i slabljenja i dr.
Optiki reflektometar OTDR - ureaj za niz razliitih merenja koji koristi
reflektovanu snagu iz sredine za prenos, a merenje se obavlja samo sa ulaznog
kraja merenog vlakna
Optiki atenuatori unose slabljenje od 0 do 45 dB, sa regulacijom unetog
slabljenja
Analizatori optikih komponenata za sprenike, konektore, delitelje
(splitter-e), soiva, optika vlakna i slabljenja koji isti unose u optiku vezu.
Istovremeno se koriste i za merenje transmisionih i refleksionih karakteristika

Merenja u optikim komunikacionim sistemima

71

Analizatori svetlosnih signala, od 750 nm do 1600 nm, modulacioni opseg


od 100 kHz do 22 MHz
Instrumenti za merenje refleksije i polarizacije
Interferometri
Talasni konvertori itd.

7.2. Specifina merenja na optikim vlaknima


Pre upotrebe optikih vlakna (kablova) potrebno je izvriti neka specifina
merenja kojima se verifikuju deklarisane karakteristike navedene od strane
proizvoaa. Ova merenja se mogu svrstati u tri osnovne grupe:
Merenja karakteristika prenosa optikih vlakna
Mehanika i temperaturna merenja
Optika merenja
7.2.1. Merenja karakteristika prenosa optikih vlakana
Merenja karakteristika prenosa optikih vlakana su u tesnoj vezi sa konstrukcijom
optikog vlakna. Razlikujemo tru grupe merenja:
Merenje profila indeksa prelamanja
Merenje geometrije vlakna (ekscentrinost jezgra)
Merenje numerike aperture.
Merenje profila indeksa prelamanja
Za merenje profila indeksa prelamanja postoji nekoliko metoda od kojih je
najpoznatije metoda merenja polja na bliem kraju. Merenje profila polja na bliem
kraju jednostavno je i po principu i po opremi komjom se vre merenja: ako su svi
modovi uvedeni u vlakno jednako stimulisani, gustina optike snage u
poprenom preseku predstavlja profil indeksa prelamanja optikog vlakna.
Za merenje je potreban koherentan izvor svetlosti, kratko optiko vlakno i
mehanizam za pomeranje detektorske fotodiode radi snimanja polja na izlazu iz
vlakna. Tome treba dodati uveliavajue soivo i fotodetektor vrlo male prijemne
povrine, koji se moe transverzalno pomerati radi snimanja profila polja (slika 7.2).
Detektor je postavljen u ii soiva. Pomeranjem detektora u transverzalnoj ravni a
du ine ravni snima se gustina snage u zavisnosti od pomeraja

Slika 7.2. Merenje profila indeksa prelamanja gradijentnog vlakna sa parabolinom


promenom indeksa prelamanja

Merenja u optikim komunikacionim sistemima

72

Optiko vlakno mora da bude dovoljne duine da bi se eliminisala transverzalna


zraenja i rasipni modovi, ali i dovoljno kratko da bi se izbeglo sprezanje modova i
efekat razliitog slabljenja modova.
Merenje geometrije vlakna
Ovo merenje se odnosi na dimenzije jezgra i omotaa vlakna:
Merenje prenika omotaa moe se izvriti pomou mikroskopa
Merenje prenika jezgra se uvek bazira na merenju profila indeksa prelamanja
- metod merenja polja na bliem kraju baziran na ideji da je intenzitet blieg
polja kod kratkog vlakna srazmeran profilu indeksa prelamanja.
Merenje numerike aperture
Merenje numerike aperture uvek se zasniva na odreivanju udaljenog polja
svetlosti koja izlazi iz vlakna koje se ispituje. Analiza se obavlja na povrini sfere
radijusa R (priblino 2m) iji je centar odreen poloajem izlaznog kraja vlakna.
Raspodela svetlosti na povrini dae veliinu numerike aperture. Najvei
intenizitet svetlosti odgovara referentnom nivou od 0 dB, a veliinu numerike
aperture predstavlja maksimalni ugao koji je odreen takom gde je slabljenje -13 dB,
tj 5% (slika 7.3).

Slika 7.3. Merenje numerike aperture


7.2.2. Mehanika merenja
Mehanika merenja na optikim vlaknima odnose se na razliita naprezanja
kojima moe biti izloeno optiko vlakno, odnosno kabl u odreenoj sredini
Razlikujemo:
Merenje na istezanje
Merenje osetljivosti vlakna na mehanike udare
Merenje otpornosti optereenja
Ispitivanje na savijanje
Merenje na istezanje
Da bi se odredila prihvatljiva granica istezanja optikog kabla, odnosno vlakna,
interesantna su merenja na veim duinama kabla. Vea duina kabla podvrgnuta je
naprezanju od istezanja, kada moe doi i do prekidanja, u sluajevima polaganja
kabla ili uvlaenja u kablovske cevi prilikom polaganja. Merenjem na istezanje
treba odrediti dozvoljenu silu istezanja, koja e i u kombinaciji sa torzionim
naprezanjem prouzrokovati samo zanemarljivo dodatno slabljenje.

Merenja u optikim komunikacionim sistemima

73

Na slici 7.4 je prikazana zavisnost dodatnog slabljenja od tipine sile istezanja, sa


zonom elestinosti (do 400 daN) do koje se ne postie trajna deformacija.
Razlikujemo 3 oblasti:
1. Oblast nultog efekta istezanja (zero effect)
2. Oblasti linearne promene slabljenja (tkz. reverzibilna oblast reversible
efect) slabljenje postoji samo dok deluje sila istezanja
3. Oblast stalnog efekta (permanent efect) - dolo je do trajne deformacije
kabla pa slabljenje postoji i po prestanku delovanja sile istezanja.

2.

1.

3.

Slika 7.4. Dijagram zavisnosti dodatnog slabljenja od sile istezanja


Merenje osetljivosti vlakna na mehanike udare
Ovom merenju optiko vlakno se podvrgava u cilju sagledavanja uticaja na
promenu njegovih transmisionih karakteristika u odreenim granicama, kada je
vlakno izloeno ponavljanim udarnim stresovima (slika 7.5).

Slika 7.5. Nain ispitivanja otpornosti optikog kabla na mehaniki udar


Koristi se okrugli eki prenika 12.5 mm kao udarni element. Masa ekia treba
da bude srazmerna delu kabla koji se ispituje, a zamah udarnog ekia (slobodni pad)
treba da je konstantan (sa 150 mm visine).
Kao rezultat merenja dobija se da je otpornost na udar linearno srazmerna sekciji
koja se ispituje. Robustniji kablovi moraju se testirati sa veim udarnim silama.
Otpornost na udare definie se kao proizvod udarne sile i broja ponavljanih udara:
R F n

gde je: R - otpornost na udar, F - udarna sila, n - broj udara.

(7.1)

Merenja u optikim komunikacionim sistemima

74

Merenje otpornosti optereenja


Kabl koji se ispituje postavi se izmeu dve paralelne metalne ploe, svaka duine
od 100 mm (slika 7.6). Stalno optereenje, zavisno od sekcije kabla koji se ispituje,
okai se da visi odreeno vreme. Tipini rezultati za razliite vrste kablova znatno se
razlikuju. Ako su u pitanju optiki kablovi sa slobodnim vlaknima, pritisak znaajnije
utie na poveanje slabljenja u vlaknu, dok je taj uticaj znatno manji ako su ta vlakna
u vrstoj strukturi. Ovo ispitivanje daje sliku o robustnosti kabla i zatiti vlakna od
mikrotorzionih optereenja.

Slika 7.6. Ispitivanje optikog kabla na optereenje


Ispitivanje na savijanje
Uticaj mikrodevijacija na osu vlakna usled savijanja moe da se manifestuje kao
dodatno slabljenje ako ova naprezanja dovode do deformacije ose vlakna.
Deformacija se moe konstatovati pomou svetlosnog talasa usled longitudinalne
promene indeksa:
bilo modalnom spregom u sluaju savijanja u intervalima zavisno od duine
vlakna (nekoliko milimetara)
bilo eliminacijom modova vieg rada kod kontinualnog savijanja.
Slabljenje koje se izaziva mikrosavijanjem vrlo je prisutno kod prenika savijanja
manjih od 5 do 6 mm (Slika 7.7). Da bi se to slabljenje smanjilo, moe se uticati na
vei broj parametara koji se odnose na vlakno ili kabl:
smanjivanjem prenika jezgra
poveanjem prenika omotaa
poveanjem prenika savijanja kod kabliranja
smanjenjem naprezanja vlakna u kablu (rastereivanjem vlakna), to se postie
korienjem bafer cevi sa slobodnim vlaknima u cevici (loose type)

Slika 7.7. Dodatno slabljenje u zavisnosti od prenika savijanja

Merenja u optikim komunikacionim sistemima

75

7.2.3. Temperaturna merenja


Temperaturne karakteristike optikog vlakna definisane su uglavnom sa
indukovanom tenzijom materijala usled sile kontrakcije na niskim temperaturama i
efektom irenja pri visokim temperaturama. U odnosu na vek trajanja kabla bitne su
tri temperaturne osobine:
za uslove transporta
za uslove montae
za normalne radne uslove
7.2.4. Optika merenja
Optika merenja se svode na merenje optike snage. Rezultat merenja optike
snage, kao i u klasinoj elektronici, izraava se u jedinicama snage, vatima (W) ili
delovima vata, ali se najee koriste logaritamski odnosi snaga. Izraavanje u dB je
pogodnije jer omoguava prikazivanje velikog raspona snage.
Kao detektori u optikim merenjima koriste se kvantni detektori i termiki
detektori.
Kvantni detektori rade na principu direktnog pretvaranja dolaznih fotona u
elektrinu struju. Ovoj grupi pripadaju poluprovodnike fotodiode i vakuumski
fotomultiplikatori.
Silicijumske (Si) fotodiode se najee koriste za talasni opseg rada od 400 nm do
1000 nm. Silicijumska fotodioda povrine jednog kvadratnog centimetra ima tipian
dinamiki opseg od 1 pW do 1 mW. Dananji silicijumski fotodetektori praktino
doseu svoje prirodne dinamike granice, koje su definisane njihovom strukturom.
Germanijumske (Ge) fotodiode su se ranije iroko koristile za merenje optike
snage u talasnom podruju od 1000 nm do 1800 nm. Danas se koriste fotodiode tipa
InGaAs (IndiumGalliumArsenide), koje su, iako znatno skuplje, potisnule
germanijumske fotodiode iz upotrebe.
Termiki detektori pretvaraju dolazno svetlosno zraenje u toplotnu energiju, tako
da dolazi do porasta temperature. Termospregovi i piroelektrini detektori pripadaju
termikim detektorima.
Kod optikih mernih instrumenata dominiraju kvantni detektori zbog svog velikog
dinamikog opsega i breg reagovanja.
Razlikujemo sledea optika merenja:
Merenje slabljenja u optikom vlaknu
Ispitivanje talasnog moda
Merenje slabljenja u optikom vlaknu
U principu postoje dve osnovne tehnike za merenje slabljenja:
1. Tehnika direktnog merenja metodom zamene
2. Tehnika kratke veze
Metoda zamene se najee koristi za merenje slabljenja optikog vlakna. Ta
direktna metoda ima prednost jer je jednostavnija za izvoenje i laka za
objanjavanje rezultata. Nedostatak metode je to to su neophodna dva identina
optika vlakna (identinih karakteristika ali razliitih duina) ili se od jednog vlakna
mora odsei komad i tako napraviti dva identina vlakna.

Merenja u optikim komunikacionim sistemima

76

Prednost tehnike kratke veze je u tome to je pri merenju potrebna dostupnost


samo jednom kraju vlakna i to se koristi samo jedno vlakno. Meutim, sa ovom
metodom nivo signala je vrlo nizak, tako da je teko kontrolisati talasni mod.
Na slici 7.8 prikazane su obe merne tehnike. Kod prve metode se izmeu
pristupnih taaka 1 i 2 prikljui referentno optiko vlakno (vlakno poznate duine) a
zatim vlakno koje se ispituje. Kod druge metode se izvor signala (T) najpre kratkom
vezom prikljuuje na instrument (R) a zatim se izmeu izvora i instrumenta umee
vlakno koje se ispituje.

Slika 7.8. Principi merenja slabljenja u optikom vlaknu: a) metoda zamene; b)


metoda kratke veze
Ispitivanje talasnog moda
Razliiti modovi (putanje svetlosnih talasa) koji se prostiru kroz multimodno
vlakno pokazuju razliite karakteristike slabljenja. Poznato je da multimodno optiko
vlakno omoguava propagaciju na stotine talasnih modova.
Da bi se izvrila korektna merenja na multimodnom vlaknu potrebno je obezbediti
uslove merenja to blie realnim uslovima, odnosno potrebno je obezbediti
ravnomeran raspored modova u vlaknu (Equilibrium Mode Distributuion EMD).
Ovaj ravnomeran raspored modova u vlaknu u praksi proizvodi razliito modno
slabljenje, meanje i preraspodelu modova. Preraspodela nastaje posle prostiranja du
odreene duine vlakna koja je vea od duine modne sprege, to je obino vie od
100 metara.
Ravnomeran raspored modova (ili bar reproduktivna modna raspodela) predstavlja
poeljan rezultat kod obavljanja merenja slabljenja u multimodnom vlaknu. Bez takve
raspodele u multimodnom vlaknu bilo bi nemogue da se dobije veliina slabljenja
koja je nezavisna od duine vlakna. Postoje tri razliite tehnike koje se koriste da bi se
postigao ravnomeran raspored modova (Slika 7.9):
Pomou optike sprege
Modnim filtrom
Dugim optikim vlaknom

Slika 7.9. Merenje na multimodnim vlaknima

Merenja u optikim komunikacionim sistemima

77

Kod merenja sa optikom spregom, uslovi ubacivanja svetlosnog zraka u


optiko vlakno paljivo se kontroliu tako da su modovi sa velikim gubicima
eliminisani ve na samom ulazu u vlakno. To zahteva preciznu kontrolu prenika
takastog svetlosnog izvora ve na samom ulazu u vlakno i ubacivanje u numeriku
aperturu vlakna (pomou odgovarajueg soiva). Asocijacija elektronske industrije
(EIA) preporuuje da se samo 705% numerike apetrure vlakna ispuni svetlosnim
zrakom koji se usmerava u vlakno.
Kod metode sa modnim filtrom propusnikom talasnih duina u polazu su
pobueni svi modovi prezasienjem jezgra optikog vlakna i po veliini svetlosne
take i po numerikoj aperturi. Zato se koristi optiki filtar za modove da simulira
raspodelu modova na kraju dugog optikog vlakna. Filtar modova ne proputa snagu
koja se prostire neeljenim modovima kod kojih dolazi do velikog slabljenja.
Kod metode sa dugakim optikim vlaknom neeljeni modovi (modovi sa
velikim slabljenjem u toku prostiranja) su eliminisani samim tim to se ne prostiru
celom duinom vlakna, bilo u referentnom bilo u merenom vlaknu.
Slabljenje se meri kod sve tri metode reprodukovanih modova, koristei bilo koji
od ve opisanih naina merenja.
Prednost metode sa modnim filtrom je u tome to moe da se vri merenje i na
kratkom optikom vlaknu. Nedostatak je manja preciznost u izboru moda koji se
usmerava u vlakno. Prednost metode sa dugakim vlaknom je njena jednostavnost, a
nedostatak je da se EMD moe dostii tek posle vie kilometara, sa nekim novim
visokokvalitetnim vlaknima malog slabljenja. Od svih pomenutih metoda samo
metoda optike sprege obezbeuje da se svetlosni zrak usmeri direktno u jezgro
vlakna, a ne u omota. Kod ostalih metoda svetlosni zrak se ubacuju i u jezgro i u
omota vlakna.

7.3. Optiki merai snage


Merenje snage je najosnovnije i najee merenje kod optikih signala. Najee
se vri meraem snage koji sadri fotodetektor i odgovarajua kola za napajanje.
Najvaniji zahtev kod merenja snage optikog signala je tanost.
Ako je optiki signal koji se meri paralelan snop svetlosti, koristi se metod
baziran na upotrebi fotodetektora sa velikom prijemnom povrinom (oko 5 mm
u preniku). Velika prijemna oblast fotodetektora moe da prihvati vie razliitih
modova (ukljuujui i npr. one iz omotaa vlakna). Meutim, da bi se tano odredila
snaga bitno je poznavati talasnu duinu svetlosti. Ovo je neophodno zbog toga to
fotodetektori imaju osetljivost koja zavisi od talasne duine svetlosti. Nedostatak
korienja fotodektora velike prijemne povrine je postojanje velike struje mraka
(to je struja koja postoji na izlazu fotodetektora bez prisustva optikog signala).
Drugi nain merenja optike snage je fokusiranje optikog signala u tanak
snop (manji od 1 mm) na fotodetektor sa malom povrinom. Prednosti ove metode
su vea osetljivost i manja cena. Meutim, takav sistem je teko kalibrisati, to kod
fotodetektora sa malom povrinom rezultira neuniformnom raspodelom signala.
Detektori nezavisni od talasne duine (kao to su piroelektrini radiometri i
termoparovi) mogu se kod paralenih snopova svetlosti tk. koristiti za merenje
optike snage. Ovaj metod je indirektan i bazira se na merenju temperaturnih

Merenja u optikim komunikacionim sistemima

78

promena na detektoru, u priustvu optikog signala. Velika prednost je to osetljivost


ovih detektora ne zavisi od talasne duine, ali je osetljivost znatno manja u odnosu na
fotodetektorske metode.
Zajedniki problem kod svih pomenutih metoda za merenje optike snage je
refleksija. Viestruke refleksije od povrine fotodetektora smetenog unutar meraa
snage mogu da izazovu znatne nepreciznosti u postupku merenja optike snage. Kod
komercijalnih meraa je neophodno izbei takve refleksije. Jednostavan, ali efikasan
nain za eliminaciju tog problema je relativno pomeranje povrine fotodetektora u
odnosu na normalu na ravan incidencije (slika 7.10), uz korienje antirefleksivnih
slojeva. Antirefleksivni sloj se obino sastoji iz nekoliko slojeva dielektrinih
filmova. Debljine i dielektrine konstante razliitih filmova se podeavaju tako da se
eliminiu refleksije.

Slika 7.10. Blok ema optikog meraa snage


Optiki mera snage opte namene moe da meri apsolutnu i relatvnu optiku
snagu. Kljuna specifikacija merenja apsolutne optike snage je nesigurnost
prikazane snage. to je vea tanost merenja optike snage to je vea pouzdanost
postupka verifikacije komponenata optikog komunikacionog sistema u toku njihove
proizvodnje, instalacije i odravanja. Da bi se postigla visoka tanost merenja
apsolutne snage potrebno je minimizirati um fotodetektora i postpojaavaki drift. To
se moe postii montiranjem fotodetektora i transimpedansnog pojaavaa u
heremtiki zatvorenu termo-komoru. Dranjem fotodetektora na konstantnoj
temparaturi, greke izazvane varijacijama kvantne efikasnosti fotodetektora se
praktino eliminiu.
Relativno merenje optike snage je korisno pri odreivanju unesenog slabljenja
optikih komponenata. Na primer, pri odreivanju slabljenja optikog vlakna, izmeri
se nivo snage izvora, bez vlakna, a potom se priklljui vlakno i izmeri slabljenje na
njegovom kraju. Za odreivanje malih promena snage koriste se fotodetektori sa
visokom rezolucijom (dananji fotodetektori imaju rezoluciju bolju od 0.001 dB).
Specifikacije optikih meraa snage
Opseg talasnih duina u kome se meri optika snaga ovaj parametar zavisi od
tipa fotodetektora koji se koristi unutar optikog meraa snage. Za silicijumske (Si)
detektore, opseg talasnih duina je izmeu 450 nm i 1000 nm. Za
IndiumGaliumArsenide (InGaAs) detektore, opseg talasnih duina je od 800 nm do
1700 nm.
Opseg merenja optike snage ovaj parametar odreuje minimalni i maksimalni
nivo snage koji moe da se detektuje optikim meraem snage. Tipian opseg je od
-100 dBm do +3 dBm.
Rezolucija rezolucija na displeju optikog meraa snage se daje u W ili u dB.
Tipino, iznosi 0.001 dB ili 10 pW.

Merenja u optikim komunikacionim sistemima

79

um ovo je parametar koji karakterie interni um generisan od strane samog


optikog meraa snage. Tipino se kree od 1 pW do 50 pW.

7.4. Analizator optikih signala


Analizatori optikih signala (lightwave signal analyzer) mogu se koristiti za
merenje snage i distorzije optikih signala, dubine modulacije, irine frekvencijskog
opsega, uma i osetljivosti na reflektovanu svetlost. Meutim, ovi analizatori su
sasvim drugaiji od optikih analizatora spekta, koji e biti opisani u sekciji 7.5.
Optiki analizatori spektra (optical spectrum analyzer) prikazuju spektralnu
distribuciju srednje optike snage i koriste se pri posmatranju modova kod
multimodnih optikih izvora ili za potiskivanje bonih lobova kod monomodnih
izvora. Rezolucija merenja optikih analizatora spektra je tipino 0.1 nm ili oko 18
GHz na talasnoj duini od 1300 nm. Sa druge strane, analizator optikog signala
prikazuje totalnu srednju snagu i modulacioni spektar, ali ne daje informacije o
talasnoj duini optikog signala. Razlika izmeu ova dva merna instrumenta je
prikazana na slici 7.11.

Slika 7.11. Razlika izmeu analizatora optikog signala i optikog analizatora spektra
Pojednostavljena blok ema optikog analizatora signala je prikazana na slici 7.12.
Ulazni optiki signal prolazi kroz optiki atenuator kako bi se spreilo zasienje
ulaznog dela prijemnika. Brzi fotodetektor pretvara optiki signal u elektrini signal.
Vremenski promenljiva komponenta fotostruje, koja predstavlja demodulisani signal,
vodi se preko pretpojaavaa na ulaz klasinog analizatora spektra (microwave
spectrum analyzer). Jednosmerna komponenta fotostruje se vodi na mera snage
(power meter).

Slika 7.12. Blok ema analizatora optikog signala

Merenja u optikim komunikacionim sistemima

80

7.5. Optiki analizator spektra


Analiza optikog spektra podrazumeva merenje optike snage u funkciji
talasne duine. To je veoma vano merenje za optike izvore kao to su laseri i LED
diode. Spektralna irina izvora svetlosti je vaan parametar u optikim
komunikacionim sistemima pre svega zbog hromatske disperzije koja se javlja kod
optikih vlakana i koja ograniava modulacioni opseg komunikacionog sistema.
Efekat hromatske disperzije se, u vremenskom domenu, manifestuje kao irenje
digitalnih impulsa. Kako je hromatska disperzija funkcija spektralne irine izvora
svetlosti, za brze komunikacione sisteme je poeljno imati izvore sa malom irinom
spektra.
Zbog postojanja velikog broja razliitih izvora svetlosti (sa razliitom irinom
spektra), neophodno je posedovati instrument koji omoguava merenje spektra kako
monomodnih lasera tako i multimodnih lasera. Optiki analizator spektra upravo ima
tu funkciju da snima spektar monomodnih ili multimodnih izvora svetlosti.
Optiki analizatori spekta mogu se podeliti u tri kategorije (prema realizaciji
optikog podesivog filtra):
sa difrakcionom reetkom (za merenje spektra lasera i LED dioda, tipina
rezolucija je od 0.1 do 10 nm),
sa Fabry Perot-ovim interferometrom (imaju fiksnu rezoluciju, obino
specificiranom u opsegu od 100 MHz do 10 GHz odnosno od 0.01 do 0.1 nm
na 1.55 m talasnoj duini)
sa Michelson-ovim interfereometrom.
Osnovna blok ema optikog analizatora signala prikazana je na slici 7.13.
Dolazei optiki signal prolazi kroz podesivi (u pogledu talasne duine) optiki filtar
(monohromator ili interferometar) koji izdvaja individualne spektralne komponente.
Fotodetektor zatim konvertuje optiki signal u elektrini signal srazmeran snazi
incidentnog (upadnog) optikog signala.
Struja fotodetektora se, pomou transimpedansnog pojaavaa (transimpedance
amplifier), konvertuje u napon koji se digitalizuje A/D konvertorom. Takav signal se
dovodi na vertikalne ploe displeja. Na horizontalne ose displeja dovodi se testerasti
napon, koji se istovremeno koristi i za podeavanje promenljivog filtra (wavelength
tuning) tako da je njegova rezonantna talasna duina proporcionalna horizontalnoj
poziciji. Kao rezultat se na displeju prikazuje optika snaga u funkciji talasne duine.
Prikazana irina svakog od modova optikog signala izvora, iji se spektar analizira,
je funkcija spektralne rezolucije podesivog optikog filtra.

Slika 7.13. Pojednostavljena blok ema optikog analizatora spektra

Analizatori mrea

81

8. Analizatori mrea
8.1. Uvod
Mikrotalasna merenja se uglavnom odnose na merenja koja se najee sreu u
laboratorijama, kao i pri testiranju i odravanju opreme. Obuhvataju merenje:
frekvencije,
snage,
slabljenja,
transmisionih gubitaka,
refleksionih gubitaka,
impedanse,
koeficijenta refleksije,
S-parametara,
faktora uma i
nivoa zraenja.
Mnoga od ovih merenja zahtevaju specijalizovane merne instrumente, a esto
mnogi od njih imaju i mikroprocesore, koji omoguavaju dodatnu obradu informacija.
Mnoge mikrotalasne veliine kao to su impedansa, koeficijent refleksije i
S-parametri su kompleksne veliine; to znai da imaju i realni i imaginarni deo, ili
to je ekvivalentno, amplitudu i fazni ugao. Merenje kompleksnih veliina na
mikrotalasnim frekvencijama je relativno teko i zahteva skupu opremu. Ponekad je
dovoljno, za karakterizaciju ureaja i podsklopova, izmeriti samo amplitude
pomenutih veliina. Takva merenja se nazivaju skalarnim merenjima, a
odgovarajui ureaji skalarnim analizatorima mrea.
Merenje faze i amplitude, uirokom opsegu frekvencija zahteva korienje
vektorskih analizatora mrea. Ovaj naziv nije potpuno adekvatan jer veliine, kao to
je impedansa, nisu ni skalari ni vektori.
Mikrotalasna merenja se po nekim znaajnim pitanjima razlikuju od merenja pri
niskim frekvencijama. Treba pomenuti da merenje napona i struja nije jednostavno pri
visokim frekvencijama. Mnoga svojstva ureaja i podsklopova, pri mikrotalasnim
frekvencijama su izvedena iz merenja koeficijenta refleksije.

8.2. Skalarna merenja u frekvencijskom domenu


Osnovne
(Slika 8.1):

komponente sistema za skalarna merenja u frekvencijskom domenu su


skalarni analizator (scalar analyzer),
svip oscilator (sweep oscillator) i
reflektometar (reflectometer).

Savremeni skalarni analizatori mreza su mikroprocesorski bazirani ureaji koji


omoguavaju merenje snage i odnosa snaga. Znai da se mogu upotrebiti za merenje
transmisije, refleksije, kao i snage.

82

Analizatori mrea

Slika 8.1. Blok ema sistema za skalarna merenja


Slabljenje pri transmisiji je mera snage izgubljene (ili dodate) u mrei. Ako se
radi o pojaavau govori se o pojaanju. Neka P1 predstavlja snagu koja se direktno
predaje prilagoenom optereenju, a P2 predstavlja snaga koja se predaje
prilagoenom optereenju, preko ureaja ili mree, umetnute izmeu izvora i
optereenja, priemu je snaga izvora konstantna. Slabljenje pri transmisiji je:
P
IL[dB ] 10 log 2
(8.1)
P1
Slabljenje pri refleksiji je mera snage koja se reflektuje od ureaja ili podsklopa.
U sluaju dvoprilazne mree to je snaga reflektovana na ulaznom prilazu. Neka Pinc
predstavlja snagu incidentnog talasa, a Prefl predstavlja snagu reflektovanog talasa na
ulazu ureaja, koji se testira. Tako je slabljenje pri refleksiji, u decibelima, dato
izrazom:
P
RL[dB ] 10 log inc
(8.2)
Prefl

Moe se primetiti da su u pitanju samo snage, skalarne veliine, pa se, u principu,


ovakva merenja mogu izvriti samo vatmetrom (meraem snage). Skalarni analizator
dodaje ovakvom merenju niz praktinih prednosti. Instrument se koristi sa svip
oscilatorom, koji omoguava prikazivanje merenih veliina u frekvencijskom
domenu. Korienje mikroprocesora omoguava razliita preraunavanja i
prikazivanja. Podaci mogu da se sauvaju u memoriji ureaja. Mikroprocesor se moe
iskoristiti i za eliminaciju nelinearnosti diodnih detektorskih sistema, ime se dobijaju
tana merenja snage.
Na slici 8.1 prikazana je osnovna konstrukcija sistema za skalarna merenja.
Skalarni analizator obino ima tri ulaza, referentni R, i druga dva: A i B. Svakom
ulazu pridruuje se jedan diodni detektor (detectors). Oni imaju zadatak da pretvore
mikrotalasni signal u jednosmerni napon, upravo na mestu na kojem treba izvriti
merenje. Za detekciju se koriste otki diode bez polarizacije, koje rade u kvadratnoj
oblasti. Korekcija nelinearnosti se vri mikroprocesorom. Zbog toga se, osim za
merenje transmisije i refleksije, ovaj sistem moe upotrebiti i za precizno merenje
snage.
Testerasti napon (ramp voltage), koji se koristi za promenu frekvencije oscilatora,
se koristi i za horizontalni svip skalarnog analizatora, ime se obezbeuje da ta osa
bude frekvencijska. Memorija, koja je takoe ugraena u ovakav ureaj, koristi se za
uvanje informacija o kalibraciji u celom frekvencijskom opsegu. Promenu
frekvencije svip oscilatora najee obezbeuju YIG (yttrium iron garnet) feriti.

Analizatori mrea

83

Kontrola frekvencije se postie promenom eksternog magnetskog polja u kojem je


YIG ferit. Struja u namotajima za magnetizaciju se kontrolie testerastim naponom,
koji se istovremeno dovodi na horizontalne ploe skalarnog analizatora, kao to je ve
opisano.
Za potrebe merenja zahteva se konstantan RF izlazni napon dok se menja
frekvencija oscilatora. Ovo se moe postii kolima za podeavanje nivoa, i ovo
podeavanje moze biti interno i eksterno. Osnovna konstrukcija je ista i prikazana je
na slici 8.2. Usmereni sprenik sa velikom direktivnou se moe upotrebiti za
kontrolu dolaznog talasa. Kontrolni talas se ispravlja (detektuje) i dovodi na
diferencijalni pojaava, koji uporeuje trenutni nivo signala sa referentnim. Izlaz
diferencijalnog ispravljaa kontrolie atenuator sa PIN diodom. Treba zapaziti da se
na ovaj nain kontrolie samo incidentni talas, a ne i reflektovani talas. Moe se
dogoditi da talas reflektovan od merenog ureaja ue u oscilator i opet se reflektuje
od unutranje impedanse oscilatora. Ova sekundarna refleksija e se superponirati
direktnom talasu oscilatora. Promenu e detektovati monitorska kola i kompenzovae
je. Tako kola za kompenzaciju mogu virtuelno otkloniti svaku eventualnu promenu
uslovljenu neprilagoenjem.

Slika 8.2. Blok ema svip oscilatora sa regulacijom nivoa


Ako se skalarni analizator mrea koristi zajedno sa svip oscilatorom, regulacija
nivoa nije neophodna, odnosno moe se programski otkloniti. Meutim, regulacija
(podeavanje) nivoa moe ipak biti od koristi kada se radi o merenju ureaja kod
kojih ulazna snaga ne sme da premai odreene granice.
Reflektometar je ureaj koji omoguava da se direktni i reflektovani talas mere
odvojeno. Najjednostavniji nain za realizaciju ovakvog ureaja je korienje dva
usmerena sprenika povezana kao na slici 8.3a. Za merenje u koaksijalnim sistemima
moe se koristiti dvostruki usmereni sprenik (8.3b).

Slika 8.3. Usmereni sprenici povezani kao reflektometri; a) talasovodna realizacija,


b) koaksijalna realizacija

84

Analizatori mrea

Kao alternativa moe se koristiti reflektometarski most. To je, u osnovi, Vitsonom


(Wheastone) most specijalno realizovan za rad na mikrotalasnim frekvencijama. Na
slici 8.4a prikazana je realizacija mosta za 50- sistem.

Slika 8.4. a) Kolo za 50 Vitsonov most; b) kolo normalizovano na 50 ; c) ulazna


impedansa 50
Kada je most uravnoteen, odnosno kada je Zx=50 , impedansa koja se vidi sa
bilo kojeg od portova 1, 2 ili 3 je 50 , to omoguava da se 50 -ske linije
prikljuuju na te portove. Pri ravnotei detektorski napon Vd jednak je nuli. Kada je
Z x 50 , most nije vie u ravnotei, pa se javlja odreeni napon na detektoru. Posle
normalizacije impedansi sa 50 , i uvodeci e=E/50, za most se moe pisati:

e 3 I1 I 2 I 3
e I1 I 2 2 z x I 3
0 I1 I 2 3 I 3
Reavanjem prethodnog sistema po I3 dobija se:

(8.3)
(8.4)
(8.5)

85

Analizatori mrea

1 2 zx e
1
1
0
e z x 1
I3

3
1
1 8 8z x
1 2 zx 1
1
1
3
Normalizovan napon vd je
vd 1I 3

ez x 1
8 z x 1

(8.6)

(8.7)

Prema tome:

Vd vd
z 1

x
E
e 8( z x 1) 8

(8.8)

Tako, odravanjem E konstantnim, ili korienjem mikroprocesora skalarnog


analizatora za raunarsku eliminaciju promena E, izmereni napon je direktno
proporcionalan koeficijentu refleksije . Kako skalarni analizator meri samo skalarne
veliine, na ovaj nain e se dobiti samo amplituda koeficijenta refleksije.
Kada je Zx=50 (ili zx=1), most je uravnoteen. Pod tim uslovom kroz detektor ne
protie nikakva struja, pa se ona moe smatrati otvorenim kolom (slika 8.4).
Impedansa koju vidi izvor je 50 i struja koja protie kroz Zx je I/2, gde je I ulazna
struja. Ako se 50 optereenje prikljui direktno na izvor struja ce takoe biti I, pa je
tako slabljenje mosta 6 dB.

8.3. Merenje refleksije


Merenje refleksije zahteva merenje incidentne snage Pinc, kao i reflektovane snage
Prefl. Direktni i reflektovani talasi se mogu razdvoji sa dva usmerena sprenika ili
mernim mostom. Blokema merne linije za merenje refleksije prikazana je na slici
8.5a. Izlaz prvog usmerenog sprenika iskorien je za regulaciju nivoa signala.
Detektor A meri reflektovani talas. Kalibracija se obavlja korienjem kratkog spoja
(ili otvorenog kraja). Pri kalibraciji se javlja totalna refleksija, pa je Prefl=Pinc pa je
tako slabljenje pri refleksiji (return loss) jednako 0 dB. Neka sa A budu oznaeni
rezultati merenja, u celom frekvencijskom opsegu, kada je prikljuen kratak spoj, a sa
A rezultati kada je prikljuen sklop koji se testira. Set A se uva u memoriji ureaja
od koje se oduzima set A, u decibelima. Kako se napon ulaznog signala odrava
konstantnim, A[dB] - A[dB] predstavlja slabljenje pri refleksiji (return loss). Ova
veliina se prikazuje na ekranu analizatora mrea, ili se moe nacrtati na X-Y ploteru.
Umesto regulacije nivoa, izlaz prvog usmerenog sprenika moe se prikljuiti na
ulaz R ureaja. I u ovom sluaju za kalibraciju se koristi kratak spoj, pri emu e se
snimiti vrednosti T1[dB] = A[dB] - R[dB], gde R predstavlja snagu direktnog talasa
na mestu detektora R. Na ovaj nain je izmeren reflektovani signal, pri emu je
oduzeta promena ulaznog signala. Ovaj postupak se naziva ratioing (merenje odnosa),
jer razlika dve veliine u decibelima predstavlja njihov odnos. Postupak se ponavlja,
sa prikljuenim ureajem, koji se testira. Tom prilikom se snima set veliina

Analizatori mrea

86

T2[dB] = A[dB] - R[dB], gde R predstavlja snagu direktnog talasa, a A snagu


reflektovanog talasa. Ureaj preraunava veliinu T1[dB] - T2[dB], to je zapravo
traena veliina slabljenja pri refleksiji. Prednost ovog metoda je u tome to se uvek
uzima maksimalna snaga ureaja, dok se kod automatskog podeavanja nivoa, snaga
podeava na minimum raspoloive snage. Osim toga, kod automatskog podeavanja
nivoa, moe da se pojavi frekvencijski pomeraj, to se ne deava kod ratioing metode.

Slika 8.5. Merenje refleksije: a) primenjena regulacija nivoa snage izvora: b)


metod odnosa (ratio)
Kod oba postupka, neophodan je NF filtar, izmeu izvora i mernog ureaja. On se
koristi da smanji uticaj harmonika, koji se mogu pojaviti u izlaznom signalu. Treba
zapaziti da je kod automatskog podeavanja nivoa on ukljuen u petlju za
podeavanje, pa e sve eventualne smetnje biti korigovane.

8.4. Merenje transmisije


Kao to je ve pokazano, merenje transmisije zahteva merenje snage, predate
prilagoenom potroau, sa i bez test sklopa. Kao i kod merenja refleksije, za
eliminaciju varijacija snage izvora, moe se upotrebiti automatska regulacija nivoa ili
snimanje odnosa (ratioing). Na slici 8.6 prikazana je blok ema merne linije za
merenje transmisije ratioing metodom. Prilagoeni potroa,sa detektorom A, je
najpre direktno prikljuen na izlaz usmerenog sprenika, ime je uraena kalibracija
sistema. Pri tome je dobijen odnos A/R, odnosno u decibelima

Analizatori mrea

87

T1[dB] = A[dB] - R[dB], i ova veliina se uva u memoriji ureaja. Procedura se


ponavlja, s tim to se, izmeu usmerenog sprenika i prilagoenog potroaa sa
detektorom, umee test ureaj, i meri se T2[dB] = A[dB] - R[dB]. Najzad,
izraunavanjem T2[dB] - T1[dB] dobija se uneseno slabljenje (insertion loss) ureaja.

Slika 8.6. Ratio metod za merenje unesenog slabljenja


Istovremeno merenje transmisije i refleksije, mogue je korienjem blok eme sa
slike 8.7. Refleksija se meri korienjem ulaza A, a transmisija korienjem ulaza B.
Postupci kalibracije su prethodno opisani. Jedna od prednosti ovakvog merenja je pri
podeavanju ureaja, kada se trai kompromis izmeu karakteristika transmisije i
refleksije.

Slika 8.7. ema veze za istovremeno merenje transmisije i refleksije

8.5. Vektorski analizator mrea


Merenje kompleksnih veliina zahteva, pored amplitude, i merenje faze. Da bi se
odredila faza, mora postojati taan referentan signal. Na slici 8.8a prikazana je blok
ema za merenje kompleksnih parametara transmisije. RF signal iz svip oscilatora se
najpre deli na test signal i referentni signal. Test signal prolazi kroz test ureaj, a
referentni kroz liniju za izjednaavanje. Poreenje faza na mikrotalasnim
frekvencijama nije praktino, pa se oba signala konvertuju na fiksnu meufrekvenciju, na kojoj je poreenje faza mogue. Na slici 8.8b prikazan je harmonijski
frekvencijski konvertor HP 8411A, i vektorski analizator mrea HP 8510A.
Frekvencijski konvertor ima PLL petlju, koja omoguava oscilatoru praenje
referentne frekvencije, ime je stvorena mogunost merenja u opsegu frekvencija.
Izlazni signal, posle prvih miksera je frekvencije 20 MHz. Ovi signali prolaze kroz
pojaavae sa automatskom kontrolom pojaanja, ime se eliminie potreba regulacije

Analizatori mrea

88

nivoa signala oscilatora. Signal greke iz AGC pojaavaa za referentni signal,


kontrolie oba AGC pojaavaa, ime se otklanja uticaj promena nivoa signal
oscilatora na proces merenja. Drugi meaki stepen redukuje oba signala na
frekvenciju 278 kHz. Porejenje amplituda obavlja se kao i kod skalarnog analizatora
mrea, dok se porejenje faza vri faznim detektorom.

Slika 8.8. a) Blok ema vektorskog analizatora mrea; b) pojednostavljena struktura


harmonijskog frekvencijskog konvertora HP 8511A i vektorskog analizatora mrea
HP 8510A
Talasovodni TR test set prikazan je na slici 8.9a, i ematski na slici 8.9b. Radi se o
balansnoj konfiguraciji, kod koje se, za potrebe merenja transmisije, duina linije za
izjednaavanje moe menjati, a merenje refleksija se vri poreenjem sa kratkim
spojem. Dobro prilagoeni usmereni sprenici se koriste za obezbeivanje balansa.
Na primer, ako je pokretni kratak spoj podeen da ini kratak spoj na prilazu za
refleksiju, i ako je ista ema veze u kanalu za transmisiju, na referentnom i test portu
su priblino jednaki nivoi signala.
Na slici 8.10a prikazana je blok ema za merenje parametara S11 i S21, a na slici
8.10b za merenje S22 i S12. U merne linije su ukljuene i mree ua napajanje (bias tee)
koje su neophodne pri merenju tranzistora i pojaavaa.

Analizatori mrea

89

Slika 8.9. a) HP 8747A talasovodni TR test set; b) blok ema HP 8747A TR test seta

Slika 8.10. a) ema veze za merenje S11 i S21; b) ema veze za merenje S22 i S12

90

BER testeri

9. BER testeri - instrumenti za merenje bitske brzine greke


(generatori sekvenci i detektori greke)
9.1. Uvod
Savremeni digitalni komunikacioni sistemi su svojim ogromnim kapacitetima
(reda Gbps) doveli do konvergenicije audio, video i raunarskih komunikacija.
Osnovna mera njihovog kvaliteta je verovatnoa da je neki bit prenet iili
memorisan sa grekom. Sa savremenom opremom ove verovatnoe su veoma male,
reda veliine 10-12 ili manje.
Meutim, i dalje postoji potreba da se mere performanse tih sistema kako bi se
analizirale margine sigurnosti i ispitale mogue slabosti koje bi mogle da dovedu do
kasnijih degradacija njihovih performansi. U tu svrhu se koriste BERTS (Bit Error
Rate Test Set) merni instrumenti koji sadre:
generatore digitalnih sekvenci (digital pattern generators)
detektore greaka (error detectors).

9.2. Izvori greaka


Izvori greaka kod digitalnih sistema potiu od nekoliko dijametralno razliitih
efekata. Kada se, na digitalnom osciloskopu, posmatra standardni sluajni digitalni
signal, dobija se tzv. dijagram oka (eye diagram) (Slika 9.1). Da bi se dobio
dijagram oka na osciloskopu, neophodno je da se kao triger koristi triger digitalnog
signala (izvor takta digitalnih signala) i da se vremenska baza podesi tako da se vide
dve ili etiri periode bita. Za projektante digitalnih sistema, dijagram oka je veoma
znaajna karakteristika jer trenutno prikazuje kvalitet signala

Slika 9.1. Dijagram oka


Otvor oka (eye opening) defininisan je, u centru signala, razdvajajui nivo
logike 1 od nivoa logike 0. to je ovaj procep iri, sistem je otporniji na
smetnje, tj. manja je verovatnoa da se na prijemu 1 identifikuje kao 0 i obratno.

91

BER testeri

irina oka (eye width) definisana je kao rastojanje izmeu susednih vertikalnih
prelaza na ivicama impulsa. to je irina oka vea, sistem je vie tolerantniji na to u
kom trenutku se digitalni signal uzorkuje da bi se odredila trenutna vrednost bita.
Ukoliko postoje greke, dijagram oka se delimino zatvara. Dijagram oka se
suava i ukoliko postoji diter. Najei uzroci geraka su:
viak uma,
intersimbolska interferencija,
diter.
Viak uma (Exessive noise) uglavnom potie od termikog uma ili
presluavanja u osetljivim kolima. Utie na suavanje otvora oka ime se utie na
sposobnost odluivanja. Primeri ovim umom ogranienih sistema su optiki
prijemnik koji radi blizu minimalnog nivoa svetlosti ili digitalni radio ili satelitski
prijemnik koji radi sa signalom niskog nivoa oslabljenog usled fedinga. Karakteristika
ovim umom ogranienih sistema je da se greke javljaju sluajno u skladu sa
Poisson-ovom raspodelom i da nisu izazvane talasnim oblikom prenetog bita.
Intersimbolska interferencija (Intersymbol interference ISI) je
prouzrokovana kratkotrajnim memorijskim efektom kod digitalnih kola. U odreenom
vremenskom trenutku, primljeni signal ne predstavlja samo trenutnu digitalnu
vrednost signala, ve i ostatke prethodnih digitalnih vrednosti signala (to je odreeno
impulsnim odzivom sistema). Kod sluajnog digitalnog signala, ovi ostaci se
manifestuju na isti nain kao i termiki um. Meutim, ovi nivoi nisu sluajni ve su
odreeni oblikom ranijih talasnih oblika. Zbog toga, generatori digitalnih signala koji
se korsite kod BERTS-a treba da simuliraju pseudosluajne sekvence kako bi se video
efekat intersimbolske interferencije.
Vremenski diter (timing jitter) izaziva horizontalno pomeranje dijagrama oka,
ime utie na irinu oka. Jedna od definicija ditera je: Vremenski diter je
kretkotrajna varijacija znaajnih trenutaka digitalnog signala od njihovih
idealnih pozicija u vremenu. Znaajni trenutak moe biti uzlazna ili silazna ivica
signala. Ako su ova odstupanja velika, pojavie se problemi sa detekcijom signala.
Diter potie od velikog broja efekata kao to su novostvoreni um, presluavanje,
problemi u trigerskim kolima itd. Efekat vremenskog ditera je ilustrovan na slici 9.2.

Slika 9.2. Ilustracija vremenskog ditera

92

BER testeri

Kao to se sa slike 9.2a vidi, usled vremenskog ditera, impuls odstupa od svoje
idealne pozicije u vremenu to izaziva smanjenje irine oka, Na slici 9.2b prikazano je
da u vremenskim trenucima T1, T2, T3, itd, povorka impulsa odstupa od idealnih
pozicija u vremenu. Ovi pomeraji u vremenu t1, t2, t3 , itd, od idealnih pozicija
formiraju funkciju ditera J(t). Ukoliko je diter jako prisutan, dolazi do suavanja i
zatvaranja oka to moe dovesti do greke pri uzorkovanju i dekodiranju signala.
Stoga se uzorkovanje obino vri u vremenskim intervalima koji odgovaraju centru
oka jer je ono tu najvie otvoreno. Poremeaj ili ofset vremenskog trenutka se obino
meri u jedininim intervalima (UIs) od pika do pika, gde je jedinini interval
ekvivalentan jednoj periodi bita

9.3. Merenje greke


Da bi se testirao digitalni sistem, neophodno je simulirati odreenu test sekvencu
na njegovom ulazu:
to je obino pseudosluajna binarna sekvenca (Pseudo-Random Binary
Sequence - PRBS) koja se moe koristiti za procenu performansi.
Pseudosluajna sekvenca je sekvenca koja je potpuno odreena to znai da
ima svoju konanu duinu (ponavlja se posle odreenog vremena).
Mogue je koristiti i specijalno definisane sekvence poznate pod nazivom
korisniko definisane digitalne rei (user defined word patterns)
Tipine test sekvence ukluuju segmente sa estim promenama nule i jedinica,
kako bi se testirao tzv. memorijski efekat, kao i segmente sa velikim brojem
uzastopnih nula kako bi se testirao clock recovery.
Za telekomunikacione i raunarske prenosne sisteme, cilj je simulacija
sluajnog saobraaja pod normalnim radnim uslovima. Problem sa poslatim
sluajnim signalom je to detektor greke na prijemu nema informaciju ta je zapravo
poslato, tako da nije mogua detekcija greke. Zbog toga se koriste pseudosluajne
sekvence, koje statistiki imaju sve karakteristike sluajnog signala, a sa druge strane
su potpuno definisane. Testiranje digitalnog sistema je ilustrovano na slici 9.3.
Generator pseudosluajne sekvence (pattern generator) se vezuje na ulaz sistema koji
se testira. Detektor greke (error detector), na izlazu sistema koji se testira, uporeuje
bit po bit prenetog signala sa lokalno generisanom sekvencom bez greaka.

Slika 9.3. Testiranje digitalnog sistema


Verovatnoa greke (Bit Error Rate BER) je statistika osobina i kao takva
se mora tretirati. U optem sluaju, verovatnoa greke se moe predstaviti kao
BER

broj gresaka izbrojanih u mernom intervalu


ukupan broj prenesenih bitova u mernom intervalu

(9.1)

Zavisno od duine uzorka (odnosno od mernog intervala, npr. 1 s ili 5 dana)


vrednost BER-a e se menjati. Stoga postoji:

93

BER testeri

Dugotrajna vrednost BER-a koja nam daje optu procenu karakteristika


sistema
Kratkotrajna vrednost BER-a koja se meri ukoliko postoji neka smetnja ili
neki problem u prenosnom sistemu

Kod optikih sistema vrednost BER-a je relativno konstantna, dok se kod beinih
sistema vrednost BER-a drastino menja u zavisnosti od vremenskih prilika.
Za izraunavanje BER-a se koriste tri metode ilustrovane na slici 9.4

Slika 9.4. Tri metode za izraunavanje BER-a


Prvi metod (korien kod ranijih BER testera) jednostavno definie vreme
merenja kao broj perioda takta ureaja (106, 107, itd). Akumulirani broj greaka se
moe lako konvertovati u BER, meutim, period merenja varira zavisno od bitske
brzine. Na slici 9.4 method 1: Clock, ukupno je detektovano 156 greaka u mernom
intervalu 107 (ukupan broj poslatih bitova je dakle 107) pa je BER=156/107=
1.56*10-5. Metod se moe lako implementirati koristei jednostavnu diskretnu
dekadnu logiku.
Razvoj mikroprocesora je omoguio korienje sloenijim algoritama. Drugi
metod jednostavno definie vreme merenja u sekundama, minutima i satima (npr. 1 s,
1 min ili 1 h), a zatim se koristi mikroprocesor da izrauna BER na osnovu broja
akumuliranih greaka i broja perioda takta ureaja u tom vremenskom intervalu.
Prednost je da su ovakva merenja koegzistentna sa standardima za procenu greaka.
Na slici 9.4 method 2: Clock, ukupno je detektovano 16 greaka u mernom intervalu
koji obuhvata 106 taktova (ukupan broj poslatih bitova je dakle 106) pa je
BER=16/106=1.6*10-5.

Trei metod jednostavno definie vremenski interval merenja na osnovu unapred


zadatog broja greaka koji se mora detektovati (npr. 100). Meutim, kod sistema sa
malom grekom, ova metoda moe zahtevati veoma dug vremenski interval merenja.

94

BER testeri

Na primer, sistem od 100 Mbps sa BER-om od 10-12 zahteva skoro 12 dana za


akumulaciju 100 greaka. Na slici 9.4 method 3: Clock, ukupno je za detekciju 100
greaka bio potreban vremenski merni interval 6.4*106 taktova (ukupan broj poslatih
bitova je dakle 6.4*106) pa je BER=100/(6.4*106)=1.56*10-5.
U praksi se najee koristi drugi metod, koji izraunava BER posle fiksnog,
ponovljivog vremenskog intervala. U tom sluaju, rezultat e stalno varirati, pa je
potrebno da postoji neka prihvatljiva tolerancija. Uobiajeno je da to bude 10
procenata. Kod digitalnih transmisionih sistema, posebno kod radio-komunikacionih
sistema, BER se moe znaajno menjati u vremenu. U tom sluaju dugotrajna
vrednost za BER ima samo teorijski znaaj. Komunikacione inenjere takoe
interesuje procenat vremena u kojem je sistem neprihvatljivo degradiran, to se radi u
okviru tzv. analize greke.

9.4. Izbor test sekvence


Kao to je ranije napomenuto, test sekvenca se obino bira izmeu PRBS i
specifinih korisniki definisanih rei koje bi trebalo da ispitaju kritine memorijske
efekte. Kod PRBS test sekvence, veoma je vaan izbor binarne sekvence i rezultujue
spektralne osobine. Te osobine su:
Duina sekvence, u bitovima,
Konfiguracija povratnih veza kod pomerakog (shift) registra ,
Rastojanje spektralnih linija, to zavisi od bitske brzine.
Odgovarajue rastojanje spektralnih linija je neophodno za testiranje uskopojasnih
sistema da bi se video uticaj ditera na performanse greke. Duina test sekvence
zavisi od broja stepena pomerakog registra i oblika je 2n-1, gde je n broj stepena
pomerakog registara.
Izbor PRBS test sekvenci je standardizovan od strane ITU (bivi CCITT) za
testiranje digitalnih prenosnih sistema. Najee koriene test sekvence su date u
tabeli 9.1.
Tabela 9.1. Veza izmeu duine PRBS test sekvence i bitske brzine sa odgovarajuim
rastojanjem spektralnih linija za neke standardne telekomunikacione brzine prenosa
Duina sekvence
Bitska brzina (fb)
Polinom
Spektralna linija
kbps
(n)
(fb/n), Hz
1.544
2.048
34.368
44.736
139.264

215 - 1 bita

D15 + D14 + 1 =0

47.1

15

D15 + D14 + 1 =0

62.5

23

D23 + D18 + 1 =0

4.1

15

D15 + D14 + 1 =0

1365.3

23

D23 + D18 + 1 =0

16.6

2 - 1 bita
2 - 1 bita
2 - 1 bita
2 - 1 bita

Iz tabele 9.1 se primeuje da due sekvence daju manje rastojanje spektralnih


linija, i tipino, vee bitske brzine zahtevaju due sekvence da bi mogao da se
simulira realan saobraaj. Na slici 9.5 ilustrovan je idealan spektar binarne nonreturn
to zero (NRZ) PRBS test sekvence. Rastojanje spektralnih linija je odreeno bitskom
brzinom (fb) i duinom sekvence 2n-1 (videti tabelu 9.1).

95

BER testeri

Slika 9.5. Idealan spektar NRZ PRBS test sekvence


Konfiguracija pomerakog (shift) registra je definisana polinomima prikazanim u
treoj koloni tabele 9.1, pri emu slovo D oznaava kanjenje. Na primer, polinom
D15 + D14 + 1 =0 oznaava da su izlazi 14. i 15. stepena pomerakog registra povezani
na iskluivo ILI kolo, iji se izlaz dovodi na 1. stepen pomerakog registra (slika 9.6,
n=15). Ova osnovna konfiguracija daje sekvencu sa veim brojem jedinica, a ako se
eli vei broj nula potrebno je da se izlaz sistema invertuje.

Slika 9.6. Osnovna konfiguracija n-to stepenog PRBS generatora (polinom je oblika
Dn + Dn-1 + 1 =0, duina test sekvence je 2n-1)
Na slici 9.7 prikazan je jednostavan tro-stepeni PRBS generator koji ima sekvencu
duine 23 - 1 = 7 bita.

Slika 9.7. Konfiguracija tro-stepenog PRBS generatora (izlaz iskljuivog ILI kola
dovodi se na ulaz prvog stepena)
Neki BER testeri omoguavaju korisniku modifikaciju generisane sekvence.

9.6. Detekcija greke


Osnovni proces detekcije greke obavlja se poreenjem dolaznog binarnog stringa
iz sistema koji se testira, sa referentnim lokalno generisanim binarnim nizom, pomou
iskljuivog ILI kola. Kada su oba binarna niza ista i sinhronizovana, na izlazu

96

BER testeri

iskljuivog ILI kola generisae se nula. Meutim, ako postoji razlika javie se izlazni
signal (slika 9.8) Ovo jednostavno kolo e detektovati sve logike greke. Dodatni
zahtevi mogu biti odvojeno brojanje nula i jedinica, jer odreeni ureaji, kao to su
laserski predajnici, ee stvaraju jedan polaritet u odnosu na drugi.

Slika 9.8. Detekcija greke uz korienje iskljuivog ILI kola bazirana na poreenju
bit po bit prijemnog binarnog niza sa referentnim lokalno generisanim binarnim
nizom
Neki instrumenti omoguavaju odreivanje tane pozicije pogrenog bita, unutar
dugake digitalne rei. Izvori greaka su esto sistematini, izazvani intersimbolskom
interferencijom, memorijskim efektima ili refleksijama du transmisionih linija.
Tana identifikacija pogrenog bita omoguava lake pronalaenje uzroka problema.

9.7. Analiza greke


Kod realnih telekomunikacionih sistema, BER moe znaajno da varira u
vremenu, zbog efekata prostiranja u radio i satelitskim sistemima, elektrine
interferencije, itd (Slika 9.9).

Slika 9.9. BER u funkciji vremena


Stoga, sistem moe imati zadovoljavajui dugotrajni BER, ali zbog raznih
problema kratkotrajni BER moe postati nedozvoljeno veliki i time sistem uiniti
neupotrebljivim. Ukoliko se sistem karakterie velikim BER-om u periodu duim od
nekoliko sekundi, smatra se da je taj sistem neupotrebljiv i da je nedostupan.
U komercijalnim komunikacijama, korisnik mora da zna kakav kvalitet servisa
davalac servisa garantuje jer, izmeu ostalog, i to odreuje cenu tog servisa koju
korisnik plaa. To je generalno klasifikovano kao procenat vremena u kojem kvalitet
servisa ispunjava ili premauje oekivanja.
Analiza greke ima za zadatak da definie pragove BER-a koji ne smeju biti
prevazieni u odreenim vremenskim intervalima. Industrijski standard je dat
preporukom G.821 prikazanom u tabeli 9.2.

BER testeri

97

Tabela 9.2. Performanse greke za digitalnu vezu u okviru ISDN-a


Klasifikacija performansi
Cilj
Degradirani minuti (DM) Manje od 10% 1-minutnog intervala ima BER
(degraded minutes DM)
loiji od 1E-6
Sekunde sa znaajnom Manje od 0.2 % jednosekundnog intervala ima
grekom (SZG) (severely BER loiji od 1E-3
errored seconds SES)
Sekunde sa grekom (SG) Manje od 8% jednosekundnog intervala ima
neku greku ekvivalentno to 92%
(error seconds ES)
jednosekundnom intervalu bez greaka
Preporuka G.821 definie kako se parametri performansi greke proraunavaju u
skladu da dijagramom na slici 9.10. Ukupno vreme merenja je podeljeno na periode
od 1 s i nedostupno vreme (unavailable time) se oduzima kako bi se dobilo vreme u
kojem je sistem raspoloiv ili dostupan (available time) i u toku kojeg se G.821
parametri proraunavaju.

Slika 9.10. Dijagram koji pokazuje kako detektor greaka klasifikuje merenje greaka
u skladu sa G.821 kriterijumom
Period nedostupnog vremena poinje kada je BER u svakoj sekundi loiji od 10-3
za period od 10 uzastopnih sekundi. Ovih 10 sekundi (Sunavail) se zatim tretira kao
nedostupno vreme. Novi period dostupnog vremena poinje sa prvom sekundom
perioda od 10 uzastopnih sekundi za koje vai da je BER bolji od 10-3.
U toku raspoloivog vremena, svaki sekund koji sadri jednu ili vie greaka se
naziva sekunda sa grekom (SG), Bilo koji period od 1 s sa BER-om koji je loiji od
10-3 se klasifikuje kao sekunda sa znaajnom grekom (SZG) i oduzima se od
raspoloivog vremena. Preostale sekunde se grupiu u periode od po 60 sekundi. Bilo
koji od 1 minutnog perioda u kojem je BER loiji od 10-6 klasifikuje se kao
degradirani minut (DM).

BER testeri

98

9.8. Arhitektura BER testera


BER tester se sastoji od generatora digitalnih rei i detektora greaka, esto
integrisanih u jedinstven instrument; mada su ponekad i razdvojeni. Primene BER
testera se mogu podeliti u dve iroke kategorije:
Telekomunikaciona testiranja
Generalna laboratorijska/proizvodna testiranja ureaja i sistema
U oba sluaja, merenja i modovi rada su veoma slini; razlikuju se samo u
potrebnim elektrinim interfejsima. Na slici 9.11 prikazan je generator digitalnih rei
za BER tester koji je namenjen za telekomunikaciona testiranja.

Slika 9.11. Blok dijagram generatora digitalnih rei za telekomunikacione BER testere
PRBS test generator i generator rei (word generator) su klokovani ili izvorom
takta fiksne frekvencije (clock generator) ili se koristi sintentizator koji omoguava
promenljivu brzinu takta. PRBS i generator rei obino obezbeuju triger impuls
(pattern trigger) kako bi oznaili ponavljanje binarnog niza.
Izlaz iz PRBS ili generatora rei se vodi na DATA O/P AMP kolo gde se pojaava
ili na kola za generisanje kodiranog izlaza (framing, encoder, output amplifier).
Izlazni pojaava ima ulogu da obezbedi da je signal u saglasnosti sa specifikacijama
elektrinog interfejsa koji moe da zahteva pseudo-ternary alternate-mark inversion
signal (ovo znai da su npr. susedne binarne jedinice predstavljene sa impulsima
suprotnog polariteta). Namerna greka se moe dodati korienjem iskljuivog ILI
kola. Dekadni delitelj obezbeuje da je BER oblika 10-N.
Pripadajui detektor greaka, prikazan na slici 9.12, prima standarni kodirani
signal, regenerie signal takta i vri dekodiranje kako bi dobio originalni digitalni
signal i signal takta. Sve greke nastale tokom prenosa se detektuju i alju se
odgovarajui signali brojau greke. Na taj nain omoguen je prvi nivo detekcije
greaka.

BER testeri

99

Slika 9.12. Blok dijagram detektora greke za telekomunikacione BER testere


Instrument opremljen za rad sa frejmovima proverava greke frejmova,
dekoduje alarmne signala, proverava paritet. CRC bitove itd. Najzad, binarni podaci i
takt dolaze u logiku za komparaciju.

Analizatori protokola

100

10. Analizatori protokola


10.1. Uvod
Analizatori protokola su merni instrumenti koji paljivo prouavaju ta se deava
u komunikaciji izmeu ureaja i testiraju da li se korektno izvravaju protokoli. Pored
monitorisanja komunikacije izmeu ureaja, analizatori protokola takoe i alju
informacije. Iza prednje ploe analizatora protokola nalazi se specijalizovani
kompjuter koji moe da prihvata i alje serijske podatke na komunikacioni link.

10.2. Primene analizatora protokola


Kod prenosa podataka. esto postoji potreba da se analizira, ili ak simulira,
interakcija izmeu ureaja povezanih u lokalnu (Local Area Network - LAN) ili
oblasnu (Wide Area Network - WAN) raunarsku mreu. Ova potreba moe se
pojavitu u kontekstu jednog od sledeih scenarija:
Proizvoa mrene opreme ili same mree eli da analizira i simulira rad
opreme ili mree pod razliitim okolnostima.
Planer mree eli da meri nivo iskorienosti mree u cilju planiranja
dodavanja novih servisa i novih mogunosti.
Instalater raunarske ili komunikacione opreme eli da proceni ili testira
mrene ureaje i njihovu interakciju.
Serviseri opreme ili mree imaju probleme oko otklanjanja kvarova koji se
pojavljuju stalno ili povremeno.
Menader mree eli da ispita rad elementa mree od razliitih proizvoaa u
cilju postizanja to boljih performansi, pouzdanosti i cene.
U svim ovim scenarijima, potreban je merni instrument koji omoguava spoljanje
(bez ukljuivanja u mreu) posmatranje mree i koji pomae korisniku da interpretira
kompleksne interakcije unutar komunikacionih protokola, koji kontroliu ureaje u
mrei. U nekim sluajevima je neophodno da se simuliraju elementi u mrei da bi se
pronaao problem, dok u drugim sluajevima treba meriti performanse mree i
ureaja unutar nje. U svim ovim sluajevima, odgovarajui merni alat za
reavanje problema je analizator protokola.

10.3. OSI referentni model


Svaka komunikaciona mrea se organizuje kao skup nivoa pri emu svaki nivo
nudi odreene usluge viim nivoima. Komunikacija izmeu razliitih procesa istog
nivoa se definie protokolima. Na slici 10.1 je prikazan referentni OSI (en. Open
System Interconnection) model, predloen od strane Meunarodne organizacije za
standardizaciju (en. International Standards Organizations - ISO), koji definie sedam
nivoa (slojeva) univerzalne komunikacione strukture koja se moe primeniti za svaki
terminal ili vor u komunikacionoj mrei.

101

Analizatori protokola

Slika 10.1. Sedam nivoa OSI modela


OSI referentnim modelom definisano je sedam nivoa: fiziki nivo (en. Physical
layer), nivo veze za podatke (en. Data Link Layer - DLL), nivo mree (en. Network
layer), transportni nivo (en. Transport layer), nivo sesije (en. Session layer), nivo
prezentacije (en. Presentation layer) i aplikacioni nivo (en. Application layer). Iznad
sedmog nivoa je korisnik. Ovih sedam nivoa se deli na nie nivoe (1-3) i vie nivoe
(4-7).
Pod protokolom podrazumevamo skup pravila o formatu i znaenju paketa ili
poruka koji se razmenjuju izmeu procesa istog nivoa. Drugim reima protokoli su
pravila i procedure koje definiu interakciju izmeu komuniacionih ureaja. Procesi
koriste protokole da bi realizovali definisane usluge. Uobiajeno je da postoji jedan
protokol po nivou. Pod uslugama podrazumevamo skup osnovnih operacija koje nivo
obezbeuje nivou iznad sebe. Uslugom se dakle definiu operacije koje nivo izvrava
za raun korisnika, ali se potpuno skriva nain izvravanja tih operacija. Usluga se
vezuje za interfejs izmeu nivoa, pri emu je donji nivo davalac, a gornji nivo
korisnik usluga. Dakle, usluge se odnose na interfejs izmeu nivoa. Nasuprot tome,
protokoli se odnose na pakete koji se razmenjuju izmeu ravnopravnih procesa na
razliitim raunarima. Interfejs izmeu nivoa pokazuje procesima iz gornjeg nivoa
kako da pristupe donjem nivou.
Komunikacija izmeu dva sistema se obavlja komuniciranjem odgovarajuih
nivoa u sistemima. Nivoi izmedju sebe komuniciraju po odreenom protokolu. Ako
korisnik 1. (na slici 10.1) eli da uspostavi komunikaciju sa korisnikom 2., on aktivira
aplikacioni sloj (nivo 7). Taj sloj uspostavlja vezu sa nivoom 7 korisnika 2, koristei
protokol svog nivoa, ali mu za to treba podrka nivoa 6 koji uspostavlja vezu sa
drugim nivoom 6 takoe koristei svoj protokol i tako sve do nivoa 1. fizikog nivoa
koji zaista prenosi bitove po prenosnom medijumu.
10.3.1. OSI nivoi
Fiziki nivo poznat kao nivo broj 1, odnosno protokol definisan na ovom nivou,
bavi se prenosom podataka komunikacionim linkom. Ovaj nivo regulie naponske
nivo koji predstavljaju bitove, trajanje bitova/pauza, definie raspored pinova (iglica)
na konektorima, kako se uspostavlja veza, itd.
Nivo veze za podatke ili nivo broj 2 je odgovaran za odravanje veze bez
greaka. Ovaj nivo formatira podatke u grupe za prenos, tzv. frejmove (ramove),
pri emu dodaje neophodne informacije o frejmovima koje su neophodne za

102

Analizatori protokola

interpretaciju podataka na udaljenim ureajima. Na nivou broj 2, komunikacioni


ureaji, generalno, potvruju prijem frejmova i zahtavaju retransmisiju, ukoliko je
detektovana greka. Nivo 2 je odgovoran i za definisanje brzine prenosa, da se ne bi
desilo da brzi predajnik prezasiti spori prijemnik.
Mreni nivo il nivo broj 3 bavi se komutacijom i rutiranjem informacija i
uspostavlja logiku grupu lokalnih i udaljenih ureaja. Mreni nivo posmatra i
nagomilavanje saobraaja na pojedinim deonicama i obezbeuje preusmeravanje
podataka preko manje optereenih ureaja ili linkova.
Transportni nivo ili nivo 4 se bavi praenjem toka podataka od izvora do kraja
linka, vodei rauna i o integritetu podataka. Dok su prethodna tri, nia nivoa,
tehnoloki zavisni, ovaj nivo je nezavisan od tehnologije i korisnikih terminalnih
ureaja.
Nivo sesije ili nivo 5 uspostavlja sesije na razliitim mainama i upravlja njima,
vodei rauna o sinhronizaciji i prioritetima procesa koji se moraju izvravati.
Nivo prezentacije je nivo broj 6 i bavi se sintaksom i semantikom informacija koje
prenosi. Na nivou broj 6, svaka promena kodovanja, formatiranja ili struktura
podataka se zavrava. Na ovom nivou se, vrlo esto, obavlja kodovanje i
dekodovanje, u cilju spreavanja neautorizaovanog pristupa podacima.
Nivo aplikacije ili nivo broj 7, bavi se mrenim servisima za specifine aplikacije,
kao to su transfer fajlova izmeu razliitih sistema, elektronska pota itd.
10.3.2. Enkapsulacija podataka na nivoma protokola
Nakon to su podaci korisnika formirani i prezentovani najpre aplikacionom
nivou, a zatim i ostalim niim nivoima, originalnim informacijama se, na svakom
nivou, pridodaju dodatne informacije, i ti procesi se nazivaju enkapsulacijom.
Prilikom enkapsulacije, podaci nivoa n+1 su enkapsulirani u vidu hedera (zaglavlja),
odnosno i u vidu trejlera na nivou jedan, kao dodatne informacije za nivo n. Prilikom
prijema informacija, obavlja se inverzni proces. Kao to se vidi na slici 10.2, svaki
nivo dodaje i uklanja svoje dodatke (hedere i/ili trejlere), svaki sa razliitim podacima
i na razliit nain. ak i u sluaju da protokoli perfektno funkcioniu, neophodno je
njihovo nadgledanje pomou analizatora protokola.

Slika 10.2. Enkapsulacija podataka

10.4. Generalna arhitektura i rad analizatora protokola za WAN


mree
Na slici 10.3 prikazana je globalna arhitektura analizatora protokola za oblasne
raunarske mree. Struktura instrumenta za lokalne mree (LAN) je skoro identina,

Analizatori protokola

103

pri emu je funkcija serijskog komunikacionog kontrolera (Serial Communications


Controler - SCC) funkcija zamenjena MAC (Media Access and Control) funkcijskim
blokom.

Slika 10.3. Blok ema analizatora protokola


Fiziki interfejs (Physical connection) omoguava vezu analizatora protokola sa
komunikacionim linkom koji se testira. Ovaj blok usaglaava analogne nivoe, vri
konverziju naponskih nivoa, prilagoenje impedanse, konektore itd.
Fiziki interfejs ima obino Y interfejs, kao i zavrni, da bi mogao da monitorie
prenos podataka kao i da simulira neki mreni ureaj. Fiziki interfejs mora da
obezbedi dovoljnu struju za simulaciju i emulaciju. Najzad, neophodno je da fiziki
interfejs obezbedi odgovarajuu impedansu kako se ne bi stvarali problemi oko
merenja. Globalno posmatrano, funkcija fizikog interfejsa je da konvertuje
signale naene na komunikacionoj liniji u digitalne signale koje analizator
protokola moe da interpretira, a sve to bez stvaranja smetnji ureaju koji se
testira.
Serijski komunikacioni kontroler (Serial Communications Controler - SCC)
obezbeuje konvertovanje serijskog niza digitalnog podataka, sa sopstvenom
sinhronizacijom, sa fizikog interfejsa u frejmove paralenih podataka koje moe
prihvatiti analizator spektra. Dodatno, moe postojati mogunost filtriranja specifinh
delova informacija, ime se izbagava nepotrebno optereivanje memorije analizatora
protokola.
Mikroprocesor i prihvatni bafer (Microproccesor and Capture Buffer) imaju
zadatak da analiziraju i prihvataju podatke koji dolaze u instrument. Ova dva bloka
praktino definiu karakteristike analizatora protokola.
Na nekim arhitekturama, podaci sa SCC-a se memoriu u baferu, a potom
preocesor obavlja analizu nad njima. Ovaj metod je prihvatljiv za obradu
ograniene koliine podataka, pri emu je cena instrumenta relativno
niska. Procesor nije ukljuen u formatiranje informacija i formiranje
odgovarajuih hedera.
Sa druge strane, ako je procesor najpre formatira podatke, pre slanja u
bafer, moe biti prezatrpan podacima. Stavljanje jaeg procesora eliminie
ovaj problem, ali se pojavljuje problem sa cenom procesora.
Ulaz i izlaz (Input and Output) u blok emi predstavljaju jednostavno displej,
tastaturu i lokalnu masovnu memoriju za instrument.

Virtuelni instrumenti

104

11. Virtuelni instrumenti i uloga softvera


11.1. Uvod
Mnogo godina, elektronska instrumentacija je predstaljala grupu proizvoda koja se
lako identifikovala. Mada razliitih dimenzija i funkcionalnosti, praktino svi
instrumenti su imali oblik kutije sa kontrolnom tablom i displejem. Razvoj raunarske
industrije je, meutim, doveo do promene ovog shvatanja.
Raspoloivost jeftinih, visoko-kvalitetenih raunara sa odgovarajuim softverom,
omoguila je korisnicima sve ono to su mogli instrumenti, pa ak i vie. Umesto
kutija, od kojih svaka predstavlja jedan instrument, osnovna merenja se mogu obaviti
sa ploama ubaenim u raunar. Na njemu nema nikakvih prekidaa, tastera ili
potenciometara kojima bi se kontrolisao merni proces. Osim toga, nema ni prostora za
bilo kakve pokazivae, displeje i slino. Umesto toga, raunar simulira prednju plou
instrumenta, sa luksuznim grafikim displejem, dok se kontrola mernog procesa
obavlja putem tastature raunara, mia ili tkz. touch ekrana. Softver moe da simulira
neki standardni instrument, ili moe da emulira nekoliko instrumenata,
prekonfiguracijom mernih kartica u cilju prikupljanja neophodnih podataka.
U svakom sluaju, mogunost korienja grafikog softvera i personalnog
raunara za procesiranje i prikazivanje mernih podataka, naziva se, u industriji,
virtuelnom instrumentacijom.

11.2. Klase virtuelnih instrumenata


Zbog irokog spektra mogunosti koje prua softver za kontrolu i prikazivanje
rezultata, postoji veliki broj implementacija koje se mogu nazvati virtuelnim
instrumentima, ali se sve one generalno mogu podeliti u etiri oblasti:

Sistemi instrumenata kao virtuelni instrument


Softverski grafiki panel kao virtuelni instrument
Grafike tehike programiranja kao virtuelni instrument
Blokovi sa promenljivom konfiguracijom kao virtuelni instrument.

11.2.1. Sistemi instrumenata kao virtuelni instrumenti


Mnogo puta sistemi instrumenata kombinuju diskretene komponente, u cilju
izvravanja merenja za koje ne postoje specifini instrumenti. Sistem konfigurie
instrumente, inicira operacije, obrauje podatke i prikazuje rezultate kompletnog
merenja. Primeri takvih merenja su merenje faznog uma i EMC (Electromagnetic
Compatibility) merenja, koja se teorijski mogu obaviti jednim instrumentom, ali ne
postoji takav instrument. U realnom sluaju, ceo sistem je virtuelni instrument za
merenje faznog uma ili virtuelni instrument za EMC merenja.

Virtuelni instrumenti

105

11.2.2. Softverski grafiki panel kao virtuelni instrument


Softverski grafiki panel je esta definicija virtuelnog instrumenta. U sutini, to je
nain za kontrolu instrumenata preko tastature ili mia i nain za prikazivanje
rezultata na monitoru raunara. Sama realizacija instrumenata moe biti ili
tradicionalna u kutijama ili tampane ploe, bez lokalnog kontrolera. Na slici 11.1
prikazana je grafika kontrola jednog instrumenta preko IEEE-488 (GP-IB) interfejsa.

Slika 11.1 Grafiki panel kao virtuelni instrument


11.2.3. Grafike tehnike programiranja kao virtuelni instrumenti
Kod instrumentacionih sistema, postoji veoma jak trend prelaska od tradicionalnih
programskih jezilka kao to su C ili BASIC na grafike programske jezike, kod kojih
se za blokove koriste ikonice, koje se povezuju linijama ili strelicama. Na taj nain se
znaajno moe redukovati napor i vreme potrebno za razvoj mernog programa.
Jedinstevna ikona moe predstavljati funkciju instrumenta, pri emu se instrument
moe iskonfigurisati i vratiti izmereni rezultat. Set ikona, povezanih linijama, moe se
razmatrati, u grafikom programskom jeziku, kao potprogram. Takva struktura se
moe predstaviti jednom ikonom i koristiti na bilo kom mestu u programu. Ova
tehnika se moe koristi za razvoj monijih virtuelnih instrumenata, uz korienje
jednog ili vie instrumenata, i procesorskom snagom raunara. Enkapsulirana ikona se
smatra virtuelnim instrumentom.
11.2.4. Blokovi sa promenljivom konfiguracijom kao virtuelni instrumenti
Sistem instrumenata se obino sastoji iz niza instrumenata, od kojih je svaki u
mogunosti da izvri odreeni set merenja. Razbijanjem sistema u blokove, moe se
dobiti kombinacija blokova: pojaavai, A/D konvertori, DSP procesori, izvori
napajanja, displeji, itd. Na slici 11.2 prikazana je blok ema sloenog instrumenta.
Ako se odreeni blok pojavljuje u dva ili vie instrumenta, postoji mogunost da dva
ili vie instrumenta dele odreenu funkciju. U nekim sluajevima je mogue imati
odreene blokove, od kojih se promenom konfiguracije formiraju instrumenti. Ovi
blokovi se obino realizuju kao kartica u sopstvenoj kutiji, kao to su na primer VXI
instrumenti. Ekran raunara predstavlja grafiki korisniki interfejs koji emulira rad
klasinih instrumenata.

Virtuelni instrumenti

106

Slika 11.2. Blik ema kompleksnog instrumenta, kao to je analizator spektra.


Kombinovanjem razliitih blokova mogue je emulirati razliite instrumente

11.3. Osnovne komponente virtuelnih instrumenata


Osnovne komponente svih virtuelnih instrumenata ukljuuju raunar sa
monitorom, softver za virtuelnu instrumentaciju, intefejs bas koji povezuje raunar sa
hardverom instrumenta i hardver instrumenta. Na slici 11.3 prikazana je jednostavna
blok ema.

Slika 11.3. Osnovne komponente virtuelnog instrumenta


Raunar sa monitorom (computer and display)
Raunar sa monitorom predstavlja srce virtuelnog sistema instrumenata. Ovi
sistemi su obino bazirani na personalnom raunaru ili radnoj stanici sa monitorom
visoke rezolucije, tastaturom i miem. Vano je da izabran raunar odgovara
zahtevima softvera.
Softver (software)
Ako je raunar srce sistema virtuelne instrumenatcije, softver je njegov mozak.
Softver definie funkcionalnost i karakteristike sistema. Veina softvera je namenjena
standardnim operativnim sistemima za personalne raunare i radne stanice.
Interfejs bas (interconnect bus)
Mogu se izdvojiti tri glavne vrste interfejs baseva: IEEE-488, PC bus i VXI bus.
IEEE-488 - prvi industrijski standard za povezivanje raunara sa
instrumentacijom. Prednost ovog IEEE-488 standarda je da se odgovarajui
interfejs moe postaviti na zadnoj strani instrumenta, tako da je mogue
dvostruko korienje instrumenta - samostalno ili pod kontrolom raunara.
Zbog ove mogunosti, postoji veliki broj instrumenata sa IEEE-488

Virtuelni instrumenti

107

interfejsom. IEEE-488 je fleksibilan kabl koji povezuje karticu u raunar sa


maksimalno 15 instrumenata. Interfejs kartica dolazi sa softverom i
omoguava prenoenje komandi i itanje rezultata. Svaki IEEE-488 instrument
dolazi za dokumentacijom u kojoj je naveden spisak funkcija i komandi.
Standardno, uz instrumente se ne isporuuje dodatni softver. Maksimalna
brzina prenosa je 1 Mbps, dok je prosena brzina izmeu 100 i 250 kbps. U
literaturi se ovaj standard esto sree i pod nazivom GP-IB (Genaral Purposes
Instrument Bus) ili HP-IB (Hewlett-Packard Interface Bus), prema
proizvoau koji ga je prvi primenio.
PC bus - Sa rapidnim porastom prisustva IBM personalnih raunara u test i
mernim aplikacijama, pojavio se adekvatni broj tkz. plug-in (umetajuih)
mernih kartica koje se ubacuju u prazne slotove raunara. Meutim,
instrumenti vee preciznosti zahtevaju dosta mesta na karticama. Osim toga,
pojavljuju se problemi zbog blizine kartica izvorima elektromagnetske
interferencije. Instrumenti sa PC busom imaju loije preformanse od IEEE488, ali imaju i niu cenu. Radi se uglavnom o A/D, D/A konvertorima i
karticama sa digitalnim izlazom. Moe se rei da je ovaj interfejs namenjen za
kreiranje malih, jeftinih sistema za sisteme akvizije kod kojih se ne zahtevaju
visoke peformanse. Ove kartice se ubacuju direktno u slotove raunara i
isporuuju se sa odgovarajuim drajverskim softverom. Taj softver moe, ali
ne mora biti kompatibilan sa paketima za virtuelnu instrumentaciju, tako da se
o tome mora voditi rauna.
VXI bus - definisan IEEE-1155 standardom, je otvorena intefejs struktura koja
kombinuje mnoge prednosti IEEE-488 i PC busa. VXI instrumeni su moduli
koji se ubacuju u specijalno dizajnirana kuita poznata kao mainframe (glavni
ram). Mainframe ukljuuje izvore napajanja, hlaenje, i interfejse za
meusobnu komunikaciju modula. Prednostu VXI busa su velika brzina
prenosa podataka, zahvaljujui VME busu
i dobra otpornost na
elektromagnetsku interfeenciju, ime se formiraju kvalitetni instrumenti, slini
IEEE-488 instrumentima. Komunikacija VXI mainframe-a i raunara moe se
ostvariti na tri naina: preko IEEE-488 interfejsa, preko MXI bus-a ili
sopstvenim kontrolerom.

Literatura
1. Kamilo Feher and Engineers of Hewlett-Packard,
Telecommunications
Measurement,
Analysis,
and
Instrumentation, Noble Publishing Corporation, 1997.
2. Clyde F. Coombs, Electronic Instrument Handbook, 2nd
Edition, McGraw Hill, 1995.
3. Robert A.Witte, Spectrum & Network Measurements,
Prentice Hall, 1993.
4. Geoff H.Bryant, Principles of Microwave Measurements,
IEE series, 1988.
5. Christoph Rauscher, Fundamentals of Spectrum Analysis,
5th Edition, Rohde & Schwarz, 2007.
6. Fundamentals of the Electronic Counters, Application
Note 200, Electronic Counter Series, Agilent Technologies.
7. Fundamentals of Microwave Frequency Counters,
Application Note 200-1, Electronic Counter Series,
Agilent Technologies.
8. Time Domain Reflectometry Theory, Application Note
1304-2, Agilent Technologies.
9. Vladanka
Aimovi-Raspopovi,
Telekomunikacioni
sistemi Optiki sistemi prenosa, Univerzitet u Beogradu,
Saobraajni fakultet, Beograd, 2002.

You might also like