Professional Documents
Culture Documents
FOTOELASTICIMETRIJA
FOTOELASTICIMETRIJA
LABORATORIJSKE VJEBE A
Vjeba br. X:
Elastooptika ispitivanja
Sadraj
1.
Uvod....................................................................................................................................1
1.1
2.
Fotoelasticimetrija...............................................................................................................3
3.
Polariskop............................................................................................................................6
4.
Zakljuak...........................................................................................................................11
Literatura...................................................................................................................................12
Cvijovi Marko
1. Uvod
Prva ispitivanja modela pojavljuju se jo u 15 st. Leonardo da Vini vrio je ispitivanja
razliitih oblika konstrukcije, vlane vrstoe, savijanja greda i nosivih greda. Galileo Galilei
je utemeljitelj ispitivanja. Galileo Galilei provodio je eksperimente vezane uz: slobodni pad i
kretanje niz kosinu, mjerenje vlastite frekvencije i vrijeme titranja, savijanje i rastezanje
tapova. Na temelju vlastitih eksperimenata pokuavao je pronai proraunske metode koje bi
opisivale ponaanje konstrukcija pod optereenjem. Metode koje je postavio Galileo
sadravale su brojne netonosti iako su u osnovi bile pravilno postavljene. Razlog tome je to
tad jo nije bio poznat zakon o elastinosti. 1676. god. Robert Hooke je formulirao fiziki
zakon elastinosti. Znaaj i potreba ispitivanja konstrukcija ogleda se u ocjeni stanja
konstrukcije, a takoer i provjeri tonosti teorijskih pretpostavki. Ispitivanjem se mogu
utvrditi pojave koje se teorijski nisu mogle utvrditi ili se ak nisu mogle niti obuhvatiti.
Temeljni zakon ispitivanja konstrukcija poznat je jo kao Hookeov zakon. Hooke je
normirane ipke (epruvete) opteretio aksijalnom silom i mjerio je promjenu njihove duine,
apsolutnu deformaciju l, s promjenom aksijalne sile F. Iz ovih podataka dobijena je
promjena naprezanja. [1]
Slika 1. Izduenje aksijalno napregnutog tapa na oba kraja (lijevo), dijagram naprezanja (desno) [2]
F
A
-normalni naprezanje
l
l0
-dilatacija
E=tg
-modul elastinosti
=E
-normalno naprezanje
Osnovna svrha ispitivanja je utvrivanje stanja nosivosti i ono se vri na novim i starim
konstrukcijama. Ispitivanjem se utvruje nosivost, pomaci, naprezanje i deformacije u
kritinim dijelovima konstrukcije. Poslije ispitivanja pie se izvjetaj o ispitivanju. Na osnovu
dobivenih rezultata utvrujemo da li konstrukcija odgovara traenim zahtjevima. Ispitivanja
mogu biti u toku izrade i pri zavretku izrade modela. Ispitivanje se takoer vri i u toku
3
Cvijovi Marko
Cvijovi Marko
2. Fotoelasticimetrija
Fotoelasticimetrija ili fotoelastinost, kako se ranije zvala, temelji se na osobini nekih
providnih materijala da mjenjaju optike osobine pri napregnutom stanju. Fotoelastinost se
javlja u optiki osjetljivim materijalima kada se svijetlosni zrak pri prolasku dijeli u dvije
zrake koje se kreu po pravcima glavnih naprezanja razliitim brzinama. Njihova brzina ovisi
od veliine glavnih naprezanja.
U fotoelastinosti za izradu modela najee se koristi epoksidna smola, araldit. Fotoelastino
odreivanje naprezanja i deformacija najprije je primjenjeno pri rjeavanju ravninskih
problema (modeli konstrukcija izraeni od ploa fotoelastinog materijala), a zatim prostornih
modela. Fotoelastini materijali u napregnutom stanju postaju optiki dvolomni (optiki
anizotropni).
Ispitivanje se vri tako da se model posmatra u polariziranom svjetlu. Fotoelasticimetrija
obuhvata tri iroke tehnike i to:
1. fotoelastino oblaganje,
2. dvodimenzionalnu analizu,
3. trodimenzionalnu analizu.
Metoda fotoelastinog oblaganja ima mnoge prednosti u odnosu na druge metode
eksperimentalne analize naprezanja, jer omoguava ispitivau da mjeri deformacije na
dijelovima i strukturama bilo koje veliine, oblika, materijala koji se ispituje. Ovo bi bila
povrinska fotoelastinost. Fotoelasticimetrijsko ispitivanje prostornih modela je sloenije
nego kod jednoosnih i ravno napregnutih stanja, jer se pravci glavnih naprezanja mjenjaju
prostorno. Dakle, optika promjenljivost u materijalu odraava se preko naprezanja i razlike
naprezanja, iji intenzitet ovisi o vrijednosti optereenja modela i geometrijskih karakteristika
konstrukcije. [4]
Cvijovi Marko
Slika 3. Odbijanje i lom svijetla (a) i prolazak svjetla kroz planparalelnu plou
Pri prelasku zrake svijetla iz jedne u drugu sredinu sa razliitim indeksima loma, svijetlost se
na granici jednim dijelom odbija, a drugim dijelom lomi (slika 17.21.a), odnosno sin : sin
= v1 : v2, gdje su v1 i v2 brzine u prvom, odnosno u drugom sredstvu.
Pri prolasku svjetla kroz planparalelnu plou vrijedi odnos:
sin sin
=
sin 1 sin
to znai da je = 1.
Svjetlo je vidljiv dio elektromagnetskog zraenja sastavljeno od transverzalnih valova duljine,
o kojima ujedno i ovisi, od 380 do 770 nm. Dnevno (tzv. bijelo ili polikromatsko) svjetlo
sadri valove razliitih valnih duljina, a monokromatsko (jednobojno) svjetlo valove samo
odreene valne duljine.
Cvijovi Marko
Cvijovi Marko
3. Polariskop
Polariskop je optiki ureaj u kome se izvodi analiza napregnutog modela uz odreivanje
stanja naprezanja (Slika 7).
Ravninski polariskop ima slijedee elemente : izvor svjetlosti (I.S.), difuzijsko staklo (D.S.),
polarizator (P), analizator (A) i kameru (K). Napregnuti model M izraen od fotoelastinog
materijala postavljen je u ravninski polariskop (slika 8).
Ako je model pravilno izraen i nema rubnog efekta vidjeti e se tamno polje. Kada se model
optereti materijal modela postaje dvoloman, pri emu nastaje optiki efekt to dovodi do
pojave tamnih odnosno svijetlih linija na modelu.
U odnosu na ravninski polariskop gdje su osi polarizatora i analizatora uvijek ukrtene, kod
krunog polariskopa postoje etiri mogua sluaja kombinacija polarizatora, analizatora i
etvrtvalnih ploa (slika 17.25).
Cvijovi Marko
Ulaskom svjetla u napregnuti model (slika 12), gdje se materijal modela ponaa kao
dvolomni kristal, dolazi do razlaganja svjetlosnog fluksa na dvije komponente 1 i 2 koje
titraju u pravcu 1 i 2.
Cvijovi Marko
Izokrome obiljeavaju mjesta jednake razlike glavnih naprezanja. Brojanjem izokroma mogu
se odrediti naprezanja u korijenu i na boku zuba. Razlika glavnih naprezanja proporcionalna
je rednom broju izokrome (n) a obrnuto porporcionalna debljini modela (b). [6]
S
1 2= n
b
Konstanta proporcionalnosti (S) naziva se fotoelastina konstanta. Ona se moe odrediti
prouavanjem jednostavnog modela-uzorka s poznatom slikom naprezanja a ovisi o
materijalu iz kojeg je izraen model i valnoj duini osvjetljenja. Iz tog razloga model-uzorak
mora biti izraen iz istog materijala i osvijetljen svijetlom iste valne duine kao i prouavani
model.
10
Cvijovi Marko
Nulta izokroma obiljeava mjesto na kojem je razlika glavnih naprezanja jednaka nuli, a
zatim slijedi prva,druga, trea izokroma, itd. Razlika glavnih naprezanja je proporcionalna
rednom broju izokrome. Kod osvjetljavanja s bijelim svjetlom, jedino je nulta izokroma
potpuno bijela (na negativu je crna), dok su ostale izokrome obojene razliitim bojama. Kod
osvjetljavanja s monokromatskim svjetlom izokrome mogu biti svijetle, a na negativu tamne
pruge.
Za izradu prostornih modela potrebno je da materijal ima :
1. visoku optiku osjetljivost (to nia fotoelastina konstanta),
2. linearnu ovisnost naprezanja i deformacija,
3. prozirnost,
4. dobru obradivost zbog izrade modela,
5. dovoljnu mehaniku i optiku izotropnost i
homogenost,
6. visok modul elastinosti kako bi se izbjegle
velike deformacije,
7. neosjetljivost na male promjene temperature,
8. vrlo mala ili da ne postoje prednaprezanja.
11
Cvijovi Marko
12
Cvijovi Marko
4. Zakljuak
Metoda fotoelasticimetrije ima mnoge prednosti u odnosu na druge metode eksperimentalne
analize napona. Ona omoguava ispitivau da mjeri deformacije povrine na djelovima i
strukturama bilo koje veliine, oblika pa i materijala koji se ispituje u stvarnim radnim ili
uslovima priblinim sobnoj temperaturi. Prednosti primjene fotoelastinosti su:
1. polje deformacija je vizuelno prikazano preko itavog polja obloge,
2. duina trake je priblino nula omoguavajui tano mjerenje napona,
3. moe se mjeriti skup deformacija,
4. dinamika analiza se moe vriti na dijelu ili na cijeloj konstrukciji,
5. mogu se odrediti zaostala naprezanja.
Fotoelasticimetrijski materijal za oblaganje se moe nanijeti na sloene zakrivljene povrine.
Ova metoda se najee primjenjuje kod krunih ploa nejednake debljine, kvadratnih ploa
oslonjenih na rubove itd.
13
Cvijovi Marko
Literatura
[1] http://hr.wikipedia.org/wiki/Vla%C4%8Dno_ispitivanje, 31.3.2015
[2] http://hr.wikipedia.org/wiki/Hookeov_zakon, 31.3.2015
[3] Alfirevi, I.: Nauka o vrstoi, Tehnika enciklopedija 9 svezak Laksikografski zavod
Miroslav Krlea, Zagreb 1974.
[4] http://www.enciklopedija.hr/Natuknica.aspx?ID=20241 , 31.3.2015
[5] https://www.hochschule-trier.de/index.php?id=spannungsoptik, 31.3.2015
[6] Materijali s predavanja Laboratorijske vjebe A
14