Analisis Granolumetrico

CAPTULO 21
ANLISIS GRANULOMTRICO
Anlisis Granulomtrico es la disciplina que estudia la composicin granular de

mezclas de partculas con el fin especfico de describir su tamao, su forma y
su distribucin de tamao. En general, las caractersticas de una partcula
individual no son de inters, ya que lo que se pretende es describir una representacin
del sistema de partculas. Sin embargo, no es posible describir el sistema si no
se conoce las propiedades de cada partcula. Una vez definidas estas
propiedades, se describe el sistema haciendo uso de conceptos estadsticos.
Fig. 2.1 Sistema de partculas.
La necesidad de utilizar diversos mtodos para la determinacin

experimental del tamao de las partculas, segn lo indique el rango de tamao,
impide el uso de una sola definicin de tamao de partcula y una sola funcin que
describa la distribucin de tamao del sistema. Esto complica los clculos y hace
necesario desarrollar frmulas de conversin entre los tamaos y las funciones
utilizadas por cada mtodo. Por otra parte, el uso de diferentes definiciones de
tamao y distribuciones, requiere la definicin de un tamao nominal de referencia, sin
el cual se produciran confusiones.
1
Fernando Cocha A.
Documento para uso personal solamente

1
2 aptulo 2 Anlisis Granulomtrico

C
Propiedades de Sistemas Particulados2
2.1 DESCRIPCIN DEL TAMAO Y FORMA DE UNA PARTCULA

El nico cuerpo geomtrico cuyo tamao se puede describir sin ambigedades
mediante un solo nmero es la esfera. Este nmero es su dimetro (o radio). Todos los
dems cuerpos tienen varias dimensiones lineales que podran ser consideradas
como su tamao. El caso es relativamente sencillo cuando se trata de describir el
tamao de cuerpos regulares, tales como el cubo o un paraleleppedo, pero la
situacin se complica cuando este se mide experimentalmente mediante algunos
mtodos.
En el caso de partculas irregulares, dentro de las cuales estn comprendidos los
minerales y rocas, los concentrados de menas y los polvos de metales, la situacin
se torna ms compleja y son muchas las dimensiones que podran describir el
tamao de las partculas.
El obtener el tamao de las partculas puede tener mltiples objetivos, pero
al final lo que se pretende es obtener una descripcin de la configuracin de la
partcula, esto es, el lugar que la partcula ocupa en el espacio. La
configuracin puede describirse mediante el volumen y la superficie de la partcula.
Es as como stas son las propiedades relevantes a conocer. Por ejemplo, si se desea
calcular la velocidad de reaccin que las partculas tendrn en un cierto proceso,
no es el tamao de las partculas lo que se desea saber, sino su superficie. Por otra
parte, si se desea conocer la fuerza que un fluido ejerce sobre un sistema de partculas
que est sedimentando, lo que interesa es el volumen de las partculas y no realmente
su tamao. De esta misma manera, se puede establecer, en cada caso particular, si es
el volumen, la superficie o el volumen y la superficie, en conjunto, las variables
relevantes.
2.1.1
Tamaos inducidos por las mediciones: dimetros
equivalentes
Existen diversos mtodos de determinar el tamao de partculas. Algunos de
ellos miden el volumen de las partculas, otros su superficie y otros su velocidad de
sedimentacin u otra propiedad. Cada uno de estos mtodos compara los resultados
obtenidos para la partcula con los que se obtendran con una esfera de tamao
equivalente y denominan a ese tamao de partcula el dimetro equivalente. Ver
figura
2.2.
Dimetro
volumtrico
equivalente
Consideremos dos partculas de igual volumen, una de forma irregular y la otra

de forma esfrica. El volumen de la esfera es:
V
d3v
entonces, el dimetro de la esfera de volumen V ser:

6
13
Fernando
Fernando Cocha
Cocha A.
A.
3 aptulo 2 Anlisis Granulomtrico

C
dv
Propiedades de Sistemas Particulados3

(2.1)
Fernando
Fernando Cocha
Cocha A.
A.
Si se determina el volumen V de la partcula, dv es el dimetro de una esfera

que tiene el mismo volumen que la partcula. Este tamao recibe el nombre de
dimetro equivalente volumtrico.
Fig. 2.2 Dimetros equivalentes.
Dimetro
superficial
equivalente
Consideremos dos partculas de igual superficie, una de forma irregular y la

otra de forma esfrica. La superficie de la esfera es:
2
dS
entonces, el dimetro de la esfera de superficie S ser:

dS
12
(2.2)
Si se determina el la superficie S de la partcula, dS es el dimetro de una

esfera que tiene el mismo la misma superficie que la partcula. Este tamao recibe el
nombre de dimetro equivalente superficial.
Dimetro
superficial
equivalente
volumtrico-
Consideremos dos partculas de igual superficie especfica, esto es, de igual

superficie por unidad de volumen, una de forma irregular y la otra de forma
esfrica. La superficie especfica de la esfera es:
S
V
d 2sv
6 d 3sv
6
d sv
entonces, el dimetro de la esfera ser:

(2.3)
6
S
Si se determina la superficie especfica S de la partcula, dsv es el dimetro de
una esfera que tiene la misma superficie por unidad de volumen que la partcula.
Este tamao recibe el nombre de dimetro equivalente volumtrico-superficial.
d sv
Dimetro
circular
equivalente
Consideremos dos partculas, cuyos permetros son iguales, una de forma

irregular y la otra de forma crculo. El permetro del crculo es:
Pc
dc
Pp
entonces, el dimetro del crculo ser:
Pp
(2.4)
dc
Si se determina el permetro Pp de la partcula, dc es el dimetro del crculo

que tiene el mismo permetro que la partcula. Este tamao recibe el nombre de
dimetro equivalente circular.
Dimetro
Stokes
equivalente
de
Consideremos dos partculas, una de forma irregular y la otra de forma

esfrica, que adquieren la misma velocidad de sedimentacin cuando se las
deposita en un recipiente con un fluido. La velocidad de sedimentacin de una
esfera pequea est dada por la ecuacin de Stokes:
2
1
dS g
u 18
entonces, el dimetro de la esfera
ser:
dS
18 u
g
12
(2.5)
Si se determina la velocidad de sedimentacin u de la partcula, dS es el

dimetro de una esfera que tiene la misma velocidad de sedimentacin el que la
partcula. Este tamao recibe el nombre de dimetro equivalente de sedimentacin o
dimetro de Stokes.
Ejemplo 2.1
Definir el dimetro equivalente de hidrodinmico d h
como el dimetro de una esfera
que sufre el mismo arrastre que la partcula durante la sedimentacin.

Un balance macroscpico sobre una partcula en sedimentacin es:
Fuerza gravitacional + Fuerza de empuje + Fuerza de arrastre = 0
Fg
de donde resulta que:
Fd
Fg Fe
g
Fe
p
Fd
Vp
Vp g
Vp g
Como la diferencia de densidades entre la partcula y el fluido,

gravedad son constantes, La fuerza de arrastre
Fd
, y la aceleracin de
depende solamente del volumen de la
partcula Vp . Esto significa que partculas del mismo volumen sufrirn el mismo arrastre
independiente de su forma. Por lo tanto, el dimetro equivalente hidrodinmico es igual
al dimetro equivalente volumtrico:
13
6
Vp
dh d v
2.1.2
Tamao nominal y factores de forma
La diversidad en la definiciones de tamao de partculas y dado que

hemos establecido que son la superficie y el volumen de una partcula lo que
realmente nos interesa, agreguemos a stos conceptos la longitud y establezcamos
como premisa que son necesarios cuatro parmetros para describir
granulomtricamente una partcula. El conjunto elegido es el tamao nominal, la
longitud, la superficie y el volumen de la partcula. Los tres ltimos, a su vez,
dependen del tamao nominal, y el conjunto lo
podemos escribiremos en la forma x, L(x),S(x ), V(x ) (Concha et al. 1973a).
Si suponemos que existe similitud geomtrica entre las diversas partculas,
lo que se manifiesta en que partculas de distintos tamaos tienen la misma
forma, es posible definir tres parmetros, constantes para cada material, el factor de
forma lineal A , el factor de forma superficial s y el factor de forma volumtrico v
, tal que se
cumpla:
L(x)
x,
S(x)
x2 ,
V(x)
x3
(2.6)
Es as como el sistema de cuatro variables x, L(x),S(x ), V(x ) puede ser

x, A , s , v , constituido por una
sustituido ventajosamente por el nuevo
sistema
variable, el tamao nominal, y tres parmetros constantes, los factores de forma.
La eleccin del tamao nominal es totalmente arbitraria para un sistema
de partcula, pero una vez escogido, debe ser utilizado para todo el sistema. Dos son
los
tamaos nominales ms utilizados, el tamao de Feret y el tamao de Martn. Estos

tamaos provienen de la medicin de partculas al microscopio. Se denomina
tamao de Feret la distancia entre dos lneas paralelas y tangentes a la partcula,
trazadas perpendicularmente a la direccin de la medicin. El tamao de Martn es la
distancia en la direccin de la medicin entre paralelas, perpendiculares a la direccin
de la medicin, que dividen la imagen proyectada de la partcula en dos partes iguales.
Ver figura 2.3.
Tamao de Feret
x
Tamao de Martin
Direccin de la medicin
Fig. 2.3 Tamaos nominales de Feret y Martn.
Debemos estar conscientes que en todo estudio microscpico se observa

cortes de una partcula y las nicas mediciones posibles son en estas secciones planas
bidimensionales. Existe un amplio campo de estudio, llamado estereologa, que
permite proyectar a tres dimensiones los resultados de mediciones hechas en secciones
planas. En este captulo no entraremos en esos detalles y utilizaremos el tamao
de Feret como tamao nominal.
En algunos casos es conveniente reemplazar, o complementar, los parmetros
definidos por (2.6) con la superficie proyectada de una partcula Sp sobre un plano, tal
que:
Sp
x2
(2.7)
2.1.3
Relaciones entre dimetros equivalentes y el tamao nominal
Con las definiciones de las dos secciones anteriores se puede relacionar

los dimetros equivalentes con el tamao nominal. Reemplazando las expresiones de
S(x) y V(x) desde (2.6) en (2.1), (2.2) y (2.3) se obtiene, respectivamente:
d
13
v
x,
12
x, d
(2.8)
sv
s
13
12
d
6
d
v
s
s
(2.9)
sv
2.2 DESCRIPCIN DE LA FORMA DE UNA PARTCULA

Las partculas, en general, poseen formas irregulares, por lo que un
anlisis granulomtrico no se debe restringir al tamao de las partculas sino
que debe contemplar tambin su forma. Tal como para el tamao existe un gran
nmero de parmetros que miden la forma de las partculas (Jones y Barbery 1975),
pero en su
mayora, pueden ser derivados del conjunto
x, A , s , v (Concha et al
fundamental
1973b). Mencionaremos solamente dos ejemplos, la esfericidad y la circularidad,
el primer caso para un sistema tri-dimensional y el segundo para uno bi-dimensional.
Cuando se desea una descripcin muy precisa de la forma de la partcula
se recurre al anlisis de Fourier. Este mtodo (Ehrlich y Weinberg 1970) consiste
en describir la superficie de las partculas mediante un vector, con origen en el centro
de masa de la partcula, que depende de los dos ngulos de las coordenadas esfricas
y
. Para una partcula esfrica el radio es una constante y para partculas irregulares se
puede expresar como una suma de trminos denominados armnicas esfricas.
Como la determinacin de los coeficientes de esta serie, denominada serie de Fourier,
es muy difcil, se recurre a la representacin bi-dimensional de la imagen de la
partcula. En este caso, se representa la periferia de la imagen mediante un vector
formado por una serie de Fourier trminos del ngulo de las coordenadas cilndricas.
2.2.1
Esfericidad
Se denomina esfericidad (Wadell 1935), y se la designa mediante el smbolo

, a la razn entre la superficie de una esfera Se y la superficie de una partcula Sp
que
tienen el mismo volumen
Vp . Entonces:
Ve
Se
Se Ve
Se
S p S p Vp
Sp
(2.10)
donde Se y Sp son las superficies especficas de la esfera y de la partcula.

Reemplazando (2.3) tanto en el numerador como en el denominador de (2.10), resulta:
d sv
(2.11)
6 dv
dv
6 dsv
Finalmente usando las expresiones (2.8) obtenemos finalmente:
36
13
23
v
(2.12)
2.2.2
Anlisis de Fourier
Para una imagen plana, por ejemplo para una imagen obtenida al microscopio,
el radio vector R se puede expresar en coordenadas cilndricas como una funcin del
ngulo (Schwarcz and Shane 1969):
R
R0
R n cos n
(2.13)
n
n 1
donde R0 es una constante igual al radio del crculo con igual rea que la partcula,
Rn es la amplitud de la armnica, es el ngulo polar y es el desfase. El centro del
radio R( ) es el centro de gravedad de la figura, el que se puede obtener dividiendo la
figura en polgonos y obteniendo el centro de gravedad de stos.
Para el ejemplo de la figura 2.4 se usaron tres armnicas con la ecuacin:
o
0.13 cos 3 174
o
R
1 0.18 cos 2 148
Fig. 2.4 Partcula representada por una serie de

Fourier con tres armnicas.
En general, las armnicas de bajo orden dan la forma a la imagen y las

armnicas de alto orden dan los detalles ms pequeos de la forma, a los cuales se les
denomina rugosidad. Es comn trabajar con 20 armnicas y, en algunos casos,
hasta
70.
a) Armnica de segundo orden.
b)Armnica de quinto orden.
Fig. 2.5 Efecto del orden de las armnicas en la simulacin de la rugosidad.
2.3 DISTRIBUCIN DE TAMAO DE UN SISTEMA PARTICULADO

Una vez definido el tamao nominal de una partcula, es necesario
cuantificar con qu abundancia aparece este tamao en el sistema particulado. Para
ello se utiliza las funciones frecuencia y funciones distribucin del sistema. (Hatch,
T. and Choate
1929).
2.3.1
Medidas de la distribucin
La funcin frecuencia se define de manera tal, que la frecuencia relativa

f (x)dx tiene el siguiente significado ver figura 2.6:
probabilidad de encontrar en el sistema particulado una particula de
tamao f (x)dx
comprendido entre x y x+dx, o
fraccion de particulas del sistema con tamaos comprendidos entre x y x+dx

30
Funcin frecuencia relativa
25
20
15
10
0
0.0
10.0
20.0
30.0
40.0
50.0
60.0
70.0
Tamao de partcula en micrones
Fig. 2.6 Funcin frecuencia y frecuencia relativa.
80.0
Si extendemos el rango de tamao de las partculas a 0 x

probabilidad de encontrar una partcula de tamao x es 1, es decir:
0
, la
(2.14)
f (x )dx 1
Esta expresin recibe el nombre de condicin de normalizacin, y asegura que

la funcin frecuencia est expresada como fraccin.
Restringiendo el rango de partculas de tamao a 0
x , podemos
definir una segunda funcin F(x), denominada funcin distribucin, con el
siguiente
significado, ver figura 2.7:
probabilidad de encontrar en el sistema una particula con tamao
F(x)
menor a x, o
fraccion de particulas en el sistema con tamao menor a x.
x
dF(x )
y
f (x)
F(x) 0 f ( )d
dx
(2.15)
El complemento a la funcin distribucin F(x) se denota por R(x) y queda

representada por:
R (x)
f ( )d ,
con
(2.16)
F(x) R (x) 1
Las figuras 2.7 y 2.8 muestran la representacin grfica de las ecuaciones F(x) y R(x).
100.0
Funcin distribucin inversa F(x)
90.0
80.0
70.0
60.0
50.0
40.0
30.0
20.0
10.0
0.0
10.0
20.0
30.0
40.0
50.0
60.0
Tamao de partcula x en micrones
70.0
80.0
Fig. 2.7 Funciones distribucin acumulativa inversa F(x).
100.00
Funcin distribucin directa R(x)
90.00
80.00
70.00
60.00
50.00
40.00
30.00
20.00
10.00
0.0
10.0
20.0
30.0
40.0
50.0
60.0
70.0
80.0
Fig.2.8 Funcin distribucin acumulativa R(x).
2.3.2
Parmetros de la distribucin
La distribucin de tamaos de un sistema particulado se puede

caracterizar mediante dos parmetros, el valor medio , que mide la tendencia
2
central, y la varianza
, que mide la dispersin de la distribucin. Ambos
parmetros pueden ser escritos en la forma:
2
x
f (x)dx
(2.17)
2
xf (x)dx
La raz de la varianza recibe el nombre de desviacin estndar .

En ocasiones se utiliza como medida de dispersin el coeficiente de
variacin Cv, definido como el cuociente entre la desviacin estndar
y el valor
medio del sistema particulado:
Cv
(2.18)
Otro parmetro usado frecuentemente es la media de la distribucin. Designada

por x 50 , la media es el valor de la variable x que resulta en un
F(x 50 ) 0.5 . Esta
valor
designacin se puede generalizar definiendo como x al valor de x que resulta en una
funcin distribucin de 0.01
:
F(x ) 0.01
2.3.3
(2.19)
Funciones frecuencia inducidas por la medicin
Los mtodos de medicin de la funcin frecuencia, tales como el tamizaje o

el cuenteo al microscopio, introducen una complicacin, ya que las mediciones
entregan
la funcin frecuencia en unidades diferentes. Por ejemplo, el tamizaje mide el peso (o

volumen) de las partculas en un cierto rango, mientras que el cuenteo al microscopio
mide el nmero de partculas en el rango. Por esta razn se hace necesario
encontrar una forma de convertir los resultados obtenidos mediante un mtodo en
los obtenidos con otro. Con este objetivo se define las siguientes frecuencias relativas:
f 0 (x)dx
numero de particulas con tamaos entre x y x+dx
f1 (x)dx
longitud de particulas con tamaos entre x y
x+dx
f 2 (x)dx
sup erficie de particulas con tamaos entre x y x+dx
f3 (x)dx
volumen de particulas con tamaos entre x y x+dx
Debemos dejar explcita la restriccin que estas

solamente para un material uniforme y homogneo
definiciones
son vlidas
Como cada funcin frecuencia debe cumplir la condicin de

normalizacin, ecuacin (2.14), se debe cumplir:
x
f (x)dx 1 ,
0
f ( )d ,
R (x)
f ( )d ,
f (x)
dFj (x ) (2.20)
F (x)
dx
donde j=0, 1, 2 y 3.
La relacin entre las diversas funciones frecuencia se deriva de su
propia definicin, ya que las partculas de un sistema cuyo tamao se encuentra
comprendido
entre x y x+dx, tendrn una longitud total f1 (x)dx igual al nmero de partculas,
f 0 (x)dx multiplicado por la longitud de las partculas de tamao x, L(x) y por
un factor 1 , que da cuenta del hecho que no todas las partculas en el rango entre
x y x+dx tienen exactamente la longitud L(x) . Similarmente se puede analizar los
casos de superficie y volumen. Entonces:
f1 (x)dx 1 L(x)f 0 (x)dx
(2.21)
Longitud:
Superficie:
f 2 (x)dx
S(x)f0 (x)dx
(2.22)
Volumen:
f3 (x)dx
V(x)f 0 (x)dx
(2.23)
Los parmetros
se pueden obtener integrando las expresiones (2.21) a (2.23):
L(x)f0 (x)dx 1
1
1
1
0
S(x)f0 (x)dx 1
V(x)f 0 (x)dx 1
3
L(x)f 0 (x)dx
1
(2.25)
S(x)f0 (x)dx
1
(2.24)
V(x)f 0 (x)dx
(2.26)
Reemplazando (2.24) a (2.26) en (2.21) a (2.23) y tomando en cuenta que L(x), S(x) y
V(X) se pueden expresar mediante la ecuacin (2.6), obtenemos finalmente:
A xf (x)
0
f1 (x)
0
f (x)dx
xf 0 (x)
f1 (x)
0
xf 0 (x)dx
xf0 (x)dx
f 3 (x)
x 30f (x)
3
x f 0 (x)dx
son constantes, las ecuaciones se simplifican a:
Ax 0
como los factores de

forma
x 20f (x)
f 2 (x)
v
x 2 f0 (x)
f 2 (x)
0
x 2 f0 (x)dx
x 3 f0 (x)
f 3 (x)
0
x 3 f0 (x)dx
(2.27)
Estas relaciones se pueden generalizar mediante cualquiera de las

siguientes relaciones:
x jf0 (x)
f j (x)
0
2.3.4
x jf0 (x)dx
x j k fk (x)
f j (x)
0
x j k fk (x )dx
(2.28)
Momentos y tamaos promedios de una distribucin

De las expresiones (2.24) a (2.26) se puede observar que:
1
L(x)
S(x )
V(x)
L(x)f 0 (x )dx
S(x)f0 (x)dx
V(x)f 0 (x)dx
Utilizando las definiciones (2.6) y comparando con la expresin (2.17), podemos

denominar tamaos promedio lineal, promedio superficial y promedio volumtrico a
las expresiones:
L
xf 0 (x)dx x10
(2.29)
A
0
S
V
x 2 f 0(x)dx
x 3 f 0(x)dx
2
x 20
3
x 30
(2.30)
(2.31)
La designacin de x10 , x 20 y x proviene del hecho que los exponentes de x son 1, 2 y

30
3 y el suscripto de f(x) es 0, en las integrales de (2.29) y de (2.31).
Es lgico que la designacin de los promedios se puede generalizar usando

el valor i=1, 2, 3,.... para el exponente de x y el valor j=0, 1, 2, 3,.... para
el suscripto de f(x), dando como resultado la expresin:
x ij
x i f j (x)dx
1i
(2.32)
Esta expresin i
j momentos de la distribucin. Slo algunos de estos
momentos tienen significado fsico. Ya hemos utilizado los valores de j=0 e i=1,2,3
para definir los promedios lineal, superficial y volumtrico, segn (2.29) a (2.31).
Otros momentos
importantes resultan para i=1 y 4 y j=0, 2 y
3.
La funcin frecuencia con el valor de j=2 corresponde a una distribucin
en superficie, por lo que este promedio est relacionado con la superficie promedio del
sistema de partculas.
(2.33)
x12 0 xf 2 (x)dx
i 1, j 2
La funcin frecuencia con el valor de j=3 corresponde a una distribucin en
volumen, por lo que este promedio se lo denomina promedio lineal-volumtrico
o promedio en peso.
(2.34)
x13 0 xf3 (x)dx
i 1, j 3
La funcin frecuencia con el valor de j=0 e i=4, no corresponde a
ningn promedio, pero el momento es importante porque aparece en el clculo del
promedio lineal-volumtrico, como veremos luego.
x 40
i 4, j 0
x 4 f0 (x)dx
(2.35)
0
2.3.5
Dimetros equivalentes de una distribucin
En la misma forma como se defini los dimetros equivalentes para una

partcula, se los puede definir para un sistema de partculas de diversos
tamaos, sustituyendo la propiedad pertinente por su valor promedio en el sistema. As
podemos escribir:
Dimetro equivalente
volumtrico:
Dimetro equivalente
superficial:
dv
13
(2.36)
s 12
x
s
Dimetro equivalente
volumtrico-
x 30
(2.37)
20
(2.38)
Superficial:
sv
12
s
2.3.6
Relacin entre los tamaos promedio
Es conveniente disponer de ecuaciones para convertir un promedio en otro.

Para ello reemplacemos las expresiones (2.28) en (2.32) para obtener:
x
i
ij
0
0
i
ij
0
0
i j
f0 (x)dx
i j
xi j,0
x jj,0
x jf0 (x)dx
x
i j k
k
f (x)dx
x j k fk (x)dx
Ejemplo 2.2
Encontrar la relacin entre los promedio
i
i j
j
j
x
x
(2.39)
j k
k ,k
k
k ,k
(2.40)
x12 y x13 y los promedios lineal x10 ,
superficial x , volumtrico x momento x , segn (2.29) a (2.35). Usemos la expresin

30
20
40
(2.39) con i=1, j=2 y 3 y k=0:
3
x 30
x
xf (x)dx
(2.41)
12
2
0
x 220
4
x13
xf3 (x)dx
x 40
x 330
La relacin (2.41) muestra que el tamao promedio x 12
(2.42)
es igual al cuociente entre los
tamaos promedio volumtrico y superficial. Por esta razn este tamao recibe el nombre de
tamao promedio volumtrico-superficial.
2.3.7
Varianza de una distribucin
De acuerdo a la definicin de varianza, segn (2.17), para una funcin

frecuencia f j (x) podemos escribir (Leschonski y Koglin 1974a):
2
j
x x1j f j (x)dx
(2.43)
Reemplazando f j (x) desde (2.28) obtenemos las dos expresiones:

2
2
j
x x 1j x jf 0(x)dx
0
2
j
x jf0 (x)dx
x x1j
0
x j k f k (x)dx
x j k fk (x)dx
(2.44)
(2.45)
2.3.8
Superficie especfica de una distribucin
En forma similar a como definimos la superficie especifica de una partcula,

podemos definir la superficie especfica de un sistema particulado como la superficie
promedio por unidad de volumen promedio del sistema.
S
x 220
3
v x 30
S(x )
V(x)
x12
(2.46)
Debido a que la superficie especfica se determina generalmente midiendo

la permeabilidad del sistema, el tamao promedio dimetro volumtrico superficial
se
denomina tambin, dimetro de permeabilidad, y se lo designa por d k ( d sv , ver
ecuacin (2.38)).
(2.47)
6
v
d
6
x
k
12
s
2.4 REPRESENTACIN EMPRICA DE UNA DISTRIBUCIN

La medicin de las funciones frecuencia y distribucin de un sistema
particulado y su representacin grfica, ha requerido establecer ecuaciones
empricas que describan la distribucin y permitan calcular los parmetros esenciales.
No todas las ecuaciones que se ha propuesto, y que se usan en la prctica, cumplen
este requisito, como veremos en esta seccin. Las funciones ms utilizadas son (1) la
distribucin de Schuhman, (2) la distribucin de Rosin-Rammler, (3) la
distribucin de Tres Parmetros, (4) la frecuencia normal, (5) la frecuencia
logaritmo-normal y (6) la distribucin Gamma.
2.4.1
Funcin distribucin de Schuhman
La funcin de Schuhman, tambin conocida como funcin distribucin de GatesGaudin-Schuhman, es la funcin matemtica ms utilizada en Amrica
para representar la distribucin de un sistema particulado en Mineralurgia. La funcin
se utiliza, generalmente, para representar la distribucin en volumen F3(x),
ms comnmente denominada distribucin en peso, segn:
x m
(2.48)
F3 (x)
k
donde k es el tamao mximo de la distribucin y recibe el nombre de mdulo de
tamao y m es el valor de la pendiente en un grfico
log F3 (x) versus log x , y
de
recibe el nombre de mdulo de posicin. Tomando el logaritmo de (2.48) se obtiene:
log F3 (x) m log x m log
k
Funcin distribucin F3(x)
k=100
0.1
m=0.8
0.01 1
10
Tamao x
100
1000
Fig. 2.9 Funcin de distribucin de Schuhman, segn (2.48)

para k=100 y m=0.8.
Los parmetros k y m son:

k
xF3 ( x )
log F3 ( x 2 ) log F3 (
x1)
(2.49)
log x 2 log
x1
La funcin frecuencia del sistema se calcula de (2.15):m
dF3 ( x ) m x
dx
k k
f 3 (x)
(2.50)
El defecto de esta funcin frecuencia es que no tiene un mximo, como se ve en

la figura siguiente.
Captulo 2 Anlisis Granulomtrico

18
Particulados
Funcin frecuencia f 3(x)
0.020
Propiedades de Sistemas
18
m<1
m=1
m>1
0.015
0.010
0.005
0.000 0
200
400
600
800
1000
1200
Tamao x en micrones
Fig. 2.10 Funcin frecuencia de Schuhman f3(x) segn ecuacin (2.50).
Los principales parmetros de la distribucin pueden ser obtenidos desde su

definicin:
m
k m
m
(2.51)
Tamao x13 :
x13 0 xf 3 (x)dx 0
x dx k m 1
m
k
k m
f3 (x)
m 1 x m 21
m 2
1
Tamao x12 :
(2.52)
dx
x dx
m 1k k
0
12
0
0
m 1
k si m 1
k
si m 1
si m 1
Varianza
2
3
x x13 f 3 (x)dx
m
m 2
mk
m 1
m x
k k
m 1
dx
m
m 1
k2
(2.53)
Obviamente el valor del tamao volumtrico-superficial no es satisfactorio,

ya que dara una superficie especfica infinita para valores de m 1 . Se puede
concluir, que la funcin de distribucin de Schuhman sirve solamente para
representar
grficamente datos experimentales, pero no se puede hacer clculos con los

parmetros obtenidos de la funcin.
2.4.2
Funcin distribucin de Rosin-Rammler
La funcin distribucin ms utilizada en Europa para describir la distribucin

en peso es la de Rosn-Rammler. Esta funcin tiene la siguiente forma:
m
x
(2.54)
F3 (x) 1 exp
x0
donde x0 es el tamao caracterstico y m es el coeficiente de uniformidad. Es fcil
x
x 0 la funcin de Rocndemostrar que para partculas pequeas, esto es,
para
Rammler se transforma en la distribucin de Schuhman. Efectivamente,
expandiendo en serie de potencial el exponencial tenemos:
m
2m
3m
x
1 x
1 x
......
F3 (x) 1 1
x0
2 x0
3! x 0
Para pequeos valores de x, se puede conservar solamente el primer
trmino, obtenindose la funcin de Schuhman con k x 0 .
La funcin frecuencia es:
f 3 (x)
m 1
x0 x0
esp
(2.55)
x0
Esta funcin frecuencia presenta un mximo solamente para valores de

m>1, como se ve en la figura 2.11.
Con el objetivo de graficar la funcin de distribucin de Rosin-Rammler,
se acostumbra hacer la siguiente transformacin:
m
x
R 3 (x) 1 F3 (x)
x0
exp
Invirtiendo y tomando el logaritmo natural tenemos:

20
Particulados
20
Funcin frecuencia de Rosin-Rammler
0.03
m=0.8
m=1
m=1.2
0.02
0.01
0
0
50
100
Tamao en micrones
Fig. 2.11 Funcin frecuencia de Rosin-Rammler para x0=100

micrones y m=0.8, 1 y 1.2.
1
ln
R 3 (x)
x
x0
Tomando ahora logaritmo decimal resulta:

m log x m log x
1
log ln
R 3 (x) 0
(2.56)
Graficando esta expresin en un papel especial, denominado papel RosinRammler, definido como loglog recproco (0.1 a 99.9) x tres ciclos log se obtiene la
figura 2.12.
F (x ) 0.3679 y m es la pendiente de la
El parmetro x0 corresponde al valor de 3 0
recta.
Los principales parmetros de la distribucin son:
Tamao x13 :
x13
El tamao x12 es:
La
varianza es
2
2
3
x12
:
2
3
x0
m 1
m
x0
m 1
x
0
(2.57)
(2.58)
m 2
m
m 1
m
(2.59)
Fig. 2.12 Funcin distribucin en papel de Rosin-Rammler.
2.4.3 Funcin frecuencia normal

Datos experimentales de anlisis granulomtrico al microscopio, que miden el
nmero de partculas, dan muchas veces una distribucin normal. Ese no es el caso de
mediciones de superficie o masa. Para la distribucin normal, la frecuencia y
distribucin estn dadas por:
Frecuencia:
f 0 (x)
1
1
2
exp
1 x
con
La figura 2.13 muestra una curva de frecuencia probabilstica.
f (x )dx
(2.60)

22
Particulados
Fig. 2.13 Curva de frecuencia probabilstica.
x
F0 (x)
Funcin distribucin:
exp
22
(2.61)
Donde los parmetros

a continuacin.
son el valor medio y la varianza, como se ver
El valor de la integral (2.61) para varios valores de x

la tabla siguiente.
se muestra en
Tabla 2.1 Tabla de la integral de probabilidad normal

x
F0 (x)
0
1 exp
0.5000
0.5
0.6915
1.0
0.8413
1.5
0.9332
2.0
0.9772
3.0
0.9987
4.0
0.99997
De la tabla se puede observar que para x

la mediana de la distribucin:
x 50
, F(x)=0.5. esto significa que
representa
(2.62)
Por otra parte para

x
Por esta razn podemos

escribir
1 , F(x)=0.8413.
x84.31
x50
x 84.31 x 50
Los tamaos promedio y la varianza son:
1 , de donde se puede calcular :
(2.63)
Tamao x10 :
Tamao x 20 :
Tamao x 30 :
Momento x 40 :
x10
x 20
x 30
x 30
(2.64)
(2.65)
2
1 3
(2.66)
2
1 6
3
2
Tamao x13 :
1 6
x13
(2.67)
4
(2.68)
1 3
2
Tamao x12 :
1 3
x12
(2.69)
2
1
De las expresiones (2.62) y (2.64) se desprende que el valor medio y la media
son iguales para la distribucin normal.
x 50 x x10
(2.70)
Media x 50 :
Varianza:
2
0
Esta expresin muestra que

distribucin.
x20 x102
2
(2.71)
es la varianza de la
El defecto de esta funcin distribucin es que tiene como valor mnimo en vez de cero.
2.4.4
Funcin frecuencia logaritmonormal
Ha sido demostrado por varios autores (Hatch and Choate, 1929, Epstein 1947,
1948) que el tamao de productos de la fracturacin de slidos de origen
mineral
producen una distribucin logaritmo-normal, esto es, el logaritmo del tamao est
distribuido normalmente. Por otra parte, es fcil demostrar que si un sistema de
partculas tiene una distribucin normal en nmero, tambin lo tendr en cualquiera
de
las otras formas de medir la probabilidad, longitud, superficie o volumen.

Las funciones frecuencia y distribucin estn dadas por:
2
1
ln x
f j (x )dx
exp
(2.72)
Funcin frecuencia:
2 ln
Normalizacin:
Funcin distribucin:
(2.73)
f j (x )dx 1
Fj (x)
donde los parmetros

a continuacin.
ln 2
x
0
1
2 ln
exp
ln x
ln 2
dx
(2.74)
son el valor medio y la varianza, como se ver
30
Frecuencia relativa f(x)
25
20
15
10
0
1.0
10.0
100.0
Fig. 2.14 Frecuencia logaritmo-normal
Los tamaos promedio y la varianza son:

1
x
Tamao x10 :
ln
ln 10
2
Tamao x 20 :
ln
Tamao x 30 :
ln
Momento x 40 :
ln
x 20
x 30
x 40
ln
3
2
ln
ln
(2.75)
(2.76)
(2.77)
(2.78)
Tamao x13 :
Tamao x12 :
5
2
ln
ln x12
ln
x
x
2.4.5
Gamma
Funcin
(2.79)
(2.80)
x 50
Media x 50 :
Varianza:
2
x13
ln
(2.81)
x10
2
20
(2.82)
10
distribucin
La distribucin Gamma ha sido propuesta por diversos autores como una adecuada
representacin de la granulometra de un sistema particulado producido por
reduccin o crecimiento de tamao (Becke 1964, Randolph y Larson 1971). Las
funciones de frecuencia y distribucin son:
z a exp z
a
a
a
a b a
f 3 (x)
(2.83)
x exp
x
con z
x
a 1 b
b
a 1
b
x
F (x )
3
a 1
a b
a 1
a
exp
dx
P a 1, z
(2.84)
Normalizacin:
0
f 3 (x)dx 1
Los tamaos promedio resultan ser:

b
a 1
x13 a
x12
(2.86)
(2.87)
De estas dos expresiones se obtiene el valor de los parmetros a y b:

y b x12
x12
a
x13
(2.85)
(2.88)
x12
Esto significa que los parmetros a y b pueden ser obtenidos directamente de los datos
experimentales calculando los
x12 y x13 .
promedios
La tabla 2.3 muestra valores para la funcin Gamma
2.5
DISTRIBUCIN DISCRETA DE TAMAOS
En las secciones anteriores hemos supuesto implcitamente que el tamao es

una variable continua y hemos usado esta propiedad para integrar o derivar las
funciones frecuencia o distribucin de tamao respectivamente. Sin embargo, los
mtodos disponibles para medir experimentalmente la distribucin de tamaos de un
sistema particulado entregan datos en forma discreta, esto es, miden la fraccin de
partculas contenidas en sucesivos intervalos finitos.
2.5.1
Definiciones
Consideremos, por ejemplo, fracciones de partculas contenidas entre
tamaos con valores xa y xb. Si estos intervalos son suficientemente cercanos se
puede definir una variable frecuencia relativa discreta fab definida por:
xb
F xa
(2.89)
f (x)dx F x
f ab
b
xa
Si evaluamos la integral mediante el teorema del valor medio, resulta:

Tabla 2.3 Valores de la funcin Gamma
n
1.00
1.01
1.02
1.03
1.04
1.05
1.06
1.07
1.08
1.09
1.10
1.11
1.12
1.13
1.14
1.15
1.16
1.17
1.18
1.19
1.20
1.21
1.22
1.23
1.24
(n)
1.00000
0.99433
0.98884
0.98355
0.97844
0.97350
0.96874
0.96415
0.95973
0.95546
0.95135
0.94740
0.94359
0.93993
0.93642
0.93304
0.92980
0.92670
0.92373
0.92890
0.91817
0.91558
0.91311
0.91075
52.00000
n
1.25
1.26
1.27
1.28
1.29
1.30
1.31
1.32
1.33
1.34
1.35
1.36
1.37
1.38
1.39
1.40
1.41
1.42
1.43
1.44
1.45
1.46
1.47
1.48
1.49
(n)
(n)
0.90640
0.90440
0.90250
0.90072
0.89904
0.89747
0.89600
0.89464
0.89338
0.89222
0.89115
0.89018
0.88931
0.88854
0.88785
0.88726
0.88676
0.88636
0.88604
0.88581
0.88566
0.85560
0.88563
0.85575
0.85595
n
1.50
1.51
1.52
1.53
1.54
1.55
1.56
1.57
1.58
1.59
1.60
1.61
1.62
1.63
1.64
1.65
1.66
1.67
1.68
1.69
1.70
1.71
1.72
1.73
1.74
(n)
0.88623
0.88659
0.88704
0.88757
0.88818
0.88887
0.88964
0.89049
0.89142
0.89243
0.89352
0.89468
0.89592
0.89724
0.89864
0.90012
0.90167
0.90330
0.90500
0.90678
0.90864
0.91057
0.91258
0.91467
0.91683
n
1.75
1.76
1.77
1.78
1.79
1.80
1.81
1.82
1.83
1.84
1.85
1.86
1.87
1.88
1.89
1.90
1.91
1.92
1.93
1.94
1.95
1.96
1.97
1.98
1.99
2.00
Para otros valores de n, use la tabla y haga sucesivas aplicaciones de la

siguiente relacin:
n 1 n (n) .
(n)
0.91906
0.92137
0.92376
0.92623
0.92877
0.93138
0.93408
0.93685
0.93969
0.94261
0.94561
0.94869
0.95184
0.95507
0.95838
0.96177
0.96523
0.96877
0.97240
0.97610
0.97988
0.98374
0.98768
0.99171
0.99581
1.00000
F xb
f x ab
donde
x ab
(2.90)
F xa
xb xa
es el valor medio del tamao en el
intervalo
x b x a . Entonces la
frecuencia relativa fab queda definida por:

f x ab x
f ab
(2.91)
Supongamos que un mtodo de anlisis granulomtrico separa el sistema

particulado en n fracciones de tamaos. Es costumbre utilizar el ndice i para las
funciones de tamao discretas. Denominaremos rango de tamao los valores
extremos de tamao que separan dos fracciones contiguas. Por ejemplo las fracciones
fi-1 y fi describen el tamao xi, tamao superior del rango y las fracciones fi y fi+1
describen el tamao xi+1, tamao inferior del rango. Ver figura 2.15.
x i x i x i 1 , con x i x x i 1 . El sistema completo lo
El rango se escribe
dividiremos en n rangos de tamao, con x0 como el tamao mayor y xn como el tamao
menor, segn se muestra en la figura 2.16. El tamao promedio del
x i recibir
rango
la designacin x i , tal que
f xi xi .
fi
xi
fi-1
xi+1
fi+1
fi
k=i
k=i+1
Fig. 2.15 Definicin de rango de tamao.
Fi
Ri
xi
f0
f1
k=1
fi-1
f2
k=2
k=3
fi
k=i-1
k=i
fi+1
k=i+1
fn-2
k=i+2 k=n-3
fn-1
k=n-2
fn
k=n-1
k=n
Fig. 2.16 Sistema particulado divido en n rangos de tamao.
Tal como se muestra en la figura 2.16 todos los tamaos menores al tamao xi
reciben la designacin Fi y todos los tamaos mayores a xi se designa por Ri.
Entonces, la frecuencia discreta relativa fi y distribucin discreta relativa Fi quedan
definidas por:
x i con
x xi xi
(2.92)
fi f x i
1
i
fi
F(x i ) Fi
fi
... fn
k n
fn
(2.93)
fk
k i
La funcin Fi recibe la calificacin de acumulativa inversa, porque suma todas las

fracciones menores a xi. Definamos la funcin distribucin acumulativa directa Ri a la
suma de todas las fracciones mayores a xi , tal que:
Ri
1
(2.94)
Fi
entonces:
f 0 f1 f 2 ... f i
R i 1 F1
fi 1
k i 1
(2.95)
fk
k 0
Por supuesto que todas las mediciones, ya sean en nmero, lineal, superficial
o en volumen (peso) pueden usar el sistema de distribucin discreta y pueden
ser descritas por las funciones empricas desarrolladas en la seccin anterior.
La figura 2.17 muestra las funciones de frecuencia y distribucin discretas.
30
Funcin distribucin inversa F
Frecuencia f0(xi)
120.0
20
10
2.0-
2.8-
4.0-
5.6-
8.0-
11.2- 16.0- 22.4- 32.0- 44.8- 64.0-
1.4-
2.0
2.8
4.0
5.6
8.0
11.2
16.0
22.4
32.0
44.8
Rango de tamaos en micrones (xi-xi+1)
Funcin frecuencia discreta
64.0
89.6
100.0
80.0
60.0
40.0
20.0
8.0-
11.2-
16.0-
22.4-
32.0-
44.8-
64.0-
11.2
16.0
22.4
32.0
44.8
64.0
89.6
1.4-
2.0-
2.8-
2.0
2.8
4.0
4.0-
5.6-
5.6
8.0
Rango de tamao en m icrones
Funcin distribucin discreta
Fig. 2.17 Funciones discretas de distribucin de tamao de un sistema particulado.
2.5.2 Tamao de la malla

La forma ms comn de realizar un anlisis granulomtrico es someter al
sistema particulado a la accin de la fuerza de gravedad en una serie de
tamices colocados uno encima del otro El mayor tamiz se encuentra en la parte
superior y cada tamiz que le sigue tiene una malla con abertura menor que el anterior..
Las partculas pasan por las aberturas de los tamices o son retenidas por ste de
acuerdo a su tamao. Si se utilizan n tamices, el sistema de partculas queda
separado en n tamaos. Las definiciones (2.92) a (2.95), asociadas a la figuras
2.16, son vlidas para este mtodo de medicin. La figura 2.18 muestra una variante
de la figura 2.16 para el caso de tamizaje.
k=0
k=1
f0
f1
Ri
k=2
k=i-1
k=i
k=i+1
fi-1
fi
fi+1
Fi
k=n-2
k=n-1
fn-1
fn
k=n
Fig. 2.18 Distribucin discreta de tamaos en un tamizaje.
Los tamices utilizados en anlisis granulomtrico estn estandarizados en

cuanto a la relacin entre las aberturas de sucesivos tamices. Se denomina Serie
Normal, aquella serie de tamices en que el rea de la abertura de un tamiz es 2 veces
el rea de la abertura del tamiz que le sigue. Como las aberturas de estos tamices son
cuadradas,
la distancia entre los alambres que forman una abertura est en razn de 2 con la
distancia en el tamiz siguiente. Debido a esta relacin geomtrica entre las distancias
lineales de las aberturas de sucesivos tamices, el tamao promedio de las partculas
atrapadas entre dos tamices se define como el promedio geomtrico entre estas
distancias:
xi
xi xi1
(2.96)
Como en una serie normal de tamices se cumple x
2x i 1 , el tamao promedio es:
x
i
(2.97)
x
0.841x
Se denomina Serie Doble, aquella serie de tamices en que el rea de la

abertura de un tamiz es 2 veces el rea de la abertura del tamiz que le sigue. Por lo
tanto:
(2.98)
1
x
x 0.9170x
i
El tamao xi se puede expresar en milmetros, micrones, o en cualquier

otra unidad. Es comn usar el tamao de la malla como medida de la abertura
de un tamiz. Se denomina tamao de la malla al nmero de aberturas contenidas
en una
pulgada (lineal) de tamiz. Como este nmero depende del grosor del alambre utilizado
para fabricar el tamiz, la designacin est normalizada por ISO, ASTM, Tyler y otras
normas internacionales. La Tabla 2.3 muestra el tamao de la malla en los
sistemas ms comnmente utilizados.
Tabla 2.3 Equivalencia Internacional de Tamices (Serie Normal)
TYLER
Standard Screen
1910
malla
3.0
ASTM
E 11-87
1987
INTERNACIONAL
ISO 565 (TBL 2)
1983
malla
-
mm/ m
6.70
4.0
4.0
4.75
6.0
6.0
3.35
8.0
8.0
2.36
10
12
1.70
14
16
1.18
20
20
850
28
30
600
35
40
425
48
50
300
65
70
212
100
100
150
150
140
106
200
200
75
270
270
53
400
400
38
2.5.3 Descripcin vectorial de una distribucin

Broadbent y Calcott (1956) demostraron que un anlisis granulomtrico se
puede representar en forma de un vector, en que su base son la secuencia de tamaos
y las magnitudes est formadas por las funciones frecuencia y distribucin:
(2.99)
T
f
f0 ,f1 , 3f ,...,fn 1 n
,f
T
F
F
F0 , F1 , F
,...F
,
2
n 1 n ,
T
R
,R
R0 , R1 , R2 ,...,Rn 1
(2.100)
(2.101)
Tabla 2.4 Equivalencia Internacional de Tamices (Serie Doble)

TYLER
Standard Screen
1910
ASTM
E 11-87
1987
INTERNACIONAL
ISO 565 (TBL 2)
1983
malla
2.5
malla
-
3.0
6.70
3.0
6.30
3.5
3.5
5.60
4.0
4.0
4.75
5.0
5.0
4.00
6.0
6.0
3.35
7.0
7.0
2.80
8.0
8.0
2.36
9.0
10
2.00
10
12
1.70
12
14
1.40
14
16
1.18
16
18
1.00
20
20
850
24
25
710
28
30
600
32
25
500
35
40
425
42
45
355
48
50
300
60
60
250
65
70
212
80
80
180
100
100
150
mm/ m
8.00
115
120
125
150
140
106
170
170
90
200
200
75
250
230
63
270
270
53
2.6
325
325
45
400
400
38
REPRESENTACIN DE LOS DATOS EXPERIMENTALES
La determinacin experimental de la distribucin de tamao de un sistema

particulado genera una lista de datos que debe ordenarse en tablas y grficos. A
partir de estos datos se puede calcular los parmetros de la distribucin, los
valores promedios necesarios y otras propiedades tales como la superficie
especfica. Como todos los mtodos experimentales entregan datos discretos, la
representacin de ellos mediante funciones discretas es la ms apropiada.
Las tablas deben contener la siguiente informacin:
x i 1 , (en unidades de longitud o en mallas).
Columna 1:
Rango de tamao x i
Columna 2:
Tamao:
Designacin del tamao x i , (tamao superior o inferior del
rango). Tamao promedio del rango x i , (aritmtico o
geomtrico).
Columna 3:
Nmero, longitud, superficie o volumen (masa) de partculas en el
rango fi f (x i ) , (en fraccin o %).
Columna 4:
Funcin frecuencia fi (en fraccin o %).
Columna 5:
Funcin distribucin inversa Fi (en fraccin o
%). Columna 6
Funcin distribucin directa Ri (en fraccin
o %).
A continuacin se da dos ejemplos de tablas de datos. El primero corresponde
a un anlisis granulomtrico al microscopio, en el cual se cuentan partculas y
el segundo a un anlisis granulomtrico por tamizaje, en el cual se pesan las
fracciones.
Tabla 2.5 Datos de un anlisis granulomtrico al microscopio
Rango
micrones
Tamao
micrones
Designacin
xi
xi
xi
Promedio
xi
xi xi
Distribucin Distribucin
inversa
directa
Nmero de
partculas
Frecuencia
fi
Fi
Ri
1.4-2.0
1.4
1.7
0.1
100.0
0.0
2.0-2.8
2.0
2.4
0.4
99.9
0.1
2.8-4.0
2.8
3.3
22
2.2
99.5
0.5
4.0-5.6
4.0
4.7
69
6.9
97.3
2.7
5.6-8.0
5.6
6.7
134
13.4
90.4
9.6
8.0-11.2
8.0
9.5
249
24.9
77.0
23.0
11.2-16.0
11.2
13.4
259
25.9
52.1
47.9
16.0-22.4
16.0
18.9
160
16.0
26.2
73.8
22.4-32.0
22.4
26.8
73
7.3
10.2
89.8
32.0-44.8
32.0
37.9
21
2.1
2.9
97.1
44.8-64.0
44.8
53.5
0.6
0.8
99.2
64.0-89.6
64.0
75.7
0.2
0.2
9938
1000
100.0
0.0
100.0
Total
Frecuencia f 0(x i)
30
20
10
0
1.42.0
2.02.8
2.84.0
4.05.6
5.68.0
8.011.2
11.216.0
16.0- 22.4- 32.0- 44.8- 64.022.4 32.0 44.8 64.0 89.6
Rango de tamaos en micrones (xi-xi+1)
Fig. 2.19 Funcin frecuencia en nmero para datos de la Tabla 2.5
Distribucin en nmero F 0(x i)
100
Distribucin inversa
Distribucin directa
50
0
0
20
40
60
80
100
Tamao en micrones
Fig. 2.20 Funciones distribucin directa e inversa para los

datos de la tabla 2.5.
La desventaja de este grfico es que los puntos se agrupan en la regin de los

tamaos finos. Esto se debe a que los tamaos estn en progresin geomtrica. Por
esta razn es conveniente, en estos casos, escoger escalas logartmicas para los ejes
coordenados, lo que es equivalente a graficar el logaritmo de la distribucin versus el
logaritmo del tamao. El resultado se observa en la figura 2.21. En este grfico los
puntos estn espaciados uniformemente.
Funcin Distribucin en nmero
100.00
10.00
1.00
Funcin distribucin inversa Fo
Funcin distribucin directa Ro
0.10 1.0
10.0
100.0
Tamao en micrones xi

datos de la tabla 2.5. en escala log-log.
Tabla 2.6 Datos de un anlisis granulomtrico por tamizaje

Rango
mallas
Tamao
micrones
Designacin
xi
xi
xi
Promedio
xi
xi xi
Masa de
partculas
Frecuencia
masa
fi
Fi
Ri
Distribucin Distribucin
inversa
directa
8-10
2360
2003.0
2.0
1.84
100.00
0.00
10-14
1700
1416.3
2.2
1.95
98.16
1.84
14-10
1180
1001.5
4.6
4.15
96.21
3.79
20-35
850
714.1
8.2
7.44
92.06
7.94
28-35
600
505.0
13.2
11.95
84.62
15.38
35-48
425
357.1
22.6
20.48
72.67
27.33
48-65
300
252.2
17.1
15.51
52.19
47.81
65-100
212
178.3
14.8
13.40
36.68
63.32
100-150
150
126.1
8.5
7.71
23.28
76.72
150-200
106
89.2
7.4
6.66
15.57
84.43
200-270
75
63.0
1.7
1.57
8.91
91.09
270-400
53
44.9
1.0
0.90
7.34
92.66
400-fondo
38
19.5
7.1
6.44
6.44
93.56
Total
(10)
110.5
100.00
0.00
100.00
Frecuencia en peso %
25.00
20.00
15.00
10.00
5.00
Rango de tamao en mallas
Fig. 2.22 Funcin frecuencia en nmero para datos de la Tabla 2.6
Funcin frecuencia en peso
100

50
0
0
500
1000
1500
2000
2500

datos de la tabla 2.6.
Funcin frecuencia en peso
100
10

1
10
100
1000
10000

datos de la tabla 2.6 en escala log-log.
2.7 DETERMINACIN EXPERIMENTAL DEL TAMAO DE UN SISTEMA

PARTICULADO
La vasta gama de tamaos de un sistema particulado y las propiedades
especficas que interesan de l explica la existencia del gran nmero de mtodos
para la determinacin experimental de la distribucin de tamao. Para tomar una
decisin respecto a qu mtodo usar, el analista debe considerar primero el objetivo
del anlisis, esto es, saber cual es la variable que realmente interesa conocer del
sistema particulado.
Si se desea conocer, por ejemplo, el tamao de las partculas de un polvo para
predecir la contaminacin atmosfrica que producir, lo que realmente se desea
conocer el la velocidad de sedimentacin de las partculas y, por lo tanto,
conviene elegir un mtodo que mida el tamao de sedimentacin (ecuacin
2.5). Por otra parte, si se desea conocer el tamao de un catalizador para calcular
su reactividad, lo que interesa es la superficie especfica de la partcula, por lo
que se debe elegir un mtodo que mida el tamao volumtrico superficial (ecuacin
2.3).
Es posible que no se disponga de instrumentos que midan precisamente la
variable que interesa, en tal caso la eleccin se realiza frecuentemente en base
al tamao de las partculas. Para el rango de partculas mayores a 75 micrones el
mtodo ms utilizado es el tamizaje, mientras que para partculas menores a 1 micrn,
lo ms frecuente es usar el microscopio. En el rango intermedio, existe un gran
nmero de instrumento basados en diferentes mtodos, tales como clasificacin,
sedimentacin, mtodos pticos, elctricos y flujo en medios porosos. En la presente
seccin describiremos brevemente los principales mtodos existentes y daremos
ejemplos de algunos instrumentos disponibles en el mercado que utilizan estos
mtodos.
2.7.1 Mtodos basados en la clasificacin
Una de las formas ms comunes de determinar el tamao de partculas es
separarlas en categoras de acuerdo a alguna propiedad o propiedades. Entre
estos mtodos se puede mencionar el tamizaje, que clasifica las partculas de acuerdo a
su tamao y forma, sometiendo al sistema particulado a la accin de la fuerza
de la gravedad en una serie de tamices colocados uno encima del otro. El mayor tamiz
se encuentra en la parte superior y cada tamiz que le sigue tiene una malla con
abertura menor que el anterior. Las partculas pasan por las aberturas de los tamices o
son retenidas por ste de acuerdo a su tamao y forma. Si se utiliza n tamices, el
sistema de partculas queda separado en n tamaos. Otro mtodo
utilizado muy frecuentemente en el campo minero-metalrgico para partculas entre
1 y 50 micrones es el Cyclosizer. Este instrumento consiste en una serie de 5
hidrociclones dispuestos en serie, por los que se impulsa una suspensin conteniendo
las partculas a analizar. Las partculas son sometidas a la combinacin de la fuerza
centrfuga y gravedad en el interior de los hidrociclones y son capturadas de acuerdo
a su tamao (sedimentacin) en cada uno de ellos. Menos utilizado en la
actualidad es el Infrasizer, equipo que utiliza una serie de conos invertidos de
diferente dimetro, dispuestos en serie, para capturar partculas de una suspensin
que se hacen fluir en su interior suspendidas en
aire. En este caso tambin se mide el tamao de sedimentacin. Finalmente para

partculas muy pequeas se utiliza mtodo de fraccionamiento por campo de flujo FFF
(flow field fraccionation). Este mtodo consiste en separar las partculas en un flujo
laminar dispuesto en forma perpendicular a un campo centrfugo. Las partculas son
detectadas a medida que salen del sistema, lo que depende de su velocidad de
sedimentacin. De estos mtodos solamente describiremos el tamizaje y
separacin con Cyclosizer.
(1)
Tamizaje
En la seccin 2.5.2 describimos el concepto de tamao de la malla y las series

normalizadas de tamices que se utiliza para realizar el tamizado. Agregaremos, que
existen micro tamices con mallas entre 1 y 50 micrones, que son utilizados
principalmente en la calibracin de partculas, o cuando se necesita rangos muy
estrechos de partculas finas.
a) Tamices estndar de 8 pulgadas
b) Microtamices
Fig. 2.25 Tamices y microtamices.
El tamizaje se puede realizar en seco o en hmedo y en forma manual o

mecnica. Los factores que influyen en el resultado de un tamizaje son:
la carga de material
la cantidad de material fino
la forma de las partculas
el tiempo de tamizaje
la cohesividad del polvo
la fragilidad de las partculas
Basados en estos
recomendaciones:
factores
se
puede
hacer
las
siguientes
Mientras menor es la carga de un tamiz ms rpido es el tamizaje, mientras

la cantidad sea suficiente para realizar una pesada precisa.
Se recomienda remover los finos en el tamizaje en seco para evitar que ste
se torne muy prolongado.
El movimiento del tamiz debe ser tal que minimice el bloqueo de la malla.
Materiales que se aglomeran deben ser tamizados en hmedo.

Materiales degradables o muy blandos deben ser tratados con
suavidad.
Tamizaje manual (Allen 1994)
El tamizaje manual es muy laborioso y consume gran cantidad de tiempo, por lo
que se utiliza solamente como mtodo de referencia para establecer la eficiencia de los
mtodos mecnicos, como lo establece la norma Francesa NFX 11-57. Cada tamiz se
utiliza en forma individual.
Como pre-tratamiento, se coloca entre 50 y 100 g (o mayor cantidad si
el material tiene mucho fino) del material a tamizar en el tamiz de menor
abertura a utilizar, colocando un fondo y una tapa. Esta parte de la operacin es
necesaria para eliminar polvo muy fino que, de otra manera, prolongara el tamizaje
de cada fraccin. El tamiz se inclina suavemente y se le da golpes con la mano (o con
un madero de 8 pulgadas de largo y 1 pulgada de dimetro) en la direccin radial a
razn de 150 golpes por minuto. Durante este proceso el tamiz debe ser rotado en
45 cada 25 golpes. Despus de 10 minutos, el material retenido en el tamiz se
trasfiere a al tamiz de mayor tamao a utilizar, colocando un nuevo fondo y tapa.
El material que pas al tamiz inicial se retira del fondo y se guarda para ser pesado
ms adelante.
Fig. 2.26 Tamizaje manual
Despus de otros 10 minutos de tamizaje, en las mismas condiciones que

anteriormente, se reemplaza cuidadosamente el fondo por uno nuevo y se
continua tamizando hasta que la cantidad de material que pasa por el tamiz por
minuto sea menos que el 0.1% de la cantidad original. Una vez terminado este
proceso, el material retenido en el tamiz se saca cuidadosamente con una brocha
y se pesa. Cualquier material adherido a la parte inferior del tamiz, se remueve
pasando una brocha por debajo, juntando este polvo con lo retenido en los dos fondos
y colocndolos en el siguiente tamiz..
Este proceso se repite hasta utilizar todos los tamices, pesando el material
retenido en cada caso. El residuo del ltimo tamiz se junta con el material guardado
de la primera operacin y se pesa.
Una vez terminado el tamizaje, los tamices deben ser lavados y de tener
aberturas bloqueadas con partculas, se colocan en un bao ultrasnico para
desbloquearlos.
El mtodo descrito se conforma con la norma ASTM C-136.
Tamizaje
mecnico
El tamizaje mecnico se realiza colocando una serie de cinco o seis tamices, uno
sobre el otro con un fondo cerrado y una tapa, dentro de un tamizador, al que se le
imprime un movimiento oscilatorio horizontal y un movimiento brusco vertical.
El primero permite ofrecer la superficie de la malla a todas las partculas y el
segundo evita el bloqueo de ella.
Despus de un pre tratamiento similar al del tamizaje manual, el
que generalmente se realiza en forma manual, 50 a 100 g del material a analizar se
coloca en el tamiz superior, que corresponde al de malla de mayor apertura.
Generalmente se tamiza por 20 minutos. Terminado este intervalo de tiempo, se
cambia el fondo y se tamiza por perodos de 10 minutos adicionales, hasta que no pase
ms de un peso de material mayor a 0.5% de la carga original. Este
procedimiento sigue a la norma ASTM D452. Si las prdidas de material
exceden un 0.5% del material original el ensayo debe ser descartado. No se debe
olvidar juntar el material del pre-tratamiento con el fondo del ltimo tamizaje.
Existen muchos tipos de tamizadores en el mercado. Slo mencionaremos uno
debido a lo difundido de su uso y a la buena calidad del tamizaje que logra. Es el Tyler
Ro-Tap. Este equipo, que podemos observar en la figura 2.20, combina un
movimiento giratorio horizontal de 270 a 300 rotaciones por minuto con 140 a 160
golpes en la tapa superior por minuto (Norma ASTM B-214).
Cuando el polvo tiende a aglomerarse o cuando el material original es
una suspensin en agua, el tamizaje se puede realizar en hmedo. Para ello se realiza
un pre tratamiento para eliminar el fino. La suspensin o el material, conteniendo 50
a 100 g de slidos, se colocan en un tamiz adecuado, por ejemplo de 200 mallas,
(ASTM D313 y C117), o un tamiz de 325 mallas (ASTM D185-72). Se tamiza manualmente,
ayudando el paso de las partculas mediante una brocha con pelo de camello.
La suspensin que pasa el ltimo tamiz se colecciona en un balde.
Fig. 2.27 Tamizador mecnico Ro-Tap.
Fig. 2.28 Tamizador ultrasnico.
El material libre de finos, o la suspensin o material original, se coloca en

el primer tamiz de una serie de cinco o seis, ajustando la tapa y el fondo. La tapa tiene
un sistema que permite la entrada de agua en forma de un jet y el fondo tiene
una evacuacin del agua que se colecta en un balde. El tamizaje se obtiene por
la combinacin de la vibracin de los tamices y del lavado del agua. Algunos equipos
adicionan vaco, otros ultrasonido o una combinacin de estos.
Para partculas muy pequeas, entre 1 y 50 micrones, se recomienda el
tamizaje en hmedo en microtamices. Se utiliza aproximadamente 1 g de material
disperso en un lquido de baja tensin superficial, tal como acetona. Los microtamices
se colocan dentro de una bao ultrasnico, lo que realiza el tamizaje. El lquido
puede ser recuperado por destilacin.
En los ltimos aos han aparecido en el mercado tamizadores completamente
automticos. Basta con alimentarlos con la muestra y recibir el resultado en un
computador. Como es obvio, el sistema mecnico-electrnico del instrumento es
sumamente complejo y, por ende, el instrumento tiene un costo muy elevado. La
figura
2.29 muestra tal equipo.
Fig. 2.29 Tamizador mecnico automtico.
(2)
Clasificacin
Cyclosizer
en
un
El Cyclosizer es un elutriador, esto es, un aparato que separa las partculas

mediante una corriente continua de fluido, haciendo uso de la distinta velocidad
terminal de sedimentacin de las partculas de distinto tamao. El aparato hace uso
de las propiedades de separacin de un hidrocicln. ste consiste en un tubo
cilndrico, con su eje en la direccin vertical, seguido de un cono invertido, el que
termina en un tubo de pequeo dimetro denominado apex. La parte cilndrica tiene
una tapa en la parte superior con un segundo tubo en el centro, denominado
vortex, y tiene una entrada tangencial en su manto. La figura 2.29 muestra un
esquema de un hidrocicln.
Un flujo de agua entra en el hidrocicln por el tubo de alimentacin en
direccin tangencia. Este flujo produce un movimiento rotatorio denominado,
movimiento en vrtice, dentro del equipo, que produce un campo de fuerza centrfugo.
Como el fluido solo puede salir en direccin axial por el apex o por el vortex, se
produce un flujo axial. La combinacin de estos movimientos induce un tercer flujo
radial. Es as como el movimiento en el hidrocicln es tridimensional con una
velocidad tangencial, una
a) Esquema del hidrocicln.
b) Distribucin de velocidades
Fig. 2.29 Diseo de un hidrocicln y la distribucin de velocidades en su interior.
velocidad axial y una velocidad radial. La magnitud de cada una de estas velocidades
depende de la presin de entrada al aparato y de los dimetros del apex y vortex. Ver
figura 2.29.
Cuando una partcula entra en el aparato se encuentra con estos tres flujos que
actan sobre ella mediante una fuerza centrfuga, una fuerza de empuje y una fuerza
de arrastre. La combinacin de estas fuerzas, que dependen fundamentalmente del
tamao
de la partcula, de la diferencia de densidades entre la partcula y el fluido y de la

viscosidad del fluido, le fijan la trayectoria a la partcula. Una vez elegido el fluido y
la muestra de polvo y fijada la presin de entrada al hidrocicln, las trayectorias de
las partculas dependen solamente de su tamao y de los dimetros del apex y
vortex. Es as como las partculas mayores sern centrifugadas ms rpidamente
hacia las paredes y sern arrastradas por el flujo vertical que se dirige al apex,
mientras que las partculas ms pequeas son arrastradas por el flujo radial y axial
hacia el apex. La clasificacin en partculas mayores y menores de un cierto tamao
de separacin no es limpia y la corriente de partculas gruesas siempre contiene un
porcentaje considerable de partculas finas.
El Cyclosizer consiste en cinco hidrociclones de igual tamao pero distinta
combinacin de apex y vortex dispuestos en serie. Ver figuras 2.30 y 2.31. La
eleccin de apex/vortex es tal, que los hidrociclones sucesivos clasifican partculas
cada vez ms pequeas. Por ejemplo, para una suspensin de cuarzo en
condiciones normales, cada cicln del Cyclosizer clasifica (descarga por el apex)
fracciones de 44 , 33 , 23 ,
15 y 10 respectivamente. El ideal sera que los tamaos de separacin fuesen 53
,
38 , 27 , 19 y 13 , para as continuar con la serie estndar de
tamaos.
Como la clasificacin en cada hidrocicln no es perfecta, se dispuso los
equipos en forma invertida (ver figuras 2.30 y 2.31), agregando a continuacin de
cada apex una cmara cilndrica cerrada y de mayor dimetro que ste, donde las
velocidades del flujo disminuyen notablemente. Las partculas gruesas que salen por
el apex en cada hidrocicln, junto a las impurezas ms finas que el tamao de
separacin, ambas sometida a la fuerza de gravedad, tienen la oportunidad de volver
a entrar al equipo y re-clasificarse. Es as como despus de un cierto tiempo, las
partculas contenidas en cada cmara, adosada a cada hidrocicln, tiene partculas
libres de material fino desclasificado. Terminado el proceso se retira el material de
cada cmara, se seca y pesa.
Fig. 2.30 Esquema de los componentes de un Cyclosizer.
Fig. 2.31 Fotografa de un Cyclosizer.
Como el material ms fino que sale por el rebalse del ltimo hidrocicln
se colecta en un estanque con ms de 180 litros de agua, es prcticamente
imposible recuperar el material slido fino. Por esta razn es necesario deslamar
la muestra inicial en un pre-tratamiento para separar el material menor a 10 m.
Este pre-tratamiento consiste en:
Dispersar entre 25 y 200 g del polvo en agua dentro de una probeta de
2 litros llena hasta una altura de 16 cm y se agita hasta dispersar
totalmente el slido.
Se deja sedimentar por 60 minutos y luego se retira el agua
sobrenadante
hasta una altura de 1.5 cm.
El contenido de la probeta se completa nuevamente con agua hasta 16
cm, se agita y el procedimiento se repite hasta cuatro veces.
El contenido de los cuatro sobrenadante se combina, se flocula, se
deja sedimentar, se seca y pesa.
El residuo de la probeta se tamiza en hmedo a 400 mallas y el
material
pasante
se
introduce
al
Cyclosizer.
El procedimiento para operar el Cyclosizer consiste en:
Poner en marcha el equipo y regular el flujo de agua ajustando la presin
de
trabajo a 40 psi.
Medir la temperatura del
agua.
Introducir la muestra deslamada en el equipo y dejarlo funcionando por 30

minutos.
Terminado este intervalo de tiempo, se extrae la suspensin retenida
3
en cada cmara en un vaso de precipitado de 50 cm . Se seca en una estufa
y se calcula el contenido de slidos.
El dimetro de sedimentacin, se obtiene ajustando la densidad del slido
y las propiedades del agua, segn la temperatura, al tamao nominal
especificado por el equipo para cuarzo.
2.7.2 Mtodos basados en la Sedimentacin
Las tcnicas de Anlisis Granulomtrico basadas en la sedimentacin permiten
calcular el dimetro de Stokes. Se define como dimetro de Stokes, el dimetro de una
esfera que tiene la misma velocidad de sedimentacin que la partcula. Tal como se
vio en la seccin 2.1.1, conocida la velocidad de sedimentacin de la partcula, el
dimetro de Stokes se calcula de (2.5):
12
18
gu
dS
(2.102)
El uso de esta relacin supone que las partculas son muy pequeas, tal que la
ecuacin de Stokes sea vlida (Concha 2001).
Es conveniente establecer la relacin entre el dimetro de Stokes y el dimetro
equivalente volumtrico. Aprovechando el hecho que la fuerza de arrastre
es proporcional al volumen de las partculas, tal como se vio en la seccin 2.1, e
independiente de la forma de las partculas, podemos escribir:
Fd
Fg
Fe
g
Vp
Vp g
Vp g
gd v
6
donde
(2.103)
es la diferencia de densidades entre la partcula y el fluido,
es
la viscosidad del fluido y dv es el dimetro equivalente volumtrico.

Como las partculas son pequeas, la fuerza hidrodinmica Fd , que ejerce
un fluido sobre la partcula, se puede obtener de la ley de Stokes:
(2.104)
Fd
dV u ev
donde dV y uev son el dimetro equivalente volumtrico y la velocidad

de sedimentacin de una esfera de dimetro dV .Reemplazando (2.103) en (2.104)
resulta:
u ev
1
18
dVg
Por otra parte, la velocidad de sedimentacin de la partcula, segn (2.102) es:
(2.105)
up
1
18
(2.106)
d Sg
Dividiendo (2.106) por (2.105) se obtiene:

up
dS2
2
u
d
V
(2.107)
ev
Pettyjohn y Christiansen (1948) establecieron que la razn entre la velocidad de

una partcula y la de su esfera equivalente es:
up
u ev
0.843log 0.065
(2.108)
por lo que finalmente resulta:

12
dS
dV
0.843log
0.065
(2.109)
La determinacin experimental de la distribucin granulomtrica mediante

el mtodo de sedimentacin se basa en el cambio de densidades de una suspensin,
inicialmente homognea, cuando las partculas de diversos tamaos van dejando
la suspensin. La medicin del cambio de concentracin o del peso de las partculas
que van dejando la suspensin, induce diversos mtodos de anlisis por sedimentacin.
Usando la medicin de cambios en concentracin existen numerosos
instrumentos tales como la clsica Pipeta de Andreasen, el Sedigraph de
Micromeritics, el Microscan de Quantachrome, el Lumosed de Retsch y el Analysette
de Fritsch. Estos instrumentos tienen como elemento principal una columna de
sedimentacin, la que se llena con una suspensin homognea de concentracin 0 ,
en fraccin volumtrica de slidos o en cualquier otra medida de concentracin. La
altura inicial de la suspensin la designaremos por L y una posicin cualquiera de la
columna la designaremos por z.
Consideremos una franja de columna a la altura z con un volumen pequeo y
constante. En los primeros instantes de la sedimentacin, cada partcula de un cierto
tamao que deja el pequeo volumen en z por sedimentacin, es reemplazado por
igual nmero de partculas del mismo tamao que vienen desde arriba. Sin
embargo, las
partculas que tengan una velocidad de sedimentacin mayor v d si (L z) t i ,
a
habrn pasado la posicin z en el intervalo de tiempo ti , de modo que no
habr partculas de ese tamao que vengan desde arriba y reemplacen a las que
salieron del pequeo volumen. Por lo tanto la concentracin de la suspensin del
volumen en z en el tiempo ti , slo tendr partculas menores al tamao dsi , esto
es, su distribucin
granulomtrica ser F d si . Si se toma muestras del volumen en z, para incrementos
del tiempo ti , preferentemente en progresin geomtrica, y se pesa el material slido,
o si se mide la concentracin por medio de extincin de luz o de rayos X, se
puede calcular la distribucin en peso mediante la expresin:
(2.110)
dsi
F3 dsi
Existen otros tipos de instrumentos para el anlisis granulomtrico, tales

como las balanzas de sedimentacin, que se basan en el pesaje delas partculas que se
van acumulando en el fondo de la columna sedimentacin con el tiempo. Entre este
tipo de balanzas encontramos la Gallenkamp, la Sartorius y la Shimadzu.
Supongamos que la celda de sedimentacin est inicialmente llena hasta la
altura z=L con una suspensin homognea de volumen V y concentracin
. Si denominamos W(t) el peso del material acumulado en el fondo en el
0
tiempo t, este
material estar compuesto por partculas mayores al dimetro d s , R 3 , y partculas
ds
menores al dimetro d s que comenzaron la sedimentacin desde posiciones inferiores
a z=L. Entonces:
W(t)
R 3 (d s )
s
W(t)
(2.111)
dlogt
El valor de W(t) se obtiene de la medicin experimental y la derivada se calcula

con mtodos grficos o numricos.
a)
Pipeta de Andreasen
La Pipeta de Andreasen, que se muestra en la figura 2.32, consiste en

3
una probeta graduada de 500 cm de capacidad. Tiene graduacin en centmetros,
desde z=0 a una cierta distancia del fondo, hasta z=20 cm en la parte superior. La
tapa esmerilada de la pipeta tiene soldado un tupo delgado por su centro, que lleva
hasta la graduacin z=0 en el interior de la probeta. Por arriba, el tubo termina en
una vlvula de dos vas, que conduce a un ensanchamiento del tubo con capacidad
3
de 10cm . A travs de este tubo se puede succionar suspensin al receptculo y,
3
manipulando la vlvula, se puede evacuar a un vaso de precipitados de 25 cm .
Fig. 2.32 Pipeta de Andreasen.
Si se coloca una suspensin en la pipeta hasta la marca superior de z=20 cm, se

homogeniza y se deja sedimentar, el mtodo se basa en que no habr
partculas mayores que un cierto tamao en la suspensin despus de un
determinado tiempo t i .
Si para cada tiempo t i
t1, t 2 , t 3 , ... se saca una muestra del nivel z=0, las muestras
sucesivas carecern de los

d s1 , d s2 , d s3 , ... y los otros tamaos correspondiente
tamaos
a los dems tiempos de muestreo. A partir de estas muestras se puede obtener
la distribucin granulomtrica de las partculas que forma la suspensin segn la
ecuacin (2.110).
dsi
F3 dsi
0
b)
Sedimentmetros
Existen varios instrumentos que miden la concentracin en la columna de

sedimentacin por medio de atenuacin de la luz o de rayos X. Entre los primeros,
mencionaremos los photosedimentmetros Retsch, Wagner, EEL, Bound Brooke,
Seishin y otros, mientras que el Sedigraph de Micromeritics y Microscan de
Quantachrom utilizan rayos X para medir la concentracin.
Los fundamentos de la atenuacin de la luz se darn en la prxima seccin. En
el caso de rayos X, la atenuacin est dada por:
I0 exp
(2.112)
donde B es una constante y es la concentracin de la suspensin. Las figuras 2.33 a

2.34 muestran un fotosedimentmetro y dos sedimentmetros de rayos X.
Fig. 2.33 Photosedimentmetro de Retsch
a) Sedigraph de Micromeritics
b) Microscan de Quantachrome
Fig. 2.34 Sedimentmetros de Rayos X.
2.7.3 Mtodos basados en Microscopa

La microscopa es uno de los mtodos ms directos de medicin del tamao
de una partcula ya que es en el nico mtodo en que las partculas se observan y
miden individualmente. Por esta razn, se la considera como el mtodo absoluto de
anlisis granulomtrico. Tiene la ventaja adicional, que permite observar y medir la
forma de las partculas y determinar su composicin. Como las partculas son
consideradas
individualmente, la calidad de la muestra adquiere importancia. Se considera que es

necesario medir por lo menos 10.000 partculas para tener un error de muestreo
del
1%, mientras que si solamente se miden 100 partculas, el error sube al 10%, como se
explica ms adelante en la seccin 2.9. Es claro, entonces, que la nica manera
de realizar una medicin de partculas al microscopio es mediante un sistema
automtico, ya que en forma manual consumira mucho tiempo. El resultado de un
estudio microscpico de un sistema particulado da como resultado la frecuencia y
distribucin en nmero.
Los grandes avances en microscopa han permitido el desarrollo de
innumerables instrumentos de medicin automtica de la granulometra de un
sistema de partculas. Podemos distinguir dos tipos de instrumentos, los microscopios
pticos y los microscopios electrnicos.
a)
Microscopa ptica
La microscopa ptica se utiliza para medir partculas con tamaos entre

0.8 x 150 m . Su mayor limitacin es su pequea profundidad focal, que
es alrededor de 10 m para un aumento de 100 y de 0.5 m para uno de 1000 .
El
lmite de resolucin para un microscopio ptico est dado
por:
(2.113)
f
x
2NA
donde x es el lmite de resolucin, es la longitud de onda de la luz que ilumina, NA
es la abertura numrica del objetivo y f es un factor de alrededor de
1.3 .
Partculas menores a 5
m deben ser estudiadas con microscopios
de transmisin, mientras que partculas mayores pueden usar microscopa de reflexin.
Las imgenes producidas por un microscopio ptico pueden ser observadas
directamente o sobre su proyeccin en una superficie (fotografa). Es preferible
realizar la observacin directamente para evitar el problema de aquellas
partculas que no quedaron en foco. La observacin se puede realizar desde muestras
dispersas homogneamente en un portaobjeto de vidrio o incrustados en una briqueta.
En este ltimo caso, uno de los problemas que se enfrenta es como considerar
aquellas partculas que fueron cortadas y qu relacin existe entre la imagen
plana del microscopio y la forma tridimensional de la partcula. Este fenmeno es
tratado en la disciplina denominada estereologa.
Varias empresas ofrecen sistemas automticos de anlisis microscpico
ptico de partculas. En las siguientes figura se muestra un esquema de un
microscopio ptico y un sistema automtico de anlisis usando este principio.
Fig. 2.35 Esquema de un Sistema de anlisis microscpico ptico.
Fig. 2.36 Instrumento con Sistema de anlisis microscpico ptico.
b)
Microscopa electrnica
Hay dos tipos de microscopa electrnica utilizada para la observacin de

partculas, la microscopa electrnica de transmisin (TEM) y la microscopa
electrnica de barrido (SEM).
La TEM se utiliza para examinar directamente las partculas en el rango desde

0.001 a 5 m en la imagen producida en una pantalla fluorescente o en una
fotografa. En general, los anlisis de tamao se efectan sobre la imagen
fotogrfica. Instrumentos relativamente baratos pueden llegar a aumentos de 4000
mientras que equipos ms sofisticados pueden llegar hasta 10000
con una
resolucin de 00.3 a 0.5 nm. Gran esfuerzo se debe emplear en producir una buena
preparacin de la muestra.
La SEM es una tcnica en la que un fino rayo de electrones de energa media (550 keV) se barre sobre la muestra en trayectorias paralelas. Estos electrones
interactan con la muestra, produciendo una emisin secundaria de electrones (SEE),
de electrones difractados (BSE), luz y rayos X. Cada una de estas seales puede ser
detectada y mostrada en la pantalla de un tubo catdico como una imagen de
televisin. La observacin se hace generalmente en una reproduccin fotogrfica de
la pantalla. La SEM es mucho ms rpida y da ms detalles tridimensionales que el
TEM debido a su gran profundidad de foco, que es como 300 veces mayor que la
de un microscopio ptico. Se puede observar muestra de hasta 25x25 mm con
amplificaciones parciales de 20 a 100000 y con una resolucin de 15 a 20 nm.
Existen varios sistemas de microscopa electrnica en el mercado.
Aqu mencionaremos solamente los de Leo, Philips, Zeiss y Baush and Lomb.
Fig. 2.37 Esquema de un Sistema TEM
Fig. 2.38 Instrumento de Sistema TEM.
Fig. 2.39 Esquema de Sistema SEM
Fig. 2.40 Instrumento de Sistema SEM
2.7.4 Mtodos basados en la interaccin de la

luz
Cuando un rayo de luz atraviesa una suspensin de partculas, parte del
rayo puede ser absorbido por las partculas, transformndola en otro tipo de
energa, y la otra parte se dispersa como luz refractada, reflejada y difractada. Esta
parte dispersa se emite en todas las direcciones del espacio, aunque la intensidad es
mayor en algunas direcciones que otras. Por otra parte, la luz difractada produce un
patrn de difraccin caracterstico para las partculas. Estos fenmenos pueden ser
utilizados para medir el tamao de las partculas y su concentracin.
a) Dispersin de la
luz
Por dispersin de la luz se entiende la desviacin de los rayos luminosos de
su direccin original por pequeas partculas. La luz es dispersada en todas
direcciones del espacio, pero su intensidad depende del tamao de la partcula y del
ngulo de dispersin. La figura 2.41 muestra la intensidad de la luz dispersa por dos
partculas de diferente tamao. Se puede observar que la intensidad de la luz
dispersa aumenta significativamente con el aumento de tamao de la partcula y que
es mxima para un ngulo de dispersin de
0 . La figura siguiente muestra la
forma de dependencia de la intensidad de la luz dispersa con el tamao de las
partculas y el ngulo de dispersin. Solamente los datos del ngulo
0 son
suficientemente suaves para ser utilizados como correlacin. La teora de Mie
describe la dependencia para tamaos de
partculas menores o iguales a la longitud de onda del rayo x
. De la figura se
ve que en este rango, denominado rango de Rayleigh, que puede extenderse
hasta
x 1 m , la dependencia
es:
(2.114)
Fig. 2.41 Intensidad de la luz dispersa por una partcula de 0.2 m y

otra de 1 m para un rayo de longitud de onda de
0.63 m e
ndice de refraccin de n 1.2
Para tamaos mayores a x 1 m y hasta aproximadamente 10 m,

denominado efecto de Mie, la dependencia es de:
(2.115)
Fig. 2.42 Intensidad de la luz dispersa en funcin del tamao

de la partcula con el ngulo de dispersin como parmetro.
Longitud de onda de
0.343 m .
Los instrumentos que utilizan la dispersin para determinar el tamao

de partculas tiene un arreglo ptico similar al de la figura 2.43.
Fig. 2.43 Sistema ptico para medir dispersin de la luz.
Una fuente de luz lanza un rayo, a travs de un sistema ptico, hacia un

pequeo volumen por el cual se hace pasar un flujo de partculas a muy pequea
concentracin. Los rayos de luz dispersados son captados por un segundo sistema
ptico ubicado a un ngulo
respecto al primero. El la figura 2.44 se muestra un
instrumento que utiliza este principio.
Fig. 2.44 Instrumento de para medir dispersin de luz.
b)
Extincin
Para medir la extincin debido a las partculas, esto es, la intensidad de la luz
transmitida, se coloca un detector en el ngulo
0 . La intensidad de luz
dispersa que se detecta en un ngulo alrededor de
0 , ver figura 2.45, depende
del tamao de la partcula, de la longitud de onda de la luz incidente, ndice de
refraccin del sistema ptico y del ngulo .
Fig. 2.45 Parte de la luz dispersa que cae en el detector.
Para suspensiones diluidas de partculas la disminucin de intensidad de

luz desde la luz incidente I0 a luz transmitida I, est dada por:
I I0 1 NK(x, n, )
x2
4
(2.116)
donde N es la concentracin de partculas, en nmero, y K x, n,

es el coeficiente
de extincin, que depende del tamao de la partcula, de su ndice de refraccin y
del ngulo de deteccin . La figura 2.46 muestra la variacin del coeficiente de
extincin
con el tamao de la
partcula.
Fig. 2.46 Coeficiente de extincin K en funcin del tamao de

partculas y longitud de onda, para varios ndices de refraccin.
Los fotosedimentadores son equipos que utilizan la extincin de la luz

dispersa por las partculas.
b) Difraccin de la
luz
Cuando un rayo de luz paralelo y monocromtico incide sobre una
pequea abertura, la luz transmitida a travs de un lente forma un patrn de difraccin
sobre una pared plana. Este patrn, denominado patrn de difraccin de Fraunhofer,
consiste en un crculo fuertemente iluminado rodeado de anillos oscuros y claros
respectivamente, como se observa en la figura siguiente.
Fig.2-47 Patrn de difraccin de Fraunhofer

Si el rayo de luz ilumina una suspensin de partculas, tambin forma un
patrn de difraccin de Fraunhofer, la que no es perturbada por el movimiento
de las partculas.
La figura 2.48 muestra un sistema ptico simple para la medicin de patrones de
difraccin. Un haz de lser de He/Ne se dirige a un lente que lo ensancha y
transforma en rayo paralelo. Este rayo atraviesa la suspensin y es enfocado por
otro lente sobre una pared, donde su intensidad es medida por un detector fotoelctrico
Fig. 2.48 Arreglo ptico para obtener los patrones de difraccin de

Fraunhofer.
Cuando el tamao de las partculas es mucho mayor que la longitud de onda del
rayo lser (x>1 m), la intensidad de luz medida en el detector es independiente de las
propiedades pticas del material. Entonces, segn la teora de Fraunhofer, la
intensidad de la luz del crculo de radio r, producido por una partcula esfrica de
dimetro x, depende del radio r de la imagen y del tamao de la partcula:
4
i(r, x) i
J1 (krx)
krx
con k
f
donde i 0 es la intensidad y la longitud de onda del rayo incidente, x es el tamao de

las partculas, r es el radio de los crculos del patrn, f es la longitud focal y es la
J1
funcin Bessel de primera clase. El radio del crculo central est dado por:
(2.117)
f
r 1.22
0
Si la partcula forma parte de una suspensin, la intensidad medida en el ngulo

=0 resulta de la integracin:
i x
I r
f3 ( x )
dx 3
x
f3 ( x )
dx
3
0
x
(2.118)
En el mercado existen numerosos equipos que utilizan este principio. Los ms

conocidos son: Helos-Rodos de Sympatec, Alemania, Malvern, Inglaterra, Cilas Laser
Granulometer, Francia y Leads and Notrhrup Microtrac, USA.
Fig. 2.49 Instrumento de Malvern.
Fig. 2.50 Instrumento de Sympatec.
2.7.5 Mtodos basados en permeametra

La superficie especfica de una esfera est relacionada con su
dimetro mediante:
S
V
6
d
Para un sistema particulado de forma arbitrara, la superficie est dada por la ecuacin
(2.3) de la seccin 2.1.1:
6
dsv
(2.119)
donde dsv es el dimetro volumtrico superficial.

La relacin entre el dimetro volumtrico superficial dsv y el tamao volumtrico
superficial x12 est dado por la ecuacin (2.38):
d sv
x12
(2.120)
donde x
12
3
30
20
De las ecuaciones (2.119) y (2.120) se puede observar que es posible calcular

un tamao promedio relacionado con la superficie especfica de un sistema
particulado. Entonces, el problema que se plantea es cmo medir la superficie
especifica de una coleccin de partculas. La solucin fue dada por Darcy (1856)
al proponer una ecuacin que da el flujo de un fluido a travs de un medio poroso
cuando se conoce la cada de presin a travs del medio:
p
L
(2.121)
donde q es el flujo en volumen por unidad de superficie por unidad de tiempo, es la

viscosidad del fluido, L es el espesor del medio poroso, p es la cada de presin
a travs del medio y k es la permeabilidad, parmetro medido en unidades de longitud
al cuadrado.
Kozeny (1227) y Carman (1937), en forma independiente, relacionaron la
permeabilidad con la porosidad y la superficie especfica promedio del medio poroso,
llegando a la ecuacin:
3
1
2
) S
(2.122)
(1
donde es la porosidad del medio y es un parmetro, denominado tortuosidad, cuyo

valor es
5 entre 0.3
0.5 (Coulson y Richardson 1968). Por lo tanto,
reemplazando (2.122) en (2.121) se obtiene:
p1
(2.123)
5 (1
) L q
Los tamaos volumtrico-superficiales, entonces, son:
d sv
x12
6 5
5
(1
Lq
p
S
V
(1
)
3
12
(2.124)
L
q
p
12
(2.125)
Como conclusin, podemos decir que, si se hace pasar un fluido de viscosidad a una
presin
p a travs de un lecho de espesor L y porosidad , formado por las
partcula, el dimetro promedio volumtrico superficial del sistema de
partculas se puede
calcular con la ecuacin (2.124). Para calcular x12 es necesario conocer, adems, los
factores de forma.
Las suposiciones que involucran las leyes de Darcy y Carman-Kozeny son tan
restrictivas, que no se puede asegurar que el rea especfica determinada por
este mtodo sea la real. Por esta razn, es mejor considerar que los mtodos basados
en esta tecnologa, son tiles en trminos comparativos solamente y se aplican,
principalmente, con propsitos de control sobre un mismo producto.
Se denomina permemetros a los instrumentos que hacen uso de las leyes
de Darcy y Kozeny-Carman para la determinacin del tamao promedio de un sistema
particulado. Los permemetros comerciales se dividen en dos tipos, los que
utilizan una presin constante, como por ejemplo el Fisher y el Permaran, o aquellos
que usan un flujo constante, como el Blain y el Ridgeon. El test Blain es el
estndar de la industria del cemento y utiliza la norma ASTM C204-68, mientras que
el test Fisher es
estndar para polvos de metales y compuestos refractarios, para los que usa la norma
ASTM B330-76 y para polvos de almina y slice, con la norma ASTM C721-76.
2.7.6 Contadores de resistencia elctrica
Los contadores de resistencia elctrica de partculas cuentan las partculas
que, al pasar por un orificio pequeo, cambian la resistencia elctrica del fluido.
Consideremos un volumen de control en forma de cilindro inmerso en un campo
elctrico homogneo. Por este volumen fluye un electrolito en el cual
estn suspendidas las partculas slidas. Las partculas pasan por el volumen una a
una. Cuando una partcula se encuentra en el volumen de control, la resistencia
elctrica de ste aumenta y, por lo tanto, para igual corriente, aumenta el voltaje V
iR . Se puede demostrar que el cambio de resistencia elctrica es proporcional al
volumen de la partcula:
V
(2.126)
R V
V V
p
0
0
R0
V
donde Vp es el volumen de la partcula, V0 el volumen de control, R0 es la
resistencia en el electrolito slo, R es el incremento de resistencia, V es el
incremento de voltaje y V es el voltaje original.
Existen varios equipos que utilizan este principio, el ms conocido de los
cuales es el Coulter-Counter. Ve figura 2.51.
Fig. 2.51 Medidor de tamao de partculas Coulter Counter.
2.8 TEST DE FISHER

El Fisher sub-sieve sizer consiste fundamentalmente en una bomba de aire, un
regulador de presin, un tubo para la muestra, un flujmetro estandarizado de
doble rango y una carta para dar los resultados. La figura 2.52 muestra un esquema del
instrumento.
Fig. 2.52 El Fisher sub-sieve Sizer.
2.8.1
Principios de medicin
El Fisher sub-sieve sizer utiliza la permeabilidad con aire, a presin constante,

como mtodo para determinar el tamao promedio de un sistema particulado. Por
lo tanto, la relacin entre la cada de presin
p y el flujo q con el dimetro
volumtrico superficial es:
d sv
6 5
(1
)
3
Lq
p
12
donde es la viscosidad del aire, que depende de la temperatura,

del lecho de partculas y L es su espesor.
(2.127)
es la porosidad
2.8.2
Parmetros y su determinacin
Si designamos por V el volumen aparente del lecho de partculas y por A y L

su seccin y espesor, entonces V AL y si Vs es el volumen de slidos, M su masa
yD
su densidad, entonces
M D . Con estas definiciones tenemos que:
Vs
LA M D
LA
M
DLA
(2.128)
Si la cada de presin total es P, y la cada de presin a travs del flujmetro es

F, la cada de presin en el lecho ser p P F . Por otra parte, si el caudal de aire es
Q cF , el flujo volumtrico de aire ser q

, (1- ), q,
cF A . Reemplazando los valores de
p en (2.127) se obtiene:
12
d sv
CL
D P F
donde la constante C 6 5c
12
(2.129)
M
D
AL
Si se elige la masa de slidos en g igual en nmero a su densidad, M D 1 y la

ecuacin (2.129) se simplifica a:
F
d sv
2.8.3
12
CL P F AL 1
(2.130)
Factores que afectan los resultados
De entre los factores explcitos que afectan el resultado, el principal es la

porosidad. sta depende de cmo se empaca el lecho poroso. Se recomienda que
todo el slido se introduzca de una vez en la celda y que se golpee la celda
brevemente, o se haga vibrar, en forma estandarizada para cada ensayo.
Los factores que no estn explcitamente contemplados en el procedimiento son
aquellos en que se basan las teoras de Darcy, Carman y Kozeny. En primer lugar, el
flujo de aire debe ser lento de modo que se cumpla la dependencia lineal del flujo de
la cada de presin. Esto se cumple cuando el nmero de Reynolds, definido en la
forma (Concha 2001) es menor a 1:
(2.131)
0.143 f c( ) k ( )q 1
Re*
23
f
donde
son la densidad y viscosidad del aire.
En segundo lugar el modelo capilar de un lecho poroso de CarmanKozeny supone que el lecho est formado por un conjunto muy grandes de capilares
rectos y que el parmetro
5 en la ecuacin (2.122), para lo cual no hay
acuerdo entre
investigadores.
Finalmente comentaremos que, el mtodo de permeabilidad permite
determinar los factores de forma de las partculas, procedimiento que discutiremos ms
adelante.

66
Particulados
2.9 HELOS-RODOS DE SYMPATEC
66
El instrumento Helos-Rodos de la empresa alemana Sympatec GmbH, es

un sistema de anlisis granulomtrico basado en el mtodo de difraccin de la
luz a
0 . Utiliza un rayo lser de Helio-Nen de 20.2mm de dimetro, con longitud
de onda de
0.6328 m y potencia de 5 mW, deflectado por espejos a 180.
El instrumento tiene cuatro rangos de medicin cambiando el tubo de lentes de
diversas distancias focales:
100 mm
200 mm
500 mm
1000 mm
0.7 x 175 m
1.5 x 350 m
3.5 x 875 m
7.5 x 1750 m
Es posible realizar el anlisis en hmedo o en seco, para lo cual se dispone

de una celda de dispersin Sucell Helos, la cual se reemplaza por el sistema de
dispersin Rodos. La figura 2.53 muestra la disposicin general del instrumento HelosRodos.
a) Con celda sucell instalada
b) Celda sucell.
Fig. 2.53 Disposicin general del instrumento Helos con celdas de dispersin
SUCELL.
2.9.1 Principales elementos del sistema de deteccin de HelosRodos a)
Celdas de medicin
La celda SUCELL es un sistema de dispersin universal en agua para

cualquier tipo de material fino hasta 875 m. Es muy apropiado para pequeas
3
muestras. El volumen de la celda es de aproximadamente 400 cm . La dispersin y
homogenizacin
se consigue con la accin combinada de fuerzas capilares, agitacin mediante
dos agitadores y ultrasonido. La muestra de polvo se introduce en la celda en
forma
manual, desde una pasta preparada anteriormente, observando la densidad ptica de

la suspensin en el computador.
RODOS es un sistema de dispersin de partculas hasta 1000 m en aire. La
dispersin se obtiene por repetidos impactos de las partculas en la paredes
interiores del inyector. La energa de dispersin es suministrada por un chorro
de aire comprimido con presin entre 6.5 y 8 bares. El inyector viene en dos
dimensiones de 4 y 6 mm. El flujo de aire del inyector de 4 mm da entre 220 y 270
l/min y el de 6mm de entre 220 y 400 l/min dependiendo de la presin. La figura 2.9x
muestra el sistema de dispersin RODOS.
Fig. 2.54 Helos-Rodos.
Fig. 2.55 Sistema de dispersin RODOS. Vista lateral.
2.9.2 Procedimiento de
medicin a)
Anlisis en
hmedo
Secuencia de medicin: El procedimiento para realizar un ensayo en hmedo
es el que sigue:
Encender el computador.
Encender el equipo
Colocar la celda sucell en el lugar apropiado del equipo
Abrir el software (helos.exe).
Seleccionar el mtodo de medicin (sucell)
En la ventana principal ingresar los parmetros:
c)
Nmero de la prueba
Descripcin de la muestra
Tiempo de medicin (1-10s)
Lente utilizado
Instalar en el equipo el lente ingresado en el software. (En el equipo existe

una barra graduada con las distancias focales para cada lente para colocar el
sensor de medicin).
Colocar en infinito el regulador del sistema ultrasnico.
Llenar la cubeta sucell con agua destilada y enrasar hasta la superficie

metlica de las aspas del agitador.
Seleccionar la velocidad de rotacin del agitador (1-10 rpm).
Encender la bomba para recircular el agua.
Pedir referencia al equipo (realiza aliniamiento para el lente).
Presionar el cono NORMAL y el equipo queda listo para medir.
Agregar entre (1-5) gramos de muestra en la cubeta hasta que la

densidad ptica indicada en la pantalla quede entre un 15 a un 25%.
Esperar (1-10) segundos para que recircule la suspensin.
Presionar ENTER para iniciar la medicin.
Imprimir los datos y curva.
Anlisis en seco
Secuencia de medicin: El procedimiento para realizar un ensayo en hmedo

es el que sigue:
Encender el computador.
Encender el equipo (Helos-Rodos).
Sacar la cubeta sucell y reemplazarla por el alimentador Rodos. Colocar

el inyector frente a la ventana, a una distancia de 2 a 5 cm, de modo de
que el flujo de partculas pase por delante del haz de luz.
Abrir la llave de la red de aire comprimido.
Abrir el software (helos.exe).
Seleccionar el mtodo (rodos).
En la ventana principal ingresar los parmetros:
Nmero de la prueba
Descripcin de la muestra
Tiempo de medicin (1-10s)

Lente utilizado.
Instalar en el equipo el lente ingresado en el software. (En el equipo existe

una barra graduada con las distancias focales para cada lente, para colocar el
sensor de medicin).
Pedir referencia al equipo (realiza aliniamiento para el lente).
Ingresar el tiempo
30 segundos y amplitud
5
rpm del
alimentador vibratorio del Rodos. El tiempo se regula hasta que la
densidad ptica est
entre un 15 y 25%.
Colocar suficiente material

para realizar un ensayo.
Presionar ENTER para iniciar la medicin.
Imprimir los datos y curva.
500
gramos en el alimentador vibratorio
2.9.3 Nomenclatura e identificacin y definicin de los trminos utilizados en

el despliegue de resultados.
Los resultados de anlisis granulomtrico realizado por el equipo HelosRodos se entregan de la manera que se indica en la tabla que sigue. La informacin de
la tabla se puede elegir segn sea conveniente.
SYMPATEC RODOS
Mtodo de medicin:
Presin:
Depresin de inyector:
Velocidad de rotacin:
Flujo alimentacin:
Longitud focal:
Tiempo de medicin:
Operador:
Nombre de la muestra:
Comentario 1:
Comentario 2:
Nombre del archivo:
Densidad de partculas:
Dispersor seco RODOS

2.0 bares
50 milibares
80%
45%
100mm
10s
Patricio Leonelli
Concentrado de cobre
Cliente
Fecha 20/08/96
C:\H-DATA\ESCOND6.HEL
3
4.40 g/cm
1 columna xo/mym:
2 columna: Q3/%
3 columna: (1-Q3)/%
Lmite superior x i en
micrones
Distribucin
inversa F3 (x i )
Distribucin directa R 3 (x i ) 1 F3 (x i
Promedio del rango x
x x )
4 columna: xm/mym
5 columna: q3/1/mm
lineal
6 columna: q3lg
7 columna: dQ3/%
Frecuencia relativa
f 3 (x i ) x i
Frecuencia relativa logartmica log f 3 (x i ) x i

frecuencia f 3 (x i )
x05
tamao por el cual pasa 5% de la distribucin.
x10
tamao por el cual pasa 10% de la
distribucin. x16
tamao por el cual pasa 16% de
la distribucin. x50
tamao por el cual pasa 50%
de la distribucin. x84
tamao por el cual pasa
84% de la distribucin. x90
tamao por el cual
pasa 90% de la distribucin.
Sv
Superficie especfica por unidad de volumen S
Sm
Superficie especfica por unidad de masa S s S
C_optc Densidad ptica o extincin, esto es, intensidad de la luz disminuida por
la absorcin.
2.10 MUESTREO PARA ANLISIS GRANULOMTRICO

Todo anlisis granulomtrico se realiza sobre una muestra del
sistema particulado y un requisito fundamental para que la medida sea til, es que
la muestra sea representativa del sistema original. La ejecucin del anlisis
requiere dos operaciones consecutivas, ambas sujetas a error, el muestreo y la
determinacin de tamao.
Como las operaciones de muestreo y anlisis son independientes, los errores son
aditivos y el error estndar total SE asociado a la determinacin estar dado por:
donde
SE m
SE 2 SE 2m SE 2a
es el error estndar asociado al muestreo
y
(2.132)
SE a es el error estndar
asociado al anlisis.
2.10.1Tamao de una muestra
Supongamos que el valor verdadero de la distribucin inversa de un
sistema particulado es F(x). Designaremos por F*(x) el valor de la distribucin en la
muestra. Como el muestreo est sujeto al error SE m , la relacin entre estos dos
valores es:
(2.133)
F* (x) F(x) SE
m
Por otra parte, designemos por F**(x) la distribucin obtenida por el

anlisis experimental, entonces:
(2.134)
F* (x) F * *(x)
SE a
y, por lo tanto, para el sistema particulado tenemos:
F(x) F * *(x) SE
(2.135)
En la prctica, podemos aceptar errores de muestreo de un 1% y errores

de
anlisis de un 2%. Esto significa que:
SE m 0.010 , SE
0.020 ,
SE 0.022
(2.136)
Entonces:
F(x) F * *(x) 0.022
(2.137)
La pregunta es entonces, cual es el tamao de la muestra para que el error de

muestreo est dentro del 1%?.
La forma de cortar las muestras, cuyos detalles se describir ms
adelante, permite suponer que los errores de muestreo se distribuyen en forma
binomial. Esto significa que:
2
m
1
F(x ) 1 F(x)
n
donde n es el nmero de partculas en la muestra. Como:

SE m
donde t=2 , es el parmetro estadstico de Student para 1 muestra, deducimos que

0.010
SE m
0.005
m
Entonces el nmero de partculas necesarias para obtener un

n
0.005
ser: F(X) 1 F(x)

2
(0.005)
(2.138)
De esta expresin se puede observar que el nmero de partculas depende del valor de
F(x) y que ser mximo para:
1 2F(x) 0
dn
4 10 4
dF
de donde se deduce que el mximo error se cometer para f (x )
0.5 .
Introduciendo este valor en (2.138) se encuentra que el nmero necesario de
partculas para que el error de muestreo sea menor a 1% es de:
n 10.000
(2.139)
Se puede calcular que si slo se toman 100 partculas, el error de

muestreo
aumenta a 10%.
Un nmero de 10.000 partculas representa diferentes problemas para
los diversos mtodos de anlisis, dependiendo del tamao de las partculas a analizar.
El tamao de la muestra depende del tamao promedio del sistema de
partculas. El tamao de la muestra en masa ser:
x
W 10.000 s v 30
Si suponemos una densidad del material de s 2.6 , un factor de forma de
0.2 (correspondiente a cuarzo), y diversos tamaos, la masa de muestra ser:
Tamao partcula
Tamao de la muestra
10 cm
358 kg
3 mallas
850 g
8 mallas
42 g
100 mallas
11 mg
150 mallas
2 mg
400 mallas
0.2mg
2.10.2Mtodos de muestreo
La obtencin de una muestra de laboratorio para realizar un anlisis
granulomtrico puede ser obtenida de diversas formas. Para todas ellas es
necesario que el material est previamente bien mezclado.
a) Mezclado
mecnico
por
roleo
mezclador
La forma ms usada de mezclar un material es mediante un pao roleador,

como el que se muestra en la figura 2.56 a)
a) Pao roleador.
b) Mezclador mecnico
Fig. 2.56 Mecanismos para mezclar una muestra.
El tamao del pao roleador vara dependiendo con el tamao de material a mezclar.
Si este material es de varias decenas de kilogramos, el roleo debe ser hecho por
dos personas. El pao, de forma cuadrada descansa en el suelo y cada persona toma
dos extremos haciendo rodar el material de una esquina a la otra. La operacin se
repite durante cinco minutos. Cuando la muestra es pequea, menor a tres kilogramos,
la operacin puede ser hecha por una persona sobre una mesa.
Cuando la cantidad de material a mezclar es muy grande se utiliza un mezclador
mecnico como el esquematizado en la figura 2.56.b).
b)
Cono y cuarteo
El mtodo de cono y cuarteo para reducir una muestra es ampliamente utilizado

debido a su simplicidad y a que no requerir equipos especiales. El mtodo, aplicable a
materiales con partculas de tamao menor a 1 pulgada, consiste en formar un cono
con el material, en el suelo o sobre una mesa, y aplastarlo formando una torta
circular. Ver
figura 2.57. La simetra del cono es muy importante. El tronco de cono resultante se
divide en cuatro partes iguales. Dos fracciones opuestas se retiran cuidadosamente,
juntando las dos fracciones restantes y construyendo un nuevo cono. El
procedimiento se repite hasta obtener una muestra del tamao deseado.
Fig.2.58 Tcnica de muestreo por cono y cuarteo.
b) Cortados de chutes
Un buen mtodo de reduccin de una muestra es verter las partculas en forma
homognea sobre un cortador de chutes o riffles, como el de la figura 2.59.
Este aparato divide la muestra original en dos partes aproximadamente iguales.
El uso
repetido del cortador permite obtener fracciones
de
original.
1
2
, 14 , 18 ,...,
Fig. 2.59 Cortador de chutes o de riffles.
1
2
de la muestra
c) Reducidor binomial
Otro equipo utilizado en el laboratorio para reducir una muestra, es el reducidor
binomial. Este aparato permite obtener 116 de la muestra original en una sola pasada.
Ver figura 2.60. El lmite de tamao de partculas es de 1 2 pulgada.
Fig. 2.60 Reducidor binomial.
d) Muestreador rotatorio
Un excelente mtodo de muestreo es el muestreador rotatorio. El material se
introduce en el buzn de un alimentador vibratorio, el que descarga en un sistema
rotatorio de depsitos, por ejemplo de frascos. El sistema se mueve a una velocidad
constante lo que permite que cada botella reciba la misma cantidad de muestra.
Fig. 2.60 Muestreador rotatorio
2.11 DETERMINACIN
FORMA
EXPERIMENTAL DE
LOS
FACTORES
DE
En la seccin 2.2 qued establecido que basta con determinar los factores
de forma volumtrico y superficial para calcular otras definiciones de forma.
2.11.1Factor de forma volumtrico
De acuerdo con la definicin de factor de forma volumtrico, el
volumen promedio de un sistema de partculas se puede escribir en la forma:
V
El tamao promedio
(2.140)
x 30
x 30 se puede calcular fcilmente de un anlisis granulomtrico,
como hemos visto anteriormente. Entonces, para calcular

obtener el volumen promedio de las partculas.
slo se necesita
Para calcular el volumen promedio de las partculas, introducir un nmero

determinado, y conocido, de partculas en un picnmetro y calcular su volumen total.
Dividir este por el nmero de partcula para obtener el volumen promedio.
2.11.2Factor de forma de rea proyectada
El rea proyectada de un sistema de partculas se puede describir en la forma:
Sp
p
(2.141)
x 20
Igualmente que en el caso anterior, el tamao

promedio
x 20 se puede calcular
fcilmente desde un anlisis granulomtrico. Para calcular el factor de forma de rea
proyectada solamente se necesita medir el rea proyectada promedio de las partculas.

Esto se puede conseguir obteniendo imgenes de las partculas, ya sea al
microscopio para las pequeas o por proyeccin de partculas mayores en un plano. El
rea se puede medir con un planmetro y el promedio se calcula dividiendo por
el numero de partculas.
2.11.3Factor
superficial
de
forma
La determinacin del factor de forma superficial s se puede determinar

midiendo la superficie especfica del sistema particulado. Esto se consigue mediante el
mtodo de permeabilidad, con el que se obtiene el dimetro de permeabilidad:
S
6
dk
De la ecuacin (2.47) sabemos que este dimetro est relacionado con el

tamao promedio volumtrico superficial por:
dk
x12
Entonces, el factor de forma superficial se obtiene de:

x12
6 v d
s
(2.142)
El tamao promedio volumtrico-superficial se obtiene fcilmente de un

anlisis granulomtrico.
Una alternativa, es escribir la superficie especfica en la forma:
S
s
v
1
x12
Si graficamos la superficie especfica de varias muestras del sistema particulado para

diversos rangos de granulometra del material a estudiar, podemos obtener el
cuociente de los factores de forma como la pendiente del grfico. Para calcular s , es
necesario calcular previamente v .
2.12 BIBLIOGRAFA
th
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CAPTULO 21

Anlisis Granulomtrico es la disciplina que estudia la composicin granular de

Fig. 2.1 Sistema de partculas.

La necesidad de utilizar diversos mtodos para la determinacin

Documento para uso personal solamente

2 aptulo 2 Anlisis Granulomtrico

Propiedades de Sistemas Particulados2

2.1 DESCRIPCIN DEL TAMAO Y FORMA DE UNA PARTCULA

Consideremos dos partculas de igual volumen, una de forma irregular y la otra

entonces, el dimetro de la esfera de volumen V ser:

3 aptulo 2 Anlisis Granulomtrico

Propiedades de Sistemas Particulados3

Si se determina el volumen V de la partcula, dv es el dimetro de una esfera

Fig. 2.2 Dimetros equivalentes.

Consideremos dos partculas de igual superficie, una de forma irregular y la

entonces, el dimetro de la esfera de superficie S ser:

Si se determina el la superficie S de la partcula, dS es el dimetro de una

Consideremos dos partculas de igual superficie especfica, esto es, de igual

entonces, el dimetro de la esfera ser:

Consideremos dos partculas, cuyos permetros son iguales, una de forma

Si se determina el permetro Pp de la partcula, dc es el dimetro del crculo

Consideremos dos partculas, una de forma irregular y la otra de forma

Si se determina la velocidad de sedimentacin u de la partcula, dS es el

como el dimetro de una esfera

que sufre el mismo arrastre que la partcula durante la sedimentacin.

Como la diferencia de densidades entre la partcula y el fluido,

depende solamente del volumen de la

Tamao nominal y factores de forma

La diversidad en la definiciones de tamao de partculas y dado que

Es as como el sistema de cuatro variables x, L(x),S(x ), V(x ) puede ser

tamaos nominales ms utilizados, el tamao de Feret y el tamao de Martn. Estos

Fig. 2.3 Tamaos nominales de Feret y Martn.

Debemos estar conscientes que en todo estudio microscpico se observa

Relaciones entre dimetros equivalentes y el tamao nominal

Con las definiciones de las dos secciones anteriores se puede relacionar

2.2 DESCRIPCIN DE LA FORMA DE UNA PARTCULA

Se denomina esfericidad (Wadell 1935), y se la designa mediante el smbolo

donde Se y Sp son las superficies especficas de la esfera y de la partcula.

Fig. 2.4 Partcula representada por una serie de

En general, las armnicas de bajo orden dan la forma a la imagen y las

a) Armnica de segundo orden.

b)Armnica de quinto orden.

Fig. 2.5 Efecto del orden de las armnicas en la simulacin de la rugosidad.

2.3 DISTRIBUCIN DE TAMAO DE UN SISTEMA PARTICULADO

La funcin frecuencia se define de manera tal, que la frecuencia relativa

comprendido entre x y x+dx, o

fraccion de particulas del sistema con tamaos comprendidos entre x y x+dx

Funcin frecuencia relativa

Tamao de partcula en micrones

Fig. 2.6 Funcin frecuencia y frecuencia relativa.

Si extendemos el rango de tamao de las partculas a 0 x

Esta expresin recibe el nombre de condicin de normalizacin, y asegura que

El complemento a la funcin distribucin F(x) se denota por R(x) y queda

Funcin distribucin inversa F(x)

Tamao de partcula x en micrones

Fig. 2.7 Funciones distribucin acumulativa inversa F(x).

Funcin distribucin directa R(x)

Tamao de partcula x en micrones

Fig.2.8 Funcin distribucin acumulativa R(x).

La distribucin de tamaos de un sistema particulado se puede

La raz de la varianza recibe el nombre de desviacin estndar .

Otro parmetro usado frecuentemente es la media de la distribucin. Designada

Funciones frecuencia inducidas por la medicin