1.

PHƯƠNG PHÁP PHỔ HẤP THU NGUYÊN TỬ(AAS)

Phương pháp phân tích phổ hấp thu nguyên tử dùng để phân tích lượng
nhỏ(lượng vết) các kim loại trong các lọai mẫu khác nhau của các chất vô cơ và
hữu cơ. Phương pháp này có thể định lượng được hầu hết các kim lọai (khỏang 65
nguyên tố) và một số á kim ở giới hạn nồng độ cỡ ppm (mcrogam) đến nồng độ
ppb (nanogam).

Nguyên tắc:

Trong điều kiện bình thường nguyên tử không thu và cũng không phát ra
năng lượng dưới dạng các bức xạ. Lúc này nguyên tử tồn tại ở trạng thái cơ bản.
Đó là trạng thái bền vững và nghèo năng lượng nhất của nguyên tử. Nhưng khi
nguyên tử ở trạng thái hơi tự do, nếu ta chiếu một chùm tia sáng có những bước
sóng (tầng số) xác định vào đám hơi nguyên tử đó, thì các nguyên tử đó sẽ hấp thu
các bức xạ có bước sóng nhất định ứng đúng với những tia bức xạ mà nó có thể
phát ra được trong quá trình phát xạ của nó. Lúc này nguyên tử đã nhận năng
lượng của các tia bức xạ chiếu vào nó và nó chuyển lên trạng thái kích thích có
năng lượng cao hơn trạng thái cơ bản. Đó là tính chất đặc trưng cuả nguyên tử ở
trạng thái hơi. Quá trình đó được gọi là quá trình hấp thu năng lượng của nguyên
tử tự do ở trạng thái hơi và tạo ra phổ nguyên tử cuả nguyên tố đó. Phổ sinh ra
trong quá trình này gọi là phổ hấp thu nguyên tử.

Muốn có phổ hấp thu nguyên tử trước hết phải tạo ra được đám hơi nguyên
tử tự do, và sau đó chiếu vào nó một chùm tia sáng có những bước sóng nhất định
ứng đúng với các tia phát xạ nhạy của nguyên tố cần nguyên cứu. Dự vào mối
quan hệ giữa cường độ của vạch phổ hấp thu và nồng độ của nguyên tố đó trong
đám hơi ta có thể xác định được nồng độ của nguyên tố cần phân tích.
 Dựa vào phương trình cơ sở của phép đo định lượng các nguyên tố theo phổ
hấp thu nguyên tử, để xác định nồng độ chất cần phân tích.
Da= a.Cb

C: Nồng độ của nguyên tố phân tích có trong dung dịch mẫu.

b : Hằng số bản chất, phụ thuộc vào từng vạch phổ của từng nguyên tố,
0<b<=1.
a := K.Ka: Hằng số thực nghiệm, phụ thuộc vào tất cả các điều kiện thực
nghiệm để hóa hơi và nguyên tử hóa mẫu.
D: Cường độ vạch phổ hấp thu nguyên tử.

2. PHƯƠNG PHÁP QUANG PHỔ UV – Vis

Phổ UV – Vis là loại phổ electron, ứng với mỗi elctron chuyển mức năng
lượng ta thu được một vân phổ rộng. Phương pháp đo phổ UV – Vis (phương
pháp trắc quang) là một phương pháp định lượng xác định nồng độ của các chất
thông qua độ hấp thu của dung dịch.

5.2.1. Nguyên tắc

Cho chùm ánh sáng có độ dài sóng xác định có thể thấy được (Vis) hay
không thấy được (UV - IR) đi qua vật thể hấp thu (thường ở dạng dung dịch).
Dựa vào lượng ánh sáng đã bị hấp thu bởi dung dịch mà suy ra nồng độ (hàm
lượng) của dung dịch đó.
C

Io I

l
 I0 = IA + Ir + I

Trong đó:
Io : Cường độ ban đầu của nguồn sáng.

I : Cường độ ánh sáng sau khi đi qua dung dịch.

IA: Cường độ ánh sáng bị hấp thu bởi dung dịch.

Ir : Cường độ ánh sáng phản xạ bởi thành cuvet và dung dịch, giá trị
này được loại bỏ bằng cách lặp lại 2 lần đo.
C : Nồng độ mol chất ban đầu.
l : Chiều dày lớp dung dịch mà ánh sáng đi qua.

5.2.2. Định luật về hấp thụ ánh sáng (Định luật Lambert – Beer)

Người ta thường dùng các phản ứng hóa học để chuyển các hợp chất cần xác
định không có màu sang các hợp chất có màu mà mắt người có thể quan sát được.
Bằng cách đo độ hấp thu hoặc so sánh cường độ màu của dung dịch cần nghiên
cứu với cường độ màu của dung dịch đã biết trước nồng độ (dung dịch chuẩn), ta
có thể suy ra nồng độ của chất cần xác định. Mối liên hệ phụ thuộc giữa cường độ
màu và hàm lượng được thể hiện qua định luật Lambert – Beer.
I
A = log = ε *l *C
I0

Trong đó:
A : Độ hấp thu.
C : Nồng độ (mol/l; mg/l).
L : Chiều dày lớp dung dịch, cm.
ε : Hệ số hấp thu phân tử.

5.3. PHƯƠNG PHÁP XÁC ĐỊNH BỀ MẶT RIÊNG (BET)

5.3.1. Giới thiệu chung về phương pháp

Diện tích bề mặt riêng của vật liệu thí nghiệm được xác định trên cơ sở hấp

phụ khí N2 ở nhiệt độ N2 lỏng (-195,8 ο C).

Diện tích bề mặt riêng có nhiều ý nghĩa khác nhau đối với chất rắn xốp hay
không xốp. Đối với chất rắn xốp thì diện tích bề mặt riêng là diện tích bề mặt bên
ngoài và bề mặt bên trong. Diện tích bề mặt bên trong là diện tích của nhiều lỗ
xốp và lớn hơn rất nhiều so với diện tích bề mặt ngoài.

5.3.2. Nguyên tắc

Bề mặt riêng của vật liệu được xác định bằng cách hấp phụ khí N2 ở nhiệt độ

N2 lỏng (-195,8 C hay 77 K) và phương trình BET để xử lý kết quả.

Phương trình BET tổng quát dự trên cơ sở hấp phụ đa phân tử. Thực tế cho
thấy phương trình BET tuyến tính trong vùng X từ 0,05 – 0,3. Từ đó xác định bề
mặt:

SS =
S o * Vm
W
(cm 2 / g )
Trong đó:
SS : Diện tích bề mặt riêng của mẫu (cm2/g)

So : Diện tích bề mặt của 1cm3 khí N2 cần để hình thành đơn lớp

Vm : Thể tích khí để hình thành đơn lớp khí hấp phụ (cm3 )

W : Khối lượng mẫu (g).

5.4. MỘT SỐ PHƯƠNG PHÁP KIỂM TRA CẤU TRÚC
Trong các tài liệu về vật liệu học, các vật liệu có cấu trúc tinh thể lập lại sẽ
nhiễu xạ qua tia X (XRD). Phổ nhiễu xạ Rơnghen nhận diện nhanh và chính xác
các pha tinh thể, đồng thời có thể sử dụng để định lượng pha tinh thể và kích thước
hạt với độ tin cậy cao. Nguyên lý chung của phương pháp nhiễu xạ tia X xác định
kích thước tinh thể là dựa vào ảnh hưởng khác nhau của kích thước tinh thể lên
phổ nhiễu xạ. Các khoáng vật có cấu trúc tinh thể khác nhau thể hiện sự nhiễu xạ
qua tia X khác nhau. Phương pháp này còn cho biết được hàm lượng khoáng vật
có trong đất. Tuy nhiên phương pháp này không áp dụng được với một số loại đất
sau: đất có chứa vật chất hữu cơ và các khoáng vật không phải là sét, đất có chứa
khoáng vật sét hỗn hợp.
Phương pháp phân tích nhiệt (DTA) cũng thường được sử dụng để phân tích
khoáng vật sét. Mẫu đất cần xác định sẽ được nung liên tục cùng với một chất trơ
làm vật đối chứng ở nhiệt độ cao. Cấu trúc đặc biệt của khoáng vật sét sẽ quyết
định sự biến đổi nhiệt, từ đó suy ra cấu trúc của khoáng vật.
Ngoài ra, phương pháp SEM cũng được dùng trong việc nghiên cứu cấu trúc
của khoáng vật. Tuy nhiên, phương pháp này chỉ mang tính chất định tính vì kích
thước khoáng vật rất nhỏ nên chỉ có thể xác định được kích thước các phiến sét
trước và sau hoạt hóa, không thấy được sự thay đổi cấu trúc bên trong như hai
phương pháp trên. Ưu điểm của phương pháp SEM là có thể thu được những bức ảnh
ba chiều rõ nét và không đòi hỏi phức tạp trong khâu chuẩn bị mẫu. Tuy nhiên phương
pháp SEM có độ phóng nhỏ hơn so với phương pháp TEM.

Hiển vi điện tử quét môi trường (E-SEM): Quan sát cấu trúc và thành phần vật liệu (kim
loại, phi kim, sinh học...);
- Nhiễu xạ tia X (XRD): Phân tích thành phần và pha có trong mẫu;
- Phổ quang điện tử tia X (XPS), phổ hấp thụ nguyên tử (AAS): Phân tích thành phần các
nguyên tố;
- Các loại kính hiển vi quang học ghép nối máy tính...
SEM và TEM
SEM (scanning electron microscope) là thiết bị kính hiển vi điện tử quét, SEM có thể
hiểu nôm na như là 1 chiếc kính lúp để phóng to mọi vật tuy nhiên kính lúp là việc nhìn 1
ảnh ảo của thấu kính có tiêu cự ngắn bằng ánh sáng quang học để làm vật thể to hơn thì
SEM tạo ra chùm điện tử và sử dụng nó như 1 công cụ nhằm phóng to mọi vật mà kính
lúp hay kính hiển vi thông thường không làm được.
Kính hiển vi điện tử quét lần đầu tiên được phát triển bởi Zworykin vào năm 1942 là một
thiết bị gồm một súng phóng điện tử theo chiều từ dưới lên, ba thấu kính tĩnh điện và hệ
thống các cuộn quét điện từ đặt giữa thấu kính thứ hai và thứ ba, và ghi nhận chùm điện
tử thứ cấp bằng một ống nhân quang điện.
Năm 1948, C. W. Oatley ở Đại học Cambridge (Vương quốc Anh) phát triển kính hiển vi
điện tử quét trên mô hình này và công bố trong luận án tiến sĩ của D. McMullan với
chùm điện tử hẹp có độ phân giải đến 500 Angstrom. Trên thực tế, kính hiển vi điện tử
quét thương phẩm đầu tiên được sản xuất vào năm 1965 bởi Cambridge Scientific
Instruments Mark I và từ đó tới nay thiết bị này ngày càng hoàn thiện và phổ biến trong
các nghiên cứu vật liệu, y học, vật lý…
(còn tiếp)