SVEUILITE JOSIPA JURJA STROSSMAYERA U OSIJEKU ELEKTROTEHNIKI FAKULTET OSIJEK

Slaven Sakai
(Razlikovna)

MJERENJE TAKTNE ASIMETRIJE REZOLUCIJE OD 0.84 PS POMOU PODUZORKOVANJA

SEMINARSKI RAD

Osijek, 2012.

SADRAJ

1. UVOD...............................................................................................1 2. UVOD U MJERENJE ASIMETRIJE...........................................2 3. HISTOGRAM ARITMETIKE RAZLIKE................................4 3.1 Pregled sustava............................................................................4 3.2 Analitiki pregled........................................................................9 4. EKSPERIMENTALNA POSTAVA............................................10 5. REZULTATI MJERENJA...........................................................12 6. ZAKLJUAK................................................................................20 LITERATURA..................................................................................21 PRILOZI............................................................................................22

1. UVOD

IEEE TRANSAKCIJE NA SUSTAVE VRLO VELIKOG STUPNJA INTEGRACIJE(VLSI), SVEZAK 19, BROJ 12, PROSINAC 2011.

U ovom radu prezentiran je potpuni digitalni taktno asimetrijski mjerni sustav na ipu. Taktni vorovi su poduzorkovani sa blisko frekvecijskim asinkronim uzorkovanim taktom iz kojeg proizlazi pulsni signali koji su asimetrijski u istom omjeru, ali na veoj vremenskoj skali. Pulsni signali su tada prikladno maskirani za izdvajanje samo asimetrijski rastuih rubova taktnih signala. Autori u ovom radu predlau histogramsko aritmetiku razliku pulsnih signala koji razdvajaju odnos taknih podrhtavanja na minimalnu mjerljivu asimetriju, i doputa proizvoljnu blizu nuli asimetriju da se mjeri sa preciznou limitiranom u velikoj mjeri od mjerenog vremena, za razliku od konvecionalnog XOR temeljenog histogramskog pristupa. Autori analitiki prikazuju da predloeni pristup vodi do nepristrane procjene asimetrije. Mjereni rezultati iz 65 nm prednjeg kraja sustava za mjerenje kanjenja pokazuju da je za ulazni asimetrijski raspon od 1 nezavisno zakanjele procesne metrike (fan-out-of-4), moe se dobiti 3 rezolucija od 0.84 ps sa integralnom pogrekom od 0.65 ps. Autori demonstriraju da frekvencijska modulacija u uzorkovanom taktu zadrava preciznost, ukazujui na robustnost tehnike prema podrhtavanju. Takoer autori pokazuju kako FM modulacija pomae u obnovi preciznosti u sluaju racionalno vezanih taktova.

2. UVOD U MJERENJE ASIMETRIJE

Precizna ipna mjerenja kanjenja su bila izazov od poetka razvoja digitalno integriranih krugova. S uskim vremenskim budetom, postoji potreba za mjerenje asimetrije u taktnoj mrei u prisutnosti poveanih varijabilnih procesa, kako bi se omoguilo aktivna kompenzacija asimetrije. Ovo zahtijeva mjerenja asimetrije izmeu periodinih taktnih signala na razliitim lisnim vorovima. Mjerenje kanjenja mnogih sklopnih struktura se takoer moe pretvoriti u mjerenje asimetrije periodinih signala tako da ih se uzbuuje sa periodinim izvorom. Openito, kanjenje je digitalizirano koristei razliite vrste vremenski digitalne pretvarae (TDC). Autori u [1] predlau vrlo precizno grubo-fine vremenski digitalne pretvarae temeljene na naelu uzastopnih aproksimacija analogno-digitalnih pretvaraa i vremenskih pojaala. Autori u [2] predlau trenutno vremenske digitalne pretvarae koji koriste posrednike i mogu biti kalibrirani za vrlo visoke rezolucije. Koriste rasprostiranje posrednikih naponskih pragova za dobivanje skupa digitalnih kodova iz niza posrednika za mjerenje kanjenja. Ali, to je ogranieno neuniformnom raspodjelom razmaka posrednika, i djeluje u malom rasponu vremena. Autori u [3] i [4] istrauju neke od popularnih digitalnih tehnika za mjerenje kanjenja koji koriste odvodno i nonijus linijske metode za kanjenje. Neka od tradicionalnih pitanja kanjenja nonijus linija rjeavaju se pomou komponentnih nepromjenjivih linija nonijus kanjenja u [5]. Veina ovih vremensko digitalnih pretvaraa imaju sposobnost mjerenja kanjenja izmeu bridova dvaju aperiodina signala. Oni takoer mogu izvest mjerenje u jednom trenutku- to jest, jedno pojavljivanje bridnog para moe se koristiti da se utvrdi njihovo vrijeme razdvajanja. Autori u [6] predlau shemu za okarakteriziranje perioda podrhtavanja dobivanjem kumulativne funkcije raspodjele taktnog brida, i mijenjajui ga tako da se mjeri asimetrija izmeu dviju listnih vorova taktnog raspodjelene mree. Meutim, prilikom mjerenja asimetrije izmeu periodinih signala, asinkrono uzorkovanje nakon ega slijedi histogramska analiza vodi do jednostavnije implementacije. Asinkrono uzorkovanje je predloeno kao nain da se procjene podatkovni pretvarai u [7]. Asinkroni uzorkovani taktovi postiu uinak dobivanja jedinstvenog sluajnog uzorka preko svih naponskih polja za dani podatkovni pretvara. Ova ideja je primjenjena u [8] [11] za kalibraciju kanjenja izmeu dviju taktnih faza. Umjesto dobivanja histogramskog rauna preko svih naponskih polja, autori postavljaju histogram za raunanje broja puta da se asinkroni uzorkovani takt pojavljuje izmeu bridova dviju periodinih signala koji su uzeti za mjerenje, uzimajui XOR uzorkovanih izlaza. Omjer histogramskih rauna prema totalnom broju uzoraka daje procjenu faznog razmaka. Meutim, u tom pristupu, minimalna asimetrija koja moe biti izmjerena je ograniena taktnim podrhtavanjem. Kao ilustracija, ako su dva

IEEE TRANSAKCIJE NA SUSTAVE VRLO VELIKOG STUPNJA INTEGRACIJE(VLSI), SVEZAK 19, BROJ 12, PROSINAC 2011.

brida normalno na nula asimetrije, uslijed neuzajamnog podrhtavanja izmeu njih, kad tad, izlaz sklopa za uzorkovanje e biti razliit. To pak uzrokuje da XOR izlaz ode na visoko rezultirajui u inkrimentu histogramskom brojaa, koji e onda pokazati pogrenu vrijednost asimetrije razliitu od nule. Ako podrhtavanje je neuzajamno podrhtavanje za svaki od dvaju bridova, tada moemo oekivati minimalnu asimetriju razliitu od nule koja se moe otkriti sa 99% vjerojatnou tako da bude 3/2podrhtavanje. Autori u [8] predlau zaobilaznicu za ovo ogranienje mjerenjem asimetrije svakog taktnog vora sa referencom na drugi signal koji ima kanjenje mnogo vee od 3/2podrhtavanje. Predloen pristup autora ovog rada uklanja potrebu za jo jednim takntim signalom protiv koja se mjeri svako vorno kanjenje. U dodatku, prikazuje se analitiki da ovaj pristup predstavlja nepristranu procjenu asimetrije. Eksperimentalno je testirana tehnika upotrebljavajui 65 nm testni ip i provjereno je da taktno podhrtavanje ne ograniava preciznost, nego samo mjereno vrijeme ograniava preciznost. Na sadanji rad je napredak na raniji rad raspravljen u [12], koji ima mnogo sloeniju hardversku implementaciju. Rad je organiziran na sljedei nain: u poglavlju 2.1. opisana je alternativna tehnika za utvrivanje poljnog pogodka, koji zauzvrat nam daje ulaznu procjenu asimetrije. Ovo eliminira neovisnost poljne veliine na taknto podrhtavanje i ogranien je teoretski samo vremenom mjerenja. Autori rada opisuju eksperimentalnu postavu za provjeru njihove ideje u poglavlju 3. Rezultati mjerenja iz 65 nm testnog ipa dan je u poglavlju 4, slijeen zakljukom u poglavlju 5.

3. HISTOGRAM ARITMETIKE RAZLIKE

3.1 Pregled sustava

Razmotrite proizvoljni meuspremnik i povezanu mreu, u kojima treba mjeriti asimteriju (ili kanjenje) izmeu vorova d1 , d2 kao to je prikazano na slici 3.1.

Slika 3.1: Ilustracija poduzorkovanog sustava. Dodatni sklop za uzorkovanje je dodan na listnim vorovima asimetrijskog mjeraa Kao primjer, to bi mogao biti taktno distribucijska mrea i vorovi interesa mogu biti listni vorovi takve mree. Uzbudujui ulaze ove mree s periodinim taktnim izvorom (clk), periodiki izlaz T moemo oekivati na dvima listnim vorovima, koji imaju relativnu asimetriju . Uvodimo dva sklopa za uzorkovanje na svaki od vorova, koji su sinkronizirani posebnim uzorkovanim taktom, (sclk) s malo drugaijom periodom Ts=T + T. Moe se koristiti takt uzorkovanja koji je asinhron prema clk (dobiven pomou nezavisnih kristalnih izvora) ili racionalno srodan (preko spregnute petlje kanjenja/fazno spregnute petlje), ali ima dodatno podrhtavanje dodano(preko FM). Izlazi dviju sklopova za uzorkovanje e biti pulsni signali kao prikazano na slici 3.2, iji je period dan kao Ts*(T / T), koji je u sutini uzorkovani taktni period pojaan za faktor T/T. Ulazna asimetrija () je takoer pojaana kao asimetrija izmeu poduzorkovanih izlaza tako da bude (/T)* Ts .

IEEE TRANSAKCIJE NA SUSTAVE VRLO VELIKOG STUPNJA INTEGRACIJE(VLSI), SVEZAK 19, BROJ 12, PROSINAC 2011.

Slika 3.2: Ilustracija pojaanja signalne periode u poduzorkovanom sustavu Asimetrija u smislu jedinica intervala, tj. , frakcija /T je tada digitalno mjerena prema predloenoj jedinici za mjerenje kanjenja. Zabiljeite da bilo koja asimetrija u uzorkvanom taktu na sklopovima za uzorkovanje (Ts) e takoer dodati asimetriji pulsnih signala prikazanim na slici 3.3.

Slika 3.3: Ilustracija razliitih izvora pogreki u mjerenom sustavu Ali ovo je neizbjeno za bilo koje asimetrijsko mjerenje u distribucijskom sustavu koje zahtijeva referentni takt. Srodno, ulazni naponski razmak (Vuzorkova) izmeu dviju

sklopova za uzorkovanje u vezi s konanim zaokretom (Sr) ulaznog signala takoer dodaje asimetriji u pulsnom signalu. Stoga, to jedinica za mjerenje kanjenja zapravo mjeri je ( +Ts+(Vuzorkiva/Sr))/T. Dakle, tonost mjerenja je ograniena kvalitetom uzorkovanog takta distribucije i ulaznog neslaganja sklopa za uzorkovanje. Meutim, pokazano je poslije u radu da je preciznost mjerenja u velikoj mjeri odreena mjernim vremenom i to e biti sredite rasprave u ostatku rada. Za mjerenje asimtrije izmeu dviju vorova d1 i d2 , koristi se postava kao to je prikazana na slici 3.4.

Slika 3.4: Postava za procjenu asimetrije Sklopovi za uzorkovanje su uvedeni na d1 i d2 kako bi dali poduzorkvane signale q1 i q2. Ovi signali su obraeni uz pomo odskonih i maskiranih stanja stroja za maskiranje padajue rubne statistike da daju c1 i c2. Njihova razlika, c1 - c2, je akumulirana u broja za 2k uzorkovana taktna ciklusa. Tada je pomaknut udesno za k bita ( podijeljeno sa 2k) za dobivanje digitalne kodne rijei za /T. Zabiljeite da se jedinica za mjerenje kanjenja, sastoji od strojeva stanja i brojaa, koji se mogu se dijeliti diljem svih uzorkovanih vorova. Pomou multipleksera za odabir dva poduzorkovana signala, moe se dobiti asimetrija izmeu parova vorova. informacija para razboritih asimterija mogu tada biti vezani zajedno da daju ukupnu asimetrijsku distribuciju preko svih mjerenih vorova. Budui da poduzorkovani izlazi su u domeni uzorkovanih taktova, to je isto kao i za jedinicu za mjerenje kanjenja, usmjeravanje ovih signala uvelike je pojednostavljeno. Jedino ogranienje je potreba za istim brojem cjevovodnih kanjenja za svaki od poduzorkovanih signala. To takoer omoguuje jednostavno mjerenje asimetrije u vrlo velikim brzinskim taktnim

IEEE TRANSAKCIJE NA SUSTAVE VRLO VELIKOG STUPNJA INTEGRACIJE(VLSI), SVEZAK 19, BROJ 12, PROSINAC 2011.

mreama. Jer se jedinica za mjerenje kanjenja moe dijeliti, za ovaj pristup podruje povrine je vrlo malo. Uslijed podrhtavanja, konanog vremena porasta signala i ustrojenost neogranienog vremenskog sklopa za uzorkovanje, njihovi izlazi e imati vibracije izmeu digitalnih valova, kao prikazano na slici 3.5.

Slika 3.5: Strojna stanja i vremenski dijagrami za razliite signale u jedinici za predvianje asimetrije Budui da smo zainteresirani za pronalaenje asimetrije za samo jedan polaritet rubova ulaza
d1 i d2 , moramo prikladno maskirati uzorkovane signale odgovarajuih padova rubova. To

je uinjeno preko dva strojna stanja, kao prikazano na slici 3.5. Mjerenja vremena valnih oblika signala koriteni u strojnim stanjima su takoer skicirani. Odskono stanje stroja otkriva prvi rastui rub na izlazu sklopa za uzorkovanje qi, i potvruje eni signal tako da ga prekrije za veliko trajanje pulsnog signala qi. Veliko trajanje pulsnog signala odreeno je tajmerom sinkroniziran s uzorkovanim taktom. Nakon to tajmer prijee prag, prvo vrijeme bilo od q1 ili q2 padne , maskirani signal , m, je potvren da potvrdi, c1 i c2 istovremeno. Sada signali, c1 i c2 sadre samo rastue rubovne informacije za ulazne signale d1 i d2, a time i njihova histogramska analiza daje rastuu rubovnu statistiku.

Kako bi se osiguralo da aktivirani signali eni se ne aktiviraju lano i odu u nulu zbog odskonih rubova od qi u blizini rastuih prijelaza, pragovna vrijednost treba biti postavljena na odgovarajuu vrijednost. Gornja granica namee se na omjer T/T. U provedbi, postavljeno je na 16 kao i za sve sluajeve kada je 1000 > (T/ T) > 50 i postavljeno na 2 kada je (T/T) < 50 kao i za nie T/T omjere, dobivajui vie od dvije odskone tranzicije oko rastueg ruba qi, to je vrlo malo vjerojatno za vrijednosti praktinih podrhtavanja na taktovima. Kada histogramski raun XOR-a dviju poduzorkovanih signala je uzet kao prezentiranih u [8]-[11] , uslijed prisutnosti podrhtavanja na taktu, mogu se oekivati pogreke za procjenjenu asimteriju za zadani red podrhtavanja. To se lako moe razumjeti u sluaju za upravo nula nominalnih asimtrija izmeu d1 i d2 (Slika 3.6).

Slika 3.6: Ilustracija pogreke uslijed podrhtavanja na ulaznim taktovima za mjerenu asimetriju oko nule U ovom sluaju, zbog nekoreliranih podrhtavanja u d1 i d2, histogramski broja e se inkrementirati na ne nultnu vrijednost, koji se odnosi na nekorelacijsko podrhtavanje. Ovaj uinak je nazvan reorganizacijski problem u [8]. Autori u [8] zaobilaze ovo pomou referentnog signala koji ima mnogo vee kanjenje nego podrhtavanje i mjere kanjenja individualnih vorova protiv ovog. Vrijednosti su onda oduzimane kako bi dobilo kanjenje izmeu originalnih vorova. Predloena aritmetika razlika u stvari postie ovo, ali bez potrebe dodatnog referentnog signala, ime se smanjuje povrina i snaga.

IEEE TRANSAKCIJE NA SUSTAVE VRLO VELIKOG STUPNJA INTEGRACIJE(VLSI), SVEZAK 19, BROJ 12, PROSINAC 2011.

Visoka rezolucijska mjerenja zahtjevaju uzorkovani takt da uniformno uzorkuje cijelo vrijeme izmeu rastuih rubova od d1 i d2. To je zajameno pomou asinkrono uzorkovanog takta izveden iz nezavisnog kristala.

3.2 Analitiki pregled

Kad je uzorkvani takt asinkron prema taktu koji upravlja mjerene vorove, T/T je iracionalni broj i stoga moe biti napisan kao T = NT + gdje je N cijeli broj i 0 < a < T. To uzrokuje da uzorkovani rub ravnomjerno padne preko cijele periode uzorkovanog signala. Dakle, postotak vremena uzorkovani rub pada izmeu uzorkovanih rubova direktno propocionalno asimetriji kao djeli periode. Neka T1 i T2 budu vremena, unutar taktne periode kada d1 i d2 prijeu logiko visoki prag, i neka je Ts je vrijeme kada uzorkovani takt prijee uzorkovani prag. Uslije podrhtavanja, T1 ,
T2 i Ts postaju sluajne varijable. Prosjek aritmetike razlike izmeu uzorkovanog izlaza

preko 2k uzorkovanog taktnog ciklusa je upotrebljen kao procjena za asimetriju

S= 12ki=12kXi

[1]

Gdje Xi=q1i-q2i je aritmetika razlika izmeu i-tog uzorkovanog izlaza. Pokazano je u prilogu da je:
ES= T

[2]

Dakle, statisktika mjerenja kanjenja je nepristran procjenitelj asimterije kao dio taktne periode. Teoretski slobodan gornji pojas za procjenu standardnog odstupanja (izveden u prilogu) je
12k+1

[3]

4. EKSPERIMENTALNA POSTAVA
Za eksperiment proizveden testni ip u 65 nm procesnom voru (Slika 4.1.).

Slika 4.1: Izgled suelja izraen industrijskim CMOS postupkom na 65 nm ipu Testna struktura u sutini se sastoji od niza sklopova za uzorkovanje, meuspremnika i jednog multipleksera, koji daju suelje za procjenu asimetrije kao objanjeno na slici 3.4. Dva taktna ulaza iju asimetriju elimo mjeriti su dovedeni izvan ipa tako da se kalibrirane asimetrije mogu uvesti i da se uinkovitost tehnike moe prouavati. Slino, referenti takt je takoer doveden izvana da se omogui eksperimentriranje sa razliitim vrijednostima T i T. Pulsni signal sa izlaza multipleksera je direktno doveden iz ipa i procesiran u FPGA ploi, tako da raznoliki odskoni algoritmi i digitalno obradne opcije mogu biti eksperimentirani na fleksibilan nain. Budui da nije bilo signalnog generatora da se generiraju dva ulazna takta sa asimetrijom u subpico drugoj rezoluciji, sintetizirana je takvo kanjenje pomou kabela fiksne duljine, i varirajuih taktnih frekvencija. Jedini taktni izvor se prenosi kabelom od izabrane duine da se osigura kanjenje od jednog taktnog perioda. Onda relativna kanjenja izmeu rubova na ulazu i izlazu kabela danu su razlikom u propagaciji kanjenja preko kabela i taktnog perioda. Tada, precizna kanjenja izmeu rubova ulazna i izlazna kabela mogu se dobiti podeavanjem taktnog perioda (Slika 4.2).

IEEE TRANSAKCIJE NA SUSTAVE VRLO VELIKOG STUPNJA INTEGRACIJE(VLSI), SVEZAK 19, BROJ 12, PROSINAC 2011.

Slika 4.2: Postava za mjerenje u laboratoriju Dobro kvalitetni radio frekvencijski koaksijalni kabeli su izabrani kako bi se osiguralo da signali kroz njih nisu iskrivljeni zbog guenja visoko brzinskih komponenata. Za dva taktna izvora, dva vektroska signalna generatora (R&S SM300 i Agilent E4428C) su upotrebljeni. Sinusoidalni signali su pretvoreni u kvadratne valove upotrebljavajui veliki brzinski komparator ADCMP562. Korijen srednjeg kvadrata podrhtavanja na ulaznom testnom ipu je mjeren na 30ps. Najvea frekvencija rada bila je ograniena I/O specifikacijama testnog ipa i perifernim ureajima za pouzdan rad. Stoga, kabelsko kanjenje i ulazni raspon kanjenja su izabrani tako da daju nula ulaznog kanjenja testnog ipa oko te frekvencije.

5. REZULTATI MJERENJA

Slika 5.1. prikazuje mjereni izlaz jedinice za mjerenja kanjenja kao funkciju ulaznog kanjenja i preostalog dijagrama nakon linearnog uklapanja, s izborom parametara T=8.33 ns,
T= 134 ps i k=24.

Slika 5.1: Karakteristina ulazno-izlazno kanjenje za ulazno kanjenje raspona od 1 kanjenja pretvaraa i preostale pogreke nakon linearne uklapanja

IEEE TRANSAKCIJE NA SUSTAVE VRLO VELIKOG STUPNJA INTEGRACIJE(VLSI), SVEZAK 19, BROJ 12, PROSINAC 2011.

Za uklanjanje zakanjelog pomaka s obzirom na usmjeravanje iz ipnih ploica prema ulazu sklopa za uzorkovanje, ulazno kanjenje je pometeno do izlaznog kanjenja sve dok izlazno kanjenje nije mjereno da bude nula. Takoer unutar testnog ipa, skraivanjem ulaza sklopa za uzorkovanje, ulazno kanjenje moe se postaviti na nulu koje takoer mjereno je vrlo blizu nule (zapravo to daje kanjenje zbog razmaka sklopa za uzorkovanje). U svim grafovima koji izvjeuju rezultate za vanjske uvjete kanjenja, ukinuli smo im razmak kanjenja zbog usmjeravanja ipnih ploica prema izlazu sklopa za uzorkovanje. Za ulazni raspon kanjenja od oko 1 FO4 kanjenja pretvaraa (20 ps), mjerena standardna devijacija za svaku toku varira izmeu 0.2 i 0.3 ps. Mjerena maksimalna pogreka nakon linearno krivuljnog uklapanja (integralna pogreka) je 0.65ps. Za ire ulazno kanjenje raspona od 600 ps, maksimalna integralna pogreka je 8 ps (Slika 5.2).

Slika 5.2: Mjereni ulazno-izlazno kanjejna za ulazni raspon kanjenja od 600 ps

Takoer je testirano sa veim ulaznim kanjenim rasponom od 1.5 ns, to rezultira u integralnoj pogreci od 40 ps. Vea integralna pogreka za vei raspon ulaznog kanjenja su zbog promjena u vremenu porasta ulaznog signala na ipu. Ovo je provjereno pomou Agilent 54854A (4 GHz, 20 Gsa/s) osciloskopom za promatranje signala na ipnom ulazu. Slika 5.3 prikazuje mjerenu standardnu devijaciju na ipa kanjenjog elementa kao funkcija broja uzoraka unutarnjeg generatora za kanjenje sa zadanim parametrima od T= 8.33 ns,
T=134 ps, i razliitim k.

Slika 5.3: Mjerena standardna devijacija kao funkcija broja uzoraka za sinkroni sluaj Standardna devijacija smanjuje se sa kvadratnim korijenom broja uzoraka do 221 uzoraka i dobro odgovara sa [3]. Zasiuje na 0.14 ps preko 224 uzoraka i stoga je granica rezolucije koja je ostvariva s ovom postavom, dovodi do rezolucije od 0.84 ps. Teoretski, uz pretpostavku nezavisnosti izmeu svih jezgrinih taktova i uzorkovanih taktova, varijanca procijenjene asimterije smanjuje se monotono to se broj uzoraka poveava. Meutim, u odreenoj postavi, korelacija izmeu jezgrinih taktova (listnih vorova) pojavljuju se kao to su izvedeni iz istih izvora. tovie, uzorci kroz vrijeme su takoer povezani s obzirom na 1/f

IEEE TRANSAKCIJE NA SUSTAVE VRLO VELIKOG STUPNJA INTEGRACIJE(VLSI), SVEZAK 19, BROJ 12, PROSINAC 2011.

umom u signalnom izvoru, i njihova statistike su vremenski ovisne. Stoga, varijance procijenjene asimetrije je nie omeena zbog tih podrhtavanih komponenata, koji se ne mogu smanjiti jednostavnim usrednjavanjem. Dodavanje podrhtavanja signalima ne utjee na rezoluciju i zapravo poboljava rezoluciju u odreenim sluajevima. Kao primjer uzmimo u obzir kada uzorkovani takt se racionalno odnosi mjerenom taktu sa periodom Ts=(P/Q)T. U ovom sluaju, mjerena rezolucija ograniena je na T/Q. Meutim moe se poveati na gotovo istu razinu kao to je asinkrono uzorkovani sluaj pomou frekvencijske modulacije na uzorkovanom taktu. Ovo djeluje kao podrhtavanje i sluajno odabiranje rubovnih uzoraka, oponaajui asinkroni sluaj. Za potvrivanje ovog u laboratoriju, spojen je referentni izlaz signala jezgrenog taktnog izvora na referentnu toku uzorkovanog takt upotrebljen na Slici 4.2. Sa ovom promjenom oba izvora su frekvencijski ovisna jedino o jednom kristalu i pomou njihovog unutarnjeg sklopa za faznu sinkronizaciju oni stvaraju racionalno povezane jezgrene i uzorkovane taktne frekvencije. Uzorkovani taktni izvor ima mogunost pruanja frekvencijske modulacije, koja se koristi za stvaranje umjetnog podrhtavanja. Slika 5.4. pokazuje standardnu devijaciju mjerenog kanjenja unutarnjeg izvora kanjenja za T=8.33 ns, P=119, Q=120 sa i bez frekvencijske modulacije.

Slika 5.4: Mjerena standardna devijacija kao funkcija uzoraka za racionalno povezane uzorkovane taktove sa FM, za razliite modulacijske indekse

Pogreka za mjrereno kanjenje je veliko za sluaj bez frekvencijeske modulacije. Meutim, mjerena standardna devijacija se smanjuje kvadratnim korijenom broja uzoraka slino u sluaju asinhronog u [3], za FM odstupanje od 5 kHz. Rezultati su isti za frekvencijsku modulaciju frekvencije 20 Hz ili 100 Hz osim injenice da za manje modulacijske indekse ( FM odstupanja = 20 Hz), minimalna standardna devijacija koja se moe dobiti je 0.3 ps gdje sa veim FM odstupanjem of 5 i 80 kHz moe biti poboljana do 0.14 ps. Takav pojava gdje um poboljava rezoluciju je dobro poznata u pragovnim sustavima [13]. Slika 5.5. prikazuje mjereno kanjenje unutarnjeg elementa preko razliitih T za T = 8.33 ns. Za sluaj kada T/T je cijeli broj, pogreka postaje velika.

Slika 5.5: Mjereno kanjenje unutarnjeg kanjenog elementa preko razliitih T za T=8.33 ns sa i bez FM Broj uzoraka za svako mjerenje je barem 226. Sa frekvencijskom modulacijom, ak i za omjerno cijeli brojevni sluaj, pogreka kanjena se smanjuje na druge vrijednosti T kao prikazano na slici 5.5.

IEEE TRANSAKCIJE NA SUSTAVE VRLO VELIKOG STUPNJA INTEGRACIJE(VLSI), SVEZAK 19, BROJ 12, PROSINAC 2011.

Osim prosjene pogreke, drugi izvori pogreke u asimetrijskom mjerenju su neuskaenosti u ulaznom pomaku napona dviju sklopova za uzorkovanje i asimetriji u uzorkovanom taktu. Sa naponskim pomakom od Tuzorkova izmeu dviju sklopova za uzorkovanje i ulazne stope okretanja Sr, pogreka uvedena Tuzorkova / Sr, treba biti minimizirana opreznim dimenzioniranjem i brzim rubnim stopama. Ako su dva probna vora u neposrednoj blizini, onda moemo primjeniti pominu kompenzacijsku shemu kao u [8] davajui ulazu u sklop za uzorkovanje nultno kanjenje i kompenzacijom njihovih pomaka tako da digitalno kalibriramo njihove okidne ulaze. Asimetrija na uzorkovanom taktnom ulazu od dviju sklopa za uzorkovanje moraju biti minimizirani opreznim usmjeravanjem. Ova komponenta pogreke je duna da bude tamo u svakoj shemi gdje je asimetrija izmeu dva udaljena mjerena vora gdje se zahtijeva da imamo referenti takt. Kao jednostavna primjena ove tehnike, mjerimo neusklaenost osnovnih sklopova za uzorkovanje pomou strukture na slici 5.6(a).

Slika 5.6: Karakterizacija uzorkovanog pomaka (a) postava za mjerenje pomaka izmeu osam parova uzorkovaa (b) mjerni rezultati

Osam parova sklopova za uzorkovanje su pobueni istim ulaznim signalom i svaki parni izlaz je doveden na jedinicu za mjerenje kanjenja. Zabiljeite kako jedna jedinica za mjerenje kanjenja se moe koristiti za mjerenje kanjenja preko mnogo parova vorova, smanjujui prostornu povrinu jedinice znaajno. Budui da sklopovi za uzorkovanje su poloeni u neposrednoj blizini, nema ulazne asimterije u podacima kao i taktni ulazi ono to se mjeri je uinak neusklaenosti sklopova za uzorkovanje. Slika 5.6(b) prikazuje mjerenu neusklaenost sklopova za uzorkovanje za osam parova unutar 1 ps sa standardnom devijacijom od 0.14 ps sa T=8.33 ns, T= 134 ps i 223 uzoraka uzetih za usrednjavanje. Prilino velik pomak neusklaenosti sklopa za mjerenje je zbog slabog vremena porasta uzorkovanog takta, to je potvreno s post planskom simulacijom. U drugom eksperimentu, izmjeren je napon u ovisnosti o kanjenju unutarnjeg meuspremnika koristei postavu prikazanu na slici 5.7(a).

Slika 5.7: Karakterizacija nezavisnosti kanjenja unutarnjeg meuspremnika na naponu napajanja (a) postava za mjerenje ovisnosti napona napajanja i kanjenja unutarnjeg meuspremnika (b) dobiveni rezultati Mjereno kanjenje na slici 5.7(b) bilo je blizu prostorno simulacijskom kanjenju unutarnjeg meuspremnika. Manji broj uzoraka je potreban u ovom mjerenju u usporedbi s onim uzetima za slike 5.1. i 5.2., ulazno kanjenje je ono od unutarnjeg meuspremnika koje je vie

IEEE TRANSAKCIJE NA SUSTAVE VRLO VELIKOG STUPNJA INTEGRACIJE(VLSI), SVEZAK 19, BROJ 12, PROSINAC 2011.

stabilnije od vanjski dovedenog kabelskog kanjenja. Kao to je prikazano na slici, inkrimenti kanjenja manji od 1 ps mogu biti rijeeni. Mjereno vrijeme je 2k uzorkovanog taktnog ciklusa i moemo povezati sa standardnom devijacijom gdje je stoga rezolucija s iz (3), kao Mjereno vrijeme ~ T2s2 [4]

Mjereno vrijeme po pretvorbi je oko 140 ms kako bi se dobila 3 rezolucija od 0.84 ps. U sluaju zajednikih mjerenja u razliim listnim vorovima, mjereno vrijeme e biti poveano za broj listnih vorova za koje mjerenje mora biti izvedeno. Stoga, postoji izmjena izmeu povrine i mjerenog vremena. Ali budui da jedinica za mjerenje asimterije zahtijeva relativno malu povrinu (oko 1 K NAND2 ekvivalentnih vrata) i ne treba ogranienje prostora, vie kopija se moe replicirati kako bi se smanjilo ukupno vrijeme mjerenja za sluajeve zajednikih mjerenja. Zbog relativno malog broja vrata i vrlo niskog faktora aktivnosti(budui da su ulazi poduzorkovani ulazi), potronja snage u modulu mjerenja kanjenja je neznatna.

6. ZAKLJUAK

Asinkrono poduzorkovanje nakon ega slijedi statistiko usrednjavanje doputa mjerenje statistike asimetrije izmeu periodinih signala. Predloena metoda odskakivanja iz ega slijedi usrednjavanje aritmetike razlike signala uklanja se sva zavisnost o rezoluciji s uzorkovanim taktnim podrhtavanjam, za razliku od prethodnih radova. Mjereni rezultati sa 65nm testnim ipom pokazuju sposobnost za mjerenje asimetrije s 3 rezolucijom od 0.84ps i integralnom pogrekom od 0.65 ps za dovedenu asimetriju raspona od 1 FO4 kanjenja (20ps). Tehnika se takoer moe koristiti za mjerenje veih asimetrija sve bliim
(T/2), gdje je T period takta. Preciznost je nepromjenjena od taktnog podrhtavanja kao

mjerena rezolucija od 0.84 ps. 0.84 ps rezolucija je dobivena s taktnim izvorom sa 30 ps rms podrhtavanjem. To je dodatno provjereno eksperimentima gdje frekvencijska modulacija na uzorkovanom taktu uva razluljivost. U stvari, u odreenim sluajevima u kojima je uzorkovani takt u racionalnom odnosu prema jezgrenom taktu, frekvencijska modulacija poboljava razluljivost, koja je inae degredirana.

LITERATURA
Tekst preveden

IEEE TRANSAKCIJE NA SUSTAVE VRLO VELIKOG STUPNJA INTEGRACIJE(VLSI), SVEZAK 19, BROJ 12, PROSINAC 2011.

0.84 ps Resolution Clock Skew Measurement via Subsampling Autori Bharadwaj Amrutur, Member, IEEE, Pratap Kumar Das, Student Member, IEEE, i Rajath Vasudevamurthy, Student Member, IEEE [1] M. Lee and A. Abidi, A 9 b, 1.25 ps resolution coarse-fine time-to-digital converter in 90nm cmos that amplifies a time residue, IEEE J. Solid-State Circuits, vol. 43, no. 4, pp. 769777, Apr. 2008. [2] V. Gutnik and A. Chandrakasan, On-chip pico second time mea-surement, in Proc. Symp. VLSI Circuits Dig. Tech. Papers, 2000, pp. 5253. [3] M. A. Abas, G. Russell, and D. J. Kinniment, Built-in time measure-ment circuitsA comparative design study, IET Computers & Digital Techn., vol. 1, no. 2, pp. 8797, Mar. 2007. [4] P. J. Restle, R. L. Franch, N. K. James, W. V. Huott, T. M. Skergan, S. C. Wilson, N. S. Schwartz, and J. G. Clabes, Timing uncertainty measurements on the power5 microprocessor, in Proc. ISSCC Dig. Tech. Papers, 2004, pp. 292293. [5] A. H. Chan and G. W. Roberts, A jitter characterization system using a componentinvariant vernier delay line, IEEE Trans. Very Large Scale Integr. (VLSI) Syst., vol. 12, no. 1, pp. 7995, Jan. 2004. [6] K. A. Jenkins, A. P. Jose, Z. Xu, and K. L. Shepard, On-chip circuit for measuring period jitter and skew of clock distribution networks, in Proc. IEEE CICC Dig. Tech. Papers, 2007, pp. 157160. [7] J. Doernberg, H.-S. Lee, and D. A. Hodges, Full-speed testing of a/d converters, IEEE J. Solid-State Circuits, vol. 19, no. 6, pp. 820827, Dec. 1984. [8] L.-M. Lee, D. Weinlader, and C.-K. K. Yang, A sub-10-ps multiphase sampling system using redundancy, IEEE J. Solid-State Circuits, vol. 41, no. 1, pp. 265273, Sep. 2006. [9] T. A. Knotts, D. Chu, and J. Sommer, A 500 MHz time digitizer ic with 15.625 ps resolution, in Proc. ISSCC Dig. Tech. Papers, 1994, pp. 5859. [10] D. Weinlader, H. Ron, C.-K. K. Yang, and M. Horowitz, An eight channel 35 gsample/s CMOS timing analyzer, in Proc. ISSCC Dig. Tech. Papers, 2000, pp. 170171. [11] D. Fick, N. Liu, Z. Foo, M. Fojtik, J.-S. Seo, D. Sylvester, and D. Blaauw, In situ delayslack monitor for high-performance processors using an all-digital self-calibrating 5 ps resolution time-to-digital con-verter, in ISSCC Dig. Tech. Papers, 2010, pp. 188189. [12] P. K. Das, B. Amrutur, J. Sridhar, and V. Visvanathan, On-chip clock network skew measurement, in Proc. A-SSCC Dig. Tech. Papers, 2008, pp. 401404. [13] L. Gammaitoni, Stochastic resonance and the dithering effect in threshold physical systems, Phys. Rev. E, vol. 52, no. 5, pp. 46914699, Nov. 1995.

PRILOG

U ovom prilogu, detaljnije su objanjena izvoenja pod [2] i (3) u glavnom tekstu. Neka T1 i
T2 budu vremena unutar taktnog perioda kada podatkovni takti d1 i d2 prijeu logiki visoki

prag, respektivno, i neka Ts bude vrijeme kada uzorkovani takt prijee prag uzorkovanja. Zbog podrhtavanja, oni su sluajne varijable. Bez gubitka openitosti, neka sredina T1 bude nula. Sredina od T2 je , koliina koja se procjenjuje. Neka bude
2=T2-

i neka
Ts=ts+s

[5]

Gdje je ts srednja vrijednost od Ts, a s je sluajna komponenta. Od interesa je da utvrdimo vjerojatnost da sklop za uzorkovanje uzorkuje visoku logiku. Sklop za uzorkovanje uzorkuje visoku logiku, ako se uzorkovani taktni rub pojavljuje ranije. Dakle
Pq1=1=PT1<Ts=PT1-s=P(T1-Ts<ts).

[6]

Neka je Z1=T1-s . Neka je 1(*) kumulativna funkcija distribucije od Z1. Iz [6]

Pq1=1=PZ1<ts= ts.

[7]

Neka je Z2=2-s. Neka je 2(*) kumulativna funkcija distribucije od Z2. Tada

Pq2=1=PT2<Ts=P2+<s+ts=PZ2<ts-=2ts-. [8]

Izlaz iz jedinice mjerenja kanjenja sa Slike 1. dan je kao

S= 12ki=12kXi

[9]

sa Xi=q1i-q2i , razlika i-tih uzoraka. Slijedi da

EXi=1tsi-2(tsi-) ,

[10]

gdje je tsi je i-ti uzorkovani trenutak. Neka je taktni period T i uzokrovani taktni period je T+T, T = N T+, gdje je N cijeli broj i 0< < T. Ovo uzrokuje da uzorkovani rub padne ravnomjerno preko cijele periode

IEEE TRANSAKCIJE NA SUSTAVE VRLO VELIKOG STUPNJA INTEGRACIJE(VLSI), SVEZAK 19, BROJ 12, PROSINAC 2011.

uzorkovanog signala tako da proizvede pulsnu periodu. Neka je mjerenje uzeto preko M pulsnih perioda, tako da MN = 2k. Stoga, [9] moe se prepisati kao
S=1MNjkXjk

[11]

Neka su =( 1,2,,n) poetne faze u svakoj pulsnoj periodi. Tada

ES=1MNjkE[Xjkj+kT]

[12]

Zamjenom iz [10], i primjena zakona ponovljivih oekivanja i sreivanjem sumacije, dobijemo

ES=EES=1Nk1MjE[1j+kT-2j+kT-]

[13]

Kako j su ravnomjerni preko 0 do T, ( sa funkcijom gustoe vjerojatnosti od 1/ T), unutarnje oekivanje je identino za svaki j i moe biti ocijenjen kao sljedei integral:
ES=1Nk1TkTk+1T[1t-2(t-)]d

[14]

Gornja sumacija moe biti zamjenjena prema integralu preko cijelog taktnog perioda T. Meutim ako pretpostavimo da je asmietrija i podrhtavanje taktova mala u usporedbi s periodom, tada limiti integracije mogu biti zamijenjeni s kao
E[S]=1T-[[1t-2t-]dt

[15]

Openito, procjenjivanje ovog integrala je teko. Meutim, u ovom konkretnom sluaju, moemo se vratiti na sljedei trik diferenciranja [15] s obzirom na
dE[S]d=1T-'2(t-)dt=1T

[16]

Budui da izraz u integralu je funkcija gustoe vjerojatnosti i integrira se na cjelinu, dokazujui [2]
ES= T

Varijanca od Xi, moe se ograniiti kao

VARXi=Pq1i=0Pq2i=1+Pq1i=1Pq2i=0<12

[17]

Iz [9] i [17]
VARS=s212k12

[18]

Iz ijeg ogranienja na standardno odstupanje od S je dano u [3] slijedi

12k+1