NORMA TCNICA PARA RECEBIMENTO DE BENS DE INFORMTICA PELA METODOLOGIA DE INSPEO POR ATRIBUTOS

Referncia: NT-AI.03.05.01
http://www.unesp.br/ai/pdf/nt-ai.03.05.01.pdf

Data: 17/04/2.001
STATUS: PRELIMINAR
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A Assessoria de Informtica, rgo executivo responsvel pela normatizao e padronizao de procedimentos referentes rea de informtica, de acordo com o Regulamento Geral para Uso e Administrao de Computadores e Redes da Unesp (RG-AI.00.01.01, Portaria UNESP 65/98), define a seguinte NORMA TCNICA: 1 RESUMO

Este documento estabelece planos de amostragem e procedimentos para inspeo por atributos visando o recebimento ou rejeio de bens de informtica adquiridos pela Reitoria, pelas Unidades Universitrias, pelas Unidades Complementares e Fundaes da Unesp. Este documento elaborado em conformidade com as informaes contidas na norma NBR 5426, estabelecida pela Associao Brasileira de Normas Tcnicas - ABNT. 2 PALAVRAS CHAVES Amostragem, inspeo, atributos, defeito, tamanho da amostra.

DEFINIES SOBRE INSPEO E AMOSTRAGEM

3.1 Inspeo: processo de medir, ensaiar e examinar a unidade de produto ou comparar suas caractersticas com as especificaes requeridas. 3.2 Inspeo por atributos: inspeo segundo a qual a unidade de produto classificada simplesmente como defeituosa ou no (ou o nmero de defeitos contado) em relao a um dado requisito ou conjunto de requisitos. 3.3 Unidade de Produto: elemento de referncia na inspeo. Pode ser um artigo simples, um par, um conjunto, uma rea, um comprimento, uma operao, um volume, um componente de um produto terminado ou o prprio produto terminado. A unidade de produto pode ou no ser igual unidade de compra, de fornecimento, de produo ou de expedio.

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3.4 Defeito: um defeito da unidade de produto a falta de conformidade a qualquer dos requisitos especificados. Os defeitos sero normalmente agrupados em uma ou mais da classes, classificados segundo sua gravidade. 3.5 Defeito crtico: defeito que pode produzir condies perigosas ou inseguras para quem usa ou mantm o produto. tambm o defeito que pode impedir o funcionamento ou o desempenho de uma funo importante de um produto mais complexo. 3.6 Defeito grave: defeito considerado no crtico que pode resultar em falha ou reduzir substancialmente a utilidade da unidade de produto para o fim a que se destina. 3.7 Defeito tolervel: defeito que no reduz, substancialmente, a utilidade da unidade de produto para o fim a que se destina ou no influi substancialmente no seu uso efetivo ou operao. 3.8 Unidade defeituosa crtica: a unidade que contm um ou mais defeitos crticos. Pode conter defeitos tolerveis e graves. 3.9 Unidade defeituosa grave: a unidade que contm um ou mais defeitos graves. Pode conter defeitos tolerveis, mas no crticos. 3.10 Unidade defeituosa tolervel: a unidade que contm um ou mais defeitos tolerveis. No contm defeitos graves nem crticos. 3.11 No-conformidade: a no-conformidade expressa em termos de "porcentagem defeituosa" ou em termos de "defeitos por cem unidades". 3.12 Porcentagem defeituosa: percentual determinado pela relao entre nmero de unidades defeituosas e o nmero de unidades inspecionadas. 3.13 Defeitos por cem unidades: percentual determinado pela relao entre nmero de defeitos e o nmero de unidades inspecionadas. Qualquer unidade de produto pode conter um ou mais defeitos. 3.14 Nvel de qualidade aceitvel NQA: mxima porcentagem defeituosa (ou o mximo nmero de "defeitos" por cem unidades) que, para fins de inspeo por amostragem, pode ser considerada satisfatria como mdia de um processo. 3.15 Mdia do processo: a porcentagem mdia de unidades de produto defeituoso ou nmero de defeito por 100 unidades, (qual seja aplicvel) encontrado em amostras de pelo menos 5 lotes consecutivos apresentados para inspeo original do produto. 3.16 Inspeo original: a primeira inspeo realizada em cada lote. 3.17 Lote de inspeo: Conjunto de unidades de produto a ser amostrado para verificar conformidade com as exigncias de aceitao. 3.18 Tamanho do lote: Nmero de unidades de produto contidas no lote.

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3.19 Amostra e tamanho da amostra: a amostra consiste em uma ou mais unidades de produto, retiradas do lote a ser inspecionado, de forma aleatria e independentemente de sua qualidade. O nmero de unidades de produto da amostra constitui o tamanho da amostra. 3.20 Amostragem representativa : Quando necessrio, o nmero de unidades de produto e da amostra deve ser retirado em proporo ao tamanho dos sublotes ou partes dos lotes, previamente identificados segundo um critrio racional. Tambm, neste caso, a amostra deve ser aleatria. 3.21 Plano de amostragem: o plano que determina o nmero de unidades de produto de cada lote a ser inspecionado (tamanho da amostra ou srie de tamanhos de amostra) e o critrio para a aceitao do lote (nmeros de aceitao e de rejeio). 3.22 Tipos de planos de amostragem: existem trs tipos de planos de amostragem: simples, duplo e mltiplo. A deciso quanto ao tipo de plano a ser utilizado baseada geralmente na comparao entre a dificuldade administrativa e os tamanhos mdios de amostra dos planos disponveis. O tamanho mdio da amostra dos planos mltiplos menor do que o utilizado para os planos duplos (exceto no caso correspondente ao plano simples com nmero de aceitao igual a 1) e ambos so sempre menores do que o tamanho de amostra para planos simples. Geralmente, a dificuldade administrativa para a amostragem simples e o custo por unidade de amostra so menores do que para dupla ou mltipla 3.23 Nvel de inspeo: o nvel de inspeo fixa a relao entre o tamanho do lote e o tamanho da amostra. O nvel de inspeo a ser usado para qualquer requisito particular ser prescrito pelo responsvel pela inspeo.

NORMA TCNICA

4.1 Aos interessados ou responsveis pela aquisio de bens de informtica da Reitoria, das Unidades Universitrias, das Unidades Complementares e das Fundaes da Unesp, facultada a adoo desta norma tcnica para inspeo por atributos visando o recebimento dos referidos bens, em concordncia com o especificado no artigo 73 da Lei de Licitaes 8.666/93. 4.2 O plano de amostragem adotado deve ser do tipo simples. 4.3 A unidade de produto igual unidade de compra por item dos bens de informtica em aquisio. 4.4 Uma unidade de produto classificada como defeituosa se possuir no mximo 1 (um) defeito crtico, ou 2 (dois) defeitos graves, ou 1 (um) defeito grave e 2 (dois) defeitos tolerveis ou 4 (quatro) defeitos tolerveis, em relao a um conjunto de requisitos especificados pelos interessados ou responsveis pela aquisio dos bens de informtica. 4.5 O nvel de qualidade aceitvel NQA a ser adotado nos planos de amostragem diz respeito porcentagem defeituosa de unidades de produto. 4.6 O nvel de qualidade aceitvel NQA a ser adotado como referncia para os planos de amostragem de 4% (quatro por cento), que equivalente ao ndice de falhas mdio dos bens de informtica em utilizao na UNESP.
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4.7 Cabe Assessoria de Informtica coletar, continuamente, informaes junto Reitoria, s Unidades Universitrias, s Unidades Complementares e s Fundaes, visando o levantamento e divulgao do ndice de falhas mdio dos bens de informtica em utilizao na Unesp. 4.8 Trs nveis de inspeo I, II e III so dados na Tabela 1 para uso geral. Salvo indicao em contrrio, ser adotada a inspeo em nvel II. A inspeo em nvel I poder ser adotada quando for necessrio menor discriminao ou ento o nvel III, quando for necessria maior discriminao. 4.9 A seu critrio a Reitoria, as Unidades Universitrias, as Unidades Complementares e as Fundaes da Unesp podero adotar um nvel de qualidade aceitvel NQA superior ou inferior ao ndice de falhas mdio dos bens de informtica em utilizao na UNESP. 4.10 A seu critrio a Reitoria, as Unidades Universitrias, as Unidades Complementares e as Fundaes da Unesp podero adotar um nvel de inspeo superior ou inferior ao nvel II. 4.11 Cdigo literal: os tamanhos de amostra so indicados por um cdigo literal na Tabela 1. Esta Tabela deve ser utilizada para a determinao da letra aplicvel ao tamanho do lote e nvel de inspeo prescritos. 4.12 Para obteno do plano de amostragem, o NQA e a letra de cdigo devem ser usados para obteno do plano de amostragem, a partir da Tabela 2. 4.13 Quando uma aquisio prever a existncia de sublotes para a Reitoria, para as Unidades Universitrias, para as Unidades Complementares ou para as Fundaes da Unesp, a inspeo poder ser efetuada considerando-se o total de unidades de produto em aquisio ou a inspeo poder ser efetuada em cada lote individualmente. 4.14 Quando uma aquisio prever a existncia de sublotes e a inspeo for efetuada considerandose o total de unidades de produto em aquisio, o nmero de unidades de produto e da amostra poder ser retirado em proporo ao tamanho dos sublotes. 4.15 Quando uma aquisio prever a existncia de sublotes e a inspeo for efetuada em cada lote individualmente, o nmero mximo de lotes rejeitado dever ser igual ao NQA. 4.16 Ocorrendo a rejeio de um lote ou sublote, provocada por falhas nas amostras de equipamentos, os interessados ou responsveis pela aquisio de bens de informtica da Reitoria, das Unidades Universitrias, das Unidades Complementares e das Fundaes da Unesp podero decidir pela sua devoluo ou pela convocao do fabricante ou fornecedor para proceder a correo dos defeitos ou falhas detectados. 4.17 Caso o fabricante ou fornecedor dos bens de informtica tenham sido convocados para proceder a correo dos defeitos ou falhas detectados nas amostras de equipamentos, caber aos interessados ou responsveis pela aquisio de bens de informtica da Reitoria, das Unidades Universitrias, das Unidades Complementares e das Fundaes da Unesp podero decidir entre uma nova amostragem no lote rejeitado com mesmo NQA, nova amostragem no lote rejeitado com NQA mais rigoroso ou pela inspeo em todas as unidades de produto do lote ou sublote.

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Tabela 1 - Codificao de Amostragem Tamanho do Lote

2 a 8 9 15 16 25 26 50 51 90 91 150 151 280 281 500 501 1.200 1.201 3.200 3.201 10.000 10.001 35.000 35.001 150.000 150.001 500.000 Acima de 500.001

Nveis Gerais de Inspeo

I A A B C C D E F G H J K L M N II A B C D E F G H J K L M N P Q III B C D E F G H J K L M N P Q N

Tabela 2 - Plano de amostragem simples - Normal

Cdigo Tamanho de de amostras amostras A B C D E F G H J K L M N P Q R 2 3 5 8 13 20 32 50 80 125 200 315 500 800 1.250 2.000

2,5 Ac
0 0 0 0 0 1 2 3 5 7 10 14 21 21 21 21

Re
1 1 1 1 1 2 3 4 6 8 11 15 22 22 22 22

Nvel de Qualidade Aceitvel NQA 4,0 6,5 Ac Re Ac Re

0 0 0 0 1 2 3 5 7 10 14 21 21 21 21 21 1 1 1 1 2 3 4 6 8 11 15 22 22 22 22 22 0 0 0 1 2 3 5 7 10 14 21 21 21 21 21 21 1 1 1 2 3 4 6 8 11 15 22 22 22 22 22 22

10 Ac
0 0 1 2 3 5 7 10 14 21 21 21 21 21 21 21

Re
1 1 2 3 4 6 8 11 15 22 22 22 22 22 22 22

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Fim de documento 17/04/2.001 Este documento pode ser obtido em http://www.unesp.br/ai/pdf/nt-ai.03.05.01.pdf

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