Universidad De Los Llanos. Practica N1.

Control Digital

MUESTREADORES Y RETENEDORES
Daniel Buitrago Ramrez 161002307 e-mail: danielsan1992@hotmail.com Cristian David Cuellar 161002348 e-mail: cristian-cuellar-508@hotmail.com Daniel Mauricio Omaa 161002231 e-mail: danieloma29@gmail.com

RESUMEN: Durante la prctica de laboratorio se implementaron circuitos de muestreo y retencin determinando los procesos comprendidos por cada dispositivo y comprobando as el procedimiento para la discretizacion de una seal analizando cada variacin y respuesta de salida presentada respecto a la entrada de la configuracin de cada circuito. Adems se llevo a cabo el clculo de cada sistema para analizar el comportamiento y comparar los resultados tericos con los simulados y realizados en la prctica.

OBJETIVOS

que intervienen en el proceso son seales analgicas que deben ser transformadas a seales discretas para poder ser empleadas de forma adecuada dentro de este tipo de sistemas. Para lograr la discretizacin de las seales, se debe aplicar primero el proceso de muestreo y obtener as una seal formada nicamente por las muestras discretas en tiempo de la seal analgica. El proceso de muestreo puede representarse a travs de un switch que se cierra cada t = kT segundos durante un tiempo de muestreo (p), la entrada de este switch es una seal analgica y la salida es una seal muestreada como se muestra en la figura 1.1.

- El alumno implementar un dispositivo de muestreo y un dispositivo de retencin para comprobar 2 de los procesos empleados en la discretizacin de seales analgicas. -El alumno analizar las variaciones que se producen en ambos procesos al cambiar los parmetros del sistema y las seales de entrada. Otra forma de representar al proceso de muestreo es a travs de un modulador en amplitud, que realiza el producto de un tren de impulsos unitarios discretos generados en los instantes kT y la seal analgica que se desea muestrear, obtenindose como producto los mismos pulsos discretos pero modulados en amplitud por la seal de entrada, a esta salida se le denomina la seal muestreada, tal y como se muestra
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MARCO TEORICO

Introduccin En los sistemas discretos, en los sistemas de datos muestreados y en los sistemas de control digital, por lo general una o varias de las seales

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en la figura 1.2. La operacin que realiza el modulador puede representarse matemticamente a travs del producto del tren de impulsos unitarios y la seal analgica de entrada dando como resultado la siguiente expresin que define a la seal muestreada. A partir de ella se deriva la transformada Z.

En esta prctica se implementarn 2 circuitos, que realizan las funciones de muestreo y retencin respectivamente empleando circuitos analgicos, compuertas digitales y amplificadores operacionales, haciendo la anotacin de que en los sistemas de control digital estas funciones se realizan a travs de los convertidores analgico digitales que contienen de manera intrnseca a dichas funciones de muestreo y retencin (S/H, Sample and Hold). Teorema del muestreo (Teorema de Nyquist-Shannon) Hablamos de muestreo peridico de una seal analgica cuando tomamos mediciones de la misma a intervalos iguales. Por ejemplo cuando se graba una seal de audio a la PC mediante una placa de sonido, el conversor A/D de la PC estar digitalizando la seal a una cierta frecuencia tal como 11, 22, 44 kHz, denominada frecuencia de muestreo. Es evidente que si la frecuencia de muestreo es muy baja, es decir mediciones demasiado espaciadas, se perdern detalles de la seal original. Mediante una simple demostracin grfica se puede ver. En las figuras A-B-C-D hemos representado cuatros seales distintas (en lnea azul) muestreadas peridicamente a igual frecuencia (los crculos rojos denotan las muestras). En A y B las seales aparecen correctamente representadas por las muestras, en C la velocidad de muestreo parece insuficiente, y en D las muestras representan una seal como la de B, es decir la seal de D es un alias de la seal de B. Este efecto se denomina en ingls aliasing.

Otro dispositivo empleado en la digitalizacin de las seales analgicas para utilizarlas en los sistemas de datos muestreados, es el retenedor, el cual tiene la funcin de reconstruir la seal muestreada a partir de los valores de las muestras generadas por el muestreador, empleando para ello, polinomios de diferentes grados. Entre los ms empleados estn los retenedores de orden cero y de primer orden. En la figura 1.3 se presenta un retenedor de orden cero.

El Teorema del Muestreo, o Teorema de Nyquist-Shannon, establece que la frecuencia mnima de muestreo necesaria para evitar el aliasing debe ser.
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MATERIALES Y EQUIPOS NECESARIOS FM>2.BW 1 C.I. LM555 1 C.I. LM741 A 1 C.I. CD4016 Bidireccional. (CMOS) Switch

1 C.I. CD4069 (CMOS) Inversor Lgico. B 2 Resistencias de 100 a W. 1 Resistencia de 0.27 k a W. 1 Resistencia de 1 k a W. C 1 Resistencia de 2.2 k a W. 1 Potencimetro de 50 k. 1 Capacitor de 2.2 nF. D 1 Capacitor de 1 nF. 1 Capacitor de 0.1 uF. 2 Capacitores de 100uF electrolticos. 1 Fuente Bipolar. 1 Generador de funciones. con FM: frecuencia de muestreo, BW: ancho de banda de la seal a muestrear (BW=fmax-fmin) Para seales con fmin = 0, se puede expresar como FM>2.fmax Para demostrar este teorema debemos aplicar conceptos bsicos de series de Fourier y trigonometra. 1 Osciloscopio.

PROCEDIMIENTO 4. DESARROLLO DE CALCULOS Ir a anexos. 5. DESARROLLO PRCTICO 1. El circuito de la figura 1.4 realiza la operacin de muestreo sobre la seal Ve(t) y genera una seal muestreada Ve*(t), este circuito consta de las siguientes partes: Generador de pulsos de muestreo.

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Inversor lgico. Interruptor analgico (switch bidireccional) controlado por pulsos. 2. Implemente el sistema y prubelo por partes, verificando el correcto funcionamiento de cada una de ellas. Generador de pulsos de muestreo. (Terminal 3 del LM555) Inversor lgico. (Terminal 2 del CD4069) Interruptor analgico (switch bidireccional) controlado por pulsos. (Terminal 2 del CD4016)

3. Compruebe y analice el proceso de muestreo para diferentes seales de entrada, comenzando con una seal de tipo senoidal Ve(t) de 1 KHz. y una amplitud pico a pico de 10 V. 4. Si se tienen seales con demasiado ruido inserte los capacitores electrolticos en ambas fuentes de voltaje, como se muestra en la figura 1.5.

5. Mida el rango de frecuencias mnimo y mximo de la seal de salida del generador de pulsos variando el potencimetro P1. 6. Vare la frecuencia de la seal senoidal a un valor en el rango de 30KHz a 50KHz y observe el comportamiento simultneo de las seales de entrada Ve(t) y de salida Ve*(t), ajuste el valor de frecuencia para obtener un proceso de muestreo equivalente.(Aliasing o Seal de salida que no es muestreada adecuadamente debido a que no se toman las muestras necesarias para representarla). 7. Grafique las seales para cada punto y anote los rangos de funcionamiento de cada una de las etapas, es muy importante llegar a una conclusin prctica de porque con este tipo de circuito no se puede llegar a muestrear seales de cualquier frecuencia o amplitud. 8. Retire la resistencia R5 de 0.27K que est conectada a la terminal 2 del switch analgico, ya que afecta el comportamiento del circuito retenedor que se adicionar a la salida del muestreador. 9. Aada el circuito de la figura 1.6 a la salida del circuito de la figura 1.4, el cual realizar la funcin de retencin, que representa el segundo proceso que se debe aplicar a las seales analgicas para transformarlas a en seales digitales.

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10. Anote los comentarios en cuanto a las formas obtenidas as como las grficas correspondientes, haciendo las pruebas tambin para diversos tipos de seales.

Simulacion:

6. SIMULACIONES

Muestreador:

Resultado Practico:

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Retenedor:

Resultado Practico: Frecuencia 95%

Frecuencia 50%

Simulacin:

Frecuencia 15%

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Con Seal cuadrada: Frecuencia 80%

Frecuencia 20%

Seal De Reloj:

Con Seal Triangular:

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7. CUESTIONAMIENTOS 1. Explique detalladamente los pasos que se siguen en el proceso de muestreo peridico de una seal analgica. El circuito de la figura 1.7 realiza la operacin de muestreo sobre la seal Ve(t) y genera una seal muestreada Ve(kt), este circuito consta de las siguientes partes: -Generador De Pulsos -Interruptor Pulsos Analgico Controlado Por

original; comnmente fenmenos de Aliasing.

llamados

3. Cul es la frecuencia mxima terica de la seal analgica que puede ser muestreada con este sistema, tomando en cuenta la frecuencia de los pulsos generados por el circuito LM555. Para este paso se deben calcular los parmetros de funcionamiento del circuito y obtener matemticamente el valor.

-Generador de pulsos de muestreo. Est conformado por un temporizador LM555 que funciona como multivibrador Estable. -Interruptor analgico controlado por pulsos. Formado por el Interruptor anlogo 4016. 2. Investigue el teorema de Nyquist y el concepto de Aliasing y explique la relacin que tienen con respecto al muestreo de seales analgicas. El Teorema de Nyquist define a Fs como 2/T , donde T es el periodo de muestreo y f como la componente de mayor frecuencia presente en la seal de tiempo continuo x(t) y la x*(t) como la seal muestreada .Solo se podr reconstruir completamente x(t) a partir de x*(t) si durante el periodo de muest reo se cumple con la condicin de que Fs sea mayor a 2*f, esto es :Fs> 2*f El incumplimiento de este teorema al momento del muestreo introduce distorsiones a la seal muestreada y utilizada de esta forma puede crear errores al momento de reconstruir la seal o en el tratamiento de ella. Estos inconvenientes generalmente son el doblamiento, traslape y oscilaciones escondidas de la seal

Figura 1.8

Reemplazando estos valores RA=2.2K RB=0.1K C=2.2nF Reemplazando los valores en la frmula para la frecuencia tenemos: F=272.72KHz. 4. Indique el tipo de retenedor empleado en la prctica (figura 1.6) y explique su

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funcionamiento a travs de la funcin de transferencia de dicho circuito. Se trata de un circuito retenedor de orden 0, que est conformado por un filtro pasa bajos de primer orden PARAEL CIRCUITO RETENEDOR.

Figura 1.9 CONCLUSIONES Reemplazando con los valores del circuito tenemos: Los dispositivos de muestreo y retencin son empleados de manera extensa en todos los sistemas de control, digitales y de datos muestreadores. El muestreo digital es una de las partes que intervienen en la digitalizacin de las seales. Consiste en tomar muestras peridicas de la amplitud de una seal analgica, siendo el intervalo entre las muestras constante. Al ritmo de este muestreo lo denominamos frecuencia o tasa de muestreo y este nos determina el nmero de muestras que se toman en un intervalo de tiempo. Se comprendi cmo funciona el dispositivo S/H. Con la apertura y cierre del interruptor o muestreador estn controlados por una orden o comando de muestreo. Cuando se cierra el interruptor, el dispositivo S/H muestra y sigue la seal de entrada e(t). Cuando el interruptor se abre, la salida se mantiene constante e igual al voltaje a travs del capacitor. Por su parte el muestreador es un dispositivo que nos sirve para convertir la seal analgica en un tren de pulsos de amplitud modulada o en una seal digital. Este dispositivo funciona simplemente manteniendo o congelando el valor de pulso o de la seal digital durante cierto tiempo especifico de antemano. En la mayor parte de los sistemas digitales, una

Resolviendo en el dominio en el tiempo tenemos:

5. Explique de manera grfica lo que sucedera si la frecuencia de muestreo es elevada y la constante de tiempo RC del retenedor es mayor al periodo de muestreo T. Si la frecuencia de muestreo es elevada y el tiempo RC es muy grande entonces el tiempo de carga del condensador ser tan grande que cuando empiece a descargar el voltaje acumulado en el condensador ser muy pequeo hasta el punto que tienda a cero , por tanto la salida ser de 0voltios , esto lo podemos comprobar graficar: Cuando RC>T

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sola unidad efecta la operacin de muestreo y retencin, y el dispositivo lo conocemos comercialmente como muestreador-retenedor o como dispositivo S/H. Una de sus principales aplicaciones del dispositivo S/H es congelar seales muy rpidas para todos los tipos de conversin. Otro uso comn tambin puede ser servir como almacn durante a conversin de las seales que provienen del multiplexor, la deteccin de picos puede ser otra aplicacin.

REFERENCIAS
[1] Ogata, Katsuhiko. Ingeniera de Control Moderna. Prentice Hall. 2000. pp 100-101 [2] Muestreo y Retencion.[En lnea]. Disponible en: http://www.dte.us.es/ing_inf/ins_elec/temario/Tema%206.%20Circ.%20de %20muestreo%20y%20retenci%C3%B3n.pdf [3] Teorema de Nyquist [En lnea]. Disponible en: http://es.wikipedia.org/wiki/Teorema_de_muestreo_de_Nyquist-Shannon

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Anexo 1

Procedimiento Matemtico.

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