ndices de Capabilidade do Processo (Cp, CpK)

Conceitos Basicos
Fontes: IQA(1997) (vide informaes adicionais) Introduo Os ndices e taxas que medem a capabilidade, ou seja, a capacidade de um dado processo fabricar produtos dentro da faixa de especificao, surgiram dos estudos sobre Controle Estatstico de Processo (CEP) realizados pelo Dr. Walter Shewhart do Bell Laboratories na dcada de 20. Seu surgimento se confunde com o prprio nascimento da rea de qualidade. que o trabalho inicial realizado no Bell Laboratories foi a base das principais tcnicas e ferramentas que fariam nascer nas empresas americanas os departamentos de qualidade durante a segunda guerra. Outro subproduto destas tcnicas foi tambm o surgimento da American Society for Quality Control - ASQC (hoje denominada ASQ) . Acontecimento que tambm um marco no nascimento da rea de estudo e de atuao profissional de qualidade. Assim, o Controle Estatstico de Processo uma das ferramentas mais clssicas na rea de qualidade e com certeza uma das mais comprovadas e empregadas no meio prtico. Desde seu surgimento tem sido aplicada aos mais diversos processos, situaes e regies em todo o mundo. H tambm um grande conhecimento acumulado sobre sua aplicao, principais benefcios e restries. O objetivo do controle estatstico do processo aprimorar e controlar o processo produtivo por meio da identificao das diferentes fontes de variabilidade do processo. Utilizando conceitos de estatstica procura-se separar os efeitos da variabilidade causada pelas chamadas Causas Comuns , ou seja, quelas inerentes natureza do processo produtivo, das Causas Especiais , ou quelas derivadas da atuao de variveis especficas e controlveis sobre o processo. A tcnica composta de uma ferramenta principal denominada Grficos de Controle que permite identificar se o processo est sob controle estatstico, situao em que atuariam somente causas comuns. O controle estatstico implantado por meio de um ciclo em que coleta-se dados do processo, monitora-se sua situao (verificando se o mesmo permanece sob controle estatstico) e posteriormente realizam-se anlises e propostas de melhorias para atingir patamares melhores de desempenho. Os ndices de capabilidade podem ser obtidos diretamente dos dados registrados nas cartas de controle e medem, para um processo sob controle estatstico, a relao entre a faixa de tolerncia especificadas para uma dada caracterstica de projeto do produto e a variabilidade natural do processo produtivo destinado a obteno daquela caracterstica (a variabilidade devida as causas comuns). Se a variabilidade do processo muito maior ultrapassando os limites de especificao possvel estimar a probabilidade de produo de peas fora da especificao. Se esta probabilidade

 muito alta pode-se inferir que o processo no capaz de produzir quela caracterstica mesmo que peas conformes possam estar sendo obtidas. Mudanas significativas neste processo ou mesmo a adoo de processos alternativos podem ento ser necessrias para tornar este processo capaz estatisticamente. Estes ndices so de extrema importncia para o profissional que trabalha no desenvolvimento de produto por duas grandes razes. Nas fases iniciais de projeto, a avaliao de sries histricas dos ndices de capabilidade obtidos de peas similares pode permitir que os processistas e projetistas escolham processos e especificaes dos produtos coerentemente adequadas, garantindo a obteno de caractersticas do produto por meio de processos altamente capazes estatisticamente. Outra importante aplicao destes ndices no desenvolvimento de produto durante a homologao do processo. Nesta etapa os ndices podem ser utilizados para avaliar a capabilidade do processo, identificando processos problemticos tempo de correes antes da entrada em linha de produo.

ndices e Taxas de Capabilidade de Processo Abaixo apresenta-se os ndices de capabilidade apresentados por IQA(1997). Alm destes existe uma grande quantidade de ndices propostos na literatura para as mais diversas aplicaes.

ndices Capabilidade (Cp) (Conhecido como Capabilidade de Mquina) : Definido como o intervalo de tolerncia dividido pela capabilidade do processo, ou seja, 6 vezes o desvio padro estimado considerando a ausncia de causas especiais. Ele independente da centralizao do processo o desvio padro estimado considerando processos estveis;

Desempenho (Pp): Intervalo de tolerncia dividido pelo desempenho do processo, ou seja, pelo desvio padro estimado pelas leituras individuais. Tambm independentemente da centralizao.

Superior de Capabilidade (CPU) : variao superior da tolerncia dividida por 3 vezes o desvio padro estimado pela capabilidade do processo.

Inferior de Capabilidade (CPL): variao inferior da tolerncia dividida pela disperso superior real do processo.

Capabilidade (Cpk): o ndice que leva em conta a centralizao do processo e definido como o mnimo entre CPU e CPL. Taxas Taxa de Capabilidade (CR): inverso de Cp. igual a 1/Cp; Taxa de Desempenho (Pp): o inverso de Pp. igual a 1/Pp; Etapas bsicas para a medio de Capabilidade de Processo So basicamente duas as etapas para a conduo de um estudo de capabilidade do processo: 1. Verificao do Controle Estatstico do Processo: nesta etapa so preparados os grficos de controle para a coleta de dados (sem os limites) e estes so entregues para a produo. Estes dados so ento levantados e a partir de uma anlise grfica (ou mesmo utilizando testes estatsticos) verifica-se a existncia de causas especiais atuando no processo. Se existirem causas especiais atuando deve-se identific-las e elimin-las at que o processo esteja sobre controle estatstico. 2. Avaliao dos ndices: uma vez garantido o controle estatstico do processo identifica-se todos os dados que compem o perodo sobre controle do processo. Estes dados so ento utilizados para a gerao dos ndices.

Anlise da Capabilidade de Processo na FIM No processo de desenvolvimento de produto da FIM o estudo de capabilidade do processo utilizado durante a fase de homologao do produto. Emprega-se para os clculos uma ferramenta computacional. (Clique aqui para alguns resultados)

Glossrio Estes itens do glossrio so parte do glossrio do manual de Controle Estatstico do Processo (CEP) da QS 9000, que extremamente interessante e detalhado. So apresentados aqui definies dos conceitos principais:

Aleatoriedade: uma condio na qual os valores individuais no so previsveis, apesar deles poderem vir de uma distribuio definvel; Amostra: nome dado ao subgrupo, ou seja, um ou mais eventos ou medies utilizados para analisar o desempenho de um processo; capabilidade de processo: faixa total de variao inerente de um processo estvel; Carta de controle: uma representao grfica de uma caracterstica de um processo, mostrando os valores de alguma estatstica obtida daquela caracterstica, uma linha central, e um ou dois limites de controle; Limites de Controle: uma linha ou linhas em uma carta de controle utilizada como uma base para julgar a estabilidade do processo. A variao alm de um limite de controle evidncia de que causas especiais esto afetando o processo. Limites de controle so calculados a partir dos dados do processo e no devem ser confundidos com as especificaes de engenharia; Causa Comum: fonte de variao que afeta todos os valores individuais do resultado do processo sendo estudado; na anlise da carta de controle ele representa parte da variao aleatria do processo; Causa Especial: fonte de variao que intermitente, freqentemente imprevisvel e instvel s vezes chamado de causa assinalvel . sinalizado a partir de um ponto alm dos limites de controle ou uma seqncia ou outro padro no aleatrio de pontos dentro dos limites de controle; Controle Estatstico: condio descrevendo um processo do qual todas as causas especiais de vatiao tenham sido eliminadas, restando apenas as causas comuns, i.e., a variao observada pode ser atribuda a um sistema constante de causas ocasionais; evidenciada numa carta de controle pela ausncia de pontos alm dos limites de controle e pela ausncia de padres no-aleatrios ou tendncias dentro dos limites de controle; Desempenho de processo: faixa total da variao global do processo (6?s); Desvio-padro: uma medida da disperso do resultado do processo ou a disperso de uma estatstica amostral do processo (ex. de mdias de subgrupos); denotado pela letra grega ? (sigma), ou a letra s (padra desvio padro da amostra); Processo Estvel: processo sob controle estatstico;

Informaes Adicionais - ltima verificao 11/11/1999

da pgina)

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Para os principais peridicos, ferramentas veja os mesmos que DOE e Taguchi Referncias Bibliogrficas IQA . Fundamentos de controle estatstico de processo CEP. 1997. (Existem muitos livros sobre este assunto mas este manual, que faz parte da documentao da QS 9000, bastante didtico e traz uma explicao detalhada sobre os pontos fundamentais sobre este assunto. recomendado para quem deseja aprender sobre CEP com o intuito de aplicao.Caso esteja interessado apenas em obter uma viso geral sobre este assunto deve-se consultar um bom livro texto introdutrio sobre estatstica para engenharia ou negcios.)

Sites Relacionados Veja os mesmos que DOE .

Por: Gilberto Baksa Junior Marketing Sandretto do Brasil