Difraccin de la luz

Autor 1: Julin David Ortiz Umaa, Autor 2: Wilson Castillo Castro, Autor 3: Daniel Neira Galvis
Departamento de Fsica, Universidad Tecnolgica de Pereira, Pereira, Colombia
Correo-e: dng@utp.edu.co Resumen Utilizando un lser y un calibrador digital y utilizando una rejilla de difraccin, nos dispusimos a tomar medidas de un patrn de difraccin con el mayor nmero de mnimos posibles. Luego realizamos la anterior medida utilizando rejillas de difraccin proporcionadas por unas diapositivas especiales, en total fueron 3 rejillas diferentes.

II.

CONTENIDO POR UNA

II.I DIFRACCIN DE FRAUNHOFER RENDIJA RECTANGULAR

I.

INTRODUCCIN

En general, el fenmeno de la difraccin se presenta cuando una onda interacta con objetos cuyas dimensiones son comparables con su longitud de onda. Desde el punto de vista de la teora, que considera la luz como un fenmeno ondulatorio, el estudio de la ptica se divide en dos grandes campos: el de la ptica geomtrica y la ptica fsica. Si el objeto con el cual interacta la luz posee dimensiones muy grandes comparadas con su longitud de onda, se estar en el campo de la ptica geomtrica; Pero si las dimensiones del objeto son comparables con la longitud de onda de la luz s estar en el campo de la ptica fsica. La longitud de onda de la luz visible est en el rango entre 780 nm y 390 nm aproximadamente. Par que la luz pueda producir un patrn de difraccin observable, esta debe interactuar con objetos que posean dimensiones comparables con estos valores; es por esta razn que el fenmeno no apreciable a simple vista siendo necesarias ciertas condiciones de laboratorio para ser observado. A su vez el estudio de la difraccin puede dividirse en dos partes: la difraccin de Fraunhofer y la difraccin de Fresnel. En la difraccin de Fraunhofer se supone que las ondas incidentes al objeto son planas al igual que las ondas emergentes del mismo. La distancia entre el objeto y la pantalla sobre la cual se observa el patrn, debe ser grande comparada con las dimensiones del objeto. La difraccin de Fresnel tiene lugar cuando la fuente puntual de las ondas incidentes, o el punto de observacin desde el cual se las ve, o ambos, estn a una distancia finita del objeto. El dispositivo experimental que se utiliza en este laboratorio coincide con la concepcin de Fraunhofer de la difraccin.

La teora asociada con la difraccin por una rendija rectangular considera una rendija muy angosta (de las dimensiones de la longitud de onda de la luz) y muy larga. En concordancia con el principio de Huygens, cada punto del frente de onda plano se convierte en fuente de pequeas ondas esfricas secundarias; estas ondas secundarias, llamadas ondas difractadas, luego se recombinan constructiva o destructivamente en una pantalla sobre la cual es posible observar un patrn de difraccin cuya distribucin de intensidad luminosa a lo largo de ella, corresponde al dibujo de la figura 6.1.

Figura 6.1: Distribucin de intensidad en el diagrama de difraccin de una rendija angosta y larga.

En la prctica lo que se observa en la pantalla es una zona muy brillante central acompaada de una serie de zonas brillantes y oscuras alternadamente alrededor de dicho mximo. Puede demostrarse que la condicin para que haya interferencia destructiva en la pantalla debe cumplir la siguiente condicin. B sin = m m = 1,2,3... (A)

Donde b es al ancho de la rendija, es la separacin angular entre el centro del mximo central y l centre de los mnimos observados, m es el orden del patrn de difraccin para mnimos de intensidad y es la longitud de onda de la luz.

II.II DIFRACCIN DE FRAUNHOFER POR UNA RENDIJA DOBLE

III.ANALISIS

El patrn de difraccin por dos rendijas paralelas iguales, resulta de la interferencia de los dos patrones de difraccin provenientes de cada una de las rendijas. Lo que se observa en la es un patrn de interferencia de Young, producido por dos rendijas rectangulares modulado por un patrn de difraccin de Fraunhofer por una rendija rectangular. En este caso los mximos de interferencia estn dados por la siguiente expresin. D sin = m m = 1,2,3... (B)

III.I DIFRACCIN DE FRAUNHOFER RENDIJA RECTANGULAR

POR

UNA

III.I.I RENDIJA SIMPLE N 1

Donde d es la distancia entre las dos rendijas, es la separacin angular entre el mximo de interferencia central y los mximos secundarios, m es el orden de patrn de difraccin para los mximos de interferencia y es la longitud de onda de la luz. II.III DIFRACCIN POR MLTIPLES RENDIJAS REJILLAS

La rejilla de difraccin consiste en un gran nmero de rendijas paralelas idnticas de ancho b y separadas una distancia d. Cuando la rejilla es iluminada convenientemente, el patrn observado en la pantalla consiste en la distribucin de interferencia producida por N rendijas, modulado por un patrn de difraccin de una sola rendija. En la prctica lo que se observa es una forma parecida al patrn de difraccin para la rendija doble extendida al caso de N rendijas. En este caso la condicin para interferencia constructiva est dada por la expresin: D sin = m m = 1,2,3... Dnde: D es la distancia entre las rendijas o constante de la rejilla, es la separacin angular entre los mximos secundarios y el mximo central, m es el orden del patrn de difraccin para mximos de intensidad, es la longitud de onda de la luz utilizada para obtener el patrn de difraccin. 3.5 3 2.5 2 1.5 1 0.5 0

Voltaje vs Posicin Lineal Posicin Lineal ( m ) 0 0,341 0,142 Voltaje ( V ) 0,026 0,026 3,128

Voltaje

0.1

0.2 Posicion Lineal

0.3

0.4

III.I.II RENDIJA SIMPLE N 2

II.II DIFRACCIN DE FRAUNHOFER POR UNA RENDIJA DOBLE

III.II.I RENDIJA DOBLE N 1

Voltaje vs Posicin Lineal Posicin Lineal ( m ) 0 0,342 0,146 Voltaje ( V ) 0,031 0,031 5,164 Voltaje vs Posicin Lineal Posicin Lineal ( m ) Voltaje ( V )

6 5 Voltaje 4 3 2 1 0 0 0.1 0.2 0.3 0.4 Series1 Voltaje 0.35 0.3 0.25 0.2 0.15 0.1

0,342 0 0,342 0,143

-0,005 0,02 0,02 0,296

Posicion Lineal

0.05
0 -0.05 0 0.1 0.2 0.3 0.4

Posicion Lineal

III.II.II RENDIJA DOBLE N 2

II.III DIFRACCIN POR MLTIPLES RENDIJAS REJILLAS

III.III.I RENDIJA MULTIPLE N 1

Voltaje vs Posicin Lineal Posicin Lineal ( m ) 0 0 0,139 0,342 0,342 Voltaje ( V ) 0,005 0,026 0,296 -0,01 0,026 0 0 0,134 0,342 0,342 0.35 0.3 0.25 Voltaje Voltaje 0.2 0.15 0.3 0.25 0.2 0.15 0.1 0.05 0.1 0.2 0.3 Posicion Lineal 0.4 0,02 0,026 0,27 0,02 0,026 Voltaje vs Posicin Lineal Posicin Lineal ( m ) Voltaje ( V )

0.1
0.05 0 -0.05 0

0
0 0.1 0.2 Posicion Lineal 0.3 0.4

IV.CONCLUSIONES III.III.II RENDIJA MULTIPLE N 2 Realizando el fenmeno de difraccin podemos obtener y evaluar distancias referentes a dimetros exteriores, dimetros por medio de aberturas circulares y cualquier abertura que pueda ser atravesada por el lser.

Es interesante ver que muchas veces las leyes para cuerpos grandes son diferentes para los que son muy pequeos. En este caso no es posible aplicar la ptica geomtrica, lo esperado que es ver sombra tras un objeto no se cumple y por ello aplicamos leyes y frmulas de ptica fsica, es decir, para estudiar los efectos de difraccin

Observamos que las imgenes producidas en la pantalla siguen un patrn segn el objeto, si es un alambre en la pantalla este se repetir alternando zonas de luz y zonas de sombra con forma de rectngulos pequeos o si es una obertura circular de igual forma se repetirn crculos aumentando de tamao alternando zonas de luz y sombra es decir entendimos como se comportaba el efecto de difraccin.

Voltaje vs Posicin Lineal Posicin Lineal ( m ) 0 0,145 0,342 0,342 Voltaje ( V ) 0,026 0,745 0,005 0,026 Al practicar este mtodo en el laboratorio nos damos cuenta que tiene cierto grado de dificultad, ya que no existe total exactitud en la toma de las medidas por las fallas humanas, posiblemente los resultados finales no sean tan exactos como se esperaba, sin embargo es mas preciso y confiable que utilizar un instrumento de medida.

0.8 0.7 0.6 0.5 0.4 0.3 0.2 0.1 0 0 0.1 0.2 Posicion Lineal 0.3 0.4

BIBLIOGRAFA

Voltaje