Laboratrio de Circuitos Eltricos 1

Segundo semestre de 2010

Departamento de Engenharia Eltrica
Universidade de Braslia Faculdade de Tecnologia
Prof: Leonardo Aguayo

E XPERIMENTO 8 C IRCUITOS RLC

Bruno Henrique Alves Noronha 09/0062761

Natlia Aquino de Freitas Tristo 09/0011376
Vincius Santana- 09/0014928
Data de realizao: 31/01/2011

Objetivos

Neste experimento, temos como objetivo estudarmos o comportamento de um circuito RLC, ou

circuito de segunda ordem. Vamos excitar o circuito RLC da figura 1 com uma onda quadrada e
analisar seu comportamento quando ele passa do transitrio ao regime permanente.
2

Introduo Terica

Circuitos RLC so constitudos de indutores, capacitores e resistores, que podem estar ligados
em srie ou em paralelo. As tenso e correntes em um circuito RLC so descritas com uma equao
diferencial de segunda ordem, por isso esses circuitos tambm so chamados de circuitos de segunda
ordem.

Definindo R a Resistncia [], L a indutncia [Henry], C

a Capacitncia, I a corrente [A] e V a tenso [V].

Figura 01

Para o resistor:

v R (t ) R i(t ) ,

indutor:

v L (t ) L

di ( t )
dt

, capacitor: v C ( t )

1
C

i ( )d .

Aplicando Lei de Kirchoff para tenses, obtemos:

v R (t ) v L (t ) vC (t ) v (t )
R i(t ) L

di ( t )
dt

1
C

i ( )d

v (t )

Ao derivarmos novamente a expresso acima de ambos os lados em t e dividirmos por L, tem-se:

2

d i(t )
dt

R di ( t )
L

dt

1
LC

i(t )

1 dv ( t )
L

dt

Considerando o

, a freqncia de ressonncia e

como um fator de carga, obtemos

2L

LC

a seguinte Equao Ordinria (EDO) de segunda ordem:

i 2 i o i
2

1 dv ( t )
L

dt

Caso v(t) seja constante temos uma EDO de segunda ordem homognea e sua soluo chamada
de soluo natural.
i 2 i o i 0
2

Para resolvermos essa EDO precisamos das condies iniciais i(0) e i(0).
Analisando o circuito percebe-se que i(0) = iL(0)
Assim,

vR(0) + vL (0) + vC(0) = 0;

R .i(0) + L i(0) + vC (0) = 0;
i(0) = -1/L (i(0)R + vC (0))

Atravs da equao caracterstica s + 2. S+ o , obtemos:

2

4 o

2
s

Dessa forma obteremos trs possveis solues para a EDO:

1) Sobre-amortecido:
Nesse caso temos que > 0, isto , 2 o 0 , implicando que
2

2L
R

2
o

4L
RC

1
LC

LC

4L
R

Dessa forma, s1 e s2 sero:

A soluo ser:

v (t ) K 1e

s1t

K 2e

s1

s 2

s2t

Respostas do Circuito RLC sobre-amortecido

Figura 02

2) Sub-amortecido:
Para esse caso, < 0, isto , 2 o 0 . Utilizando o raciocnio anterior possvel
2

inferir que

RC

4L

Dessa forma, s1 e s2 sero:

s1 i o

s2 i o

A soluo da EDO de segunda ordem ser:

v (t ) e

t
K sen
1

o
2

K cos
2

o
2

3) Criticamente amortecido:
Para esse caso, = 0, isto , 2 o 0 . Utilizando o mesmo raciocnio anterior
2

obtemos que

RC

4L

A resoluo da equao caracterstica para esse caso nos fornece apenas uma raiz dupla:
.
A soluo ser da seguinte forma: v ( t ) e t K 1 K 2 t

Respostas do Circuito RLC criticamente amortecido

Figura 03

No caso em que a EDO de segunda ordem abaixo no possui v(t) constante, temos a chamada
soluo forada.
i 2 i o i
2

i ( t ) in ( t ) i f ( t )

A soluo dada por:

, sendo

in ( t )

1 dv ( t )
L

dt

a soluo da EDO na forma natural e

i f (t)

soluo forada. As solues foradas mais comuns so:

Parte no homognea

Soluo forada

i f (t)

k (constante)

k cos(wt) ou k sen(wt)

B1cos(wt)+B2(sen(wt)

ke^(-at)

B e^(-at)

kt

B1+B2t

Kt

B1+B2t+B3t

Resistncias utilizadas para cada caso:

Visando escolha adequada para as resistncias utilizadas em cada caso estudado
anteriormente: sobre-amortecido, sub-amortecido e criticamente amortecido, a constante

4L
C

determinada mantendo fixos os valores de L e C, L=470H e C=0,033F, respectivamente.

1) Sobre-amortecido:
R

4L

4 470
0 , 033

238 , 68

R 238 , 68

A resistncia escolhida para o estudo desse caso em laboratrio foi 1k.

2) Sub-amortecido:
R

4L

4 470
0 , 033

238 , 68

R 238 , 68

A resistncia escolhida para o estudo desse caso em laboratrio foi: 100

3) Criticamente amortecido:
R

4L

4 470
0 , 033

238 , 68

R 238 , 68

Equipamentos e materiais utilizados

01 gerador de funo

01 osciloscpio

Dcada resistiva

01 capacitor de 0,033 F

01 indutor de 470 H

Procedimentos
O circuito da figura 1 foi montado, configurando-se vg(t) como uma onda quadrada com
amplitude 5 V e freqncia 2 kHz, L= 470 H e C = 0,033 F, valores fixos. Variamos o valor do
resistor para analisarmos os trs casos: sub-amortecido, sobre-amortecido e criticamente
amortecido, observando a forma de onda de tenso no capacitor para trs casos.

Figura 04: circuito RLC

Resultados
As formas de onda da tenso no capacitor so as seguintes para cada caso:

Utilizando R = 100 , caso sub-amortecido:

Utilizando R= 1k, caso sobre-amortecido:

Forma de onda de tenso vista com zoom

Utilizando R = 238 , caso criticamente amortecido:

Forma de onda de tenso vista com zoom

Simulaes
Com o intuito de analisar e comparar os resultados obtidos no laboratrio com os estudos
tericos foram feitas simulaes no software EWB 5 (Eletronics Workbench).
Alm dos componentes presentes no roteiro foram consideradas as resistncias internas do
gerador de funes (50 em srie com o resistor) e do osciloscpio (1 M em paralelo com o
capacitor). O gerador de funes foi ajustado para a forma de onda quadrada, amplitude de 5V e
frequncia de 2kHz.
Dessa forma, obtivemos os seguintes resultados:
1) Caso sub-amortecido: L e C possuem valores fixos, L=470H e C=0, 033F
respectivamente. A resistncia utilizada foi R = 100, que satisfaz a relao:
R 238 , 68 .

A forma de onda encontrada foi:

2) Caso sobre-amortecido: L e C possuem valores fixos, L=470H e C=0, 033F

respectivamente. A resistncia utilizada foi R = 1k, que satisfaz a relao: R

238 , 68

Caso criticamente amortecido: L e C possuem valores fixos, L=470H e C=0, 033F

respectivamente. A resistncia utilizada foi R = 238,68 , que satisfaz a relao:
R 238 , 68 .

Discusses

Os resultados experimentais foram muito semelhantes aos resultados tericos e as simulaes (as
resistncias internas do gerador de funes e do osciloscpio foram acrescentadas visando maior
fidelidade ao ambiente real), comprovando que o experimento foi bem-sucedido.
O roteiro do experimento faz um questionamento a respeito de como seria o projeto do circuito caso
no fossem tolerados valores maiores que 5V na sada. Dessa forma foram feitas as seguintes
consideraes referentes a cada um dos trs regimes possveis:
1) Regime sobre-amortecido: A soluo da EDO para esse regime feita a partir da soma de duas
exponenciais, impedindo o sistema de apresentar oscilaes em torno de um valor estacionrio. Outro
aspecto relevante o fato de uma exponencial decair mais lentamente em relao outra. possvel,
analisando o sinal no osciloscpio, perceber que as oscilaes no ultrapassam a amplitude de 5V.
2) Regime sub-amortecido: A soluo para esse regime dada por uma senide amortecida
exponencialmente que tende a um valor estacionrio, apresentando amplitudes que decrescem com o
tempo. Ao observar o sinal atravs do osciloscpio percebemos que as oscilaes ultrapassam uma
amplitude de 5V. possvel inferir, ento que quanto menor for o valor da resistncia maior ser a
oscilao em torno do valor de entrada.
3) Regime criticamente amortecido: A soluo para esse regime a soma de duas exponenciais,
porm uma delas multiplicada pelo tempo (t). Atravs da figura 03 possvel perceber que a soluo
cai de maneira rpida a partir de seu ponto de mximo, valor muito prximo do seu valor de entrada
(5V). Atravs do osciloscpio possvel ver que as oscilaes no ultrapassam uma amplitude de 5V.
A partir da anlise dos trs regimes acima e considerando que o novo projeto no tolera valores
maiores que 5V na sada conclumos esse circuito deveria ser projeto apenas com valores da resistncia
que obedecessem a relao: R 238 , 68 . Deste modo o regime sub-amortecido no faria parte dos
regimes possveis para o sistema e ento os valores de sada nunca ultrapassariam 5V.
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Concluses

Atravs deste experimento foi possvel explorar as propriedades do circuito RLC composto por um
capacitor, um indutor e uma resistncia em srie. A anlise terica determina que o circuito possa ser
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modelado de acordo com uma Equao Diferencial Ordinria (EDO) de segunda ordem. A partir da
resoluo desta EDO possvel analisar o comportamento da tenso e da corrente nos componentes do
circuito.
Entretanto, tivemos que analisar trs possveis casos para as solues da EDO, que nos forneciam
os trs regimes estudados: criticamente amortecido, sub-amortecido e sobre-amortecido. Para tais,
foram fixados os valores da capacitncia C e do indutor L, variando apenas a resistncia de acordo
com o objeto de estudo.
As simulaes feitas no software EWB foram de suma importncia, visto que proporcionaram a
comparao entre os resultados experimentais e tericos, colocando em pauta os possveis
contratempos encontrados em laboratrios e mostrando o comportamento dos circuitos em situaes
no ideais, levando-se em considerao a impreciso, interferncia e qualidade dos equipamentos
utilizados.
De maneira geral os resultados obtidos no experimento foram satisfatrios, estando de acordo com
os estudos e clculos tericos realizados anteriormente e muito prximos das simulaes feitas em
ambiente ideal, mostrando que o grupo obteve excelncia na manipulao dos equipamentos presentes
no laboratrio, atingindo os objetivos propostos pela disciplina.
10 Referncias Bibliogrficas

Roteiro do Experimento 08; Moodle Lab. De circuitos eltricos 1; UnB.

J. David Irwin; Anlise Bsica de circuitos para engenharia; 7ed.