UNIVERSIDADE FEDERAL DO RIO DE JANEIRO

CENTRO DE CINCIAS MATEMTICAS E DA NATUREZA

INSTITUTO DE GEOCINCIAS
DEPARTAMENTO DE GEOLOGIA

INTRODUO MINERALOGIA
IGL101

Adriano Sampaio

Contedo
Cap. 13 e 14 Klein & Dutrow
Microscpio Petrogrfico
Microscpio Eletrnico
Microssonda
Raios X

Microscpio Petrogrfico
Estudos pticos de materiais cristalinos slidos so realizados
com microscpio petrogrfico, nos quais os minerais podem
ser estudados com luz polarizada.
Microscpio de polarizao

Os materiais estudados envolvem pequenos fragmentos de

cristais ou estampas delgadas de materiais cristalinos.
Utiliza-se da petrografia para a identificao de materiais que
no puderam ser identificados em amostras de mo.

Microscpio Petrogrfico
Tanto na anlise de fragmentos de cristais como de sees
delgadas, vrias propriedades pticas podem ser medidas.
Um ou mais ndices de refrao (IR), sinal de ngulo ptico, cor,
orientao ptica do cristal em relao aos eixos cristalogrficos
e etc.

Para a identificao, utiliza-se de tabelas de propriedades

pticas de minerais.
A microscopia ptica utiliza a luz visvel como fonte de
energia.

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Microscpio Eletrnico
Um microscpio com potencial de aumento muito superior ao
ptico.
Foi inventado em 1931 por Ernst Ruska, e vem sendo
aperfeioado desde ento, hoje com a tecnologia o melhor
microscpio existente.
A diferena bsica entre o microscpio ptico e o eletrnico
que neste ltimo no utilizada a luz, mas sim feixes de
eltrons.

Microscpio Eletrnico
No microscpio eletrnico no h lentes de cristal e sim
bobinas, chamadas de lentes eletromagnticas.
O objetivo do sistema de lentes do MEV (Microscpio
eletrnico de varredura), promover uma demagnificao da
ordem de 500 000 vezes e possibilita que a amostra seja
varrida por um feixe muito fino de eltrons.
Os eltrons podem ser focados pela ao de um campo
eletrosttico ou de um campo magntico.

Microscpio Eletrnico
No possvel observar material vivo neste tipo de
microscpio.
O material a ser estudado passa por um complexo processo
de desidratao, fixao e incluso em resinas especiais,
muito duras, que permitem cortes ultrafinos obtidos atravs
das navalhas de vidro do instrumento conhecido como
ultramicrtomo.

Microscpio Eletrnico
Existem trs tipos de microscpio eletrnico bsico:
De transmisso - usado para a observao de cortes ultrafinos;
De varredura (ou M.E.V.) - capaz de produzir imagens de alta
ampliao para a observao de superfcies;
De tunelamento (ou M.E.V.T.) - para visualizao de tomos.

Microscpio Eletrnico de Varredura (MEV)

Utilizado
para
obteno
de
informaes sobre as feies
morfolgicas superficiais de materiais
na escala de micrmetros.
Observao
direta
dos
intercrescimentos
cristalinos,
texturas ou relaes de reao.

Microscpio Eletrnico de Varredura (MEV)

A aquisio das imagens baseia-se na varredura de uma rea
especfica das amostras por um fino feixe focalizado de
eltrons.
A resoluo do MEV
varia de 50 a 25
(5 a 2,5 nm).

Microscpio Eletrnico de Varredura (MEV)

Numa microssonda eletrnica, o feixe de eltrons geralmente
dirigido de forma estacionria no gro mineral especfico;
no MEV, o feixe de
eltrons de alta intensidade varrido
sobre a amostra.

Microscpio Eletrnico de Varredura (MEV)

O impacto de um feixe de eltrons na superfcie de uma
amostra slida ocasiona vrios tipos de sinais de radiao que
so registrados por detectores.
Estes sinais incluem eltrons
secundrios (ES), eltrons
retroespalhados (EB), raios X,
catodoluminescncia (CL)
e eltrons absorvidos pelo
espcime.

Microscpio Eletrnico de Varredura (MEV)

Os ER so funo do peso atmico mdio da amostra.
Feies de zoneamento qumico ou frentes de reao no
cristal podem ser observados.
Como o MEV tem uma grande profundidade do campo, suas
imagens apresentam altssima definio.
Quando combinado com um sistema de deteco de raios X
por disperso de energia (EDS), permitem informaes
topogrficas, cristalogrficas e composicionais.

Microscpio Eletrnico de Transmisso (MET)

Consiste em um feixe de eltrons precisamente dirigido que
se chocam contra uma fina estampa do material sob
investigao.
Pode ser utilizado para exibir imagens de padres de difrao
de eltrons e microscopia eletrnica de transmisso de alta
resoluo (METAR).

Microscpio Eletrnico de Transmisso (MET)

A estampa fina, com alguns
poucos
nanmetros
de
espessura, permite que o feixe
de eltrons seja transmitido
atravs do material e fixada
num porta-amostra centrado no
feixe de eltrons.

Microscpio Eletrnico de Transmisso (MET)

Os MET permitem uma avaliao
textural, cristalogrfica e qumica
de reas to pequenas como o
nanmetro quadrado (10 x 10)
e feies separadas por 0,14 nm.
A tcnica MET especialmente
potente em elucidar feies
estruturais com escalas de
dimenses de 100 a 10.000, as
quais
no
podem
ser
diretamente
avaliadas
por
tcnicas de difrao de raios X.

Microscpio Eletrnico de Transmisso (MET)

O MET permite a identificao de partculas extremamente
pequenas ou intercrescimentos de padres de exsoluo em
minerais, de empilhamento de politipos e defeitos
estruturais.

Microssonda Eletrnica (ME)

A Microssonda Eletrnica revolucionou a anlise qumica de
minerais, anteriormente baseada na medio de mdias da
composio qumica total de um mineral.
A ME mede quantitativamente a composio qumica in situ a
partir de um volume de 1-3 m3 do mineral.
Pode-se detectar zoneamentos e heterogeneidades qumicas.
Servem de dados bsicos para determinao de parmetros
como presso e temperatura durante a histria de
crescimento do mineral.

Microssonda Eletrnica (ME)

A ME mais precisa do que os dados de EDS.
So utilizados para determinar a exata estequiometria do
mineral.
Pode detectar diferenas qumicas da ordem de < 0,01% de
peso.

Microssonda Eletrnica (ME)

Utiliza um feixe de eltrons finamente focado como fonte de
energia.
Normalmente utilizam filamentos de tungstnio
aquecido como fonte de
eltrons livres, os quais
so acelerados devido a
uma diferena de potencial e focados em um feixe muito fino.

Microssonda Eletrnica (ME)

O feixe atinge a amostra com alta velocidade, penetrando
nela em uma profundidade que aproximadamente trs
vezes maior do que o dimetro
do feixe.
Assim, a anlise qumica de
um volume realmente pequeno
de material.

Microssonda Eletrnica (ME)

Como no MEV, o feixe de eltrons
na ME pode ser movido em alta
velocidade por meio de uma
pequena rea da amostra.
A varredura do feixe pode gerar
perfis e mapas de raios X, radiao
de catodoluminescncia e eltrons
secundrios e retroespalhados.

Raios X
Envolvem apenas uma
pequena rea do espectro eletromagntico.
Apresentam comprimento de ondas variando entre 100 e
0,02 .

Raios X
So produzidos quando
eltrons
em
alta
velocidade se chocam
com tomos de qualquer
elemento.
No tubo de raios X, os
eltrons
bombardeiam
um material-alvo.

Raios X
So gerados dois tipos de espectros:
Raios X contnuos e Raios X caractersticos