Universidade Federal do Rio Grande - FURG

15 Mostra da Produo Universitria - MPU

Rio Grande/RS, Brasil, 19 a 21 de outubro de 2016
ISSN: 2317-4420

SISTEMA DE VISO DE MQUINA APLICADA A INSTRUMENTAO

INDUSTRIAL
MARQUES JUNIOR, M. R. N.; MACIEL, B. K.; AMARAL, R. S.; FONSECA, T. S.;
GARCIA, A. T.; RODRIGUES, N. G.; ASEVEDO, V. B.
RODRIGUES, Ricardo Nagel
mario.marquesjunior@hotmail.com
Palavras-chave: Viso computacional; Instrumentao Industrial; Medio Baseada
em Viso.
1 INTRODUO
O avano tecnolgico da viso computacional despertou o interesse
do campo da IM (Instrumentao e Mensurao). Esta rea estuda meios
de detectar, medir, mensurar, monitorar e gravar mensurados. Uma das
reas de pesquisa abertas a partir desta nova perspectiva foi o chamado
VBM (Mensurao baseada em Vdeo). Esta rea tem por objetivo extrair,
atravs de tcnicas de viso computacional, informaes especficas
relacionadas medio de grandezas fsicas.
Neste trabalho ser apresentado um mtodo cujo objetivo a sua aplicao
em medidores de ponteiro, em que a escala fixa e o ponteiro mvel, visando extrair
o valor mostrado. Estes medidores so encontrados em vrias aplicaes como
indicadores locais na indstria, medindo as mais diversas variveis, como
temperatura, presso, entre outros.
2 REFERENCIAL TERICO
Tradicionalmente os sistemas de viso de mquina so centrados na
inspeo de produtos ao invs da compreenso do processo e controle (NOBLE,
1995).
J o sistema proposto, tem como foco o processo industrial, e no no produto,
visando captura e processamento de imagens de um processo industrial para
extrao e envio de informaes atravs de rede de comunicao industrial para um
controlador lgico programvel (CLP) ou um sistema de superviso controle e
aquisio de dados (SCADA). As informaes adquiridas por este sistema so
equivalentes as variveis de processo obtidas por transmissores de sistemas tpicos
de automao industrial.
3 MATERIAIS E MTODOS
O mtodo dividido em trs grandes etapas. Na primeira etapa tem-se o prprocessamento em que a imagem convertida em tons de cinza, o filtro passa-baixa
aplicado e a imagem limiarizada. Na segunda etapa so realizados os processos
de segmentao, definio da rea de varredura, a busca dos pontos escuros, a

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anotao da quantidade de pontos escuros por ngulo e a extrao do ngulo de

menor intensidade. Por fim na etapa de mensurao, o ngulo convertido na
unidade de engenharia desejada.
Os testes foram realizados utilizando uma filmagem de um manmetro
padro, o qual varia de 0 a 100% e de 100 a 0%. A filmagem foi feita por meio de um
cmera da marca Allied, modelo Guppy GF 036 C.
4 RESULTADOS e DISCUSSO
Como resultados parciais foram observados que com a iluminao do
ambiente abaixo de 15 LUX ou acima de 1500 LUX o erro dos medidores visuais de
nvel, temperatura e presena aumentavam. Alm disso, a cor do lquido do tanque e
o tempo de contato dos adesivos termocrmicos tambm influenciava nas medies
fornecidas pelos medidores visuais de nvel e temperatura respectivamente. Os
outros mtodos foram validados em trabalhos anteriores.
A tabela 1 apresenta o erro mdio dos medidores visuais para nveis de
iluminao controlados.
Tabela 1 Erro mdio dos medidores visuais
Medidor visual
Erro mdio [%]
Fogo
6,30
Temperatura
3,22
Ponteiros
0,62
Nvel
0,43
Presena
0,00
5 CONSIDERAES FINAIS
O sistema apresentado foi capaz de processar mltiplas cmeras em tempo
real, extrair informaes da planta e envi-las para um controlador, permitindo o
controle e superviso da planta sem a necessidade de sensores com transmisso
eletrnica ou digital.
Apesar de testes mais intensivos e abrangentes ainda serem necessrios,
principalmente considerando ambientes industriais reais e adversos, a rea
promissora, vivel tecnicamente e pode vir a reduzir os custos e agilizar a
instrumentao de sistemas de automao.
REFERNCIAS
SHIRMOHAMMADI, S. and Ferrero, A. (2014). Camera as the instrument: the rising
trend ofvision based measurement,IEEE Instrumen-tation Measurement
Magazine17(3): 4147.
RAO, A. (1996). Image and vision computing jour-nal on vision-based aids for the
disabled fu-ture directions in industrial machine vision:a case study of semiconductor
manufacturingapplications,Image and Vision Computing14(1): 3 19.

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NOBLE, J. A. (1995). From inspection to process understanding and monitoring: a

viewon computer vision in manufacturing,Imageand Vision Computing13(3): 197
214.