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1.1. Introduo
Com o advento da economia globalizada, observou-se um aumento na demanda
por
produtos
sistemas
de
melhor
desempenho
custos
competitivos.
confiabilidade deve ser associado a um perodo de tempo ou durao de misso (no faz
sentido afirmar que um item apresenta confiabilidade de 0,7 sem especificar durante
qual perodo de tempo a anlise do item foi realizada), e (v) a determinao do que
deveria ser usado para medir a vida de um item nem sempre bvia; por exemplo, o
tempo-at-falha de uma lmpada eltrica pode ser definido como o nmero contnuo de
horas at a falha ou como o nmero somado de horas at falha, considerando o nmero
tpico de acionamentos a que a lmpada submetida.
O ltimo aspecto da definio de confiabilidade diz respeito a definio das
condies ambientais de uso do item. Um mesmo produto pode apresentar desempenho
distinto operando em ambientes de calor ou umidade intensos, se comparado a produtos
expostos a condies climticas amenas de uso.
No final dos anos 1950 e incio dos anos 1960, o interesse dos norte-americanos
esteve centrado no desenvolvimento de msseis intercontinentais e na pesquisa espacial,
eventos motivados pela Guerra Fria. A corrida para ser a primeira nao a enviar uma
misso tripulada lua, em particular, motivou avanos na rea da confiabilidade, tendo
em vista os riscos humanos envolvidos. Em 1963 surgiu, nos Estados Unidos, a
primeira associao que reunia engenheiros de Confiabilidade e o primeiro peridico
para divulgao de trabalhos na rea, o IEEE Transactions on Reliability. Ao longo da
dcada de 1960 diversos livros-texto sobre confiabilidade foram publicados.
Na dcada de 1970, o estudo da confiabilidade esteve centrado na anlise dos
riscos associados construo e operao de usinas nucleares. A partir da, aplicaes
da confiabilidade nas mais diversas reas se consolidaram. Algumas dessas reas de
aplicao, associadas Engenharia de Produo, vm listadas a seguir.
Qualidade a crescente adoo das normas ISO-9000 por empresas fez com que
tcnicas de gesto e garantia da qualidade crescessem em importncia. Os conceitos
de qualidade e confiabilidade esto intimamente conectados. A confiabilidade pode
ser considerada em diversas situaes como uma caracterstica de qualidade a ser
considerada no projeto e otimizao de produtos e processos (talvez a mais
importante). Dessa forma, muita ateno vem sendo dada incorporao de
tcnicas de gesto e garantia da confiabilidade nos programas de garantia da
qualidade.
variabilidade no produto que leva a falhas precoces pode ser reduzida atravs dos
estgios de projeto do produto e manufatura.
Tabela 1.
Fontes de variabilidade
Estgio de
Processos de
Ambiente de
Deteriorao do
desenvolvimento
manufatura
operao
produto
1
1
1
Projeto do produto
Projeto do processo
1
2
2
1
2
2
Manufatura
1 reduo da variabilidade possvel; 2 reduo da variabilidade no possvel.
A=
MTTF
,
MTTF + MTTR
(1)
onde A denota a disponibilidade mdia da unidade, MTTF o tempo mdio entre falhas
(ou seja, o tempo mdio de funcionamento da unidade) e MTTR o tempo mdio at
concluso de reparos feitos na unidade.
programa
de
confiabilidade
define
estrutura
organizacional,
1.6.1 Tempo-at-falha
Por tempo-at-falha de uma unidade entende-se o tempo transcorrido desde o
momento em que a unidade colocada em operao at a sua primeira falha.
Convenciona-se t = 0 como incio da operao do sistema. Por estar sujeito a variaes
aleatrias, o tempo-at-falha interpretado como uma varivel aleatria, designada por
T. O estado da unidade em um tempo t pode ser descrito pode uma varivel de estado
X(t), que uma varivel aleatria definida por:
1, se a unidade estiver funcionando em t
.
X (t ) =
0, se a unidade estiver em um estado de falha em t
A relao existente entre a varivel de estado X(t) e o tempo-at-falha T vem
ilustrada na Figura 1.
Como observado na definio da seo 1, o tempo-at-falha nem sempre
medido como tempo de calendrio, podendo assumir valores discretos, como nmero de
ciclos at falha. Para os propsitos deste texto, pressupe-se uma varivel T distribuda
continuamente, com densidade de probabilidade dada por f (t ) e funo de distribuio
dada por:
t
(2)
f (t ) = F (t ) =
d
F (t + t ) F (t )
P(t < T t + t )
= lim
.
F (t ) = lim
t 0
t 0
t
t
dt
(3)
(4)
10
Figura 1
ns (t )
n f (t ) + ns (t ) = n0 . A
ns (t )
n (t )
= s
ns (t ) + n f (t )
n0
(5)
(6)
R (t ) = 1 F (t ) = 1 f (u )du =
0
f (u )du .
(7)
11
P (t T t + t ) =
t +t
f (u )du = R (t ) R (t + t ) .
(8)
P (t T t + t T t ) =
(9)
Uma taxa de falha mdia no intervalo (t , t + t ) pode ser obtida dividindo a eq. (9) por
t . Fazendo t 0 , obtm-se a taxa de falha instantnea, que a funo de risco,
dada por:
R(t ) R(t + t ) R(t )
f (t )
=
=
, t 0.
t 0
R(t )t
R(t )
R(t )
h(t ) = lim
(10)
(11)
Figura 2
R(t )
d
= ln R (t ) .
R(t )
dt
(12)
(13)
e
t
R (t ) = e
h ( u ) du
0
(14)
13
f (t ) = h(t )e
h ( u ) du
0
, t 0.
(15)
H (t ) = h(u )du , t 0.
(16)
O tempo mdia at falha de uma unidade, designado por MTTF (mean time to
failure), definido como:
+
MTTF = E (T ) = tf (t )dt ,
(17)
ou seja, o valor esperado da varivel T. Como, a partir da eq. (3), f (t ) = R(t ) , uma
expresso alternativa para a MTTF pode ser assim obtida:
(18)
(19)
[tR(t )]0
MTTF = R (t )dt .
(20)
14
(21)
L(t ) = u
t
f (u )
1
du t =
uf (u )du t.
R(t )
R (t ) t
(22)
Tabela 2.
f(t)
f(t)
R(t)
h(t)
f (u )du
f (t )
H(t)
f (u )du
L(t)
ln f (u )du
t
u f (u )du t
f (u )du
ln R( t )
1
R (u )du
R(t ) t
R(t)
R ( t )
h(t)
h ( u ) du
h(t )e 0
R ( t )
h ( u ) du
e 0
R( t )
h(u )du
0
h ( y ) dy
e 0
du
t
H(t)
H ( t ). e H ( t )
h ( u ) du
e 0
H ( t )
e H (t)
e H (t ) e H ( u ) du
t
L(t)
t 1+ L ( u )
1 + L(t ) 0
e
L(t )
L (u )
du
t 1+ L ( u )
L (u )
du
1+ L ( t )
L( t )
15
1 + L(u )
du
L(u )
Considere o seguinte exemplo. Lmpadas eltricas costumam apresentar temposat-falha descritos por uma distribuio exponencial, com funo de densidade dada
por:
f (t ) = e t , t 0 .
A funo de confiabilidade das lmpadas pode ser obtida por aplicao direta da
eq. (7):
R (t ) = f (u )du = e u du = e u
= 0 ( e t ) = e t .
A funo de risco das lmpadas pode ser determinada usando a eq. (10):
h(t ) =
f (t ) e t
=
=.
R(t ) e t
H (t ) = h(u )du = du = t .
[e t
1
1
= (0 1) = .
0
1
1
uf (u )du t = t
t
R(t )
e
u e u du t =
16
resultado
acima
indica
que,
mediante
suposio
de
tempos-at-falha
1.7. Exerccios
1) Calcule a funo de confiabilidade, a funo risco e o tempo mdio at falha para a
seguinte funo de probabilidade acumulada:
8
1
F (t ) = 1 e t + e 8t .
7
7
2) Uma fbrica de bobinas para motores est interessada em estimar a vida mdia de
suas bobinas. Para tanto, foram submetidas a testes de confiabilidade 150 bobinas. As
bobinas foram observadas e as falhas anotadas em intervalos de tempo. O nmero de
falhas por intervalo de tempo mostrado na tabela abaixo:
Intervalo de tempo
(horas)
0 1,000
1,001 2,000
2,001 3,000
3,001 4,000
4,001 5,000
Falhas no intervalo
16
24
26
46
38
n f (t )
no t
h(t ) =
n f (t )
n s t
R(t ) =
f (t )
,
h(t )
F (t ) = 1 R(t ).
2
1 .
4
onde
b, c = parmetros de forma,
, = parmetros de escala, e
t=
tempo.
18
palavras, os 90 por cento restantes iro sobreviver por perodos maiores que a vida L10.
Considere um rolamento que tem uma funo de risco na forma:
t
( )
h(t ) =
t )
(
(n 1)!
n 1
n 1
k =0
k!
R(t ) = 1 t , 0 t < t 0
t0
R (t ) = 0, t t0
1
1 + , Var [T ] =
2 1 2
1 + 1 + , onde [n]
funo de gama.
19
ln t
f (t )
h[t ] =
=
R(t )
tR (t )
2
1
4
20
15
23
62
78
80
85
97
105
110
112
119
121
125
128
132
137
140
145
149
153
158
162
167
171
175
183
189
190
197
210
218
225
230
237
243
255
264
273
282
301
312
330
345
360
383
415
436
457
472
572
Pede-se: (a) plotar no Proconf as funes f(t), h(t), R(t) e F(t); (b) comentar os
resultados.
17) Os dados de tempo-at-falha a seguir foram obtidos em ensaios de confiabilidade
conduzidos sobre um tipo de circuito impresso. Plote no Proconf as funes f(t), h(t),
R(t) e F(t) e comente os resultados.
2,7
3,1
3,3
3,3
4,6
6,1
6,4
7,3
8,0
8,2
8,4
8,6
9,5
9,6
11,9
12,0
13,2
13,7
14,2
16,1
18,9
19,0
19,3
20,2
20,4
21,0
22,2
26,4
33,6
35,0
18) Os dados a seguir foram obtidos em testes com um componente mecnico que falha
por fadiga. Plote no Proconf as funes f(t), h(t), R(t) e F(t) e comente os resultados.
62
65
79
82
83
85
87
90
92
95
95
95
98
99
99
101
103
105
106
108
109
109
119
120
125
126
131
132
134
139
19) Considere os trs grupos de dados abaixo. O grupo no item (a) foi obtido testando o
nmero de dias at falha de lmpadas eltricas em condies de uso contnuo; o grupo
no item (b) corresponde ao tempo at falha, em milhares de horas, de bombas
submersas; o grupo no item (c) corresponde a um teste com mecanismos de pouso de
avies (os resultados esto em nmeros de pousos/decolagens, em condies normais).
21
98,7
115,3
116,9
190,9
191,8
219,2
234,5
235,7
253,3
254,2
256,4
267,2
332,6
378,6
417,4
433,1
522,4
560,4
577,0
581,7
662,6
668,9
702,7
750,7
771,1
907,0
952,2
1072,4
1168,4
57,3
102,2
41,4
28,0
49,5
21,8
75,6
43,5
64,6
68,9
38,0
63,2
39,5
127,0
72,3
32,0
26,5
66,9
28,5
79,8
26,8
58,0
171,7
14,3
20,0
125,5
11,3
51,0
10,6
123,8
27,4
75,4
13,8
36,5
174,2
21,9
28,4
13,7
29,1
27,3
89,7
31,1
23,6
38,7
12,7
58,6
43,3
194,4
19,4
16,6
16,3
60,7
51,1
47,7
20,8
29,5
34,0
32,2
47,6
18,0
41,2
15,1
62,7
118,0
6,5
101,0
55,2
48,2
108,1
13,5
39,7
110,6
106,7
14,5
24,3
165,3
42,8
32,8
98,6
56,1
19295,7
19455,8
15864,2
27046,6
19101,3
20822,0
22271,6
26231,2
12242,6
11110,2
18076,7
21300,5
19558,7
13572,6
9797,0
15854,5
17342,7
22068,3
22179,6
23469,6
10550,1
14498,5
19274,7
14585,3
16785,8
15063,2
20617,2
12786,3
20739,5
26138,5
22
16618,8
15672,5
19485,0
25814,3
16724,8
8384,93
12328,2
21788,0
16217,6
21370,0
16504,1
19597,5
18646,4
18627,7
18631,4
11950,7
16003,7
19782,8
17431,8
14301,2
20,7
13,7
30,5
18,8
59,3
46,6
24,5
20,2
11,4
36,3
15
16
28
30
33
36
39
41
45
47
48
51
23
57
62
110
149
271
12.5
3.7
32.2
0.7
22.0
1.6
20.3
14.4
2.6
11.6
8.4
5.0
15.4
10.9
14.0
22.7
14.9
3.0
35.7
10.9
11.9
14.5
8.2
9.6
7.4
27.5
7.1
9.2
43.3
0.2
273.2
273.9
mais usual, na prtica). Em (ii) os dados de tempo at falha devero ser informados;
entre com os dados da tabela acima. Aps inserir os dados, clique em processar, para
atualizar o registro. Em (iii), analise os grficos de barra resultantes; eles do uma idia
da distribuio de probabilidade dos dados. Existem quatro opes: freqncia, taxa de
falha, confiabilidade e densidade acumulada de falha. A freqncia corresponde
funo de densidade, podendo dar uma idia da melhor distribuio para os dados em
estudo. Em (iv) os dados so plotados em quatro papis de probabilidade (exponencial,
Weibull, lognormal e Normal). Quanto mais prximos da reta os dados estiverem, maior
a probabilidade de pertencer a uma dada distribuio. Analise com cuidado os dados nas
extremidades; eles costumam ser decisivos na escolha da distribuio apropriada.
A janela Anlise contm cinco planilhas: (i) Modelos, (ii) Ajuste/Estatsticas,
(iii) Funes de Confiabilidade, (iv) Grficos e (v) Testes de Aderncia. Em (i) o
usurio escolhe o modelo desejado (existem cinco opes de modelo); por exemplo, o
modelo escolhido pode ser o de Weibull. A partir da escolha do modelo, todas as
funes nas demais planilhas vo utilizar o modelo escolhido como referncia. Em (ii)
os parmetros da distribuio so calculados; algumas informaes como os percentis
10 e 50 e a MTTF tambm so fornecidos. A planilha (iii) traz as informaes usadas na
contruo dos grficos da planilha (iv). Em (iv) pode-se ter uma idia do formato das
funes de probabilidade associadas a distribuio selecionada, tendo em vista os dados
de TTF. importante ressaltar que os grficos so gerados independente da distribuio
selecionada ser aquela que melhor se ajusta os dados. O ajuste das distribuies aos
dados verificado na planilha (v), atravs de dois testes de aderncia: o teste do quiquadrado e o teste de Kolmogorov-Smirnov. A interpretao do resultado dos testes
vem dada na propria planilha. Para que o programa no rejeite a hiptese da distribuio
selecionada ser correta, ela precisa passar nos dois testes.
A janela Calculadora traz uma calculadora para determinao da confiabilidade,
dado uma determinada distribuio com parmetros informados (boto calcular
confiabilidade). A calculadora tambm pode determinar o tempo correspondente a uma
determinada confiabilidade (boto calcular tempo). A calculadora tambm apresenta os
grficos correspondentes distribuio informada.
25