Professional Documents
Culture Documents
PENDAHULUAN
I.1.
Latar Belakang
Analisis sayatan tipis batuan dilakukan karena sifat-sifat fisik (tekstur dan
dapat mengetahui cara menganalisis sifat optis pada mineral baik dengan
pengamatan nikol sejajar maupun dengan pengamatan nikol silang pada sayatan
tipis, dan juga bisa menganalisis batuan secara petrografi dalam sayatan tipis
dengan menggunakan mikroskop polarisasi.
Tujuannya mahasiswa (praktikan) dapat mengidentifikasikan mineral
dan batuan yang terkandung dalam suatu sayatan, dan juga praktikan lebih
memahami mengenai analisis batuan secara petrografi baik batuan beku, sedimen
maupun batuan metamorf.
I.3.
Metode Penulisan
Berdasarkan materi-materi pratikum petrografi serta pemahaman melalui
pemeriaan tekstur dan komposisi mineral dan struktur batuan maupun mineral
secara mineral optik dan study pustaka .
BAB II
DASAR TEORI
II.1
Pengenalan Alat
II.1.1 Definisi mikroskup Polarisasi
Pengamatan mineral optis tentunya membutuhkan alat bantu mikroskop.
Ada beberapa jenis mikroskop polarisasi, yaitu mikroskop terpolarisasi binokuler
dan trilokuler, baik non-digital maupun yang digital
b.
Gambar 1. Kiri: Bagian-bagian dari mikroskop polarisasi binokuler secara garis
besar (sumber ZEISS, 1961). Kanan: Bagian-bagian dari mikroskop polarisasi
trilokuler secara garis besar (sumber ZEISS, 1961).
Gambar 2. Mikroskup polarisasi binokuler digital dengan layar video yang lain
(kiri) dan mikroskup polarisasi standar (kanan).
II.1.2 Fungsi dan Bagian-Bagian dari Mikroskup Polarisasi
(a).
Lensa Ocular
Yaitu lensa dengan perbesaran yang biasanya mencapai 10x. Lensa ini
berhubungan langsung dengan mata saat mengamati sayatan tipis batuan di bawah
mikroskup. Dalam lansa ini terdapat benangsilang yang dapat membantu
menentukan posisi utara-selatan (U-S) dan timur-barat (T-B). Benang silang juga
sering digunakan untuk mengetahui sudut pemadaman suatu mineral, apakah
miring atau tegak lurus. Perbesaran dari obyek sayatan tipis di atas meja obyektif
(gambar samping) dihasilkan dari perbesaran okuler dan lensa obyektif (gambar
bawah). Contoh: jika sayatan tipis dilihat dengan menggunakan lensa obyektif
dengan perbesaran tertulis 4X, dan okuler 10X, maka memiliki perbesaran total
40X.
Lensa okuler
lensa obyektif
Gambar 4. Lensa okuler dan lensa obyektif yang terdapat dalam mikroskup
polarisasi
(b).
Gambar 6. Prisma nikol, lensa obyektif dan lensa okuler pada mikroskup
polarisasi
(c).
Mikroskop dioperasikan pada sinar lampu yang searah dengan tube dan
obyek
Yaitu dengan menaikkan nikol bagian bawah yang terletak di bawah meja
obyektif, sehingga:
(d)
Bagian pusat meja harus satu garis dengan pusat optis dari tube.
(e).
benang silang kanan-kiri, selanjutnya meja obyektif diputar sampai benang silang
yang lain sejajar dengan arah lain dari meja obyektif tetapi berlawanan dengan
center-nya.
Benang
silang
Gambar 7. Benang silang yang terdapat pada lensa okuler dalam mikroskup
polarisasi
(f).
Berbentuk bidang datar pada sisi belakang dan cekung pada sisi depan
(g).
Lensa Obyektif
Dalam satu sayatan tipis sering terdiri atas suatu seri bidang yang saling
menumpang, dan hanya salah satunya saja yang dapat diamati.
(h).
Resolving Power
Ketika dua titik berpindah dari posisi 6.876x dari mata, maka yang terlihat
hanya satu titik.
(i).
(j).
Lensa Ocular
Lensa bagian atas berupa lensa mata dan lensa bagian bawah berfungsi
untuk mengumpulkan data.
Focal length dari lensa mata adalah 1/3-nya dari lensa pengumpul (field
length).
Sinar sinar ini yang menyebabkan kelelahan pada mata saat pengamatan.
Pada okuler juga dijumpai benang silang, berbentuk jaring laba-laba dan
mengikatkan tali tersebut pada perutnya.
(k).
Mikrometer
Berfungsi untuk mengukur jarak dalam sekala yang sempit, contoh:
diameter mineral.
(l).
Adjustment Screws
Adjustment screw berfungsi untuk mengatur (bagian dalam 2) dan
menghaluskannya (bagian luar 1) kefokusan lensa okuler dan obyektif