Spsobilos procesov

Spsobilos procesu
vplyvy na priebeh procesu
nhodn prirodzen, s vinou vntornho charakteru, zloito
odstrniten a ako predvdaten. Tieto vplyvy s zva rieen
prostrednctvom krtkodobch opatren, a len do uritej miery s
ovplyvniten, pretoe je ako predvdaten okamih ich vzniku
systematick s vinou vonkajieho charakteru, ahie rozpoznaten
a lepie predvdaten. Kad z tchto vplyvov samostatne spsobuje
vznamn odchlky parametra od poadovanej hodnoty. Tieto vplyvy
psobia na hodnoty parametra :
nhlym spsobom - nstup novho zamestnanca do procesu, pouitie novej pracovnej
pomcky
postupne - nedostaton drba zariadenia.

Systematick vplyvy bu menia pvodn rozdelenie alebo parametre

rozdelenia pravdepodobnosti parametrov procesu, je ich mon ahie
odhali a taktie je mon lepie korigova ich psobenie

Variabilita procesu a regulan diagramy

truktra regulanho diagramu
CL centrlna priamka
UCL horn regulan medza
LCL doln regulan medza

os X - poradov sla logickch podskupn merania

os Y - hodnoty vberovch charakteristk
sledovanho parametra procesu, ktormi mu by:

vberov priemer,
vberov rozptie,
vberov smerodajn odchlka,
podiel nezhodnch produktov vo vbere (napr. mekajcich spojov), ...

Spsobilos procesu
tatistick riadenie procesu
Pri hodnoten spsobilosti procesu sa pouva postup:
voba ukazovatea procesu
zhromadenie dajov (napr. by sa mohlo zisti 5-6 dajov v priebehu da
a poet sledovanch dn by mal by pribline 25),
posdenie tatistickho zvldnutia procesov tatisticky zvldnut proces je
stav, v ktorom je variabilita sledovanho znaku kvality vyvolvan len
psobenm nhodnch prin
overenie normality rozdelenia sledovanho parametra
vpoet indexov spsobilosti a ich porovnanie s poadovanmi hodnotami
na ich vpoet je potrebn pozna horn a doln tolerann limit a cieov
(nominlnu) hodnotu a samozrejme nameran hodnoty

Variabilita procesnho parametra

s predpokladom normlneho rozdelenia hodnt

-3

-2

-1

=0

Indexy spsobilosti (1)

Index spsobilosti Cp tento index predstavuje potencilnu schopnos

procesu zaisti, aby hodnota sledovanho znaku kvality leala vntri
tolerannch medz.
reprezentuje porovnanie rok tolerannho psma UTL LTL a
regulanho psma UCL LCL, stanovenho na zklade 3. m je
hodnota Cp vyia, tm vyia je spsobilos procesu spa poadovan
tolerancie. Pota sa poda vzahu :
UTL Upper Tolerance Limit (horn tolerann medza)
LTL Lower Tolerance Limit (doln tolerann medza)
smerodajn odchlka

CP =

UTL LTL
> 1,33
6.s

Ak nie je znma hodnota smerodajnej odchlky zkladnho sboru, tak sa

na vpoet indexu pouva jeho odhad:
kde :

d2 koeficient zvisl na rozsahu podskupiny

UTL LTL
C p =
R
6
d2

Indexy spsobilosti (2)

tento index, na rozdiel od indexu Cp, zohaduje nielen variabilitu

sledovanho znaku kvality, ale aj jeho polohu voi tolerannm medziam,
charakterizuje teda skuton spsobilos procesu dodriava predpsan
tolerann medze. Zvyovanm hodnoty indexu Cpk narast spsobilos
procesu, o je mon dosiahnu sprvnym vycentrovanm procesu. Ak sa
hodnoty CpL a CpU rovnaj, proces je vycentrovan na poadovan
hodnotu. Na vpoet indexu sa pouva nasledujci vzorec :
kde : stredn hodnota sledovanho znaku
CpL jednostrann tolerancia doln tolerann medza
CpU jednostrann tolerancia horn tolerann medza

LTL UTL
C pk = min C pL ; C pU = min
;

3
3

Indexy spsobilosti (3)

Druh genercia indexov spsobilosti (Cpm) vznikla z novho prstupu

k zlepovaniu kvality, nazvanho aj Taguchiho prstup. Nemeria sa u len
vsledok merania, i je vntri tolerannho psma. Takto index umouje
uri, do akej miery sa hodnoty skmanho indexu kvality pribliuj
elanmu stavu.
Index spsobilosti procesov Cpm poskytuje viac informci o kvalite procesu
prostrednctvom zavedenia tzv. Taguchiho stratovej funkcie. Tto funkcia
vyjadruje mylienku, e odchlka od predpsanej hodnoty m za nsledok
rovnak stratu ako rovnak zvenie hodnoty smerodajnej odchlky.
Umouje teda charakterizova, ako proces doke dosahova nominlnu
(idelnu poadovan) cieov hodnotu T. Za nominlnu sa povauje
hodnota, pri ktorej s nklady na proces minimlne. Vpoet spsobilosti
procesu pomocou indexu Cpm:
C pm =

UTL LTL
6 2 + ( T )

T LTL
UTL T

C pm = min
;
2
2
2
3 + ( T ) 3 2 + ( T )

Taguchiho stratov funkcia

ZLE
strata

DOBRE
bez straty

ZLE
strata
DOBRE
bez straty

T-

T+

hodnota
parametra

T-

neprpustn
strata

zkaznkom
tolerovan
interval

T
nzka

priemern

T+

hodnota
parametra

neprpustn
strata

prpustn strata

tradin prstup k hodnoteniu nezhd

Taguchiho prstup k hodnoteniu nezhd

Taguchiho stratov funkcia

L - strata vyjadren vo finannch
hodnotch
k - nkladov koeficient
T - iadan hodnota kvalitatvneho
parametra
X - skuton hodnota kvalitatvneho
ukazovatea
A - nklady na npravn opatrenia,
ktor vyjadruj zmeny o hodnotu
delta
(delta) - hodnota zmeny

k=

A
2

L = k ( X T )2

Vanos procesu
Celkov vanos RTY (Rolled throughput yield) je
pravdepodobnos, e vetky potencilne miesta vzniku nezhd bud
zodpoveda predpsanm pecifikcim
vanos procesu je dan sinom vanosti jednotlivch
podprocesov
sli na urenie potu nezhd na milin prleitost
(s vyuvan pri urovan Sigma spsobilosti Six Sigma)
Spsobilos procesu

Poet chb na milin

prleitost

Vanos na
prvkrt

Nklady na nekvalitu
z objemu trieb

697 700

30,23000%

308 700

69,13000%

66 810

93,32000%

25-40%

6 210

99,37900%

15-25%

233

99,97670%

5-15%

3,4

99,99966%

menej ako 1%

Vpoet spoahlivosti systmu

Spoahlivos systmu je vsledok spoahlivosti zloiek systmu
(subsystmov)
spoahlivos subsystmu = spsobilos procesu

zapojenie v srii

zapojenie paraleln

zapojenie zmiean

Prklad urenie spoahlivosti systmu

Markovove reazce urovanie

charakteristk systmu

Dynamick model systmu markovovsk proces

Prklad
systmu
hromadnej
obsluhy

Dynamick model systmu markovovsk proces

systm
hromadnej
obsluhy

0,2,0,1

1,2,0,1

2,2,0,1

0,1,1,1

0, 2, 1,1

1,2,1,1

0,0,1,1

0,1,2,1

0,2,2,1