1.

1 Kristalizacija amorfnih slitina

Metalna stakla moemo smatrati pothlaenim tekuinama odnosno
taljevinama zbog ega su potencijalno podlona procesu kristalizacije.
Kristalizacija stakla je mnogo sporiji proces nego kristalizacija taljevine te ga
moemo po elji prekinuti ili usporiti reguliranjem temperature. Na taj nain je
mogue dobiti eljenu strukturu radi postizanja odreenih fizikih svojstava koja
se koriste u komercijalne svrhe.

Ukoliko metalno staklo grijemo u blizini, ali ispod temperature staklastog

prijeleza Tg, staklo evoluira prema novom metastabilnom stanju1 ime mu se
mijenjaju mnoga fizika svojstva (gustoa, modul elestinosti, dobra magnetska
svojstva...). Taj proces nazivamo oputanje (relaksacija).

Postoje etiri naina kristalizacije stakala:

Polimorfna kristalizacija prilikom koje dolazi do razvoja jednofazne kristalne

faze koja ima istu koncentraciju kao i amorfni materijal. Primjer ovakve
kristalizacije je slitina Fe75B25 gdje dolazi do nastanka Fe3B.

Primarna kristalizacija daje jednofaznu kristalnu fazu sastava koji se

razlikuje od kemijskog sastava stakla. Kao primjer navedimo Fe86B14 unutar
koje nastaju kristalii Fe iz ega je vidljivo da poetna amorfna slitina mijenja
sastav, odnosno postaje siromanija atomima eljeza.

Eutektika kristalizacija tjekom koje dolazi do simultanog nastanka dviju

kristalnih faza. Kao i kod polimorfne kristalizacije, tjekom ovog procesa ne dolazi
do promjene sastava amorfne slitine. Primjer je Fe80B20 gdje kristalizacijom
nastaju Fe i Fe3B. Zbrajanjem doprinosa obiju faza vidimo da ne dolazi do
promjene u sastavu poetne amorfne slitine.

1
Termodinamiki moe biti stabilna samo kristalna struktura
1
 2.1 Kristalizacija Fe - B slitina

Nanokristalna kristalizacija gdje dolazi do razvoja nanokristalne strukture u

poetnim stadijima. Nanokristaliti mogu rasti sve dok se itava amorfna faza ne
kristalizira, ili nakon poetne nanokristalizacije preostala amorfna faza poinje
kristalizirati u neku drugu kristalnu strukturu razliitog sastava i strukture od
poetne nanokristalne.

2.2 Nanokristalna kristalizacija (oznaena kruiima)

2
2 Vodljivost metalnih stakala
Elektrinu vodljivost materijala openito odreuju dva fenomena
rasprenje elektrona na nepravilnostima reetke u to ubarajamo i neistoe u
kemijskom sastavu i rasprenja elektrona na fononima (modovi titranja vorova
reetke usljed termikog pobuenja).

Otpor ovisi dakle o samoj strukturi materijala i temperaturi. Bitna razlika

izmeu amorfnih i kristalininih materijala jest ovisnost otpora o temperaturi.
Kristalinine materijale karakterizira pozitivni i veliki temperaturni koeficijent
otpora dok je ta ovisnost kod amorfnih anomalna u irom temperaturnom
podruju.

Mehanizam elektrine vodljivosti je suvie sloen da bi se mogao egzaktno

opisati pa taj problem tretiramo pomou raznih aproksimativnih metoda.

2.1 Drudeov model

Prema ovom modelu uzrok otporu su rasprenja elektrona na atomima
reetke. Kada na elektron ne djeluje vanjsko polje svi su smjerovi gibanja
ravnopravni pa vektorski zbroj elektronskog mnotva je jednak nuli. Ukoliko se
uspostavi vanjsko elektrino polje dolazi do promjene brzine elektrona to
moemo izraziti jednadbom gibanja:

dv
m eE (2.1)
dt
gdje m predstavlja masu elektrona, e iznos elektronskog naboja.

Integracijom jednadbe (2.1) od t1 do t2 uz oznake

u v t 2 v t1
(2.2)
t t 2 t1
Dobivamo:
e
u E t 2 t1 (2.3)
m
Ukupna brzina elektrona jednaka je zbroju brzine kojom se elektron giba

van vanjskog polja i doprinosa od vanjskog polja v ' v u . u je usmjerena brzina

3
iji smjer ovisi o smjeru djelovanja vanjskog polja a nazivamo je driftna brzina
(brzina zanoenja).

S obzirom da se elektroni raspruju oni gube ubrzanje dobiveno od vanjskog

polja. Kada ne bi postojalo rasprenje na elektrone bi djelovala samo elektrina
sila pa bi vodljivost neogranieno rasla.

Vrijeme efektivnog ubrzavanja elektrona jednako je vremenskom razmaku

izmeu dva uzastopna sudara. To vrijeme nazivamo relaksacijskim vremenom i
oznaavamo ga sa . U tom sluaju, prosjena driftna brzina je dana izrazom:
e
u E (2.4)
m
Kako je brzina zanoenja ovisna o sredini u kojoj se giba elektron i o
elektrinom polju definiramo veliinu neovisnu o polju iji je brojani iznos jednak
iznosu prosjene vrijednosti brzine zanoenja u jedininom polju.

| u | e
(2.5)
E m
Gustoa struje jednaka je umnoku driftne brzine i gustoe elektronskog
naboja:

e 2
j enu n E (2.6)
m
Gdje nam n predstavlja gustou mobilnih naboja.

Konstanta proporcionalnosti izmeu elektrinog polja i gustoe struje je

vodljivost. Reciprona vrijednost vodljivosti je otpornost:

e2
1 n en (2.7)
m
Na relaksacijsko vrijeme utjee stupanj ureenosti sustava. Kod sustava sa
niskim stupnjem neureenosti strukture relaksacijsko vrijeme je relativno dugo.
Kao primjer moemo uzeti bakar ije relaksacijsko vrijeme iznosi = 10-9 s, a
slobodni put elektrona l = 0.3 m pri temperaturi T = 4 K.

4
2.2 Boltzmannov model
Ovaj model uzima u obzir i valnu prirodu elektrona pored injenice da se
elektroni raspruju na nepravilnostima kristalne reetke. Veliki iznos srednjeg
slobodnog puta glavna je pretpostavka za ovaj model.

Impuls elektrona definiramo kao umnoak reducirane Planckove konstante i

valnog vektora:

p k (2.8)

Djelovanje sile na elektron definiramo kao promjenu impulsa:

dp dk
F (2.9)
dt dt

Kako sila ovisi o elektrinom polju kao F eE , imamo:

dk eE
(2.10)
dt
Ukoliko elektronska stanja prikaemo u recipronom prostoru poslagana
unutar Fermijeve sfere tada se promjena impulsa zbog djelovanja vanjskog polja
moe predstaviti kao pomicanje takve sfere.

U tom sluaju, promjenu valnog vektora tijekom relaksacijskog vremena

moemo zapisati putem relacije:
eE
k x (2.11)

Doprinos infinitezimalnog dijela Fermijeve povrine ukupnom iznosu
gustoe struje moemo onda zapisati u obliku:
1
dj dSe 2 Ev cos 2 (2.12)
4 3 h
Kut u prethodnoj relaciji je kut izmeu valnog vektora i njegove projekcije
u x smjeru.

Kvocijent gustoe struje i elektrinog polja nam daje vodljivost:

dj 1
d dSe 2v cos 2 (2.13)
E 4 3 h
Ukupna vodljivost dobiva se sumacijom preko cijele Fermijeve plohe:
5
 1
4 2 h
e 2 l cos 2 dS (2.14)

gdje l predstavlja srednji slobodni put elektrona ( l v ). Tako za otpornost

imamo:

12 3
1
(2.15)
S F e 2l
Povrinu fermijeve sfere odreuje najvei iznos valnog vektora kojeg
nazivamo Fermijevim valnim vektorom

S F 4k F2 (2.16)

Pa za konaan izraz otpornosti dobivamo:

3 2
1
(2.17)
k F e 2l

3 Eksperimentalne metode
3.1 Pripravljanje uzorka
Proizvodnju metalnih stakala uvelike oteavaju velike brzine hlaenja koje
moramo primjeniti na poetnu slitinu. Prvo metalno staklo (Al80Si20) prizveo je Pol
Duwez 1957. godine hlaenjem poetne taline brzinom megakelvina po sekundi.
U poetcima proizvodnje metalnih stakala koristio se postupak izbacivanja kapljice
na hladnu podlogu.

Poetkom 70 ih godina dolo je do razvoja tehnika hlanja izbacivanjem

kapljica na hladnu rotiraju podlogu. Uinkovitost ovakvog naina proizvodnje
metalnih stakala rezultiralo je kasnijim poboljavanjem ove tehnike te se danas
koriste tri inaice ove tehnike brzog kaljenja.

Prva inaica ukljuuje kapilaru u kojoj se nalazi poetni uzorak. Oko kapilare
je namotana zavojnica kroz koju prolazi visokofrekventni signal koji tali uzorak
(slika 3.1). Nakon taljenja kapljica pada na rotirajui kora. Cijeli proces se odvija u

6
atmosferi inertnog plina. Konani uzorak dobiven ovim postupkom ima oblik
trake.

3.1 Padanje taline na rotirajui kota

Druga metoda funkcionira na bazi rotirajueg kotaa koji tangira povrinu

taline smjetene u posudi (slika 3.2).

3.2 Melt extraction metoda

Trea metoda funkcionira na principu mlina kojeg sainjavaju dva kotaa

koji rotiraju u suprotnim smjerovima. Kotai se gotovo dodiruju a u taj tanki
procijep se ubaciva kapljica taline koju elimo prevesti u amorfni oblik (slika 3.3).

7
 3.3 Mlin za brzo kaljenje

Bitno je napomenuti da se staklo ne mora nuno dobiti hlaenjem taline.

Destruktivno djelovanje na kristalnu strukturu moe se ostvariti bombardiranjem
kristalininih materijala visokoenergetskim ionima. U tom sluaju, atomi vie ne
zauzimaju pravilan raspored u materijalu te materijal prelazi iz kristalininog u
amorfno ureenje.

Fazi pripravljanja amorfnog uzorka prethodi spravljanje poetne slitine.

Poetnu slitinu moemo dobiti koritenjem argonske pei (slika 3.4). Pe je
sastavljena od postolja na kojem se nalazi stakleni cilindar unutar kojeg je bakreni
kalup. Cijeli ureaj je zatvoren poklopcem koji ima dva dovoda jedan za
dovoenje inertnog plina a drugi za vakuumsku pumpu. Kroz poklopac je
provuena i cijev koja je spojena na elektrini izvor tako da njezin vrh predstavlja
negativnu elektrodu. Cijev je mogue zakretati unutar cilindra kako bi postigli to
bolji poloaj elektrode. Na postolje stavljamo komponente od kojih elimo
napraviti slitinu na koje djelujemo iskrom iz elektrode te ih tako talimo. Na taj
nain dobivamo slitinu koju hladimo integriranim ureajima za hlaenje koji su
smjeteni u postolju.

8
 3.4 Argonska pe

3.2 Rendgenska difrakcijska analiza

Rendgensku difrakcijsku analizu koristimo za analiziranje kristalinih
uzoraka. Uz pomo ove metode moemo identificirati koji polimorfi kristaliziraju u
razliitim kristalnim sustavima, otkriti koja je struktura kristala, defekti i sl. a
mogua je i kvantitativna analiza.

Instrumenti koji se koriste za ovakvu analizu se nazivaju difraktometrima. Uz

pomo goniometra (slika 3.5) mijenjamo upadni, odnosno difrakcijski kut zraenja
.

9
 3.5 Shema goniometra s oznaenim difrakcijskim kutom () i kutom zakretanja goniometra (2)

Detektor radi na principu ionizirajue komore a slui za mjerenje intenziteta

difraktiranog zraenja. Dobiveni elektrini signal se pojaava i alje na raunalo
koje daje difraktogram2 (slika 3.6).

3.6 Difraktogram Al3O2

Poloaji difrakcijskih maksimuma na difraktogramu ovise o geometriji

kristalne elije a njihov intenzitet o broju, vrsti i poloaju atoma. Svaku tvar

2
Grafika ovisnost intenziteta difraktiranog zraenja o difrakcijskom kutu
10
karakterizira svojstveni difraktogram pa na temelju toga odreujemo nepoznate
kristaline tvari.

Bitno je napomenuti da se kvalitativna rendgenska analiza zasniva na

Braggovoj interpretaciji maksimuma na difraktogramu. Prema njemu, refleksija
rendgenskog zraenja se odvija na ekvidistantnim plohama u kristalu. Shematski
prikaz je dan na slici 3.7.

3.7 Shematski prikaz interferencije rendgenskih zraka

Da bi dolo do konstruktivne interferencije pomak u fazi x mora biti

cjelobrojni viekratnik valne duljine ( 2x BC CD , BC CD x ):

2 x n (3.1)
Koritenjem trigonometrijskih funkcija, pomak u fazi moemo izraziti preko
razmaka ekvidistantnih ploha , d, i difrakcijskog kuta :

x d sin (3.2)
to ukupno daje Braggovu relaciju:

2d sin n (3.3)
koja nam omoguuje odreivanje meuplonog razmaka ekvidistantnih
ploha iz poznate valne duljine rendgenskog zraenja i izmjerenog difrakcijskog
kuta pri kojem se javlja difrakcijski maksimum.

11
3.3 Toplinska analiza
Metode kojima se na osnovu ovisnosti o temperaturi odreuju fizikalna i
kemijska svojstva ispitivane tvari nazivaju se metodama toplinske analize.
Najee koritene metode toplinske analize su: termogravimetrijska analiza
(TGA), diferencijalna toplinska analiza (DTA), diferencijalna skenirajua
kalorimetrija (DSC), toplinska mehanika analiza (TMA) i diferencijalna mehanika
(toplinska) analiza (DMTA). Ove metode se koriste za odreivanje talita,
staklastog prijelaza, toplinskog kapaciteta, toplinske postojanosti materijala,
njegove reaktivnosti, faznih dijagrama itd.

3.3.1 Termogravimetrijska analiza

Ova metoda mjeri promjenu mase uzorka (gubitak mase raspadom uzorka,
poveanje usljed oksidacije itd.). Mjerenje se vri termovagom (slika 3.8) koja radi
na principu kontroliranog zagrijavanja uzorka u zdjelici.

3.8 Shema termovage, (1) pe, (2) zdjelica za uzorak s toplinskim titovima, (3) dodatna izolacija vage,
(4) kuite vage, (5) ulaz inertnog plina

12
 Ovakvi ureaji imaju veliku preciznost (osjetljivost od 0.1 mg ili manje) koja
se odrava zatitom vage toplinskim titovima i propuhivanjem inertnog plina kroz
kuite. Nadalje mogue je regulirati i atmosferu u pei, tako da se reakcije mogu
provoditi u inertnoj, reaktivnoj (npr. oksidativnoj) atmosferi ili pak vakuumu.
Tipina krivulja gubitka mase dana je na slici 3.9.

3.9 TGA krivulja s tri stupnja guzbitka mase

3.3.2 DTA i DSC

Ove metode su komparativne to znai da uzorak koji se ispituje porede s
referentnim uzorkom. Bitno je napomenuti da referentni uzorak ne smije prolaziti
kroz fazne promjene u mjernom temperaturnom podruju. DTA mjeri razliku
temperatura izmeu ispitivanog i referentnog uzorka. DSC mjeri snagu, dH/dt,
potrebnu da se razlika temperatura izmeu ispitivanog i referentnog uzorka svede
na nulu. Prema principu rada ovakvi instrumenti se dijele na: DSC na principu
toplinskog toka i DSC na principu kompenzacije snage. Kod prvih se mjeri toplinski
tok izmeu uzoraka zbog temperaturne razlike meu njima, a kod drugih razlika
snaga grijaa koji odravaju uzorke na identinim temperaturama.

13
 3.10 Shema ureaja: (a) DTA, (b) DSC na principu kompenzacijske snage, (c) DSC na principu toplinskog
toka; S ispitni uzorak, R referentni uzorak Error! Reference source not found.

Mogunost rada s veim uzorcima, visoka osjetljivost i mogunost rada na

temperaturama iznad 800C glavne su prednosti instrumenata koji rade na
principu toplinskog toka a nedostatak je neupotrebljivost pri velikim brzinama
grijanja. Prednosti instrumenata koji rade na principu kompenzacije snage jest da
ne zahtijevaju kalibraciju jer se toplina moe izravno odrediti iz elektrine energije
dovedene referentnom ili ispitivanom uzorku te postoji mogunost rada s velikim
brzinama grijanja. Nedostatci ovakvih ureaja jesu nunost uporabe osjetljive
elektronike (zbog ega se ne mogu koristiti na temperaturama iznad 800C) te
iznimna osjetljivost na promjene u okoliu.

DTA i DSC metodom moemo odrediti fazne prijelaze ili reakcije pri kojima
dolazi do promjene entalpije. Kombiniranjem ovih metoda sa TGA moemo dobiti
i kvalitativnu i kvantitativnu analizu uzorka. Za endotermne reakcije u uzorku DTA
biljei negativan otklon u signalu jer uzorak troi vlastitu energiju prilikom reakcije
zbog ega njegova temperatura pada u odnosu na referentni uzorak. DSC pak,
biljei pozitivan otklon jer se uzorku dovodi toplina da bi mu se temperatura
odravala na jednakoj vrijednosti kao kod referetnog uzorka. Za egzotermne
reakcije otkloni su suprotni. U grafikom prikazu dogovorno prikazujemo
egzotermne reakcije negativnim predznakom.

14
 3.11 Primjer DSC krivulje sa tri egzotermna maksimuma

3.4 Mjerenje elektrine otpornosti

Metoda koju koristimo za mjeranje otpora je metoda etiri kontakta (slika
3.12).

3.12 Princip mjerenja metodom etiri kontakta

Na nepoznati otpor postavalju se dva kontakta. Dva kontakta (vanjska) slue

za dovod istosmjerne, konstantne struje poznate vrijednosti a unutarnji kontakti
slue za mjeranje razlike potencijala. Kroz sklop tee struja I koja na otporu R
stvara pad napona U. Poznavanjem vrijednosti struje i napona iz Ohmovog zakona
lako dobivamo vrijednost nepoznatog otpora.

15
3.5

4 Rezultati mjerenja i obrada podataka

U ovom poglavlju razmatramo utjecaj termikog oputanja na ureenost
kratkog dosega u Zr80Co20 metalnim staklima putem diferencijalne skenirajue
kalorimetrije, difrakcije x zraka, elektrine otpornosti i temperature
supravodljivog prijelaza Tc.

4.1 Analiza DSC postupka i promjene amorfne strukture

Vrijednosti specifinog toplinskog kapaciteta, cp, dobivena iz DSC mjerenja
Zr80Co20 metalnog stakla, u temperaturnom rasponu od 400 723 K brzinama
grijanja od 60 K/min i 10 K/min prikazana su na slici 4.1.

4.1 Temperaturna ovisnost Cp za Zr80Co20 metalno staklo u temperaturnom rasponu od 400 do 723 K pri
brzinama grijanja s = 60 K/min i s = 10 K/min

Na slici 4.1 su vidljiva dva egzotermna vrha. Temperature kristalizacije

vrhova Tp1 i Tp2 koje odgovaraju prvom, odnosno drugom maksimumu egzoterme,
dobivene su brzinama grijanja od s = 10 K/min i 60 K/min. Ovisnosti temperatura
Tp1 i Tp2 o brzinama grijanja s se koriste za izraun aktivacijskih energija

16
kristalizacije Ea1 i Ea2. U tu svrhu koristi se metoda Kissingera prema kojoj je
brzina grijanja s povezana s temperaturom kristalizacije putem relacije
E ai
s AT p21, p 2 exp (4.1)
k B T p1, p 2
Gdje je A konstanta proporcionalnosti. Vrijednosti aktivacijskih energija su
Ea1 2.67 0.05 eV i Ea 2 2.51 0.05 eV .

Za detaljnije prouavanje kristalizacijskog procesa, uzorci Zr80Co20

podvrgnuti su brzinama grijanja 60 i 10 K/min od 298 K do malo ispod prve
egzoterme na 563 K i malo iznad prve egzoterme (653 i 618 K) nakon ega je
grijanje zaustavljeno i uzorci brzo ohlaeni do 298 K. Intenzitet difrakcije x zraka
kao funkcija rasprnog kuta 2 dan je na slici 4.2.

4.2 Intenzitet difrakcije x zraka kao funkcija rasprnog kuta 2 za Zr80Co20 metalnog stakla termalno
oputenog do Ta sa brzinom grijanja s: (+) -ZrError! Reference source not found., () -Zr i () Zr3CoError!
Reference source not found.

Difrakcijska slika Zr80Co20 metalnog stakla pokazuje irok maksimum

smjeten na 2 36.1 sa irinom w 5.4 to se podudara s amorfnom fazom.
Prema Scherreovoj formuli

D 0.9 w cos (4.2)

17
 Gdje D predstavlja veliinu kristalita a valnu duljinu x zraka, za efektivnu
veliinu nanokristala dobijamo D = 1.7 nm to je uobiajeno za ovakve staklaste
slitine.

Iz slike 4.2 vidimo da ne postoji znaajniji utjecaj termikog opuanja

Zr80Co20 metalnog stakla do 563 K sa brzinama grijanja 60 i 10 K/min. Uzorci koji
su bili podvrgnuti brzinama grijanja 60 i 10 K/min do temperatura 653 i 618 K
pokazuju drugaiju strukturu svojim difraktogramima x zraka (slika 4.2). Prvi vrh
je otriji i pomaknut prema manjem kutu rasprenja 2. Maksimum mu je
smjeten u 2 35.5 i ima irinu w 0.8 to prema Scherrerovoj realciji daje
za efektivnu veliinu nanokristala D = 9.8 nm. To nam ukazuje da je dolo do
promjene u topolokoj strukturi. Poloaj maksimuma vrha ( 2 35.5 ) odgovara
-Zr fazi.

Difrakcijska slika uzoraka koji su podvrgnuti grijanju od 60 i 10 K/min

pokazuje veliki vrh sa maksimumom na 2 35.1 i mali vrh na 2 36.1 .
Detaljnijim promatranjem da se mali vrh poveava smanjivanjem brzine grijanja.
XRD uzoraka grijanih do 823 K se sastoje od dva otra vrha kojima odgovara -Zr i
Zr3Co kristalna fazaError! Reference source not found..

Na temelju DSC i XRD eksperimentalnih podataka zakljuujemo o fazama

koje se pojavljuju tijekom tretmana Zr80Co20 metalnog stakla do temperature 823
K. Prvo dolazi do razvoja -Zr faze, koja koegzistira sa Co obogaenom
nanokristalnom matricom, nakon ega se se -Zr faza transformira u stabilniju -
Zr i Zr3Co kristalnu fazu.

18
4.2 Elektrina otpornost
Na slici 4.3 je prikazana promjena elektrine otpornosti u odnosu na njenu
vrijednost pri 290 K. Temperaturni koeficijent otpornosti (TCR) uzoraka termiki
oputenih u rasponu temperatura 298 563 K je negativan. TCR postaje pozitivan
za temperature vee od Tp1 i raste kako se temperatura grijanja poveava.

0.10

0.05

0.00
(T)/(290 K)

-0.05

-0.10

-0.15

-0.20

-0.25

-0.30
0 50 100 150 200 250 300

T (K)

4.3 Relativna promjena otpornosti Zr 80Co20 metalnog stakla u odnosu na vrijednost na 290 K
[neoputeno ([]), TR do 563 K TR sa s= 60 K/min (O), TR do 563 K sa s= 10 K/min (),TR do 618 K sa s= 10 K/min
(+),TR do 653 K sa s= 60 K/min) ()]

Temperaturna ovisnost elektrine otpornosti u odnosu na njenu vrijednost

pri 4.2 K Zr80Co20 metalnog stakla u blizini Tc prikazana je na slici 4.4. Tc se
odreuje kao sredininja toka u odnosu otpornosti i temperature prijelaza.

19
 1.0

0.8
(T)/(4.2 K)

0.6

0.4

0.2

0.0
2.6 2.8 3.0 3.2 3.4 3.6 3.8 4.0 4.2 4.4

T (K)

4.4 Ovisnost otpornosti o temperaturi Zr80Co20 metalnog stakla u odnosu na vrijednost na 4.2 K
[neoputeno ([]), TR do 563 K TR sa s= 60 K/min (O), TR do 563 K sa s= 10 K/min (),TR do 618 K sa s= 10 K/min
(),TR do 653 K sa s= 60 K/min) ()]

Tc ozoraka koji su termalno oputeni do temperatura ispod prve egzoterme

malo se mijenjaju sa smanjivanjem brzine grijanja. Tc termalno oputenih Zr80Co20
metalnih stakala koja su bili podloeni brzinama grijanja od 60 K/min do malo
ispod prve egzoterme (slika 4.1) je via nego u neoputenih metalnih stakala, dok
kod svih ostalih termiki oputenih uzoraka TC se smanjuje smanjivanjem brzina
grijanja i poveavanjem temperatura do kojih se griju.

20
 Ta s 290 K 1 T Tc 0
1 5 0.110 4 0.01 5
K K/min cm 1/K K 10-10
295 0 170 3.3 10 4 3.98 42
563 60 168 3.3 10 4 4.03 42
563 10 160 1.9 10 4 3.95 43
618 10 132 18.9 10 4 3.30 52
653 60 115 20.9 10 4 2.95 58
4.1 Tablica eksperimentalnih podataka

Promjena u ureenju kratkog dosega zbog grijanja iznad prve kristalizacijske

egzoterme dovodi do razvoja Zr faze koja koegzistira sa Co obogaenom
kristalnom matricom to je bitno za odreivanje Tc termiki oputenih uzoraka
podvrgnutih razliitim brzinama grijanja. Njihova supravodljiva svojstva
karakterizira neto otriji prijelaz u elektrinoj otpornosti u odnosu na
nerelaksirane uzorke (tablica 4.1). To upuuje na zakljuak da su termiki oputeni
uzorci homogeni na skali koja je manja od nulte temperaturne duljine koherencije
0 . Vrijednosti 0 odreujemo podeavanjem/fitanjem eksperimentalnih
podataka sa slike 4.4 prema jednadbi (4.3). Rezultati fitanja prikazani su kao linije
na slici 4.4. Promjena u vodljivosti u blizini TC se sastoji od dva izraza: Aslamazov
Larkin izraza koji potjee od virtualnih Cooperovih parova stvorenih termalnim
promjenama i Maki Thomsonovog koji dolazi od meudjelovanja obinih
vodljivih elektrona i superfluida.

T e 2Tc1 2 4.2 K 4
A 1 (4.3)
4.2 K 32 0 T Tc 1 C T Tc 1 2

Gdje je A slobodni parametar, e 2 2.43 10 4 1 , C 8k B i i i iT 2
neelastino vrijeme rasprenja. Vrijednost dobivena iz fitanja
i 1.5 0.2 10 10 sK 2 se dobro slae sa vrijednou dobivenom mjerenjem
elektrine otpornosti na viim temperaturama.

21