B2.0 MEDIDAS DE RT POR LOS PRINCIPIOS DE INDUCCION Nosotros tenemos dos diferentes tipos 0 clases de herramientas disefiadas para los dos ambientes mas conmmes del pozo: 1.Pozos No Conductivos ~ _Incluyen Sistemas de lodo en base de agua dulce, Sistemas de lodo Tnversos Y¥ poz0s llenos de aire. a. Dual Induccién - SFL ( Fueta de servicio) b. Phasor la Induceién Dual-SFL ¢. Induccién de Arreglos de Imigenes, tipo AIT 2. Pozos Conductivos = Inchayen Lodos salinos a Lodos saturados de Sal a) Dual Laterolog B2.1 PRINCIPIOS DEL REGISTRO DE INDUCCION Las medidas de induccién fueron originalmente desarrolladas para medir la resistividad de Ta formacidn en pozos con Todos en base de petleo y para pozos enos de aire, Las hettamientas de electrodes no pueden trabajar en este tipo de ambiente de lodos no conductivos. Anteriormente se intenté utilizar unos sistemas de rascadores para que los electrodos trabajen, pero los esfuerzos. 10 fueron satisfactorios La experiencia demostré muy pronto que el registro de induccién rena también ‘muchas ventajas cuando se io utiliza en pozos perforados con lodos en base de agua, Diseado para una investigacién profinda, los registros de induccién pueden enfocarse para minimizar las influencias del pozo. de las formaciones adyacentes y de la zona invadida. Principio Las herramientas de induccién de hoy dia tienen muchas bobinas transmisoras y receptoras. Sin embargo, el principio puede ser entendido considerando solo una bobina transmisora y tma receptora, (vea Figura B13). Se envia una corriente altema de alta frecuencia y de intensidad constante a través de la bobina transmisora, Se crea un campo magnético altemno que induce comtiente hacia la formacién alrededor del agujero. Dichas corrientes fluyen en anillos de forma circular que son coaxiales con la bobina de transmisién y crean a st vez un campo magnético que induce tn voltaje en la bobina receptora, ‘Ya que la comiente altema en la bobina de transmision es de amplitud y frecuencia constantes, las corrientes de anillos son directamente proporcionales a a conductividad de la formacisn. El voltaje inducido en la bobina receptora es proporcional a las corrientes de anillo y asi a Ia conductividad de la formacién,También hay wn acoplamiento directo entre las bobinas transmisora y receptora. La seial que se oigina de este acoplamiento se elimina con el uso de bobinas “compensadoras”. La herramienta de induccién funciona mejor cuando el fiuido del pozo es aislante, incluso aire 0 gas. La herramienta también trabaja bien cuando el pozo contiene lodo conductive, amenos que éste sea demasiado salado. las formaciones muy resistivas 0 el didmetto muy grande, B2.2 PRINCIPIOS DEL REGISTRO DE ENFOQUE ESFERICO La herramienta SFL mide la resistividad de Ia formacion cerca de la pared del ozo y proporciona la medida somera de investigacién para evaluar los efectos de la invasién de las medidas mas profundas de resistividad. Esta es una heramienta de espaciamiento corto utilizada en Ia herramienta anterior del Phasor Induccién-SFL. EI sistema de SFL difiere de anteriores herramientas enfocadas. Mientras los, sistemas imentan enfocar la comriente en discos planares. el sistema SFL establece esencialmente corazas de potencial constante alrededor del electrodo de contiente. La herramienta del SFL es hibil para mantener Ia distribucién potencial esférica en a formacién sobre un rango amplio de agujeros variables avin cuando un agujero conductivo este presente. Para acompaiiar a este arreglo. la herramienta del SFL esta compuesto de dos sistemas de corriente separados e independientes, (Figura B14), EI sistema de corriente de remolino sirve para taponar el agujero ¥ establecer las esferas equipotenciales, El sistema de corriente de registracién Ja causa una corriente independiente para fluir a través del volumen de investigacién, la intensidad de esta cotriente es proporcional a la conductividad de la formacién. La herramienta del SFL consiste de electrodos de comriente-emisién, electrodos de cortiente-retomo y electrodos de medida. Dos esferas equipotenciales alrededor de la fuente de corriente de 1a herramienta son establecidas. La primera esfera es de alrededor 9 pulgadas del electrodo de comriente y el otro esta 50 pulgadas de distancia. Un potencial constante de 2.5 mV se mantiene entre estas dos superficies esféricas. Por cuanto el volumen de formacién entre estas, dos superficies es constamte (espaciamiento de electtodos es fijo) y la caida de voltaje es constante (2.5 mV). la resistividad de este volumen de formacién puede ser determinada midiendo el flujo de corriente, B23. REGISTRO DE INDUCCION DOBLE ~ ENFOQUE ESFERICO Este es el mds basico de los dispositivos de induccién y fue la medida de referencia de la_induccién por mas de 20 aflos hasta su retiro del mercado en 1990. La herramienta proporciona tres curvas de resistividades enfocadas: dos de Induccién y una Curva somera de enfoque esférico mis el Potencial Espontineo. Cada curva tiene una profundidad diferente de investigacién (Figura BIS),Registro de Enfoque Esférico - un dispositivo de lectura poco profundo afectado principalmente por la zona lavada (RXo). (Distancia radial = 30 em 0 12 pulgadas) Induccién Media (ILM) - dependiendo del diémetro del. perfil de invasion, el ILM_ puede estar influenciado por la zonas Rxo o Rt ... 0 ambas. (Distancia radial = 60-80 cm. 24-32 pulgadas) Induccién profunda (ILD) - esta principalmente afectada por Rt .a menos que la invasion sea muy profunda. Cada curva de induccién 0 las dos pueden estar influenciadas si un anulo esta presente. (Distancia radial = 1.2-1.5 m.)Figure B15a) Presentacion del Registro a by Logaritmico: En una escala 1:200. se presentan curvas de la resistividad en una escala logaritmica. Esta es la presentacién preferida para los Analistas de Registros (Figura B15) Log-Lineal: Aqui la escala 1:200 presenta dos curvas de resistividad, la curva, SFL promediada y la curva de ILD sobre una escala de resistividad lineal. También esta incluida la curva equivalente al ILD que es la curva de conductividad. Esta presentacién es principalmente itil para propdsitos de correlacidn, Se registran ambas presentaciones simulténeamente. Caracteristicas de In Herramienta y Aplicaciones - La herramienta de Induccién Doble-SFL. es muy efectiva cuando se la utiliza en agujeros perforados con lodos moderadamente conductivos, por ejemplo cuando RmaRiw >2.5. = El enfoque vertical es bueno. valores confiables de Rt se pueden obtener donde el espesor de la capa es mayor a 12 pies = Por cuanto la hetamienta actuahuente mide la conductividad de ta formacién y luego lo convierte a valores de resistividad, los resultados som is precisos en zonas de baja resistividad. - La registracion de tres curvas que investigan cantidades diferentes de volumen de la formacién, nos permite estudiar los perfiles de invasién y donde Ia invasién es profiinda para hacer las comrecciones para obtener Rt. = Puesto que los dos dispositives de Induccién producen sus seiales induciendo un campo magnético eu la formacién, ellos pueden correrse en pozos perforados con aire 0 en pozos perforacdos con lodos no conductivos. (EISFL requiere un camino conductive a través del lodo de perforacién y no puede estar presente en estos casos). Una curva de Rayos Gamma normalmente registrada en hugar del SP. Las cartas de correccién estén disponibles por cada compaitia que registra para corregir por la influencia de: = Agujero (didmetto y resistividad del lode). = espesor de la capa - invasion ) Limitaciones - Laregistracién en pozos de didmetros grandes perforados con lodos salinos. deberia ser evitada en particular en formaciones de alta resistividad. Sefales de agujeros grandes se agregarén a las seftales de la formacién produciendo bajas sefiales aparentes de resistividad. - En zonas de alta resistividad (conductibilidad baja), e.g. mas de 250 ohmm, pueden ocurrir errores en las medidas. Los problemas anteriores a veces pueden ser minimizados por un sistema de calibracién en el fondo del pozo. Una zona gruesa de porosidad cero, como por ejemplo caliza, 0 anhidrita son ideal para este propésito. Por lo tanto si se esperadificultades en obtener ima buena medida del DIL, esto es a menudo ima ventaje para correr um registro de porosidad con caliper antes del registro DIL. (Esto también deberia ser anotado que estos cambios fueron hechos tinicamente a los registros DIL y también anotado en la secci6n de observaciones de la cabeza del registro). 4) Las respuestas del Registro (Figura B 16) Para pozos perforados con lodos frescos (Rmf / Rw > 2.5, Rxo / Rt> 2.5) las conclusiones generales siguientes pueden ser sacadas por inspeccién del registro: = Cuando SFL = ILM = ILD; Rt = ILD, esto indica cero o la invasion muy poco profunda - Cuando SFL > ILM = ILD; Rt= ILD, esto indica invasién moderada, = Cuando SFL > ILM > IED, y si Rxo = SFL, entonces Rt < ILD, este indica invasién profunda. Cuando SFL = ILM > ILD, y si Rxo = SFL, nosotros debemos utilizar la carta de Schhimberger Rint-2c (Figura B17) para obtener Rt. Esta respuesta indica invasién muy profinda. En general, lo mas cerca de la curva media es para el SFL. lo mas profundo de Ja invasi6n, EI resultado de corregir por invasién es obtener un Rt que sea mis bajo que ILD. Por lo tanto utilizando las lecturas del ILD sin la correcci obendramos tna Sw optimista Resumen Beneficios: - El registro de Induccién Doble (Dual Induction)-SFL, puede usarse mas Efectivamente en agujeros llenos de lodo ligeramente conductivo, lodos no- conductivos y pozos perforados con aire. - El enfoque vertical es bueno y da valores confiables de Rt, para capas mis gmuesas que 12 pies. - Mide bajas resistividades en forma precisa (menos de diez ohm-metros). - Registracién de 3 medidas de resistividad enfocada, las cuales investigan diferentes voliimenes de formaci6n, nos permite estudiar el perfil de invasién en el caso de invasién profunda, Los Cartas de correccién estan disponibles por cada compania de Servicios: = Agujero. - Espesor de la capa + Invasion Desventajas: = No confiable para el resistividades > 250 olum-m (utilizar un registro Dual Laterolog).= Agujeros grandes y lodos salinos producen seiiales grandes las cuales dan una resistividad aparente muy baja (en este caso es recomendable utilizar el DLL). Figure B16Figure 813: Basic two-coil induction log system ‘B2.4 HERRAMIE! ‘A DE INDUCCION DE FASORES Y SFL La herramienta de Induccién de Fasores (Phasor Induction) y SFL (Figura B18), utiliza un arreglo convencional de Dual Induction-SFL para registrar datos de resistividad a tres profiandidades de investigacién (ver Carta Bl). Ademés de la medida usual de induccién (sefial-R). la herramienta realiza una medida de alta calidad de la seital de cuadratura de induccién (sefial-X). Estas medidas se combinan con nuevos adelantos en procesamiento de las seitales para proporcionar un registro de induccién de alta resolucién para capas delgadas menores a 2 pies. Correcciones totales para estos ambientes distorsionados son realizadas tanto por efecto de aguijero como por capas adyacentes, Desde su introducciéu en el mercado a inicios de los alos 60, la hemamienta Dual Induccién ha evolucionado hasta convertirse 1a registracién primaria para la evaluacién de formacién en pozos con lodas frescos (agua dulce) y pozos en base de aceite. Las hetramientas anteriores. sin embargo, han producido registros con limitaciones en las respuestas. Estas limitaciones normalmente hen requerido comrecciones manuales tediosas. En casos extremos las Timitaciones de la respuesta de ta herramienta han producido formas en los registros que estaban equivocados pata estructuras geolégicas, No obstante que las distorsiones de la resistividad de la formacién causada por efecto de la resolucién y por efecto de capas adyacentes son totalmente predecibles desde la teoria electromagnética, los algoritmos decorreccién automitica no tuvieron éxito anteriormente, debido a la medida no lineal, de la seital-R la cual fue la ‘nica medida realizada en las herramientas antiguas. ‘owe ui4: electrode nay of SPL teal and schematic representa of survey Curent (} bees Cashed ‘si focssing caret (0) Rows (20) Nuevos desarrollos en tecnologia de la electrénica, trabajan en computar la respuesta de la heramienta de induccién en modelos de formacién reales, y la modema teoria de procesamiento de sefiales ha combinado para permitir el desarrollo de una herramienta més nueva que puede superar las limitaciones de herramientas anteriores. En los tiltimos aitos la tecnologia a avanzado mucho mas con el desarrollo de nuevos modelos de herramientas, mayor numero de medidas y alto procesamiento hasta llegar a imigenes de resistividad como es el caso de la herramienta AIT de la compaiiia Schlumberger Punto central a este desarrollo es una técnica de decouvoluci6u no lineal que comige el registro de induccién en tiempo real por efecto de capas adyacentes ¥ mejora la resolucion de capas delgadas sobre un amplio rango de conductividades de la formacién. Este algoritmo, llamado procesamiento Phasor, requiere el uso de la seftal de cuadranura de induccién, o seftal-X la cual mide directamente la seftal no lineal. El procesamiento Phasor comtige por efecto de capas adyacentes y proporciona resolucién para capas delgadas a través de procesamiento mejorado hasta detectar capas de 60 em en muchos casos, Agregando medidas como la geometria del agujero en la misma configuracién de las herramientas, se pueden corregir en tiempo real los efectos causados por el agujero. Eliminados estos efectos ambientales, se puede realizar en tiempo real ma inversion de la informacién para obtener un modelo de tres parémetros de invasi6n, EI diseno del Phasor Induccién proporciona varias ventajas adicionales sobre las herramientas existentes. Estas incluyen mejoras en el sistema de la calibracion, estabilidad en el error causado pot la herramienta, respuesta del SFL, una teduecidn dela seiial y muido del cable. Cada uo de estas mejoras contribuye a proporcionar medidas de resistividad de la formacién mis exactas sobre un rango mas amplio de resistividad y condiciones del agujero.a) Formas y Descripcién de Ia Herramienta Phasor La henamienta de Induccién Phasor SFL, se puede combinarse con otras herramientas de telemetria de cable. Las medidas que regresan a la superficie incluyen sefiales-R profimdas (ID), medias (IM); seitales-X ID e IM: voltaje y comriente SFL, cottiente de enfoque SFL: potencial espontineo SP, voltaje Armor del SP y umn arreglo de temperatura. Todas las medidas excepto el SP son digitalizadas en el fondo del pozo con convertidores de alta resolucién analégicos-a-digitales y todos los canales de medida sé recalibran cada 6 pulgadas (15 cm) durante el registro. La frecuencia de operacin de los arreglos de induccién se puede seleccionar en 10 Khz, 20 Khz 0 40 Khz, con wma frecuencia predefinida de 20 Khz, La herramienta también proporciona medidas de importantes seftales analégicas y monitoreo continuo de las sefales digitales como una ayuda para detectar y analizar alguna caida de la herramienta. Profundidades de investigacién y la resolucién vertical de las medidas son listadas, b) La Presentacton del Registro El mismo formato de presentacién es utilizado para ambas generaciones de herramientas de la induccion. Los dos registros pueden ser identificados por las siguientes diferencias (Figma B19). ‘a. Induccién Profinda (IDPH) - el registro utiliza la sigla de IDPH para identificar proceso de Phasor. 'b. Induccién Media (IMPH) - el registro ttiliza la sigla de IMPH para identiticar proceso de Phasor. c. Hay una marea de picadillo al lado correcto de Ia pista de profindidad, ¢) Caracteristicas de la Herramienta, Mejoras, y Aplicaciones ~ Phasor Induction — SFL, puede usarse efectivamente en agujeros Henos de Jodo ligeramente conductivo, lodos no conductivos ¥ pozos en base de aire, ~ Elenfoque vertical es bueno y da valores confiables de Rt. por las eapas mxis ‘gitiesas que miden hasta 7.5 pies sin corecciones por efecto de capas adyacentes, + Mide con precisin bajas resistividades. - Registraci6n de tres medidas de enfoque que investiga volimenes diferentes de formacién. = Confiable para resistividades hasta 1000 ohm-m contra 250 ohm-m con hetramienta de la Induecién normal. = Da lecturas exactas en pozos de hasta 21 pulgadas de diémetro (Rt / Rm < 1000). = Opera a fiecuencias variables del transmisor para mejorar la relacién seital- ruido, ~ Utiliza técnicas de transmisién digitales para mejorar Ta exactitud de calibracién y de medida,Las cartas de comeccién estén disponibles para: = Agujero = Espesor de capa = Invasion (Carta Rint 11 a) Phasor Induction - SFL Median Depth of Investigation 1.- Metres Feet / Inches) Above 1000hm-m ID 1,58 62 inches Homogeneous IM 0,79 31 inches formation SFL 0,41 16 inches 2. At 0.1 ohm-m ID 1,22 48 inches homogeneous IM 0,66 26 inches formation SFL_0,41 16 inches Phasor Induction - SFL Vertical Resolution Vertical resolution IDPH 2,46 8 feet bed thickness for full IMPH 1,85 6 feet Rtdetermination IDER* 0,92 3 feet no invasion IMER 0,92 3 feet IDVR# 0,61 2 feet IMVR_ 0,61 2 feet SFL 0,61 2 feet ER - Enhanced Resolution Phasor # VR - Very Enhanced Resolution Phasor Chart B1Figure B19 PHASOR-SFLB3.0 Medida de R,; por Principios de Laterolog B3.1 DUAL LATEROLOG Hoablando ampliamente. los fluidos del pozo durante las operaciones de perforacién son separados en categorias de conductivos y no conductivos. Cada tmo propone tn desafio particular cuando se mide la resistividad de la formacién. El Dual Laterolog es un dispositivo de emisién de corriente de electrodo que se mide mejor en lodos salinos (ie. donde Rt /Rm>> > 100, Rmf / Rw < 2.5). Esta diseiiado para obtener Rt. midiendo la resistividad con varios arreglos con diferentes profundidades de investigacion. Las medidas responden a tres profundidades de investigacién apropiadamente escogidas, normalmente aproximadas el perfil de invasién del pozo para determinar Rt. Para una mejor exactitud de la interpretacién, el sistema deberia cumplir con los siguientes requerimientos: = Los efectos del pozo deberian ser pequetios y/o comregibles, = Las resoluciones verticales deben ser similares. - Las investigaciones radiales deberian ser bien distribuidas: ie., una leetura deberia ser profunda, una somera y la tercera entre las dos anteriores. a) Deseripeién y Caracteristicas Como resultado se desarrollé 1a herramienta del MicroSFL- Dual Laterolog con gvabaciones simultineas. La Figura B21 ilustra el enfoque usado por el dispositivo del Laterolog profindo (izquierdo) y por el dispositivo de Laterolog somero (derecho). Ambos usan los mismos electrodos y tiene el mismo espesor del espectro de 1a corriente, pero tienen diferentes enfoques para proporcionar diferentes caractaristicas en las profundidades de investigacién.Figure 621: Dual taterotog Deep and Shotiow Current Patteme La herramienta DLL tiene un rango de respuesta. de 0.2 a 40.000 ohm-m, rango que es mucho mis ancho que el cubierto por dispositivos de Laterolog anteriores, Para lograr una mejor exactitud tanto en bajas y altas resistividades una constante de poder de medida del sistema es empleado. En este sistema ambas, medidas de corriente (i,) y medida de voltaje (V) son variados y medidas, pero al producto de las dos, (i... poder) VoTo, es mantenida constant Las medidas de profundidad dal latero log (LLD) 0 de la herramienta DLL. tienen una mayor profundidad de investigacion que anteriores herramientas de latero log, extendiendo el rango en las condiciones de la formacién, hacen que las determinaciones de R, sean més confiables. Para lograrlo, se necesitan electrodos de guarcia muy largos: la distancia entre los extremos de los electrodos de la heramienta de DLL-Rxo es de aproximadamente 8.5 metros (28 pies). El espesor de espectro nominal de 60 em (2 pies), asegurando tna buena resolucién vertical. La investigacién radial es de 12a 1.5 metros (4-5 pies) La medida del Laterolog poco profunda (LSS) tiene la misma resolucién vertical como el del dispositivo del Laterolog profundo 60 cm (2 pies). pero responde mas infensamente a aquella regién alrededor del pozo normalmente afectada por la invasién. Usa un tipo de enfoqne llamado pseudolaterolog. en donde la cortiente enfocada retomma a los electrodos cereanos en lugar de los electrodos,distantes. Esto causa que la medida de la corriente retome mis ripidamente una vez que ha entrado en la formacién, asi produciendo una profindidad de investigacién relativamente corta de 50 a 60 centimetros (20 a 24 pulgadas), b) Presentacién del Registro La presentacién de DLL-MSFL es muy similar a 1a del Phasor Induction. Las diferencias incluyen: escalas expandidas de resistividad (0.2 - 200,000 ohm-m) y la adicién del Gamma Ray y el Caliper (si MSFL es usado). Vea el registro en Ia Figura B23. ©) Caracteristicas y aplicaciones de la herramienta 1, El Dual Laterolog es mis efectivo en lodos salinos (alto RyRq) 0 donde Rf / Rw < 2.5. (Figura B22) 2. La herramienta tiene un excelente rango de resistividad, de 0.2 a 40,000 ohm- mes posible.Figure B233, La resolucién vertical es excelente, Rt puede obtenerse en capas tan delgadas como de 60 cm (2 pies). 4. EI LLD tiene muy pequeilos efectos por pozo en agujetos largos. 5. Cuando es combinado con una medida de Rxo, las curvas del LLd, y del LLs pueden ser usadas para estudiar perfiles de invasién y computar um valor de Rt mids exacto. Vea Carta Rint-9 (Figura B24). 6. Asumiendo que las condiciones de pozo son adecuadas. la separacidn entre las curvas LLS y LLD pueden ser usadas para dar una mirada répida de indicacion de hidrocarburos: particularmente en lodos salinos. En lodos salinos la relacién Rxo / Rt sera menor a uno para una mejor zona, mientras mayor la separacién entre LLs y LLd. )Limitaciones 1. Las herramientas no deberian usarse en lodos frescos (Runf / Rw > 2.5.) 2. Las herramientas requieren de una buena centralizacién para minimizar Jas influencias del pozo en el LLs. 3. Sila invasion es profunda, un valor bueno de Rxo (e.g. de un registro Micro-esféricamente Enfocado) se requiere corregir LLd por la influencia de la invasién para obtener un valor exacto de Rt. Las cartas de correccién estin disponibles por la influencia de: ~ el pozo (dimetro y resistividad del lodo). = la invasion. (Carta Rint-9b) ~ el espesor de capa.Dual Laterolog-Rio Device DIT-DIE LD-LLS-R w doica Thick bods Ban > annulus, re fansticn zane te data corected for borehole fect 100 6 0 Rule 4 15 1 08 06 04 03 i 0 02, of 06-0810 16 2 3 4 6 8 0 % 2 3 40 50