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PONTIFCIA UNIVERSIDADE CATLICA DO RIO GRANDE DO SUL

PR-REITORIA DE PESQUISA E PS-GRADUAO


PROGRAMA DE PS-GRADUAO EM ENGENHARIA E
TECNOLOGIA DE MATERIAIS
Faculdade de Engenharia
Faculdade de Fsica
PUCRS Faculdade de Qumica PGETEMA

ANLISE DE MATERIAIS E TCNICAS DE ENCAPSULAMENTO DE


MDULOS FOTOVOLTAICOS

SLVIO LUS DOS REIS SANTOS JNIOR


Engenheiro Mecnico

DISSERTAO PARA A OBTENO DO TTULO DE MESTRE EM


ENGENHARIA E TECNOLOGIA DE MATERIAIS

Porto Alegre
Agosto, 2008
PONTIFCIA UNIVERSIDADE CATLICA DO RIO GRANDE DO SUL
PR-REITORIA DE PESQUISA E PS-GRADUAO
PROGRAMA DE PS-GRADUAO EM ENGENHARIA E
TECNOLOGIA DE MATERIAIS
Faculdade de Engenharia
Faculdade de Fsica
PUCRS Faculdade de Qumica PGETEMA

ANLISE DE MATERIAIS E TCNICAS DE ENCAPSULAMENTO DE


MDULOS FOTOVOLTAICOS

SLVIO LUS DOS REIS SANTOS JNIOR


Engenheiro Mecnico

ORIENTADOR: Prof. Dr ADRIANO MOEHLECKE


CO-ORIENTADORA: Prof(a). Dr(a). IZETE ZANESCO

Dissertao realizada no Programa de


Ps-Graduao em Engenharia e
Tecnologia de Materiais (PGETEMA) da
Pontifcia Universidade Catlica do Rio
Grande do Sul, como parte dos requisitos
para a obteno do ttulo de Mestre em
Engenharia e Tecnologia de Materiais.

Trabalho vinculado ao Projeto Planta Piloto de Produo de Mdulos Fotovoltaicos com Tecnologia
Nacional.

Porto Alegre
Agosto, 2008
BANCA EXAMINADORA

__________________________________
Prof. Dr. Adriano Moehlecke
Programa de Ps-Graduao em Engenharia e Tecnologia de Materiais
Pontifcia Universidade Catlica do Rio Grande do Sul

_____________________________________
Prof. Dra. Izete Zanesco
Programa de Ps-Graduao em Engenharia e Tecnologia de Materiais
Pontifcia Universidade Catlica do Rio Grande do Sul

________________________________________
Prof. Dr. Carlos Alexandre dos Santos
Programa de Ps-Graduao em Engenharia e Tecnologia de Materiais
Pontifcia Universidade Catlica do Rio Grande do Sul

__________________________________________
Prof. Dr. Airton Cabral de Andrade
Faculdade de Fsica
Pontifcia Universidade Catlica do Rio Grande do Sul
DEDICATRIA

Dedico esta Dissertao de Mestrado para meu Pai, minha Me, que
incontestavelmente investiram na minha formao. Como filho caula, acredito que
o orgulho desta titulao de Mestre, mais importante para vocs Pais do que de
fato para mim mesmo.
Dedico esta dissertao tambm aos meus amigos e colegas de trabalho pela
fora extra despendida na reta final.
AGRADECIMENTOS

Agradeo aos meus pais, Silvio e Tmara, minha famlia e minha


namorada Esther pela compreenso e apoio durante a execuo de meu mestrado.
Agradeo de corao a importncia que vocs tm na minha vida. Agradeo
tambm s dificuldades, aos problemas, aos defeitos e s intrigas por existirem.
Sem estes, talvez eu ainda no soubesse o conceito de conquista, vitria, felicidade
amizade, entre outros.
Agradeo os meus orientadores Adriano e Izete por acreditarem na minha
capacidade, pela dedicao e investimento disponibilizado.
Agradeo aos patrocinadores do projeto Planta Piloto para Fabricao de
Mdulos Fotovoltaicos com Tecnologia Nacional, em especial CEEE, Petrobras,
FINEP e Eletrosul.
Agradeo a CAPES pela bolsa de estudos e ao PGETEMA pela qualidade de
ensino e profissionalismo.
Agradeo aos colegas do NT-SOLAR. Esta equipe faz diferena quando a
coisa aperta.
Agradeo ao LABELO pela realizao do teste de Nvoa Salina, e ao colega
Nestor pela ateno e execuo do teste.
Agradeo ao NUTEMA pelo emprstimo da cmera de imagens trmicas e ao
colega Gabriel pela ateno e utilizao do equipamento.
Agradeo ao IEE-USP e ao professor Roberto Zilles pela ateno e
realizao dos testes de Ciclos trmicos e umidade e congelamento
Agradeo enfim, a todos.
NDICE

DEDICATRIA ........................................................................................... 3
AGRADECIMENTOS .................................................................................... 4
NDICE ..................................................................................................... 5
LISTA DE FIGURAS .................................................................................... 9
LISTA DE TABELAS .................................................................................. 13
LISTA DE QUADROS................................................................................. 14
LISTA DE SMBOLOS ................................................................................ 15
RESUMO ............................................................................................. 17
ABSTRACT.......................................................................................... 18
1. INTRODUO E OBJETIVOS ......................................................... 19
1.1. Justificativas.....................................................................................................19
1.2. Objetivos ...........................................................................................................20

2. MDULO FOTOVOLTAICO: ENCAPSULAMENTO E ENSAIOS


PARA CERTIFICAO........................................................................ 22
2.1. Clula Solar ......................................................................................................22
2.2. Mdulo Fotovoltaico ........................................................................................25
2.2.1. Cobertura Frontal......................................................................................26
2.2.1.1. Vidro ................................................................................................26
2.2.1.2. Politetrafluoretileno (Teflon / PTFE) ..............................................28
2.2.2. Encapsulante ............................................................................................29
2.2.2.1. Acetato de Vinila (EVA) ...................................................................30
2.2.2.2. Polivinil Butiral (PVB).......................................................................33
2.2.3. Cobertura Posterior...................................................................................33
2.2.3.1. Fluoreto de Polivinila (Tedlar) ........................................................34
2.2.4. Suporte de Sustentao ...........................................................................35
2.2.5. Vedante de Bordas ...................................................................................36
2.2.6. Caixa de Conexes...................................................................................37
2.3. Degradao do Mdulo Fotovoltaico e Problemas Associados ..................38
2.3.1. Envelhecimento e Descolorao do EVA. ................................................39
6

2.3.2. Reaes entre Filme AR e EVA e Contatos Metlicos .............................40


2.4. Caractersticas Eltricas das Clulas Solares e Mdulos Fotovoltaicos....44
2.4.1. Curva Caracterstica de Clulas e Mdulos Fotovoltaicos........................46
2.5. Procedimentos para Certificao ...................................................................48
2.5.1. Critrios de Aprovao .............................................................................50
2.5.2. Inspeo Visual.........................................................................................51
2.5.2.1. Objetivo ...........................................................................................51
2.5.2.2. Procedimentos.................................................................................52
2.5.3. Teste de Exposio Externo .....................................................................52
2.5.3.1. Objetivo ...........................................................................................52
2.5.3.2. Aparatos Necessrios .....................................................................52
2.5.3.3. Procedimentos.................................................................................53
2.5.3.4. Requisitos Finais do Teste ..............................................................53
2.5.4. Teste de Exposio Radiao Ultravioleta ............................................53
2.5.4.1. Objetivo ...........................................................................................53
2.5.4.2. Aparatos Necessrios .....................................................................53
2.5.4.3. Procedimentos.................................................................................54
2.5.4.4. Requisitos Finais do Teste ..............................................................54
2.5.5. Teste de Ciclos Trmicos .........................................................................54
2.5.5.1. Objetivo ...........................................................................................54
2.5.5.2. Aparatos ..........................................................................................54
2.5.5.3. Procedimentos.................................................................................55
2.5.5.4. Requisitos Finais do Teste ..............................................................56
2.5.6. Teste de Umidade e Congelamento .........................................................56
2.5.6.1. Objetivo ...........................................................................................56
2.5.6.2. Aparatos ..........................................................................................56
2.5.6.3. Procedimentos.................................................................................57
2.5.6.4. Requisitos Finais do Teste ..............................................................58
2.5.7. Teste de Nvoa Salina..............................................................................58
2.5.7.1. Objetivo ...........................................................................................59
2.5.7.2. Aparato ............................................................................................59
2.5.7.3. Procedimentos.................................................................................59
2.5.7.4. Restabelecimento............................................................................59
2.5.7.5. Requisitos Finais do Teste ..............................................................60
7

3. FABRICAO E ANLISE DE PROTTIPOS................................. 61


3.1. Introduo.........................................................................................................61
3.2. Descrio dos Prottipos................................................................................62
3.2.1. Tcnicas de Caracterizao .....................................................................62
3.2.1.1. Caracterizao ptica .....................................................................62
3.2.1.2. Caracterizao Eltrica....................................................................66
3.2.1.3. Pr-Seleo das Clulas .................................................................67
3.2.1.4. Verificao de Efeitos Resistivos Associados Soldagem .............68
3.2.2. Caracterizao dos Prottipos em Condies Externas...........................68
3.3. Seqncia de Fabricao ................................................................................70
3.3.1. Caracterizao Eltrica em Laboratrio e Seleo das Clulas ...............71
3.3.2. Soldagem..................................................................................................71
3.3.3. Laminao ................................................................................................72
3.3.4. Selos de Vedao e Montagem do Alumnio nos Prottipos ....................73
3.4. Testes e Resultados.........................................................................................74
3.4.1. Teste de Nvoa Salina..............................................................................74
3.4.1.1. Inspeo Visual ...............................................................................75
3.4.1.2. Caractersticas pticas....................................................................76
3.4.1.3. Caractersticas Eltricas ..................................................................77
3.4.2. Teste de Envelhecimento por Radiao Ultravioleta ................................78
3.4.2.1. Inspeo Visual ...............................................................................80
3.4.2.2. Caractersticas pticas....................................................................80
3.4.2.3. Caractersticas Eltricas ..................................................................82
3.4.3. Teste de Exposio s Condies Externas.............................................83
3.4.3.1. Procedimentos.................................................................................83
3.4.3.2. Inspeo Visual ...............................................................................84
3.4.3.3. Caractersticas pticas....................................................................84
3.4.3.4. Caractersticas Eltricas ..................................................................86
3.4.4. Teste de Ciclos Trmicos .........................................................................87
3.4.4.1. Inspeo Visual ...............................................................................87
3.4.4.2. Caractersticas Eltricas ..................................................................87
3.4.5. Teste de Ciclos Trmicos e Umidade e Congelamento............................88
3.4.5.1. Inspeo Visual ...............................................................................88
3.4.5.2. Caractersticas pticas ....................................................................88
8

3.4.5.3. Caractersticas Eltricas ..................................................................90


3.4.6. Resumo dos Resultados...........................................................................91

4. CONCLUSES E PROPOSTAS PARA TRABALHOS FUTUROS ... 92


4.1. Concluses .......................................................................................................92
4.2. Sugestes de Continuidade do Trabalho.......................................................93

5. REFERNCIAS BIBLIOGRFICAS ................................................. 94


APNDICE........................................................................................... 98
LISTA DE FIGURAS

Figura 2.1. Seqncia de processo de fabricao de clulas solares com lminas de


silcio desenvolvido no NT-Solar [2]. ......................................................23

Figura 2.2. Detalhes da clula solar de silcio [2]. .....................................................24

Figura 2.3. Mdulos fotovoltaicos [3].........................................................................24

Figura 2.4. Componentes de um mdulo fotovoltaico [3]..........................................25

Figura 2.5. Transmitncia espectral de diferentes chapas de vidros [10]. ................28

Figura 2.6. Telha fotovoltaica com cobertura de polmero fluorado. .........................29

Figura 2.7. Configurao de mdulos com cobertura de Teflon [5]. .......................29

Figura 2.8. Configuraes de mdulos fotovoltaicos laminados com EVA. ..............31

Figura 2.9. (a) Laminadora tpica para produo de mdulos e (b) esquema de
funcionamento........................................................................................31

Figura 2.10. Temperatura e presso nos ciclos do processo de laminao. PS o


perodo de pr-aquecimento. .................................................................32

Figura 2.11. Alguns tipos de perfis de alumnio. .......................................................35

Figura 2.12. Materiais de um mdulo fotovoltaico, destacando o selante de bordas.36

Figura 2.13. Caixa de conexes, circuito eltrico e prensa cabos. ...........................38

Figura 2.14. Principais agentes responsveis por degradaes do mdulo


fotovoltaico [12]. .....................................................................................39

Figura 2.15. Delaminao em mdulos fotovoltaicos registrados no sistema


interligado do Ministrio Federal da Economia em Berlim, Alemanha
[24]. ........................................................................................................41

Figura 2.16. Delaminao em mdulos fotovoltaicos da planta de 1 MW instalada


em Toledo, Espanha. .............................................................................41

Figura 2.17. Pontos quentes produzido pela delaminao [22]. ...............................43


10

Figura 2.18. Pontos de junes e solda de um mdulo envelhecido naturalmente


mostram a segregao do SnPb [22].....................................................43

Figura 2.19. Esquema eltrico ideal de uma clula fotovoltaica. ..............................44

Figura 2.20. Esquema eltrico de uma clula fotovoltaica real. ................................45

Figura 2.21. Caracterstica I-V de uma clula solar. .................................................47

Figura 2.22. Influncia da resistncia em paralelo e em srie, na curva I-V de um


mdulo fotovoltaico. ...............................................................................48

Figura 2.23. Seqncia de testes recomendado pelo PBE/INMETRO com base na


norma IEC 61215. ..................................................................................49

Figura 2.24. Seqncia de temperatura utilizada nos testes de ciclos trmicos. ......55

Figura 2.25. Desenho esquemtico de uma cmara de ciclagem trmica e


congelamento [27]..................................................................................57

Figura 2.26. Ciclo de temperaturas para o teste de umidade e congelamento.........58

Figura 3.1. Esquema representativo do prottipo A e prottipo B.............................62

Figura 3.2. Espectrofotmetro Lambda 950..............................................................63

Figura 3.3. (a) Pontos de medida e (b) curva de refletncia mdia do conjunto Vidro
+ EVA + filme Akasol..............................................................................64

Figura 3.4. (a) Pontos de medida e (b) curva de refletncia mdia do conjunto Vidro
+ EVA + clula solar...............................................................................64

Figura 3.5. (a) Pontos de medida e (b) curva de refletncia mdia do filme Akasol na
face posterior. ........................................................................................65

Figura 3.6. Resultados da caracterizao eltrica de uma clula solar com o


simulador solar AD1000 e o aplicativo IVK8. .........................................66

Figura 3.7. Simulador solar e sistema de caracterizao eltrica de clulas solares.67

Figura 3.8. Caracterizao eltrica de clulas fotovoltaicas. ....................................68

Figura 3.9. Caracterizao eltrica dos prottipos A e B mostrando a plataforma, os


prottipos e os equipamentos utilizados. ...............................................69
11

Figura 3.10. Curva Caracterstica I-V da clula do prottipo B, amostra 12. ............69

Figura 3.11. Imagem termogrfica dos prottipos A e B no teste de exposio em


condies externas. ...............................................................................70

Figura 3.12. Medio da resistncia dos PT-100 para converso em temperatura


dos prottipos A e B durante teste de exposio em ambiente externo.70

Figura 3.13. Clulas solares no equipamento de soldagem. ....................................71

Figura 3.14. Prottipos em etapa de laminao........................................................73

Figura 3.15. Cmara de corroso com as amostras antes do ensaio.......................75

Figura 3.16. Prottipo B aps o teste de nvoa salina. Pode-se observar a oxidao
do perfil de alumnio. ..............................................................................75

Figura 3.17. Refletncia dos conjuntos (a) vidro + EVA + filme Akasol, (b) vidro +
EVA + clula solar e (c) filme Akasol (medido na face posterior) dos
prottipos antes e aps os testes de nvoa salina. Prottipo A, amostra
71. ..........................................................................................................76

Figura 3.18. Cmara de envelhecimento UV. ...........................................................79

Figura 3.19. Transmitncia da amostra laminada com EVA - Vidro, sendo que a face
com EVA estava exposta radiao UV. ..............................................80

Figura 3.20. Refletncia dos conjuntos (a) vidro + EVA + filme Akasol, (b) vidro +
EVA + clula solar e (c) filme Akasol (medido na face posterior) dos
prottipos antes e aps o teste de exposio radiao UV. Prottipo A,
amostra 48. ............................................................................................81

Figura 3.21. Curva I-V de clulas solares n+pn+, semelhante s utilizadas nos
prottipos A e B, antes e aps o teste de envelhecimento UV. Estas
clulas foram expostas radiao UV sem encapsulamento................83

Figura 3.22. Prottipos A e B instalados a 48, voltados para o norte, em teste de


exposio condies externas. ...........................................................84

Figura 3.23. Irradiao incidente durante o perodo de 07/07/2008 31/07/2008. ..84

Figura 3.24. Refletncia dos conjuntos (a) vidro + EVA + filme Akasol, (b) vidro +
EVA + clula solar e (c) filme Akasol medido na face posterior dos
prottipos antes e aps o teste de exposio externa prottipo A,
amostra 51. ............................................................................................85
12

Figura 3.25. Delaminao pontual na amostra 24, prottipo A. ................................88

Figura 3.26. Refletncia dos conjuntos vidro + EVA + filme Akasol (a), vidro + EVA +
clula solar (b) e filme Akasol (medido na face posterior) dos prottipos,
antes e aps o teste de ciclos trmicos. Amostra 24 prottipo A e
amostra 31 prottipo B. ..........................................................................89

Figura 3.27. Resumo de aprovao dos prottipos nos testes realizados................91

Figura A.1 Irradincia espectral das lmpada UVA 340 e UVB 313 para diferentes
potncias reguladas na cmara de envelhecimento. .............................99

Figura A.2. Sobreposio dos espectros das lmpadas UVA e UVB, destacando as
regies de irradincia consideradas pela norma IEC 61345................100
LISTA DE TABELAS

Tabela 3.1. Refletncia mdia no intervalo de 350 nm1300 nm, para as amostras
usadas nesta dissertao.......................................................................65

Tabela 3.2. Processo de laminao utilizado para fabricao dos prottipos A e B. 72

Tabela 3.3. Caractersticas pticas de prottipos A e B, antes e aps o teste de


nvoa salina. ..........................................................................................77

Tabela 3.4. Caractersticas eltricas dos prottipos antes e aps o teste de nvoa
salina, corrigidos para as condies padro (1000 W/m, 25C). ..........78

Tabela 3.5. Caractersticas pticas dos prottipos, antes e aps o teste de


exposio UV. ........................................................................................80

Tabela 3.6. Caractersticas eltricas dos prottipos, antes e aps o teste de


exposio UV. ........................................................................................82

Tabela 3.7. Caractersticas pticas de prottipos, antes e aps a irradiao de 76,16


kW/m.....................................................................................................85

Tabela 3.8. Caractersticas eltrica dos prottipos antes e aps o teste de exposio
s condies externas com irradincia de 76,16 kW/m........................86

Tabela 3.9. Caractersticas eltricas dos prottipos antes e aps o teste de ciclos
trmicos..................................................................................................87

Tabela 3.10. Caractersticas eltricas dos prottipos antes e aps o teste de ciclos
trmicos..................................................................................................90

Tabela 3.11 Caractersticas eltricas dos prottipos que passaram pelo teste de
ciclos trmicos e umidade e congelamento. ..........................................90

Tabela A.1. Possibilidades de utilizao da cmara UV em conformidade com a IEC


61345. ..................................................................................................101
LISTA DE QUADROS

Quadro 2.1. Resumo da seqncia de testes recomendado pelo PBE-INMETRO


com referncia s normas IEC 61215....................................................50

Quadro 2.2. Resumo da sequncia de procedimentos utilizados neste trabalho. ....51


LISTA DE SMBOLOS

Cz Czochralski
Mc Multicristalino
EVA Acetato de Vinila
PVB Polivinil Butiral
PTFE Politetrafluoretileno
PET Polietilenotereftalato
PVF Polivinil Fluorado
PBE Programa Brasileiro de Etiquetagem
INMETRO Instituto Nacional de Metrologia Normalizao e Qualidade Industrial
NT-SOLAR Ncleo Tecnolgico de Energia Solar Fotovoltaica
IEC International Electrotechnical Commission
UV Ultravioleta
UVA Ultravioleta prximo
UVB Ultravioleta distante
AR Filme anti-reflexo
PS Pr-Set
IL Corrente fotogerada A
ID Corrente do diodo no escuro A
I Corrente da clula solar A
IO Corrente de saturao de uma clula solar no escuro A
K Constante de Boltzmann J/K
RS Resistncia srie
RP Resistncia paralelo
IP Corrente de fuga A
NS Nmero de clulas associadas em srie
JSC Densidade de corrente de curto-circuito mA/cm-
Vmax Tenso em mxima potncia V
Imax Corrente em mxima potncia A
ISC Corrente de curto-circuito A
VOC Tenso de circuito aberto V
Pmax Potncia mxima W
16

AM Massa de Ar
G Irradincia W/m
Eficincia %
Refletncia %
m Refletncia mdia %
FF Fator de forma
17

RESUMO

REIS SANTOS JNIOR, Silvio Lus. Anlise de Materiais e Tcnicas de


Encapsulamento de Mdulos Fotovoltaicos. Porto Alegre. 2008. Dissertao.
Programa de Ps-Graduao em Engenharia e Tecnologia de Materiais,
PONTIFCIA UNIVERSIDADE CATLICA DO RIO GRANDE DO SUL.

Esta dissertao teve como objetivo a fabricao e caracterizao de


prottipos de mdulos fotovoltaicos para anlise dos materiais utilizados no
encapsulamento dos mesmos. Os prottipos foram submetidos a testes de corroso
por nvoa salina, teste de ciclos trmicos, teste ciclo trmico seguido de umidade e
congelamento, teste de exposio radiao ultravioleta e a exposio radiao
solar (exposio externa). Estes prottipos foram caracterizados opticamente e
eletricamente antes e aps cada teste. Os testes foram realizados baseados nas
normas do Programa Brasileiro de Etiquetagem (PBE), Sistemas e Equipamentos
para Energia Fotovoltaica, Instituto Nacional de Metrologia, Normalizao e
Qualidade Industrial (INMETRO) e nas normas 61215 da International
Electrotechnical Commission (IEC). Na inspeo visual aps os testes, 90 % das
amostras no apresentaram mudanas significativas. Somente aps o teste de
ciclos trmicos e teste de umidade e congelamento foram observadas alteraes na
superfcie dos vidros e delaminao em rea prxima a barra coletora de uma clula
solar. Na anlise de refletncia de diferentes regies dos prottipos no foram
evidenciados processos de delaminao ou descolorao aps os testes. Concluiu-
se que, considerando os testes realizados, no houve degradao significativa dos
materiais encapsulantes EVA Etimex 485 e filme posterior Akasol PTL 3-38/75 e
tampouco reaes entre EVA e filme anti-reflexo de TiO2 e metalizao serigrfica.
Foram observadas degradaes nas caractersticas eltricas dos prottipos, com
um percentual de aprovao de todos os prottipos igual a 60 % no teste de nvoa
salina, 75 % no teste de exposio radiao ultravioleta, 50 % no teste de
exposio externa, 75 % no teste de ciclos trmicos e 75 % no teste de ciclo trmico
seguido de umidade e congelamento. Em relao ao tipo de selante utilizado nas
bordas dos mdulos, observou-se que aqueles selados com fita Lohmann
apresentaram os melhores resultados nos testes, exceto no de exposio externa.

Palavras-Chaves: Encapsulamento, Caracterizao, Materiais, Mdulo fotovoltaico.


ABSTRACT

REIS SANTOS JNIOR, Slvio Lus. Analysis of Materials and Techniques for
Photovoltaic Module Encapsulation. Porto Alegre. 2008. Master Thesis. Pos-
Graduation Program in Materials Engineering and Technology, PONTIFICAL
CATHOLIC UNIVERSITY OF RIO GRANDE DO SUL.

The goal of this dissertation was to fabricate and characterize prototypes of


photovoltaic modules to analyze the encapsulation materials. The prototypes were
submitted to salt spray corrosion tests, thermal cycle test, thermal cycle followed of
humidity and freezing test, ultra-violet and solar radiation exposure (external
exposure) test. These prototypes were optically and electrically characterized before
and after each test. The tests follow standards of the Brazilian Labeling Program
(PBE), Photovoltaic Energy Systems and Equipments, National Institute of
Normalization, Metrology and Industrial Quality (INMETRO) and the 61215 standard
of International Eletrotechnical Commission (IEC). In the visual inspection, 90 % of
the samples presented no significant changes after the tests. Surface alterations in
the glasses and delamination in the area next to the busbar bar of the solar cell were
observed only after the thermal cycles and humidity and freezing tests. In the
reflectance analysis of different regions of the prototypes, no delamination or
discoloration processes were observed after the tests. In summary, considering the
analysis of materials after the tests, no significant degradation of encapsulating
materials EVA 485 Etimex and Akasol PTL 3-38/75 were detected neither reactions
between EVA and anti-reflective TiO2 coating and screen-printing metal grid.
Degradation of the electric characteristics of the prototypes were observed, with 60
% approval in the salt spray test, 75 % in the exposition to ultraviolet radiation test,
50 % in the external exposition test, 75 % in the thermal cycle test and 75 % in the
thermal cycle followed of humidity and freezing test. Concerning edge seal, it was
observed that Lohmann tape presented the best results for most tests, with
exception to the external exposure test.

Key-words: Photovoltaic module, Encapsulation, Certification.


1. INTRODUO E OBJETIVOS

1.1. Justificativas

A energia solar fundamental criao e ao sustento da vida no planeta.


Sem os fluxos dirios de irradiao solar, a temperatura da Terra cairia a ponto de
impossibilitar a vida como a conhecemos.
O futuro da energia solar fotovoltaica apresenta-se de forma promissora.
Devido exausto das reservais naturais conhecidas, a utilizao de combustveis
fsseis dever cair acentuadamente nos prximos 50 anos. Isto abrir uma
oportunidade para tornar a energia solar fotovoltaica uma das formas de energia de
grande parcela da matriz energtica mundial.
A produo de energia eltrica por meio da converso da radiao solar,
chamada energia solar fotovoltaica, o mtodo mais elegante para produzir
eletricidade. Isenta de peas mveis, emisses gasosas ou rudos, no
contaminante durante todo o perodo para o qual o sistema fotovoltaico foi projetado
para operar, entre 25 e 30 anos. O dispositivo capaz desta converso a clula
solar, tambm conhecida como clula fotovoltaica. Estas so fabricadas em material
semicondutor com alto grau de pureza, sendo o silcio o mais comum. Aps, este
material semicondutor passa por processos fsico-qumicos e determinadas
impurezas formam a juno pn, estrutura bsica da clula solar. O mdulo
fotovoltaico um conjunto de clulas solares conectadas em srie e/ou paralelo,
encapsuladas com cobertura frontal e posterior, caixa de conexes e marco de
alumnio.
O prolongamento da vida til dos mdulos fotovoltaicos de interesse
econmico e social. A reduo do custo da produo de energia solar associada
ao aumento da vida til, que depende dos materiais utilizados no encapsulamento
do mdulo fotovoltaico.
O encapsulamento consiste no mecanismo fsico de proteo das clulas
20

solares contra aes como umidade, radiao ultravioleta (UV), esforos mecnicos
leves como tores e impactos de baixa energia. Para que haja esta proteo so
utilizados materiais ditos encapsulantes (resinas termoplsticas ou silicones com
excelente transparncia ptica), cobertura frontal (vidros com baixo teor de ferro,
resinas termoplsticas ou plsticos de engenharia com excelente transparncia
ptica e resistncia mecnica) e cobertura posterior (filmes polimricos, chapas
metlicas e vidros entre outros materiais). Estes materiais devem ter propriedades
fsicas e qumicas estveis, que no degradem com a ao da radiao ultravioleta,
tendo boa estabilidade dimensional, baixo coeficiente de permeabilidade, fcil
processamento, baixo custo e compatibilidade entre eles.

1.2. Objetivos

O objetivo deste trabalho foi projetar, fabricar e analisar materiais utilizados


no encapsulamento de mdulos fotovoltaicos e fabricar 50 prottipos de mdulos
fotovoltaicos com duas configuraes de distribuio das clulas solares. Estes
foram submetidos a testes de corroso por nvoa salina, testes de ciclos trmicos,
teste de umidade e congelamento, exposio radiao ultravioleta e exposio em
condies externas. Estes prottipos foram caracterizados opticamente e
eletricamente antes e aps cada teste.
Um dos modelos de prottipos fabricados simula uma clula fotovoltaica
localizada nas bordas de um mdulo, regio mais favorvel para ingresso de
umidade e o outro simula uma clula localizada em uma regio afastada das
bordas. Os parmetros de anlise dos prottipos so as curvas caractersticas
eltricas I-V e de refletncia.
Os objetivos especficos foram:
Projetar, fabricar e caracterizar eletricamente e opticamente os 50
prottipos;
Avaliar o material encapsulante EVA 485 Etimex frente aos ensaios
propostos;
Avaliar a cobertura posterior Akasol PTL 3-38/75;
Verificar a compatibilidade entre o filme anti-reflexo TiO2 e a metalizao
serigrfica frente ao encapsulante EVA Etimex 485;
21

Comparar dois materiais selantes de bordas do mdulo fotovoltaico.


O presente trabalho est estruturado nos captulos 2, 3 e 4. A reviso
bibliogrfica est no Captulo 2, onde so descritos os componentes dos mdulos
fotovoltaicos e testes utilizados para avaliao dos mesmos. O Captulo 3 descreve
o processo de laminao e montagem, bem como os testes e resultados obtidos. O
Captulo 4 apresenta as concluses e sugestes futuras.
2. MDULO FOTOVOLTAICO: ENCAPSULAMENTO E ENSAIOS
PARA CERTIFICAO

2.1. Clula Solar

As clulas solares so dispositivos que transformam energia solar


diretamente em energia eltrica, por meio do efeito fotovoltaico. As clulas solares
podem ser fabricadas em diversos substratos semicondutores simples (silcio) ou
compostos (arsenieto de glio, sulfeto de cdmio, etc.). O silcio um dos materiais
mais utilizados na indstria de mdulos fotovoltaicos, ser descrita a clula de silcio
cristalino.
O silcio o semicondutor mais abundante na natureza, sendo a matria
prima mais utilizada na indstria microeletrnica e fotovoltaica. O silcio passa por
diversos processos de refino at atingir a qualidade necessria. Parte-se da
obteno de rochas ricas em quartzo e a conseqente purificao at o denominado
grau metalrgico, onde a pureza prxima a 99 %. Este silcio no
suficientemente puro para a fabricao de clulas solares e logo passa por diversos
procedimentos qumicos at atingir uma concentrao de impurezas prximas a 0,2
partes por milho.
Seqencialmente, cresce-se o lingote de silcio pela tcnica Czochralski (Cz)
que d origem a monocristais, ou pela tcnica de solidificao controlada, que
origina o silcio multicristalino (Mc). A qualidade da estrutura cristalina definida com
a determinao de algumas propriedades da clula solar como orientao cristalina
e dopagem p ou n. importante salientar que este processo de crescimento serve
como purificador, produzindo um cristal de maior pureza.
Os lingotes de silcio monocristalinos tm diversos tamanhos, com
comprimentos de at 2 m e dimetros que podem variar de 50 mm a 300 mm. Os de
silcio multicristalino passam por um processo de solidificao orientada podendo
23

chegar a tamanhos de 890 mm x 890 mm x 425 mm. Os lingotes so cortados por


fios ou serras especiais, resultando em lminas de silcio com espessuras de 200
m a 500 m [1].
A partir das lminas de silcio so realizados diversos passos e
processamentos em laboratrios especiais como limpezas qumicas, texturao,
difuso de dopantes, deposio de filmes anti-reflexo e de contatos metlicos. A
Figura 2.1 apresenta um esquema de processamento padro para fabricao de
clulas fotovoltaicas [2].

Figura 2.1. Seqncia de processo de fabricao de clulas solares com lminas de silcio
desenvolvido no NT-Solar [2].

A corrente eltrica extrada da clula fotovoltaica por meio de uma malha


metlica depositada em ambas as faces da clula. A metalizao no lado frontal
em forma de grade, de modo a permitir a passagem de radiao solar. A texturao
da superfcie da clula e a aplicao de um filme anti-reflexo contribuem para
minimizar as perdas por reflexo da radiao incidente. A Figura 2.2 apresenta um
24

esquema simplificado de uma clula solar destacando os contatos frontais e


posteriores, as regies n e p e a juno pn bem como o filme anti-reflexo [3].
As clulas fotovoltaicas de silcio cristalino apresentam tenso de circuito
aberto de aproximadamente 0,6 V e tenso de operao de 0,50 V-0,55 V. Portanto,
para utilizar a energia produzida necessrio associar vrias clulas, para ento
obter-se a tenso e a corrente eltrica necessrias. Um conjunto de clulas solares
associadas em srie e/ou paralelo, protegido contra as intempries, denominado
de mdulo fotovoltaico. A estrutura do mdulo confere durabilidade temporal,
resistncia a intempries climticas e esforos mecnicos. A Figura 2.3 apresenta
dois mdulos fotovoltaicos instalados e em operao.

Figura 2.2. Detalhes da clula solar de silcio [2].

Figura 2.3. Mdulos fotovoltaicos [3].


25

2.2. Mdulo Fotovoltaico

Em um sistema fotovoltaico os mdulos so os elementos responsveis pela


converso da radiao solar em eletricidade. A ABNT (NBR10899/2005) define o
mdulo fotovoltaico como sendo a unidade bsica formada por um conjunto de
clulas solares, interligadas eletricamente e encapsuladas, com o objetivo de gerar
energia eltrica. O conjunto de clulas encapsulado, de modo a oferecer proteo
contra intempries climticas ao mesmo tempo possibilitando um caminho ptico
eficiente at as mesmas. A maioria dos mdulos ainda conta com uma moldura
metlica que proporciona a rigidez mecnica necessria ao conjunto e facilita a
fixao do mdulo. Mdulos com tenses nominais de 18 V so constitudos por 30
a 36 clulas em srie [5]. A Figura 2.4 representa os principais componentes que
constituem um mdulo fotovoltaico, sendo eles:
Cobertura Frontal: vidro, resinas termoplsticas;
Encapsulante: acetato de vinila (EVA), polivinil butiral (PVB);
Cobertura Posterior: polmeros fluorados como o polivinil fluorado
(PVF), politetrafluoretileno (PTFE)
Vedao de bordas: borracha butlica, silicone, fita dupla face;
Caixa de conexes eltricas: polietilenotereftalato (PET);
Moldura: perfil de alumnio ou de plstico.

Figura 2.4. Componentes de um mdulo fotovoltaico [3].

O encapsulamento a tcnica que confere durabilidade para a vida funcional


de um mdulo fotovoltaico, consistindo em mecanismo fsico de proteo das
clulas solares contra aes como umidade, radiao ultravioleta, esforos
26

mecnicos leves como tores e impactos de baixa intensidade. Para que haja esta
proteo so utilizados materiais encapsulantes, cobertura frontal e cobertura
posterior.
O desempenho de mdulos fotovoltaicos encapsulados com diferentes
combinaes e materiais modificam consideravelmente as propriedades eltricas
dos mesmos com a ao da degradao. Testes de envelhecimento em cmaras
climticas, cmaras salinas e exposio radiao ultravioleta, associados ao
comportamento das medidas eltricas fornecem uma previso do desempenho e
durabilidade de um mdulo fotovoltaico exposto a intempries climticas estimada
em 25 anos ou mais.

2.2.1. Cobertura Frontal

A cobertura frontal utilizada com a finalidade de proteger o mdulo


fotovoltaico da ao de intempries, foras externas, entre outros. A seleo da
cobertura frontal e posterior de um mdulo fotovoltaico ocorre de acordo com a
natureza tecnolgica utilizada na fabricao da clula fotovoltaica, neste caso a de
silcio. Requisitos importantes do material para cobertura frontal so a transparncia,
elevada resistncia mecnica cargas estticas por longos perodos de tempo, boa
resistncia dinmica e resistncia a riscos. Pode-se considerar como requisito
indispensvel a estabilidade das propriedades pticas, como elevada transmitncia
para todo espectro solar aproveitado pela clula solar de silcio (400 nm 1100 nm)
[3]. Todos os materiais utilizados para cobertura frontal e posterior devem possuir
coeficiente de expanso compatvel com o conjunto, estabilidade e resistncia
exposio do espetro solar, tendo uma durabilidade til estimada em 25 anos.

2.2.1.1. Vidro

A escolha do material para cobertura frontal recai normalmente sobre


materiais cermicos como vidro, devido alta resistncia mecnica que pode ser
alcanada por meio de tcnicas de tratamento trmico, laminao e adio de
elementos qumicos sua composio.
A indstria de vidros utiliza na sua composio elementos como o xido de
27

ferro, que d ao vidro um aspecto esverdeado. Porm, elementos como o xido de


ferro no so desejveis aos mdulos fotovoltaicos por absorverem certa parcela de
energia til para converso fotovoltaica. Conseqentemente, a maioria dos
fabricantes de mdulos fotovoltaicos utiliza vidros especiais com baixo teor de ferro,
o que forou os fabricantes de vidro a implementarem linhas de produo
especficas para a aplicao fotovoltaica.
Vidros com carbonato de sdio (Na2CO3) so os vidros mais comuns e so
utilizados em quase todas as aplicaes como, por exemplo, pra-brisas de
automveis, janelas e boxes de banheiro. Estes vidros, no entanto, no contm
propriedades fsico-qumicas desejveis, contendo quantidade significativa de sdio
e fsforo, que com o tempo difundem prejudicando o funcionamento do mdulo [6].
Vidros com teores reduzidos de ferro, sdio e fsforo so fabricados para
mdulos fotovoltaicos ou para outras aplicaes especficas e so utilizadas
tcnicas de tmpera para melhorar suas propriedades mecnicas de resistncia a
fratura. Vidros temperados podem ser produzidos com resistncia flambagem de
quatro a cinco vezes maior do que um vidro no temperado.
Algumas alteraes na composio do vidro, como reduo do percentual de
ferro, requerem a adio de quantidades significativas de sdio e
conseqentemente a adio de outros elementos como o carbonato de magnsio,
para neutralizar parcialmente o sdio. O tratamento do SiO2 realizado geralmente
durante a fabricao do vidro para reduzir o sdio, deixando a superfcie do vidro
relativamente inerte e com percentual de sdio inferior a 13 % [7].
A prpria composio qumica do vidro proporciona difuso ativa de sdio e
fsforo, precipitando compostos que satisfazem algumas reaes nas ligaes das
superfcies do EVA e do silcio, formando uma superfcie reativa e reduzindo a fora
das ligaes adesivas. Alm disso, gases resultantes do processo de laminao
formam pequenas bolhas, que por sua vez facilitam o acmulo de umidade e
precipitao de impurezas ativas. Estas impurezas aumentam a possibilidade de
falhas e de corroso nos contatos metlicos [12].
Como foi visto, os vidros mais utilizados na fabricao de mdulos
fotovoltaicos so os de baixo teor de ferro. Neste caso, a transmitncia mantida
constante na faixa de 400 nm 1100 nm ao contrrio do vidro com alto teor de ferro,
denominado de comum. Vidros especiais com textura superficial, com adio de
28

filmes anti-reflexos ou elementos absorventes podem contribuir para melhorar as


qualidades pticas nas aplicaes fotovoltaicas. Por exemplo, a aplicao de
tomos de crio no vidro o torna absorvedor da radiao ultravioleta, que desta
forma no atinge o material encapsulante, aumentando sua vida til. A Figura 2.5
apresenta dados de transmitncia de vidros comuns, de baixo teor de ferro e com
adio de crio.

100
90
80
Transmitncia (%)

70
60
50
40
30
20 Comum (3,0 mm)
10 Vidro com baixo teor de ferro (3,2 mm)
Vidro com adio de crio (3,2 mm)
0
200 300 400 500 600 700 800 900 1000 1100
Comprimento de Onda (nm)

Figura 2.5. Transmitncia espectral de diferentes chapas de vidros [10].

Algumas tcnicas como a espectroscopia eletrnica Auger evidenciam a


dinmica da difuso de elementos como carbono, fsforo, sdio, titnio, oxignio
entre outros. Fatores como a difuso de impurezas influenciam piorando o
desempenho e a durabilidade dos mdulos fotovoltaicos, instabilizando a adeso
entre o vidro e o material encapsulante [9].

2.2.1.2. Politetrafluoretileno (Teflon / PTFE)

O Teflon um polmero termoplstico composto por politetrafluoretileno


quimicamente inerte com baixa permeabilidade a lquidos e vapores, desenvolvido
para trabalhar em temperaturas contnuas de at 260 C, com elevada resistncia e
durabilidade mecnica, transparncia, estabilidade no tempo e radiao solar [11].
Disposto em filmes transparentes, com espessuras a partir de 0,025 mm que
permitem sua termo-conformao e laminao vcuo, podem copiar a forma da
superfcie na qual repousado.
29

O encapsulamento com teflon comum em mdulos como telhas


fotovoltaicas, ilustrados na Figura 2.6 e pode sofrer variaes de configuraes na
montagem conforme apresentado na Figura 2.7. A cobertura posterior pode ser uma
chapa convencional de vidro que satisfaa as necessidades estruturais, ou chapas

de metal, ardsia, cimento ou cermica. O encapsulamento com Teflon usado na
maioria das vezes para mdulos especiais produzidos em pequena escala (ex.:
telhas solares), porm vem ganhando espao com a credibilidade conquistada e na
reduo de massa associada ao mdulo frente outros materiais como vidros.

Figura 2.6. Telha fotovoltaica Isofoton com cobertura de teflon.


Figura 2.7. Configurao de mdulos com cobertura de Teflon [5].

2.2.2. Encapsulante

O encapsulante um material polimrico no qual ser envolvida a clula


fotovoltaica. A finalidade do encapsulamento proporcionar acoplamento ptico,
30

proteo clula fotovoltaica da ao de agentes externos causadores de


degradao. Os mecanismos de degradao so oriundos da ao das intempries
ambientais e agentes externos como impactos de baixa energia, abraso mecnica
entre outros. As quatro funes bsicas dos materiais de encapsulamento so [5]:
Promover suporte estrutural e posicionamento da clula solar no layout
previsto durante o processo de fabricao, manipulao, armazenamento,
instalao e operao;
Atingir e manter o acoplamento ptico entre a clula solar e o vidro,
mantendo a incidncia da radiao solar com transmitncia de pelo menos
90 % e uma perda mxima de 5 % aps 20 anos;
Proporcionar e manter o isolamento fsico das clulas solares e
componentes e proteger o circuito da ao de elementos agressivos e
degradantes;
Alcanar e manter o isolamento eltrico entre as clulas solares e os
elementos operacionais do circuito durante a vida til do mdulo
fotovoltaico.

2.2.2.1. Acetato de Vinila (EVA)

O filme de EVA o encapsulante mais utilizado para mdulos fotovoltaicos,


fornecendo sustentao estrutural, acoplamento ptico entre clula e mdulo,
isolamento eltrico e fsico. Como mostra a Figura 2.8, mdulos so montados em
camadas de vidro/EVA/clula/EVA/Tedlar ou vidro/EVA/clula/EVA/Vidro. Aps a
montagem, o conjunto inserido em uma laminadora. A Figura 2.9 apresenta uma
laminadora e um esquema da mesma.
A Figura 2.10 mostra uma seqncia tpica do processo de laminao com EVA, a
seqncia do processo inicia-se logo aps o fechamento da cmara, iniciando com
um pr-aquecimento (PS) at 70 C. Durante o ciclo 1, o EVA est em forma de gel
e, ento, inicia-se o vcuo na parte inferior da cmara. No ciclo 2, a temperatura
aumentada para 90 C e desconecta-se o vcuo da parte superior, fazendo com que
a membrana de silicone pressione o mdulo. No ciclo 3, a temperatura sobe para
150 C para realizao da cura do EVA. O tempo de cura depende do tipo de EVA e
no caso dos prottipos fabricados no mbito desta dissertao, o tempo foi de 500
31

s. Depois da cura, o sistema refrigerado com gua at atingir a uma temperatura


da ordem de 75 C e, depois, conectado o vcuo na parte superior da cmara a
fim de soltar a membrana de silicone do mdulo fotovoltaico laminado.

Figura 2.8. Configuraes de mdulos fotovoltaicos laminados com EVA.

(a)

(b)
Figura 2.9. (a) Laminadora modelo L 150 A e (b) esquema de funcionamento.
32

Figura 2.10. Temperatura e presso nos ciclos do processo de laminao. PS o perodo de pr-
aquecimento.

O EVA apresenta as seguintes vantagens para fabricao do mdulo


fotovoltaico:
Constante dieltrica elevada;
Baixo coeficiente de absoro de gua e vapores midos;
Boa adeso com diferentes materiais;
Baixo custo;
Elevada transmitncia ptica.
33

2.2.2.2. Polivinil Butiral (PVB)

Uma alternativa para a utilizao do EVA o polmero polivinil butiral (PVB).


O filme de PVB amplamente utilizado na fabricao de vidros automotivos e
estruturas arquitetnicas onde se faz necessrio a aplicao de vidros com alta
resistncia mecnica. A laminao automotiva exige elevada durabilidade,
resistncia mecnica e transmitncia, sendo estas as caractersticas necessrias
para laminao de mdulos fotovoltaicos [14].
O encapsulamento com PVB j foi amplamente utilizado por indstrias como
Siemens Solar e AEG, porm com o passar do tempo percebeu-se que o PVB
absorvia gua, deixando turva a interface vidro-clula, vindo a ser substitudo pelo
EVA. Atualmente encarado como uma alternativa para substituir o EVA, visto que
o material foi melhorado e pode ser utilizado na laminao com duplo vidro com
vantagens sobre o EVA [15]. Com algumas adaptaes no processo convencional
de laminao do EVA possvel laminar PVB em uma laminadora padro.
A laminao com PVB semelhante laminao do EVA. O PVB montado
entre dois vidros sendo aquecido e prensado, formando uma combinao com alta
capacidade de resistncia ao impacto sem comprometer a transparncia.
Caractersticas do PVB:
Boa qualidade ptica e transmitncia;
Excelente estabilidade radiao UV;
Permevel gua e ao vapor de gua;
Resistente ao calor;
O comparativo do PVB em relao ao EVA mostra que o PVB possui:
Maior resistncia mecnica, indicado para laminaes com duplo vidro.
Menor resistncia umidade.

2.2.3. Cobertura Posterior

A cobertura posterior de um mdulo fotovoltaico deve, da mesma forma que a


cobertura frontal, proteger as clulas solares das intempries. Podem ser utilizados
34

materiais de elevada refletncia, como filmes polimricos do tipo PVB, Tedlar e



Teflon , contando tambm com o uso de resinas termoplsticas, materiais
cermicos e metlicos entre outros. A cobertura posterior permite a utilizao de
uma ampla gama de materiais por no ser necessrio iluminar a parte posterior de
um mdulo fotovoltaico com clulas monofaciais. Quando se faz necessria esta
iluminao, segue-se a arquitetura do projeto e a tecnologia utilizada.
As coberturas mais utilizadas so constitudas de compsitos polimricos

como Tedlar /polister/Tedlar (TPT) ou com adio de metais como alumnio
Tedlar/polister/alumnio/Tedlar conservando a elevada refletncia caracterstica
do filme de Tedlar. A alta refletncia contribui para que uma parcela da irradiao
incidente no utilizada na converso fotovoltaica seja refletida, reduzindo o
aquecimento [5]. Por outro lado, parte da irradiao refletida pode incidir na clula
devido reflexo interna total no vidro.

2.2.3.1. Fluoreto de Polivinila (Tedlar)

O filme de Tedlar utilizado para cobertura posterior um compsito


polimrico formado normalmente de Polivinil fluorado (PVF) / Polietileno tereftalato
(PET) / (PVF), podendo sofrer variaes. Por ser um polmero fluorado, o PVF tem
excelente durabilidade e resistncia a uma variedade de solventes e produtos
qumicos [5]. Ele impermevel e possui boa resistncia degradao do espectro
solar. O PVF resiste bastante aos poluentes atmosfricos, ao ataque da chuva cida
e formao de fungos.
O PET um polister usado para compor a cobertura posterior devido s
suas propriedades mecnicas e custo baixo. Entretanto, o PET sem revestimento
exibe permeabilidade elevada. O filme de Tedlar composto por PVF/PET/PVF,
PVF/PET ou PVF/PET/Alumnio/PVF, permite que o fluorpolmero proteja ambos os
lados do polister da ao da fotodegradao e umidade. Esta combinao une as
melhores propriedades de ambos os materiais para as caractersticas desejadas: o
isolamento eltrico aumenta e diminui a permeabilidade de gua. A barreira de
umidade reforada com a adio do alumnio ao compsito [18].
35

2.2.4. Suporte de Sustentao

O suporte mecnico do mdulo fotovoltaico usualmente composto pela


cobertura frontal e por um quadro de alumnio anodizado, conferindo rigidez
mecnica ao mdulo sem o acrscimo demasiado de massa. O alumnio ainda
funciona como trocador trmico entre o mdulo e o meio. H configuraes de
mdulos que no utilizam a moldura metlica por motivos arquitetnicos.
Materiais plsticos, embora muito versteis, no so recomendados para
utilizao por perodos prolongados de tempo, considerando que os materiais
polimricos ou semelhantes no suportam cargas estticas e esforos dinmicos
com confiabilidade durante longos perodos de tempo quando expostos a radiao
UV e intempries. Atualmente, devido evoluo tecnolgica dos materiais,
empresas como a Dupont dispem de produtos como o Rynite, o qual a empresa
afirma ser um excelente candidato para substituir os perfis metlicos hoje utilizados,
pois reduz a massa do mdulo e elimina potenciais problemas de corroso nas
peas expostas ao ar livre. O Rynite composto de polister termoplstico a base
de PET e combina excelente desempenho e estabilidade dimensional com alta
resistncia e firmeza. Na Figura 2.11 so apresentados desenhos tpicos de perfis
de alumnio [16].

Figura 2.11. Alguns tipos de perfis de alumnio.

Os perfis de alumnio so os mais utilizados pela indstria fotovoltaica,


priorizando as dimenses dos mdulos, material de vedao, agrupamento de
mdulos em sistemas de grande porte, sistemas de fixao entre outros.
36

2.2.5. Vedante de Bordas

O vedante de bordas tem a funo de preencher o espao entre o perfil de



alumnio e o conjunto laminado de vidro-EVA-clula-EVA-Tedlar , selando as
bordas do mdulo, conforme mostra a Figura 2.12. Este vedante impede o ingresso
da umidade atravs das frestas, fendas ou defeitos que ocorrem nesta regio
durante o processo de encapsulamento. O defeito desta vedao ou a no utilizao
desta implica em srios problemas constatados durante a operao dos mdulos
[17]. Na maioria dos casos estes problemas comprometem a durabilidade e
eficincia de todo mdulo fotovoltaico. O material utilizado para o vedante das
bordas pode ser desde borrachas butlicas a selantes desenvolvidos
especificamente para este fim como, por exemplo, fitas adesivas dupla face
Lohmann Duplomont 918 e silicone Dowcorning PV 804. Estes selantes so feitos
de materiais qualificados em testes de durabilidade de mdulos de acordo com as
normas IEC.

Figura 2.12. Materiais de um mdulo fotovoltaico, destacando o selante de bordas.

As caractersticas avaliadas relevantes para os vedantes de bordas


desenvolverem sua funcionalidade so [5], [19]:
37

Impermeabilidade gua e percolao, presso hidrosttica ou


umidade;
Impermeabilidade a gases e vapores;
Resistncia aos esforos de trao, compresso, cisalhamento,
impacto;
Resistncia ao puncionamento, vibrao, abraso, toro;
Boa aderncia aos mais diversos substratos, sem perda de aderncia
ao longo do tempo;
Expandir-se e contrair-se quando submetido a tenses;
Resistncia irradiao ultravioleta;
Resistncia produtos qumicos ou agentes agressivos, tais como,
leos, gasolina, cidos, sais, excrementos de pssaros, etc.;
Resistente variaes trmicas;
No permitir proliferao de fungos ou bactrias;
Elevada durabilidade (25 - 30 anos).

2.2.6. Caixa de Conexes

A caixa de conexes o local onde ocorrem as conexes eltricas de


interconexo mdulo mdulo ou mdulo com o meio externo.
Construda em material polimrico resistente s intempries, a caixa de
conexes composta por um circuito eltrico simples com diodos e terminais para
soldar as fitas condutoras do mdulo. A finalidade das caixas de conexo a
ligao entre mdulos de forma segura, protegendo tambm o circuito eltrico de
todo o mdulo fotovoltaico de correntes reversas. Os outros componentes que
constituem a caixa de conexes so o prensa cabo e tampa, conforme mostrado na
Figura 2.13. A caixa de conexes montada e colada na cobertura posterior do
mdulo fotovoltaico com adesivo ou selante similar ao utilizado para selar as bordas
do mdulo.
38

Figura 2.13. Caixa de conexes, circuito eltrico e prensa cabos.

2.3. Degradao do Mdulo Fotovoltaico e Problemas Associados

A degradao que conduz falha nos mdulos fotovoltaicos segue uma


progresso que depende de mltiplos fatores. Fatores como a degradao de
materiais de laminao, perda de adeso, degradao de interconexo entre
clulas, degradao causada pela umidade e a degradao da clula solar so os
fatores mais preocupantes.
Tal como ilustrado na Figura 2.14, a degradao pode ocorrer por
intempries, impurezas, acmulo de sujeira e detritos no vidro, degradao
fototrmica, oxidao e degradao do encapsulante, interdifuso dos ons e
reaes na interface polimrica que causam reaes de delaminao. Muitos
desses problemas ocorrem em decorrncia de elevadas concentraes inicas
provindas do aprisionamento de vapores e gases bem como a utilizao inadequada
de produtos durante o processo de fabricao do mdulo fotovoltaico. Alm destes,
ocorrem tambm problemas como a descolorao do encapsulante que
classificada por ndices, que variam desde branco levemente amarelo at
tonalidades castanho escuro [19].
39

Figura 2.14. Principais agentes responsveis por degradaes do mdulo fotovoltaico [12].

2.3.1. Envelhecimento e Descolorao do EVA.

Segundo Pern [12], somente nos anos 90, aps um teste de envelhecimento
acelerado com aumento da irradiao UV, que ficou claro que descolorao do
EVA diretamente proporcional energia ultravioleta na qual o mesmo foi exposto.
Em avaliaes de sistemas fotovoltaicos foi observado que sistemas
instalados em climas quentes e midos, e quentes e secos, ou seja, locais onde a
temperatura de trabalho das clulas solares fique prximo aos 70 C, ocorre com
maior intensidade o envelhecimento e conseqentemente perda de eficincia
associada ao mdulo ou sistema fotovoltaico. Por exemplo, nas plancies de Carrisa
na Califrnia-EUA existia uma central fotovoltaica com capacidade de 5,2 MW que
utiliza um sistema ptico de concentrao da radiao solar. A central era formada
por 10 segmentos com 9 espelhos para concentrao da irradiao. Porm a
produo de energia comeou a diminuir progressivamente com o passar de um
curto perodo devido degradao ptica do EVA. A degradao foi to intensa que
os mdulos atingiram tonalidade castanho-escuro, devido temperatura de
operao ser da ordem de 90 C [12], [20], [21], [22].
A explicao para o descoloramento foi a combinao de fatores climticos,
40

como temperatura, ndice de insolao e presena intensa de radiao ultravioleta.


A combinao destes fatores provoca a degradao dos polmeros to intensa
quanto intensidade destas combinaes [19].
A radiao ultravioleta pode acarretar dois tipos de reaes: ciso da cadeia
polimrica e formao de ligaes cruzadas nas terminaes das cadeias. Com a
exposio longo prazo e ou intensidade elevada em curto prazo, o peso
molecular do polmero alterado, o que proporciona as ligaes cruzadas e ou a
ciso [19].
Propriedades importantes como flexibilidade e a adesividade so
influenciadas respectivamente pelas ligaes cruzadas e pela ciso das cadeias
polimricas. Outra propriedade que se altera a permeabilidade do polmero. Esta
depende da mobilidade do polmero e da fora de interao entre as ligaes
qumicas. A radiao UV tem forte influncia neste processo e as ligaes cruzadas
impedem a mobilidade, diminuindo a permeabilidade, porm aumentam o volume do
polmero, aumentando a reteno de lquidos e vapores no interior do EVA [19].
A degradao fototrmica produz uma reao qumica que resulta em cido
actico entre outros compostos. O cido actico produz um efeito corante, causando
a reduo da transmitncia do encapsulante e proporcionando ao mdulo perda de
potncia eltrica. Esta degradao explica s tonalidades amarelas fracas at
marrom escuro, sendo que a tonalidade depende da quantidade de cido actico
que foi produzido com a reao. A formao de pontos quentes tambm influencia
na degradao fototrmica localizada e conseqentemente a colorao destes
pontos [19].

2.3.2. Reaes entre Filme AR e EVA e Contatos Metlicos

A delaminao pode ser causada por uma reao qumica entre o


encapsulante e o filme anti-reflexo (AR) que reveste as clulas solares para reduo
da refletncia. Esta reao pode causar a degradao do polmero encapsulante
comprometendo a durabilidade do mdulo fotovoltaico.
Alguns casos conhecidos onde ocorreram delaminao em diferentes nveis
podem ser relatados como, por exemplo, a construo do sistema fotovoltaico
integrado a rede eltrica junto ao Ministrio Federal da Economia em Berlim,
41

Alemanha. Instalado em 1998, todos os mdulos, totalizando 100 kW, apresentaram


reao de degradao do encapsulante com o filme anti-reflexo [22]. A Figura 2.15
apresenta um mdulo deste sistema. Durante o mesmo perodo, foi relatado
delaminao em mdulos do sistema fotovoltaico de Bremen, Rheinbach Troisdorf e
sistemas em Munique, tambm na Alemanha [22]. Pode-se relatar tambm a falha
de mdulos ocorrida entre os anos 1995 e 1996 em um dos segmentos de 1 MW da
planta fotovoltaica de Toledo na Espanha [22], conforme mostra a Figura 2.16.
A oxidao metlica ocorre entre os contatos metlicos da clula fotovoltaica,
provenientes da umidade que ingressa no mdulo por problemas de vedao nas
bordas. O motivo falha do selante, aplicao incorreta do mesmo ou ruptura
destes elementos por agentes externos. A oxidao da malha metlica pode causar
curto-circuito e pontos quentes, comprometendo a qualidade do mdulo fotovoltaico
[26].

Figura 2.15. Delaminao em mdulos fotovoltaicos registrados no sistema interligado do Ministrio


Federal da Economia em Berlim, Alemanha [24].

Figura 2.16. Delaminao em mdulos fotovoltaicos da planta de 1 MW instalada em Toledo,


Espanha.
42

A delaminao tambm pode ser causada por bolhas de gases formadas na


interface do EVA com o vidro ou com a clula solar, podendo ser observadas
macroscopicamente no mdulo. A formao destas bolhas controlada por
parmetros do processo de laminao.
Outros fatores causadores de defeitos associados so propriedades fsicas
como a elasticidade e coeficiente de expanso. Existe diferena significativa entre o
coeficiente de expanso trmica dos materiais polimricos e de outros materiais
como o silcio, vidro, interconexes metlicas e quadro de alumnio. importante
salientar que os ciclos trmicos diurnos e noturnos podem resultar em fraturas das
interconexes ou mesmo separao entre os encapsulantes. Para evitar estes
problemas, o material utilizado para encapsular deve possuir propriedades bem
flexveis, dando conta desta gama de variaes dimensionais.
Fatores como a distribuio de temperatura de forma no uniforme no mdulo
fotovoltaico em operao, prejudicam o funcionamento e contribuem com a
degradao do mesmo. importante determinar a temperatura e uniformidade
trmica de uma clula ou mdulo. Para obter medidas de temperatura podem ser
utilizados alguns mtodos com tipos diferentes de sensores invasivos e no
invasivos. Para realizar esta medio so colocados os sensores de temperatura na
face posterior do mdulo fotovoltaico. Esta superfcie , na maioria dos casos,
constituda por uma lmina de Tedlar utilizado como proteo para o EVA
encapsulante das clulas. Deve-se ter cuidado ao medir a temperatura da clula
desta maneira devido ao fato de existir uma camada encapsulante entre a clula e a
superfcie do Tedlar. Este fato pode causar, conforme as condies do contorno,
uma diferena de temperatura entre a clula e a superfcie externa do Tedlar.
Outro problema experimental, inerente ao mtodo de medidas de temperaturas por
contato, est relacionado ao fato de que ao posicionar o sensor junto superfcie
que se deseja medir, este sensor est interferindo termicamente com o que se quer
medir. Para evitar este problema, pode-se usar clulas solares com tenso de
circuito aberto calibradas em funo da temperatura e irradincia incidente.
Outra forma de medir temperatura com termometria sem contato. O sensor
utilizado por estes equipamentos um radimetro sensvel parte do espectro
infravermelho que capta a irradiao trmica emitida pelos materiais. A Figura 2.17
mostra uma imagem infravermelha de um mdulo em curto-circuito com pontos
43

quentes em regies delaminadas. A delaminao pode provocar uma diferena de


temperatura maior que 30 C entre o ponto quente e o restante do mdulo,
reduzindo a eficincia de transferncia de calor [21].

Figura 2.17. Pontos quentes produzido pela delaminao [21].

As variaes trmicas contribuem com a degradao da fita metlica utilizada


para soldar as clulas. Esta estrutura sofre mudanas em conseqncia da
segregao dos metais estanho e chumbo contidos na liga da fita. A segregao
causa a formao de gros de tamanho maiores na fita metlica, conduzindo a
perdas eltricas resistivas e fadiga termomecnica. A Figura 2.18 mostra em corte
transversal segregao dos componentes de uma trilha da malha metlica aps
vinte anos de operao. Devido robustez do projeto e ao processo de solda
utilizado, nenhum sinal de estresse termomecnico foi identificado [21].

Figura 2.18. Pontos de junes e solda de um mdulo envelhecido naturalmente mostram a


segregao do SnPb [21].
44

Por medidas de resistncia srie possvel verificar a presena de


segregao nos contatos, pois a rea condutiva diminui, aumentado a resistncia.
Questes como esta causam o aquecimento demasiado de pontos especficos do
mdulo degradando o encapsulante e a proteo posterior.

2.4. Caractersticas Eltricas das Clulas Solares e Mdulos Fotovoltaicos

O esquema eltrico representado na Figura 2.19 o circuito resumido de


uma clula fotovoltaica, onde IL a corrente eltrica fotogerada e ID a corrente do
diodo no escuro.

Figura 2.19. Esquema eltrico ideal de uma clula fotovoltaica.

A corrente I da clula solar dada por:

I = IL ID (3.1)

Pode-se escrever a corrente ID em funo da tenso, conforme Equao 3.2


[9]:

eV
ID = I0 exp 1 (3.2)
mkTcel
45

onde I0 a corrente de saturao da clula no escuro, V a tenso aplicada aos


terminais da clula, e a carga do eltron, m o fator de idealidade (1 a 2 para silcio
cristalino), k a constante de Boltzmann e Tcel a temperatura absoluta da clula
solar.

Assim, a corrente da clula fotovoltaica, em funo da tenso pode ser


reescrita conforme Equao 3.3:

eV
I = IL I0 exp 1 (3.3)
mkTcel

Verifica-se na Equao 3.3 que na condio de curto-circuito (V=0) a corrente


do dispositivo a prpria corrente fotogerada (IL) e que se a clula for colocada em
circuito aberto (I = 0), ela se auto polarizar com tenso tal que a corrente de
polarizao equilibra a fotocorrente, sendo denominada de tenso de circuito aberto
[24].
Em uma clula real, outros fatores ocorrem adicionando ao circuito da clula
uma resistncia srie (RS) e uma resistncia paralela (RP), associada s correntes
de fuga (IP). O esquema eltrico apresentado na Figura 2.20 estendido aplicao
nos mdulos fotovoltaicos.

Figura 2.20. Esquema eltrico de uma clula fotovoltaica real.


46

Considerando estas resistncias, a Equao 3.3 torna-se:

eV V + IR S
I = IL I0 exp 1 (3.4)
mkTcel RP

Para um mdulo fotovoltaico com clulas idnticas conectadas em srie


pode-se apenas acrescentar um termo que informe o nmero de clulas conectadas
em srie conforme a equao:

eV V + IR S
I = IL I0 exp 1 (3.5)
NS mkTcel RP

onde NS o nmero de clulas associadas em srie.

2.4.1. Curva Caracterstica de Clulas e Mdulos Fotovoltaicos

Para caracterizar uma clula solar necessrio medir a curva da corrente


eltrica gerada em funo da diferena de potencial aplicada, quando a clula est
-2
exposta irradincia de 1000 W.m com o espectro solar AM1,5G e a uma
temperatura de 25 C.
A anlise da curva I-V de uma clula solar fornece dados e parmetros
fundamentais para que possam ser quantificados o seu desempenho e qualific-la
energeticamente. Segundo a ABNT(NBR 10899/2005) a curva caracterstica ou
curva I-V, definida como a representao dos valores da corrente de sada de um
conversor fotovoltaico, em funo da tenso, para condies preestabelecidas de
temperatura e de irradincia total.
A curva caracterstica de uma clula fotovoltaica de silcio monocristalino
apresenta um comportamento exponencial conforme mostra a Figura 2.21.
47

Figura 2.21. Caracterstica I-V de uma clula solar.

Conforme a Figura a 2.21, a corrente de curto-circuito, ISC, a corrente obtida


de uma clula iluminada quando a tenso em seus terminais nula:
ISC = I(V = 0) = IL (3.6)

A tenso de circuito aberto (Voc) a tenso onde os processos de


recombinao se igualam aos processos de gerao e, portanto, a corrente que se
extrai da clula nula, constituindo-se a mxima tenso eltrica que se pode obter
de uma clula solar. Em clulas de silcio industriais a Voc de aproximadamente 0,6
V. A Voc aumenta logaritmicamente com a irradiao incidente, sendo dada
conforme a equao:

kT IL
VOC = V(I = 0) = ln1 + (3.7)
e I0

O fator de forma (FF), uma grandeza que expressa quanto a curva


caracterstica se aproxima do valor ideal no diagrama I-V, sendo determinado
conforme a equao abaixo:

Pmx
FF = <1 (3.8)
VOCISC

onde Pmx a mxima potncia extrada da clula solar ou mdulo fotovoltaico.


48

Figura 2.22. Influncia da resistncia em paralelo e em srie, na curva I-V de um mdulo fotovoltaico.

A RS e RP so fatores que alteram a curva I-V de uma clula solar afetando o


FF e a eficincia da clula. A RS uma resistncia interna da clula e deve-se a
malha de metalizao, resistncia nos contatos e resistncia do prprio
semicondutor. A RP tem sua origem nas imperfeies da juno pn, que permitem a
existncia de fugas de corrente. Os efeitos das resistncias em srie e em paralelo
influenciam o fator de forma, fazendo com que ele seja reduzido e
conseqentemente a potncia diminua como apresentado na Figura 2.22.

2.5. Procedimentos para Certificao

Os procedimentos a serem utilizados nos ensaios ambientais seguem as


recomendaes do Regulamento Especfico para uso da Etiqueta Nacional de
converso de Energia Sistemas e Equipamentos para Energia Fotovoltaica,
Programa Brasileiro de Etiquetagem do Instituto Nacional de Metrologia
Normalizao e Qualidade Industrial (PBE-INMETRO), com base na norma
Internacional IEC 61215 (1993) que estabelece as exigncias e testes para
qualificao e homologao de mdulos fotovoltaicos adequados a operar em
condies externas por longos perodos de tempo. A Figura 2.23 e o Quadro 2.1
apresentam um resumo destes testes necessrios para a certificao.
49

Figura 2.23. Seqncia de testes recomendado pelo PBE/INMETRO com base na norma IEC 61215.

A norma IEC 61215 indica que se (STC, standard test conditions) deve
determinar o desempenho eltrico dos mdulos nas condies padro de teste:
espectro AM1,5G, temperatura da clula solar de (25 2 C), irradincia de 1000
W/m2. A norma permite que seja utilizada radiao solar natural ou simulador classe
A, em conformidade com os requisitos da Norma IEC 904-3 e acrescenta que a
caracterstica corrente-tenso do mdulo nas condies padro de teste dever ser
determinada de acordo com a Norma IEC 904-1. Quando necessrio, pode-se fazer
as correes de temperatura e irradincia, em conformidade com a IEC 891. Todas
essas normas se referem aos dispositivos fotovoltaicos de silcio cristalino [31].
50

Quadro 2.1. Resumo da seqncia de testes recomendado pelo PBE-INMETRO com referncia s
normas IEC 61215.

Teste Ttulo Condies de teste


1 Inspeo Visual Defeitos visuais no significativos
Temperatura da Clula 25 C;
Irradincia: 1000 W/m2 ,
2 Desempenho nas STC com referncia IEC 904-3 da
distribuio espectral da irradincia
solar
1000 Vdc + o dobro da tenso de
circuito aberto do sistema STC por 1
3 Teste de Isolamento minuto.
A resistncia de isolamento no pode
ser menor que 50 M
Cinco exposies de 1 h 1000 W/m2
de irradincia
4 Resistncia ao Ponto Quente
na condio de ponto quente (pior
situao)
5 Ciclo Trmico 50 ciclos de - 10 C + 85 C

6 Umidade e Aquecimento 10 ciclos - 40 C a + 85 C,


85 % de umidade relativa do ar 40 C
7 Robustez dos Conectores conforme IEC 68-2-21
8 Toro ngulo de deformao: 1,2
9 Ciclo Trmico 200 ciclos de - 10 C a + 85 C
1000 (h) por 85 C,
10 Estanqueidade
85 % de umidade relativa do ar
Dois Ciclos de 2.400 Pa de carga
uniforme,
11 Resistncia Carga Mecnica aplicada por 1 h nas superfcies frontal
e traseira

2.5.1. Critrios de Aprovao

Cada amostra considerada qualificada e pode ser homologada pela IEC


61215 se reunir os seguintes critrios:
a mxima degradao da potncia de sada nas condies padro de
teste no deve exceder o limite recomendado aps cada teste de ou
de 8 % aps cada seqncia de testes;
nenhuma amostra deve ter demonstrado descontinuidade no circuito
eltrico.
no deve apresentar evidncia visual de defeito importante.
51

Se dois ou mais mdulos do lote no atenderem aos critrios estabelecidos


acima, o modelo dos mdulos estar reprovado no teste de qualificao. Se apenas
um mdulo do lote falhar em qualquer teste outros dois do mesmo lote amostrado
conforme recomendado no item 4.1.1 da norma IEC 61215, podero ser submetidos
toda seqncia de testes pertinentes desde o incio. Se um ou ambos desses
mdulos tambm falharem sero considerados sem condies de serem
qualificados. Se, no entanto, ambos os mdulos passarem na seqncia de testes,
caber ao tcnico que os executa avaliar se renem ou no qualificao.
Foram selecionados os testes apresentados no Quadro 2.2 para analisar os
materiais utilizados no encapsulamento dos prottipos desenvolvidos no mbito
desta dissertao. Os testes 5 e 7, embora no previstos pelo PBE/INMETRO, so
recomendados pela IEC 61215 e foram realizados tendo em vista as possveis
degradaes proporcionadas pela radiao UV.

Quadro 2.2. Resumo da sequncia de procedimentos utilizados neste trabalho.

Teste Ttulo Condies de teste


1 Inspeo Visual Defeitos visuais no significativos

Temperatura da clula 25 C;
2
2 Desempenho nas STC Irradincia: 1000 W/m ,
com referncia a IEC 904-3, distribuio
espectral da irradincia solar
3 Ciclo Trmico 50 ciclos de - 10 C a + 85 C
10 ciclos - 10 C a + 85 C,
4 Umidade e Congelamento
85 % de umidade relativa do ar a 40 C
2
5 Teste de Exposio Externa 60 kWh/m de irradiao solar
6 Teste de Nvoa em Salina Temperatura 35 C, 96 h durao
7 Teste de Exposio Ultra Violeta 7,5 kWh/m UVA 15 kWh/m UVB

2.5.2. Inspeo Visual

2.5.2.1. Objetivo

Detectar qualquer defeito visual no mdulo.


52

2.5.2.2. Procedimentos

Cuidadosamente inspecionar cada mdulo sob iluminao de pelo menos


1000 lux nas seguintes condies:
a) Superfcies apresentando rachaduras, mal preparadas ou faltando um
pedao;
b) Clulas quebradas;
c) Clulas rachadas;
d) Falhas nos pontos de interconexo ou de juntas;
e) Clulas se tocando ou tocando a moldura;
f) Falta de adeso entre os materiais;
g) Bolhas ou delaminao formando um caminho contnuo entre qualquer
parte do circuito eltrico,
h) Materiais plsticos danificados;
i) Defeito nas terminaes, expondo partes eltricas;
j) Qualquer outra condio que possa afetar o desempenho.
k) Anotar e/ou fotografar a natureza e posio de cada rachadura, bolhas ou
lascas, etc., as quais podero piorar e afetar negativamente o
desempenho do mdulo nos testes subseqentes.

2.5.3. Teste de Exposio Externo

2.5.3.1. Objetivo

Fazer uma avaliao preliminar da habilidade do mdulo em resistir


condies externas e revelar quais os efeitos da degradao que podem no ser
detectados por testes de laboratrio.

2.5.3.2. Aparatos Necessrios

Medidor de irradiao solar, incerteza de 10 % e estrutura para montar o


mdulo, conforme recomendado pelo fabricante, co-planar ao medidor de irradiao.
53

2.5.3.3. Procedimentos

a) Curto-circuitar o mdulo e montar o mesmo ao ar livre, conforme


recomendado pelo fabricante, co-planar ao medidor de irradiao.
Qualquer dispositivo de proteo contra ponto quente deve ser instalado
antes que o mdulo seja testado;
b) Submeter o mdulo a uma irradiao totalizando 60 kWhm-2, medida com
equipamento especfico, medido pelo monitor sob condies comuns ao ar
livre, definido na IEC 721-2-1.

2.5.3.4. Requisitos Finais do Teste

a) No ter evidncia visual de um defeito importante;


b) A mxima degradao da potncia de sada no deve exceder 5 % do
valor medido antes do teste;
c) A resistncia de isolamento deve demonstrar as mesmas medidas iniciais
solicitadas.

2.5.4. Teste de Exposio Radiao Ultravioleta

2.5.4.1. Objetivo

Determinar a capacidade do mdulo em resistir exposio radiao


ultravioleta (UV):
a) temperatura de 60 C;
b) irradiao de 15 kWh.m- em UVA (320 nm a 400 nm) e 7,5 kWh.m- em
UVB (280 nm a 400 nm).

2.5.4.2. Aparatos Necessrios

a) Cmara de irradiao UV, com sensor de irradiao e correo durante


exposio;
b) Estrutura para montar o mdulo, no mesmo plano que o sensor de
irradiao.
54

2.5.4.3. Procedimentos

a) Submeter os mdulos a uma irradiao de 15 kWh.m- UVA e 7,5 kWh.m-


UVB, conforme medido pelo sensor, temperatura de 60 C.

2.5.4.4. Requisitos Finais do Teste

a) No ter evidncia visual de um defeito importante.


b) A mxima degradao da potncia de sada no deve exceder 5 % do
valor medido antes do teste.
c) A resistncia de isolamento deve demonstrar as mesmas medidas iniciais
solicitadas.

2.5.5. Teste de Ciclos Trmicos

2.5.5.1. Objetivo

Determinar a capacidade do mdulo em resistir a ms combinaes, fadiga e


outros estresses causados por repetidas variaes de temperatura.

2.5.5.2. Aparatos

a) Uma cmara climtica com controle de temperatura, com circulao de ar


interna para evitar condensao no mdulo durante o teste, com
capacidade para submeter um ou mais mdulos no ciclo trmico.
b) Estrutura para montagem e suporte dos mdulos na cmara, de forma
que a circulao livre do ar seja permitida. A conduo trmica da moldura
ou suporte dever ser baixa, de forma que, para objetivos prticos o
mdulo esteja termicamente isolado.
c) Medio e registro da temperatura dos mdulos com incerteza de 1 C.
Um sensor de temperatura deve ser anexado na superfcie frontal ou
traseira do mdulo, num ponto mdio. Se mais de um mdulo for ensaiado
simultaneamente, bastar monitorar a temperatura de uma amostra
representativa.
55

d) Recursos de monitoramento, durante todo o teste, de continuidade do


circuito interno de cada mdulo.
e) Instrumentao para monitoramento da integridade de cada mdulo,
verificando o isolamento entre um de seus terminais e o quadro ou
estrutura de suporte.

2.5.5.3. Procedimentos

a) Instala-se o mdulo na cmara temperatura ambiente. Se o quadro for


mal condutor de eletricidade, monta-se o mdulo num suporte metlico,
simulando uma estrutura de suporte aberto.
b) Conecta-se o equipamento de monitorao ao sensor de temperatura.
Conecta-se o instrumento para medida de continuidade eltrica atravs
dos terminais do mdulo. Conecta-se o monitor de isolamento entre um
terminal e o quadro de suporte.
c) Fecha-se a cmara e com o ar circulando internamente a uma velocidade
de no menos que 2 m/s, submete-se o mdulo a ciclos de temperatura
entre (- 10 2) C e + (85 2 )C, de acordo com o perfil de temperatura
da Figura 2.24 . A taxa de mudana da temperatura entre os extremos alto
e baixo no pode exceder 100 C/h e a temperatura do mdulo deve ficar
estvel em cada extremo por um perodo de no mnimo 10 minutos. O
ciclo trmico no pode exceder 6 h. O numero de ciclos deve ser de 50 ou
de 200 ciclos, segundo a seqncia de testes prevista na Figura 2.23.

Figura 2.24. Seqncia de temperatura utilizada nos testes de ciclos trmicos.


56

2.5.5.4. Requisitos Finais do Teste

a) No ter evidncia visual de um defeito importante.


b) A mxima degradao da potncia de sada no deve exceder 5 % do
valor medido antes do teste.
c) A resistncia de isolamento deve demonstrar as mesmas medidas iniciais
solicitadas.

2.5.6. Teste de Umidade e Congelamento

2.5.6.1. Objetivo

Determinar a capacidade do mdulo em resistir condies de alta


temperatura e alta umidade seguidas por temperaturas baixas.

2.5.6.2. Aparatos

a) Uma cmara climtica conforme apresentado na Figura 2.25 com controle


automtico de temperatura e umidade, capaz de submeter um ou mais
mdulos a um ciclo de umidade e congelamento para temperaturas
negativas.
b) Medio e registro da temperatura do mdulo com uma incerteza de 1
C.
c) Recursos para monitoramento, durante todo o teste, da continuidade do
circuito interno de cada mdulo.
d) Instrumentao para monitoramento da integridade de cada mdulo,
verificando o isolamento entre seus terminais e o quadro do mdulo ou
estrutura de suporte.
57

Figura 2.25. Desenho esquemtico de uma cmara de ciclagem trmica e congelamento [27].
2.5.6.3. Procedimentos

a) Instala-se o mdulo na cmara temperatura ambiente, num ngulo


maior que 5 em relao horizontal. Se o quadro for mau condutor de
eletricidade, monta-se o mdulo num suporte metlico, simulando uma
estrutura de suporte aberto.
b) Conecta-se o equipamento de monitorao ao sensor de temperatura.
Conecta-se o instrumento para medida de continuidade eltrica atravs
dos terminais do mdulo. Conecta-se o monitor de isolamento entre um
terminal e o quadro de suporte.
c) Aps o fechamento da cmara, submete-se o mdulo a 10 ciclos
completos de acordo com o perfil traado da Figura 2.26. As temperaturas
mnimas e mximas devem estar dentro de 2 C dos nveis
especificados e a umidade relativa deve ser mantida dentro de 5 % do
valor especificado para todas as temperaturas acima da temperatura
ambiente.
d) Durante todo o teste, registra-se a temperatura e monitora-se o mdulo
detectando qualquer circuito aberto ou falha de aterramento que possa
ocorrer durante a exposio.
58

Figura 2.26. Ciclo de temperaturas para o teste de umidade e congelamento.

2.5.6.4. Requisitos Finais do Teste

a) No ter evidncia visual de um defeito importante.


b) A mxima degradao da potncia de sada no deve exceder 5 % do
valor medido antes do teste.
c) A resistncia de isolamento deve demonstrar as mesmas medidas iniciais
solicitadas.

2.5.7. Teste de Nvoa Salina

Este ensaio recomendado pela norma IEC 1701 (1995) - Ensaio de


Corroso por Nvoa Salina em Mdulos Fotovoltaicos - que referencia a norma IEC
68-1 (1988) - Ensaios Ambientais: Parte 1, Guia Geral e a Norma IEC 68-2-11(1981)
- Ensaios Ambientais: Parte 2, Teste Ka. O PEB/INMETRO recomenda a verificao
de resistncia corroso pelo motivo do Brasil ser um pas de extensa costa
litornea. Este ensaio avalia a compatibilidade dos materiais, qualidade e
uniformidade do encapsulamento.
59

2.5.7.1. Objetivo

Este ensaio tem como objetivo determinar a resistncia do mdulo corroso


por nvoa salina.

2.5.7.2. Aparato

Uma cmara salina com um pulverizador com controle automtico de


temperatura e umidade e analisador de soluo salina. O equipamento deve ser
capaz de submeter um ou mais mdulos a um ciclo de nvoa salina por no mnimo
de 96 h.

2.5.7.3. Procedimentos

Posicionar os mdulos dentro da cmara salina com uma inclinao de 5 at


30. A soluo salina deve ser composta de cloreto de sdio (NaCl) de alta
qualidade, contendo quando seco, no mais que 0,1 % de sdio iodado e no mais
que 0,3 % de impurezas no total.
a) A soluo deve ser separada dissolvendo-se 5 partes por peso de sal em
95 partes por peso de gua destilada ou desmineralizada.
b) O valor do pH da soluo deve ser entre 6,5 e 7,2, a temperatura de (35
2) C.
c) O valor do pH deve ser mantido dentro da faixa estipulada e verificado a
cada 48 h.
d) A temperatura de operao deve ser de 35 C, onde a entrada da soluo
salina, tambm deve ter a mesma temperatura.
e) Durao do teste: o teste durou 96h.

2.5.7.4. Restabelecimento

Conforme a norma IEC 60068-2-11, as amostras pequenas, salvo outras


recomendaes pertinentes, devem ser lavadas em gua destilada e submetidas a
um jato de ar comprimido para remover gotas de gua.
60

2.5.7.5. Requisitos Finais do Teste

a) No ter evidncia visual de um defeito importante.


b) A mxima degradao da potncia de sada no deve exceder 5 % do
valor medido antes do teste.
c) A resistncia de isolamento deve demonstrar as mesmas medidas iniciais
solicitadas.
61

3. FABRICAO E ANLISE DE PROTTIPOS

3.1. Introduo

Para atingir o objetivo proposto neste trabalho, foram fabricados dois tipos de
prottipos, testando dois tipos de vedantes. Os prottipos tm a finalidade de
simular as condies das clulas fotovoltaicas dentro do mdulo fotovoltaico. Duas
situaes foram verificadas: 1) na situao mais favorvel a ao da delaminao
por umidade, a clula est prxima das bordas do mdulo fotovoltaico; 2) na outra
situao, a clula est distante das bordas. Ambos os prottipos visam analisar a
reao de dois materiais vedantes de bordas e dos materiais de fechamento EVA e
cobertura posterior frente presena de umidade, variaes trmicas, exposio
radiao UV e exposio ao tempo em condies externas, como recomendado e
especificado pelas normas do PBE/INMETRO e IEC 61215.
Os materiais em questo so utilizados na indstria de mdulos fotovoltaicos
sendo eles respectivamente os vedantes silicone PV 804, marca Dowcorning e a fita
adesiva dupla face Duplomont 918, marca Lohmann. O filme de EVA fabricado
pela empresa Etimex, modelo VistaSolar 485, de cura padro (lenta) e o material de
cobertura posterior o copolmero fluorado da empresa Krempel, modelo AKASOL
PTL 3-38/75 TWH, com 180 m de espessura, PVF+PET+PVF. As clulas solares
de 80 mm x 80 mm foram fabricadas segundo o processo da Figura 3.1 nos
laboratrios do NTSolar da PUCRS. Estas clulas foram metalizadas por serigrafia
e o filme anti-reflexo utilizado foi xido de titnio.
Para a montagem dos prottipos, foi utilizado vidro comum, isto , com alto
teor de ferro, encontrado no mercado local. As placas de vidro no foram
temperadas.
62

3.2. Descrio dos Prottipos

Os prottipos esto descritos como Prottipo A e Prottipo B. O prottipo A


foi desenvolvido para demonstrar a pior situao de uma clula fotovoltaica em um
mdulo fotovoltaico frente presena de umidade advinda das bordas. No prottipo
B, a clula est centralizada em relao s dimenses do mdulo. Foram fabricadas
e testadas 25 unidades do prottipo A e 25 unidades dos prottipos B conforme
representado na Figura 3.1.

Figura 3.1. Esquema representativo do prottipo A e prottipo B.

3.2.1. Tcnicas de Caracterizao

Os testes propostos tero como linha base a anlise inicial e final de


medidas de refletncia e dos parmetros eltricos da curva caracterstica I-V. A
anlise de refletncia consistiu em medir a refletncia inicial de trs pontos de cada
mdulo monitorando as variaes resultantes aps cada teste.

3.2.1.1. Caracterizao ptica

Os prottipos foram caracterizados opticamente para observar possveis


alteraes nas propriedades pticas dos materiais encapsulantes e da prpria clula
fotovoltaica. A caracterizao foi realizada antes de iniciar os testes de
envelhecimento previstos neste trabalho e aps a realizao dos mesmos.
63

Para efetuar estas medidas de refletncia, foi usado o espectrofotmetro


Lambda 950 marca Perkin-Elmer. Trata-se de um equipamento que permite medir a
transmitncia e a refletncia nas regies do ultravioleta, visvel e infravermelho
prximo para comprimentos de onda que variam de 185 nm a 3000 nm. Est
constitudo de duas fontes de radiao e apresenta alta estabilidade.
A fonte que opera na regio espectral do ultravioleta e parte do visvel est
constituda de uma lmpada de deutrio (tempo de vida: 1.000 h). As lmpadas de
tungstnio halgenas (tempo de vida de 10.000 h) irradiam na regio do visvel e
infravermelho prximo. A Figura 3.2 mostra o espectrofotmetro Lambda 950.

Figura 3.2. Espectrofotmetro Lambda 950.

Este equipamento possui duas redes de difrao, que tm a funo de


decompr a radiao policromtica em vrios intervalos de comprimento de onda,
obtendo um feixe de radiao quase monocromtica. Esta radiao, aps atravessar
um compartimento contendo a amostra, atinge o detector, onde o sinal captado e
enviado a um registrador. Este espectrofotmetro est ligado a um microcomputador
que armazena os dados dos espectros transmitidos ou refletidos durante a medio
[31].
A caracterizao ptica se baseou na medida de refletncia espectral
hemisfrica sendo verificada em trs pontos, descritos nas Figuras 3.3, 3.4 e 3.5.
Foi utilizada a esfera integradora de 150 mm de dimetro, sendo que a superfcie de
medida um circulo de 25 mm de dimetro.
Para realizar a medida de refletncia aps os testes, os prottipos tiveram
que ser desmontados, isto , foi retirado o perfil de alumnio.
64

(a)
100

80
Refletncia (%)

60

40

20

Face frontal Filme Akasol


0
300 450 600 750 900 1050 1200 1350
Comprimento de Onda (nm)
(b)
Figura 3.3. (a) Pontos de medida e (b) curva de refletncia mdia do conjunto Vidro + EVA + filme
Akasol.

(a)
100
Refletncia da regio das clulas solares

80
Refletncia (%)

60

40

20

0
300 450 600 750 900 1050 1200 1350
Comprimento de Onda (nm)
(b)
Figura 3.4. (a) Pontos de medida e (b) curva de refletncia mdia do conjunto Vidro + EVA + clula
solar.
65

(a)

100

80
Refletncia (%)

60

40

20

Filme Akasol face posterior


0
300 450 600 750 900 1050 1200 1350
Comprimento de Onda (nm)

(b)
Figura 3.5. (a) Pontos de medida e (b) curva de refletncia mdia do filme Akasol na face posterior.

Como parmetro de comparao, ser usada a refletncia mdia no intervalo


de comprimentos de onda de 350 nm a 1300 nm, denominada de m. Esta
refletncia foi calculada para cada amostra e a Tabela 3.1 apresenta o valor mdio
de m dos grupos de 25 amostras de cada prottipo.

Tabela 3.1. Refletncia mdia no intervalo de 350 nm1300 nm, para as amostras usadas nesta
dissertao.

Conjuntos Prottipo Quantidade m


Vidro + EVA + A 25 36,8 0,5
filme Akasol B 25 38,6 2,6
Vidro + EVA + A 25 7,8 0,6
clula solar B 25 8,2 0,6
Filme Akasol A 25 69,2 0,8
face posterior B 25 68,5 1,4
66

3.2.1.2. Caracterizao Eltrica

Para caracterizar uma clula solar necessrio aplicar uma diferena de


potencial sobre ela e medir a corrente eltrica gerada. Para isso, necessita-se de
uma fonte de tenso varivel e de dois multmetros, um para medir a corrente
eltrica e outro para medir a tenso aplicada na clula. Neste procedimento, se faz
necessrio utilizar tambm um microcomputador para registrar e armazenar os
dados e o aplicativo computacional IVK8 que automatiza o processo de medida
desenvolvido com o software, neste caso o VEE da Agilent Technologies [28].
Para que possam ser analisados visualmente, os resultados devem ser
representados em um grfico. Para auxiliar na anlise dos dados, tambm devem
ser apresentados as seguintes informaes: tenso de circuito aberto (Voc), corrente
de curto-circuito (Isc) e densidade de corrente eltrica (Jsc) de curto-circuito, tenso
eltrica (Vmx) e corrente eltrica (Imx) no ponto de mxima potncia, potncia
mxima (Pmx), eficincia da clula () e fator de forma (FF), apresentadas na Figura
3.6.

Figura 3.6. Resultados da caracterizao eltrica de uma clula solar com o simulador solar AD1000 e
o aplicativo IVK8.
67

A Figura 3.7 mostra o equipamento utilizado para a medio da curva (I-V).


Este equipamento, o simulador solar, foi desenvolvido e caracterizado por Eberhardt
[28], sendo constitudo pelos seguintes subsistemas: iluminao, refrigerao,
vcuo, plataforma termostatizada e um sistema de caracterizao eltrica. Com este
equipamento possvel caracterizar clulas solares sob condies padro, isto ,
temperatura da clula de 25 C, distribuio espectral correspondente ao padro
AM1,5G e irradincia G incidente de 1000 Wm-2.
A caracterizao eltrica consiste em medir a curva caracterstica das clulas
solares nas condies padro. Esta foi realizada em trs etapas do processo de
fabricao dos prottipos, sendo respectivamente: pr-seleo das clulas
fotovoltaicas, verificao de efeitos resistivos associados soldagem e
caracterizao dos prottipos em ambiente externo. Aps os testes de
envelhecimento todas as amostras foram medidas novamente em ambiente externo.

Figura 3.7. Simulador solar e sistema de caracterizao eltrica de clulas solares.

3.2.1.3. Pr-Seleo das Clulas

A caracterizao inicial teve por objetivo selecionar clulas semelhantes em


eficincia e fator de forma, e formar um banco de dados de caractersticas eltricas
de cada clula para posterior comparao e anlise dos testes de certificao. A
Figura 3.8 mostra a caracterizao inicial das clulas realizada no simulador solar.
68

Figura 3.8. Caracterizao eltrica de clulas fotovoltaicas.

3.2.1.4. Verificao de Efeitos Resistivos Associados Soldagem

A segunda etapa de caracterizao ocorreu aps a soldagem de fitas


metlicas para conexes entre clulas, sendo que este procedimento est descrito
no item 3.2.2. Esta caracterizao importante para verificar efeitos resistivos dos
contatos avaliando o processo de soldagem.

3.2.2. Caracterizao dos Prottipos em Condies Externas

O objetivo desta caracterizao avaliar o comportamento eltrico dos


prottipos pela curva caracterstica I-V. O procedimento para esta calibrao exige
que o dia esteja com cu claro, isento de nuvens. A irradincia G incidente deve ser
prxima de 1000 Wm-2 e permanecer constante durante o perodo da medio.
Esta medio necessita de um plano com rea suficiente para apoiar as
amostras e um piranmetro. Assim, foi utilizada uma plataforma de madeira com
ajuste angular de 0 at 90 e um dispositivo que indica em qual ngulo e direo a
plataforma deve estar posicionada para que o plano fique normal aos raios solares.
Os prottipos foram expostos sobre a plataforma com antecedncia de uma hora ao
incio da caracterizao, garantindo a estabilidade trmica dos mesmos com o meio.
Foi utilizado um sistema de medio e aquisio de dados similares ao
utilizado para caracterizar as clulas no simulador solar [28], porm para a
caracterizao externa no foi usado o sistema de iluminao e de controle de
69

temperatura. Os dados foram posteriormente tratados e aplicados em uma planilha


de Excel, baseando-se nas equaes propostas por Lorenzo [29] para corrigir as
caractersticas eltricas em funo da temperatura e irradincia. A Figura 3.9 mostra
o aparato utilizado para a obteno das curvas I-V.
A Figura 3.10 apresenta as caractersticas das clulas solares no prottipo B,
na temperatura de operao e corrigidas para 25 C, 1000 Wm-, antes e depois de
passarem pelo teste de exposio externa (irradiao maior que 60 kWhm-).

Figura 3.9. Caracterizao eltrica dos prottipos A e B mostrando a plataforma, os prottipos e os


equipamentos utilizados.

2,0

1,8 ,, , , ,, , , , , ,, , ,,,,,,,,,,,,,,,,
,,,,,,,,,,,,,,,,,,,, ,,, ,,,,,
, ,,, ,,, ,, ,,,,, ,,, , ,,,, ,, , , ,
, , , , , , , , , , , , ,,,,,, ,,,, ,, , ,, , ,
,,,, ,,,,, , , ,
1,6 ,, ,, , ,
, ,
,, , ,, ,
Corrigido antes ,, ,, , ,
1,4 do teste ,, ,
,
T = 25 C ,, , ,
G = 1000 W/m2 ,
Corrente (A)

1,2 Corrigido aps o ,


teste , , ,
, , ,
T = 25 C , ,
1,0 G = 1000 W/m2 , , ,
, ,
, , ,
0,8 Caracterizado , ,, ,
antes do teste ,
T = 45,2 C , ,,
0,6 , ,
G = 968 W/m2 , , , ,
, ,
, ,
0,4 Caracterizado , ,
aps o teste , , ,
T = 51,2 C , ,
0,2 , , ,
G = 944 W/m2 , ,
, ,
0,0 , , ,,
0 0,1 0,2 0,3 0,4 0,5 0,6
Tenso (V)

Figura 3.10. Curva Caracterstica I-V da clula do prottipo B, amostra 12.


70

Para determinar a temperatura dos prottipos durante a medio das


caractersticas eltricas sob radiao solar, foram fabricados prottipos A e B com
sensores PT-100, previamente calibrados, instalados entre a clula e a cobertura
posterior. Assim, pela semelhana entre estes prottipos e aqueles que passaram
pelos ensaios, pode-se estimar a temperatura dos mdulos. Alm desta tcnica,
tambm foram obtidas estimativas da temperatura dos mdulos utilizando uma
cmara de imagens trmicas, marca Fluke, modelo Ti30. A Figura 3.11 apresenta
uma imagem termogrfica e a Figura 3.12 os prottipos de teste.

Figura 3.11. Imagem termogrfica dos prottipos A e B no teste de exposio em condies externas.

Figura 3.12. Medio da resistncia dos PT-100 para converso em temperatura dos prottipos A e B
durante teste de exposio em ambiente externo.
3.3. Seqncia de Fabricao
71

3.3.1. Caracterizao Eltrica em Laboratrio e Seleo das Clulas

Para o desenvolvimento deste trabalho, foram fabricados dois lotes de


cinqenta clulas fotovoltaicas monofaciais de silcio nonocristalino Cz, de 80 mm x
80 mm, utilizando o processo de fabricao padro para estruturas n+pn+
desenvolvido pela equipe do Ncleo Tecnolgico de Energia Solar da PUCRS [32].
Logo aps a fabricao das clulas, as mesmas foram caracterizadas eletricamente
de acordo com a descrio apresentada no item 3.1.1.2. Aps esta caracterizao
inicial, as clulas foram classificadas e selecionadas de acordo com a eficincia e
fator de forma e posteriormente seguiram para o processo de soldagem e
laminao.

3.3.2. Soldagem

As clulas caracterizadas foram encaminhadas para receber solda nas faces


frontal e posterior. A solda frontal foi realizada por um equipamento automatizado
baseado em radiao infravermelha advinda de um conjunto de lmpadas
halgenas, conforme ilustra a Figura 3.13.

Figura 3.13. Clulas solares no equipamento de soldagem.

A face posterior das clulas fotovoltaicas foi soldada manualmente. Foi


utilizado uma estao de solda e uma placa aquecedora de uso laboratorial. A
superfcie da placa aquecedora foi revestida com uma folha de alumnio, evitando
72

sujeiras e o contato direto com a mesma. Foi utilizado um fluxante para auxiliar a
soldabilidade entre a fita de prata e os contatos da clula solar. Aps a soldagem,
as clulas foram novamente submetidas caracterizao eltrica conforme descrito
no item 3.1.1.4.

3.3.3. Laminao

A preparao para a laminao iniciou com o procedimento de limpeza dos


vidros. Os vidros foram limpos com gua e detergente especial, sem presena de
sdio. Logo em seguida foram secos com jato de ar comprimido filtrado e seco e
armazenados em um local apropriado, evitando-se o acmulo de p e impurezas.
Os materiais de laminao Akasol e EVA-Etimex foram separados e cortados
nas mesmas dimenses que os vidros, sendo estas de 180 mm x 180 mm.
Previamente foram cortadas cerca de cento e trinta clulas fotovoltaicas, para serem
colocadas ao lado das clulas inteiras nos prottipos. Para efetuar o corte foi
utilizado um sistema de corte laser.
Por fim, os vidros passaram novamente por uma limpeza utilizando lcool
isoproplico aplicado diretamente sobre a superfcie e espalhado com a ajuda de um
pano especial para salas limpas. Esta limpeza importante para retirar eventuais
resduos de gordura e particulados, antes da laminao.
O processo de laminao ocorreu em uma laminadora da marca PENERGY
modelo L150A, aonde os prottipos foram submetidos ao ciclo de presso e
temperatura apresentado na Tabela 3.2.

Tabela 3.2. Processo de laminao utilizado para fabricao dos prottipos A e B.

Temperatura Presso Sup. Presso Inf.


Passos
(C) (mbar) (mbar)
0 70 0 1000
1 70 0 1000
2 90 0 1000
3 110 0 0
4 150 1000 0
5 150 1000 0
6 135 1000 1000
7 130 0 1000
8 130 0 1000
73

Ao todo, setenta e dois prottipos foram laminados em quatro etapas, e


selecionados cinqenta para serem utilizadas nos testes. A Figura 3.14 apresenta
em seqncia os prottipos (a) dentro da laminadora, (b) e quando os mesmos j
esto fora do equipamento.

Inicialmente, aps a retirada dos prottipos da laminadora, foi realizada uma


inspeo visual a fim de constatar algum defeito visvel como de clulas trincadas ou
vidros quebrados. Aps a verificao, foi utilizado um estilete, para aparar o excesso
de filme posterior Akasol e EVA.

(a) (b)
Figura 3.14. Prottipos em etapa de laminao.

Seguindo o fluxo do processo de fabricao, os prottipos foram limpos


novamente com lcool isoproplico e acondicionados em um local seco e escuro at
a realizao das medidas de refletncia.

3.3.4. Selos de Vedao e Montagem do Alumnio nos Prottipos

Esta fase de fabricao dos prottipos tem como objetivo fornecer proteo
contra a ao a de intempries, impactos mecnicos, tores, umidade entre outros.
Para realizar o fechamento dos prottipos foram utilizados dois diferentes selos de
bordas. De 25 mdulos do prottipo A, 13 mdulos foram selados com o silicone PV
804 e 12 mdulos foram selados com a fita dupla face Lohmann Duplomont 918.
Esta mesma distribuio foi seguida para os prottipos B. Foi utilizado o mesmo
74

perfil de alumnio em ambos prottipos, desenvolvido no mbito do projeto Planta


Piloto de Produo de Mdulos Fotovoltaicos com Tecnologia Nacional [33].
A aplicao dos selantes foi realizada manualmente. Para aplicar o silicone
PV 804 foi necessrio utilizar um aplicador de silicone convencional tipo mecnico,
para tubos de 300 ml. Na aplicao da fita dupla face nenhum dispositivo auxiliar foi
utilizado, sendo posicionada manualmente e cortada com auxlio de um de estilete.
Para a instalao do perfil de alumnio foram utilizadas as ferramentas necessrias
de acordo com o tipo de selante. De forma geral, foi necessrio um martelo de
borracha, um sargento tipo marceneiro, uma furadeira de bancada e parafusos.
Aps todos os mdulos dos prottipos A e B estarem completos com o selo
de bordas e a moldura de alumnio, foi utilizado o silicone PV 804 para vedar os
terminais eltricos das clulas. Este procedimento teve por objetivo impedir que a
umidade penetre nos mdulos pelos terminais eltricos visto que estes prottipos
no dispunham de uma caixa de conexes.

3.4. Testes e Resultados

Os testes utilizados para este trabalho tm a finalidade de avaliar os mdulos


fotovoltaicos, neste caso os prottipos A e B, verificando se ocorre ou no alguma
forma de degradao proporcionada pelas condies dos testes. A verificao foi
realizada por parmetros eltricos e pticos sendo que os prottipos foram
caracterizados antes e aps cada teste.

3.4.1. Teste de Nvoa Salina

Os ensaios de corroso foram realizados no LABELO, Laboratrios


Especializados em Eletro-Eletrnica, Calibrao e Ensaios da PUCRS. Foi utilizado
um equipamento SS Salt Spray, marca Equilam. Este equipamento possui sistema
de controle de temperatura, umidade e coletor de soluo salina para realizar
correes durante o ensaio, contando tambm com aquecimento indireto da cmara
de ensaio por meio de uma jaqueta dgua ao redor de toda a cmara e um sistema
de atomizao com antiblocante, que garante uma nvoa uniforme e sem
entupimento do bico de atomizao [30].
75

Os prottipos foram submetidos ao teste de nvoa salina durante 96 h


contnuas com temperatura constante de 35 C. As amostras foram dispostas com
ngulo de 48, pois este ngulo ideal para sistemas autnomos localizados na
latitude de Porto Alegre. A Figura 3.15 mostra os prottipos na cmara sendo
possvel verificar o atomizador da soluo salina do equipamento, que est
localizado no centro da imagem.

Figura 3.15. Cmara de corroso com as amostras antes do ensaio.

3.4.1.1. Inspeo Visual

Na inspeo visual no foi constatado nenhum defeito visual importante nas


clulas e nos materiais encapsulantes. No entanto, observou-se a oxidao do
quadro de alumnio, resultado esperado, pois o mesmo no possua tratamento de
anodizao. A Figura 3.16 apresenta um prottipo depois do teste.

Figura 3.16. Prottipo B aps o teste de nvoa salina. Pode-se observar a oxidao do perfil de
alumnio.
76

3.4.1.2. Caractersticas pticas

As Figuras 3.17 a, b e c apresentam a refletncia do conjunto


vidro+EVA+filme Akasol, vidro+EVA+clula solar e da face posterior do filme Akasol,
respectivamente, para a amostra 71 prottipo A. A Tabela 3.3 resume os resultados
da medida de refletncia de quatro amostras e o valor mdio.

100

80
Refletncia (%)

60

40

20

Antes do teste Aps o teste


0
300 450 600 750 900 1050 1200 1350
Comprimento de Onda (nm)
(a)
100
Antes do teste Aps o teste

80
Refletncia (%)

60

40

20

0
300 450 600 750 900 1050 1200 1350
Comprimento de Onda (nm)

(b)
100

80
Refletncia (%)

60

40

20

Antes do teste Aps o teste


0
300 450 600 750 900 1050 1200 1350
Comprimento de Onda (nm) (c)

Figura 3.17. Refletncia dos conjuntos: (a) vidro + EVA + filme Akasol, (b) vidro + EVA + clula solar e
(c) filme Akasol (medido na face posterior) dos prottipos antes e aps os testes de nvoa salina.
Prottipo A, amostra 71.
77

No foi verificada uma alterao significativa na refletncia espectral dos


prottipos que poderia evidenciar uma descolorao ou delaminao. Em geral as
refletncias aumentaram e conclui-se que no houve um processo de delaminao
entre EVA, filme Akasol e clula solar. Por exemplo, na amostra 50, ocorreu o maior
aumento relativo em refletncia do conjunto vidro+EVA+clula solar, sendo de 7,49
% para 9,70 %, Isto 30 % de aumento. Porm a corrente de curto-circuito do
mesmo prottipo A mostrou um aumento de 3,3 %, como pode ser visto na Tabela
3.4. Este aumento da refletncia foi observado tanto nos prottipos B como nos de
tipo A.

Tabela 3.3. Caractersticas pticas de prottipos A e B, antes e aps o teste de nvoa salina.

2 (B) Fita 11 (B) Fita 50 (A) Silicone 71(A) Silicone (m m ) %


Conjuntos Amostra
Antes Aps Antes Aps Antes Aps Antes Aps Antes Aps
Vidro + EVA + filme Akasol m (%) 36,14 36,19 36,40 41,13 36,35 37,40 36,56 38,27 36,40 0,20 38,2 2,1
Vidro + EVA + clula solar m (%) 8,81 8,84 7,64 9,31 7,49 9,70 7,79 8,50 7,9 0,6 9,1 0,5
Filme Akasol - face posterior m (%) 69,78 68,20 68,69 70,97 69,37 69,89 69,63 70,50 69,4 0,5 69,9 1,2

3.4.1.3. Caractersticas Eltricas

A Tabela 3.4 apresenta os resultados da caracterizao eltrica realizada


antes e aps o teste de nvoa salina. O valor de a variao percentual da
eficincia, equivalente a variao percentual na potncia produzida pelo prottipo,
parmetro citado nas normas do PBE/INMETRO e IEC 61315 para aprovao ou
no dos mdulos.
Das dez amostras que passaram pelo teste, seis foram aprovadas com <
5 %. Destas seis amostras, quatro tiveram suas bordas seladas com fita e duas com
silicone PV804.
As amostras 11, 71 e 18 apresentaram elevadas quedas em potncia de 13,3
%, 21,1 % e 9,9 %, respectivamente. No caso das amostras 11 e 71, a principal
queda foi no fator de forma; para a amostra 18, o principal fator para a reduo na
potncia foi a tenso de circuito aberto, que caiu de 572 mV para 539 mV. A
reduo nos fatores de forma pode ser explicada pela entrada de umidade e
soluo salina pelas bordas dos prottipos ou pelos orifcios por onde saem os
contatos eltricos (selados com silicone PV804). Contudo, para o caso da amostra
18, a elevada tenso inicial atribuda a um erro na correo da curva I-V para a
78

temperatura de 25 C, pois pela estrutura da clula fabricada, isto , n+pn+ fabricada


sobre substratos de resistividade da ordem de 9 .cm, as clulas atingem Voc
mximas de 560 mV.

Tabela 3.4. Caractersticas eltricas dos prottipos antes e aps o teste de nvoa salina, corrigidos
-
para as condies padro (1000 Wm , 25 C).

ANTES DO TESTE
Tipo Selante N Voc (mV) ISC (mA) FF (%)
2-150 551 1698 0,689 10,3
Fita
41 566 1770 0,767 12,3
Prottipo Mdia 559 10 1734 50 0,73 0,06 11,3 1,4
B 11 559 1827 0,780 12,8
Silicone 17 567 1751 0,761 12,1
34 507 1787 0,768 11,1
Mdia 544 40 1788 28 0,77 0,01 12,0 1,1
65 542 1775 0,721 11,1
Fita
71 553 1844 0,781 12,8
Prottipo Mdia 547 8 1809 50 0,75 0,04 11,9 1,2
A 36 543 1785 0,732 11,4
Silicone 50 543 1786 0,720 11,2
18 572 1833 0,720 12,1
Mdia 553 20 1081 30 0,72 0,01 11,5 0,5
APS TESTE
Tipo Selante Voc (mV) ISC (mA) FF (%) (%)
2-150 552 1697 0,681 10,2 -1,0
Fita
41 575 1795 0,745 12,3 0,0
Prottipo Mdia 563 17 1746 70 0,71 0,05 11,2 1,5
B 11 541 1819 0,707 11,1 -13,3
Silicone 17 555 1770 0,716 11,3 -6,6
34 541 1857 0,717 11,5 3,6
Mdia 546 10 1815 26 0,71 0,01 11,3 0,3
65 547 1696 0,714 10,6 -4,5
Fita
71 542 1633 0,710 10,1 -21,1
Prottipo Mdia 545 3 1664 40 0,71 "0,003 10,3 0,4
A 36 548 1809 0,723 11,5 0,9
Silicone 50 539 1846 0,701 11,2 0,0
18 539 1759 0,716 10,9 -9,9
Mdia 542,2 0,4 1805 30 0,71 0,01 11,2 0,4

Em resumo, pelo nmero de amostras aprovadas, a fita mostrou-se a mais


adequada. No entanto, esta concluso no pode ser definitiva porque o nmero de
amostras foi menor que as seladas com silicone.

3.4.2. Teste de Envelhecimento por Radiao Ultravioleta

O teste de exposio radiao UV foi realizado nos laboratrios do NT-


SOLAR. Foi utilizado o equipamento QUV Accelerated Weathering Tester, marca
QLab. O equipamento um modelo fabricado para testar amostras com dimenses
79

mximas de 535 mm x 580 mm, podendo ser usado dois conjuntos de lmpadas,
sendo elas UVA, com pico de irradincia em = 350 nm e UVB, com pico de
irradincia em 313 nm. O mesmo possui um sistema eletrnico de controle e de
correo automtica da irradiao incidente. O sensor de correo est posicionado
no mesmo plano em que se posicionam as amostras.
Os mdulos foram fixados aos pares em um suporte de alumnio vazado com
as dimenses de 180 mm x 180 mm. Este suporte foi posicionado na cmara UV de
modo a ficar no plano timo de incidncia da irradiao UV. A Figura 3.18 apresenta
os suportes, as amostras e a cmara UV em funcionamento.
Por ser um equipamento novo, foi realizado um procedimento de calibrao
verificando a distribuio espectral e a irradincia, sendo calculado o tempo de
exposio necessrio para cada conjunto de lmpadas UVA e UVB para realizao
dos ensaios conforme a norma IEC 61345. Este procedimento apresentado no
Apndice A.
Foram ensaiadas duas clulas solares sem encapsulamento. Tambm foram
envelhecidas duas amostras laminadas apenas com EVA e vidro comum. Em uma
das amostras a face com EVA foi exposta diretamente a fonte irradiante; na outra o
EVA estava sob a chapa de vidro de 3 mm de espessura.

Figura 3.18. Cmara de envelhecimento UV.


80

3.4.2.1. Inspeo Visual

As clulas solares no encapsuladas, os prottipos, bem como os laminados


de EVA-Vidro e Vidro-EVA no evidenciaram nenhum defeito visual significativo.

3.4.2.2. Caractersticas pticas

No foi verificada alterao significativa na refletncia dos prottipos e dos


laminados de EVAVidro, VidroEVA. A Figura 3.19 apresenta a transmitncia do
filme de EVA laminado a uma chapa de vidro, medida tambm realizada com o
espectrofotmetro Lambda 950.

100

80
Transmitncia (%)

60

40

20

Antes do teste UV Aps do teste UV


0
350 500 650 800 950 1100
Comprimento de Onda (nm)

Figura 3.19. Transmitncia da amostra laminada com EVA - Vidro, sendo que a face com EVA estava
exposta radiao UV.

As Figuras 3.20 a, b e c, apresentam a refletncia do conjunto vidro


+EVA+filme Akasol, vidro+EVA+clula solar e da face posterior do filme Akasol,
respectivamente, para a amostra 48, prottipo A. A Tabela 3.5 resume os resultados
das medidas de refletncia das amostras 48, 58, 62 e 72 e o valor mdio.
No foi verificada uma alterao significativa na refletncia espectral dos
prottipos que poderia evidenciar uma descolorao ou delaminao.
Em geral as refletncias aumentaram, mas no se atribui a um processo de
delaminao entre EVA, filme Akasol e clula solar, pois o aumento est na ordem
de magnitude da incerteza de medida.
Tabela 3.5. Caractersticas pticas dos prottipos, antes e aps o teste de exposio UV.
81

48 (A) Silicone 58 (A) Fita 62 (B) Silicone 72 (B) Fita (m m ) %


Conjuntos
Antes Aps Antes Aps Antes Aps Antes Aps Antes Aps
Vidro + EVA + filme Akasol m (%) 36,59 38,03 36,40 37,06 35,70 37,00 38,99 38,89 36,9 1,4 37,7 0,9
Vidro + EVA + clula solar m (%) 7,18 8,12 7,61 7,78 7,67 8,35 7,52 8,23 7,50 0,22 8,12 0,25
Filme Akasol - face posterior m (%) 69,72 70,35 69,55 70,39 68,44 69,94 63,72 69,99 67,9 2,8 70,2 0,2

100
Antes do teste UV Aps o teste UV

80
Refletncia (%)

60

40

20

0
300 450 600 750 900 1050 1200 1350
Comprimento de Onda (nm)
(a)
100
Antes do teste Aps o teste

80
Refletncia (%)

60

40

20

0
300 450 600 750 900 1050 1200 1350
Comprimento de Onda (nm)
(b)
100
Antes do teste Aps o teste

80
Refletncia (%)

60

40

20

0
300 450 600 750 900 1050 1200 1350
Comprimento de Onda (nm)
(c)

Figura 3.20. Refletncia dos conjuntos: (a) vidro + EVA + filme Akasol, (b) vidro + EVA + clula solar e
(c) filme Akasol (medido na face posterior) dos prottipos antes e aps o teste de exposio
radiao UV. Prottipo A, amostra 48.
82

3.4.2.3. Caractersticas Eltricas

Dos doze prottipos que passaram pelo ensaio, oito apresentaram


variaes em eficincia menores que 5 %. Todos os prottipos A foram aprovados
considerando este parmetro. A elevada degradao nos prottipos B, obtendo-se
reduo em potncia de at 17,3 %, no facilmente explicvel pela distribuio
das clulas. Um dos problemas associados medida realizada a adequada
correo da curva I-V para as condies padro (25 C, 1000 Wm-). Por exemplo,
as clulas de tecnologia n+pn+, usadas nesta dissertao, antes de serem soldadas
e encapsuladas, apresentaram Voc entre 500 mV e 555 mV, abaixo dos valores
apresentados na Tabela 3.6.

Tabela 3.6. Caractersticas eltricas dos prottipos, antes e aps o teste de exposio UV.

A nt es do T e s te U V
T ip o S e la n t e N V o c (m V ) IS C ( m A ) FF (% )
72 56 2 17 8 9 0 , 76 8 12 ,4
F i ta 62 57 5 17 6 6 0 , 79 8 13 ,0
13 52 0 18 0 3 0 , 73 3 11 ,0
P r ot ti p o
M d ia /D e s v io 5 5 3 30 1 7 86 1 0 0 ,7 66 0 ,0 2 5 1 2,1 1 ,0
B
28 57 2 18 5 2 0 , 74 2 12 ,6
S ili c on e 13 - 1 5 0 54 6 16 9 1 0 , 72 0 10 ,6
22 56 5 17 4 4 0 , 77 8 12 ,3
M d ia /D e s v io 56 1 4 1 7 62 8 0 0 ,7 46 0 ,0 2 5 1 1,8 0 ,2
58 54 0 17 9 3 0 , 72 0 11 ,2
F i ta 42 53 2 18 1 3 0 , 73 1 11 ,3
53 48 0 17 5 6 0 , 67 8 9 ,1
P r ot ti p o
M d ia /D e s v io 5 1 7 40 1 7 87 2 6 0 , 71 0 ,0 3 1 0,5 1 ,4
A
23 54 4 17 9 1 0 , 70 3 11 ,0
S ili c on e 48 53 6 18 0 4 0 , 71 4 11 ,1
46 53 7 17 8 7 0 , 72 3 11 ,1
M d ia /D e s v io 53 9 5 17 9 4 2 0 ,7 13 0 ,0 1 4 1 1,0 0 ,1
A p s o T e s te
T ip o S e la n t e N V o c (m V ) IS C ( m A ) FF (% ) (% )
72 56 3 18 0 4 0 , 74 0 12 ,0 - 3 ,2
F i ta 62 55 6 18 0 1 0 , 74 1 11 ,9 - 8 ,5
13 49 7 16 3 4 0 , 70 1 9 ,1 - 17 ,3
P r ot ti p o
M d ia /D e s v io 5 3 9 50 1 74 6 1 20 0 ,7 27 0 ,0 2 8 1 1,0 2 ,1
B
28 58 0 18 7 3 0 , 64 3 11 ,2 - 11 ,1
S ili c on e 13 - 1 5 0 54 6 18 3 5 0 , 68 5 11 ,0 3 ,8
22 55 7 17 6 2 0 , 73 6 11 ,6 - 5 ,7
M d ia /D e s v io 5 6 1 16 1 8 23 8 0 0 , 69 0 ,0 7 1 1,2 0 ,3
58 54 2 17 8 7 0 , 72 7 11 ,3 0 ,9
F i ta 42 54 1 17 4 8 0 , 73 1 11 ,1 - 1 ,8
53 47 5 16 8 9 0 , 69 8 9 ,0 - 1 ,1
P r ot ti p o
M d ia /D e s v io 5 1 9 50 1 7 41 7 0 0 ,7 19 0 ,0 2 0 1 0,4 1 ,6
A
23 54 9 17 6 1 0 , 71 2 11 ,0 0 ,0
S ili c on e 48 54 9 17 5 8 0 , 71 9 11 ,1 0 ,0
46 55 4 17 4 6 0 , 74 4 11 ,5 3 ,6
M d ia /D e s v io 55 0 3 1 7 55 1 1 0 ,7 25 0 ,0 2 3 1 1,2 0 ,4

Como resumo, pode-se concluir que os materiais encapsulantes EVA Etimex


485 e Akasol PTL 3-38/75 resistem radiao ultravioleta, sendo que as
83

propriedades pticas foram levemente alteradas e 66 % dos prottipos foram


aprovados nos testes.
Em relao s clulas solares sem encapsulamento pode-se observar que as
mesmas tiveram um menor que 0,6 %. A Figura 3.21 apresenta as curvas I-V
das clulas solares envelhecidas junto dos prottipos sem cobertura de Vidro+EVA.

40
VOC = 546 mV
08-Depois JSC = 31,5 mA/cm2
35 FF = 0,72
= 12,3 %
Densidade de Corrente (mA/cm)

,, , , , ,,,, ,, ,,,,,
30 , ,, ,,, ,, ,,, ,,,, ,,,,,,,,,,,
,,,,,,
,,,,,,,,,
,,,,,,,,, ,,,,,,,,,
,,,
,,, ,,
,,
,,,,,,,,
,,,,,,,,,,,
,,,,,
,,,
VOC = 542 mV ,,,,
,,,,
25 2
,,,,
14-Depois JFFSC == 0,74
30,6 mA/cm
,,,
= 12,3 % ,,,,
20 ,,,,
,,,,
VOC = 545 mV ,,,,,
,,,
2 ,,,
15 14-Antes JFFSC == 0,75
30,4 mA/cm ,,
,,,
,,
= 12,4 % ,,,
,
10 ,,,
,,
VOC = 548 mV ,
,,,,,
JSC = 31,1 mA/cm 2 ,,,
5 08 -Antes FF ,,,
= 0,72 ,,,
= 12,3 % ,,,
,,,
0 ,,,
0 0,1 0,2 0,3 0,4 0,5 0,6
Tenso (V)

+ +
Figura 3.21. Curva I-V de clulas solares n pn , semelhante s utilizadas nos prottipos A e B, antes e
aps o teste de envelhecimento UV. Estas clulas foram expostas radiao UV sem
encapsulamento.

3.4.3. Teste de Exposio s Condies Externas

3.4.3.1. Procedimentos

O teste de exposio condies externas, ou exposio ao ar livre, foi


realizado nos laboratrios do NT-Solar. Os prottipos foram curto-circuitados e
instalados em uma estrutura metlica com inclinao de 48, conforme ilustrada na
Figura 3.22.
Os mdulos foram submetidos a uma irradiao total de 76,16 kWhm-2,
durante o perodo de 07 de julho de 2008 28 de julho de 2008. A irradincia foi
medida por um piranmetro Eppley PSP instalado no mesmo plano dos prottipos.
A Figura 3.23 apresenta a irradiao diria medida durante o teste.
84

Figura 3.22. Prottipos A e B instalados a 48 de inclinao horizontal, voltados para o norte, em teste
de exposio condies externas.

Dia kWh/m
6000 7/7 4,05
8/7 0,83
9/7 2,52
5000 10/7 3,65
11/7 5,22
12/7 5,42
13/7 5,28
Irradiao Diria (Wh/m)

4000 14/7 5,32


15/7 5,57
16/7 5,84
17/7 5,81
3000 18/7 4,76
19/7 2,93
20/7 0,36
21/7 0,95
2000
22/7 3,31
23/7 1,78
24/7 2,71
1000 25/7 3,72
26/7 5,50
27/7 0,25
28/7 0,38
0
7/7 8/7 9/7 10/711/712/713/714/715/716/717/718/719/720/721/722/723/724/725/726/727/728/7 Somatrio
76,16
kWh/m

Figura 3.23. Irradiao incidente durante o perodo de 07/07/2008 31/07/2008.

3.4.3.2. Inspeo Visual

Na inspeo visual no foi constatado nenhum defeito relevante.

3.4.3.3. Caractersticas pticas

A Tabela 3.7 resume as refletncias mdias calculadas para quatro amostras.


A Figura 3.24 apresenta a refletncia da amostra 51, prottipo A. Da mesma forma
que o observado nos testes anteriores, a refletncia apresenta um leve aumento,
mas que est dentro do intervalo de incerteza da medio da refletncia.
85

-
Tabela 3.7. Caractersticas pticas de prottipos, antes e aps a irradiao de 76,16 kWm .

10 (B)Fita 49 (A) Silicone 12 (B) Fita 51 (A) Silicone (m m ) %


Conjuntos Amostra
Antes Aps Antes Aps Antes Aps Antes Aps Antes Aps
Vidro + EVA + filme Akasol m (%) 39,68 41,45 36,92 37,83 41,06 41,25 36,35 37,80 38,5 2,2 39,6 2,0
Vidro + EVA + clula solar m (%) 8,49 9,06 8,65 7,58 8,39 8,55 7,49 7,86 8,3 0,5 8,3 0,7
Filme Akasol - face posterior m (%) 67,60 70,87 69,33 70,12 69,73 70,70 69,74 70,36 69,1 1,0 70,5 0,3

100
Antes do teste Aps o teste

80
Refletncia (%)

60

40

20

0
300 450 600 750 900 1050 1200 1350
Comprimento de Onda (nm)
(a)
100
Antes do teste Aps o teste

80
Refletncia (%)

60

40

20

0
300 450 600 750 900 1050 1200 1350
Comprimento de Onda (nm)
(b)
100
Antes do teste Aps o teste

80
Refletncia (%)

60

40

20

0
300 450 600 750 900 1050 1200 1350
Comprimento de Onda (nm)
(c)
Figura 3.24. Refletncia dos conjuntos: (a) vidro + EVA + filme Akasol, (b) vidro + EVA + clula solar e
(c) filme Akasol medido na face posterior dos prottipos antes e aps o teste de exposio externa
prottipo A, amostra 51.
86

3.4.3.4. Caractersticas Eltricas

A Tabela 3.8 apresenta as caractersticas eltricas dos prottipos antes e


aps serem expostos a 76,16 kWhm-2. De doze prottipos, sete foram aprovados
com degradao menor que 5 % e quatro com aumento na eficincia. Este aumento
em eficincia devido principalmente tenso de circuito aberto, medida que
aumentou do intervalo de 542 mV 546 mV para o intervalo 650 mV 561 mV.
Como estas clulas atingem no mximo tenses de circuito aberto de 555 mV
atribui-se este aumento a incerteza de medida de temperatura e ao procedimento de
correo das caractersticas eltricas para as condies padro.

Tabela 3.8. Caractersticas eltrica dos prottipos antes e aps o teste de exposio s condies
-
externas com irradincia de 76,16 kWm .

T E S TE AO AR L I V RE
AN T E S D O T E S T E
Tip o S e la nte N V oc (m V ) ISC (m A) FF (% )
75 5 71 1 7 37 0 ,7 8 1 2, 3
Fita 40 5 58 1 7 14 0 ,8 1 1 2, 4
38 5 65 1 7 52 0 ,7 9 1 2, 5
Pr ot tip o M d ia/D e s v io 5 65 4 1 73 4 1 0 0 ,7 9 0, 01 1 2, 4 0, 1
B 10 5 54 1 8 30 0 ,7 7 1 2, 6
S ilic on e 12 5 26 1 7 63 0 ,7 7 1 1, 4
14 5 33 1 7 87 0 ,7 8 1 1, 8
M d ia/D e s v io 53 8 15 1 79 4 5 0 0 ,7 7 0, 01 1 1, 9 0, 2
51 5 43 1 7 64 0 ,7 2 1 1, 1
Fita 7 4 90 1 7 20 0 ,7 2 9 ,8
44 5 49 1 8 02 0 ,7 4 1 1, 7
Pr ot tip o M d ia/D e s v io 5 28 5 1 76 2 2 7 0 ,7 3 0, 01 1 0, 9 0, 4
A 25 5 46 1 7 86 0 ,7 2 1 1, 2
S ilic on e 59 5 42 1 7 67 0 ,6 9 1 0, 5
44 -9 5 45 1 7 96 0 ,7 3 1 1, 4
M d ia/D e s v io 5 44 1 1 7 83 7 0 ,7 1 0, 01 1 1, 0 0, 1
A P S TE S T E
Tip o S e la nte N V oc (m V ) ISC (m A) FF (% ) (% )
75 5 45 1 7 77 0 ,7 3 1 1, 4 - 7,3
Fita 40 5 40 1 7 30 0 ,7 2 1 0, 7 -1 3, 7
38 5 52 1 7 92 0 ,7 2 1 1, 4 - 8,8
Pr ot tip o M d ia/D e s v io 5 46 5 1 76 7 1 1 0 ,7 2 0, 01 1 1 ,1 7 0, 02
B 10 5 52 1 8 55 0 ,7 4 1 2, 1 - 4,0
S ilic on e 12 5 00 1 7 28 0 ,7 3 1 0, 1 -1 1, 4
14 5 00 1 7 29 0 ,7 4 1 0, 2 -1 3, 6
M d ia/D e s v io 51 7 40 1 77 1 9 0 0 ,7 4 0, 01 1 0, 8 1, 4
51 5 61 1 7 84 0 ,7 3 1 1, 7 5 ,4
Fita 7 5 01 1 6 84 0 ,7 2 9 ,7 - 1,0
44 5 32 1 8 13 0 ,7 3 1 1, 3 - 3,4
Pr ot tip o M d ia/D e s v io 53 1 20 1 76 0 2 0 0 ,7 3 0 0, 00 8 1 0, 9 0, 3
A 25 5 61 1 8 31 0 ,7 2 1 1, 9 6 ,3
S ilic on e 59 5 60 1 8 01 0 ,6 9 1 1, 2 6 ,7
44 -9 5 45 1 8 03 0 ,7 3 1 1, 5 0 ,9
M d ia/D e s v io 55 5 11 1 81 2 1 9 0 ,7 2 0, 02 1 1, 5 0, 3
87

3.4.4. Teste de Ciclos Trmicos

O teste de ciclos trmicos foi realizado no Laboratrio de Sistemas


Fotovoltaicos do Instituto de Eletrotcnica e Energia da Universidade de So Paulo.
Os prottipos foram instalados em uma cmara climtica onde foram
submetidos a 50 ciclos trmicos com temperatura de - 10 C a + 85 C, com
gradiente de temperatura mximo de 100 C/h.
No foi realizada a caracterizao ptica das amostras que passaram
somente pela ciclagem trmica devido ao nmero reduzido de amostras. No
entanto, esta anlise foi realizada para os prottipos que passaram por ciclagem
trmica e teste de umidade e congelamento, que tambm produziu variaes nas
caractersticas de polimento das chapas de vidro.

3.4.4.1. Inspeo Visual

Na inspeo visual foi verificado que, em uma das amostras do prottipo A,


(amostra 45), a superfcie externa do vidro apresentou uma mudana em seu
polimento, apresentando uma srie de manchas no removveis com lcool
isoproplico.

3.4.4.2. Caractersticas Eltricas

A Tabela 3.9 apresenta as caractersticas eltricas dos prottipos, antes e


aps o teste de ciclos trmicos. Trs dos quatros prottipos tiveram menor que
5%, sendo aprovados no teste.

Tabela 3.9. Caractersticas eltricas dos prottipos antes e aps o teste de ciclos trmicos.

ANTES DO TEST E
Tip o Selan te N Voc (mV) I SC (mA) FF (%)
Pr ottipo Fita 2F 546 1742 0,70 10,6
B Silicone 2S 558 1804 0,75 12,2
Pr ottipo Fita 45 531 1792 0,72 10,9
A Silicone 19 540 1776 0,74 11,3
APS O TESTE
Tip o Selan te N Voc (mV) I SC (mA) FF (%) re l (%)
Pr ottipo Fita 2F 558 1779 0,70 11,0 3,8
B Silicone 2S 546 1751 0,72 11,1 -9,0
Pr ottipo Fita 45 545 1837 0,70 11,2 2,8
A Silicone 19 557 1800 0,73 11,7 3,5
88

3.4.5. Teste de Ciclos Trmicos e Umidade e Congelamento

Doze prottipos passaram pelo teste de ciclos trmicos e oito foram


submetidos, em seqncia, ao teste de umidade e congelamento. Os prottipos
foram instalados em uma cmara climtica onde foram submetidos a dez ciclos
trmicos com temperatura de -10 C a + 85 C com gradiente de temperatura
mximo de 200 C/h.

3.4.5.1. Inspeo Visual

Na inspeo visual foi constatado que no prottipo A, n 24, ocorreu


delaminao localizada, conforme apresenta a Figura 3.25. Tambm foi verificado
que em quatro amostras (54, 31, 3 e 47), a superfcie externa do vidro apresentou
as mesmas manchas observadas na amostra que somente passou pelo teste de
ciclos trmicos.

Figura 3.25. Delaminao pontual na amostra 24, prottipo A.

3.4.5.2. Caractersticas pticas

A Tabela 3.10 resume os resultados de refletncia para quatro amostras que


passaram pelo teste de ciclos trmicos seguidos de teste de umidade e
congelamento. A Figura 3.26 apresenta a refletncia espectral hemisfrica nas trs
regies de duas amostras. Na amostra 31 foi observada a formao de manchas na
89

superfcie do vidro. Na Figura 3.26-a observa-se que a refletncia da amostra 31 foi


alterada apreciavelmente na faixa de comprimentos de onda de 750 nm a 1050 nm,
resultado da mudana na superfcie do vidro.

100
Antes do teste (24) Aps o teste (24)
Antes do teste (31) Aps o teste (31)
80
Refletncia (%)

60

40

20

0
300 450 600 750 900 1050 1200 1350
Comprimento de Onda (nm)
(a)
100
Antes do teste (24) Aps do teste (24)
Antes do teste (31) Aps o teste (31)
80
Refletncia (%)

60

40

20

0
300 450 600 750 900 1050 1200 1350
Comprimento de Onda (nm)
(b)
100

80
Refletncia (%)

60

40

20
Antes do teste (24) Aps do teste (24)
Antes do teste (31) Aps o teste (31)
0
300 450 600 750 900 1050 1200 1350
Comprimento de Onda (nm)
(c)
Figura 3.26. Refletncia dos conjuntos: (a) vidro + EVA + filme Akasol (b), vidro + EVA + clula solar
e (c) filme Akasol (medido na face posterior) dos prottipos, antes e aps o teste de ciclos trmicos.
Amostra 24 prottipo A e amostra 31 prottipo B.
90

Tabela 3.10. Caractersticas eltricas dos prottipos antes e aps o teste de ciclos trmicos.

3 (B) Fita 24 (A) Silicone 31(B) Fita 60 (A) Silicone (m m) %


Conjuntos Amostra
Antes Aps Antes Aps Antes Aps Antes Aps Antes Aps
Vidro + EVA + filme Akasol m (%) 34,68 35,77 36,58 37,25 34,68 39,93 36,56 38,27 36,5 1,8 37,8 1,7
Vidro + EVA + clula solar m (%) 7,33 9,45 7,54 8,42 7,33 8,40 7,39 8,10 8,0 0,8 8,6 0,6
Filme Akasol - face posterior m (%) 70,02 70,75 69,43 70,64 70,02 70,56 69,75 70,58 69,80 0,28 70,63 0,09

Todas as amostras apresentaram refletncia maior aps o teste, semelhante


ao observado anteriormente, nos outros testes. No entanto, na amostra 31,
observou-se um aumento relativo de 15 % na refletncia do conjunto
Vidro+EVA+Filme Akasol, o que se atribui s manchas observadas na superfcie do
vidro.

3.4.5.3. Caractersticas Eltricas

A Tabela 3.11 apresenta as caractersticas eltricas dos prottipos, antes e


aps o teste de ciclagem trmica e umidade e congelamento.

Tabela 3.11 Caractersticas eltricas dos prottipos que passaram pelo teste de ciclos trmicos e
umidade e congelamento.

T E S T E C I L C A G E M T R M IC A , U M ID A D E E C O N G E L A M E N T O
A NT E S D O TE S TE
Tip o S el an te N V o c (m V ) I S C (m A ) FF (% )
1 5 44 1 7 04 0, 68 10 ,1
F ita
3 5 57 1 7 25 0, 70 10 ,7
Pr ot tip o
M d ia 5 51 9 1 71 4 1 5 0, 69 0 ,0 1 10 ,4 0 ,4
B
29 5 40 1 7 76 0, 74 11 ,3
S ilic o ne
31 5 36 1 8 04 0, 71 11 ,1
M d ia 5 38 3 1 79 0 2 0 0, 73 0 ,0 2 11 ,2 0 ,2
47 5 40 1 8 08 0, 69 10 ,8
F ita
60 5 32 1 8 34 0, 72 11 ,3
Pr ot tip o
M d ia 5 36 6 1 82 1 1 8 0, 71 0 ,0 2 11 ,0 0 ,4
A
24 5 34 1 7 83 0, 71 10 ,9
S ilic o ne
54 5 38 1 7 65 0, 72 11 ,0
M d ia 5 36 3 1 77 4 1 3 0, 72 0 ,0 1 10 ,9 0 ,1
A P S O TE S T E
Tip o S el an te N V o c (m V ) I S C (m A ) FF (% ) rel (% )
1 5 46 1 7 34 0, 68 10 ,3 2 ,0
F ita
3 5 58 1 7 61 0, 68 10 ,7 0 ,0
Pr ot tip o
M d ia 5 52 8 1 74 7 1 9 0, 68 0 ,0 0 10 ,5 0 ,3
B
29 5 59 1 7 85 0, 81 12 ,9 1 4, 2
S ilic o ne
31 5 61 1 8 80 0, 52 8, 7 -2 1, 6
M d ia 5 60 2 1 83 3 6 8 0, 66 0 ,2 1 10 ,8 3 ,0
47 5 35 1 8 44 0, 69 10 ,9 0 ,9
F ita
60 5 45 1 8 94 0, 70 11 ,6 2 ,7
Pr ot tip o
M d ia 5 40 7 1 86 9 3 5 0, 70 0 ,0 1 11 ,2 0 ,5
A
24 5 45 1 8 07 0, 70 11 ,0 0 ,9
S ilic o ne
54 5 45 1 8 15 0, 71 11 ,3 2 ,7
M d ia 5 51 9 1 8 11 6 0, 69 0 ,0 1 10 ,4 0 ,4
91

Seis clulas tiveram queda em eficincia menor que 5 % relativos, sendo que
todos os prottipos A tiveram positivo. O prottipo 29 apresentou uma melhora
de 14,2 %, mas se atribuiu a um erro na correo da curva I-V para as condies
padro, pois o FF corrigido, de 81 est muito acima do esperado para as clulas
utilizadas. No prottipo irmo isto , n 31, de tipo B e selado com silicone, o FF
caiu de 0,71 para 0,52, produzindo um de -21,6 %.

3.4.6. Resumo dos Resultados

A Figura 3.27 resume os resultados dos testes realizados. Foram


considerados os prottipos com menor que 5 % e os que apresentaram melhora
na eficincia. A menor aprovao foi no teste de exposio em ambiente externo,
onde somente um prottipo B, entre os quatro testados, foi aprovado.

Total A B Fita Silicone

Nvoa Salina

Ultravioleta

Exposio Externa

Ciclos Trmicos

Ciclos Trmicos + Umidade e Cong.

0 20 40 60 80 100
Percentual Aprovado (%)

Figura 3.27. Resumo de aprovao dos prottipos nos testes realizados.


4. CONCLUSES E PROPOSTAS PARA TRABALHOS FUTUROS

4.1. Concluses

A anlise dos prottipos e dos materiais encapsulante demonstrou que no


houveram alteraes visuais significativas aps os testes realizados. Uma alterao
visual percebida foi a oxidao do perfil de alumnio no anodizado em todos os
prottipos submetidos ao teste de nvoa salina, o que era esperado. Outra alterao
constatada foi a mudana nas caractersticas de superfcie de quatro placas de
vidro, pertencentes aos prottipos que foram submetidos aos testes de ciclagem
trmica e ciclagem trmica e umidade e congelamento. A degradao visual mais
importante ocorreu na amostra 24, prottipo A. Esta amostra apresentou
delaminao pontual aps ser submetida ao teste de ciclagem trmica seguido de
umidade e congelamento. Contudo, este um fato isolado representando 2 % do
total de cinqenta amostras analisadas. Pode-se, ento, concluir que com exceo
da amostra 24, prottipo A, todas as demais foram aprovadas no requisito visual.
A avaliao espectral do material encapsulante EVA 485 Etimex frente aos
ensaios propostos, especialmente ao teste de envelhecimento UV, mostrou que no
ocorreu nenhuma degradao significativa.
A avaliao da cobertura posterior Akasol PTL 3-38/75, medida na face
frontal, evidenciou que a refletncia de todas as amostras sofreram leve aumento,
mas sem ocorrer alterao espectral. A amostra 31, prottipo B, a qual foi
submetida ao teste de ciclagem trmica e umidade e congelamento, apresentou
alterao na refletncia espectral. Esta alterao atribuda modificao sofrida
no polimento do vidro, pois o vidro utilizado foi um vidro comum sem controle de
procedncia. No foi evidenciada diferenciao ptica entre os prottipos A e B.
Considerando os critrios estabelecidos de inspeo visual e medidas de
refletncia, no foi verificada incompatibilidade entre o filme anti-reflexo TiO2 e a
metalizao serigrfica frente ao encapsulante EVA Etimex 485. Somente a amostra
93

24 do prottipo A apresentou vestgios de reao de delaminao entre os materiais


encapsulantes e o dispositivo fotovoltaico.
A comparao dos dois materiais selantes de bordas mostrou que os
prottipos que menos sofreram variaes nos parmetros eltricos foram os que
utilizaram como selante a fita Duplomont Lohmann. Nos testes de ciclos trmica,
ciclos trmicos e umidade e congelamento, as amostras que utilizaram a fita
obtiveram 100 % de aprovao e no teste de nvoa salina as amostras obtiveram 75
% de aprovao. Nos testes de envelhecimento UV e exposio em ambiente
externo, o desempenho das amostras foi de a 66 % e 33 % respectivamente.
Todas as amostras que utilizaram como vedante o silicone PV 804, tiveram
desempenho de 50 %, 66 %, 75 %, 50 % e 50 %, nos testes de nvoa salina,
radiao UV, exposio s condies externas, ciclos trmicos e ciclagem trmica
seguida de umidade e congelamento, respectivamente.
Embora as normas do PBE/INMETRO e IEC 61215 coloquem a necessidade
de serem usados um ou dois mdulos segundo o tipo de teste, concluiu-se devido
elevada disperso nos resultados de caracterizao eltrica que necessrio um
maior nmero de amostras para obter concluses comparativas no desenvolvimento
de novos mdulos ou no uso de novos materiais.

4.2. Sugestes de Continuidade do Trabalho

Como continuidade deste trabalho sugere-se:


a) utilizar um maior nmero de prottipos para realizar uma anlise
estatstica;
b) realizar a medida de curva I-V com o uso de simulador solar com disparo
de flash, pois mantm desta forma a temperatura da clula em 25 C,
evitando-se os procedimentos de correo da medida para as condies
padro;
c) realizar o teste de estanquiedade nas amostras, colocando as mesmas a
85 C - 85 % umidade relativa por 1000 h, como recomenda a norma IEC
61215;
d) preparar mdulos completos e realizar todos os procedimentos
recomendados pelo PBE/INMETRO.
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oitavo quadrimestre, Confidencial A).
APNDICE

Calibrao da Cmara de Envelhecimento Ultravioleta

Foi necessrio analisar o espectro em diferentes nveis de potncia da


cmara de envelhecimento UV. Alm disso, analisou-se a uniformidade do espectro
em diferentes pontos da cmara UV e, por fim, contabilizou-se as horas de
exposio necessrias para aferir amostras de mdulos fotovoltaicos de acordo com
a IEC 61345.
Para analisar o espectro da cmara UV foi utilizado o espectrorradimetro
marca Instrument Systems modelo Espectro 320, programado para responder na
faixa de 260 nm at 400 nm.
As medidas de espectrorradiometria foram realizadas no equipamento com
lmpadas UVA e UVB. Aps, os dados foram analisados em funo da variao do
espectro em relao posio do sensor e a potncia da cmara. Alm disso, os
dados para cada potncia foram integralizados e, assim, determinado o tempo
necessrio de irradiao para efetuar os testes segundo a norma IEC 61345.
Na Figura A.1 so apresentados grficos com o espectro para seis diferentes
potncias da cmara UV. Para a lmpada UVA, observou-se que o pico de
irradincia fica em torno do 364,5 nm em todas as irradiaes. Entretanto, para esta
lmpada (UVA 340 nm) esperado um pico em 340 nm. Para lmpada UVB
possvel ver que o ponto de maior irradincia o de comprimento de onda de 312,5
nm para todas as potncias da cmara UV. Isso mostra um leve deslocamento de
0,5 nm do pico fundamental da lmpada (313 nm).
As lmpadas UVA 340 e UVB 313 irradiam em maior intensidade em
determinadas faixas tendo picos de potncia em 340 nm (UVA 340) e de 313 nm
(UVB 313). De uma maneira geral, a lmpada UVA 340 destinada a anlises de
envelhecimento que compreendam a faixa de 320-400 nm e a lmpada UVB para a
faixa de 280-320 nm.
99

Potncias UVA

1,8

1,6

1,4
0,35
1,2
0,68
1 0,72
W/m

0,8 1,32
1,50
0,6
1,75
0,4

0,2

0
260 280 300 320 340 360 380 400
nm

Potncias UVB

3,00

2,50

0,35
2,00
0,68
0,72
W/m

1,50
1,32
1,50
1,00
1,75

0,50

0,00
260 280 300 320 340 360 380 400
nm

Figura A.1 Irradincia espectral das lmpada UVA 340 e UVB 313 para diferentes potncias reguladas
na cmara de envelhecimento.

Observando os grficos apresentados na Figura A.1, verifica-se que a


lmpada UVA 340 e a UVB 313 atravessam as fronteiras de medio previstas na
norma IEC 61345. A ateno para este ponto importante para que no haja
exposio em excesso em nenhuma faixa sobre as amostras e assim ficar dentro do
processo padro dado pela IEC 61645. Uma rotina foi criada em Excel para calcular
o nmero de horas necessrias de exposio levando em conta este parmetro
particular de cada lmpada, isto , a extenso total do espectro que pode ser
aproveitado. A equao inserida na rotina apresenta a irradiao total (It) sobre a
amostra, que dada pela Equao A.1.
100

I = t Ia + t I + t Ia' + t I (A.1)
t 1 1b 2 2 b'

onde:
- t1 igual ao tempo de exposio usando a lmpada UVA 340 em horas;
- t2 igual ao tempo de exposio usando a lmpada UVB 313 em horas;
- Ia a integrao na faixa de 280-320 nm da lmpada UVA 340 em Wm-;
- Ib a integrao na faixa de 320-400 nm da lmpada UVA 340 em Wm-;
- Ia a integrao na faixa de 280-320 nm da lmpada UVB 313 em Wm-;
- Ib a integrao na faixa de 320-400 nm da lmpada UVB 313 em Wm-.

Os valores Ia, Ib, Ia e Ib foram medidos e localizados a partir das medies


realizadas com o espectrorradimetro. Na Figura A.2 so observadas as
localizaes de Ia, Ib, Ia e Ib que equivalem a integrao das faixas de irradiao
solicitadas pela norma IEC 61345.

3,0
UVB 280 - 230 nm UVA 320-400 nm
Legenda
Ia
2,5
Ia
Ib
2,0
Ib
Irradincia (W/m)

1,5

1,0

Ia Ib
0,5
Ia
Ib
Ia
0,0
250 270 290 310 330 350 370 390

Comprimento de Onda (nm)

Figura A.2. Sobreposio dos espectros das lmpadas UVA e UVB, destacando as regies de
irradincia consideradas pela norma IEC 61345.

Na Tabela A.1 so apresentadas algumas possibilidades de tempo de


exposio e com quais lmpadas e potncias podem ser mescladas para alcanar o
valor total. Uma observao a ser lembrada que os limites de exposio
101

determinados pela norma IEC 61345 foram respeitados. Tais limites so de 7.500
Wm- para a faixa de 280-320 nm e de 15.000 Wh/m para a faixa de 320 nm - 400
nm. Nesta dissertao foi escolhido o teste de envelhecimento com menor durao
de tempo 11,2 dias [33].

Tabela A.1. Possibilidades de utilizao da cmara UV em conformidade com a IEC 61345.

Irradincia Irradincia
t1 (h) t2(h) t 1(dias) t2(dias) Total (dias)
UVA (W/m) UVA (W/m)
1,75 0,35 134 662 5,6 27,6 33,2
1,75 0,68 135 343 5,6 14,3 19,9
1,75 0,71 135 330 5,6 13,8 19,4
1,75 1,32 134 176 5,6 7,3 12,9
1,75 1,5 134 157 5,6 6,5 12,1
1,75 1,15 134 135 5,6 5,6 11,2 .

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