PMI-2201 DIFRAÇÃO DE RAIOS X 1

DIFRAÇÃO DE RAIOS X

1 INTRODUÇÃO

A difratometria de raios X corresponde a uma das principais técnicas de caracterização

microestrutural de materiais cristalinos, encontrando aplicações em diversos campos do
conhecimento, mais particularmente na engenharia e ciências de materiais, engenharias
metalúrgica, química e de minas, além de geociências, dentre outros.

Os raios X ao atingirem um material podem ser espalhados elasticamente, sem perda de

energia pelos elétrons de um átomo (dispersão ou espalhamento coerente). O fóton de raios X
após a colisão com o elétron muda sua trajetória, mantendo, porém, a mesma fase e energia do
fóton incidente. Sob o ponto de vista da física ondulatória, pode-se dizer que a onda
eletromagnética é instantaneamente absorvida pelo elétron e reemitida; cada elétron atua,
portanto, como centro de emissão de raios X.

Se os átomos que geram este espalhamento estiverem arranjados de maneira sistemática,

como em uma estrutura cristalina (Figura 1), apresentando entre eles distâncias próximas ao do
comprimento de onda da radiação incidente, pode-se verificar que as relações de fase entre os
espalhamentos tornam-se periódicas e que efeitos de difração dos raios X podem ser observados
em vários ângulos.

Figura 1 – Estrutura cristalina do NaCl mostrando arranjo regular dos íons Na+1 e Cl-1. À
direita cristais de NaCl, cuja morfologia externa está relacionada ao arranjo da estrutura
cristalina

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Considerando-se dois ou mais planos de uma estrutura cristalina, as condições para que
ocorra a difração de raios X (interferência construtiva ou numa mesma fase) vão depender da
diferença de caminho percorrida pelos raios X e o comprimento de onda da radiação incidente.
Esta condição é expressa pela lei de Bragg, ou seja n λ = 2 d senθ (Figura 2), onde λ
corresponde ao comprimento de onda da radiação incidente, “n” a um número inteiro (ordem de
difração), “d” à distância interplanar para o conjunto de planos hkl (índice de Miller) da estrutura
cristalina e θ ao ângulo de incidência dos raios X (medido entre o feixe incidente e os planos
cristalinos).

Equação da Lei de Bragg

n λ = 2 d senθ (1)

Figura 2 – Difração de raios X e a equação de Bragg

A intensidade difratada, dentre outros fatores, é dependente do número de elétrons no

átomo; adicionalmente, os átomos são distribuídos no espaço, de tal forma que os vários planos
de uma estrutura cristalina possuem diferentes densidades de átomos ou elétrons, fazendo com
que as intensidades difratadas sejam, por conseqüência, distintas para os diversos planos
cristalinos.

2 EQUIPAMENTOS DE DIFRAÇÃO DE RAIOS X

Como a equação de Bragg refere-se à radiações monocromáticas, inicialmente serão

abordadas as fontes de raios X empregadas e os dispositivos adotados para tornar esta radiação
monocromática.

Na seqüência, serão enfocados os métodos e aplicações da difração de raios voltados aos

estudos de materiais policristalinos, também chamados de métodos de difração de pó (powder
diffraction). Dispositivos dedicados a estudos de estrutura cristalinas a partir de monocristais não
serão mencionados neste texto.

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2.1 Fontes de raios X e filtros

O esquema geral de um tudo de raios X é apresentado na Figura 3. Vários materiais distintos

podem ser empregados como ânodo, sendo Cu, Cr, Fe e Mo os mais usuais (Tabela1); da mesma
forma, distintas geometrias construtivas podem ser empregadas acarretando em feixes de raios X
com diferentes formas e intensidades por unidade de área (Tabela 2).

Figura 3 – Tubo de raios X

Tabela 1 – Características dos ânodos mais comuns

Ânodo Número Kα Energia crítica de Voltagem ótima
atômico (angström) excitação (keV) (kV)
Cr 24 2,291 5,99 40
Fe 26 1,937 7,11 40
Cu 29 1,542 8,98 45
Mo 42 0,710 20,00 80

Tabela 2 – Características dos diferentes tubos de raios X

Tipo de tubo Dimensões Área focal Dimensões virtuais (take off 6º)
do foco (mm) (mm2) Foco ponto (mm) Foco linha (mm)
Foco fino longo 0,4 x 12 4,8 0,4 x 12 0,04 x 12
Foco fino 0,4 x 8 3,2 0,4 x 8 0,04 x 8
Foco normal 1,0 x 10 10,0 1,0 x 10 0,10 x 10
Foco largo 2,0 x12 24,0 2,0 x12 0,20 x12

A seleção do tipo de ânodo está relacionada principalmente com a natureza do material a ser
analisado, buscando-se sempre a conjugação ânodo / amostra que apresente o menor coeficiente
de absorção de massa, além da relação resolução X intensidade dos picos do difratograma. Já a
seleção do tipo de tubo e do foco a ser empregado (linha ou ponto) está relacionado à aplicação a
ser efetuada.

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O espectro de radiação gerado a partir do tubo de raios X não é monocromático,

apresentando tanto a radiação característica do material empregado como ânodo (Kα, Kβ, etc),
como também do espectro contínuo (ver Figura 4).

Figura 4 – Espectros de raios X

contínuo e característico para o
molibdênio a 35kV. No quadro à
direita é detalhado o espectro
referente à linha Kα, mostrando
as linhas Kα1 e Kα2

Visto a necessidade de se empregar uma radiação monocromática, há que se remover a

radiação referente a linha Kβ e também parte do espectro contínuo emitido pelo tubo. Duas
alternativas podem ser consideradas para tanto; a primeira considera a utilização de filtros, cujas
bandas de absorção de radiação permitam a passagem da radiação referente a linha Kα e a
remoção (absorção) da linha Kβ, como o exemplo de filtro de Ni sobre a emissão de ânodo de
Cu, ilustrado na Figura 5.

Uma segunda alternativa, a mais freqüentemente usada, consiste na utilização de um filtro

monocromador, situado na passagem dos raios X entre a amostra e o dedector ou entre o tubo e
amostra, o qual, através do principio da difração de Bragg, permite exclusivamente a passagem
da radiação com o comprimento de onda de interesse (Kα). A utilização de filtro monocromador
após a amostra apresenta ainda a vantagem adicional de remover radiações oriundas de
espalhamentos não coerentes, resultantes da interação dos raios X com a amostra (raios X
contínuo e característico dos elementos presentes na amostra, correspondentes a radiação de
fundo, background, sem interesse analítico).

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Figura 5 – À esquerda, espectro

de emissão de raios X do Cu
mostrando as linhas Kα e Kβ e a
banda de absorção do Ni (azul).
A direita tem-se o espectro obtido
com o emprego do filtro de Ni !
remoção da linha Kβ.

2.2 Método do pó

2.2.1 Câmara Debye-Scherrer

A câmara de Debye-Scherrer, Figura 6, compreende um dispositivo cilíndrico no qual

amostra em pó é acondicionada em um capilar posicionado bem no centro da câmara sobre o
qual é focalizado um fino feixe de raios X. Cones de difração de raios X são então gerados a
partir da amostra, sendo que parcela destes sensibiliza um filme fotográfico posicionado na
parede interna da câmara, possibilitando a coleta de raios X desde praticamente 0º até 180º em
termos de 2θ.

Figura 6 – Câmara de pó ou de Debye Scherrer

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PMI-2201 DIFRAÇÃO DE RAIOS X 6

Esta técnica, introduzida na segunda metade da década de 1910, foi bastante empregada até
os anos 80. Sua utilização hoje é bastante restrita, estando limitada a situações em que é critica a
disponibilidade de amostra (<100mg) e estudos de amostras monocristalinas.

2.2.2 Difratômetro de Raios X

Os difratômetros de raios X disponíveis no mercado são dominados pela geometria

parafocal Bragg-Brentano; seu arranjo geométrico básico pode constituir-se de um goniômetro
horizontal (θ-2θ) ou vertical (θ-2θ ou θ-θ). Outras configurações, mais sofisticadas e específicas
para estudos na área de ciências de materiais e de monocristais, podem ser também encontradas.

Para a geometria θ-2θ (Figura 7), o goniômetro, acoplado aos acessórios de recepção do
feixe difratado, move-se (H) com velocidade angular (2θ/passo) sobre o eixo P e rotaciona a
amostra (P) com metade desta velocidade angular (θ/passo). O raio do círculo do goniômetro é
fixo, apresentando iguais distâncias do tubo gerador de raios X à amostra e da amostra à fenda de
recepção “D” (LP = PD). O plano do círculo focal contém os raios incidente e difratado, isto é, a
fonte, a amostra e a fenda de recepção.

L – fonte de raios X
G - fendas soller
B – fenda divergente
C - amostra
D – fenda receptora
E – fendas soller
F – fenda de espalhamento
T – detector de RX

Figura 7 – Geometria Bragg-Brentano de um difratômetro de raios X, mostrando as

diferentes fendas utilizadas

A partir da fonte, os raios X atravessam a fenda Soller ou colimadores paralelos (G), a fenda
de divergência (B) e irradiam a superfície da amostra (C). Os raios difratados em determinado
ângulo 2θ convergem para a fenda de recepção (D). Antes ou depois da fenda de recepção pode
ser colocado um segundo conjunto de colimadores (E) e uma fenda de espalhamento (F). Um

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PMI-2201 DIFRAÇÃO DE RAIOS X 7

monocromador do feixe difratado pode ser colocado após a fenda de recepção, na posição da
fenda de espalhamento.

Fotografia e o esquema do difratômetro Philips, modelo PW1880, são apresentados na

Figura 8, a seguir, e um difratograma de amostra de talco na Figura 9.

Figura 8 – Difratômetro de pó, Philips, modelo PW1880 (instalado no LCT-EPUSP)

Figura 9 - Difratograma de
uma amostra de talco (em
vermelho); picos difratados
são assinalados em cor azul

3 APLICAÇÕES DA DIFRAÇÃO DE RAIOS X

3.1 Identificação de fases cristalinas

A principal aplicação da difração de raios X refere-se à identificação de compostos

cristalinos, sejam eles inorgânicos ou orgânicos.

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PMI-2201 DIFRAÇÃO DE RAIOS X 8

Os planos de difração e suas respectivas distâncias interplanares, bem como as densidades de

átomos (elétrons) ao longo de cada plano cristalino, são características específicas e únicas de
cada substância cristalina, da mesma forma que o padrão difratométrico por ela gerado
(equivalente a uma impressão digital).

Um banco de dados contendo informações cristalográficas básicas e algumas propriedades

físicas de compostos cristalinos é mantido e continuamente atualizada pelo ICDD, International
Center for Diffraction Data, com sede nos EUA. Atualmente são disponíveis informações
referentes a mais de 70.000 compostos cristalinos, sendo que as mais importantes, para fins de
identificação de um composto cristalino, são as distâncias interplanares e as intensidades
difratadas normalizadas (relativas a 100%) para os vários planos (hkl) que difratam
construtivamente os raios X.

Um exemplo de uma ficha do banco de dados do ICDD referente ao talco é apresentada na

Figura 10.

Figura 10 – Ficha com

dados de estrutura
cristalina e picos
difratados do talco, banco
de dados do ICDD,
International Center for
Diffraction Data, PDF-2,
file 13-0558

Várias estratégias de identificação podem ser empregadas, sendo que a dificuldade de

identificação aumenta progressivamente com a elevação do número de fases cristalinas presentes
na amostra. Os procedimentos ou estratégias de identificação manual mais comuns referem-se a
busca por compostos presumivelmente presentes em uma amostra e o método de Hanawalt, este
último aplicado para situações nas quais se desconhecem os compostos cristalinos presentes;
para ambos os procedimentos devem ser consultados os livros Powder Diffraction File,
Alphabetical Indexes ou Hanawalt Search Manual, ou ainda o banco de dados PDF-2 em CD-
ROM (todos disponíveis para consulta na Biblioteca do PMI). Estas duas estratégias são
apresentadas esquematicamente na Figura 11.

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POR INÍCIO
MÉTODO INÍCIO
COMPOSTO
HANAWALT
ORDENAR OS
VERIFICA PICOS POR
PADRÃO DO INTENSIDADE;
COMPOSTO SELECIONAR O
PRIMEIRO
SELECIONE OUTRA
LINHA DENTRE AS
Não MAIS INTENSAS
CONFERE?
Não
Sim SELECIONE O
EXISTEM PICOS Sim PRÓXIMO PICO
SUBTRAI O
NÃO UTILIZADOS? MAIS INTENSO
PADRÃO
NÃO UTILIZADO

Sim PICOS
RESTANTES? Não DEMAIS PICOS
CONFEREM?

Não
Sim
RESULTADO
FINAL SUBTRAI O
PADRÃO

Figura 11 - Estratégias de identificação de PICOS

RESTANTES?
fases por natureza de composto e pelo
Não
método de Hanawalt RESULTADO
FINAL

A partir da década de 90, com auxílio de microcomputadores, sistemas automáticos de busca

por métodos booleanos e lógica Fuzzy passaram a ser largamente empregados no auxílio à
identificação de fases cristalinas por difração de raios X. Nestes procedimentos, os três a dez
picos mais intensos de cada fase presente no banco de dados são comparados com o difratograma
da amostra, atribuindo-se créditos e penalidades para cada pico difratado no que se refere a sua
presença/ausência, intensidade difratada e deslocamento da distância interplanar. Ao final do
processo de busca e comparação, os valores dos resultados são expressos em ordem decrescente
de pontuação, seguindo-se a avaliação final por parte do usuário.

3.2 Quantificação de fases

Como citado anteriormente, a intensidade da difração é dependente da densidade de elétrons

em um dado plano cristalino. Além deste fator, outras variáveis devem também ser consideradas,
conforme expresso na equação 2, a seguir.

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I(hkl)J = Ke p(hkl) (1/VJ2) F(hkl)J2 LP(hkl) fJ / µ (2)

onde,
I(hkl)J intensidade integrada;
Ke constante para um equipamento particular;
P(hkl) fator de multiplicidade;
VJ volume da cela unitária;
F(hkl)J fator estrutura;
LP(hkl) fator Lorentz-polarização;
fJ fração volumétrica da fase J na amostra;
µ coeficiente de absorção linear da amostra.

O fator estrutura (F) considera a eficiência do espalhamento pelos elétrons de um átomo e os

efeitos da temperatura sobre a posição dos átomos na estrutura cristalina. O fator de
multiplicidade, P, refere-se à proporção relativa de planos que contribuem para um pico
difratado. O fator Lorentz-Polarização, LP, refere-se a um fator geométrico que diminui as
intensidades integradas dos picos difratados em ângulos intermediários (na faixa de 2θ entre 40 e
60°), quando comparados com os valores de ângulos menores e maiores, uma vez que a
quantidade de polarização depende do ângulo através do qual a radiação é espalhada.

Já o fenômeno de absorção linear está relacionado à espessura da amostra, ao coeficiente de

absorção de massa, aos elementos químicos presentes e ao comprimento de onda da radiação
utilizada. A absorção, no entanto, limita a profundidade de penetração do feixe na amostra,
variando de acordo com a natureza do material, o que afeta distintamente as intensidades
difratadas de fases diferentes – ver Figura 12 (misturas binárias de quartzo com polimorfo de
SiO2 e dois outros compostos com distintos coeficientes de absorção de massa).

Figura 12 – Efeitos de distintos

coeficientes de absorção de massa
sobre intensidades difratadas de
quartzo em misturas binárias (quartzo
e cristobalita têm a mesma
composição, polimorfos de SiO2)

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PMI-2201 DIFRAÇÃO DE RAIOS X 11

Os métodos de análise quantitativa por difração de raios X desenvolveram-se

propriamente com a utilização do difratômetro com contador Geiger e da sistematização
proposta por Alexander e Klug, em 1948. A relação dos principais métodos que consideram os
efeitos da absorção sobre as intensidades e utilizam, em geral, as intensidades integradas de um
pico difratado é apresentada a seguir.

• método do padrão interno (Alexander e Klug, 1948, apud Klug e Alexander, 1974);

• método da adição (Lennox, 1957, apud Snyder e Bish, 1989);

• método do padrão externo, com sobreposição de picos (Copeland e Bragg, 1958, apud
Klug e Alexander, 1974);

• método de matrix-flushing (padrão interno - RIR) (Chung, 1974a, 1974b, 1975);

• método da adição-difração (Klug e Alexander, 1974; Smith et al., 1979b, apud Snyder
e Bish, 1989);

• outros, como o método da diluição (Clark e Preston, 1974), método de cálculo direto
(Hooton e Giorgetta, 1977), método de análise quantitativa sem padrão (Zevin, 1977,
apud Pawloski, 1985), método da razão de intensidade e método do padrão externo
(Goehner, 1982, apud Pawloski, 1985).

A quase totalidade destes métodos utiliza comparações com amostras de referência. Por
razões diversas, estes padrões não são disponíveis comercialmente, devendo ser preparados caso
a caso. Adicionalmente, outros fatores, como orientação preferencial, microabsorção e
granulação da amostra, dentre outros, propiciam substanciais dificuldades adicionais para se
obter resultados quantitativos dentro de intervalos de precisão e exatidão aceitáveis, fazendo com
que as técnicas de análises quantitativas por difração de raios X não sejam amplamente
utilizadas.

Exemplos referentes a quantificação de quartzo a partir do método de adição (amostra de

talco) e do método do padrão interno (amostra de quartzo e fluorita) são apresentados nas
Figuras 13 e 14, respectivamente.

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PMI-2201 DIFRAÇÃO DE RAIOS X 12

Figura 13 - Adições de quartzo para Figura 14 - Curva de calibração para

avaliação do conteúdo na amostra inicial análise de quartzo usando fluorita como
pelo método de adição padrão interno (Klug e Alexander, 1974)

Mais recentemente, com a utilização de computadores mais potentes e a análise de todo o

padrão do difratograma, utilizando as intensidades individuais de cada passo (step), foi
desenvolvida uma metodologia que permite o refinamento de estruturas cristalinas complexas, o
método de Rietveld (1967, 1969). Com base nesta metodologia, foi desenvolvido um
procedimento de análise quantitativa, com reconhecida precisão, que considera todo o
difratograma, gerando um difratograma calculado a partir das informações das estruturas
cristalinas das fases presentes e as suas proporções relativas (ajuste entre os difratogramas real e
o calculado com a minimização do resíduo através de mínimos quadrados), Figura 15.

" difratograma coletado

" difratograma calculado por Rietveld
" resíduo do processamento
corindon = 1,1 ± 0,9
cristobalita = 30,1 ± 9,5
fluorita = 28,1 ± 2,6
mulita = 40,8 ± 6,8
rutilo = 0,1 ± 0,1

Figura 15 – Análise quantitativa pelo

método de Rietveld. Difratogramas
gerado pela amostra e o calculado; o
resíduo é apresentado na porção inferior

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PMI-2201 DIFRAÇÃO DE RAIOS X 13

3.3 Determinação de parâmetros de cela unitária

Considerando-se que o padrão do difratograma de um material cristalino é função da sua

estrutura cristalina, é possível se determinar os parâmetros do seu retículo (a, b, c e α, β e γ da
cela unitária) desde que se disponha de informações referentes aos sistema cristalino, grupo
espacial, índices de Miller (hkl) e respectivas distâncias interplanares dos picos difratados.

Este procedimento pode ser efetuado tanto por métodos manuais para cristais de elevada
simetria (sistemas cúbico, hexagonal e tetragonal), como mais facilmente a partir de diversos
programas de computador, que permitem um rápido processamento para cristais de qualquer
sistema cristalino, independentemente de sua complexidade.

3.4 Dispositivos com controle de temperatura

Inúmeros processos de manufatura empregam temperaturas elevadas, nas quais os

constituintes primários da amostra sofrem mudanças de fase em razão do aquecimento. Dentre
estes destacam-se os processos metalúrgicos, cerâmicos e alguns de natureza química.

Um acessório de alta temperatura para difratometria de raios X permite o aquecimento

controlado da amostra e, eventualmente, o controle simultâneo da atmosfera a que ela esta
submetida, paralelamente à coleta do difratograma. Vários difratogramas podem ser coletados a
diferentes temperaturas e/ou condições de pressão parciais de gases, visando estudar o equilíbrio
do sistema e as mudanças de fases envolvidas. A Figura 16 mostra um dispositivo de alta
temperatura (de 20º a 1400ºC) acoplado a difratômetro Philips, X’Pert MPD.

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PMI-2201 DIFRAÇÃO DE RAIOS X 14

alta detetor
temperatura

tubo RX
Figura 16 - Acessório para a difração de
raios X em alta temperatura (ambiente a
bomba de 1400ºC)
vácuo

À semelhança do dispositivo de alta temperatura, acessórios específicos para temperaturas

negativas podem também ser empregados.

3.5 Orientação de cristalitos - Textura

A orientação preferencial de cristalitos em materiais sólidos policristalinos é de vital

importância para vários materiais industriais. Materiais extrudados e pós prensados, dentre
outros, são materiais que tipicamente apresentam orientação preferencial; alguns materiais
cerâmicos e semicondutores tem suas propriedades relacionadas a uma dada direção
cristalográfica, sendo de extrema importância o controle da orientação preferencial nos
processos de fabricação e controle de qualidade.

Uma das formas mais comuns para se avaliar a orientação preferencial consiste na
determinação da figura de polo referente a uma dada direção cristalográfica, ou seja, as medidas
de intensidade de uma linha particular de difração plotadas em função da orientação
tridimensional da amostra. Para esta determinação utiliza-se um acessório específico, Figura 17,
que permite a rotação da amostra em todas as direções ( Phi - rotação e Psi - inclinação),
paralelamente às medidas de intensidade difratada para uma condição fixa de θ e 2θ; os
resultados são apresentados através de uma projeção estereográfica (2D), denominada figura de
polo (Figura 17).

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PMI-2201 DIFRAÇÃO DE RAIOS X 15

amostra
Figura 17 - Acessório para determinação de orientação
preferencial – textura – e figura de polo obtida para plano
311 (hkl) do cobre

3.6 Tamanho de cristalitos

Partículas de dimensões inferiores a 1µm podem apresentar intensidades difratadas em

valores de 2θ pouco superiores e inferiores ao valor do ângulo de Bragg devido ao efeito de
alargamento de picos face ao tamanho de partículas. Tal fato deve-se ao menor número de planos
que difratam os raios X, em função das pequenas dimensões dos cristalitos, permitindo a
difração para valores de comprimento de onda um pouco superiores e inferiores ao valor de λ.

O tamanho médio de cristalito, τ, é dado pela equação 3, a seguir, onde “K”, o fator de
forma, é uma constante, usualmente com valor de 0,9, “λ” é o comprimento de onda, “B” a
largura observada da linha difratada a meia altura do pico (FWHM) e “b” a largura do pico a
meia altura para uma amostra padrão (sem alargamento de picos face às dimensões das
partículas, dimensões acima de 1µm), sendo que “B” e “b” devem ser expressos em radianos.

Kλ
τ= (3)
( B - b ) cosθ

3.7 Tensão Residual

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PMI-2201 DIFRAÇÃO DE RAIOS X 16

Tensão em um material pode causar dois efeitos distintos sobre o difratograma. Se a tensão
corresponder a um esforço uniforme, compressivo ou distensivo, também chamado de
macrotensão (macrostress), as distâncias da cela unitária dos cristais vão, respectivamente,
diminuir ou aumentar, ocasionando um deslocamento na posição dos picos difratados, conforme
exposto na Figura 18.

O desacoplamento da geometria θ-2θ passando para θ-θ, seguido da varredura para duas ou
mais linhas de difração possibilita a determinação da macrotensão presente em uma amostra
sólida.

Esforços não uniformes estão relacionados a forças de distensão e compressão simultâneas,

as quais resultam em alargamento dos picos difratados em sua posição original (sem
deslocamento, ver Figura 18). Este fenômeno, chamado de microtensão em cristalitos
(microstress), pode estar relacionado a diferentes causas: deslocamentos (o mais freqüente),
vacâncias, defeitos, planos de cisalhamento, expansões e contrações térmicas, etc. O alargamento
de picos relacionado a microtensão pode ser observado tanto para amostras sólidas como em pós
pulverizados, sendo que nestes últimos este fenômeno é idêntico ao do alargamento de picos face
à diminuição do tamanho de partículas (dimensões inferiores a 1µm), sendo praticamente
impossível a distinção entre estes.

MACROTENSÃO MICROTENSÃO
d d
esforço
sem não
esforço esforço
esforço uniforme
compressivo distensivo
uniforme uniforme

d d< d>

Figura 18 - Efeitos de esforços uniformes (compressivo e distensivo) e não uniformes sobre

a estrutura cristalina

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PMI-2201 DIFRAÇÃO DE RAIOS X 17

REFERÊNCIAS BIBLIOGRÁFICAS

Bish, D. L.; Reynolds, R. C. Sample preparation for X-ray diffraction. In: Modern Powder
Diffaction. Mineralogical Society of America, Washington, D.C., 1989, Cap.4, p.73-97.
(Reviews in Mineralogy, V.20).

Cullity, B. D. Elements of X-ray diffraction. 2.ed. Addison-Wesley Publishing Company,

INC., 1978. 555p.

Jenkins, R. JCPDS - International Centre for Diffraction Data - Sample Preparation Methods in
X-Ray Powder Diffraction. Powder Diffraction, 1986, Vol.1, No 2, p.51-63.

Klug, H. P. & Alexander, L.E. X-ray diffraction procedures for polycrystalline and
amorphous materials. 2.ed. John Wiley & Sons, 1974, 996p.

EXERCÍCIOS
1. Assinalar verdadeiro ou falso

a) a difração de raios X está relacionada ao espalhamento elástico dos raios X incidentes

sobre uma amostra, fenômeno pelo qual tem-se a mudança na direção dos raios X sem
perda de energia ou mudança de fase
b) para que ocorra a difração dos raios X o comprimento de onda da radiação incidente
deve ser pelo menos 1000 vezes menor que o da distância entre os planos da estrutura
cristalina considerada
c) a lei de Bragg é representada pela equação ou seja n λ = 2 d senθ, onde λ corresponde
ao comprimento de onda da radiação incidente, “n” a um número inteiro, “d” à distância
interplanar e θ ao ângulo de incidência dos raios X
d) a intensidade de difração de raios X é totalmente independente do número de elétrons
dos átomos em um dado plano cristalino
e) raios X policromáticos são mais indicados que os monocromáticos para estudos de
materiais cristalinos por difração de raios X
f) a seleção do ânodo do tubo de raios X é que condiciona o comprimento de onda da
radiação X a ser utilizada
g) a câmara Debye-Scherrer permite a coleta dos raios X difratados a partir de diminutas
quantidades de amostras (<0,5g).
h) os resultados de difração de raios X obtidos através da câmara Debye-Scherrer são
diretamente expressos em papel, sendo apresentados através de um sistema XY
i) a orientação de cristalitos em materiais policristalinos pode ser realizada através da
rotação da amostras em todos as direções (Phi e Psi), mantendo-se fixos os valores de θ
e 2θ

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PMI-2201 DIFRAÇÃO DE RAIOS X 18

j) difratômetros de raios X são dominados pela geometria parafocal Bragg-Brentano com

goniômetro horizontal (θ-2θ) ou vertical (θ-2θ ou θ-θ)
k) planos de difração e suas respectivas distâncias interplanares e densidades de átomos
(elétrons) são características específicas e únicas de cada substância cristalina,
equivalentes a uma impressão digital
l) a dificuldade na interpretação de um difratograma (identificação das fases) independe
do número de fases presentes na amostra
m) o método de Rietveld considera a intensidade de um único pico difratado para a análise
quantitativa por difração de raios X
n) o coeficiente de absorção de massa, também chamado de efeito matriz, é negligenciável
para fins de quantificação de fases por difração de raios X
o) o tamanho de cristalitos pode ser medido para cristais com dimensões entre 2 e 20µm
p) a determinação de tamanho de cristalitos refere-se a uma medida direta, ou seja, sem a
necessidade de comparação com padrão ou calibração instrumental
q) o método de Rietveld ser empregado tanto para o refinamento de estruturas cristalinas
como para se efetuar análises quantitativas por difração de raios X
r) a medida de tamanho de cristalitos só é possível devido a existência de um alargamento
de pico difratado quando se tem uma pequena quantidade de planos cristalinos
difratando os raios X
s) esforços uniformes sobe a estrutura cristalina ocasionam deslocamento das distâncias
interplanares o qual é evidenciado pelo alargamento dos picos no difratograma
t) microtensão ou esforços não uniformes estão relacionados a deslocamentos, vacâncias,
defeitos cristalinos, planos de cisalhamento e contrações e expansões térmicas.
u) para a determinação de tensão residual faz-se necessário o desacoplamento da geometria
θ-2θ

2. Correlacionar:
(1) identificação de fases (4) tamanho de cristalitos
(2) análises quantitativas (5) macrotensão
(3) resolução ou refinamento de estrutura (6) microtensão
cristalina (7) alta temperatura

( ) método de Rietveld ( ) banco de dados ICDD

( ) auxílio no estudo de diagramas de fases ( ) deslocamento de picos difratados
( ) método de Hanawalt ( ) figura de polo
( ) alargamento de picos difratados ( ) projeção estereográfica
( ) ajuste entre difratograma coletado e difratograma calculado
( ) deslocamentos, vacâncias, defeitos na estrutura cristalina

Por Prof. Dr. Henrique Kahn