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拉曼使用 SOP

開機步驟:

1. 開啟 spectrum,先開啟延長線的電源﹝綠色﹞,再開啟機台上的開關,待馬

達運轉聲停止後﹝三聲﹞,再往下進行。

2. 開啟 detector,延長線電源上標示為 CCD﹝紅色﹞,開啟後風扇會轉。

3. 開啟電腦主機,點選桌面程式 Andor Solis。

4. 進入程式後,左下顯示 detector 當前溫度。 程式會自動將 detector 降溫到

-40℃,等待一段時間,完成後溫度顯示變藍色。
紅 藍

5. 開啟 Lazar 電源,接著將安全鎖轉開,電流會到 0.4,等待 5 分鐘穩定。

轉動此旋鈕至
安全鎖
右邊銀幕顯示 0.4

電源

6. 電流穩定後,將功率緩緩調到 3

測量前校正:

1. 操作電腦程式,進行校正,將 slit 設定為 100μm。


2. 選 Calibrate→X-ray Calibration by Spectrograph(1),將模式設為 Raman shift,

Rayleigh wavelength 設為 532nm,Center Wavelength 設為 800nm,Grating

設為 1200,07,500(2), wavelength 設為 ㎝-1。

圖1

圖2

3. 將標準品﹝Si Wafer﹞放在導體載片上,對焦至看見 2 個清楚的小光點。


註:Si Wafer 使用前須擦拭乾淨

4. 選 Setup Acquisition,將模式設為 accumulation,時間 1 秒,次數 3 次,並且

勾選 cosmic ray removal。

5. 選取 video,再點 2D with peak label,若結果不是在 519〜520 之間,先停止

video,從 Calibration 調整 Rayleigh wavelength 小數點後第二位,直到結果落

在 519〜520 之間。
6. 滑鼠點一下 peak 最高點可以顯示能量的大小,通常能量要在 1100 左右,若

能量太小則調整焦距至 MAX 值。

樣品測量:

1. 將 sample 放在載片上,從 Setup Acquisition 設定條件,選擇 take signal。

註:peak 最高點能量 X 秒數<60000

2. 存檔:file→save as 可以存 SIF 檔﹝原始檔﹞(3),只能在此程式中使用;export

as 可以存 ASCii 檔﹝文件檔﹞(4),可以用數據作圖。

圖3 圖4

3. 關機步驟﹝開機步驟的逆向操作﹞。

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