Tessent®: Scan and ATPG

Student Workbook

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Part Number: 073120

 Table of Contents

Module 1
Basic Concepts. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 13
Objectives . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 13
Why Test? . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 14
Types of Test . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 15
What Is Test? . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 17
Manufacturing Defects . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 18
Fault Models . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 20
Fault Models and Test Patterns. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 21
Automatic Test Pattern Generation (ATPG) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 22
Additional Fault Models . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 24
Bridge Fault: Test Multiple Detection . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 25
Layout-Aware Bridge Fault Model . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 26
At-Speed Fault Models: Transition . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 27
At-Speed Fault Models: Path Delay . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 28
User-Defined Fault Models (UDFM)/Cell-Aware UDFM . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 29
IDDQ Fault Model. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 30
Scan Test . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 31
Scan Flip-Flops/Scan Cells . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 32
Basic Scan Test — Overview . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 33
Basic Scan Test . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 34
Basic Scan Test Review. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 42
Tessent Shell: Contexts and Modes . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 43
Overview: Tessent Shell . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 44
Command Syntax and Structure . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 45
Invocation, System Modes and Contexts. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 46
Contexts . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 48
Invoking FastScan Inside of Tessent Shell . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 49
Accessing UNIX Commands From the Tool Command Line. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 50
Getting Help. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 51
Getting Help: Useful Tool and System Commands. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 52
Review . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 53
Lab 1: Exploring the Help System. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 54

Module 2
ATPG Flow . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 55
Objectives . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 55
Full DFT Flow in Tessent Shell. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 56
DFT Library . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 57
Creating a DFT Library . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 59
Automatic Generation of DFT Libraries . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 60
Black Boxes . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 61

Tessent: Scan and ATPG 3

 Table of Contents

Auto Black Boxing for Incomplete Netlists . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 63

Black Box Examples . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 64
ATPG Setup . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 65
Test Procedure File . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 66
Test Procedure File: Timeplates . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 69
Test Procedure File: Setup, Load_Unload . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 70
Test Procedure File: Load_Unload and Shift . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 71
Dofile . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 72
Dofile: Scan Chain Definition . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 73
Dofile: Clock/Control Signal Definition . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 75
DC Scan Insertion Flow. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 77
DC Scan Insertion . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 78
ATPG Process . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 79
ATPG Process: Setup. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 80
ATPG Process: DRCs . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 82
DRCs . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 83
ATPG Process: Configuring ATPG. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 87
ATPG Process: Generate Patterns . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 88
ATPG Process: Save Results . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 89
Lab 2: Generating Test Patterns. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 90

Module 3
Fault Grouping, Transcripts and Statistics . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 91
Objectives . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 91
Faults . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 92
Fault Locations . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 93
Specifying the Fault Universe: Add Faults . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 94
Specifying the Fault Universe: Excluding Faults . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 95
Specifying the Fault Universe: Initial Faults To Be Tested. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 96
Transcript/Logfile Overview . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 97
Understanding the Logfile . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 98
Logfile Overview . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 99
Logfile Review, ATPG Warnings, and Auto Adjustment . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 107
Test Coverage Reporting: Fault Types: Testable . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 108
Test Coverage Reporting: Metrics . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 109
Calculating Testability . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 110
Fault Types: Detected By Implication (DI) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 111
Fault Types: Detected By Simulation (DS) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 112
Fault Types: Possible Detected Faults (PT,PU). . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 113
Fault Types: ATPG Untestable (AU) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 114
Fault Types: Uncontrolled (UC) and Unobserved(UO). . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 115
UC, UO and Aborted Faults . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 116
Fault Types: Untestable Faults . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 117
Fault Types: Unused (UU). . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 118
Fault Types: Tied (TI) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 119
Fault Types: Blocked (BL) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 120
Fault Types: Redundant (RE) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 121
Equivalent Faults (EQ) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 122

4 Tessent: Scan and ATPG

Table of Contents

Lab 3: Understanding ATPG Messaging. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 123

Module 4
Test Patterns and Test Pattern Generation . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 125
Objectives . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 125
ATPG Test Pattern Types . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 126
Basic Scan Patterns — Review . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 127
Clock Sequential Patterns . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 128
Clock Sequential Pattern Operation. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 131
Testing Around RAMs. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 138
Structured Test With RAMs . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 140
Elements of a RAM . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 141
Data Pin Fault Detection . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 142
Address Fault Detection. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 145
Typical RAM Embedding . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 150
Control Signals for RAMs . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 151
Multiple Load (Multi-Load) Patterns . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 152
Overview: Testing RAMs With Multi-Load Patterns . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 154
Using Multi-Load Patterns to Test RAMs . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 155
Using Multi-Load Patterns to Test RAMs: Tests for Stuck-At-0 at the Output of U1 . . . . . 158
Multi-Load Pattern Operation: Testing RAMs . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 159
Multi Load Patterns: Example 2 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 163
Generate Optimum Test Patterns Automatically . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 165
Report Patterns. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 166
Report Scan Cells. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 167
Saving Patterns . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 169
Reuse and Debugging . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 170
Reuse and Debugging: ASCII and Binary Formats . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 171
Reuse and Debugging: Reading ASCII Files Back Into Tessent Shell . . . . . . . . . . . . . . . . . 172
Time-Based Verification . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 173
Verification of Pattern Formats . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 175
Manufacturing Test Patterns . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 176
Lab 4: Understanding Test Pattern Generation . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 177

Module 5
Advanced Fault Models and Complex Pattern Generation . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 179
Objectives . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 179
Review: Fault Models . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 180
At-Speed: Transition and Path Delay Faults . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 181
Transition Fault Model . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 182
Default Observation of Transition Faults . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 183
False Paths . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 184
Multicycle Paths . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 185
Path Delay Fault Model . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 186
Path Definition Files . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 188
Path Delay Pattern Flow . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 189
At-Speed Pattern Generation . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 190
Launch-Off-Capture or Broadside . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 192

Tessent: Scan and ATPG 5

 Table of Contents

Launch-Off-Shift: Basic Combinational . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 194

Launch-Off-Shift . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 195
At-Speed Test: Generating Internal Clocks . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 196
Controlling Clocks During Shift and Capture . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 197
Defining OCC functionality for ATPG . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 198
Named Capture Procedure (NCP) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 199
What Are Named Capture Procedures (NCP)? . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 200
NCP Links External With Internal Signals . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 201
Components of NCP With External and Internal Modes . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 202
Details of External and Internal Modes . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 203
Selection With Condition Statements . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 206
NCP With Condition Statements . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 207
Use ATPG Engine Define NCP. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 208
Named Capture Procedure Rules . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 209
Pattern Verification . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 210
write_procedure_testbench . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 212
Clock Control Procedures (CCD) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 213
Per-Cycle and Sequence Clock Control Support . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 215
ATPG Cycle Definitions . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 216
Example: Per-Cycle Clock. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 217
Example: Multi-Cycle Clock . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 218
Keywords (Clock Control Definitions) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 219
Procedure to use CCD for ATPG . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 221
IDDQ Patterns . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 222
Creating a Single Test Pattern File . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 224
Lab 5: Testing for High Quality . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 226

Module 6
Design Rule Checks and Test Coverage . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 227
Objectives . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 227
ATPG: Model Flattening and Learning Analysis . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 228
ATPG Design Rule Checking (DRC) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 230
Clocks . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 231
Clock Cones . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 232
C1 DRC . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 233
C1 DRC Investigation . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 234
Handling C1 Violations . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 235
C3/C4 DRC . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 236
C3/C4 Investigation . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 237
Handling C3 and C4 Violations. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 238
C6 DRC . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 239
C6 Investigation . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 240
Handling C6 Violations . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 241
C3/C4/C6 Recap . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 242
DRC D1: Data Disturbed . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 243
TieX, Tie0, Tie1 (D5) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 244
DRC D5: Non-Scan FF Determination . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 245
Non-Scan Latches and Transparency: DRC D6 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 247

6 Tessent: Scan and ATPG

Table of Contents

Handling D5 and D6 Violations . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 249

Contention Check During Load_Unload: E4. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 250
DRC E4 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 251
Handling E4 Violations: Force Bidirectional Pins to Z . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 252
Scan Chain Trace Rules: T3 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 253
Scan Chain Trace Rules: T4, T5 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 255
Scan Chain Tracing for Mux D . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 256
Scan Chain Lockup Latch . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 257
State Stability . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 258
What Does Stability Analysis Do? . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 259
State Stability Gate Report . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 260
The Need For State Stability Analysis. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 261
Analyzing DRC Violations as Possible Causes of Low Coverage (Stuck-At Fault). . . . . . . 262
Analyzing DRC Violations: Commands . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 264
Analyzing DRC Violations: report_gates Command . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 266
Analyzing DRC Violations: Commands in DFTVisualizer . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 268
Lab 6: Troubleshooting DRCs . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 270

Module 7
Troubleshooting Low Test Coverage and Simulation Mismatches . . . . . . . . . . . . . . . . . . 271
Objectives . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 271
Sources of Low Coverage . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 272
Troubleshooting Areas of Low Coverage . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 273
Adding Primary Input Points For Investigation. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 274
Analyzing (Non-DRC) Causes of Low Coverage (Stuck-At Fault) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 275
Assessing the Problem in DFTVisualizer . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 278
Faults Classified as ATPG Untestable. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 281
Tools for Debugging AU Faults: set_gate_report Command . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 282
Tools for Debugging AU Faults . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 284
Faults Classified as Undetectable . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 287
Fault-By-Fault UC Debugging: report_faults Command . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 288
Fault-By-Fault UC Debugging: analyze_fault Command . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 289
Fault-By-Fault UC Debugging: report_test_stimulus Command . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 290
Aborted Faults . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 291
Addressing Aborted Faults . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 292
Debugging Transition/Path Delay Faults: Cell Constraints Can Prevent Detection . . . . . . . 295
Constrain State Reporting . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 296
Debugging Transition/Path Delay Faults: Perform a Stuck-At Test for Sites Along Path . . 297
Analyze Faults in DFTVisualizer . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 298
Show Statistics in DFTVisualizer . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 299
Report Faults in DFTVisualizer. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 300
Reporting Fault Status . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 303
Testbenches . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 304
Serial Testbench. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 305
Serial Pattern Verification . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 306
Parallel Verilog Testbench. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 307
Mismatch Transcript . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 308
Mismatch Investigation . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 309

Tessent: Scan and ATPG 7

 Table of Contents

Pattern Masking . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 310

Debugging Simulation Mismatches. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 312
DRC Violations: Simulation Mismatches . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 313
When, Where, and How Many Mismatches . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 314
Mismatch Symptoms . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 315
Clock Skew Problems . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 316
Timing Violations . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 317
Library Problems . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 318
Modeling Abstraction . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 319
Library Verification Flow . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 320
Library Verification With LibComp . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 321
Automatic Simulation Mismatch Analysis Flow. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 322
Analyze Simulation Mismatches . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 323
ModelSim Invocation Script . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 324
Report Mismatch Sources Command . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 325
Troubleshooting Tips . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 326
VERILOG_VECTYPE_SIGNAL . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 327
Debugging Serial Simulation Mismatches: Chain Test . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 328
Clock Skew in Chain Test . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 329
Setup Commands That Affect Expected Values . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 330
add_black_boxes . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 331
X Clock Handling . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 332
Bus Simulation. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 333
Set Z Handling . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 334
add_primary_inputs -Internal . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 335
Modeling Issues . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 336
Mux Model Pessimism . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 337
ATPG Switch Models . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 338
ROM and RAM Initialization Data . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 339
Weak Pulls Often Have Slow Timing for ATPG . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 340
Event Simulation . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 341
Event Simulation: DFFs and Latches . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 342
Example 1: Reporting Pattern Index . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 343
Example 2: Reporting Parallel Pattern 0 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 344
Example 3: DRC Pattern Load_Unload. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 345
Lab 7: Troubleshooting Test Patterns and Simulation Mismatches . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 346

Module 8
Compression Techniques . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 347
Objectives . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 347
Understanding the ATPG Process . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 348
Standard Test Application Process . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 349
ATPG-Based Compression Techniques . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 350
Static Compression . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 351
Dynamic Compression. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 352
Clock Domain Analysis and Clock Merging . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 353
Multiple Clock Capture Per Pattern. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 354
ATPG Create Patterns Command . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 355

8 Tessent: Scan and ATPG

Table of Contents

Balanced Scan Chains . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 357

Short Scan Chains . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 358
Embedded Deterministic Test (EDT) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 359
Basic Terminology. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 360
Data Volume and Test Application Time . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 361
EDT Reduces Test Data Volume and Application Time. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 362
ATPG With EDT . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 363
EDT Test Application Process. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 364
Example Results of EDT . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 365
EDT Decompressor Logic With XPress Compactor . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 366
The Decompressor . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 367
Test Pattern Decompression . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 368
The Compactor . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 369
EDT Compression Inside of Tessent Shell . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 370
Tessent Shell EDT Flows and Usage. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 371
EDT Logic Creation. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 372
Default Flow: Post-Core-Synthesis With Wrapper . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 373
Summary: ATPG and EDT . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 374
Lab 8: Tessent Shell EDT Internal RTL Flow Using Tessent® TestKompress®. . . . . . . . . 375

Module 9
Additional Test Methodologies and Topics . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 377
Objectives . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 377
The Need for a New Fault Model . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 378
What Is a User-Defined Fault Model (UDFM)? . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 379
ATPG Model . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 381
Defining Test Alternatives. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 382
Gate-Exhaustive UDFM . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 383
ATPG With UDFMs . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 385
Cell-Aware ATPG . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 386
Targeting Cell-Internal Defects . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 387
Layout Extraction . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 388
Fault Simulations . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 390
Cell-Aware UDFM Generation . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 391
Cell-Aware Methodology . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 392
Summary of Steps in the Cell-Aware Characterization Flow . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 393
UDFM Summary . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 394
More Information. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 395
Why Low-Power Test? . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 396
Tessent Low-Power . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 397
Low-Power ATPG . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 398
Limiting Switching During Capture . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 399
Low-Power Decompressor Reducing Switching Activity During Shift . . . . . . . . . . . . . . . . 400
Low-Power Test Flow . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 401
IEEE1801 (UPF 2.0) and CPF 1.1 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 402
Usage Overview. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 403
Low Power Design ATPG General Strategy . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 405
Test Sequencing . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 406

Tessent: Scan and ATPG 9

 Table of Contents

Power State During Scan Test . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 407

Testing Low Power Components. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 408
Basic Usage Flow for ATPG . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 409
Example 1: Power Metrics Reporting . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 410
Example 2: Power Metrics Reporting . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 411
Example 3: Power Metrics Reporting . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 412
Example 4: Enhanced Switching Reporting for Shift Cycle . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 413
Example 5: Enhanced Switching Reporting . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 414
Extensions to Pattern Filtering for Switching . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 415
More Information. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 416
On-Chip Clock Control (OCC) Requirements. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 417
Design Placement . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 418
Clock Controller Schematic. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 419
Functional Mode Operation . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 420
Programmable Length Shift Register . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 421
Shift Mode . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 422
Slow Capture Mode . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 423
Timing Diagram for Slow Capture Mode . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 424
Scan Enable Synchronization . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 425
Fast Capture Mode. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 426
Timing Diagram for Fast Capture Mode . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 427
Clock Control Logic Design and Application Note. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 428
Overview: Where to Get Help . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 429
Accessing SupportNet Material . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 430
Customer Support . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 431
Course Summary . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 433
Related Courses . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 436
Products: Tessent Silicon and Yield Analysis . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 437
Lab 9: Demo . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 439

Appendix A
DFTVisualizer . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 441
Objectives . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 441
DFTVisualizer Debugging Environment. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 442
DFTVisualizer Windows . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 443
Troubleshooting a DRC Violation in DFTVisualizer . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 446
Troubleshooting a DRC Violation in the Debug Window . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 448
Adding an Instance to the Design Window . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 449
Expand Design Cells to Examine Content Details . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 450
Primitive Level Highlights. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 451
Example 1: set_gate_level Primitive and report_gates . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 452
Example 2: set_gate_level Primitive and report_gates . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 453
Reporting Fault Status . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 454
Constraint Reporting . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 455
Adding Test Procedure Values to the Debug Window . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 456
Tracing Back to a DRC Violation X Source . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 457
Tracing Down a Level of Hierarchy in the Design Window . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 458
The Data Window . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 459

10 Tessent: Scan and ATPG

Table of Contents

The Data Window With Clock Cone Information. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 460

The Browser and Signals Window . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 461
The Browser: Hierarchy View . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 462
The Browser: Library View . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 463
The Browser: Clocks View . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 464
View Selected Instances From Browser to Debug Window . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 465
The Browser Window With Test Coverage Information. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 466
The Browser Window With Fault Coverage . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 467
Viewing DRC Violation D5 in the Browser Window . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 468
The Wave Window . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 469
Summary . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 470
Lab: No Lab . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 472

Tessent: Scan and ATPG 11