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Las medidas de tendencia central son medidas estadísticas que buscan resumir
en un solo valor a un conjunto de valores y representan un centro en torno al cual
se ubica dicho conjunto.
Otra herramienta con la que se cuenta para el análisis de datos son las
medidas de dispersión o variabilidad. Estas medidas son útiles para saber
qué tan dispersas o esparcidos están los datos con respecto a la tendencia
central.
Límite real inferior (LRI) = la media del proceso menos tres veces la
desviación estándar del proceso
Límite real superior (LRS) = la media del proceso más tres veces la
desviación estándar del proceso
Modificar el proceso
Cambiar las especificaciones
Inspeccionar el 100% de los productos
Vendiendo la precisión
Vendiendo el método
Reasignando productos a máquinas menos precisas
Acelerando el proceso
Reduciendo la cantidad de inspección
El índice de capacidad del proceso real (Cpk) es una modificación del Cp que
evalúa donde se localiza la media del proceso respecto a las especificaciones.
Matemáticamente se define como:
Cuando el proceso se ubica en el punto medio de las especificaciones el valor de
Cpk es igual al valor de Cp. Cuando el valor de Cpk es menor que Cp, el proceso
no está centrado. Se pueden presentar los siguientes casos con respecto a la
relación de Cpk y Cp: ambos iguales y mayores que 1 entonces el proceso es
capaz; ambos iguales pero menores que 1 indican un proceso incapaz pero
centrado; Cp mayor que 1,33 pero Cpk menor que 1, el proceso es capaz pero
está descentrado; y, Cp menor que 1 y mayor que Cpk y Cpk menor que 1 el
proceso es incapaz y está descentrado.
Existen diferentes tipos de muestreo (la acción de elegir los productos que
conformarán la muestra para analizar el proceso y su calidad). A continuación se
describirán brevemente:
Planes por variables: Se toma una muestra aleatoria del lote y a cada
unidad se le mide una característica de calidad de tipo continuo (longitud,
peso, …). Con estas mediciones se calcula estadísticamente un valor que
se compara contra el valor permisible.
Planes por atributos: Se extrae aleatoriamente una muestra de un lote y
cada pieza es clasificada de acuerdo a ciertos atributos como aceptable o
rechazada. Si el número de piezas rechazadas es menor a cierto número
previamente definido, el lote es aceptado. En caso contrario, el lote es
rechazado. Los planes por atributos pueden ser:
o Plan de muestreo simple: en este plan se tiene un tamaño de
muestra y un número de aceptación previamente definidos.
o Plan de muestreo doble: este tipo de plan consiste en tomar una
primera muestra de tamaño pequeño para detectar lotes muy buenos
o muy malos y si en la primera muestra no se puede definir como es
el lote, entonces se toma una segunda muestra. Se define mediante
el tamaño del lote, el tamaño de la primera muestra, el número de
aceptación para la primera muestra, el tamaño de la segunda
muestra y el número de aceptación de la segunda muestra.
o Plan de muestreo múltiple: es una generalización del plan de
muestreo doble en la cual el proceso de tomar otra muestra se
puede extender el número de veces que sea necesario.
Referencias: