You are on page 1of 228

SunSet E20

Instrukcja obsługi
Wersja 1.01
SS266

MAN-11100-E01 Rev. B
Deklaracja zgodności
z zaleceniami Unii Europejskiej

My, firma
Sunrise Telecom
22 Great Oaks Boulvard
San Jose, CA 95119
USA
oświadczamy pod wyłączną odpowiedzialnością, że
tester SunSet model E20
spełnia zalecenia Wytycznych 89/336/EEC w zakresie kompatybilności
elektromagnetycznej. Zgodność została wykazana zgodnie ze specyfika-
cjami wymienionymi w oficjalnych dziennikach Wspólnoty Europejskiej:
EN50081-1 Emisja zakłóceń
EN 55022:1995 (Klasa A)
EN 50082-1 Odporność
EN61000-4-2:1995
EN61000-4-3:1995
EN61000-4-4:1995
Testy zostały przeprowadzone w typowej konfiguracji przyrządu.

Zgodność z powyższymi zaleceniami jest symbolizowana znakiem


"Conformité européenne":
Spis treści
Rozdział 1 Ustawienia początkowe .....................................................................1
Rozpakowywanie testera ................................................................................1
Wymiana baterii...............................................................................................2
Rozdział 2 Opis ustawień testowych ..................................................................5
Ostrzeżenia .....................................................................................................5
Widok przyrządu z przodu...............................................................................5
Przyciski ............................................................................................................. 5
Dwukolorowe diody sygnalizacyjne .................................................................. 10
Panele złączy ................................................................................................... 12
Rozdział 3 Menu ..................................................................................................15
Wprowadzenie...............................................................................................15
Konfiguracja testu..........................................................................................16
Tryb E1SINGL .................................................................................................. 17
Tryb E1DUAL ................................................................................................... 22
Tryb E1-MUX ..................................................................................................... 28
Tryb MUXTEST ................................................................................................ 32
Nadawanie bitowego wzorca testowego .......................................................36
Standardowe wzorce bitowe............................................................................. 37
Bitowe wzorce testowe definiowane przez użytkownika................................... 38
Wyniki pomiarów ...........................................................................................41
Wyniki pomiarów dla łącza E1 i definicje ogólne .............................................. 44
Wyniki pomiarów w trybie E1-MUX................................................................... 51
Wyniki pomiarów w trybie MUXTEST ............................................................... 53
Wyniki pomiarów transmisji danych (DATACOM) .............................................. 53
Inne pomiary..................................................................................................53
Podgląd odbieranych danych ........................................................................... 53
Podgląd słów FAS ............................................................................................ 55
Podgląd słów MFAS ......................................................................................... 56
Analiza zgodności impulsów z maską .............................................................. 57
Analiza ramek z bitami C.................................................................................. 59
Analiza histogramów ........................................................................................ 61
Opóźnienie propagacji sygnału ........................................................................ 65
Dostęp do kanału głosowego ........................................................................66
Pomiary w kanale głosowym i pomiary szumu ................................................. 67
Podgląd sygnalizacji liniowej (CAS).................................................................. 70
Analiza wywołań............................................................................................... 71
Emulator wywołań (CALL EMULATOR) .............................................................. 77
Ustawienia nadzorcze (SUPERVISION SETUP) ................................................. 85
Parametry wybierania (DIAL PARAMETERS) ..................................................... 86
Znaczenia sygnałów ......................................................................................... 87
Inne właściwości (OTHER FEATURES)...........................................................92
Wprowadzanie błędu (ERROR INJECTION)....................................................... 92
Generacja alarmu (ALARM GENERATION) ........................................................ 94
Podgląd wyników (VIEW TEST RECORD).......................................................... 96
Nadawanie słów ramkowanych (Send Frame Words) ...................................... 97
Parametry systemowe (SYSTEM PARAMETERS) .........................................100
Wersja / Opcja................................................................................................ 100
Profile systemowe .......................................................................................... 101
Konfiguracja pomiarów ................................................................................... 104
Konfiguracja ogólna........................................................................................ 107
Zerowanie pamięci nieulotnej ......................................................................... 110
Autotest .......................................................................................................... 111
Oczyszczanie bufora drukarki ........................................................................ 111
Domyślne ustawienia fabryczne ..................................................................... 111
Wybór języka ...............................................................................................111

SunSet E20 wersja 1.01 i


SPIS TREŚCI

Rozdział 4 Zastosowania ................................................................................. 113


Podłączanie kabli........................................................................................ 113
Zastosowania podstawowe ........................................................................ 115
Badania odbiorcze nowych linii....................................................................... 115
Monitorowanie pracującego łącza................................................................... 116
Sprawdzanie synchronizacji częstotliwości..................................................... 118
Pomiar poziomu sygnału ................................................................................ 119
Przeprowadzanie testu czasowego ................................................................ 121
Podgląd kodów sieciowych lub danych w kanale............................................ 122
Monitorowanie kanału głosowego................................................................... 123
Prosta rozmowa / słuchanie............................................................................ 124
Nadawanie sygnału tonowego........................................................................ 125
Testowanie łącz Nx64 kbit/s ........................................................................... 126
Użytkowanie baterii i ładowarki....................................................................... 127
Użytkowanie portu szeregowego .................................................................... 128
Zdalne sterowanie .......................................................................................... 132
Zastosowania zaawansowane.................................................................... 137
Test przelotowy z podwójnym wprowadzaniem i pobieraniem danych
podczas pracy łącza ....................................................................................... 137
Testowanie multipleksera terminali................................................................. 140
Emulacja multipleksera terminali .................................................................... 142
Emulacja multipleksera transferowego ........................................................... 143
Rozdział 5 Transmisja danych ........................................................................ 149
Przegląd metod transmisji danych.............................................................. 149
Wprowadzenie ................................................................................................ 149
Elementy systemów transmisji danych ........................................................... 149
Podstawy transmisji danych ........................................................................... 150
Sieci transmisji danych ................................................................................... 150
Procedura sterująca wywołaniem ................................................................... 151
Protokół warstwy fizycznej .............................................................................. 152
Menu transmisji danych .............................................................................. 153
Konfiguracja testów dla trybu transmisji danych ............................................. 153
Interfejs transmisji danych .............................................................................. 158
Podgląd / wydruk bufora ................................................................................. 161
Wyniki pomiarów dla testów transmisji danych ............................................... 162
Inne pomiary ................................................................................................... 165
Protokoły......................................................................................................... 166
Rozkład styków w interfejsach do transmisji danych.................................. 166
Zastosowania.............................................................................................. 170
Testy transmisji danych "punkt - punkt" .......................................................... 170
Test portu transmisji danych multipleksera 2M ............................................... 172
Monitorowanie transmisji danych.................................................................... 173
Lokalizacja uszkodzenia za pomocą zdalnej i lokalnej pętli zwrotnej.............. 174
Rozdział 6 Przegląd technologii ..................................................................... 177
Przegląd technologii E1.............................................................................. 177
Wstęp ............................................................................................................. 177
Zalecenia techniczne ...................................................................................... 177
Definicje podstawowe ..................................................................................... 177
Przetwarzanie sygnału głosowego.................................................................. 178
Przepływność 2,048 Mbit/s ............................................................................. 179
Kody liniowe ................................................................................................... 179
Poziomy sygnałów .......................................................................................... 180
Ramkowanie 2,048 Mbit/s .............................................................................. 181
Technologia MFR2, DTMF i DP...................................................................... 185
Rozdział 7 Usuwanie usterek .......................................................................... 189
Informacje ogólne ....................................................................................... 189
Kalibracja .................................................................................................... 191
Obsługa klientów ........................................................................................ 194

ii SunSet E20 wersja 1.01


SPIS TREŚCI

Rozdział 8 Specyfikacje i konfiguracje ...........................................................195


Specyfikacja podstawowa ...........................................................................195
Złącza i porty .................................................................................................. 195
Wskaźniki stanu i alarmu................................................................................ 195
Generator bitowego wzorca testowego .......................................................... 195
Wprowadzanie błędów i alarmów ................................................................... 196
Ogólne dla łącza E1 ....................................................................................... 196
Nadajniki dla łącza E1 .................................................................................... 196
Odbiorniki dla łącza E1................................................................................... 196
Pomiary podstawowe ..................................................................................... 197
Inne pomiary................................................................................................... 197
Kanał głosowy dla łącza E1............................................................................ 198
Testy transmisji danych (SS600).................................................................... 198
Testy X.50 64 kbit/s (SW606)......................................................................... 200
Inne opcje....................................................................................................... 201
Dane ogólne ................................................................................................... 201
Konfiguracje przyrządu................................................................................202
Zestaw podstawowy (tester)........................................................................... 202
Opcje sprzętowe............................................................................................. 202
Opcje oprogramowania SUNWARE ............................................................... 202
Akcesoria........................................................................................................ 203
Specyfikacja opcji dostępu sieciowego .......................................................205
Testowanie dostępu pierwotnego ISDN (SW610) .......................................... 205
Analiza protokołu V5.X (SW630) .................................................................... 207
Specyfikacje opcji dla sieci komórkowych...................................................208
Specyfikacje opcji dla sieci Frame Relay ....................................................210
Specyfikacje opcji dla sieci komutowanych.................................................211
Skróty .................................................................................................................215

Skrócone warunki gwarancji ...........................................................................221

SunSet E20 wersja 1.01 iii


SPIS TREŚCI

iv SunSet E20 wersja 1.01


Rozdział 1 Ustawienia początkowe

Zapraszamy Państwa do pracy z miernikiem SunSet E20. Niniejsza in-


strukcja zapozna Was z ustawieniami i pracą testera oraz z szeroką gamą
możliwości pomiarowych przyrządu.

Rozpakowywanie testera
Rozpakowanie testera SunSet powinno odbywać się zgodnie z poniższa
procedurą:
1) Wyjąć list przewozowy z opakowania transportowego.
2) Wyjąć tester SunSet oraz akcesoria z opakowania transportowego.
3) Stwierdzone braki lub uszkodzenia natychmiast zgłosić do przewoźni-
ka oraz firmy Sunrise Telecom.
4) Sprawdzić, czy dostarczono wszystkie części zamienne wymienione w
liście przewozowym.
5) Wypełnić gwarancyjną kartę rejestracyjną i odesłać ją niezwłocznie do
firmy Sunrise Telecom lub do swojego dystrybutora krajowego.
UWAGA: Firma Sunrise Telecom musi otrzymać Państwa gwarancyj-
ną kartę rejestracyjną w celu przesyłania Państwu uaktualnionych
wersji oprogramowania SunWare.
6) Upewnić się, czy karta z oprogramowaniem SunWare jest prawidłowo
włożona do gniazda w testerze (zgodnie z rys. 1).
7) Podłączyć ładowarkę baterii o symbolu SS138 do odpowiedniego wyj-
ścia przyrządu: 120 VAC - 240 VAC
8) Włączyć tester i sprawdzić, czy autotest wykonuje się bezbłędnie
(SELF TEST). Jeśli tester nie włącza się szybko, to bateria może wy-
magać ładowania przez około 5 minut przed rozpoczęciem pracy.
9) Przed pierwszym użyciem testera należy go naładować przez co naj-
mniej jedną godzinę. Można też pozostawić włączoną ładowarkę bate-
rii podczas pracy testera.
10) Tester i akcesoria można przełożyć do przenośnej torby (jeśli była za-
mówiona).

SunSet E20 wersja 1.01 1


ROZDZIAŁ 1 USTAWIENIA POCZĄTKOWE

Rys. 1. Instalacja karty z oprogramowaniem

UWAGA: Każda karta z oprogramowaniem SunWare jest dostosowana


do konkretnego testera. Jeśli Państwa przyrząd nie rozpoczął pracy
w sposób poprawny, należy sprawdzić, czy numer fabryczny wydru-
kowany na karcie oprogramowania SunWare pasuje do numeru fa-
brycznego, który znajduje się na tylnej ściance testera.
Podczas zamawiania nowych wersji oprogramowania Sunware, należy
podać numer fabryczny testera, w którym będzie umieszczona karta
z nowym oprogramowaniem. Tester SunSet E20 jest wyposażony także
w drugie złącze, do którego opcjonalnie można włączać kartę pamięci
SRAM.

Wymiana baterii
1) Należy nacisnąć pokrywkę baterii (znajduje się ona na tylnej ściance
testera) w kierunku wskazanym strzałką, a następnie wyjąć pojemnik
na baterie. Patrz także rys. 2.
2) Wyciągnąć pojemnik na baterie NiMH (symbol SS140) z obudowy i
wyjąć go z testera.
3) Odpiąć pojemnik na baterie zgodnie z rys. 2.
4) Przypiąć nowy pojemnik na baterie, umieścić go wewnątrz testera i
nałożyć pokrywkę mocując jednocześnie zatrzaski w odpowiednich
miejscach na obudowie.

2 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 1 USTAWIENIA POCZĄTKOWE

Rys. 2. Wymiana baterii

Zużyte baterie należy przechowywać w sposób bezpieczny.

SunSet E20 wersja 1.01 3


ROZDZIAŁ 1 USTAWIENIA POCZĄTKOWE

4 SunSet E20 wersja 1.01


Rozdział 2 Opis ustawień testowych

Ostrzeżenia
1. Karty z oprogramowaniem należy wkładać i wyjmować TYLKO
wtedy, gdy przyrząd jest wyłączony. W innym przypadku karty te
mogą ulec uszkodzeniu.
2. Należy używać tylko ładowarki SunSet. Jest ona oznakowana na-
zwą i logo firmy Sunrise Telecom.
3. Podczas przenoszenia testera SunSet z miejsca bardzo zimnego
do gorącego, należy pozwolić mu na rozgrzanie się przez co naj-
mniej 4 godziny przed użyciem. Kondensacja pary wodnej może
zakłócić pracę testera oraz spowodować uszkodzenie przyrządu
po jego włączeniu.
4. Nie wolno umieszczać przyrządu w wodzie lub wystawiać na bez-
pośrednie działanie deszczu.

Widok przyrządu z przodu


Rys. 3 przedstawiający widok testera SunSet E20 z przodu znajduje się
na następnej stronie.

Przyciski
Większość przycisków testera SunSet ma dwie różne funkcje. Białe ozna-
kowanie przycisku pokazuje, jaka funkcja będzie wywołana, jeśli przycisk
zostanie naciśnięty samodzielnie. Pomarańczowe oznakowanie ponad
przyciskiem pokazuje, jaka funkcja zostanie uruchomiona, jeśli najpierw
zostanie naciśniety przycisk SHIFT. Napis SHIFT wyświetlony na czarnym
tle pojawi się wówczas w górnym, lewym rogu ekranu.
Przycisku SHIFT nie należy przyciskać równocześnie z innym przyci-
skiem. Powinien on być naciśnięty i następnie zwolniony. W tym momen-
cie pojawi się na ekranie wskaźnik SHIFT i dopiero teraz można naciskać
i zwalniać dowolne przyciski, a tester SunSet uruchomi funkcję pokazaną
za pomocą pomarańczowego oznakowania.
Jeśli przyciski nie zachowują się tak, jak się spodziewaliśmy, to należy
sprawdzić wskaźnik SHIFT. Jeśli wskaźnik ten (wyświetlany w górnym,
lewym rogu ekranu) pokazuje nieprawidłowy stan, to należy po prostu
przycisnąć przycisk SHIFT ponownie.

SunSet E20 wersja 1.01 5


ROZDZIAŁ 2 OPIS USTAWIEŃ TESTOWYCH

Rys. 3. Widok testera SunSet z przodu

6 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 2 OPIS USTAWIEŃ TESTOWYCH

Oznakowania białe
Przyciski funkcyjne (F1, F2, F3, F4): przyciski te są używane do wybiera-
nia funkcji od F1 do F4, wyświetlanych na dole ekranu.
Podczas pracy na ekranie konfiguracyjnym dostępny jest szereg opcji dla
każdej konfigurowanej pozycji. Dostępne możliwości pojawiają się na dole
ekranu i można spośród nich wybrać żądaną przez bezpośrednie naci-
śnięcie odpowiedniego przycisku funkcyjnego (patrz rys. 4).
Na rys. 4 pokazane jest ustawianie ramkowanie na PCM-30 za pomocą
przycisku funkcyjnego F1.
Należy zwrócić uwagę na następujące rzeczy:
1) W większości przypadków, kiedy naciskany jest żądany przycisk
funkcyjny, kursor przemieści się automatycznie do następnego wier-
sza ekranu. W celu dokonania zmiany ustawień w poprzednim wier-
szu, należy nacisnąć przycisk ze strzałką w górę, następnie wybrać
opcję za pomocą odpowiedniego przycisku funkcyjnego.
2) Opcje pojawiające się na górze ekranu są związane z odpowiednim pa-
rametrem odnoszącym się do danego ekranu. Kiedy zmieniamy pozy-
cję kursora na ekranie konfiguracji, to opcje dostępne pod przyciska-
mi funkcyjnymi także się zmieniają.
3) Jeśli dla dostępnych jest więcej niż 4 opcje, to na pozycji F4 pojawi się
wskaźnik MORE (więcej). Po naciśnięciu przycisku F4 wyświetlą się
dalsze dostępne opcje.

Rys. 4. Przyciski funkcyjne

PRINT (drukowanie): Przycisk używany w celu wydrukowania dowolnej


informacji alfanumerycznej bądź graficznej, która pojawia się na ekranie.
: Przycisk podświetlania jest używany do włączania i wyłączania pod-
świetlenia ekranu. Wyłączone podświetlenie na czas gdy nie jest ono po-
trzebne pozwoli na wydłużenie czasu pracy baterii o około 15%.
Układ podświetlania testera SunSet ma programowalny timer służący do
automatycznego wyłączania. Właściwość ta jest konfigurowana w menu
SYSTEM PARAMETERS, GENERAL CONFIG, BACK LIGHT.

SunSet E20 wersja 1.01 7


ROZDZIAŁ 2 OPIS USTAWIEŃ TESTOWYCH

GRAPH (grafika): Przycisk grafiki wyświetla obraz aktualnej konfiguracji


obwodu oraz jego stan. Grafika może być wywołana podczas podstawo-
wych ustawień menu i operacji takich jak: konfiguracja testów (TEST
CONFIGURATION), transmisja wzorca testowego (SEND TEST PATTERN),
dostęp do kanału głosowego (VF CHANNEL ACCESS). Zalecane jest naci-
śnięcie przycisku GRAPH po zakończeniu konfiguracji testów (TEST
CONFIGURATION) w celu upewnienia się, czy zostały wybrane poprawne
ustawienia.
Grafika zostanie zaktualizowana zgodnie z ustawioną konfiguracją testu.

Rys. 5. Przykładowy ekran graficzny

Poniżej podajemy opis niektórych elementów wspólnych dla wyświetlacza


graficznego:
Poniższe litery będą się często pojawiały jako białe na ciemnym tle:
R - wtedy, gdy tester przetwarza odebrane wyniki pomiaru
T - wtedy, gdy przyrząd nadaje testowy wzorzec bitowy.
Strzałki pokazują kierunek, w którym przekazywany jest sygnał.
Słowa lub skróty w ramkach dostarczają dodatkowych informacji:
Tx - port nadawczy linii badanej (1 lub 2)
Rx - port odbiorczy linii badanej
FRAMING (ramkowanie) podaje rodzaj ramki oraz informacje, czy włączo-
ne jest sprawdzanie CRC.
CODING (kodowanie) podaje rodzaj kodowania transmitowanego sygnału.
PATtern (wzorzec) pokazuje używany wzorzec testowy.
TEST RATE (prędkość transmisji) jest wyświetlana na dole ekranu, infor-
mując, czy jest to prędkość pełna, czy też ułamkowa.
BRiDGe (mostek), TERM (urządzenie końcowe) lub MONitor są podane dla
każdej linii.
ERR INJ: przycisk ERRor INJect jest używany do wprowadzania błędów
do sygnału nadawanego przez tester. Błędy są wprowadzane zgodnie z
aktualnymi ustawieniami dokonanymi w menu OTHER FEATURES /
ERROR INJECTION. Jeśli ustawiona jest stopa wprowadzanych błędów,
to po naciśnięciu tego przycisku na górze ekranu pojawi się wskaźnik
wprowadzania błędów.

8 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 2 OPIS USTAWIEŃ TESTOWYCH

AUTO: przycisk ten ma dwie funkcje:


1) AUTO pozwala na automatyczne dostosowanie do odbieranego kodu
liniowego, ramki i wzorca. Nie zawsze jest możliwe określenie kodu li-
niowego w badanym łączu. Na przykład, sygnał "same jedynki" będzie
maskował obecność kodu HDB3. Przyrząd zasygnalizuje kodowanie
HDB3 jeśli je wykryje, w każdym innym przypadku zasygnalizuje ko-
dowanie AMI.
2) Naciśnięcie przycisku AUTO powoduje wznowienie pomiarów.
Przycisk regulacji głośności umożliwia jej regulację za pomocą przyci-
sków funkcyjnych UP (zwiększenie) lub DOWN (zmniejszenie) na ekranie
graficznym. Po ustawieniu głośności należy nacisnąć EXIT (F3), ESCape
lub ENTER.
MEAS: Przycisk ten należy nacisnąć aby przejść do menu MEASUREMENT
RESULTS (wyniki pomiarów).
LED: Przycisk używany do wyłączania każdej migającej diody. Diody mi-
gocą w celu pokazania błędów lub alarmów, które pojawiły się poprzed-
nio, lecz które w danym momencie już nie występują.
Przycisk regulacji kontrastu ekranu ciekłokrystalicznego, należy go
przyciskać aż do momentu uzyskania odpowiedniego kontrastu.
, , , : Przyciski kursorowe są używane do przesuwania kursora we
wskazanym kierunku.
ESCAPE: Przycisk pozwalający na przesuwanie się wstecz w hierarchii
menu. W celu powrotu do menu głównego może być potrzebne kilkakrot-
ne naciśnięcie przycisku ESCAPE.
ENTER: Przycisk ten pełni trzy funkcje:
1) Jeśli jakaś pozycja menu jest podświetlona i zostanie naciśnięty przy-
cisk ENTER, to tester wyświetli ekran związany z tą pozycją.
2) Jeśli wpisywane są ustawienia na ekranie wprowadzania danych, to
naciśnięcie przycisku ENTER często powoduje powrót do poprzedniego
menu.
3) W kilku przypadkach, naciśnięcie przycisku ENTER jest konieczne,
kiedy użytkownik kończy wprowadzanie danych na danym ekranu.
W takich przypadkach tester wykona wprowadzone komendy tylko po
naciśnięciu przycisku ENTER. W większości często powtarzających się
funkcji nie jest konieczne naciskanie przycisku ENTER w celu spowo-
dowania ich wykonania. Jeśli operacja, którą staramy się wykonać
nie rozpoczyna się, można spróbować nacisnąć przycisk ENTER. Jeśli
używamy przycisku ENTER w celu uruchomienia operacji, to może
być potrzebne naciśnięcie przycisku ESCAPE w celu powrotu do menu
poprzedniego.

Oznakowania czarne
SHIFT: Przycisk używany w celu uzyskania dostępu do funkcji wyspecyfi-
kowanych przy pomocy oznaczeń pomarańczowych. Przycisk ten powi-
nien być zawsze naciskany jako pierwszy i musi być zwolniony przed na-
ciśnięciem wybranego przycisku z oznaczeniem pomarańczowym. Stan
przycisku SHIFT jest pokazywany w górnym, lewym rogu ekranu. Wskaź-
nik SHIFT nie może być wyświetlany kiedy chcemy używać funkcji z bia-
łym oznaczeniem. Wskaźnik SHIFT musi się pojawić, kiedy używamy
funkcji z oznaczeniem pomarańczowym.

SunSet E20 wersja 1.01 9


ROZDZIAŁ 2 OPIS USTAWIEŃ TESTOWYCH

POWER: Przycisk służący do włączania lub wyłączania testera SunSet.


Jest to przycisk w kolorze czerwonym położony w dolnym, lewym rogu
klawiatury testera.

Oznakowania pomarańczowe
A, B, C, D, E*, F#: Przyciski te są używane w celu wprowadzania tonów
DTMF oraz liczb w zapisie szesnastkowym. Mogą one być także użyte jako
etykiety dla informacji zdefiniowanych przez użytkownika.
0, 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9: Przyciski używane do wprowadzanie własnych
bitowych wzorców testowych i numerów telefonicznych. Mogą one być też
użyte jako etykiety dla informacji zdefiniowanych przez użytkownika.

Dwukolorowe diody sygnalizacyjne


Dwukolorowe diody są wizualnym wskaźnikiem stanu odbieranego sy-
gnału. Diody dostarczają wystarczającej informacji diagnostycznej "na
pierwszy rzut oka", a więc niektórzy użytkownicy nie muszą wykonywać
dodatkowych testów. Dioda świeci ciągłym zielonym światłem kiedy jest
spełniony specyficzny, związany z nią warunek. Na przykład, ciągłe zielo-
ne świecenie diody dla PCM-30 wskazuje, że tester wykrył ramkowanie
PCM-30. Ciągłe czerwone światło pokazuje stan alarmowy dla danej po-
zycji. Na przykład, dioda ERROR świeci się na czerwono jeśli zaobserwo-
wano błąd (kodu, bitu, CRC, ramkowania).
Migające świecenie diody dostarcza informacji o stanie danego obwodu w
przeszłości. Może to być użyteczne jeśli użytkownika nie było w pobliżu
testera w czasie, kiedy pojawił się błąd lub alarm. Naciśnięcie przycisku
LED spowoduje ustanie mrugania diody.

Diody sygnalizacyjne ogólnego przeznaczenia


PAT SYNC (synchronizacja wzorca): Świeci się na zielono jeśli przyrząd
zsynchronizował się ze wzorcem testowym w odbieranym sygnale. Odbie-
rany wzorzec bitowy musi pasować do wzorca nadawanego. Wzorzec może
być obserwowany w menu MEASUREMENT RESULTS (wyniki pomiaru) i
na ekranie graficznym. Kiedy tester pracuje w trybie BER, to automa-
tycznie będzie próbował zsynchronizować się z wzorcem, który został wy-
słany. Kiedy nastąpi utrata synchronizacji, to zaświeci się na czerwono
dioda PAT SYNC.
BIT ERR (błąd bitu): Świeci się na czerwono jeśli wykryto błędny bit.
POWER (zasilanie): Świeci się na zielono, kiedy tester SunSet jest włączo-
ny i ma odpowiednie źródło zasilania.
BATTERY (bateria): Świeci się na zielono gdy trwa ładowanie baterii. Dio-
da świeci się na czerwono gdy napięcie zasilania testera SunSet spadnie
do niskiego poziomu. Od tego momentu rozpocznie się 15-minutowe odli-
czanie (900 sekund) wyświetlane na ekranie, pokazujące czas pozostały
do automatycznego wyłączenia się testera.
Podłączenie ładowarki pozwoli na używanie testera bez przerywania pra-
cy. Jednakże, jeśli planujemy dłużą pracę testera, najlepiej jest najpierw
podłączyć ładowarkę. Jeśli ładowarka jest podłączana podczas dokony-
wania pomiaru i bateria nie jest w pełni naładowana, to tester SunSet
może się automatycznie wyzerować. W takim przypadku nastąpi utrata
wyników aktualnego pomiaru.

10 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 2 OPIS USTAWIEŃ TESTOWYCH

Diody sygnalizujące te same funkcje dla linii 1 i linii 2


SIGNAL: Zielone świecenie sygnalizuje, że tester odbiera prawidłowy sy-
gnał 2,048 Mbit/s. Czerwone światło wskazuje brak sygnału.
PCM-31, PCM-30: Zielone świecenie sygnalizuje, że rodzaj ramkowania
wybranego w menu TEST CONFIGURATION (konfiguracja testu) został
wykryty w odbieranym sygnale. PCM-31 pokazuje, że został wykryty pod-
stawowy sygnał FAS (Frame Alignment Signal - sygnał ramkowania), zaś
PCM-30 pokazuje, że został wykryty sygnał wieloramki MF 16 łącznie ze
sygnałem FAS. Czerwone świecenie sygnalizuje, że wybrane ramkowanie
nie zostało wykryte. Jeśli sygnał odbierany nie jest ramkowany, to nie
będzie się świeciła żadna dioda.
Jeśli tester jest skonfigurowany w menu TEST CONFIGURATION dla
szczególnego rodzaju ramkowania, to w sposób ciągły będzie szukał ra-
mek tego rodzaju. Odpowiednia dioda zaświeci się w momencie znalezie-
nia właściwej ramki.
AIS: Świeci się na czerwono jeśli tester wykryje w złączu wejściowym sy-
gnał alarmu (nieramkowane same jedynki).
CODE ERR (błąd kodowania): Świeci się na czerwono, jeśli wykryte zostało
zakłócenie kodu w odbieranym sygnale. Błąd kodu jest zakłóceniem
dwubiegunowym, które nie jest częścią poprawnego kodu HDB3.
CRC DET (wykrywanie CRC): Gdy w menu TEST CONFIGURATION zosta-
nie ustawiona cykliczna kontrola redundancji (CRC), to dioda CRC DET
świeci się na zielono po wykryciu sekwencji kontrolnych CRC-4. Jeśli wy-
krywanie CRC jest uaktywnione, ale nie zostało wykryte, to dioda świeci
na czerwono. Kiedy wykrywanie CRC nie jest ustawione, dioda nie świeci
się.
ERROR: Świeci na czerwono, jeśli wykryto błędy ramkowania lub błędy
bitów E. Dioda ERROR będzie się świecić także wtedy, gdy zostały wykryte
błędy ramkowania związane z kontrolą CRC-4 (jeśli CRC jest ustawione).
Zarówno CRC-4, jak i ramkowanie są konfigurowane w menu TEST
CONFIGURATION.
ALARM: Świeci na czerwono, jeśli tester SunSet wykrywa następujące
alarmy: FAS ALM, MFAS ALM, AIS T/S-16.

Diody sygnalizacyjne dla transmisji danych o funkcjach wspólnych z linią 2


RxDCE: Świeci na zielono, kiedy tester odbiera dane przez port DCE.
RxDTE: Świeci na zielono, kiedy tester odbiera dane przez port DTE.
RTS: Świeci na zielono, gdy aktywna jest linia sterująca Ready To Send.
CTS: Świeci na zielono, gdy aktywna jest linia sterująca Clear To Send.
USER 1 i USER 2: Diody te świecą, kiedy jest aktywna linia sterująca zde-
finiowana przez użytkownika w menu TEST CONFIGURATION jako User
1 lub User 2.

SunSet E20 wersja 1.01 11


ROZDZIAŁ 2 OPIS USTAWIEŃ TESTOWYCH

Panele złączy
Tester SunSet E20 ma dwa panele złączy, które pokazane są na rys. 6.

Rys. 6. Panele złączy

Panel z lewej strony przyrządu ma następujące porty:


DATACOM: wielofunkcyjny port komunikacyjny przeznaczony dla testo-
wania transmisji danych. W porcie tym zastosowano 36-stykowe złącze
(takie jak w interfejsie SCSI) służące do podłączania innych standardo-
wych interfejsów przemysłowych takich jak RS-232/V.24, V.35, RS530,
X.21, RS449 oraz dwukierunkowego 64 kbit/s G.703. Kable połączeniowe
interfejsów oraz opcje związane z testami transmisji danych można za-
mówić w firmie Sunrise Telecom.
HEADPHONE: do tego portu podłącza się zwykłą słuchawkę, jest on
umieszczony tuż nad portem komunikacyjnym. Generalnie, kiedy uży-
wamy słuchawki, to nie działa głośnik,
• Kiedy używane są obie linie, linia 1 będzie miała wyjście po lewej
stronie, a linia 2 będzie miała wyjście po prawej stronie.
• Konwerter słuchawki z trybu stereo na mono powinien być używany
dla zastosowań VF, ISDN, QSIG, V5.X tylko przy użyciu linii 1.
Aplikacja Uwagi dotyczące wyjścia
Dostęp do kanału VF Obie Linia 1 = tylko lewa lub Li-
nia 2 = tylko prawa, w za-
leżności od ustawień głośni-
ka (SPEAKER)
Analizy* ISDN Obie
Analizy* QSIG Obie
Monitorowanie V5.X Obie
Monitorowanie GSM Obie
* Do emulacji rozmowy jest przeznaczona tylko Linia 1 (należy użyć kon-
wertera stereo/mono).
L2 RX: Złącza BNC i bananowe są przeznaczone do odbioru przez tester
sygnału 2,048 Mbit/s. Opcjonalnie dostępne są porty BR2 i 1,6/5,6 mm.
Porty Linii 2 są używane dla pracy w trybie DUAL (podwójny).

12 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 2 OPIS USTAWIEŃ TESTOWYCH

L2 TX: Złącze BNC jest przeznaczone jako wyjście sygnału 2,048 Mbit/s z
testera SunSet. Opcjonalnie dostępne są porty BR2 i bantam.
Panel z prawej strony testera ma następujące porty linii 1:
L1 TX: Złącza wyjściowe sygnału 2,048 Mbit/s z testera SunSet (dostęp-
nego jednocześnie dla portu 75 Ω niesymetrycznego i 120 Ω symetryczne-
go). Porty Linii 1 są zawsze używane w trybie SINGLE (pojedynczy).
L1 RX: Złącza wejściowe sygnału 2,048 Mbit/s (port 75 Ω niesymetryczny
lub 120 Ω symetryczny, działające równolegle).
Na górze testera E20 znajdują się także inne złącza, pokazane na rys. 7.

Rys. 7. Widok testera SunSet E20 z góry

SERIAL PORT: Port szeregowy jest przeznaczony do podłączenia drukarki


termicznej produkcji firmy Sunrise Telecom lub do zdalnego sterowania.
Port ten jest skonfigurowany jako RS-232C DTE ze sprzętowym potwier-
dzaniem przepływu danych, po podłączeniu kabla przejściowego z 8-
stykowego złącza DIN na 25-stykowe złącze typu D.
15 VDC: Do tego portu podłączana jest ładowarka model SS138. Tester
może pracować z rozładowaną baterią pod warunkiem, że podłączona jest
ładowarka. Po podłączeniu ładowarki bateria będzie się ładować podczas
pracy testera.

SunSet E20 wersja 1.01 13


ROZDZIAŁ 2 OPIS USTAWIEŃ TESTOWYCH

14 SunSet E20 wersja 1.01


Rozdział 3 Menu

Wprowadzenie
Tester SunSet E20 jest obsługiwany za pomocą menu. Zanim z menu
wybierze się pozycję, najpierw trzeba podświetlić żądaną linię używając
przycisków kursorowych (ze strzałkami).
Podświetloną pozycje można rozpoznać bez trudu, ponieważ jasny tekst
jest wyświetlany na ciemnym tle. Po podświetleniu pozycji, można doko-
nać wyboru przez naciśnięcie przycisku ENTER. W kilku specyficznych
przypadkach, proste działanie podświetlenia pozycji spowoduje automa-
tyczne uruchomienie danej funkcji. W taki sposób działa menu SEND
TEST PATTERN (nadawanie wzorca testowego).
Poniższy opis przedstawia położenie poszczególnych pozycji menu. Nie-
które pozycje są dostępne tylko ze specjalnymi opcjami oprogramowania
SunWare.
E20 MAIN MENU (Menu główne testera)
TEST CONFIGURATION (Konfiguracja testu)
Tu wybieramy parametry robocze, dostępne są następujące tryby pracy:
E1SINGL
E1DUAL
E1-MUX
MUXTEST
DATACOM
TEST PATTERN (Bitowy wzorzec testowy)
(wybór z listy lub definiowanie wzorca testowego)
MEASUREMENT RESULT (Wynik pomiaru)
Line 1, Line 2 Summary
Line 1, Line 2 Frequency
Line 1, Line 2 G.821
Line 1, Line 2 ALM/SIG
Line 1, Line 2 M.2100/550
Line 1, Line 2 G.826
OTHER MEASUREMENTS (Inne pomiary)
VIEW RECEIVED DATA (Podgląd odebranych danych)
VIEW FAS WORDS (Podgląd słów FAS)
VIEW MFAS WORDS (Podgląd słów MFAS)
PULSE MASK ANALYSIS (Analiza zgodności impulsu z maską)
X.50 ANALYSIS (Analiza X.50, niedostępna w trybie E-1 multipleksera)
C-BIT ANALYSIS (Analiza C-BIT)
HISTOGRAM ANALYSIS (Analiza histogramów)
PROPAGATION DELAY (Opóźnienie propagacji)

SunSet E20 wersja 1.01 15


ROZDZIAŁ 3 MENU

PROTOCOLS (Protokoły)
FRAME RELAY (E1SINGL, E1DUAL I DATACOM) (Frame relay i tryby:
E1 jedno- i dwukierunkowy, transmisja danych)
SS#7 ANALYSIS (Analiza sygnalizacji nr 7)
ISDN ANALYSIS (Analiza ISDN)
GSM ANALYSIS (Analiza GSM)
V5.1 / V5.2 (Analiza V5)
VF CHANNEL ACCESS (Dostęp do kanału głosowego)
(Pomiary VF i wybierania numeru)
VF MEASUREMENTS (Pomiary na częstotliwości akustycznej)
VIEW LINE CAS (Analiza sygnalizacji CAS)
CALL ANALYSIS (Analiza wywołań)
SUPERVISION SETUP (Ustawienie nadzoru)
DIAL PARAMETERS (Parametry wybierania numeru)
SIGNAL MEANINGS (Znaczenia sygnałów)
DATACOM INTERFACE (Interfejsy transmisji danych)
(Kiedy TEST MODE - rodzaj testu - jest ustawiony na E1MUX, MUXTEST,
DATACOM).
LIVE TRACER (Śledzenie na żywo)
VIEW/PRINT BUFFER (Przeglądanie lub druk danych z bufora)
OTHER FEATURES (Inne funkcje)
ERROR INJECTION (Wprowadzanie błędów)
ALARM GENERATION (Generowanie alarmów)
VIEW RESULTS RECORDS (Podgląd rekordów wyników)
SEND FRAME WORDS (Nadawanie słów ramkowanych)
SYSTEM PARAMETERS (Parametry systemowe)
VERSION/OPTION (Wersja /opcja)
SYSTEM PROFILES (Profile systemowe)
MEAS CONFIGURATION (Konfiguracja pomiarów)
GENERAL CONFIG (Konfiguracja ogólna)
ERASE NV RAM (Zerowanie pamięci nieulotnej RAM)
SELF TEST (Autotest)
CLR PRINT BUFFER (Zerowanie bufora drukarki)
FACTORY DEFAULTS (Nastawy fabryczne)
LANGUAGE SELECTION (Wybór języka)
Poniższe sekcje zawierają dokładne wyjaśnienia dla każdej pozycji menu.
Ponadto pozycje menu dotyczące transmisji danych oraz protokołów są
omówione w osobnych częściach instrukcji poświęconych tylko tym za-
gadnieniom.

Konfiguracja testu
Przed podłączeniem testera SunSet E20 do badanego obwodu należy się
upewnić, czy test został prawidłowo skonfigurowany w menu TEST
CONFIGURATION.
Aby uzyskać dostęp do ekranu TEST CONFIGURATION, należy naciskać
przycisk ESCAPE aż do pojawienia się MAIN MENU (Menu głównego), a
następnie ustawić kursor w linii TEST CONFIGURATION i nacisnąć przy-
cisk ENTER.

16 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 3 MENU

Na tym ekranie przyciski funkcyjne pokazują opcje dla każdego ustawia-


nego parametru. Po każdym naciśnięciu klawisza funkcyjnego, tester
SunSet E20 natychmiast zmienia swoją konfigurację, odzwierciedlając
nowy wybór.
Należy pamiętać o następujących sprawach:
1) Aby uniknąć błędów w konfiguracji należy w celu weryfikacji ustawie-
nia używać przycisku GRAPHIC.
2) W trybach E1 lub E1-MUX należy przycisnąć przycisk AUTO, aby
automatycznie wykryć ramkowanie, kod liniowy i CRC-4.
Rys. 8 przedstawia menu TEST CONFIGURATION dla trybu E1SINGL.

Rys. 8. Menu TEST CONFIGURATION (konfiguracja testu)

Najpierw należy w menu TEST CONFIGURATION wybrać rodzaj testu


(TEST MODE). Dostępne są: E1SINGL, E1DUAL, E1-MUX, MUXTEST,
DATACOM. Menu konfiguracji testu jest inne dla każdego rodzaju testu.

Tryb E1SINGL
• Używany jest dla testowania kanału głosowego (VF) oraz analizy bito-
wej stopy błędu (BERT) w transmisji 2,048 Mbit/s.
• W trybie E1SINGL są używane porty linii 1.
Na rys. 8 przedstawiono menu konfiguracji dla testu E1, a rys. 9 grafikę
związaną z ustawieniami pokazanymi na rys. 8.
Napis MEAS (pomiary) wyświetlany na ekranie informuje, że przeprowa-
dzane są pomiary.

SunSet E20 wersja 1.01 17


ROZDZIAŁ 3 MENU

Rys. 9. Grafika trybu E1

Dla trybu E1 należy skonfigurować wyszczególnione niżej pozycje, uży-


wając odpowiednich przycisków funkcyjnych.
1) Tx Source (źródło sygnału nadawanego)
Opcje: THRU (F1), TESTPAT (F2)
• THRU (F1) jest używana dla pełnego dwukierunkowego testu "pobierz
i wstaw" (drop and insert) pracującego łącza. W tym przypadku sygnał
odbierany na wejściu Rx będzie nadawany z wyjścia Tx linii 1.
• TESTPAT (F2) jest używana do testowania bitowej stopy błędów w nie-
pracującym łączu.
W tym przypadku bitowy wzorzec testowy będzie transmitowany z wy-
branego wyjścia Tx. Podczas testu Nx64 lub VF CHANNEL ACCESS
do nieużywanych kanałów będzie wprowadzany kod jałowy.
2) FRAMING (ramkowanie)
Opcje: PCM-30 (F1), PCM-31 (F2), UNFRAME (F3)
Pozwala na wybór odpowiedniego ramkowania dla badanego łącza.
• Jeśli nie jest się pewnym poprawności wybranego rodzaju ramkowa-
nia, to należy nacisnąć przycisk AUTO. Należy użyć takiej kombinacji,
która synchronizuje się poprawnie i pozwoli na bezbłędny pomiar.
• PCM-30 oznacza, że tester zsynchronizuje się zarówno na sygnale
FAS, jak i na sygnale MFAS.
• PCM-31 oznacza, że tester zsynchronizuje się tylko na sygnale FAS.
Uwagi:
a) Jeśli ramkowanie i stan CRC-4 odbieranego sygnału nie odpowiadają
ramkowaniu i ustawieniu CRC-4 w testerze, to wyświetlona zostanie
informacja o utracie ramkowania i niemożności detekcji CRC.
b) Domyślnym kodem liniowym jest HDB3. Można wybrać kod AMI lub
HDB3 w: MAIN MENU / SYSTEM PARAMETERS / MEAS CONFIGU-
RATION (Menu główne/Parametry systemowe/Konfiguracja pomiaro-
wa).

18 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 3 MENU

3) CRC-4 (kontrola redundancji)


Opcje: YES (F1), NO (F2)
• Wybór YES uaktywnia wykrywanie błędów CRC w sygnale odbieranym
oraz ustawianie bitów CRC-4 w sygnale wychodzącym. CRC-4 pracuje
tylko z ramkowaniem PCM-31 i PCM-30.
• Jeśli wcześniej wybrano sygnał bez ramkowania (UNFRAME), to tester
automatycznie skonfiguruje dla CRC-4 wartość NO.
4) TEST RATE (badana przepływność)
Opcje: 2.048 (F1), Nx64K (F2)
• 2.048M (F1) konfiguruje zestaw dla pełnej przepływności.
• Nx64 (F2) konfiguruje zestaw dla przepływności ułamkowych.
• Jeśli nie jest się pewnym, którą przepływność wybrać, to należy naci-
snąć przycisk F1 dla uzyskania pełnej przepływności 2,048 Mbit/s.
• Po naciśnięciu Nx64, przechodzi się niezwłocznie do ekranu SELECT
TIME SLOT (wybór szczeliny czasowej). Należy zaznaczyć każdą szcze-
linę, która ma być testowana. Przykładowy ekran jest pokazany na
rys. 10.
• Wyboru szczelin można dokonać AUTOmatycznie bądź ręcznie.

Rys. 10. Wybór szczeliny czasowej

Ręczny wybór szczelin czasowych:


1) Należy umieścić kursor na numerze żądanej szczeliny czasowej za
pomocą przycisków kursorowych.
a) Nacisnąć przycisk SELECT (F2), co oznacza wybór danej szczeliny
czasowej.
b) Powtarzać tę czynność aż do momentu wybrania wszystkich żą-
danych szczelin czasowych. Wybrane numery szczelin czasowych
pozostają podświetlone tak, jak to pokazano na rys. 10.
c) Aby zrezygnować z wyboru danej szczeliny czasowej należy naci-
snąć przycisk UN-SEL (F3).

SunSet E20 wersja 1.01 19


ROZDZIAŁ 3 MENU

Naciśnięcie przycisku CLR-ALL (F4) wyzeruje wybór wszystkich


szczelin. Nacisnąć przycisk (F4), jeśli chcemy ponownie rozpocząć
proces wybierania.

Automatyczny wybór szczelin czasowych:


1) Nacisnąć przycisk AUTO (F1)
a) Jeśli odbieramy sygnał o przepływności ułamkowej N (lub M) x64
kbit/s E1, to najszybszą metodą wyboru szczelin czasowych jest
naciśnięcie przycisku AUTO (F1).
b) Nacisnąć ENTER aby zatwierdzić wybór i powrócić do MAIN MENU
(menu głównego).
• W trybie AUTO tester automatycznie skonfiguruje szczeliny czasowe
przeszukując aktywne dane. Skonfiguruje on stronę nadawczą w taki
sposób, że będzie zgodna z aktywnymi szczelinami czasowymi po
stronie odbiorczej. Tester sam określa, które szczeliny czasowe są
aktywne badając najpierw, które szczeliny są jałowe. Każda szczelina,
która nie jest jałowa jest uważana za aktywną. Założono, że szczelina
jest jałowa gdy tester znajduje jałowy kod liniowy (wyspecyfikowany w
menu SYSTEM PARAMETERS / MEAS CONFIGURATION (str. 2) /
IDLE CHNL CODE (Parametry systemowe / Konfiguracja pomiarowa -
strona 2 / Kod kanału jałowego).
Uwaga: W ramkowaniu PCM-31, szczeliny czasowe od 1 do 31 odpowia-
dają kanałom od 1 do 31. W ramkowaniu PCM-30, szczeliny cza-
sowe od 1 do 15 odpowiadają kanałom od 1 do 15, a szczeliny
czasowe od 17 do 31 odpowiadają kanałom od 16 do 30. W sys-
temie PCM-30 szczelina czasowa 16 jest używana dla sygnału
synchronizacji wieloramki. Ułamkowe przepływności dla łącza
E1 nie są dostępne dla sygnałów nieramkowanych, ponieważ to
właśnie ramkowanie jest potrzebne do lokalizacji szczelin czaso-
wych.
Szczeliny czasowe wybrane dla nadawania i dla odbioru nie mo-
gą być takie same. Liczba wybranych szczelin czasowych może
być różna dla strony Tx i strony Rx. Tester Sunset przyjmuje, że
wszystkie dane przychodzące są odbierane bajt po bajcie zgodnie
z rosnącymi numerami kanałów.
5) Port L1-Rx
Opcje: TERM (F1), BRIDGE (F2), MONITOR (F3)
Konfiguracja odbiornika 2,048 Mbit/s dla linii 1.
• Ustawienia te umożliwiają elektryczne dekodowanie sygnału 2,048
Mbit/s przez tester w szerokim zakresie rezystywnych strat w ka-
blach. Określają one także, jakie obciążenie będzie wnoszone przez te-
ster do badanego obwodu. Ustawiane tu parametry nie mają wpływu
na nadajniki. W obwodzie 2,048 Mbit/s musi istnieć zawsze dokład-
nie jeden odbiornik, który zapewnia dopasowanie niskoimpedancyjne
(75 Ω/120 Ω). Nigdy nie powinno się włączać dwóch lub więcej od-
biorników z wejściami o niskiej impedancji.
OSTRZEŻENIE!
Jeśli nie jest się pewnym jak jest obciążony obwód, to należy wybrać
BRIDGE (mostek). Zabezpieczy to obwód sygnału 2,048 Mbit/s.
Podczas pracy w trybie TERM (urządzenie końcowe) tester obciąża linię
odbiorczą obciążeniem impedancyjnym 75 Ω lub 120 Ω. Poziom sygnału

20 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 3 MENU

badanego w rzeczywistych kablach może się w tym przypadku zawierać


w przedziale od około +6 do -43 dB. Zazwyczaj tryb TERM należy używać
przy badaniu obwodu odłączonego od rzeczywistego ruchu.
W trybie BRIDGE (mostek) tester SunSet jest podłączany do badanego
obwodu poprzez rezystory izolacyjne o wysokiej impedancji. Taki obwód
izolujący zabezpiecza badaną linię przed możliwymi przerwami. Poziom
sygnału badanego w rzeczywistych kablach może się w tym przypadku
zawierać w przedziale od około +6 do -43 dB.
Tryb MONITOR powinien być stosowany wówczas, gdy pomiar jest wyko-
nywany w wydzielonym punkcie monitorowania, dla poziomu sygnałów
miedzy -15 a -30 dB. Sygnał jest wówczas doprowadzany z zabezpieczo-
nego złącza MONITOR, stanowiącego część urządzenia sieciowego.
Jeśli w trybie MONITOR poziom sygnału odbieranego wynosi 0 dB, to
dioda CODE ERR świeci się na czerwono. Zdarza się to często kiedy ze-
staw jest podłączony do gniazda wyjściowego. W takim przypadku należy
wybrać tryb TERM. Jeśli nie jest się pewnym, czy gniazdo jest mostkowa-
ne lub zabezpieczone, to najpierw należy zastosować tryb BRIDGE.
6) XMT CLOCK - wybór źródła sygnału zegarowego
Opcje: L1-RX (F1), INTERN (F2), L2-RX (F3), DDS (more, F1), TTL-L2 (mo-
re, F2).
L1-Rx (F1): Jako źródło sygnału zegarowego używany jest sygnał odbie-
rany z linii 1.
INTERN (F2): Tester używa wewnętrznego generatora sygnału zegarowe-
go. Takie taktowanie nie jest zsynchronizowane z siecią. Generatora we-
wnętrznego powinno się używać w testach w pętli lokalnej, gdzie nie jest
wymagana synchronizacja.
L2-Rx (F3): W tym trybie sygnał zegarowy jest uzyskiwany z sygnału od-
bieranego z linii 2.
DDS (more, F1): Przyrząd używa cyfrowego syntezatora w celu zmiany
częstotliwości sygnału nadawanego w krokach po 1, 10, 100 lub 1000 Hz.
Maksymalna wartość odstrojenia wynosi ±50000 Hz (25000 ppm). Usta-
wień dokonuje się na ekranie pokazanym na rys. 11:

Rys. 11. Ustawianie odstrojenia cyfrowego syntezera częstotliwości

SunSet E20 wersja 1.01 21


ROZDZIAŁ 3 MENU

1) Wartość odstrojenia (wiersz DDS SHIFT) zmienia się w przedziale od 0


do 50000 Hz używając przycisków INC (F1) <zwiększanie> lub DEC
(F2) <zmniejszanie>.
2) Wartość mnożnika skali (wiersz SCALE) ustawia się za pomocą przyci-
sków INC (F1) <zwiększanie> i DEC (F2) <zmniejszanie>. Wybierać
można między 1, 10, 100 i 1000. Na przykład, ustawienie mnożnika
SCALE 10 dla 3 Hz spowoduje odstrojenie o 30 Hz.
TTL-L2 (more, F2): W tym trybie jako źródła sygnału taktującego tester
używa sinusoidalnego sygnału zegarowego zgodnego z zaleceniem G.703,
podłączonego do wejścia RX linii 2.

Tryb E1DUAL
Tryb E1DUAL pozwala na używanie portów zarówno linii 1 i linii 2. Należy
używać tego trybu aby wykonać zastosowania takie jak "drop and insert"
w trybie pełnego dupleksu oraz monitorowanie dwukierunkowe. Na rys.
12 przedstawiono przykładową konfigurację ekranu, a na rys. 13 przed-
stawiono przykładowy ekran graficzny.
Konfigurujemy następujące pozycje:

Rys. 12. Tryb E1DUAL

22 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 3 MENU

Rys. 13. Grafika dla trybu E1DUAL

1) Tx/INSERT
Opcje: L1-TX (F1), L2-TX (F2)
Wybór linii 2,048 Mbit/s, do której wprowadzamy sygnał testowy.
• Określa to gdzie będą wprowadzone: sygnał testowy testowy 2,048
Mpbs, sygnał testowy Nx64 kbit/s, sygnał multipleksowany Nx64
kbit/s lub sygnał o częstotliwość głosowej. Na przykład, jeśli jako
Tx/INSERT zostanie ustawione L2-Tx i rozmawiamy poprzez tester, to
głos będzie wprowadzony do linii 2.
• Można wybrać L1-Tx (F1 dla linii 1) lub L2-Tx (F2 dla linii 2).
2) Rx/DROP
Opcje: L1-RX (F1), L2-RX (F2)
Pozwala na odbiór sygnału testowego z L1-Rx lub L2-Rx.
Wybór ten konfiguruje stopę błędów, częstotliwość linii 2,048 Mbit/s,
pomiary błędu bitu E, pomiary M.2100/550, częstotliwość kanału głoso-
wego, poziom kanału głosowego, kanał głosowy Rx ABCD, przeglądanie
odbieranych danych, przeglądanie słów FAS, przeglądanie słów MFAS itp.
Na przykład, jeśli przeprowadzamy pomiar stopy błędów dla sygnale od-
bieranym z linii 1, to powinno się ustawić Rx/DROP jako L1-Rx.
3) Tx SOURCE (źródło nadawania)
Opcje: THRU (F1), TESTPAT (F2)
• THRU (F1) jest używane dla testów "drop and insert" w trybie pełnego
dupleksu w łączu aktywnym.
W takim przypadku sygnał odbierany na złączu Rx będzie wychodził z
wyjścia Tx dla linii 1 i linii 2. Sygnał ten będzie wprowadzany do jed-
nego lub więcej kanałów do linii, która jest wybrana w Tx/INSERT.
Kanały i odpowiadające bity ABCD w tej linii, które nie są używane
będą przechodziły przez tester od Rx do Tx bez zmian.
• TESTPAT (F2) jest używany do testowania szybkości stopy błędu na
linii poza serwisem.

SunSet E20 wersja 1.01 23


ROZDZIAŁ 3 MENU

W tym przypadku wzorzec testowy będzie transmitowany w wybranej


wtyczce Tx/INSERT. Podczas testowania Nx64 lub VF CHANNEL
ACCESS (Dostęp do kanału VF), do nieużywanych kanałów będzie
wprowadzany kod jałowy. Na linii, która nie jest wybrana, kanały i bity
ABCD są przekazywane niezmienione od Rx do Tx.
4) FRAMING (ramkowanie)
Opcje: PCM-30 (F1), PCM-31 (F2), UNFRAME (F3).Należy wybrać ramko-
wanie odpowiednie dla obwodu, który jest przedmiotem testu.
• Jeśli nie jest się pewnym co do poprawności ramkowania, należy na-
cisnąć przycisk AUTO. Należy użyć kombinacji, która synchronizuje
przyrząd w sposób właściwy i/lub pozwala na uzyskanie wyników nie
obarczonych błędami.
• PCM-30 oznacza, że zestaw zsynchronizuje się zarówno dla FAS i
MFAS.
• PCM-31 oznacza, że zestaw zsynchronizuje się tylko z FAS.
Uwagi:
a) Jeśli ramkowanie i stan CRC-4 otrzymanego sygnału nie pasują
dokładnie do ramkowania i nastaw CRC-4 w testerze, to SunSet
wyświetli informację o utracie sygnału ramkowania i może wy-
świetlić informację o utracie wykrywania CRC.
b) HDB3 jest domyślnym kodem liniowym. Kod ten można skonfigu-
rować jako AMI lub HDB3 w: MAIN MENU / SYSTEM
PARAMETERS/MEAS CONFIGURATION (Menu główne / Para-
metry systemowe / Konfiguracja pomiarów).
5) CRC-4 (kontrola redundancji)
Opcje: YES <Tak> (F1), NO <Nie> (F2)
• Wybór YES pozwala na pomiar błędów CRC-4 w sygnale odbieranym i
dołączanie bitów CRC-4 do sygnału wychodzącego. CRC-4 działa tylko
dla ramkowanych sygnałów PCM-31 i PCM-30.
• Jeśli jako ramkowanie wybrano UNFRAME, to tester automatycznie
skonfiguruje CRC-4 na wartość NO.
6) TEST RATE (przepływność)
Opcje: 2.048M (F1), Nx64K (F2)
• 2.048M (F1) konfiguruje tester do testów pełnej przepływności.
• Nx64 (F2) konfiguruje tester do testów przepływności ułamkowej.
• Jeśli nie jest się pewnym, jaką przepływność wybrać, należy nacisnąć
przycisk F1 dla pełnej przepływności 2,048 Mbit/s.
• Po przyciśnięciu (F2), wchodzi się do ekranu SELECT TIME SLOT słu-
żącym do wyboru szczeliny czasowej. Przykładowy widok takiego
ekranu przedstawiono na rys. 10.

Ręczny wybór szczelin czasowych:


1) Należy umieścić kursor na numerze żądanej szczeliny czasowej za
pomocą przycisków kursorowych.
a) Nacisnąć przycisk SELECT (F2), co oznacza wybór danej szczeliny
czasowej.

24 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 3 MENU

b) Powtarzać tę czynność aż do momentu wybrania wszystkich żą-


danych szczelin czasowych. Wybrane numery szczelin czasowych
pozostają podświetlone tak, jak to pokazano na rys. 10.
c) Aby zrezygnować z wyboru danej szczeliny czasowej należy naci-
snąć przycisk UN-SEL (F3).
Naciśnięcie przycisku CLR-ALL (F4) wyzeruje wybór wszystkich
szczelin. Nacisnąć przycisk (F4), jeśli chcemy ponownie rozpocząć
proces wybierania.

Automatyczny wybór szczelin czasowych:


1) Nacisnąć przycisk AUTO (F1)
c) Jeśli odbieramy sygnał o przepływności ułamkowej N (lub M) x64
kbit/s E1, to najszybszą metodą wyboru szczelin czasowych jest
naciśnięcie przycisku AUTO (F1).
d) Nacisnąć ENTER aby zatwierdzić wybór i powrócić do MAIN MENU
(menu głównego).
• W trybie AUTO tester automatycznie skonfiguruje szczeliny czasowe
przeszukując aktywne dane. Skonfiguruje on stronę nadawczą w taki
sposób, że będzie zgodna z aktywnymi szczelinami czasowymi po
stronie odbiorczej. Tester sam określa, które szczeliny czasowe są
aktywne badając najpierw, które szczeliny są jałowe. Każda szczelina,
która nie jest jałowa jest uważana za aktywną. Założono, że szczelina
jest jałowa gdy tester znajduje jałowy kod liniowy (wyspecyfikowany w
menu SYSTEM PARAMETERS / MEAS CONFIGURATION (str. 2) /
IDLE CHNL CODE (Parametry systemowe / Konfiguracja pomiarowa -
strona 2/ Kod kanału jałowego).
Uwaga: W ramkowaniu PCM-31, szczeliny czasowe od 1 do 31 odpowia-
dają kanałom od 1 do 31. W ramkowaniu PCM-30, szczeliny cza-
sowe od 1 do 15 odpowiadają kanałom od 1 do 15, a szczeliny
czasowe od 17 do 31 odpowiadają kanałom od 16 do 30. W sys-
temie PCM-30 szczelina czasowa 16 jest używana dla sygnału
synchronizacji wieloramki. Ułamkowe przepływności dla łącza
E1 nie są dostępne dla sygnałów nieramkowanych, ponieważ to
właśnie ramkowanie jest potrzebne do lokalizacji szczelin czaso-
wych.
Szczeliny czasowe wybrane dla nadawania i dla odbioru nie mo-
gą być takie same. Liczba wybranych szczelin czasowych może
być różna dla strony Tx i strony Rx. Tester Sunset przyjmuje, że
wszystkie dane przychodzące są odbierane bajt po bajcie zgodnie
z rosnącymi numerami kanałów.
7) Porty L1-Rx i L2-Rx
Opcje: TERM (F1), BRIDGE (F2), MONITOR (F3)
Konfiguruje dwa odbiorniki 2,048 Mbit/s.
• Ustawienia te umożliwiają elektryczne dekodowanie sygnału 2,048
Mbit/s przez tester w szerokim zakresie rezystywnych strat w ka-
blach. Określają one także, jakie obciążenie będzie wnoszone przez te-
ster do badanego obwodu. Ustawiane tu parametry nie mają wpływu
na nadajniki. W obwodzie 2,048 Mbit/s musi istnieć zawsze dokład-
nie jeden odbiornik, który zapewnia dopasowanie niskoimpedancyjne
(75 Ω/120 Ω). Nigdy nie powinno się włączać dwóch lub więcej od-
biorników z wejściami o niskiej impedancji.

SunSet E20 wersja 1.01 25


ROZDZIAŁ 3 MENU

• Należy zapoznać się także z informacjami na temat opisu portu L1-Rx


dla trybu E1SINGL dla każdej z tych opcji.
8) XMT CLOCK (źródło zegara dla sygnału nadawanego)
Opcje: L1-RX (F1), INTERN (F2), L2-RX (F3), DDS (F4)
Sygnał zdefiniowany jako XMT CLOCK jest używany do taktowania sy-
gnału Tx/INSERT. Do taktowania innych sygnałów nadawanych używany
jest sygnał zegarowy odtwarzany z odpowiadających im sygnałów odbie-
ranych.
L1-Rx (F1):
a) Jeśli jako Tx/INSERT zostanie wybrany L1-Tx oraz INTERN jako XMT
CLOCK, to sygnał L1-Tx będzie taktowany zegarem wewnętrznym te-
stera. Sygnał L2-Tx będzie wówczas taktowany zegarem odtworzonym
z sygnału L2-Rx.
b) Jeśli jako XMT CLOCK ustawione będzie L1-Rx, to tester będzie tak-
towany sygnałem z linii 1.
Rysunki 14, 15 i 16 przedstawiają trzy różne sytuacje taktowania, które
są możliwe po wybraniu L1-Rx. Na rys. 14 przedstawiono wzajemne tak-
towanie w trybie podrzędnym (slave timing). Mamy tutaj XMT CLK = L1-
Rx, lecz sygnał odbierany z L1-Rx jest taktowany ze źródła L1-Tx. W ta-
kim przypadku nie ma prawdziwego źródła sygnału zegarowego i dlatego
sygnał nadawany może zaniknąć.

Rys. 14. Wzajemne taktowanie w trybie podrzędnym

Na rys. 15 przedstawiono taktowanie w trybie podrzędnym lub w pętli.


Zarówno Tx/INSERT, jak i XMT CLK są ustawione na tę samą linię. Tak-
towanie w pętli jest istotne przy nadawaniu sygnału do centrali lub inne-
go urządzenia sieciowego, które wymaga sygnału synchronicznego. Taki
element sieci musi być odpowiednio skonfigurowany aby stać się nad-
rzędnym źródłem taktowania w stosunku do naszego sygnału, ażeby nie
doszło do opisanego wyżej wzajemnego taktowanie w trybie podrzędnym.

26 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 3 MENU

Rys. 15. Taktowanie w trybie podrzędnym lub w pętli

Na rys. 16 pokazano taktowanie zewnętrzne. Źródło sygnału do taktowa-


nia sygnału Tx/INSERT jest źródłem zewnętrznym. Powinno ono być
skonfigurowane dla linii innej niż ustawiona jako Rx/DROP. W naszym
przypadku jako Rx/DROP i Tx/INSERT ustawiono linię 2 i dlatego jako
XMT CLK ustawiony jest linia 1 (L1-Rx).

Rys. 16. Taktowanie zewnętrzne

Uwagi: Na ostatnich trzech rysunkach jako TESTPAT zawsze było usta-


wione TX SOURCE. Ustawienie XMT CLK jest ignorowane, jeśli TX
SOURCE jest ustawione na THRU. W trybie THRU, obydwie linie -
1 i 2 - przenoszą taktowanie z Rx na Tx.
INTERN (F2):
Ustawienie INTERN dla XMT CLOCK powoduje, że do taktowania używa-
ny jest sygnał wytwarzany przez tester. Takie taktowanie nie jest zsyn-
chronizowane z siecią i można go używać w testowaniu pętli zwrotnej,
gdzie synchronizacja nie jest wymagana.

SunSet E20 wersja 1.01 27


ROZDZIAŁ 3 MENU

• Jeśli ustawimy L1-Tx jako TX/INSERT i wybierzemy INTERN, to sy-


gnał L1-Tx będzie taktowany z testera. W trybie DUAL, sygnał L2-Tx
będzie taktowany sygnałem zegarowym odtworzonym z L2-Rx.
DDS (F4):
Przyrząd używa cyfrowego syntezatora w celu zmiany częstotliwości sy-
gnału nadawanego w krokach po 1, 10, 100 lub 1000 Hz. Maksymalna
wartość odstrojenia wynosi ±50000 Hz (25000 ppm). Ustawień dokonuje
się na ekranie pokazanym na rys. poniżej:

Rys. 17. Ustawianie odstrojenia cyfrowego syntezera częstotliwości

1) Wartość odstrojenia (wiersz DDS SHIFT) zmienia się w przedziale od 0


do 50000 Hz używając przycisków INC (F1) <zwiększanie> lub DEC
(F2) <zmniejszanie>.
2) Wartość mnożnika skali (wiersz SCALE) ustawia się za pomocą przyci-
sków INC (F1) <zwiększanie> i DEC (F2) <zmniejszanie>. Wybierać
można między 1, 10, 100 i 1000. Na przykład, ustawienie mnożnika
SCALE 10 dla 3 Hz spowoduje odstrojenie o 30 Hz.

Tryb E1-MUX
Tryb E1-MUX daje możliwość multipleksowania sygnałów o różnej prze-
pływności. Należy używać tego trybu w celu emulacji multipleksera ter-
minali lub krotnicy transferowej przez tester SunSet. Tryb ten pozwala na
wysyłanie wzorca testowego w dowolnym kierunku. Konfiguracja E1-MUX
jest przedstawiona na rys. 18.

28 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 3 MENU

Rys. 18. Menu E1-MUX

Ustawienia dla łącza E1


Jeśli jest to konieczne, można odnieść się do bardziej szczegółowych opi-
sów poszczególnych ustawień trybu E1 SNGL podanych wcześniej w tym
rozdziale.
1) Tx/INSERT
Opcje: L1-TX (F1), L2-TX (F2)
Określa, gdzie będzie wprowadzany sygnał multipleksowany Nx64 kbit/s.
• Przykładowo, jeśli jako Tx/INSERT zostanie wybrane L2-Tx i do linii
wprowadzany jest odbierany sygnał V.35, to będzie on wprowadzony
do linii 2.
2) Rx/DROP
Opcje: L1-RX (F1), L2-RX (F2)
Należy wybrać sygnał 2,048 Mbit/s aby wydzielić z niego na multiporcie
sygnały Nx64 kbit/s.
• Jeśli chcemy wydzielić sygnał 64 kbit/s do V.35 z linii 1, to dla
Rx/DROP należy wybrać L1-Rx.
• Wybór ten konfiguruje przepływność 2,048 Mbit/s, pomiary błędów
bitu E, podgląd odbieranych danych, podgląd słów FAS, podgląd słów
MFAS itp.
3) FRAMING
Opcje: PCM-30 (F1), PCM-31 (F2)
• Wybór PCM-30 oznacza, że tester będzie synchronizował się zarówno
z sygnałami fazowania ramki (FAS), jak i sygnałami fazowania wielo-
ramki (MFAS).
• Wybór PCM-31 oznacza, że tester będzie synchronizował się tylko z
sygnałami FAS.
• Jeśli ramkowanie i stan CRC-4 sygnału odbieranego nie pasują do-
kładnie do ustawień ramkowania i CRC-4 w testerze, to będzie sygna-
lizowana utrata ramkowania i może być sygnalizowana utrata wykry-
wania CRC.

SunSet E20 wersja 1.01 29


ROZDZIAŁ 3 MENU

• Należy wybrać ramkowanie, które jest odpowiednie dla testowanego


obwodu.
• Jeśli nie jest się pewnym co do poprawności ramkowania, należy na-
cisnąć przycisk AUTO.
• Należy użyć kombinacji ustawień umożliwiającej prawidłową syn-
chronizację i/lub pozwalającej na otrzymanie wyników nie obarczo-
nych błędami.
Należy pamiętać, że HDB3 jest domyślnym kodem liniowym. Kod li-
niowy jest konfigurowany w następującym menu: MAIN MENU /
SYSTEM PARAMETERS / MEAS CONFIGURATION (Menu główne /
parametry systemowe / konfiguracja pomiarowa).
4) CRC-4
Opcje: YES <Tak> (F1), NO <Nie> (F2)
• Wybór YES uaktywnia wykrywanie błędów CRC w sygnale odbieranym
oraz ustawianie bitów CRC-4 w sygnale wychodzącym. CRC-4 pracuje
tylko z ramkowaniem PCM-31 i PCM-30.
• Jeśli nie jest się pewnym co do poprawności ramkowania, należy na-
cisnąć przycisk AUTO.
5) Porty L1-Rx i L2-Rx
Opcje: TERM (F1), BRIDGE (F2), MONITOR (F3)
• Porty L1-Rx i L2-Rx konfigurują dwa odbiorniki 2,048 Mbit/s.
• Ustawienia te pozwalają testerowi SunSet dekodować elektrycznie sy-
gnał 2,048 Mbit/s w szerokim zakresie rezystancji lub strat kabla.
• Określają one, jakie obciążenie elektryczne będzie wprowadzane przez
tester do badanego obwodu.
• Łącze 2,048 Mbit/s wymaga dokładnie jednego obciążenia o niskiej
impedancji.
• Te ustawienia nie mają wpływu na nadajniki.
OSTRZEŻENIE!
JEŚLI NIE JEST SIĘ PEWNYM, NALEŻY WYBRAĆ BRIDGE. BĘDZIE
TO CHRONIŁO OBWÓD TESTOWANY.
Tryb TERM obciąża obwód sygnału odbieranego obciążeniem impedancyj-
nym 75 Ω lub 120 Ω. Sygnał badany jest przenoszony przez rzeczywisty
kabel na poziomie od około +6 do -43 dB. Zwykle powinno używać się
trybu TERM kiedy można przerwać obwód dla celów testowania.
W trybie BRIDGE tester SunSet dołączany jest do badanego obwodu po-
przez rezystory separujące o dużej impedancji. Ten obwód separujący bę-
dzie zabezpieczał sygnał przed możliwymi zakłóceniami. Sygnał badany
jest przenoszony przez zwykły kabel na poziomie od około +6 do -43 dB.
Tryb MONITOR powinien być używany kiedy pomiar jest dokonywany na
zabezpieczonym punkcie pomiarowym, na poziomie od -15 do -30 dB. Sy-
gnał jest dostarczany z zabezpieczonego wyjścia MONITOR w urządzeniu
sieciowym.
W trybie MONITOR, jeśli odbierany jest sygnał o poziomie 0 dB, to dioda
CODE zaświeci się na czerwono. Zdarza się to często gdy tester jest podłą-
czony do złącza OUT urządzenia sieciowego. W takim przypadku należy

30 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 3 MENU

wybrać tryb TERM. Jeśli nie jest się pewnym czy wtyczka jest mostkowa
czy zabezpieczona, to najpierw należy użyć trybu BRIDGE.
6) XMT CLK
Opcje: Brak.
Parametr ten jest ustawiony na L1-Rx.

Ustawienia dla transmisji danych (DATACOM)


Ustawienia transmisji danych konfigurują multiport.
1) TYPE
Opcje: V.35 (F1), RS449 (F2), X.21 (F3), G.703 (more, F1), RS232S (more,
F2).
Parametr TYPE określa interfejs elektryczny używany w multiporcie.
2) TxSRC
Opcje: PATT (F1), E1DRP (F2)
Parametr TxSRC określa źródło sygnału nadawanego dla multiportu.
• Aby wysłać wzorzec testowy z multiportu należy wybrać PATT.
• Aby wydzielić sygnał Nx64 kbit/s z multiportu należy użyć E1DRP.

Ustawienia dla multipleksera (MUX)


Ustawienia parametru MUX definiują gdzie będzie testowana stopa błę-
dów bitowych (BERT).
1) B-LED
Opcje: E1DRP (F1), DTCM (F2)
Określa stronę, na której przeprowadzane są pomiary stopy błędów bito-
wych (BERT) i stronę, która będzie "nadzorowana" przez diodę PAT SYNC.
E1DRP oznacza, że BERT będzie wykonywany na stronie E1, a dioda PAT
SYNC będzie odnosiła się do synchronizacji E1.
DTCM oznacza rodzaj transmisji danych wybrany wcześniej: RS232,
G.703 itp. Wybór DTCM oznacza, że będzie testowany sygnał odbierany
ze strony o małej przepływności i dioda PAT SYNC będzie odnosiła się do
strony o małej przepływności (strony transmisji danych).
2) E1 INS
Opcje: LOOP (F1), DTCM (F2) - rodzaj transmisji danych wybrany wyżej,
PATT (F3).
Parametr E1 INS określa, jaki sygnał będzie wprowadzony do łącza 2,048
Mbit/s. Może on być zmieniany tylko wtedy, jeśli jako TxSRC jest usta-
wione E1DRP.
• LOOP (F1) oznacza, że wszystkie 30 lub 31 kanałów będzie zapętlo-
nych sygnałem 2,048 Mbit/s odbieranym a sygnałem 2,048 Mbit/s
nadawanym. Do sygnału nie będzie wprowadzone nic dodatkowego.
• DTCM (F2) oznacza, że do nadawanego sygnału 2,048 Mbit/s będzie
wprowadzony sygnał o małej przepływności Nx64 kbit/s.
• PATT (F3) oznacza, że do nadawanego sygnału 2,048 Mbit/s będzie
wprowadzony wzorzec testowy (TEST PATTERN).
3) E1T/S

SunSet E20 wersja 1.01 31


ROZDZIAŁ 3 MENU

Opcje: Nx64K
Pozwala na wybór, które kanały Nx64 kbit/s będą wprowadzone do sy-
gnału lub wydzielane z niego.
• Nacisnąć Nx64K (F1) aby wywołać ekran wyboru szczeliny czasowej
(Select Time Slot).
• Dalsze szczegóły dotyczące wyboru szczelin czasowych w E1T/S
podane są wcześniej w niniejszym rozdziale, w sekcji opisującej usta-
wienia dla łącza E1.

Tryb MUXTEST
MUXTEST pozwala na przeprowadzanie testów w trybie multipleksera za-
równo ze strony o niskiej przepływności do strony o przepływności 2,048
Mbit/s lub odwrotnie. Na rys. 19 przedstawiono ekran konfiguracyjny
trybu MUXTEST.

Rys. 19. Menu MUXTEST

Rys. 20. Konfiguracja MUXTEST

32 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 3 MENU

Strona E1 (E1 SIDE)


Bardziej szczegółowy opis konfiguracji każdego parametru dla łącza E1
podany jest wcześniej w niniejszym rozdziale, w sekcji opisującej usta-
wienia dla E1.
1) Tx/INSERT
Opcje: L1-TX (F1), L2-TX (F2)
Określa, gdzie będzie wprowadzony multipleksowany sygnał Nx64 kbit/s.
Na przykład, jeśli L2-Tx będzie ustawione jako TX/INSERT i wprowadza-
my odbierany sygnał V.35, to będzie on wprowadzany do linii 2.
2) Rx/DROP
Opcje: L1-RX (F1), L2-RX (F2)
Pozwala na wybór sygnału 2,048 Mbit/s, który będzie używany do wy-
dzielenia sygnału Nx64 do multiportu.
• Jeśli chcemy wydzielić sygnał 64 kbit/s do V.35 z linii 1, to jako
Rx/DROP powinno się wybrać L1-Rx.
• Wybór ten konfiguruje częstotliwość sygnału 2,048 Mbit/s, pomiary
stopy błędu, podgląd odebranych danych, podgląd słów FAS, podgląd
słów MFAS itp.
3) FRAMING (ramkowanie)
Opcje: PCM-30 (F1), PCM-31 (F2)
Pozwala na wybór ramkowania odpowiedniego dla testowanego obwodu.
• Wybór PCM-30 oznacza, że tester będzie synchronizował się zarówno
z sygnałami fazowania ramki (FAS), jak i sygnałami fazowania wielo-
ramki (MFAS).
• Wybór PCM-31 oznacza, że tester będzie synchronizował się tylko z
sygnałami FAS. Sygnały MFAS będą pomijane.
• Jeśli ramkowanie i stan CRC-4 sygnału odbieranego nie pasują do-
kładnie do ustawień ramkowania i CRC-4 w testerze, to będzie sygna-
lizowana utrata ramkowania i może być sygnalizowana utrata wykry-
wania CRC.
• Jeśli nie jest się pewnym co do poprawności ramkowania, należy na-
cisnąć przycisk AUTO. Należy użyć kombinacji ustawień umożliwiają-
cej prawidłową synchronizację i/lub pozwalającej na otrzymanie wy-
ników nie obarczonych błędami.
Należy pamiętać, że HDB3 jest domyślnym kodem liniowym. Kod li-
niowy może być skonfigurowany jako AMI lub HDB3 w następującym
menu: MAIN MENU / OTHER FEATURES / MEAS CONFIGURATION
(Menu główne / Inne cechy / Konfiguracja pomiarowa).
4) CRC-4
Opcje: YES (F1), NO (F2)
• Wybór YES uaktywnia wykrywanie błędów CRC w sygnale odbieranym
oraz ustawianie bitów CRC-4 w sygnale wychodzącym.
• CRC-4 działa tylko z ramkowaniem PCM-31 i PCM-30. Jeśli wcześniej
wybrano sygnał bez ramkowania (UNFRAME), to tester automatycznie
skonfiguruje dla CRC-4 wartość NO.

SunSet E20 wersja 1.01 33


ROZDZIAŁ 3 MENU

5) Porty L1-Rx i L2-Rx


Opcje: TERM (F1), BRIDGE (F2), MONITOR (f3)
Ustawienia portów L1-Rx i L2-Rx służą do konfiguracji dwóch odbiorni-
ków 2,048 Mbit/s.
• Ustawienia te umożliwiają elektryczne dekodowanie sygnału 2,048
Mbit/s przez tester w szerokim zakresie rezystywnych strat w ka-
blach. Określają one także, jakie obciążenie będzie wnoszone przez te-
ster do badanego obwodu. Ustawiane tu parametry nie mają wpływu
na nadajniki.
• Tryb TERM obciąża obwód odbieranego sygnału impedancją 75 Ω dla
złącz BNC i 1,6/5,6 mm. Obciążenie 120 Ω jest używane dla złącza
BR2 i trójstykowego złącza bananowego. Zazwyczaj powinno używać
się trybu TERM, kiedy badany obwód jest odłączony od ruchu do ce-
lów pomiarowych.
• W trybie BRIDGE, tester SunSet jest dołączany do testowanego obwo-
du poprzez rezystory separujące o wysokiej impedancji. Taki izolowa-
ny obwód będzie zabezpieczał sygnał przed możliwymi zakłóceniami.
• Tryb MONITOR powinien być używany kiedy pomiar jest dokonywany
w zabezpieczonym punkcie pomiarowym. Sygnał do testera jest wów-
czas dostarczony z zabezpieczonego wyjścia MONITOR w urządzeniu
sieciowym.
OSTRZEŻENIE!
JEŚLI NIE JEST SIĘ PEWNYM, NALEŻY U ŻYĆ TRYBU BRIDGE.
ZABEZPIECZY TO OBWÓD SYGNAŁU 2,048 Mbit/s.
6) XMT CLOCK
Opcje: L1-Rx (F1), INTERN (F2), L2-Rx (F3)
XMT CLOCK jest używany do określania źródła taktowania dla sygnału
Tx/INSERT.
• INTERN (F2) konfiguruje tester do taktowania w trybie nadrzędnym
(master). W tym przypadku tester dostarcza sygnał zegarowy, lecz
źródło nie jest zsynchronizowane z siecią. Rys. 21 przedstawia takto-
wanie wewnętrzne.

Rys. 21. Taktowanie wewnętrzne

34 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 3 MENU

Na rys. 22 pokazano taktowanie podrzędne.

Rys. 22. Taktowanie podrzędne

• Aby skonfigurować taktowanie podrzędne, gdy multiplekser dostarcza


sygnał zegarowy, należy ustawić jako wartość parametru XMT CLK tę
samą linię, co dla Tx/INST.
• Jeśli dla Tx/INST wybrano L1-Tx, wtedy XMT CLK powinien wynosić
L1-Rx. Natomiast, jeśli dla Tx/INST wybrano L2-Tx, wtedy XMT CLK
powinien być L2-Rx.

Strona transmisji danych (DATACOM SIDE)


1) TYPE (typ)
Opcje: V.35 (F1), RS449 (F2), X.21 (F3), G.703 (more, F1), RS232 (more,
F2).
Określa elektryczne parametry interfejsu dla multiportu.

Strona BERT (BERT SIDE)


1) E1T/S
Opcje: Nx64
Pozwala na wybór kanałów Nx64 kbit/s, do których wprowadza się, lub z
których wydziela się sygnał.
• Naciśnięcie przycisku F1 na tej szczelinie pozwala na uzyskanie ekra-
nu SELSECT TIME SLOT. W tym miejscu można wybrać szczeliny
czasowe dla nadawania i odbioru.
a) Kursor należy umieścić na numerze żądanej szczeliny czasowej,
następnie nacisnąć SELECT (F2). Numer tej szczeliny czasowej zo-
stanie podświetlony. Należy kontynuować wybór dalszych szczelin
czasowych w ten sam sposób.
b) Można zrezygnować z wyboru szczeliny czasowej ustawiając kur-
sor na podświetlonym numerze i naciskając UN-SEL (F3). Naci-
śnięcie CLR-ALL (F4) wyzeruje wszystkie wybory i umożliwi po-
nowne rozpoczęcie całej procedury.
Ekran SELECT TIME SLOT dla trybu E1 pokazano na rys. 10.

SunSet E20 wersja 1.01 35


ROZDZIAŁ 3 MENU

2) B-LED
Opcje: E1(F1), DTCM (F2) - rodzaj transmisji danych wybrany wyżej (np.
RS449)
Określa stronę, na której przeprowadzane są pomiary stopy błędów bito-
wych (BERT) i stronę, która będzie "nadzorowana" przez diodę PAT SYNC.
• E1DRP oznacza, że po stronie E1 będą testowane błędy bitowe,
a dioda PAT SYNC będzie odnosić się do odbieranego sygnału E1.
• DTCM oznacza rodzaj transmisji danych wybrany wcześniej: RS232,
G.703 itp. Wybór DTCM oznacza, że będzie testowany sygnał odbiera-
ny ze strony o małej przepływności i dioda PAT SYNC będzie odnosiła
się do strony transmisji danych.
Na rys. 23 przedstawiono przykładowy ekran konfiguracji trybu
MUXTEST. B-LED jest ustawione na DTCM (czyli RS232, wybrany dla
DATACOM TYPE). Obydwa porty E1 i DATACOM będą nadawać wzorzec
testowy i mierzyć stopę błędów bitowych (BERT) podczas odbioru wzorca
testowego po drugiej stronie multipleksera. Inaczej mówiąc, tester Sunset
E20 będzie jednocześnie przeprowadzał zarówno testy multipleksera, jak i
demultipleksera. Aby zobaczyć wyniki dla każdej strony należy po prostu
przełączać parametr B-LED.

Rys. 23. Konfiguracja MUXTEST

Nadawanie bitowego wzorca testowego


Z poziomu menu głównego (Main Menu) należy wybrać Test Pattern (bi-
towy wzorzec testowy). Ekran wyświetla listę wzorców dostępnych dla
nadawania i odbioru oraz pokazuje wzorzec odebrany. Na rys. 24 przed-
stawiono ekran Test Pattern.

36 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 3 MENU

Rys. 24. Ekran wzorca testowego

Standardowe wzorce bitowe


Aby wysłać jeden ze standardowych wzorców pokazanych na rys. 24 po-
wyżej, należy:
1) Używać przycisków ze strzałkami do podświetlenia żądanego wzorca.
• Gdy wzorzec zostanie podświetlony, to tester Sunset rozpoczyna
jego nadawanie.
2) Nacisnąć INVERT (F2) aby nadawać wzorzec z odwrotną polaryzacją
(zamienione miejscami 1 i 0). Nacisnąć NORMAL (F2) aby nadawać
wzorzec z normalną polaryzacją.
3) W linii MEASURE MODE w konfiguracji pomiarowej (MEAS CONFIGU-
RATION) mamy do wyboru opcję BER (F1) ustawiającą tester na wy-
szukiwanie wzorca dla BERT lub opcję LIVE (F2), dla której tester nie
szuka wzorca, tylko testuje ruch na żywo. Jeśli wybrane jest LIVE, to
zostanie wyłączona dioda PAT SYNC.

Definicje wzorców bitowych


Poniżej podano definicje bitowych wzorców testowych:
2e15, 2e20, 2e23: pseudolosowe sekwencje 2m–1 bitów, gdzie m=15, 20,
23. Sygnał jest tworzony na podstawie zawartości rejestru przesuwnego o
długości 15, 20 lub 23 bitów i nie jest ograniczany zerami. Wzorce są
zgodne z zaleceniem ITU O.151.
20ITU: pseudolosowa sekwencja 220-1 bitów. Ten sygnał jest tworzony na
podstawie zawartości rejestru przesuwnego o długości 20 bitów i nie jest
ograniczany zerami. Wzorzec ten spełnia zalecenie ITU O.153. Nie jest on
identyczny z wzorcem 2e20 ponieważ są tu użyte inne mechanizmy sprzę-
żenia zwrotnego podczas tworzenia wzorca za pomocą rejestru przesuw-
nego. We wzorcu 20ITU zachodzi kompresja ciągłych sekwencji więcej niż
18 zer, w przeciwieństwie do kompresji 14 zer w 2e20.
2047: jest to kod 2047-bitowy, oznaczany także jako 2e-11 (211-1). Speł-
nia normę ITU-T O.152.
511: jest to kod 511-bitowy, oznaczany także jako 2e-9 (29-1). Spełnia
normę ITU-T O.152.

SunSet E20 wersja 1.01 37


ROZDZIAŁ 3 MENU

1111: wzorzec zawierający same jedynki używany dla testowania "wy-


trzymałości" obwodów. Jeśli taki wzorzec jest wysyłany bez ramkowania,
to będzie on interpretowany jako AIS (sygnał alarmu).
1010: ciąg wysyłanych przemiennie jedynek i zer. Wzorzec jest ramkowa-
ny z "f" pokazującym położeniem bitu ramki. Wzorzec ten to: f0101 0101.
0000: wzorzec zawierający same zera. Jeśli obwód jest AMI, synchroniza-
cja wzorca i/lub sygnał będą stracone.
FOX: wzorzec używany w testach transmisji danych. Tłumaczenie ASCII
tego wzorca to sekwencja znaków tworząca zdanie: "Quick brown fox
jumps over the lazy dog 1234567890". Wzorzec w zapisie szesnastkowym
(cyfry: 0, 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, A, B, C, D, E i F) jest ramkowany, aby
zapewnić poprawne tłumaczenie bitów na kody ASCII. Zalecane jest aby
wzorzec wysyłany był z sygnałem ramkowania, w innym przypadku nie
jest bowiem możliwe tłumaczenie na ASCII. Poniżej podajemy wzorzec:
2A, 12, A2, 04, 8A, AA, 92, C2, D2, 04, 42, 4A,
F2, EA, 72, 04, 62, F2, 1A, 04, 52, AA, B2, 0A,
CA, 04, F2, 6A, A2, 4A, 04, 2A, 12, A2, 04, 32,
82, 5A, 9A, 04, 22, F2, E2, 04, 8C, 4C, CC, 2C,
AC, 6C, EC, 1C, 9C, 0C, B0, 50
QRS: pseudolosowy sygnał wzorcowy. Jest on tworzony na podstawie za-
wartości 20-bitowego rejestru przesuwnego i jest ograniczony zerami dla
maksymalnie 14 występujących po sobie zer. Kiedy wzorzec QRS jest
nadawany w sygnale ramkowanym, to pojawia się do tam do 15 wystę-
pujących po sobie zer, zgodnie z minimalnymi wymaganiami gęstości dla
kodu liniowego AMI.
1-4, 1-8 lub 3-24: wzorce używane dla testowania wytrzymałościowego
obwodów. Są one ramkowo synchronizowane, jak to widać w formie bi-
narnej; na przykład, 1-4 : f 010 ("f" jest bitem ramkowania).

Bitowe wzorce testowe definiowane przez użytkownika


Dodatkowo, oprócz wzorców standardowych, użytkownik może zaprogra-
mować i wysyłać własne wzorce.
1) Należy nacisnąć USER (F1) na ekranie TEST PATTERN (Rys. 25).
• Pojawi się ekran definiowania wzorca (USER TEST PATTERN), po-
kazując wszystkie zachowane wzorce.
• Można utworzyć, modyfikować, przeglądać, nadawać lub usunąć
wzorzec.

38 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 3 MENU

Rys. 25. Ekran definiowania własnego wzorca testowego

Wysyłanie zdefiniowanego wzorca własnego


1) Na ekranie TEST PATTERN nacisnąć przycisk USER (F1).
2) Tester wyświetli listę zachowanych wzorców użytkownika.
a) Należy używać przycisków kursorowych góra/dół ( , ) aby prze-
sunąć kursor do żądanego wzorca.
3) Nacisnąć ENTER.

Podgląd zdefiniowanego wzorca własnego


1) Na ekranie USER TEST PATTERN należy ustawić kursor na żądanym
wzorcu.
2) Nacisnąć VIEW (F1).
3) Widać wtedy wybrany wzorzec na ekranie (w postaci binarnej).
a) Kiedy kończymy oglądanie, należy nacisnąć ESCAPE aby powrócić
do ekranu USER TEST PATTERN.

Tworzenie przez użytkownika wzorców testowych


Aby zaprogramować własny wzorzec testowy, należy postępować zgodnie z
poniższą procedurą:
1) W menu SEND TEST PATTERN należy nacisnąć przycisk USER (F1),
aby wyświetlił się ekran USER TEST PATTERN.
2) Przesunąć kursor do dołu na pustą pozycję na liście wzorców użyt-
kownika.
3) Wybrać CREATE (F1). Kursor ustawi się w polu LABEL (etykieta wzor-
ca) na ekranie USER TEST PATTERN, tak jak to pokazano na rys. 26.
4) Wybrać TOGGLE (F3). Litera A w tabeli znaków zacznie migać.
5) Należy używać przycisków kursorowych do przesunięcia migoczącego
wskaźnika na żądaną literę.
a) Wybrać SELECT (F4). Wybrana litera pojawi się w polu etykiety.
b) Powtarzać do momentu wpisania żądanej nazwy wzorca.
6) Wybrać TOGGLE (F3) aby przesunąć kursor z tabeli znaków do pozycji
LABEL.

SunSet E20 wersja 1.01 39


ROZDZIAŁ 3 MENU

Rys. 26. Ekran wzorca testowego definiowanego przez użytkownika

7) Nacisnąć przycisk aby przesunąć kursor do pola definicji wzorca


(No).
a) Nacisnąć przycisk SHIFT.
• Można teraz wprowadzić do 24 bitów tworzących żądany wzo-
rzec.
• Należy używać przycisków INSERT <Wprowadź> (F1) i DELETE
<Usuń> (F2) jeśli trzeba skorygować wzorzec.
b) Po zakończeniu nacisnąć ponownie przycisk SHIFT.
• Upewnić się, czy w górnym, lewym rogu ekranu nie występuje
już wskaźnik SHIFT.
8) Nacisnąć przycisk ENTER aby zachować wzorzec i powrócić do ekranu
USER TEST PATTERN.
• Nowo utworzony kod będzie teraz wyświetlany w menu.
• Przesunąć kursor do wzorca i nacisnąć ENTER. Nowy wzorzec jest
teraz nadawany.

Modyfikacja nazwy wzorca zdefiniowanego przez użytkownika


Aby zmodyfikować nazwę (etykietę) utworzonego przez siebie wzorca te-
stowego należy stosować poniższą procedurę:
1) Z poziomu menu SEND TEST PATTERN wybrać USER (F1) aby przejść
się do ekranu USER TEST PATTERN.
2) Przesunąć kursor na wzorzec, który chcemy modyfikować i wybrać
EDIT (F2).
3) Kiedy kursor jest umieszczony w polu LABEL, nacisnąć TOGGLE (F3).
Zacznie migotać litera w tabeli znaków.
a) Aby zmienić jakąś literę w etykiecie, należy przesunąć na nią kur-
sor, nacisnąć INSERT (F1), wybrać z tabeli znaków literę, którą
chcemy umieścić zamiast starej i nacisnąć TYPOVR (F1).
b) Aby usunąć literę należy nacisnąć DELETE (F2).
c) Jeśli chcemy dodać jakieś litery do etykiety, to należy wybrać
TOGGLE (F3) aby przejść do tabeli znaków. Kursor należy przesu-

40 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 3 MENU

nąć na żądaną literę i nacisnąć SELECT (F4). Czynności powtarzać


do momentu zakończenia oznakowania (pole LABEL).
4) Wybrać TOGGLE (F3) aby wyjść z tabeli znaków i powrócić do pola
LABEL.
a) Jeśli pole LABEL jest już poprawione, należy nacisnąć ENTER, aby
zakończyć modyfikację.
b) Aby rozpocząć modyfikację samego wzorca należy użyć przycisku
kursorowego .

Korygowanie błędu we wzorcu podczas jego tworzenia


Aby poprawić dowolny błąd popełniony podczas wprowadzania wzorca,
należy używać poniższej procedury. Procedura zakłada, że rozpoczyna się
czynności od kroku 7 procedury tworzenia własnego wzorca przez użyt-
kownika.
1) Podczas wprowadzania jedynek i zer zauważono nieprawidłową cyfrę.
Należy nacisnąć SHIFT aby usunąć wskaźnik SHIFT z ekranu.
a) Cofnąć kursor do nieprawidłowej cyfry i nacisnąć ponownie przy-
cisk SHIFT aby wyświetlić wskaźnik SHIFT.
2) Wprowadzić prawidłową cyfrę. Nacisnąć przycisk SHIFT aby usunąć
wskaźnik SHIFT.
a) Umieścić kursor na końcu wiersza.
b) Nacisnąć ponownie przycisk SHIFT aby wyświetlić wskaźnik
SHIFT.
c) Wprowadzić pozostałe cyfry.
d) Modyfikacja etykiety odbywa się według tych samych reguł jak ko-
rekta wzorca.
3) Nacisnąć ENTER aby zapisać wzorzec.

Usuwanie wzorca zdefiniowanego przez użytkownika


Aby usunąć własny wzorzec, należy postępować zgodnie z poniższą pro-
cedurą:
1) Z poziomu menu SEND TEST PATTERN nacisnąć przycisk USER (F1)
aby wyświetlić ekran USER TEST PATTERN.
2) Przesunąć kursor do wzorca, który chcemy usunąć i wybrać DELETE
(F3). Wzorzec zostanie usunięty i procedura zakończona. Aby powró-
cić do menu głównego należy nacisnąć ESCAPE.

Wyniki pomiarów
Aby przejrzeć wyniki pomiarów (MEASUREMENT RESULTS) należy:
1) Z poziomu menu głównego (MAIN MENU) wybrać MEASUREMENT
RESULTS (wyniki pomiarów).
2) Wyświetlić kolejne ekrany z wynikami posługując się przyciskiem
PAGE-DN.
3) Po zakończeniu przeglądania nacisnąć przycisk ESCAPE.

SunSet E20 wersja 1.01 41


ROZDZIAŁ 3 MENU

Tester SunSet E20 wykonuje pomiary odbieranych sygnałów w sposób


ciągły. Kiedy pomiar trwa, to na górze ekranu w pojawia się wskaźnik
MEAS. Po zatrzymaniu pomiaru wskaźnik ten znika.
Wyniki pomiarów są zapamiętywane gdy naciśniemy STOP (F3), kiedy pa-
rametr PRINT RESULT (wydruk pomiaru) jest ustawiony na LAST (ostat-
ni) w menu SYSTEM PARAMETERS / MEAS CONFIGURATION lub kiedy
upłynie ustawiony czas pomiaru (TIMED). Różne zdarzenia są zapamięty-
wane wówczas, gdy parametr PRINT EVENT (wydruk zdarzenia) jest włą-
czony (ENABLED), także podczas konfigurowania testera w menu MEAS
CONFIGURATION (konfiguracja pomiaru).
Nie ma potrzeby przechodzenia do menu MEASUREMENT RESULTS aby
przetworzyć wyniki. Pomiary są wznawiane automatycznie za każdym ra-
zem, kiedy konfiguracja zostanie w sposób istotny zmieniona. Ekran
MEASUREMENT RESULTS pozwala na przeglądanie zgromadzonych wyni-
ków pomiarów i wznowienie procesu pomiarowego.
Faktyczne ekrany wyników pomiarowych i wartości na nich wyświetlane
zależą od rodzaju testu (TEST MODE) wybranego w menu TEST
CONFIGURATION (konfiguracja testu). Istnieją jednak pewne cechy
wspólne dla wszystkich ekranów zawierających wyniki pomiarowe. Na
rys. 27 przedstawiono przykładowy ekran wyników.

Rys. 27. Ekran wyników pomiarów

Pomiary mogą mieć liczbę wystąpień podawaną w lewej kolumnie i odpo-


wiadającą tej liczbie stopę lub wartość procentową, wyświetloną w prawej
kolumnie w tym samym wierszu. Przykładowo, na rys. 27 mamy CODE
(kod) w lewej kolumnie i RATE (stopa) w kolumnie prawej. Podstawowym
założeniem dla ekranów wyników pomiarowych jest dostępność badanego
łącza. Łącze jest dostępne do użytku tylko wtedy, gdy stopa błędów jest
na tyle mała, że sygnał może zostać przeniesiony i być zrozumiały.
Mówi się, że łącze jest niedostępne na początku 10 powtarzających się
kolejno sekund z bardzo poważnymi błędami. Błędy bitowe, błędne se-
kundy i sekundy z bardzo poważnymi błędami nie są kumulowane kiedy
łącze jest niedostępne. Dlatego też, jeśli rozpoczynamy ciągłe wprowadza-
nie błędów do zestawu pomiarowego ze stopą np. 2×10-3, to widoczne bę-
dzie zwiększanie się liczby błędów bitowych, błędnych sekund i sekund z
bardzo poważnymi błędami tylko w ciągu pierwszych 9 sekund. W dzie-
siątej sekundzie, wszystkie te zliczenia zmniejszą się do wartości, które

42 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 3 MENU

miały przed rozpoczęciem wprowadzenia błędów, a licznik a niedostępno-


ści łącza wzrośnie o 10.
Łącze niedostępne staje się on dostępne dopiero po 10 następujących po
sobie sekundach bez poważnych błędów. Kontynuując powyższy przy-
kład: jeśli wyłączymy wprowadzanie poważnych błędów, a następnie
wprowadzimy 1 lub 2 błędy bitowe podczas następnych 5 sekund, to
można zaobserwować, że licznik niedostępnych sekund zwiększa się przez
pierwszych 5 sekund, zaś licznik błędów nie zmienia się. Następnie, w
dziesiątej sekundzie, licznik niedostępnych sekundo skokowo zwiększa
się o 10, a licznik błędów zwiększa się o 1 lub 2 błędy, które zostały
wprowadzone.
Zalecamy praktyczne przetestowanie takiego działania samemu, aby nie
być zaskoczonym podczas przeprowadzania rzeczywistych pomiarów.
Następujące opcje klawiszy funkcyjnych są wspólne dla wszystkich ekra-
nów wyników pomiarowych:
PAGE-UP (F1), PAGE-DN (F2): przyciski te pozwalają na oglądanie do-
stępnych stron wyników pomiarowych.
STOP/START (F3): przycisk zatrzymujący test. Naciśnięcie START uru-
chamia ponownie proces pomiarowy w ramach danego menu.
HOLDSCR/CONTINU (more, F1): HOLDSCREEN zatrzymuje aktualizację
wszystkich wyników na ekranie tak, że mogą być one z łatwością odczy-
tane. Pomiary nadal trwają, lecz zliczenia są aktualizowane tylko w pa-
mięci. Można teraz odczytać w łatwy sposób poprzednie zliczenia. Na
ekranie wyświetli się komunikat HOLD (zatrzymaj) kiedy funkcja ta jest
uaktywniona. Jeśli zakończymy oglądanie ekranu, to należy nacisnąć
przycisk kontynuacji CONTINU (F1) aby obejrzeć uaktualnione wyniki
pomiarów.
LOCK/UNLOCK (more, F2): naciśnięcie LOCK blokuje przyciski. Proces
pomiarowy trwa jak zwykle, lecz naciskanie przycisków nie ma wpływu
na przebieg testu. Jest to użyteczne podczas test długotrwałych, gdy nie
chcemy aby były one zakłócane. Naciśnięcie przycisku UNLOCK (F2) od-
blokuje przyciski. Używanie LOCK nie zakłóca żadnego wyniku pomiaru.
Dodatkowo, oprócz faktycznych danych pomiarowych, w górnej części
ekranu wyświetlane są następujące informacje:
CURRENT TIME: aktualny czas dnia wyświetlany w prawym, górnym rogu
ekranu.
ET: czas, który upłynął od rozpoczęcia lub wznowienia testu.
RT: czas, który pozostał do końca testowania. Tester jest domyślnie usta-
wiony przez producenta tak, że pomiar trwa nieprzerwanie aż do mo-
mentu zatrzymania go przez użytkownika. W polu RT wyświetlany jest
napis CONTINU, co oznacza test ciągły. W menu SYSTEM PARAMETERS /
MEAS CONFIGURATION można także określić długość czasu testowania.
W takim przypadku podczas pomiaru czas będzie odliczany do zera.
FRM: ramkowanie sygnału nadawanego.
TxCK: źródło sygnału zegarowego.
PATT: nadawany testowy wzorzec bitowy.
RATE: dokładna wartość przepływności.

SunSet E20 wersja 1.01 43


ROZDZIAŁ 3 MENU

Wyniki pomiarów dla łącza E1 i definicje ogólne


Wyniki pomiarowe dla trybu E1 obejmują wiele ekranów danych. To, jaki
ekran jest wyświetlany zależy od tego, w jakim się trybie pracuje tester,
czy SINGL (pojedynczy) czy DUAL (podwójny). Ekran 1, który pojawia się
po pierwszym wejściu do menu MEASUREMENT RESULTS, jest stroną
stanu. Na ekranie tym po prostu jest wyświetlany stan każdej używanej
linii. Komunikat o stanie jest wyświetlany w dużym formacie zarówno dla
linii 1, jak i dla linii 2. Komunikaty te (np. NO ERRORS <brak błędów>,
FRM LOSS <utrata ramkowania>, SIG LOSS <utrata sygnału>, ERR DET
<wykrycie błędu>) przedstawiają stan linii podczas testowania.

Definicje wyników pomiarowych


Na ekranach testera SunSet E20 wyświetlane są opisane niżej wyniki
pomiarów. Definicje są wymienione w kolejności alfabetycznej.
UWAGA: Każdy pomiar jest związany ze swoim ekranem; np. "error"
<błąd> odnosi się do błędów bitów E na ekranie E-BIT oraz do pod-
sumowania wszystkich błędów na ekranie SUMMARY itd.
AISS: licznik sekund z wykrytym sygnałem alarmu (Alarm Indication Si-
gnal Seconds).
AS: licznik sekund dostępnych (Available Seconds) zliczanych od rozpo-
częcia testu. Liczba dostępnych sekund jest równa czasowi całego testu
minus wszystkie sekundy niedostępne.
%AS: procentowy wskaźnik sekund dostępnych od rozpoczęcia testu.
BIT: liczba błędów bitowych, które powstały od momentu rozpoczęcia te-
stu. Błędy bitowe nie są zliczane w czasie, gdy łącze jest niedostępne.
BER: stopa błędów bitowych (Bit Error Rate) jest stosunkiem całkowitej
liczby błędów bitowych do liczby bitów przesłanych od momentu rozpo-
częcia testu w czasie dostępności łącza.
CLKSLIP: liczba poślizgów zegara, które powstały od momentu rozpoczę-
cia testu.
CODE: liczba błędów kodu liniowego (zakłócenia dwustanowe, które zabu-
rzają reguły kodowania), które powstały od momentu rozpoczęcia testu.
W kodzie HDB3, błąd kodu (Code Error) jest dwustanowym zakłóceniem,
które nie odpowiada regułom kodowania HDB3.
(CODE) RATE: średnia stopa dwustanowych zakłóceń kodu - BPV (BiPolar
Violation) - zliczanych od momentu rozpoczęcia testu.
CRC: liczba błędów bloków CRC-4, które pojawiły się od momentu rozpo-
częcia testu. Wynik tego pomiaru jest zgłaszany jako niedostępny (N/A)
kiedy tester SunSet nie jest zsynchronizowany z odbieraną sekwencją
kontroli CRC-4.
(CRC) RATE: średnia stopa błędów bloków CRC-4 zliczanych od momentu
rozpoczęcia testu. Wynik tego pomiaru jest zgłaszany jako niedostępny
(N/A) kiedy tester SunSet nie jest zsynchronizowany z odbieranym sy-
gnałem FAS lub MFAS.
DGRM: liczba minut zdegradowanych (DeGRaded Minutes) zliczanych od
momentu rozpoczęcia testu. Minuta zdegradowana pojawia się wówczas,
gdy stopa błędów wynosi 10-6 podczas 60 sekund dostępnych, nie zawie-
rających sekund z poważnymi błędami.

44 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 3 MENU

%DGRM: wartość procentowa łącznej liczby minut zdegradowanych, zli-


czanych od momentu rozpoczęcia testu.
EBIT: liczba zaobserwowanych błędów bitu E.
EBER: średnia stopa błędów bitu E, liczonych od rozpoczęcia testu.
EFS: liczba sekund bez błędów (Error Free Seconds), zliczanych od mo-
mentu rozpoczęcia testu.
%EFS: wartość procentowa liczby sekund bez błędów, które zostały zli-
czone od momentu rozpoczęcia testu.
FS: liczba sekund z błędami (Errored Seconds), zliczanych od momentu
rozpoczęcia testu. Sekunda z błędami oznacza sekundę, w której wystąpił
przynajmniej jeden błąd BPV, błąd bitowy, błąd bitu ramkowania (FBE),
błędny blok lub błąd CRC-4.
%ES: wartość procentowa liczby sekund z błędami, które zostały zliczone
od momentu rozpoczęcia testu.
FALM: liczba sekund z alarmem ramkowania (Frame ALarM). Są to se-
kundy, podczas których wystąpił alarm ramkowania pochodzący z odle-
głego końca łącza (FAS Remote Alarm Indication, RAI), zliczane od mo-
mentu rozpoczęcia testu.
FE: liczba błędów bitu ramkowania (Frame bit Error), które pojawiły się od
momentu rozpoczęcia testu. Wynik tego pomiaru jest zgłaszany jako nie-
dostępny (N/A) kiedy tester SunSet nie jest zsynchronizowany ramkowa-
niem w odbieranym sygnale.
Hz/PPM: odstrojenie od nominalnej wartości częstotliwości odbieranego
sygnału 2,048 Mbit/s mierzone w Hz lub ppm.
LOFS: liczba sekund z utratą ramkowania (Loss of Frame seconds), zli-
czanych od momentu rozpoczęcia testu.
LOSS: liczba sekund z utratą sygnału (Loss of signal Seconds) zliczanych
od momentu rozpoczęcia testu.
+LVL: poziom impulsów dodatnich (Positive LeVeL), które odbiera tester
SunSet. Wynik jest podawany zarówno w woltach (V), jak i w decybelach
jako różnica od poziomu podanego w zaleceniu G.703 (dB).
-LVL: poziom impulsów ujemnych (Positive LeVeL), które odbiera tester
SunSet. Wynik jest podawany zarówno w woltach (V), jak i w decybelach
jako różnica od poziomu podanego w zaleceniu G.703 (dB).
Lpp: poziom wartości międzyszczytowych (peak to peak level) ujemnych i
dodatnich impulsów odbieranych przez tester. Wyniki wyświetlane są ja-
ko różnica w decybelach (dB) od poziomu DSX.
MAX Hz: maksymalna częstotliwość zmierzona od rozpoczęcia testu.
MIN Hz: minimalna częstotliwość zmierzona od rozpoczęcia testu.
MFAL: liczba sekund z alarmem wieloramki (MultiFrame ALarm). Jest to
zliczenie od momentu rozpoczęcia testu tych sekund, w których wystąpił
alarm wieloramki pochodzący z odległego końca łącza (MFAS Remote
Alarm Indication, RAI).
MFE: liczba błędów bitowych wieloramki, które pojawiły się od momentu
rozpoczęcia testu. Wynik tego pomiaru jest zgłaszany jako niedostępny
(N/A) kiedy w odbieranym sygnale nie ma ramkowania.
RxCLK: odbierana częstotliwość sygnału zegarowego.

SunSet E20 wersja 1.01 45


ROZDZIAŁ 3 MENU

+/- RxLVL: dodatni albo ujemny poziom impulsów odbieranych przez te-
ster SunSet E20.
RCV Hz: faktyczna wartość częstotliwość zmierzona podczas ostatniej se-
kundy.
SES: liczba sekund z bardzo poważnymi błędami (Severely Errored Se-
conds), zliczanych od momentu rozpoczęcia testu. W sekundach z bardzo
poważnymi błędami stopa błędów wynosi 10-3 lub więcej. Sekundy z bar-
dzo poważnymi błędami nie są zliczane gdy łącze jest niedostępne.
%SES: wartość procentowa liczby sekund z bardzo poważnymi błędami
zliczanych od momentu rozpoczęcia testu.
SLIP: liczba poślizgów bitowych. Poślizg występuje wówczas, gdy zsyn-
chronizowany wzorzec labo utraci bit albo ma dołączony bit dodatkowy.
UAS: liczba sekund niedostępnych (UnAvailable Seconds), które wystąpiły
od momentu rozpoczęcia testu. Liczenie czasu niedostępnego rozpoczyna
się po 10 następujących po sobie sekundach z bardzo poważnymi błęda-
mi. Wyświetlana liczba sekund niedostępnych jest aktualizowana po po-
jawieniu się każdej sekundy z bardzo poważnymi błędami. Zliczanie cza-
su niedostępnego rozpoczyna się także po utracie sygnału lub ramki.
%UAS: wartość procentowa liczby sekund niedostępnych zliczanych od
momentu rozpoczęcia testu.
+WANDR: łączna wartość dodatnich różnic faz między sygnałem o czę-
stotliwości mierzonej i częstotliwości odniesienia obliczona od momentu
rozpoczęcia testu. Wartość +WANDR wzrasta kiedy częstotliwość mierzo-
na jest większa niż częstotliwość odniesienia.
-WANDR: łączna wartość ujemnych różnic faz między sygnałem o często-
tliwości mierzonej i częstotliwości odniesienia obliczona od momentu roz-
poczęcia testu. Wartość -WANDR wzrasta kiedy częstotliwość mierzona
jest mniejsza niż częstotliwość odniesienia.
Poniżej opisane są dostępne ekrany wyników:

Ekrany podsumowania (SUMMARY) dla linii 1 i linii 2


Ekrany 2 i 3 zawierają sumaryczne wyniki pomiarów odpowiednio dla li-
nii 1 i 2, jeśli używane są obie linie. Na rys. 28 przedstawiono ekran su-
maryczny dla linii 1.
Ekrany podsumowania pokazują najbardziej istotne wyniki pomiarowe.
Ekrany te zawierają dane zależne od specyficznych rodzajów pogarszania
się warunków, takie jak błędy kodu, błędy bloków CRC-4, błędy bitów
ramki i wieloramki.

46 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 3 MENU

Rys. 28. Ekran podsumowania linii 1 (tryb E1)

Ekran częstotliwości (FREQUENCY)


Następny w wynikach pomiarowych jest ekran częstotliwości, który poka-
zuje informacje dotyczące wyników pomiarów częstotliwości.
• Wykres paskowy pokazuje poślizgi sygnału w stosunku do zegara od-
niesienia. Parametr RxDROP w menu TEST CONFIGURATION okre-
śla, na które linii wykonywane są pomiary. Druga (nie wybrana) linia
jest źródłem częstotliwości odniesienia. Na przykład, jeśli jako
RxDROP będzie ustawione L1-Rx, pomiar będzie dotyczył linii L1, a
zegar odniesienia będzie pobierany z sygnału L2-Rx.
• Ważne jest, aby znać źródło zegara odniesienia, aby poprawnie zinter-
pretować wyniki wykresu.
• Należy zwrócić uwagę, że wskaźnik paskowy waha się szybko wokół
pozycji środkowej, zaś w miarę wzrostu jego długości, zmiany są
znacznie wolniejsze.
• Zliczenie liczby poślizgów zegara jest podane na końcu paska.
• 256 poślizgów zegara powoduje, że wykres sam się wyzeruje.
• Jedno zliczenie poślizgów zegara pojawia się wówczas, gdy mierzona
częstotliwość odbiega od częstotliwości odniesienia o jeden przedział
jednostkowy (unit interval). Wartość tego przedziału jednostkowego
jest równa 488 ns.
• Wykres paskowy może być brany pod uwagę tylko wtedy, kiedy w
obydwu liniach L1-Rx i L2-Rx występują poprawne sygnały. Na przy-
kład, jeśli w L2-Rx nie ma sygnału, to pojawi się napis NO LINE 2
REF SIGNAL (brak sygnału odniesienia z linii 2) i żaden wykres nie
będzie wyświetlany.
• Na rys. 29 i 30 przedstawiono ekran częstotliwości dla trybu E1.

SunSet E20 wersja 1.01 47


ROZDZIAŁ 3 MENU

Rys. 29. Ekran częstotliwości (tryb E1)

Rys. 30. Ekran częstotliwości - brak sygnału odniesienia

Uwaga: Jeśli brak jest sygnału zegara odniesienia, to dla pomiarów MAX,
MIN i aktualnej przepływności bitowej (RCV) wybranego sygnału
tester ustawi się domyślnie na swój zegar wewnętrzny.
Jeśli to konieczne, należy zapoznać się z definicjami pomiarów w niniej-
szej instrukcji.

Ekrany linii 1 i linii 2 dla G.821


Ekrany G.821 pokazują parametry pomiarowe wyspecyfikowane w zale-
ceniu ITU G.821. Na rys. 31 przedstawiono przykładowy ekran.

48 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 3 MENU

Rys. 31. Ekran logiczny G.821

Jeśli to konieczne, należy zapoznać się z definicjami pomiarów w niniej-


szej instrukcji.

Ekrany alarmów linii 1 i linii 2 (ALM/SIG)


Ekran ten przedstawia alarmy i parametry pomiarowe odnoszące się do
sygnału E1. Patrz rys. 32.
Jeśli to konieczne, należy zapoznać się z definicjami pomiarów w niniej-
szej instrukcji.

Rys. 32. Ekran ALM/SIG (Tryb E1)

Ekrany linii 1 i linii 2 dla M2100/550


Ekran ten pokazuje wyniki testów zgodności ze specyfikacją ITU
M.2100/550.
Specyfikacja ta jest używana tam, gdzie łącze 2,048 Mbit/s przechodzi
przez granice międzynarodowe. Przydziela ona dokładną dozwoloną stopę
błędów do wymagań w każdym kraju, przez który przechodzi łącze. Per-
sonel techniczny rzadko musi wprowadzać odpowiednią wartość procen-
tową, która ma obowiązywać w testowanym łączu. Tester SunSet E20
sam przeprowadza obliczenia zgodności z M.2100/550 i informuje, czy
łącze spełnia wymagania, czy też nie.

SunSet E20 wersja 1.01 49


ROZDZIAŁ 3 MENU

Podane pod rys. 33 definicje odnoszą się głównie to tego ekranu wyników.

Rys. 33. Ekran linii 1-M.2100/550 (tryb E1)

PERIOD: data i czas każdego testu zgodności. Odstęp czasowy użyty na


rys. 33 to 2 minuty. Odstęp ten można zmienić w menu SYSTEM
PARAMETERS / MEAS CONFIGURATION, strona 2. Poprawne wartości
wybiera się z zakresu od 00 do 99 minut.
P/F: Pokazuje, czy test dał w danym przedziale pomiarowym wynik po-
prawny (P - PASS) czy niepoprawny (F - FAIL).
%ES: procentowa wartość liczby sekund z błędami wg zalecenia M.2100
zliczanych od momentu rozpoczęcia testu. Błędną sekundą jest każda se-
kunda z błędem kodu, bitu, ramki, wieloramki lub CRC.
%SES: procentowa wartość liczby sekund z bardzo poważnymi błędami
zliczonych od momentu rozpoczęcia testu. Sekundą z bardzo poważnymi
błędami wg M.2100 jest każda sekunda ze stopą błędów bitowych >10-3,
stopą błędów kodu 10-3, nadmiernymi liczbami błędów bitów ramki, wie-
loramki lub CRC, ze utratą ramkowania, utratą wzorca, synchronizacji
lub sygnału.

50 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 3 MENU

Ekrany linii 1 i linii 2 G.826


Następne ekrany wyników pomiarowych dla trybu E1 zawierają wyniki
według zalecenia G.826. Patrz rys. 34.

Rys. 34. Ekran linii 1-G.826 (tryb E1)

Uwaga: Należy włączyć pomiary zgodne z G.826 w menu SYSTEM


PARAMETERS / MEAS CONFIGURATION, strona 2. To zalecenie
ITU, zastępujące starsze zalecenie G.821, określa pożądane cha-
rakterystyki łącza 2,048 Mbit/s. Definicje parametrów podane w
G.826 są oparte na koncepcji bloków danych. Pozwala to na ła-
twe przeprowadzanie pomiarów na łączu pracującym.
Z tym ekranem związane są następujące definicje:
BBE: błąd bloku w tle (Background Block Error) jest błędnym blokiem,
który wystąpił poza sekundą z bardzo poważnymi błędami (SES).
%BBE: wartość procentowa liczby błędnych bloków w tle zliczonych od
momentu rozpoczęcia testu, za wyjątkiem wszystkich bloków występują-
cych w sekundach z poważnymi błędami (SES) i podczas niedostępności
łącza.
EB: błędny blok (Errored Block) jest blokiem danych zawierającym jeden
lub więcej błędów bitowych.
%EB: wartość procentowa liczby błędnych bloków zliczonych od mo-
mentu rozpoczęcia testu.
SES: sekunda z bardzo poważnymi błędami (Severely Errored Second) jest
okresem jednosekundowym, podczas którego wystąpiło co najmniej 30%
błędnych bloków.
%SES: wartość procentowa liczby sekund z bardzo poważnymi błędami
zliczonych od momentu rozpoczęcia testu.

Wyniki pomiarów w trybie E1-MUX


Wyniki pomiarowe w trybie E1-MUX pokazują sumaryczne wyniki Linii 1 i
Linii 2. Jeśli to konieczne, patrz także sekcję opisującą ogólne definicje
pomiarów. W trybie tym są wyświetlane trzy dodatkowe ekrany związane
z transmisją danych. Definicje pomiarów dla tych ekranów są podane w
rozdziale 5.

SunSet E20 wersja 1.01 51


ROZDZIAŁ 3 MENU

Na rys. 35 pokazano ekran podsumowujący dla transmisji danych, na


rys. 36 pokazano wyniki pomiarów błędów bitowych transmisji danych, a
na rys. 37 pokazano ekran błędów blokowych.

Rys. 35. Wyniki łączne dla transmisji danych (tryb E1-MUX)

Rys. 36. Wyniki pomiarów błędów bitowych transmisji danych

Rys. 37. Pomiary błędów blokowych transmisji danych

52 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 3 MENU

Wyniki pomiarów w trybie MUXTEST


Ekrany wyników pomiarów dla testów multipleksera są identyczne jak
ekrany wyników w trybie E1-MUX. W celu zapoznania się z opisem
wszystkich ekranów należy przeczytać sekcję opisującą tryb E1, za wyjąt-
kiem wyników transmisji danych. Ekrany transmisji danych można zna-
leźć w następnej sekcji i w rozdziale 5.

Wyniki pomiarów transmisji danych (DATACOM)


Wyniki pomiarów dla transmisji danych są przedstawiane na trzech
ekranach. Na rysunkach od 35 do 37 przedstawiono przykładowe ekrany.
W celu uzyskania dalszych informacji należy zapoznać się z rozdziałem 5.

Inne pomiary
Lista menu innych pomiarów (OTHER MEASUREMENTS) jest pokazana na
rys. 38.

Rys. 38. Menu OTHER MEASUREMENTS

Większość wyborów z tego menu jest opisanych w niniejszej sekcji. Należy


zwrócić uwagę, że transmisja danych opisana jest w rozdziale 5, a na opis
X.50 poświęcono osobny rozdział.

Podgląd odbieranych danych


Typowy ekran podglądu danych odebranych (VIEW RECEIVED DATA)
przedstawiono na rys. 39. Ekran odnosi się do ustawień Rx/DROP zdefi-
niowanych w menu TEST CONFIGURATION. W trybie transmisji danych
(DATACOM) wyświetlane dane będą dotyczyć odebranego sygnału zdefi-
niowanego w menu TEST CONFIGURATION.

SunSet E20 wersja 1.01 53


ROZDZIAŁ 3 MENU

Rys. 39. Podgląd odbieranych danych

Aby wyświetlić ten ekran należy użyć następującej procedury:


1) Kursor należy ustawić w pozycji OTHER MEASUREMENT (inne pomia-
ry) w menu głównym (MAIN MENU) i nacisnąć ENTER.
2) Kursor ustawić w pozycji VIEW RECEIVED DATA (podgląd odebranych
danych). Nacisnąć ENTER.
3) Można oglądać prezentację danych na żywo.
4) Wybrać PAUSE (F3) aby przechwycić aktualne dane w łączu E1.
a) Aby wydrukować dane przez port szeregowy na drukarce należy
nacisnąć PRINT (F4).
5) Aby obejrzeć więcej danych należy posłużyć się przyciskami PAGE-UP
(F1) lub PAGE-DN (F2).
• Należy zwrócić uwagę, że numer strony (PAGE) jest podawany z
lewej strony ekranu.
• Dostępne są 64 strony wyników, co odpowiada 16 ramkom lub
jednej wieloramce.
6) Kiedy zakończymy przeglądanie, należy dwa razy nacisnąć przycisk
ESCAPE, aby powrócić do menu głównego (MAIN MENU).
Na tym ekranie użyte są następujące definicje oznaczeń:
PAGE: pokazuje, która z 64 stron danych jest aktualnie wyświetlana.
T/S: określa szczelinę czasową, która jest oglądana.
BINARY: kolumna ta pokazuje dane binarne, które są aktualnie odbiera-
ne z łącza. Każdy wiersz reprezentuje 8-bitową szczelinę czasową.
HEX: kolumna zawierająca szesnastkową reprezentację 8 bitów, które są
nadawane w każdej szczelinie czasowej.
ASCII: kolumna ta pokazuje reprezentację ASCII 8-bitowego słowa ram-
kowanego, które zostało odebrane. Znak wyświetlany z lewej strony na-
wiasów reprezentuje odebrane słowo 8-bitowe przetłumaczone w kolejno-
ści przychodzenia bitów. Znak wyświetlany w nawiasach przedstawia
tłumaczenie tego słowa w odwrotnym porządku bitów.

54 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 3 MENU

Podgląd słów FAS


• Podgląd słów FAS (VIEW FAS WORDS) jest dostępny z poziomu menu
OTHER MEASUREMENTS.
• Dla wyświetlenia tego ekranu konieczna jest obecność ramkowania.
• Podgląd słów FAS pozwala na oglądanie prezentacji na żywo ramko-
wanych słów binarnych w łączu E1. Na ekranie wyświetlane są szcze-
liny czasowe o numerze 0 dla ramek od 0 do 15.
• Patrz rys. 40, słowa ramkowane FAS.
• Dodatkowe informacje podano w rozdziale 6.
• Prezentowane dane odnoszą się do wyboru Rx/DROP dokonanego w
menu TEST CONFIGURATION.
• Podgląd słów FAS ta nie jest dostępny w trybie transmisji danych
(DATACOM TEST MODE).
1) Aby zatrzymać prezentację danych należy nacisnąć PAUSE (F1); aby
powrócić do wyświetlania słowa FAS na żywo należy nacisnąć
RESUME (F1).
Ramki parzyste od 0 do 14 zawierają sygnał ramkowania przesyłany w
bitach od 2 do 8. Tak jak przedstawiono to na rys. 40, FAS jest repre-
zentowany przez 0011011.

Rys. 40. Słowa ramkowania FAS

Ramki nieparzyste nie zawierają sygnału ramkowania. Górny wiersz nad


tymi ramkami na rys. 40 pokazuje przydział bitów od 1 do 8. Rysunek
dotyczy sygnału niezakłóconego.
Jeśli ramkowanie jest ustawione w PCM-30 na wieloramki, to występuje
wtedy niewielka różnica w bitach ramkowania ramek nieparzystych (tych
bez sygnału fazowania ramki). Bit 1 jest używany do transmisji 6-bitów
sygnału CRC-4 wieloramki, a 2 bity CRC-4 są bitami wskazującymi błąd
CRC-4. Sygnał wieloramki CRC-4 ma postać 001011. Na rys. 41 przed-
stawiono słowa FAS dla ramkowania w PCM-30.

SunSet E20 wersja 1.01 55


ROZDZIAŁ 3 MENU

Rys. 41. Słowa FAS

Na rys. 41 pierwsze bity ramek od 1 do 11 (nieparzystych) zawierają wzo-


rzec 001011, czyli sygnał wieloramki CRC-4.

Podgląd słów MFAS


Na ekranie podglądu słów MFAS można obejrzeć prezentację na żywo
szczeliny czasowej o numerze 16 dla ramek od 0 do 15. Aby wyświetlić
ten ekran, należy wybrać ramkowanie PCM-30 z poziomu menu TEST
CONFIGURATION (patrz rys. 42). Dane pochodzą z linii wybranej w menu
TEST CONFIGURATION za pomocą parametru Rx/DROP. Cecha ta nie
jest dostępna w trybie transmisji danych (DATACOM TEST MODE).
Aby przejść do podglądu słów MFAS należy:
1) Z menu głównego (MAIN MENU) wybrać OTHER MEASUREMENTS (in-
ne pomiary).
2) Wybrać VIEW MFAS WORDS (podgląd słów MFAS).
3) Nacisnąć PAUSE (F1) aby zatrzymać prezentację danych; aby powrócić
do prezentacji słów MFAS na żywo należy nacisnąć RESUME (F1).
a) Kiedy ekran jest w trybie PAUSE, można nacisnąć PRINT (F2) aby
wysłać wyniki na drukarkę przez port szeregowy.

56 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 3 MENU

Rys. 42. Słowa ramkowe MFAS

Szczelina czasowa nr 16 w wieloramkach jest używana bądź jako zwykły


kanał lub jako kanał związany z sygnalizacją, tak jak jest to wymagane.
Należy zwrócić uwagę, że na rys. 42, wzorzec dla ramek parzystych
(0000xyxx) odnosi się tylko do Ramki 0. Wszystkie inne ramki są zgodne
z wzorcem pokazanym powyżej ramek nieparzystych (ABCDabcd).
Tak jak pokazano to na rys. 42, w ramce 0, sygnał MFAS to 0000.
Pozostałe ramki zawierają kanały sygnalizacyjne nazwane a, b, c i d.
Ramka 1 zawiera kanały 1 i 16, ramka 2 zawiera kanały 2 i 17, i tak dalej
aż do ramki 15, która zawiera kanały 15 i 30.

Analiza zgodności impulsów z maską


Opcja analizy zgodności impulsów z maską (PULSE MASK ANALYSIS) po-
zwala na ocenę jakości impulsów w łączu E1. Zarejestrowane wyniki są
porównywalne z pomiarami kształtu impulsu za pomocą oscyloskopu cy-
frowego.
• Analiza zgodności impulsów z maską jest dokonywana dla dowolnego
odbieranego wzorca testowego lub "żywego" sygnału i dla dowolnego
trybu pracy interfejsu liniowego.
• Kształt otrzymanego sygnału jest wyświetlany na ekranie testera Sun-
set.
• Dla szybkiego sprawdzenia maska wg ITU G.703 może być nakładana
na impuls.
• Tester Sunset zapamiętuje aktualny kształt impulsu dla późniejszego
oglądania.
• Należy zwrócić uwagę, że jeśli rozpoczniemy analizę podczas trwania
pomiarów, to zostaną one zatrzymane. Kiedy analiza zgodności impul-
su z maską jest zakończona, urządzenie wznowi pomiary.
• Menu analizy kształtu impulsów przedstawiono na rys. 43.

SunSet E20 wersja 1.01 57


ROZDZIAŁ 3 MENU

Rys. 43. Menu analizy kształtu impulsów

• Można rozpocząć nową analizę.


• Można obejrzeć ostatnią analizę przeprowadzoną przez tester SunSet.

Rozpoczęcie nowej analizy


Aby rozpocząć nową analizę kształtu impulsu należy wyświetlić ekran
PULSE SHAPE ANALYSIS (analiza impulsu kształtu). Na rys. 44 pokazano
przykładowy wygląd tego ekranu.

Rys. 44. Analiza kształtu impulsu

Należy postępować zgodnie z poniższą procedurą:


1) W menu TEST CONFIGURATION wybrać odpowiedni interfejs liniowy.
2) W menu głównym (MAIN MENU) umieścić kursor na pozycji OTHER
MEASUREMENTS i nacisnąć ENTER.
3) Wybrać PULSE MASK ANALYSIS (analiza zgodności impulsu z ma-
ską).
4) Nacisnąć START NEW ANALYSIS (rozpocznij nową analizę).

58 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 3 MENU

W ciągu od 3 do 5 sekund przechwycony kształt impulsu pojawi się na


ekranie. Na tym ekranie są trzy przyciski funkcyjne do wyboru:
G.703 (F1): wyświetlanie maski zgodnej z ITU G.703 równocześnie z prze-
chwyconym sygnałem. Przycisk ten po wybraniu staje się przyciskiem
NO-MASK (F1) służącym do usunięcia maski G.703 z ekranu.
RESTART (F2): wznowienie przechwytywania i analizy kształtu nowego
impulsu .
PRINT (F3): drukuje kształt impulsu na drukarce termicznej Sunrise.
Dla tego ekranu zdefiniowane są następujące parametry:
Width - szerokość impulsu w ns
Rise Time - czas narastania w ns
Fall - czas opadania w ns
Ovr Shoot - procentowy wyskok impulsu
Und Shoot - procentowy spadek impulsu
Level - poziom sygnału w dB

Podgląd kształtu ostatniego impulsu


• Pozwala na oglądanie kształtu impulsu ostatnio przechwyconego
przez tester SunSet E20.
• Kształt impulsu może być oglądany w dowolnym czasie, nawet po
tym, jak tester SunSet został wyłączony na dłuższy okres czasu.
Należy postępować zgodnie z poniższą procedurą:
1) W menu głównym (MAIN MENU) umieścić kursor na pozycji OTHER
MEASUREMENTS i nacisnąć ENTER.
2) Wybrać PULSE MASK ANALYSIS (analiza zgodności impulsu z ma-
ską).
3) Przesunąć kursor na pozycję VIEW LAST PULSE SHAPE (podgląd
kształtu ostatniego impulsu), nacisnąć ENTER.
• Na ekranie zostanie wyświetlony kształt ostatniego impulsu wraz z
przyciskami funkcyjnymi G.703 i PRINT.
• Definicje wyników podane są w poprzedniej sekcji.
Należy zwrócić uwagę, że analiza X.50 jest opisana w osobnym roz-
dziale poświęconym tej analizie.

Analiza ramek z bitami C


Opcja analizy bitów C (C-BIT ANALYSIS) pozwala użytkownikowi na wy-
syłanie i odbiór ramek z bitami C.
Aby przejść do tej analizy, należy:
1) W menu głównym (MAIN MENU) wybrać pozycję OTHER MEASURE-
MENTS (inne pomiary).
2) Wybrać C-BIT ANALYSIS (analiza C-Bit).
Bity C można odbierać zarówno z linii 1, jak i z linii 2, lecz nadawać moż-
na je tylko do jednej linii. Będzie to linia wskazana przez parametr
Tx/INSERT w menu TEST CONFIGURATION (patrz także rys. 45).

SunSet E20 wersja 1.01 59


ROZDZIAŁ 3 MENU

Rys. 45. Analiza bitów C

Uwaga: Tester SunSet będzie transmitował wzorzec jałowy (IDLE) po wej-


ściu do ekranu analizy bitów C.
Na tym ekranie dostępne są następujące pola programowalne:
1) L1-Tx T/S
Opcje: 1-15, 17-31
Pozwala na wybór szczelin czasowych, do których wysyłane są bity C.
• Nacisnąć NEXT <Następny> (F1) lub PREVIOUS <Poprzedni> (F2) tak
jak jest to konieczne.
• Aby wysłać bity C do linii 2 (i dlatego ta pozycja zmienia się na L2-Tx
T/S), należy:
a) W menu TEST CONFIGURATION ustawić L2-Tx jako Tx/INSERT
• Ponieważ przy analizie bitów C jest wymagane ramkowanie PCM-30,
to nie wolno wybierać szczeliny czasowej nr 16.
2) TRANSMIT (nadawanie)
Opcje: USER (F1), IDLE (F2).
To ustawienie określa bit 2.
• IDLE <jałowy> (F2) wysyła logiczną jedynkę jako wartość bitu 2. Kiedy
jedynka jest umieszczona w tym miejscu, ramkowanie bitów C będzie
ignorowane.
• USER <użytkownik> (F1) powoduje aktywację ramkowania bitów C i
ustawia bity programowalne przez użytkownika.
a) Należy ustawić kursor na SEND (wysyłaj).
b) Dla każdego bitu należy nacisnąć przycisk SHIFT i wprowadzić 0
lub 1. Kursor przesuwa się automatycznie o jedno miejsce w pra-
wo po wprowadzeniu wartości bitu. Kiedy kursor podświetla spe-
cyficzny bit, informacja o tym bicie C będzie wyświetlana na dole
ekranu.

60 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 3 MENU

3) L1-Rx
Opcje: 1-15, 17-31.
Pozwala na wybór szczeliny czasowej w linii odbiorczej, która ma otrzy-
mywać bity C.
• Nacisnąć NEXT <Następny> (F1) lub PREVIOUS <Poprzedni> (F2) tak,
jak jest to konieczne.
• Ponieważ dla PCM-30 wymagane jest ramkowanie MFAS, to nie moż-
na wybrać szczeliny czasowej 16.
Ten ekran pokazuje także odebrane bity C zarówno dla linii 1, jak i dla li-
nii 2. Jeśli na linii nie ma bitów C, to dla tej linii będzie wyświetlany ko-
munikat C-BIT NOT FOUND (nie znaleziono C-bitów).
Definicje bitów C o numerach od 2 do 15 podano niżej:

Numer bitu Znaczenie

bit 2 - ESCAPE 0 - ramkowanie C aktywne


1 - ramkowanie C ignorowane
bit 3 - Pętle 2Mb 0 - abonent
1 - sieć
bit 4 - Pętla 2 lub pętla 3 0 - abonent
1 - sieć
bit 5 - Instrukcja pętli 2 0 - aktywny
1 - nieaktywny
bit 6 - Instrukcja pętli 3 0 - aktywny
1 - nieaktywny
bit 7 - Komenda HDB3 0 - aktywny
1 - nieaktywny
bit 8 - Potwierdzenie pętli 0 - potwierdzanie
1 - brak potwierdzenia
bit 9 - nie zdefiniowany
bit 10 - Błąd lokalny 0 - aktywny
1 - nieaktywny
bit 11 - Zdalny błąd linii 0 - aktywny
1 - nieaktywny
bit 12 - Utrata ramki C 0 - aktywny
1 - nieaktywny
bity 13 - 15 - zapasowe
Rys. 46. Definicje bitów C

Analiza histogramów
• Pozwala na oglądanie lub drukowanie aktualnego pliku lub pliku za-
chowanego poprzednio (jeśli posiadamy dodatkową kartę pamięci).
• Na rys. 47 przedstawiono menu analizy histogramów (HISTOGRAM
ANALYSIS).
Uwaga: Przerwanie pomiarów czasowych w celu obejrzenia wyników
spowoduje rozpoczęcie się analizy histogramów od nowa, kiedy
powróci się do pomiarów.

SunSet E20 wersja 1.01 61


ROZDZIAŁ 3 MENU

Rys.47. Menu analizy histogramów

Aktualny histogram
Należy używać poniższej procedury:
1) Z poziomu menu głównego (MAIN MENU) przejść do menu OTHER
MEASUREMENTS (Inne pomiary).
2) Wybrać HISTOGRAM ANALYSIS (Analiza histogramów).
3) Wybrać pozycję CURRENT HISTOGRAM (Aktualny histogram).
• Wybór pozycji CURRENT HISTOGRAM określa datę i czasu po-
czątku i końca analizy - tak, jak to pokazano na rys. 48.
4) Bieżąca data i czas odpowiadają czasowi ostatniego wyświetlenia
ekranu MEASUREMENT RESULTS (wyniki pomiarowe).
a) Aby obejrzeć aktualny histogram należy wybrać VIEW <Podgląd> (F1).
Na rys. 49 przedstawiono przykładowy ekran z histogramem.
b) Naciśnięcie STORE <Zachowaj> (F2) usunie wszystkie poprzednio za-
pisane dane. Aby zapamiętywać dane trzeba mieć dodatkową kartę
pamięci SDRAM.
• Aktualne dane histogramu są zapamiętywane, ale będą usunięte
kiedy następny raz zostaną wyświetlone wyniki pomiarów (ekran
MEASUREMENT RESULTS).
• Jeśli nie chcemy zapamiętywać aktualnego pliku i chcemy usunąć
plik, który jest już zachowany, należy nacisnąć ESCAPE zamiast
ENTER na ekranie wyświetlającym komunikaty.

62 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 3 MENU

Rys. 48. Menu aktualnego histogramu

Rys. 49. Podgląd aktualnego histogramu

Na ekranie analizy histogramu dostępne są następujące przyciski funk-


cyjne:
TYPE (F1): rodzaj parametru pomiarowego.
Rodzaje błędów analizowanych za pomocą histogramu dla trybów pracy
E1SINGL/DUAL, E1-MUX, MUXTEST są następujące:
EBIT, CRC, FAS, MFAS, CODE: jeśli to konieczne, patrz wyjaśnienia w
części zawierającej definicje pomiarowe.
LOS: utrata sygnału.
LOF: utrata ramki.
AIS: sygnał wskaźnika alarmu
FASRAI: wskaźnik zdalnego alarmu FAS
MFASRAI: wskaźnik zdalnego alarmu MFAS
BERT_LOPS: utrata synchronizacji wzorca
BERT_BIT: błędy bitowe

SunSet E20 wersja 1.01 63


ROZDZIAŁ 3 MENU

Rodzaje błędów błędów analizowanych za pomocą histogramu w trybie


DATACOM: BERT-LOPS, BERT_BIT.
• Historia każdego rodzaju błędu wyświetlana jest indywidualnie.
• Rodzaj błędu jest wyspecyfikowany w górnej części ekranu.
• Naciśnięcie TYPE (Rodzaj) automatycznie zmienia rodzaj wyświetlanej
opcji.
Na rys. 49 jako rodzaj błędu został wybrany błąd bitowy. W taki sposób
można sprawdzić historię poszczególnych błędów lub parametrów zależ-
nych od trybu testowania.
LINE 1/2 (F2): wybór parametrów linii 1 albo linii 2 dla łącza E1 albo
transmisji danych, w zależności od ustawienia.
• Gdy tester jest skonfigurowany do pracy w trybie DATACOM,
MUXTEST lub E1MUX, to parametry transmisji danych będą wybrane
automatycznie i opcja LINE 1/2 nie będzie dostępna.
ZOOM (F3): zmiana rozdzielczości w pozycji kursora na następną mniej-
szą wartość interwału pomiarowego.
• Jako okresy czasu można wybrać: minutę, godzinę lub dobę.
JUMP (more, F1): skok kursora o 10 interwałow pomiarowych.
• Aby przesunąć kursor o jeden interwał na raz należy używać przyci-
sków ze strzałką w lewo lub prawo.
PRINT (more, F2): wysłanie wyników na drukarkę przez port szeregowy.
Uwagi:
• Menu HISTOGRAM ANALYSIS będzie wyświetlać aktualne lub zacho-
wane wyniki.
• Za każdym razem kiedy wchodzimy do ekranu MEASUREMENT
RESULTS (Wyniki pomiarowe) tester SunSet wymieni plik danych
aktualnego histogramu dostępnego w CURRENT HISTOGRAM (Aktu-
alny histogram).
• Dla każdego pliku dostępnego w menu HISTOGRAM ANALYSIS za-
chowane są dane z ostatnich 24 godzin przy rozdzielczości wyświetla-
nia (PERIOD) równej jednej minucie.
• Dla każdego pliku dostępnego w menu HISTOGRAM ANALYSIS za-
chowane są dane histogramu zarówno z bieżących 60 godzin i po-
przednich 60 dni przy rozdzielczości (PERIOD) równej jednej godzinie.

Histogram zachowany
Aby obejrzeć, wydrukować lub nazwać zachowany plik analizy histogra-
mu należy wejść do menu SAVED HISTOGRAM (Histogram zachowany).
Jeśli zamierzamy wejść do menu SAVED HISTOGRAM przy braku dodat-
kowej karty pamięci, to pojawi się komunikat "No SRAM Memory Card
Installed" (Brak zainstalowanej karty SRAM). Poniższy rysunek przed-
stawia wygląd stosownego ekranu:

64 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 3 MENU

Rys. 50. Ekran SAVED HISTOGRAM

Na tym ekranie dostępne są następujące przyciski funkcyjne:


VIEW (F1): podgląd wybranego rekordu.
PAGE-UP (F2), PAGE-DN (F3): wyświetlanie kolejnych ekranów zachowa-
nych histogramów.
DELETE (more, F1): usuwanie podświetlonego histogramu.
LOCK/UNLOCK (more, F2): LOCK naciskamy aby zablokować rekord tak,
że nie może on być usunięty lub zmieniony w inny sposób. Naciśnięcie
UNLOCK powoduje odblokowanie rekordu.
LABEL (more, F3): nadanie nazwy histogramowi.
a) Należy użyć przycisku TOGGLE (F3) aby mieć dostęp do liter, następ-
nie wybrać litery naciskając SELECT (F4).
b) Należy użyć INSERT (F1) lub DELETE (F2) gdy chcemy dodać lub usu-
nąć literę.
c) Nacisnąć ponownie TOGGLE (F3) po zakończeniu nadawanie nazwy.
d) Nacisnąć ENTER, co przywróci ekran SAVED HISTOGRAM, gdzie na
rekordzie pod nagłówkiem LABEL widoczne będzie nowa etykieta.
e) Jeśli potrzebne są dodatkowe wyjaśnienia należy zapoznać się z sek-
cją dotyczącą tworzenia własnych wzorców testowych w niniejszym
rozdziale.
CLR-ALL (more, F1): usunięcie wszystkich zapisanych histogramów (bez-
pieczne dla wszystkich plików, które są zablokowane za pomocą LOCK.

Opóźnienie propagacji sygnału


• Pozwala na oglądanie opóźnienia propagacji sygnału w pętli zwrotnej.
Patrz rys. 51.
• Do tego ekranu można wejść tylko w trybie z pełną przepływnością.
• Tester mierzy liczbę interwałów jednostkowych, które są potrzebne
sygnałowi do powrotu. Interwał jednostkowy jest miarą czasu, który
jest potrzebny do przesłania jednego bitu (488 ns dla sygnału E1).

SunSet E20 wersja 1.01 65


ROZDZIAŁ 3 MENU

Liczba ta jest zamieniana na dokładną liczbę mikrosekund opóźnienia


sygnału na drodze okrężnej.

Rys. 51. Opóźnienie propagacji sygnału

• Jeśli na linii mamy więcej niż jedno urządzenie z pętlą, a chcemy ska-
librować ponownie tester do pomiaru opóźnienia propagacji sygnału
między dwoma urządzeniami, nie licząc testera SunSet E20, to należy
nacisnąć CALIB (F2). Należy obserwować wartość parametru OFFSET
aby zobaczyć opóźnienie tylko między dwoma urządzeniami sieciowy-
mi (odrzucając pomiar opóźnienia między testerem E20 a urządze-
niem 1). Aby prowadzić dalsze pomiary wzdłuż łącza, jeśli zachodzi
taka potrzeba, należy ponownie nacisnąć CALIB.
• Nacisnąć RESTART (F1) aby zatrzymać i wznowić pomiar opóźnienia
propagacji sygnału.
• Tester ustawi się na wyborze parametru Rx/DROP w menu TEST
CONFIGURATION.
Uwaga: Każda pozycja w menu PROTOCOLS (Protokoły) ma swój osobny
rozdział w dalszej części niniejszej instrukcji.

Dostęp do kanału głosowego


Menu VF CHANNEL ACCESS (Dostęp do kanału głosowego) udostępnia
szereg funkcji związanych z rozmową i odsłuchem.
Jeśli dioda PCM-31 lub dioda PCM-30 nie świeci się na zielono, to nie
należy próbować wejść do menu VF CHANNEL ACCESS. Diody świecące
na zielono pokazują, że ramkowanie znalezione w sygnale przychodzącym
pasuje do ramkowania wybranego w menu konfiguracji testu (TEST
CONFIGURATION). Nie można rozmawiać, odsłuchiwać lub uruchamiać
innych funkcji związanych z kanałem w przypadku braku synchronizacji
ramkowej, ponieważ kanały mogą być identyfikowane tylko w ramach sy-
gnału ramkowanego.
Na rys. 52 przedstawiono listę pozycji menu VF CHANNEL ACCESS.

66 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 3 MENU

Rys. 52. Menu VF CHANNEL ACCESS

Uwaga: Jeśli podczas pracy w menu VF CHANNEL ACCESS jako wartość


parametru TxSOURCE na ekranie TEST CONFIGURATION usta-
wione jest TESTPAT (Wzorzec testowy), to do niewybranych ka-
nałów będą wprowadzane kod jałowy i informacja sygnalizacyjna
(bity A/B/C/D). Kod jałowy i sygnalizacja mogą być zaprogramo-
wane w pozycjach menu MAIN MENU / SYSTEM PARAMETERS /
MEAS CONFIGURATION / IDLE CHNL CODE i IDLE CHNL
A/B/C/D.

Pomiary w kanale głosowym i pomiary szumu


Menu VF & NOISE MEASUREMENTS (pomiary kanału głosowego i szumu)
pozwalają na wybór:
• który kanał ma być testowany zarówno dla nadawania, jak i odbioru;
• czy należy mówić, nadać sygnał tonowy, czy też wstawić zakończenie
rozmowy do sygnału nadawanego;
• częstotliwości i poziomu nadawanego sygnału akustycznego;
• które bity sygnalizacyjne powinny być wysłane;
• nasłuchu na obydwu albo na jednej linii.
Menu to pokazuje także:
• odebrane bity sygnalizacyjne;
• odebrane dane 8-bitowe;
• częstotliwość i poziom odebranego sygnału;
• wynik pomiaru szumu na odbieranej częstotliwości.
Należy zwrócić uwagę, że istnieją różnice w ustawieniu trybów E1SINGL
lub E1DUAL (patrz rys. 53).

SunSet E20 wersja 1.01 67


ROZDZIAŁ 3 MENU

Rys. 53. Pomiary VF

Na rys. 53 przedstawiono przykładowe ustawienie dla trybu E1DUAL. Dla


Tx-1 ustawiono szczelinę czasową nr 1. Mamy tu Tx-1, ponieważ na
ekranie TEST CONFIGURATION jako Tx/INSERT wybrano L1-TX. Aby
wprowadzać sygnał do linii 2 (i w konsekwencji zobaczyć Tx-2 na tym
ekranie) należy jako Tx/INSERT wybrać w TEST CONFIGURATION war-
tość L2-TX.
Parametr Rx-1/2 pokazuje numer wybranej szczeliny czasowej dla każdej
linii. Wyniki pomiarów (MEASUREMENT RESULTS) zależą od ustawienia
parametru IN/DROP (na rys. 53 jest to L1/L2), wyświetlanego w górnej
części ekranu.
1) Tx-T/S (dla E1SINGL) lub Tx-1 (dla E1DUAL)
Opcje: 1 - 31.
Wybór szczeliny czasowej dla nadawania.
• Należy nacisnąć według potrzeby NEXT <Następny> (F1) lub PREVIUS
<Poprzedni> (F2).
• Parametr Tx-1 powinien być zazwyczaj taki sam jak Rx-1, lecz można
je ustawić na różne kanały.
• Po wyborze szczeliny czasowej musi upłynąć około 3 sekund zanim
ustawienie się zaktualizuje.
2) Szczelina czasowa dla Rx-1 (E1SINGL) lub Rx-1/2 (E1DUAL)
Opcje: 1 - 31.
Pozwala na wybór szczeliny czasowej odbieranej w linii 1 (tryb E1SINGL)
lub linii 1 i 2 (tryb E1DUAL).
• Należy używać odpowiednich przycisków funkcyjnych: NEXT (F1) lub
PREVIUS (F2).
• Aby ustawić odbiór w linii 2, należy upewnić się, czy wybrano L2-Rx
dla pozycji DROP.
3) TxABCD
Opcje: IDLE (F1), SEIZE (F2), ustawienie ręczne.

68 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 3 MENU

Pozwala na zmianę transmitowanych bitów sygnalizacyjnych w związa-


nym kanale nadawczym. Bity te będą transmitowane tylko wtedy, gdy w
urządzeniu stosuje się ramkowania MFAS (PCM-30).
1) Naciśnięcie IDLE (F1) lub SEIZE (F2) umieści odpowiedni sygnał w
bitach A/B/C/D.
• Sygnał IDLE (wolny) lub SEIZE (zajęty) można zaprogramować w
menu VF CHANNEL ACCESS / SUPERVISION SETUP.
Aby zmienić te bity ręcznie należy:
1) Nacisnąć/zwolnić przycisk SHIFT i naciskać przyciski 1 albo 0 we-
dług potrzeby, aby wprowadzić wartości bitów sygnalizacyjnych.
2) Nacisnąć ENTER aby wysłać bity ABCD.
3) IN/DROP (dla E1DUAL)
Opcje: L1 (F1), L2 (F2).
Określa, do której linii można wprowadzić (INsert) lub z której wydzielić
(DROP) sygnał.
• INsert określa linię, do której jest wprowadzany sygnał testowy.
• DROP określa, której linii dotyczą wyniki pomiarów (MEASUREMENT
RESULTS).
4) Tryb nadawania (TxMode)
Opcje: THRU (F1), TALK (F2), QUIET (F3), TONE (F4).
• Aby przekazać sygnały ze wszystkich kanałów odbieranych do kanału
nadawczego (tryb "przelotowy") należy nacisnąć THRU (F1).
• Aby rozmawiać poprzez wybrany kanał nadawczy, należy nacisnąć
TALK (F2); tester SunSet będzie przekazywał rozmowę z mikrofonu.
• Aby umieścić ciche zakończenie w sygnale nadawanym, należy naci-
snąć QUIET (F3).
• Aby wprowadzić ton akustyczny do wybranego kanału nadawczego,
należy przycisnąć TONE (F4). Jeśli wybierzemy TONE, to następnie
należy ustawić częstotliwość i poziom dźwięku.
5) TxFREQ (częstotliwość tonu)
Opcje: 50 Hz - 3950 Hz.
Jeśli wybraliśmy TONE jako tryb TxMode, to parametr ten określa czę-
stotliwość sygnału akustycznego.
a) Nacisnąć przycisk SHIFT.
b) Wprowadzić wartość z klawiatury.
6) TxLVL (poziom sygnału akustycznego)
Opcje: od –60 dBm do 3 dBm.
Jeśli wybraliśmy TONE jako tryb TxMode, to parametr ten określa poziom
nadawanego sygnału akustycznego.
a) Nacisnąć przycisk SHIFT.
b) Wprowadzić wartość z klawiatury. Można wybierać dowolną wartość
za przedziału od –60 dBm do +3 dBm.
• Nacisnąć MINUS (F1) aby wprowadzać wartości ujemne.

SunSet E20 wersja 1.01 69


ROZDZIAŁ 3 MENU

7) SPEAKER (głośnik w trybie E1DUAL)


Opcje: L1 (F1), L2 (F2), L1+L2 (F3)
Wybór linii, którą chcemy słyszeć w głośniku.
• Należy wybrać L1 aby słuchać linii 1.
• Należy wybrać L2 aby słuchać linii 2.
• Należy wybrać L1+L2 jeśli chcemy słuchać obydwu linii.
MEASUREMENT RESULTS (wyniki pomiarowe)
Ostatnie pięć wierszy na ekranie odnosi się do odbieranych danych. Znak
równości pokazuje, że można je tylko oglądać, a nie modyfikować.
1) RxFREQ
Częstotliwość sygnału w kanale odbiorczym w Hz.
2) Rx(dBm)
Poziom sygnału w kanale odbiorczym w dBm.
3) RxABCD
Podgląd bitów sygnalizacyjnych (CAS)
Uwaga: Bity te mają znaczenie tylko wtedy, gdy dioda PCM-30 świeci się
na zielono. Jeśli dioda nie świeci na zielono, to należy je zigno-
rować.
4) S/N (dB)
Wynik pomiaru stosunku sygnału do szumu, w decybelach. Pomiar ten
jest aktualizowany co sekundę.
5) 3K (dBm)
Wynik pomiaru szumu "płaskiego" 3 kHz w dBm. Pomiar ten jest aktuali-
zowany co sekundę.
6) OFFSET
Offset kodera.
7) PEAK
Wartość szczytowa kodera (od +127 do -127), zgodnie z A-law.
8) RxDATA
Podgląd na żywo 8-bitowych danych w kanale, tak, jak są one odbierane z
wybranej linii.
9) PSOP (dBm)
Wynik psofometrycznego pomiaru szumu w dBm. Pomiar ten jest aktuali-
zowany co sekundę.
10) 1010 (dBm)
Wynik pomiaru szumu 1010 Hz w dBm. Pomiar ten jest aktualizowany co
sekundę.

Podgląd sygnalizacji liniowej (CAS)


• Umożliwia podgląd bitów sygnalizacyjnych dla wszystkich 30 kanałów
albo dla linii 1 (w trybie E1SINGL) albo linii 1 i 2 ( w trybie E1DUAL).

70 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 3 MENU

• Należy wybrać ramkowanie PCM-30 w menu TEST CONFIGURATION.


• Dioda PCM-30 musi świecić się na zielono, aby pokazywać bity sy-
gnalizacyjne.
• Szczeliny czasowe od 1 do 5 są pokazane w pierwszym wierszu, od 6
do 10 w drugim wierszu itd.
• Na rys. 54 przedstawiono przykładowy ekran.

Rys. 54. Podgląd bitów sygnalizacyjnych (CAS) linii 1 i 2

• Należy nacisnąć przycisk STATUS (F1) aby zobaczyć dekodowanie


każdego stanu bitów ABCD. Informacja będzie wyświetlana wówczas,
gdy spełnione będą warunki zgodności stanu "w przód / wstecz" z
ustawieniem nadzoru w menu SUPERVISION SETUP. Poniżej podaje-
my definicje:
IDLE = IDLE (wolny)
SEIZ = SEIZE (zajęty)
ACKW = SEIZE ACKNOWLEDGMENT (potwierdzenie zajętości)
ANSW = ANSWER (odpowiedź)
CLRB = CLEAR BACK (wyczyść wstecz)
CLRF = CLEAR FORWARD (wyczyść do przodu)
BLCK = BLOCK (blokowanie)
???? = UNKNOWN (nieznany); nie wykryto stanu lub dopasowania
• Należy zwrócić uwagę, że niektóre zmiany zachodzą zbyt szybko, aby
mogły być wykryte i wyświetlone przez tester E20. Dlatego wyświetla-
ne będą tylko stany ciągłe, które są wykryte podczas odświeżania
ekranu.
• Należy nacisnąć ABCD (F1) aby wyświetlić informację o bitach ABCD.

Analiza wywołań
• Aby używać tej właściwości tester SunSet E20 musi być skonfiguro-
wany do pracy w trybie E1DUAL z ramkowaniem PCM-30.
• Urządzenie monitoruje cyfry i stany przekazywane między dwiema
urządzeniami sieciowymi.

SunSet E20 wersja 1.01 71


ROZDZIAŁ 3 MENU

• Należy zwrócić uwagę na precyzyjnie ustawienia nadzoru (SUPER-


VISION SETUP), aby analiza wywołań działała poprawnie.
• Tester musi rozpoznać sygnały SEIZE i SEIZE ACKNOWLEDGMENT
zanim rozpocznie przechwytywanie danych.
1) TYPE (rodzaj)
Opcje: MFR1SS5 (F1), MFR2 (F2), DTMF (F3), PULSE (F4).
Pozwala na wybór rodzaju analizowanej sygnalizacji.
• Aby analizować sygnalizację SS#5 należy wybrać F1.
• Aby analizować sygnalizację MFR2 i wymuszaną MFR2 należy wybrać
F2.
• Aby analizować sygnalizację DTMF (dwutonową wieloczęstotliwościo-
wą) należy wybrać F3.
• Aby analizować sygnalizację impulsową należy wybrać F4.
2) Rx-1 T/S
Opcje: 1 - 31 lub AUTO (F3).
Pozwala na wybór szczeliny czasowej do odbioru sygnału dla linii 1.
• Aby wybrać szczelinę czasową należy używać przycisków NEXT (F1) i
PREVIUS (F2).
• Jeśli wybierzemy AUTO, to tester skanuje wszystkie kanały w celu
wyszukania wyzwolenia (zdarzenie TRGIGGER w wierszu 4).
• Dwie dodatkowe możliwości wyboru opisano niżej w punktach 4 i 5.
Na rys. 55 pokazano przykładowy ekran konfiguracji analizy wywołań,
a na rys. 56 przykładowy ekran analizy DTMF.

Rys. 55. Konfiguracja analizy wywołań

72 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 3 MENU

Rys. 56. Przykładowa analiza wywołań DTMF

3) Rx-2 T/S
Opcje: 1 - 31 lub AUTO (F3).
Pozwala na wybór szczeliny czasowej do odbioru sygnału dla linii 1.
• Aby wybrać szczelinę czasową należy używać przycisków NEXT (F1)
i PREVIUS (F2).
• Jeśli wybierzemy AUTO, to tester skanuje wszystkie kanały w linii 2
w celu wyszukania odbiorczej szczeliny czasowej.
• Dostępne są także dwie podane niżej dodatkowe możliwości wyboru:
4) TRIGGER (wyzwalanie)
Opcje: CAS (F1), STATE (F2).
• Należy wybrać CAS (F1) aby tester po wykryciu specyficznych bitów
CAS rozpoczynał przechwytywanie informacji.
a) Pojawi się wiersz ABCD. Aby wprowadzić bity, które ma wykrywać
tester, należy używać przycisku SHIFT i przycisków numerycz-
nych.
b) Kiedy tester rozpozna zaprogramowane bity ABCD, to będzie o tym
informował na ekranie CALL ANALYSIS (Analiza wywołań).
• Aby tester rozpoczynał przechwytywanie informacji po wykryciu stanu
wybranego w wierszu SUPERVISION należy wybrać STATE (F2).

SunSet E20 wersja 1.01 73


ROZDZIAŁ 3 MENU

Rys. 57. Analiza wywołań z wyzwalaniem

5) SUPERVISION (wybór stanu)


Opcje: IDLE (F1), SEIZE (F2), ACKW (F3), ANSW (more, F2), CLR-BK (mo-
re, F2), CLR-FW (more, F2), BLOCK (more, F1).
Określa stan sygnału, który ma być wykrywany przez tester w celu wy-
zwolenia przechwytywania informacji.
• IDLE szuka sygnału jałowego.
• SEIZE szuka zajętości kanału.
• ACKW szuka zwrotnego potwierdzenia zajętości.
• ANSW szuka sygnału zwrotnego.
• CLR-BK szuka sygnału wyczyść wstecz.
• CLR-FW szuka sygnału wyczyść do przodu.
• BLOCK szuka sygnału blokowania.
6) Jeśli wybierzemy ustawienia, to należy nacisnąć ENTER. Można wów-
czas na bieżąco obserwować wyniki analizy.
Opcje: STOP/RESTART <Zatrzymaj/wznów> (F1), ABSOLUT <Bezwzględ-
ny> (F2), RELATIV <Względny> (F3).
• Aby zatrzymać trwający proces analizy wywołań należy nacisnąć
STOP.
Poniżej przedstawiono przykładowy ekran MFR2 CALL ANALYSIS.

74 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 3 MENU

Rys. 58. Ekran MFR2 CALL ANALYSIS

Na zamrożonym ekranie są wyświetlane następujące przyciski funkcyjne:


PAGE-UP (F1): przesuwa o jedną stronę do góry
PAGE-DN (F2): przesuwa o jedną stronę w dół
ANALYZE (F3): analiza cyfr numeru; patrz DIGIT ANALYSIS
RESTART (more, F1): wznowienie analizy wywołań (CALL ANALYSIS).
ABSOLUT (more, F2): pokazuje bezwzględne znaczniki czasowe; czas jest
mierzony od początku analizy.
RELATIV (more, F2): pokazuje względne znaczniki czasowe; czas jest od-
mierzany od ostatniej zmiany.
• Aby zobaczyć znaczniki czasowe w obydwu trybach należy przemien-
nie używać przycisków ABSOLUT i RELATIV.
Uwagi:
• Jeśli wybrany jest tryb monitorowania SS#5 (MFR1SS5), to będą wy-
krywane tony SS#5 łącznie z dekodowaniem etykiet.
• Kiedy wybrany jest tryb MFR2, to będą wykrywane tony sygnalizacji
MFR2 i pojawią się możliwości wyboru. Linia 1 Rx jest traktowania
zawsze jako kierunek do przodu, a linia 2 Rx jako kierunek wstecz.
• Aby rozróżnić sygnalizację liniową CAS od cyfr wybierania impulsowe-
go, w przypadku takiego wybierania przed wykrytą sekwencją sygnali-
zacyjną IDLE/SEIZE będzie wyświetlane oznaczenie PULSE.

Analiza cyfr wybieranego numeru


Aby przejść do funkcji analizy cyfr numeru należy nacisnąć STOP (F1) na
ekranie CALL ANALYSIS, a następnie nacisnąć ANALYZE (F3). Pojawi się
wtedy ekran taki, jak pokazano na następującym przykładzie.
• Po zatrzymaniu analizy wywołań (CALL ANALYSIS) będą pamiętane i
analizowane ostatnio wykryte 32 cyfry.
• Jeśli ustawiono analizę wyzwalaną (pozycja TRIGGER na ekranie
CALL ANALYSIS) to tester zapamięta i będzie analizował do 32 cyfr
poczynając od momentu zatrzymania do momentu wyzwolenia.

SunSet E20 wersja 1.01 75


ROZDZIAŁ 3 MENU

Rys. 59. Ekran DTMF Digit Analysis

Poniżej podano definicje oznaczeń ekranowych:


H/L Hz - częstotliwość tonu wysokiego i niskiego danej cyfry, w Hz
dBm - poziom w dBm
INTD: - interwał czasowy między kolejnymi cyframi
PERD: - okres wybierania numeru
TWIST: - różnica między częstotliwościami dwóch tonów.

Rys. 60. Analiza cyfr wybierania impulsowego

Definicje dla cyfr wybierania impulsowego (patrz rys. 60) zawierają także:
PPS: - szybkość wybierania w impulsach na sekundę.
PPRD: - okres impulsu.
Ekran ten ma również dodatkowe przyciski funkcyjne:
LINE-1/2 (F3): wybór linii.
RETURN (F4): powrót do ekranu CALL ANALYSIS.

76 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 3 MENU

Emulator wywołań (CALL EMULATOR)


Menu to pozwala na inicjowanie i odbiór wywołań. Użytkownik może wy-
brać jedną z dziesięciu wstępnie zdefiniowanych standardowych sekwen-
cji lub może wstawić sekwencję zdefiniowaną przez siebie.
Uwagi:
• Aby uruchomić emulator wywołań, należy nacisnąć START w menu
emulacji wywołań zdefiniowanych przez użytkownika (User Call Emu-
lator). Jeśli przejdzie się z tego menu do menu CALL EMULATOR i na-
stępnie naciśnie przycisk START, to emulacja będzie się dobywać
zgodnie ze specyfikacją Q.441, a nie z tą, którą zdefiniowaliśmy.
• Jeśli tworzymy swoją własną sekwencję, to dla parametru PERD (licz-
nik okresów) nie będzie brana domyślna wartość czasowa z zalecenia
Q.441. Aby zdefiniowana sekwencja działała, należy wprowadzić albo
wartość zgodną ze specyfikacją Q.441 albo inną żądaną.

Emulacje standardowe (STANDARD EMULATIONS)


Na tym ekranie można wybierać standardowe emulacje wywołań.

Rys. 61. Lista emulacji wywołań

Poniżej opisano przyciski funkcyjne:


USER (F1): przejście do menu USER CALL EMULATOR (emulator wywołań
definiowanych przez użytkownika), gdzie można tworzyć, modyfikować
lub używać sekwencji zdefiniowanych przez siebie. Patrz następna sekcja.
VIEW (F2): przejście do ekranu, który pokazuje przykładową sekwencję
wybranej emulacji. Poniżej pokazano przykładowy ekran dla sekwencji
DTMF. Należy zwrócić uwagę, że dla odbioru wywołań tonowych dwuczę-
stotliwościowych (DTMF RECEIVE) będzie emulowana tylko strona odbior-
cza (RECEIVE).

SunSet E20 wersja 1.01 77


ROZDZIAŁ 3 MENU

Rys. 62. Sekwencja odbioru wywołań DTMF

START (F4): początek wybranej emulacji wywołań.

Wywołanie
• W celu uruchomienia emulacji wywołania należy przejść do menu, w
którym można ustawić i wykonać rozmowę. Poniżej pokazano przy-
kładowy ekran.

Rys. 63. Ekran emulacji wywołania - wywołanie MFCR2

a) CHANNEL: wybierany numer szczeliny czasowej, w której będzie


umieszczone wywołanie. Można wybierać od 1-15, 17-31; aby wybrać
kanał należy użyć przycisków NEXT (F1) i PREVIUS (F2).
b) CALL NUMBER: wybierany numer - cyfry wprowadza się za pomocą
przycisków numerycznych po naciśnięciu przycisku SHIFT. Dostępne
są także przyciski A-F odpowiadające cyfrom.
Dla niektórych sekwencji można także skonfigurować następujące pozy-
cje:

78 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 3 MENU

c) CALLING NUMBER: jest to numer, z którego dzwonimy. W celu wpro-


wadzenia cyfr należy użyć przycisku SHIFT i przycisków numerycz-
nych.
d) CALLING PARTY'S CATEGORY: kategoria strony dzwoniącej zdefinio-
wana zgodnie pierwszeństwem przekazywania wywołań podanym w
zaleceniu Q.441 (lub przez użytkownika w menu SIGNAL
MEANINGS), np. abonent z uprawnieniami bez pierwszeństwa II-1,
abonent z pierwszeństwem II-2, itd. W celu wprowadzenia cyfr należy
użyć przycisku SHIFT i przycisków numerycznych.
e) Kiedy jesteśmy gotowi wykonać wywołanie należy przycisnąć przycisk
CALL (F4). Pojawi się wówczas odpowiedni ekran CALL, np. jak na
rysunku niżej:

Rys. 64. Emulacja wywołania - przykład

Informacje podawane na ekranie:


Time/s: czas, w którym były wysłane cyfry wywołania
Send: wysłana sygnalizacja CAS lub rejestr
Recv: odebrana sygnalizacja CAS lub rejestr
Label: znaczenie wysłanej lub odebranej sygnalizacji, zdefiniowanej w
menu SUPERVISION SETUP lub SIGNAL MEANING.
Przyciski funkcyjne:
STOP/START (F1): zatrzymuje lub kontynuacja wywołania (CALL) lub
odbioru (RECEIVE).
ABSOLUT (F2): wyświetlanie znacznika czasu w trybie bezwzględnym
RELATIVE (F3): wyświetlanie znacznika czasu w trybie względnym
(czas mierzony od wydarzenia inicjującego)
HANG-UP (F4): rozłączenie rozmowy.

Odbiór wywołania
W celu emulacji strony odbierającej wywołanie, należy ustawić parametry
odbioru. Poniżej przedstawiono przykładowy ekran:

SunSet E20 wersja 1.01 79


ROZDZIAŁ 3 MENU

Rys. 65. Ustawienie odbioru wywołania

Konfiguracji powinno dokonać się w następujący sposób:


a) CHANNEL: numer odbiorczej szczeliny czasowej ustawiany za pomocą
przycisków NEXT (F1) i PREVIUS (F2). Można wybrać szczeliny o nu-
merach z 1-15 i 17-31.
b) No. DIGITS EXPECTED: liczba cyfr oczekiwanych i przechwytywanych
przez tester, ustawiana po naciśnięciu przycisku SHIFT za pomocą
przycisków numerycznych. Można ustawić od 1 do 20 cyfr.
c) RECEIVE (F4): polecenie odbioru wywołania, po którym pojawiają się
ekrany RECEIVE, gdzie można zobaczyć przebieg wywołania. Poniżej
pokazano przykładowy ekran:

Rys. 66. Przykład ekranu odbiorczego

Podawane na ekranie odbiorczym (RECEIVE) informacje i przyciski


funkcyjne są takie same jak dla ekranu wywołań (CALL).

80 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 3 MENU

Emulacja własna (USER CALL EMULATOR)


Do ekranu tego przechodzimy aby utworzyć, zmodyfikować lub urucho-
mić zdefiniowaną przez siebie sekwencję emulacji. Należy postępować
zgodnie z poniższą procedurą:
1) W menu CALL EMULATION nacisnąć USER (F1). Przechodzimy do
ekranu USER CALL EMULATION, na którym znajduje się lista wszyst-
kich zachowanych emulacji własnych i na którym można rozpocząć
tworzenie nowej sekwencji.

Rys. 67. Ekran emulacji wywołania definiowanego przez użytkownika

Na tym ekranie dostępne są następujące przyciski funkcyjne:


EDIT (F1): modyfikacja sekwencji.
DELETE (F2): usunięcie podświetlonej sekwencji.
RENAME (F3): zmiana nazwy sekwencji. Po naciśnięciu tego przycisku
pojawia się ekran tzw. profilów wywołań (CALL EMULATOR
PROFILES), na którym w wierszu LABEL można zmienić nazwę pod-
świetlonej sekwencji, zgodnie z opisem podanym w dalszej części tej
sekcji.
START (F4): uruchomienie podświetlonej sekwencji emulatora.
2) Nacisnąć EDIT (F1). Wejdziemy do ekranu edycyjnego, na którym
kursor podświetli pierwszy wiersz (pozycja LABEL - nazwa).
3) Należy nacisnąć ponownie EDIT (F1) aby przejść do ekranu profilów
wywołań (CALL EMULATOR PROFILES), na którym można nadać na-
zwę swojej sekwencji wywołania.

SunSet E20 wersja 1.01 81


ROZDZIAŁ 3 MENU

Rys. 68. Profile emulatora wywołań

Aby nazwać swoje sekwencje należy postępować zgodnie z poniższą


procedurą:
a) Nacisnąć TOGGLE (F3) aby wejść do tabeli znaków.
b) Używać przycisków ze strzałkami aby przesuwać migający kursor
na żądaną literę.
c) Nacisnąć SELECT (F4) aby wybrać podświetlaną literę.
d) Kontynuować czynności b) i c) do momentu wprowadzenia żądanej
nazwy. Po zakończeniu nacisnąć TOGGLE (F3) aby wyjść z tabeli
znaków.
e) Jeśli zrobimy błąd podczas wprowadzania liter, to należy pod-
świetlić literę przy pomocy kursora, a następnie nacisnąć DELETE
(F2).
• Do wprowadzania oznakowania można także użyć przycisku
SHIFT i znaków alfanumerycznych z klawiatury.
f) Kiedy nadawanie nazwy jest zakończone, należy nacisnąć przycisk
ENTER aby powrócić do ekranu EDIT EMULATOR - patrz rys. 69.

82 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 3 MENU

Rys. 69. Ekran edycyjny emulatora wywołań

Aby przesunąć kursor na żądaną pozycję należy używać przycisków ze


strzałkami.
4) Przesunąć kursor na CHANNEL (kanał).
a) Naciskać NEXT (F1) i PREVIUS (F2) aby wybrać szczelinę czasową,
która ma być używana podczas emulacji (zarówno Rx i Tx), z za-
kresu 1-15 i 17-31.
5) Strona nadawcza (SEND)
Strona nadawcza odnosi się do sygnałów sygnalizacji w linii lub reje-
strze, które będą wysyłane przez tester SunSet E20 do którejkolwiek
linii wybranej jako Tx/INSERT w menu TEST CONFIGURATION.
Dla strony nadawczej można zdefiniować 3 następujące pozycje:
a) TYPE (rodzaj)
Opcje: NONE (F1), CAS (F2), DTMF (F3), MF-F (more, F1), MF-B (more,
F2), DP (more, F3).
Określa rodzaj używanej sygnalizacji.
Należy nacisnąć odpowiedni przycisk funkcyjny aby ustawić żądany
rodzaj sygnalizacj:
Bez sygnalizacji - (F1)
Sygnalizacja w kanale (CAS) - (F2)
Dwutonowe wybieranie wieloczęstotliwościowe - (F3)
Wybieranie wieloczęstotliwościowe do przodu - (more, F1)
Wybieranie wieloczęstotliwościowe wstecz - (more, F2)
Wybieranie impulsowe - (more, F3)
b) CODE (kod)
Opcje: dowolny znak alfanumeryczny z klawiatury; dla CAS maksy-
malnie 4 cyfry. Dla pozostałych rodzajów maksymalnie 20 cyfr.
Są to faktyczne bity, które mają być nadawane przez tester E20.
• Należy nacisnąć przycisk SHIFT i wprowadzić żądane bity sygnali-
zacyjne.

SunSet E20 wersja 1.01 83


ROZDZIAŁ 3 MENU

c) PERD (okres)
Opcje: do 9999 ms.
Parametr PERD określa odstęp czasowy, który ma upłynąć przed
przejściem do następnego kroku podczas emulacji wywołania.
6) Strona odbierająca (RECEIVE)
Strona odbiorcza dotyczy sygnałów sygnalizacji w linii lub rejestrze,
które muszą zostać odebrane przez tester SunSet E20 przed przej-
ściem do następnego etapu emulacji.
Dla strony odbiorczej ustawiane są trzy pozycje - pierwsze dwie: TYPE
(rodzaj) i CODE (kod) są zdefiniowane tak samo jak dla strony nadaw-
czej.
a) TOUT (ograniczenie czasowe)
Opcje: NONE (F1) lub wartość do 9999 ms.
TOUT oznacza ograniczenie czasowe (Time Out). Określa ono interwał
czasowy, w ciągu którego tester SunSet będzie oczekiwał odbiór cyfry
numeru lub sygnalizacji CAS, zanim przerwie emulację sekwencji sy-
gnalizacyjnej.
• Aby ustawić wartość tego ograniczenia czasowego, należy naci-
snąć przycisk SHIFT i wprowadzić żądane cyfry do 9999 (ms).
• Nacisnąć albo przycisk ENTER, albo ESCAPE aby wyjść z ekranu
edycyjnego i zachować ustawienia.
7) Aby rozpocząć emulację, należy podświetlić żądaną sekwencję na
ekranie USER CALL EMULATOR.
a) Nacisnąć START (F4). Ekran, który się po tym wyświetli jest poka-
zany na rys. 70.

Rys. 70. Rozpoczęcie emulacji przez użytkownika

Przyciski funkcyjne na tym ekranie są następujące:


STOP/START (F1): zatrzymuje i wznawia sekwencję CALL (wywołanie)
lub RECEIVE (odbiór).
ABSOLUT/RELATIV (F2): pokazuje znaczniki czasowe w trybie bez-
względnym lub względnym (podgląd w wierszu Time/s).

84 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 3 MENU

Należy obserwować wartości czasu dla stron nadawczej i odbiorczej


oraz ich oznaczenia.

Ustawienia nadzorcze (SUPERVISION SETUP)


Na tym ekranie można definiować ręcznie lub skorzystać z definicji wg
standardu ITU Q.422 następujące bity nadzoru: IDLE, SEIZE,
ACKNOWLEDGMENT, CLEAR BACKWARD VF, CLEAR FORWARD VF.

Rys. 71. Ekran ustawień bitów nadzoru

1) NAME (nazwa)
Opcje: Q.422 (F1), USER1 (F2), USER2 (F3), USER3 (F4).
Pozwala na użycie zalecenia ITU Q.422 lub sygnalizacji zdefiniowanej
przez użytkownika.
• Po wyborze Q.422 urządzenie będzie używało definicji sygnału stan-
dardowego zgodnego z ITU Q.422. Można obejrzeć je na ekranie.
a) Należy nacisnąć ENTER aby wywołać ustawienia.
• Wybór którejś opcji USER pozwala ręcznie wprowadzić bity nadzoru.
a) Do każdego wprowadzenia należy użyć przycisku SHIFT i przyci-
sków numerycznych.
b) Pomiędzy pozycjami linii należy poruszać się za pomocą kursora.
c) Kiedy zakończymy wprowadzanie należy nacisnąć ENTER. Usta-
wienia zostaną zachowane oraz uaktywnione.
Definicje oznaczeń związanych z nadzorem:
DIR: kierunek, Forward (w przód) lub Backward (wstecz)
ABCD (F): bity sygnalizacyjne ABCD dla kierunku w przód
ABCD (B): bity sygnalizacyjne ABCD dla kierunku wstecz
IDLE F/B: bity stanu jałowego dla kierunku w przód lub wstecz:
W stanie jałowym linia wychodząca (forward) wysyła af=1, bf=0. Linia
przychodząca (backward) odpowiada bitami af=1, af=0, jeśli także
znajduje się w stanie jałowym.

SunSet E20 wersja 1.01 85


ROZDZIAŁ 3 MENU

Te cztery bity nadzoru będą umieszczone w bitach CAS szczeliny cza-


sowej transmitowanej po wybraniu przycisku funkcyjnego IDLE.
Wszystkie pozostałe kanały nadawcze będą przenosiły przez tester bez
zmian bity ABCD, gdy jako Tx SOURCE wybrane jest THRU.
Jeśli jako Tx SOURCE wybrane jest SOURCE, to kanały jałowe będą
miały wyspecyfikowane bity CAS w menu SYSTEM PARAMETERS /
MEAS CONFIGURATION strona 2 / IDLE CHNL A/B/C/D.
SEIZE F: sygnał zajęcia kanału w przód, przesyłany na początku wywoła-
nia w celu zainicjowania pracy obwodu.
SEIZE ACK B: potwierdzenie wsteczne sygnału zajęcia kanału.
ANSWER B: stan odpowiedzi, który musi zostać ustalony w poprzedzają-
cym łączu natychmiast po jego rozpoznaniu.
CLEAR BACK B: stan jałowy w wywoływanej linii abonenckiej nakazujący
centrali wywołującej zwolnienie wywołania.
CLEAR FORW1 F / FORW2 F: warunek zwolnienia kanału wysyłany z linii
abonenta wywołującego lub z centrali wywołującej. Należy zwrócić uwagę,
że istnieją tu dwa warunki.
BLOCK: sygnał blokujący obwód jałowy dla wywołań wychodzących i
przychodzących.

Parametry wybierania (DIAL PARAMETERS)


Ustawianie parametrów używanych przy wywołaniu VF. Patrz rys. 72.

Rys. 72. Parametry wybierania

1) DIAL PERIOD (okres wybierania)


Opcje: 1 ms do 999 ms
Specyfikuje czas trwania sygnału wybierania w milisekundach przy wy-
bieraniu DTMF i MF. Fabryczna wartość domyślna wynosi 100 ms.
• Należy nacisnąć przycisk SHIFT i wprowadzić żądaną wartość z kla-
wiatury. Można wybierać dowolną wartość między 30 ms a 999 ms.

86 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 3 MENU

2) SILENT PERIOD (okres ciszy)


Opcje: 1 ms do 999 ms
Specyfikuje okres ciszy w milisekundach używany przy wybieraniu
MFR2, DTMF i MF. Fabryczna wartość domyślna wynosi 100 ms.
• Należy nacisnąć przycisk SHIFT i wprowadzić żądaną wartość z kla-
wiatury.
3) INTERDIGIT PRD (interwał międzycyfrowy)
Opcje: 1 ms do 999 ms
Pozwala na wybór interwału międzycyfrowego przy wybieraniu impulso-
wym.
• Należy przycisnąć przycisk SHIFT i wprowadzić żądaną wartość z
klawiatury.
4) TONE LEVEL dbm (poziom tonu)
Opcje: –20 dBm do –5 dbm
Pozwala na wybór poziomu sygnału tonowego.
Aby wprowadzić wartość ujemną należy nacisnąć przycisk MINUS (F1) a
następnie aby wprowadzać cyfry trzeba używać przycisku SHIFT i przyci-
sków numerycznych.
5) B-BIT
Opcje: YES (F1), NO (F2)
• Wybieranie B-bitowe odnosi się do wybierania impulsowego. Kiedy
wybieranie B-bitowe jest uaktywnione i rozpoczynamy rozmowę, to bit
nadzoru B w wybranej szczelinie czasowej zmienia się między 0 i 1.
• Przed rozpoczęciem rozmowy, należy zmienić nadawane bity CAS tak,
aby sygnalizowały stan zajęcia kanału. Kiedy wybieramy numer, te-
ster zmienia bit B zgodnie z rytmem określonym przez parametry cza-
sowe %BREAK i INTERDIGIT. Kiedy wybieranie jest zakończone, te-
ster pozostaje w stanie zajętości.
6) PULSE (10pps)
Stałe ustawienie wybierania impulsowego na 10 impulsów/s. Pozycja ta
służy tylko do podglądu i nie może być zmieniana.
7) %BREAK
Opcje: 40% (F1), 50% (F2), 60% (F3)
Pozwala na wybór żądanej wartości procentowej przerwy między impul-
sami. Jest ona liczona jako stosunek procentowy czasu trwania przerwy
do całkowitego odstępu między impulsami przy wybieraniu impulsowym.

Znaczenia sygnałów
• Dla grup I, II A i B należy używać standardowych definicji sygnału
zgodnych z zaleceniem ITU-T Q.441 (F1).
• Własne sygnały można zdefiniować dla jednej z trzech pozycji USER
(F2, F3, F4).
• Po wyborze pozycji USER wyświetla się ekran ustawień, na którym
można dokonać wyboru za pomocą przycisków funkcyjnych, jak to
pokazano na rys. 73.

SunSet E20 wersja 1.01 87


ROZDZIAŁ 3 MENU

• Aby zdefiniować sygnał, należy użyć przycisku funkcyjnego odpowia-


dającego wyborowi cyfry (Digit 1 - Digit 9) i kodu (Code 10 - Code 15).
• Skróty przycisków funkcyjnych odpowiadają odpowiednim oznakowa-
niom w definicji; na przykład, na ekranie GROUP II FORWARD, pozy-
cja SubWOP oznacza Group II Forward Subscriber without Priority
(abonent dzwoniący bez pierwszeństwa).
Ponieważ w różnych krajach mogą występować niewielkie różnice w defi-
nicjach lub w używanych cyfrach, to właściwość ta pozwala na określenie
swoich własnych kodów.

Rys. 73. Ekran oznaczeń sygnałowych

Następujące rysunki pokazują ekrany i odpowiadające im tabele ozna-


czeń.

Rys. 74. Sygnały w przód Grupy I

88 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 3 MENU

Oznaczenia "Do przodu" Grupy I


I-1 Digit 1 I-9 Digit 9
I-2 Digit 2 I-10 Digit 0
I-3 Digit 3 I-11 Code 11
I-4 Digit 4 I-12 Code 12
I-5 Digit 5 I-13 Code 13
I-6 Digit 6 I-14 Code 14
I-7 Digit 7 I-15 Code 15
I-8 Digit 8
Rys. 75. Oznaczenia Grupy I

Rys. 76. Sygnały w przód Grupy II

Oznaczenia "Do przodu" Grupy II


Sygnał Oznaczenie Znaczenie
II-1 Sub w/o p Abonent bez pierwszeństwa
II-2 Sub w pri Abonent z pierwszeństwem
II-3 Main Eqp Sprzęt serwisowy
II-4 Spare Zapasowy
II-5 Operator Operator
II-6 Data Tran Transmisja danych
II-7 Sub woft Abonent (lub operator) bez możliwości przekazywania
II-8 Data Tran Transmisja danych
II-9 Sub w pri Abonent z pierwszeństwem
II-10 Opr wftf Operator z możliwością przekazywania
II-11 Spare Zapasowy
II-12 Spare Zapasowy
II-13 Spare Zapasowy
II-14 Spare Zapasowy
II-15 Spare Zapasowy

Rys. 77. Oznaczenia w przód Grupy II

SunSet E20 wersja 1.01 89


ROZDZIAŁ 3 MENU

Rys. 78. Ekran sygnałów wstecz Grupy A

Oznaczenia "Wstecz" Grupy A


Sygnał Oznaczenie Znaczenie
A-1 Send (n+1) Wysyłanie następnej cyfry (n+1)
A-2 Send (n-1) Wysyłanie poprzedniej cyfry (n-1)
A-3 Adr cmp B Całkowity adres, zmiana na odbiór sygnałów grupy B
A-4 Cong Nat Natłok w sieci krajowej
A-5 Send CPG Wysyłanie kategorii strony dzwoniącej
A-6 Adr cmp S Pełny adres, opłata, ustalenie warunków rozmowy
A-7 Send (n-2) Wysyłanie cyfry (n-2)
A-8 Send (n-3) Wysyłanie cyfry (n-3)
A-9 Spare Zapasowy
A-10 Spare Zapasowy
A-11 Send CCI Wysyłanie wskaźnika kodu kraju
A-12 Send LoDD Wysyłanie cyfry ograniczającej lub rodzaju języka
A-13 Send NOC Wysyłanie informacji o rodzaju obwodu
A-14 Req. info Żądanie informacji o użyciu tłumiku echa
A-15 Cong Int Natłok w centrali międzynarodowej lub na jej wyjściu

Rys. 79. Oznaczenia sygnałów wstecz Grupy A

90 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 3 MENU

Rys. 80. Ekran sygnałów wstecz Grupy B

Oznaczenia "Wstecz" Grupy B


Sygnał Oznaczenie Znaczenie
B-1 Spare Zapasowy
B-2 Send SIT Wysyłanie specjalnego tonu informacyjnego
B-3 Sub LB Linia abonenta jest zajęta
B-4 Congestion Natłok
B-5 Unalloc# Numer nieprzydzielony
B-6 Sub LFC Linia abonenta jest wolna, opłata
B-7 Sub LFNC Linia abonenta jest wolna, brak opłaty
B-8 Sub LOOO Uszkodzona linia abonenta
B-9 Spare Zapasowy
B-10 Spare Zapasowy
B-11 Spare Zapasowy
B-12 Spare Zapasowy
B-13 Spare Zapasowy
B-14 Spare Zapasowy
B-15 Spare Zapasowy

Rys. 81. Oznaczenia wstecz Grupy B

SunSet E20 wersja 1.01 91


ROZDZIAŁ 3 MENU

Inne właściwości (OTHER FEATURES)


Menu OTHER FEATURES jest przedstawione na rys. 82.

Rys. 82. Menu OTHER FEATURES (inne właściwości)

Wprowadzanie błędu (ERROR INJECTION)


Na rys. 83 przedstawiono ekran ERROR INJECTION.

Rys. 83. Ekran ERROR INJECTION (wprowadzanie błędu)

• Aby rozpocząć wprowadzanie błędu należy nacisnąć przycisk ERR


INJ. Tester wprowadzi błędy tak, jak to zostanie ustawione w podanej
niżej procedurze.
• Jeśli wprowadzanie błędu jest ustawione w trybie RATE, to na ekranie
pojawi się wskaźnik ERR INJ.

92 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 3 MENU

1) TYPE (rodzaj)
Opcje: CODE (F1), BIT (F2), BIT+COD (F3), CRC-4 (more, F2), FRAME
(more, F2), E-BIT (more, F3).
Pozycja ta specyfikuje rodzaje błędów, które mają być wprowadzane.
2) MODE (tryb)
Opcje: BURST (F1), RATE (F2).
Pozycja ta określa tryb wprowadzenia błędu.
• Tryb RATE (stopa błędów) odnosi się tylko do błędów kodu (CODE)
i bitowych (BIT). Błędy są wprowadzane ze stałą prędkością.
• Inne rodzaje błędów mogą być wprowadzone pojedynczo w trybie
BURST. Tester wprowadza określoną liczbę błędów.
3) COUNT (zliczenie)
Opcje: 1 do 9999
Dla trybu BURST należy ustawić liczbę błędów (COUNT), które mają być
wprowadzone.
• Należy nacisnąć przycisk SHIFT, a następnie wpisać dowolną liczbę z
przedziału od 1 do 9999. Błędy będą wprowadzane co około 1 sekun-
dę lub mniej i spowodują powstanie od 1 do 3 sekund z błędami.
• Odnosi się to tylko dla błędów typu BIT i CODE. Wszystkie inne błędy
będą wprowadzane pojedynczo.
4) RATE (stopa)
Opcje: od 1e-9 do 2e-3
Dla trybu RATE należy wybrać mnożnik i wykładnik potęgi.
• Błędy będą wprowadzane ze stałą prędkością taką, jak to podano przy
wprowadzaniu, a na górze ekranu pojawi się wskaźnik ERR INJ.

Programowanie pakietu 10 błędów


Poniżej podano przykładową procedurę programowania pakietu 10 błę-
dów kodu (CODE):
1) W menu głównym (MAIN MENU) używając przycisków kursorowych
przesunąć kursor na pozycję OTHER FEATURES (inne właściwości) i
nacisnąć ENTER.
2) W menu OTHER FEATURES ustawić kursor na pozycję ERROR
INJECTION (wprowadzanie błędu) i nacisnąć ENTER.
3) Jako rodzaj błędu (TYPE) wybrać CODE (F1).
4) Kursor przesuwa się automatycznie w dół na pozycję MODE (tryb).
Należy nacisnąć przycisk BURST (F1).
5) Kursor przesuwa się automatycznie w dół na pozycję COUNT (zlicze-
nie). Należy jednokrotnie nacisnąć przycisk SHIFT aby pojawił się
wskaźnik SHIFT.
6) Nacisnąć przycisk 1 a po nim 0. Jako wartość parametru COUNT po-
winno się wyświetlić 10.
a) Zwolnić przycisk SHIFT.

SunSet E20 wersja 1.01 93


ROZDZIAŁ 3 MENU

7) Nacisnąć ENTER; tester został zaprogramowany do wprowadzenia 10


błędów CODE za każdym razem po naciśnięciu przycisku ERR INJ.
-6
Programowanie stopy błędu 10
Aby zaprogramować stopę błędów równą 10-6 należy użyć poniższej pro-
cedury:
1) W menu głównym (MAIN MENU) używając przycisków kursorowych
przesunąć kursor na pozycję OTHER FEATURES (inne właściwości) i
nacisnąć ENTER.
2) W menu OTHER FEATURES ustawić kursor na pozycję ERROR
INJECTION (wprowadzanie błędu) i nacisnąć ENTER.
3) Jako rodzaj błędu wybrać BIT (F2).
4) Kursor przesunie się automatycznie w dół na pozycję MODE (tryb).
Należy wybrać RATE (F2).
5) Kursor przesunie się automatycznie w dół na pozycję RATE. Należy
jednokrotnie nacisnąć przycisk SHIFT, tak aby pojawił się wskaźnik
SHIFT w górnym, lewym rogu ekranu. Klawiatura umożliwia teraz
wprowadzenie wartości liczbowej.
6) Jednokrotnie nacisnąć przycisk 1. Na pozycji mnożnika pojawia się
wartość 1, a kursor przesuwa się na pozycję wykładnika potęgi.
7) Jednokrotnie nacisnąć przycisk 6. Została wprowadzona wartość 6.
a) Aby usunąć wskaźnik SHIFT należy nacisnąć przycisk SHIFT.
8) Nacisnąć ENTER. Tester został zaprogramowany do wprowadzenia
błędów bitowych ze stopą 1×10-6 za każdym razem po naciśnięciu
przycisku ERR INJ.
• Aby wyłączyć wprowadzanie stopy błędu, należy jednokrotnie naci-
snąć przycisk ERR INJ i upewnić się, czy wskaźnik ERR INJ na ekra-
nie wyłączył się.

Generacja alarmu (ALARM GENERATION)


Na rys. 84 pokazano ekran generowania alarmu (ALARM GENERATION).

Rys. 84. Generowanie alarmu

94 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 3 MENU

• Pozwala on na obejrzenie alarmów, które mogą być transmitowane.


• Alarmy te pozwalają na testowanie odpowiedzi różnych urządzeń sie-
ciowych i dlatego należy upewnić się, czy sieć działa tak, jak to zakła-
dano.
Aby wywołać alarm, należy:
1) Przesunąć kursor w dół na żądany alarm i uaktywnić go wybierając
ENABLE (F1).
• Niektóre alarmy mają konflikt z transmisją innych alarmów lub
wybranym ramkowaniem.
• Tester będzie transmitował udostępniony alarm po wyjściu z me-
nu ALARM GENERATION.
• Transmitowanie alarmów może być kontynuowane podczas doko-
nywania pomiarów, podglądu danych, wywoływania, słuchania
itd.
• Jeśli nie zamierzamy transmitować alarmów podczas wychodzenia
z tego ekranu, należy upewnić się najpierw, czy wszystkie alarmy
są zablokowane (DISABLE F2).
Uwagi dotyczące alarmów:
FAS DISTANT
• Tester nadaje "1" w każdym co trzecim bicie każdej szczeliny czasowej
o numerze 0 w ramce, która nie zawiera FAS.
• Alarm FAS DISTANT może być transmitowany tylko z ramkowaniem
PCM-30 lub PCM-31.
MFAS DISTANT
Tester wysyła "1" w szóstym bicie każdej szczeliny czasowej o numerze 16
w zerowej ramce.
Alarm MFAS DISTANT może być nadawany tylko z ramkowaniem PCM.
AIS
• Tester transmituje same jedynki w sygnale bez ramkowania.
• Alarm ten zmienia ustawienie ramkowanie wybrane w menu TEST
CONFIGURATION.
Na przykład, nawet jeśli wybraliśmy ramkowanie MFAS, to generowa-
nie alarmu AIS spowoduje, że zestaw będzie transmitował sygnał bez
ramkowania (same jedynki).
T/S-16 AIS
• Tester nadaje same jedynki w szczelinie czasowej o numerze 16 dla
wszystkich ramek.
• T/S-16 AIS zmienia ustawienia MFAS.
• Tester lub urządzenie sieciowe, które odbiera ten alarm utraci ram-
kowanie PCM-30.
• Alarm ten powinien być transmitowany tylko wówczas, gdy tester jest
skonfigurowany dla ramkowania FAS.

SunSet E20 wersja 1.01 95


ROZDZIAŁ 3 MENU

• Bity sygnalizacyjne dla sygnału głosowego nie mogą być transmito-


wane podczas wysyłania alarmu T/S-16 AIS ponieważ zmienia on in-
formację sygnalizacyjną CAS.

Podgląd wyników (VIEW TEST RECORD)


W tym menu można zachować łącznie do 10 wyników pomiarowych z hi-
stogramami, niezależnie od wyników bieżących. Na rys. 85 przedstawiono
ekran VIEW TEST RECORD. Rekordy z wynikami są zachowywane po
ustawieniu parametrów PRINT RESULT (druk wyniku) na LAST (ostatni) i
PRINT EVENT (zdarzenie druku) na ENABLE (aktywny) dokonanym na
ekranie SYSTEM PARAMETERS / MEAS CONFIGURATION.

Rys. 85. Podgląd rekordu wyników

• Wartości wyników pomiarów są pokazane zgodnie ze kolejnością zda-


rzeń i wyników, które znajdują się w pamięci. Zdarzeniami są błędy i
alarmy.
1) Aby wybrać wyniki pomiarów, które chcemy obejrzeć, należy przesu-
wać się po ekranie używając przycisków kursorowych.
2) Nacisnąć VIEW (F1).
Oprócz przycisków sterujących PAGE-UP (F2) i PAGE-DN (F3) dostępne są
następujące przyciski funkcyjne:
EDIT (F1): Pozwala na nadanie nazwy podświetlonemu rekordowi. Wy-
świetla się wówczas następujący ekran edycyjny:

96 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 3 MENU

Rys. 86. Nadawanie nazwy rekordowi zapisanemu w pamięci

• Nacisnąć TOGGLE (F3). Pierwsza litera w tabeli znaków zacznie migać.


• Należy ustawiać kursor na każdej literze, którą chcemy wybrać i naci-
skać ENTER do momentu uzyskania żądanej etykiety.
• Jeśli chcemy skorygować błąd, to należy używać przycisków INSERT
(F1) i DELETE (F2).
• Aby powrócić do ekranu VIEW TEST RECORD należy nacisnąć ENTER.
VIEW (more, F1): podgląd podświetlonego rekordu. Wchodzimy wówczas
do ekranu wyników. Nacisnąć ESC lub ENTER aby powrócić do ekranu
VIEW TEST RECORD.
LOCK/UNLOCK (more, F2)/(more, F3): blokowanie rekordu zabezpieczają-
ce przed jego usunięciem (LOCK) lub odblokowanie rekordu (UNLOCK).
DELETE (more, F1): usunięcie podświetlonego rekordu. Jeśli zapamięta-
nych jest już 10 rekordów, to przed zapamiętaniem nowego trzeba usu-
nąć jeden rekord zapamiętany.
CLR-ALL (more, F2): usunięcie wszystkich rekordów z wyjątkiem rekordu
bieżącego (CURrent record).
PRINT (more, F3): przesłanie rekordu na drukarkę przez port szeregowy.

Nadawanie słów ramkowanych (Send Frame Words)


• Pozwala na ręczne ustawienie stanu bitów E i Sa oraz ABCD MFAS.
• Transmituje wybrany sygnał ramkowania FAS i MFAS (patrz rys. 87).

SunSet E20 wersja 1.01 97


ROZDZIAŁ 3 MENU

Rys. 87. Wysyłanie słów ramkowania

• Niektóre pozycje na tym ekranie nie mogą być zmieniane.


• Kursor zatrzyma się i podświetli tylko te pozycje, które można zmie-
nić.
• Należy używać przycisków kursorowych i aby ustawić kursor na
żądanej pozycji. Nie można wejść na lewą stronę ekranu poprzez cią-
głe naciskanie przycisku ze strzałką w prawo.
• DEFAULT przywróci domyślne ustawienia fabryczne bitów.
• AUTO jest wyświetlane tylko dla wyboru bitów E.
• Bity zostaną wysłane od razu po naciśnięciu przycisku funkcyjnego.
Na tym ekranie pokazane są następujące informacje:
1) CRC
Opcje: tylko do podglądu
Pozwala na podgląd stanu opcji CRC wybranej w TEST CONFIGURATION.
• Opcja CRC może być zmieniona na ekranie TEST CONFIGURATION z
poziomu menu głównego (MAIN MENU).
2) E-BIT
Opcje: SET=0 (F1), SET=1 (F2), DEFAULT (F3), AUTO (F4).
• Wartość bitu E może być zmieniona tylko wówczas, gdy uaktywnione
jest CRC w TEST CONFIGURATION i w konsekwencji, w pozycji CRC
na tym ekranie jest wyświetlane YES.
• Jeśli parametr E-BIT jest ustawiony na AUTO, to bity E będą trans-
mitowane na stronę TX/INSERT za każdym razem gdy zostanie ode-
brany sygnał błędu CRC w linii odbiorczej.
• Patrz rys. 88, automatyczna transmisja E-BIT.

98 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 3 MENU

Rys. 88. Automatyczne nadawanie bitów E

Aby transmitować E-bity ręcznie należy:


1) Użyć przycisków SET=0 (F1) i SET=1 (F2) dla wartości obydwu bitów.
• 11 - brak błędów bitów E (ustawienie domyślne).
• 10 lub 01 - 500 błędów bitów E na sekundę.
• 00 - 1000 błędów bitów E na sekundę.
3) FAS WORD (słowo FAS)
W kolumnie FAS WORD wyświetlane są słowa FAS (0011011). Wiersz ten
służy tylko do podglądu.
4) MFAS WORD (słowo MFAS)
Ustawia dowolną kombinację bitów od 5 do 8.
• Bity 5 - 8 mają wzorzec xyxx, gdzie x oznacza bity zapasowe; jeśli nie
są one używane to powinny być ustawione na 1.
• Y jest używane dla oddalonego alarmu MFAS; jeśli została utracona
synchronizacja MFAS, to powinien być on ustawiony na 1.
5) MFAS ABCD
Są to domyślne bity ABCD używane dla kanałów od 1 do 30 w ramkowa-
niu PCM-30.
• Są one transmitowane w szczelinie czasowej nr 16 ramek od 2 do 16
MFAS.
• Należy unikać używania 0000, które spowoduje nieprawidłowe ram-
kowanie dla PCM-30.
6) NFAS WORDS (słowa NFAS)
Są to słowa sygnału nieramkowanego (Non Frame Alignment Signal). W
celu zapoznania się z tą definicją należy przeczytać rozdział 6 niniejszej
instrukcji opisujący przegląd technologii.
Aby nadać wybrane wartości bitów należy nacisnąć w dowolnym czasie
ENTER.

SunSet E20 wersja 1.01 99


ROZDZIAŁ 3 MENU

Parametry systemowe (SYSTEM PARAMETERS)

Rys. 89. Parametry systemowe w menu głównym

Na rys. 90 przedstawiono menu SYSTEM PARAMETERS (parametry sys-


temowe).

Rys. 90. Menu SYSTEM PARAMETERS

Wersja / Opcja
Ekran VERSION/OPTION pokazuje wersję oprogramowania SunWare, je-
go rodzaj, numer fabryczny i opcje zainstalowane w testerze SunSet E20.
Należy posługiwać się przyciskami PAGE-UP (F1) i PAGE-DN (F2) do prze-
glądania kolejnych stron tego menu. Na rys. 91 pokazano przykładowy
ekran VERSION/OPTION.

100 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 3 MENU

Rys. 91. Ekran VERSION/OPTION

Profile systemowe
W konfiguracji testów można zapisać do 10 tzw. profili systemowych
(SYSTEM PROFILES). Profile te mogą zaoszczędzić czas w konfigurowaniu
przyrządu dla potrzeb własnych aplikacji. Można zachować aktualną
konfigurację jako profil systemowy. Użytkownik sam nadaje nazwę profi-
lom, a więc mogą być one z łatwością wywołane w późniejszym czasie. Po-
zycje, które są zachowane w profilu to: TEST CONFIGURATION (konfigu-
racja testu), TEST PATTERN (bitowy wzorzec testowy), ERROR INJECTION
(wprowadzanie błędu), ALARM GENERATION (generacja alarmu),
GENERAL CONFIG (konfiguracja ogólna - z wyjątkiem daty i czasu),
SUPERVISION SETUP (ustawienie nadzoru), SIGNAL MEANINGS (zna-
czenia sygnałów), DIAL PARAMETERS (parametry wybierania numeru) i
MEAS CONFIGURATION (konfiguracja pomiarowa) - patrz rys. 92.
UWAGA: Menu SYSTEM PROFILES nie działa tak jak menu definiowania
własnego wzorca testowego. Nie wolno modyfikować istniejące-
go profilu systemowego w menu SYSTEM PROFILES. Jeśli
chcemy zmodyfikować istniejący profil, należy użyć procedury
opisanej w tej sekcji.

SunSet E20 wersja 1.01 101


ROZDZIAŁ 3 MENU

Rys. 92. Lista profili systemowych (SYSTEM PROFILES)

Wprowadzanie nowego profilu systemowego


1) Z poziomu menu głównego (MAIN MENU) należy wybrać kolejno po-
zycje SYSTEM PARAMETERS, SYSTEM PROFILES.
2) Ustawić kursor w pustym wierszu.
3) Nacisnąć przycisk STORE <Zachowaj> (F1). Wchodzimy wówczas do
ekranu LABEL (oznakowanie).
4) Na ekranie LABEL należy wpisać nazwę, którą chcemy nadać profilo-
wi. Należy zrobić to przez naciśnięcie TOGGLE (F3), aby dostać się ta-
beli znaków z migocącą literą A.
a) Umieścić kursor na żądanej literze i nacisnąć SELECT (F4).
b) Powtarzać tę czynność do momentu uzyskania żądanej nazwy.
c) Nacisnąć TOGGLE (F3) aby wyjść z tabeli znaków.

Rys. 93. Oznakowanie profilu systemowego

5) Nacisnąć ENTER aby zachować profil systemowy.

102 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 3 MENU

Wywoływanie zachowanego profilu systemowego


1) Wejść do menu SYSTEM PROFILES.
2) Ustawić kursor na żądanym profilu systemowym.
3) Nacisnąć przycisk LOAD <Wprowadź> (F3).

Aktywowanie profilu domyślnego


Jest to metoda przywrócenia domyślnych wartości wszystkim ustawio-
nym parametrom testera E20.
1) Wejść do menu SYSTEM PROFILES (profile systemowe).
2) Wybrać pozycję DEFAULT (F3) i następnie nacisnąć ENTER. Konfigu-
racja testera zmieni się na domyślne ustawienie fabryczne.

Usuwanie profilu
1) Wejść do menu SYSTEM PROFILE.
2) Ustawić kursor na żądanym profilu.
3) Nacisnąć przycisk DELETE (F1).
• Nacisnąć przycisk CLEAR-ALL (F2) aby usunąć wszystkie zacho-
wane profile systemowe.

Modyfikacja istniejącego profilu


Uwaga: Menu SYSTEM PROFILES nie pracuje tak jak menu tworzenia
własnego wzorca bitowego. Nie można modyfikować istniejącego
profilu systemowego z poziomu menu SYSTEM PROFILES. Jeśli
chcemy zmienić istniejący profil to musimy zmienić ustawienia w
oryginalnych menu i następnie zachować ten profil ponownie.
Należy to postępować zgodnie z poniższą procedurą:
1) Wejść do menu SYSTEM PROFILES.
2) Ustawić kursor na żądanym profilu systemowym.
3) Nacisnąć przycisk LOAD (F3) aby przywołać profil. Prowadzi to także
do wyjścia z ekranu SYSTEM PROFILES.
4) Przesunąć kursor na tę pozycję w menu konfiguracji testów, którą
chcemy zmienić.
5) Wejść do menu SYSTEM PROFILES.
6) Nacisnąć przycisk STORE (F2).
7) Należy nadać profilowi nową nazwę. Jeśli chcemy, można nadać temu
zmodyfikowanemu profilowi taką samą nazwę jak oryginalna, lecz
należy zwrócić uwagę, pod którym numerem pliku jest on zachowany
- tak, aby można odróżnić profil stary od nowego.
8) Nacisnąć ENTER aby powrócić do menu SYSTEM PROFILES.
9) Kursor ustawić na starej wersji profilu, który nie jest już nam po-
trzebny.
10) Nacisnąć przycisk DELETE (F1) usuwając profil.
11) Ustawić kursor na nowym profilu.
12) Nacisnąć przycisk LOAD (F3). Procedura została zakończona.

SunSet E20 wersja 1.01 103


ROZDZIAŁ 3 MENU

Konfiguracja pomiarów
Są dwa ekrany konfiguracji pomiarowej (MEAS CONFIGURATION). Tak,
jak to pokazano na rys. 94, użytkownik może na tym ekranie zmodyfiko-
wać szereg parametrów pomiarów.

Rys. 94. Ekran konfiguracji pomiarowej

Można konfigurować wymienione niżej pozycje. Aby wybrać żądaną opcję


należy nacisnąć odpowiedni przycisk funkcyjny.
1) MEAS DURATION (czas trwania pomiaru)
Opcje: TIMED (F1), CONTINU (F2).
Pozwala na ustawienie czasu trwania pomiaru.
• Pomiar czasowy (TIMED) zatrzyma się po upływie określonego czasu.
Opcja ta jest użyteczna dla wykonywania pomiarów o wyspecyfikowa-
nej długości; np. w przemyśle są powszechnie używane testy 15-
minutowe i 1-godzinne.
• Kiedy trwa pomiar czasowy, licznik RT pokazuje ile czasu pozostało
do końca testu (Remaining Time).
• Jeśli wybierzemy TIMED, to należy nacisnąć przycisk SHIFT aby wy-
świetlić wskaźnik SHIFT. Następnie należy wprowadzić wartość czasu
trwania pomiaru z przedziału od 1 min. do 999 godz.:59 min.
• Test ciągły (CONTINU) będzie trwał aż do momentu naciśnięcia przy-
cisku RESTART (wznów) lub do momentu zmiany jakiegoś parametru
powodującej uruchomienie testu od początku.
2) START
Opcje: PROGRAM (F1), MANUAL (F2)
Pozwala na wybór metody rozpoczęcia pomiarów testowych.
• PROGRAM (F1) pozwala na zaprogramowanie określonego momentu w
przyszłości, w którym rozpoczną się pomiary. Po wybraniu PROGRAM
trzeba wprowadzić żądany czas w następnych dwóch pozycjach menu.
• Pozycja MANUAL (F2) oznacza ręczne uruchomienie pomiarów w żą-
danym czasie.

104 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 3 MENU

3) PROG DATE YMD (programowanie daty)


Ma zastosowanie jeśli poprzednio jako START wybraliśmy PROGRAM.
• Naciskając SHIFT i przyciski numeryczne należy wprowadzić rok,
miesiąc i dzień, w którym mają rozpocząć się pomiary.
4) PROG TIME HMS (programowanie czasu)
Ma zastosowanie jeśli poprzednio jako START wybraliśmy PROGRAM.
• Używając SHIFT i przycisków numerycznych należy wprowadzić go-
dzinę, minutę i sekundę rozpoczęcia pomiarów.
5) CODE CONFIGUR (wybór kodu)
Opcje: HDB3 (F1), AMI (F2)
Pozwala na wybór stosowanego kodu liniowego.
Kod liniowy HDB3 jest używane prawie wszędzie na świecie w transmisji
2,048 Mbit/s. Szczegółowy opis tego kodu podano w rozdziale 6.
6) MEASURE MODE (tryb pomiarowy)
Opcje: BER (F1), LIVE (F2)
• Aby szukać wzorca testowego i dokonywać pomiarów stopy błędu dla
wszystkich innych pomiarów należy wybrać BER.
• Aby zignorować wzorzec testowy i prowadzić na żywo wszystkie po-
miary za wyjątkiem pomiaru stopy błędu należy wybrać LIVE.
• Większość użytkowników pozostawia tester w trybie BER nawet wtedy
kiedy monitorują na żywo działające łącza (LIVE). W takim przypadku
oczekują, że dioda PAT SYN (synchronizacja wzorca) pozostanie czer-
wona, ponieważ brak jest tej synchronizacji. Pomiar stopy błędu także
pokaże 100% UAS.
• Jeśli został wybrany tryb LIVE, to dioda synchronizacji wzorca (PAT
SYNC) jest wyłączona i w wynikach pomiarów (MEASUREMENT
RESULTS) nie jest wyświetlany ekran pomiarowy stopy błędu.
7) BLOCK SIZE (rozmiar bloku)
Opcje: 1000 (F1), 2e15-1 (F2), 2e11-1 (F3), 2e9-1 (more, F1), 2e6-1 (mo-
re, F2)
Określa rozmiar bloku używany w pomiarze stopy błędów blokowych
(Block Error Ratio). Jeden blok ma typowo długość 1000 bitów.
• Stopa błędów blokowych BLER (Block Error Ratio) jest stosunkiem
liczby bloków odebranych zawierających co najmniej jeden błąd bito-
wy do ogólnej liczbę bloków przesłanych.
8) PRINT RESULT (druk wyniku)
Opcje: TIMED (F1), LAST (F2)
• Jeśli chcemy aby wyniki testowe były drukowane okresowo co 1 do 99
minut to należy wybrać wydruk okresowy (TIMED). Należy nacisnąć
przycisk SHIFT następnie wprowadzić liczbę minut (między 1 a 99).
• W trybie LAST <Ostatni> wyniki testu są drukowane tylko po zakoń-
czeniu testu czasowego lub testu ciągłego zakończonego przez użycie
RESTART.

SunSet E20 wersja 1.01 105


ROZDZIAŁ 3 MENU

9) PRINT EVENT (wydruk zdarzenia)


Opcje: ENABLE (F1), DISABLE (F2)
• Należy wybrać ENABLE (aktywny), jeśli chcemy aby drukarka druko-
wała komunikat o błędzie oznaczony czasem i datą w każdej sekun-
dzie, w której pojawił się co najmniej jeden błąd.
• Należy wybrać DISABLE (nieaktywny), jeśli nie chcemy aby drukarka
drukowała wynik każdorazowo po pojawieniu się błędu.
Aby przejść do drugiego ekranu konfiguracji pomiarowej (MEAS
CONFIGURATION) należy przesunąć kursor w dół.
Ten następny ekran konfiguracyjny odnosi się do standardów ITU G.821,
G.826 i M.2100 dla transmisji 2,048 Mbit/s. Patrz rys. 95.

Rys. 95. Konfiguracja pomiarowa, ekran 2

Trzy pierwsze pozycje związane są ze standardami ITU dotyczącymi po-


miarów i charakterystyki łącza 2,048 Mbit/s.
1) G.821
Opcje: ON (F1), OFF (F2)
• Kiedy włączony (ON) jest pomiar G.821, to w wynikach pomiarowych
(MEASUREMENT RESULTS) jest wyświetlany ekran błędów bitowych
linii 1.
• Ekran błędów bitowych (BIT ERROR) zawiera parametry pomiarowe
wyspecyfikowane w zaleceniu ITU G.821.
2) G.826
Opcje: ON (F1), OFF (F2)
• Kiedy pomiar G.826 jest włączony (ON), to w wynikach pomiarowych
(MEASUREMENT RESULTS) jest wyświetlany ekran G.826.
• Ekran ten przedstawia parametry pomiarowe zdefiniowane w G.826.
3) M.2100
Opcje: ON (F1), OFF (F2)
• Kiedy pomiar M.2100 jest włączony (ON), to w wynikach pomiarowych
(MEASUREMENT RESULTS) jest wyświetlany ekran M.2100.

106 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 3 MENU

• Sekcja ta odnosi się do specyfikacji ITU używanej tam, gdzie łącze


2,048 Mbit/s przechodzi przez granice międzynarodowe. Przydziela
ona pewną dozwoloną stopę błędów dla każdego kraju, przez który
przechodzi łącze. Personel techniczny rzadko musi wprowadzać od-
powiednią wartość procentową, która ma obowiązywać w testowanym
łączu.
• Tester SunSet E20 sam przeprowadza obliczenia zgodności z
M.2100/550 i informuje na ekranie MEASUREMENT RESULTS,
M.2100/550, czy łącze spełnia wymagania, czy też nie.
Dwa następne ustawienia odnoszą się do pomiarów M.2100/550.
4) MEAS PERIOD (okres pomiaru)
Opcje: 01-99 minut
Ustawienie to kontroluje częstość wyświetlania nowego wyniku na ekra-
nie MEASUREMENT RESULTS, LINE 1(2)-M.2100/550.
• Aby ustawić okres należy użyć przycisku SHIFT i przycisków nume-
rycznych.
5) HRP MODEL % (hipotetyczny model odniesienia)
Opcje: od 0.1% do 99.9%
• Informacje o tym, jak wybrać modelowy procent (Hypothetical Refe-
rence Performance - HRP %) są podane w zaleceniu M.2100 lub star-
szym M.550.
6) IDLE CHNL CODE (kod kanału jałowego)
Opcje: Dowolny wzorzec 8-bitowy
Pozwala na zaprogramowanie kodu jałowego aby był dowolnym wzorcem
8-bitowym.
• Kod ten jest używane podczas operacji dostępu do kanału głosowego
kiedy jako TxSOURCE jest ustawione TESTPAT (wzorzec testowy).
• Kodo jałowy jest także używane w testowaniu przepływności ułamko-
wych E1 w celu zapełnienia nieużywanych kanałów.
7) IDLE CHNL A/B/C/D (kanał jałowy A/B/C/D)
Opcje: Dowolny wzorzec 4-bitowy
Pozwala na programowanie bitów sygnalizacji kanału jałowego dla kana-
łów od 1 do 30 w trybie ramkowania MFAS.
• Te bity sygnałowe są wyszukiwane w szczelinie czasowej nr 16 ramek
od 1 do 15.
• Fabryczne ustawienie domyślne (1101) jest zgodne z ITU G.704.

Konfiguracja ogólna
• Pozwala na ustawienie poprawnego czasu i daty.
• Ustawia czas trwania podświetlenia.
• Ustawia wiele opcji związanych z drukowaniem.
Rys. 96 przedstawia przykładowy wygląd ekranu konfiguracyjnego.

SunSet E20 wersja 1.01 107


ROZDZIAŁ 3 MENU

Rys. 96. Ekran konfiguracji ogólnej

Dla konfiguracji ogólnej dostępne są następujące pozycje:


1) DATE Y-M-D (data Rok-Miesiąc-Dzień)
• Aktualną datę ustawiamy przez naciśnięcie przycisku SHIFT i odpo-
wiednich przycisków numerycznych dla roku, miesiąca i dnia. Tester
wprowadzi automatycznie myślniki. Liczby spoza dozwolonego zakre-
su będą odrzucane.
• Aby usunąć wskaźnik SHIFT należy ponownie nacisnąć przycisk
SHIFT.
2) TIME H:M:S (czas Godzina:Minuta:Sekunda)
• Czas ustawiamy przez naciśnięcie przycisku SHIFT i odpowiednich
przycisków numerycznych dla godziny, minuty i sekundy. Tester
wprowadzi automatycznie dwukropki. Liczby spoza zakresu zostaną
odrzucone.
• Aby usunąć wskaźnik SHIFT należy ponownie nacisnąć przycisk
SHIFT.
3) BACK LIGHT (podświetlenie ekranu)
Opcje: TIMED (F1), CONTINU (F2)
Licznik ten kontroluje jak długo będzie trwać podświetlenie ekranu po
naciśnięciu przycisku LIGHT.
• Wybranie CONTINU (F2) oznacza, że ekran będzie podświetlany spo-
sób ciągły do momentu ponownego naciśnięcia przycisku LIGHT.
CONTINU jest ustawieniem domyślnym.
• Wybranie TIMED (F1) powoduje, że podświetlenie automatycznie wy-
łączy się samo po upływie określonego czasu.
a) Nacisnąć przycisk SHIFT aby wyświetlić wskaźnik SHIFT.
b) Wpisać dowolną ilość minut (od 1 do 99).
c) Nacisnąć ponownie przycisk SHIFT usuwając wskaźnik SHIFT.

108 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 3 MENU

Pozycje dotyczące drukarki:


Ustawienia domyślne są odpowiednie dla drukarki dostarczonej przez
producenta. Można jednak dostosować te ustawienia jeśli chcemy używać
testera SunSet E20 z inną drukarką. Na rys. 97 pokazano rozkład sy-
gnałów w stykach kabla DIN - EIA 232-C dostarczanego przez firmę Sun-
rise.
Informację tę można wykorzystać do podłączenia testera do innej drukar-
ki, jednak firma Sunrise nie może gwarantować poprawności pracy teste-
ra z taką drukarką.

Rys. 97. Konstrukcja kabla drukarkowego SS115B

4) BAUD RATE (szybkość transmisji)


Opcje: 1200 (F1), 2400 (F2), 9600 (F3)
Prędkość transmisji w bodach określa liczbę najkrótszych elementów sy-
gnału na sekundę w medium transmisyjnym.
• Ustawieniem domyślnym jest 9600; ustawienie to jest zalecane dla
pracy ze zdalnym sterowaniem.
• Ustawienia 1200 i 2400 nie wspomagają zdalnej kontroli.
5) PARITY (parzystość)
Opcje: NONE (F1), EVEN (F2), ODD (F3)
Bit dodatkowy, znany jako bit parzystości, jest dodawany do danych w
celu sprawdzania poprawności transmisji.
• W parzystości ujemnej (F3) łączna liczba jedynek (włączając dodatko-
wy bit parzystości) jest nieparzysta.
• W parzystości dodatniej, łączna liczba jedynek (włączając dodatkowy
bit parzystości) jest parzysta.
• Urządzenie odbiorcze sprawdza bit parzystości i pokazuje błąd, jeśli
łączna liczba jedynek nie jest zgodna z ustawioną parzystością.
• Brak parzystości (F1) jest domyślnym ustawieniem fabrycznym i
oznacza brak sprawdzania parzystości.

SunSet E20 wersja 1.01 109


ROZDZIAŁ 3 MENU

6) STOP BIT (bit stopu)


Opcje: 1-BIT (F1), 2-BIT (F2)
W transmisji asynchronicznej, bit stopu jest ostatnim transmitowanym
znakiem, który pozwala odbiornikowi na przechodzenie w stan jałowy
przed zaakceptowaniem kolejnego znaku.
• Można wybierać między 1-BIT (F1) a 2-BIT (F2).
• Domyślnym ustawieniem fabrycznym jest 1-BIT.
7) BITS/CHAR (liczba bitów używanych do przesłania znaku)
Opcje: 7-BIT (F1), 8-BIT (F2)
Parametr BITS/CHAR określa liczbę bitów na jeden transmitowany znak.
• Aby wybrać 7 bitów na znak należy nacisnąć F1.
• Aby wybrać 8 bitów na znak należy nacisnąć F2.
8) CR/LF INSRT (dołączanie znaków końca wiersza i nowej linii)
Opcje: CR (F1), CR+LF (F2)
• Aby używać znaku "powrót karetki" należy nacisnąć CR (F1).
• Aby używać łącznie znaków "powrót karetki" i "nowy wiersz" należy
wybrać CR+LF (F2).
• Po wyborze CR+LF po każdym wydrukowanym wierszu dodawany jest
wiersz pusty.

Zerowanie pamięci nieulotnej


• ERASE NV RAM (zerowanie pamięci nieulotnej) usuwa wszystkie in-
formacje zachowane i wprowadzone przez użytkownika do testera.
• Operacja ta powinna być zawsze dokonywana gdy wprowadzamy no-
wa kartę z oprogramowaniem SunWare.
• Operację tę można także próbować wykorzystać jako "ostatnią deskę
ratunku" jeśli tester nie pracuje poprawnie. Jeśli zaistnieje taki przy-
padek, powinniśmy zainicjować ERASE NV RAM dopiero po próbie
skorygowania problemu przez wykonanie następujące czynności:
1) Upewnienie się, czy tester jest skonfigurowany poprawnie dla
aplikacji, którą próbujemy uruchomić.
2) Włączenie i wyłączenie zasilania.
3) Wykonanie autotestu i ponowne włączenie i wyłączenie zasilania.
OSTRZEŻENIE
Wykonanie operacji ERASE NV RAM skasuje wszystkie informacje,
które mogą być zapisywane przez użytkownika i wprowadzone do te-
stera. Wszystkie wzorce transmisji, numery telefonów i profile sys-
temowe wprowadzone przez użytkownika zostaną usunięte.
Aby uruchomić funkcję ERASE NV RAM należy postępować zgodnie z po-
niższą procedurą:
1) Z poziomu menu głównego (MAIN MENU) wejść do menu SYSTEM
PARAMETERS / ERASE NV RAM.

110 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 3 MENU

2) Po wyświetleniu się komunikatu ostrzegawczego nacisnąć ponownie


ENTER. Wyświetli się komunikat WORKING (pracuję).
3) Kiedy tester zakończy operację, wyłączyć zasilanie na ok. 5 sekund i
następnie włączyć je ponownie.
4) Skonfigurować ponownie zestaw stosownie do działań, które chcemy
wykonywać. Ekrany TEST CONFIGURATION, TEST PATTERNS i
wszystkie inne obszary pamięci urządzenia będą odtwarzały fabryczne
ustawienia domyślne.

Autotest
• Aby wykonać test urządzenia należy użyć funkcji SELF TEST.
• Po zakończeniu operacji SELF TEST, jeśli pojawi się komunikat o błę-
dzie, należy skontaktować się z serwisem firmy Sunrise Telecom (nu-
merem telefonu: +1 408 363 8000, numer faksu +1 408 363 8313)
lub lokalnym przedstawicielem producenta.
• Aby rozpocząć autotest należy nacisnąć ENTER.
• Kiedy test się zakończy należy nacisnąć wskazany przycisk.

Oczyszczanie bufora drukarki


• Pozwala na uniknięcie niezamierzonego wydruku przez wyczyszczenie
bufora drukarki przed jej użyciem.
• Aby wyczyścić bufor drukarki należy wejść do menu CLR PRINT
BUFFER (czyszczenie bufora drukarkowego). Zobaczymy szybko mru-
gający ekran i bufor drukarkowy zostanie wyzerowany.

Domyślne ustawienia fabryczne


Przywraca wszystkim parametrom domyślne ustawienia fabryczne.
Po naciśnięciu ENTER w pozycji FACTORY DEFAULT (domyślne ustawie-
nia fabryczne) urządzenie automatycznie powróci do domyślnych usta-
wień fabrycznych. Nie ma tu domyślnego ekranu ustawień i proces ten
nie obejmuje drugiego kroku postępowania - dlatego nie należy naciskać
przycisku ENTER na wyborze FACTORY DEFAULT do momentu kiedy na-
prawdę chcemy, aby wszystkie parametry powróciły do wartości domyśl-
nych.

Wybór języka
• Pozwala na wybór języka wyświetlanych menu i komunikatów urzą-
dzenia.

SunSet E20 wersja 1.01 111


ROZDZIAŁ 3 MENU

Rys. 98. Ekran wyboru języka

Aby wybrać język należy nacisnąć odpowiedni przycisk funkcyjny:


• Angielski (F1)
• Francuski (F2)
• Włoski (F3)
• Hiszpański (F4)
Wszystkie pozycje menu i ustawienia będą od tego momentu wyświetlane
w wybranym języku.

112 SunSet E20 wersja 1.01


Rozdział 4 Zastosowania

Podłączanie kabli
OSTRZEŻENIE!
Podłączenie testera "na żywo" do obwodu E1 może spowodować utratę
funkcjonowania usług przez wielu klientów. Przed wykonaniem tej czyn-
ności należy być pewnym, że jest się dobrze przeszkolonym.
OSTRZEŻENIE!
Przy dołączaniu testera do sieci w układzie mostkowym (BRIDGE) należy
przed podłączeniem wstępnie wybrać poziom dla portu L1/2-
Rx=BRIDGE. Tester SunSet nie podłączy rezystorów izolujących w linii do
momentu wyspecyfikowania portu Rx.
Rysunki od 99 do 101 przedstawiają różne sposoby podłączania testera
SunSet do badanego obwodu.

Rys. 99. Podłączanie w trybie TERM

SunSet E20 wersja 1.01 113


ROZDZIAŁ 4 ZASTOSOWANIA

Rys. 100. Podłączanie w trybie MONITOR

Rys. 101. Podłączanie w trybie THRU

114 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 4 ZASTOSOWANIA

Uwagi:
1) Port L1-Rx=TERM
2) Kable należy podłączać w kolejności numeracji przedstawionej na ry-
sunku.

Zastosowania podstawowe

Badania odbiorcze nowych linii


Poniżej opisano procedurę badań odbiorczych nowej linii. Ustawienie
przyrządu jest pokazane na rys. 102.
1) Należy upewnić się, że badane przęsło nie pracuje, ponieważ test od-
biorczy zakłóci pracę obwodu. Należy upewnić się czy na odległym
końcu łącza zostało umieszczone urządzenie z pętlą zwrotną.
2) Z poziomu MAIN MENU wejść do menu TEST CONFIGURATION. Nale-
ży użyć następującej konfiguracji:
TEST MODE : E1SINGL
Tx SOURCE : TESTPAT
FRAMING : jak w specyfikacji łącza
CRC-4 : jak w specyfikacji łącza
TEST RATE : 2.048M
L1-Rx : TERM
XMT CLOCK : INTERN
a) Kiedy wszystkie ustawienia są poprawne nacisnąć przycisk
ENTER.
3) Ustawić kursor na pozycji TEST PATTERN i nacisnąć ENTER.
a) Podświetlić wzorzec, który chcemy wysyłać.
b) Nacisnąć ENTER.
4) Podłączyć tester SunSet do obwodu w kolejności takiej, jak pokazano
na rys. 102.
a) Przycisnąć przycisk LED aby potwierdzić dowolne migocące sy-
gnalizatory historii zdarzeń i wyłączyć je.
b) Upewnić się, czy dioda PAT SYNC świeci się na zielono.
5) Wejść do pozycji menu MEASUREMENT RESULTS.
a) Nacisnąć przycisk START (F3).
b) Upewnić się, czy obwód zachowuje się zgodnie z wymaganiami
firmy, dla której wykonujemy usługi serwisowe. Jeśli jest to ko-
nieczne, należy zapoznać się z definicjami pomiarów w celu wyja-
śnienia parametrów podawanych na ekranie MEASUREMENT
RESULTS.

SunSet E20 wersja 1.01 115


ROZDZIAŁ 4 ZASTOSOWANIA

Rys. 102. Test akceptacji nowego łącza

c) Aby mieć dostęp do każdego z indywidualnych ekranów pomiaro-


wych należy posługiwać się PAGE-UP (F1) i PAGE-DN (F2).
6) Jeśli wyniki pomiarowe zostaną przejrzane, to należy nacisnąć przy-
cisk ESCAPE aby powrócić do menu głównego (MAIN MENU).
7) Usunąć pętlę z odległego końca łącza.

Monitorowanie pracującego łącza


Poniżej opisano procedurę monitorowania pracującego łącza. Ustawienia
są pokazane na rys. 103 i 104.
1) Test ten może być przeprowadzony kiedy przez łącze przechodzi ruch
abonencki.
2) W menu głównym (MAIN MENU) przesunąć kursor na pozycję TEST
CONFIGURATION i nacisnąć ENTER. Należy użyć poniższej konfigu-
racji:
TEST MODE : E1DUAL
Tx SOURCE : TESTPAT
FRAMING : jak w specyfikacji łącza
CRC-4 : jak w specyfikacji łącza
TEST RATE : 2.048M
L1-Rx : MONITOR lub BRIDGE
L2-Rx : MONITOR lub BRIDGE
XMT CLOCK : INTERN
UWAGA: Jeśli nie jest się pewnym jaki poziomu sygnału występuje w
porcie Rx należy użyć, trzeba użyć trybu BRIDGE. Tryb
MONITOR powinien być używany gdy mamy dostęp do zabez-
pieczonego punktu monitorowania (Protected Monitoring Point -
PMP).
a) Nacisnąć przycisk ENTER kiedy wszystkie ustawienia są popraw-
ne.
3) Podłączyć tester SunSet do obwodu tak, jak to pokazano na rysun-
kach 103 lub 104.
a) Nacisnąć przycisk LED aby potwierdzić dowolne sygnalizatory hi-
storii zdarzeń i wyłączyć je.

116 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 4 ZASTOSOWANIA

Rys. 103. Monitorowanie pracującego łącza, tryb MONITOR

Rys. 104. Monitorowanie pracującego łącza, tryb BRIDGE z krokodylkami

4) Sprawdzić diody sygnalizacyjne dla obydwu linii i ekran GRAPHIC w


celu uzyskania informacji o testowanym obwodzie:
• Dioda sygnałowa (SIGNAL) powinna świecić na zielono.
• Powinien być pokazany ważny rodzaj ramkowania.
• Ciągłe świecenie ERROR lub CODE informuje, że obwód pracuje i
że występują błędy.
• Czerwone świecenie diody SIGNAL wskazuje brak sygnału.
• Wskaźnik ALARM sygnalizuje problem na drugim końcu łącza.
• Wskaźnik AIS może informować np. o takiej sytuacji, że element
sieci nadający do testera utracił sygnał przychodzący i zamienił go
na sygnał AIS.
• Ekran grafiki (GRAPHIC) potwierdzi ustawienie testowe.
5) Aby wykonać podstawowy pomiar należy:
a) W menu głównym (MAIN MENU) przesunąć kursor na pozycję
MEASUREMENT RESULTS i nacisnąć przycisk ENTER.
b) Nacisnąć przycisk START (F3).
c) Sprawdzić czy łącze pracuje zgodnie z wymaganiami firmy, dla
której prowadzimy usługi testowe.

SunSet E20 wersja 1.01 117


ROZDZIAŁ 4 ZASTOSOWANIA

Sprawdzanie synchronizacji częstotliwości


Synchronizacja częstotliwości może stanowić problem kiedy:
– klient zakupił część kanałów w łączu E1
– łącze klienta przechodzi przez element sieci synchronicznej taki jak
centrala końcowa, centrala abonencka lub przełącznica cyfrowa
– w łączu E1 jest stosowane więcej niż jedno medium transmisyjne.
Problemy z synchronizacją częstotliwości wynikają z poślizgów bitowych,
stanowiących główne źródło pogorszenia jakości usług. Na rys. 105 poka-
zano ustawienie, którego należy używać aby zidentyfikować problemy
związane z synchronizacją częstotliwości:
1) Test ten może być wykonany podczas kiedy w łączu występuje ruch
abonencki.
2) Należy uzyskać dostęp do źródła częstotliwości odniesienia 2,048 Hz.
W obwodzie 2,048 Mbit/s zakłada się zazwyczaj, że jedna strona ge-
neruje sygnał synchronizowany. Strona ta może być używana jako
odniesienie, a na drugiej może być mierzona synchronizacja częstotli-
wości.
3) Przez naciśnięcie przycisku ENTER należy przejść do MAIN MENU.
Przejść na pozycję TEST CONFIGURATION i nacisnąć ENTER.
a) Ustawić następujące wartości parametrów:
TEST MODE : E1SINGL
Tx SOURCE : TESTPAT
FRAMING : jak w specyfikacji łącza
CRC-4 : jak w specyfikacji łącza
TEST RATE : 2.048M
L1-Rx : MONITOR
XMT CLOCK : L2-Rx
b) Po poprawnym ustawieniu nacisnąć przycisk ENTER.
4) Podłączyć sygnał odniesienia E1 do gniazda RX linii 2.
• Jest to zazwyczaj wtyczka MONITOR źródła znanego synchroni-
zowanego sygnału.
5) Podłączyć wtyczkę RX linii 1 do wtyczki MONITOR na stronie, która
ma być testowana.

118 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 4 ZASTOSOWANIA

Rys. 105. Synchronizacja częstotliwości

6) Nacisnąć przycisk LED aby potwierdzić świecące się wskaźniki historii


pomiarów i wyłączyć je.
7) Z MAIN MENU przesunąć kursor do pozycji menu MEASUREMENT
RESULTS i nacisnąć przycisk ENTER.
a) Nacisnąć START (F3).
b) Naciskać przycisk PAGE-DN (F2) do momentu pojawienia się
ekranu FREQUENCY.
c) Obserwować, czy wartość częstotliwości różni się od częstotliwości
odniesienia 2,048 MHz. Zobaczymy wówczas znaczki >>> lub <<<
pokazujące szybkość poślizgu częstotliwości.
d) Należy zwrócić uwagę na wartość parametru WNDR (wander). In-
formuje ona o niskoczęstotliwościowych zmianach w częstotliwości
sygnału E1.

Pomiar poziomu sygnału


Pomiar poziomu sygnału może być wykonany samodzielnie lub przy oka-
zji wykonywania innych testów.
1) Należy wybrać poziom sygnału w porcie L1-Rx, którego chcemy użyć.
• Pomiary można wykonywać w trybach: TERM, MONITOR,
BRIDGE.
• Wzorzec samych jedynek nadawanych portu L1-Rx w trybach
TERM i BRIDGE zapewnia największą dokładność wyników.
• MONITOR może być trybem najwygodniejszym.
• Tryb TERM zakłóci działanie łącza.
• Wynik pomiaru w trybie BRIDGE może być zakłócony przez niską
jakość elementu sieciowego obciążającego linię E1.
• Pomiar w trybie MONITOR powinien dać wynik w granicach około
–20 dB lub –30 dB.

SunSet E20 wersja 1.01 119


ROZDZIAŁ 4 ZASTOSOWANIA

W pozostałej części procedury dla ilustracji pokażemy użycie trybu TERM.


Należy upewnić się, czy łącze nie pracuje, bowiem użycie trybu TERM opi-
sane niżej spowoduje zakłócenie pracy.
2) Z MAIN MENU należy przejść do menu TEST CONFIGURATION.
a) Parametry należy ustawić w następujący sposób:
TEST MODE : E1SINGL
Tx SOURCE : TESTPAT
FRAMING : jak w specyfikacji łącza
CRC-4 : jak w specyfikacji łącza
TEST RATE : 2.048M
L1-Rx : TERM
XMT CLOCK : INTERN
b) Aby powrócić do menu głównego należy nacisnąć ENTER.
3) Podłączyć zestaw do obwodu tak jak to pokazano na rys. 106.
a) Nacisnąć przycisk LED aby potwierdzić sygnalizatory historii zda-
rzeń i wyłączyć je.
4) Przesunąć kursor na pozycję menu MEASUREMENT RESULTS i naci-
snąć ENTER.
a) Nacisnąć przycisk START (F3).

Rys. 106. Pomiar poziomu sygnału

5) Naciskać przycisk PAGE-DN (F2) do momentu przesunięcia się na


ekran LINE1-ALM/SIG.
a) Odczytać poziom sygnału.
• Należy zwrócić uwagę, że podane są oddzielne wyniki dla sygnałów
dodatnich i ujemnych, a więc można uzyskać dokładniejszą informa-
cję dotyczącą np. wadliwego regeneratora.

120 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 4 ZASTOSOWANIA

Przeprowadzanie testu czasowego


Wiele testów sieciowych wymaga zaprogramowania dokładnego czasu
trwania pomiarów, np. 15 minut, 1 godzina, 24 godziny. W tej części in-
strukcji podamy informację na temat konfigurowania licznika czasu dla
jednego z takich testów. Należy używać poniższej procedury:

Start ręczny
1) Jako podstawy testu użyjemy jednej z procedur "Badanie odbiorcze
nowych linii" lub "Monitorowanie pracującego łącza", opisanych wcze-
śniej w tym rozdziale.
2) Wejść (ENTER) do pozycji menu SYSTEM PARAMETERS.
3) Ustawić kursor na MEAS CONFIGURATION i nacisnąć ENTER.
4) W pozycji menu MEAS DURATION wybrać TIMED (F1).
5) Nacisnąć przycisk SHIFT aby wyświetlić wskaźnik SHIFT w lewej,
górnej części ekranu.
a) Wprowadzić żądaną liczbę godzin i minut czasu trwania testu.
Należy używać przycisków ze strzałkami.
b) Kiedy wprowadzone dane są poprawne należy odblokować przy-
cisk SHIFT.
6) Przesunąć kursor na START i upewnić się, czy wybrane jest MANUAL.
a) Naciskać przycisk ESCAPE do momentu powrotu do MAIN MENU.
7) Postępować zgodnie z opisaną wcześniej procedurą "Badanie odbior-
cze nowych linii" lub "Monitorowanie pracującego łącza".
• Po przejściu na ekran MEASUREMENT RESULTS test stanie się testem
czasowym.
• Czas pozostały do zakończenia testu można obserwować na wskaźni-
ku RT (Remaining Time) w górnej, prawej części ekranu.

Automatyczny start pomiarów


Aby zaprogramować test, które ma się rozpocząć o określonej porze w
przyszłości, należy użyć poniższej procedury:
1) Na ekranie MEAS CONFIGURATION w pozycji MEAS DURATION naci-
snąć TIMED (F1).
2) Nacisnąć przycisk SHIFT.
3) Nacisnąć przycisk SHIFT aby wyświetlić wskaźnik SHIFT w górnej,
lewej części ekranu.
a) Wprowadzić liczbę godzin i minut czasu trwania testu. Należy
używać przycisków ze strzałkami.
b) Jeśli wprowadzone dane są poprawne należy odblokować przycisk
SHIFT.
4) Umieścić kursor na pozycji START i nacisnąć PROGRAM (F1).
5) Przesunąć kursor w dół do PROG DATE YMD i wprowadzić rok, mie-
siąc i dzień daty rozpoczęcia testu, używając przycisku SHIFT i przy-
cisków numerycznych.

SunSet E20 wersja 1.01 121


ROZDZIAŁ 4 ZASTOSOWANIA

6) W pozycji PROG TIME HMS wprowadzić godzinę, minutę i sekundę


rozpoczęcia testu. Po zakończeniu ustawień należy zwolnić przycisk
SHIFT.
• Tester rozpocznie pomiary w zaprogramowanym czasie.

Podgląd kodów sieciowych lub danych w kanale


Możliwa jest obserwacja "żywych" danych w następujących postaciach:
• binarnej,
• szesnastkowej,
• w tłumaczeniu ASCII,
oraz:
• dekodowanie używanych kodów sterujących łącza E1,
• weryfikacja zawartości poszczególnych kanałów.
Patrz rys. 107

Rys. 107. Podgląd odbieranych danych

Należy używać poniższej procedury:


1) Z MAIN MENU przejść do menu TEST CONFIGURATION.
2) Skonfigurować ustawienia testu:
a) MODE (tryb pracy):
• Łącze pracujące: Używać trybów BRIDGE i MONITOR
• Łącze nieaktywne: Używać trybu TERM
b) Wprowadzić inne wymagane ustawienia. Tester SunSet musi wy-
kryć poprawne ramkowanie w odbieranym sygnale.
3) Podłączyć tester do obwodu w sposób pokazany na rys. 103 lub 104.
a) Nacisnąć przycisk LED aby potwierdzić sygnalizatory historii zda-
rzeń i wyłączyć je.
4) Nacisnąć ESCAPE aby wrócić do menu MAIN MENU.
5) Przesunąć kursor do pozycji menu OTHER MEASUREMENT i nacisnąć
przycisk ENTER.

122 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 4 ZASTOSOWANIA

6) Przejść do menu VIEW RECEIVED DATA.


Otrzymamy wówczas podgląd "na żywo" danych w łączu E1. Można
przesuwać się po 64 stronach informacji oraz obserwować zmiany
pojawiające się w czasie obserwacji.
Należy zwrócić uwagę, że wymagane jest poprawne ramkowanie w
celu przejścia do pozycji menu VIEW RECEIVED DATA.
7) Sprawdzić dane "na żywo" tak jak są wyświetlane.
a) Kiedy pojawią się interesujące nas kody, to należy nacisnąć przy-
cisk PAUSE (F3) aby przechwycić 64 strony danych.
b) Naciskać PAGE-DN (F2) aby przeglądać ekrany z danymi.
Dane przedstawiane są w takiej kolejności, w jakiej pojawiają się w stru-
mieniu bitów E1. Są one uporządkowane według szczelin czasowych.
• Można oglądać informacje sterujące w szczelinie czasowej 00 dla ram-
kowania FAS.
• Można oglądać informacje sterujące w szczelinach czasowych 00 i 16
dla ramkowania MFAS.
• Wszystkie pozostałe kanały (szczeliny czasowe) powinny zawierać
aktualne sygnały głosu lub danych (lub odbierany wzorzec testowy).

Monitorowanie kanału głosowego


Poniżej opisano procedurę monitorowania kanału głosowego w łączu E1.
Ustawienie jest pokazane na rys. 103 i 104.
1) Test ten może być wykonany kiedy span prowadzi ruch "na żywo".
2) Z MAIN MENU należy wejść do menu TEST CONFIGURATION.
a) Należy użyć następującej konfiguracji:
TEST MODE : E1SINGL
Tx SOURCE : TESTPAT
FRAMING : jak w specyfikacji łącza
CRC-4 : jak w specyfikacji łącza
TEST RATE : 2.048M
L1-Rx : MONITOR lub BRIDGE
XMT CLOCK : INTERN
b) Kiedy wszystkie ustawienia są takie, jak wymagano, należy naci-
snąć przycisk ENTER.
3) Podłączyć zestaw tak, jak to przedstawiono na rys. 103 lub 104.
a) Nacisnąć przycisk LED aby potwierdzić sygnalizatory historii zda-
rzeń i wyłączyć je.
b) Upewnić się, czy świeci się dioda PCM-30 lub PCM-31.
4) Naciskać ESCAPE do momentu dotarcia do MAIN MENU.
5) Wejść do menu VF CHANNEL ACCESS.
6) Przesunąć kursor na pozycję VF & NOISE MEASUREMENTS i nacisnąć
ENTER.
7) Ustawić żądane numery szczelin czasowych dla nadawania i odbioru.

SunSet E20 wersja 1.01 123


ROZDZIAŁ 4 ZASTOSOWANIA

• Numeracja kanałów pominie każdą szczelinę czasową zawierającą


informację o ramkowaniu E1.
• W ramkowaniu FAS brak jest dostępu do szczeliny czasowej 00.
• W ramkowaniu MFAS dostęp do szczelin czasowych 00 i 16 jest
zabroniony.
8) Jako TxMODE należy ustawić TALK lub TONE, zaś jako IN/DROP
ustawić L1 (jeśli jesteśmy w trybie E1DUAL).
9) Ustawić głośność na żądany poziom naciskając przycisk głośności,
a następnie przyciski UP (F1) lub DOWN (F2).
UWAGA: Jeśli nie jesteśmy w stanie monitorować kanału, to należy:
a) Sprawdzić, czy przy ustawieniu ramkowania na AUTO tester
może synchronizować się z poprawnym sygnałem ramki.
b) Nacisnąć przycisk AUTO aby rozpocząć automatyczne rozpo-
znawanie ramkowania jeśli nie jest pokazany poprawny sygnał
ramkowania.
c) Jeśli to nie pomaga, należy spróbować odłączyć i ponownie
podłączyć przewód wejściowy. Można w ten sposób sprawdzić,
czy tester nie jest w stanie rozpoznać ramkowania.

Prosta rozmowa / słuchanie


Poniżej opisano najprostszą sposób przeprowadzenia rozmowy na łączu
E1. Układ połączeń pokazano na rys. 103. Zamiast pętli zwrotnej na od-
ległym końcu obwodu może być włączony drugi tester, przełącznik kana-
łów, centralka lub inny element sieciowy.
Należy używać poniższej procedury:
1) Upewnić się, czy łącze nie pracuje. Test ten zakłóci pracę wszystkich
kanałów, które nie są używane. Jeśli wymagany jest dostęp bezzabu-
rzeniowy, to należy przeczytać sekcję omawiającą testowanie "przelo-
towe" z wprowadzaniem i odprowadzaniem danych.
2) Z MAIN MENU przyciskając przycisk ENTER wejść do menu TEST
CONFIGURATION.
a) Skonfigurować interfejsy w następujący sposób:
TEST MODE : E1SINGL
Tx SOURCE : TESTPAT
FRAMING : jak w specyfikacji łącza
CRC-4 : jak w specyfikacji łącza
TEST RATE : 2.048M
L1-Rx : TERM
XMT CLOCK : INTERN
b) Po ustawieniu wszystkich żądanych parametrów nacisnąć przy-
cisk ENTER.
• Nie można przeprowadzać rozmowy na sygnale nieramkowanym.
• Podczas tej procedury musi się świecić jedna z diód sygnalizacji ram-
kowania.
3) Podłączyć tester SunSet do obwodu zgodnie z rys. 99.
a) Nacisnąć przycisk LED aby potwierdzić sygnalizatory historii zda-
rzeń i wyłączyć je.

124 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 4 ZASTOSOWANIA

4) Naciskać ESCAPE aby dostać się do MAIN MENU.


5) Wybrać pozycję menu VF CHANNEL ACCESS.
6) Nacisnąć przycisk ENTER na pozycji VF & NOISE MEASUREMENTS.
7) Wybrać kanał odbiorczy (słuchanie) i nadawczy (mówienie) (przeważ-
nie jest to ten sam numer kanału).
8) Wybrać TALK dla trybu TxMODE.
Można teraz prowadzić rozmowę w wybranym kanale. Głośność można
ustawić do żądanego poziomu używając przycisku regulacji głośności.

Nadawanie sygnału tonowego


Poniżej podano procedurę wysyłania sygnału tonowego:
1) Jest to test zaburzający działanie łącza. Należy upewnić się, czy linia
E1 nie przenosi ruchu lub czy będzie w stanie wytrzymać wszystkie
zaburzenia, które spowoduje poniższa procedura. Jeśli wymagany jest
dostęp bezzaburzeniowy, to należy przeczytać sekcję omawiającą te-
stowanie "przelotowe" z wprowadzaniem i odprowadzaniem danych.
2) Z MAIN MENU przyciskając przycisk ENTER wejść do menu TEST
CONFIGURATION.
a) Skonfigurować interfejsy w następujący sposób:
TEST MODE : E1SINGL
Tx SOURCE : TESTPAT
FRAMING : jak w specyfikacji łącza
CRC-4 : jak w specyfikacji łącza
TEST RATE : 2.048M
L1-Rx : TERM
XMT CLOCK : INTERN
b) Po ustawieniu wszystkich żądanych parametrów nacisnąć przy-
cisk ENTER.
3) Podłączyć tester SunSet do obwodu zgodnie z rys. 99.
a) Nacisnąć przycisk LED aby potwierdzić sygnalizatory historii zda-
rzeń i wyłączyć je.
4) Naciskać ESCAPE aby dostać się do MAIN MENU.
5) Przesunąć kursor w dół na pozycję VF CHANNEL ACCESS i nacisnąć
ENTER.
6) Nacisnąć ENTER na pozycji menu VF & NOISE MEASUREMENTS.
7) Użyć przycisków NEXT (F1) lub PREVIUS (F2) aby poprawnie ustawić
kanały odbioru i nadawania (szczeliny czasowe). Wybrać pozostałe po-
zycje menu jak niżej:
Tx A/B/C/D : zmienić wg wymagań
TxMODE : TONE
TONE FREQ : wprowadzić żądaną częstotliwość
TxLVL (dBm) : wprowadzić żądany poziom tonu
LISTEN SIDE : L1+L2 (dla trybu E1DUAL)
L1-Rx : TERM
XMT CLOCK : INTERN
• W wybranym kanale transmitowany jest teraz sygnał tonowy
• Można oglądać wyniki pomiarów częstotliwości i szumu.

SunSet E20 wersja 1.01 125


ROZDZIAŁ 4 ZASTOSOWANIA

Testowanie łącz Nx64 kbit/s


Ułamkowe przepływności E1 to łącza o przepływności Nx64 kbit/s, gdzie
N oznacza dowolną liczbę kanałów od 1 do 31. N kanałów łącza E1 tworzą
ułamkowy obwód E1, a pozostałe kanały łącza E1 są wypełnione albo ko-
dem jałowym albo ruchem przychodzącym lub informacją o ramkowaniu.
Należy używać poniższej procedury:
1) Upewnić się, czy łącze o przepływności ułamkowej nie pracuje. Ten
rodzaj testu zakłóca pracę. Jeśli wymagany jest dostęp bezzaburze-
niowy, to należy przeczytać sekcję omawiającą testowanie "przelotowe"
z wprowadzaniem i odprowadzaniem danych.
2) Przejść do MAIN MENU przyciskając przycisk ENTER
3) Wejść do menu TEST CONFIGURATION naciskając ENTER na tej po-
zycji.
a) Skonfigurować interfejsy w następujący sposób:
TEST MODE : E1SINGL
Tx SOURCE : TESTPAT
FRAMING : jak w specyfikacji łącza
CRC-4 : jak w specyfikacji łącza
TEST RATE : Nx64K
L1-Rx : TERM
XMT CLOCK : INTERN
• Należy zwrócić uwagę, że kiedy naciskamy Nx64K, to tester Sun-
Set będzie wyświetlał ekran SELECT TIME SLOT dla przepływności
ułamkowej.
• Szczeliny czasowe należy skonfigurować ręcznie.
• Jeśli nie jest znana konfiguracja szczelin czasowych, to użycie
przycisku AUTO skonfiguruje je dla kanałów aktywnych.
Konfiguracja automatyczna za pomocą AUTO może nie dać popraw-
nych kanałów jeśli:
• Któryś z aktywnych kanałów transmituje kod jałowy.
• Wartość dla kodu jałowego (ustawionego w SYSTEM PARAMETERS
/ MEAS CONFIGURATION strona 2, IDLE CHNL CODE) nie jest ta-
ka sama jak kod jałowy testowanego obwodu.
Aby obserwować kanały jałowy i aktywny należy:
• Podłączyć tester używając przepływności 2,048 Mbit/s
• Wejść do ekranu OTHER MEASUREMENTS, VIEW RECEIVED
DATA.
Pozwoli to na podwójne sprawdzenie nadawanej informacji na pod-
stawie porównania kanałów.
a) Gdy ustawienia szczelin są takie jak żądane, nacisnąć przycisk
ENTER.
b) Kiedy ustawienia menu TEST CONFIGURATION są takie jak żąda-
ne, nacisnąć przycisk ENTER.
4) Podłączyć tester SunSet do obwodu w sposób pokazany na rys. 108.
5) Upewnić się, że w odległym końcu łącza jest ulokowana pętla.

126 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 4 ZASTOSOWANIA

6) Nacisnąć przycisk LED aby potwierdzić sygnalizatory historii zdarzeń i


wyłączyć je.
7) Wejść do pozycji menu MEASUREMENT RESULTS aby wykonać test.
a) Nacisnąć START (F3).
b) Sprawdzić, czy praca łącza z przepływnością ułamkową odbywa
się zgodnie z wymaganiami firmy dla której prowadzimy usługi.

Rys. 108. Testowanie przepływności ułamkowej E1

Użytkowanie baterii i ładowarki


Ostrzeżenie! Nie wolno używać ładowarki innej niż dostarczona
przez firmę Sunrise Telecom wraz z testerem SunSet E20. Użycie
innej ładowarki spowoduje trwałe uszkodzenie przyrządu i utratę
gwarancji firmy Sunrise Telecom.
Tester jest zasilany z łatwo wymienialnej, 9-ogniwowej baterii akumulato-
rów NimH. Bateria została zaprojektowana tak, aby zasilać przyrząd pod-
czas testów umożliwiając jego łatwe przenoszenie. Bateria SunSet jest ła-
dowana za pomocą optymalnie skonstruowanej ładowarki. Ładowarka ta
ma moc wystarczającą do ciągłej pracy przyrządu nawet podczas ładowa-
nia baterii.
Ładowarka szybkiego ładowanie baterii, co umożliwia na szybkie wzno-
wienie pomiarów w warunkach polowych. Szybkie ładowanie nie powo-
duje żadnych uszkodzeń baterii. Ładowarka o symbolu SS138C pracuje z
sieciami prądu przemiennego o napięciu od 120 V do 240 V, 50/60 Hz.
Ładowarka rozpoznaje stan pełnego naładowania baterii i w tym momen-
cie przełącza się z trybu szybkiego ładowania na tryb podtrzymywania.
Podtrzymywanie uzupełnia cykl ładowania w celu osiągnięcia maksymal-
nej wydajności baterii. Doładowywanie zachowuje żywotność baterii przez
długi czas, lecz aby ten czas dodatkowo wydłużyć, należy usunąć baterię
z ładowarki po jej pełnym naładowaniu. Poniżej podajemy najważniejsze
zalecenia dotyczące obchodzenia się z baterią SunSet:
1) Podświetlenia ekranu należy używać tylko wtedy, kiedy jest ono ko-
nieczne. W temperaturze pokojowej, przy wyłączonym podświetlaniu,
tester SunSet może pracować przez 4,5 godziny z baterią w pełni na-
ładowaną. Kiedy podświetlanie jest włączone, to czas pracy będzie

SunSet E20 wersja 1.01 127


ROZDZIAŁ 4 ZASTOSOWANIA

krótszy niż 4 godziny. Ekstremalne temperatury mają również wpływ


na żywotność baterii.
2) Gdy przyrząd nie jest używany, to należy wyłączać jego zasilanie.
3) Kiedy przenosimy tester do pracy w terenie należy używać samocho-
dowej ładowarki baterii (symbol SS104C). Pozwoli to na podtrzymanie
stanu pełnego naładowania baterii przy braku zasilania z sieci elek-
trycznej. Ładowarka tego typu pracuje w trybie doładowywania i w
krótkim okresie czasu nie naładuje baterii do pełna.
4) Jeśli zamierzamy wykonywać dłuższe testy i nie jesteśmy pewni, czy
stan baterii na to pozwoli, to należy podłączyć ładowarkę przed rozpo-
częciem pomiaru, aby test mógł się odbywać bez przerw. Jeśli bę-
dziemy czekać aż bateria się rozładuje (np. w czasie testu) i dopiero
wtedy podłączymy ładowarkę, to procesor testera może się wyzerować
i przerwać test w momencie podłączania ładowarki.
5) Baterie należy ładować między kolejnymi użyciami nawet jeśli czas
dostępny do ładowania jest krótki. Dwustopniowa konstrukcja łado-
warki pozwala na naładowanie baterii do około 80% jej pełnj pojem-
ności w ciągu zaledwie kilku godzin. Pełne naładowanie trwa około 4
godzin.
6) Do testera SunSet nie wolno używać innej ładowarki, ponieważ spo-
wodują one uszkodzenie przyrządu i utratę gwarancji firmy Sunrise
Telecom.
7) Aby być pewnym, że bateria jest naładowana do pełnej pojemności
gdy rozpoczynamy testowanie, najlepiej jest pozostawić ładowanie
włączone przez noc.

Użytkowanie portu szeregowego


Tester wyposażony jest w standardowy port szeregowy, wykorzystywany
zarówno dla drukowania, jak i zdalnego sterowania.

Ustawienia portu szeregowego


W porcie szeregowym można konfigurować: szybkość transmisji w bo-
dach, parzystość, bit stopu, liczbę bitów na znak i wysyłanie znaków
CR/LF na końcu wiersza tekstu.
• Ustawienia te są konfigurowane z menu SYSTEM PARAMETERS,
GENERAL CONFIG.
• Ogólnie ustawienia portu szeregowego testera SunSet muszą odpo-
wiadać ustawieniom portu w drukarce.
Konfigurowanie portu szeregowego testera SunSet przedstawiono szcze-
gółowo w poniższej procedurze.

Konfigurowanie portu do druku


Tester może być zamówiony z opcjonalną drukarką termiczną o wysokiej
wydajności (SS118B lub SS118C). Drukarka ta ma wbudowany 8-bitowy
interfejs szeregowego RS-232C i używa papieru termicznego (a więc nie
ma zbiorniczka z tuszem lub taśmy, które muszą być wymieniane). Użyt-
kownik ma do wyboru wiele drukarek z portem szeregowym, jednak nie
wszystkie z nich będą współpracowały poprawnie z testerem SunSet.
Podane niżej informacje można wykorzystać do prób ustawienia zestawu
z inną drukarką, jednak firma SunSet nie gwarantuje poprawności pracy
testera z drukarką inną niż produkcji firmy Sunrise Telecom.

128 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 4 ZASTOSOWANIA

Jeśli chcemy podłączyć inną drukarkę to można wykorzystać kabel połą-


czony jako tzw. modem zerowy o symbolu SS122 (Null Modem Adaptor).
Patrz także rys. 109.

Rys. 109. Złącza kabla modemu zerowego SS122A

Aby rozpocząć drukowanie należy postępować zgodnie z poniższą proce-


durą:
1) Podłączyć kabel drukarkowy o symbolu SS115B ze złączami DIN-8 i
RS232C do testera SunSet. Na rys. 110 pokazano przyporządkowanie
styków w złączach kabla drukarkowego.

Rys. 110. Przyporządkowanie styków kabla drukarkowego SS115B

2) Jeśli używamy drukarki firmowej Sunrise Telecom, to należy pominąć


ten punkt.

SunSet E20 wersja 1.01 129


ROZDZIAŁ 4 ZASTOSOWANIA

a) W innym przypadku istnieje konieczność podłączenia adaptera


modemu zerowego firmy SunRise Telecom (SS122) do wolnego
końca kabla drukarkowego.
3) Upewnić się, czy ustawienia portu szeregowego testera odpowiadają
ustawieniom drukarki.
a) Przełączniki do konfigurowania drukarki są przeważnie zlokalizo-
wane na jej tylnej lub dolnej ściance.
b) Jeśli używamy drukarki termicznej produkcji firmy Sunrise Tele-
com, to prawidłowe ustawienia przełącznika podano na rys. 111.

Rys. 111. Ustawienia przełącznika drukarki SS118B/C

Domyślne fabryczne ustawienia portu szeregowego to:


BAUD RATE : 9600
PARITY : NONE
STOP BIT : 1-BIT
BITS/CHAR : 8-BIT
Jeśli trzeba zmienić ustawienia portu szeregowego testera SunSet aby
pasowały do ustawień drukarki, to należy użyć poniższej procedury:
a) Z MAIN MENU wybrać pozycję SYSTEM PARAMETERS.
b) Wybrać pozycję GENERAL CONFIG.
c) Używając przycisku ze strzałką w dół wejść do ustawienia szybko-
ści transmisji (BAUD RATE). Dostępne są trzy wybory: 1200 (F1),
2400 (F2) i 9600 (F3).
• Ustawienia te określają prędkość z jaką tester SunSet transmituje
dane (znaki) do drukarki.
• Ustawienie to musi pasować do ustawienia drukarki; w innym
przypadku na wydruku pojawią się przypadkowe znaki.

130 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 4 ZASTOSOWANIA

d) Należy wejść do ustawień parzystości (PARITY). Dostępne są trzy


opcje: NONE (F1), EVEN (F2), ODD (F3). Ustawienie musi pasować
do konfiguracji drukarki.
e) Należy wejść do ustawienia STOP BIT. Dostępne są dwie opcje: 1-
BIT (F1) i 2-BIT (F2). Ustawienie to musi pasować do konfiguracji
drukarki. Normalnie jest ono ustawione na 1-BIT.
f) Przejść do ustawienia BITS/CHAR. Dostępne są dwie opcje: 7-BIT
(F1) i 8-BIT (F2). Ustawienie to musi pasować do konfiguracji
drukarki. Normalnie jest ono ustawione na 8-BIT.
g) W pozycji CR/LF wybrać ustawienie odwrotne niż w drukarce.
4) Ustawić tryb drukowania na ekranie SYSTEM PARAMETERS, MEAS
CONFIGURATION.
PRINT RESULT (drukowanie wyniku)
TIMED: należy wybrać TIMED (F1), jeśli chcemy aby drukarka druko-
wała wyniki w regularnych odstępach podczas wyświetlania wyników
pomiarów (ekran MEASUREMENT RESULTS).
• Domyślny odstęp to 15 minut.
• Można wybrać dowolny odstęp od 1 minuty do 999 minut i 59 se-
kund.
• Aby zmienić odstęp należy nacisnąć przycisk SHIFT w celu wy-
świetlenia wskaźnika SHIFT.
• Wprowadzić żądane liczby z klawiatury.
• Nacisnąć ponownie przycisk SHIFT aby usunąć wskaźnik SHIFT.
LAST: należy wybrać LAST (F2), jeśli chcemy aby drukarka drukowała
wynik tylko po zakończeniu testu.
PRINT EVENT (wydruk włączany przez zdarzenia)
ENABLE: należy wybrać ENABLE (F1), jeśli chcemy żeby drukarka druko-
wała wynik za każdym razem kiedy zgłoszony jest błąd lub alarm.
DISABLE: Należy wybrać DISABLE (F2), jeśli nie chcemy, aby drukarka
drukowała wynik za każdym razem kiedy zgłoszony jest błąd lub alarm.
• Każdy wynik może być wydrukowany tylko raz. Po tym opróżniany
jest bufor drukarki.
• Parametry PRINT RESULT i PRINT EVENT muszą być aktywne
(ENABLE) dla wyników i zdarzeń zapisywanych na ekranie
MEASUREMENT RESULTS.
5) Należy upewnić się, czy ustawienia przełącznika DIP (lub ustawienia
innego przełącznika) na drukarce odpowiadają ustawieniom portu
szeregowego w testerze.
• Jeśli zmieniliśmy ustawienia przełącznika DIP, to należy wyłączyć
drukarkę i następnie włączyć przed kontynuacją pracy.
6) Upewnić się, czy drukarka jest zasilana i aktywna (on line).
7) Upewnić się, czy tester SunSet nie wyświetla swojego ekranu
GRAPHIC. Ekranu tego nie można drukować.
8) Na klawiaturze testera nacisnąć przycisk PRN SCRN (drukuj ekran).
9) Powinien wydrukować się aktualny ekran testera.

SunSet E20 wersja 1.01 131


ROZDZIAŁ 4 ZASTOSOWANIA

• Jeśli drukarka nie drukuje, to należy sprawdzić połączenia, konfi-


gurację i ustawienia przełączników.

Zdalne sterowanie
Tester SunSet może być wyposażony w opcję zdalnego sterowania. Zdalne
sterowanie testera nie różni się od jego bezpośredniego kontrolowania.
Możliwe jest jednoczesne korzystanie z testera zarówno przez użytkowni-
ka oddalonego, jak i użytkownika lokalnego, co ułatwia szybsze rozwią-
zywanie problemów.
Na rys. 110 przedstawiono schemat połączeń kabla DIN - DB-9 dostar-
czanego przez firmę Sunrise Telecom. Połączenia tzw. adaptera modemu
zerowego są przedstawione na rys. 109.
Jeśli chcemy skorzystać z połączenia z testerem poprzez interfejs szere-
gowy, to mogą być potrzebne dodatkowe akcesoria, np. przełączniki żył
kabla, wskaźniki sygnałów, modem zerowy itp. Poniżej podano najważ-
niejsze informacje potrzebne do zdalnego sterowania testera. Tester jest
skonfigurowany jako urządzenie DTE. Jeśli do testera chcemy bezpośred-
nio podłączyć terminal, to potrzebny jest zmodyfikowany kabel modemu
zerowego (patrz rys. 112). Typowy układ połączeń dla zdalnego sterowa-
nia pokazano na rys. 113.
Często wskazane jest, aby styk 4 (DTR) modemu lub terminala był połą-
czony do styku 8 (CTS) złącza DB25 testera. Aby można było jednocześnie
korzystać także z drukarki, należy pozostawić swobodny styk 5 złącza
DB25 testera.
Aby rozpocząć pracę w trybie zdalnym należy postępować według
poniższej procedury:
1) Podłączyć kabel drukarkowy DIN-8 - DB9 firmy Sunrise Telecom
(SS122A) do portu szeregowego testera.
2) Jeśli podłączamy się bezpośrednio do terminala, należy na użyć ad-
aptera modemu zerowego (SS122) firmy Sunrise Telecom podłączone-
go do wolnego końca kabla drukarkowego.
a) Podłączyć adapter modemu zerowego.
b) Pominąć punkty 3, 4, 6, 7.
3) Podłączyć końcówkę DB9 kabla do modemu. Zalecany jest modem o
prędkości 9600 bodów z korekcją błędów. Niektóre funkcje testera,
takie jak VF MEASUREMENT, będą pracowały poprawnie tylko wtedy,
gdy używany jest modem o 9600 bodów. Na rys. 109 i 110 pokazane
są schemat połączeń kabli. W celu upewnienia się, że tester jest pod-
łączony prawidłowo do modemu kiedy podłączamy go po raz pierwszy,
można użyć dodatkowego osprzętu dla kontroli działania RS232C.
4) Jeśli nie jesteśmy jeszcze podłączeni do analogowej linii telefonicznej,
to należy podłączyć modem do sieci telefonicznej (przeważnie wyko-
nujemy to przy pomocy kabla z wtykiem RJ-4).
5) Należy upewnić się, czy ustawienia portu szeregowego testera SunSet
odpowiadają ustawieniom programu komunikacyjnego lub terminala.
Domyślne ustawienia fabryczne testera to:
BAUD RATE : 9600
PARITY : NONE
STOP BIT : 1-BIT
BITS/CHAR : 8-BIT

132 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 4 ZASTOSOWANIA

Jeśli istnieje potrzeba zmiany ustawień portu szeregowego testera


SunSet, to należy użyć poniższej procedury:
a) Z MAIN MENU wybrać SYSTEM PARAMETERS.
b) Wybrać pozycję GENERAL CONFIG.
c) Aby wejść do ustawień BAUD RATE użyć przycisku ze strzałką w
dół. Dostępne są trzy wybory: 1200 (F1), 2400 (F2) i 9600 (F3).
Ustawienia te określają prędkość z jaką tester transmituje dane
(znaki) do komputera lub terminala. Jej wartość musi być zgodna
z ustawieniami w komputerze lub terminalu, bowiem w innym
przypadku na ekranie pojawią się przypadkowe znaki.
d) Wejść do ustawienia PARITY. Dostępne są tu trzy opcje: NONE
(F1), EVEN (F2), ODD (F3). Ustawienie musi pasować do konfigu-
racji zdalnego sterownika.
e) Wejść do ustawienia STOP BIT. Dostępne są dwie opcje: 1-BIT
(F1) i 2-BIT (F2). Ustawienie to musi pasować do konfiguracji wła-
snej zdalnego sterownika. Zazwyczaj jest to 1-BIT.
f) Wejść do ustawienia BITS/CHAR. Dostępne są dwie opcje: 7-BIT
(F1) i 8-BIT (F2). Ustawienie to musi pasować do konfiguracji wła-
snej zdalnego sterownika. Zazwyczaj jest to 8-BIT.

SunSet E20 wersja 1.01 133


ROZDZIAŁ 4 ZASTOSOWANIA

Rys. 112. Połączenie bezpośrednie

6) Ustawić terminal tak, aby można było dzwonić do odległego modemu.


Poprawnie powinien działać dowolny terminal lub komputer z opro-
gramowaniem emulacji terminala VT100.
7) Wywołać z terminala odległy modem.
8) Kiedy została ustanowiona łączność z odległym modemem, zalogować
się na testerze SunSet E20 pisząc: logon.
Nie ma potrzeby przyciskania przycisku <Enter> po wpisaniu liter.
Tester automatycznie wyświetla ekran z menu głównym lub inna in-
formacją. Jeśli pomylimy się pisząc logon, to należy po prostu wpisać
to słowo jeszcze raz.

134 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 4 ZASTOSOWANIA

Rys. 113. Ustawienie typowe

Uwaga: Jeśli logujemy się do zestawu, gdy ekran pracuje w trybie gra-
ficznym, to wyświetlanie grafiki może zostać zakłócone. Należy po
prostu na terminalu przycisnąć przycisk <Enter>, a następnie P
(dla grafiki) aby zobaczyć grafikę w poprawnej formie.
9) Używać testera SunSet E20 tak, jak robimy to w trybie lokalnym. Do-
stępne będą te same menu.
• Opcje przycisków są umieszczone pod nagłówkiem Status Panel.
• Podane niżej w objaśnieniach wytłuszczone litery oznaczają klawisz,
który należy przycisnąć aby wydać polecenie.
Polecenia sterowania kursorami: Up (do góry), doWn (w dół), leFt (w
lewo), Right (w prawo). Dodatkowo na komputerze/terminalu będą
działały przyciski ze strzałkami.
RefreSh (odśwież) odświeża ekran, co jest użyteczne kiedy wygląd
ekranu jest ukośny.
Quit funkcjonuje jako przycisk ESCAPE.
Inne funkcje przycisków to: Inj err (wprowadź błąd), History (historia)
i resYnch (synchronizuj ponownie).
Przyciśnięcie przycisku Return (lub Enter) na komputerze/terminalu
oznacza to samo, co naciśnięcie przycisku ENTER na testerze.
Przyciski funkcyjne na testerze są zastąpione przez klawisze: "–" (F1),
"=" (F2), "[" (F3) i "]" (F4).
Jeśli chcemy wprowadzać litery lub liczby na ekranie ustawień, to
zamiast używać przycisku SHIFT i pomarańczowych oznaczeń przyci-
sków, należy po prostu wpisać litery lub cyfry bezpośrednio z klawia-
tury komputera/terminala.
10) Po zakończeniu pracę z testerem SunSet E20 należy wpisać: logoff.

SunSet E20 wersja 1.01 135


ROZDZIAŁ 4 ZASTOSOWANIA

11) Następnie należy zakończyć połączenie telefoniczne przez rozłączenie


lokalnego modemu.
Należy pamiętać, że oprócz łączności modemowej w publicznej sieci tele-
fonicznej można używać innych rodzajów połączeń asynchronicznych. In-
nymi alternatywami są bezpośrednie połączenia lokalne, linie dzierżawio-
ne i łączność pakietowa.
Przy zdalnej kontroli mamy dostęp do większości funkcji testera. Dają się
zauważyć jednak pewne różnice, takie jak:
• Brak jest dostępu do ekranu GRAPHIC lub przycisku AUTO.
• Nie będzie pojawiała się grafika PULSE MASK ANALYSIS; jednakże te-
ster zgłaszać będzie dostępne dane.
• Ekran MEASUREMENT RESULTS będzie uaktualniany co 5 sekund
zamiast co sekundę.
• Nie jest zalecane lokalne używanie komend dotyczących drukowania
podczas sesji zdalnego sterowania, ponieważ zarówno drukarka, jak
i zdalne sterowanie korzystają z tego samego portu szeregowego. Na
przykład, jeśli zalogowany jest zdalny użytkownik, to naciśnięcie
przycisku PRNTR spowoduje jego wylogowanie.
• Rozmowa i odsłuch (Talk/listen) nie są zdalnie dostępne.
• Nie ma możliwości zdalnej analizy histogramów w menu OTHER
MEASUREMENTS, HISTOGRAM ANALYSIS.

Zdalne sterowanie z systemu Windows 95


Poniżej podano krótki opis przygotowania testera SunSet E20 do pracy
w trybie zdalnego sterowania w systemie Windows 95.
1) Z menu Accessories (Akcesoria) wybrać Hyperterminal
a) Otworzyć okno terminala
2) Kliknąć dwa razy na Hypertrm.exe
3) W New Connection (Nowe połączenie), wpisać "Sunrise Remote"
a) Wybrać ikonę symbolizującą to połączenie.
b) Kliknąć na Ok.
4) Na ekranie Phone Number (Numer telefonu) kliknąć na dolna strzałkę
rozwijanej listy "Connect using:"
a) Wybrać modem lub numer portu komunikacyjnego, który będzie
używany do połączenia (uwaga: jeśli jest się podłączonym bezpo-
średnio do portu komunikacyjnego, to trzeba będzie skorzystać z
adaptera modemu zerowego).
b) Kliknąć Ok.
5) W ustawieniach portu (Port Settings) należy skonfigurować parame-
try jak niżej (dopasowując te z testera SunSet tak jak na ekranie
GENERAL CONFIG):
Bitów na sekundę: 9600
Dane (lub znak) - bitów: 8
Parzystość: brak
Bity stopu: 1
Kontrola przepływności: brak

136 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 4 ZASTOSOWANIA

a) Kiedy zakończymy kliknąć Ok.


6) Na ekranie terminala wywołać menu VIEW (WAŻNE!)
7) Podświetlić i kliknąć na pozycji FONT
8) Podświetlić Terminal
a) Ustawić styl i rozmiar czcionki.
9) Wpisać tekst: logon
10) Od tego momentu powinno już działać zdalne sterowanie.

Zastosowania zaawansowane

Test przelotowy z podwójnym wprowadzaniem i pobieraniem danych


podczas pracy łącza
Aby przeprowadzić test z podwójnym wprowadzaniem i pobieraniem da-
nych (Dual Drop and Insert THRU) w trybie przelotowym na pracującym
łączu, należy pamiętać o tym, aby wszystkie podłączenia były wykonane
zgodnie z kolejnością numerowania pokazaną na rys. 114. Jest to istotne
dlatego, że należy wprowadzać jak najmniejszą liczbę zakłóceń do "żywe-
go" obwodu.
Test taki jest potrzebny dla:
a) Wykonania rozmowy telefonicznej na pojedynczym kanale
b) Wysyłania i odbioru tonów w testowanych kanałach
c) Wysyłania i odbioru wzorców testowych do badanych obwodów Nx64
kbit/s.
OSTRZEŻENIE: Procedurę tę może wykonywać jedynie doświadczony
personel. Jakiekolwiek błędy spowodują zakłócenie pracy linii.
Należy użyć poniższej procedury. Jeśli zostanie ona przeprowadzona w
sposób poprawny, to test nie zakłóci pracy linii na dłużej niż kilkaset mi-
lisekund.
1) Z MAIN MENU wejść do TEST CONFIGURATION. Skonfigurować in-
terfejs tak, jak to podano niżej:
TEST MODE : E1DUAL
Tx/INSERT : L1-Tx
Rx/DROP : L2-Rx
Tx SOURCE : THRU
FRAMING : jak w specyfikacji łącza
CRC-4 : jak w specyfikacji łącza
TEST RATE : Nx64K lub Nx64K (ułamek E1)
L1-Rx : MONITOR, BRIDGE
L2-Rx : MONITOR, BRIDGE
XMT CLOCK : L1-Rx
2) Podłączyć tester SunSet do obwodu tak, jak to pokazano na rys. 114
lub 115. Rys. 114 przedstawia połączenia za pomocą kabli BNC-BNC,
a rys. 115 pokazuje połączenie kablami "bantam"-BNC.
• Tryb ten pozwala na przepuszczanie przez tester ruchu pracujące-
go łącza 2,048 Mbit/s.

SunSet E20 wersja 1.01 137


ROZDZIAŁ 4 ZASTOSOWANIA

• Należy pamiętać o podłączaniu przewodów w kolejności pokazanej


na dwóch wyżej wspomnianych rysunkach.
a) Najpierw podłączyć kable od 1 do 6.
b) Sprawdzić, czy diody linii 1 i linii 2 pokazują właściwe ramkowa-
nie, kodowanie i brak błędów.
c) Sprawdzić, czy na ekranie GRAPHIC tryb pracy testera jest ozna-
czany jako THRU.
d) Na końcu podłączyć kable 7 i 8.
Ostrzeżenie! Można przeprowadzić powyższą procedurę na niepra-
cującym obwodzie aby upewnić się, czy potrafimy wykonać ją po-
prawnie.

Rys. 114. Test z podwójnym wprowadzaniem i pobieraniem danych


w trybie przelotowym (kable BNC-BNC)

138 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 4 ZASTOSOWANIA

Rys. 115. Test z podwójnym wprowadzaniem i pobieraniem danych


w trybie przelotowym (kable BNC - bantam)

Uwaga: Obwód będzie zakłócony na około dwie sekundy podczas


odłączania przewodów.
3) W zależności od potrzeby można wykonać następujące czyności:
Dla Talk and Listen (rozmowa i odsłuch):
a) Nacisnąć ESCAPE aby dostać się do MAIN MENU.
b) Przesunąć kursor do pozycji menu VF CHANNEL ACCESS i naci-
snąć przycisk ENTER.
c) Nacisnąć przycisk ENTER na pozycji menu VF & NOISE MEASU-
REMENTS.
d) Wybrać kanały odbioru (odsłuch) i nadawania (mówienie) - zwykle
mają one ten sam numer.
e) Wybrać TALK dla TxMODE i L1 (lub L1+L2) dla SPEAKER (gło-
śnik). Można teraz mówić i słuchać na wybranym kanale.
Aby wysyłać i otrzymywać sygnał tonowy:
a) Naciskać ESCAPE do momentu osiągnięcia MAIN MENU.

SunSet E20 wersja 1.01 139


ROZDZIAŁ 4 ZASTOSOWANIA

b) Przesunąć kursor w dół do pozycji menu VF CHANNEL ACCESS i


nacisnąć ENTER.
c) Nacisnąć ENTER na pozycji menu VF & NOISE MEASUREMENTS.
d) Użyć przycisków NEXT (F1) lub PREVIUS (F2) aby ustawić po-
prawnie kanały odbioru i nadawania.
e) Wybrać pozostałe pozycje menu jak niżej:
TxMODE : TONE
Tx FREQ : żądana częstotliwość tonu
Tx LVL : żądany poziom sygnału tonowego
Tx ABCD : wskazać lub wprowadzić bity nadzoru
SPEAKER : L1+L2
• Można teraz nadawać sygnał tonowy na wybranym kanale.
• Można także oglądać wyniki pomiarów poziomu, częstotliwości i szu-
mu odbieranego sygnału.
Aby testować Nx64 kbit/s, ułamkowe E1 należy:
a) Upewnić się, czy TEST RATE jest ustawiona na Nx64K w menu TEST
CONFIGURATION.
b) Nacisnąć ESCAPE aby dostać się do MAIN MENU.
c) Wejść do pozycji menu MEASUREMENT RESULTS, nacisnąć START i
wykonać test akceptacji.
d) Sprawdzić, czy praca "ułamkowego" łącza E1 przebiega zgodnie z wy-
maganiami firmy, dla której prowadzimy usługi.

Testowanie multipleksera terminali


Tester SunSet E20 może przeprowadzić test multipleksera na linii niepra-
cującej. Poniżej podajemy procedurę postępowania:
1) Podłączyć tester SunSet E20 zgodnie z rys. 116.

Rys. 116. Układ połączeń MUXTEST

2) Wejść do menu TEST CONFIGURATION.


a) Jako tryb pracy wybrać MUXTEST (more, F1).
3) Ustawić konfigurację zgodnie z rys. 117.

140 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 4 ZASTOSOWANIA

Rys. 117. Konfiguracja MUXTEST

UWAGI:
• W tej procedurze multiplekser musi być ustawiony jako DCE. Tester
SunSet E20 jest urządzeniem DTE. Na powyższym rysunku pokazano
wykorzystanie RS-232S do transmisji danych (ustawione jako
DATACOM TYPE). Można wybrać także G.703, V.35, RS-449 lub X.21.
• Tester nadaje z multiportu kod jałowy.
4) Jeśli multiplekser otrzymuje sygnał zegarowy z linii wyjściowej testera
2,048 Mbit/s TX, to należy ustawić XMT CLK na INTERN.
a) Jeśli tester powinien otrzymywać sygnał zegarowy z multipleksera,
to jako XMT CLK należy ustawić L1-Rx.
5) Upewnić się, czy dioda PAT SYNC świeci na zielono, w zależności od
ustawienia B-LED; tj. jeśli B-LED jest ustawiona na E1, to przy pomo-
cy diody sprawdzana jest strona E1 i odwrotnie.
a) Nacisnąć przycisk ERR INJ aby wprowadzić błędy bitowe. Powin-
niśmy zauważyć mrugające czerwone diody zarówno dla ERROR i
BIT ERROR, które sygnalizują błąd bitowy. Oznacza to, że właśnie
wprowadziliśmy błąd ze strony E1 przez multiplekser do portu
transmisji danych.
b) Nacisnąć przycisk LED aby zatrzymać mruganie.
6) Sprawdzić, czy jest możliwe wprowadzenie błędów z portu transmisji
danych przez multiplekser do strony E1.
a) Ustawić diodę BERT na DTCM; jest to rodzaj transmisji danych,
który został wybrany w DATACOM TYPE.
7) Upewnić się, czy dioda PAT SYNC świeci na zielono.
a) Wprowadzić pojedynczy błąd bitowy przez jednokrotne naciśnięcie
przycisku ERR INJ. Powinniśmy teraz zobaczyć mrugające na
czerwono diody zarówno dla ERROR i BIT ERROR, pokazujące, że
wystąpił jeden błąd bitowy.
b) Nacisnąć przycisk LED aby zatrzymać mruganie.

SunSet E20 wersja 1.01 141


ROZDZIAŁ 4 ZASTOSOWANIA

8) Jeśli wymagane jest przeprowadzenie bardziej złożonych testów, to


można zmienić wzorce testowe i inne ustawienia w TEST
CONFIGURATION, np. XMT CLK.

Emulacja multipleksera terminali


W trybie E1-MUX tester SunSet E20 emuluje multiplekser 64 kbit/s na 2
Mbit/s. Aby zmultipleksować jeden strumień 64 kbit/s do strumienia 2
Mbit/s należy użyć poniższej procedury:
1) Z MAIN MENU wejść do TEST CONFIGURATION.
a) Wybrać E1-MUX jako tryb pracy testera.
b) Skonfigurować pozostałe pozycje jak niżej:
E1-MUX
Tx/INSERT : L1-Tx
Rx/DROP : L2-Rx
FRAMING : jak w specyfikacji łącza
CRC-4 : jak w specyfikacji łącza
L1-Rx : TERM
L2-Rx : TERM
XMT CLOCK : L1-Rx
DATACOM
TYPE : wybrać interfejs transmisji danych, który
zapewnia ramkowany sygnał 64 kbit/s
TxSRC : E1DRP
MUX
B-LED : E1DRP
E1INS : DTCM
E1T/S : Nx64 - wybrać szczelinę czasową 64
kbit/s, która ma być multipleksowana do
strumienia E1
a) Nacisnąć Nx64K (F1) aby wejść do ekranu SELECT TIME SLOT.
b) Użyć przycisków ze strzałkami aby przesunąć migocący kursor na
numer żądanej odbiorczej szczeliny czasowej.
c) Kiedy numer żądanej szczeliny czasowej migoce, należy nacisnąć
SELECT (F2).
d) Nacisnąć UN-SEL (F3) aby zrezygnować z wyboru danej szczeliny
czasowej.
e) Nacisnąć CLR-ALL (F4) aby zrezygnować z wyboru wszystkich
szczelin czasowych i rozpocząć pracę z czystym ekranem.
f) Jeśli to konieczne należy powtórzyć tę procedurę dla nadawczej
szczeliny czasowej.
Można wybrać tylko jedną odbiorczą i jedną nadawczą szczelinę czasową
jednocześnie. Numery szczelin odbiorczej i nadawczej są zazwyczaj takie
same.
2) Podłączyć tester E20 do obwodu zgodnie z rys. 118.
a) Nacisnąć przycisk LED aby potwierdzić migocące diody sygnali-
zujące historię zdarzeń i wyłączyć je.
b) Sprawdzić, czy dioda PAT SYNC świeci na zielono.

142 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 4 ZASTOSOWANIA

Rys. 118. Emulacja multipleksera terminali

Urządzenie DTE dostarcza sygnał 64 kbit/s, który jest przekazywany


do testera SunSet E20 poprzez multiport. Tester E20 multipleksuje
ten sygnał 64kbit/s w strumień 2 Mbit/s, który jest następnie
transmitowany do złącza E1 L1-Tx.
Na rys. 118 tester jest podłączony do złącza monitora IN/OUT. Sy-
gnał 2M jest przekazywany z wtyczki IN do OUT i z powrotem do
wtyczki L1-Rx w testerze. Ustawienie takie pozwala na sprawdzenie
sygnału multipleksowanego. W celu tego sprawdzenia należy wyko-
nać podane niżej czynności.
3) Należy wprowadzić błąd z urządzenia DTE.
a) Upewnić się, czy parametr B-LED w TEST CONFIGURATION jest
ustawiony na E1DRP. Oznacza to, że dioda PAT SYNC pokaże in-
formację o sygnale otrzymanym na porcie E1-L1Rx.
b) Po wprowadzeniu błędu na testerze powinna zaświecić się czerwo-
na dioda PAT SYN; należy sprawdzić, czy błąd bitowy został od-
notowany na ekranach MEASUREMENT RESULTS LINE 1
SUMMARY i DATACOM SUMMARY. Jeśli tak, to świadczy o prawi-
dłowym multipleksowaniu przez tester SunSet E20.
Można także sprawdzić wyniki dla drugiej strony. Aby to zrobić należy
mieć takie same ustawienia jak na rys. 118, tylko tym razem wprowa-
dzamy błąd z terminala 2,048 Mbit/s. Należy także zmienić ustawienie
B-LED na DTCM w menu TEST CONFIGURATION.

Emulacja multipleksera transferowego


Tester Sunset E20 może emulować multiplekser transferowy (Add/Drop).
Aby pobrać i wprowadzić szczeliny czasowe 64 kbit/s między urządze-
niem komunikacji danych a łączem E1 należy użyć poniższej procedury:
1) Z MAIN MENU wejść do TEST CONFIGURATION.
a) Wybrać tryb E1DUAL i skonfigurować inne parametry jak niżej:
Tx/INST : L1-Tx
Rx/DROP : L2-Rx
TxSOURCE : THRU
FRAMING : według uznania
CRC-4 : według uznania

SunSet E20 wersja 1.01 143


ROZDZIAŁ 4 ZASTOSOWANIA

TEST RATE : Nx64K


L1-Rx : TERM
L2-Rx : TERM
XMT CLOCK : L1-Rx
2) Podłączyć tester do dwóch terminali tak, jak na rys. 119.
a) Podłączyć gniazdo OUT urządzenia 1 do linii 1 RX w testerze.
b) Podłączyć drugim przewodem BNC gniazdo OUT w urządzeniu 2
do linii 2 RX w testerze.
c) Podłączyć trzeci przewód BNC do linii 1 TX testera.
d) Podłączyć czwarty przewód do linii 2 TX.
UWAGA: Nie wolno jeszcze podłączać tych przewodów do terminali.
e) Sprawdzić, czy diody testera E20 dla linii 1 i linii 2 pokazują pra-
widłowe ramkowanie i brak błędów.
Powinniśmy zobaczyć zielono świecące diody kodu i ramkowania;
żadna dioda nie powinna być świecić na czerwono.
f) Nacisnąć przycisk GRAPH i sprawdzić, czy tester pracuje w trybie
THRU.
g) Podłączyć przewód z linii 2 TX do gniazda IN urządzenia 1.
h) Podłączyć przewód z linii 1 TX do gniazda IN urządzenia 2.
Uwaga: Podczas odłączania kabli przez około 2 sekundy wystąpią w
obwodzie zakłócenia.

Rys. 119. Emulacja multipleksera transferowego

3) Nacisnąć przycisk LED aby potwierdzić mrugające diody i wyłączyć je.


a) Sprawdzić, czy dioda PAT SYNC świeci na zielono.
4) Nacisnąć przycisk ESCAPE, aby powrócić do MAIN MENU.
a) Wejść do OTHER MEASUREMENTS, VIEW RECEIVED DATA. Po-
nieważ wybraliśmy Rx/DROP=L2-Rx w TEST CONFIGURATION, to
dane tu wyświetlane pochodzą z linii 2 Rx.
b) Sprawdzić, czy wzorzec wysyłany przez urządzenie 2 jest tu poka-
zany we wszystkich szczelinach czasowych.

144 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 4 ZASTOSOWANIA

Zgodnie z rys. 119, powinniśmy widzieć wzorzec 1-4. Stwierdziliśmy


właśnie, że linia 2 jest poprawnie doprowadzona do testera.
5) Nacisnąć przycisk ESCAPE aby powrócić do MAIN MENU. Wejść do
TEST CONFIGURATION. Zmienić Rx/DROP na L1-Rx.
6) Wyjść do MAIN MENU.
a) Wejść do OTHER MEASUREMENTS, VIEW RECEIVED DATA. Wy-
świetlane dane odnoszą się do linii 1 Rx.
b) Sprawdzić, czy wzorzec transmitowany przez urządzenie 1 jest
pokazany na wszystkich dostępnych szczelinach czasowych tego
ekranu.
W odniesieniu do rys. 120 powinniśmy zobaczyć wzorzec ALL ZEROS
(same zera) na wszystkich szczelinach czasowych. Sprawdziliśmy wła-
śnie, że sygnał z linii 1 jest doprowadzany poprawnie do testera E20.
Jesteśmy teraz gotowi do podłączenia testera do urządzenia transmi-
sji danych.
7) Powrócić do MAIN MENU. Wejść do TEST CONFIGURATION. Wybrać
tryb E1-MUX i skonfigurować inne parametry jak niżej:
E1
Tx/INST : L1-TX
Rx/DROP : L2-RX
FRAMING : według wymagań
CRC-4 : według wymagań
TEST RATE : Nx64K
L1-Rx : TERM
L2-Rx : TERM
XMT CLOCK : L1-Rx
DATACOM
TYPE : rodzaj interfejsu (złącza)
TxSRC : E1DRP
FRAMING : według wymagań
CRC-4 : według wymagań
TEST RATE : Nx64K
L1-Rx : TERM
L2-Rx : TERM
XMT CLOCK : L1-Rx
MUX
B-LED : DTCM
E1INS : E1DRP
E1T/S : według potrzeby
8) Podłączyć tester do urządzenia transmisji danych poprzez multiport.
Patrz rys. 120.

SunSet E20 wersja 1.01 145


ROZDZIAŁ 4 ZASTOSOWANIA

Rys. 120. Emulacja multipleksera transferowego

9) Nacisnąć przycisk LED aby potwierdzić migocące diody historii wyni-


ków i wyłączyć je.
a) Sprawdzić, czy dioda PAT SYN świeci na zielono i nie świecą się
czerwone diody błędu.
10) Wyjść z MAIN MENU.
a) Wejść do OTHER MEASUREMENTS, VIEW RECEIVED DATA.
• Upewnić się, czy tester SunSet E20 odbiera na swoim multi-
porcie wzorzec testowy nadawany przez urządzenie DTE. Po-
nieważ w TEST CONFIGURATION wybraliśmy BERT dla
transmisji danych, to wzorzec odbierany w multiporcie powi-
nien być na tym ekranie wyświetlany.
• Przykładowym wzorcem na rys. 120 jest 511.
• Nawet jeśli w menu TEST CONFIGURATION wybraliśmy tylko
kilka szczelin czasowych Nx64, to należy spodziewać się, że
wzorzec testowy zobaczymy tutaj na wszystkich szczelinach
czasowych.
11) W poprzednich punktach sprawdzaliśmy, czy tester Sunset odbierał
właściwy sygnał na obu gniazdach odbiorczych łącza E1 oraz na mul-
tiporcie. Teraz musimy sprawdzić, czy tester wprowadza dane do wy-
branych szczelin czasowych.
Tester nadaje do linii 1 sygnał odbierany z L1-Rx wprowadzając sy-
gnał otrzymany przez multiport w szczeliny czasowe Nx64K wybrane
w TEST CONFIGURATION dla L1-Tx. Z tego powodu, urządzenie 2
jest najlepszym miejscem aby sprawdzić możliwości wprowadzania
danych przez tester SunSet. Urządzenie 2 powinno otrzymywać w wy-
branych szczelinach czasowych wzorzec transmisji danych (w naszym
przykładzie jest to 511), a we wszystkich pozostałych szczelinach cza-
sowych wzorzec z urządzenia 1 (w naszym przykładzie same zera).
12) Jeśli urządzenie 2 nie jest w stanie wyświetlać odbieranych danych,
to do jego wyjścia monitorującego należy podłączyć drugi tester Sun-
Set E20.
a) Włączyć drugi tester SunSet i wejść do TEST CONFIGURATION.
b) Skonfigurować drugi tester tak, jak to podano poniżej:

146 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 4 ZASTOSOWANIA

TEST MODE : E1DUAL


Tx/INSERT : L1-TX
Rx/DROP : L1-RX
TXSRC : TESTPAT
FRAMING : według wymagań
CRC-4 : według wymagań
TEST RATE : 2.048M
L1-Rx : MONITOR
L2-Rx : MONITOR
XMT CLOCK : INTERN
13) Podłączyć linię 1 RX do wyjścia MON w urządzeniu 2.
a) Nacisnąć przycisk LED aby potwierdzić i wyłączyć migocące diody.
14) Wyjść z MAIN MENU.
a) Wejść do OTHER MEASUREMENTS, VIEW RECEIVED DATA.
b) Upewnić się, czy wzorzec transmisji danych w wybranych szczeli-
nach czasowych i wzorzec nadawany przez urządzenie 1 są
umieszczone w różnych szczelinach czasowych.
15) W ten sposób sprawdziliśmy poprawność wprowadzania danych przez
tester SunSet E20.

SunSet E20 wersja 1.01 147


ROZDZIAŁ 4 ZASTOSOWANIA

148 SunSet E20 wersja 1.01


Rozdział 5 Transmisja danych

Przegląd metod transmisji danych

Wprowadzenie
Transmisja danych wiąże się z prawie każdą dziedziną naszego życia. Po-
cząwszy od początków szybkiego postępu technologicznego w zakresie
układów scalonych prawie każda wymiana informacji może być dokony-
wana w sposób cyfrowy. Większość ludzi kojarzy transmisję danych z
komputerami; jednak ostatnie jej zastosowania obejmują cyfrową obróbkę
głosu, filmu i obrazu.
Ważne jest zrozumienie składników i procesów zachodzących w sieci
transmisji danych, aby można ocenić dokładność i efektywności ekono-
miczną cyfrowego przetwarzania.

Elementy systemów transmisji danych


W komputerach dane przechowywane są w pojedynczych bitach. Bity te
mogą mieć dwa zdefiniowane stany, np. 1 (włączony) i 0 (wyłączony). Z
drugiej strony, technika analogowa charakteryzuje się ciągłym zakresem
możliwych stanów. Sygnały analogowe przedstawiane w postaci graficznej
mają najczęściej postać fal sinusoidalnych, zaś sygnały cyfrowe są repre-
zentowane przez przebiegi prostokątne. Dźwięk jest analogowy ponieważ
zmienia się w sposób ciągły i dlatego linie telefoniczne przenoszą sygnały
analogowe. Aby komputer mógł wysłać dane cyfrowe przez linie telefo-
niczną, dane te muszą być zamienione na sygnał analogowy. Modem
czyta cyfrowe sygnały z komputera i zamienia je na dźwięki, które mogą
być wysłane przez linię telefoniczną. Modem na drugim końcu linii odbie-
ra te dźwięki i zamienia je z powrotem na sygnały cyfrowe, które są wy-
syłane do komputera odbiorczego.
Modulacja jest procesem przetwarzania przebiegu cyfrowego na sygnał
analogowy odpowiedni dla transmisji przez linię telefoniczną; demodula-
cja jest jej odwrotnością: tu sygnał analogowy przetwarzany jest na cy-
frowy. Modem (skrót od modulacji/demodulacji) przeprowadza obydwa te
procesy.
Trzema najważniejszymi składnikami w transmisji danych są: terminal,
modem i komputer główny. W terminalu informacja analogowa (to jest
informacja ze świata zewnętrznego) jest tłumaczona na format cyfrowy. Te
dane cyfrowe są następnie transmitowane do komputera głównego. Kom-
puter główny jest to zazwyczaj duży system komputerowy, który może
wykonywać programy wielu różnych użytkowników w tym samym czasie.
Sprzęt terminalowy jest nazywany skrótem DTE (od Data Terminal Equ-
ipment). Modem jest oznaczany jako DCE (Data Communication Equ-
ipment), a czasami jako urządzenie danych (Data Set). Na rys. 121 przed-
stawiono powiązania między tymi terminami z zakresu transmisji danych
a sprzętem codziennego użytku.

SunSet E20 wersja 1.01 149


ROZDZIAŁ 5 TRANSMISJA DANYCH

Rys. 121. Właściwości transmisji danych

Podstawy transmisji danych


Środek łączności składa się z kanału podstawowego i kanału dodatkowe-
go. Kanał dodatkowy nie zawsze występuje w modemach. Kanał ma moż-
liwość przekazu danych w dowolnym kierunku; w każdym kanale fak-
tycznie można wyróżnić dwa sygnały, po jednym dla danego kierunku.
Kiedy oba kierunki mogą być jednocześnie aktywne, to taki kanał jest na-
zywany pełnym dupleksem. Kiedy tylko jeden kierunek może być aktywny
w danym momencie, to kanał jest pół-dupleksowy. Przepływność (pojem-
ność) kanału jest równa liczbie bitów na sekundę, które kanał może prze-
nosić. Pojemność kanału dodatkowego jest zawsze mniejsza niż kanału
podstawowego.
Innym tematem związanym z tym zagadnieniem jest nośna. Nośna jest to
ciągły sygnał sinusoidalny, który przechodzi przez medium transmisyjne.
Jest to coś w rodzaju rurociągu, który pozwala danym na podróżowanie z
jednego do drugiego urządzenia DCE. Obecność nośnej nie zawsze ozna-
cza, że trwa przekaz danych. Aby przesłać dane z DCE do DCE, należy
zastosować ich modulację.

Sieci transmisji danych


Poniżej opisano w skrócie różne opcje dostępne w sieciach transmisji da-
nych. Obwody mogą się różnić w następujący sposób:
1. Kierunkiem transmisji
2. Liczbą urządzeń, które są podłączone do sieci
3. Sposobem płatności przez klienta
4. Metodą transmisji

Kierunek transmisji
Kanał jednokierunkowy (simpleks) transmituje dane tylko w jednym kie-
runku. Kanał pół-dupleksowy transmituje w dowolnym kierunku; jednak
w danym momencie może być aktywny tylko jeden kierunek. Kanał peł-
nodupleksowy może przenosić dane jednocześnie w obu kierunkach.

150 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 5 TRANSMISJA DANYCH

Liczba podłączonych urządzeń


Obwód typu "punkt - punkt" łączy dwa urządzenia. Na przykład, linia łą-
cząca dwa modemy jest właśnie linią punkt - punkt. Obwód punkt - wie-
lopunktu może łączyć wiele różnych urządzeń.

Sposób płatności
W sieciach komutowanych klient jest obciążany za zestawienie połącze-
nia, czas trwania i rozłączenie rozmowy. Zwykła rozmowa telefoniczna
wykorzystuje łącze komutowane. Linia dedykowana, zwana także dzier-
żawioną utrzymuje stałe połączenie między dwoma punktami. Najczęściej
klient płaci stałą stawkę za taki rodzaj połączenia.

Metoda transmisji
W transmisji asynchronicznej dane są zamieniane na ciągi impulsów z
bitami startu i stopu. Bit startu jest wysyłany przez modem nadawczy
aby zasygnalizować, że będzie wysłany znak. Następnie modem ten wy-
syła bity właściwego znaku i następujący po nich bit stopu, który sygnali-
zuje, że przekaz jest zakończony. Po transmisji znaku urządzenie może
wysłać następny znak z bitami startu i stopu lub może przejść w stan ja-
łowy (najczęściej pozostaje w stanie logicznej "1").
W transmisji synchronicznej dane są wysyłane jako pojedynczy strumień
bitów, na który składają się grupy znaków. Modemy łączą te grupy zna-
ków w buforze, przygotowując je do wysyłki w strumieniu. Aby transmisja
mogła się odbyć, modemy muszą być ze sobą dokładnie zsynchronizowa-
ne. Czas martwy między poszczególnymi znakami w strumieniu jest tu
wyeliminowany. Pierwszy bit znaku następuje natychmiast po ostatnim
bicie poprzedniego znaku; nie ma bitów startu i stopu.

Procedura sterująca wywołaniem


Standardowa procedura sterująca wywołaniem jest pokazana na rys. 122
i opisana poniżej. Procedura ta odnosi się do łącza pracującego w trybie
pełnego dupleksu. Ponieważ obydwie nośne mogą występować równocze-
śnie w takim łączu, to nie ma znaczenia, która strona włącza sygnał RTS
jako pierwsza. Na rys. 122 założono, że jest to terminal o nazwie West
DTE. Dla obwodów półdupleksowych, strona inicjująca wywołanie musi
być z góry określona.
Terminal West DTE wysyła sygnał RTS do urządzenia komunikacyjnego
West DCE. Sygnał RTS (Request to Send - żądanie wysyłki) nakazuje mo-
demowi, aby uaktywnił na wyjściu swoją nośną. Sygnał RTS działa dwo-
jako na West DCE: włącza odpowiednią nośną, tak, jak to pokazano na
rys. 122, i wysyła do terminala West DTE sygnał CTS. Sygnał CTS (Clear
to Send - gotów do wysłania) wskazuje, że nośna została włączona, a więc
DTE może rozpocząć transmisję danych. Urządzenie komunikacyjne East
DCE wykrywa sygnał nośnej pochodzący z West DCE i w odpowiedzi wy-
syła sygnał CAR_DET (Carrier Detect - wykrycie nośnej) do terminala East
DTE. Sygnał CAR_DET informuje terminal East DTE, że wkrótce powinien
on otrzymać dane od West DTE.
Terminal East DTE także włącza swój sygnał RTS i w rezultacie rozpoczy-
na się taka sama sekwencja kroków, jak wymieniono powyżej dla termi-
nala West DTE. Sygnał RTS zostanie odebrany przez urządzenie komuni-
kacyjne East DCE i następuje aktywacja jego nośnej przeznaczonej dla
kierunku West. W linii pojawiają się więc obydwa sygnały nośnej. East
DCE wysyła także sygnał CTS do East DTE. West DCE, rozpoznawszy
przychodzącą nośną dla swojego kierunku, włącza CAR_DET dla West

SunSet E20 wersja 1.01 151


ROZDZIAŁ 5 TRANSMISJA DANYCH

DTE. Na tym etapie aktywne są oba sygnały nośnej, lecz nie ma jeszcze
modulacji lub przekazu danych.
Kiedy terminale West DTE i East DTE stwierdzą obecność sygnału CTS, to
mogą rozpocząć transmisję danych poprzez swoje linie nadawcze. Kiedy
West DTE umieszcza dane w swojej linii Tx, to West DCE rozpoczyna mo-
dulowanie swojej nośnej. Dane są wysyłane do urządzenia komunikacyj-
nego East DCE, gdzie są demodulowane i przekazywane na linię odbior-
czą (Rx). Terminal East DTE otrzymuje dokładnie to, co było wysłane
przez West DTE. Podobna procedura ma miejsce wtedy, kiedy terminal
East DTE umieszcza dane na swojej linii Tx. East DCE rozpoczyna mo-
dulację i wysyła informację analogową do West DCE. West DCE demo-
duluje te dane i wysyła je do West DTE przez linię Rx.
Kiedy terminal West DTE wyśle wszystkie dane, to wyłącza swoją linię Tx,
a terminal East DTE wyłącza swoją linię Rx. Terminal West DTE wyłącza
RTS, zaś West DCE wyłącza CTS i deaktywuje swoją nośną. East DCE
wykrywa brak nośnej i wyłącza sygnał CAR_DET. Kiedy East DTE zakoń-
czy transmisję danych, to występuje taka sama sekwencja kroków.

Rys. 122. Procedura wywołania pełnodupleksowego

Protokół warstwy fizycznej


Tak jak to omawiano w przeglądzie technologii ISDN, proces transmisji
danych korzysta z protokółu. Najczęściej używany jest to standard OSI.
W protokole górnej warstwy najczęściej używanymi standardami są
TCP/IP, HDLC i X.25 itp. Warstwa fizyczna ma także szeroki zestaw do-
stępnych standardów. Dla funkcji warstwy fizycznej dominującym stan-
dardem używanym na całym świecie jest V.35.
W naszym przykładzie, aby zilustrować funkcje warstwy fizycznej, posłu-
żymy się złączem szufladowym 34-stykowym V.35. Dla celów tego przy-
kładu DCE i DTE reprezentowane są odpowiednio przez modem i kom-
puter. Na rys. 123 pokazano rozmieszczenie styków w złączu interfejsu
V.35. Poniżej podajemy krótki opis funkcji każdego styku:
• Styk B - uziemienie

152 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 5 TRANSMISJA DANYCH

• Styki P,S i R,T - DTE nadaje dane przez styki P,S i odbiera je ze sty-
ków R,T. Odwrotnie jest dla DCE.
• Styki C i D - DTE może nadawać sygnał RTS do styku C i odbierać
CTS ze styku D, z DCE.
• Styki E i H - kiedy zasilane jest DCE i nie znajduje się w trybie testo-
wym, to DTE odbiera sygnał DSR (gotowość danych) ze styku E. Kiedy
terminal jest gotowy, to wysyła sygnał DTR (gotowość terminala) na
styk H.
• Styk F - na tym styku modem wytwarza sygnał DCD (wykrycie nośnej)
jeśli otrzymuje sygnał z linii telefonicznej, który spełnia jego we-
wnętrzne kryteria dotyczące energii i częstotliwości sygnału nośnego.
• Styk N - inicjuje zdalną pętlę zwrotną (RL).
• Styk L - inicjuje lokalną pętlę zwrotną (LL).
• Styk Y,AA - używany jest do nadawania sygnału zegarowego.
• Styk V,X - używany jest do odbioru sygnału zegarowego.

Rys. 123. Interfejs V.35 ze złączem DB-34

Jako minimum wymagane są podane niżej następujące połączenia sty-


ków między DTE a DCE: P,S; R,T; Y,AA; V,X; i B.
• Styk P,S i R,T są używane przez DTE do nadawania i odbioru danych.
• Styk Y,AA i V,X są używane dla celów przekazu sygnałów zegarowych.
• Styk B jest masą sygnałową dla DTE i DCE.

Menu transmisji danych

Konfiguracja testów dla trybu transmisji danych


Tryb testowy DATACOM pozwala na testowanie używanych standardo-
wych protokołów V.35, RS449, X.21, G.703 i RS232.
• Interfejsy 2,048 Mbit/s są ignorowane.
• Na złączu MULTIPORT można testować tylko sygnały synchroniczne i
asynchroniczne o niskiej szybkości.
• Na rys. 124 przedstawiono ekran konfiguracji trybu DATACOM.

SunSet E20 wersja 1.01 153


ROZDZIAŁ 5 TRANSMISJA DANYCH

Rys. 124. Tryb DATACOM

Tryb testowy DATACOM


Dla trybu DATACOM powinny być skonfigurowane następujące pozycje:
1) INTERFACE (interfejs)
Opcje: V.35 (F1), RS449 (F2), X.21 (F3), G.703 (more, F1), RS232S (more,
F2), RS232A (more, F3).
Wybrany opcja określa interfejs elektryczny w multiporcie.
• Należy nacisnąć odpowiedni przycisk funkcyjny odpowiadający żąda-
nemu rodzajowi interfejsu:
- RS449 (F2) jest analogiczny do V.36
- X.21 (F3) do V.11
- RS232 (more, F2 lub F3) jest analogiczny do V.24
• RS232A oznacza tryb asynchroniczny, zaś RS232S - synchroniczny.
2) MODE (tryb pracy)
Opcje: DTE (F1), DCE (F2), MON (F3)
Opcje parametru MODE zależą od rodzaju interfejsu wybranego w wier-
szu powyżej:
Dla V.35, RS449, X.21, RS232A/S:
• Należy wybrać DTE (F1) aby emulować terminal danych przy podłą-
czaniu testera do urządzenia komunikacyjnego (DCE).
• Należy wybrać DCE (F2) aby emulować urządzenie komunikacyjne
przy podłączaniu testera do urządzenia DTE.
Dla trybu G.703 wartość parametru MODE wymuszona jest jako CO-DIR
(współkierunkowy).
Uwaga:
Należy upewnić się, czy używamy złączy specyficznych dla testera SunSet
E20 (SS253/Y, SS254/Y, SS255/Y, SS256B, SS262, SS267/Y); inne złą-
cza mogą wyglądać podobnie (np. te dostarczane dla testera SunSet E8
lub E10), lecz wewnątrz mogą się różnić w znacznym stopniu. Nie należy

154 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 5 TRANSMISJA DANYCH

zwłaszcza używać złącza SS252 do testowania DTE lub DCE za pomocą


testera SunSet E20.
Uwagi:
• W niektórych przypadkach SunSet E20 może przeciążyć linie trans-
misji danych w trybie monitorowania dwukierunkowego.
• Podczas monitorowania V.35 i RS449 tester włączy rezystor obciąża-
jący linię, powodując podwójne jej obciążenie i zaburzając amplitudę
sygnału.
3) TEST RATE (przepływność)
Opcje: zależne od wybranego trybu pracy (MODE):

MODE F1 F2 F3 F4
V.35 300 600 1200 more
RS449, RS232A, 2400 4800 9600 more
RS232S 14.4k 19.2k 38.4k more
X.21 48k Nx56k Nx64k more

Dla trybu G.703 dostępna jest tylko opcja N×64K. Można wybierać z
przepływność z zakresu (1-8)×64k.
• Należy wybrać żądaną przepływność obwodu, który ma być testowa-
ny, przez naciśnięcie odpowiedniego przycisku funkcyjnego dla trybów
V.35, RS449 i X.21. RS232 wspomaga tylko przepływność 1×64k.
1) Kursor ustawić na żądanym mnożniku przepływności. Na przy-
kład, jeśli wybierzemy 10, tak, jak to jest pokazane na rysunku
powyżej, otrzymamy prędkość 10×64k (lub 10×56k).
2) Nacisnąć ENTER lub ESCAPE aby powrócić do ekranu TEST
CONFIGURATION.
• Jeśli wybierzemy Nx56K lub Nx64K, to wejdziemy do ekranu wyboru
przepływności (SELECT RATE):

Rys. 125. Wybieranie przepływności ułamkowej

Należy zwrócić uwagę, że jeśli w trybie G.703 próbujemy wybrać


mnożnik 9 lub powyżej, to zobaczymy komunikat "Not valid for G.703"
(niewłaściwy dla G.703).

SunSet E20 wersja 1.01 155


ROZDZIAŁ 5 TRANSMISJA DANYCH

4) Tx DATA CLK (źródło sygnału zegarowego)


Opcje: INTERN (F1), RECEIVE (F2)
Określa źródło transmitowanego sygnału zegara.
Uwaga: Zegar odnosi się tylko do transmisji synchronicznej, a więc nie
dla sygnałów asynchronicznych RS232.
Dla X.21 (gdzie DTE jest automatycznie taktowane sygnałem od-
bieranym i DCE jest automatycznie taktowane sygnałem we-
wnętrznym) pozycja ta nie będzie pojawiała się w menu.
• Aby wybrać wewnętrzny zegar testera należy nacisnąć INTERN (F1).
Zestaw staje się źródłem nadrzędnego sygnału zegarowego dla łącza.
• Aby użyć sygnału otrzymanego na multiporcie jako źródła zegara sy-
gnału transmisji należy nacisnąć RECEIVE (F2). Tester jest wówczas
podrzędnym odmierzaniem czasu.
• Dla urządzenia DCE parametr TxDATA CLK jest ustawiany domyślnie
na INTERN.
• Dla urządzenia DTE parametr TxDATA CLK jest ustawiany domyślnie
na RECEIVE.
5) CLK POLAR (polaryzacja sygnału zegarowego)
Opcje: NORMAL (F1), INVERT (F2)
• Polaryzacja sygnału zegarowego wpływa jednocześnie zarówno na TX,
jak i na RX.
• Jeśli jako CLK POLAR jest ustawiona wartość INVERT (polaryzacja
odwrócona), to tester będzie traktował dane odbierane tak, jakby
miały różnicę fazy równą 180 stopni w stosunku do sygnału zegaro-
wego i wysyłał dane z różnicą fazową 180 stopni w stosunku do zega-
ra.
• Jeśli jako CLK POLAR jest ustawiona wartość NORMAL (polaryzacja
normalna), to dane odbierane i wysyłane przez tester będą w syn-
chronizacji z sygnałem zegarowym.
Poniższe trzy pozycje odnoszą się tylko do asynchronicznej transmisji da-
nych. Pojawiają się one w menu po wybraniu trybu RS232A.

Rys. 126. Ekran konfiguracji transmisji danych RS232A

156 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 5 TRANSMISJA DANYCH

6) BIT/CHAR (liczba bitów na znak)


Opcje: 6 (F1), 7 (F2), 8 (F3)
Określa ile bitów będzie transmitowanych dla każdego znaku danych.
7) STOP BITS (bity stopu)
Opcje: 1 (F1), 2 (F2)
Określa ile bitów stopu będzie transmitowanych dla każdego znaku in-
formacji.
• Bit stopu oznacza koniec bajtu.
8) PARITY (parzystość)
Opcje: EVEN (F1), ODD (F2), NONE (F3)
Określa ile bitów parzystości jest transmitowanych dla każdego znaku
informacji.
Parzystość jest metodą sprawdzania poprawności nadawanych lub odbie-
ranych danych. Bit dodatkowy, zwany bitem parzystości, jest dodawany
do danych w celu sprawdzenia ich poprawności:
• W parzystości ujemnej (ODD) łączna liczba jedynek (włączając dodany
bit parzystości) jest nieparzysta.
• W parzystości parzystej (EVEN) łączna liczba jedynek (włączając do-
dany bit parzystości) jest parzysta.
• Brak bitu parzystości (NONE) oznacza brak sprawdzania parzystości.
Element odbiorczy sprawdza bit parzystości i sygnalizuje błąd jeśli łączna
liczba jedynek nie tworzy poprawnej całości.
9) USER LED 1/2 (diody 1/2 użytkownika)
Opcje: Zależy od rodzaju (TYPE) i trybu (MODE) transmisji; patrz poniższa
tabela. Dalsze wyjaśnienia podane są w następnej sekcji.
Pozwala na wybór stanów linii sterujących interfejsu, które mają być sy-
gnalizowane przez diody użytkownika (USER LED).
Asynchro-
DTE/DCE Synchroniczny
niczny
Linia RS232 RS232/V.24 V.35 X.21 RS449/V.36 EIA530/RS422
DSR X X X X X
DTR X X X X X
DCD X X X X X
T(REF)CLK X X X X
TxCLK X X X X
RxCLK X X X X
RL X X X X X
LL X X X X X
C X
I X
S X

SunSet E20 wersja 1.01 157


ROZDZIAŁ 5 TRANSMISJA DANYCH

Interfejs transmisji danych


Gdy w menu TEST CONFIGURATION wybraliśmy E1-MUX, MUXTEST lub
tryb DATACOM, to w menu głównym (MAIN MENU) pojawia się pozycja
DATACOM INTERFACE (interfejs transmisji danych).

Rys. 127. Menu główne - interfejs transmisji danych

Po przejściu do pozycji DATACOM INTERFACE otwiera się ekran analizy


zależności czasowych (DATACOM TIMING ANALYSIS).

Rys. 128. Menu analizy zależności czasowych dla transmisji danych

Śledzenie na żywo (LIVE TRACER)


Ekran LIVE TRACER podaje tryb (MODE) i rodzaj (TYPE) transmisji wy-
brany w menu TEST CONFIGURATION oraz otrzymane sygnały. Pozwala
także na włączanie i wyłączanie nadawania określonych sygnałów - patrz
rys. 129.

158 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 5 TRANSMISJA DANYCH

Rys. 129. Ekran grafiki dla interfejsu transmisji danych

• Sygnały dostępne na tym ekranie zależą od wybranego trybu (MODE) i


rodzaju (TYPE) transmisji.
Na przykład, jeśli tryb jest ustawiony na DTE (tak, jak na rys. 129), to
tester emuluje terminal danych (Data Terminal Equipment).
• Dla trybu DCE, w przypadku interfejsów V.35, RS449 i RS232 można
ustawiać następujące nadawcze linie sterujące:
CTS (Clear To Send - gotowość do nadawania)
DSR (Data Set Ready - gotowość danych)
DCD (Data Carrier Detect - wykrycie nośnej)
• Dla trybu DTE, w przypadku interfejsów V.35, RS449 i RS232 można
monitorować następujące odbiorcze linie sterujące:
RTS (Request To Send - żądanie wysłania danych)
DTR (Data Terminal Ready - gotowość terminala danych)
RL (Remote Loopback - zdalna pętla zwrotna)
LL (Local Loopback - lokalna pętla zwrotna)
• Dla interfejsów V.35, RS449 i RS232, gdy tryb ustawiony jest na DTE,
tester emuluje terminal danych.
Sygnały odbierane i nadawane są tu zamienione miejscami:
CTS, DSR i DCD są teraz sygnałami odbieranymi do monitorowania,
RTS, DTR, RL i LL mogą być ustawiane dla transmisji.
• Dla X.21 sygnały nadawany i odbierany zmieniają się miejscami:
Sygnał C, (Control - sterowanie) jest traktowany jako sygnał przycho-
dzący dla trybu DCE i jako sygnał wychodzący dla trybu DTE.
Sygnał I, (Indication - wskaźnik) jest sygnałem wychodzącym dla DCE
i sygnałem przychodzącym dla DTE.
Uwaga: Jeśli trybem testowym jest E1-MUX, to tester zawsze emuluje
urządzenie transmisji danych (Data Circuit Equipment - DCE).
Dlatego w tym trybie CTS, DSR i DCD będą zawsze sygnałami
wychodzącymi.
Jeśli trybem testowym jest MUXTEST, to tester zawsze emuluje
terminal danych (Data Terminal Equipment - DTE). Dlatego

SunSet E20 wersja 1.01 159


ROZDZIAŁ 5 TRANSMISJA DANYCH

w tym trybie sygnałami wychodzącymi będą zawsze RTS, DTR RL


i LL.
Kiedy wybrany jest tryb G.703, to ekran DATACOM INTERFACE
nie jest dostępny.

Zależności czasowe przy transmisji danych


Zależności czasowe w analizie transmisji danych stanowią często punkt
krytyczny. Ta właściwość testera pozwala na zmianę stanu linii sterują-
cych i na obserwowanie czasu odpowiedzi systemu. Użytkownik może
także obserwować jak długo była aktywna każda linia sterująca interfejsu
transmisji danych i w jakim stanie się ona znajdowała - patrz rys. 130.
a) Należy obserwować każdą linię sterującą i jej stan (aktywny albo nie-
aktywny - ON/OFF); wskazany na wykresie. Wykres zakończony
strzałką wskazuje, że tester przechwytuje dane przebiegu.
• Linie dostępne dla obserwacji zależą od ustawień rodzaju interfej-
su (TYPE) i trybu pracy (MODE).
b) Stan linii RTS, RL, DTR i LL można zmieniać w następujący sposób:
• Używając przycisków ze strzałkami przesunąć kursor na oznacze-
nie linii sterującej, której stan chcemy zmienić.
• Aby zmienić stan należy nacisnąć przycisk ON (F1) lub OFF (F2).
Dostępne są tu następujące przyciski funkcyjne:
• ON (F1), OFF (F2): należy nacisnąć, aby zmienić stan zaznaczonej li-
nii.
• FREEZE/RESUME (F3): nacisnąć aby zatrzymać lub rozpocząć wy-
świetlanie danych o stanie linii sterujących.
• TABLE/GRAPH (F4): przycisk ten należy nacisnąć aby zmienić sposób
prezentacji danych. Ekran tabelaryczny jest pokazany na rys. 130.

Rys. 130. Interfejs transmisji danych - tabela

• W trybie TABLE w każdym wierszu jest także wyświetlany czas ostat-


niej zmiany stanu danej linii sterującej.
• TRIGON (more, F1): należy nacisnąć ten przycisk, aby ustawić wy-
zwalanie: dzięki temu tester SunSet wychwyci tylko specyficzne, po-

160 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 5 TRANSMISJA DANYCH

szukiwane dane. Na przykład, zjawiskiem wyzwalającym może być


utrata danych, czyli zmiana stanu na opadającym zboczu linii DTR.

Rys. 131. Moment wyzwalania testera

Start wyzwalania
1) LEAD
Opcje: RTS (F1), CTS (F2), DTR (F3), DST (more, F1), DCD (more, F2),
RL (more, F3), LL (more, F1).
Określa, który sygnał sterujący będzie przechwytywany.
2) EDGE
Opcje: RISING (F1), FALLING (F2)
Określa zbocze, które należy obserwować, aby wychwycić zmianę sta-
nu.
3) Po naciśnięciu ENTER tester rozpocznie szukanie zmiany stanu zdefi-
niowanej w powyższych parametrach LEAD i EDGE. Nastąpi powrót do
ekranu podstawowego, a na górze ekranu pojawi się wskaźnik Trig,
informujący, że tester pracuje w trybie wyzwalanym (TRIGGER). Aby
powrócić do wyświetlania bez wyzwalania należy nacisnąć ESCAPE.
a) Jeśli zostanie wykryta zmiana stanu, to tester SunSet E20 zapre-
zentuje dane.
b) Jeśli wybrane jest FREEZE, to pojawią się nowe przyciski funkcyj-
ne:
• Należy użyć przycisków PREVIUS (F1) i NEXT (F2) aby prze-
suwać się po stronach z danymi. Dla każdej zmiany stanu do-
stępna jest oddzielna strona.

Podgląd / wydruk bufora


Pozwala na podgląd lub wydruk danych przechwyconych w ciągu ostat-
nich 40 sekund badania stanu linii sterujących dla trybu graficznego lub
do 100 stron danych dla trybu tabelarycznego. Na tym ekranie pokazana
jest także łączna liczba stron danych. Na następnym rysunku pokazano
przykładowy ekran:

SunSet E20 wersja 1.01 161


ROZDZIAŁ 5 TRANSMISJA DANYCH

Rys. 132. Podgląd lub wydruk bufora

1) W wierszach FROM (od) i TO (do) należy wybrać liczbę stron, które


chcemy oglądać.
2) Wybrać, czy chcemy oglądać wyniki w formacie graficznym (GRAPHIC)
(F1) czy tabelarycznym (TABLE) (F2).
3) Wybrać rodzaj działania, które chcemy przeprowadzić; nacisnąć CLR
ALL (F1) aby usunąć wszystkie wyniki, nacisnąć PRINT (F2), aby
wdrukować wszystkie zachowane wyniki lub nacisnąć VIEW (F3, aby
obejrzeć wyniki.
Objaśnienie danych znajduje się w następnej sekcji.

Wyniki pomiarów dla testów transmisji danych


• Pozwalają na obserwację transmisji danych dla dwóch kierunków.
• Dla transmisji danych dostępne są 3 strony wyników pomiarowych.
• W rozdziale 3 podane są definicje wyników pomiarowych.
Na rys. 133 pokazano ekran zawierający podsumowanie wyników testów
transmisji danych (DATACOM-SUMMARY). Patrz także rys. 134, na któ-
rym pokazano wyniki pomiarów błędów bitowych oraz rys. 135, na któ-
rym pokazano stronę 2 wyników pomiarów błędów blokowych.
Ekran wyników zawiera pewne informacje wspólne:
TYPE (rodzaj): jest to rodzaj transmisji danych, wybrany w menu TEST
CONFIGURATION.
MODE (tryb): jest tryb pracy wybrany w menu TEST CONFIGURATION.
TxHz: jest to szybkość wysyłania danych w kilohercach.
RxHz: jest to szybkość odbioru danych, w hercach.

162 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 5 TRANSMISJA DANYCH

Rys. 133. Wyniki łączne transmisji danych

Poniżej podajemy definicje specyficzne dla tego ekranu:


RxDL: liczba zaobserwowanych przypadków utraty danych.
RxDLS: liczba sekund, w których wystąpiła utrata danych.
PATL: liczba zaobserwowanych przypadków utraty wzorca bitowego.
PATLS: liczba sekund, w których wystąpiła utrata wzorca bitowego.

Rys. 134. Wyniki pomiarów transmisji danych, strona 2

Definicjami wyników specyficznych dla tego ekranu są:


SLIP: liczba zaobserwowanych przypadków poślizgu wzorca bitowego.

SunSet E20 wersja 1.01 163


ROZDZIAŁ 5 TRANSMISJA DANYCH

Rys. 135. Wyniki pomiarów transmisji danych, strona 3

Definicjami specyficznymi dla tego ekranu są:


# OF BLOCKS: łączna liczba otrzymanych bloków.
BLOCK ERROR: ilość bloków, które zawierają jakieś błędy bitowe.
BLK ERR RATE: względna liczba bloków odebranych z błędami odniesiona
do całkowitej liczby bloków odebranych (# OF BLOCKS).
Poniżej pokazano ekran podsumowujący DATAMON:

Rys. 136. Wyniki DATAMON

Poniżej podajemy wyniki specyficzne dla tego ekranu:


RxPA: Jest to wzorzec odebrany; na rys. 136 jest to 1010.
Ekran DATAMON pokazuje błędy bitowe wg G.821, podobnie jak na rys.
134, zarówno dla strony DTE i DCE.

164 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 5 TRANSMISJA DANYCH

Inne pomiary
Informacje, jak należy używać X.50 podane są w osobnym rozdziale.

Podgląd odebranych danych


• Pozwala na obserwację wartości każdego odebranego bajtu.
• Aby przesuwać się po wynikach należy używać przycisków PAGE-UP
(F1) i PAGE-DN (F2).
• Aby zatrzymać aktualizację wyników dla łatwiejszej obserwacji należy
nacisnąć przycisk PAUSE (F3), a następnie RESUME (F3) aby konty-
nuować prezentację danych na żywo.

Rys. 137. Ekran VIEW RECEIVED DATA

Opóźnienie propagacji
Ekran wyników pomiarów opóźnienia propagacji pokazany na rys. 138
przedstawia opóźnienie sygnału w pętli zwrotnej. Aby tester mógł wyko-
nać ten rodzaj pomiaru, w obwodzie musi być włączona pętla zwrotna na
odległym końcu łącza.

Rys. 138. Opóźnienie propagacji

SunSet E20 wersja 1.01 165


ROZDZIAŁ 5 TRANSMISJA DANYCH

Zestaw pomiarowy mierzy liczbę interwałów jednostkowych wymaganych


dla przejścia sygnału do końca łącza i z powrotem. Liczba ta jest zamie-
niana na dokładny czas przejścia w mikrosekundach. Interwał jednost-
kowy (Unit Interval - UI) odpowiada 0,488 µs przy przepływności 2,048
Mbit/s. Tester będzie mógł mierzyć opóźnienia do pięciu sekund przy
przepływności 2,048 Mbit/s; przedstawiając 10240000 interwałów jed-
nostkowych. Należy użyć poniższej procedury:
1) W MAIN MENU przesunąć kursor do OTHER MEASUREMENTS i naci-
snąć ENTER.
2) Przesunąć kursor na PROPAGATION DELAY, nacisnąć ENTER.
3) Pomiar opóźnienia propagacji będzie automatycznie wykonywany i
wyświetlany.
• Nacisnąć CALIB (F2) jeśli na linii mamy więcej niż jedno urządzenie z
pętlą zwrotną i chcemy skalibrować ponownie pomiar, aby zobaczyć
opóźnienie propagacji między dwoma urządzeniami z wyłączeniem te-
stera SunSet E20. Aby zobaczyć opóźnienie tylko między dwoma
urządzeniami należy obserwować OFFSET (mierząc opóźnienie między
testerem E20 a urządzeniem 1). Aby przeprowadzać dalsze pomiary
wzdłuż linii należy nacisnąć CALIB.
• Aby wykonać inny pomiar opóźnienia propagacji (jeśli jest on ko-
nieczny), należy nacisnąć przycisk RESTART (F1).

Protokoły

Frame Relay
Uwagi dotyczące używania funkcji Frame Relay zawarte są w oddzielnej
instrukcji poświęconej temu zagadnieniu.

Rozkład styków w interfejsach do transmisji danych


Rysunki przedstawione na następnych stronach niniejszej instrukcji po-
kazują styki interfejsu transmisji danych. Dostępne są następujące in-
terfejsy:
• V.35 (ISO 2593)
• G.703 współkierunkowy
• RS-449 (ISO 4902)
• X.21 (ISO 4903)
• RS-232 (ISO 2110)
• RS-530 (ISO 2110)

166 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 5 TRANSMISJA DANYCH

Rys. 139. Rozkład styków w interfejsie V.35

Rys. 140. Rozkład styków w interfejsie RS232

SunSet E20 wersja 1.01 167


ROZDZIAŁ 5 TRANSMISJA DANYCH

Rys. 141. Rozkład styków w interfejsie X.21

Rys. 142. Rozkład styków w interfejsie G.703

168 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 5 TRANSMISJA DANYCH

Rys. 143. Rozkład styków w interfejsie RS-449

Rys. 144. Rozkład styków w interfejsie RS530

SunSet E20 wersja 1.01 169


ROZDZIAŁ 5 TRANSMISJA DANYCH

Zastosowania

Testy transmisji danych "punkt - punkt"


Transmisja danych odbywa się z wykorzystaniem standardowego interfej-
su między dwoma urządzeniami, które mają się komunikować ze sobą.
Na przykład powszechnie stosowanym interfejsem jest V.35 i taki interfejs
będzie użyty w naszym przykładzie.
• Do wysyłania i odbioru sygnałów należy użyć testera SunSet E20 oraz
innego sprzętu transmisji danych.
Używamy poniższej procedury:
1) Upewnić się, czy obwód transmisji danych nie pracuje. Test ten za-
kłóca pracę łącza.
2) Z MAIN MENU wejść do TEST CONFIGURATION.
3) Interfejs skonfigurować jak niżej:
TEST MODE : DATACOM
TYPE : V.35
MODE : DTE
TEST RATE : jak w specyfikacji łącza
TxDATA CLK : RECEIVE
CLK POLAR : jak w specyfikacji łącza
USER LED 1/2 : wg potrzeby
Uwaga: Jeśli tester musi dostarczać sygnał zegarowy, to jako źródło tego
sygnału należy wybrać INTERN dla TxDATA CLK. Jeśli tester
powinien śledzić sygnał zegarowy z sieci, to należy wybrać
RECEIVE.
4) Podłączyć tester SunSet E20 do obwodu tak, jak to pokazano na rys.
145.

170 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 5 TRANSMISJA DANYCH

Rys. 145. Test transmisji danych V.35

5) Aby powrócić do MAIN MENU należy nacisnąć ENTER.


a) Wybrać pozycję DATACOM INTERFACE i nacisnąć ENTER.
b) Wejść do ekranu LIVE TRACER.

SunSet E20 wersja 1.01 171


ROZDZIAŁ 5 TRANSMISJA DANYCH

6) Sprawdzić stan linii sterujących. Warunki są zdefiniowane jak niżej:


CTS : Clear to Send (gotowość nadawania)
DSR : Data Set Ready (gotowość danych)
DCD : Data Carrier Detect (wykrywanie nośnej)
7) Po stronie nadawczej sprawdzić, czy inne urządzenie transmisji da-
nych otrzymuje sygnał z testera SunSet, włączając (ON) lub wyłącza-
jąc (OFF) następujące sygnały:
RTS : Ready To Send (gotowość do wysyłania)
DTR : Data Terminal Ready (gotowość terminala danych)
8) Upewnić się, czy w obydwu testerach świeci się zielona dioda PAT
SYNC.
9) Wyjść do MAIN MENU, kursor ustawić na pozycji MEASUREMENT
RESULTS i nacisnąć ENTER. Obejrzeć informacje pomiarowe.
a) Sprawdzić, czy RxHz odpowiada ustawionemu TxHz.
b) Sprawdzić, czy nie ma poślizgów lub błędów.
10) Sprawdzić, czy można wprowadzić błąd bitowy:
a) Nacisnąć przycisk ERR INJ.
b) Potwierdzić, że błąd został wykryty przez tester SunSet E20.

Test portu transmisji danych multipleksera 2M


• Pozwala na sprawdzanie portu transmisji danych multipleksera 2M
dla niskiej przepływności przy użyciu testera E20 w trybie DATACOM.
1) Włączyć tester SunSet używając czerwonego przycisku POWER poło-
żonego z lewej, dolnej strony klawiatury.
2) Z MAIN MENU wejść do ekranu TEST CONFIGURATION. Wybrać tryb
DATACOM. Skonfigurować pozostałe ustawienia jak niżej:
TYPE : używany rodzaj interfejsu
MODE : DTE
TEST RATE : wg wymagań
TxDATA CLK : RECEIVE
CLK POLAR : jak w specyfikacji łącza
USER LED 1/2 : wg wymagań
3) Kiedy ustawienia są poprawne nacisnąć ENTER.
4) Podłączyć tester do obwodu tak, jak to pokazano na rys. 146.

Rys. 146. Test portu transmisji danych multipleksera 2M

• Nacisnąć przycisk LED aby potwierdzić i wyłączyć migocące sygnali-


zatory.

172 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 5 TRANSMISJA DANYCH

5) Z MAIN MENU przejść do DATACOM INTERFACE.


a) Wejść do ekranu LIVE TRACER.
b) Sprawdzić, czy w pozycji DATA (dane) po stronie odbiorczej wy-
świetla się wartość LIVE.
6) Wprowadzić błąd z testera używając przycisku ERR INJ.
• Można sprawdzić, czy błąd ten wraca do testera patrząc, czy dioda
BIT ERROR świeci na czerwono.
• Można także wejść do MEASUREMENT RESULTS (z poziomu MAIN
MENU) i upewnić się, czy błąd został zarejestrowany.
7) W ten sposób sprawdziliśmy port transmisji danych o małej przepływ-
ności w multiplekserze 2M.

Monitorowanie transmisji danych


Monitorowanie dwustronne transmisji danych może być bardzo użytecz-
ne. W tym przykładzie jako interfejsu użyjemy RS449. Należy pamiętać,
że w RS449 i V.35 będzie obecne monitorowanie rezystora obciążeniowe-
go, które może spowodować podwójne obciążenie i wpłynąć na sygnał
amplitudowy. Należy postępować zgodnie z poniższą procedurą:
1) Skonfigurować tester jak niżej:
TEST MODE : DATACOM
INTERFACE : RS449
MODE : MON
USER LED 1/2 : wg wymagań
a) Nacisnąć ENTER.
2) Podłączyć tester SunSet E20 zarówno do urządzenia DCE, jak i DTE
używając kabla rozgałęziającego (SS255Y dla RS449), tak jak to poka-
zano na rys. 147.

Rys. 147. Monitorowanie transmisji danych

3) Wejść do DATACOM INTERFACE/LIVE TRACER.


a) Obserwować jak zmieniają się stany linii sterujących.
Warunki obserwacji powinny być zdefiniowane jak niżej:
RTS (Request To Send - żądanie wysłania danych)
CTS : Clear to Send (gotowość nadawania)
DTR (Data Terminal Ready - gotowość terminala danych)
DSR : Data Set Ready (gotowość danych)

SunSet E20 wersja 1.01 173


ROZDZIAŁ 5 TRANSMISJA DANYCH

DCD : Data Carrier Detect (wykrywanie nośnej)


RL (Remote Loopback - zdalna pętla zwrotna)
LL (Local Loopback - lokalna pętla zwrotna)
b) Jeśli to konieczne, należy nacisnąć TRIGON (F2) i wybrać wyzwa-
lanie; LEAD i EDGE, np. sygnałem DCD na zboczu narastającym
(RISING) aby zobaczyć, czy wykrywana jest nośna, a następnie
nacisnąć ENTER. Obserwować zdarzenia związane z wyzwalaniem.
4) Wejść do menu MEASUREMENT RESULTS.
a) Sprawdzić RxHz.
b) Sprawdzić, czy nie nastąpiła utrata danych i czy nie ma błędów.
c) Ekrany wyników można oglądać używając przycisków F1 i F2.
Można obserwować wyniki dla urządzeń DTE i DCE. Na ekranie
DCE powinniśmy zobaczyć zarejestrowany jeden błąd bitowy.
d) Powtórzyć procedurę, tym razem wprowadzając dane z DCE do
DTE i obserwując ekran DTE wg G.821.

Lokalizacja uszkodzenia za pomocą zdalnej i lokalnej pętli zwrotnej


Zastosowanie to umożliwia lokalizację usterek przy użyciu właściwości
zdalnej pętli i lokalnej pętli zwrotnej oraz testera SunSet E20. Na rys. 148
pokazano konfigurację połączeń dla takiego zastosowania testera.

Rys. 148. Pętle zwrotne: lokalna i zdalna

1) Z MAIN MENU wejść do TEST CONFIGURATION.


a) Jako TEST MODE wybrać tryb DATACOM.
b) Skonfigurować pozostałe parametry jak niżej:
TYPE : używany rodzaj interfejsu
MODE : DTE
RATE : wg wymagań modemu
TxDATA CLK : INTERN
CLK POLAR : NORMAL
USER LED 1/2 : wg wymagań
c) Gdy ustawienia są poprawne nacisnąć ENTER.

174 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 5 TRANSMISJA DANYCH

2) Podłączyć tester do badanego modemu.


3) Z MAIN MENU wejść do DATACOM INTERFACE.
a) Upewnić się, czy wyjściowe linie sterujące RTS i DTR są włączone.
Jeśli nie, umieścić kursor na symbolu linii i nacisnąć przycisk ON
(F1).
b) Kursor ustawić na pozycji LL (pętla lokalna) i nacisnąć na ON
(F1). Powinno to uaktywnić pętlę w modemie; powinna zaświecić
się dioda sygnalizująca odbiór danych. Jeśli dioda odbioru danych
modemu zaświeci się, lecz nie zaświeci się dioda transmisji da-
nych, to oznacza to, że testowany modem jest uszkodzony ponie-
waż nie może on przekazywać otrzymanych danych z powrotem do
testera SunSet E20.
4) Wejść ponownie do MAIN MENU i przejść do ekranu MEASUREMENT
RESULTS.
a) Upewnić się, czy RxHz zgadza się z przepływnością ustawioną w
testerze. Jeśli istnieje rozbieżność, to modem ma problem z re-
transmisją sygnału zegarowego.
5) Upewnić się, czy wzorce odbierany i nadawany są takie same i czy
dioda PAT SYNC świeci na zielono. Jeśli nie, należy spróbować przyci-
skać przycisk AUTO. Jeśli dioda jest w dalszym ciągu czerwona, to
może istnieć problem ze strony modemu, który regeneruje wzorzec.
6) Przetestować poprawność działania pętli naciskając przycisk ERR INJ.
a) Upewnić się, czy błędy wracają do nas z powrotem. Dioda BIT
ERROR powinna świecić na czerwono i błąd bitowy powinien być
zarejestrowany w MEASUREMENT RESULTS.
7) Jeśli powyższe kroki zakończyły się powodzeniem, to oznacza, że mo-
dem lokalny nie jest uszkodzony.
a) Należy powrócić do ekranu DATACOM INTERFACE i wyłączyć pętlę
lokalną.
Teraz, kiedy ustaliliśmy, że problem nie leży po stronie modemu lokalne-
go, powinniśmy przetestować modem na odległym końcu za pomocą
zdalnej pętli zwrotnej.
8) Aby przetestować zdalną pętlę zwrotną, należy upewnić się, że modem
na odległym końcu ma możliwość włączenia pętli zwrotnej na interfej-
sie (upewnić się, czy modem może zapętlić sygnały TxDATA na RxDA-
TA i także TxCLK, RxCLK i TCLK).
9) Aby użyć modemu, może okazać się konieczne podłączenie kompute-
ra, aby wybrał numer. Kiedy ustanowiono połączenie, należy odłączyć
komputer i zamienić go złączem transmisji danych testera SunSet
E20.
Uwaga: Może być także konieczne aby ustawić za pomocą komputera li-
nię DTR tak, aby była zawsze włączona, aby nie dopuścić do za-
niku sygnału podczas podłączania modemu do złącza transmisji
danych testera E20.
10) Wyjść z MAIN MENU.
a) Wejść do menu DATACOM INTERFACE.

SunSet E20 wersja 1.01 175


ROZDZIAŁ 5 TRANSMISJA DANYCH

b) Upewnić się, że linie RTS i DTR są włączone. Jeśli nie, kursor na-
leży ustawić na odpowiednim symbolu i nacisnąć przycisk ON
(F1).
c) Ustawić kursor na RL (pętla zdalna) i nacisnąć przycisk ON (F1).
11) Wyjść ponownie do MAIN MENU i przejść do ekranu MEASUREMENT
RESULTS.
a) Upewnić się, czy RxHz odpowiada przepływności ustawionej w te-
sterze. Jeśli mamy za małą wartość RxHz, to sygnał zegarowy nie
jest odbierany prawidłowo z modemu na odległym końcu.
b) Upewnić się, czy błędy przychodzą z powrotem. Dioda BIT ERROR
powinna świecić na czerwono i błąd bitowy powinien być zareje-
strowany w MEASUREMENT RESULTS. Jeśli tak jest, to linia tele-
foniczna i modem na odległym końcu pracują prawidłowo.
12) Jeśli nasz test BERT nie powiódł się, wskazuje to na problem bądź to
z linią telefoniczną lub modemem na odległym końcu. Aby przetesto-
wać modem na odległym końcu, należy przeprowadzić test lokalnej
pętli zwrotnej na tym końcu, postępując zgodnie z procedurą wymie-
nioną w punktach 4 - 9. Jeśli są problemy z lokalną pętlą zwrotną, to
są także problemy z linią telefoniczną. Jeśli występują problemy, to
modem jest uszkodzony.

176 SunSet E20 wersja 1.01


Rozdział 6 Przegląd technologii

Przegląd technologii E1

Wstęp
W rozdziale tym omówiono podstawowe zagadnienia dotyczące technologii
2,048 Mbit/s: próbkowanie sygnału, przetwarzanie tej informacji na
strumień bitów i dzielenie strumienia bitów na segmenty (kanały). Roz-
dział ten także porusza podstawy technologii sygnalizacji takie jak MFR2 i
CAS.

Zalecenia techniczne
Technologia transmisyjna E1 jest zdefiniowana w szeregu zaleceń tech-
nicznych. Takie standardy pozwalają projektantom sprzętu i dostarczy-
cielom usług na zapewnienie, że różne elementy sprzętu są kompatybilne
i że sieci pracują w odpowiedni i dający przewidzieć się sposób.
Poniższe zalecenia obejmują wiele ważnych aspektów technologii trans-
misyjnej E1:
– ITU G.703 Fizyczna i elektryczna charakterystyka interfejsów
– ITU G.704 Struktury ramki
– ITU G.706 Synchronizacja ramek i cykliczna kontrola redundancji
– ITU G.821 Wymagania dotyczące błędów w połączeniach międzyna-
rodowych
– ITU G.826
– ITU M.550/M.2100 Uruchamianie połączenia międzynarodowego
– Q.140
– Q.400
Gdy potrzebujemy dokładnej informacji na temat szczególnych aspektów
technologii transmisyjnej E1, to należy odwołać się do tych zaleceń.

Definicje podstawowe
Dane binarne:
Sygnał, który został przetworzony na format zero-jedynkowy.
Strumień bitowy:
Dane binarne, które zostały umieszczone w sekwencji ze stałą przepływ-
nością.
Kanał:
Pojedyncza porcja strumienia bitowego, która jest dostępna dla łączności
dwukierunkowej.

SunSet E20 wersja 1.01 177


ROZDZIAŁ 6 PRZEGLĄD TECHNOLOGII

Przetwarzanie sygnału głosowego


Aby przekazywać głos w medium cyfrowym takim jak linia 2,048 Mbit/s,
najpierw musimy zakodować analogowy sygnał głosowy do postaci binar-
nej, a następnie musimy przetworzyć go na strumień bitowy odpowiedni
dla transmisji cyfrowej.
Przetworzenie to może być osiągnięte za pomocą modulacji kodowo- im-
pulsowej (Pulse Code Modulation) - patrz rys. 149.

Rys. 149. Przetwarzanie sygnału głosowego

Kryterium Nyquista wymaga, aby sygnał był próbkowany z częstotliwo-


ścią dwukrotnie większą niż maksymalna częstotliwość sygnału, aby
można do reprodukować bez utraty informacji. Dla sygnałów głosowych,
maksymalna częstotliwość to około 4000 Hz. Zapewnia to odpowiednią
czystość przy zachowaniu szerokości pasma nadawczego. Dlatego musi-
my próbkować nasz sygnał głosowy 4000 Hz z częstotliwością 8000 Hz
(8000 próbek/sekundę).
Amplituda analogowego sygnału głosowego jest próbkowana 8000 razy na
sekundę. Każda wartość amplitudowa jest wyrażona jako 8 bitowe "słowo"
kodowe. Te 8-bitowe słowa pojawiające się 8000 razy na sekundę tworzą
cyfrowy strumień bitowy 64 kbit/s.
8-bitowe słowo kodowe jest tworzone przez porównanie amplitudy próbki
analogowej z "charakterystyką kompansji" (companding characteristic).
Charakterystyka kompansji jest reprezentowana przez równanie zamie-
niające amplitudy próbek na 8-bitowe słowa kodowe. Na całym świecie
używana jest charakterystyka kompansji znana jako "A-law". Charakte-
rystyka A-law zapewnia optymalną wartość stosunku sygnału do szumu
w szerokim zakresie poziomów sygnału. Kodowanie z charakterystyką li-
niową daje gorszy stosunek sygnału do szumu na poziomie -20 dB typo-
wym dla mowy. W Ameryce Północnej używana jest charakterystyka ko-
dowania o nazwie "µ-Law". Dlatego charakterystyka kompansji używana
przy kodowaniu sygnału głosowego musi odpowiadać charakterystyce
stosowanej przy dekodowaniu, aby można było zapewnić niezakłóconą
transmisję.

178 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 6 PRZEGLĄD TECHNOLOGII

Przepływność 2,048 Mbit/s


Sygnał E1 (strumień bitowy) jest transmitowany z prędkością 2,048
Mbit/s (2048000 bitów na sekundę). Taką przepływność osiąga się za
pomocą łączenia 32 indywidualnych strumieni bitowych 64 kbit/s:
64 (kbit/s/kanał) × 32 (kanały) = 2048 kbit/s = 2,048 Mbit/s
Sygnał 2,048 Mbit/s wykorzystuje pełną prędkość transmisji łącza E1.

Kody liniowe
Do stosowania w łączach E1 zdefiniowane są dwa typowe formaty kodu
liniowego: AMI i HDB3.

AMI
Jest to najprostszy z dwóch formatów kodu liniowego. AMI to skrót od Al-
ternate Mark Inversion (przemienna inwersja znaku). Kod ten jest używa-
ny do przedstawiania kolejnych jedynek występujących w strumieniu bi-
towym na przemian impulsami dodatnimi i ujemnymi. Na rys. 150
pokazano te przemienne impulsy. Kod AMI nie jest używany w większości
łącz 2,048 Mbit/s z powodu możliwości utraty synchronizacji, występują-
cej podczas długich ciągów zer danych.

Rys. 150. Kod liniowy AMI

HDB3
Format kodu liniowego HDB3 powstał w celu eliminacji tych problemów
synchronizacyjnych, które pojawiają się w kodzie AMI.
W formacie HDB3 ciąg czterech następujących po sobie zer jest zastępo-
wany ciągiem impulsów zawierających celowo wprowadzone zaburzenia
dwubiegunowe. Urządzenie na odległym końcu otrzymujące sygnał E1
sprawdza strumień bitowy wyszukując te zaburzenia, a następnie rozko-
dowuje i odtwarza oryginalne dane. Zamienniki impulsów w kodzie HDB3
umożliwiają uzyskanie wysokiego upakowania impulsów, a więc urządze-
nia odbiorcze są zawsze w stanie utrzymać synchronizację z sygnałem
odbieranym. Na przykład w ciągu 1000 0000 kodowanie HDB3 podstawia
zaburzenia dwubiegunowe zamiast ciągu zer. Format HDB3 przedstawio-
no na rys. 151.

SunSet E20 wersja 1.01 179


ROZDZIAŁ 6 PRZEGLĄD TECHNOLOGII

Rys. 151. Kod liniowy HDB3

Przy podstawianiu obowiązuję pewne zasady ogólne. Poszczególne zrobio-


ne podstawienia są zdeterminowane przez polaryzację ostatnio wprowa-
dzonego bitu oraz przez liczbę impulsów następujących po poprzednim
bicie zaburzenia. Jeśli ta liczba impulsów jest nieparzysta, to podstawia-
ne jest 000V, a polaryzacja V jest taka sama jak polaryzacja bitu bezpo-
średnio go poprzedzającego. Jeśli liczba impulsów jest parzysta, to wpro-
wadzane jest B00V i polaryzacja B jest przeciwna do polaryzacji bitu
bezpośrednio go poprzedzającego, a polaryzacja V jest taka sama jak B.
Przykłady zastępczych kodów HDB3 dla zer pokazano na rys. 152.

Rys. 152. Kodowanie HDB3

Tester SunSet E20 wykrywa obydwa rodzaje kodów podstawień HDB3,


nawet wtedy, gdy nie są one zgodne z właściwymi liczbami impulsów po-
jawiających się od czasu ostatniego podstawienia.

Poziomy sygnałów
Kiedy sygnał zostanie zakodowany do postaci binarnej i umieszczony w
strumieniu bitowym, to impulsy elektryczne tworzące ten strumień są
następnie przetwarzane na faktyczne poziomy napięcia odpowiednie dla
transmisji E1.

180 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 6 PRZEGLĄD TECHNOLOGII

Na rys. 149 i 150 można zobaczyć, że typowy poziom sygnału dla impulsu
E1 z impedancją 75 Ω wynosi albo ±2,37 V (dla binarnej jedynki) lub 0 V
(dla binarnego zera). Wartości sygnałów w rzeczywistości będą się różnić
typowo o ±10% od nominalnych.
Idealną sytuacją byłoby, gdyby każdy impuls transmitowany był dokład-
nie symetryczny. W rzeczywistości każdy impuls jest trochę zakłócany,
zarówno podczas generacji, jak i wędrówki wzdłuż linii E1. Impuls o ide-
alnym kształcie i impuls faktyczny, który występuje w linii E1, są poka-
zane na rys. 153.
Może być potrzebne potwierdzenie zgodności kształtu impulsu E1 z
kształtem impulsu standardowego. Często odbywa się to za pomocą po-
równania go ze specyficzną "maski". Zwykła maska impulsu jest opisana
w zaleceniach ITU-T G.703.
Uwaga: Dla impulsu E1 przy impedancji 120 Ω poziom sygnału wynosi
albo ±3 V (dla wartości binarnej "1"), albo 0 V (dla wartości bi-
narnej "0") i wartości rzeczywiste różnią się typowo o ±10%.

Rys. 153. Kształt impulsu

Ramkowanie 2,048 Mbit/s


Transmisja E1 wykorzystuje dwa główne rodzaje ramkowania: ramkowa-
nie zwykłe - FAS (Frame Alignment Signal) i wieloramkę - MFAS (Multi-
Frame Alignment Signal). Ramkowanie jest potrzebne do tego, aby urzą-
dzenie odbierające sygnał E1 mogło zidentyfikować i odseparować
poszczególne kanały. W systemie PCM-31 używa się ramkowania FAS, a
w PCM-30 ramkowania MFAS.

Sygnał ramkowany (FAS)


Ramka sygnału 2,048 Mbit/s składa się z 32 indywidualnych szczelin
czasowych (ponumerowanych od 0 do 31). Tak jak to zostało opisane
wcześniej, każda szczelina czasowa zawiera indywidualny kanał danych
64 kbit/s. Sygnał PCM-31 używa FAS.
W formacie FAS, szczelina czasowa 0 każdej ramki jest zarezerwowana
dla wzorca synchronizacji ramki (FAS). Ramki zawierają na przemian bit
stanu alarmu odległego FAS i inne bity zarezerwowane dla użytku krajo-
wego i międzynarodowego. Dlatego jest 31 szczelin czasowych, do których
możemy wstawiać dane. Format ramkowania FAS pokazano na rys. 154.
Format FAS nie zawiera sygnalizacji kanału głosowego.

SunSet E20 wersja 1.01 181


ROZDZIAŁ 6 PRZEGLĄD TECHNOLOGII

Pierwszy bit (c lub Si) tych ramek jest zarezerwowany do użytku między-
narodowego. Może być on używany do cyklicznej kontroli redundancji
(CRC-4), gdy wymagane jest szczególnie dokładne monitorowanie. Dlatego
w testerze Sunset E20 po uaktywnieniu na ekranie konfiguracyjnym
(TEST CONFIGURATION) wykrywania błędów CRC, bity te zależą od obli-
czenia CRC i powinny zmieniać się ciągle między 0 a 1. Jeśli CRC nie jest
sprawdzane, to bity te są ustawione na 0.
W ramkowaniu FAS ramki nieparzyste nie zawierają sygnału fazowania
ramki. Bity są zdefiniowane jak niżej:
i: Kiedy CRC jest uaktywnione, to bit 1 jest używany do monitorowania
cyklicznej kontroli redundancji CRC-4. Kiedy CRC jest uaktywnione, to
bit nie ten może być tu zmieniany. Może on być zmieniany tylko wtedy,
gdy CRC nie jest aktywne.
1: Drugi bit jest zawsze ustawiony na 1 aby uniknąć symulacji sygnału
fazowania ramki (FAS).
A: Bit A jest używany do zdalnego alarmu odległego FAS. Bit ten jest
ustawiany na 1 po wykryciu alarmu. Przy pracy niezakłóconej bit A jest
ustawiony na 0.
a (bity 4-8): bity zapasowe; kiedy nie są używane to przy przechodzeniu
przez granice międzynarodowe powinny być ustawione na 1, tak, jak zde-
finiowano w zaleceniu ITU-T G.704.
Pierwsze bity z ramek 13-15 transmitują dwa tzw. bity E, które są bitami
wskazującymi obecność błędów CRC-4. Zero w takim bicie oznacza odbie-
rane błędne podwieloramki; jedynka oznacza ramki odbierane bez błę-
dów.

Rys. 154. Format ramkowania FAS

Sygnał wieloramki (MFAS)


Ramkowanie MFAS obejmuje sygnalizację związaną z kanałem (Channel-
Associated Signalling - CAS), która służy jak informacja o bitach
A/B/C/D dla każdego kanału. W metodzie tej używa się ramkowania 32
szczelin czasowych włączając w to szczelinę czasową 0 dla FAS. Szczelina
czasowa 16 jest przeznaczona dla sygnału MFAS i CAS. Aby utworzyć
wieloramkę należy wziąć 16 ramek.

182 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 6 PRZEGLĄD TECHNOLOGII

Kiedy transmitujemy wieloramkę, to wszystkie indywidualne ramki poje-


dyncze oraz informacje o ich fazowaniu pozostają nezmienione. Składamy
jedynie 16 ramek FAS razem, dedykujemy szczelinę czasową 16 pierwszej
ramki dla naszej sygnału fazowania wieloramki (MFAS), a następnie de-
dykujemy szczelinę czasową 16 pozostałych 15 ramek bitom A/B/C/D.
Patrz rys. 155.
Ramka 0, szczelina czasowa 16: 8-bitowy sygnał MFAS
Ramki 1-15, szczelina czasowa 16: (4 bity sygnalizacyjne na kanał) × (30
kanałów) / (8 bitów sygnalizacyjnych na ramkę w szczelinie czasowej 16)
= 15 ramek sygnalizacyjnej szczeliny czasowej 16.

Rys. 155. Format ramkowania MFAS

Sprawdzanie błędów CRC-4 w sygnale wieloramkowym


CRC-4 (Cyclic Redundancy Check-4) czyli cykliczna kontrola redundancji
jest często używana w transmisji E1 w celu identyfikowania możliwych
błędów bitowych. CRC-4 pozwala na wykrycie błędów w sygnale 2,048
Mbit/s podczas pracy łącza.
CRC-4 bazuje na prostym działaniu matematycznym przeprowadzonym
na każdej podwieloramki zawierającej dane. Urządzenie, które inicjuje
transmisję danych E1 wylicza bity CRC-4 dla jednej podwieloramki, a na-
stępnie wprowadza te bity do pozycji CRC-4 w następnej podwieloramce.
Urządzenie odbierające wykonuje następnie obliczenie odwrotne na pod-
wieloramce. Sprawdza ono bity CRC, które były transmitowane w następ-
nej podwieloramce i porównuje przekazane bity CRC z wartością obliczo-
ną. Jeśli istnieje rozbieżność między tymi dwiema wartościami, to
zgłaszany jest błąd CRC-4.
Przy używaniu błędów CRC-4 do oceny zachowania się łącza E1 należy
pamiętać o dwóch rzeczach. Każdy indywidualny błąd CRC-4 niekoniecz-
nie musi odpowiadać pojedynczemu błędowi bitowemu. Wielokrotne błędy
bitowe wewnątrz tej samej podwieloramki będą prowadziły do tylko błędu
CRC-4 w bloku danych. Może także wystąpić sytuacja, że pojawiają się
takie błędy, że wyliczone nowe bity CRC-4 będą takie same jak bity orygi-
nalne.

SunSet E20 wersja 1.01 183


ROZDZIAŁ 6 PRZEGLĄD TECHNOLOGII

Kontrola błędów CRC-4 dostarcza wygodnej metody identyfikacji błędów


bitowych w pracującym systemie. W systemie takim, ogólnie rzecz biorąc,
nie jest możliwy pomiar aktualnych bitów błędu ponieważ brak jest syn-
chronizacji wzorca. Pomiar błędów bitowych jest stosowany w systemach
niepracujących, ponieważ wyniki są tu bardziej precyzyjne.
W kontroli CRC-4 używa się także struktury wieloramki składającej się z
16 ramek, tak, jak to pokazano na rys. 156. Jednak wieloramka CRC-4
niekoniecznie musi być sprzężona z wieloramką MFAS. Każda wieloramka
CRC-4 może być podzielona na dwie podwieloramki (SMF - submultifra-
mes). Są one oznaczone jako SMF#1 i SMF#2 i składają się z 8 ramek
każda. Łączymy 4 bity informacji CRC z każdą podwieloramką.
Bity CRC-4 obliczane dla każdej podwieloramki są buforowane i wprowa-
dzane do następnej podwieloramki w celu nadania jej przez łącze E1.
Kiedy urządzenie nadające oblicza błąd używając CRC-4, to powinno ono
transmitować bit E do odległego końca, informując w ten sposób sprzęt
tam zainstalowany o błędzie.

Rys. 156. Format wieloramki CRC-4

Monitorowanie bitu E
Kiedy terminal w łączu 2,048 Mbit/s ma opcję transmisji CRC-4, to może
być także dostępna transmisja bitu E. Możliwe jest teraz monitorowanie
tego bitu w obwodzie. Urządzenie końcowe wysyła sygnał błędu bitu E na
linii 2,048 Mbit/s, kiedy odbierze informację o błędzie CRC-4. Transmisja
błędów bitu E jest jednak stosunkowo nową cechą w łączach 2,048
Mbit/s i dlatego prawdopodobne jest, że sprzęt nie przekazuje w sposób
poprawny informacji o bicie E. Należy sprawdzić w takim przypadku spe-
cyfikację sieci. Patrz rys. 157.

184 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 6 PRZEGLĄD TECHNOLOGII

Rys. 157. Monitorowanie bitu E w pracującym łączu

Kiedy terminal wykrywa przychodzący błąd CRC-4, to odpowie wysłaniem


sygnału o błędzie bitu E w kierunku innego terminala. Urządzenie testo-
we 2 pokazane na rys. 157 będzie w stanie wykryć błędy bitu E po podłą-
czeniu do zabezpieczonego punktu monitorowania. Należy zwrócić uwagę,
że tester nie jest w stanie wykryć aktualnych błędów kodu, ramkowania i
CRC, które zostały wprowadzone w punkcie stwarzającym problemy. Te-
ster może tylko wykryć błędy bitu E transmitowane przez terminal B.
Transmisja informacji o błędach bitu E umożliwia więc wiarygodne mo-
nitorowanie właściwości transmisyjnych pracującego obwodu 2,048
Mbit/s z dowolnego punktu.
Bez transmisji błędu bitu E tylko całkowite uszkodzenie obwodu może
być stwierdzone wiarygodnie z dowolnego punktu. Przy całkowitym
uszkodzeniu obwodu tester będzie widział albo utratę sygnału, sygnał
alarmu lub alarmu zdalnego.

Technologia MFR2, DTMF i DP


Istnieje wiele metod sygnalizacji stosowanych w publicznych sieciach te-
lefonicznych. Metody te są podzielone na pętle lokalne i sygnalizację mię-
dzycentralową. Podział sygnalizacji według środowiska wygląda jak niżej
(rys. 158):
Pętla lokalna (Local Loop):
• Sygnalizacja impulsowa
• Dwutonowa sygnalizacja wieloczęstotliwościowa (DTMF - Dual Tone
Multi-Frequency)
• Sygnalizacja ISDN (Integrated Services Digital Network - sieć cy-
frowa z integracją usług)
Łącza międzycentralowe (Interoffice):
• MFR2 - sygnalizacja wieloczęstotliwościowa w kodzie R2
• MFC - wymuszona sygnalizacja wieloczęstotliwościowa (Multi-
Frequency Compelled)
• SS#7 - sygnalizacja nr 7

SunSet E20 wersja 1.01 185


ROZDZIAŁ 6 PRZEGLĄD TECHNOLOGII

Rys. 158. Rodzaje sygnalizacji: w pętli lokalnej i międzycentralowa

Pętla lokalna
W środowisku pętli lokalnej powszechnie stosowaną metodą jest DTMF.
Do reprezentacji cyfry używa ona dwóch tonów - wysokiego i niskiego.
Tabela częstotliwości pokazana jest na rys. 159.

Rys. 159. Częstotliwości tonów na klawiaturze DTMF

Na przykład, jeśli naciśniemy przycisk z cyfrą 5, to generowane są tony o


częstotliwościach 1336 Hz i 770 Hz. Następnie DTMF rejestruje, przetwa-
rza lub odbiera te rozpoznane dźwięki jako reprezentację cyfry 5 i tłuma-
czy je na sygnały cyfrowe.
Sygnalizacja impulsowa jest starsza niż DTMF i pierwotnie była używana
dla aparatów telefonicznych z tarczą numerową. Kiedy wybierany jest
numer, wytwarzana jest seria krótkich sygnałów IDLE/SEIZURE ze spe-
cyficznym odstępem czasowym, zwykle 10 impulsów na sekundę. Jeśli
wybierana jest cyfra 3, to tarcza numerowa wyśle 3 sygnały
IDLE/SEIZURE ze specyficznym międzycyfrowym odstępem czasowym.
Centrala zinterpretuje liczbę sygnałów IDLE/SEIZURE i odstęp czasowy
między impulsami aby określić cyfrę, która została wybrana.
Wybieranie B-bitowe jest używane do przełączania bitu B kiedy przejmo-
wania linii. W stanie zajętości, bit nadzorczy B jest przełączany
(ABCDˆABCD). Jeśli wybierany jest numer 463, bit B zmieni się cztero-
krotnie, następnie będzie pozostawał w spoczynku przez około sekundę,
zmieni się sześciokrotnie, ponownie przejdzie w stan spoczynku i zmieni
się trzykrotnie.
ISDN dostarcza usługi cyfrowe dla abonentów końcowych korzystających
ze zwykłych linii telefonicznych.

Sygnalizacja międzycentralowa
MFR2 jest metodą sygnalizacji powszechnie stosowaną w środowisku
międzycentralowym. Podobnie jak DTMF, MFR2 używa dwóch tonów dla
każdej wybieranej cyfry, jednak tony te są wybierane tylko z grupy sze-
ściu częstotliwości. Bity sygnalizacyjne A i B są używane do sygnalizacji

186 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 6 PRZEGLĄD TECHNOLOGII

zajętości i zwolnienia linii. Referencje można znaleźć w tabelach standar-


dów ITU Q.441 Tabele 5-9.
Sygnalizacja MFC pozwala na to, aby dwie centrale wysyłały cyfry jedna
do drugiej w obydwu kierunkach jednocześnie. Pozwala to na zapewnie-
nie dokładnej transmisji cyfr w zaszumionym środowisku.

SunSet E20 wersja 1.01 187


ROZDZIAŁ 6 PRZEGLĄD TECHNOLOGII

188 SunSet E20 wersja 1.01


Rozdział 7 Usuwanie usterek

Informacje ogólne
W rozdziale tym podajemy uwagi, które mogą być pomocne wówczas, gdy
tester nie zachowuje się tak, jak się spodziewaliśmy.
Poniżej podajemy ogólną procedurę usuwania usterek:
a) Należy sprawdzić w instrukcji jak powinno się wykonywać żądaną
procedurę.
b) Sprawdzić, czy konfiguracja testera ustawiona w menu TEST
CONFIGURATION jest poprawna.
c) Sprawdzić, czy przewody są podłączone poprawnie do właściwych
gniazd.
d) Jeśli tester w dalszym ciągu działa nie tak, jak się spodziewaliśmy, to
należy spróbować wyłączyć go i włączyć ponownie.
e) Jeśli tester dalej nie zachowuje się poprawnie, to należy spróbować
wyzerować pamięć nieulotną (pozycja ERASE NVRAM w SYSTEM
PARAMETERS).
Uwaga: Spowoduje to usunięcie wszystkich informacji zaprogramowa-
nych przez użytkownika. Tester należy wyłączyć na 5 sekund,
a następnie włączyć go ponownie.
Poniżej podajemy kilka uwag pomocnych w rozwiązaniu problemów, które
mogą pojawić się podczas pracy z testerem.
Problem: Świecą się: dioda CODE, dioda utraty ramkowania i inne
diody sygnalizujące błąd, lecz nie powinny wystąpić pro-
blemy
Sugestie:
1) Tryb pracy testera (MODE) ustawiony w menu TEST CONFIGURATION
może być nieprawidłowy. Należy spróbować: TERM, BRIDGE,
MONITOR.
2) Sprawdzić przewody - mogą być obluzowane lub zanieczyszczone.
3) Spróbować zamienić przewody TX i RX.
Problem: Dioda CODE ERR świeci się w sposób ciągły bez żadnego
widocznego powodu
Sugestie:
1) Kod liniowy (LINE CODE) mógł zostać ustawione przypadkowo na
AMI, pomimo, że odbierany jest kod HDB3. Należy spróbować przyci-
skać przycisk AUTO, aby automatycznie skonfigurować kod liniowy.
Można też ręcznie skonfigurować kod liniowy w menu SYSTEM
PARAMETERS, MEAS CONFIGURATION, CODE CONFIGUR.

SunSet E20 wersja 1.01 189


ROZDZIAŁ 7 USUWANIE USTEREK

Problem: Przyciski nie działają poprawnie


Sugestie:
1) Należy sprawdzić stan wskaźnika SHIFT przez naciśnięcie i zwolnienie
przycisku SHIFT. Należy naciskać i zwalniać ten przycisk do mo-
mentu pokazania się w górnej, lewej części ekranu wskaźnika SHIFT.
2) Nie należy naciskać przycisku SHIFT jednocześnie z innym przyci-
skiem.
3) Przycisnąć przycisk SHIFT ponownie. Tester mógł nie zarejestrować
przyciśnięcia go za pierwszym razem.
4) Sprawdzić, czy wskaźnik LOCK nie jest włączony. Jeśli jest, to z po-
ziomu menu MEASUREMENT RESULTS nacisnąć F2 aby odblokować
(UNLOCK) klawiaturę.
Problem: Tester nie jest poprawnie zasilany
Sugestie:
1) Należy upewnić się, czy bateria jest ładowana lub czy ładowarka jest
podłączona.
2) Należy upewnić się, czy karta z oprogramowaniem SunWare jest za-
mocowana dokładnie i umocowana poprawnie.
Problem: Tester Sunset pokazuje komunikat o zakłóceniu bezpie-
czeństwa, kiedy jest włączony
Sugestie:
1) Upewnić się, czy numer fabryczny kasety z oprogramowaniem Sun-
Ware pasuje do numeru fabrycznego testera Sunset.
Problem: Tester zachowuje się niepoprawnie
Sugestie:
1) Należy spróbować wyłączyć zestaw, następnie włączyć go ponownie.
2) Należy spróbować opcji menu ERASE NV RAM. UWAGA: operacja ta
usunie wszystkie informacje zaprogramowane przez użytkownika i
wyzeruje bufor pamięci w testerze SunSet. Kiedy funkcja ERASE NV
RAM zakończy pracę, tester należy wyłączyć na około 5 sekund i po-
nownie włączyć.
Problem: Pomiary nie dają poprawnych wyników (utrata sygnału,
brak synchronizacji wzorca).
Sugestie:
1) Sprawdzić interfejs sygnałowy i ustawienia trybu pracy w menu TEST
CONFIGURATION.
2) Sprawdzić, czy wszystkie wtyczki są podłączone poprawnie, zgodnie ze
schematem obwodu.
3) Dokręcić złącza w środku wtyczek aby i upewnić się, że wszystkie złą-
cza są włożone poprawnie.

190 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 7 USUWANIE USTEREK

Problem: Wzorce testowe nie chcą się synchronizować


Sugestie:
1) Nacisnąć przycisk AUTO aby zmusić tester do ponownej synchroniza-
cji z wzorcem, rodzajem ramki i kodu liniowego.
2) Sprawdzić, czy żądany wzorzec jest wysyłany w menu SEND TEST
PATTERN.
Problem: Wzorce testowe nie chcą synchronizować się z innym te-
sterem
Sugestie:
1) Sprawdzić, czy parametr PATTERN INVERSION na ekranie TEST
PATTERN jest ustawiony na DISABLED.
2) Użyć VIEW RECEIVED DATA aby sprawdzić, czy wzorzec jest odbiera-
ny.
Jeśli w dalszym ciągu mamy problemy, to należy skontaktować się z dys-
trybutorem lub bezpośrednio z firmą Sunrise Telecom, tel. +1 408 363
80000, fax: +1 408 363 8313.

Kalibracja
Tester Sunset E20 kalibruje się sam za każdym razem, kiedy wykonywa-
ny jest pełny autotest. Ta automatyczna kalibracja powinna zadbać o
wszystkie ustawienia, które są potrzebne podczas normalnych warunków
pracy. Oprócz tego, raz na rok tester może być także poddany procedurze
kalibracji. Jeśli tester nie spełni jakiejś części tej procedury, to należy
skontaktować się z serwisem firmy Sunrise Telecom lub dystrybutorem w
sprawie dalszego postępowania i możliwej naprawy. Poniższa procedura
testu poprawności działania może być także używana jako część progra-
mu działań konserwacyjnych sprzętu.
1) Podłączyć kabel z gniazda LINE 1 Tx do LINE 1 Rx.
a) Włączyć tester i przejść do SYSTEM PARAMETERS, SELF TEST.
b) Sprawdzić, czy wszystkie diody (za wyjątkiem POWER i BATTERY)
funkcjonują poprawnie. Podczas autotestu powinny one zaświecić
się najpierw na zielono, a potem na czerwono.
c) Sprawdzić, czy nie są wyświetlane żadne kody błędów na ekranie
SELF TEST COMPLETE.
d) Sprawdzić, czy nie są wyświetlane żadne kody błędów w górnym,
lewym rogu ekranu podczas zasilania.
e) Wywołać ERASE NV RAM. Wyłączyć tester na około 5 sekund i na-
stępnie włączyć go zgodnie z poleceniami pojawiającymi się na
ekranie.
2) Sprawdzić, czy działają kontrolki podświetlenia i kontrastu.
3) Ustawić w menu TEST CONFIGURATION następującą konfigurację:
E1SINGL, TESTPAT, PCM-30, YES, 2.048M, TERM, INTERN.
a) Wrócić do MAIN MENU.
b) Ustawić dla SEND TEST PATTERN wartość 2e23.

SunSet E20 wersja 1.01 191


ROZDZIAŁ 7 USUWANIE USTEREK

4) Sprawdzić, czy następujące diody linii 1 działają poprawnie (nacisnąć


przycisk LED, jeśli to konieczne), czyli: SIGNAL, PCM-30, CRC DET i
PAT SYNC są zielone, a wszystkie inne diody linii 1 powinny być wyłą-
czone. Diody linii 2 nie mają znaczenia.
5) Wejść do sekcji MEASUREMENT RESULTS.
a) Nacisnąć trzykrotnie przycisk ERR INJ.
b) Upewnić się, czy zostały wykryte 3 błędy kodu.
c) Przesunąć się w dół do ekranu LINE 1 - FREQUENCY.
d) Sprawdzić, czy dla RCV/Hz jest wyświetlona wartość 2048000.
e) Przesunąć się w dół do ekranu LINE 1 - G.821.
f) Sprawdzić, czy zostały wykryte 3 błędy bitowe.
g) Przesunąć się w dół do ekranu LINE 1 - ALM/SIG.
• TYLKO DLA ZŁĄCZ BNC 75 Ω: Sprawdzić, czy +LVL i -LVL
różnią się nie więcej niż o ±1dB.
6) Wejść do ekranu OTHER MEASUREMENTS, PULSE MASK ANALYSIS.
a) Wybrać START NEW ANALYSIS.
b) Wybrać G.703 (F1).
c) Sprawdzić, czy kształt impulsu nie wykracza poza granice wzorca o
więcej niż 2 piksele.
7) Powrócić do MAIN MENU.
a) W menu SEND PATTERN zmienić wzorzec na FOX.
b) Sprawdzić, czy diody są w takim stanie, w jakim były dla punktu
4.
c) Powrócić do MAIN MENU.
d) Wejść do ekranu OTHER MEASUREMENTS, VIEW RECEIVED
DATA.
e) Nacisnąć przycisk PAUSE (F3), a następnie kilkakrotnie przycisk
PAGE-DN.
f) Sprawdzić, czy wzorzec FOX jest wyświetlany w sposób poprawny
w kolumnie ASCII w środku nawiasów. (THE QUICK BROWN FOX
JUMPS OVER THE LAZY DOG 1234567890).
g) Zwrócić uwagę, czy wzorzec ten nie jest wyświetlany w szczelinach
czasowych 00 i 16.
8) Powrócić do MAIN MENU.
a) Przejść do VF CHANNEL ACCESS, VF & NOISE MEASUREMENT.
b) Zmienić TxMODE na TONE.
c) Słuchać głośnika i sprawdzić, czy działają przyciski kontrolne
głośności.
d) Sprawdzić, czy Rx-1FRQ mieści się między 1019 i 1021 (pracując
z domyślnym dźwiękiem 1020 Hz) i czy Rx-1LVL zawiera się w
przedziale od -00.5 do +00.5.

192 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 7 USUWANIE USTEREK

9) Zmienić INSERT TYPE na TALK.


a) Sprawdzić mikrofon przez dmuchnięcie na niego i odsłuch w gło-
śniku.
10) Podłączyć kabel z wyjścia LINE 2 TX do LINE 2 RX.
11) Z poziomu MAIN MENU wybrać TEST CONFIGURATION i ustawić na
E1DUAL, L2-Tx, L2-Rx, TESTPAT, PCM-30, YES, 2.048M, TERM,
TERM, INTERN.
12) Upewnić się, czy diody linii 2 zachowują się poprawnie (nacisnąć
przycisk LED jeśli to konieczne), czyli: SIGNAL, PCM-30 i CRC DET są
zielone; wszystkie pozostałe diody linii 2 powinny być wyłączone.
a) Sprawdzić, czy dioda PAT SYNC jest zielona i czy dioda BIT
ERROR jest wyłączona. Diody linii 1 nie mają znaczenia.
13) Wziąć inny, dobrze znany tester SunSet E20. Podłączyć kabel interfej-
su ze złączami SCSI-36 / DB37 (żeński) do pierwszego testera, który
powinien być skonfigurowany jako DCE.
a) Do tego kabla podłączyć kabel adaptera DCE RS449/V.36 (DB37
męski / DB37 żeński).
b) Do tego kabla podłączyć kabel adaptera produkcji firmy Sunrise
Telecom RS449/V.36 DTE (DB37 męski do DB37 żeński).
c) Upewnić się, czy wolne końce kabli z oznaczeniami odpowiadają
sobie (powinny to być końcówki bez nakrętek).
d) Podłączyć drugi kabel SCSI-36 / DB37 (żeński) między drugi te-
ster SunSet E20 a pozostałe kable.
e) Dioda PAT SYNC powinna świecić na zielono; wszystkie inne diody
powinny być wyłączone (należy przycisnąć przycisk LED jeśli to
konieczne).
14) Wejść do ekranu MEASUREMENT RESULTS w obu testerach.
a) Nacisnąć na każdym testerze przycisk RESTART.
b) Wprowadzić 3 błędy z każdego testera i sprawdzić, czy obydwa
zgłaszają 3 błędy bitowe.
15) Sprawdzić, czy działa każdy przycisk.
16) Powrócić do MAIN MENU.
a) Jeśli łącznie z testerem była zakupiona drukarka, to należy ją
podłączyć drukarkę do testera badanego, nacisnąć przycisk SHIFT
aby wyświetlić na ekranie wskaźnik SHIFT, następnie nacisnąć
przycisk PRN SCRN i obserwować, czy menu główne jest druko-
wane na drukarce.
17) Procedura kalibracji została zakończona.

SunSet E20 wersja 1.01 193


ROZDZIAŁ 7 USUWANIE USTEREK

Obsługa klientów
Serwis firmy Sunrise Telecom jest dostępny w godzinach 7:30 rano do 5
po południu czasu zachodniego wybrzeża USA (Kalifornia).
Serwis dla klientów spełnia następujące funkcje:
– odpowiada na telefoniczne pytania klientów w sprawie działania
sprzętu i napraw,
– dokonuje szybkich napraw testerów SunSet,
– dostarcza informacji na temat nowych wersji.
Okres gwarancji na tester SunSet E20 wynosi jeden rok (1) od daty wy-
syłki. Przed wysłaniem jakiegokolwiek przyrządu do naprawy do firmy
Sunrise Telecom wymagane jest uzyskanie numeru tzw. Autoryzacji
Zwrotu Towaru (Return Merchandise Authorization - RMA). Wszystkie te-
stery SunSet są testowane przez 24 godziny po dokonaniu naprawy.
Wszystkie naprawy mają 90 dniową gwarancję. Naprawy pogwarancyjne
wymagają uzyskania zarówno RMA, jak i złożenia zamówienia przed
zwrotem urządzenia.
Jeśli potrzebne są dodatkowe wyjaśnienia to należy kontaktować się z:
Serwis klientów:
Customer Service
Sunrise Telecom Inc.
223 Great Oaks Blvd.
San Jose, CA 95119
USA
Tel.: 408-363-8000 lub 1-800-701-5208
fax: 408-363-8313
Pomoc techniczna:
(24 godziny) 1 800 701 5208
E-mail: support@sunrisetelecom.com
Internet: http://www.sunrisetelecom.com

194 SunSet E20 wersja 1.01


Rozdział 8 Specyfikacje i konfiguracje

Specyfikacja podstawowa

Złącza i porty
Dwukierunkowe interfejsy E12,048 Mbit/s
Linia 1 Tx, Linia 1 Rx, Linia 2 Rx:
– Niesymetryczne BNC 75 Ω (ż) i symetryczne 3-stykowe złącze ba-
nanowe (CF) 120 Ω
– 75 Ω (opcja): Zamienia BNC (ż) na 1,6/5,6 mm (ż)
Linia 2 Tx:
– Niesymetryczne BNC 75 Ω (ż)
– 75 Ω (opcja): Zamienia BNC (ż) na 1,6/5,6 mm (ż)
Port szeregowy: 8-DIN, RS232C (V.24), DTE
Interfejs transmisji danych: złącze SCSI 36-stykowe
Wejście DC do ładowania baterii wewnętrznej
Port słuchawek stereofonicznych:
– Złącze: gniazdo 3,5 mm
– Impedancja: 220 Ω

Wskaźniki stanu i alarmu


Wskaźniki diodowe zasilania i niskiego stanu naładowania baterii
16 dwukolorowych wskaźników diodowych dla linii 1 i linii 2
– Aktualny stan i historia alarmu dla: sygnału, błędów kodu, PCM-
30, PCM-31, AIS, alarmu, wykrywania i błędu CRC.
6 dwukolorowych wskaźników dla transmisji danych (funkcja zdublowa-
na z linią 2)
Wskaźniki diodowe synchronizacji wzorca i błędu bitowego

Generator bitowego wzorca testowego


Ogólne: same "1", same "0", 1010..., 1-w-4, 1-w-8, 3-w-24, FOX
PRBS: 2n-1, n=6,, 7, 9, 11, 15, 20, 23; QRS, 220-1 ITU-T
Zgodność z ITU-T O.151, O.152. O-153
Programowalne: 10 wzorców użytkownika o długości 24 bity z etykietami
zdefiniowanymi przez użytkownika
Wybieralna inwersja wzorca testowego
Automatyczna synchronizacja wzorca.

SunSet E20 wersja 1.01 195


ROZDZIAŁ 8 SPECYFIKACJE I KONFIGURACJE

Wprowadzanie błędów i alarmów


Błąd kodu i/lub błąd bitowy; programowalne pakiet od 1 do 9999 błędów
ręcznie lub ze stałą stopą od 2×10-3 do 1×10-9
CRC-4, FAS, bit E: pojedynczy błąd
Generacja alarmów AIS, TS16-AIS (PCM-30), MFAS RAI (PCM-30), FAS
RAI (PCM-30 i 31)

Ogólne dla łącza E1


Przepływności przy testowaniu stopy błędów: 2,048 Mbit/s, N (szczeliny
przyległe) i M (szczeliny nieprzyległe) × 64 kbit/s (N i M = od 1 do 31).
Pełny dupleks do wewnętrznego obwodu testowego, interfejs transmisji
danych, wzorzec testowy N×64 kbit/s; lub obsługa kanału głosowego 64
kbit/s z kodowaniem i dekodowaniem wg A-law i użyciem wbudowanego
głośnika lub opcjonalnie słuchawki (SS149) oraz mikrofonu.
Automatyczna konfiguracja, automatyczna synchronizacja wzorca
Kodowanie liniowe: HDB3, AMI.
Ramkowanie: bez ramkowania, PCM-30, PCM-31, z CRC-4 lub bez -
zgodne z zaleceniem ITU-T G.704.
Programowane nadawanie ramek: ręcznie lub automatycznie bity E, dla
MFAS bit 5, bit 6 (MFAS RAI), bit 7, bit 8, MFAS ABCD, dla FAS RAI, wy-
świetlanie i wydruk oraz nadawanie i odbiór słów FAS/NFAS i
MFAS/NMFAS, automatyczna generacja CRC-4, dowolnie ustawiane Sa4,
Sa5, Sa6, Sa7, Sa8, bity 1 lub 0 dla 8 ramek.
Ustawianie kodu kanału jałowego i bitów ABCD (PCM-30).

Nadajniki dla łącza E1


Źródło sygnału zegarowego:
– Wewnętrzne: 2,048 MHz (±5 ppm). Ustawiana częstotliwość L1 Tx
w zakresie ±50 kHz (±25 kppm) z rozdzielczością 1 Hz (ustawiana
indywidualnie).
– Zewnętrzne: z linii 1 Rx lub linii 2 Rx, wybieralne AMI lub HDB3.
– Pętla: odtwarzany z sygnału linii 1 Rx lub linii 2 Rx, wybieralne
AMI lub HDB3.
Kształt impulsu: 3,0 Vbp (±10%) przy 120 Ω, 2,37 Vbp (±10%) przy 75 Ω.
Spełnia wymagania ITU-T G.703.

Odbiorniki dla łącza E1


Częstotliwość: 2,048 Mbit/s ± 6000 bitów/s
Czułość wejściowa:
– Obciążenie, mostek: +6 do -43 dB z wbudowanym wyjściem auto-
matycznego dopasowania do linii
– Monitorowanie: -15 do -30 dB rezystancyjne
Impedancje
– Obciążenie, monitor: linia 1 i 2, 75 Ω niesymetryczne, 120 Ω sy-
metryczne
– Mostek: > 5000 Ω
Tolerancja jittera zgodnie z ITU-T G.823
Spełnia wymagania ITU-T G.823

196 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 8 SPECYFIKACJE I KONFIGURACJE

Pomiary podstawowe
Rodzaj błędu: błędy kodu, bitu, CRC-4, FAS, MFAS, bitu E, poślizgi.
Typowe zgłoszenia rodzajów błędu: zliczenie błędów, stopa błędów, ES,
%ES, SES, %SES, UAS, %UAS, EFS, %EFS, AS, %AS.
Analiza ITU-T G.821, zgłoszenia rodzajów błędu: błąd bitowy i stopa błę-
dów, ES, %ES, SES, %SES, EFS, %EFS, UAS, %UAS, AS, %AS, SLIP
Analiza dwukierunkowa ITU-T G.826 oparta na blokach CRC-4, zgłasza-
ne rodzaje błędu: EB, BBE, %BBE, ES, %ES, SES, %SES, UAS, %UAS,
EFS, %EFS.
Statystyki alarmów: sekundy LOS, LOF, AIS, FAS RAI, MFAS RAI.
Częstotliwość (maksymalna, minimalna, bieżąca), poślizgi zegara, wander
Poziom sygnału (Vbp+, Vbp- w dBdsx) od +7 do -36 dB
Wydruk zdarzenia (włączony / wyłączony)
Druk okresowy (interwał ustawiany od 1 do 9999 minut) lub po zakoń-
czeniu testu
Czas trwania pomiaru: pomiar ciągły lub czasowy z ustawianym czasem
pomiaru do 999 godzin i 59 minut
Programowany pomiar z wyborem czasu i daty rozpoczęcia i zakończenia

Inne pomiary
Analiza zgodności impulsu z maską
– Okres skanowania 500 ns
– Wyświetlanie kształtu impulsu na ekranie z maską impulsu wg
G.703
– Wyświetlanie szerokości impulsu, czasu narastania i czasu opada-
nia zboczy w ns, przerzutu w %, zwisu w %
– Zachowywanie i drukowanie maski impulsu
Analiza histogramu
– Graficzna prezentacja skumulowanych błędów (błąd bitowy, kodu,
bit E, CRC, FAS/MFAS), zdarzenia dla L1 Rx lub L2 Rx oraz alar-
my (LOS, AIS, LOF, FAS RAI, MFAS RAI, LOPS), zdarzenia dla L1
Rx i L2 Rx.
– Zapis i wydruk 60 dni z rozdzielczością godzinową i 24 godzin z
rozdzielczością minutową
– Pamiętanie jednego pełnego histogramu i histogramu aktualnego
(tester w konfiguracji podstawowej)
– Pamiętanie do 15 histogramów z nazwami zdefiniowanymi przez
użytkownika (wymaga SW2510 lub SW2515)
Opóźnienie propagacji
– Pomiar opóźnienia propagacji w mikrosekundach i interwałach
jednostkowych (UI)
– Maksymalne mierzone opóźnienie (przy 2,048 Mbit/s): 8 sekund
Podgląd odbieranych danych
– Podgląd ruchu "na żywo" o długości 4096 bitów (16 pełnych ramek
lub jedna wieloramka) w PCM-30/31
– Wyświetlanie 8 szczelin czasowych na ekranie
– Pamiętanie 64 ekranów, zatrzymanie ekranu, wydruk
– Informacja wyświetlana w kodach ASCII, zamiana ASCII, w kodzie
binarnym i szesnastkowym

SunSet E20 wersja 1.01 197


ROZDZIAŁ 8 SPECYFIKACJE I KONFIGURACJE

Podgląd szczeliny czasowej 16 (MFAS, NMFAS, ABCD) w PCM-30: 16 ra-


mek
Podgląd szczeliny czasowej 0 (FAS, NFAS, CRC, słowa MFAS/CRC, bity E
Sa4 do Sa8, bit A) w PCM-30 i 31: 16 ramek
Pamiętanie wyników przebiegów pomiarów, błędów i alarmów
– Zachowuje wyniki pomiarów do 20 testów
– Zachowuje do 1000 zdarzeń
– Zachowany rekord może być zablokowany
– Zapamiętywanie wyników co jakiś czas (ustawiany od 1 do 9999
minut)
Jednoczesny podgląd 30 dwukierunkowych kanałów CAS (bity ABCD
PCM-30)

Kanał głosowy dla łącza E1


Kompansja: A-law
Podgląd danych kanału o długości 1 bajta (format binarny)
Wbudowany mikrofon do prowadzenia rozmowy
Głośnik monitorujący lub opcjonalne słuchawki (SS149) dla linii 1, 2 lub
obydwu z kontrolą głośności
Pomiar stosunku sygnał do szumu
Pomiary szumu z filtrem płaskim 3,1 kHz, filtrem psofometryczny i filtrem
zaporowym 1010 Hz
Generacja tonu: 50 do 3950 Hz, rozdzielczość 1 Hz; poziom od +3 do -60
dBmO, rozdzielczość 1 dB
Pomiar poziomu i częstotliwości: od 50 do 3950 Hz, od +3 do -60 dBmO
Offset kodera i pomiar wartości szczytowej kodu
Monitorowanie i transmisja bitów ABCD w wybranym kanale (PCM-30)
Jednoczesny podgląd w dwóch kierunkoach 30 kanałów w bitach ABCD
(PCM-30)
Programowalne stany bitów ABCD dla IDLE, SEIZE, SEIZE ACK,
ANSWER, CLEAR BACK, CLEAR FORWARD, BLOCK ABCD; ustawienia
domyślne (wg Q.422) lub 3 zdefiniowane przez siebie
Ustawianie etykiet i wyświetlanie cyfr wg Q.441 dla grupy I/II w przód,
grupy A/B wstecz lub 3 zdefiniowane przez siebie

Testy transmisji danych (SS600)


Złącza i porty
– Multiport dla transmisji danych przez złącze SCSI-36
– Adaptery dla trybów DTE (męski) i DCE (żeński): V.35 (34 styków -
ISO 2593), V.11/X.21 (DB15 - ISO 4903), V.24/RS-232 (DB25 - ISO
2110), V.36/RS-449 (DB37 -ISO 4902), RS-530 (DB25 - ISO 2110),
G.703 dwukierunkowy (3-stykowy CF dla Tx i Rx).
– Adapter do kabla Y dla trybu MONITOR: V.35 (34 styki - ISO 2593),
V.11/X.21 (DB15 - ISO 4903), V.24/RS-232 (DB25 - ISO 2110),
V.36/RS-449 (DB37 - ISO 4902).

198 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 8 SPECYFIKACJE I KONFIGURACJE

Interfejsy
– V.35, V.11/X.21, V.24/RS-232, V.36/RS-449, RS-530, G.703 dwu-
kierunkowy
Tryby pracy
– Emulacja DTE i DCE dla wszystkich interfejsów
– Dwukierunkowe dane w monitorowaniu transmisji w pracującym łą-
czu (V.35, V.11/X.21, V.24/RS-232, V.36/RS-449).
Prędkości transmisji
– V.24/RS-232 asynchroniczna: 50, 150, 300 i 600 bit/s; 1,2, 2,4 4,8
9,6, 14,4 19,2 i 38,4 kbit/s, 6/7/8 bitów danych, 1/2 bity stopu, pa-
rzystość ujemna/dodatnia/brak.
– V.24/RS-232 synchroniczny: 300 bit/s do 48 kbit/s, 56 i 64 kbit/s
– V.35, V.11/X.21, V.36/RS-449: 300 bit/s do 48 kbit/s, N×56 i N×64
kbit/s (N = 1 do 32).
– G.703 dwukierunkowy: N×64 kbit/s (N = od 1 do 8)
– Programowany zegar danych Tx (wewnętrzny lub odbierany) dla V.35,
V.24/RS-232, V.36/RS-449, G.703 dwukierunkowy
– Wybierana polaryzacja sygnału zegarowego (normalna lub odwrócona)
dla V.35, V.24/RS-232, V.36/RS-449
Generacja wzorca testowego
– V.24/RS-232 asynchroniczny: 2047, 511, 127, 63, same "1", same "0"
i FOX (dla 7 i 8 bitów danych)
– Wszystkie inne tryby: wszystkie dostępne wspomagane wzorce (patrz
rozdział na temat podstawowych wzorców testowych)
– Ustawianie inwersji wzorca testowego
– Automatyczna synchronizacja wzorca
Pomiary
– Analiza wg ITU-T G.821, zgłaszanie rodzajów błędu: zliczanie błędów
bitowych i stopy błędów, ES, %ES, SES, %SES, EFS, %EFS, AS, %AS,
UAS, %UAS, SLIP
– Pomiary błędów blokowych: zliczanie odebranych bloków, zliczanie
błędów blokowych i pomiar stopy błędów
– Zliczanie utraty danych, sekund utraty danych, utraty synchronizacji
wzorca, sekundy utraty synchronizacji wzorca
Analiza histogramów
– Graficzne wyświetlanie błędów skumulowanych (błędy bitowe, sekun-
dy z utratą wzorca)
– Zachowanie i wydruk 60 dni z rozdzielczością godzinową i 24 godzin z
rozdzielczością minutową
– Pamiętanie jednego pełnego histogramu i histogramu aktualnego (w
konfiguracji podstawowej)
– Pamiętanie do 15 histogramów oznakowanych przez użytkownika
(wymaga SW2510 lub SW2515)

SunSet E20 wersja 1.01 199


ROZDZIAŁ 8 SPECYFIKACJE I KONFIGURACJE

Analiza czasowa dla transmisji danych


– Wyświetlanie i zapamiętanie (w trybie tabelarycznym lub graficznym)
zmiany stanu następujących linii sterujących:
- V.24/RS-232 (asynchroniczny: DTE, DCE, synchroniczny: DTE,
DCE, MONITOR), V.35 (DTE, DCE, MONITOR), V.36/RS-449
(DTE, DCE, MONITOR): RTS, CTS, DTR, DCD, RL, LL
- V.11/X.21 (DTE, DCE, MONITOR): C, I
– Linie sterujące transmisji danych (włączanie lub wyłączanie):
- V.24/RS-232 (synchroniczny i asynchroniczny), V.35, V.36/RS-
449 (DTE): RTS, DTR, RL, LL
- V.24/RS-232 (synchroniczny i asynchroniczny), V.35, V.36/RS-
449 (DCE): CTS, DSR, DCD
- V.11/X.21 (DTE): C
- V.11/X.21 (DCE): I
– Wyzwalanie na RTS, CTS, DTR, DSR, DCD, RL, LL; zbocza opadające
lub narastające
– Zdolność zachowywania
- Tryb graficzny: ostatnie 40 sekund przechwyconego stanu linii
sterującej
- Tryb tabelaryczny: 100 stron zmiany stanu linii sterującej i roz-
kład czasowy stanu

Testy X.50 64 kbit/s (SW606)


Spełnia zalecenie ITU-T X.50 Rozdział 2 i 3
Testowanie stopy błędu (BERT) z analizą wg ITU-T G.821
Testowane przepływności: N×600 bit/s, N = 1 do 8 w ramach sygnału 64
kbit/s
Bezzakłóceniowa dwukierunkowe wprowadzanie i odczyt kanału E1 64
kbit/s przez multiport
Standardowe lub przypadkowe wybierania oktetów
Podgląd i transmisja bitów A do H i stan bitu S
Programowalny wzorzec jałowy, BERT i bit S, sygnał X.50 (bity ABCD)
Wprowadzenie błędów bitowych lub błędu ramki
Analiza histogramów
Tryby pracy
– Transmisja danych (64 kbit/s, sygnał formatowany X.50)
– Test multipleksera (2,048 Mbit/s - 64 kbit/s)
– Emulacja multipleksera 2,048 Mbit/s - 64 kbit/s w ramach for-
matu X.50
– E1 (wysyłanie/odbiór kanałów formatowanych X.50 w sygnale
2,048 Mbit/s)

200 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 8 SPECYFIKACJE I KONFIGURACJE

Testowanie ramek zawierających bity C (SW602)


– Nadawanie i odbiór bitów C od 2 do 15 (ESCAPE, pętle 2 MB, pętla
2 lub pętla 3, instrukcja pętli 2, instrukcja pętli 3, komenda
HDB3, potwierdzenie pętli, niezdefiniowane, uszkodzenie lokalne,
uszkodzenie odległe lub linii, utrata ramki C, zapasowe).
– Dekodowanie poziomu bitu
– Kanał pętli zwrotnej

Inne opcje
Opcje sieci frame relay (SW603 i SW603N)
– Patrz odrębna specyfikacja
Opcje telefonii komórkowej (SW604, SW605, SW644 - wymaga SW640)
– Patrz odrębna specyfikacja
Opcje dostępu do sieci (SW610, SW611, SW612, SW613, SW614, SW615,
SW630)
– Patrz odrębna specyfikacja
Opcje dla sieci komutowanej (SW601A, SW601E, SW640, SW641,
SW642, SW645)
– Patrz odrębna specyfikacja

Dane ogólne
Wewnętrzny bufor danych pamięci nieulotnej o pojemności 512 kB
Bateria wewnętrzna: 9-segmentowa bateria NimH
Czas pracy baterii: nominalnie 4,5 godziny
Ciekłokrystaliczny ekran graficzny 16 linii × 32 znaki z podświetlaniem
Klawiatura o przedłużonej żywotności
Karta pamięci PCMCIA o pojemności 4 MB, do dalszej rozbudowy
Gniazdo drugiej karty pamięci lub urządzenia przechowywania danych
(histogramy i monitorowanie protokołów - wymaga SW2510 lub SW2515).
Adapter - ładowarka baterii: 90-240 V, 50/60 Hz
Języki menu: angielski, francuski, włoski, hiszpański
Pamiętanie do 10 konfiguracji zdefiniowanych przez użytkownika (profile)
Zdalne sterowanie z terminala VT100
Drukarka i port komunikacyjny
– Port szeregowy DIN-8, RS232 (V.24 DTE)
- Tekst: standardowy ASCII z kodami sterującymi
- Grafika: tryb standardowy (grafika rastrowa)
Temperatura pracy: od 0 °C do 50 °C
Temperatura przechowywania: od -20 °C do 70 °C
Wilgotność: od 5% do 90% bez kondensacji
Rozmiary: 10,5 cm × 6,5 cm × 27 cm
Waga: ok. 1,3 kg

SunSet E20 wersja 1.01 201


ROZDZIAŁ 8 SPECYFIKACJE I KONFIGURACJE

Konfiguracje przyrządu

Zestaw podstawowy (tester)


SSE20 SunSet E20
Skonfigurowany z portami 2 Rx i 2Tx 2,048 Mbit/s z
BNC (ż) i 3-pinowymi złączami bananowymi (CF)
Uwaga 1: Standardowe akcesoria obejmują:
Kartę z oprogramowaniem SunWare, baterię SS140, kartę zabezpie-
czającą dla drugiego złącza karty pamięci, adapter AC SS138D, dwu-
żyłowy przewód zasilający w wersji europejskiej SS429, instrukcję ob-
sługi SS266. Wszystkie pozostałe akcesoria włączając w to adaptery
transmisji danych muszą być zamówione osobno.
Uwaga 2: Inny przewód zasilający może być dostarczony bez dodatkowych
kosztów (należy podać jaki).

Opcje sprzętowe
-A Zamiana wszystkich złączy 75 Ω BNC (ż) na złącza nie-
symetryczne 1,6/5,6 (ż) 75 Ω.
SS600 Oprogramowanie i osprzęt transmisji danych.
Zawiera kabel transmisji danych SS308. Wymaga do-
datkowych adapterów lub zestawu adapterów opisanych
w odpowiednich rozdziałach instrukcji.
Uwaga 3: Należy pytać o inne złącza alternatywne.

Opcje oprogramowania SUNWARE


SW600VT zdalne sterowanie z VT100
SW601A analiza rozmowy
SW601E emulacja rozmowy
SW602 Analiza bitów C
SW603 Frame Relay
SW603N Frame Relay NNI
Wymaga SW603
SW604 Dostęp głosowy GSM i TRAU
SW605 Analiza protokołu GSM Abis
SW606 Analiza X.50
SW607 Analiza V.110
SW610 Analiza ISDN i emulacja
Wymagana dla protokołów ISDN przy zakupie SW611-
SW615
SW611 Protokół ETSI (EuroISDN)
Wymaga SW610
SW612 Protokół Aussi
Wymaga SW610

202 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 8 SPECYFIKACJE I KONFIGURACJE

SW613 Protokół QSIG


Wymaga SW610
SW614 Protokół DPNSS
Wymaga SW610
SW615 Protokół DASS2
Wymaga SW610
SW630 Analiza V5.x (rekomendacje ETSI)
SW640 Analiza SS#7 (MTP, SCCP, TCAP)
Wymagana dla analizy SS7 kiedy zamawiamy SW641-
SW646
SW641 Analiza TUP Standard ITU
Wymaga SW640
SW642 Analiza ISUP Standard ITU
Wymaga SW640
SW644 Zastosowania mobilne część BSSAP (DTAP+MAP)
Wymaga SW640
SW645 Analiza ISUP standard chiński
Wymaga SW640
SW2510 Karta pamięci SRAM 256 kB z baterią w celu zwiększe-
nia pojemności przechowywania danych testera
SW2515 Karta pamięci 1 MB SRAM z baterią w celu zwiększenia
pojemności zachowywania testera
Uwaga 4: Karty z oprogramowaniem SunWare mogą być aktualizowane w
celu dodania dodatkowych opcji w dowolnym czasie.
Uwaga 5: Należy pytać o dostępność.

Akcesoria

Ogólne
SS101 Futerał
SS104C Adapter do podłączania ładowarki samochodowej
Do użytku z testerem SunSet wyposażonym w baterię
NiMH
SS115 Kabel drukarkowy RS232C DIN-8 / DB25
Zastępstwo kabla drukarkowego dla wcześniejszych
drukarek, takich jak SS118
SS115B Kabel drukarkowy DIN-8 / DB-9
Dołączony jeśli zamawiamy SW600VT lub SS118B/C
SS117A Papier drukarkowy, 5 rolek, dla SS118B/C
SS118B Drukarka termiczna
Z wewnętrznym akumulatorem. Zawiera kabel (SS115B)
do podłączenia do testera SunSet i ładowarkę 110VAC
SS118C Drukarka termiczna
Z wewnętrznym akumulatorem. Zawiera kabel (SS115B)
do podłączenia do testera SunSet i ładowarkę 220 VAC
SS122 Adapter modemu zerowego.
DTE (m) do DCE (ż), konwersja DB25

SunSet E20 wersja 1.01 203


ROZDZIAŁ 8 SPECYFIKACJE I KONFIGURACJE

SS122A Adapter modemu zerowego


DTE (m) do DCE (ż), konwersja DB9. Włączony do
SW600
SS123A Osłona testera SunSet.
Zapewnia dodatkową ochronę testera SunSet przed
wpływem warunków klimatycznych (dołączone SS123B)
SS143 Gumowy futerał na tester SunSet.
Zapewnia dodatkową ochronę dla testera. Nie jest kom-
patybilny z SS123A.
SS149 Słuchawka dla testera SunSet E20.
SSE20CC Certyfikat kalibracji / zgodności. Należy podać podczas
składania zamówienia, czy jest wymagany.
SSE20CCM Certyfikat kalibracji / zgodności z danymi pomiarowy-
mi. Należy podać podczas składania zamówienia, czy
jest wymagany.
SSE20W Przedłużona gwarancja na tester SunSet E20. Przedłuża
okres gwarancyjny z 1 roku na 3 lata, poza bateriami i
akcesoriami, które mają roczną gwarancję.

Kable 2 Mbit/s
SS211 Kabel, BNC (m) 75 Ω na BNC (m) 75 Ω, 2 metry
SS212 Kabel konwersji, BNC (m) 75 Ω na złącza bantam 120 Ω,
2 metry
SS216 Kabel konwersji, BNC (m) 75 Ω na BR2 (m) 120 Ω, 2
metry
SS217 Kabel, 1,6/5,6 mm (m) 75 Ω na 1,6/5,6 mm (m) 75 Ω, 2
metry
SS220 Kabel, BNC (m) 75 Ω na 1,6/5,6 mm (m) 75 Ω, 2 metry
SS221 Kabel, 3 styki bananowe (CF) 120 Ω na 3 styki banano-
we (CF) 120 Ω, 2 metry
SS223 Kabel, BR2 120 Ω na 3 styki bananowe 120 Ω, 2 metry
SS227 Kabel konwersji BNC (m) 75 Ω na 2 klipsy 120 Ω, 2 me-
try
SS228 Kabel, 3 styki bananowe (CF) 120 Ω na klips, 2 metry
SS436 Kabel konwersyjny, RJ-48 (m) 120 Ω na dwa złącza BNC
(m) 75 Ω

Adaptery transmisji danych


SS253 X.21/V.11 DTE (SS253T) i DCE (SS253C)
Adaptery interfejsów
DB37 na złącze ISO 4903 DB15
SS253Y kabel rozgałęziony do monitorowania transmisji danych
X.21/V.11
DB37 na męskie i żeńskie złącza ISO 4903 DB15
SS254 RS232/V.24 DTE (SS254T) i DCE (SS254C)
Adaptery interfejsów
DB37 na złącza ISO 2110 DB25

204 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 8 SPECYFIKACJE I KONFIGURACJE

SS254Y kabel rozgałęziony do monitorowania transmisji danych


RS232
DB37 na męskie i żeńskie złącza ISO 2110 DB25
SS255 RS449/V.36 DTE (SS255T) i DCE (SS255C)
Adaptery interfejsów
DB37 na złącza ISO 4902 DB37
SS255Y kabel rozgałęziony do monitorowania transmisji danych
RS449
DB37 na męskie i żeńskie złącza ISO 4902 DB37
SS256B Adapter 3 stykowy G.703 64 kbit/s dwukierunkowy /
bananowy
DB37 na złącza bananowe TX i RX 3-stykowe CF
SS262 Adaptery interfejsów RS530 DTE (SS262T) i DCE
(SS262C)
DB37 na złącza ISO 2110 DB25
SS267 Adaptery interfejsów V.35 DTE (SS267T) i DCE
(SS267C)
DB37 na złącza ISO 2593 34-stykowe
SS267Y kabel rozgałęziony do monitorowania transmisji danych
V.35
DB37 na złącza męskie i żeńskie ISO 2593 34-stykowe

Części zamienne
SW2504 Kaseta zabezpieczająca PCMCIA
SS123B Wieszak (karabińczyk) do pokrowca testera SunSet
SS138D Adapter AC testera SunSet, wejście 100 - 240 VAC,
50/60 Hz, wyjście 15 VDC / 2,6 A. Do użytku tylko z
testerem SunSet wyposażonym w baterię NimH
SS140 Bateria 9-segmentowa NimH 10,8 VDC, 1,8 Ah
SS266 Instrukcja obsługi testera SunSet E20, j. angielski
SS308 Kabel transmisji danych, SCSI-36 / DB37, 2 metry
SS429 Przewód zasilający dwużyłowy, wersja europejska
SS431 Trójżyłowy przewód zasilający
Do użytku w USA i Azji
SS437 Trójżyłowy przewód zasilający do użytku w Afryce Połu-
dniowej

Specyfikacja opcji dostępu sieciowego

Testowanie dostępu pierwotnego ISDN (SW610)


Interfejsy: Podwójny E1 Tx i Rx
Tryby: TE, NT, MONITOR
TESTOWANIE WARSTWY 1
– Szczegóły podane są w specyfikacji głównej.

SunSet E20 wersja 1.01 205


ROZDZIAŁ 8 SPECYFIKACJE I KONFIGURACJE

ZESTAWIANIE POŁĄCZENIA
– Ustawienia: Dzwoniący numer telefonu i pod-adres, wybierany numer
telefonu i pod-adres, warstwa 2 TEI, szczelina sygnalizacyjna (do-
myślnie 16), automatyczna lub ręczna odpowiedź, pętla lub obciążenie
– Rodzaj połączenia: mowa, DATA-64, DATA-56, N×64 kbit/s, 3,1
kbit/s audio, 7 kbit/s (tylko ETSI lub AUSSI)
– BERT z połączeniem dla danych do numeru w pętli wstecznej lub tryb
samoczynny (pomiary G.821)
DODATKOWE AUTOMATYCZNE TESTY USŁUG
– Testuje automatycznie obecność następujących usług dodatkowych:
CLIP, CLIR, COLP, COLR, CFU CFB, CFNR, SUB, MSN, DDI, CH,
UUS, TP, AOC-S, -D,-E, MCID, CUG.
AUTOMATYCZNY TEST TELEUSŁUGOWY
– Testuje automatycznie obecność następujących usług dzierżawionych,
teleusług i rodzajów wywołań HLC: SPEECH, DATA-64, DATA-56, 3,1
kbit/s audio, 7 kbit/s, telefonia 3,1 kbit/s, telefonia 64 kbit/s, faks
grupy 2/3, faks grupy 4, tryb MIX, formularz PROC, VIDEOTEXT, lo-
kalny tryb OSI (test w kierunku centrali lokalnej) lub tryb odległy (test
w kierunku centrali odległej).
WYWOŁANIA SEKWENCYJNE
– Dzwoni po kolei do każdego kanału z czasem zatrzymania (0 do 9999
sekund), SPEECH lub DATA-64, z wywołaniem własnego numeru lub
numeru odległego
ANALIZA PROTOKOŁU
– Wyłapuje i przechowuje komunikaty kanału D dla dekodowania i
analizy protokółu
– Wyłapuje zdarzenia warstwy 1 (alarmy), wyłapuje i dekoduje komuni-
katy protokołu warstw 2 i 3, wyświetla zdekodowane komunikaty w
formacie szesnastkowym lub tekstowym (j. angielski), z dekodowa-
niem elementów informacyjnych
– Wyłapuje i zachowuje wiadomości w trybie emulacji lub trybie moni-
torowania
– Filtry: PRE (tylko tryb monitorowania) i POST dla warstwy 1, dla war-
stwy 2 (SAPI i TEI), dla warstwy 3 (numer wybierany, numer dzwonią-
cy, odniesienie rozmowy, rodzaj wiadomości)
– Szczegółowy wydruk śledzenia (szesnastkowe i/lub dekodowane ko-
munikaty) przez portu szeregowego na drukarkę lub komputer
– Pojemność pamięci komunikatów
- Jednostka podstawowa: 90 kB, zachowuje ok. 1200 komunikatów
- Opcjonalna karta SRAM: karta 1 MB, zachowuje około 10 zesta-
wów wyników po 1200 komunikatów każdy (wymaga SW2515)

206 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 8 SPECYFIKACJE I KONFIGURACJE

Opcje standardów i protokołów


(Wymaga SW610)
SW611 ETSI/ITU-T wg zaleceń ETSI
ETS300 102 i ETS 300 402 i ITU-T Q.921 i Q.931
SW612 AUSSI Spełnia standard techniczny AUSTEL 014
SW613 Q.SIG Spełnia zalecenia ECMA: ECMA 141, ECMA 142/143,
ECMA 165, Zalecenia ETSI: ETS 300 402, ETS 300 171/172,
ETS 300 239 i ITU-T Q.921, Q.931
SW614 DPNSS Spełnia standard BTNR seria 188
SW615 DASS2 Spełnia standard BTRN seria 190

Analiza protokołu V5.X (SW630)


Interfejsy: podwójny E1 Rx 75 Ω lub 120 Ω
Standardy
– Zgodne z ITU-T/ETSI V5.1, V5.2 i LAPV5
– V5.1 spełnia zalecenia ETSI: ETS 300 324 i zalecenie ITU-T G.964
– V5.2 spełnia zalecenia ETSI: ETS 300 347 i zalecenie ITU-T G.965
– LAPV5 spełnia zalecenia ETSI: ETS 300 125 i ITU-T Q.920, Q.921
Tryb: MONITOR
– Przechwytuje i zachowuje komunikaty dla dekodowania i analizy
protokołu
– Wyłapuje zdarzenia warstwy 1 (alarmy), wyłapuje i dekoduje komuni-
katy protokołu warstw 2 i 3, wyświetla zdekodowane komunikaty w
formacie szesnastkowym lub tekstowym (j. angielski), z dekodowa-
niem elementów informacyjnych
– Filtry: Filtrowanie wstępne (PRE) dla warstwy 1, warstwy 2, warstwy 3
(ISDN, PSTN, Sterowanie, BCC, Zabezpieczenie i Łącze)
- ISDN: Adres EF
- PSTN: Zestawienie, Potwierdzenie zestawienia, Sygnał, Potwier-
dzenie sygnału, Stan, Zapytanie o stan, Rozłączenie, Rozłączanie
zakończone, Parametr protokołu
- Sterowanie: Sterowanie portu, Potwierdzenie sterowania portu,
Ogólne sterowanie, Potwierdzenie ogólnego sterowania
- BCC: Przeniesienie, Przeniesienie zakończone, Brak przeniesienia,
Usunięcie przeniesienie, Zakończenie usuwania przeniesienia,
Brak usuwania przeniesienia, Audit, Audit zakończony, Uszko-
dzenie AN, Potwierdzenie uszkodzenia AN, Błąd protokołu
- Zabezpieczenie: Switch-Over Req, Switch-Over Com, OS-Switch
Over Com, Potwierdzenie Switch-over, Brak Switch-Over, Błąd
protokołu, Reset SN Com, Potwierdzenie Reset SN
- Łącze: Kontrola łącza, Potwierdzenie kontroli łącza
– Szczegółowy wydruk wyników śledzenia (zapis szesnastkowy i/lub
komunikaty dekodowane) przez port szeregowy na drukarkę lub kom-
puter
– Pojemność pamięci na zachowywania komunikatów
- Jednostka podstawowa: 8 kB, zachowuje około 200 komunikatów

SunSet E20 wersja 1.01 207


ROZDZIAŁ 8 SPECYFIKACJE I KONFIGURACJE

- Opcjonalna karta SRAM: karta 1 MB, zachowuje około 10 zesta-


wów wyników po 1200 komunikatów każdy (wymaga SW2515)
ANALIZA STATYSTYCZNA (dwukierunkowa)
– Warstwa 2: SABME, UA, DM, RR, REJ, I i ramki łączne (zliczenia, %)
– Warstwa 3: PSTN, BCC, Kontrola, Zabezpieczenie, Łącze i komunikaty
łączne (zliczenia, %)

Specyfikacje opcji dla sieci komórkowych


Dostęp głosowy i TRAU dla GSM (SW604)
Interfejsy: Podwójny E1 Tx i Rx
Standardy: Spełnia zalecenia ETSI dla fazy GSM 2+ GSM 08.60

Monitorowanie kanałów
Dwukierunkowe pobieranie i monitorowanie z kanałów / podkanałów
GSM 16 kbit/s
Identyfikuje automatycznie kierunki UPLINK i DOWNLINK
Automatyczne wykrywanie rodzaju ramki dla każdego z podkanałów 16
kbit/s (SPEECH, DATA, IDLE, O&M, Sygnalizacja, Nieznany)
Identyfikuje kanały sygnalizacyjne 64 kbit/s i 16 kbit/s dla A-bis
Dwukierunkowe dekodowanie głosu:
– Możliwość dekodowania z pełną prędkością i dekodowanie rozszerzo-
nego z pełną prędkością (EFR)
– Dekodowany na wbudowany głośnik lub opcjonalne słuchawki
(SS149-UPLINK/jedno ucho, DOWNLINK/jedno ucho)
– Statystyki: poziom PCM, dekodowanie bitów sterujących, zliczanie
BFI, DTX i UFE (kiedy mają zastosowanie)

Dostęp TRAU
Ustawienia: Szczelina czasowa (1 do 31) i podkanał (1 do 4), Rodzaj
(Rozmowa z pełną prędkością, Rozmowa EFR, Rozmowa jałowa, Wzorzec -
ALL 0, ALL 1, 1010, 2n -1, n = 9, 11, 15), kierunek łącza (UPLINK,
DOWNLINK), Kod jałowy, Adjustacja czasowa
Wyniki: Bity kontrolne odebrane (C1 do C21), Czas pozostały*, Zliczanie
błędów bitowych i stopa błędów*, ES*, SES*, EFS*, UAS*, LOSS* (* jeśli
jest wybrany wzorzec testowy)

Analiza protokołu A-bis GSM (SW605)


Interfejsy: Podwójny E1 Rx 75 Ω lub 120 Ω
Standardy: Spełnia zalecenia ETSI dla Fazy GSM 1, 2 i 2+ GSM 04.08,
GSM 08.56 i GSM 08.58
Tryb: MONITOR
– Prędkość dla sygnalizacji: 64 kbit/s lub 16 kbit/s
– Wspomaga Warstwę 2 modulo 8 lub modulo 128
– Warstwa 2 SAPI i TEI w formatach szesnastkowym lub dziesiętnym

208 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 8 SPECYFIKACJE I KONFIGURACJE

– Wyłapuje i zachowuje komunikaty A-bis dla dekodowania i analizy


protokołu
– Wyłapuje zdarzenia warstwy 1 (alarmy), wyłapuje i dekoduje komuni-
katy protokołu warstw 2 i 3, wyświetla zdekodowane komunikaty w
formacie szesnastkowym lub tekstowym (j. angielski), z dekodowa-
niem elementów informacyjnych
– Filtry: PRE i POST dla warstwy 1, warstwy 2, warstwy 3 (ogranicznik
komunikatów, rodzaj komunikatu, numer kanału, numer szczeliny
czasowej, IMSI)
- Ogranicznik komunikatu: zarządzanie RLL, zarządzanie DC, za-
rządzanie CC, zarządzanie TRX, zarezerwowany
– Szczegółowy wydruk wyników śledzenia (zapis szesnastkowy i/lub
komunikaty dekodowane) przez port szeregowy na drukarkę lub kom-
puter
– Pojemność pamięci na zachowywania komunikatów
- Jednostka podstawowa: 90 kB, zachowuje około 1200 komuni-
katów
- Opcjonalna karta SRAM: karta 1 MB, zachowuje około 10 zesta-
wów wyników po 1200 komunikatów każdy (wymaga SW2515)

Część aplikacyjna GSM (MAP-BSSAP) - analiza protokołu (SW644)


Wymaga SW640 - szczegóły podane są w specyfikacji SS#7
Wspiera analizę protokołu dla mobilnej części aplikacyjnej GSM (MAP),
Części Zastosowania Bezpośredniego Przekazu (DTAP) i BSSSAP dla in-
terfejsów A do G
Interfejsy: Podwójny E1 Rx 75 lub 120 Ω
Standardy: Spełnia zalecenia ETSI dla Fazy GSM 1, 2 i 2+ GSM 04.08,
GSM 04.11, GSM 04.80, GSM 08.06, GSM 08.08 i GSM 09.02
Tryb: MONITOR
– OPC i DPC w formatach szesnastkowym lub dziesiętnym
– Wyłapuje i zachowuje komunikaty dla dekodowania i analizy proto-
kołu
– Wyłapuje zdarzenia warstwy 1 (alarmy), wyłapuje i dekoduje komuni-
katy protokołu warstw 2, 3 i 4, wyświetla zdekodowane komunikaty w
formacie szesnastkowym lub tekstowym, z dekodowaniem warstwy 4
– Filtry: PRE i POST dla warstwy 1, warstwy 2, warstwy 3 (DPC, OPC,
SI, SNN, sygnał adresowy, numer adresowy, TCAP OTID, TCAP DTID,
INVOKE ID)
- SCCP SSN: MSC, HLR, VLR, EIR, AUC, OMAP, MANAG, BSSAP
– Szczegółowy wydruk wyników śledzenia (zapis szesnastkowy i/lub
komunikaty dekodowane) przez port szeregowy na drukarkę lub kom-
puter
– Pojemność pamięci na zachowywania komunikatów
- Jednostka podstawowa: 90 kB, zachowuje około 1200 komuni-
katów
- Opcjonalna karta SRAM: karta 1 MB, zachowuje około 10 zesta-
wów wyników po 1200 komunikatów każdy (wymaga SW2515)

SunSet E20 wersja 1.01 209


ROZDZIAŁ 8 SPECYFIKACJE I KONFIGURACJE

Specyfikacje opcji dla sieci Frame Relay


Podstawowe dane dla Frame Relay (SW603)
Interfejsy: E1, V.11/X.21, V.35, V.24/RS-232, V.36/RS-449, dwukierun-
kowy G.703
Standardy LMI: ITU-T Q.933, ANSIT1.617, LMI 9DLCI 1023, GOF Ven-
dors), NO LMI
Tryby: UNI DTE, UNI DCE
– Przepływności:
– E1: 2,048 Mbit/s, N (kanały przyległe) i M (kanały nieprzyległe) × 64
kbit/s (N i M = od 1 do 31)
– Transmisja danych: N×56 kbit/s, N×64 kbit/s (N = 1 do 32)
– Analiza LMI
- Ustawienia: T391 Zapytania o stan, T392 Stan, N391 Full Status
Polling, N392 Error Threshold, N392 Zdarzenia Monitorowania
- Wyniki: całe łącze OK, całe łącze z błędami, błąd przekroczenia
czasu, numer sekwencyjny odpowiedzi, nieprawidłowy komunikat
- Stan PVC: nowy, aktywny, lub nieaktywne wskazanie DLCI
(utrzymuje stan dla 60 DLCI)
– Test PING
- Ustawienia: długość nagłówka DLCI (2/3/4 bajty), wartość DLCI,
lokalny IP @, adres przeznaczenia IP, identyfikator protokołu war-
stwy sieciowej (NLPID: IP lub SNAPIP), Time out, liczba PINGów
- Wyniki: liczba PINGów, liczba wysłanych PINGów, stan PING
(otrzymany, niedostępny, błędny), czas przejścia (aktualny, średni,
maksymalny, minimalny)
- Wspomaganie InARP
- Spełnia RFC2390 (IETF)
- Ustawienia: Tryb [Odmierzania czasu (wybieralny), ręczne żą-
danie, brak InARP], Time Out (wybieralny)
- Statystyka InARO: wysłane żądanie InARP, otrzymana odpo-
wiedź InARP, Time Out odpowiedzi InARP, otrzymane żądanie
InARP, wysłana odpowiedź InARP, przyporządkowany ostatni
adres IP
- Echo PING
- Echo / odpowiedź na żądanie PING do lokalnego adresu IP
- Wyniki: łączna liczba odebranych żądań PING, adres IP żądające-
go PING, liczba żądań PING przez adres IP w określonym czasie
– Test FOX
- Ustawienia: Długość nagłówka DLCI (2/3/4 bajty), wartość DLCI,
CIR.
- Długość ramki: (N×64 bajty, N = 1 do 64), jawne powiadamianie o
natłoku do przodu (FECN), jawne powiadamianie o natłoku do
(BECN), wykonanie odrzucone (DE)

210 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 8 SPECYFIKACJE I KONFIGURACJE

- Wyniki: Stan PVCX, aktualna przepływnośc, błędne ramki, błąd


RSN, błąd SSN, błąd sekwencji sprawdzania częstotliwości (FCS),
zliczanie odebranych ramek z FENC, z BENC, z DE, zliczanie ra-
mek wysłanych, zliczanie ramek odebranych
– Analiza statystyczna
- Monitorowanie E1 za pomocą odbiornika podwójnego, monitoro-
wanie transmisji danych przy pomocy adapterów kabla Y [wymaga
SS253Y (V.11/X.21), SS267Y (V.35), SS267Y (V.36/RS-449),
SS254Y (V.24/RS-232)]
- Wybieralna długość krótkiej ramki, długość długiej ramki
- Właściwości transmisji Frame Relay: wykorzystanie średnie /
maksymalne / minimalne (%), przepustowość średnia / maksy-
malna / minimalna (%), liczba ramek na sekundę średnia / mak-
symalna / minimalna
- Statystyka Frame Relay: oktet średni, łączna ramka, ramki FECN,
ramki BECN, ramki DE, krótkie ramki, długie ramki, ramki od-
rzucone, błędy FCS
- Analiza DLCI: zliczanie łącznych aktywnych DLCI, lista aktywnych
DLCI (do 100 DLCI)
- Statystyka DLCI: średni oktet, łączne ramki, ramki FECN, ramki
BECN, ramki DE, krótkie ramki, długie ramki, ramki odrzucone,
błędy FCS

Frame Relay NNI (SW603N)


Wymaga SW603
Interfejsy: E1, V.11/X.21, V.35, V.24/RS-232, V.36/RS-449, dwukierun-
kowy G.703
Standardy LMI: ITU-T Q.933, ANSIT 1.617, LMI (DLCI 1023, GOF Ven-
dors), NO LMI
Tryby: NNI USER, NNI NETWORK
– Prędkości
- E1: 2,048 Mbit/s, N (przylegająca) i M (nie przylegająca) x 64
kbit/s (N i M = 1 do 31)
- Transmisja danych: Nx56 kbit/s, Nx64 kbit/s (N = 1 do 32)
Analiza LMI, test PING, test FOX, analiza statystyczna - taki, jak opisano
w podstawowych pomiarach Frame Relay (patrz wyżej)

Specyfikacje opcji dla sieci komutowanych


Analiza i emulacja wywołań (SW601A, SW601E)
Interfejsy: Podwójny E1 Tx i Rx
Tryby: Analiza, emulacja
Standardy: Spełnia zalecenia ITU-T z serii Q.422, ITU-T Q.441, ITU-T
Q.140
Programowalne stany bitów ABCD dla IDLE, SEIZE, SEIZE ACK,
ANSWER, CLEAR BACK, CLEAR FORWARD, BLOCK ABCD; domyślny
(spełnia Q.422) lub 3 ustawienia zdefiniowane przez użytkownika

SunSet E20 wersja 1.01 211


ROZDZIAŁ 8 SPECYFIKACJE I KONFIGURACJE

Ustawienia oznaczeń i wyświetlania Grupy I/II w przód, Grupy A/B


wstecz; cyfry wg Q.441 lub 3 ustawienia zdefiniowane przez użytkownika

Analiza wywołania dla kanału głosowego (SW601A)


Dwukierunkowe analizy wybierania MFR1, MFR2/MFR2C, SS#5, DTMF,
impulsowego (DP)
Dwukierunkowa analiza przejść CAS (sygnalizacja ABCD)
Ręczne (na wybranej szczelinie czasowej) lub automatyczne wyzwalanie
przeszukiwania (tylko MFR2/MFR2C, DTMF i DP)
Wyzwalanie automatyczne: CAS (wybieralne ABCD), STATE, SEIZE,
ACKNOWLEDGE, ANSWER, CLEAR FORWARD, CLEAR BACKWARD,
BLOCK)
Śledzenie z zapisem czasu (rozdzielczość 1 ms) w wartościach względnych
lub bezwzględnych
Ustawienia dekodowania zapamiętanych cyfry na etykiety
MFR2/DTMF częstotliwość / poziom / skręt / dźwięk okres / okres mię-
dzy cyfry otrzymane dekodowanie cyfrowe i analiza
Impuls (DP) %przerwy/pps/okres analiza otrzymanej cyfry

Emulacja wywołania dla kanału głosowego (SW601E)


Programowalne wybieranie 1 do 15 cyfr
Parametry wybierania:
– Okres powtarzania tonu wybierającego, okres powtarzania ciszy,
odstęp międzycyfrowy, poziom tonu wybierania (od -5 do -20 dBm,
rozdzielczość 1 dB)
– Wybieranie impulsowe: %przerwy / okres
Tryb odbioru lub rozmowy:
– Ustawienia wywołania (odbiór lub rozmowa) z obserwacją stanu
rozmowy na linii (Tx i Rx), wyświetlanie (bity ABCD, STATE i cyfry)
ze znakowaniem czasu (rozdzielczość 1 ms) w wartościach względ-
nych lub bezwzględnych
– Programowanie identyfikatora i kategorii strony wywołującej
Emulator wywołania definiowanego przez użytkownika:
– Pamiętanie 10 ustawień sygnalizacyjnych emulacji
– Każda emulacja przechowuje do 50 zdarzeń łącznie
– Programowalna sygnalizacja nadawania i odbioru (CAS), cyfry
(MFR2, DP, DTMF) okresy oczekiwania i czas martwy
– Okres nadawania od 0 do 999 ms, czas martwy dla odpowiedzi od
0 do 999 ms, programowanie do 20 cyfr (MFR2, DP i/lub DTMF)
Sygnalizacja nr 5 (SS#5):
– Spełnia zalecenia ITU-T z serii Q.140
– Możliwość sygnalizacji SS#5 dla 2400 Hz, 2600 Hz, 2400+2600 Hz
– Dekodowanie częstotliwości kontrolnych: Socotel - 1700 Hz, 1900
Hz, AON - 425 Hz, 500 Hz, eliminator echa - 2100 Hz

212 SunSet E20 wersja 1.01


ROZDZIAŁ 8 SPECYFIKACJE I KONFIGURACJE

Analiza protokółu sygnalizacji nr 7 (SW640)


Umożliwia analizę protokółu dla komunikatów SS#7 TUP, ISUP, SCCP,
SNM i SNT
Zgodność z ITU-T z serii Q.700 (ogólna, MTP, SCCP, TUP, ISUP, TCAP),
standardy chińskie (14 i 24 bity)
Interfejsy: podwójny E1 Rx 75 lub 120 Ω
Tryb: MONITOR
– OPC i DPC w formatach szesnastkowym lub dziesiętnym
– Wyłapuje i zachowuje komunikaty dla dekodowania i analizy proto-
kołu
– Wyłapuje zdarzenia warstwy 1 (alarmy), wyłapuje i dekoduje komuni-
katy protokołu warstw 2, 3 i 4, wyświetla zdekodowane komunikaty w
formacie szesnastkowym lub tekstowym (j. angielski), z dekodowa-
niem warstwy 4
– Filtry: PRE i POST dla warstwy 1, warstwy 2, warstwy 3 (DPC, OPC,
SI)
- SI: SNM, SNT, SCCP, TUP, ISUP
- Dla SNT, SNM: kodowanie SLS, HEAD CODE
- Dla TUP: CIC, HEAD CODE, sygnał adresowy, numer adresowy
- Dla ISUP: CIC, rodzaj komunikatu, sygnał adresowy, numer adre-
sowy
- Dla SCCP: SSN, kodowanie SLS, rodzaj komunikatu, sygnał adre-
sowy, numer adresowy, TCAP OTID, TCAP DTID, INVOKE ID (kie-
dy zastosowane bazują na rodzaju SCCP SSN)
– Szczegółowy wydruk wyników śledzenia (zapis szesnastkowy i/lub
komunikaty dekodowane) przez port szeregowy na drukarkę lub kom-
puter
– Pojemność pamięci na zachowywania komunikatów
- Jednostka podstawowa: 90 kB, zachowuje około 1200 komuni-
katów
- Opcjonalna karta SRAM: karta 1 MB, zachowuje około 10 zesta-
wów wyników po 1200 komunikatów każdy (wymaga SW2515)
– Opcje części użytkownika (wymaga SW640)
- SW641 TUP ITU-T
- SW642 ISUP ITU-T
- SW644 GSM MAP/DTAP/BSSAP. Więcej szczegółów podano w
specyfikacji technicznej opcji dla sieci komórkowych
- SW645 ISUP Chiński

SunSet E20 wersja 1.01 213


ROZDZIAŁ 8 SPECYFIKACJE I KONFIGURACJE

214 SunSet E20 wersja 1.01


Skróty

A
AC - Alternating Current - prąd przemienny. Prąd zmieniający
się w sposób ciągły, zazwyczaj w rytm sinusoidy.
ACK - Acknowledge - potwierdzenie. Znak sterujący sygnalizują-
cy gotowość odbiornika do przyjęcia następnego bloku
danych.
AFBER - Average Framing Bit Error Rate - uśredniona stopa błę-
dów ramkowania
AIS - Alarm Indication Signal - sygnał obecności alarmu.
Oznacza obecność sygnału o zawartości samych "1" na
aktywnym wejściu odbiornika.
AISS - Alarm Indication Signal Seconds - sekundy z sygnalizacją
alarmu. Liczba sekund, w których stwierdzono obecność
alarmu AIS.
ALM - Alarm
AMI - Alternate Mark Inversion - metoda transmisji cyfr binar-
nych, w której kolejne "jedynki" mają zmienianą biegu-
nowość.
AS - Available Second - dostępne sekundy
AVBER - Average Bit Error Rate - uśredniona stopa błędów bito-
wych.
AVCER - Average CRC-4 block Error Rate - uśredniona stopa błę-
dów kontroli redundancji.
AVG - Average - uśredniony, średni.

B
B Channel - Bearer Channel - kanał nośny. Kanał 64 kbit/s dostępny
dla użytkownika w łączu ISDN, służący do transmisji da-
nych cyfrowych, głosu zakodowanego metodą PCM lub
danych mieszanych o niższej przepływności.
BATT - Battery - akumulator lub bateria.
BERT - Bit Error Rate Testing - pomiar stopy błędów bitowych.
BIB - Backward Indicator Bit - bit wskaźnika wstecz. Bit zane-
gowany dla ujemnego potwierdzenia wiadomości BSN.
BIT - Bit Error - błąd bitowy
BPV - Bipolar Violation - zaburzenie dwustanowe.
BRI - Basic Rate Interface - interfejs dostępu podstawowego.
BSC - Base Station Controller - kontroler stacji bazowej. Część
sieci GSM; zarządza zasobami radiowymi dla jednej lub
więcej stacji nadawczo-odbiorczych.
BSN - Backward Sequence Number - wsteczny numer sekwen-
cji. Wskazuje na ostatnio odebraną wiadomość.

SunSet E20 wersja 1.01 215


SKRÓTY

BSS - Base Station Subsystem - podsystem stacji bazowej.


Główna część sieci GSM; obejmuje łącze radiowe ze stacją
ruchomą.
BTS - Base Transceiver Station - bazowa stacja nadawczo-
odbiorcza. Część BSS; obejmuje nadajniki i odbiorniki
radiowe.
BTSLP - Bit Slip - poślizg bitowy. Pojawia się, gdy zsynchronizo-
wany wzorzec albo traci jakiś bit, albo pojawia się w nim
bit dodatkowy.
BUFF - Buffer -bufor. Urządzenie czasowo przechowujące dane
pochodzące z urządzenia szybszego.

C
CAS - Channel Associated Signalling - sygnalizacja w kanale.
CC - Connection Confirm - potwierdzenie połączenia.
CCH - Control Channels - kanały sterujące.
CER - CRC-4 Error Rate - stopa błędów CRC-4.
CIC - Circuit Identification Code - kod identyfikacyjny obwodu.
Etykieta wiadomości związanych z obwodem.
CK - Checksum - suma kontrolna. Suma grupy danych uży-
wana do kontroli poprawności.
CLKSLP - Clock Slip - poślizg sygnału zegarowego.
COD - Code - kod.
CONFIG - Configuration - konfiguracja.
CR - Connection Request - żądanie połączenia.
C/R - Command/Response - komenda/odpowiedź. Pole bitowe
wskazujące, czy nadawana ramka jest komendą, czy też
odpowiedzią.
CR - Carriage Return - znak "powrót karetki"
CRC-4 - Cyclic Redundancy Check Code - 4 - czterobitowy kod
cyklicznej kontroli nadmiarowej.

D
D Channel - Demand Channel - kanał sygnalizacyjny
DASS2 - Digital Access Signalling System 2 - system sygnalizacji
dostępu cyfrowego nr 2
dB - decybel
dBdsx - decybel odniesiony do poziomów mocy zdefiniowanych w
zaleceniu G.703
DC - Direct Current - prąd stały
DCE - Data Circuit Equipment - urządzenie transmisji danych
DCS - Digital Cross-connect System - przełącznica cyfrowa
DET - Detected - wykryty
DGRM - Degraded Minute - minuta zdegradowana
DIG - Digital - cyfrowy
DN - Down - w dół
DPNSS - Digital Private Network Signalling System - system sy-
gnalizacji w cyfrowych sieciach wydzielonych

216 SunSet E20 wersja 1.01


SKRÓTY

DTE - Data Terminal Equipment - terminal danych


DTMF - Dual Tone Multi Frequency - wybieranie dwutonowe wie-
loczęstotliwościowe

E
E1 - sygnał 2,048 Mbit/s
EBER - E-bit Error Rate - stopa błędów bitu E
EBIT - E-bit - bit E
EIR - Equipment Identity Register - rejestr identyfikujący urzą-
dzenia
ERR INJ - Error Injection - wprowadzanie błędów
ES - Errored Second - sekunda z błędami
ESF - Extended Super Frame - rozszerzona ramka główna
ET - Elapsed Time - czas, który upłynął
EXTERN - External - zewnętrzny

F
FALM - Frame Alarm - alarm ramkowania
FAS - Frame Alignment Signal - sygnał fazowania ramki
FBE - Framing Bit Error - błąd bitu ramkowania
FBER - Framing Bit Error Rate - stopa błędów bitu ramkowania
FE - Frame Error - błąd ramkowania
FREQ - Frequency - częstotliwość
FRM - Frame - ramka

G
GSM - Global System for Mobile Communications

H
HDB3 - High Density Bipolar Threekod - kod dwubiegunowy o
wysokiej gęstości
HEX - hexadecimal - szesnastkowy
HOLDSCRN - Hold Screen - zamrożenie ekranu
HLR - Home Location Register - rejestr lokalizacji urządzenia
Hz - herc

I
INTERN - Internal - wewnętrzny
INV - Inverted - odwrócony
ISDN - Integrated Services Digital Network - sieć cyfrowa z inte-
gracją usług
ISUP - ISDN User Part - część użytkownika protokółu ISDN

K
kbps - KiloBits Per Second - kilobity na sekundę, kbit/s

SunSet E20 wersja 1.01 217


SKRÓTY

L
LAP-B - Link Access Protocol - Balance - zrównoważony protokół
dostępu do łącza
LBO - Line Build Out -
LED - Light Emitting Diode - dioda elektroluminescencyjna
LOFS - Loss of Frame Second - sekunda z utratą ramkowania
LOG - Logical Error (BIT error) - błąd logiczny (błąd bitowy)
LOS - Loss of Signal - utrata sygnału
LOSS - Loss of Signal Second - sekunda z utratą sygnału
Lpp - Level peak-to-peak - wartość międzyszczytowa poziomu
LVL - Level - poziom

M
MAX - Maximum - maksimum
Mbps - megabits per second - megabity na sekundę, Mbit/s
MFAL - Multiframe Alarm Seconds - sekundy z alarmem wielo-
ramki
MFAS - Multiframe Alignment Signal - sygnał fazowania wielo-
ramki
MFC - Multi-Frequency Compelled - sygnalizacja wieloczęstotli-
wościowa wymuszana
MFE - Multiframe Bit Error - stopa błędów bitowych wieloramki
MIN - Minimum
MSC - Mobile Switching Centre - ruchome centrum przełączają-
ce
MON - Monitor
msec - 1 milisekunda (1/1000 sekundy) - 1 ms
µ-law - metoda kompansji głosu
µsec - 1 mikrosekunda (1 milionowa sekundy) - 1 µs

N
nsec - 1 nanosekunda (jedna miliardowa sekundy) - 1 ns
NE - Network Element - element sieci, urządzenie sieciowe
NT - Network Termination - zakończenie sieciowe
NV RAM - Non Volatile Random Access Memory - nieulotna pamięć
RAM

P
P/F - Pass/Fail - poprawny niepoprawny (zgodny/niezgodny)
PAT - Pattern - wzorzec
PBX - Private Branch Exchange - centrala abonencka
ppm - parts per million - części na milion
PRBS - Pseudo Random Bit Sequence - pseudoprzypadkowa se-
kwencja bitów
PRI - Primary Rate Interface - interfejs dostępu pierwotnego
PRN SCRN - Print Screen - wydruk zawartości ekranu

218 SunSet E20 wersja 1.01


SKRÓTY

PRNT - Print - wydruk


PRNTR - Printer - drukarka

Q
QRS - Quasi Random Signal - sygnał prawie przypadkowy

R
R - Receive - odbiór
RAI - Remote Alarm Indication - wskaźnik alarmu oddalonego
RCV - Receive - odbiór
REF - Reference - odniesienie
RESYNCH - Resynchronization - powtórna synchronizacja
RLL - Radio Link Layer - warstwa łącza radiowego
RT - Remaining Time - czas pozostały
RX - Receive - odbiór

S
SABME - Set Asynchronous Balanced Mode Extended - ustawienie
rozszerzonego asynchronicznego trybu zrównoważonego
SAPI - Service Access Point Identifier - identyfikator punktu do-
stępu serwisowego
SCCP - Signalling Connection Control Part - część sterująca po-
łączenia sygnalizacyjnego
SCRN - Screen - ekran
SES - Severely Errored Second - sekunda z poważnymi błędami
SF - Super Frame - ramka główna
SIG - Signal - sygnał
SLIPS - Clock Slips - poślizgi sygnału zegarowego
SS - SunSet
SW - SunWare
SYNC - Synchronized - synchronizowany

T
T - Transmit - nadawanie, wysyłanie
TCH - Traffic Channels - kanały z ruchem
TE - Terminal Equipment - terminal
TEI - Terminal Endpoint Identifier - identyfikator terminala
końcowego
TERM - Terminated - zakończony, końcowy
T/S - Time Slot - szczelina czasowa
TS-16 - Time Slot 16 - szczelina czasowa nr 16
TERM - Terminated - zakończony, końcowy
TRAU - Transcoder and Rate Adaptation Unit - jednostka tran-
skodera i dopasowania przepływności
TX - Transmit - nadawanie, wysyłanie

SunSet E20 wersja 1.01 219


SKRÓTY

U
UAS - Unavailable Second - sekunda niedostępna
UI - Unit Interval - interwał jednostkowy, przedział jednost-
kowy

V
V - Volts - wolty
VAC - Volts AC - wolty napięcia przemiennego
VF - Voice Frequency - częstotliwość głosowa

W
WNDR - Wander

X
XMT - Transmit - nadawanie, wysyłanie

220 SunSet E20 wersja 1.01


Skrócone warunki gwarancji

A. Sprzęt. FIRMA gwarantuje, że sprzęt będzie wolny od uszkodzeń ma-


teriałowych i wykonawczych. Podczas okresu gwarancyjnego, FIRMA
będzie albo (i) zwracała KLIENTOWI wartość zakupionego urządzenia
bez odsetek, (ii) reperowała wymieniony produkt, lub (iii) zamieni
sprzęt, któremu udowodniono wadliwość; jednakże pod warunkiem,
że takie produkty, które FIRMA zgodziła się zamienić, muszą być
zwrócone do FIRMY przez KLIENTA łącznie z dowodem zakupu w cią-
gu 20 dni zażądanych przez FIRMĘ, fracht przedpłacony (przez
klienta).
B. Oprogramowanie i oprogramowanie firmowe. FIRMA gwarantuje, że
nośniki oprogramowania i oprogramowania firmowego będą wolne od
wad materiałowych i wykonawczych. Podczas okresu gwarancyjnego
FIRMA będzie albo (i) zwracała KLIENTOWI wartość zakupionego
oprogramowania bez odsetek, (ii) reperowała wymienione oprogramo-
wanie lub (iii) dokona wymiany oprogramowania lub oprogramowania
firmowego, którym udowodniono wadliwość; jednakże pod warun-
kiem, że takie produkty, które FIRMA zgodziła się zamienić, muszą
być zwrócone do FIRMY przez KLIENTA łącznie z dowodem zakupu w
ciągu 20 dni na żądanie FIRMY, fracht przedpłacony (przez klienta).
Dodatkowo, podczas okresu gwarancyjnego, FIRMA dostarczy, bez
opłat ze strony KLIENTA, wszystkie poprawki, korekty,, nowe wydania
i aktualizacje, które FIRMA wyda podczas trwania okresu gwarancyj-
nego. FIRMA nie gwarantuje, że wszystkie defekty oprogramowania
mogą być poprawione. W każdym przypadku, kiedy FIRMA nadała
oprogramowaniu licencję "jakie jest", obowiązki FIRMY będą ograni-
czone do wymiany nieodpowiedniej kopii na materiał oryginalny.
C. Okres. Okres gwarancji na sprzęt, oprogramowanie i oprogramowanie
firmowe wynosić będzie jeden (1) rok od daty wysyłki do KLIENTA.
FIRMA może także sprzedać rozszerzenie gwarancji lub zapewnić
okres gwarancyjny wynoszący trzy lata przy pierwotnej sprzedaży,
który zapewni dłuższy okres pokrycia gwarancyjnego dla sprzętu,
oprogramowania i oprogramowania firmowego, w którym to przypad-
ku ograniczone warunki gwarancji skróconej będą miały zastosowanie
w stosunku do specyficznych warunków gwarancji.
D. Tylko dla KLIENTA. FIRMA udziela niniejszej gwarancji tylko na rzecz
KLIENTA, a nie na rzecz innego kupującego lub licencjodawcy innych
towarów.
E. OGRANICZENIE GWARANCJI. OKREŚLA WYŁĄCZNĄ GWARANCJĘ
UDZIELONĄ PRZEZ FIRMĘ W STOSUNKU DO SPRZĘTU,
OPROGRAMOWANIA I OPROGRAMOWANIA FIRMOWEGO. NIE
ISTNIEJĄ ŻADNE INNE GWARANCJE, SKRÓCONE LUB
DOROZUMIANE. FIRMA ZWŁASZCZA NIE UDZIELA GWARANCJI
DOROZUMIANEJ TOWARU I DOPASOWANIA DO SZCZEGÓLNEGO
CELU. ODPOWIEDZIALNOŚĆ FIRMY W RAMACH TEJ UMOWY W
STOSUNKU DO PRODUKTU, WŁĄCZAJĄC ODPOWIEDZIALNOŚĆ
FIRMY ZA SZKODY PO POWTÓRZONYCH WYSIŁKACH MAJĄCYCH
NA CELU ZAINSTALOWANIE SPRZĘTU W PRAWIDŁOWYM
PORZĄDKU PRACY, NAPRAWY LUB WYMIANY SPRZĘTU, NIE
BĘDZIE W ŻADNYM PRZYPADKU PRZEKRACZAĆ CENY DOSTAWY

SunSet E20 wersja 1.01 221


SKRÓCONE WARUNKI GWARANCJI

LUB OPŁATY LICENCYJNEJ TEGO PRODUKTU. W ŻADNYM


PRZYPADKU FIRMA NIE BĘDZIE ODPOWIEDZIALNA ZA
PRZYPADKOWE, NIEBEZPOŚREDNIE LUB SPECJALNE
USZKODZENIE ŻADNEGO RODZAJU, WYPŁYWAJĄCE ZE
SPRZEDAŻY LUB PODOBNEJ CZYNNOŚCI HANDLOWEJ,
ZAWIERAJĄCEJ LECZ NIE OGRANICZONEJ DO USZKODZEŃ LUB
STRAT HANDLOWYCH, UTRATY ZYSKU, UTRATY DOBREJ WOLI,
USZCZERBKU REPUTACJI, KOSZTÓW STAŁYCH, STRATY CZASU,
NAPRAWY, WYMIANY LUB ZWROTÓW OPŁAT LUB DEBETÓW ZE
STRONY KLIENTA LUB JEGO KLIENTA.
F. Brak gwarancji. Brak zastosowania gwarancji. FIRMA nie gwarantuje
i nie udziela gwarancji na to, że działanie sprzętu, oprogramowania i
oprogramowania firmowego będzie niezakłócone lub wolne od błędów.
Gwarancja nie ma zastosowania w stosunku do uszkodzeń wynikają-
cych z:
(1) Nieprawidłowego lub nieadekwatnego obchodzenia się przez
KLIENTA.
(2) Na oprogramowanie lub interfejsy dostarczone przez KLIENTA.
(3) Nieautoryzowanych zmian lub nieprawidłowego użycia
(4) Pracę poza specyfikacją środowiskową określoną dla produktu
(5) Nieprawidłowego działania strony lub utrzymania; lub
(6) Nieprawidłowej instalacji dokonanej przez KLIENTA.

Świadectwo Pochodzenia
My, firma Sunrise Telecom, z oficjalną siedzibą przy 22 Great Oaks Blvd.,
San Jose, CA 95119, zaświadczamy, że następujące produkty zostały wy-
produkowane w Stanach Zjednoczonych Ameryki.
Model Nazwa
SSE20 SunSet E20
Wszystkie wersje oprogramowania SunWare.

222 SunSet E20 wersja 1.01

You might also like