NORMA | COVENIN VENEZOLANA 3269:1996 (ISO 3951:1989) ERE EEE EEE PROCEDIMIENTOS DE MUESTREO Y GRAFICAS DE INSPECCION POR VARIABLES PARA PORCENTAJE NO CONFORMES ® rey)PROLOGO. La Comision Venezolana de Normas Industriales (COVENIN). creada en 1938, es el organismo encargado de programar y coordinar las actividades de Nommalizacién y Calidad en el pais. Para llevar a cabo el trabajo de elaboracion de normas, la COVENIN constituye Comités y Comisiones Técnicas de Normatizacion, donde panicipan organizaciones gubernamentales y _n0- -gubernamentales relacionadas con wn drea especifica La presente norma es una adopcion de la norma 1$0 3951:1989 .fue considerada bajo los lineamientos del Comité Técnico de Notmatizacion CT 23 Calidad por el Subcomité Técnico SC 3 Procedimientos estadisticos y aprobada por la COVENIN en su reunién No 143 de fecha 04/12/1996.CONTENIDO Seccidn 1: Generales 1 Objeto y campo de apicacion 2 Referencias normativas 3 Definiciones y simbolos 4 Nivel de calidad aceprable 5 Reulas de cambio para mspeceiénypogmal. estrietay reducida 6 Relacién con la norma COVE? jon 2: Seleccidn de un plan de mu centre varinbles y atributos 16 Procedumiento dural 17 Normalidad y vaiores 18 Registros, 19 Empleo de las reglas de cam! 20 teerrupein y resnudacion de la inspeecién 21 Curvas de aceptacidn para inspeccion estrictay reducida 22. Cambio al metodo “a” Seccion $: Tablas v Diagramas 1A Letras eédigo del tamano de muestra y niveles de inspeceson LB Letras c6digo del tamano de muesira y tamanos de muestes para la inspeccion normal Pagina 6 6 w e loCONTENIDO, Pagina I-A Planes de mvestreo simple para la inspeceion normal (tabla 21 macsira) metodo " IL-B Planes de muestreo simple para Ia inspeccion estricta tabla 22 maestra): método “s I-C Planes de muestreo simple para la inspeccién reducida (abla maestra}: metodo "s" IIL-A Planes de muestreo simple para la inspeccion normal (tabla. 24 rmaestra): método “a” Planes de muestreo simple para ta ing metodo “o" ricta (tabla 25 ues de muestreo simple para aestra}. método “a fe f, para la desviacion estindar mt codo "s" para la desviacién estindar maxima in 8 y curvas caracteristicas de Facion para los planes de jestreo (cOdigos del tamano de westras B hasta P), VIA Correspondencis entrefiplanes. de inspeceién estrictos y normals VI-B Comrespondencia, wpeecion reducidos yf rormales Diagramas A Cédigos del mario de cestandar para calidades especit probabilidades de aceptacién del D hasta -P Curvas de al hasta oP Curva de acept especificacion dobles cor Anexos A Procedimniento pata obtener sy a 6 1 Teoria Estadstien 2 € Planes de mesteeo para et método “R' 8 1 Papel miimetrado para et metodo“ vos Bibliografia wrNORMA VENEZOLANA PROCEDIMIENTOS DE. MUESTREO Y GRAFICAS. DE INSPECCION POR VARIABLES PARA PORCENTAJE NO CONFORMES SECCION 1: GENERALIDADES, 1 OBJETO Y CAMPO DE APLICACION 1.1 Objeto smwestreoy variables y jando. asi lo que los lotes de calida abilidad de ser aceplados aceptar lotes de calidad infert con Ia norma COVENIN 3133, ef luctes no conformes en los lotes se usa para idad de estos lotes y del proceso de produ i 12 cal sta no fundamentalmente para ser usada en iciones: speccién se va a aplicar roduetos discretos, tor mediante wy diferentes ‘por separado todos estos 5 tun solo proceso productores. esta no ‘cada uno de ellos, b) donde se tiene en cuenta una sola caracteristica de calidad x de estos productos, que debe ser medible en una escala continua, Si algunas de tales catacteristicas son de importancia, esta norma se debe aplicar a cada una de ellas por separado. ©) donde la produccion es estable (bajo control esiadistico) y la earacteristica de calidad x esta distribuida de acuerdo a la distribueién normal o a una aproximacién cercana a esta 4d) donde un contrato © norma define un limite de "En estado de borrador COVENEN 3269:1996 (ISO 3951:1989) especificacion superior LES, un limite de especificacidn inferior LE! o ambos: se calitics wi producto como no conforme cuando su carcteristica de calidad medida x satisface una de las siguientes desigualda bien sea x > LES Las desigualdades (1) y (2) limite nico de especificacion, ‘con limites de especificacion situacion se hace ademas una di dobles combinados 0 separados. nivel de calidad aceptable (NCA) se por separado © a ambos limites apartado 4) este texto, constituven olana. Las ediciones el momento de esta pul jjeta a revision $¢ 1 aquellos inalicen la ntes de las idos de ens. Deternil fad vy de la reprodi ensayo normale mediante (1s0 5725) diferentes laboratories COVENIN 3) reediomientos de muestren pars Inspeccién por alributo. (ISO 2859) COVENINASO 3534, Estadistica Vocabulary simbolos Otras Normas 1S 2854. Statistical imerpretation of data - Techniques of estimation and rests relaring fo means and variances 1S0 5479, Normality tests."3. DEFINICIONES ¥ SiMBOLOS 3.1 Definicio s Para_los propésitos de esta norma, se_aplican las definiciones presentadas en las normas COVENIN-ISO 3534 y COVENIN 3133, junto con las siguientes 31-1 inspeccidn por variables: Método que consiste en medir una caracteristica cuantitaliva para cada item de lacién © para una muestra tomada de esta 3.12 muestreo para aceptacidn por variables: Procedimiento de aceptacién en el cuah se mide una caracteristica —_especificada determinar estadisticamente la aceptabili panir del resultado obtenido de tos it BAL3 nivel de call calidad (en una propésitos de la i porcentaje pro proceso. (Vée reo, esta limitado a dn (en esta norma: 10%). BLS on 1d: Incumplimiento de un requisi specific aracteristca de calidad en un item servicio, én no depende fundamentalmente del paso igeneralmente se clasifican de criticidad, por ejemplo: lades de un tipo determinado, ara el producto 0 servicio in, a takes tipos de no de NCA muy bajos. que se considera importancia: por fo tanto, valor de NCA mayor que a la 2 las de la clase C, si existe ul sucesivamente ‘menor que ‘elase, y asi EL numero de clases y ta asignacion en una de éstas deberian ser apropiadas para los requisitos de calidad de tuna situacidn especifica 3.1.6 unidad no conforme: Unidad de un producto © servieio que contiene por lo menos una no conformidad, 31.7 método “s": Método para evaluar la aceptabilidad de un lote, mediante el conocimiento de la desviacién estdndar de la muestra, (Véase apartado 14.) 3.1.8 método “0”: Método para evaluar la aceprabilidad de un lote, mediante e1 conocimiento de la desviacién estindar del proceso. (véase apartado 15.) 3.1.9 método "A" Método para evaluar la aceptabilidad de un lote, estimando la desviacién estandar del proceso en base al rango promedio de las mediciones de los tems en subgrupos de [a muestra. (véase et anexo C4 3.110 limite de espeeificacion: Valor limixe especificado (inferior 0 superior) para una caracteristica ccuantitativa 3.1.11 limite de especificacion inferior (J£/)- Detine el margen inferior deycumplimieato de una unidad de una operacion de manul ici tuna operacién de mat 3413 limite Ginico de es usa cuando se especifica s6lo uF BALI limites de especificacién Término que se usa cuanda se e tanto superior como inferior y se apli NCA w cada limite individualmente,( BAAS limite de especificacion Término que se usa cuando se especi tanto superior como inferior y se da porceniaje combinado no conte éase 4.3.) ‘ante de aceptabilidad (& walor especificado de! flo de la muestra. (1 indo el valor Q, con la constante de aceptabilidad 4. (véase 14.2 y 15.2 0.5 del anexoC.1 3.1.19 estadistico superior de calidad (Q.) Funcion Wet limite superior de especificacion, de la media de a muestra y de la desviacion estandar. La decision respecto al Tote se toma comparando el valor de Q, con la constante & de aceptabilidad. (véase 14.2 y 1520C5 del anesoC) 3.1.20 desviacién estindar mavima de Ia muestra (DEMM): En condiciones determinadas, es la mayordesviacion estandar aceptable de las muesiras. (vease 14.6 y B.8.3 del anexo B.) 3.21 desviacion estandar mixima del proceso (DEMP); En condiciones determinadas, es la mayor Ldesviacion estandar aceptable del proceso. (véase 15.3 y B52 del anexo B.) 3.1.22 reglas de cambio: Instrucciones dentro de un cesquema de mvestteo, para cambiar de un plan de muestreo a iro en base a antecedemes de calidad demostrados, (véase apartado 19.) 32 bolos Los siguientes son los simbolos. Je que relaciona la la diferenci ‘ métodos K wy a Le especificacién inferior (como su una v su valor en LED). Les especificacion superior (como suiijo ée unal ota sy valor en LES) ” la muestra (cantidad de unidades de usa m ” (cantidad de unidades en un Tote. P, Estadistico infer Q —_Estadistico de la calidad. s Desviacién estandar de una muestra (estimacién de la desviacidn estindar del proceso). (véase el anexo A.) x Valor medido de una caracteristicea en ta muestra Valor medio de x para la muestra de » items, Valor de aceptacion interior Valor de aceptacion supesiex Media det process © Besviacion estandar del proceso. 7 cuadrado de la desvracion essndae. Se denutnis varianza), “la sumatoria de” (por ejemplo, ¥ x ~ le summa fs los vatores dex) La sumatoria de todos los valores x cuande toma vajores enteros a partir de | hasta» lo, a = b significa que « significa que a es mayor: < "Menor que” (por ej es menor que 4) nifies que < "Menor o igual que” ( significa que a es menor o igwal que’ 33. Bil gratia En el anexo D se presenta la bj yentos que se wsaron en Ia el tes) que 0. es «i rio dene EI NCA, muestra, se cesta norma, 10 dei tamano de le planes de muestreo er 4.3, Especificaci6n det NCA EL NCA a set usado se designara en el comtrato de especificacién de! producto 0 lo desigward la autorichae competente, Si se dan los limites superior e inferine de especificacién. se pueden’ dar NCA a los limite individuales, los cuales luego se denomivan “limites de especificacion dobles separados", Altersativamente, s¢ puede dar un NCA total que se aplique at porcenta ‘combinado no conforme en los limites superior ¢ infernst esto se denomina “limite de especificacion dob combinado”44 NCA recomendados En esta norma se presentan once NCA cuyos valores estan entre 0.10 % s 30% no conforme, que se deseriben como NCX recomendados. Si para cualquier producto servicio, se designa un NCA diferente del NCA, recomendado, no se considera aplicable esta norma (vease 12.2) Se dan dos NCA adicionates. 0,065 % y 15 %, para completar ef margen de planes necesarios para Ia puesta cn prictica de las reglas de cambio (véase apartado 19 y 21). Los planes y curvas de 0,065 % 6 15 % solo se usaran cuando el NCA sometido a inspeceién normal sea 0.10 % 0 10 % respectivamente y se de cambio. 45. Advertencia A partir de ta anteriormente, se se puede lograr continua de 4.6. Limitag La design proveedor Fecho de suministrar a sal unidades 10 conforme. 5 REG AMBIO PARA INSPECCI "AY REDUCIDA tar que el productor trabaje a un no conformes de un proceso que yorma prescribe un cambio a una ‘cuando los resultados de la el promedio del proceso supera ci6n de toda inspeceién por én estrieta no estimule al de produccién. ingpeccion| ingpeceion el NCA, y rmuestreo cual stricta y la regla de 9r ello constituyen procedimientos obliga . Si se ha de ‘mantener la proteccion qu 5.3 Esta norma también brind 4 pasar a inspeccidn reducida cuando los res inspeccion indiquen que el porceniaje promedio de nd conforms del proceso es estable y confiable @ un nivel por debajo de! NCA, Sin embargo, esta préctica es opcional (a diserecion dela auoridad competente) 5.4 Cuando existen suficientes pruebas a partir de los grificos de control (véase 18.1) de que la variabilidad es13. bajo control estadistico, se deberia considerar cambiar al método “o”. Si esto parece vertajoso, el valor cconsistente de s Se debe tomar como o. 35 Cuando sea necesario detener ta inspeccién por muestreo, ésta_no se podré reiniciar hasta que el productor emprenda una accidn encaminada a mejorar la 5.6 En los apartados 19 y 20 se dan detalles de Ja puesta jen marcha de las reglas de cambio 6 RELACION CON LA NORMA COVENIN 3133, 6.1 Similitudes a) Esta norma complementa la COVENIN 3133: los dos documentos comparter ana filosofia comin y. en la medida de lo posible, sus procedimientos vocabulario son rguales. b nur los planes de yendados que se usan en 9s presentados en le misma gama de Ambas normas ws muestreo, y los ‘este document norma COV valores (es decir, ¢) En las dos normas, eb ingpeccion (se recomienda instrucciones) determiinan una tablas generales dan ef tamatio de mi ha de tomar y el criterio de aceptabilid: de la letra cOdigo y ef NCA sein el mi (5°, "0" 0 posiblemente "R"), Se para inspeccién normal, estricta y rea d) Las reglas de cambio son basicamente lasificacién de no conformidade’ conocida. y el método "o” que se usa cuando se considera que se conoce o. Un tercer método, el denominado método "R", se presenta en e] anexo C. En et caso de un limite inica ve especificacién o dos limites separados, se puede caleular la aceptabifidad a partir de una formula (réase 142 y 15.2), pero aquella se puede establecer mas facilmente mediante un método grafico (vease 14.3). En el caso de un limite doble combinado, esta norma proporciona un método grifico (véase 146 y 153), Normafidad. En la norma COVENIN 3133 90 hay Fequisito en relacién con la distribucion de ta b° a © caracteristica, pero en esta norma es necesario para la ‘operacién eficiente de un plan. que la medicion se distribuya de acuerdo con una distribucion normal con una aprosimacion cercana a la_distribucion normal Curvas caracteristicas de operacion (Curvas CO) Aungue se puede concebir un plan individual de variables cuya curva CO corresponda estrechamente a la de un plan por atributos, no seria posible hacer idénticas todas las curvas CO comespondientes. con las de la noma COVENIN 3133 (las cuales se Clasifican con la misma letra de cédiyo y NCA), sin que se ineremente el ramalo de muestra con el NCA para una letra codigo. Para el "sel tamnaio. de muestra se mantuvo rango total de NCA para un tama no aceptable.si Qs < k (0, sisi se da el limite de especific Ite es: ceptable, si Qj > poaceptable, si Gi < & ‘Cuando se dan tanto LES como LEI (los diferentés silos NCA son diferentes limite inferior) el lote es ble. si Or = kiy Os > hy ble, SiO; < hie Os cierto TA, Ja detea Tabla I-A se ruesteas igual a 54 °C; $8 °C; 56 °C: 55°C y 50°C. Seve @ determinar ef curmplimiento del eriterio de aceptabilidad, Informacion Valores obtenidos Taman de muestra: » 10 Media de muestras f= Sx/0 549 Desviaeidn estindars: x(x; =P (m1) 3.414 (véase A.1.2, Anexo A)Limite (superior) de especiticacién: LES 60 0, = (LES- nis 1agg Constante de aceptabilidad: k lal (vease la Tabla I! A) Crinesio de aceptabilidad: se compara Qs con k L494 > Lal El lote cumple el criterio de aceptabilidad, y, por to tanto, es aceptable. 14.3 Método grafico para un limite anico de especificacion Cuando se desea un criteria, segiin sea 3 Feomo eje inspeccién, por de inferior aquélla ntra por encima de la Hinea. calculados » partir de met wuestra (véase el calesto de s Fe el grafico el punto (s, ¥). Si la zona de aceptacién, ef lote es a, el lote no es aceptable. presentados en el ejemplo de 10 LES = 60 sobre el ee ¥ a que pase por este punto con K=L.41, esto significa que 1 F = 58,59), (5 = 2, tc. Se selecciona un (vertcad y' una inelinaci ta linea pasa F= 57.18), (5 = punto adecuado y ste y (650, 7 = dde aceptavién es el érea a linea, Los. valores calculados des y (9. Al trazar el punto (5, 7) se observard a pat 1a | que éste se encuentra exactamente dentro te Ia zona de aceptacién: por fo tanto el lote es aceptable. EI grifico se puede elaborar antes de empezar la ingpeccién de una serie de lotes. Luego. para cada lote se raza el punto (s, T) y se decide si el lote es aceptable © no. 144 Método numérico para limite de especificacion Linicos o dobles separados Ejemplo Un dispositive de retraso:pirotéenico tiene un tiempo de retraso minimo especificado de 4,0 s y un maximo de 9.0 s, Se inspeeciona la produceién en lotes ae ! 000 items y se usa nivel II de inspeceidn, inspeceién normal con un NCA igual a 0.1 aplicado al limite inferior.» un aplicado al limite superior. A parur de la Tabla T-A, se observa que la letra codigo para el tamanio de muestra es J: a partir de la Tabla LB se aprecia que el tamafo de muestras es 35 para el método 2 pantr de fa Tabla I-A se halla que las constantes superior ¢ inferior de aceptabilidad son Ay = 1.57 ¥ &y 54, respectivamente. Supongase que los tiempos de Fetraso de las muestras son: 695 6.04 6.68 6636.65, 640 6.44 634 615 6a 6.70 6.51 6335 3 6.96 680 657 6 691 6.29 6.61 Zona de acepracion (vgase A.1.2, Anexo A) Limite (superior) de especificacién: LES 9,0 s 0, = ULES Bhs 7.905 Constante de aceptabilidad: ks 17) {(véase la Tabla I-A)Limite inferior de especificacion: LEI 4.08 =F LEN/s 823 Constante de aceptabilidad: ky 2.54 (vease la Tabla I-A) Eleriterio de acepiabilidad es Qs ky 7,90 1.57 yeh yo 8239254 El tote cumple los criterios de aceptabilidad y es ceptable. 14.5 Método grafico para limites de_espesificacién dobles separados Cuando se desea obtener un, de especificacin dobles sobre el papel ‘como je hi ccaleutacios a) muestra, s¢ punto se ceptable: Ejemplo Por medio jpresentados en el ejemplo 14.4 xe marca el pt .0 sobre el eje (vertical) F y se taza una ase por este punto con una inclinacién 1e ky = 1,57, esto signifies que la linea pass (s=1, © = 7,43)), También se senala en 4,0 sobre el eje + y se traza ‘una linea que unto con una inelinacion (0 significa que la linea )}. Entonces, la zona lineas y por el eje + &; [puesto qu ;pasara por e! punt de aceptacién esté ¥. Los valores calc! trazar el punto (5 = 9.31, Ja Figura 2, se observara zona de aceptacién y que el lo. 14.6 Criterio de aceptabilidad par limite de especificacin combinado doble Si se hy establecido un limite combinado superior & inferior, sera necesario usar un método grafico, a menos que 5 sea mayor que el valor de la desviacion estandar ‘maxima de la muestra (DEMM) obtenida a partir de la tabla 1V-s, en cuyo caso el lote se considerard de inmediato como no aceptable Se consulta la grafica en la serie "s", que esté marcada con la letra eédigo apropiada, y se selecciona la curva de acepiacion con el NCA especificado para los dos limites LES=9 bee Zona de aceptacién Figura 2. - Ejemph fica de aceptacién para limi ‘segarados: Entonees se caleulan los limites de 5 ELE a Tes tet” LES~ LET se traza sare (a gifica (0 sobre una coy Punto que represente estos valores. Si et entro de fa zona de aceplacién, el lote € «esta porfuera, no es aceptable conveniencia, se recomsienda Is maniobras de inspecci6r as de aceptacign para it spel cuadriculado. (En) aja de papel cuadricu fin). Las escatas hallados a dentro de la Si estd por fuera, NOTA - Para las letras eédigo de tamano de muestras B y C (es decir, tamafios de muestras 3 y 4), la zona de ‘aceplacién esta limitada por cuatro lineas rectas: el eje F, la linea ¥ = LES~ k s, una linea paralela al je © a través de la desviacion estindar mixima de la muestras (Véase la Tabla (V-s) y la linea ¥ = LEI + ks Bl valor de k se obtiene a partir de la Tabla II-A, II-B 0 IL-C. Ejemplo La temperatura minima de funcionarriento de cierto aparato esté especificada a 60.0 °C y la maxima a 70.4 °C. La produccign esta en lotes de inspeecin de 96 items, Se va.a usar el nivel de inspeccin Hi, inspeccinnormal, con NCA = 1.5 %, De la Pabla 1A, la letra codigo de tamafio de muestras es F; a partir de la Tabla I- B. se observa que se requiere un tamaio de muestras igual a 10 y a panir de la Tabla IV-s que el valor de f. para la desviacion estindar maxima de la muestras es 0.276, Supéngase que las mediciones obtenidas sor: 3.5 °C: 62.0 °C: 65.2 °C. 61.7 °C; 69.0 °C; 67.1 °C: 60.0 °C; 66.4 °C: 62.8 °C: 68.0 °C. Se debe determina’ 2 ccumplimiento del criterio de aceptabilidad Informacion necesaria Valor obtenido Vamafo de muestras: n lo Media de muestra: Ex /0n Desviacion estandar de I les, Se traza el punto (s lla por fuera de la curva de aceptacion y ptable. Se podria haber juzgado no como se observ6 que 5 era mayor ica no se ha ajustado a los valores siguientes céleulos adicionales: (F-LEN(LES~ 1 (70-60) = 0,457 Las estandarizada El punto (0,301, 0,457) se a Debido 9 que tal punto se encuentra fuera de la curva de aceplacidn para NCA = 1.5 %, el loteno es aceptable NOTA - Este lote no es acepiable aunque todas los items ensayados de la muestra estén dentro de los limites de especifieacion 18 PROCEDIMIENTO ESTANDAR PARA FL METODO "a" 15.1 Selecci6n del plan Este método se debe usar solo cuando haya pruebas validas de que la desviacion estandar del proceso se puede considerar como constante y se puede tomar como ae A partir de la tabla I-A, se selecciona la letra 66¢ luego, para inspeceién normal a partir de la tabla 1NI-A, con el cédigo de tamata de muestras y el NCA especifieado, se obtiene cl tamaiia de muestra ns li constante de ace 18.2 Criterios de cespecificaciones dinieos 0 Es posible obtener el criteria, procedimiento establecido sustituyendo "o" (el valor dado del process) por la s obteni individuales y comparando el valor valor de la constante de aceptabitidas de la tabla IHL-A. odo" Si embargo, si Ql- (LES-eial ilidad para una especificacién F< LES- ke Je LES, k, y ose conocen on, el yceptacion ¥, [ > LE! tes de que empiece k \ceptabilidad p: fespecificacion menor aceptable si F EL k,o} no aceptable si 7 < 7,[= LEI 4, 0] Cuando se dan ambos limites separados, es aceptable sitanto TSF, y F noes aceptable si F> 7.08 DEMP y por Io t2aco no se deberia realizar la inspeccién por muestreo, 16 PROCEDIMIENTO DURANTE INSPECCION CONTINUA Ya que un plan de inspeccién por muestreo por variables s6lo puede funcionar efectivamente si a) la cargcteristica que se esta inspeccionando esti distribuida normalmente, bb) se mantienen registros, ¢) se obedecen las reglas de cambio. Es necesario cerciorarse de que se cumplan estos requisitos 17, NORMALID, ES ATIPICOS 17.1 Normatids ‘Antes de que _empie competente deberia verifica duda, un experto en estadist distribucién parece adecuada para’ (0 si se deben utilizar los ensayos presentados en la norma ISO 2854, s 17.2. Valores atipicos Valor atipico (9 una observaciones atipicl parece desviarse otoriamente de otras of ‘én, puede producir un at atipicas, me sobre la ace Ia norma cin por variables es que se pueden detectar 13S tendencias en el nivel de calidad. del producto y se puede dar aviso antes de que se llegue 2 un estindar inaceptable, pero esto es posible linicamente si se mantienen registros adecuados. CCualquiera gue sea el método que se use, s, o(0 A). se deberia mantener registros de los valores de ¥ ys (0 8. preferiblementeen forma de graficos de control Este procedimiento se deberia aplicar especialmente con el _método “o" para verificar que los valores de s obtenides a partir de las muestras, estén dentro de lox limites det valor de @ preserito.Le eT 09 0,8: 07 0.6 05 04 03 0,2) 01 0,05 01 015, 0,2 025 0,3 0,35 \ 0,21 Figura 4.- Ejemplo sobre cl uso de una grifica de aceptacién para un limite de especificacién doble combinado: “oi‘Cuando se haya establecido un limite de especitieacién doble combinado, el valor de la desviacion estandar sania de la muestras, presentado en la tabla LV-s (0 el IPM (Intervalo promedio maximo) que aparcee en la tabla R-IV), se deberia trazar sobre el grafico de control s {0 R), como indicacidn de un valor inaceptable, NOTA - Los grificas de control se usan para detectar tendencias. La aceptabiiidad de un,lote individual debe reawese por el procedimiento que se da en 4 y 15 18.2 Lotes no aceptados Se debe tener especial cuidado en registrar los lotes que no sean aceptados y cerciorarse de reglas de cambio, Cualquier lote el plan de muesireo ao se del eit todo 0 en parte, sit competent 19 EMPLEO DE, Las siguientes 19.1. Insp inspeccién ( debe seguir ante la inspeecion has ecidm estricta © se peri stricta se debe insttuir cuando. in no seas aceptados dentro de icesivos. ¢ logra aumentando los valores de lidad. Los valores se incluyen en odo “s" (Tabla RII-B para el 1-8 para el método “a”. En el todo "R"), no hay cacibio en snas que ese sea tan pequetio método "R metodo "s" ( to en el tamano de la muestra, cuando se lucas 19.3. La inspeceion hhayanaceplado cing restableciendo la inspeceién 19.4 La inspeccion reducida se empezar a instituir después de que se hayan uceptado diez lowes sucesivos en inspeceién normal, siempre que: a) estos lotes hubieran sido aceptados con el siguiente NCA mis estricto: NOTA - Sien la tabla {iA (métodg “s") no se da un valor de A para este NCA mis estricio, se puede extrapolar visualmente una curva de aceptacion 10 suficientemente exacta, en comparacign con las otras curvas del diagrama apropiado en la serie “s". El mismo procedimiento se aplica al método *o" (y al metodo "R*) ) la produceién esté bajo control estadistco: ) {a autoridad competente considera recomendable la aspeceion reducida La inspeceion reducida se lleva & eabo en muestras mmuicho mas pequetias que ta inypeccion notimal y el valor de la constante de aceptabilidad tambien disminuye, 10s valores de m y k para inspeccién reducida se dan en la tabla I1-C para ef método "5", en la tabla IN-C para el metodo "o" (Tabla RI-C para el método "R") 19.5 La inspeecion reducide debe detenerse y se debe dar comienzo a la inspeccién normal st durante a inspeveion original ocume alguna de estas situaciones, a) no se acepta ui ©) otras condiciones j inspeceiée normal, 20 INTERRUPCION Y REA} LA INSPECCION Si la cantidad acumulada de lotes no. tuna ccuencia de lotes consecutivos en la i cca iginal, llega a5, deben in procedimienos de aceplacién de esta nom No se debe empezar la inspeccién, con norma, hasta que el proveedor ace esarias para mejorar la cali del servicio prestado. Enron DE ACEPY, las establecidas tenga el tanatio para inspe fante de aceptabilidad requerido de’ b) Cuando se pa speccion estricta, la curva de aceptacién requerida se puede hallar usando la tablo VFA. Normalmente, resultara ser ta curva que se cencuentre por demro de la que se esté usando en la “nspeccién normal (es decir, correspondiente al mismo tamaio de muestra, y al proximo NCA inferior. pero en algunos casos hay un ineremento del amano de la muestr Si se estd usando el metodo "o” supeta ta desviaeion estindar —mixima ded proceso (DEMP4 correspondiente al proximo NCA inferior, se requiere regresar a inspeccion estricta con el metodo “s©) Cuando se pasa a inspeceién reducida, la curva Fequerida de aceptacion se halla a partir de la tabla VI-B. Esta curva corresponderi al proximo NCA mayor en inspeccion normal y a um tamano de muestra que es hasta tres pasos menor Bjempto ‘Supongase que se esta utilizando el método "s" con letra cédigo de tamatio de muestra igual a Ty NCA igual 8 0.25. La tabla VI-A muestra que la curva de acepracion para inspeccion estricta es aquells para la letra cédigo I y NCA 0,15 en inspeccién normal, La tabla VI-B muestra que la curva de aceptacién para inspeccidn reducida es quella para ta letra eédigo Fy (0 en inspeceiin normal 22 CAMBIO AL METODO "o" Si parece que el valor des (o #1 ests bajo contol, e! valor (ponderado) cuadrado promedio de la ratz de» 16 Rc) se puede suponer que es oF la desviacion estandar "conocida” del proceso, y se puede adoptar el metodo “o" Con el fin de veriticar que la variabilidad permanezea bajo control, se recomienda caleuiar ¢} wala: de sy representarlo en un grafico de control (véase A> en el aneso A), NOTA - Este cambio no se deberia llevar a cabo sin et ppermiso de la autoridad comperenteTablas FA ILA HB uc ULA eB SECCION 4: TABLAS ¥ DIAGRAMAS IVs Letras cédigo del_tamano de muestra y niveles de inspeccion, Letras cédigo det tamano de muestra y tamaftos de muestra para la inspeccion normal ple para la (abla viB Diagramas anes de muestreo simp inspeccién normal amaest2): método "a" Planes de muestreo simple para ingpeccién stricta. (tabla maestra): método “a” » lanes de muestreo simple para la speccion —reducida (tabla stra): método "a" V(V-B hasta V-P) de especificag Valores de £ para la desviacion cestindar maxima de la muestra método "s Valores def, para la desviacion estindar maxima de la muestra método "0" las y curvas caracteristicas de 1 para los planes de codigos del tamaio de inspeceion Codigos det ta de planes de m calidades de aceptacion det 9 Curvas de aceptac‘Tabla I-A.- Letras eédigo del tamaiio de muestra y nivel de inspeecion ‘Tamato de Lore | Nils especiales de inspeceibn Niveles generales de inspeccién S38 sa 1 228 gals 1622s 2650 31490 ~ 91a ts0 * Use H 281 4 400 I para tamato de lote 401 de muestra y los niveles de insp fe la MIL STD 414, la COVENIN No existe plan de mut ado en esta rea; use el primer plan debajo de 0 por encima de la flecha, Esto se refiere tanto a tamafio de muestra como a fa Constante de aceptabilidad k.- Letras eddigo del tamafio de muestra y muestra para jnspeccién normal 1 [Tanato dence Meso ‘o Sribaos covENIN 3135 Nivel de | Todos los Leta | Tamano calidad NCA Codigo ae acepable o1 foaslo2s oaofoss| 10 {15 | 25 | a0 | 6s | 00 ove B ‘ z|o le ae al 2h4 gly glx L . Notas \ 2 po de moesea 1s ves in 5 Sinko esta rea: use el primer plan por encima de la No existe plan Aecha. Esto se refieTabla H1-A.- Planes de muestreo simples para inspeceién normal (tabla maestra) : Método " Letra codigo de | Tamaao Nivel de calidad aceptable (inspeccion normal) tamaniode | de muestra | muestra uo oso] os| 100] iso] 250 | 100 6.50_| 10.00 afefe jos como porcentaje de no conl muestra y los niveles de inspeccig ‘4 aquetlos en ls COVENIN jos de la MiL STD 414. Simbolo No existe plan de muestreo adecuado en esta area; use el primer plan de muestreo debajo de o por encima Je fecha. Esto se refiere tanto al tamano de muestra como a la constante de aceptabilidad & El plan dado en esta area da un alto peligro de seguridad pero a expensas de un tama proximo plan arriba de la flecha a discrecion de la autoridad responsable inde. Se puede usar oe Las lineas gruesas indican la frontera con el plan equivalente de muestreo por atributos en fa Norma Venerelans 7 COvENING 35Método" ‘Tabla 11-B.- Planes de muestreo simples para inspeceidn estricta (tabla macstra) : Métode “s" cad ds | Tamato Nivel de caltad ceptable (inspection esti tamanode | de muestra | muestra [0.10 [0.15] 025 | 040 [ 065 [1.00] 50] 250 [ 400 | 450 | 1000 elated alatatay« a] A Bb v sg 112 | 0958 | 0.765 c 1 las} ag wor | ost D 5 65 if osm E 188 | 1.75] 1.62} 1.50 F 98] 1.84] 1.72] 138 | tat G 283 | 242 | 23 r9tfi7e] ies foaar |e Hl 2588 247 | 2.36 96] 182] 169 } ast | 133 \ 261 | 2,50 | 2.40 } 22 198/185] 172 | 153 | 13s is | 2.65 | 254 f 2.45] 2.31 | Ft | 203 Jago] 176 | 17 | 139 2.11 | 2,60 | 2.50 | 2.35 | 222 | 2, 180} tot | 142 L 2.17 | 2.66 | 2.55 | 241 | 227 isa} 6s | Lae M 2,80 | 2,69 | 2.58 | 2.43 | 2.29 | 2,0 ver [Tt N 34 | 2,73 | 2.61 | 247 | 2.33 | 218 1.70 P 73 233 | 218 | 2, NoTAS “Todos ios valores de ‘como porcentaje de ne confor mes Las letras cédigo de tamatio de muestra y los niveles de inspeceién corresponden a aquellos en la COVENIN 3133; no son idémticos a aquéllos de la MIL. STD 414 Simboto No existe plan de muestreo adecuado en esta dea, use el primer plan de muestreo debajo de o por encima de bs fecha, Esto se refiere tanto al tamato de muestra como a la Constante de aceptabilidad & El plan dado en esta area da un alto peligro de seguridad pero a expedsas de un tamaito grande, Se puede usar el proximo plan arriba dela fecha a dscrecion de la autoridad responsable 3s indican [a frontera con et plan equivalente de muestteo por atributos en kx Norma VenezolanaMétodo " Tabla I-C.- Planes de muestreo simples para inspeccién reducida (tabla maestra) : Método "y ge de | Tamnato Nivel de calidad aceptable (inspeecion reducida) tamafiode | de muestra | muestra {0.10 0.15 [025] 040 [065] 100] 130] 230 [ 400 | 650 | 10.00 alayalefalafal a la 4 ‘ B 3 112] 0.958 | 0.765 | 0,566 | 034 c 3 112] 9, 0.566 | 0.341 D 2 soo | 0341 E Li! 0.938 034) F has] i347] Lor | osia 93 3) 1.40] 1.24] 1.07 | os7a 7 2,00 | 1,8 190] 133} 11s to | 2.24] 2.11 | 198 pm | iss}iai] 1.23 | 103 | oa 1s ]252]2.20/ 206} .otb a9} 68} 147} 130 | 1.09 | 0.88 20 42,36 | 2,24] 2,11 | 1,96 | 1,82 Tf 133} 12 | 09 5 12,40 | 2,26 | 2.14 | 1,98 | 1.89 135 | 114 | 0.9% 245 | 2,31 | 2.18 | 2,03 | 1.89] 1 39 | 118 N 50 } 2,35 | 222 | 208 | 1,93 | 1,80 12t h774 P 4} 2,27 | 212 | 1.98 | 1.84 | 1 o.s04| NOTAS t ‘Todos los valores de dos como porcentaje de no conforme’ 2 Las letras cédigo de tamaiio de muestra y los niveles de inspescion corresponden a aquellos en la COVENIN 3133; no som idénticos a aquéllos de la MiL STD 414. 3 Simbolo No existe plan de muestreo adecuado en esta dea; use el primer plan de muesteo debajo de © por encima de ta fecha, Esto se refiere tanto al tamaio de muestra como a la constante de aceptabilidad k EI plan dado en esta area da un alto peligro de seguridad pero a expensas de un tamano grande. Se pues J. PP prosimo plan arriba de fa lecha a diserecion de la autoridad responsable Las lineas gruesas indican la frontera con el plan equivalente de muestreo por atributos en la Norma Venevolans __ fF covenin 333PIP as p aquayeainbs wed oor os deus 12,, oporpuu s(Ba}s9eW equ) [eMLZOU UO 12a OporgUt ‘duns ovarsanu ap saucig ‘ap ogeure| 3p o¥1po0 ena Bryjeainb> uri jo 9p opest uayar 3 0 ap ofeqap oansanuu ap urd sat us opunonpt 93 VIPGIS UN FPP SO 105 ou “EE1¢ NINIAOD Ri U9 804K vapuadsaui0> seuusojuoa ou ap afe onl te prot so 6S | ret PS | Bre oot to fost ps | cor oF pp [ecz ov iol Te | 9st 9g | ONT EE OF | 67% ZT sol te | pl gt jp esh sz x4 Pree et wiz fort ot jeer at a )t et [ore cl ost St | ser pl | ost i jorz Ol forz 6 | srt oo Ist HW Poet Ot = are 8 |stt oe Pust 9 oi & | 89 L£ }soz 9 jetzt 9 prez s spl “|e sls | soz Ss Pre ob fost ob ool b | ost br pie g ypwe ¢ | ory el ost ec [61 € | igh z | Pel z art who fash z ool ele Tt tT a | a 7 «ly «p> py 7 wy Py] ensonun ol 059 0"F ost sto. sro | ove [ap ouemny| ap o8%po9 ep 12, opo}aw :(wsIsDeU GEH) H91H)S9 UOIDDadsM) vy CaM UU OD.ISONWW >P SUH “ATI EIA, 12 0porgua sod O21 anos 9p opmid ome un wp va. -y Pepiiqnidase ap s1ueisuo> t 5p ODuI89n 39 us opensape OansaMW 9p Uejd 2IIN9 ON EE1E NINTAOD e tla sojjanbe e uapuod nSantW ap OWPUIEL ap OFIpO> SesI9] Se] z sputio]uo9 ov 9p S0pep vos VIN AP S10}P 80) $0pO}, | Sv1ON Es or jwe ou] a owe, |8¢ ze fort ot few at | ung ee ost fore ci] oN eee O | Le 9s st bl | get N | 6v~ 6 | SFT OO Ww 900 S00 ist ou co | eB tes [sez oc [ae 9 q S870 9 orl 6 |sr 8 £ |soz 9 ferz 9 | vez » e909 sri ic [at 9 seis [soz s efor r| ec e508 of" y bp | Os Pe | 161 € g for o¢ 1 siso 9 s fo ¢ fist z z 8 erro oP ct | trl ct | 8st z . treo or stioz | 9c z d a a 3 | a ee Ce «Pye poe | easonn O59 oF ° : 5 sc °0 OF ppovewer ° sp o81p09 er 2 oporgu s(ensoew e1Qe) ED AS osnns9nM 9p SUKI HN CIGEL 425 pO‘Tabla IV-s.- Valores de para la desviacidn estindar de la muestra maxima: método "s" “Taman lad aceptable (inspeceion estrieta) Jde muestra | 0.10 [025 [025 | 040 [063 | 1.00 [150 [2.50 | 4.00 | 6.50 | 10.00 3 0.36 | 0.453 | 0.475 | 0.502 [0.38 4 0339 | 0.353 | 0,374 | 0.399 | 0.432 | 0.472 |v s28 | 0.294 [0.308 | 0.325 [0.346 | 0.372 [ost 7 0.242 | 0.283) 0.266 | 0.280 | 0.295 | 0.318 | 0.345 bates 10 o.2t4 | 0,224 | 0.235 | 0.248 | 0261 | 0.276 | 0.298 | 0.324 0.460 15 [0.88 0.195 [0.202 [0.211 | 0.222 [0.235 | 0288 } 0.262 | 0.284 | 0.309 oan 20 | 0.183 | 0.190 | o.193¢0.206 | 0.216 | 0.229 | 0.242 | 0.255 | aaz7 | 0.302 432 25_| 0.180 | ou 3 | 0.212 | 0.225 | 0.238 | 0.251 07 0.226 35 [0.176 0. o.06 so [ou 008 us F 0309 108 on 0395 130 0 | 0.175 0.388 2 468 | 0,175 625 [0, i Niveles de s (Inspecei6n estrcta) 0.10 | 0.15 0.65 [1.00 | 1.50 4.00) 0 [iveles de calidtdlageptables (Inspeccion reducida) Nor. se obtiente multiplicando el valor fs de la estandarizada por la diterenei ite de especi rior LES y el limite de especificacion inferio decir, MDEM ~ f (LES -LED, Lam 10 valor permitido de la desviacién es lesira al usar planes para et ite de doble con variabitidad desconocida. Sila des de la muestra es menor existe una 30 la certeza, que el lote ser aceptado, Tal res de f, para Ia desviacion estandar cixima del ps Niveles de calidad aceptables (i D 0 5 [oa [os [ ty 0.147 [0:52 174 | 0.184 | 0.194 | 0206 0,308 [ 0347 oo | 01s | o 1.00 [150 | 2.50 Ni id aceptables (inspeccion reducida tao [ oisep 025 | 040 | 065 | 100 | 10))230 | 300 | 650 [om L Niveles de calidad wceptables (inspeccidn reducida) NOTA: La MDEP se obtiene multiplicando el valor f, de la MDEP estandarizada por ta diferencia entre el limite de especificacién superior LES y el limite de especiicacign inferior LET, es decir, MDE = /,(L4S LE La MEDP es el miximo valor permitido de Ja desviacién estindar al usar planes para el caso de un limite de dable especificacidn con variabilidad desconocida, Si la desviacién estindar de la muestra es menor que 1a MDEM, existe unt posibilidad, pern no la certeza, que el lote sera acepiado La autoridad competente puede especificar el uso del valor f para inspeccién rigurosa en relacion ‘con la inspeceiiet normal y reducida, en cuyo caso la seleccin entre el método “a” y "s” se mantiene independiente de las revlas de pas‘Tabla V-B - Letra Cédigo de tamaito de muestra B Grafico V-B - Curvas caracteristicas de operaciin para planes de muestreo simple Porcentaje de lotes que se espera sean aceptados (P,) Calidad de tos ite 36 40 44 4B 52 56 60 66 6 (porcentaje de no conforme) Tab lores tabulados para curvas cAEMFEFsticas de operaciin para planes de muest Niveles de calidad aceptables (i normal) % 0.40 | 065 | 1 25 | 40 | 65 90) 18 | 0 | 07 95.0 89 [3.52 0 90.0 3.65 | 6.04 0 75.0) 918 | 13 15.0 500) 30 300 250) ja | 25.0 (00 2,08 | 20.0 50 70.30 | 50 10 75. 80.34 | 82.98 | 10 06s | 10 | ts | 2s [ao fos | 00 es de calidad aceptable (Inspeecion reducida)‘Tabla V-C - Letra Codigo de tamaiio de muestra C Grafico V-C - Curvas earacter ‘cas de operacion para planes de muestreo simple i TTT [a 5 90 +++ ' = 80 ++ + 4 3 a0 SS } Lid | Boot SH a 32 x eo Ns 32 8 i 8 12% 36 40 bu 48 57 56 40 64 8 Calidad de os (porcentaje de no conforme) Valores tabutados para eury rstieas de operacién para planes de mut Niveles de calidad aceptabled Gispeccion normal) Py 10 | 0415 | 025 | 040 | 065 5] 25 | 40 ~ 99 032 | 0.69 0 132 | 229 | ay 95.0 u 33 | 3.98 900 33 7 | 881 750 1 K61 | 50.0 25.0 37 5 10.0 16,5 $8.33 | 68.20 | 50 Gas (95 | 72.7 | 7396 | 10 o10 | 01s [025 | 040 [oes | xo | as | 25 | 40 | 6s | 100 Niveles de calidad aceptable (inspeceion estrieta)Tabla V-D- Cetra Cédigo de tamano de muestra D Grafieo V-D - Curvas earacteristicas de operacién para planes de muestren simple 160 90 5 8 Calidad de to 1216 36 WD ba 48 52 56 60 64 6 (porcentae de no conforme) Tab lores tabulados para cury cas de aperacion para planes de mues Niveles de calidad Rgpables Gnspeccidn normal) Py \10 | 0.8 | 025 | 0.40 10 Jars | 25 | 40 | 6s 990 00) oo | 084 | 179 95.0 toe | 243 | 430 300 2.48 | 3.99 | 649 [750 203 78 | 823 | 11.39, 0 500 782 13.97 | 20, 0.0 20 16.79 27.06 | ¥ 19.0 28.40 | 3 9.2 y 30 3652 | 393 a2 | 30 1 52.63 | 55.04 6389 | 1.0 010 | 015 | ns 1s | 25 0 Ni alidad aceptable (juspeccién estrictaTabla V-E - Letra Codigo de tamafo de muestra & Grifieo V-E- Curvas earact fcas de operacion para planes de n = 100 r bo HH 2 80 1. 4 g 10 \—| oo { Z 60 + i & + 2 50 2 0 -| o KS | 12 16 20 2% 0 44 48 52 56 60 6% 68 72 Calidad de | 3 (porcentaje de no conforme) Valores tabutados para curvasearacteristicas de oporacién para planes de Ls ‘iveles de calidad aceptabh ion normal) ’, 040 | 0.13 | 0.25 | 040 | 065 s [25 | 40 | 68 ” Ey o02 | 003 | 007 053 | 109 | 219) 0 950 outs | 032 150 | 2.65 | 45 900 0.0 | 064 [1X a7 | 40 | 6, 75.0 137 [183 | 235 3 | 756 300 32 [483 | 618 By 3 7.38 | 3.80 | 1037 | 12.60 B35 100 1635 | 18,60 | 21,09 | 28 3.25 | 50 22.20 | 24,65 | 27.29 | 298 B.60 | 49.38 | 50 10 0 | 35,32 | 37.85 | 40.5 | 02.95 35,64 | 60.73 | 10 o0 | ots | 025 Pb40 | oes [10] 15 | 25 63_| 100 Niveles de calidad aceptable Ginspeccién estrieta)Tabla V-F - Letra Codigo de tamaio de muestra F Grifico V-F - Curvas caracteristieas de operacion para planes de mucstreo simple 9 3B dos (porcentaje de no conforme) on 2 13 14 15 Calidad 10 12 14 16 18 20 22 los lotes sometidos (porcentaje d Tabla V-F-1- Valores Fvas caracteristicas de operat jestreo simples je calidad aceptables (inj 040 | 0,65 [1.0 005 [On | 019 021 [0.36 [0.57 0.40 [0.66 [0.98 108 | 161 | 221 3.77] 4,82 7.22 9,29 13.23 | 15.23 1a7 19.68 20,10 27,19 | 29,58 36,50 0.25 o6s | 10 [15s [25 | 40 Niveles de calidad aceptable (inspecciin estricta) cidn nor! 1s [ 28 035 0,69 0.91 | 165 2.50 4,70 8,02 1445 21,40 26,27 Py 99.0 95.0 90.0 75.0 S00 25. 10.0 5.0 Lo. 40 135 28s 4,04 6.93 11.69 18.25 23,66 30,68 40,92 63 6s a 486 6.52 10. 100 10 7.81 10,01 14,60 21,09 28,96 6.98 2.06 04s aor 0.07 0.15 0.49 153 3.93 7.95 11,40‘Tabla V-G - Letra Cédigo de tamano de muestra G ‘fieo V-G - Curvas caracteristieas de operaci6n para planes de muestreo simple 100 30 80 70 60 50 40 30 20 Porcentaje de lotes que se espera sean aceptados (,) 89 1 1B IS tidos (Porcentaje de no conforme) 8 10 12 1% 1 18 2022 Je Los fotes sometides(porcenta Tabla V-G-L- Val a curvas earacteristicas de opei fe muestreo simples ‘de calidad aceptables (inspeccin 40 | 06s | 10 | 1s 0s [017 [028 [049 0.25 | 0.45 [0.68 | 1.09 043 | 0.72 [1.06 | 161 o9s 1.50 | 207 | 2.94 3,09 | 3.99 [532 3,7] 109 | 892 al [12 [1338 12,22 | 14.13 | 16,63 TIT [16.24 [18,76 | 21,00 | 23.83 | 27.82 025 | 040 [96s | 10 | 15 | 25 | 40 Niveles de calidad aceptable (inspecciOn estricta) Pa 0,10 O01 0.06 11 0.32 0,90) 2.18 431 6.19 Tar O15) 25 0.04 OS, 0.26 0.65 1,57 3.38 6.13 840 65 3.23) 5.30 6.96 9.83 1427 19.84 25.16 29,67 37.57 10,0 100 S58 Bl 10,30 14,09 19,25 25.38 31,63 35, Py 99.0 95.0 00 449) 7351 77 16,77 20.28. aay 7.58. 10.11 65Tabia V-H - Letra Codigo de tamano de muestra H Grafico V-H - Curvas caracteristicas de operacidn para planes de muestreo simple 100 TT + Porcentaje de lotes que se espera sean aceptados (P,) 9 0 123 Ww 15 16 idos (porcentaje de no conforme) Calidad Porcentaje de 8 10 12 4 16 18 20 22 2% Jos lotes sometidos (porcentaje de Tabla V-H-1- Valor lestreo simples fe calidad aceptables Ginspeecion non 040 | 065 | 40 | us | 25 out [oar [037 [oer [1s 029 | 0.49 2.07 0.45] 0,75, 2.77 093 [142 4.35 025 0.06 017 0.29) 0.63 Py 10 0,02 0,07 0.2 031 015: 0,04 OI 0,19) 0.44 0,76 [ior | 138 [1,90 | 2.69 685 1,68 [2.13 | 2.74 | 3.56 | 475 10.29 3.16 [3,85 [4.73 | 5.88 | 7.46 14.25 17.03 9,22 [40.44 [17,17 [14,42 23,02 0.25 [0.40 | 0.65 | 1.0 40 Niveles de calidad aceptable (inspeccién estrieta) aaa 7.85 15) 529 | 636 | 7.71 | 954 65mao de muestra I para planes de muestreo simple ‘Tabla V-1- Letra Cédigo de Grafico V-I - Curvas caracteristicas de operaci 100 90 80 70 60 so 60 30 20 10 Porcentaje de lotes que se espera sean 54455 55 6 657 7 wetidos (porcentaje de no conforme) 8 40 10 12 14 16 18 20.2 de los lotes sometidos (porcentaj curvas caracteristicas de o muestreo simples ein 1s 0.70 1,28 173 278 de calidad aceptables (ins 0.40 | 0,65 | 1.0 0.18 oat 0.32 085 0.48 19 0.91 2.00) 40 Pa 231 361 431 639 65 aa 5.98 7,21 9,65 Ss 100) 0,08 0,20 0,32 0,64 W.0) 950 0.0) 75th 1333 2.89 434 128 [173 3.39 | 447 | 654 | 9,12 | 13,00 S00 241] 3.09 3.45 | 6.87 [9.47 [12.57 [17.03 3500 3,99 | 4.93, 7.97 [9.13 | 12.81 | 16.34 [2124 10.0) 34.01 29.66 10.0. 15.14 8.45 | 9.85 20,14 0.40 | 0.65 40 Niveles de calidad aceptable (inspeccion estricta) 9.83 14,08 11.8 16,36 18.89) 2424 65, 5.26 | 637Tabla V-J - Letra Codigo de tamaito de muestra J Grafico V-J - Curvas earacteristicas de operacién para planes de muestreo simple go Peer + = 80 —— “ts 3 70 4 por +. B60 g 50 & 10 2 30 3 20 By £5555 6 657 75 8 10s (porcentaje de no conforme) 5s? Calidad de “P,) Porcentaje de 8 1 12 14 16 1B 20 22 10s lotes sometidas (porcentaje de rvas caracteristicus de operas 00 simples Tabla V-J-L- Valor ‘calidad aceptables Gnspeccion 0.40 [065 | 10 | 15 ois | 032 054 | 084 0,36 | 0.60 | 0.94 [1.40 0si_} 0.82 | 125 | 1.80 134 [194 [2.69 2.21 | 3,05 | 405 630 a5 21 728 9.34 P10 100) 74a 9.65 T.01 1.56 16,82 Pu 99.0, 95.0 90.0, “780 500) a0 O04 0,09 ais 006 0.8 0,20 0,39 0.76 Pa 99.0 95,0 90,0. 75.0 50.0 154 238. 297 419 5.98 261 3.80 4,59 6.18) 8.41 002 0.06 0,10 0,207 0.43, 25.0 | 0.86 139 3,50 | 4,62 [391 [8.29 [11,16 [13.35 | 20.53 | 2 10,0 [1,50 2.29 3,10 | 6,50 | 8.07 | 10.85 [411 [18.71 | 24.23 | 10.0 5.0 3.01 6,29 | 7,87 | 9,60 | 12.62 | 16,09 | 20.90 | 26.60 35.39 [3132 | 10 10.0) 4.84 9,04 | 10,95 | 12,98 | 16.42 0.25, os | 10 [1s [25 [40 Niveles de calidad aceptable (inspeceiin estricta 20,24 65 19.Porcentaje de lotes que se espera ‘Tabla V-K - Letra Cédigo de tamaiio de muestra K Grafico V-K - Curvas earacteristicas de operacién para planes de muestreo simple 41818 2 222426 28 3 metidos (porcentaie de no conforme) 6 8 10 12 14 16 18 20 2 6 4e los lotes sometidos (porcentaj curvas caracteristicas de opt ‘muestreo simples s de calidad aceptables (inspeceid ss | 040 | 065 | 10 | 15 40 | 63 [100 | Py oa [023 [038 | 0.64 | 098 2.96 | 5.03 [805 | 990 0,26 | 0,40 | 0,64 | 1,02 | 1.49 4,04 | 6.52 | 10,00 | 95,0, 0.35 [054 [083 | 1.29 [184 473 | 144 [1116 0,58 | 0.85 | 126 | 1.87 | 259 608 | 9.19 [1331 | 750 0,98 | 137 [1.94 [2.76 | 3.68 7,90_| 11.45 | 16.00 1,58 | 2.12 [2.89 [3.95 | S11 10,09 {14.06 | 19.01 2,35 | 3.07 | 4.03 | 5.33 | 672 | 9.23 | 12.39 | 16.72 | 21.98 2,94 | 3.77 | 487 | 632 [7.84 [1055 [13.92 [18.45 [23.88 4.36 | 5.42 | 6,78 | 8.52 | 1030] 13,39 [17.10 [21.97 [27.65 0.40 [06s [10 [1s [25 [40 [6s J 100 Niveles de calidad aceptable (inspeecion estricta)‘Tabla V-L.- Letra Codigo de tamano de muestra L, {fico V-L.~ Curvas caracteristicas de operacidn para planes de muestreo simple aje de lotes que se espera Sean ace 1618 2 272426283 3 dos (porcentaje de no conforme) Calidad de Porcentaje de B 10 12 14 16 18 20.222 Ios lotes sometidos (porcentaje streo simples Tabla V-L-1- Valo vas caracteristicas de opera\ ecion nol 1s | 2 Tia | 195 1,58 | 2.62 1,88 | 3.05 249 | 3.89 3.34 | 5.02 ai [638 5,58 | 7 2 638 | 8.79 3.01 | 3.91 | 5.10 [647 | 8.11 | 1084 oo [oes [0 [us [2s | 40 Niveles de calidad aceptable (inspecciin estricta ‘calidad aceptables (ing 040 | 065 | 10 27 | 046 | 073 0.70_| 1.06 086 [1.29 hat | 1,76 174 | 243 244 | 330 3.24 | 428 3.82_| 4.97, 100) 367 1034 Tt 13,08 Pa 0.10 0.06, Ot 0.15 0.24 040 0.65 O97 12 1.84 0.15 3.24 Lis 476. 5.86 7.29 8.97 10,70 11.84 1419 65 123 La 212‘Tabla V-M - Letra Codigo de tamatio de muestra M Grifico V-M - Curvas caracteristicas de operacion para planes de muestreo simple 100 96 80 10 60 40 30 20 1¢ Porcentaje de lotes que se espera sean aceptados (P.) 1618 2 222226283 ietidos (porcentaje de no conforme) £5 678 9 on fe los lotessometidos (porcentaj ae Tabla V-M-L~ Vs curvas caracteristicas de opi ‘muestreo simples de calidad aceptables (inspecciom 040 [065 | 10 | 15) ost [ose [ost | 124 047 | 0.74 [112 [1K 0.57 | 0.89 [1,33 | 193 0.79 | 120 | 174 | 2.46 1 | ea P31 3.18 1,36 [2.22 [73.02 [407 2.06 [2.86 [73.81 [3.01 331 | 435 [3.65 181 | 2.46 4530 [552 [7.02 | 953 0.25 | 0,40 io [is [25] 40 Niveles de calidad aceptable (inspeccion estricta) 65 | 100 9.05 70. 11,36 12.90 13,75 16.78 18. 19,97 22.41 Pa 99.0 95.0 S08 75.0 50.0 25.0 0. 50 Le 5 0.19 0,29 037 0,53 0.77 La 150) 179 0 346 431 482 5.18 7.00. Bal 9.88 10.7 12,68 65 0,10 (0,07 0.12, 0.15) 0.23 037 0.56 0.80, 0,99) 13 0.15) Ons ou O18 0.22, 0,33 051 0.75 1,05 1.28 212 273 31 3,84 4.80) 393 7.11 7,89Tabla V-N - Letra Codigo de tamaio de muestra N Grafico V-N - Curvas caracteristicas de operacién para planes de muestreo simple je de lores que se espera sean aceptados (P,) fete 2 [22228233 F das (porcentaje de no conforme) Porcentaje: -s e735 048 Jas lotes sometidos (porcentaje dk ‘Tabla V-N-L- Val vas caracteristicas de opera festreo simples calidad aceptables (inspeccion nol 040 | 06s | 10 | 1s [ 2s 035 [057 [091 [736 [229 100 955 0,10 0.08 Pa 99.0 fa 99.0 3.69 022. 0.13 031 | 048 [0.77 [is [73 [2.82 [aan 70.80 | 95.0 90.0 0.16 037 | 057 | 089 [135 [196 [3.13 [ass HSI | 900 0,22. 0.50 | 075 [114 [1.69 [239 [3,73 | 5.62 12.77 | 15 0,32, 0.69 | 1,00 [148 | 2.14 [2.96 [449 | 6.59) 4,28 | 500 0.46) 0.93 | 132 [1.90 | 2.68 [3.64 15.36 | 7.69) 15,89 04 121 | 168 | 2.36 [3.26 [434 | 6.26 | 8.78. 1744 1840 2031 195 2.48 3.65) 448) 4.81 5,79 9.48 10.91 6. 2.68 3.36 684 8,08 140 184 25 | 040 | es | 10 [15 [25 [40 Nivctes de calidad aceptable (inspeceion estricta 40Tabla V-P - Letra Cédigo de tamaiio de muestra P. fico V-P - Curvas caracteristicas de operacién para planes de muestreo simple ados (P.,) 100 tes que se espera seai Porcentaje de 830 W156 metidos (porcentaje de no conforme) T 608 12161618 2 2 1 los lotes sometidos (poreentaj Imuestreo si fa curvas caracteristicas de o de calidad aveptables (inspecti6 040 | 065 | 10 | 1s 0405 | 0,65 [0.99 | 152 0.534 {084 | 1,25 [1.86 0.617 | 095 | 1.40] 2.07 0.79 [1.18 [71,70 | 246 100 | Py To.10 | 99.0 > | 950 i185 | 900 1.96 [75.0 62 7.40 791 8,80 0.254 0.344 0.402 0519 252 3.00 3,29 3.82 0.683 | 1.000 | 148 [208 [2.96 [448 9.88 | 14.27 | 500 0,889 [71.279 [1.83 [2,54 | 3.53 [5.23 11.05 | 15.66 [25.0 tite [1.567 | 2.22 [3.02 [412 | 3.98 119 | 16.98 | 100) 1.275 [1.770 | 2.47 [7333 [451 [347 12.90 [17.80 | 50 1.621 [2.206 [3,02 [4.00 7.46 1431 [19.41 [Lo 65 | 10.0 ‘ais | 025 [oso [06s] 10 [1s [25] 4a Niveles de calidad aceptable (inspeceiGn estricta| 0.10.Tabla VIA. Correspondencia entre los planes de inspeccin estrieta y Now T TT Lawns cdaigo ae 10 | ats | 025 | os w | ts | 2s | 40 | 6s | 100 amano de este . cs Tire pares ¢ cis caw | cos D F030 pets pao | bes ' Feo ms raw | bes i Goo F0a0 rns rin | ves “ 0065] Ga.10 | Gass | Go025 | G40 crs Goin | Goes " 11.0,068 #925 | 1040 nes Hoty | aes \ 10.065 Loa 15 wan | 16s 5 0.065 Hoo ran f bes K K:0.065, «0.40 roan | as \ 00 1040 iain | 165 M M0440 sea | sees N Neoao xiv | Nos P P00 si | pas NOTA- Jc muestra (ala izquierda) v el NCA ( (00 para el plan some codigo del tamano de la muestra an de inspeccida 9 Corresponden nes de inspeccidn estricta y normal cama oro | ots | 02s | 0 | 06s is | 2s | 40 muestra a3 o bas © nes 50 aos 150 cas a v4 D-15.0 Eis Piso Fo | Geis ton | tts 100 | bs roo | rise ra | K100 | K-50 0s | Lew | miso " Unicamente método “s* NOTA: Se entra a la tabla con la letra eédigo del tamaito de la muestra (a la izquierda) y et NCA (en la parte superior) para el plan somerido a inspeccién normal. La tabla suministra la letra codigo del tamano de la muesira y el NCA del plan de inspeccién normal que se usa para la inspeccidn reducidauoroerdaae ap pepitqrqoud ap 9% ¢6 u9 papi,44 LBL Diagrama s -D.- Curvas de aceptacion para limites de especificacidn dobles combinados ‘metodo “s* - Letra cédigo de tamano de muestra D (Tamano de muestra 5) LES- LL On D US UTCurvas de aceptacidn para linites de especificacion dobles combinrados: = Letra cédigo de tamaiio demuestra E (Tamanho de muestra 7) Diagrama s-E. método 0050) GY? 2H. SOS OOSTES 46 EI LED Diagrama s-F.- Curvas de aceptacién para limites de especificacidn dobles c método, inados - Letra cédigo de tamaito de muestra F (Tamaio de muestra 10) F Lins LbG LED LES = Lt 7 Diagrama s-G.- Curvas de aceptacidn para limites de especificacién dobles combinados: método *s* - Letra eédigo de tamano de muestra G (Tamaiio de muestra 15) % NCA 006 oe 28 5 aDiagrama s-H.- Curvas de aceptacidn para limites de especificaciin dobles combinados: método “5” - Letea e6digo de tamao de muestra H (Tamaio de muestra 20)Diagrama s-L- Curvas de acept método “3” on a eédigo de tamaio d 02 025 tes de especificacidn dables com muestra 1 (Tamafio de muestra 04530 7 LES LEL Diagrama s-J.- Curvas de aceptacidn para linites de especifiescion dobles combinados: método “s" - Lotea codigo de tamaio de muestra J (Tamafio de muestra 35)Diagrama s-K.- Curvas de aeptacién para limites de espeeificacién dobles combinados :método “<" - Letra eddigo de tantaio de muestra K (Tamaito de muestra $0)1 = tb LES LET oo on ¢ Diagrama s-L. método, Curvas de aceptacin para limites de espeeificacién dobles combinados: + Letra cédigo de tamaito de muestra L (Tamafio de muestra 75) L NCApara limites de especificacion dobles combinados: Levsa cédigo de tamafio de muestra M (Tamafio de muestr 100) LES — LEI cyDiagrama s-N. método ~ Letra cédigo de tamaio de vas de aceptacion para limites de especificacién dobles comb uestra N (Tamatio de jucstra 150) ios: N %NCA 006%, om de 28 8P fr LES ~ LED Diagrama s-P.- Curvas de accptacidn para limites de especif \étodo “s" = Letra e6digo de t cidin dobles combinades Jaw de muestra P (Tamaito de muestra 200)vas de aceptacion para limites de especifieacion dobles combinatios: método “0” - Letra cédigo de tamano de muestra C LIS LE ga - op NCA 005 oy 0.35 02 025 o8 035 oe 56Diagrama o-D.- Curvas de aceptaciin para limites de especificacién dobles combinados \eodo "a" = Letra c6digo de tamaio de muestea D 005 oF 015 02 025 3 035 37Diagrama o-F.- Curvas de aceptacion para limites de especificacién dobles combinados : todo “0” « Letra cédigo de tama de muestra E NCA E LES- 101| MES LET Diagrama o-F.- Curvas de sceptacidn para lin método “0” - Lé 005 01 as 02 ra cédigo de tama es de especificacion dobles combinados: de muestea F soDiagrama o-G.- Curvas de aceptacién para limites de especificacién dobles combinados: método “0” - Letra sédigo de tamafio de muestra G Le LES LEI %NCA 0065 08 0 60Diagrama oN Curvas de aceptacidn para limites de esp métoda “0” ~ Letra codigo de tan ificacién dobles combinados : H 005 or 08 az 025 03 6% oe 4SEE LES LET % NCA 0.065 015, ou 25 85Diagrama o-J~ Curvas de aceptacién para limites de especificacion dobles combinados: método “0” - Letra eddigo de tamano de muestra C %NCA 5.065 015 on on 008 ° os 02 025 a} 035 o.Diagrama o-K.- Curvas de aceptacidn para limites de especificacion dobles combinados método “a” - Letra eédigo de tamafo de muestra K LE LES LEI 64Diagrama o-L.- Curvas de aceptacton para limites de especificacion dobles eombinados: método “o” - Letra cédigo de tamado de muestra L NCA 008 01 015 02 025 03 LDiagrama o-M.- Curvas de aceptacion para método “a” - Letra cédigo de tam: 66 mites de especificaciin dobles combinados 10 de muestra M og 3 onDiagrama o- Curvas de aceptacién para limites de especificacion dobles combinados: método “0” - Letra eédigo de tamaiio de muestra N 008 os 05 02 025 O38 oN8 LES 005 - Curvas de aceptacion para limites de especificacion dobles combinados: metodo “0” - Letra cédigo de tamanio de muestra P oy 05, 02 025 03 035 PANEXO A PROCEDIMIENTO PARA OBTENER s ¥ (Este anexo forma una parte integral de la norma) A.L PROCEDIMIENTO PARA OBTENERs. Por ejemplo. considere las mediciones dadas en ky Q,> no aceptable si Q, <4, 0 2, Puesto que oes una constante sera mas aceptabilidad en la forma especiticacién superior y > LEY + inferior. puesto que e} tato derecho pyeden determinar antes de que conv practica ios de mite de finite rio de aceptabilidad te de ‘én doble eombinado da un limite de doble Ia seccion 4 con BS3}: sin tanie conocida, el iemte a este fa practica basta obcen icin superior e inferior de + ”02 0. 80 —PEMP 4304 TES TE Figura 13.- Contorno en el plano (@; 2) para p= NC& = 10 % no conforme para limite de especificacion doble combinadoLES LEL el lowe BS BRL We la constante de aceptabilidad Cuando) ni la desviacién esténdar de una uponer como comoeidos, ambos se tir de una muestra tomada de esa “la media de la muestra, ¥ se ta poblacién, y En comparacion con el método “o", éste incrementa la posibilidad de error. porque cuando se sustituye s en vez deo en lo expresion (¥ = n/a) (véase B.7.1), se ‘encuentra que (¥~ 4/)¥i/ s se puede expresar como, o_(F-n)vn 5 a y ya no se distribuye mormalmente, pero tiene una istribucion “7 con (HI) grades Ue libertad. Por cjemplo, sin ~ 10, bay ahora una probabiidad del 9S de que ia diferencia entre fa media de la mesa *s tmcdit det lote serin no ands de = 2.26,-VI0 es comparacion con» 1,96s/40 obtemide a hacer» 1 Ademas, tues dn vn {que se puede escribir como (UES gala (em alin” L od o ° Oan= 4o que se puede expresar c= ate tampoco se distribuyen normalment distribucion "r no central", y esta tabulado, Las tablas de ResmikolF se produjeron para inspeccién dem diame vagiables en particular. La teoria este ‘gn de ta distribueién ¢ no centr ents ‘cin en las tablas y los argumy idos se ‘nuestros tamanos de muest NCA de aceptabilidad & usando indar de TA, UB y redueide A, como se estipuly er en BS. pero sustituyends ular ‘calidad obienidos a partir de une ‘muestra y compareado to ultimo con la constante de aceptabilidad & caleulada para este metodo. EL criterio de aceptabilidad para un time ds especificacion simple es allow esaceptable si. Q, > KOO, 2k no aceplable si Qk ogrk Cuando sedan limites de especificacion doble separados, el eriterio de aceptabslidud eslow esaceptable ss Qk y GQ. k, (ambos) no aceplable si. K, 0 Q.~ &, (uno de los dos) El método grifieo ilusirade en fas figuras 8.9 y 10 santbien es aplicable para ambos criterios anteriores, 143 se da un ejemplo que se ilustra en la figura 2 La fontera superior para fa zona de aceptacién de un limite superior esta dada por la Uiea cect T=LES hy y la footers inferior para la zona de aceptacion de un Iimite inferior esta dada por la linea recta T= LEP = Ay Cuando estan dados los limites de especificacion superior « inferior separados, Ia zona de aceptacion es el area ‘nize dos lineas y el eje ¥ como en Ja figura 2 BX,3_ Criterios de aceptabitid especificacion doble combin: Cuando se da un li combinado, se demas un praceso depend La aceptabi los valores d Fepresenten norma, dejando margen para t ida por la necesidad de usar ¥ para 11 y como una estimacion Jos diagramas s - D hasta s - P ‘curvas estan a una escala presentar © contra s, Zona de Aceptacidn 0 Figura 1S. Grifico de aceptacion para tos limites de especificacion comple} FALE s ‘se representa €omtta ———— LES LED LES LE al utilizar el método "s” Para letras codigo de tamano de muestra By C (es decir, tamafos de muestra 3 y 4), la zona de aceptacidn esta elimitada por cuatro fineas rectas. el eje ©, la linea x = LES = ks, una linea paralela al eje © a través de la desviacién estandar maxima de la muestra (véase la tabla IV-s)y Ia linea ¥ = LEI = &s, obteniéndose el valor de & 2 partir de la tabla WA, H-B 0 IC. Et criterio de aceptabilidad es que el lote es aceptable si el punto [s(LES-LEN), (€-LEI ((LES-LED} esta denteo de ta zona de aceptacién gue ef lote no sea aceptable de otro modo. En la prdetica, cut de lotes. la tarea di curvas especiales de coordenadas sy ¥ (véase I de inspeceién uormal come cestricto. ‘onando una serie Si se producen Sis es mis grande que la desviacién la muestra (lo cual se puede encontrar ole se tiene que juzgar inmediatamente omparese con B 5.2). BSA Limites de espeeificacion com se den combinaciones de las por ejemplo NCY superior, combinado con ut Figura 15).PLANES DE MUESTREO PARA BL METODO "k" {ste anexo constituye parte integral de la norma) C1 OBJETD Este método presenta una alternativa frente al método "s" dado en fa eldusula 14. C2 DEFINICIONES ‘Los términos adicionales para us C21 Método "R aceptabitidad de un desviacin estan mediciones de en su significado: ordin A mayor y el menor de jromedio (R ): Promedio de los re Para muestras de menos de dier items, savestra Se toma como (R ). medio maximo (RPM): En rango promedio maximo aceptable, 3 Los simbot Fa usar con este métado son Ios siguientes Factor ibla RI para evaluar crapartirde R F Un factor. dado ue relaciona el rango promedio maximo cot ia entre LES y LES. & ——_Laconstante de aceptabitidad. R —— Rango de un subgrupo. R —__Rango promedio, basado en varios sut C4 TEORIA EL método “” suministra una forma alternativa de cestinvar la desviacidn estindar. La base tworica de este metodo es que para moestras peauelas el rango Ry s, donde ambos se caleulan a partir de la misma muestra normal, tienen una alta correlacion, lo cual permite utilizar & como un estimador en ver de + Esta relacién se utiliza al tratar con muestras de menos Je diez items. Sin embargo, a medida que el tamaito de la muestra se inerementa. X se conviene en un estimador menos preciso y ya no se puede utilizar: pero si la muestra se divide aleatoriamente en Subgrupos pequenis Fomedio de 0s rangos respectis.os atcular la desviacion estandar {00 “A os taaon de de wes planes. quc ‘mipos de cinco ems se obtene el rango R deca et rango promedio R. Ci menos de 10 items. no se divi sesata como si fuera B consta de Se ha calculado un factor de es tamnanos de los subgrupos y el nimi que 5 se puede reemplazar por Re este factor de escala ¢ para 10s di muestras. con base en los tamaitos 95 en esta norma. Esta taba se fas biomeirica, volumen 1" go, genieralmente no se re Factor ¢ dado en la tabla RI pues ici rico que se be se ha para ky Q.> k (ambos) A, 0 Q, < &, (uno de los dos) Ejemplo, El limite de eléctrica de somete a inspecci inferior para Ia resistencia rico €5 500 O. Se Se utilizara el nivel de inspeeci normal, con NCA = 1% Segiin ra c6digo del tamafto de muestra es F. ‘observa que se requiere wma rnuestra de tana [a constante de aceptabilidad & es 0.703. Supéngase que Tos valores de la resistencia de la muestra se obtiene en el siguiente orden Primer subgrupo 610: 615: 629: 593: 617 (R= 629-593 ~ 36) Segunda subgrupo 623, 589: 608: 391: 611 (R= 625-589 = 34) Se debe determinar el aceptabilidad Informacion necesar Valor obtenide amano deta musi 0 Promedio dela muestra © 7 y 608.4 Ranso promedio RR N- sub- . 36434 ~ exupos Limite de especiicacin (I 80 0, =(F- Lens osi7 Constante de db vdase bs 0.203 tabla ll) Criterio de ae 0.817 0.703 Qvconk tote cumple el eritto Ly por lo tanto cl lowe es aceptable €.9.2.5 Cuando se desea un’ imine de especificacion siumple o. la linea 20 para uo) N se tt FALES ~ 4B (para un través del punto B-0. 7 y 8 + AR (para un tinite inf del punto (R = 0, = -LEN ante A. sea apropiado. en pa con ical y R como eje ste mde rar antes decom jon de una flo en 133 tilizan los nes obtenidas 10.(R.F) en el acepiable, Ejemplo: el punto LE je © (vertical), se traza uns Tinea a través de este punto con una pendiente & Jeome A ~ 0,703, esto significa gue la linea pasara a traves de os puntos (R=10,% 587). (RF 20. 6-394), CF 20 F ~608.1), ete]. Se selecciona un punto adccuade & 36 trava una linea reeta sobre el mismo y (RO, © S801 vs decir, LEI. La zona de aceptacion es entonces el area por ‘encima de esta tinea. Los valores caleulados de Rs son 35 y 608,6. Al represemtar el punto (R. > se ver por la figura 16 que estd deniro de la zona de aceptacions el lote se acepta 8sDEE 38 #0708 ot. 608.6 (Ra 35.7 = 60861 Zona de ceptacon 00 MO ce rr ste so ccurva de aceptacién marcada esta curva de aceptacion y 1a que ro de ella. (La curva interior se pasar a inspeccidn estricta y el jona una zona de advertencia ¥y se represemtan en elt ‘Siel punto esta dentro de ta el lote es ceptable. siesta por fuera, no. NOTA. Puede ser mis coveniente ajustar ft escala de la version de trabajo de esta cutva, de tal modo que se ppuedant representar directamente (véase la figura 17) Ejemplo: La especificacién para la resistencia eléetrica de cierto componente eléetricn es de 5202 + 50 2. Se somete a inspeceién un lote de 350 items. Se utilizard et nivel de inspeceisn I. la inspeccidn noma, coa NCA = 4 % 86 Segin la tabla [-A. fa letra codigo del tamanto de muestra es IT; segtin RIL-A se observa que se requtere una mucst de tamaho 25 y por la Tabla RIV que el valor F del RPV 65 0.707 Supdagase que fos valores de fa resistencia de la muestra se obtienen en el siguiente orden Primer subgrupo S15; 491; 479: 507: 543 (R= S43 479 = 68) Segundo subgrupo $21; 536: 483: $09: 514 (R> 336-483 = 53) ‘Tercer suberupo 507, 484: 526. (R= $52 - 484 = 68) Cuarto subgrupo $30:42; 492; (R= 530-467 » 63) Quinto subgrupo (R= 535-489 = Informacion necesaria Tamano de muestra: Promos dea muesva ee ‘ango promedio R:>_R/N° de Ibgrupos = 294/5 Limite de especificacida superior: LES Limitede especifieacién inferior : LEY representan 4%). (véase festa por fuera de lebe aceprar. dentro de la curva Ue aceptacisn y ef lote C10 PROCEDIMIENTO DURANTE LA. INSPECCION CONTINUA Los procedimientos dados en los numerales 16 a 22 para cel metodo “s" se deben aplicar cuando se use ef met‘Tabla RL- Letras cédigo de tama de muestra, tamafios de muestra y factores de eseala: métado "(?" NOTAS. | Vease C4 para la det 2 Las letras codigo de tama ¥y no son idénticas alas dadas.en la 2utilizadas en esta norma correspon fn la norma COVENIN 31° MIL STD 41d,500 550 510 500 %, RPM = 70.7: Método "R™ 2S, NCA= 42 Figura 17, Curva de aceptacion para la letra eddigo Hy 88Tabla RMA. Planes de muestreo simples para inspeceién normal (tabla maestra) : Método Letra) codigo de | Tamaiio Nivel de calidad aceptable (inspeceién normal) tamano de | de muestra [nesta } 9.19 [0.15 [0.25 | 0.40 | 0.65 | 1.00} 1.50 4.00 | 6.50 | 10.00 Atatetetatal ia & A & k B 3 oer | naar | 0.296 c 4 vase | 36a | 0276 dD 3 ogg | waar | vase | 927 I r ous | 0330 | 1.266 F 0.755 | 0.703 aan | o3at 0.792] 0738| vost | 0.61 32 | 368 ps9 896 | 0835]0.779| 0.223 | oa? 0.843 | 0.787] 0.730 | o6s4 | 0.5 10860 0,803 | 0,746 | 0.668 | 0591 4.885 0,826] 0.768 | 0.689 | 0.610 {CA son dados como porcentaje de: o de muestra y los niveles de insp 105 a aquellos de la MIL STD es en la Simboto reo debajo de ¢ por enciina No existe plan de 6 adecuado en esta drea; use el primer pl te de aceptabilidad & de la Tech, Esta se refiere tanto al tama de nuestra como a la cof El plan dado en esta ‘rea da un alto peligro de seguridad pero a expensas de wn tamafo grande. Se puede usar el proximo plan arriba de la flecha a diserecion de la autoridad responsable. Las lineas gruesas indican la Frontera con el pian equivalente de muestreo por atributes en la Norn Venezolana COVENIN 3133 seTabla RII-B.- Planes de muestreo simples para inspeecidn estricta (tabla muestra): Método "R™ oui Cetra tamanode | de igo de | Tamai Nivel de calidad aceptabte (inspeceidn estrieta) muestra | muestra | 4.19 | o.t5 | 0.25 | 0.40 ]0.65| 1.00] 1.50 | 250 | 400 | 650 | 10.00 a tatatetatets ‘ ‘ & ‘ B 3 ose | sao ¢ 4 050 | a.a68 Dd 5 0.49% | 0431 | 0.352 E 1 069 | 053 00s | 0.356 0.735] 0,703 | o6st oa G 0.880] 0.792} 0.738 | vost | 06 H oss} 0.279 | 023 | 0697 1 0.843] 0.787 | 0.730 | asa | as , 803 | 0.746 | oss | asvr k 885} 0826 | 0.768 | o089 | oto L M N P NOTAS Todos los v dos como porcentaje de no conf § co. JS 90 stta y los niveles de inspeectén eb yéllos de la MIL STD 414. de 0 por encima jlidad k 0 en esta rea: use el primer plan de mu tamaiio de muestra como a la constante d No existe plan de muestreo de la flecha. Esto se refiere tanto 1 plan dado en esta area da un alto peligro de seguridad pero a expensas de un tamano grande. Se puede usar el proximo plan arriba de la fecha a diserecién de la autoridad responsable. Las lineas gruesas indican la frontera con el plan equivalente de muesteeo por atributos en la Norma ‘Venezolana COVENIN 3133,1: la (abla muestra) : Método ‘abla RU-C.- Planes de muestreo simples para inspeceidn red Tamano Nivel de calidad aceptable(inspeccién reducida) de muestra = | Tew Tiooe 0.10 | 0.15 | 0.28 [0.40 | 0.65 | 1,00] 150 | 400 | 650 | 1000, atatetatatal so [a fa ta fe 8 3 oss7 } ose [os [a2 | ax © 3 oss? | oso | osm | 0296 | wre D 3 assis) asv2 | aswr | 02% | ote E x 0, aan | 296 | 78 F nest Joss 0. rte | 0% 0663 [asia }o.s6s] 0.98 | 0. 2 | ois .413 | 0.369 0525] tes | asos aims 10 | oo fo 510.203 0650] 057 | asor | ost 02s 1s | 0958 Josos aris|o.ss| ooo | 0536 | vase 2s | tor }o9st}oRse]agis or |o23) aoa | o.s7t | ose Ws 30 | 102 Ja9s9}o%0:fo.ses|orszo.230| 0634 | 0.377 | aa 7 40 | 0 ]o978} 921 J as00 oes | osst | oso z 60 | 106 | 100 fovss uses 689 | oo [Tos2y pss 108 | 102 | 0962 0899] os 1 Lea Jo. us NoTAS Lk {A son dados como porcentaje de 2 Las Jo de musta ¥ os niveles dei nls cov jicos a aquéllos de la MIL STI 3 Simbolo No existe plan de adecuado en esta rea: ust el primer pl 0 debajo de o por encima dela echa. Fst se reffte tanto al tamaiio de muestra como la constants de aceprabildad & TT J El plan dado en esta area da un alto peligro de seguridad pero a expensas de un tasnaia yrande Se puede usar el proximo plan arriba de la flecha a diserecion de la autoridad responsable Las lineas gruesas indican ta fronters con el plan equivalente de muestreo por atriburos en la Novi Venezolana COVENIN 3133. 1‘Tabla RIV.- Valores de F para et rango promedio miiximo (RPM): métode "2" Tamaino Nivel de calidad aceptable (inspeceidn estrieta) de muestra pao} oas } 02s | ago | aos | aoe fase {230 | aon | oso | too 3 0833 | 0.865 | 0907 | ass | 1.028 4 0.256 | 0.788 | n836 | 0.891 | ays | 1056 | 1180 5 0730 | 9.764 | gor | 08s7 | 0.923 | torr | tris | 9.263 7 06.95 | 0.727 | 0.768 | 0.804 | a.ste | 0.910 | 0.985 | tose | 1200 | ara 0 0.529 | ossaiiiiv.s79 | n.610 | o.ot2 | 0.677 | 0.730 x76 0977 | 1112 §5 | oseo | 477 0872 | 0.602 | 0.637 | 0.688 928 | 1.058 25 | oasy | 0, 0.537 | 0,567 | 0.600 | 0.649. 79 | 14 30 | a.826. ol 531 | 0.500 | 0.593 | 0.642 | 0.099 0.993 40 Sag y447 | 0.469 0,548 | 0.580 | 0.628 | oss | 07 8 60 0.34 | 0.455 1.533 | 0.564 | 0,608 | 0.666 | 0.740 8s 027 | o448 | 0.4 | 0.355 | 0.602 | 656 | 0.729 | 0. us waar | 0468 17 | a.sa8 | 0,504 | 0.648 | 0.220 | 0.40 "75 o.34 | 045s | 0B 0.508 | 0,538 | 0.584 | 0.637 | 0.708 | a7ae 230 397 | 0.412 | 0.432 | 0.454 | 0.480 | 0,507 0,582 | 0.633 | 0.706 | 0.792 5 | 0.25 | 0.40 | as | 1.00 | 15 4,00 | 6,50 | 10.00 ‘Niveles de calidad aceprables (Ins ) 010 | 0.15 [ 0.25 | 040 | 068 2,50 | 4.00 | 6, Niveles de calidad ace} in reducida) NOTA: La RPM Jicando el factor F por la diferencia er specif ES. vy el limite de especi Fi. es decir. RPM = F (LES -LEN, EI RPM indica la ampli det rango promedio de la mu "para ef labilidad desconocida. Si el inferior al caso de limites de especit RPM es posible, pero no se aceptado.Diagrama R-D.~ Curvas de aceptaciin paca limites de especificacion dobles combinados: método “@" - Letra eédigo de tamaiio de muestra D (Tamaio Ge muestra 8) Le 7o4 E Le LES = LEI ’ 09 08 09 08 04 03 02 on Diagrama f-E.- Curvas de aceptacion para limites de especi método * -acién dobles combinados: ~ Letra eédigo de tamano de muestra E (Tamano de muestra 7)Diagrams 2-G.- Curvas de aceptacion para limites de especificacidn dobles comtbinados: método “A” - Letra c6digo de tamaia de muestra G (Tamafio de muestra 15) a) =] NCA noe o> LES LET 96Diagra metodo H LES pt 198 Diagrama R-L- Curvas de aceptacion para limites de especificacién dobles combinados: método "A" - Letra cédigo de tamaiie de muestra | (Tamafio de muestra 30)Diagrams A-J.- Curvas de aceptacién para limites de espeeiGeacidin dobles combinados : método “A - Letra codigo de tamano de muestra J (Camano de muestea 40) LE LES LEI 1 oyDiagrama R-K.- Curvas de aceptacion para limites de especificacign dables combinados : método “A - Letra eddigo de tamafio de muestra K (Tamaio de muestra 61) a TES LE : seNCA 1 r 09 08 07 06 0s 04 03 02 on TES ~ LET 100Diagrama RL. Curvas de aceptacion para limites de especificnciin dobles combinados: métoda “A - Letra e6digo de tamaio de muestra L (Tamaiitio de muestra 85)Diagrama R-M.- Curvas de aceptacion para limites de espeeificacion dobles combinados : método “A” - Letra codigo de tamano de muestra M (Tamafo de muestra 115) LESS LET 1 09 08 07 06 05, oe 03 Oe 102Diagrama &-N.- Curvas de aceptacién para limites de especificacion dables combimades : método "A" - Letra cédigo de tamaiio de muestra N (Tamano de muestra 175) eLet LES LEE , NCA Les th WwUES. Ld Figara 18.- Papel milimetrado para el método “s" 106BIBLIOGRAFIA £n el desarrollo ue esta norma se usaron las siguientes publicaciones de referencia Lp Pechmigues of Stanstical nalysis. Statistical Researeh Group. Columbia University. MeGirax-Hill, 1047 [2] BowKER, A. H. and Goobe, HP. Sampling Jnspection by Fariables. MeGravs-Hill, 1952 [3] DUNCAN. AJ. Quality Control and Industrial Statisties, Richard D. Irwin. 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