TEC bO-2 94 MM 4844892 Ob12408 772 mm NORME CEI INTERNATIONALE IEC INTERNATIONAL 60-2 STANDARD ss Amendement 1 Techniques des essais a haute tension Partie 2: Systémes de Mesure Amendment 1 High-voltage test techniques Part 2: Measuring Systems ©CEI1996 Droits de reproduction résorvée— Copyright — all ights reserved ‘Bureau Contra de Ia Commiaion Electotecnioue temionale 3,110 de Varenbé. Genive, Sue Commission Elctrotechnique internationale CODE PRIX N International Electrotechnical Commission PRICE CODE Menanapoman Snorporenenecnan Houneco See torr irc on vgver peeTEC 60-2 94 mm 4844853 Ob12H09 639 am - 60-2 amend. 1 © CEI:1996 AVANT-PROPOS. Le présent amendement a été établi par le comité d'études 42 de la CEI: Technique des essais ‘a haute tension. Le texte de cet amendement est issu des documents suivants: FDIS Rapport do vote 42/1 20/F DIS “42/2579VD Le rapport de vote indiqué dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant about! a ‘approbation de cet amendement. Page 6 SOMMAIRE Ajouter le titre de annexe H suivant: H Procédure pour estimation de I'incertitude lors de la mesure des hautes tensions Page 132 Ajouter, aprés 'annexe G, la nouvelle annexe H suivante: Annexe H (informative) Procédure pour I'estimation de I'incertitude lors de la mesure des hautes tensions HA Introduction La présente partie de la CE! 60 donne les exigences auxquelles doit répondre un Systeme de Mesure Approuvé pour mesurer les hautes tensions dans les limites d'incertitude fixées par la présente partie de la CEI 60 et pour consigner les résultats appropriés dans le Recueil de Caractéristiques. La présente annexe donne une procédure pour estimer lincertitude globale & un niveau de confiance donné. Les régles d'arrondissage des valeurs mesurées et des incertitudes estimées 5 sont fournies. H.2 Principes généraux - Lincertitude est une déclaration : =, des limites (2U) de la plage de valeurs dans laquelle on s‘attend & trouver la valeur vraie d'une mesure par rapport au résultat enregistré, et = de la probabilité pour que la valeur vraie soit & lintérieur de ces limites; cette probabilité est exprimée comme un niveaurde-confiance.TEC 60-2 94 MM 4844892 Ob12420 350 mm 60-2 Amend. 1 © IEC:1996 ~3- FOREWORD This amendment has been prepared by IEC technical committee 42: High-voltage testing techniques. The text of this amendment is based on the following documents: FDIS Report on voting “A22FDIS “42/25/RVD Full information on the voting for the approval of this amendment can be found in the report on voting indicated in the above table. Page 7 CONTENTS ‘Add the title of annex H as follows: H Procedure for estimating uncertainty in high-voltage measurements Page 133 ‘Add, after annex G, the following annex H: Annex H (informative) Procedure for estimating uncertainty in high-voltage measurements H.1 Introduction This part of IEC 60 gives the requirements for an Approved Measuring System to be used for high-voltage measurements within the limits of uncertainty given in this part of IEC 60 and for the relevant statements to be entered in the Record of Performance. This annex gives a procedure for estimating the overall uncertainty at a given confidence level. ; Rules for rounding measured values and estimated uncertainties are given. H.2 General principl Uncertainty is a statement of: the limits (+U) of the range of values within which the true value of a measurement is, ‘expected to lie in relation to the recorded result and = the probability of the true value lying within these limits; confidence level. this probability is expressed as aTEC bO-2 94 MM 4844892 Ob1241) 297 mm 60-2 amend. 1 © CEI:1996 Un exemple de mesure avec son incertitude est: 1.040 KV & 20 kV (estimé avec un niveau de confiance d'au moins 95 %) Toutes les mesures sont & un certain point imparfaites. Un Systéme de Mesure peut étre influencé par différentes grandeurs (par exemple la température, la proximité de structures & la terre ou sous tension, les interférences, etc.). Généralement on observe que, lorsqu'une mesure est répétée plusiours fois, il y a une dispersion des résultats (quand les exigences de la CEI 60 sont satistaites, cette dispersion tend & s'affaiblir). Quand une mesure est répétée un grand nombre de fois, la plupart des résultats sont proches d'une valeur centrale et cette valeur centrale tend vers une valeur constante au fur et & mesure que le nombre de mesures ‘est augments, Un grand nombre d'essais & haute tension ne permettent d'effectuer qu'une seule mesure. D'autres exigent plusieurs mesures, par exemple 10, comme dans l'article 6 de la présente Partie de la CE! 60. Une mesure unique peut prendre n’importe quelle valeur de la distribution vraisemblable. Les différences possibles entre une valeur unique (ou la moyenne d'un petit hombre de mesures) et la moyenne de la distribution des valeurs possibles fournissent une contribution aléatoire de l'incertitude, Cette annexe foumit les procédures pour traiter un nombre quelconque de répétitions d'une mesure. Dans Ia plupart des mesures, 'incertitude globale résultera d'une combinaison de plusieurs contributions qui sont classées en deux catégories, selon la méthode utilisée pour évaluer leurs valeurs numériques [1]* . 1.2.1 Contributions systématiques (Type B [1]) Les contributions systématiques sont celles qui ne sont pas évaluées statistiquement mais sont estimées par d'autres moyens. Quelques exemples sont: = Tincertitude d'étalonnage du Systéme de Mesure (ou de ses constituants), inscrite dans le certificat d'étalonnage; — la dérive de la valeur du coefficient de conversion du Systéme de Mesure (par exemple, {e vieilissement) - Tutilisation en permanence d'un Systéme de Mesure dans des condi celles de I'étalonnage (par exemple une température différente); = la résolution de chaque instrument. Das lors qu'un Systéme de Mesure (ou un constituant) a’ été étalonné et qu'il est alors utilisé dans un essai, Tincertitude de 'étalonnage est traitée comme l'une des contributions ‘systématiques dans l'estimation de lincertitude du résultat d'essai. H.2.1.1 Contributions systématiques (rectangulaires) ‘On considére que ces contributions systématiques ont une distribution rectangulaire, c’est-a- dire que n‘importe quelle valeur mesurée entre les limites estimées (24 ol est la valeur de la demi-plage) est supposée étre équiprobable. * Les chitres entre crochets renvoiant a H.7 Documents de référence.TEC bO-2 94 MM 484489) Ob12412 123 mm 60-2 Amend, 1 © IEC:1996 -5- ‘An example of a measurement with its uncertainty 1 040 kV + 20 kV (estimated confidence level not less than 95 %) All measurements are to some degree imperfect. A Measuring System will be influenced by various quantities (e.g. temperature, proximity of earthed or energised structures, interference etc.) It will generally be found that when a measurement is repeated several times there will be spread in the results (when the requirements of this part of IEC 60 are met this spread will ‘be small). When a measurement is repeated a large number of times, most of the results will be close to a central value and this central value will tend to a constant value as the number of measurements is increased. Many high-voltage tests permit only a single measurement. Others require several measure- ments, e.g. 10 as in clause 6 of this part of IEC 60. A single measurement may give any value in the likely distribution. The possible differences between a single value (or the mean of a small number of measurements) and the mean of the distribution of all possible values gives a random contribution of uncertainty. ‘This annex provides procedures to deal with any number of repetitions of a measurement. In most measurements, the overall uncertainty will result from a combination of several contributions which are classified into two categories according to the method used to evaluate their numerical values [1]* . H.2.1 Systematic contributions (Type 8 [1]) ‘Systematic contributions are those which are not evaluated statistically but are estimated by other means. Some examples are: = the uncertainty of the calibration of the Measuring System (or its components), stated in the calibration certificate; the drift in the value of the scale factor of the Measuring System (e.g. ageing); the use of a Measuring System under constant conditions which are different from those of the calibration (e.g. different temperature); = the resolution of each instrument. ‘Once a Measuring System (or a component) has been calibrated and is then used in a test, the uncertainty of the calibration is treated as one of the systematic contributions in the estimation of the uncertainty of the test result. H.2.1.1. Systematic contributions (rectangular) Itis assumed that these systematic contributions have a rectangular distribution, that is, any ‘measured value between the estimated limits (+2, where a is the semi-range value) is assumed to be equally probable.TEC BO-2 94 MMH 484489) Ob}2413 ObT mm -6- 60-2 amend. 1 © CEI:1996 L’écart type d'une distribution rectangulaire est: (Hat) Quand un nombre (n) de contributions systématiques (rectangulaires) non corrélées sont ‘combinées [2], alors: a) lécart type est: (H.2) 303 3 #2) ol a & a, sont les valeurs des demi-plages des contributions individuelles d'incertitude; 'b) pour autant quill y ait un nombre suffisant de contributions signiticatives, la distribution est approximativement gaussienne. H, 2 Contributions systématiques (gaussiennes) On considére que ces contributions systématiques ont une distribution gaussienne. Quand un certain nombre de contributions systématiques (gaussiennes) non corrélées sont combinées, la racine carrée de la somme des carrés des écarts types appropriés est évalude (s5,). H.2.2 Combinaison des contributions systématiques L'écart type pour toutes les contributions systématiques est: S17 Stat Sy (H.3) 1.2.8 Contributions aléatoires (Type A [1)) Les contributions aléatoires sont celles qui sont déduites statistiquement a partir de mesures répétitives et qui, étant aléatoires, tendent habituellement lors d'une mesure vers une distribution gaussienne. Chaque contribution aléatoire est caractérisée par I'écart-type expérimental (s,) de léchantillon des valeurs mesurées (voir équation (H.11) en H.3.3.1). H.2.4 Corréiation entre les contributions d'incertitude WW convient de ne pas ignorer la corrélation entre les quantités mesurées si elle est présente et significative. Si possible, il convient d'évaluer cette corrélation expérimentalement en faisant varier les quantités corrélées. Dans de nombreux cas, les quantités mesurées sont suffisamment indépendantes pour que l'on puisse considérer que les quantités affectées sont non corrélées. S'il a ét6 décidé que la corrélation entre les quantités mesurées ne peut pas tre ignorée, et ne peut pas étre déterminée expérimentalement, alors il conviendra d'utiliser les méthodes de ISO TAG 4, section 5.1 [1]. H.3. Incertit ide globale H.3.1 Combinaison des contributions d'incertitudes Lincertitude pour une distribution gaussienne est donnée par: U= ks (estimée & un niveau de confiance de P %) (H.4)TEC bO-2 94 Ml 4844893 0622424 TT Mm 60-2 Amend. 1 © IEC:1996 The standard deviation of a rectangular distribution is: a sane (Ha) When a number (n) of uncorrelated systematic contributions (rectangular) are combined [2], then: a) the standard deviation (H.2) where a; to a, are the semi-range values of the individual contributions; b) provided there is a sufficient number of significant contributions, the distribution is approximately Gaussian. 1.2.1.2 Systematic contributions (Gaussian) tis assumed that these systematic contributions have a Gaussian distribution. When a number of uncorrelated systematic contributions (Gaussian) are combined the square root of the sum of the squares of the appropriate standard deviations is evaluated (554). H.2.2 Combination of systematic contributions ‘The standard deviation for all systematic contributions is: 52k (H.3) 1.2.3 Random contributions (Type A [11) Random contributions are those which are derived statistically from repetitive measurement and, being random, will usually be found by measurement to tend to a Gaussian distribution. Each random contribution is characterised by the experimental standard deviation (s,) of the sample of measured values (see equation (H.11) in H.3.3.1). H.2.4 Correlation between uncertainty contributions Correlation between measured quantities should not be ignored if present and significant. If Possible, this correlation should be evaluated experimentally by varying the correlated Quantities. In many cases the measured quantities are sufficiently independent that the affected quantities can be assumed to be uncorrelated. If it has been decided that the correlation between measured quantities cannot be ignored, and cannot be determined experimentally, then the procedures in ISO TAG 4, section 5.1, should be used [1]. H.3 Overall uncertainty H.3.1| Combination of uncertainty contributions ‘The uncertainty for a Gaussian distribution is given by: U= ks (estimated confidence level of P %) (HayTEC bO-2 94 MM 484489) 0612415 932 mm ~8- 60-2 amend. 1 © CEI:1996 ott k est le factour de la distribution normale (facteur de risque [1]) et est donné, pour n—> =, la demiére ligne du tableau H.1; P est donné a la premiére ligne du tableau H.1. Sauf spécification contraire il est habituel d'évaluer lincertitude & un niveau de confiance de 95 % et diutiliser pour k une valeur arrondie égale a 2 [1]. La méthode de cette annexe pour la combinaison des contributions d'incertitude exige que les contributions d'incertitude systématique et aléatoire d'un Systeme de Mesure soient évaluées séparément. La _déduction de I'incertitude globale U est basée sur la racine carrée de la ‘somme des carrés des contributions di (H5) et U, et U, sont calculées au méme niveau de confiance et sont obtenues en accord avec H.3.2 otH.3.3. H.3.2 Estimation de incertitude systématique L’équation de base de I'incertitude systématique, U,, est: kay = koro ts) (tiré de équation (H.3) et de équation (H.4)). Us Si une incertitude d'étalonnage est donnée sans aucune indication du niveau de confiance, il convient de Ia traiter comme ayant une distribution rectangulaire avec une valeur de de plage égale a l'incertitude et incluse comme t'un des termes de 'équation (H.2). Quand rincertitude est donnée avec un niveau de confiance, il convient de considérer qu'elle a une distribution gaussienne. Done, si incertitude d'étalonnage est donnée avec un niveau de confiance de 95 % comme il est maintenant généralement recommandé, la valeur sera une valeur a2 s (c'est-a-dire, k= 2) et: sa= (4.7) Dans le cas particulier, ou 'on ne fait qu'un seul étalonnage pour le Systeme de Mesure complet, I'équation (H.6) devient: (H.8) (H.9)TEC 60-2 94 MH 484489) ObL2426 879 Mm 60-2 Amend. 1 © IEC:1996 -9- where kis the normal distribution factor (coverage factor [1]) and is given, for n+ =, in the last line of table H.1. P is given in the first line of table H.1. Unless otherwise specified it is usual to evaluate uncertainty at a 95 % confidence level and a rounded value of k= 2 is used [1]. The procedure in this annex for the combination of uncertainty contributions requires that the systematic and random uncertainty contributions of a Measuring System are evaluated separately. The derivation of the overall uncertainty U is based on the square root of the sum of the squares of the systematic and random uncertainty contributions: use () and U, and U, are calculated at the same confidence level and are derived in accordance with H.3.2 and H.3.3. 1.8.2 Estimation of systematic uncertainty The basic equation for systematic uncertainty Us Uy = ks, = kY{si+ oh, (He) (from equation (H.3) and equation (H.4)). It a calibration uncertainty is given without any indication of confidence level it should be treated as having a rectangular distribution with a semi-range value equal to the uncertainty and included as one of the terms in equation (H.2). ‘When the uncertainty is given with @ confidence level it should be assumed to have a Gaussian distribution. Therefore, if the calibration uncertainty is given at a level of confidence of 95 % as is now being generally recommended, the value is a 2 s value (i.e. k= 2), and: Sige (4.7) In particular, where there is a single calibration for the complete Measuring System, equation (H.6) becomes: fh 8, os (H8) 373s "2 where a; to a, are the semi-range values. The general form of equation (H.6) is: (H.9)TEC bO-2 94 MM 484489) Ob12427 705 ~10- 60-2 amend. 1 © CEI ot U, & Up, sont les contributions d'incertitude d'étalonnage données aux niveaux de confiance spécifiés; k,@ ky sont les facteurs des distributions normales correspondants. NOTE ~ Si toute autre contribution a 616 donnée ou estimée sur Ia base dune distribution supposée ‘Gaussienne, alors il conviendra de Finclure comme Mun des termes (Uq/k,)*dans équetion (H.9) H.3.3. Estimation de Vincertitude aléatoire Toute mesure, répétée plusieurs fois dans les mémes conditions, montre une dispersion des valeurs mesurées (pour autant que la résolution soit suffisante) et il en découle une incertitude sur l'estimation de la prochaine valeur probable. La valeur moyenne de ces mesures répétées aura aussi une incertitude qui diminuera (comme la racine carrée de n) au fur et & mesure que le nombre (n) de mesures augmentera. H.3.3.1.U, tiré d'un petit nombre de mesures (par exemple, 10 comme exigé dans l'article 6 de la présente partie de la CEI 60) Quand U, se référe & I'incertitude de la moyenne, xq d'un petit nombre de valeurs (n), alors U, est donné par: ts = a r (H.10) ot test le facteur de Student, obtenu a partir du tableau H.1 en fonction du nombre (n) échantillons, Pest le niveau de confiance requis et: 5:= => (n+ Xn)? (Hatt) a est le nombre de mesures; sont les valeurs mesurées pour i= 1a 1; ob . x Xm est la moyenne des valeurs mesurées.TEC bO-2 94 MH 4844893 ObL2428 G4) Mm 60-2 Amend. 1 @ IEC:1996 one where U, to Up, are the calibration contributions given at stated confidence level 10 kp are the corresponding normal distribution factors. NOTE ~ tt any other contibution has been provided or distribution, ter timated on the basis of an assumed Gaussian is shouldbe included as one ofthe trms (Uq/kq}? in equation (H.9), .3.8 Estimation of random uncertainty ‘Any measurement, repeated several times under the same conditions, shows a spread in the measured values (provided the resolution is sufficient) and hence there is an uncertainty in the estimation of the probable next value. The mean value of these repeated measurements will also have an uncertainty which will decrease (by the square root of n) as the number (n) of ‘measurements increases. H.3.3.1. U, froma small number of measurements (0.9. 10 as required in clause 6 of this part of IEC 60) When U, refers to the uncertainty of the mean, xq, of a small number of values (n), then U, is siven by: ts, une (H.10) where 1 is the Student's t factor, obtained from table H.1 in terms of the number of samples (n), P Is the required confidence level and: (H.11) where ‘nis the number of measurements; X) are the measured values for j= 1 ton; %q_is the mean of the measured values.TEC bO-2 94 MH 484489) Ob12429 588 Me ~12- 60-2 amend. 1 © CEI:1996 Tableau H.1 - Distribution du «t» Student Valeurs de «t» pour un niveau de confiance spécifié «P» % en fonction du nombre de mesures, «n» Re os 900 95.0 907 2 1 631 127 = 3 vse 292 430 - ‘ 4.20 238 38 9.22 5 114 243 278 662 6 ant 202 287 5st 7 1109 194 2.48 4.90 8 1.08 1.89 2.36 459 9 1.97 1.38 2at 428 10 4106 43 228 4.09 20 1.03 173 2,09 345 = 4,00 1.85 1968 3.00 Quand nom, 19k 2 Pow P=95% kestarondi a2 (1) NOTE ~ En statistiques, n-1 est appelé le nombre de degrés de liberté 1.8.3.2 U, tiré d'un grand nombre de mesures (n >> 10) ‘Au niveau de confiance préférentiel de 95 % pour un échantillon n >> 10 de mesures, t dans équation (H.10) peut tre remplacé par k. L'incertitude de la moyenne, x,, des échantilions, devient alors: (H.12) 3. U, tiré dun grand échantillon de mesures préalabloment établies Si une valeur de 5, a été établie & partir d'un grand nombre de mesures (par exemple, n, 2 20 un niveau de confiance de 95 %) pour un Systéme de Mesure n'ayant pas subi de modifications significatives, alors Tincertitude sur une mesure ultérieure unique (ou répétée) est: (H.13) ou Mp (ou 2, ete) et np << ny. H.4 Programme pour les évaluations de lincertitude globale Un bilan de fincertitude est la compilation des valeurs assignées & chaque contribution igniticative. Ce bilan est utilisé avec la procédure donnée dans cette annexe pour estimer incertitude globale. Il est suggéré que le programme de ces évaluations soit le méme que celui utilisé pour les Essais de Détermination des Caractéristiques.TEC bO-2 94 MM 484489) Ob22420 2TT mm 60-2 Amend. 1 © IEC:1996 -13- Table H.1 ~ Students 'f distribution Values of 'f for specified confidence level 'P % as a function of the number of measurements, 'n' Pe 68.3 90.0 95,0 99,7 2 1.84 631 127 > 3 1,82 2,92 430 5 4 1,20 2.35 38 922 5 1.4 a3 2.78 662 6 att 287 51 7 1,09 248 490 8 1,08 236 453 ® 1.07 2st 428 10 1.06 226 409 20 1,03 2,09 35 = 7,00) 1,967) 3.00 1 When noe, tok 2 For P=95% kis rounded to2 [1] NOTE —In statistics, n-1 Is called the number of degrees of freedom of the distribution. 1.3.3.2 U, froma large number of measurements (n >> 10) At the preferred confidence level of 95 % for a sample n >> 10 measurements, t in equa- tion (H.10) can be replaced by k. The uncertainty of the mean, %p, of the samples, then becomes: uae (H2) H.3.3.3 U, from a previously established large number of measurements Ita value of s, has been established from a large number of measurements (e. confidence level of 95 %) for a Measuring System to which no significant change the uncertainty in a subsequent single (or repeated) measurement is: ny 2 20 fora ‘made, then (H.13) where ng =1 (or 2, etc.) and ny << n,. H.4 Schedule for evaluations of overall uncertainty ‘An uncertainty budget is the compilation of the values assigned to each significant contribution ‘This budget is used with the procedure given in this annex to estimate the overall uncertainty. It is suggested that the schedule for these evaluations should be the same as that used for Performance Tests.TEC bO-2 94 MMH 484489) ObL242) 13 me =14- 60-2 amend. 1 © CEI:1996 HS Arrondissage des valeurs mesurées et des incertitudes estimées Des erreurs additionnelles dans les mesures peuvent étre limitées en effectuant tous les calculs avec plus de chiffres significatifs que ceux qui seront retenus dans le rapport final et, en général, deux chiffres additionnels seront suffisants. I convient que la valeur de tincertitude soit composée de seulement un ou deux chiffres significatifs et que la valeur rapportée de lincertitude soit toujours arrondie au chiffre supérieur afin d'éviter de donner un chiffre trop optimiste, par exemple une incertitude calculée de £0,82 % devrait étre arrondie & #0,9% ou +1 %. lI convient que la valeur mesurée soit rapportée avec une résolution non supérieure & 10 % de Vincertitude rapportée et soit arrondie & lunité pour le dernier chitfre significatit retenu. Ainsi Pour une tension mesurée avec une résolution de 0,01 % et avec une incertitude de mesure de 21 %, il convient d'arrondir la valeur mesurée rapportée 0,1 %. Cependant, dans certains cas, il peut &tre utile de donner un chiffre additionnel pour détecter une dérive dans une série de mesures due, par exemple, des changements dans les conditions de mesure. H.6 Exemples d'évaluation de I'incertitude pour un Essai de Détermination des Caractéristiques par la méthode de référence H.6.1 Généralités NOTE - Les mesures suivantes ont 6t6 effectuées par un laboratcire uliisant son propre Syetéme de Mesure de Rétérence. Dans chacun des exemples le Syst8me de Mesure était étalonné dans ses conditions normales utilisation. Un Systéme de Mesure de Référence était aussi connecté & objet en essai et des mesures simultanées de 10 applications de tension étaient faites avec les deux systémes de mesure. Le Systeme de Mesure de Référence avait été étalonné par un laboratoire national de métrologie. Le certificat d'étalonnage comprenait un résultat la tension de comparaison requise, un énoncé des conditions dans lesquelles le résultat était obtenu et une estimation de Tincertitude d'étalonnage a un niveau de confiance de 95 %. Pour simplifier, on a supposé que le laboratoire d'essai est capable de réaliser les mémes conditions d'essai que celles dans lesquelles le Systéme de Mesure de Référence était étalonné. Dans la pratique cela n‘est pas toujours possible, des données de fonctionnement additionnelles sur le Systtme de Mesure de Référence seraient alors nécessaires afin ‘estimer les corrections et/ou les contributions diincertitude additionnelles. Ces demiéres deviendraient des termes additionnels dans 'équation (H.9). Il convient de noter que les contributions diincertitude devraient toujours étre déterminées en fonction de I'effet de la quantité perturbatrice sur le paramétre mesuré. Dans Ia plupart des cas pratiques, la combinaison des incertitudes, comme prescrites dans cette annexe, tendra & donner un résultat pessimiste ou plus sir. Das lors, il est recommandé que la valeur estimée de lincertitude soit spécifiée comme étant «8 un niveau de confiance d'au moins P %».TEC bO-2 94 MM 484489) Ob12422 O72 om 60-2 Amend. 1 @ IEC:1996 ~15- H.5 Rounding of measured values and estimated uncertainties Additional errors in measurement can be limited by making all calculations with more significant figures than will be retained in the final report and in general two additional digits will be sufficient, ‘The value for uncertainty should consist of only one or two significant figures and the reported value of the uncertainty should always be rounded up to avoid giving a too optimistic figure, |. an uncertainty calculated as +0,82 % should be rounded up to +0,9 % or +1 %. ‘The measured value should be reported to a resolution no better than 10 % of the reported uncertainty, and should be rounded to one unit in the last significant figure retained, Thus for a voltage measured to a resolution of 0,01 % and with a measurement uncertainty of 1 %, the reported measured value should be rounded to 0,1 %. In some cases, however, one additional significant figure might be usefully given to detect drift ina series of measurements, e.g. due to changes in the measuring conditions. 1.6 Examples of the evaluation of the uncertainty for a Performance Test by the reference method H.6.1. General NOTE ~The following measurements were carried out by a laboratory using its own Reference Measuring System. In each of the examples, the Measuring System was calibrated in its normal conditions of use. A Reference Measuring System was also connected to the test object and simultaneous measurements of 10 applications of voltage were made with the two measuring systems. ‘The Reference Measuring System had been calibrated by a national standards laboratory. The calibration certificate included a result at the required comparison voltage, a statement of the conditions under which the result was obtained, and an estimate of the uncertainty of calibration at a confidence level of 95 %. For simplicity it has been assumed that the test laboratory is able to realise the same conditions as those under which the Reference Measuring System was calibrated. In practice this may not always be possible, in which case additional performance data for the Reference Measuring System would be needed to estimate corrections and/or additional uncertainty contributions. The latter would become additional terms in equation (H.9).. It should be noted that uncertainty contributions should always be determined in terms of the effect on the measured parameter by the perturbing quantity. In most practical cases the combination of uncertainties, as prescribed in this annex, will tend to give a pessimistic or safe result. Hence it is recommended that the estimated value of the uncertainty should be stated as being “for a confidence level not less than P-%".TEC bO-2 94 MM 484489) 0612423 TOT me -16- 60-2 amend. 1 © CEI:1996 1.6.2 Exemple 1 - Etalonnage d'un Systéme de Mesure des tensions continues de 1 MV, par comparaison avec un Systéme de Mesure de Référence de 200 kV ~ Valeur moyenne de la tension continue a) Contribution dincertitude aléatoire (estimée A partir de 10 couples de mesures correspondantes) Tableau H.2 - Valeurs mesurées ‘Systeme de Mesure ‘Systdme de Mesure | Coefficient de conversion de Référence ‘du Syste de Masure Vs Ve VIVe kv Ww 1914 1907 7,037 191,6 190,7 41,0047 190,7 190,1 10092 109,9 1.0042 190,9 190.0 1.0047 1904 41,0042 11,3 1005 1.0042 1012 1905 41,0037 1906 41,0087 191.3 190.2 1.0058 Valeur moyenne du coefficient de conversion Fm = 1,0042 (Cette valeur est corrigée par la suite de erreur connue du Systéme de Mesure de Référence ~ voir e). Ecart type 5; = 0,073 % 2,26x0,073, en portant dans léquation (H.10) U,= ce qui donne une incertitude aléatoire pour P = 95 % de U,= £0,052 % 'b) Contributions d'incertitude systématique (équation (H.8)) 1) Résolution de instrument dans le Systéme de Mesure de Référence + la moitié du demier chiffre pour le zéro = 20,05 kV = 40,026 % de 190 kV + la moitié du dernier chiffre pour la lecture = 20,05 kV = 20,026 % de 190 kV done dans l'équation (H.9): 4) = 0,052 % 2) Résolution de instrument dans le Systéme de Mesure + la moitié du dernier chiffre pour le zéro = 40,05 kV = 40,026 % de 190 kV + la moitié du dernier chiffre pour la lecture = 40,05 KV = £0,026 % de 190 KV done dans I'équation (H.9): a = 0,052 %TEC bO-2 94 MM 484489) ObL2424 945 mm 60-2 Amend. 1 © IEC:1996 -17- H.6.2 Example 1 ~ Calibration of 1 MV direct voltage Measuring System by comparison with 200 kV Reference Measuring System ~ Mean value of direct voltage a) Random uncertainty contribution (estimated from 10 pairs of corresponding measurements) Table H.2 - Measured values Reference Measuring Measuring System ‘Seale factor of the ‘System Measuring System vs Ve VIVe wv WW 1914 1907 71,0087 101.6 190,7 1.0047 1907 190,1 1.0082 109, 189,1 41,0042 1909 190.0 41,0087 1912 190.4 41,0042 1918 190.5 1,0042 1012 100.5, 41,0087 1006 189, 1.0037 191.3 41,0058 Mean value of scale factor F, = 1,0042 (this value is subsequently corrected for the known error in the Reference Measuring System ~ see e). ‘Standard deviation 5, = 0,073 % substituting in equation (H.10) U, =: ives a random uncertainty for P = 95 % of U, = £0,052 % ) Systematic uncertainty contributions (equation (H.8)) 1) Resolution of instrument in the Reference Measuring System halt of the last digit for zero 20,05 kV 40,026 % of 190 kV + half of the last digit for reading = 20,05 kV 40,026 % of 190 KV 80 in equation (H.8): a; = 0,052 % 2) Resolution of instrument in the Measuring System + half of the last digit for zero = 20,05 kV = 20,026 % of 190 kV + half of the last digit for reading = 20,05 kV = £0,026 % of 190 kV 80 in equation (H.9): 052 %TEC bO-2 94 MM 4844891 ObL2425 86) mm ~18- 60-2 amend. 1 © CEI:1996 3) Dérive du coefficient de conversion du Systéme de Mesure de Référence Une valeur aj = 0,05 % est considérée, basée sur l'expérience avec des systémes similaires, pour inclure ta dérive dans 'étalonnage du Syst8me de Mesure de Référence depuis la derniére date d'étalonnage (aucune donnée sur la dérive de ce systme n’étai disponible). 4) Incertitude d'étalonnage du Systéme de Mesure de Référence La valeur donnée sur le cettificat d'essai est 20,3 % & un niveau de confiance d'au moins 95 % (c’est-8-dire, ky = 2) et donc I'équation (H.9) donne: (Uy/ky) = 0,15 % ©) Incertitude systématique totale On tire de Féquation (H.9), pour k= 2 (c'est-a-dire, P= 95 %): U, = 20,32 % 4) Incertitude globale & un niveau de confiance d'au moins 95 % On tire de 'équation (H.5): U ={(0,82)2 + (0,052)2] 2 = 40,33 % qui est arrondi & 20,4 % ) Correction pour l'erreur d'étalonnage du Systéme de Mesure de Référence erreur sur le coefficient de conversion du Systéme de Mesure de Référence donné sur le certificat d'étalonnage = -0,1 %. Dés lors la valeur moyenne corrigée du coefficient de conversion du Systéme de Mesure est Fey= 1,0042 x 1,001 = 1,0052 arrondi a 1,005 {) Résultat de 'étalonnage du Systeme de Mesure La valeur du coefficient de conversion assigné & 190 kV est 1,005 avec une incertitude de 0,4 % & un niveau de confiance d'au moins 95 %. NOTE ~ Cot exemple est relatif & un Systime de Mesure & lecture recto avec un cootficiont de conversion nominal de 1. D'autres Systémes de Mesure peuvent avoir de grands coetficients de conversion. 1.6.3 Exemple 2~ Etalonnage d'un Systéme de Mesure de choc de foudre de 2 MV, par comparaison avec un Systéme de mesure de Référence comprenant un diviseur résistit de 600 kV et un numériseur de 8 bits H.6.3.1 Valeur créte d'un choc de foudre normalisé 4) Contribution diincertitude aléatoire (& partir de couples de mesures correspondantes) avec des impulsions 1,2/50TEC bO-2 94 WM 484489) ObI242b 718 Me 60-2 Amend. 1 © IEC:1996 ~19- 3) Drift of scale factor of the Reference Measuring System A value 3 = 0,05 % is assumed, based on experience with similar systems, to cover drift in the calibration of the Reference Measuring System since the last calibration date (no data on the drift of this system was available). . 4) Calibration uncertainty of the Reference Measuring System The value given on the calibration certificate is 0,3 % for a confidence level not less than 95 % (i.e. ky = 2) and so equation (H.9) gives: (U4/k,) = 0,15 % ¢) Total systematic uncertainty From equation H.9, for k=2 (Le. P= 95%): U, = 20,82 % 4) Overall uncertainty for a confidence level not less than 95 % From equation (H. U = [(0,92)? + (0,052)?] * = 20,33 % which is rounded up to 20,4 % e) Correction for the calibration error of the Reference Measuring System The error in scale factor of Reference Measuring System given in calibration certificate =-0,1 %. Hence corrected mean value of scale factor of Measuring System is: Fy 1,0042 x 1,001 = 1,0052 rounded to 1,005 f) Result of calibration of the Measuring System The value of assigned scale factor at 190 kV is 1,005 with an uncertainty of +0,4 % for a confidence level of not less than 95 %. NOTE - This example is for @ direct reading Measuring System with @ nominal scale factor of 1. Oth Measuring Systeme may have large scale factors. 1.6.3 Example 2 - Calibration of a 2 MV lightning impulse Measuring System, by comparison with a Reference Measuring System incorporating a 600 KV resistor divider and an 8-bit digitiser 1.6.3.1 Peak value of a standard lightning impulse a) Random uncertainty contribution (from pairs of corresponding measurements) with 1,2/50 impulsesTEC 60-2 94 MM 484489) Ob12427 654 mm -20- 60-2 amend. 1 © Ct :1996 Tableau H.3 ~ Valeurs mesurées ‘Systome de Mesure ‘Systéme de Mesure] Coefficient de conversion ‘de Retérence du Systime de Mesure Ys Ve ViIVe wv wv 516 609 7.0138 520 513 10196 . 520 514 10117 516 509 1.0138 515, 509 10118 518 512 10117 515 508 1.0138 516 sit 10098 512 807 1.0099 518. si 10137 Valeur moyenne du coefficient de conversion: F,, = 1,0123 (cette valeur est corrigée par la suite de l'erreur connue du Syst8me de Mesure de Référence). Ecart type s, = 0,16 % 26x0,16 vio 112 % en portant dans I'équation (H.10) U;= Ce qui donne une incertitude aléatoire pour P= 95 % de U, b) Contributions d'incertitude systématique (équation (H.9)) 1) Résolution de instrument dans le Systéme de Mesure de Référence la moitié du demier chiftre pourle z6ro_ = #1/(2 x 255) fois la valeur de la pleine échelle (pour un enregistreur numérique de 8 bits) = +0,245 % (pour 80 % de la valeur de la pleine échelle) + la moitié du demier chitire pour la lecture = 1/(2 x 255) fois la valeur de la pleine échelle (pour un enregistreur numérique de 8 bits) = +0,245 % (pour 80 % de la valeur de la pleine échelle) a, = 049% done dans l'équation (H. 2) Résolution de 'instrument dans le Systéme de Mesure + la moitié du dernier chiffre pourle zéro = 1/(2 x 255) fois la valeur de la pleine échelle (pour un enregistreur numérique de 8 bits) = 20,245 % (pour 80 % de la valeur de la pleine échelle) + la moitié du dernier chiffre pour la lecture = 1/(2 x 255) fois la valeur de la pleine échelle (Pour un enregistreur numérique de 8 bits) = £0,245 % (pour 80 % de la valeur de la pleine échelle) s done dans équation (H.9): a = 049% 0 3) Dérive du coefficient de conversion de l'nstrument dans le Systéme de Mesure de Référence Pas de contribution puisque la verification de routine faite avec un générateur de choc étalon montrait que le coefficient de conversion n’avait pas changé.TEC bO-2 94 MMH 4844891 Ob32428 S50 mm 60-2 Amend. 1 @ IEC:1996 -21- ‘Table H.3 — Measured values Reference Measuring Measuring System Seale factor of the ‘Systom Measuring System Ys Ve WIVe wv wv 516 500 1.0188 520 513 1.0136 520 514 10117 516 509 1.0138 516 509 10116 518 512 10117 515 508 1.0138 516 st 1.0098 512 507 41,0098 518 su 1.0137 Mean value of scale factor: Fy = 1,0123 (this value is subsequently corrected for the known error in the Reference Measuring System). substituting in equation (H.10) U,= 222x048 0 gives a random uncertainty for P= 95 % of U, = + 0,12 % b) Systematic uncertainty contributions (equation (H.9)) 1) Resolution of instrument in the Reference Measuring System half of the ast digit for zero = + 1/(2 x 255) full-scale value (for an 8-bit digital recorder) ,245 % (Tor 80 % of the full-scale value) AU(2 x 258) full-scale value (for an 8-bit digital recorder) 120,245 % (for 80 % of the full-scale value) + half of the last digit for reading 0 in equation (H.9): a= 049% 2) Resolution of instrument in the Measuring System hhalf of the last digit for zero. = _#1/(2 x 258) full-scale value (for an 8-bit digital recorder) = 20,245 % (for 80 % of the full-scale value) +#£1/2 x 255) full-scale value (for an 8-bit digital recorder) = £0,245 % (for 80 % of the full-scale value) so in equation (H.9): ay = 049% half of the last digit for reading 3) Drift of the scale factor of the instrument in the Reference Measuring System ‘No contribution as a routine check with an impulse calibrator showed the scale factor had not changed.TEC bO-2 94 MM 484489) Obb2429 427 60-2 amend. 1 © CEI:1996 4) Dérive du coefficient de conversion du diviseur de tension dans le Syst me de Mesure de Référence Estimée égale & a = 0,2% 5) Incertitude a'étalonnage de I'instrument dans le Syst8me de Mesure de Référence Extrait du certificat d'étalonnage: U, = 0,4 % & un niveau de confiance de 95 % (k, = 2) donnant Uylky = 0.2% 6) Incertitude d'étalonnage du diviseur de tension dans le Syst8me de Mesure de Référence Extrait du certificat d'étalonnage: U, = 0,4 % & un degré de confiance de 95 % (ky = 2) donnant Uplky = 0,2 % ©) Incertitude systématique totale Tiré de léquation (H.8), pour k= 2 (c'est-a-dire, P= 95%): U, = 20,95 % 4) Incertitude totale pour un degr Tiré de léquation (H.5): fe confiance d'au moins 95 % (0,952 + 0,122 )% % 40,96 %, arrondi & +1 % ©) Correction pour erreur d'étalonnage du Systame de Mesure de Référence Lerreur dans le coetticient de conversion du Systeme de Mesure de Référence, donnée dans le certificat d'étalonnage, est ~0,15 %. Das lors, la valeur moyenne corrigée du coefficient de conversion du Syst8me de Mesure est 1,0123 x 1,001 = 1,0138 arrondi a 1,014. 4) Résultat de I'étalonnage pour la valeur créte La valeur du coefficient de conversion assignée pour des impulsions 1,2/50 us & 500 KV est 1,014 avec une incertitude de +1 % & un niveau de confiance d’au moins 95 %. NOTE ~ Cot exemple ost rlatif& un Systéme de Mesure & lecture dlrecte avee un coefficient de conversion ‘Rominal de 1. D'autres Systémes de Mesure peuvent avoir do grands cootficients de conversion. H.6.8.2. Durée de front du choc de foudre (T;) a) Contribution de t'incertitude aléatoire (estimée A partir de 10 couples de mesures correspondantes)TEC bO-2 94 MH 484489) Ob12430 149 mm 60-2 Amend. 1 © IEC:1966 ~23- 4) Drift of the scale factor of the voltage divider in the Reference Measuring System Estimated as: ay = 0,2 % 5) Calibration uncertainty for the instrument in the Reference Measuring System From the calibration certificate: U, = 0,4 % at a confidence level of 95 % (ky = 2) giving Uylky = 0,2 % 6) Calibration uncertainty for the voltage divider in the Reference Measuring System From the calibration certificate: Up= 0,4 % at a confidence level of 95 % (kp = 2) giving Uslkg= 0,2 % ©) Total systematic uncertainty From equation (H.9), for k= 2 (i.e. P= 95%): Uy 0,95 % d) Overall uncertainty for a confidence level not less than 95 % From equation (H.5): U = (0,952 + 0,122) % = £0,96 %, rounded up to +1 % e) Correction for the calibration error of the Reference Measuring System Error in scale factor of the Reference Measuring System, given on calibration certificate is -0,15 %. Hence the corrected mean value of scale factor of the Measuring System is 1,0123 x 1,0015 = 1,0138 rounded to 1,014. ) Result of the calibration for the peak value The value of Assigned Scale Factor for 1,2/50 us impulses at 500 kV is 1,014 for an uncertainty of 1 % with a confidence level of not less than 95 %. NOTE - This example is for @ direct reading Measuring System with a nominal scale factor of 1. Other ‘Measuring Systems may have large scale factors. 1.6.3.2 Front time of lightning impulse (T,) a) Random uncertainty contribution (estimated from 10 pairs of corresponding measurements)TEC bO-2 94 MM 484489) 0612431 085 mm ~24- 60-2 amend. 1 © CEI:1996 ‘Tableau H.4 ~ Valeurs mesurées Systdme de Mesure ‘Systeme de Mesure Dittérence relative do Rétéronce Ta Te Tre ~ Tra V Typ % 100 us bs % 1,198) 1,258 +50 1178 1,244 +56 wit 1,298 +106 1,200 1,281 $54 14170 1,201 +103 1.104 41,255 +60 1201 1,259 +48 174 1,328 +131 samt 1,334 +139 4,190 1,268 +68 La valeur moyenne de la différence relative est +8,1 % Lécart type est: 5, = 3,5% en substituant dans 'équation (H.10) U,= ce qui donne une incertitude aléatoire pour P = 95 % de U, = #2,5 % b) Contributions d'incertitude systématique Toute erreur de résolution est petite comparée & la contribution de lincertitude aléatoire et la seule contribution systématique est I'incertitude d'étalonnage pour le Systéme de Mesure de Référence qui est de +0,7 % pour P= 95 % ou mieux (c'est-a-dire, k= 2) ‘et done dans I'équation (H.9) Das lors r'incertitude systématique totale pour k = 2 est U, = 40,7 % & un niveau de confiance d'au moins 95 %. ©) Incertitude globale pour un degré de confiance d'au moins 95 % On tire de 'équation (H.5): U = (0,72 + 2,52 V2 % = 22,6 % arrondi a +3 % 4) Correction pour erreur c'étalonnage du Systéme de Mesure de Référence Lerreur sur échelle des temps donnée sur le certificat d'étalonnage est -0,66 %. Das lors la différence relative moyenne corrigée —=(+8,1 +0,66) % = +8,76 % arrondi a +9 %TEC bO-2 94 MH 484489) Ob}2432 TLL a 60-2 Amend. 1 © IEC:1996 -25- ‘Table H.4 - Measured valuc Reference Measuring ‘Measuring System Relative citference ‘System Ta Ts Tin M Typ % 100 us * 1,258 +50 1244 +86 1,295 +06 1,261 +54 4,201 +108 1,255 +60 4,259 +48 1,828 +1341 1,304 +139 1,268 +66 Mean value of the relative difference is +8,1 % Standard deviation is: 5, = 3,5 % 2,26x3,5 substituting in equation (H.10) U, gives a random uncertainty for P= 95 % of U, = + 2,5 % b) Systematic uncertainty contributions, Any error of resolution is small compared with the random uncertainty contribution and the ‘only systematic contribution is the calibration uncertainty for the Reference Measuring System which is #0,7 % for P not less than 95 % (i.e. k= 2) and so in equation (H.9) Hence the total systematic uncertainty for k = 2 is U, = +0,7 % with a confidence level of 95%. ©) Overall uncertainty for a confidence level not less than 95 % From equation (H.5) U = (0,72 + 2,52) % = #2,6 % rounded up to #3 % 4) Correction for calibration error of Reference Measuring System ‘The error in the time scale given on the calibration certificate is -0,66 % Hence corrected mean relative difference = (+8,1 + 0,66) % = +8,76 % rounded to +9 %TEC bO-2 94 MM 4844892 0632433 958 mm -26 60-2 amend. 1 © CEI:1996 €) Résultat de Iétalonnage de la durée de front Pour T, = 1,2 us, l'erreur sur la valeur donnée par le Syst8me de Mesure est (+9 = 3) % & un niveau de confiance d'au moins 95 %. H.6.3.3 Temps 4 mi-valeur Il convient d'utiliser la méthode illustrée en H.6.3.2. H.7 Documents de réferences [1] ISO/TAG 4WG8: «Guide to the expression of uncertainty in measurements, jan 1993 [2] Dietrich C.F. «Uncertainty, calibration and probability», 2° éd., Adam Hilger, London, U.K. 1991TEC bO-2 94 MM 4844892 0612434 894 mm 60-2 Amend. 1 © IEC:1996 -27- ) Result of calibration for the front time For T; = 1,2 us, the error in the value given by the Measuring System is (+9 = 3) % for a confidence level not less than 95 %. H.6.3.3 Time to halt-value ‘The procedure illustrated in H.6.3.2 should be used. H.7_ Reference documents [1] ISO/TAG awes: Jan 1993, "Guide to the expression of uncertainty in measurement”. [2] Dietrich, C.F." Uncertainty, calibration and probability’, 2nd ed., Adam Hilger, London, UK., 1991TEC bO-2 94 MM 4844891 Ob12435 720 Mm Publications de la CEI préparées par le Comité d’Etudes n° 42 521960) Recanmundatons poor it merure des tensions a moyen delaeur A aphtres (ane spe Ala tere) (60, ~ Techniques des etsis ante ensca. (6011985) Prmibe pai: Definitions et prescriptions géoémes relatives aux ees 60201994) Putio2: Syttnes de Mesure, ‘Amendement 1 (1996). ‘770(1981) Meroe des déchargespaieles. OCH ope teed ce pwc de 8331987) Meme det champs Glecuiques 4 fifquence indole. 1083: ~ Enreiatear nemésgues poor les merures pendant les esis ‘4: choc hate unton. 1089.1 0991) Panie 1: Prevritons poor des eoegiters mond rigs. 1180: Technique dt euess& haute tension pour matésiels baste 1180-11982) Pane 1: Défaitions, prescriptions et moda ela- 1190-21994) Pane 2: Matéel desi. 1521 Teehaigues det cass A haute tension avec des chs 2 feat ‘ube pide, 1521-1 1994) Panic I: Symes de mesure poor let surensons font tis rapide prodaites dans lx posies 1008 cxveloppe méalliqoe A itolaton gazes. Publication 0-2 IEC publications prepared by Technical Committee No. 42 521960) Recommandatoos for volage measurement by meant of sphere gaps (ne apes eathed)- (60: ~ High-vlge test echaiqoes 6.101985) Part: Gener defsitons and et requires, 60.2(1954) Pa 2: Measring Systems. ‘Amendineat 1 (1996) 2700981) Paral discharge mearurements. 790(1984) _Oxcilosopes and peak voimetr for implies. 8331987) easement of pomerfroqosncy electric fields 1083: ~ Digital recoden for mesurements in high vlage impulse 10010901) Pe Ragin ri morn 1180; ~High-vage es techiques for low-wage eqtipoent 1180-1 1992) Part: Defnons, et and procedure requirements, 119021994) Part2: Tet equipment 1321:- High-voliage teting techniques with very fst igalaen 1321-1 (1984) Part 1: Mensning systems for very fast front ‘overvliages genenedin gat nslaed sobettics.TEC bO-2 94 MM 484489) 0632436 bb7 ICS 17.220.20; 29.020 ‘Typeset and printed by the IEC Central Office ‘GENEVA, SWITZERLANDTEC 60 PT*2 94 MM 4B44R5L 0573226 393 Mm NORME CEI INTERNATIONALE iEC INTERNATIONAL 60-2 STANDARD eter on Techniques des essais a haute tension Partie 2: Systémes de Mesure High-voltage test techniques Part 2: Measuring Systems Numéro de référence Reference number CEWEC 60-2: 1994TEC GO PTx2 94 MM 4844892 0573227 22T Validité de 1a présente publication Le contenu technique des publications de la CEI est cons- tamment reva par la CET afin qu'il refldte l'état actuel de Ja technique. Des renseignements relatifs 3 la date de reconfirmation de Ia publication sont disponibles auprés du Bureau Central dela CEI. Les renseignements relatifs & ces révisions, 2 I'établis- sement des ditions révisées et aux amendements peuvent aire obtenus auprts des Comités nationaux de la CEI et dans les documents ci-dessous: © ‘Bolletin deta CEL © Annuaire dela CEI Publié annuellement © Catalogue des publications de la CET Publié annuellement et mis jour régulitrement Terminologie En ce qui conceme Ia terminologie générale, le lecteur se reportera A la CEI 50: Vocabulaire Electrotecknique Inter- rational (VEN), qui se présente sous forme de chapitres séparés traitant chacun d'un sujet défini. Des détails complets sur le VEI peuvent étre obtenus sur demande. Voir également le dictionnaire multilingve de Ia CEL Les termes et définitions figurant dans la présente publi- cation ont été soit tirés du VEL, soit spécifiquement approuvés aux fins de cette publication. Symboles graphiques et littéraux Pour les symboles graphiques, les symboles lttéraux et les signes d'usage général approuvés par la CEI, le lecteur consalters: = la CEI 27: ecirotechnique: Symboles linéraux a ailiser en = la CEI 417: Symboles graphiques utlisables sur le ‘matériel. Index, relevé et compilation des feuilles individuelles; = 1a CEI 617: Symboles graphiques pour schémas: et pour les app: ils Electromédicaux, = 1a CEI 878: Symboles graphiques pour équipements Alectriques en pratique médicale. Les symboles et signes contenus dans Ia présente publi- cation ont é16 soit tirés de la CEI 27, de la CEI 417, de Ia CET 617 et/ou de la CEI 878. soit spécifiquement approuvés aux fins de cette publication. Publications de la CEI établies par le méme comité d’études L'attention do lecteur est attrée sur les lists figurant B la fin de cette publication, qui énumérent les publications de la CEI préparées par le comité d'études qui a établi Ia présente publication ‘Validity of this publication ‘The technical content of IEC publications is kept under constant review by the TEC, thus ensuring that the content reflects current technology. Information relating to the date of the reconfirmation of the publication is available from the IEC Central Office. Information on the revision work, the issue of revised editions and amendments may be obtained from IEC National Committees and from the following IEC sources: © IEC Bulletin © IEC Yearbook Poblished yearly © Catalogue of LEC publications Published yearly with regular updates ‘Terminology For general terminology, readers are referred to TEC 50: International Electrotechnical Vocabulary (IEV), which is issued in the form of separate chapters each dealing with a specific field. Full details of the IEV will be supplied on request. See also the IEC Multilingual Dictionary. ‘The terms and definitions contained in the present publi- cettion have either been taken from the IEV or have been specifically approved for the purpose of this publication. Graphical and letter symbols For graphical symbols, and letter symbols and signs approved by the IEC for general use, readers are referred to publications: = TEC 27: Letter symbols to be used in electrical technology: = IEC 417: Graphical symbols for use on equip- iment, Index, survey and compilation of the single sheet = IEC 617: Graphical symbols for diagrams; and for medical electrical equipment, = IEC 878: Graphical symbols for electromedical equipment in medical practice. ‘The symbols and signs contained in the present publi- ettion have either been taken from IEC 27, IEC 417, TEC 617 andor IEC 878, or have been specifically appro vved for the purpose of this publication, IEC publications prepared by the same technical committee ‘The attention of readers is drawn to the end pages of this Publication which list the IEC publications issued by the technical committee which has prepared the present publication"TEC BO PT#2 44 MM NS44SS) 05739228 Lob NORME CEI INTERNATIONALE IEC INTERNATIONAL 60-2 STANDARD Cates 1994-11 Techniques des essais a haute tension Partie 2: Systémes de Mesure High-voltage test techniques Part 2: Measuring Systems ©CEI 1994 Droits do reprochucion réservés — Copyright ~ al ighs reserved Aaa ea nn rp etn opal nin npn ed 2 ‘a mene Commision Electotechniqe Inwrnatonale CODE PRIX InereatonalElecvotechnieal Commission PRICE cove XB. Menanapaacan Seenporenwetcan Henne ee em rratme et mene apt ts ot oanAVANT-PROPOS TEC 60 PTx2 94 MMH 484489) 0573229 OT2 mw SOMMAIRE Arlee Domaine d'application. Références normatives ... Définitions et symboles. 3.1 Systémes de Mesure 3.2. Dispositifs de conversion 3.3 Systeme de transmission 3.4 Appareil indicateur ou enregistreur 3.5 Coefficients de conversion 3.6 _Défintions relatives au comportement dynamique d'un Systéme de Mesure .. 3.7 Paramétres de réponse... 3.8 Incertitude globale e 3.9 Caractéristiques assignées 3.10. Définitions relatives aux essais Procédures de qualification et d'utilisation des Systémes de Mesure 44 Principes QENEraUX .nnnnnnninonenn 42 Intervalle entre les Essais de Détermination des Caractéristique 43 Intervalle entre les Essais de Controle de Caractéristiques 4.4 — Prescriptions pour le Recueil de Caractéristiques 45 Conditions d'utilisation . Essais de réception pour un Systéme de Mesure Approuvé 5.1 Applicabilité 52 _ Détermination du coetticient de conversion 53 Essais de linéarité 5.4 Essai de stabilité & court terme 55 Stabilité a long terme de chaque élément 56 Effet de la température 57 Effet de proximité ... 5.8 Comportement dynamique d'un constituant 59 Essais de tone nnn a Essais de Détermination des Caractéristiques des Systémes de Mesure 6.1 Prescriptions générales 6.2. Détermination du Coeticient de Conversion Affeté dun Systéme de Mesure... 63 Essai de comportement dynamique (pour les Systémes de Mesure de chocs).. 64 Essai de perturbations (pour les Systémes de Mesure de chocs). .. 60-2 © CEI:1994 Pages:TEC BO PT¥2 54 MM 4844893 0573230 834 mm 60-2 © IEC:1994 ~3- CONTENTS Page FOREWORD : a nee Clause 1 Scope ... 2 Normative references 3. Definitions and symbols 3.1 Measuring Systems 3.2 Converting devices 3.3. Transmission system. 3.4 Indicating or recording instrument .. 3.5 Scale factors... 3.6 Definition related to the dynamic behaviour of a Measuring System 3.7 Response parameters .. 3.8 Overall uncertainty e.... 3.9 Rated value: 3.10. Definitions related to tests 7 19 4 Procedures for qualification and use of measuring systems .......... 44 General principles 42 Schedule of Performance Tests 43 Schedule of Performance Checks .. 4.4 — Requirements for the Record of Performance. 4.5 Operating conditions 2BBe 5 Acceptance tests on components for an Approved Measuring System. 5.1 Applicability... 5.2 Determination of the scale factor 5.3 Linearity test .. 5.4 Short-term stability test 5.5 Long-term stability of single elements 5.6 Temperature effect ....... 5.7 Proximity effect 5.8 Dynamic behaviour of a component 59 Withstand tests 33 RRRBB8 6 Performance Tests on Measuring Systems. 39 61 General requirements 39 62 Determination of the Assigned Scale Factor. at 63 Dynamic behaviour test (for Impulse Measuring Systems) .. 43 64 _ Interference test (for Impulse Measuring Systems) &TEC GO PTx2 94 MM 484489) 0573231 750 mw - 60-2 © CEI:1994 ‘Articles Pages: 7 Mesures des tensions continues 10 1" 12 7.4 Prescriptions pour un Systéme de Mesure Approuvé .. 7.2 _Essais de réception sur les constituants pour un Syst8me de Mesure Approwvé.... 44 7.3 Essai de Détermination des Caractéristiques pour un Systéme de mesure 74 Contible des caractéristiques .... 75 Dispositif de Mesure Approuvé par la CEI 7.6 Mesure de I'amplitude de l'ondulation.. Mesure d'une tension alternative 8.1 Prescriptions pour un Systeme de Mesure Approuvé .. 8.2. Essais de réception sur les constituants pour un Systéme de Mesure Approuvé.... 52 83 Essai de Détermination des Caractéristiques .... 84 ContrOle des caractéristiques 85 Dispositif de Mesure Approuvé par la CEI. Mesures des tensions de chocs de foudre 9.1. Prescriptions pour un Systéme de Mesure Approuvé . 9.2. Essals de réception sur les constituants pour un Systéme de Mesure Approuvé 9.3 Essais de Détermination des Caractéristiques sur des Systémes de Mesure 9.4 Controle des caractéristiques .. 9.5. Dispositif de Mesure Approuvé par la CEI Mesures de tension de chocs de manoeuvre... 10.1. Prescriptions pour un Systéme de Mesure Approuvé .. 10.2. Essais de récepton su les consivants pour un Systéme de Mesure Approuvé 10.3. Essais de Détermination des Caractéristiques du Systéme de Mesure .. 10.4 Controle des caractéristiques. 10.5 Dispositif de Mesure Approuvé par la CEI Mesures de courants de choc... 11.1. Prescriptions pour un Systéme de Mesure Approuvé .... 112. Essais de récepton su les consivants pour un Systéme de Mesure Approuvé 11.3. Essais de Détermination des Caractéristiques .. 11.4 Controle des caractéristiques..... Les Systémes de Mesure de Référence 12.1. Prescriptions pour les Systémes de Mesure de Référence 90 122. Etalonnage d'un Systéme de Mesure de Référence 90 123 Intervalle entre es Etalonnages successits des Systémes de Mesure de Référence .. = soon 92TEC 60 PTx2 94 MM 484489) 0573232 697 mm 60-2 © IEC:1904 -5- (Claus 7 Measurement of direct voltage 7.1 Requirements for an Approved Measuring System ; 7.2 Acceptance tests on components for an Approved Measuring System 7.3 Performance Test on Measuring Systems... 7.4 Performance Check 75 IEC Standard Measuring Device 7.6 Measurement of ripple amplitude Measurement of alternating voltage 8.1 Requirements for an Approved Measuring System 82 Acceptance tests on components for an Approved Measuring System 83 Performance Test on Measuring Systems 84 Performance Check 85 IEC Standard Measuring Device Measurement of lightning impulse voltage .. 8.4. Requirements for an Approved Measuring System 9.2 Acceptance tests on components for an Approved Measuring System 61 9.3. Performance Test on Measuring Systems . 65 9.4 Performance Check 63 95 IEC Standard Measuring Device _7 40 Measurement of switching impulse voltage 73 10.1 Requirements for an Approved Measuring System 73 10.2 Acceptance tests on components for an Approved Measuring System 73 10.3 Performance Test on Measuring Systems .... : 7 10.4 Performance Check . . Bt 105 IEC Standard Measuring Device .. 81 11. Measurement of impulse current 83 14.1 Requirements for an Approved Measuring System 83 11.2 Acceptance tests on components for an Approved Measuring System 83 11.3. Performance Test on Measuring Systems 85 11.4 Performance Check 7 12 Reference Measuring Systems 3 12.1. Requirements for Reference Measuring Systems a1 12.2 Calibration of a Reference Measuring System... oe 1 12.3 Interval between successive Certifications of Reference Measuring Systems. 93G.1 Mesure du coefficient de conversion d'un diviseur G.2_Sondes et aiténuateurs externes .. TEC bO PT*2 94 MM 4844893 0573233 523 mm 60-2 © CEI:1994 ‘ios Pages Figures ..... 95 Annexes A Systémes d’Accréditation 98 AA Syst8mes nationaux d'accréditation 98 A2 Bibliographie 100 B Structure d'un Recueil de Caractéristiques .. B.1 Structure générale. B.2 Description générale du systéme (Chapitre A) B.3. Résultats des essais de réception sur les constituants (Chapitre B) .. B.4 Résultats des essais de routine sur le Systéme de Mesure Complet (Chapitre C) B.5 Résultats des essals de Détermination des Caractéristiques (Chapitre D) ... B.6 Controle des Caractéristiques (Chapitre E) . 102 106 106 106 106 8.7 Configuration & minima du Recuell de Caractéristiques ~ 108 © Les mesures de la réponse indicielle .. 110 €.1 Circuits pour les mesures de la réponse indicietle 110 D__Accroissement de température des résistances de mesure 114 E Les Systémes de Mesure de Référence et les Mesures Comparatives pour Tensions de Choc ~ Bibliographic .. 116 116 116 116 E.1 Les mesures comparatives noes E.2_Exemples de diviseurs pour les Systémes de Mesure de Référence E.3_ Dispositifs de Mesure Normalisés CEI 118 120 122 124 F Tableaux résumés des essais F.1_ Essais sur un Systéme de Mesure & tension continu F.2_ Essais sur un Systéme de Mesure & tension alternative . F.3_ Essais sur un Systéme de Mesure de chocs de foudre F.4_ Essals sur un Systéme de Mesure de chocs de manoeuvre .... F.5_ Essais sur un Systéme de Mesure de chocs de courant 128 G _ Domaines nécessitant une attention particuligre 130 G.3 Coefficient de conversion de sonde 132 132 G4. Niveaux d'utilisation appropriés ... G.5_Précision des mesures de temps ..TEC BO PT*2 94 MM 484489) 0573234 YET Mm 60-2 © IE ciauso Page Figures. . 94 Annexes A Accreditation Systems... 99 A1 National accreditation systems 99 A2 Bibliography . so 01 B Structure of a Record of Performance 103 B.1 General structure. . 103 B.2. General description of the system (Chapter A) 103 B.3 Acceptance test results on components (Chapter B) sone 107 B.4 Routine test results on the complete Measuring System (Chapter C) 107, B5 Performance Test results (Chapter D) . 107 B.6 Performance Check (Chapter E) 107 B.7_ Minimal form of the Record of Performance ... C Step response measurements .... 1 C.1 Circuits for step response measurements .. mW D Temperature rise of measuring resistors 15 E Reference Measuring Systems and Comparison Measurements for Impulse Measurements - Bibliography .. ; 17 E.1_ Comparison measurements .. _ 47 E.2. Some examples of dividers for Reference Measuring Systems . _ 17 E.3. IEC Standard Measuring Devices 17 F Summary of tests... _ 119 F.1 Tests on a direct voltage Measuring System..... 121 123 125 127 . 129 F.2_ Tests on an alternating voltage Measuring System F.3. Tests on a lightning impulse Measuring System F.4 Tests on a switching impulse Measuring System F.5 Tests on an impulse current Measuring System G Areas where special care is needed 131 131 131 G.1 Measurement of the scale factor of a divider G.2. Probes and external attenuators G.3 Probe scale factor .. G.4_ Use of appropriate levels G.5. Accuracy of time measurements 133TEC BO PT*2 94 MM 484489) 0573235 3Tb a 60-2 © CEI:1994 COMMISSION ELECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE TECHNIQUES DES ESSAIS A HAUTE TENSION ~ Partie 2: Systémes de Mesure AVANT-PROPOS, La CEI (Commission Electrotechnique Internationale) est une organisation mondiale de normalisation composée de ensemble des comités électrotechniques nationaux (Comités nationaux de la CEI). La CE! a pour objet de favoriser la coopération internationale pour toutes les quostions de normalisation dans los domaines de Féloctricité ot de Iélectronique. A cet effet, la CEI, entre autres activités, public des Normes: internationales, Laur élaboration ast contiée & des comités d'études, aux travaux desquels tout Comité national intéross6 parle sujet traité pout partcipar. Les organisations internationales, gouvernomontales ot ‘non gouvernomontales, on liaison avec la CEI, participant également aux travaux. La CEI collabore Gtroitement avec Organisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixées par ‘accord entre les deux organisations. CEI on ce qui concerne les questions techniques, préparés par los 2 tous las Comités nationaux s'intérestant A ces questions, expriment fe un accord international sur los sujets examinés. 3) Ces décisions constituent des recommandations intormationales publiées sous forme de normes, de rapports techniques ou de guides et agréées comme telles par les Comités nationaux. es Comités nationaux de le CEI s'engagent 5) La CEI n'a fixé aucune procédure concemant le marquage comme indication approbation et sa responsabilité n'est pas engagée quand un matériel est déclar6 conforme & Tune de ses normos. La Norme internationale CEI 60-2 a 616 établie par le comité d'études 42 de la CEI: Technique des essais & haute tension. Cette deuxiéme édition annule et remplace la CEI 60-3, Dispositits de mesure, parue en 1976 et la CE! 60-4, Guide d'application des dispositits de mesure, parue en 1977. Cette deuxieme édition constitue une révision technique. Le texte de cette norme est issu des documents suivants: Dis Rapport de vote 4180)56 42(80)57 Le rapport de vote indiqué dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant abouti & ‘approbation de cette norme. La CEI 60 comprend les parties suivantes, présentées sous le titre général: Techniques des essais a haute tension ~ Premiere partie: 1989, Définitions et prescriptions générales relatives aux essais, ~ Deuxidme partie: 1994, Systémes de mesure Lrannexe A fait partie intégrante de cette norme et fournit des prescriptions normatives pour les pays ayant choisi d'utiliser des systémes d'acoréditation. Les annexes 6 a G sont données uniquement a titre d'information.TEC BO PTx2 94 MM 484489) 0573236 232 Me 60-2 © IEC:1994 -9- INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION HIGH-VOLTAGE TEST TECHNIQUES - Part 2: Measuring Systems FOREWORD 1) Tho IEC (Intemational Electrotechnical Commission) is a worldwide organization for standardization ‘comprising all national electrotachnical committees (IEC National Committees). The object of the IEC is to ‘promote international cooperation on all questions concerning standardization in the electrical and ‘loctronic folds, To this end and in addition to other activities, the IEC publishes International Standards. ‘Their proparation is entrusted to technical committees: any IEC National Committee interested in the subject dealt with may participate in this preparatory work. International, governmental and ‘non-governmental organizations liaising with the IEC also participate in this preparation. ‘The IEC collaborates ciosely with the Intemational Organization for Standardization (ISO) in accordance with Conditions determined by agraement betwoen the two organizations, ‘ents of the IEC on technical matters, prepared by technical committees on nearly as possible, an international consensus of opinion on the subjects dealt with, 3) They have tho form of racommandations for international use published in the form of standards, technical reports or guides and they are accepted by the National Committees in that sense, 4) In order to promote Intemational unification, 1EC National Committees undertake to apply IEC International Standards transparently to the maximum extent possiblo in thoir national and regional standards. Any ‘divergence between the IEC Standard and the corresponding national er regional standard shall be clearly Indicated Inthe later. 5) The IEC provid ‘equipment dect 10 marking procedure to indicate its approval and cannot be rendered responsible for any 1d t0 be in conformity with one ofits standards. International Standard IEC 60-2 has been prepared by IEC technical committee 42: High- voltage testing techniques. This second edition cancels and replaces IEC 60-3, Measuring devices, published in 1976, and EC 60-4, Application guide for measuring devices, published in 1977. This second edition constitutes a technical revision. ‘The text of this standard is based on the following documents: ois port on voting 42(C0)84 42(00)57 Full information on the voting for the approval of this standard can be found in the report on voting indicated in the above table. IEC 60 consists of the following parts, under the general title: High-voltage test techniques: = Part 1: 1989, General definitions and test requirements ~ Part 2: 1994: Measuring Systems ‘Annex A forms an integral part of this standard and provides normative requirements for countries choosing to use accreditation systems. Annexes B to G are for information only.TEC BO PT*2 94 MM 4844891 0573237 179 a =10- 60-2 ©CEI:1994 TECHNIQUES DES ESSAIS A HAUTE TENSION — Partie 2: Systemes de Mesure 1 Domaine d’application Cette partie de la CEI 60 est applicable aux Systmes de Mesure complets et leurs constituants lorsquils sont utilisés pour les mesures des hautes tensions et courants réalisées lors des essais en tension continue, tension alternative, tensions de chocs de foudre et de manoeuvre, lors des essais en fort courant impulsionnel, ou encore lors d'essais mettant en oeuvre plusieurs de ces contraintes et tels qu’ils sont définis dans la CEI 60-1 Les niveaux des incertitudes de mesure dont il est fait état dans cette Norme Intemationale, s'appliquent aux niveaux d'essais définis dans la CEI 71-1. Les principes développés dans cette Norme Internationale s'appliquent aussi & des niveaux de tension d'essais plus élevés, mais lincertitude peut en étre alors plus élevée. Cette norme: = définit les termes utilisés, ~ détermine tes prescriptions auxquelles doivent satistaire les Systémes de Mesure, = décrit les méthodes & utiliser pour qualifier un Syst&me de Mesure et pour en contr6ler les différents constituants, = décrit entin les procédures grace auxquelles l'utilisateur montrera qu'un Systéme de Mesure respecte les prescriptions de cette norme.TEC bO PT*2 94 Mm 4844893 0573238 005 mm 60-2 © IEC:1994 - ite HIGH-VOLTAGE TEST TECHNIQUES - Part 2: Measuring Systems 1 Scope This part of IEC 60 is applicable to complete Measuring Systems, and to their components, used for the measurement of high-voltages and currents during tests with direct voltage, alternating voltage, lightning and switching impulse voltages and for tests with impulse currents, or with combinations of them as specified in IEC 60-1 ‘The limits on measurement uncertainties stated in this International Standard apply to test levels stated in IEC 71-1. The principles of this International Standard apply also to higher levels but the uncertainty may be greater. This standard - defines the terms used, ~ states the requirements which the Measuring Systems shall meet, ~ describes the methods for approving a Measuring System and checking its components, = describes the procedure by which the user will show that a Measuring System meets the requirements of this standard.TEC BO PTx2 94 MM 4844893 0573239 THL A ~12- 60-2 © CEI:1994 2 Références normatives Les documents normatifs suivants contiennent des dispositions qui, par suite de la rélérence qui y est faite constituent des dispositions valables pour la présente partie de la CEI 60. Au moment de la publication, les éditions indiquées étaient en vigueur. Tout document normatif est sujet a révision et les parties prenantes aux accords fondés sur la présente partie de la CEI 60 sont invitées & rechercher la possibilité d'appliquer les éditions les plus récentes des documents normatifs indiqués ci-aprés. Les membres de la CE! et de '1SO possadent le registre des Normes internationales en vigueur. ‘CEI 60(301, 302, 903): 1983, Vocabulaire Electrotechnique International (VE!) - Chapitre 301: Termes généraux concernant les mesures en électricité; Chapitre 302: Instruments de ‘mesurage électriques; Chapitre 303: Instruments de mesurage électroniques CEI 50(921): 1986, Vocabulaire Electrotechnique International (VEI) - Chapitre 321: Transtormateurs de mesure CEI 51, Appareils mesureurs électriques indicateurs analogiques a action directe et leurs accessoires CEI 52: 1960, Recommandations pour la mesure des tensions au moyen d’éclateurs a sphéres (une sphére a la terre) CEI 60-1: 1989, Techniques d'essais a haute tension - Partie 1: Définitions et pres- Criptions générales relatives aux essais CEI 71-1: 1993, Coordination de risolement ~ Partie 1: Détinitions, principes et régles. CEI 790: 1984, Oscillographes et voltmatres de créte pour essais de chocs CEI 833: 1987, Mesure des champs électriques a fréquence industrielle CEI 1083-1: 1991, Enregistreurs numériques pour les pendant les essais de choc a haute tension — Partie 1: Prescriptions pour des enregistreurs numériquesTEC bO PTx2 94 M™ 4844891 0573240 763 mw 60-2 © IEC:1994 ~13- 2 Normative jerences The following normative documents contain provisions which, through reference in this text, constitute provisions of this part of IEC 60. At the time of publication, the editions fated were valid. All normative documents are subject to revision, and parties to agreements based on this part of IEC 60 are encouraged to investigate the possibility of applying the most recent editions of the normative documents indicated below. Members, of IEC and ISO maintain registers of currently valid International Standards. IEC 50(301, 302, 303): 1983, Intemational Electrotechnical Vocabulary (IEV) - Chapter 301: General terms on measurements in electricity; Chapter 302: Electrical measuring instruments; Chapter 303: Electronic measuring instruments IEC $0(321): 1986, International Electrotechnical Vocabulary (IEV) - Chapter 321: Instrument transformers IEC 51, Direct acting indicating analogue electrical-measuring instruments and their accessories IEC 52: 1960, Recommendations for voltage measurement by means of sphere-gaps (one sphere earthed) IEC 60-1: 1989, High-voltage test techniques - Part 1: General definitions and test requirements IEC 71-4; 1993, Insulation co-ordination - Part 1: Definitions, principles and rules IEC 790: 1984, Oscilloscopes and peak voltmeters for impulse tests JEC 833: 1987, Measurement of power-frequency electric fields IEC 1083-1: 1991, Digital recorders for measurements in high-voltage impulse tests - Part 1: Requirements for digital recordersTEC 60 PTx2 94 MM 4844853 057324) LTT a -14- 60-2 @CEI:1994 3° Détinitions et symboles Dans le cadre de cette partie de la CEI 60, on appliquera ce qui suit. 3.1 Systémes de Mesure 3.1.1 Systéme de Mesure: Ensemble complet de dispositifs u mesure de haute tension ou de courant impulsionnel. able pour réaliser une Notes 1. Un Systime de Mesure comprend généraloment les constituants suivants: un disposiif de conversion, les canducteurs permettant le raccordement du cigpositf & Tobjet en essai ou dans la boucle de courant, toute liaison a la torre, un systime de transmission roliant les bores de sortie du dispositt de conversion aux appareils indicateurs ou enrogistreurs et les réseaux ou impédances d'atténuation, de terminaison et adaptation, Jes appareils indicatours evou enregisireurs y compris leur alimentation par une source do tension. Let Systimes de Mesure qui ne comprennent que quelques uns des constants mentionnés ci-dessus, ou qui sont basés sur des principes de mesure non conventionnels, sont acceptables sls satistont ‘aux proscriptions relatives & Vincertitude telles qu’elles sont spécifiées dans cette norme. Les consttvants peuvent etre composés de plusieurs éléments ou dun soul élément, par exemple, le condensateur hauto tension d'un diviseur capacitf peut éire consttué de nombreux condensatours basse tension ou dun seul condentatour & gaz. 2 Lenvironnement dans fequel un Systime de Meture est appelé & fonctionner, ses distances de garde & os structures & la terre ou sous tension, et la présence de champs électriques ou magnétiques peuvent quolquetois avoir un effet notable sur son incerttude. 3.1.2 Recuell de Caractéristiques d'un Systéme de Mesure: Recueil détaillé, établi par Vutilisateur, décrivant le systéme et comprenant la preuve que les prescriptions décrites dans cette norme sont bien satistaites. Les résultats de l'Essai de Détermination des Caractéristiques initial ainsi que rinventaire et les résultats de chacun des Essais de Détermination et de Contréle des Caractéristiques ultérieurs y seront inclus. 3.1.3 Systéme de Mesure Approuvé: Syst8me de Mesure dont la conformité un ou plusieurs ensembles de prescriptions imposées dans cette norme a été prouvée par: -_unessai de Détermination des Caractéristiques initiales, - des essais successits de Détermination et de Controle des Caractéristiques, — insertion des résultats de ces essais dans le Recueil de Caractéristiques. Le systéme est approuvé uniquement pour les configurations d'installation et les condi- tions d'utilisation décrites dans son Recueil de Caractéristiques. 3.1.4 Systéme de Mesure de Référence: Systéme de Mesure possédant une précision et une stabilité sutfisantes pour étre utilisé lors de l'approbation d'autres systémes par la méthode de comparaison pour des types de formes d'onde et des gammes de tension ou de courant spécif NOTE - Un Systéme de Mesure de Rétérence (tenu & jour suivant les prescriptions de cette norme) pout ‘ire iiisé en tant que Syst8me de Mesure Approuvé, mais inverse n'est pas vrai 3.1.5 Dispositit de Mesure approuvé par la CEI: dispositif qui peut étre utilisé pour ‘mesurer une haute tension avec la précision spécifiée (par exemple un éclateur a spheres ou pointe-pointe utilisé suivant la CEI 60-1).TEC BO PTs2 94 MM 484489) 0573242 53 mm 60-2 © IEC:1994 =15- 3. Definitions and symbols For the purposes of this part of IEC 60, the following apply. 3.1 Measuring Systems suring System usually comprises the folowing components: a converting device with the le required for connecting this davice to the tost objector into the current circuit and the connections to earth, @ transmission system connecting the output terminals of the davice to the indicating or recording instruments With its attenuating, terminating and ‘ments together with any connections to the power supply. Measuring Systems which comprise only some of the above components or which are based on non-conventional principles are accoptat ‘accuracy requirements specified inthis standard, Components may be mada of many el element, for example, @ high-voltage capacitor of a capacitor civider may consist of many low-voltage capacitors or it may consist of a single gas capactor. 2. The environment in which @ Measuring System functions, its clearances to lve and earthed structures and the presence of electric or magnetic fields may significant affect its accuracy. 3.1.2 Record of Performance of a Measuring System: Detailed record, established by the user, describing the system and containing evidence that the requirements in this standard have been met. This evidence shall include the results of the initial Performance Test and the schedule and results of each subsequent Performance Test and Performance Check. 3.1.3. Approved Measuring System: Measuring System which is shown to comply with one or more of the sets of requirements set out in this standard by: ~ aninitial Performance Test, ~ successive Performance Checks and Performance Tests, ~ inclusion of the results of these tests in the Record of Performance. The system is approved only for the arrangements and operating conditions included in its, Record of Performance. 3.1.4 Reference Measuring System: Measuring System having sufficient accuracy and stability for use in the approval of other systems by making simultaneous comparative measurements with specific types of waveform and ranges of voltage or current. NOTE - A Reference Measuring System (maintained according to the requirements ofthis standard) can be used as an Approved Measuring System but the converse is not tue. 3.1.5 IEC Standard Measuring Device: Device that can be used for measuring high- voltage with the specified accuracy (for example a sphere-gap or a rod/rod gap used according to IEC 60-1).TEC BO PT*2 94 MM 4844891 0573243 472 Mm -16- 60-2 © CEI:1994 3.2 Dispositits de conversion 8.2.1 dispositif de conversion: Dispositit qui convertit la grandeur & mesurer en une autre grandeur, compatible avec t'appareil indicateur ou enregistreur. 3.2.2 dlviseur de tension: Dispositi de conversion consistant en une partie haute tension et une partie basse tension, tel que la tension d'entrée est appliquée 2 tout le dispositif tandis que la tension de sortie est prélevée au niveau de la partie basse tension. [VE1 01-05-13, modifié] NOTE — Les éléments do ces doux partios sont généralemont des résistances ou des condensateurs ou une ‘combinalson des deux et le disposi ext décrit par son type ot la disposition de ses éléments (par exemple résistance, capacité ou résistance-capacité) 3.2.3 transformateur de tension: Transformateur abaisseur pour la mesure des para- métres des hautes tensions alternatives (VE! 321-03-01, modifié). 3.2.4 Impédance de mesure d’une haute tension: Dispositif qui produit un courant proportionnel & la tension appliquée. 3.2.5 shunt de mesure de courant: Résistance pour laquelle la tension est propor- tionnelle au courant 4 mesurer. [VE! 301-06-05, modifié) 3.2.6 dispositit compensé de mesure de courant: Dispositit de mesure de courant ‘comportant un systéme de compensation. 3.2.7. transformateur de courant: Transtormateur qui produit une sortie proportionnelle au courant d'entrée. [VEI 321-02-01, modifié] NOTE - Une bobine de Rogowski utlisé avec un circuit intdgeatour est un transtormateur de courant & large bande, 3.2.8 sonde de champ électrique: Dispositif de conversion pour la mesure de I'ampli- tude et la forme d’onde du champ électrique. NOTE - Une sonde de champ électrique peut de utlisée pour la mesure do la forme donde de la tension {ui géndre le champ électrique pours que la mesure ne solt pas modifi par un fet couronne, 3.3. systéme de transmission: Ensemble de dispositits transmettant le signal de sortie d'un dispositif de conversion a un appareil indicateur et/ou enregistreur. NoTES 1._Un systéme de transmission ast en général composé d'un efble coaxial avec ses impédances termi rales, mais peut aussi comprandre des alténvateurs ou éaulres dispositfs connectés ontre le cispositil de conversion ot 'appareil de mesure. Par exemple, une liaison optique comprend un transmettour, le cSbio optique, le récepteur, ainsi que les amplificateurs associé. 2. Un systéme de transmission peut 60 inclus, partellement ou en totalié, dans le disposi de conversion, 3.4 apparell indicateur ou enregistreur: Dispositif destiné a afficher ou & donner un enregistrement de la valour d'une grandeur mesurée ou d'une valeur qui s'y rapporte, [VEI 01-02-11 et 12, moditiés]TEC 6O PTx2 94 MM 484489L 05739244 309 a 60-2 © IEC:1994 -17- 3.2 Converting devices 3.2.1 converting device: Device for converting the quantity to be measured into another quantity, compatible with the indicating or recording instrument. 3.2.2 voltage divider: Converting device consisting of a high-voltage and a low-voltage arm such that the input voltage is applied across the complete device and the output voltage is taken from the low-voltage arm. [1EV 301-05-13, modified) NOTE ~ The eloments of the two arms aro usually resistors or capacitors oF combinations of these and the dovice is described by the type and arrangement ofits elaments (for example, resistor, capacitor or resistor. capacity 3.2.3 voltage transformer: Step-down transformer for the measurement of the para- meters of high alternating voltages. [EV 321-03-01, modified] 3.2.4 high-voltage measuring Impedance: Dey to the applied voltage. which carries a current proportional 3.2.5 current-measuring shunt: Resistor across which the voltage is proportional to the current to be measured. [IEV 301-06-05, modified} 3.2.6 compensated current-measuring device: Current-measuring device which includes a compensating circuit. 3.2.7 current transformer: Transformer which produces an output proportional to the input current. [1EV 921-02-01, moditied] NOTE ~ A Rogowski coll used with an integrating cireitis a wide-band current transformer 3.2.8 electric-tield probe: Converting device for the measurement of the amplitude and wavetorm of an electric field. NOTE ~ An electic-old probe may be used to measure the waveform of the voltage producing the field provided that the measurement isnot affected by corona, 3.3. transmission system: Set of devices which transfers the output signal of a convert- ing device to an indicating and/or recording instrument. NoTES 1. A transmission system generally consists of a coaxial cable with its terminating impedance, but it may Include attenvators or other devices connected between the converting device and the Instrument. For examplo, ‘an optical link includes the transmitter tho optical cable and the recoiver as wel as related amplifies, 2 A transmission systom may be partially or completely included in the converting device 3.4 indicating or recording Instrument: Device intended to display or provide a record of the value of a measurand or a related value. [IEV 301-02-11 and 12, modified]TEC BO PT*2 94 MM 4844893 0579245 24S mm -18- 60-2 © CEI:1994 3.5 Coefficients de conversion 3.5.1 coefticient de conversion d'un Systéme de Mesure: Coetticient par lequel la valeur lue sur instrument doit étre multipliée pour obtenir la valeur de la grandeur d'entrée. NOTES 4 Un Systime de Mesure pout avoir plus d'un coefficient de conversion pour diférents types de signaux et de gammes de tonsion (voi 3.6.1). 2 Pour cortins Systémes de Mesure la valour do la grandeur d'ents6e est afichée directement (ce qu fait ‘que le coeticent de conversion du Systime de Mesure est égal unit). 3.5.2 coefficient de conversion d'un dispositit de conversion: Coetticient par lequel la sortie du dispositit de conversion doit étre multipliée pour obtenir sa grandeur d'entrée. NOTE - Le costciont de conversion é'un cispositi de conversion peut étre sans dimension (par exemple le rapport un diviseur) ou peut étre dimensionné (par exemple limpédance de wansfert une impédance de ‘mesure de haute tension) 3.5.3 coefficient de conversion d'un systéme de transmission: Coefficient par lequel la sortie d'un systéme de transmission doit étre multipliée pour obtenir sa grandeur entrée. 3.5.4 coefficient de conversion d'un enregistreur ou d’un Indicateur de mesure: Coefficient par lequel la lecture de instrument doit étre muttipliée pour obtenir sa grandeur d'entrée. 9.5.5 Coefficient de Conversion Affecté: Le Coefficient de conversion d'un Systéme de Mesure qui est déterminée lors du dernier Essai de Détermination des Caractéristiques. NOTE ~ Un Systeme de Mesure peut avoir plus d'un Coetlicient de Conversion Affectée, par exemple il peut avoir plusieurs Epoques Nominales, chacune avec une différente 3.6 Définitions relatives au comportement dynamique d'un Systéme de Mesure 3.6.1 Epoque Nominale 1, (Mesure des chocs, uniquement pour le front du choc): Plage de valeurs comprise entre les valeurs minimale (t,,) et maximale (t,,,,) des paramétres de temps relatifs aux chocs pour lesquels le Systéme de Mesure est approuvé. Les para- metres de temps concernés sont: la durée de front T, pour les chocs de foudres pleins ou coupés sur la queue la durée jusqu’a la coupure T, pour les chocs de foudres coupés sur le front la durée jusqu’a la créte T, pour les chocs de manoeuvre Notes 1._Un Systéme de Mesure peut avoir une, deux ov plusieurs Epoques Nominales pour différentes formes dondes. Par exemple, un Systéme de Mesure pout Str approuvs ~ pour des chocs de foudre pleins, avec un Goetficient de Conversion Affects F, pour ty, s"étendant oT, 20.8 psa 7, = 1.245 = pour les choes de foudre coupes sur le front, avec un Costficient de Conversion Alf F, pour tyq # @tondant de T, = 0.5 ys a T, = 0.9 us = pour des chocs de manoeuvre, avec un Coetlicient de Conversion Alfecté F pour tys s"6tendant 0 T, = 2008 a T, = 800 ys 2 «Choe coupé sur le Ironts a une durée jusqu’a la coupure de 0,5 js & 2 us au contraire de «choc coupé sur la quoues qui a une durée de plus do 2 wsTEC BO PTx2 94 MM 4844892 0573246 18) me 60-2 © IEC:1994 -19- 3.5 Seale factors 3.5.1 scale factor of a Measuring System: Factor by which the value of the instrument reading is to be multiplied to obtain the value of the input quantity. NoTES 1. A Measuring System may have more than one scale facter, for example, it may have ditferent scale factors for diferent frequency ranges or waveforms (soe 3.6.1), 2. For some Measuring Systems the value of the input quantity is displayed directly (L.., the scale factor of the Measuring System is unity), 3.5.2 scale factor of a converting device: Factor by which the output of the converting device is to be multiplied to obtain its input quantity. NOTE - The scale factor of a converting device may be dimensionless (tor examplo, the ratio of a divider) ‘or may have dimensions (for example, the impedance of e high-voltage measuring impadance). 3.5.3 scale factor of a transmission system: Factor by which the output of a transmission system is to be multiplied to obtain its input quantity. 3.5.4 scale factor of an indicating or recording instrument: Factor by which the instrument reading is to be multiplied to obtain its input quantity. 3.5.5 Assigned Scale Factor: Scale factor of a Measuring System determined at the most recent Pertormance Test. NOTE - A Measuring Systm may havo more than one Assigned Scale Factor, for example, it may have several Nominal Epochs each witha diferent value (soe 8.6.1) 3.6 Definitions related to the dynamic behaviour of a Measuring System 3.6.1 Nominal Epoch ty (Impulse measurements, front part of impulse only): Range of values between the minimum (t,,,) and the maximum (t,,.,) of the relevant time parameter of impulses for which the Measuring System is to be approved. The relevant time para- meter is: the front time T, for full lightning and tail-chopped impulses and for current impulses the time to chopping T, for front-chopped impulses the time to peak T, _for switching impulses Notes 1. A Measuring System may have one, two oF more Nominal Epochs for different wavetorms. For example, a particular Measuring System might be approved: = for tll lightning impulsos wi 08 yst0 T= 1.2Hs ‘an Assigned Scale Factor F, ov 2 Nominal Epoch ty, from T, = = for tront-chopped lightning impulses with an Assigned Scale Factor F, over a Nominal Epoch typ = _ for switching impulses with an Assigned Scal 200 ps to T, = 300 us. 2. “Front-choppad impulse” is used to designate chopped impulse with a time to chopping in the range 0.5 us to 2 us a8 distinct from a “tal-chopped impulse" which has a time to chopping greater than 2 ps. Factor F, over a Nominal Epoch ty, from T, =TEC bO PT*2 94 MM 484489) 0573247 O18 mm ~20- 60-2 © CEI:1994 3.6.2 réponse d’un Systéme de Mesure G: Grandeur de sortie exprimée en fonction du temps ou de la fréquence quand une tension ou un courant donné est appliqué a entrée du systéme. 3.6.3 réponse amplitude/tréquence G(f: Rapport de la grandeur de sortie a la grandeur dentrée d'un Systeme de Mesure en fonction de la fréquence f, quand la grandeur entrée est sinusoidale (voir figure 1). 3.6.4 réponse indiclelle G(t): Grandeur de sortie d'un Syst8me de Mesure en fonction du temps quand la grandeur d'entrée est un échelon. 3.7. Paramétres de la réponse 3.7.1. paramétres de la réponse: Paramatres qui sont déduits de la mesure de la réponse amplitudetréquence ou de la réponse indicielle en appliquant la procédure spécitiée. 3.7.2 tréquences limites f, et f,: Limites inférieure et supérieure du domaine & Tintérieur duquel la réponse amplitude/tréquence est pratiquement constante. Ces limites sont celles ou la réponse dévie de +3 dB de la valeur de la partie constante (voir figure 1). 3.7.3 Niveau de Référence J, (mesures de chocs uniquement): la valeur moyenne de la, réponse indicielle durant I'Epoque Nominale (voir figure 2). NOTE - Un Systime de Mesure pout avoir plusieurs Niveaux de Rétérence correspondants a ditférents formes donde (voir 8.6.1 ot figure 2) 3.7.4 origine virtuelle de la réponse Indiclelle O,: Lintersection entre I'axe des temps et la droite tangente & la partie la plus raide du front de la réponse indicielle. Dans le cas 0 la réponse indicielle comporte des oscillations sur le front, une courbe moyenne est tracée a travers les oscillations et est utilisée pour déterminer la tangente. Toute distorsion initiale est ignorée lors de la détermination de la tangente (voir figure Sa). NoTEs 1. Toutes les grandeurs de temps sont mesurées & partir de Vorigin virtuelle 0, 2 Dans le cas d'une réponse lisse ou encore quand une courbe liseée est traode & travers lee oscillations, {a parti la plus raide se présente dans la parts initiale de la réponse. 3.7.5 réponse indicielle normée g(t): Réponse a I'échelon normée de fagon que le Niveau de Référence soit égal a unité. NOTE ~ Un systsme de mesure a une réponse indciolle normée par Niveau de Référence. 3.7.6 Integrale de la réponse indicielle T(t): Liintégrale de O, a t de un moins la réponse & I'échelon normée g(t), mais avec la parti intiale de g(t) remplacée parla droite utilisée pour déterminer O, (voir 3.7.4), 1 TW) = f (1 - 9(0)) dr °TEC 60 PTx2 94 MM 484489) 0573248 TS4 mm 60-2 © IEC:1994 a 3.6.2 response of a Measuring System G: Output, as a function of time or frequency, when a specified voltage or current is applied to the input of the system. 3.6.3 amplitude/trequency response G(f): Ratio of the output to the input of a Measuring System as a function of frequency f, when the input is sinusoidal (see figure 1). 3.6.4 step response G(t): Output of a Measuring System as a function of time when the input is a step function. 3.7. Response parameters 3.7.1 response parameters: Parameters which are derived from the measured amplitude/ frequency response or the measured step response by applying the specified procedure. 3.7.2. limit frequencies f, and f,: Lower and upper limits of the range within which the amplitude/trequency response is nearly constant. These limits are where the response first deviates by +3 dB from the constant value (see figure 1). 3.7.3 Reference Level J, (impulse measurements only): Mean value of the step fesponse taken over a Nominal Epoch (see figure 2) NOTE - A Measuring System may have more than one Reference Level, for example, it may have different scale tactors for ditfarent waveforms (s00 2.6.1 and figure 2) 3.7.4 virtual origin of a step response 0,: Intersection with the time axis of a straight line drawn as a tangent to the steepest portion of the front of the step response. In the case of a response with oscillations on the front, a mean curve Is drawn through the oscil- lations and used to determine the tangent line. Any initial distortion is neglected when drawing the tangent line (see figure Sa). Notes 1 Alltime valuas aro moasured from the viral origin O,, 2. For a smooth response, or for @ smooth curve drawn through escilations, the steepest portion will occur ‘near the beginning ofthe response. 3.7.5 normalized step response g(t): Step response normalized such that a Ref Level becomes unity. NOTE — A Measuring System has a nocmalized step response for each Reference Level 3.7.6 step response Integral T(t): Integral from O, to t of one minus the normalized step response g(t), but with the initial portion of g(t) replaced by the straight line drawn to determine O, (see 3.7.4). : Te = f (1 -9t0)) de 4,TEC 6O PT*2 94 MM 484489) 0573249 950 mm ~22- 60-2 © CEI:1994 3.7.7 temps de réponse expérimental Ty: La valeur de lintégrale de la réponse indicielle pour tg, ( Voir 3.6.1): Tmax) 3.7.8 temps de réponse partie! 7,: La valeur maximale de Tintégrale de la réponse indicielle (voir figure 3b). NOTE - Habituelioment T,, = Ti, od t, estle temps ad g(t) atteint pour la premiée fois Yamplitude units, 3.7.9 temps de réponse résiduel T,(t): Le temps de réponse expérimental moins la valeur de lintégrale de la réponse indicielle pour f, tel que f, < fay Tall) = Ty - TA) 3.7.10 dépassement §: Quantité dont la valeur maximale de la réponse indicielle normée g(t) dépasse la valeur unité. 3.7.11, temps de distorsion Initiale Ty: Surface comprise entre la ligne de zéro, la réponse indicielle normée g(t) et la ligne droite utilisée pour déterminer O, (voir figure Sa). 3.7.12 temps de stabilisation f,: Le temps le plus court pour lequel le temps de réponse résiduel Tat) devient et reste intérieur en valeur absolue a 2 % def: - Tt] <0,02 1, Pour toutes les valeurs de t comprises dans I'époque de t, & faa, (Voir figure 3b). 3.7.13 Durée Equivalent T,: Paramatre de temps des formes d'onde d'étalonnage: = pour une tension contenue 7; est égal a 100 ms (arbitraire), pour une tension alternative T; est égaf a un quart de la période, = pour un choc T; est égal a la durée jusqu’a créte T, (pour les chocs de foudre, employer la détinition T, donnée pour les chocs de manoeuvre). 3.8 Incertitude globale e: Valeur estimée caractérisant la plage de valeurs autour de la valeur mesurée et dans laquelle la valeur vraie de 1a mesure doit se trouver; c'est la combinaison de nombreuses incertitudes individuelles dues a la présence de nombreuses grandeurs d'influence. NOTE - On considére généralement que la plupart des sources diinceritudes dont on tient compte dans: Cette norme présentent un caractbre aléatcire et peuvent éire considérées comme indépendantas: Fest ntelle de Finceritude globalo @ est alors: Le ms (00 @ ot chaque incertitude @, sont exprimées pour le méme intervaie de contiance.TEC BO PTx2 94 MM 4844892 0573250 602 mm 60-2 © IEC:1994 23 3.7.7. experimental response time Ty: Value of the step response integral at tray (see 3.6.1): Tye Mt tax) 3.7.8 partial response time T,,: Maximum value of the step response integral (see figure 3b). NOTE ~ Usually T, = T(,) whore f, Is the time when g(t) frst reaches unit amplitude, 3.7.9 residual response time T,(t): Experimental response time minus the value of the step response integral at some specific time f, where , < fnax- Talt) = Tu- Te) 3.7.10 overshoot B: Amount by which the maximum value of the normalized step response g(t) exceeds unity. 3.7.11 Initial distortion time T,: Area bounded by the zero line, the normalized step response g(t) and the straight line used to determine O, (see figure 3a). 3.7.12 settling time f,: Shortest time for which the residual response time Tp(t) becomes and remains less than 2 % of t: | Ty- TI! <0,02 ¢, {or all values of tin the epoch from f, 10 trax (See figure 3b). 3.7.13 Equivalent Time T,: Time parameter of calibration waveforms that: ~ for direct voltage Te is equal to 100 ms (arbitrary), ~ for alternating voltage 7, is equal to one quarter of the period, — for impulses T; is equal to the time to peak 7, (for lightning impulses, use definition ot T, for switching impulses), 3.8 overall uncertainty @: Estimate characterizing the range of values around the result of a measurement within which the true value of the measurand could lie; it is the combi- nation of many individual uncertainties due to the presence of many influence quantities. NOTE ~ It is assumed that most of the sources of uncertainty considered in this standard have a random ‘character and can be regarded as independent; the preferred estimate for the overall uncertainty @ is e\/ Le where confidence level expressed at the saTEC BO PTx2 94 MH 484485) 057325) 549 mm -24- 60-2 © CEI:1994 3.9 Caractéristiques assignées 8.9.1. Tension Assignée pour la Mesure ou Courant Assigné pour la Mesure: Niveau maximale de tension ou de courant, pour une fréquence ou une forme donde spécitiée, pour lequel un Systéme de Mesure est utilisé avec 'incertitude donnée dans cette partie de la CEI 60. 3.9.2 domaine de tension ou de courant de fonctionnement: Domaine de tension ou de courant, pour une fréquence ou une forme d'onde spécifiée, a l'intériour duquel un Systéme de Mesure peut étre utilisé avec lincertitude donnée dans cette partie de la CE! 60. NOTE — Les limites du domaine de fonetionnoment sont choisies par Iutiisatour ot vérifiées par los Essais de Détermination des Caractéristiques spécifiés dans cotta partic da la CE! 60, 8.9.3 durée de fonctionnement (pour les tensions continues ou alternatives): Durée pendant laquelle le Syst8me de Mesure est utilisable & sa Tension Assignée pour la Mesure avec lincertitude donnée dans cette partie de la CEI 60. 3.9.4 Fréquence maximale d'application (pour tes chocs): Fréquence maximale de chocs de forme d'onde donnée, applicable pour une durée donnée, pour lequel le Systéme de Mesure est ulilisable & sa Tension Assignée pour la Mesure ou a son Courant Assigné pour la Mesure avec lincertitude donnée dans cette partie de la CEI 60. 3.10 Définitions relatives aux essais 3.10.1 essals de réception: Essai sur le dispositif avant qu'll ne soit accepté pour util sation. Les essais de réception comprennent les essais de type (exécutés sur un dispositit de la méme conception) ot les essais de routine (effectués sur chaque disposi), pour évaluer ses caractéristiques spécifiques, par exemple, mesure du coefficient de tempé- rature sur un élément, essai de tenue diélectrique, etc. De plus, les essais de réception dun ‘Systéme de Mesure comprennent les premiers Essais de Détermination de Caractéristique. 9.10.2 Essal de Détermination des Caractéristiques: Essai sur un Systéme de Mesure complet pour en déterminer les caractéristiques dans les conditions d'utilisation. 3.10.3 Contréle des Caractéristiques: Procédure simplifiée pour s‘assurer que I'Essai de Détermination des Caractéristiques le plus récent est toujours valide. 3.10.4 Enregistrement de Référence (mesures de chocs uniquement): Enregistrement réalisé dans des conditions spécitiées lors d'un Essai de Détermination des Caractéris- tiques et retenu pour comparaison avec des enregistrements réalisés lors de contréles ou d'essais postérieurs dans des conditions identiques (voir 9.9.2, 10.3.2 et 11.3.2).TEC BO PT*2 54 MM 4B44S5L 0579252 485 60-2 © IEC:1994 =25- 3.9. Rated values 3.9.1 Rated Measuring Voltage or Rated Measuring Current: Maximum level of voltage or current of specified frequency or waveform at which a Measuring System can be used within the uncertainty limits given in this part of IEC 60. 3.9.2 operating voltage or current range: Range of voltage or current of specified frequency or waveform in which a Measuring System can be used within the uncertainty limits given in this part of IEC 60. NOTE — The limits of the operating range are chosen by the user and verified by the Performance Tosts specifi inthis part of IEC 60. 3.9.3 operating time (for direct or alternating voltages): Time during which the Measuring System can operate at its Rated Measuring Voltage within the uncertainty limits given in this part of IEC 60. 3.9.4 maximum rate of application (for impulses): Maximum rate of application of impulses with a specified waveform, at which the Measuring System can operate within the uncertainty limits given in this part of IEC 60 for a specified time at its Rated Measuring Voltage or Rated Measuring Current. 8.10 Definitions related to tests 3.10.1 acceptance test: Test on a device or Measuring System before it is accepted for use. The acceptance test includes type tests (performed on a device of the same design) and routine tests (performed on every device) to assess its specific characteristics, for example, measurement of temperature coefficient of an element, withstand test, etc. In addition, the acceptance test on a Measuring System includes the first Performance Test. 3.10.2 Performance Test: Test on a complete Measuring System to characterize it under operating conditions. 3.10.3 Performance Check: Simple procedure to ensure that the most recent Perform- ance Test is still valid. 3.10.4 Reference Record (Impulses measurements only): Record taken under spe- ified conditions in a Performance Test and retained for comparison with records to be taken in future tests or checks under the same conditions (see 9.3.2, 10.3.2, and 11.3.2).TEC bO PTs2 94 MM 4B4H89L 0573253 311 me -26- 60-2 © CEI:1994 4 Procédures de qualification et d'utllisation des Systémes de Mesure 4.1 Principes généraux Les Systémes de Mesure Approuvés doivent étre soumis & des essais de réception, suivis par des essais et des contréles réguliers, pendant toute leur durée de vie. Les essais suivants sont normalement nécessaires: = essais de réception des différents constituants du systéme (nécessaires une seule fois), - _Essais de Détermination des Caractéristiques sur le syst8me (périodiquement, voir 4.2), — Essais de Controle des Caractéristiques du syst8me (périodiquement, voir 4.3). La prescription essentielle pour les dispositits de conversion, les systémes de trans- mission et les instruments de mesure utilisés dans des Syst8mes de Mesure concerne leur stabilité & V'intérieur des plages données pour leurs conditions d'utilisation spécifiées, de tele sorte que le coofficient de conversion du Syst8me de Mesure soit maintenu constant durant de longues périodes. Le coetticient de conversion est déterming lors des Essais de Détermination des Caractéristiques. Les stations d'essais doivent utiliser les essais mentionnés dans cette partie de la CEI 60, pour qualifier leur(s) Systéme(s) de Mesure. Une station d'essai peut également opter pour la réalisation des Essais de Détermination de Caractéristiques par un Laboratoire National ou par un Laboratoire d'Etalonnage Accrédité: dans ce cas la période de validité de chaque étalonnage est déterminée par le Laboratoire National ou par l'Organisme d'Accréditation. Les pays qui auraient opté pour l'emploi de procédures d'accréditation pour assurer une tragabilité certifiée lors de la mise en oeuvre de cette norme trouveront les prescriptions a respecter en annexe A. L’annexe A n’est pas applicable aux pays qui n’ont pas choisi Nemploi de procédures d'aceréditation. Les tableaux résumés des essais a réaliser sur chaque type de Systtme de Mesure sont donnés en annexe F. 4.2 _Intervaile entre les Essais de Détermination des Caractéristiques. Pour conserver la qualité d'un Systéme de Mesure, son ou ses Coefficients de Conversion Aftectés doivent étre déterminés en répétant les Essais de Détermination des Caracté- Fistiques décrits a l'article 6 a intervalles réguliers. Il est recommandé de répéter les essais de article 6 de tacon annuelle et dans tous les cas au moins une fois tous les cing ans. Un Essai de Détermination des Caractéristiques doit étre répété aprés chaque réparation importante effectuée sur le Systéme de Mesure, ou quand on utilise une nouvelle configuration se trouvant en dehors des limites d'utilisation données dans le Recueil de Caractéristiques. Quand les Essais de Contréle de Caractéristiques montrent que le Coefficient de Conver- sion Affecté a changé de fagon significative et que cela rend nécessaire des Essais de Détermination des Caractéristiques, la raison de cette modification sera recherchée avant ta réalisation de ces Essais de Détermination des Caractéristiques.TEC BO PT¥2 94 MB 4844891 0573254 258 mm 60-2 © IEC:1994 -27- 4 Procedures for qualification and use of Measuring Systems 4.1 General principles Approved Measuring Systems are required to undergo acceptance tests followed by tests and checks throughout their service lives. The following are usually necessary: - acceptance tests on system components (required once only), - Performance Tests on the system (periodic, see 4.2), - Performance Checks on the system (periodic, see 4.3). A major requirement for converting devices, transmission systems and measuring ins- truments used in Measuring Systems is stability within their specified range of operating conditions so that the scale factor of the Measuring System remains constant over long periods. ‘The scale factor is determined in the Performance Tests. Test facilities shall use the tests given in this part of IEC 60 to qualify, their Measuring System(s). Alternatively, any test facility may choose to have the Performance Tests made by a National Laboratory or by an Accredited Calibration Laboratory: in this case the period of validity of each calibration is set by the National Laboratory or by the Accrediting Body. Countries which choose to employ accreditation procedures to provide certified traceability in the implementation of this standard, shall meet the requirements given in annex A. Annex A is not applicable to the countries which do not choose to employ accreditation procedures. Tables summarizing the tests to be performed on each type of Measuring System are given in annex F, 4.2 Schedule of Performance Tests To maintain the quality of a Measuring System its Assigned Scale Factor(s) shall be deter- mined by the Pertormance Tests of clause 6 repeated periodically: it is recommended that the tests of clause 6 should be repeated annually and in any case it shall be repeated at least once every tive years. Performance Tests shall be made after major repairs to the Measuring System and whenever a circuit arrangement which is beyond the limits already given in the Record of Performance is to be used. When Performance Tests are required because a Performance Check shows that the Assigned Scale Factor has changed significantly, the cause of this change shall be investigated before the Performance Tests are made.TEC BO PTs2 94 MM 48448592 05739255 194 mm ~28- 60-2 © CEI:1994 4.3 Intervalle entre les Essais de Contr6le de Caractéristiques Les Essais de Controle de Caractéristiques doivent étre réalisés & des intervalles de temps basés sur la stabllité du Systéme de Mesure telle qu'elle apparait dans le Recueil de Caractéristiques. Pour déterminer cette stabilité, les Essais de Controles de Caractéristiques doivent étre initialement réalisés a intervalles rapprochés. Ces essais sont décrits en 7.4, 8.4, 9.4, 10.4 et 11.4, ‘Aucune Méthode de Référence n'est proposée pour les Essais de Contréle de Caracté- fistiques car la précision requise est moindre que pour les Essais de Détermination de Caractéristiques: les utilisateurs exigeant des précisions élevées doivent en principe répéter les Essais de Détermination plus fréquemment qu'l n‘est exigé par cette Norme. 4.4 Prescriptions pour le Recueil de Caractéristiques 4.4.1 Contenu du Recueil de Caractéristiques Les résultats de tous ces essais et contréles, ainsi que les conditions avec lesquelles ces, résultats ont été obtenus, sont conservés dans le Recueil de Caractéristiques, établi et tenu & jour par l'utilisateur. Uorganisation générale du Recueil de Caractéristiques est donnée en 4.4.3, la structure complate du Recueil de Caractéristiques recommandé est détailiée en annexe B (informative), articles B.1 & B.6, et une configuration & minima est indiquée a l'article B.7. 442 Exceptions Dans le cas d'appareils ou d'équipements construits avant la date de publication de cette norme, si les éléments renseignés par certains essais de réception (par exemple 5.6 et 5.9) ine sont pas disponibles, les résultats des Essais de Détermination des Caractéristiques réalisés en accord avec Varticle 6, associés aux résultats de contréles réalisés suivant des normes antérieures et montrant que le coefficient de conversion est stable, sont réputés adéquats. lls ‘seront intégrés au Recueil de Caractéristiques aussi que les controles précédents. Les Systémes de Mesures Approuvés constitués de plusieurs constituants interchangeables Peuvent ne faire objet que d'un seul Recueil de Caractéristiques. Ce recueil sera organisé de tagon & couvrir toutes les combinaisons possibles avec le minimum de redites. Plus préci- sément, chaque disposi de conversion doit avoir son Recueil de Caractéristiques. Par contre, les systémes de transmission et les instruments peuvent étre traités globalement, de fagon couvrir un ensemble de longueurs de cables ou d'instruments semblables, dans la mesure 4 ls satistont aux prescriptions de la norme CEI correspondante. 4.4.3 Organisation générale du Recueil de Caractéristiques La composition suivante est conseillée pour chaque Recueil de Caractéristiques: Chapitres A: Descriptions générales du Systéme de Mesure (voir article B.2) Chapitre B: Résultats des essais de réception sur les dispositis de conversion, les systémes de transmission et les instruments de mesure (voir article 8.3)TEC 60 PT*2 94 MM 48445] 0573256 020 60-2 © 1EC:1994 ~29- 4.3 Schedule of Performance Checks Performance Checks shall be made at intervals based on the recorded stability of the Measuring System as shown in the Record of Performance. Initially Performance Checks shall be made at short intervals to determine this stability. Performance Checks are described in 7.4, 8.4, 9.4, 10.4, and 11.4. No reference method is identified for the Performance Checks because the required accu- racy is less than that required for Performance Tests: users requiring higher accuracies should repeat the Performance Test more frequently. 4.4 Requirements for the Record of Performance 4.4.1 Contents of the Record of Performance The results of all tests and checks with the conditions under which the results were obtained shall be kept in the Record of Performance established and maintained by the user. ‘An outline of the Record of Performance is given in 4.4.9, the full format of the recom- mended Record of Performance is given in annex B (informative), clauses B.1 to B.6 and a minimal form is given in clause B.7. 4.4.2 Exceptions In the case of apparatus or equipment manufactured before the date of issue of this standard, it the evidence required in some of the acceptance tests (tor example, 5.6 and 5.9) is not available, then Performance Tests (in accordance with clause 6) and checks made in accordance with earlier standards are deemed to be adequate provided they show the scale factor is stable. The results of these previous checks shall also be entered in the Record of Performance. ‘Approved Measuring Systems comprising several pieces of equipment used interchange- ably, may be covered by a single Record of Performance including all the combinations possible with the least amount of duplication possible. Specifically, each converting device shall be covered individually, but transmission systems and instruments may be covered generically so that a range of cable lengths or similar instruments which meet the require- ments of the relevant IEC standard may be indicated. 4.4.3, Outline of a Record of Performance It is recommended that the format of each Record of Performance be as follows: Chapters A: General descriptions of the Measuring System (see clause B.2) Chapter B: Results of acceptance tests on converting devices, transmission systems and measuring instruments (see clause B.3)TEC &O PTx2 94 MM 484H89) 0573257 Th? a ~30- 60-2 © CEI:1994 Chapitre C: Résultats des essais de routine sur le Systéme de Mesure, quand ils sont réalisés (voir article 8.4) Chapitres D: Résultats des Essais de Détermination des Caractéristiques sur le Systeme de Mesure (voir article B.5) Chapitres E: Résultats des Essais de Controles des Caractéristiques (voir article 6.6) Les chapitres successifs sont identifiés par un nombre ordinal. (Par exemple: le Chapitre At est la premiére description générale du Systéme, fe Chapitre A2 la description du ‘Systéme aprés la premiére modification significative, etc.; D1, les Essais de Détermination des Caractéristiques initiaux, D2, le second, etc. il n'est pas nécessaire de répéter le Chapitre B ou le Chapitre C). Pour plus de détails voir en annexe B. Le Coefficient de Conversion Affecté a utiliser doit étre celui déterminé lors du dernier essai de Détermination des Caractéristiques et il doit figurer dans le dernier des Chapitres D. 4.5 Conditions d'utilisation Un Syst8me de Mesure Approuvé pour la mesure de tensions doit étre directement connecté aux bornes de objet en essai. Le couplage parasite entre les circuits d'essai et de mesure sera réduit au minimum, Un Systéme de Mesure Approuvé pour la mesure de courant doit étre connecté en série avec objet en essai. Un Systéme de Mesure Approuvé est généralement congu pour travailler a I'intérieur d'un domaine spécifié d'incertitudes, pour des conditions de service & sec et en I'absence de Pollution. Sauf mention contraire, les Systemes de Mesures pour tension continue ou alternative doivent étre congus pour un fonctionnement permanent. ‘Saut mention contraire, la fréquence maximale ‘application, pour les Systtmes de Mesure de chocs, doit étre de deux chocs par minute.TEC 6O PTx2 94 MM 4844852 0573258 973 mm 60-2 © IEC:1994 -31- Chapter C: Results of routine tests on the Measuring System, when performed (see clause B.4) Chapters D: Results of Performance Tests on the Measuring System (see clause B.5) Chapters E: Results of Performance Checks on the Measuring System (see clause B.6) The successive chapters are identified by an ordinal number when needed (for example, Chapter At is the first general description of the system, Chapter A2 the description of the system after the first significant change, etc., Chapter D1 the initial Performance Test of the system, Chapter D2 the second one, etc. but Chapter B and Chapter C will not need repetition), For details see annex B. ‘The Assigned Scale Factor to be used shall be the one determined at the latest Perform- ance Test and shall be filed under the latest Chapters D. 4.5 Operating conditions ‘An Approved Measuring System for voltages shall be connected directly to the terminals of the test object. The parasitic coupling between the test and measuring circuits should be minimized. ‘An Approved Measuring System for currents shall be connected in series with the test object. ‘An Approved Measuring System is usually designed for operating within the required limits of uncertainty in dry service conditions and in the absence of pollution. Unless otherwise specified, Measuring Systems for direct and alternating voltages shall be designed tor continuous operation. Unless otherwise specified, the maximum rate of application for Measuring Systems for impulses shall be two per minute.TEC 60 PTx2 94 MM 484489) 0573259 837 ow ~32- 60-2 © CEI:1994 5 Essals de réception pour un Systéme de Mesure Approuvé 5.1 Applicabilité Les essais décrits dans cet article sont exigés pour les constituants des Systémes de Mesure. Néanmoins, ils ne sont pas exigés pour les systémes de transmission qui sont constitués uniquement de cables et d'instruments satistaisant aux prescriptions des Documents Normatifs référencés a l'article 2. Certains de ces essais ne peuvent étre réalisés sur les équipements existants (voir 5.6 et 5.9): pour ces cas voir 4.4.2. Pour certains des essais décrits dans cet article il est nécessaire d'insérer le constituant dans un Systéme de Mesure approprié (dont les autres constituants ont vu lour linéarité démontrée), ainsi essai de linéarité de 5.9. 5.2 Détermination du coetticient de conversion La détermination du coefficient de conversion d'un constituant peut étre faite par rune des méthodes suivantes: = mesures simultanées de ses grandeurs d’entrée et de sortie, = méthode en pont, = calcul basé sur la mesure des impédances. Le coefficient de conversion d'un shunt de mesure de courant doit étre mesuré par des méthodes & courant continu. 5.3 Essais de linéarité Les valeurs du coetticient de conversion du Systéme de Mesure, mesurées pour les valeurs minimales et maximales du domaine de tension ou de courant de fonctionnement et pour trois valeurs & peu prés réparties entre ces extrémes, ne doivent pas varier de plus de +1 % de leur moyenne. La méthode de référence est la méthode de comparaison avec un Systéme de Mesure de Référence selon 6.2 a). Méthodes alternatives: soit par comparaison avec un Systéme de Mesure Approuvé, dont la lingarité a 6t6 établie par la méthode de référence, soit par une des méthodes décrites dans les paragraphes adéquats de cette norme. Ces méthodes alternatives sont indiquées pour permettre aux utilisateurs la réalisation d'essais de substitution économiques. Néanmoins, le fait de ne pas satistaire aux prescrip- tions de ces essais ne signitie pas nécessairement que le Systéme de Mesure est non linéaire. Dans un tel cas on doit utiliser soit la méthode de référence soit la méthode de compa- raison avec un Systéme de Mesure Approuvé.TEC BO PTx2 94 MM 484489) 0573260 5S) Mm 60-2 © IEC:1994 ~ 33 5 Acceptance tests on components for an Approved Measuring System 5.1. Applicability The tests described in this clause are required for components of Measuring Systems. However these tests are not required for transmission systems which consist only of cables nor for instruments which meet the requirements of the relevant standard referenced in clause 2. Some of these tests cannot be performed on existing equipment (see 5.6 and 5.9) for these cases see 4.4.2, For some of the tests described in this clause it is necessary to include the component in ‘an appropriate Measuring System (whose other components have been shown to be linear), for example, the linearity test of 5.3. 5.2 Determination of the scale factor ‘The determination of the scale factor of a component may be made by one of the following methods: ~ simultaneous measurements of its input and output quantities, - abridge method, - calculation based on measured impedances, The scale factor of a current-measuring shunt shall be measured by direct current methods, 5.3 Linearity test Values of the scale factor of the Measuring System shall be measured at the minimum and ‘maximum voltages (or currents) of the operating range and at three approximately equally spaced voltages or currents between these extremes. These five values shall not differ by more than +1 % from their mean value, The reference method is by comparison with a Reference Measuring System according 106.2 a) Alternative methods are: either comparison with an Approved Measuring System, the linearity of which has been established by the reference method or one of the additional methods described in the relevant clauses of standard. These additional methods are provided to allow users alternative tests which may be economic. However, failure to meet the requirements of these tests does not necessarily show that a Measuring System is non-linear. In such a case either the reference method or the method of comparison with an Approved Measuring System shall be used.TEC bO PTx2 94 MM 484489) 0573261 498 mm -34- 60-2 © CEI:1994 5.4 Essai de stabilité a court terme La pleine Tension Assignée pour la Mesure ou le plein Courant Assigné pour la Mesure doit étre appliqué au dispositif de maniére continue, (ou dans le cas de chocs a la fréquence ‘maximale ¢'application) et ce pendant une durée en rapport avec l'utilisation présumée. Le coefficient de conversion doit étre mesuré avant et immédiatement aprés la fin de l'application de la tension ou du courant (dans les 10 minutes). Les deux valeurs mesurées ne doivent pas différer de plus de 1%. 5.5 Stabilité a long terme de chaque élément Les caractéristiques de stabilité, les effets de la tension et du courant et les effets de la température sur chaque type d'élément devront étre tls que le coefficient de conversion du dispositif de conversion ne varie pas de plus de 1 % entre les Essais successits de Détermination des Caractéristiques. Ces caractéristiques peuvent étre issues des données du constructeur ou obtenues lors des Essais successits de Détermination des Caractéristiques. 5.6 Effet de la température Les variations du coetticient de conversion ou d'un des paramatres (par exemple une résistance ou une capacité) d'un dispositit dues & des changements de la température ambiante seront déterminées par des calculs utilisant les coefficients de température de chaque élément ou en faisant des mesures pour différentes temperatures. Les coefficients de température devront étre indiqués dans le Recueil de Caractéristiques. Ils peuvent étre déduits des données du constructeur. Les coefficients de température sont susceptibles d'étre utilisés quand la température ambiante varie sur une large gamme. Toute correction de température A appliquer doit étre indiquée dans le Recueil de Caractéristiques. Dans chaque cas on devra montrer que le coefficient de conversion ne varie pas de plus de 1%, une fois prise en compte la correction de température (voir annexe D). 5.7 Effet de proximité Des variations du coefficient de conversion ou d'un des paramétres caractéristiques d'un Gispositit, et dues & des effets de proximité, peuvent étre déterminées par des mesures réalisées pour différentes distances du dispositit au mur mis a la terre ou 2 la structure au Potentiel, alors que les distances aux autres structures a la terre ou non sont gardées constantes ou suftisamment grandes pour étre sans effet, Pour chaque gamme de distances indiquée dans le Recueil de Caractéristiques on devra ‘montrer que le coetticient de conversion ne varie pas de plus de 1 %. Pour les mesures de courant, les effets d’excentrement (si applicable) et les effets de voisinage pour les courants élevés peuvent étre détermings par des mesures réalisés pour différents chemins et distances aux conducteurs principaux. NOTE - Cortaines stations cressais peuvent choisir é'approuver leurs Systimos de Mesure pour un seul ‘ensemble de distances ou pour quelques ensembles ov plages de distances,TEC BO PT#2 94 MM 484489) 0573262 324 me 60-2 © IEC:1994 -35- 5.4 Short-term stability test The full rated voltage or current shall be applied to the device continuously (or in the case of impulses, at the maximum rate) for a period appropriate to the anticipated use. The scale factor shall be measured before and immediately after (within 10 min) the appli- Cation of the voltage or current. The two values shall not differ by more than 1 %. 5.5 Long-term stability of single elements The stability characteristics, voltage and current effects and temperature effects of each type of element, shall be such that the scale factor of a converting device does not change by more than 1 % between successive Performance Tests. ‘These characteristics may be taken from manutacturer's data or demonstrated by successive Performance Tests. 5.6 Temperature effect The variations of the scale factor or of a parameter (lor example, resistance or capacitance) of a device due to changes of the ambient temperature are determined by computation using the temperature coefficients of single elements or by making measurements at diferent temperatures The temperature coetticients shall be listed in the Record of Performance and may be taken from manufacturer's data. Temperature correction factors may be used in cases where the ambient temperature varies over a wide range. Any temperature corrections to be used shall be listed in the Record of Performance. In each case, it shall be shown that the scale factor is within 1 %, taking into account any temperature correction (see annex D). 5.7 Proximity effect Variations of the scale factor or of a parameter of a device, due to proximity effects, can be determined by measurements performed for different distances of the device from an earthed wall or an energized structure, the distances from other earthed walls or ‘energized structures remaining constant or so large there is no effect For each range of distances listed in the Record of Performance, it shall be shown that the scale factor is within 1 %. For current measurements, the effects of off-centre paths (when relevant) and the effects of nearby paths for high currents can be determined by measurements performed for different paths and distances to current-carrying conductors. NOTE ~ Some test facilies may chose to approve their Measuring Systems for only a single set of istances, of fora faw sets or ranges of distances,TEC bO PT#2 94 MM 484uGq3 0573263 260 Mm -36~ 60-2 ©CEI:1994 5.8 Comportement dynamique d'un constituant La réponse d'un constituant doit étre déterminée dans un Systéme de Mesure représen- tatit des conditions d'utilisation, en particulier de ses distances de garde aux structures sous tension ou 2 la terre. On devra mesurer soit la réponse amplitudertréquence soit la réponse indicielle. 5.8.1 Détermination de la réponse amplitude/fréquence Le syst#me est soumis a une grandeur d'entrée sinusoidale d'amplitude connue, souvent a bas niveau, et la grandeur de sortie est mesurée. Cette mesure est répétée pour une gamme appropriée de fréquences. 5.8.2 Détermination de la réponse indicielle Le systéme est soumis a un échelon de tension ou de courant et sa sortie est mesurée (oir annexe C). it convient que le temps de montée de I'échelon soit inférieur & '/yq du temps de réponse partiel T,. 5.9. Essais de tenue Un dispositif de conversion doit subir un essai de tenue a sec exécuté avec une tension ou un courant de fréquence ou forme d'onde spécifiée, a un niveau de 110 % de la Tension Assignée pour la Mesure ou du Courant Assigné pour la Mesure. Pour les procédures des essais de tenue, voir la CEI 60-1. Quand ils sont stipulés, des essais sous pluie ou sous pollution seront réalisés en tant qu'essais de type. Les essais de tenue seront réalisés dans la ou les polarités pour lesquelles le systéme doit étre utilisé. tolle quil puisso résisior & une cécharge disruptive de objeto caractéristiques.TEC bO PT#2 94 MM 4844892 0573264 377 am 60-2 © IEC:1994 -37- 5.8 Dynamic behaviour of a component ‘The response of the component shall be determined in a Measuring System representative Of its operating conditions, particularly clearances to earthed and energized structures. Either the amplitude/trequency response or the step response shall be measured. 5.8.1 Determination of the amplitude/trequency response The system is subjected to a sinusoidal input of known amplitude, usually at low level, and the output is measured. This measurement is repeated for an appropriate range of frequencies. 5.8.2 Determination of the step response The system is subjected to a voltage or current step and its output is measured (see snnex C). The rise time of the applied step should be less than "/ig of the partial response time T,. 5.9 Withstand tests A converting device shall pass a dry withstand test performed with a voltage or current of the required frequency or shape at a level of 110 % of the Rated Measuring Voltage or Rated Measuring Current. For the procedures of withstand tests see IEC 60-1. Wet tests and pollution tests, when specified, are performed as type tests. The withstand tests shall be pertormed at the polarity or polarities at which the system is to be used. NOTE ~ Design and construction of any component of an Approved Measuring System should be such that ‘it can withstand a disruptive discharge at the test object without any change in its characteristicsTEC 60 PTx2 94 MH 4844892 0573265 033 om -38- 60-2 © CEI:1994 6 Essals de Détermination des Caractéristiques des Systemes de Mesure 6.1 Prescriptions générales Le Coefficient de Conversion Atfecté du Syst8me de Mesure est déterminé par étalonnage a Faide des Essais de Détermination des Caractéristiques spécitiés. Pour un Systame de Mesure de Chocs, ces essais montrent également que la réponse dynamique est adaptée ‘aux mesures prescrites, et que le niveau d'une perturbation quelle qu'elle solt reste inférieur aux niveaux spécifiés. Pour les essais & haute tension, ta dimension des appareils, les niveaux de tension et de courant utilisés, et interaction entre les circuits d'essais et les circuits de mesure obligent habituellement a réaliser les essais d’étalonnage dans la station d'essai de l'utilisateur. Toutefois, les Systémes de Mesure ou leurs constituants peuvent étre transportés dans d'autres laboratoires pour étalonnage dans une configuration simulant les conditions de service, pourvu que le niveau de perturbation soit vérifié dans la station de rutilisateur, dans la mesure od cet essai est spécifié. La configuration d’essai devra étre représen- tative des conditions de service décrites dans le Recueil de Caractéristiques et elle sera également décrite dans le Recueil de Caractéristiques. Excepté si les essais de type montrent que le dispositit de conversion n‘est pas affecté Par les effets de proximité pour une gamme spécitiée de distances de garde, le Coefficient de Conversion Affecté de tout Systéme de Mesure constitué a partir de ce dispositi de conversion devra étre mesuré pour chaque configuration d'utilisation. Chaque ensemble ou domaine de distances de garde sera mentionné dans le Recueil de Caractéristiques. | convient que la tension ou fe courant d'entrée utilisé pour I'étalonnage soit de la méme nature, fréquence et forme donde que les tensions ou courants devant étre mesurés. Quand cette condition ne peut pas étre remplie, on montrera la validité du Coefficient de Conversion Affecté pour les gammes de fréquences ou de formes d'onde devant étre utilisées, La méthode de référence pour la détermination du Coetticient de Conversion Affecté est la comparaison avec un Systéme de Mesure de Référence a la Tension Assignée pour fa Mesure ou au Courant Assigné pour la Mesure, chaque fois que cela est possible. Néanmoins les Systémes de Mesure de Référence ne sont pas toujours disponibles pour les hautes tensions et courants, la comparaison peut étre réalisée & des tensions et courants aussi réduits que 20 % de la Tension Assignée ou du Courant Assigné pour la Mesure (voir 6.2 a)). Pour les choos de foudre dépassant 1 MV, cela peut étre fait 4 200 kV. On peut déter- miner le Coefficient de Conversion Assigné en mesurant le coefficient de conversion de chaque constituant, généralement & bas niveau, et en effectuant la multiplication des coetticients de conversion des constituants (voir 6.2 b)). La tension ou te courant utilisé pour déterminer le Coetticient de Conversion Atfecté doit étre compris dans la gamme couverte par I'essai de linéarité. Tous les équipements utilisés pour déterminer les coefficients de conversion des Systémes de Mesure et tous les instruments utilisés dans les systemes de mesure devront étre étalonnés avec rétérences aux étalons de mesure nationaux. Les conditions de réalisation de I'étalonnage doivent étre incluses dans le Recueil de Caractéristiques.TEC BO PT#2 94 MM 484489) OS732bb T2T a 60-2@1EC:1904 -39- 6 Performance Tests on Measuring Systems 6.1 General requirements The Assigned Scale Factor of the Measuring System is determined by calibration using the specified Performance Tests. For an Impulse Measuring System, the Performance Tests also show that its dynamic performance is adequate for the specified measurements and that the level of any disturbance is less than the specified limits, {n high-voltage tests, the size of the apparatus, the levels of voltage and current used, and the interaction between the test and measuring circuits often make it necessary to perform calibration tests in the test facility of the user. However, Measuring Systems or their components may be transported to another labo- ratory for calibration in an arrangement which simulates the operating conditions, provided that the interference test, when specified, is performed in the test facility of the user. The simulated arrangement shall represent the operating conditions described in the Record of Performance and this simulated arrangement shall also be described in the Record of Performance. Unless type tests show a converting device is not sensitive to proximity effects over a specified range of clearances the Assigned Scale Factor of any Measuring System based on that converting device shall be measured for each condition of use. Each set of clear- ances or range of clearances shall be entered in the Record of Performance. The input voltage or current used for calibration should be of the same type, frequency or wavetorm as voltages or currents to be measured. When this condition is not fulfilled, evidence shall be given of the validity of the Assigned Scale Factor in the range of frequency or waveforms to be used. The reference method of determining the Assigned Scale Factor is comparison with a Reference Measuring System at the Rated Measuring Voltage or Rated Measuring Current whenever possible. However, as Reference Measuring Systems are not always available at the highest voltages and currents, the comparison may be made at voltages or currents as low as 20 % of the Rated Measuring Voltage or Rated Measuring Current (see 6.2 a)). For lightning impulses with peak values over 1 MV, it may be made at 200 kV. Alter- atively, the Assigned Scale Factor may be determined by measuring the scale factor of each component, usually at low voltage, and taking the product of the scale factors of the components (see 6.2 b)). The voltage or current used to determine the Assigned Scale Factor shall be included in the range covered by the linearity test. All equipment used in establishing the scale factors of Measuring Systems and all instru- ments used in Measuring Systems shall have calibrations traceable to National Measurement Standards (Etalons). ‘The conditions under which the calibration has been performed shall be included in the Record of Performance.TEC 60 PTx2 94 MM 484489) 0573267 906 mm ~40- 60-2 © CEI:1994 6.2. Détermination du Coefficient de Conversion Attecté d'un Systeme de Mesure a) Méthode de référence: comparaison avec un Systéme de Mesure de Référence Un Systme de Mesure de Référence doit étre connecté en paralléle avec le Systéme de Mesure a étalonner. Des lectures simuttanées seront effectuées sur les deux systémes; la valeur de la grandeur d'entrée obtenue pour chaque mesurage réalisé a partir du Systéme de Mesure de Référence est divisée par la lecture correspondante relevée & Partir de instrument de mesure du Systeme de Mesure en essai. Ceci donne le coetti- cient de conversion F, du systéme de mesure en essai. La procédure est répétée pour obtenir m lectures indépendantes (nz 10) et fa valeur moyenne F,, est déclarée comme étant le Coefficient de Conversion Affecté du Systéme de Mesure en essai, sous réserve que l'écart-type expérimental s calculé par: soit inférieur 4 1% de F, NOTES 1 Une valour rotenue comme Coofficient de Conversion Affecté i, introduite a la ‘elle conduit & une valour do s inférioure A 1% 60 Fy. Uessai sera réalisé & un seul niveau de tension ou de courant (voir 6.1). La sensibilité de l'appareil de mesure peut étre modifiée ou un apparel différent peut étre utilisé pour assurer une sensibilité adéquate, dans la mesure oti cette modification n’altare pas le teste du Systéme de Mesure et si les calibres utllisés pour chaque nouvel instrument ont été étalonnés. Si un seul appareil de mesure est disponible (cet instrument de mesure est alors celui du Syst8me de Mesure Approuvé et il doit satistaire aux exigences de la norme CEI adéquate), on peut réaliser l'essai en connectant l'appareil alternativement sur chacun des deux Systemes de Mesure pour obtenir les 7 valeurs F,. Une impédance terminale équivalente a celle de linstrument devra étre connectée & la place de 'instrument utilisé dans l'autre systéme. Tous les autres constituants de chaque Systéme de Mesure doivent rester inchangés. Les Systemes de Mesure avec plusieurs coefficients de conversion (par exemple par utilisation de différentes parties basse tension pour un diviseur de tension) devront étre étalonnés pour chaque coetticient de conversion. Des Systémes de Mesure avec des diviseurs secondaires de tension peuvent étre étalonnés pour un seul calibre, si on Peut montrer par d'autres essais que la charge de sortie du dispositit de conversion reste identique pour tous les calibres. Dans ce cas tous les calibres du diviseur secon- daire doivent étre étalonnés séparément. NOTE ~ Pour utilisation das sondes Cosclascope voir annexe 6.TEC GO PTx2 94 MM 4844891 0573268 B42 mm 60-2 © 1EC:1994 -ae 6.2 Determination of the Assigned Scale Factor a) Reference method: comparison with a Reference Measuring System A Reference Measuring System shall be connected in parallel (voltage) or in series (current) with the Measuring System to be calibrated. Simultaneous readings shall be taken on both systems; the value of the input quantity obtained for each measurement by the Reference Measuring System is divided by the corresponding reading of the instrument in the system under test to obtain a value F, of its scale factor. The pro- cedure is repeated to obtain n independent readings (n & 10) and the mean value F,, is taken as the Assigned Scale Factor of the system under test, provided that the experimental standard deviation as calculated from: LR-F, is less than 1 % of F,, Notes 1A rounded valve F, may be taken as the Assigned Scale Factor if, introduced in place of Fin the formula for s, it gives the value of s ls than 1 % of Fy, 2 For measurement of direct and alternating voltages, independent readings may be obtained either by ‘applying the test voltage and taking n readings or by applying the test voltage mimes and taking a reading each time. For impulses, n impulses are applied. The test shall be performed at a single voltage or current level (see 6.1). The setting of the measuring instrument may be changed or a different instrument may be used to achieve a suitable sensitivity, provided that this change does not alter the rest of the Measuring System and that the settings used on each instrument have been calibrated. lt only one measuring instrument is available (this measuring instrument is the instrument to be used in the Approved Measuring System and shall meet the relevant {EC standard) the test may be made by the repeated alternate connection of the instrument to each system to provide the n values F,. A termination equivalent to the instrument shall ‘be connected in the place of the instrument in the other system. All other parts of both systems shall remain unchanged. ‘A Measuring System with several scale factors (for example, the use of different low- voltage arms for a voltage divider) shall be calibrated for each scale factor. Measuring ‘Systems with secondary voltage dividers may be calibrated on one setting only, Provided that the load on the output of the converting device can be shown to be constant for all settings by other tests. For such cases the full range of settings of the secondary divider shall be calibrated separately. NOTE ~ For the use of oscilloscope probes see annex G.TEC BO PTx2 94 mH 4BHNSS 0573269 789 -42- 60-2 © CEI:1994 b) Méthode alternative: étalonnage des constituants Le Coefficient de Conversion Aftecté du Systéme de Mesure sera déterminé comme le Produit des coefficients de conversion de son dispositit de conversion, de son systéme de transmission et de son instrument de mesure. Pour le dispositit de conversion et le systéme de transmission ou leur combinaison, le coefficient de conversion sera mesuré par une des méthodes décrites en 5.2 en assurant une incertitude globale au plus égale & 1% (il convient de s‘assurer que les capacités parasites ou les couplages appropriés, ainsi que Influence mutuelle entre constituants sont compris dans la mesure). Le coetticient de conversion de instrument est déterminé en accord avec la norme CEI adéquate (voir article 2) ou par la réalisation des essals correspondants cités dans cette partie de la CE! 60. 6.3 Essai de comportement dynamique (pour les Systemes de Mesure de chocs) a) Méthode de référence: comparaison avec un Systéme de Mesure de Référence On peut utiliser les mémes enregistrements qu'en 6.2 a) mais dans ce cas ce sont les Paramétres de temps significatifs des chocs enregistrés qui sont évalués pour chaque systéme de mesure. Le systéme en essai devra remplir les deux conditions suivantes: _ la valeur de chaque paramétre de temps devra étre comprise dans un intervalle de #10 % de la valeur correspondante mesurée avec le Systme de Mesure de Référence, ~_ pour chaque paramatre de temps, I’écart-type expérimental du rapport des lectures correspondantes du systéme en essai et du Systtme de Mesure de Référence devra étre intérieur & 5 % de la valeur moyenne du rapport. b) Méthode alternative: mesure de la réponse indicielle La réponse indicielle du Syst#me de Mesure devra étre mesurée contormément a 5.8.2. Les paramétres de la réponse doivent étre déterminés et devront satistaire aux presctip- tions données dans le paragraphe afférent de cette partie de la CEI 60. 6.4 Essai de perturbations (pour les Systémes de Mesure de chocs) Liessai est réalisé sur le Systéme de Mesure, avec son cAble ou son systéme de trans- mission court-circuité aux bornes d'entrée, sans changement des connexions de terre du cable ou du systéme de transmission. Une perturbation (pour une mesure de tension ~ & aide dun amorgage avec un choc représentatif de la forme d'onde & mesurer; pour une mesure de courant ~ par laction d'un dispositif approprié) doit étre appliquée a entrée du Syst me de Mesure et la grandeur de sortie est enregistrée. L'essai sera effectué a la Tension ou au Courant Assigné pour la mesure. L'amplitude de la perturbation mesurée doit rester inférieure & 1 % de I'indication de sortie de Systéme de Mesure lors de la mesure de la tension ou du courant de I'essai. Un niveau de perturbation supérieur & 1 % est permis pourvu que l'on puisse montrer qu'il n’affecte Pas la mesure.TEC 60 PT«2 94 MM 4844893 0573270 4TO om 60-2 @ IEC:1994 =43- b) Alternative Method: component calibration The Assigned Scale Factor shall be determined as the product of the scale tactors of its converting device, its transmission system and its measuring instrument. For the converting device and the transmission system or their combination, the scale factor shall be measured by one of the methods given in 5.2 to assure a total un- certainty not larger than 1 % (care should be taken to ensure the appropriate “stray” capacitance or coupling and the mutual influence of the components are included in the measurement). ‘The scale factor of an instrument is determined according to the relevant IEC standard (see clause 2) or by performing the relevant tests given in this part of IEC 60. 6.3 Dynamic behaviour test (for Impulse Measuring Systems) @) Reference method: comparison with a Reference Measuring System ‘The same records taken in the test of 6.2 a) can be used and the relevant time para- ‘meters of the measured impulses evaluated for each system and: = the value of each time parameter shall be within £10 % of the corresponding value measured by the Reference Measuring System, = for each time parameter, the experimental standard deviation of the ratio of the corresponding readings of the system under test and the Reference Measuring System shall be less than 5 % of the mean value of the ratio. ») Alternative Method: step response measurement ‘The step response of the Measuring System shall be measured according to 5.8.2. The relevant response parameters shall be determined and shall meet the requirements Given in the relevant clause of this part of IEC 60. 6.4 Interference test (for Impulse Measuring Systems) The test shall be made on the Measuring System, with its cable or transmission system short-circuited at its input terminals without changing the earth connections of the cable or transmission system. An interfering condition shall be produced at the input of the Measuring System (for voltage measurements - by a disruptive discharge with an impulse representative of the waveform to be applied; for current measurements — by operation of an appropriate device) and the output shall be recorded. The test shall be made at the Rated Measuring Voltage or Rated Measuring Current. The amplitude of the measured interference shall be less than 1 % of the output of the Measuring System when measuring the test voltage or current. Interference greater than 1 % is permitted provided it is shown that it does not affect the measurement.TEC 6O PT*2 94 MM 484489) 0573273 337 Mm = 44 60-2 © CEI:1994 7 Mesures des tensions continues 7.1 Prescriptions pour un Systéme de Mesure Approuvé La prescription générale est de mesurer la valeur (moyenne arithmétique) de la tension essai avec une incertitude globale ne dépassant pas +3 %. Ces limites de Vincertitude ne devront pas étre dépassées, méme en présence d'une ondu- ‘ation dont amplitude est a 'intérieur des limites données dans la CE1 60-1. SCTE g drattention est attiée sur la présance possible dun couplage entre une tension alternative ot le ‘Systdme do Mesure ot qui peut attocter Ia lecture do l'appareil do mesure 7.11 Stabilité des coetticients de conversion Un ispositi de conversion pour tension continue doit étre construit de fagon & conduire directement & la terre tous les courants de fuite dérivés sur ses surfaces extemes et 2 maintenir négligeables les courants de fuite internes par rapport au courant de mesure, NOTE ~ Pour garanti un rappor faible entre les courants do fuite ‘moins 0,5 mA est recommandé, & tansion assignée de mesure, un courant de mesure d'au Les instruments de mesure devont satisfaire aux prescriptions des appareils de classe 0,5 de la CEI 51, ou doivent étre essayés selon cette norme. 7.1.2 Comportement dynamique pour mesurer les montées de tension see enes de réponse expérimental Ty d'un Systdme de Mesure Approuvé ne devra pas étre supérieur a 0,5 s. Cela permet de'réaliser la mesure avec la précision prescrite cay 1 lorsque la tension croft avec le taux de montée spécifié dans la CE 60-1 pour les esscis diélectriques. Mesure (Gui inciut Vinstrument de mesure) sera supérieur & S/f ol f ost la troquence fondamentale do enduation 2 ,pans certains cas, par exemple lors des essais sous pollution, il peut éue nécassaire de détector ot Tarte Sons Gomposantes transitores. Aucune prescription n'est donnée ic, mals on pout s6 reporter & article 9 qui donne dos éléments dinformation 7.2. Essais de réception sur les constiuants pour un Systeme de Mesure Approuvé Les prescriptions des essais de type peuvent étre satistaites par des essais exécutés sur Po Constituant de ta méme conception ou parfois a partir des données constructeur. Sena gSSas de routine doivent étre effectués sur chaque constituant. Voir article 5 pour les détails et 4.4.2 pour les exceptions.TEC GO PTx2 94 MM 484489R 0573272 273 a 60-2 © IEC:1994 -45— 7 Measurement of direct voltage 7.1 Requirements for an Approved Measuring System ‘The general requirement is to measure the value (arithmetic mean) of the test voltage with an overall uncertainty within +3 %. The uncertainty limits shall not be exceeded which is within the limits given in IEC 60-1. the presence of ripple, the magnitude of NOTE ~ Attontion is drawn to the possible presence of alternating voltages coupled to the Measuring ‘Systom and affecting the reading of the measuring instrument. TAA Stability of the scale factors The scale factors of the converting device and the transmission system shall not vary by more than +1 % within the ranges of the ambient temperature and humidity given in the Record of Performance. A converting device for direct voltage shall be constructed so as to conduct directly to earth all leakage current on its external surfaces and to keep internal leakage current negligible relative to the measuring current. NOTE - To maintain a low ratio betwen the leakage and measuring currents, a measuring current as high 85 0,5 mA at the rated voltage may ba necessary Measuring instruments shall comply with the requirements of class 0,5 of IEC 51 or shall be tested according to this standard. 7.1.2 Dynamic behaviour for measuring rising voltages ‘The experimental response time Ty of an Approved Measuring System shall not be larger than 0,5 s. This will permit measurement with the accuracy required by 7.1 when the voltage is increased at the rate specitied for dielectric tests in IEC 60-1. NoTES 1. In some cass the response time of @ converting device is Kept much lower than 0,6 s to improve its ‘of flashover in the test circuit, However, to avoid rippla onthe high-voltage source affecting 0, the rosponse time of the Measuring System (which includes the measuring instrument) should be greator than 5/f- where fis the fundamental frequency of the ripple, sure tansiont clause 9, 2. In cortain cases, for example, in pollution tests, it may be necessary to detect and m ‘components. No requirements for this are given here, but some guidance may be obtained fr 7.2 Acceptance tests on components for an Approved Measuring System The requirements of the type tests can be met by tests on a unit of the same type or sometimes from manufacturer's data. Routine tests shall be performed on each unit. See clause 5 for details and 4.4.2 for exceptions.TEC bO PT#2 94 MM 484489) 0573273 LOT a - 46 - 60-2 © CEI:1994 Les constituants d'un Systéme de Mesure doivent se conformer aux prescriptions des essais de type et des essais de routine suivants: Essais de type: ~ effet de la température sur le dispositit de conversion et le systéme de transmission et leur coefficient de conversion (5.6), = stabilité & long terme (5.5), = _ essais de tenve diélectrique sous pluie ou sous pollution sur le dispositif de conver- sion (sil sont demandés) (5.9), ~ comportement dynamique (5.8). Essais de routin = détermination des coefficients de conversion (5.2), — linéarité (6.3, autres méthodes 7.2.1), = stabilité & court terme (6.4), essai de tenue diélectrique a sec sur le dispositif de conversion (5.9). 7.2.1 Essai de linéarité: prescriptions et méthodes alternatives Uessai de lingarité doit étre réalisé selon 5.3 pour chaque polarité pour laquelle le systéme doit étre approuvé. Autres méthodes: a) Comparaison avec un éclateur pointe/pointe Le Systéme de Mesure doit étre véritié par rapport a un éclateur pointe-pointe, comme montré en figure 19 de la CEI 60-1 et dans les limites d'espacement et dhumidité fixées par l'article C.2. de cette publication. L'essai doit étre effectué avec un réglage de l'écartement des pointes correspondant aux valeurs minimale et maximale du domaine de tension de tonctionnement et pour trois autres réglages de I'intervalle & peu prés également répartis entre ces deux extrémes, L’essai complet de linéarité sera fait en un temps réduit de fagon A ce que les correc- tions climatiques ne soient pas nécessaires. La méthode décrite a Varticle C.9 de la CEI 60-1 est utilisée si ce n'est qu'aucune correction atmosphérique n'est appliquée. Si chacun des cing rapports de la tension d'amorcage de l'intervalle a la grandeur de sortie du systéme soumis a essai est égal 4 £1% de leur valeur moyenne, le systéme en essai peut étre considéré comme linéaire, b) Essai spécifique aux dispositits constitués de plusieurs éléments Pour un dispositit de conversion tabriqué en plusieurs éléments, essai doit étre réalisé d'une part en contrélant la linéarité de chacun des éléments suivant les méthodes décrites en 5.3 et d'autre part en controlant es éléments assembiés a la Tension Assignée pour la Mesure, par comparaison du courant dans les connexions haute tension du dispositit avec celui circulant dans la partie basse tension. Les deux mesures ine devront pas ditférer de plus de 1 %TEC 6O PTx2 94 MM 484489) 0573224 OWL mm 60-2 © IEC:1994 ~47- The components of a Measuring System shall meet the requirements of the following type and routine tests: Type tests: = temperature effect on the converting device and the transmission system and on their Scale Factors (5.6), ~ long-term stability (5.5), — Wet or polluted withstand test on the converting device (if required) (5.9), = dynamic behaviour (5.8). Routine tests: — determination of the scale factors (6.2), ~ linearity test (6.3, additional alternative methods 7.2.1), = short-term stability (6.4), = dry withstand test on the converting device (5.9). 7.2.1 Linearity test: requirements and additional alternative methods The linearity test shall be made according to 5.3 using each polarity with which the system is to be approved. Additional alternative methods are: a) Comparison with a rod/rod gap The Measuring System shall be checked against a rod/rod gap, as shown in figure 19 of IEC 60-1, and within the limits of gap spacing and humidity given in clause C.2 of the same publication. The test shall be made with gap spacings corresponding to the minimum and maximum values of the operating voltage range and at three approxi- mately equally spaced gap settings between these extremes. The complete linearity test shall be made in a short time so that atmospheric conditions do not change and hence no corrections need be applied. The procedure given in clause C.3 of IEC 60-1 is used except that no atmospheric corrections need be applied. It each of the five ratios of the disruptive discharge voltage of the gap to the corresponding output of the system under test is within +1 % of their mean vaiue then the system can be considered linear. ») Specific test for multi-section devices For a converting device made of several identical high-voltage units, the test shall be ‘made by first checking the linearity of each unit as described in 5.3 and then by check- ing the assembled units at Rated Measuring Voltage by comparing the current into the high-voltage end of the device with that out of its low-voltage end. The measured values shall not differ by more than £1 %,TEC BO PTx2 94 MM 434489) 0573275 Taz om =48-~ 60-2 © CEI:1994 ©) Comparaison avec la tension d'entrée d'un convertisseur alternatit/continu linéaire La sortie du Syst#me de Mesure devra étre véritiée par rapport a la valeur créte de la tension alternative d’entrée du redresseur. Les essais seront réalisés pour les valeurs minimale et maximale du domaine de tension de fonctionnement et pour trois valeurs de tension a peu prés également réparties entre ces extrémes. Si chacun des cing rapports de la tension mesurée et de la valeur créte correspondante de Ia tension alternative d'entrée du redressour ne diffdre pas de +1 % de leur valeur moyenne, le Systéme de Mesure peut étre considéré comme linéaire. 7.3 Essai de Détermination des Caractéristiques pour un Systéme de mesure Le coetficient de Conversion Atfecté du Systeme de Mesure doit étre déterminé selon 6.2. 7.4 Contr6le des caractéristiques Le coetticlent de conversion d'un Systéme de Mesure Approuvé est contrélé par une des méthodes suivantes. a) Contré\e des coetticients de conversion de ses constituants Le ou les coefficients de conversion de chaque constituant doivent étre contréiés en utilisant des calibrateurs internes ou extemes dont l'incertitude ne dépasse pas +1 %. Sila dittérence de chaque coetticient de conversion ne différe pas de sa valeur précé- dente de plus de 1 %, le Coetticient de Conversion Affecté du Systame de Mesure est considéré comme valide. Si une seule des différences est supérieure & 1 %, le Coefficient de Conversion Affecté doit étre déterminé & nouveau (voir le troisiéme alinéa de 4.2). b) Contréle du coetticient de conversion du Systéme de Mesure Une comparaison doit etre faite avec un autre Systeme de Mesure Approuvé avec la Procédure du 6.2 a) ou avec un Dispositit de Mesure Approuvé par la CEI utilisé suivant les principes de l'annexe C de la CEI 60-1. Si la différence entre les deux valeurs mesurées n'est pas supérieure a 3 %, le Coefficient de Conversion Affecté est considéré comme encore valide. Si cette différence est plus importante, le Coefficient de Conversion Affecté devra étre déterminé & nouveau (voir le troisiéme alinéa de 4.2). 7.8 Dispositit de Mesure Approuvé par la CEI L'éclateur tige-tige, concu et utilisé suivant annexe C de la CEI 60-1, est un Dispositi de Mesure Approuvé par la CEI pour les tensions continues avec une incertitude ne dépassant pas #3 % (voir E.3). 7.6 Mesure de l'amplitude de V'ondulation 7.6.1 Prescriptions pour un Systéme de Mesure Approuvé amplitude de Vondulation doit étre mesurée avec une incertitude globale ne dépassant pas £10 % de l'amplitude de londulation ou +1 % de la valeur moyenne arithmétique de fa tension continue, selon celle qui est plus grande. Des Systémes de Mesure séparés peuvent étre utilisés pour mesurer d'une part, la valeur ‘moyenne de la tension et d'autre part, amplitude de rondulation ou alors le méme dispo- sitif de conversion peut étre utilisé avec deux instruments de mesure différents.TEC BO PTs2 94 MM 464489) 0573276 919 me 60-2 © IEC:1994 -49- ©) Comparison with input voltage of a linear a.c./d.c. converter ‘The output of the Measuring System shall be checked against the peak value of the alternating voltage input to the rectifier network. Tests shall be made at the minimum and maximum values of the operating voltage range and at three approximately equally spaced voltages between these extremes. | each of the five ratios of the measured voltage to the corresponding peak value of the alternating vottage input to the rectifier is within +1 % of their mean value then the Measuring System can be considered linear. 7.3 Performance Test on Measuring Systems ‘The Assigned Scale Factor shall be determined according to 6.2. 7.4 Performance Check ‘The scale factor of an Approved Measuring System shall be checked by one of the follow- ing methods. ) Check of the scale factors of its components The scale tactor(s) of each component shall be checked, using internal or external calibrators having an uncertainty within +1 %. If the difference of each scale factor from its previous value is not larger than £1 %, the Assigned Scale Factor is taken as still valid. if any difference exceeds 1%, then a new value of the Assigned Scale Factor shall be determined (see third paragraph of 4.2). ») Check of the scale factor of the Measuring System A comparison shall be made with another Approved Measuring System with the Procedure of 6.2 a) or with an IEC Standard Measuring Device used according to appendix C of IEC 60-1. When the difference between the two measured values is within £3 %, the Assigned Scale Factor is taken as valid. When the difference is larger, then a new value of the Assigned Scale Factor shall be determined (see third para- ‘graph of 4.2), 7.5 IEC Standard Measuring Device The rod/rod gap, designed and used in accordance with appendix C of IEC 60-1, is an IEC Standard Measuring Device for direct voltage with an uncertainty within +3 % (see E.3). 7.6 Measurement of ripple amplitude 7.6.1 Requirements for an Approved Measuring System The ripple amplitude shall be measured with an overall uncertainty within +10 % of the tipple amplitude or #1 % of the arithmetic mean value of the direct voltage, whichever is larger. Separate Measuring Systems may be used to measure the mean value of the voltage and the ripple amplitude, or the same converting device can be used with two separate instruments.TEC GO PT*2 94 MM 484485) 0573277 855 mm -50- 60-2 © CEI:1994 Les essais de 7.6.2 et 7.6.3 doivent s'appliquer seulement aux Systémes de Mesure Utilisés pour mesurer ‘amplitude de t'ondulation et figurer dans "Essai de Détermination de Caractéristiques, 7.6.2 Mesure du coetticient de conversion a la fréquence d’ondulation Le coefficient de conversion du Systéme de Mesure doit étre déterminé a la fréquence fondamentale f de ‘ondulation, avec une incertitude ne dépassant pas +3 %. Ce coeff cient de conversion peut étre calculé comme le produit des coefticients de conversion de chaque constituant. 7.6.3 Comportement dynamique La fonction de transfert du Systéme de Mesure doit avoir une limite supérieure f, qui soit ‘supérieure & 10 fois la fréquence fondamentale f de londulation.TEC 6O PTs2 94 MM 4844891 0573278 79) Mm 60-2 © IEC:1994 -51- The tests specified in 7.6.2 and 7.6.3 shall be applied only to systems used to measure the ripple amplitude and are Performance Tests, 7.6.2 Measurement of the scale factor at the ripple frequency The scale factor of the Measuring System shall be determined at the fundamental frequency f of the ripple, with an uncertainty within #3 %. This scale factor may be deter- mined as the product of the scale factors of the components. 7.6.3 Dynamic behaviour The upper limit frequency f, of the amplitude/trequency response of the Measuring System shall be greater than 10 times the fundamental frequency fof the ripple.TEC 60 PT*2 94 MH 4844892 0573279 bes me -52- 60-2 © CEI:1994 8 Mesure d'une tension alternative 8.1 Prescriptions pour un Systéme de Mesure Approuvé La prescription générale est de mesurer la valeur créte ou efficace de la tension d'essai, & sa fréquence nominale, avec une incertitude globale ne dépassant pas +3 %. 8.1.1 Stabilité des coetticients de conversion Les coefficients de conversion du dispositit de conversion et du systéme de transmission ne doivent pas varier de plus de +1 % a l'intérieur des domaines de température et de distances de garde données dans le Recueil de Caractéristiques. Les instruments de mesure devront satistaire aux prescriptions des appareils de classe 0.5 de la CEI 51 ou doivent étre essayés selon cette norme. Si un voltmétre de créte est utilisé, son incertitude doit étre inférieure ou égale & +1 %. 8.1.2 Comportement dynamique La fonction de transfert du Systéme de Mesure ne doit pas varier de plus de +2 % entre 0.2 fois et sept fois la fréquence de Ia tension d'essai. Quand la présence de lobjet en essai augmente le spectre d'harmoniques au-del& du septiéme, la fonction de transfert ne doit pas varier de +2 % jusqu’a la plus haute fréquence harmonique significative. Des Prescriptions spéciales peuvent étre demandées par le comité technique compétent. NoTEs 1 Dans cortains cas. it peut ste nécessaire de mesurer las transitoies de tension superposés & la tension ‘alterative. Aucune prescription n'est donnée ici, mals on peut se reporter a Tarile 9 qui donne des ‘4iéments dinformation. 2 Quelques générateurs ne générent pas dharmoniques (par exemph ‘sources résonantes «série 8.2 Essais de réception sur les constituants pour un Systéme de Mesure Approuvé Les prescriptions des essais de type peuvent étre satistaites par des essais exécutés sur un constituant de la méme conception ou parfois a partir des données constructeur. Les essais de routine doivent étre effectués sur chaque constituant. Voir article 5 pour les détails et 4.4.2 pour les exce Les constituants d'un Systeme de Mesure doivent se conformer aux prescriptions des essais de type et des essais de routine suivants: Essais de type: = effet de ta température sur le dispositit de conversion et le systéme de transmission et leur coefficient de conversion (5.6), = stabilité a long terme (5.5), effet de proximité (si nécessaire) (5.7), = _ essai de tenue diélectrique sous pluie ou sous pollution sur le dispositif de conver- sion (s'ils sont demandés) (5.9), - comportement dynamique (5.8).TEC 6O PTx2 94 MM 484489) 0573280 34T om 60-2 © IEC:1994 -53 8 Measurement of alternating voltage 8.1 Requirements for an Approved Measuring System ‘The general requirement is to measure the peak or the r.m.s. value of a test voltage at its rated frequency with an overall uncertainty within £3 %, 8.1.1 Stability of the scale factor The scale factors of the converting device and the transmission system shall not vary by more than £1 % for the ranges of the ambient temperature and clearances given in the Record of Performance. Measuring instruments shall comply with the requirements of class 0,5 of IEC 51 or shall be tested according to this standard. If a peak voltmeter is used, its uncertainty shall be within 1%, 8.1.2 Dynamic behaviour ‘The amplitude/trequency response of the Measuring System shall not vary by more than #2 % between 0,2 times and seven times the frequency of the test voltage. When the presence of the test object enhances the harmonic content above the seventh harmonic the amplitude/trequency response shall not vary by more than +2 % up to the frequency of the highest significant harmonic. Special requirements may be specified by the relevant technical committee. NOTES 1. In contain cases, it may be necessary to measure voltage transients superimposed on an alternating volt- ‘age. No requirements for this are given here but some guidance may be obtained from clause 8. 2 Some sources do not generate harmonics (tor example, series resonant test sets). 8.2 Acceptance tests on components for an Approved Measuring System The requirements of the type tests can be met by tests on a unit of the same type or sometimes from manutacturer’s data. Routine tests shall be performed on each unit. See clause 5 for details and 4.4.2 for exceptions. ‘The components of a Measuring System shall meet the requirements of the following type and routine tests: Type tests: — temperature effect on the converting device and the transmission system and on their scale factors (5.6), long-term stability (5.5), = proximity effect (it required) (5.7), wet or polluted withstand test on the converting device (it required) (5.9), = dynamic behaviour (5.8)TEC bO PT#2 94 MH 4844853 0573281 286 mm = 54— 60-2 © CEI:1994 Essais de routine: ~ détermination des coefficients de conversion (5.2), = linéarité (6.3, autres méthodes 8.2.1), — stabilité & court terme (5.4), - essai de tenue diélectrique a sec sur le dispositif de conversion (5.9). 8.2.1. Prescriptions pour lessai de linéarité et des autres méthodes Liessai de linéarité doit étre réalisé selon 5.3. Autres méthodes: a) Comparaison avec un éclateur 4 sphéres Le Systéme de Mesure doit étre vérifié par rapport & un &clateur & sphares utilisé selon 8.5 de la CEI 82. L’essai doit étre effectué avec un réglage de I'écartement de Vintervalle correspondant aux valeurs minimale et maximale du domaine de tension de fonctionnement et pour trois autres réglages de I'intervalle & peu prés également répartis entre ces deux extrémes. Lessai complet de linéarité doit étre fait en un temps réduit de facon a ce que les corrections climatiques ne soient pas nécessaires. Si chacun des cing rapports de la tension d'amorgage de l'intervalle & la grandeur de sortie du systéme soumis a essai est intérieur & +1 % de leur valeur moyenne, le systéme en essai pout étre considéré ‘comme linéaire. b) Essai spécitique aux dispositifs constitués de plusieurs condensateurs Pour un dispositit de conversion constitué de plusiours condensateurs, un essai décomposé suivant les trois étapes décrites ci-dessous est réalisé: = _un essai de type sur un dispositif de conversion complet équivalent (équipé avec ses électrodes) comme presorit en 5.3, ~_une mesure de la capacité de chaque condensateur aux cing niveaux de tension spécitiée en 5.3. La valeur de la capacité de chaque élément ne doit pas changer sur tout le domaine de tension de plus de 1 %, = le dispositit de conversion total doit étre exempt d'effet couronne audible ou visible ala Tension Assigné pour la Mesure. ¢) Comparaison avec la tension a‘entrée d'un transformateur ou d'un transformateur cascade Le Systéme de Mesure doit étre connecté pour mesurer 1a sortie du transformateur. La sortie du Systeme de Mesure doit étre véritiée par rapport a la tension d'entrée du transformateur. Les essais seront réalisés pour les valeurs minimale et maximale du domaine de tension de fonctionnement et pour trois valeurs de tension & peu pres également réparties entre ces extrémes. Si chacun des rapports de fa tension mesurée et de la tension d'enteée correspondante ne différe pas de +1 % de leur valeur ‘moyenne, le Systéme de Mesure peut étre considéré comme linéaire NOTE — On doit portor attention au changement possible du rapport de tension du transtormateur dd & la charge et aux caractéristiques non linéares du cicuit magnétique,IEC bO PT#2 94 MM 4844892 0573262 112 Mm 60-2 © IEC:1994 ~55- Routine tests: = determination of the scale factors (5.2), linearity test (5.3, additional alternative methods 8.2.1), ‘= short-term stability (5.4), ~ dry withstand test on the converting device (5.9) 8.2.1 Lineanty test: requirements and additional alternative methods ‘The linearity test shall be made according to 5.3. Additional alternative methods are: a) Comparison with a sphere-gap The Measuring System shall be checked against a sphere-gap used according to 8.5, of IEC 52. Tests shall be made with gap spacings corresponding to the minimum and maximum values of the operating voltage range and at three approximately equally spaced gap settings between these extremes. ‘The complete linearity test shall be made in a short time so that atmospheric conditions do not change and hence corrections need not be applied. if each of the five ratios of the disruptive discharge voltage of the gap to the corresponding output of the system under test is within +1 % of their mean value then the system can be considered linear. b) Method for multi-section capacitor converting devices For a converting device consisting of several identical high-voltage units a test consist- ing of the following three steps shall be made: = _a type test on an equivalent complete converting device (equipped with its elec- trodes) as specitied in 5.3, = measurement of the capacitance of each high-voltage unit at the five voltages specified in 5.3. The capacitance of each unit shall not change over the voltage range by more than #1 %, = the assembled converting device shall be free from visible and audible corona at the Rated Measuring Voltage. ©) Comparison with the input voltage of a transformer or a transformer cascade ‘The Measuring System shall be connected to measure the output of the transformer. ‘The output of the Measuring System shall be checked against the input voltage of the transformer. Tests shall be made at the minimum and maximum values of the operating voltage range and at three approximately equally spaced voltages between these extremes. If each of the five ratios of the measured voltage to the corresponding input voltage is within 1 % of their mean value then the Measuring System is considered linear. NOTE - Attention should be paid to the possible variation of the voltage ratio ofthe transformer because of the load and non-tingar characteristis of the magnetic circuitTEC 60 PTx2 94 MM 48489) 0573283 O59 me ~56- 60-2 © CEI:1994 4) Comparaison avec la sortie o'un mesureur de champ électrique Le Systéme de Mesure doit étre vérifié par rapport A un mesureur de champ électrique, lacé de tagon 4 mesurer un champ électrique proportionnel a la tension & mesurer. Le ‘mesureur de champ électrique doit étre utilisé suivant les prescriptions correspondan- tes de la CEI 833. L’essai sera réalisé pour les valeurs minimale et maximale du do- maine de tension de fonctionnement et pour trois valeurs de tension a peu prés également réparties entre ces extrémes. Si chacun des cing rapports de la tension me- surée et de la valeur correspondante relevée sur le mesureur de champ électrique ne ditfére pas de #1 % de leur valeur moyenne, le Systéme de Mesure peut étre considéré comme linéaire. 8.2.2 Détermination du coefficient de conversion d'un voltmétre de créte Le coefficient de conversion doit étre déterminé en utilisant une tension sinusotdale connue a la fréquence nominale. NOTE — Les instruments indicatours autros que los voltmatres de crbte sont étalonnés suivant la CEI 51 83 Essai de Détermination des Caractéristiques Le Coetticient de Conversion Aftecté du Systame de Mesure doit étre déterminé selon 6.2. 8.4 Contrble des caractéristiques Le ou les coefficients de conversion d'un Systéme de Mesure Approuvé peuvent étre contrélés par 'une des méthodes suivantes. a) Contréle des coetticients de conversion de ses constituants Le ou les coetticients de conversion de chaque constituant peuvent étre contrélés en utilisant des calibrateurs internes ou externes dont lincertitude ne dépasse pas +1 %. Si la différence de chaque coefficient de conversion ne différe pas de sa valeur précé- dente de plus de £1 %, le Coetticient de Conversion Affecté du Systéme de Mesure est ‘considéré comme valide. Si une seule des différences est supérieure & +1 %, le Coefficient de Conversion Aftecté doit étre déterming & nouveau (voir le troisiéme alinéa de 4.2). b) Contréle du coefficient de conversion du Systéme de Mesure Une comparaison est faite avec un autre Systeme de Mesure Approuvé selon 6.2 a) ou avec un Dispositit de Mesure Approuvé par la CEI utilisé suivant les principes de la CEI 52. Si la diftérence entre les deux valeurs mesurées n'est pas supérieure A +3 %, le Coetfi- cient de Conversion Affecté est considéré comme valide. Si cette ditférence est plus importante, le Coefficient de Conversion Affecté devra étre déterminé & nouveau (voir le troisiame alinéa de 4.2), 8.5 Dispositit de Mesure Approuvé par la CEI L’éclateur a spheres, utilisé suivant la CEI 52, est un Dispositif de Mesure Approuvé par la CEI pour fa valeur créte avec une incertitude ne dépassant pas +3 %.TEC 60 PTx2 94 MM 484485) 0573284 TIS mm 60-2 © 1EC:1994 ~57- 8) Comparison with the output of an electric-field measuring instrument ‘The Measuring System shall be checked against an electric-field measuring instrument which is so located that it measures a field proportional to the voltage being measured. The electric-field measuring instrument is used according to the relevant requirements of IEC 833. The test shall be made at the minimum and maximum values of the operat- ing voltage range and at three approximately equally spaced voltages between these extremes. If each of the five ratios of the measured voltage to the corresponding measured electric field is within +1 % of their mean value then the Measuring System is considered linear. 8.2.2 Determination of the scale factor of a peak voltmeter The scale factor shall be determined using a known sinusoidal voltage of rated frequency. NOTE ~ Incicating instruments other than peak voltmeters are calibrated according to IEC 5 8.3 Performance Test on Measuring Systems The Assigned Scale Factor shall be determined according to 6.2 8.4 Performance Check The scale factor(s) of an Approved Measuring System can be checked by one of the follow- ing methods. a) Check of the scale factors of the components The scale factor(s) of each component can be checked using internal or external cali- brators having an uncertainty within +1 %. If each scale factor differs trom its previous value by not more than £1 %, the Assigned Scale Factor is taken as still valid. If any difference exceeds +1 % then a new value of the Assigned Scale Factor shall be deter- mined (see third paragraph of 4.2). b) Check of the scale factor of the Measuring System A comparison shall be made with another Approved Measuring System with the procedure of 6.2 a) or with an IEC Standard Measuring Device according to IEC 52. When the difference between the two measured values is within £3 %, the Assigned ‘Scale Factor is taken as still valid. When the difference is larger, then the Assigned Scale Factor shalll be determined again (see third paragraph of 4.2). 8.5 IEC Standard Measuring Device ‘The sphere-gap, used according to IEC 52, is an IEC Standard Measuring Device for the peak value with an uncertainty within £3 %,TEC BO PTx2 94 MM 4844891 0573285 921 mm -58- 60-2 © CEI:1994 9 Mesures des tensions de chocs de foudre 9.1. Prescriptions pour un Systéme de Mesure Approuvé Les prescriptions générales sont: ~_ de mesurer la valeur créte des chocs de foudre pleins avec une incertitude globale ne dépassant pas £3 %, = _de mesurer la valeur créte des chocs de foudre coupés avec une incertitude globale 6 qui dépend de la durée jusqu’a la coupure T, comme suit: Pour des chocs coupés sur le front @< £5 % (0.5 us s T, <2 us) Pour des chocs coupés sur la queue es £3 % (7,2 2 us) = de mesurer les paramatres de temps qui détinissent la forme d'onde du choc avec Une incertitude ne dépassant pas +10 %, = de mesurer les oscillations qui peuvent étre superposées sur un choc pour s‘assurer qu’elles ne dépassent pas les niveaux autorisés donnés dans la CEI 60-1. NoTES 1 Les chocs coupds avee T, < 0,6 ps sont a Fétude 2 Aucune recommandation explicite n'est donnée pour la mesure de Fetfondrement do la tension d'un choc coups dans la mesure ot aucun comité CEI relat & Tapparoilage n'a, jusqu'a présent, epéclé de prescriptions. 9.1.1 Stabilité des coefficients de conversion Les coetticients de conversion du dispositif de conversion et du systéme de transmission ne doivent pas varier de plus de +1 % a \'intérieur des domaines de température et de distances de garde données dans le Recueil de Caractéristiques. Les instruments de mesure devront satisfaire A la CE! 790 ou & la CEI 1083-1 9.1.2 Comportement dynamique Le comportement dynamique d'un Systéme de Mesure permet la mesure des valeurs oréte de tension et des parametres de temps sur tout le domaine de formes d'onde spécitiées dans le Recueil de Caractéristiques quand: — le coefficient de conversion est constant a I'intérieur des limites suivantes soit: £1 % pour les chocs pleins et ceux coupés sur la queue, et #3 % pour les chocs coupés sur le front, = Tincertitude des paramétres de temps mesurés par le systéme est inférieure ou égale 410%. Pour reproduire les oscillations qui peuvent étre superposées & la forme donde, les limites suivantes sur la fréquence maximale f, du Systéme de Mesure ou sur le temps de réponse partiel T,, devront étre respectées: Pour les oscillations au niveau de la créte: fy > 5 MHz ou T, < 30 ns Pour les oscillations au niveau du front: f, > 10 MHz ou T,, < 15 ns.TEC BO PT*2 94 MM 484485) 0573286 ba me 60-2 © IEC:1994 -59- 9 Measurement of lightning Impulse voltage 9.1 Requirements for an Approved Measuring System The general requirements are: = to measure the peak value of full impulses with an overall uncertainty within £3 %, = to measure the peak value of chopped impulses with an overall uncertainty e which is dependent on the time to chopping T, as tollows: for front-chopped impulses @< +5 % (0.5 ps < T, <2us) for tail-chopped impulses. 0 #3 % (for 7,2 2 ps) = to measure the time parameters which define the waveform with an overall un- certainty within +10 %, = to measure oscillations which may be superimposed on an impulse to ensure that they do not exceed the permitted levels given in IEC 60-1. NoTES 41. Chopped impulses with T, <0,5 ys are under consideration. 2 No recommendations are given for the measurement of vollage collapse since no IEC apparatus committee has yet specified a requirement. 9.4.1 Stability of the scale factor ‘The scale factors of the converting device and the transmission system shall not vary by ‘more than +1 % for the ranges of the ambient temperature and clearances given in the Record of Performance. The measuring instrument shall comply with IEC 790 or IEC 1083-1. 9.1.2 Dynamic behaviour ‘The dynamic behaviour of a Measuring System is adequate for the measurement of peak voltage and time parameters over the range of waveforms specified in the Record of Performance when: = the scale factor is constant within the following limits: within £1 % for full and tail-chopped impulses within £3 % for front-chopped impulses ~ the uncertainty of the time parameters measured by the system is within £10 %. To reproduce oscillations that may be superimposed on an impulse, the relevant limits on the upper limit frequency f, of the Measuring System or on the partial response time T, should be: for oscillations on the peak: f, > 5 MHz or T, < 30 ns f,> 10 MHz or T, < 15 nsTEC BO PTx2 94 MM 484489) 0573287 774 om -60- 60-2 © CEI:1994 Historiquement, un seul Systéme de Mesure était utllisé pour mesurer tous les paramétres spécifiés, c'est-a-dire la valeur créte, les paramétres de temps et les oscillations. Actuc lement, de nombreux systémes qui pourralent étre approuvés pour des mesures de valeur de oréte et de paramatres de temps ne peuvent pas étre approuvés pour la mesure des oscillations. Dans ce cas, un Systéme de Mesure peut étre approuvé pour les mesures de valeur créte et des paramétres temporels alors qu'un systéme auxiliaire est approuvé pour les mesures des oscillations (si nécessaire, 4 une tension plus faible) 9.1.3 Connexion a objet en essai Le dispositit de conversion doit étre connecté directement aux bornes de l'objet en essai. Le dispositi de conversion ne doit pas étre connecté entre a source de tension et objet en essai. La connexion au dispositit de conversion doit étre telle que le Systéme de Mesure ne soit parcoury que par son propre courant. Il convient que le dispositit de conversion soit placé de facon & rendre négligeable les couplages entre les circuits de mesure et dessai. 9.2 Essais de réception sur les constituants pour un Systéme de Mesure Approuvé Les prescriptions des essais de type peuvent étre satistaites par des essais exécutés sur un constituant de la méme conception ou quelquefois a partir des données constructeur. Les essais de routine doivent étre effectués sur chaque constituant. Voir article 5 pour les détails et 4.4.2 pour les exceptions. Les constituants d'un Systéme de Mesure doivent se conformer aux prescriptions des essals de type et des essais de routine suivants: Essais de type: ~ effet de ta température sur le dispositi de conversion et le systéme de transmission et leur coetticient de conversion (5.8), = stabilité & long terme (5.5), ~ effet de proximité (si nécessaire) (5.7), = _ essai de tenue diélectrique sous pluie ou sous pollution sur le dispositit de conver- sion (s'ils sont demandés) (5.9), ~ essai de perturbations sur un systéme de transmission inciuant les éléments actits (6.4), ~ comportement dynamique (5.8). Essais de routine: ~ détermination des coetticients de conversion (5.2), = linéarité (5.3, autres méthodes 9.2.1), = stabilité & court terme (5.4), ~ essai de tenue diélectrique a sec sur le dispositif de conversion (5.9).TEC 60 PTx2 94 MM 484489) 05739288 630 Mm 60-2 © IEC:1994 ~61- Historically, one Measuring System has been used to measure all of the required quanti- ties, ie. the peak value, the time parameters, and oscillations. However, many systems which could be approved for measurements of peak value and time parameters cannot be approved for measurements of oscillations. In this case a Measuring System may be approved for measurements of peak voltage and time parameters while an auxiliary system is approved for measurements of oscillations (at a lower voltage if necessary). 9.1.3 Connection to the test object The converting device shall be connected directly to the terminals of the test object. The converting device shall not be connected between the voltage source and the test object. The lead to the converting device shall carry only the current to the Measuring System. The converting device should be placed so that coupling between the test and measuring circuits is negli 9.2. Acceptance tests on components for an Approved Measuring System The requirements of the type tests can be met by tests on a unit of the same type or ‘sometimes from manufacturer's data. Routine tests shall be performed on each unit. See clause 5 for details and 4.4.2 for exceptions. ‘The components of a Measuring System shall meet the requirements of the following type and routine tests: Type tests = temperature effect on the converting device and the transmission system and on their scale factors (5.6), = long-term stability (5.5), = proximity effect (if required) (5.7), - wet or polluted withstand test on the converting device (if required) (5.9), = interference test on a transmission system with active elements (6.4), - dynamic behaviour (5.8) Routine tests: ~ determination of the scale factors (5.2), ~ linearity test (5.3, additional alternative methods 9.2.1), ~ short-term stability (5.4), - dry withstand test on the converting device (5.9).TEC bO PT*2 94 MM 4844851 0573289 577 Me -62- 60-2 ©CEI:1994 9.2.1 Prescriptions pour essai de linéarité et autres méthodes Lessal de linéarité doit étre réalisé selon 5.3 pour chacune des polarités pour lesquelles le systame doit étre approuvé et avec des chocs d'une seule forme d’onde. Des choes de foudres pleins peuvent étre utilisés pour établir la linéarité des Systemes de Mesure pour les chocs de foudres coupés. Autres méthodes: a) Comparaison avec un éclateur 4 sphéres Le Systéme de Mesure est vérifié par rapport a un éclateur a sphares, utilisé selon 9.5. L'essai doit étre effectué avec un réglage de I’écartement de I'intervalle correspondant aux valeurs minimale et maximale du domaine de tension de fonctionnement et pour trois autres réglages de la tension & peu prés également répartis entre ces deux extrémes. essai complet de lingarité doit étre fait en un temps réduit de fagon a ce que les corrections climatiques ne soient pas nécessaires. Si chacun des cing rapports de la tension d'amorgage de 'éclateur & sphares a la grandeur de sortie du syst@me soumis 8 essai ne diffdre pas de plus de +1 % de leur valeur moyenne, le systéme en essal peut tre considéré comme linéaire. b) Essai spécitique aux dispositits constitués de plusieurs unités haute tension Pour un dispositif de conversion constitué de plusieurs unités haute tension, essai doit étre réalisé en trois étapes: = essai de type sur un dispositit de conversion complet de 1a méme conception (équipé de ses Electrodes) selon 5.3, ~_ un essai de linéarité de chaque unité selon 5. = le dispositit de conversion doit étre exempt d'effet couronne visible a la Tension Assignée pour la Mesure. ©) Comparaison avec la tension de charge du générateur de chocs Le Systéme de Mesure doit étre vérifié par rapport a la tension de charge du généra- teur de chocs. L'essai doit étre effectué aux valeurs minimale et maximale du domaine 4e tension de fonctionnement et pour trois autres réglages de la tension & peu pres répartis entre ces deux extremes. Si chacun des cing rapports de la grandeur de sortie du systéme a la tension de charge correspondante ne différe pas de #1 % de leur valeur moyenne, le Systeme de Mesure est considéré comme linéaire. NOTE - Dans cotte méthode il convient que les conditions da charge a Tinstant de la mise & fou du gén6- ‘ateur restontidantiques. 4) Comparaison avec la tension de sortie d'une sonde de champs électrique Le Systeme de Mesure doit étre vérifié vis-a-vis d'une sonde de champs placée de fagon & mesurer un champ proportionnel a la tension & mesurer. L'essai doit étre effectué aux valeurs minimale et maximale du fonctionnement et pour trois autres réglages de la tension peu prés également répartis entre ces deux extrémes. Si chacun des cing rapports de la tension mesurée au champs électrique correspondant mesuré ne différe pas de +1 % de leur valeur moyenne, le Systéme de Mesure est considéré comme linéaireTEC GO PTx2 94 MM 484489) 0573290 299 60-2 © 1EC:1994 63 9.2.1 Linearity test: requirements and additional alternative methods Linearity tests shall be made according to 5.3 using each polarity for which the system is fo be approved and lightning impulses with a single waveform. Full lightning impulses may be used to establish the linearity of Measuring Systems for chopped lightning impulses. Additional alternative methods: a) Comparison with a sphere-gap ‘The Measuring System shall be checked against a sphere-gap used according to 9.5. The test shall be made with gap spacings corresponding to the minimum and maximum values of the operating voltage range and at three approximately equally spaced gap settings between these extremes. ‘The complete linearity test shall be made in a short time so that no atmospheric changes ‘occur and hence no corrections need be applied. If each of these five ratios of the dis- tuptive discharge voltage of the sphere-gap to the corresponding output of the system under test is within +1 % of their mean value then the system can be considered linear. b) Method for multi-section converting devices For a converting device consisting of several identical high-voltage units a test consist- ing of the following three steps shall be made = a type test on an equivalent complete converting device (equipped with its elec- trodes) according to 5.3, - alinearity test of each unit according to 5.3, = the assembled converting device shall be free from visible corona at the Rated Measuring Voltage. ©) Comparison with charging voltage of the impulse generator The Measuring System shall be checked against the charging voltage of the impulse generator. Tests shall be made at the minimum and maximum values of the operating voltage range and at three approximately equally spaced voltages between these exiremes. if each of these five ratios of the measured voltage to the corresponding charging voltage is within 1 % of their mean value then the system can be considered linear. NOTE ~ In this method the charging conditions at the instant of fing the impulse generator should be the same, 4) Comparison with the output of an electric-field measuring instrument ‘The Measuring System shall be checked against an electric-field measuring instrument which is $0 located that it measures a field proportional to the voltage being measured. The test shall be made at the minimum and maximum values of the operating voltage range and at three approximately equally spaced voltages between these extremes. If each of the ratios of the measured voltage to the corresponding measured electtic field is within £1 % of their mean value then the Measuring System is considered linear.TEC BO PTx2 94 MH 484489) 0573293 125 me ~64~ 60-2 © CEI:1994 9.3 Essais de Détermination des Caractéristiques sur des Systemes de Mesure Les essais suivants doivent étre réalisés: - détermination du Coefficient de Conversion Affecté (9.3.1), - comportement dynamique (9.3.1), — essais de perturbations (6.4). 9.3.1. Détermination du Coetticient de Conversion Attecté et de I'Epoque(s) Nominale(s) (comportement dynamique) a) Méthode de référence Le Coefficient de Conversion Affecté et le comportement dynamique doivent étre déterminés par comparaison avec un Systéme de Mesure de Référence, en utilisant la rocédure donnée en 6.2 a) et 6.9 a). L'Epoque Nominale doit tre déterminge & l'aide de chocs avec deux formes d'onde différentes telles que: Pour les chocs pleins et coupés sur la queue: ~_ le temps de front le plus court donne f,,, (voir 3.6.1), = le temps de front le plus grand donne tray (Voir 3.6.1), = il convient que ces deux formes d’onde aient (approximativement) le plus long des temps & mi-valeur pour lequel le systéme doit étre approuvé. Pour les chocs coupés sur le front: ~ la durée jusqu’a la coupure la plus courte donne {,,, (voir 3.6.1), — la durée jusqu’a la coupure la plus tongue donne f,,, (voir 3.6.1), Aiternativement une des méthodes suivantes peut étre utilisée: b) une mesure comparative avec une seule forme d'onde compiétée par la mesure de la réponse indicielle. Une mesure comparative & l'aide de chocs pleins doit étre réalisée par rapport & un Systime de Mesure de Rétérence selon 6.2 a) et 6.9 a). La durée de front doit étre cai @t le temps & mi-valeur Tong, doit étre le plus long des temps & mi-valeur pour wl le Systéme de mesure doit Sire approuvé. De plus la réponse indicielle du Systéme de Mesure doit étre mesurée selon 5.8.2. Le ou les Niveaux de Référence de la ou des Epoques Nominales ne doivent pas ditférer de plus de: +1 % pour choes pleins et coupés sur la queue +3 % pour chocs coupés sur le front du niveau de la réponse indicielle & T,.q) OU s'il y a des oscillations superposées sur la réponse dans I'Epoque Nominale on doit démontrer que: ~ le temps de stabilisation f, < fj, pour chocs pleins et coupés, ~ le temps de réponse résiduel T(t) est inférieur A 1/200 sur toute Epoque Nominale pour les chocs coupés sur Ie tront. La réponse indiciolle ne doit pas changer de plus de 5 % entre fyi, €t Tomax OY Tomar est le plus long temps a mi-valeur pour lequel le systme doit étre"approuvs.TEC BO PTx2 94 MM 4844891 0573292 Ob) mm 60-2 © IEC:1994 -65- 9.3. Performance Test on Measuring Systems The following tests shall be made: ~ determination of the Assigned Scale Factor (9.3.1), - dynamic behaviour (9.3.1), ~ interterence test (6.4). 9.3.1 Determination of the Assigned Scale Factor and Nominal Epoch(s) (dynamic behaviour) a) Reference method The Assigned Scale Factor and dynamic behaviour of the Measuring System shall be determined by comparison with a Reference Measuring System, using the procedure given in 6.2 a) and 6.3 a). The Nominal Epoch shall be determined by using impulses with two different waveforms such that: For full and tail-chopped impulses: = the shorter front time gives ta, (See 3.6.1), — the longer front time gives tha, (See 3.6.1), ~ both these waveforms should have the longest time to half-value (approximately) for which the Measuring System is to be approved. For front-chopped impulses = the shorter time to chopping gives f,j, (see 3.6.1), — the longer time to chopping gives f,,,, (see 3.6.1). Alternatively, one of the following tests may be used: b) Comparative Measurement using impulses with a single waveform supplemented by a measurement of the step response A comparative measurement shall be made against a Reference Measuring System according to 6.2 a) and 6.3 a) using full impulses with a front time T,,q, and a time to half-value approximately equal to the longest time to half-value Tynqy for which the Measuring System is to be approved. In addition the step response of the Measuring System shall be measured according to 5.8.2. The Reference Level(s) of the Nominal Epoch(s) for which the system is to be approved shall not differ from the value of the step response at the time T,.,, by more than: £1 % for full and tail-chopped impulses £3 % for front-chopped impulses or if there are high-frequency oscillations on the step response in the Nominal Epoch, then it shall be shown that: = the settling time f, is less than f,,, for full and chopped impulses, = the residual response time Tait) is less than #/200 throughout the Nominal Epoch for front-chopped impulses. The step response shall not change by more than 5 % in the range tin 10 Tomay WHETE T, ramax i the longest time to half-value for which the system is to be approvedTEC 6O PT*2 94 MM 4844893 0573293 TTS mm -66- 60-2 © CEl:1994 ©) Mesure des coefficients de conversion des constituants et détermination des paramétres de réponse a partir de la réponse indicielle Le Coefficient de Conversion Affecté d'un Systéme de Mesure doit étre déterminé selon 6.2 b). La réponse indicielle d'un Systéme de Mesure doit étre déterminée selon 5.8.2. Elle doit étre constante a +1 % de fais & la Durée Equivalent Te de la forme d'onde utilisée pour la mesure du Coefficient de Conversion aftecté (voir 3.7.13). Pour des chocs pleins ou coupés sur la queue la réponse indicielle doit tre constante a £1 % prds pour Epoque Nominale. Sinon, si elle comporte les oscillations & haute fréquence, il suffit de montrer que le temps de stabilisation ¢, est infériour & fyjq. Pour des chocs coupés sur le front la réponse indicielle doit étre constante & +3 % prés pour Epoque Nominale. Sinon, si elle comporte les oscillations & haute fréquence, il suttt de montrer que la valeur absolue du temps de réponse résiduel p(t) est inférieure & 11200 sur toute "Epoque Nominale. De plus, la réponse indicielle ne doit pas différer de plus de 5 % du niveau de rété- fence pour la durée jusqu’a mi-valeur ta plus longue par laquelle on recherche approbation du systéme. NOTE ~ Les recommandations suivantes sont données pour aidor les laboratores & évaluer los Systimos do Mesure. On doit savoir que satisaire (ou pas toujours nécessaire) pour garantir des caractérstiques dynamiques satistaisantes pour le Systéme de Mesure, Pour la mesure de chocs ploins ou coupés sur la queue do durée du front T, il convient que le dépas- temps de réponse partcl T, soieat tols quo 8 ot T,/T, se sitvent dans la zone grisée de la Pour la mesure do chocs coupés sur le front dans la gamme de durée jusqu'a la coupure T, considérte, i! ‘convient que les conditions suivantes solent satistaites: ~ i! convient quo le tomps de stabilisation sot tol que: ust = convient que le tamps de réponse expérimental Ty ete temps de réponse partiolT, seiont tls que: Ta= 0.08 T, < Ty $0.03 T, = il convient que le tamps de distorsion initial T, sot tel qu T, $0,005 T, ‘Quand la réponse indicielle est utilisée pour évaluer les caractéristiques du Syst8me de Mesure, le Recueil de Caractéristiques doit contenir: = Fenregistrement de la réponse indicielle avec indication du niveau O, et la ligne horizontale correspondant & chaque Niveau de Référence, — les valeurs de T,, Ty. fet BTEC GO PTx2 94 MM 4844891 0573294 934 me 60-2 © IEC:1994 -67- ©) Measurement of the scale factors of the components and determination of the response parameters trom the step response The Assigned Scale Factor of the Measuring System shall be determined according to 6.2 b). The step response of the Measuring System shall be measured according to 5.8.2. The step response shall be constant within +1 % from t,,, up to the Equivalent Time T, of the waveform used for the measurement of the Assigned Scale Factor (see 3.7.13). For full and tall-chopped impulses the step response shall be constant within £1 % for the Nominal Epoch. Alternatively, if there are high+requency oscillations on the step response, itis sufficient to show that the settling time tis less than fyjq, For front- chopped impulses the step response shall be constant within +3 % in'this Nominal Epoch. Alternatively, if there are high-frequency oscillations on the step response. it is sufficient to show that the absolute value of the Residual Response Time Ta(t) is less than 1/200 throughout this Nominal Epoch. In addition, the step response shall not deviate from the reference level by more than 5 % for the longest time to half-value for which approval is sought. NOTE — The following recommendations are provided to assist laboratories in thelr assessment of Measur- ing Systems. itis emphasized that compliance with these recommendations ie not always sufficient (and may not always be necessary) to ensure adequate dynamic characteristics of a Measuring System, When measuring a full and tai-chopped impulées with a front time T,, the overshoot Band the partial 32 such that B and T,/T, are within the shaded area of figure 4 When measuring impulses chopped on the front in the range of chopping time T, to be considered, the {following conditions should be met = the ting time should be such that: yeh = the experimental response time Ty and partial response time T, should be such that t 03 T,< Ty 0,03 T, = and the initial distortion time T, should be small so that: T, £0,005 T, When the step response is used for assessing the characteristics of the Measuring System, the Record of Performance shall include: = the record of the unit step response, with the indication of O, and the horizontal tine corresponding to each Reference Level, ~ the values of T,, Ty. f, and B.TEC BO PT*2 94 MM 484489) 0573295 370 mm ~68- 60-2 © CEI:1994 9.3.2 Enregistrement de Rétérence (optionnel) En vue d'une utilisation pour les Essais de Contréle des Caractéristiques, la réponse Indiciele d'un Systeme de Mesure doit étre déterminé selon la méthode de 5.8.2. Cet enregistrement doit étre inclus dans le Recueil de Caractéristiques a titre d'Enregistre- ment de Rétérence («signature») en vue de détecter des variations dans le comportement dynamique lors d'Essais de Controle antérieurs (voir 9.4.1) 9.4 Contréle des caractéristiques 9.4.1 Contréle du costticient de conversion et du comportement dynamique Le ou les coefficients de conversion et le comportement dynamique d'un Systeme de Mesure Approuvé peuvent étre contrOlés par l'une des méthodes sulvantes. a) Contrble des coefficients de conversion de ses constituants et de la réponse indicielle du Systéme de Mesure Le ou les coetticients de conversion de chaque constituant doivent étre vérifiés a l'aide appareils d’étalonnage internes ou externes ayant une incertitude inférieure & £1 %. Si les coefficients de conversion different des valeurs antérieures de moins de 1 %, le Coefficient de Conversion Affecté du Systéme de Mesure est considéré comme encore valide. Toute différence supérieure & 1% nécessite la détermination de nouvelles valeurs des Coefficients de Conversion Affectés par un Essals de Détermination des Caractéristiques (voir le troisiéme alinéa de 4.2). ‘A chaque contrdle, la réponse indicielle doit étre enregistrée de la méme fagon et avec le méme circuit d'essai lors de lobtention de l'Enregistrement de Référence (oir 9.3.2). L’enregistrement de la réponse indicielle doit étre comparé a ceux des contrSles antérieurs. De petites variations sont possibles d'un contréle a lautre et le degré de variation acceptable sera déterminé au vu des contréles initiaux. Toute varia- tion importante doit étre examinée et un Essai de Détermination des Caractéristiques doit effectué. ») Comparaison avec un Systéme de Mesure Approuvé On effectuera la comparaison avec un autre Systeme de Mesure Approuvé (ou un Systéme de Mesure de Référence) selon la procédure donnée en 6.2 a) et 6.3 a) avec. une seule forme d’onde mais le nombre de chocs pourra étre choisi. Si la différence entre les deux valeurs mesurées n'est pas supérieure a £3 %, le Coefficient de Conver- sion Affecté est considéré comme encore valide. Si cette différence est supérieure, on doit déterminer une nouvelle valeur de ce Coetti- cient de Conversion Atfecté par un Essai de Détermination de Caractéristiques (voir le troisi@me alinéa de 4.2). La valeur de chaque paramatre de temps doit 6tre 2 moins de £10 % de la valeur correspondante mesurée par l'autre Systéme de Mesure. Toute ditférence supérieure & 10 % nécessite la détermination de nouvelles valeurs des limites d'Epoque Nominale par un Essai de Détermination de Caractéristiques (voir le troisiéme alinéa de 4.2).TEC G0 PTs2 94 MM 484485) 0573295 707 om 60-2 © IEC:1994 -69- 9.3.2 Reference Record (optional) When wanted for use in Pertormance Checks, the step response of the Measuring System shall be recorded using the method of 5.8.2. This shall be included in the Record of Performance for use as a Reference Record (“fingerprint”) to permit detection of changes in the dynamic behaviour at subsequent Performance Checks (see 9.4.1). 9.4 Performance Check 9.4.1 Check of scale factor and dynamic behaviour ‘The scale factor(s) and dynamic behaviour of an Approved Measuring System can be ‘checked by one of the following methods. a) Check of the scale factors of the components and the step response of the Measuring System The scale factor(s) of each component shall be checked using internal or external cali- brators having an uncertainty within +1 %. If the scale factors differ from their previous values by not more than 1%, the Assigned Scale Factor is taken as valid. If any diter- ence exceeds +1 % then a new value of the Assigned Scale Factor shall be determined in a Performance Test (see third paragraph of 4.2). In each check the step response shall be recorded in the same manner and in the same circuit as was used to obtain the Reference Record (see 9.3.2). The step response record shall be compared with those from previous checks. Small variations can bbe expected from check to check and the extent of acceptable variations shall be established by the early checks. Any large variations shall be investigated and a Performance Test shall be made. b) Comparison with an Approved Measuring System ‘A comparison shall be made with another Approved Measuring System (or Reference Measuring System) using the procedure given in 6.2 a) and 6.3 a) with a single waveform but the number of impulses used may be chosen. When the difference between the two measured values of the scale factor is less than 3 %, the Assigned Scale Factor is taken as still valid When the difference is larger, then a new value of the Assigned Scale Factor shall be determined in a Performance Test (see 4.2). The value of each time parameter shall be within £10 % of the corresponding value measured by the other Measuring System. When any difference is larger than 10 % then new values of the limits of the Nominal Epoch shall be determined in a Performance Test (see third paragraph of 4.2)TEC BO PT*2 94 MM 484489) 0573297 643 mm -70- 60-2 © CEI:1994 ©) Contréle du coefficient de conversion avec un éclateur 4 sphéres et mesure de la réponse indicielle du Systéme de Mesure La comparaison est effectuée avec un I'éclateur a sphares selon 9.5. Quand la diftérence entre les deux valeurs mesurées du Coefficient de Conversion n'est pas Supérieure & £3 %, le Coetticient de Conversion Affecté est considéré comme valide. Quand la différence est supérieur & 3 %, une nouvelle valeur du Coefficient de Conver sion Atfecté doit étre déterminée par un Essai de Détermination de Caractéristiques (voir le troisi¢me alinéa de 4.2). Lors de chaque contrble, la réponse indicielle sera mesurée de la méme manidre et our le méme circuit d’essai que celui utilisé pour obtenir I'Enregistrement de Rété- rence (voir 9.3.2). La réponse indicielle devra étre comparée avec celle obtenue lors des précédents contrdles. On peut s'attendre & de petites différences et le degré des variations acceptables devra étre déterminé par analyse des précédents controles. Toute variation plus importante devra faire objet d'investigations plus larges et un Essai de Détermination de Caractéristiques doit alors étre réalisé. 9.5 Dispositif de Mesure Approuvé par la CEI L’éclateur a sphéres, irradié a l'aide d'un éclateur de type a air libre et utilisé suivant les modalités de la CE! 52, est un Dispositif de Mesure Approuvé par la CEI pour la mesure des valeurs créte des chocs de foudre normalisés, avec une incertitude ne dépassant Pas 43 %. Lirradiation provenant d'une lampe & ultraviolets n’est pas considérée comme suttisante,TEC GO PTx2 94 MM 4844891 0573298 SAT a 60-2 © IEC:1994 n= ©) | Check of the scale factor with a sphere gap and measurement of the step response of the Measuring System ‘A comparison is made with a sphere gap according to 9.5. When the difference between the two measured values of the scale factor is not larger than 3%, the Assigned Scale Factor is taken as valid. When the difference Is larger, then a new value of the Assigned Scale Factor shall be determined in a Performance Test (see third paragraph of 4.2). In each check the step response shall be recorded in the same manner and in the same circuit as was used to obtain the Reference Record (see 9.3.2). The step response record shall be compared with those from previous checks. Small variations can be ex- ected from check to check and the extent of acceptable variations shall be established by the early checks. Any large variations shall be investigated and a Performance Test shall be made. 9.5 /EC Standard Measuring Device ‘The sphere-gap, Irradiated by an open spark but otherwise according to IEC 52, is an IEC Standard Measuring Device for measuring the peak values of a standard lightning impulse, with an uncertainty not exceeding +3 %. Irradiation from an ultraviolet lamp is not considered to be sufficient.TEC 6O PT#2 94 MM 4844852 0573299 41k a -T2- 60-2 © CEI:1994 10 Mesures de tension de chocs de manoeuvre 10.1. Prescriptions pour un Systéme de Mesure Approuvé Les prescriptions générales sont: ~__de mesurer la valeur créte des chocs de manoeuvre avec une incertitude globate ne dépassant pas +3 %, — de mesurer les paramétres temporels qui définissent la forme d’onde avec une incertitude ne dépassant pas +10 %. 10.1.1, Stabilité du coetticient de conversion Le ou les coetticients de conversion du dispositit de conversion et du systéme de trans- mission ne doivent pas varier de plus de +1 % a l'intérieur des domaines de température et de distances de garde indiquées dans le Recueil de Caractéristiques. Les instruments de mesure doivent satistaire aux exigences de la CEI 790 ou de la CEI 1083-1. 10.1.2 Comportement dynamique Le comportement dynamique d'un Systéme de Mesure est convenable si: = le Coefficient de Conversion Aftecté est constant & +1 % pour tout le domaine de formes d'ondes de chocs indiqué dans le Recueil des Caractéristiques, incertitude globale sur les paramatres de temps mesurés par le systame est infé- riure ou égale & #10 %. 10.1.3 Connexion a l'objet en essai Un Systéme de Mesure Approuvé doit étre connecté directement aux bornes de l'objet en essai. Pour les mesures de chocs de manoeuvre, le Systéme de Mesure peut étre interposé entre la source de tension et objet en essai contrairement au cas des chocs de foudre (voir 9.1.3). Les couplages entre les circuits de mesure et d'essai seront rédults au minimum. 10.2. Essais de réception sur les constituants pour un Systéme de Mesure Approuvé Les prescriptions des essais de type peuvent étre satisfaites par des essais exécutés sur un constituant de la méme conception ou pariois & partir des données constructour. Les essais de routine doivent étre etfectués sur chaque constituant. Voir article 5 pour les détails et 4.4.2 pour les exceptions. Les constituants d'un Systéme de Mesure doivent se conformer aux prescriptions des essais de type et des essais de routine suivants: Essais de type: ~ effet de la température sur le dispositi et leurs coefficients de conversion (5.6), = stabilité & long terme (5.5), ~ effet de proximité (si nécessaire) (5.7). = essai de tenue diélectrique sous pluie ou sous poliution sur le dispositit de conver- sion (s‘ls sont demandés) (5.9), ~ essai de perturbations sur un systéme de transmission incluant des éléments actts (6.4), ~ comportement dynamique (5.8). de conversion et le systéme de transmissionTEC 60 PT*2 94 MM 4844852 0573300 Ths am 60-2 © IEC:1994 -73- 10 Measurement of switching impulse voltage 10.1. Requirements for an Approved Measuring System ‘The general requirements are: - to measure the peak value of switching impulses with an overall uncertainty within £3 %, = to measure the time parameters which define the waveform with an overall un- certainty within +10 %. 10.1.1 Stability of the scale factor ‘The scale factors of the converting device and the transmission system shall not vary by more than +1 % for the ranges of ambient temperature and clearances given in the Record of Performance. The measuring instrament shall comply with IEC 790 or IEC 1083-1. 10.1.2 Dynamic behaviour ‘The dynamic behaviour of a Measuring System is adequate when: =_ the scale factor is constant within #1 % over the range of impulse waveforms specified in the Record of Performance, = the overall uncertainty of the measured time parameters is within +10 %. 10.1.3 Conneetion to the test object The Approved Measuring System shall be connected directly to the terminals of the test object. In contrast to measurements of Lightning Impulses (see 9.1.3), the Measuring ‘System may be interposed between the voltage source and the test object. The coupling between the test and measuring circuits should be negligible. 10.2 Acceptance tests on components for an Approved Measuring System ‘The requirements of the type tests can be met by tests on a unit of the same type or some- times from manutacturer’s data. Routine tests shall be performed on each unit. See clause 5 for details and 4.4.2 tor exceptions. The components of a Measuring System shall meet the requirements of the following type and routine tests: Type tests: — temperature effect on the converting device and the transmission system and on their scale factors (5.6), — long-term stability (5.5), = proximity effect (if required) (5.7), ~ wet or polluted withstand test on the converting device (it required) (5.9), ~ interference test on a transmission system with active elements (6.4), = dynamic behaviour (5.8).TEC BO PT*2 94 MM 4844893 0573301 974 mm -74- 60-2 © CEI:1994 Essais de routine: = détermination des coefficients de conversion (6.2), ~ lingarité (5.3, autres méthodes 10.2.1), ~ stabilité & court terme (5.4), essai de tenue diélectrique & sec sur le dispositif de conversion (5.9). 10.2.1 Prescriptions pour 'essai de linéarité et autres méthodes L’essai de linéarité doit étre réalisé selon 5.3 pour chacune des polarités pour lesquelles Je systéme doit étre approuvé et avec une seule forme d'onde. Autres méthodes: a) Comparaison avec un éclateur & sphéres Le Systéme de Mesure est vérifié par rapport a un éclateur & sphares utilisé selon 10.5. L’essai doit étre effectué avec un réglage de I'écartement de l'intervalle correspondant aux valeurs minimale et maximale du domaine de tension de fonctionnement et pour trois autres régiages de l'intervalle & peu prés également répartis entre ces deux extrémes. essai complet de linéarité doit étre fait en un temps réduit de facon a ce que les corrections climatiques ne soient pas nécessaires. Si chacun des cing rapports de la tension d'amorgage de lintervalle & la grandeur de sortie du syst8me soumis a I'essai ne différe pas de plus de A +1 % de leur valeur moyenne, le systéme en essai peut étre considéré comme linéaire. b) Essai spécifique aux dispositits constitués de plusieurs unités haute tension Pour un dispositit de conversion constitué de plusieurs unités haute tension, essai doit étre réalisé en trois étapes: = fessais de type sur un dispositit de conversion complet de la méme conception (équipé de ses électrodes) selon 5.3, = le coetticient de conversion de chaque unité doit étre mesuré aux cing niveaux de tension selon 5.3 et ne doit pas varier de plus de +1 % sur le domaine de tensions, = le dispositi' de conversion doit étre exempt d'eftet couronne visible & la Tension Assignée pour la Mesure. ¢) Comparaison avec la tension de charge du générateur de chocs Le Systéme de Mesure doit étre vérifié par rapport la tension de charge du géné- rateur de chocs. L’essai doit étre effectué aux valeurs minimale et maximale du domaine de tension de fonctionnement et pour trois autres réglages de lintervalle approximativement également répartis entre ces deux extrémes. Si chacun des cing rapport de la tension mesurée ne différe pas de +1 % de leur valeur moyenne, le ‘Systdme de Mesure peut étre considéré comme linéaire. NOTE — Dans cette méthode, il convient que les conditions de charge & instant de a mise a feu de géné- rataur restent identiquesTEC 6O PTx2 94 MM 4844891 0573302 830 mm 60-2 © IEC:1994 -75- Routine tests: = determination of the scale factors (5.2), ~ linearity test (5.3, additional alternative methods 10.2.1), = short-term stability (5.4), = dry withstand test on the converting device (5.9). 10. 1 Linearity test: requirements and additional alternate methods The linearity test shall be made according to 5.3 using each polarity for which the system is to be approved and switching impulses with a single waveform. Additional alternative methods are: a) Comparison with a sphere-gap ‘The Measuring System shall be checked against a sphere-gap according to 10.5. The test shall be made with gap spacings corresponding to the minimum and maximum values of the operating voltage range of the system and at three equally-spaced gap settings between these extremes. The complete linearity test shall be made in a short time so that no atmospheric changes occur and hence no corrections need be applied. Hf each of the five ratios of the disruptive discharge voltage of the sphere-gap to the corresponding output of the system under test is within #1 % of their mean value then the system can be considered linear. b) Method for multi-section converting devices For a converting device consisting of several identical units a test consisting of the following three steps shall be made: = _@ type test on an equivalent complete converting device (equipped with its electrodes) as specified in 5.3, = Measurement of the scale factor of each unit at the five voltages specified in 5. The scale factor of each unit shall not change over the voltage range by more than 1 %, ~ the assembled converting device shall be free from visible corona at the Rated Measuring Voltage. ©) Comparison with charging voltage of the impulse generator ‘The Measuring System shall be checked against the charging voltage of the impulse generator. Tests shall be made at the minimum and maximum values of the operating voltage range and at three approximately equally spaced voltages between these extremes. If each of these five ratios of the measured voltage to the corresponding charging voltage is within 1 % of their mean value then the system can be considered linear. NOTE ~ In this method the charging conditions at the instant of firing the impulse generator should be theTEC 60 PT*2 94 MM 4844893 0573303 777 -76- 60-2 ©CEI:1994 ) Comparaison avec la tension de sortie d'une sonde de champ Le Systéme de Mesure doit étre vérifié vis-a-vis d'une sonde de champs placée de fagon & mesurer un champ proportionnel a la tension & mesurer. L'essai doit étre effectué aux valeurs minimale et maximale du fonctionnement et pour trois autres réglages de la tension a peu prés également répartis entre ces deux extrémes. Si chacun des cing rapports de la tension mesurée au champs électrique correspondant mesuré ne différe as de #1% de leur valeur moyenne, le Syst8me de Mesure est considéré comme linéaire. 10.8 Essais de Détermination des Caractéristiques du Systéme de Mesure Les essais suivants doivent étre réalisés: - détermination du Coefficient de Conversion Affecté (10.3.1), = comportement dynamique (10.3.1), - essais de perturbations (6.4). 10.3.1 Détermination du Coetticient de Conversion Atfecté et de I'Epoque ou des époques ‘Nominales (comportement dynamique) a) Méthode de rétérence Le Coefficient de Conversion Affecté et le comportement dynamique doivent étre ays 9UNAEY SUUNERON argo © wea 2H10 4, (pepveunicon veo wp wor veo 7 nunae al scion ue 6 ous 0 ep wed oan vomeces 2 ~ z — _ ns a ~ _ _ ze 80 PHBE e = = Z — = = = or 2 neue i g = = = = T TT eenbenr | i 5 - eure i a a = = ~ = z z zi z u 2 1 9s 95 8s 5 ui z 5 _ ze ze z ze ue > 7 ~ 7 7 7 ss ss ss ss ‘Augers wser-Bu07 we za w = - - se ' = * + rs a fans wares # ~ 7 vee | ve Te _ _ ~ 0 y es es es a iy e wa zi z _ - - uo. re 8 es EA es 3 8 weeks woishs uershs conor | _swowey g 1 cqvewnneut | udsueven | srs aumonan 8 Tae ve ep nro 6 coueuoveg | covewoves sieeve worm oah, weisfg Buynseey e6ey0A yoouIp e UO SISeL ~ J4 e1eL60-2 © CEI:1994 -122- TEC BO PT#2 94 MM 484489) 0573349 67] om Teripnopoaeo ov noteu mp spuppae aap mop aogiies spies op Oo oop UO ‘eenpaynseing op jong ne sed andy ou sete uoenthucs me wenuaps one pis ee bust tn Seren ees ne fo ead feu I BUN (ot op ore) gpuouep i wongod eos wo ‘ coven ampmie ono 00 9 wo seunpntnnuca [29 ¢oaL0 Tm voce Lag WENp aonem op CTIA FT (eopseuwcoo) (pono mopneen” er rr on soronpu seaceatet ze oma : - = = zs = — (| oeameen yop wee _ _ = - _ _ _ (epuewep 1) = 5 eos i ‘epuEwep 12) mon : = = = = = - = | semmanese |) gan op a i a = z ze ze = varia] fl 7 7 7 7 os os os os BL OP 83 ” ze ze ze 7 |oum oom enews = - = - = ze ze ze =o [ower eae ze we zs = = — 7 conn 7 7 ws ws vs gungers ep sye883, = = we | vee [vas = : = ee |fecse ce ze ze ze ~ ~ ~ ~ ve s i 8 H wate ‘op eweishs: pede entnappones SePeIHUOD | sep uoRRUUIEO eulno ep s1e883, vondesp ep ‘@aeuseye Uo|sual B eNseW ap BWIAISAG UN ANS slessy - Z'4 NESIqeL=123- TEC 60 PTx2 94 MM 484489) 0573350 593 a (pepuewwores) wu s0K0000, e240 = — = = zo = — = = = = = = = = <7 wea = (peunbss 1) je Ayusrxor, _ - _ = - 7 zeus 7 joene Auipord - = - = ~ we | ge | i 50 | pope amenoue, z = = = = me Te |e fe cyumes = = me] — — — — Tawa vs vs vs a wens = = vee | ize | ee Po = = = me we 298 as as zs 7 7 7 7 201084 9182S ” A} guounnse | adams | eines | qieunaen Ls paces | Rese — aa 60-2 © IEC:1994 weishs Buynseow eBeyon Buneoye Ue UO sie ~ Z'4 O1GELTEC BO PTx2 94 MH 484489) 057335) 42T Mm 60-2 © CEI:1994 = 124- ‘senbjsupizeen op jensey ne sed eun6y ou s} (cppuewuo.s,) 0 edhoio1d ine “eves. oun, #eyeun sonpynpulsyesso,p no soguuep ep 10d y _ _ _ _ ze _ | eu _ es z _ 6 _ _ - _ — — v9 ze _ = _ ze ze | Gouewep | — _gonbiaukp re e8 8s es z's wustverodwoo - - - - - - - - sword 0p 1043 _ _ _ _ _ zs ze ze zs os 93 os 3s _ _ _ _ _ 6 ze ze ze ss ss ss ss _ _ 6 zs ze _ _ _ _ rs ¥s vs _ _ re6 ve8 re8 _ _ _ _ wees ee ea ea sepa op sess ee ze ze 26 _ - _ _ woysonv09 © re z9 zs zs zs reH}e09 ough ‘ugiehe {wossueuen] dep | aUewpD eeopepnrene ed sep eygnuen | sep uopsuuveeg eunnas op essa i091 ep s10563 ‘1pNo} ep soo\D ep ounsoW op eweIshg UN INS sess, ~ ea neageLIEC bO PT#2 94 MM 484489) 0573352 Job Me = 125- 60-2 © IEC:1994 eouewiojieg 0 snse1 eu) | Je "soUBULO}ed Jo pl0DeHy Buy JO In0 ¢| jesOdsIP 1861} 1 Kao qweweunsvaw uosyedwos 10 esuodses Kovent ‘poison 09 84s 10 spuepuers 031 1UEAS|es YM Aid ds au Jo 1no 078 YO0UD Je0k 186 @200 PUES AI oy we ‘esuodse! dois. ig fs euownasy Suunseon| «z geo BUELL IENIO eau80dK0 jepueuwwooe) oe Bupreaoy 00 e200 eahoroid uo 801 ze ee — 7 7 - es - 26°63 pH8e PUEISIAINN - By 7 - - - es S - 150 e9u010}:01 re vere 1501 eovevejei 6 = = _ zs ze = veneineueg rs £0 as Hy weuka Sera - 299 ANI ~ 7 7 7 > _ els yeye Ay Id ze zs ze ze edu ~ 7 7 7 7 3s os 9s os wed ze ze zs ze yum due 7 ~ ~ 7 7 ss ss ss ss a ool ze zs ze - ~ ~ — ew we ~ a” vs 7s vs ‘Augers wer 04s - _ 1e6 ree ize ~ _ ~ ~ es es es ee ze ze ze - ~ ~ ve eo 2s zs 2s woke woweke Seen | nee | aun selvownasuy fesiusveN | snap Buquoavnr 09) hep Bueauog 4 | eouewoned ‘886 ounnow ‘1801 od, worshg Buunseayy esindw Guiuiysy| € Uo s{So ~ e°4 BIGEL @ 1 f | i j i :TEC BO PTx2 94 MM 484489) 0573353 272 mm 60-2 © CEI:1994 ~ 126 - ‘senbysigioe.eg op jlonooy nv sed onby ou nbs -IOBIED 192119 1WeRjop no setuspUodse1i09 [30 SeWLOU XNe SeUL0)UC9 e”~g WEAIop esNsoU! 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Une technique alternative consiste & appliquer une tension au diviseur et 4 mesurer simultanément les tensions d’entrée et de sortie. Le rapport est alors obtenu en divisant la tension d'entrée par la tension de sort. Pour les diviseurs résistifs, les résistances des bras & haute tension et & basse tension sont souvent mesurées & faible tension continue avec un pont de Wheatstone ou avec un ‘ohmmetre pourvu qu'il ait une précision suffisante, Les rapports des diviseurs de type capacitit sont modifiés par les capacités parasites; il convient donc que leurs rapports soient déterminés avec les parties haute tension positionées de la méme fagon que durant les essais. Pour les diviseurs capaciifs ou résistits/capacitfs en série, la capacité des bras & haute tension peut étre mesurée au pont de Schéring ou avec un pont de mesure de rapport de transformation. utilisation d'un pont RLC d'usage général & basse tension n'est pas conseillée car les connexions et les capacités parasites seront incluses dans les mesures et le rapport en résultant sera donc erroneé. Pour les diviseurs capacitit/résistit en paralldie, la résistance et la capacité des bras haute tension peut étre mesurée en retirant temporairement les résistances du bras haute tension et en mesurant la capacité de la colonne restante a haute tension et en mesurant la capacité de la colonne restante a l'aide de la technique décrite ci-dessus. La résistance du bras haute tension est mesurée soit in situ soit aprés que les résistances aient été isolées de la colonne capacitive. Les rapports des résistances et des capacités dans les deux branches doivent étre égaux. Si on ne peut retirer les résistances du bras haute tension, le rapport peut étre déterminé en mesurant le rapport de la branche résistive en tension continue puis en véritiant la réponse du diviseur complet & une onde carrée. Le temps de montée de l'onde carrée doit étre tel que 1a réponse du diviseur ne soit pas oscillante. Les formes d’onde dentrée et de sortie doivent étre semblables sans présence de dépassement. Cette méthode est moins précise que les autres. G.2_ Sondes et atténuateurs externos UW convient d'éviter, par des précautions particulidres, les modifications accidentelles lorsqu'on utilise une sonde d'oscilloscope avec un diviseur de tension pour réduire le signal & un niveau convenable pour oscilloscope ou l'enregistreur numérique. Il est essentiel que la compensation de la sonde soit ajustée correctement avant toute mesure. Le compensation est véritiée en appliquant un signal de tension carré et en modifiant les constituants ajustables de la sonde ou des circuits d'atténuation et en observant a oscilloscope le signal de sortie de la sonde. W convient de noter que les générateurs de signaux carrés intégrés dans fa plupart des ‘oscilloscopes n’ont pas des temps de montée suffisamment rapides ou de niveau créte suffisamment long pour véritier ta compensation si la sonde doit étre utilisée pour la mesure de chocs de foudre normalisés. Il est donc recommandé diutiliser un générateur de signal externe avec un temps de montée inférieur & 0,1 us et un niveau de créte durant au moins 1 ms. Si la sonde est utilisée pour la détermination de la réponse indicielle d'un systéme de mesure, le temps de montée du signal carré doit étre inférieur & 2 ns.TEC bO PT¥2 54 MM 4844891 0573356 884 mm 60-2 © IEC:1994 131 Annex G (informative) Areas where special care is needed G.1_ Measurement of the scale factor of a divider (see 5.2) Divider ratios can be determined by measuring the impedances of the high-voltage and low-voltage arms separately. The ratio is then obtained by dividing the sum of the im- pedances by the impedance of the low-voltage arm. An alternative technique consists of applying a voltage to the divider and simultaneously measuring the input and output volt- ‘ages. The ratio is determined by dividing the input voltage by the output voltage. For resistor dividers, the resistance of the high-voltage and low-voltage arms are often measured with a low direct voltage by means of a Wheatstone bridge or by means of an ‘ohmmeter providing it has sufficient accuracy. ‘The ratios of capacitor-type dividers are affected by stray capacitance, therefore, their ratios should be determined with the high-voltage arms positioned in the locations normally occupied during the tests. For capacitor or series resistor/capacitor dividers, the capacitance of the high-voltage arms may be measured by means of a Schering bridge or a transformer ratio-arm bridge. The use of a low-voltage general purpose RLC bridge is not recommended because lead and stray capacitances can be included in the measurements and the resulting ré may be in error. For parallel resistor/eapacitor dividers, the resistance and capacitance of the high-voltage arms may be measured by temporarily removing the resistors from the high-voltage arm and measuring the capacitance of the remaining column using the technique described above. The resistance of the high-voltage arm is measured either in situ or when the resistors have been temporarily removed from the capacitor column. The ratios of the resistance and capacitances in the two branches of the divider should be equal. If the resistors cannot be removed from the high-voltage arm, the ratio may be determined by measuring the ratio of the resistive branch with direct voltage and subsequently checking the response of the completed divider to a square wave. The rise-time of the square wave should be such that the divider response is not oscillatory. The output and input waveforms should be the same without any evidence of overshoot. This method is less accurate than the others. G.2_ Probes and external attenuators ‘Special precautions should be taken to avoid accidental changes when an oscilloscope probe is used in conjunction with the voltage divider in order to reduce the signal to a level suitable for the digital recorder or oscilloscope. It is essential that the probe compensation be properly adjusted before making any measurement. The compensation is made by applying a square-wave voltage signal and altering the adjustable components of the robe or attenuator circuits while observing the output signal from the probe on the oscillo- scope screen, It should be noted that the built-in square-wave generators in most oscilloscopes do not have rise times which are fast enough or top levels which are long enough for compen- sation purposes if the probe is to be used for the measurement of standard lightning impulses. It is therefore recommended that an external signal generator be used which has a rise time less than 0,1 us and a top level of at least 1 ms duration. If the probe is to be used in the determination of the step response of the Measuring System, then the rise time of the square wave should be < 2 ns.TEC BO PTx2 94 MM 484489) 0573359 710 om = 132- 60-2 © CEI:1994 G.3_ Coefficient de conversion de sonde Le coefficient de conversion de certaines sondes d'oscilloscopes ne peut pas étre déterminé par des mesures d'impédance; dans ces cas il peut létre en appliquant a la sonde une tension qui peut étre mesurée avec un voltmatre externe et en mesurant la tension de sortie & oscilloscope (étalonné suivant les normes CEI correspondantes). La compensation de la sonde doit étre ajustée pour optimiser la réponse avant de réaliser ‘ces mesures. On peut utiliser un générateur d’échelon mono-coup et ou doit mesurer le niveau continu du signal d'entrée avant l'application de r'échelon. Sinon, un signal alternatit peut étre utilisé pourvu que sa fréquence soit compatible avec le voltmétre de mesure externe. Une autre technique consiste a utiliser un générateur d'impulsion normalisé (CE! 1083-1) sous réserve d'une précision adéquate. Quelle que soit la technique utilisée, le signal issu de la sonde ne doit pas différer de plus de 1% de celui au voltmétre externe ou du générateur d'impulsion étalon. Quand on utilise deux sondes similaires lors de mesures comparatives, un contréle utile consiste & connecter les deux sondes au méme signal d'entrée. Les deux formes d'onde obtenues ne doivent pas différer de plus de 0,5 % pour la mesure de I'amplitude et de plus de 1 % pour la mesure des paramétres de temps. G.4_ Niveaux d'utilisation appropriés Pour atteindre la précision requise pour les mesures de chocs, le coefficient de conver- sion du systéme de mesure doit étre ajusté de telle fagon que l'étendue du signal ocoupe Fessentie! de lécran. Sur en enregistreur 8 bits, cela correspondra a une incertitude sur amplitude voisine de 0,5 %. Si seulement 50 % de la pleine échelle de I'écran est uti sée, l'incertitude atteindra 1 % et si des déflexions plus faibles sont utilisées, les incertitu- des seront encore plus grandes. Ces incertitudes peuvent étre réduites en utilisant un enregistreur numérique 10 bits ou 12 bits, pourvu que la fréquence d'échantillonnage soit assez élevée pour mesurer la durée de front d'un choc de foudre normalisé. Une fréquence d'échantillonnage minimale de 60 millions d’échantillons par seconde (pas d'échantillonnage de 17 ns) est nécessaire our mesurer les chocs de foudre les plus rapides. I convient de vértier la précision d'un enregistreur numérique ou d'un oscilloscope incluant un atténuateur interne, de prétérence & l'aide d'un générateur dimpulsion normalisé. Quand on utilise deux voies lors de mesures comparatives, il convient de pratiquer pour les deux voies utilisées la véritication décrite ci-dessus. Les formes d’ondes mesurées ne doivent pas dittérer de plus de 0,5 % en amplitude et ne plus de 1 % pour les mesures des paramétres de temps. G5_ Précision des mesures de temps Les horloges internes des enregistreurs numériques modernes sont souvent suffisamment précises et stables pour que les erreurs a cet égard soient négligeables. Néanmoins il est nécessaire (et sutfisant) de démontrer que l'instrument de mesure satisfait aux exigences de la CEI 1083-1TEC 6O PTx2 94 M@ 484489) 0573360 432 mm 60-2 © IEC:1994 ~ 133 = G.3_ Probe scale factor The scale factor of some oscilloscope probes cannot be determined from impedance ‘measurements; in these cases the scale factor can be determined by applying a voltage to the probe which can be accurately measured by means of an external voltmeter and measuring the output voltage by the oscilloscope (calibrated according to relevant IEC. standards). The probe compensation must be adjusted for optimum response before making these measurements. A single-shot step generator can be used and the d.c. level before the application of the step is the input signal to be measured. Alternatively, an a.c. signal may be used providing its frequency is within the measuring capability of the external voltmeter. Another technique is to use a standard pulse generator {IEC 1083-1) providing it has adequate accuracy. Whichever technique is used, the probe signal should agree with the external voltmeter or the impulse calibrator to within 1 %. When two similar probes are being used during comparative measurements, a useful check can be performed by connecting both probes to the same input signal. The resulting waveforms should agree to within 0,5 % for measurements of amplitude and to within 1 % for ‘measurements of time parameters. G.4_ Use of appropriate levels In order to achieve the required accuracy during impulse measurements, the scale factor of the Measuring System should be adjusted so that the signal deflection occupies almost the full screen. On an 8-bit digital recorder this will result in an amplitude uncertainty of approximately 0,5 %. if only half-full screen deflection is used, the uncertainty will in- crease to 1 % and it smaller deflections are used the uncertainties will be even greater. These uncertainties may be reduced by using a 10-bit or a 12-bit digital recorder, provided the sampling rate is fast enough to measure the front time of a standard lightning impulse. ‘A minimum sampling rate of 60 million samples per second (sampling time = 17 ns) is, required in order to measure the fastest lightning impulses. The digital recorder or oscilloscope including any internal attenuator should be checked for accuracy, preferably by means of a standard pulse generator. When two channels are used during comparative measurements, the check described above for probes should also be used for the channels being used. The measured waveforms should agree to within 0,5 % for measurements of amplitude and to within 1 % for measurements of time parameters. G.5 Accuracy of time measurements Internal clocks in moder digital recorders are often sufficiently accurate and stable for errors from this source to be negligible. However it is necessary (and sufficient) to demonstrate that the instrument meets the requirements of IEC 1083-1.TEC 6O PT*2 94 MM 484489) 0573361 379 mm Publications de la CEI préparées par le Comité d’Etudes n° 42 52.1960) Recemmandatcns paut Is mesure des tensions a smoyen délaicur 3 ephires (ane sphire bla tee). 60: Techniques des esis &haue tension 60-1 1985) Promivepate: Diniions et prescription générales selves ux ssi. (602(1958) Pare Systemes de Mesure, 270(1981) —Merure des décharges panels 790(1984) _Orcilogaphes et volimtires de ete poor era de hoe. 833 1987) Mesure des chumps Glctiques fréquence indowiele. 1083: ~ Enregisreurs mamériques pour les mesures pendant les exis de choc hase tension. 1083-1 191) Pare 1: Prescriptions pour de ener nuné- rigues 1180: ~ Technique des etsts haute tension pou maténels 8 baste 1180-11982) Panie I Definition, prescriptions ot modabtéssla- 118021994) Pane 2 Mate dss, 152:~ Techniques des exsis 3 haste tension avec des choc & front ‘et pide, Panie 1: Systimes de mesure por les sarensions 3 front wis rapide. prodites dans les postes tous cavelppe méuligs i Holaton gazee. 1321-1 0994) Pubhcston 60-2 IEC publications prepared by Technical Committee No. 42 52(1960) _Resrumandations for volige measorement by meant of sphere-aps (one sphere eae). 3: High-valage est echniques 6041(1989) Par 1: General definitions and est rgsirements, 60201994) Pant2: Measuring Systems 270(1981) Paral discharge measuremeat 790 (1984) Oscilloscopes and pak vlimetr forimpulte ets 8331987) Measurement of power-frequncy electric fil, 1083: ~ Digial recorders for mearuremeats in high voltage impulse 1083-1 (1991) Put: Requirement for dial recorders. 1180:~ Hiph-voliage west echoes fo low-woage osipment. 1180-1 (1992) Par I: Definitions, est and proedare requirements 1180.2 0994) Pur 2: Test equipment. 1321s High-voltge testing techniques wit very fat impales, 1321-11984) Pa 1: Measuring systems for very fast front ‘overvoiages generated io gatinsulated substations.TEC 60 PT*2 94 MM 484489) 0573362 205 mm ‘Typeset and printed bythe IEC Central Office (GENEVA. SWITZERLAND