Ludomir JANKOWSKI ® Wszelkie prawa zastrzeżone

TECHNIKA ELASTOOPTYCZNEJ WARSTWY

POWIERZCHNIOWEJ
1. WPROWADZENIE
Jak to uprzednio przedstawiono, elastooptyka jest stosowana w badaniach
modeli obiektów rzeczywistych, przy czym z reguły pomiary przeprowadzane są za
pomocą transmisyjnych układów pomiarowych. Niekiedy, np. gdy pożądane jest
podniesienie czułości metody elastooptycznej lub badany model ma skomplikowany
kształt, pomiary prowadzone są w świetle odbitym. Schemat takiego pomiaru pokazano
na rys. 1a.
Możliwe jest również zastosowanie metody elastooptycznej w badaniach
obiektów rzeczywistych wykonanych z materiałów nie wykazujących efektu
dwójłomności wymuszonej. Technika pomiaru, polegająca na naniesieniu na
powierzchnię badanego obiektu cienkiej warstwy materiału dwójłomnego (tzw.
elastooptycznej warstwy powierzchniowej ), a następnie obserwacji w świetle odbitym
efektów optycznych wywołanych odkształceniami badanej powierzchni, nosi nazwę
techniki (metody) elastooptycznej warstwy powierzchniowej (TEWP). Schematy
pomiaru tą technika pokazano na rys. 1b-d.
a) b) zespół
polaryzatora (P)
model źródło światła

EWP

warstwa odblaskowa zespół analizatora (A)

badany
c) d)
obiekt

zwierciadło (T=50%) A pryzmat

elastooptyczna warstwa
powierzchniowa

Rys. 1. Schematy: a – badania modelu elastooptycznego w świetle odbitym,

b – badania techniką elastooptycznej warstwy powierzchniowej
(TEWP) w układzie V, c – badania TEWP w układzie T, d – badania
TEWP w układzie do skośnego prześwietlania.

Zaletą TEWP jest więc możliwość pomiaru odkształceń na powierzchni obiektu

wykonanego z rodzimego materiału (bez konieczności budowy modelu fizycznego),

1
przy czym zakres mierzonych odkształceń jest zależny praktycznie od doboru
właściwości materiału warstwy powierzchniowej. Z tego względu TEWP znajduje
zastosowanie m.in. w pomiarach odkształceń elementów maszyn, konstrukcji
budowlanych wykonanych z typowych materiałów (beton, cegła, drewno), skał,
elementów o dużej odkształcalności (np. wykonanych z gumy, tworzyw sztucznych),
kości ssaków, etc. Dzięki tej technice pomiaru możliwe jest analizowanie zjawisk
nieliniowych i dynamicznych, efektów anizotropii materiału badanego obiektu,
wykrywanie pęknięć zmęczeniowych, itp.

2. PODSTAWOWE ZALEŻNOŚCI
Podstawowe związki między naprężeniami i odkształceniami, a efektami
optycznymi w warstwie powierzchniowej opierają się na założeniu, że odkształcenia
występujące na powierzchni konstrukcji przekazywane są wprost na warstwę naklejoną
na tę powierzchnię, co wyrażają poniższe równości:

ε1w = ε1k; ε2w = ε2k; przy σ3 = 0 (1)

Wynika stąd, że:

( ε1 – ε2 )w = ( ε1 – ε2 )k (2)

a po uwzględnieniu podstawowego równania elastooptyki (1.22) oraz faktu

prowadzenia obserwacji w świetle odbitym, otrzymuje się zależność między różnicą
odkształceń głównych oraz efektem optycznym (rzędem izochromy) w warstwie:
( ε1 – ε2 )w = ( 1 + νw ) N fσ / 2 tw Ew = N fε / 2 tw (3)
Bezpośrednio z danych elastooptycznych (N i α) można wyznaczyć także odkształcenie
postaciowe:
γxyk = γxyw = ( ε1 – ε2 )w sin 2α = N fε sin 2α / 2 tw (4)

W zakresie liniowo-sprężystych odkształceń, naprężenia na powierzchni

badanego obiektu określają wzory:
( σ1 – σ2 )k = Ek N fε / 2 tw ( 1 + νk ) (5)
oraz
τxyk = Ek N fε sin 2α / 4 tw ( 1 + τk ) (6)

Powyższe zależności są prawdziwe dla cienkich warstw, rzędu dziesiątych

części milimetra. W praktyce, jedynie w badaniach niektórych zjawisk (np.
uplastycznienia metali) stosuje się warstwy o tak małej grubości. W ogólnym
przypadku, m.in. ze względu na stosowanie grubszych warstw, równość (1) jest
modyfikowana współczynnikami korekcyjnymi uwzględniającymi wpływ danego
czynnika na wartość mierzonych odkształceń, co można ogólnie zapisać w postaci:
( ε1 – ε2 )k = Ki ( ε1 – ε2 )w (7)
gdzie: Ki – i-ty współczynnik korekcyjny, określający ilościowy wpływ danego
czynnika na mierzoną różnicę odkształceń.

3. CZYNNIKI WPŁYWAJĄCE NA DOKŁADNOŚĆ POMIARU

W celu określenia przydatności materiału warstwy powierzchniowej do danego
zadania badawczego, stosuje się różne wskaźniki. Jednym z podstawowych jest tzw.
wskaźnik czułości, definiowany jako:

2
 Sσk = N / ( σ1 – σ2 )k (8)
Jeśli przyjąć, że czułość warstwy zależy od jej grubości (przy danej stałej
odkształceniowej fε), tj. Cw = 2 tw / fε , a odpowiedź obiektu na jednostkowe
odkształcenie określa współczynnik Ck = ( 1 + νk ) / Ek, to po uwzględnieniu równania
(5) otrzymamy:
Sσk = CwCk (9)
Z zależności (9) wynika, że dla danego materiału obiektu oraz warstwy, jej czułość
można zwiększyć jedynie poprzez zwiększanie grubości warstwy, co z kolei napotyka
na ograniczenia związane z występowaniem błędów związanych ze współpracą grubej
warstwy z badanym obiektem. Tak więc, w każdym konkretnym zadaniu badawczym
należy przeprowadzić analizę związaną z doborem odpowiedniej warstwy, a przede
wszystkim jej grubości.
Wskaźnik czułości można wykorzystać w praktyce np. do oszacowania
spodziewanej wartości rzędu izochromy. Przykładowo, badając obiekt, w którym
można oczekiwać pojawienia się strefy odkształceń plastycznych, przy spełnieniu
warunku plastyczności Tresci-Coulomba (σ1σ2 < 0), mamy:
( σ1 – σ2 )k = σpl oraz ( ε1 – ε2 )k = Ck σpl (10)
a stąd rząd izochromy odpowiadający pojawieniu się odkształceń plastycznych określa
wzór:
Npl = Ck Cw σpl = 2 ( 1 + νk ) tw σpl / Ek fε (11)
W przypadku zastosowania hipotezy energii odkształcenia postaciowego Hubera-
Misesa, w takich samych obszarach (tj. σ1σ2 < 0), warunek dla granicy obszaru
uplastycznionego ma postać:

0.933 ( σ1 – σ2 ) = σpl (12)

stąd
NplHM = 2 ( 1 + νk ) tw σpl / 0.933 Ek fε (13)

Do czynników istotnie wpływających na pomiar odkształceń techniką EWP

należą:

- efekt wzmocnienia badanego obiektu warstwą, który wynika ze współpracy obiektu i

warstwy o określonej sztywności; efekt ten należy uwzględnić przede wszystkim w
przypadku pokrycia warstwą znacznej części lub całej powierzchni obiektu. Dla
niektórych przypadków obciążenia współczynnik korekcyjny można wyznaczyć
analitycznie, rozpatrując warunki równowagi elementu konstrukcji z warstwą i bez niej.
Przykładowo, dla obiektu znajdującego się w płaskim stanie naprężenia, współczynnik
korekcyjny określa wzór:
K1 = 1 + ( 1 + νk ) tw Ew / ( 1 + νk ) tk Ek (14)
natomiast w przypadku pomiarów odkształceń zginania płyty przy wymuszonym
(zadanym) ugięciu, współczynnik K1 wynosi:
K1’ = tk ( 1 + Ew tw / Ek tk ) / ( tk + tw ) (15)
- efekt gradientu odkształceń po grubości warstwy, zależny od rodzaju obciążenia.
Przykładowo, w przypadku jednostronnego pokrycia cienkiej zginanej płyty warstwą

3
powierzchniową, poza efektem wzmocnienia, pojawia się gradient odkształceń po
grubości warstwy. Ponieważ mierzony efekt optyczny (rząd izochromy N) jest
uśredniany na drodze biegu promienia światła spolaryzowanego w materiale
dwójłomnym, współczynnik korekcyjny powinien uwzględniać to zjawisko. Jego
wartość można obliczyć ze wzoru:
K2 = ( 1 + BC )[ 4 ( 1 + BC3) – 3 ( 1 – BC2)2 / ( 1 + BC )] / ( 1 + BC ) (16)
w k2 k w2
gdzie: B = E ( 1 – ν )/E (1–ν ),
C = tw / t k .

Innym przykładem jest pomiar odkształceń skręcanych rur i prętów o przekroju

kołowym. Dla tego przypadku współczynnik korekcyjny określa wzór:
K2’ = 2 { 1 – Gw [( rwp / rz )4 – 1] / Gk [ 1 – ( rw / rz )4]} / ( 1 + rwp / rz ) (17)
gdzie: Gw,k = Ew,k / 2 ( 1 + νw,k ),
rwp - zewnętrzny promień warstwy,
rw,z – wewnętrzny/zewnętrzny promień rury.

- efekt różnicy liczb Poissona materiału konstrukcji i warstwy, występujący w pobliżu

krawędzi; współczynnik ten można obliczyć ze wzoru:

K3ν = [ Kν(x) – 1 ] (1 + νk ) / ( νw – νk ) (18)

gdzie: Kν(x) – funkcja aproksymująca zmiany rzędu izochromy,

x – odległość od krawędzi warstwy i obiektu,
Kν(x) = [( 1 + νw ) / ( 1 + νk )] exp {lg [( 1 + νk ) / ( 1 + νw )][ 1.51 x / t – 0.144 (x / tw)2]}
W przypadku jednoosiowego stanu naprężenia przyrost rzędu izochromy ∆N na
krawędzi warstwy można określić za pomocą wzoru:
∆N = ε1 tw ( νk – νw ) / fε (19)
Tak więc, dla νw = 0.36 i νk = 0.3, przy ε1 = 2 ∙ 10-3 i fε = 1 ∙ 10-3, ∆N wynosi 0.06
rz.iz., co przy N = 2 stanowi zaledwie 3% tej wartości. Jednak dla ν k = 0.5 przyrost
rzędu izochromy wywołany różnicą liczb Poissona wynosić będzie już 0.14 rz.iz., co
stanowi 7% N. Z kolei dla νk = 0.2 (np. beton) ∆N wynosi 0.16, a więc przy N=2 błąd
wynosi 8%.

- efekt różnicy współczynników liniowej rozszerzalności cieplnej, występujący w

pobliżu krawędzi warstwy; przyrost odkształcenia wywołany różnicą α Tw ≠ αTk określa
wzór:
∆εT = ( 1 + νw ) ( αTw – αTk) ( T – T0 ) (20)
gdzie: T0 – temperatura, w której naklejono warstwę,
T – temperatura pomiaru.

Jak łatwo zauważyć, ten czynnik nie odgrywa roli, jeśli warstwę nanosi się i
przeprowadza pomiary, w tej samej temperaturze.

- uśrednianie efektu optycznego w układzie pomiarowym, jak na rys. 1b; w przypadku

stosowania układu pomiarowego typu V, punkty wejścia i wyjścia promienia światła

4
spolaryzowanego z warstwy są różne (rys. 2), co wynika z konstrukcji polaryskopu i
jego odległości od warstwy (przy danej grubości warstwy).
1

2
warstwa powierzchniowa

warstwa odblaskowa A C
(klej odblaskowy) tw

Rys. 2. Uśrednianie efektu optycznego w układzie pomiarowym typu V.

Dla niezmiennych kierunków głównych między tymi punktami, i przy pominięciu

nierównomierności rozkładu odkształceń na grubości warstwy, błąd względny pomiaru
rzędu izochromy określa wzór:
δN = 1 – cosγ1 [( 4 NB + NA + NC ) / 6 NB ] (21)
gdzie: 2γ1 – kąt, jak na rys. 2.
Na dokładność pomiaru techniką elastooptycznej warstwy powierzchniowej
wpływają także: rotacja kierunków głównych i nierównomierny rozkład odkształceń na
grubości warstwy, dokładność ustawienia elementów optycznych polaryskopu i ich
jakość, a także technika prowadzenia pomiaru (powierzchniowa lub punktowa z
wykorzystaniem kompensacji rzędów izochromy). Znaczne błędy mogą pojawić się w
rejonach swobodnych krawędzi warstwy, które nie pokrywają się z krawędziami
badanego obiektu, co wynika z mechaniki współpracy warstwy z obiektem w tym
rejonie. Zasięg strefy znacznych różnic między mierzonym odkształceniem, a
faktycznie występującym na powierzchni obiektu, jest jednak ograniczony (rzędu 2-4
tw) – rys. 3a i rys. 3b.

z charakter zmian odkształceń w warstwie

x

tw

Rys. 3a. Charakter zmian  xw w rejonie krawędzi warstwy

(dotyczy przypadku, gdy krawędzie warstwy i obiektu nie pokrywają się).

5
 1,2
1

 xw 0,8
 xk 0,6
0,4
0,2
0
0,5 1 1,5 2 2,5 3 3,5 4 4,5

x tw
Rys. 3. Efekt swobodnej krawędzi warstwy ( tw – łączna grubość warstwy
powierzchniowej i kleju)
W ogólnym przypadku, gdy analityczne wyznaczenie współczynników
korekcyjnych nastręcza poważne trudności, proponuje się wykonanie pomiarów w tych
samych warunkach dla różnych grubości warstwy (np. w zagadnieniach
osiowosymetrycznych wykonanie warstw o dwóch różnych grubościach dla
symetrycznych „połówek” obiektu). Porównanie zmierzonych odkształceń, z
uwzględnieniem różnych grubości warstwy, pozwala doświadczalnie oszacować
wartość współczynnika korekcyjnego.

4. MATERIAŁY I TECHNOLOGIE WYKONYWANIA WARSTW

Najczęściej używanym materiałem warstw powierzchniowych stosowanych w
badaniach elementów maszyn, konstrukcji budowlanych, elementów z tworzyw
sztucznych, itp., są żywice epoksydowe utwardzane w temperaturze pokojowej, a w
przypadku pomiarów dużych odkształceń – lane elastomery uretanowe. Materiały te,
stosowane szeroko w elastooptyce, scharakteryzowano uprzednio.
W zależności od kształtu powierzchni, na którą nanoszona jest warstwa,
wykonywana ona jest w postaci płaskich płytek (z reguły grubości 1-3 mm) lub tzw.
płytek konturowych. W pierwszym i drugim przypadku, technologia wykonania płytek
z żywicy epoksydowej jest analogiczna do technologii odlewania modeli
elastooptycznych, tzn. w odpowiedniej formie odlewane są płaskie płytki o określonej
grubości. O ile jednak w przypadku wykonywania płaskiej płytki proces polimeryzacji
kompozycji żywicy ze środkiem sieciującym (utwardzaczem) przebiega w formie, o
tyle w przypadku płytki konturowej częściowo spolimeryzowana warstwa jest
wyjmowana z formy i kształtowana bezpośrednio na badanej powierzchni. Odbywa się
to w takiej fazie procesu polimeryzacji, w której sieć wiązań pierwotnych nie jest
jeszcze w pełni ukształtowana, a wiązania wtórne jeszcze praktycznie nie wpływają na
właściwości materiału. Dzięki temu nie występuje w tym stadium polimeryzacji efekt
dwójłomności wymuszonej mimo niekiedy znacznych odkształceń płytki. Dalszy proces
polimeryzacji odbywa się już na badanej konstrukcji. Czas umożliwiający formowanie
płytki konturowej wynosi od kilku do ok. 30 min., i silnie zależy od temperatury
otoczenia oraz reaktywności utwardzacza.

6
 Niezależnie od postaci warstwy, jest ona przyklejana do badanej powierzchni
klejem odblaskowym, sporządzanym najczęściej na bazie tej samej kompozycji, z której
wykonano płytkę, lecz z dodatkiem pyłu aluminiowego. Pamiętając, że podstawowym
założeniem TEWP jest przenoszenie odkształceń przez warstwę kleju tak, aby spełnione
były równości (1), warstwa ta powinna być możliwie cienka (0.1– 0.2 mm), a jej
adhezja do powierzchni obiektu oraz warstwy powierzchniowej bardzo dobra. Uzyskuje
się to poprzez dokładne oczyszczenie oraz odtłuszczenie powierzchni: obiektu i
warstwy, stykających się z klejem. W przypadku materiałów ulegających pasywacji na
skutek kontaktu z powietrzem (np. aluminium i jego stopy), konieczne jest
zastosowanie specjalnych sposobów przygotowania powierzchni (np. ługowanie ługiem
sodowym, a następnie trawienie roztworem kwasu azotowego). Widoki warstw
naklejonych na badane powierzchnie pokazano na rys. 4 i rys. 5.

elastooptyczna elastooptyczna warstwa

warstwa powierzchniowa
powierzchniowa (płaskie płytki)
(płytki konturowe)

s. 4. Widok elastooptycznych warstw powierzchniowych

naklejonych na powierzchniach zwrotnicy samochodu F1.

Rys. 4. Widok elastooptycznych warstw powierzchniowych

naklejonych na powierzchniach zwrotnicy samochodu F1.

Rys. 5. Elastooptyczne warstwy powierzchniowe: płaska płytka

(z lewej) i płytka konturowa (z prawej).

7
 5. APARATURA POMIAROWA I TECHNIKI POMIARU
Aparatura pomiarowa (polaryskopy) stosowana w badaniach w świetle odbitym,
w tym techniką EWP, charakteryzuje się specyficzną cechą konstrukcyjną, tj. wszystkie
zespoły optyczne (filtry polaryzacyjne, płytki fazowe) znajdują się z tej samej strony
materiału dwójłomnego. Najczęściej stosowane są polaryskopy typu V, przy czym ich
konstrukcja umożliwia prowadzenie goniometrycznej kompensacji (pomiaru) rzędu
izochromy, mocowanie kompensatora, aparatu fotograficznego, wymianę źródła światła
na stroboskopowe, etc.. Widok takiego polaryskopu firmy Vishay pokazano na rys. 5.

Rys. 6. Widok polaryskopu typu V – model 031 - z kompensatorem

W przypadku prowadzenia obserwacji w rejonach o znacznych gradientach

odkształceń pożądane jest stosowanie polaryskopów typu T (rys. 1c), jednak w
porównaniu z polaryskopem typu V, charakteryzuje go istotnie niższa intensywność
oświetlenia badanego rejonu. Spowodowane to jest „stratami” wynikającymi z
zastosowania zwierciadła o 50 % transmisji.
Specyficzną grupę polaryskopów stosowanych w pomiarach techniką EWP,
stanowią polaryskopy do skośnego prześwietlania warstwy (rys. 1d). Ich
charakterystycznym elementem jest odpowiedni pryzmat wykonany z materiału o
współczynniku załamania światła zbliżonym do współczynnika materiału warstwy. W
trakcie pomiaru spoczywa on bezpośrednio na warstwie powierzchniowej. Pryzmat
jednoznacznie określa bieg promieni światła spolaryzowanego, przy czym z reguły jest
to kąt wynoszący 45o w stosunku do normalnej do powierzchni warstwy. Polaryskopy
tego typu wykorzystywane są do tzw. doświadczalnego rozdzielania składowych stanu
odkształcenia, przy czym ich zastosowanie w obszarach występowania gradientów
odkształceń może być obarczone znacznymi błędami (porównaj schemat z rys. 2).
Ogólnie można stwierdzić, że niezależnie od szczegółowych rozwiązań
konstrukcyjnych i schematu biegu promieni, polaryskopy umożliwiają przede
wszystkim prowadzenie pomiarów techniką polową, tj. obserwację i rejestrację obrazów
izochrom o rzędach całkowitych (N = 0; 1; 2; ...) i połówkowych (N = 0.5; 1.5; ...) oraz
izoklin w całym badanym obszarze - rys. 7.

8
 N=1

N=0
N=2

α = 30°

Rys.7. Widok izochrom całkowitych (u góry) i izoklin α = 30o (u dołu) -

badany obiekt trwale odkształcony

W przypadku pomiarów techniką EWP w zakresie odkształceń sprężystych większości

materiałów konstrukcyjnych, w badanym obszarze obserwuje się niskie wartości
izochrom i małą ich liczbę, co obniża dokładność analizy ilościowej. Z tego powodu
pomiary o charakterze polowym są uzupełniane o pomiary prowadzone techniką
punktową, często nazywaną kompensacją rzędu izochromy. Jej istotą jest wyznaczanie
w danym punkcie badanego obszaru tzw. ułamkowego rzędu izochromy, który wraz z
informacją o przebiegających w pobliżu izochromach rzędów całkowitych, umożliwia

9
określenie N z dokładnością do ± 0.01 rz.iz.. Sposoby pomiaru ułamkowego rzędu
izochromy można zakwalifikować do jednej z dwóch grup, tj. kompensacji
goniometrycznej lub kompensacji za pomocą kompensatorów. W pierwszym przypadku,
pomiar realizowany jest przy użyciu zespołów optycznych polaryskopu (filtrów
polaryzacyjnych i płytek fazowych, tj. ćwierćfalówek), natomiast w drugim – za
pomocą specjalnego przyrządu optycznego (kompensatora). Jedną z technik
kompensacji goniometrycznej jest kompensacja metodą Tardy’ego, za pomocą
polaryskopu, w którym możliwe jest dokonanie wspólnego obrotu filtrów
polaryzacyjnych oraz obrotu filtra analizatora względem ćwierćfalówki. Z reguły
współczesne polaryskopy do badań w świetle odbitym mają również możliwość
sprzężonego obrotu ćwierćfalówek, co ułatwia zmianę polaryzacji. Przystępując do
pomiaru należy w danym punkcie badanego obszaru określić parametr izokliny α, co
wymaga obserwacji w świetle spolaryzowanym liniowo obrazu izoklin podczas obrotu
sprzężonych filtrów polaryzacyjnych. Parametr α odpowiada takiemu położeniu
filtrów, przy którym przez badany punkt przebiega prążek interferencyjny izokliny.
Następnie, po zmianie stanu polaryzacji na polaryzację kołową, należy obrócić filtr
analizatora (względem nieruchomego układu pozostałych elementów) do położenia, w
którym w analizowanym punkcie nastąpi maksymalne wygaszenie światła, co
odpowiada przesunięciu jednej z sąsiadujących z tym punktem izochrom o rzędzie
całkowitym N do tego punktu. Kąt obrotu analizatora jest miarą ułamkowego rzędu
izochromy Nu:
Nu = γ / π (22)
W ogólnym przypadku analizowany punkt znajduje się pomiędzy izochromami o
rzędach: N i (N + 1), a więc rząd izochromy w i-tym punkcie wynosi:
Ni = N + Nu lub Ni = ( N + 1) – Nu (23)
zależnie od tego, która izochroma uległa „przemieszczeniu” podczas kompensacji.
Powyższą procedurę należy powtórzyć dla każdego punktu. Z reguły polaryskopy
wyposażone są w skalę umożliwiającą bezpośrednie odczytywanie Nu, co upraszcza
obliczanie Ni (rys. 8).

Rys. 8. Widok zespołu analizatora (polaryskop 031 - widoczna skala do odczytu

 i Nui ).
Stosując technikę EWP zazwyczaj używa się źródeł światła białego (np. lamp
halogenowych), stąd pewnym problemem jest zdefiniowanie pojęcia maksymalnego
wygaszenia światła. O ile w przypadku izoklin jest to oczywiste (prążki izoklin są

10
czarne lub co najmniej szare), o tyle w świetle białym izochromy całkowite N ≠ 0
odpowiadają granicy barw: czerwonej i niebieskozielonej dla N = 1, oraz czerwonej i
zielonej dla N > 1. W trakcie kompensacji barwy te ulegają pewnym zmianom (np. na
brunatną), co jednak nie powinno zasadniczo utrudniać śledzenia położenia ww. granic
barw.
Nieco bardziej złożoną procedurę stosuje się w przypadku kompensacji
goniometrycznej Senarmont’a, która charakteryzuje się mniejszą wrażliwością na błędy
związane z dokładnością ustawienia ćwierćfalówek oraz ich jakością.
Kompensacja za pomocą kompensatora polega na wytworzeniu za pomocą tego
przyrządu dodatkowego opóźnienia względnego (dodatkowego rzędu izochromy ∆N),
który sumując się z nieznaną wartością rzędu izochromy w analizowanym punkcie Ni ,
daje w efekcie pojawienie się całkowitego rzędu izochromy N lub N + 1. Tak więc,
również w tym przypadku prawdziwe są zależności (23), w których Nu = ∆N.
Dodatkowe opóźnienie względne uzyskuje się dzięki wprowadzeniu do układu
pomiarowego polaryskopu (rys. 9a) optycznego elementu opóźniającego. Np. w
kompensatorze Soleil-Babineta jest to układ dwóch klinów kwarcowych (o zbieżności
rzędu 2 – 30). Materiał ten wykazuje dwójłomność naturalną, dlatego przesuwając jeden
klin względem drugiego (rys. 9b) uzyskuje się płynną zmianę wartości opóźnienia (tj.
∆N). W trakcie kompensacji osie podłużne klinów muszą być zgodne z jednym z
kierunków głównych odkształcenia.
a) b) kliny kwarcowe

zmienna
"grubość"
kompensator

Rys. 9. Kompensacja rzędu izochromy za pomocą kompensatora: a – usytuowanie

kompensatora w układzie pomiarowym, b – zasada działania kompensatora Soleil-Babineta.

W pomiarach techniką EWP często stosowane są kompensatory działające na

zasadzie zerowania efektu optycznego (rzędu izochromy). Elementem optycznym
takich kompensatorów, który wprowadza dodatkowe opóźnienie, jest w tym przypadku
płasko-równoległa płytka z trwałym, liniowo zmiennym wzdłuż jej długości, efektem
dwójłomności, a zasadą pomiaru jest ustalenie (poprzez określone przesunięcie płytki
usytuowanej na kierunku jednego z odkształceń głównych) efektu optycznego
wytworzonego przez kompensator Nkomp takiego, aby w analizowanym punkcie
uzyskać izochromę N = 0. Kompensator tego typu zamontowany na polaryskopie
pokazano na rys. 6 i rys. 8.
Niekiedy polaryskopy typu V są wyposażane w przystawki do skośnego
prześwietlania warstwy, w celu umożliwienia prowadzenia doświadczalnego
rozdzielania składowych stanu odkształcenia w wybranych punktach badanego obszaru.
Należy jednak stwierdzić, że ze względu na silne efekty depolaryzacji oraz trudności w
precyzyjnym ustawianiu przystawki względem warstwy, jest ona bardzo rzadko
stosowana.

11
 6. ANALIZA DANYCH UZYSKANYCH TECHNIKĄ EWP
Na podstawie efektów optycznych uzyskanych podczas pomiarów techniką
EWP, można bezpośrednio wyznaczyć różnicę odkształceń głównych ( ε1 – ε2 ) ~ N
oraz kierunek odkształceń głównych α. W ogólnym przypadku, poszczególne składowe
stanu odkształcenia są określane analitycznie lub doświadczalnie, co nosi nazwę
rozdzielania składowych stanu odkształcenia.
Najprostszym przypadkiem analizy danych uzyskanych techniką EWP jest
określenie wartości składowych stanu odkształcenia na krawędzi obszaru pokrytego
warstwą wówczas, gdy krawędzie obiektu i warstwy są nieobciążone, tzn. σn i τs są
równe zero. W takim przypadku mamy:
σ1 ≠ 0; σ2 = 0, a stąd ε1 ≠ 0; ε2 = – ν ε1
a w rezultacie:
ε1 = N fε / 2 tw (1 + νk) oraz ε2 = − ν ε1 = − ν N fε / 2 tw (1 + νk) (24)

Ponieważ na krawędzi nie działają obciążenia styczne, to ε1 jest skierowane stycznie

do tej krawędzi, a ε2 – prostopadle.
Szczególnym przypadkiem jest sytuacja występowania obszaru plastycznego
płynięcia na nieobciążonej krawędzi obiektu. Ponieważ wówczas νk = 0.5, a stąd: ε1 =
N fε / 3 tw .
Rozdzielenie składowych stanu odkształcenia, bezpośrednio na podstawie
danych elastooptycznych, jest możliwe również na obciążonej krawędzi obiektu pod
warunkiem, że znane są wartości obciążeń zewnętrznych w danym punkcie krawędzi:
σn i τs (rys.10).
y
b 
n

x
Rys. 10. Układ współrzędnych lokalnych i obciążenia zewnętrzne krawędzi.

W ogólnym przypadku, w punkcie krawędzi obiektu, w którym styczna do

krawędzi tworzy z układem współrzędnych xy kąt  , mamy:
- σn = 0; τs ≠ 0
ε1 = fε {[(1 – νk) N cos 2 (αb – β ) / 2 (1 + νk)] + N} (25)

αb = β + arc sin [- 2 (1 + νk) τs / Ek N fε ] / 2 (26)

- σn ≠ 0; τs = 0
ε1 = fε {(1 – νk) σn / Ek fε + N [(1 – νk) / 2 (1 + νk) + 1]} / 2 (27)

- σn ≠ 0; τs ≠ 0

12
 ε1 = fε {(1 – νk) σn / Ek fε + N [(1 – νk) cos 2(αb – β) / 2 (1 + νk) + 1]} / 2 (28)

W głębi obszaru badanego techniką EWP analityczne rozdzielanie składowych

stanu odkształcenia jest realizowane najczęściej na drodze numerycznego
rozwiązywania równań odkształceniowych teorii sprężystości, bowiem między warstwą
a obiektem mogą występować nieznane co do wartości naprężenia styczne τxz i τyz (z
– kierunek normalny do powierzchni klejenia). W takiej sytuacji, używane tradycyjnie
w metodzie elastooptycznej całkowanie równań równowagi, ma ograniczony zakresie
zastosowania.
Wychodząc ze związków Cauchy’ego o postaci:

u v w u v v w w u
εx = ; εy = ; εz = ; γxy = + ; γyz = + ; γxz = +
x y z y x z y x z

po przekształceniach i podstawieniach można otrzymać następujące równania dla

warstwy powierzchniowej:

 2  x   y   2 xy  2 xy  2  x   y 
 x =
2
+ (29);  y =
2
- (30)
x 2 y 2 x 2 y 2

2 xy 2  x   y  2  x   y 
  x   y   2
2
  (31)
xy x2 y2

gdzie:  2 - operator Laplace’a,

u,v,w – przemieszczenia na kierunkach x, y, z.

Występujące po prawej stronie wielkości oblicza się na podstawie danych pomiarowych

(N, α), tj. w przypadku γxy należy skorzystać ze wzoru (4), natomiast różnicę (εx – εy)
określa zależność:
(εx – εy) = (ε1 – ε2) cos 2α = N fε cos 2α / 2 tw (32)

Równania (29) – (31) są równaniami różniczkowymi typu eliptycznego, które w

praktyce rozwiązywane są na drodze numerycznej, po zastąpieniu pochodnych
różnicami skończonymi. Obliczenia są przeprowadzane dla węzłów siatki pokrywającej
badany obszar, najczęściej o kroku ∆x = ∆y. Przykładowo, równanie (29) zapisane w
różnicach skończonych ma postać:
1
εx i+1,k + εx i-1,k + εx i,k+1 + εx i, k-1 – 4 εx i,k = (γxy i+1,k+1 – γxy i+1,k-1 + γxy i-1,k-1 – γxy i-
2
1,k+1) + (εx – εy)i+1,k + (εx – εy)i-1,k – 2 (εx – εy)i,k (33)

Uwzględniając warunki brzegowe w analizowanym obszarze, rozwiązywany jest układ

równań liniowych zapisanych dla każdego węzła siatki.

13
 7. PRZYKŁADY ZASTOSOWANIA TECHNIKI ELASTOOPTYCZNEJ
WARSTWY POWIERZCHNIOWEJ

Niewątpliwą zaletą techniki EWP jest możliwość dokonywania pomiarów

odkształceń na konstrukcjach (obiektach) rzeczywistych, w warunkach ich normalnej
eksploatacji, z pominięciem charakterystycznego dla metody elastooptycznej problemu
budowy modelu fizycznego (często, z konieczności, w znacznym stopniu
uproszczonego). Tak więc, TEWP znajduje zastosowanie m.in. w badaniach konstrukcji
lotniczych, silników spalinowych, elementów układów nośnych pojazdów, ale także
kości ludzkich czy konstrukcji budowlanych. Dobór odpowiednich właściwości
warstwy powierzchniowej pozwala badać obiekty o dużej odkształcalności (np. opony
samochodowe), a zastosowanie polaryskopu z układem mikroskopowym umożliwia
śledzenie zjawisk związanych z oddziaływaniami na granicach ziaren w stopach metali.
Praktycznie bezinercyjny charakter zmian efektu dwójłomności wymuszonej pozwala
na stosowanie EWP w badaniach zmiennych pól odkształceń (np. związanych z
propagacją pęknięć zmęczeniowych), nawet o charakterze udarowym.

Głowica podnośnika

σ1 = 174.25
MN/m2

b
a

σ1 = 261.4
MN/m2

14
 σ1 = 348.5 MN/m2

Rys. 11. Widok izochrom całkowitych i połówkowych w warstwie naklejonej na wahaczu

tylnego zawieszenia samochodu osobowego (wartości naprężenia podano w [MPa] )

Należy podkreślić, że nie zawsze wyłącznie wartości składowych stanu

odkształcenia są poszukiwanym parametrem charakteryzującym badany obiekt.
Przykładowo, wzory (11) i (13) są przydatne w określaniu zasięgu strefy odkształceń
plastycznych w metalach, przy czym wyznaczenie tego zasięgu np. przy użyciu
tensometrów elektrooporowych jest praktycznie niemożliwe. Analogicznie, w
badaniach mechanizmów pękania betonu, a więc materiału kruchego, zaistniała
konieczność zbadania zasięgu strefy mikropęknięć pojawiających się wokół
wierzchołka makroszczeliny. Wychodząc z hipotezy wytężeniowej przypisującej
powstanie strefy mikropęknięć pojawieniu się odkształcenia granicznego  gr ,
określonego wzorem:
1 2   2 2   gr (35)

i porównując je z równaniem (3) przy założeniu, że stosunek 2b 1b  b , otrzymuje
się równanie granicznej wartości rzędu izochromy Ngr odpowiadającej granicy strefy
mikropęknięć wokół wierzchołka szczeliny:

 gr  1  b   2  t w
Ngr  (36)
f

Na rys. 12 pokazano obraz izochrom całkowitych w warstwie powierzchniowej,

naklejonej w rejonie szczeliny w zginanej belce betonowej, zarejestrowany w
momencie rozpoczęcia spontanicznej propagacji szczeliny. Warstwę powierzchniową
wykonano z kompozycji żywicy epoksydowej Epidian 5, utwardzanej na zimno.
Grubość warstwy wynosiła t w  2.0 mm, a stała f 2  t w  1.0902103 . Zdjęcie górne

15
przedstawia obraz izochrom poprzedzający propagację szczeliny, zaś dolne - obraz po
0.01 sekundy. Widoczna zmiana została wywołana propagacją szczeliny o ok. 40 mm.
Analiza danych uzyskanych za pomocą techniki EWP pozwoliła potwierdzić hipotezę o
"schodkowym" charakterze rozwoju szczeliny przy stałej prędkości obciążania (0.5
kN/s).

Rys. 12. Obraz izochrom całkowitych w warstwie powierzchniowej zarejestrowany w

momencie inicjacji spontanicznej propagacji szczeliny (proces filmowano z prędkością 100
zdjęć/s).
Korzystając z zależności (36) wyznaczono wartość izochromy granicznej -
Ngr  0.121. Zasięg strefy mikropęknięć wokół szczeliny, w stanie poprzedzającym jej
propagację, pokazano na rys. 13.

Rys. 13. Zbiorczy wykres izochrom - linią kreskową "M" oznaczono

granicę strefy mikropęknięć.

16
 W przypadku wyznaczania współczynnika intensywności naprężenia (WIN)
techniką elastooptycznej warstwy powierzchniowej, można zastosować metodę
zaproponowaną przez G. Irwina, tj. bazującą na obrazie izochrom wokół wierzchołka
szczeliny (rys. 14).

Rys. 14. Widok izochrom całkowitych i połówkowych wokół wierzchołka

szczeliny w próbce CT (moda I)

Dla mody I współczynnik intensywności naprężenia KI określa wówczas wzór:

Powyższe równanie może być stosowane wówczas, gdy kąt określający

położenie najbardziej oddalonego punktu pętli izochromy o rzędzie N, spełnia warunek:

Alternatywą, jest zaproponowana przez H.C. Soo i I.M. Daniela, metoda

polegająca na pomiarach prowadzonych w pewnej odległości od wierzchołka szczeliny.
Maksymalne odkształcenie postaciowe jest funkcją Kap (współczynnika
„przybliżonego”):

a stąd (po uwzględnieniu podstawowych zależności między odkształceniem i efektem

optycznym):

Dokonując pomiarów N na osi y, tj. dla , powyższe równanie upraszcza się

do postaci:

Wartości Kap należy obliczyć dla różnych wartości r na podstawie pomiarów rzędów
izochrom N(r), a następnie wyznaczyć KI (w wierzchołku szczeliny) na drodze
ekstrapolacji.

17
 Wyznaczanie granicy obszaru uplastycznionego

W otoczeniu granicy między obszarem sprężystym i uplastycznionym muszą

być spełnione warunki:
● równowagi (obowiązuje po obu stronach granicy)
● nierozdzielności odkształceń (dotyczy obszaru sprężystego)
● plastyczności (dotyczy obszaru uplastycznionego)
Przyjmując, że całkowite odkształcenie jest sumą odkształceń sprężystych i
plastycznych oraz, że składowe tego odkształcenia na granicy obszarów muszą być
ciągłe, dochodzimy do wniosku: składniki plastyczne odkształcenia całkowitego muszą
być równe zeru na granicy obszarów: sprężystego i uplastycznionego. Ogólnie, w
każdym punkcie badanego obszaru trzeba sprawdzić, czy spełniony jest warunek
plastyczności, tj. określone fizycznie kryterium osiągnięcia stanu plastycznego.
Najczęściej wykorzystuje się warunek plastyczności oparty na hipotezie energii
odkształcenia postaciowego Hubera-Misesa:

(σ12 - σ1 σ2 – σ22 )1/2 ≥ σpl

lub hipotezie maksymalnych naprężeń stycznych Tresci -Coulomba:

max (|σ1 - σ2|, |σ1|, |σ2|) ≥ σpl

W szczególnych przypadkach stanu naprężenia granicę obszaru
uplastycznionego można wyznaczyć bezpośrednio z rozkładu izochrom obserwowanych
w warstwie powierzchniowej. Dotyczy to stanów, dla których spełniony jest warunek:

σ1 σ2 ≤ 0
Dla warunku plastyczności Tresci-Coulomba wartość rzędu tzw. izochromy granicznej
określa wzór:

Ngr= [(1+ν) σpl]/E fε

natomiast dla warunku Hubera-Misesa jest:

NgrH-M= (1/0.933)[(1+ν) σpl]/E fε

Przykładowy obraz izochrom całkowitych i połówkowych wokół karbu, w

płaskowniku ze stopu aluminium, pokazano na rys. 15. Strefa odkształceń plastycznych
jest wyznaczona przez Ngr wynoszące ok. 1.5.

18
 Rys. 15. Obraz izochrom całkowitych (z lewej) i połówkowych (z prawej)
w rozciąganym płaskowniku z karbem

LITERATURA
[1] Kapkowski J., Słowikowska I., Stupnicki J.(red.), Badanie naprężeń metodą
elastooptycznej warstwy powierzchniowej, PWN. Warszawa, 1987.
[2] Dally J.W., Riley W.F., Experimental Stress Analysis (3rd ed.), McGraw-Hill, Inc.,
1991.
[3] Aleksandrov A.J., Achmetzianov M.N., Polarizacionno-optičeskie metody
mechaniki deformirujemogo tieła, Izd. Nauka, Moskva, 1973.
[4] Hesin G.L.(red.), Metod fotouprugosti, Strojizdat, Moskva, 1975.
[5] Trumbačev. V.F., Katkov G.A., Izmierenie napraženij i deformacij metodom
fotouprugich pokrytij, Izd. Nauka, Moskva, 1966.
[6] Jankowski L.J., Styś D., Strefa mikrozarysowania w otoczeniu szczeliny w
elementach betonowych badanych metodą elastooptycznej warstwy
powierzchniowej, Arch. Inż. Lądowej, XXXII t., z.2/1986.

19