影響示波器測試準確度的

五大因素

濾波
滤波 取樣

後期處理

探測
影響示波器測試準確度的五大因素

濾波 取樣

後期處理

探測

圖 1. 示波器測試系統示意圖

對於測試儀器而言，準確度、可靠性、穩定性及功能 在進行量測時，您可將數位示波器看成一個測試系統
是非常重要的幾個指標，這些條件也決定了工程師對 來改善量測結果 (請參閱圖 1)。在對示波器工作模式、
測試結果的信心。根據示波器的設計原理，其具有極 探棒特點、濾波技術及整個系統對話模式有了基本瞭
高的取樣速率，且可以保證時間準確度，但許多工程 解之後，即可改善微小訊號的量測效果。
師卻忽略了其振幅的測試準確度。隨著電力電子技術
為執行高準確度量測，必須考慮整條訊號路徑，從探
的發展，面對新型低功耗裝置的大量應用以及更加嚴
棒頭到示波器的類比前端、取樣和數位訊號處理。如
格的標準約束，工程師對測試的準確度越來越敏感，
圖 1 所示的每個系統單元都會影響量測準確度，您可
而現有示波器振幅測試的解析度和準確度已無法滿足
針對這些單元進行最佳化處理，以達到最佳結果。
需求。

對於示波器這類測試儀器，我們要如何選擇和設定才
能獲得最佳的測試準確度呢？

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8 位元 ADC 12 位元 ADC 12 位元 ADC

(開啟 High Res)

圖 2. 不同位元數 ADC 示波器測試小訊號對比

示波器類比/數位轉換器 ADC 位元數

提高測試準確度最理想的方式是提高示波器 ADC 位
元數， 但是因為 ADC 取樣速率和垂直解析度效能的
互相制約，目前市面上常見的示波器是採用 8 位元
ADC。我們換個角度來看，理論上，若使用完整的垂
8

直動態範圍，解析度即為垂直量程/256 ( 2 )；如果採
12
用 12 位元 ADC 的示波器其解析度為垂直量程 /4096
(2 )。顯而易見，高位元數的 ADC 可以在測試準確 全新 3 系列 MDO 示波器

度上帶來顯著的提升。

現在工程師面臨著許多微小訊號測試的挑戰，如果您
是電源供應器設計的工程師，漣波測試非常重要，過
去漣波電壓從數十到一百多mV，到目前只有十數mV，
甚至在許多筆記型電腦和手機上微小的漣波僅為數個
mV。這對測試使用的示波器的解析度產生了嚴峻的挑
戰，而 Tektronix 全新一代示波器提供硬體 12 位元
市面上的主流示波器
ADC，將可輕鬆解決微小訊號的測試問題。
圖 3. Tektronix 全新 MDO3 系列示波器和傳統示波器

另外就是疊加在一個大的訊號上的小訊號測試。為測 基礎雜訊對比

試完整的訊號，需要選擇一個較大的量程，但是又要
保證能測試到微小訊號變化，我們要如何準確測試？
歸根究柢之後仍是考驗示波器垂直解析度的指標，請
參考圖 2，圖中清楚顯示了其測試效果的對比。
Tektronix 的全新 4、5、6 系列示波器採用硬體 12 位
元 ADC，傾力打造無與倫比的垂直解析度，協助您準
確地擷取微小訊號。
示波器前端放大器
示波器訊號進入第一部分就是前端放大器，這部分極
為重要。前端放大器是專為微小訊號測試而設計，可
使測試設備有更廣泛的應用。但是前端放大器在放大
有用訊號的同時也會將雜訊一併放大，理想的情況是
選用雜訊係數較小的前置放大器。示波器可偵側的最
小訊號也主要取決於前置放大器的雜訊。在 Tektronix
全新一代示波器中，不僅提升了前端放大器的硬體效
能，基礎雜訊降低 30%，更進而提升了微小訊號的測
試準確度。請參閱圖 3。

https://www.tek.com.tw 3
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多次擷取
圖 4. 平均模式在多次擷取中計算每個記錄點的平均值
示波器擷取模式
在 Tektronix 示波器中，「擷取模式」一詞指波形資
料的原始表示，通常是 8 位元解析度。所有後續處理
操作 (顯示、自動量測、游標、數學和應用) 都基於擷
取模式定義的訊號資料表示。大多數示波器中預設的
擷取模式是取樣模式。這是最簡單的擷取模式，在這
種模式下，普通示波器以選擇的取樣速率 ( 直到最大
取樣速率) 使用 8 位元量值來表示波形上的每個點。
在量測低壓小訊號時，有兩種擷取模式非常重要，具
體視波形的可重複性而定，因為這可以用來改善量測
解析度：平均模式和 HiRes模式。下面幾節中將詳細
介紹這兩種模式。如需瞭解如何使用其他擷取模式，
請參閱 Tektronix「示波器 XYZ」入門手冊：
03T-8605-XX，網址：www.tektronix.com.tw。
① 平均模式。平均模式是示波器擷取系統中基本降
低雜訊的訊號處理技術之一。透過使用兩次或兩次以
上擷取的資料，對擷取的資料點採用逐點平均的方法，
形成輸出波形。平均模式改善了訊號雜訊比，降低了
與觸發無關的雜訊，提高了垂直解析度，可以更簡便
地觀察重複訊號。
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平均模式：使用高級指數平均演算法，加總擷取的點
計算平均波形的傳統方法是先簡單地加總所有擷取中
的對應取樣點，然後除以擷取次數。但是，這種方法
要一直等到擷取了所需的全部 N個波形之後，才能顯
示平均值。大部分使用者皆無法接受因此所耽誤的時
間，擷取資料量也會迅速超出示波器的記憶體容量。
AN = (1 / N) * (x0 + x1 + x2 + … + xn-1)
其中：AN 是平均模式的擷取的點
N 表示請求的平均總數
xn 是 n 次擷取的點
表示擷取次數
當然可以修改傳統的平均演算法，每次在擷取另一個
波形時立即顯示結果，解決顯示平均後的波形所延誤
時間的問題。但是，資料儲存問題依舊沒有得到解決。
穩定的平均演算法為：
an = (1 / n) * (x0 + x1 + x2 + … + xn-1)
其中：an 是目前平均擷取的點
xn 是新擷取 n 個的點
n 表示擷取次數
請注意，為了得到具體 N 次擷取的加總平均值，只需
將示波器設為 Single Sequence (單次序列) 模式。在
此模式下，在 n 到達 N 時，擷取會停止，平均的波形
中包含著具體 N 個擷取的波形。
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即時訊號 ADC 取樣 取樣模式：壓縮

(扔出 )多個點，
滿足選擇的取樣率

將一組取樣點平均為
單次擷取 新的點；從單次擷取中

圖 5. HiRes 擷取模式計算每個擷取間隔中所有樣點的平均值

Tektronix 示波器採用指數平均演算法，可以在每次 ② 高解析度模式

擷取後立即更新和顯示波形，這大大降低了要求的儲 HiRes 模式是 Tektronix 已獲專利的擷取方式，此法會
存容量。指數平均模式採用下面的公式，從新擷取 xn 計算並顯示每個取樣間隔中所有順序樣點值的平均值。
和之前平均波形 an-1 中得到新的平均的波形 an： 這種模式提供了一種方法，利用過取樣來取得與波形有
an = an-1 + (1/p)*(xn - an-1) = an-1 * ((p - 1) / p) + (xn / p) 關的進一步資訊。在 HiRes 模式下，透過取得進一步
其中：n 表示擷取次數 水準取樣資訊，可以提供更高的垂直解析度，降低頻寬
N 表示請求的平均總數 和雜訊。HiRes 處理在自訂硬體中完成，以最大限度地
an 是平均的擷取中新的點 提高速度。HiRes 模式較平均模式的一個關鍵優勢，是
an-1 是過去平均的擷取中的點 即使單次擷取也可以使用 HiRes 模式。
xn 是新擷取的點
頻寬限制及由於 HiRes 導致的垂直解析度提高程度會隨
p 是平均因數
著儀器的最大取樣速率和實際選擇的取樣速率而變化。
如果 (n < N)，則 p = n，否則 p = N 得到的平均後的 實際取樣速率一般顯示在螢幕底部附近，最大取樣速率
波形相同，與使用哪種平均演算法無關。但要注意， 可以參見產品技術資料。垂直解析度位數為：
不管是擷取的波形還是平均的波形，指數平均演算法
垂直位數 = 8 + 0.5 log2 * (D)
的效率都要高得多。
其中：D 是壓縮比或最大取樣速率 / 實際取樣速率得到的
這兩種演算法都可以立即顯示波形中一致的趨勢效應。
-3 dB頻寬 (除非受到量測系統類比頻寬的進一步限制) 是：
您可以在低速訊號中看到這一點。如果訊號穩定，則
BW = 0.44 * SR
您會看到前N次擷取中雜訊連續下降。在N次擷取後，
其中：SR 是實際取樣速率
訊號仍將變化，但整體降低雜訊或垂直解析度不再有
改觀。平均功能提高了訊號的垂直解析度，對於週期
穩定的波形非常有效。對於週期及振幅值都變化的波
形如何提高測試準確度呢？請看下面的方法。
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取樣率 平均次數 解析度位數 -3 dB 頻寬 取樣率 平均次數 解析度位數 -3 dB 頻寬

表 2. MSO4 和 MSO5 系列示波器加強型高解析度模式

表 1. Tektronix MDO3 系示波器 5 GS/s 示波器中由於 對照表
HiRes 增強的垂直解析度對應表

在許多Tektronix 示波器中，平均演算法是在硬體中 與以前的技術不同，4 和 5 系列 MSO 會先從 12 位元

執行，採用固定點運算，得到大約 16 位的最大解析 6.25 GS/s ADC 輸出入手，在 ASIC 上執行數位訊號
度。觀察到的解析度改善程度略低，會隨著應用變化， 處理技術。
但這種訊號處理技術對許多應用尤其有效。
另外，為改善使用者體驗，擷取標誌會顯示解析度位元
對於硬體 12 位元 ADC 示波器高解析度模式效果更 數，活動通道的垂直標誌表明 -3 dB 頻寬。4和 5 系列
加明顯，如需詳細資訊，請參考表 1。 MSO 中的High Res 擷取模式提供了表 2 所示的效能。
請注意，示波器通道和任意相連探棒產生的模擬頻寬限
High Res 模式是 Tektronix 已獲得專利的全新擷取模
制會進一步降低表 2 所示的頻寬。
式，其會產生非常高的垂直解析度。在高層次上，此
模式與以前的技術類似，會使用降低定時解析度的方
式來改善垂直解析度，這透過計算及顯示多個順序樣
點的波形串平均值來達成。除波形串平均技術本身會
發生低通濾波外，還對訊號應用一個唯一的FIR 平滑
濾波器，對頻響進行整形並最佳化垂直解析度。

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多工器、記憶體、CPU等等

訊號輸入 前端設計 類比數位轉換器 數位處理

圖 6. 應最佳化所有擷取階段，以達到最佳解析度和雜訊效能

示波器的取樣速率
對於當今嵌入式系統除錯而言，混合訊號已經非常普 真實的數位
訊號
遍，最近幾年數位訊號的速度越來越快，工程師對數
位訊號處理能力要求越來越高，許多工程師都會糾結 以 500 Ms/s
取樣，無法擷
是否要購買專用的邏輯分析儀來進行高速數位訊號處 取暫態訊號
理。問題是，市面上有許多示波器皆命名為混合訊號
示波器 MSO，為什麼不能用這類儀器來進行數位訊 以 5 Gs/s 取
樣，準確度更
號處理呢？ 高，無需擔心
遺失訊號細節
我們來看看這個問題，目前市面上的 MSO 確實有數
位訊號處理能力，可以選配 16 路數位訊號擷取，也 圖 7. 不同取樣速率對數位訊號細節還原對比

具有一定的分析功能，但是仔細確認發現其數位訊號
Tektronix 全新一代示波器 MSO4/MSO5 系列示波器根
取樣能力有很大的限制。一般而言，一台示波器類比
據 Tektronix 全新的 TEK049 平台打造，有效提升了其
頻道的取樣速率可達到 5GS/s，而其數位通道的取樣
訊號擷取及處理速度，每條類比及數位通道都可以設定
速率只有200MS/s，且市面上最高的數位取樣速率為
高達 6.25GS/s 取樣速率。讓我們來看看新一代示波器
500MS/s。大家都知道取樣速率對訊號還原，尤其對
MSO4/MSO5 和傳統混合訊號示波器的測試對比。
偶發異常訊號擷取的重要性，所以針對目前的市面的
MSO 系列混合訊號示波器，使用者會對測試的結果
由圖 7 可以看出，對於現在越來越快的數位訊號除錯，
存在疑慮。
需要更高的取樣速率擷取數位訊號細節，如果取樣速率
不足，就如圖 7 所示會遺失訊號的細節，甚至還會顯示
完全錯誤的資訊。

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探棒的選擇與設定扮演了關鍵角色
探棒的作用非常重要，為達到量測的最佳結果，必須
進行折衷，特別是在進行高準確度量測時。有時示波
器標配的被動式探棒並不是達到最佳準確度的解決方
案。

1. 選擇適當衰減比的探棒。最大限度地降低衰減，使
訊號雜訊比達到最佳。在精確的量測中，非常重要的
一點是使訊號振幅達到最大，同時使外部雜訊達到最
小。探棒選擇是關鍵的第一步。電壓探棒與示波器的
輸入阻抗構成電壓分路器 (如1X、10X、100X)，會衰
僅 2ns 突波 減輸入訊號。1X 探棒不會降低或衰減訊號，10X探棒
則會將輸入訊號降低到原始訊號振幅的 1/10。示波器
透過放大訊號來補償這種衰減，遺憾的是，示波器也
會放大探棒引入的任何雜訊。從訊號雜訊比角度來看，
圖 8. MSO4/5 數位訊號時間解析度 最佳的探棒應沒有衰減或衰減極少。

圖 8 可以看到一個 40MHz 的數位訊號，其中偶發

一個非常小的干擾訊號會導致有 2ns 的突波脈衝，
數位取樣速率直接導致設定觸發條件的極限，如果
是500MS/s 最快的脈衝觸發只能設定在4ns，但是
Tektronix 全新一代示波器 MSO4/MSO5 數位訊號
的時間解析度提高了 12 倍，輕鬆準確的擷取高速
的數位訊號。

圖 9. TPP0502 高阻抗被動式探棒提供了 500 MHz 頻寬，

但只有 2 倍衰減。

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移除直流訊號 + 調節比例

直流訊號上的微小交流訊號

時間
時間
圖 10. 左側交流 + 直流訊號。右側去掉了直流分量，成比例縮放交流分量，以改善解析度。

2. 使用短地線。最大限度地降低雜訊耦合。所有 4. 使用探棒的直流偏移來測試小的交流訊號。在涉
電壓量測都是相對於參考源進行，這個參考源通 及大電壓時，人身安全及設備可靠性至關重要，以
常是「接地」。準確的量測，特別是低壓量測， 檢驗最大電壓是否完全落在測試系統的「絕對」或
尤其依賴到參考電壓的低阻抗路徑。為使訊號失 「非破壞」最大輸入指標內。此外，為準確量測，
真和引入雜訊達到最小，使用的接地線應儘量短。 非常重要的一點是訊號要保持在標稱工作範圍內
儘管標準被動式探棒上的長地線會方便連接訊號， (如主動式探棒的線性範圍或動態範圍內)。
但地線電感會與輸入電容諧振，在快速邊緣上導
如果說接近地位準的小訊號量測極具挑戰性，則量
致振鈴。由探棒頭和地線構成的大環路面積會將
測位於大直流電壓訊號上的低壓交流訊號的難度則
雜訊磁耦合到訊號中。此外，地線的電感性電抗
要大得多。在電源上進行漣波量測是這種應用的常
與開關裝置等雜訊源接近，會將雜訊耦合到訊號
見實例。進行直流偏移可能會涉及探棒設定以及示
中。最好的解決方案是盡可能地縮短地線長度，
波器前端設定。在直流偏移上量測低電壓訊號最簡
並盡可能接近訊號端，將其連接到參考點上（如
單的技術是使用參考地位準的探棒擷取整個訊號，
果條件允許建議使用接地彈簧）。
然後量測交流分量 (圖 10 左)。直流偏移技術不允
3. 使用探棒的硬體濾波。當選擇某些主動式探棒 許交流訊號量測全面利用量測系統的動態範圍，訊
時可以選擇性使用內建探棒濾波器降低雜訊。許 號雜訊比將會極差。
多主動式差動電壓探棒或電流探棒標配頻寬濾波
功能。有時為靈活起見，探棒機身內建的頻寬濾
波功能提供了多種頻寬設定。在某些情況下，在
選擇其中一個頻寬濾波器時，探棒會與示波器進
行通訊，另外還會在示波器前端開啟硬體濾波功
能。這進一步降低了系統雜訊，有助於提高系統
的訊號雜訊比。濾掉不想要的雜訊可以查看進一
步細節，取得更高的量測解析度。

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隨著電力電子技術、新材料及裝置技術的高速發展，
現今工程師面臨著更快、更小、更複雜訊號的除錯挑
戰。準確度更高的測試不僅僅取決於測試設備本身的
硬體指標，還要考慮整體測試系統的效能。Tektronix
全新一代的示波器 MSO4/MSO5/MSO6 採用全新的
前端放大器，以及Tektronix最新的TEK049 平台打造，
能提供無與倫比的測試效能，更能顯著提升準確度。
一個具備高準確度的示波器測試系統要從訊號的整個
環節開始打造，包括訊號進入、前端放大器、類比/數
位轉換及後續的資料處理分析。70多年來，Tektronix
始終專注於開發各種功能強大的示波器，「追求卓越、
打造經典、不斷創新」正是我們身為 Tektronix 工程
師的一貫理念。

我們是 Tektronix，我們為工程師而生！

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最後更新日 2016 年 9 月
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2019 年 7