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Herramientas Estadisticas y Mejora2 Notas-21-40
Herramientas Estadisticas y Mejora2 Notas-21-40
CAPACIDAD CAPACIDAD
ACUMULADA ACUMULADA
A CORTO A LARGO
PLAZO PLAZO
Un proceso de fabricación
de inyección de Poliuretano,
se toman 30 datos para
determinar índices de
capacidad de acuerdo a las
siguientes características:
P(Z=x) = 0.695
Para el Valor de Z, se
convierte la probabilidad a
notación científica
P(Z=x) = 0.695 = 6.95E-01
Se busca dicho valor
dentro de la matriz y se
extiende a los extremos.
Z = 0.00
Z = 2.78
Z = 5.43
Z = 1.46
Determina los Valores de Z correspondientes a las siguientes probabilidades
acumuladas:
P(Z=x) = 0.0161
P(Z=x) = 0.356
P(Z=x) = 0.000208
Las partes por millón se obtienen al multiplicar la
P(Z=4.5) = 0.00000345
P(Z=0.0) = 0.500
P(Z=2.78) = 0.00272
P(Z=7.43) = 0.00000000000017
P(Z= 1.46) = 0.0735
P(Z=0.0) = 0.500
P(Z=-2.78) = 0.00272
P(Z=-4.43) = 0.0000047
P(Z= -1.46) = 0.0721
y = 15
s = 1 .5
LSE − LIE 17 − 12
Cp = = = 0.55
6s 6(1.5)
LSE − y y − LIE
Cpk = Min ,
3 s 3 s
17 − 15 15 − 12
= Min ,
3(1.5) 3(1.5)
= Min(0.44), (0.66)
Cpk = 0.44
Probabilidad de Defectos
en los extremos
Z LSE =
LSE − m
=
17 − 15
= 1.33 = 1.33 P (Z LSE = 1.33) = 0.0918
P (Z LIE = − 2 ) = 0.0228
1.5
LIE − m 12 − 15
Z LIE = = = −2 = 2
1.5
PTotal = 0.1146
ppm = 114600
Las partes por millón que se
obtienen son:
Los datos siguientes corresponden
Calcular:
Valor de la Media
Desviación Estándar
Cp, Cpk, level ( valor Z), PPM,
Media 16.32
Desv. Std 1.09
Cp 0.61
Cpk 0.52
Z 1.55
PPM 77330
Los 50 datos siguientes corresponden a la
longitud de varillas tratadas en un horno con
Ejercicio SPC XL
una especificación de 190 +/- 30 cm. Los
datos fueron tomados en subgrupos de
tamaño 5
Valor de Media
Desviación Estándar
Cp, Cpk, level ( valor Z ), PPM,
Media 199.79
Desv.Std 21.09
Cp 0.47
Cpk 0.32
Z 0.96
PPM 198481
•Capacidad del •Defectos por Millón
•Proceso de Oportunidades
•Sigma es una unidad estadística de medida que refleja la capacidad del proceso. La escala
Sigma de medida está perfectamente correlacionada con tales características como los
defectos por unidad, partes por millón defectuosos y la probabilidad de falla / error.