SECRETARIA DE COMERCIO Y FOMENTO INDUSTRIAL NORMA OFICIAL MEXICANA NOM-2-12/2-1987 MUESTREO PARA LA INSPECCION POR ATRIBUIOS-PARTE 2: METODOS DE MUESTREO, TABLAS Y GRAEICAS SAMPLING POR INSPECTION BY ATTRIBUTES-PART 2: SAMPLING PROCEDURES, TABLES AND GRAPHS. DIRECCION GENERAL DE NORMASNOM-2-12/2-1987 CONTENIDO OBJETIVO Y CAMPO DE APLICACION . PREFERENCIAS DERINICIONES Sakis, CLASIFICACION DE DERECTOS 'Y UNIDADES DE” PRODUCTO DEFECTUOSAS” UNIDADES DE PRODUCTO . NIVEL DE CALIDAD ACEPTABLE (NCA) PRESENTACION DEL PRODUCTO PARA SU INSPECCION ACEPTACION 0 RECHAZO. . EXTRACCION DE MUESTRAS 10 INSPECCION NORMAL, RIGUROSA Y REDUCIDA 11 PLANES DE MUESTREO 12 CRITERIO DE ACEPTACION 13 INFORMACION SUPLEMENTARIA 14 TABLAS Y GRARICAS PARA LA INS! I LETRAS CLAVE CORRESPONDIENTES AL TAMANO DE LA MUESTRA TI-A PLANES DE MUESTREO SENCILLQ PARA INSPECCION NORMAL II-B PLANES DE MUESTREO SENCILLO PARA INSPECCION RIGUROSA TI-C PLANES DE MUESTREO SENCILLO PARA INSPECCION REDUCIDA III-A PLANES DE MUESTREO DOBLE PARA INSPECCION NORMAL . III-B PLANES DE MUESTREO DOBLE PARA INSPECCION RIGUROSA III-C PLANES DE MJESTREO DOBLE PARA INSPECCION REDUCIDA . IV-A PLANES DE MJESTREO MULTIPLE PARA INSPECCION NORMAL IV-B_ PLANES DE MUESTREO MULTIPLE PARA INSPECCION RIGUROSA IV-C PLANES DE MUESTREO MULTIPLE PARA INSPECCION REDUCIDA V-A FACTORES PARA EL LIMITE DE LA CALIDAD PROMEDIO DE SAL PECCION NORMAL V-B FACTORES PARA EL’ LIMITE DE ‘LA’ CALIDAD PROMEDIO'DE SALIDA’ PARA" INS" PECCION RIGUROSA .. VI-A CALIDAD LIMITE (EN PORCENTAJE DE DEFECTUOSAS)PARA LA CUAL Pa=108 VI-B CALIDAD LIMITE (EN DEFECTOS POR CEN UNIDADES)PARA LA CUAL VII-A CALIDAD LIMITE (EN PORCENTAJE DE DEFECTUOSAS)PARA LA CUAL Pa=5% VIII NUMEROS LIMITES PARA INSPECCION REDUCIDA . TX. GURVAS DEL TAMANO PROMEDIO DE LAS MOESTIAS PARA MIESTREDS DOBLE Y™ ‘MULTIPLE, PLANES DE MUESTREO Y CURVAS DE OPERACION CARACTERISTICAS TAMANO DE LA MUESTRA CORRESPONDIENTE A LA LETRA CLA\ TAMANO DE LA MUESTRA CORRESPONDIENTE A LA LETRA CLA\ TAMANO DE LA MUESIRA CORRESPONDIENTE A LA LETRA CLA\ TAMANO DE LA MUESTRA CORRESPONDIENTE A LA LETRA CLA\ TAMARO DE LA MUESTRA CORRESPONDIENTE A LA LETRA CLAl TAMANO DE LA MUESTRA CORRESPONDIENTE A LA LETRA CLA\ ‘TAMANO DE LA MUESTRA CORRESPONDIENTE A LA LETRA CLA TAMANO DE LA MUESTRA CORRESPONDIENTE A LA LETRA CLAl TAMANO DE LA MUESTRA CORRESPONDIENTE A LA LETRA CLAN TAMANO DE LA MUESTRA CORRESPONDIENTE A LA LETRA CLAN ‘TAMANO DE LA MUESTRA CORRESPONDIENTE A LA LETRA CLA\ ‘TAMANO DE LA MUESTRA CORRESPONDIENTE A LA LETRA CLA\ TAMANO DE LA MUESTRA CORRESPONDIENTE A LA LETRA CLAl TAMANO DE LA MUESTRA CORRESPONDIENTE A LA LETRA CLAY ‘TAMANO DE LA MUESTRA CORRESPONDIENTE A LA LETRA CLAN ‘TAMANO ‘DE LA MUESTRA CORRESPONDIENTE A LA LETRA CLAl as BSS ne 5 sas ROUZEERGTONMOOW> 5 Be BOveZERGEOUmOOw> Da Dee Be ae oe i 1 2 3 4 5 PORCENIAJE DE UNIDADES DE PRODUCTO DEFECTUOSAS Y DEFECTOS POR CIEN - 6 7 8 9 PAG. 25 26 0% 27 + 28 VII-B CALIDAD LIMITE .(EN DEFECTOS POR CIEN UNIDADES)PARA LA CUAL Pa=5% . 29 30 +80Prohibida ou rpraduccion wn aver zecidn det Ovecen Genero: OBJETIVO Y CAMPO DE APLICACION Esta parte de 1a norma establece las definiciones de los conceptos basicos, los planes de mestreo, las tablas y las gr&ficas para la inspecci6n por atributos, con el fin de permitir el mutuo entendimiento sobre bases estadisticas commes entre proveedores y compradores. los planes de mestreo de esta noma se aplican pero no se limitan a 1a inspec- cién de: productos terminados; componentes y materias primas; operaciones; materiales en proceso; materiales almacenados; operaciones de mantenimiento; datos y registros; ~ procedimientos administrativos. 2 REFERENCIAS Para la correcta aplicacién de esta norma se debe consultar la siguiente Norma Oficial Mexicana vigente: NOM-2-12/1 Muestreo para la inspecci6n por atributos- Parte 1: Informacién ge- neral y aplicaciones. 3 DEFINICIONES 3.1 Inspeccién Es el proceso de medicién, examen, prueba, o de alguna otra forma de comparacién de 1a unidad de producto bajo consideracién (véase 3.3) con respecto a las espe- cificaciones establecidas. 3.2 Inspecci6n por atributos Es la inspeccién bajo 1a cual simplemente se clasifica a la unidad de producto - como defectuosa o no defectuosa o se cuenta el nfmero de defectos que contiene - con respecto a las especificaciones establecidas. 3.3 Unidad de producto Es aquella que se inspecciona para su clasificaci6n en defectuosa o.no defectuosa © para contar el ntimero de defectos que contiene. Puede ser un solo articulo, un par, un juego, una longitud, una Area, una operaci6n, un volumen, un componente - de un producto temminado 0 €1 producto terminado mismo. La unidad de producto pue de o no ser la misma unidad de compra, surtimiento, produccién o enbarque. 4 CLASIFICACION DE DEFECTOS Y UNIDADES DE PRODUCTO DEFECTUOSAS 4.1 Clasificacién de defectos Tarinanas voonons este wow, cavcutn itn NoM=2-12/2- JLA_NOM-Z-12/3-1975 ¥,Es la lista de posibles defectos que puede contenor Ja unidad de producto, clasi - ficados de acuerdo a su importancia, Defecto es cualquier discrepancia o inconfor- midad de 1a unidad de producto, con respecto a las especificaciones establecidas. Los defectos se agrupan usualmente en una o més de las clases que se mencionan a - continuaci6n; sin enbargo, estos tanbién se pueden agrupar en otras clases o sub - clases dentro de las mismas. 4.1.1 Defecto eritico Es un defecto en el cual el criterio y 1a experiencia indican que tiene grandes - probabilidades de producir condiciones peligrosas o inseguras para las personas - que usen e1 producto, le den servicio o dependan de 61, También es aquel en el - cual el criterio y 1a experiencia indican que tiene grandes probabilidades de im — pedir e1 funcionaniento 0 el desempefio de 1a funcién prixiordial de un producto ter minado mayor, tal cono un barco, uh avién, un tanjue, un proyectil , un vehfculo = espacial, una computadora, un equipo médico, o un satélite de telecomunicaciones. Nos Para condiciones especiales relativas a defectos criticos (véase 8.3). 4.1.2 Defecto mayor Es un defecto que, sin ser critico, tiene grandes probabilidades de provocar una - falla o reducir en forma dréstica ia utilidad de la unidad de producto para el fin al que se le destina. 4.1.3. Defecto menor Es un defecto que representa una desviacién con respecto a los'requisitos estable- cidos y que no tiene una influencia decisiva en el.uso efective o en 1a operacién- de 1a unidad de producto, o sea que no tiene grandes probabilidades de reducir en- forma drfstica la posibilidad de uso para el fin.al qué se: le destina. 4.2 Clasificacién de unidades de producto defectuosas Una defectuosa es una unidad de producto que contiene mo o mas defectos. Estas - usualmente se clasifican en: 4:2.1 Defectuosa critica Una defectuosa critica contiene uno o més defectos criticos, asf cono también pue- de contener defectos mayores y/o menores. NOTA: Para condiciones especiales relativas a defectos criticos (véase 8.3). 4.2.2 Defectuosa mayor Una defectuosa mayor contiene uno o mis defectos nayores y que tanbién puede conte- ner defectos menores, pero que no ¢ontiene defectos criticos. 4.2.3. Defectuosa menor Una defectuosa menor contiene uno o més defectos menores, pero que no contiene ni - defectos mayores ni criticos. 5 PORCENTAJE DE UNIDADES DE PRODUCTO DEFECTUOSAS Y DEFECTOS POR CIEN UNI - DADES DE PRODUCTO 5.1 Formas de expresar 1a inconformidad a eesNOM-2-12/2-1 987 3/64 El grado de inconformidad de una unidad de producto, se puede expresar camo: Porcentaje de unidades de producto defectuosas, 0 defectos por cien unidades. 5.2 Porcentaje de unidades de producto defectuosas Es el cociente del minero de unidades de producto defectuosas, entre el nine- ro total de unidades de producto inspeccionadas, todo miltiplicado por 100. 5.3 Defectos por cien unidades de producto Es el cociente del minero de defectos encontrados en las unidades de producto, entre el mfinero de unidades de producto inspeccionadas, todo multiplicado por NOTA: Qualquier unided de producto puede contener uno 0 m&s defectos, DEFECTOS POR CIEN UNIDADES = GANrInAD-TREpEREIONnA- X 100 6 NIVEL DE CALIDAD ACEPIABLE (NCA) 6.1 Uso El NCA se usa en conjunto con 1a letra clave que corresponde al tanafio de la muestra, para entrar en las tablas correspondientes a los planes de muestreo para la inspeccién por atributos incluidas en la parte III de esta noma. 6.2 Definicién E1 NCA es 1 porcentaje mixino de unidades de producto defectuosas (0 el méxi no ntimero de defectos por cien unidades de producto) que, para propésitos de inspeccién por muestreo, se puede considerar satisfactor io camo calidad pro- medio de un proceso (véase 13.2), 6.3 Explicaciones sobre el significado del NCA Quando un consmidor especifica un valor de un NCA para un defecto o grupo de defectos, con ello indica al provesdor que su plan de muestreo de aceptacin va a aceptar 1a gran mayoria de los lotes o partidas que presente el provecdor sienpre y cuamio el pranedio del porcentaje de unidades de producto defectuo- sas (0 defectos por cien unidales de producto) en esos lotes o partidas, no - exceda el valor especificado para el NCA. Por lo que el valor especificado — del NCA es el porcentaje de unidades de producto defectuosas (0 defectos por cien unidades de producto), que el consmidor indica que es aceptado 1a mayo- Fia de las veces, por e1 plan de inspeccién por mestreo que se va a usar, -- Los planes de mestreo que se proporcionan en esta norma estan elaborados de tal manera, que la probabilidad de aceptaci6n en el valor especificado del ~ NCA, depende del tanafio de Ja muestra, siendo generalnente mis grande para ta mafios de muestra mayores que para peqiefios, para un NCA definido. E1 NCA solo, no indica 1a proteccién al consmidor en lotes o partidas individuales, pero se relaciona mas directanente con loque se puede esperar deuna serie de lotes © partidas, si se tana en centa esta norma. En este filtino caso, es necesa-- rio consultar las curvas de operacién caracteristicas del plan para deteminar que proteccién va a tener el consumidor.NOM-Ze1 2/21 987 4/64 6.4 Limitaci6n La especificaci6n de un NCA no significa que el proveedor tenga derecho a pro- porcionar, a sabiendas, wnidades de producto defectuosas. 6.5 Especificacién del NCA EL NCA que se va a usar debe especificarse en el contrato o establecerse por - mutuo acuerdo entre proveedor y consimidor.Se pueden especificar diferentes - NCA para grupos de defectos considerados en foma colectiva o para defectos in dividuales. Se puede especificar un NCA para un grupo de defectos adicionalnen te a los NCA para defectos individuales 0 subgrupos en el misno grupo. Los NCA para valores de 10 0 menores, se pueden expresar ya sea en porcentaje de unida des de producto defectuosas 0 en defectos por cien unidades de producto; aqie- los mayores de 10 se deben expresar sélamente cano defectos por cien unidades de producto. 6.6 NCA preferentes Los valores de los NCA proporcionados por lastablas de 1a parte III de esta nor, ma, se conocen cano valores prefertntes de NCA. Si para algtin producto se debe especificar un NCA diferente a los valores preferentes, las tablas de la parte III no son aplicables. 7 PRESENTACION DEL PRODUCTO PARA SJ_INSPECCION TA Lote o partida Se refiere a lotes o partidas para s1 inspeccién y se definen cono el conjunto de unidades de producto del cual se tana la muestra para su inspeccién y se de. termina la confomidad con el criterio de aceptacién y puede ser diferente al conjunto de unidades 1lanadas lote o partida para otros prop6sitos (por ejen- plo: produccién, enbarqie, etc. ), 7.2 Formacién de lotes o partidas B1 producto debe agruparse en lotes, sub-lotes o partidas identificables o de - cualquier otra forma que se especifique (véase §.4). En lo posible cada lote 0 partida debe estar constituido por unidades de producto de un sélo tipo, grado Clase, tamafio y camposicién, fabricados esencialmente bajo las misnas condicio. nes y en el misno periodo. 73 Tanafio de lotes o partidas Es el mimero de unidades de producto que contienen 74 Presentaci6n de lotes o partidas para su inspeccién Se debe establecer por mituo acuerdo entre proveedor y conprador, 1a manera de formar los lotes o partidas, su tanafio y 1a forma en que deben presentarse e - identificarse por SL prereedot Quando sea necesario, el proveedor debe propor cionar espacio adeaiado y apropiado para el almacenaniento de cada lote o par= tida, el equipo necesario para 1a adecuada presentacién e identificacién y per. sonai para levar a cabo todo el manejo del producto necesario para la extrac ci6n de las muestras, 8 ACEPTACION O RECHAZO 8.1 Aceptabilidad de lotes o partidasNOM ~2-12/2-1987 5/64 Esta se determina por medio del plan o planes de muestreo en conjunto con el ~ NCA correspondiente. 8.2 Unidades de producto defectuosas El consmidor tiene derecho a rechazar cualquier unidad de prolucto que | en-- cuentre defectuosa durante 1a inspecci6n, sin importar que dicha unidad foe parte de la muestra o no y sin importar que el lote o partida en total sea acep tada ono, Las unidades de producto defectuosas pieden repararse o corregirse y presentarse mevanente para st inspecci6n,mediante la aprobacién y en 1a for- mma acordada entre proveedor y comprador. 3 Condiciones especiales relativas a defectos criticos Dependienlo del mutuo acuerdo entre proveedor y comprador, se puede establecer que el proveedor inspeccione cada unidad de producto del iote o partida, con - Tespecto a los defectos criticos. E1 consamidor tiene el derecho a inspeccionar cada unidad del lote o partida con respecto a los defectos criticos y rechazar el lote o partida inmediatanente después de encontrar un defecto critico y tan Dign tiene el derecho de tonar mestras con respecto a defectos criticos de cada lote o partida presentada a inspeccin por el proveedor y rechazar cualquier 10 te o partida que contenga uno o mis defectos criticos en 1a muestra tomada. 8.4 Lotes 0 partidas presentadas nuevamente para inspeccién Los lotes o partidas que han sido rechazados inicialmente, se pueden presentar nuevanente a inspeccién de aceptacién, sdlamente después de haber examinado, - medido 0 probado nuevenente todas, Jas unidades de producto y que se hayan qi- tado las defectuosas 0 corregido los defectos. De mtuo acuerdo entre proveedor y comprador se establece si se usa en este caso 1a inspeccin normal o rjgurosa y si la inspeccién debe incluir todos los tipos y clases de defectos 0: solamente Jos fipos.y. clases’ de dofectos.por los que fué rechazado inicialmente. 9 EXTRACCION DE MUESTRAS 9.1 Muestra Consiste de una o més unidades de producto tomadas de un lote o partida. Estas deben tonarse estrictamente al azar, sin considerar su calidad. E1 nfimero de - unidades de producto en 1a muestra corresponde al tanafio de 1a misma. 9.2 Muestra representativa Siempre que sea posible, e1 ntmero de unidades en 1a muestra se debe seleccionar en proporcién al tamafio'de los sublotes o subpartidas o partes que componen el lote o partidd, identificadas por un criterio racional. Cuando se desee un mes- treo representativo, se seleccionan las umidades de producto de cada parte del lote o partida estrictanente al azar. 9.3 Tiempo de muestreo Se pueden tomar las muestras cuando se haya terminado de formar un lote o par da,o bien se pueden tomar durante el proceso de formacién del mismo. 9.4 Muestreo doble o mGltiple Cuando se usen los planes de muestreo doble o mGltiple, las muestras en cada -NOM-~Z-12/2-1987 6/64 caso deben ser representativas de todo el lote o partida. 10 INSPECCION NORMAL, RIGUROSA Y REDUCIDA 10.1 En este caso se usa la inspecci6n normal, a menos que proveedor y con- prador, acuerden otra cosa. 10.2 Continuacién de una inspeccién La inspeccién debe continuar sin cambios para cada clase de defectos 0 defectuo sas en lotes 0 partidas sucesivas, ya sea normal, rigurosa 0 reducida, excepto cuando el procedimiento de cambio que se presenta a continuacién indique otra - cosa. El procedimiento de canbio se debe aplicar a cada clase de defectiiosas 0 defectos en forma independiente. 10.3 Procedimiento de canbio 10.3.1 Normal a rigurosa Cuando se est4 llevando a cabo la inspeccién normal y se rechazan 2 de § lotes © partidas consecutivas en inspeccién original, se debe establecer de innediato la inspecci6n rigurosa. NOTA: No se deben tomar en cuenta los lotes o partidas presentados nuevamente - para inspeccién en este procedimiento. 10.3.2 Rigurosa a normal Cuando se esta llevando a cabo 1a inspeccién rigurosa y se acepten 5 lotes o - partidas consecutivas en inspecci6n original, se debe establecer de innediato - Ja inspeccién normal. 10.3.3 Normal a reducida Cuando se esta Levando a cabo 1a inspeccién normal, se debe establecer 1a ins- peccién reducida si se cumplen todos los requisitos que se establecen a cont: a) Cuando no se hayan rechazado en insneccién original los Giltimos 10 lo- tes o partidas (0 mis, como se indica en 1a nota correspondiente a la tabla VIII) >) El nfimero total de defectuosas (0 defectos) en las mestras de los 10 - Gltimos lotes o partidas ( 0 el nfmero usado para la condicién del punto ante-: rior) es igual o menor que el nimero correspondiente dado en la tabla VIII. Si se estd usando muestreo doble o miltiple, se deben incluir todas las muestras inspeccionadas y no sélanente las primeras; ©) La produccién tiene um ritmo constante; a Cuando de mituo acuerdo entre proveedor y comprador se considere desea- ble el implantar 1a inspeccién reducida. 2 10.3.4 Reducida a normal Cuando se esta Mlevando a cabo 1a inspeccién reducida, se debe establecer 1a ins peccién normal, sien 1a inspeccién original sucede cualquiera de las circunstan cias que se anotan a continuacién:NoM-2-12/2-1987 hi a) se rechaza un lote o partida b) __un lote se considera aceptable de acuerdo con el procedimiento esteblecido en 12.1.45 ¢) sila produccién se hace irregular olenta 4) otras condiciones que Justifiquen 1a implantacién de 1a inspeccién normal, 10.4 Suspensi6n de 1a inspeccién En el caso de que 10 lotes o partidas consécutivas permanezcan en inspeccién - rigurosa (0 cualquier otro némero que se especifique por mituo acuerdo entre - proveedor y comprador), .se suspende 1a inspeccién bajo las condiciones de esta norma en espera de una’accién que mejore 1a calidad del producto presentado a inspeccién. u PLANES DE MUESTREO 11.1 Plan de mestreo Este define el tamafio de 1a muestra que debe tomarse de cada lote o partida pre sentado a inspeccién (tamafio de la mestra o serie de tamafios de muestra) y el criterio para detemminar su aceptaBilidad (némero de aceptacién (Ac) y rechazo (Re) .) 11.2 Nivel de inspeccién Este define 1a relacién entre el tamafio del lote o partida y el tamafio de la - muestra. De mutuo acuerdo entre proveedor y comprador se establece para cada re quisito en particular, el nivel de inspecci6n que debe usarse. En la tabla uno se dan tres nieveles de inspeccién, el I, II y el III para ser usados en general A menos que Gtra cosa se especifique, debe usarse el nivel II; sin embargo, se puede especificar el nivel I cuando’sea necesaria una discriminacién menor 0 el nivel IIT cuando sea necesaria una discriminacién mayor. Se dan también en la ~ misma tabla cuatro niveles de inspeccién adicionales: S-1,S-2,S-Sy S-4'se pueden usar donde sean necesarios tamafios relativamente reducidos de 1a muestra y que se deban 0 se puedan tolerar los riesgos mayores correspondientes. NOIA: _En 1a especificaci6n de los niveles de inspeccién $-1 al S-4, se debe tener cuidado en no especificar NCA incompatibles con dichos niveles de inspec- ci6n. 11.3 Letras clave Estas identifican el tamafio de la muestra que se debe tomar en funcién de los - ‘tanafios de los lotes y el nivel de inspecci6n especificado; para obtenerlas se usa la tabla I. 11.4 Seleccién del plan de mestreo Se debe usar el NCA y 1a letra clave, para seleccionar el plan de mestreo por me dio de las tablas II, III 6 IV. Cuando no existe plan de muestreo disponible pa= Ya una conbinaci6n déterminada de NCA y letra clave, las tablas mismas gufan al usuario hacia una letra clave diferente, en este caso el tanafio de 1a muestra es t4 dado por 1a nueva letra clave y no por la original. Si con este procedimients se obtienen diferentes tamafios de muestras para diferentes clases de defectos, - se puede usar la letra clave que corresponde al tamafio de 1a muestra mayor para todas las clases de defectos cuando asi se especifique, 0 se acuerde entre pro-- veedor y comprador. Se puede usar, cuando asf se especifique o se acepte de mu-- tuo acuerdo entre proveedor y consumidor, como alternativa de un plan de muestreo|NaN-2:92/2-1987 sencillo con un nfmero de aceptacién de 0, el plan de muestreo con un nero de aceptaci6n de 1, con su correspondiente tamafio mayor de muestra, para un NCA es pecificado (que sea ‘disponible) _ 11.5 Tipos de planes de muestreo Se dan tres tipos de planes de muestreo en las correspondientes tablas II,III y IV: sencillo, doble y mGltiple: cuando existen varios tipos de planes para una canbinaci6n dada de NCA y letra clave, se puede usar cualquiera de ellos. La de. cisiGn con respecto al plan que se va'a usar, ya sea sencillo, doble o mdltiple (cuando los haya disponibles para una conbinacién de NCA y letras clave dadas), nomalmente se basa en un balance entre 1a dificultad adninistrativa y el prom dio de los tamafios de las muestras de los planes disponibles. El promedio del = tanafio de 1a muestrardel plan mGltiple es menor que el tamafio de la muestra del plan doble (con excepcién del caso en que en el sencillo el nGmero de aceptacin sea 1) y ambos son siempre menores que el tamafio de 1a muestra en el plan senc: lo, normalmente la dificultad adninistrativa para el plan sencillo y el costo por unidad de la muestra son menores que para el plan doble o ndltiple. 12 CRITERIO DE ACEPTACION 12.1 Inspeccién por porcentaje de unidades de producto defectuosas Para determinar 1a aceptabilidad de un lote 0 partida sujeto a inspeccién de - porcentaje de unidades de producto defectuosas, el plan de muestreo aplicable - se usa segin se indica en 12.1.1, 12.1.2, 12.1.3 y 12.1.4, 12.4.1 Plan de muestreo sencillo El nGimero de unidades de producto que se inspeccionan es igual al tamafio de 1a muestra dada en dicho plan. Si el némero de unidades de producto defectuosas en contrado en la muestra, es igual o menor que el ntmero de aceptacién, dicho lo- te o partida se considera aceptable. Si el nfmero de unidades de producto defec tuosas es igual o mayor que el nfmero de rechazo, el lote o partida debe recha- zarse. 12.1.2 Plan de muestreo doble EL nfmero de unidades de producto que deben inspeccionarse es igual al primer - tamafio de muestra dada en el plan. Si el nimero de unidades de producto defectuo sas encontradas en la primera muestra, es igual o menor que el primer némero de aceptacién, el lote o partida se considera aceptable. Si el nfimero de unidades de producto defectuosas encontradas en la primera muestra es igual o mayor que el primer ntmero de rechazo, el lote o partida debe rechazarse. Si el ntinero de unidades de producto defectuosas encontradas en la primera muestra queda com--- prendido entre el primer némero de aceptacién y el primer nfmero de rechazo, se deben inspeccionar una segunda muestra del tamafio indicado por el plan. Se de-- ben tonar el némero de unidades defectuosas encontradas en el primer y segundo muestreos. Si el nfmero total de unidades de producto defectuosas es igual o me nor que el segundo nfimero de aceptacién, el lote o partida debe considerarse -- aceptable. Si el nimero total de unidades defectuosas es igual o mayor que el - segundo nfmero de rechazo, el lote o partida debe rechazarse. 12.1.3 Plan de muestreo nGltiple Para este plan de mestreo, el procedimiento de inspeccién debe ser similar al especificado en 12.1.2, con excepci6n que el nfmero de muestras sucesivas nece- sarias para llegar a una decision puede ser de més de dos.NOM-2-12/2-1987 9/64 12.1.4 Procedimiento especial para inspecci6n reducida Cuando se est4 levando a cabo 1a inspecci6n reducida, el procedimiento de mes treo puede finalizar sin que necesarianente se haya cumplido con el criterio de aceptacién 0 de rechazo. Bajo estas circunstancias el lote o partida se conside ra aceptable, pero se debe establecer 1a inspecci6n normal en el siguiente lote © partida (véase 8.3.4 (b) y tanbién las notas al pie de las tablas para inspec cién reducida). < 12.2 Inspeccién de defectos por cien unidades Para detemninar 1a aceptabilidad de un lote o partida sujeto a inspeccién de de fectos por cien unidades se debe usar el procedimiento especificadopara porcen- tajes de defectuosas con excepcién de 1a palabra "defectuosas", que debe ser - substituida por "defectos". 13 INFORMACION SUPLEMENTARIA 13.1 Curvas de operacién caracteristicas (COC) Las curvas de operaci6n caracteristicas para inspeccién nomal, que se muestran en la tabla X, indican el porcentaje de los lotes o partidas que se puede espe- rar sean aceptadas bajo los diversos planes de muestreo para una calidad dada - del proceso. Las curvas que se muestran, corresponden a muestreo sencillo; las curvas para muestreos doble o miltiple Coinciden con estas tan de cerca, que se pueden usar para los muestreos doble o mfiltiple sin errores de consideraci6n. - Las curvas de operacién caracteristicas que se muestran para NCA mayores de 10.0 se basan en la distribucién de Poisson y son aplicables para la inspeccién de - defectos por cien unidades; aquellas para NCA de 10.0 0 menor y tamafios de mes tras de 80 0 menor, se basan en 1a distribucién binominal y son aplicables para inspeccién de porcentaje de defectuosas; aquellas para NCA de 10 0 menor y tana fios de muestras mayores de 80 se basan en la distribucién de Poisson y son apli cables, ya sea para la inspeccién de defectos por cien unidades, o para la ins- peccién de porcentaje de defectuosas (1a distribucién de Poisson es una aproxi- maci6n adecuada a la distribucién binominal bajo estas condiciones). Se proporcionan valores tabulados, correspondientes a valores seleccionados de sabilidad de aceptacién (Pa, en porcentaje) para cada una de las curvas que ‘se muestran y en forma adicional, para inspeccién rigurosa y para defectos por cien unidades para NCA de 10.0 o'menor y tamafios de muestras de 80 0 menor. 13.2 Calidad promedio de un proceso (CPP) Es el promedio del porcentaje de defectuosas 0 el promedio de defectos por cien unidades (1o que corresponda) de un producto presentado por el proveedor a ins pecci6n original. La inspeccién original es 1a prinéra inspeccién de una canti- Gad de producto en particular y no se debe confundir con 1a inspeccién de un - producto que se ha presentado nuevanente a inspeccién después de haber sido re- chazado en la inspeccién original. 13.3 Calidad promedio de salida (CPS) Es el promedio del porcentaje de defectuosas 0 el promedio de defectos por cien unidades (1o que corresponda) de todos los lotes aceptados de un producto pre-~ sentado por el proveedor a inspeccién. En el caso de lotes rechazados en inspec ci6n original, estos no deben incluirse, sino hasta el manento en que son acep- tados después’ de haber sido realmente inspeccionados cien por ciento y que ha-~ yan sido reemplazadas todas las unidades defectuosas por no defectuosas 0 corre Bidos los defectos.NOM-2-12/2-1987 ‘ 10/64 13.4 Limite de la calidad promedio de salida (LCPS) Es e1 m&xino de las calidades promedio de salida (PCS) para todas 1as posibles calidades de entrada para un plan de muestreo de aceptacién dado. En la tabla V-A se dan valores LCPS para cada uno de los planes de miestreo sencillo para inspecci6n normal y en la tabla V-B para cada uno de los planes de muestreo sen cillos para inspeccién rigurosa. 13.5 Curvas del tamafio pronedio de las mestras Para planes de muestreo dobles y miltiples, las curvas del tamafio promedio de las muestras, se encuentran en la tabla IX. Estas indican los tamafios promedio de las muestras que pueden esperarse que ocurran bajo distintos planes de muestreo y una calidad pronedio del proceso determinada. Estas curvas no suponen una dismi - nucién de la inspeccién y son aproximadas hasta el punto que estan basadas en la- distribucién de Poisson y que el tamafio de 1a muestra, para planes de muestreo - Goble y mGltiple, se supone que son iguales a 0.63n y 0.25n respectivamente, don- de n es el tamafio de 1a muestra correspondiente al plan de muestreo sencillo. 13.6 Proteccién de calidad limite Los planes de miestreo y procedimiento asociados, dados en esta norma, estén di - Sefiados para usarse cuando las unidades de producto se fabrican en series conti - nuas de lotes o partidas en un tiempo determinado. Sin enbargo, si el lote o par- tida es de naturaleza aislada y es deseable el linitar la seleccién de los pla - nes de miestreo a aquellos que, asociados con el valor del NCA especificado, pro- porcionen no menos de un valor especificado de proteccién de calidad limite, se - pueden seleccionar planes de mestreo para este propésito escogiendo una calidad- Limite (CL) y un riesgo del consumidor especificado. En las tablas VI y VII se - dan valores para las calidades limite, para riesgos comunmente usados del consu - midor de10 y St respectivamente. Si Se requiere de un valor diferente para el - ‘riesgo del consumidor se pueden usar las curvas de operacién caracteristicas y - sus Valores tabulados. El concepto de calidad limite puede también ser (til al especificar el NCA y el - nivel de inspeccién para una serie de lotes o partidas, fijando asi un tamafio mi- nimo de muestra donde existe alguna raz6n para evitar, (con un riesgo mayor que - el especificado para el consumidor), més que un porcentaje limitado de defectuo - ‘sas (0 defectos) en cualquier lote 6 partida aislada. 14 TABLAS Y GRAFICAS PARA LA INSPECCION POR ATRIBUTOSNOM>Z=12/2~1987 11/64 epyaazed 0 3301 Tep oyeurs, Saqezeus6 uprsoedsuy ap soteaty seqeyoadse ugrosedsuy ep soTeaty (erbh & arb esegay VULS3NH V1 30 ONVHVL TV S3IN3IGNOdS3¥YOD 3AVIO SYMLIT 1 WiavL. LETRAS CLAVENoM~2~12/2-1987 12/64 @1qeIde02z pep} [ed ap SelsAIN (shu 4 pete esega) TWHUON NOIDI3dSNI Ve¥d OT19N3S OF¥LSINW 30 SINVId V-1I VIB¥L _ SENCILLONOM~2~12/2-1987 13/64 ‘poo! vpt2vedeu1 exepr2eyo' 2201 [9p 18 ‘okew of nk 2 =p ovens RIGUROSA SENCILLO ‘eigeadeze pepile> ep Solin (rt & orb esepa) WSOUNDIY NO1IIIGSNI Wud OTTIINES O3¥LSINW 30 SANYTd E-I) WiavLNOM~2~12/2-1987 14/64 S201 199 ataved © jeusou upjacedsuy © eyque> 96 K aaot 12 erdece 96 “ozeyoed op 19 ezw{e 96 ov ated ‘upjoerdene ap ouomnU {2 9908 " REDUCIDA eideadase pep![eo ep Sejenin GU A gets osegn VO1INGSY NOI9IZdSNI WEVd OTTIIN3S O3NLSINW 3G S3NVId 9-11 Wave SENCILLONOM-Z-12/2-1987 15/64 $8) 88) 88 “NORMAL DOBLE me se Se [Sie Se | [at | mts si [St | ens ees | anes ae Ee or es ew le 2 |@ e |e & |e 2 fer | ents & Couns | a er ans ’ Tune e wore 3 Same |_o 2 ees é aaa | 9 : Sporaes a v ‘tgeadeae peptte> sp <21>Ain Cr A gran sean) TWAYON NOIDI3ESNI VEVd 37900 OF¥LSINW 30 S3NVId V-II WIG¥LNOM-Z-12/2-1987 16/64 2001 upiseadsuy aeap229j2"s201 {2p {8 Jokew o* jen5i se exasenu et 2p oyeerD atarvodsip sotseyut oxerpeuy e1qop o2szsenu 2p ve} —— i Deeks l RIGUROSA “DOBLE an [ae [ss] 38 (SEL A grat seage vSOUNDIY NO12OZdSNI WU 37800 OFELSINN 30 SANVId 8-111 VIGVLs1a0d TABLA I11-C PLANES DE MUESTREO DOBLE PARA INSPECCI Re | a8. es | 8s] as 38/83 3S] sa] se ale ws la 83 (BB ‘41 primer plan de muestreo debajo dela Mecha. Si el mato de la muestes es igul, 0 mayor al del lore, ‘ngpecetén 100 el primer plan de muestreo arriba de a fecha. 46a, pero 90 ge alcanza el de rechsz0, 92 acopta el love y se cambla a inepeccibnTABLA IV-A PLANES DE MUESTREO MULTIPLE PARA INSPECCION NORMAL (von 1h y 11.5) NOM-2~12/2~1987 18/64 iveles do eallded ecaptable (inspecclén normel) 2 2 i [| Sueate [eno] oa] ox] amie Xs | reat Va 22 | $89 Hite figes.2| $28 HUal! 0 NORMAL. MULTIPLENON~2-12/2~1987 19/64 2yg1uessip J04 12941 orerpouy 91643 Nw coussona 9p ue;d 12 3001 upis9adsuy asapr22j9"220) 199 CSE A rte onepe yy = Santee (ugoeNuT3u0D) TYWYON NOIIIRdSNI We¥d 37d1L1NW ORXLS3NW 30 S3NVId wy 4 ey » [Ze 453 22 * et et 8 “ 5 ee & | Pt w | a a | a | eg e138 ; = fs | 8 148 ole #8 z mE z ais sg Hg | cen | {Uewsou vg isaedGul) elqeadee pepiie> 9 F9108IN a ae WAL ViaviNOM~2~12/2-1987 20/64 RRRRRRE a 8 | PSNees a ia [we | oe] ono] sxe] sro] on] Siqesdane pepiie> oP SOLPAIH 1¥ NOIQIZESNI V¥¥d JTdILINW O3UISANW 30 S3NVId nM VISE RIGUROSA MULTIPLETABLA IV-B PLANES DE MUESTREO MULTIPLE PARA INSPECCION RIGUROSA (continuacién) ( wlene 114 y 11.5) > NOM-2-12/2-1987 2K 3 5 3 3 8 i fo el plan de mucstreo niltiple innediate inferior disponible Jo OOu ge = RIGUROSA MULTIPLE °NOM-2=12/2-1987 22/64 ojspedsuy © ejguen at At 001 12 1s(ewoin6 1s eviSgd o| u2 e1ae2 e 2p upioenusruoa e| aseaigsuel ey, aasases| 288 of | : REDUCIDA Sete =|-|-lola |e /3 |e eit lo|t) slele[elel= [eerie [elelo [elo ln le lele lel felleeen] oe | aes] on, | ase 1p S1ernden papi. op orien Slowit aR CSU 4 gra osega ) VOI9NG3Y NOII3dSNI Va. 31¢1L7NW O3¥LSINW 30 S3NVId 9-A WievL MULTIPLENOM=2=12/2~1987 23/64 001 vpr22z¢su) asaqi2%j2 ‘2204 2 4 & ze = = = z & s 8 ale sofas coe soba fs espa afew meen fu mel oobu orbu ote cafe ow fe oefw fee fe mpe oefw mu fw a atest ee epee Peet doe to fov tas bar tmsfesfemtmsto Se | SE | een | Bat “| HOR | Geet 2 [PPro opie HOTRR 7 a3 (eu sen om) (up12enuyau09) vajana3¥ NO1934SNI Vad 311110 O3MISIOW 30 S3NVId -A1 view | REDUCIDA MULTIPLENoM-2~12/2-1987 24/64 [ pared o a107 Top vee ~ 1 soe szeondij uagap scpeorpur nqiiz8 Soz0TRA Sor “ex9ex9 SHOT To FOUENGO WI "HON, ‘enon Bf ap OSEL vn Co {12488 o243senu) TWHYON NOLD93dSNI Wad VOLTS 30 O1G3NONd QVOIT¥) VI-30 SLINIT 13 W¥d S3OLOYS V-A WieVLNoM-2-12/2-1987 25/64 (ares 90098 ) [Seaseeemrs wprared os30t TP OFPEEL 1] sof ossvortinrn uogep sopeoieat eq” sazoTeA So ‘sexe SIT 2 soteNGO ‘pareonw 8] 9p OpPwEL, erag =mON, Diqeadsoe pep! le> ep Salenin (ol ,youes oeu3senw) sound! NOIDDBESNI YUvE VOITYS 3¢ 91GEHOUd GYOITVD V7 36 SLINIT 13 Vue S3U0L9I vd aA WIBVLNOM~2-12/2~1987 26/64 BlISII/SRAIA Sigeadese pep 129 9p Se12A1n: (SEL e038) [1ouas oaa3sanu jewiou ugiozedsu; eved) gol=ed wd WI We¥d (S¥SOMLI3: 30 3CVINZOWOd NZ) SLIWIT QVOIWD WIA Vier CL (DEFECTUOSAS)NoM-2~12/2~1987 21/64 vt vole ek] asf[sanla [ele [ofefonmoefenaorran sigeadace pep) eo ep sajaniy (9764 otega ) (01112498 cas3sanu *jewsou ugiszedsu) exed) Rotsed Twnd v1 Vuvd(S3WGINA N319 YOs SOL93430 N3)3LINIT QWOITY) G-IA vIE¥L CL (DEFECTOS) “10%NOM~2~12/2~1987 28/64 @ EA we a ” os 9 9 (9°61 ote ) ayqeadese pepi leo ap sajaain we De fe [oo = DD fo mel | ol |, 3$-e¢ Wh [¥ouas J3senw ‘jewiou upjozedsuy eved) ‘S¥SONLIB4IG 30 3PVINZOYOd N3)3LINIT OVOITVD Y-1IA VigvL CL_(DEFECTUOSAS)NOM~2~12/2-1987 29/64 g aaalaeg ost | ort | se ext | oct | oot om om Joe ou | ots | 08 ort} ore | ots oe | oz ‘ost |oont} oot | 08k oss | oe one |oost} corr 058 ose | cxe | one e ° oa sie Lene ogee, (9°84 onepe ) >tqesdeoe pep! {e> ep S2l9AIN (01 {122s oasasenut jewsou ugisedsus esed) gSeq Tnd V1 Wuvd (S3OVGINN NID Yod $OLI3430 NA)SLIWIT GVOIIWI @-11A WIaVL CL (DEFECTOS)NOM=2~12/2-1987 30/64 3 8 8 3 3 & £ TABLA VIII~ NUMEROS LIMITES PARA INSPECCION REDUGIDA AUMEROS. LIMITESNOM~Z-12/2-1987 31/64 ( vane 13.5) DE LAS MUESTRAS PARA MUESTREOS DOBLE Y MULTIPLE ecién nomel y rigurosa) sh rie a porcetaje de detec i X porcentaje de defettuosas Ax porcenaje de defectuosts z 2 3 z TANANO PROMEDIO DE LAS MUESTRASNOM-2~12/2~1987 32/64 wossiog 9p ef s2peptun u>|> 40d £022252p ap o1sUNL 19 Us esoinbya ugisoedsuj) o[qeydese peplie> P S@lenIN x x< 0049 92091351 1 OpeoLdue ey 96 SeseN26/9p op 2ferueD404 {9p oLmDIED 12'vy renOH wat 8/8]3] 3/8/8818] & a}s]ale]elelslala|s 9/2/88 /e/8) 818 4 x @ D< 9 (leuiou ugis2edsuj) ajqeadede pepiles ap SolenIn ‘soprranes oazssaau: op saunid axed seopisproisezes ugpoezedo op suaino spl szed sopstnqe SexOTEA T-Y-X VIEVI. owieu ugjosodoat axa VON £01 ¥ w9qu0dsaz309 sexin> sof 23408 S920TEA 807 ZION, (01-< VON ted sopeppun vor9 40d eoizo}p uo & ‘Dr VON ted eeEoH:20}ep 2p ofemmeaiod Uo €) $3107 SO 34 GVOTWD (se3uayeainba vos 91d131pu A @1qop soaszsenu eved senin> seq) SO[[!9uas Oai3sanu ep souejd e1ed seo13s1isz9e1e9 uo! e1ado ap SeAIND Y YOI4WYD W 3AV1 VULET V1 Vv 3INZIGY “S3¥YOI WULSINW VT JO ONWHYL W-X VIa¥L. nae od * gioces = 28onb sfentsonay oe