INTERNATIONAL Iso STANDARD 4287 NORME mon INTERNATIONALE Geometrical Product Specifications (GPS) — Surface texture: Profile method — Terms, definitions and surface texture parameters Spécification géométrique des produits (GPS) — Etat de surface: Méthode du profil — Termes, définitions et Pparamétres d'état de surface Reference number Numéro de 166 1SO 4287/1997 E/FISO 4287:1997(E/F) Contents 1 Scope Normative references Terms and definitions onsen 3.1 General terms 3.2. Geometrical parameter terms, 4 Surface orofile parameter de‘nitions.... 4.1 Amplitude parameters (zeak and valley). 4.2 Amplitude parameters (average of ordinates)... 4.3. Spacing parameters 4.4 Hybrid parameters 45. Curves and related parameters Annexes A Tox: equivalents B Fowchart for surface assessment c Comparison of basic terms anc parameter symbols be- tween ISO 4287-1:1984 and ISD 4287:1996 Rolationship to the GPS matrix model E Bibl ography © 150 1997 Page 10 3 5 15 16 20 z 23 25 Al rights reserved. Unless otherwise specified, no part ofthis publicstion may be reprod ‘ced of utlized in any form or by any means, elzctronic or mechanical, including photoce- ying and microfilm, without permission in writing from the publsher./ Dros de Feproduction réservés. Saul prescription diferente, aucune parie de cette publication ne Deut Bie reprocuite ni utlisée sous queue forme que ce soit et par jun procede, elec- Ironique ov mézanique, ¥ compris la ahotocopie et les microfims, sans accord écrit de Internatioyal Organization for Stancartization Case postale 56 » CH-1211 Geneve 20 « Switzerland Printed in Switzeriand /Imprimé en Suissee1so Sommaire Domaine dapplication, 2 Références normatives 3 Termes ot détinitions 3.1. Définitions générales 3.2. Definitions géométriques 4 éfinitions des paramétres de profil 4.1, Poramatres d'amplitude (sail e1 creux) 42. Paramatres d'amplitude (moyenne des ordonnées) 4.3. Paramétres diespacement. 4.4. Parametres hybrides 45. Courbes et parame Annexes A Equivalents textuels B Diagramme pour 'évalustion de surface © —_Curnparaison des symboles des termes de base et des paramatres entre ISO 4287-1:1984 et '1SO 4287:1996 D Relation avec la matrice GPS E —_Bibliographie ISO 4287:1997(E/F) Page 0 10 B 5 6 16 19 20 23 25ISO 4287:1907(E/F) e1so Foreword ISO (the International Organization for Standardization) is a worldwide federation of national standards bodies (ISO member bodies). The work of preparing nterational Standards is rormally cartied out through ISO technical committees. Each member body interested in 2 subject for which a technical committee has been established has the right to be represented an that committee. International organizations, governmental and non-governmental, in liaison with |S, also take part in the work. ISO collaborates closely with the Internaticnal Electrotechnical Commission (IEC) on all matters of electrotechnical standardization. Draft Interrat onal Standards adopted by the technical committees are cir- culated to the member bodies for votirg. Publication as an International ‘Standard requires approval by at least 75 % of the member bodies casting avote. International Standard ISO 4287 was prepared by Technical Committee ISO/TC 87, Metrology and properties of surfaces, and has been based on studies carried out by the Joint Harmonization Group of ISO/TC 3, Limits and fits, 'SO/TC 10, Technical arawings, product definition and related documentaticn, SC, Dimensioning and tolerancing, and ISO/TC 57, ‘Metrology and properties of surfaces. This first edition of ISO 4287 cancels and replaces ISO 4287-1:1984. This revision of ISO 4287-1:1984; is 4 majo" rewrite and reorganization that together with ISO 11562 and ISC 3274, additionally defines the waviness profile, the primary profile and their parameters in a consistent manner. Annex A forms an integral part of this International Standard. Annexes B, C, D and Eare for information only.Iso ISO 4287:1997(E/F) Avant-propos L'ISO (Orgenisation internationale de normalisation) est une fédération mondiale d'organismes nationaux de normalisation (comités membres de ('1SO). L'élaboration des Normes internationales est en général confiée aux comités techniques de ISO. Chaque comité membre intéressé par une Etude a le droit de faire partie du comité technique créé & cet effet. Les orgenisetions internationales, gouvernementales et non gouvernemen- tales, en liaison avec |'ISO participent également aux travaux. L'ISO colla- bore étroitement avec la Commission électrotechnique internationale (CEI) en ce qui concerne la normalisation dlactrotechnique. Les projets de Normes internationales adoptés par les comités techniques sont souris aux comités membres pour vote. Leur publication comme. Normes internationales requiert approbation de 75 % au moins des co- mités membres votants. La Morme internationale ISO 4287 a été élaborée par le comité technique ISO;TC 57, Métrologie et propriétés des surfaces, sous-comité SC 1, Paremetres géométriques — instruments et procédures pour la mesure de la rugosité et de I'ondulation des surfeces, et tient compte des études ‘mer 6es par le groupe d'harmonisation joint entre I''SO/TC 3, Ajustements, NISO/TC 10, Dessins techniques, définitions de produits et documentation y relative, sous-comité SC 5, Cotation et tolérancement et |'SO/TC 57, ‘Métrologie et propristés des surfaces Cette premiére édition de 'SQ4287 annule et remplace N'ISO 4287-1:1984. Cette révision constitue une réorganisation et une réé- criture importantes de I'ISO 4287-1:1984; avec I'ISO 11562 et ISO 3274, elle ajoute, de fagon cohérente, les définitions du profil d'’ondulation, du profi primaire ainsi que de leurs paramatres. L’annexe A fait partie intégrante de la présente Norme internationale, Les annexes B, C, D et E sont données uniquement a titre d'information.ISO 4287:1997(E/F) elso Introduction This International Standard is a Geometrical Product Specification (GPS) standard and is to be regarded as a General GPS standard (see ISO/TR 14638). It influences chain link 2 of the chains of standards on sur- face texture, For more cetsiled information on the relationship of this International ‘Standard to other standards and the GPS matrix model, see annex E. Historically, the roughness profile and its parameters have been the only parts of surface texture characterization that have been well defined A default relationship between dc and af is under consideration. vie1so ISO 4287:1997(E/F) Introduction La présente Norme internationale qui traite de la spécification géométrique das produits (GPS), est considérée comme une norme GPS générale (voir HISO/TR 14638). Elle influence le maillon 2 des chaines de nommes relati- ves a l'état de surface, Pour de plus amples informations sur la ‘elation de la présente Norme in- temationale avec les autres normes et la matrice GPS, voir 'annaxe D. Par le passé, le profil de rugosité et ses paramatres ont été les seuls élé- ments caractéristiques de I'état de surface & étre correctement définis. Une relation par défaut entre Ac et Af est en cours d'étude, vilPS INTERNATIONAL STANDARD Iso NORME INTERNATIONALE © ISO 4287:1997(E/F) — Sw Geometrical Product Specifications (GPS) — Surface texture: Profile method — Terms, definitions and surface texture parameters 1 Scope This Internatienal Standard specifies terms, definitions and parameters for the determination of surface tex- ture (roughness, waviness and primary profile) by profiling methods. 2 Normative references The following standards contain provisicns which, through reference in this text, constitute provisions of this International Standard. At the time of publication, the editions indicated were valid. All standards are Subject to revision, and parties to agreements based this International Standard are encoureged to in- vestigate the pcssibility of applying the most recent editions of the standards indicated below. Members of IEC and ISO maintain registers of currently valid International Standards. 1SO 3274:1996, Geometrical Product Specifications (GPS) — Surface texture: Profile method — Nominal characteristics o¥ contact (stylus) instruments, 1SO 4288:1996, Geometrical Product Specifications (GPS) — Surface texture: Profile method — Rules and procedures for the assessment of surface texture. ISO 11862:1996, Geometrical Product Specifications (GPS) — Surface texture: Profile method — Metro logical characterization of phase correct filters. Spécification géométrique des produits (GPS) — Etat de surface: Méthode du pro! Termes, définitions et Pparameétres d'état de surface 1 Domaine d'application La présente Notme internationale prescrit les termes, definitions et parametres pour la détermination de Vétat de surface (profils de rugosité, d'ondulation et profil primaire) par les méthodes de profil 2. Références normatives Les normes suivan:es contiennent des dispositions Qui, par suite de la référence qui on oat fite, consti tuent des dispositions valables pour la présente Norme internationals. Au moment de la publication, les éditions indiquées étaient en vigueur. Toute norme est sujette a révision et les parties prenertes des ac- cords fondés sur la présente Norme internationale sont invitées a rechercher la possibilité dappliguer les éditions les plus récentes des normes irdiquées ci- aprés. Les membres de la CEl et de IIS possédent le registre des Normes internationales en vigueur & un moment donné. 1SO 3274:1996, Specification géométrique des pro- duits (GPS) — Etat de surface: Méthode du profil — Caractéristiques nominales des instruments a contact (palpeur. ISO 4288:1996, Specification géométrique des pro- duits (GPS) — Etat de surface: Méthode du profil — Regles et procédures pour l'évaluation de l'état de surface. ISO 11562:1996, Spécification géomstrique des pro- duits (GPS) — Etat de surface: Méthode du profi Caractéristiques métrologiques des filtres 2 phase correcte.180 4287:1997(E/F) 3 Terms and defini 3.1. General terms 3.1.1 profile filter fiter which separates profiles into longwave and shortwave components {ISO 11562) NOTE— There are. three filters used in instruments for measuring roughess, waviness and primary profiles (see figure 1). They al have the same transmissicn character: istics, defined in ISO 11862, but different cut-off wave- lengths. 3.444 Js profile filter filter which defines the intersection between the roughness and the even shorter wave components present in a sur‘ace (see figure 1) 3.1.1.2 Ac profile filter filter which defines the intersection between the roughness ard ‘waviness components (see figure 1) 3.1.1.3 Hf profile filter filter which defines the intersection between the waviness and the even longer wave components present in a surface (see figure 1) “o0] @1so 3 Termes et définitions 3.1 Définitions générales 3.1 de profil filte qui sépare le profil en composantes de longueur donde longue et composentes de longueur d'onde courte (ISO 11562] NOTE — Trois fitres sont utilisés dans les instruments de mesure des profils ce rugasité, d'ondulation et du profi primaire (voir la figure 1), lls ont tous les memes caracteris- tiques de transmission, détines dans (ISO 11562, mais des longueurs d'onde de coupure différentes. 3.411 iltre de profil 2s fire qu dotint la séparation entre les composentes @ de rugosité et les composantes d'onde encore plus courtes présontes é la surface (voir la figure 1) filtee qui définit la séparation entre les composantes de rugosité et les composantes dondulation (voir la figure 1) 3, filtre de profil i file qui définit la séperation entre les composentes d'ondulation et les composantes d'onde encore plus longues présentes 3 la surface (voir la figure 1) Transmission, % Roughness protive Profit eerugosité so Waviness pratite Profit e'onduiation as af Wavelenatn Lengueur onde Figure 1 — Transmission characteristic of roughness and waviness profiles Figure 1 — Caractéristiques de transmission des profils de rugosité et d'ondulationelso 3.1.2 coordinate system that coordinate system in which surface texture parameters are defined NOTE—_ It is usual to use a rectangular cocrdinate sys- tem in which the exes form a right-handed Cartesian set, the Xaxis being “he direction of tracing colinear with the mean line, the Yaax’s also nominally iying on the real sur face, and the Zaxis being in an outward direction {from the material to the surrounding mecium), This convention is ‘adopted throughout the rest of this International Standard, surface limiting the body and separating it from the surrounding mecium profile that results from the intersection of the real surface by a specified plane See figure 2. NOTE — In practice, itis ususl to choose a plane with @ normal that nominally lies parallel to the real surface and in a suitable directon, ISO 4287:1997(E/F) 3.1.2 systéme de coordonnées systéme de coordonnées dans lequel les paramatres d'état de surface sont définis NOTE— II est courant d'utiliser un systéme orthogonal de coordonnées cartésiennes de sens direct, 'axe des X 6tant dans la direction du palpage et confondu avec la ligne moyenne, l'axe des ¥ étant théoriquement dars le plan de la surface réelle, et exe des Z étent dirigé vers l'exterieur (de la matidre vers le milieu environnant). Cette convention est celle adoptée tout au long de la présente Norme inter- nationale, 3.1.3 surface réelle surface qui limite le corps et le sépare du milieu envi- ronnant, 3.14 Profil de surface profil résultant de I'intersection de la surface réelle et d'un plan spécifié Voir la figure 2 NOTE— En pratique, il est courant de choisir un plan dont Uune normaie est théoriquement paralléle a la surface réelle et de direction appropree. Surtace protive Profil de surface Figure 2— Surface profile Figure 2— Profil de surfaceISO 4287:1997(E/F) 3.1.5 primary profile Sea ISO 3274, NOTE— The primary profile is the besis for evaluation of the primary profil2 parameters. profile derived from the primary profile by suppressing the longwave component using the profile titer Ac; this profile is intentionally modified See figure 1 Nores 1. The transrrission band for roughness profiles is defined by the As and 4c profile filters (see ISO 11562:1996, 2.6 and 32) 2. The roughness profile is the basis for evaluation of the roughness profile parameters, 3. The dofaul: relationship between dz and 4s is given in 1S0 3274-1996, 4.4. 3.17 waviness profil profile derived ay subsequent application of the profile filter Af and the profile filter Ac to che primary profile, suppressing the longwave component using the pro- file filter 4f, end suppressing the shortwave com- ponent using tre profile filter Ac; this profile is inten- tionally modified NOTES 1. The nominal “orm should fist be removed [rom the total profile by best-fit least-squares methods, belore applying the Af profile filer for separating the waviness profile, For Circular nominal form, it is recommended tat the radius should also he included in the least-squares optimization land not held ‘ixed to the nominal valua. This procedure for separating the waviness profile defines the ideal waviness operator. 2. The transmission band for waviness profies is defined by the Ac and Af profile filters (see ISO 11862:1996, 2.6 and 3.2), 3. The waviness profile is the basis for evaluation of the waviness profile parameters. Iso profil primaire Voir ISO 3274. NOTE — Le profil pimaire sert de base & l'évaluation des. parametres du profil primaire 3.1.6 profil de rugosité profil dérivé du profil primaire par suppression des composantes de grande longueur d’onde, en appli- quant le filtre de profil Ac; ce profil est intentionnelle- ment modifié Voir la figure 1 1. La bande de transmission des profils de rugosité est oé- finie per los filtres de profil As ot Ac (voir ISO 11862:1996, paragraphes 2.6 ot 3.2) NoTES 2. Le profil de rugosité sert de base & I'évalustion des pa- ramatres du profil de rugosité. 3. La relation par defaut entre Ac et as est donnée dans SO 3274:1996, paragraphe 4.4. 3.1.7 profil d'ondulation profil dérivé du profil primaire par application suece: sive des filtres de profil Af et 2c, supprimant ainsi le ‘composantes de crande longueur donde a l'side du filtee de profil Af, et les composantes de faible lon- gueur d'onde & l'aide du fire de profil Ac; ce profil est intentionnellement modifié NoTES 1 Il convient dans un premier temps 'enever la forme nnominale du profil total par les méthodes des moindres car- res, avant d'appliquer le file de profil at pour séparer le profil d'ondulation. En cas de forme nominele circular, i! est recommands d'inclure le rayon dans optimisation des moindres carrés plutOt que de le fixer 3 sa veleur nominale. Cotte procédure de séparation du profil d’ondulation définit, Vopérateur d'ondulation idéal 2 La bande de transmission des profils dondulation est define par les files de profil ac et af (voir ISO 11562:1996, paragraphes 2.6 et 3.2). 2. Le profil d'ondulation sort de base a I'6valuation dos pa- ramatres du profil d’ondulation.©1sO 3.1.8 Mean lines 34 mean line for the roughness profil line correspording to the longwave profile 2mponent suppresse1d by the profile filter Ac (See ISO 11562:1996, 3.2) 3.1.8.2 mean line for the waviness profi line corresponding to the longwave profile component suppressed by the profile fiter Af (See ISO 11562:1996, 3.2) 3.1.8.3 mean line for the primary profile line determined oy fitting @ least-squares line of nom- inal form through the primary profile 3.1.9 sampling length Ip. tr, bw longth in the direction of the X axis used for identify. ing the irregularties characterizing the profile under evaluation @ore— the sempling length for the roughness ir and waviness profiles hv is numerically equal to the character- istic wavelength o° the profile fitors Ae and af, rsspectivey The sampling lencth for primary profile, Ip. is equal to the evaluation lent, 3.1.10 evaluation length In length in the drection of the X-axis used for assessing the profile under evaluation NOTES 1. The evaluaticn fength may contain one or mo'e sampling lengths. 2. For default eva uation lengths, see iSO 42881996, 4.4, ISO 4288 does not give default evastion length for Weparemeters. ISO 4287:1997(E/F) 3. -8 Lignes moyennes 3.1.8.1 ligne moyenne du profil de rugo: ligne qui correspond & la composante de profil de grande longueur d'onde supprimée par le filtre de profil Ac (oir ISO 11562:1936, paragraphe 3.2] 3.1.8.2 ligne moyenne du profil d'ondulation ligne qui correspond la composante de profil de grande longueur d'snde supprimée par le filtre de profil Af Woir ISO 11562:1996, paragraphe 3.2) 3.1.8.3 ligne moyenne du profil primaire ligne déterminée en calculant, & partir du profil pri- maire, une ligne des moindres carrés de forme nomi- nale 3.1.9 longueur de base Ip, Ir, bw longueur, dans le direction de exe ues X, ullisée pour identifier les irrégularités caractérisant le profil 8 éva- luer NOTE — Les longuetrs de base des profils de rugosité tr et d'ondulation, fw, sont égales, en valeur numérique, aux longueurs donde caractéristiques des filtres de profil Ac et Af respectivement. La longueur de base du profil primaire, Ip, est gale & la longueur 'évaluation, 3.1.10 longueur d'évaluation In longueur, dans la direction de l'axe des X, utilisée pour établir le profil a évaluer NoTES 1. La longueur ¢'évalvation peut comprendre une ou plu- sieurs longueurs de base. 2 Pour les longueurs d'évaluation par défaut, voir ISO 4288:1996, paragraphe 4.4. L'ISO 4288 ne donne pas de longueur d'évaluaticn par défaut des paramétres W.ISO 4287:1997(E/F) 3.2 Geometrical parameter terms 3.2.1 P-parameter parameter caculated from the primery profile 3.2.2 R-parameter parameter caculated from the roughness profile 3.2.3 W-parameter parameter calculated from the waviness profile NOTE— Theperameters defined in clause 4 can be caleu- lated from any profile, The first capital letter in the par- ‘ameter symbd designates the type of the prof le evaluated. For example, Ra is calculated trom the rouginess pr and Pris calevated from the primary profile 324 profile peak an outwardly cirected (from material to surrounding medium) porticn of the assessed profile connecting two adjacents points of the intersection cf the profile with the X-anis| 3.2.5 Profile vi ‘an inwardly directed {from surrounding medium to material) porticn of the assessed profile connecting two adjacent points of the intersection of the as: sessed profil with the X-axis 3.2.6 height andjor spacing discrimination minimum helght and minimum spacing of profile peaks and profile valleys of the assessed profile which should be taken into account NOTE— The minimum height of the profile peaks and valleys are usual y specified as a percentage o* Pz, Re, Wz oF another amplizuce parameter, and the minimum spacing as @ percentage of the sampling length. e1so 3.2. Définitions géométriques paramatre calculé sur le profil primaire 32.2 paramatre R parametre calculé sur le profil de rugosité Paumete el sure profi dondultin NOTE— Les prs otis 8 trie «peur re ints at Star tan ae oats ts pent ls See escuatay gage dinae'e te se eit are neta rll eae a epee partie du profil évalué, dirig6e vers Mextérieur (de la matiére vers le mifeu environnant) ot reliant deux in tersections consécutives du profil avec l'axe des X 3.2.5 creux du profil e partie du profil évalué, dirigée vers lintérieur (du mi- lieu environnant vers la matiére) et reliant deux inter- sections consécutives du profil avec l'axe des X 3.2.6 discrimination de hauteur et/ou d'espace- ment hauteur minimale et espacement minimal des saillies et des creux du profil évalué qu'il convient de prendre en considération NOTE— La hauteu" minimale des sailies e: des creux du profl est habituellement spécifiée sous forme de pourcen- tage de Pz, Re, We ou d'un autre paramétre d'amplitude et espacement minimal en pourcentage de la longueur de base.eso 3.2.7 profile elemant profile peak anc the adjacent profile valley See figure 3 NOTE — The positive or negative portion of the assessed profile at the beginning or end of tre sampling length should always be considered as a profile peak or as a profile valley. When determining a number of profile elements over several successive sampling lengths, the peaks and valleys of the assessed profile at the 2eginning or end of each sampling length are taken into account once only at the beginning of each sampling length, 3.2.8 ordinate value Zs) @ "ish" of the es;e58ed profile a any position x NOTE— Thehaight is regarded as negative if the ordinate lies below the Y-axis, and positive atherwise. Figure 3 — Profi ISO 4287:1997(E/F) sailie du profil et crsux du profil adjacent Voir la figure 3. NOTE — Ii convient de toujours compter les portions po- sitives ou négatives du profil évalué en début ou en fin de longueur de base comme des sailios ou des creux du profil Lorsqu‘on détermine les éléments du profil sur plusieurs fongueurs de base consécutives, les saillies et creux du profil évalué situés 67 début et en fin de chaque longueur de base sont comptés une sevie fois, au début de chaque longueur de base. hauteur du profil évalué en une position quelconque x NOTE — La hauteur @ une valeur négative si l'ordonnge est située au-dessous de I'axe des X, et une valeur positive dans le cas contraire. Mean tine Ligne moyenne element Figure 3— Elément du profil1SO 4287:1997(E/F) slope of the assessed profile at a position x, See figure 4. noTEs 1 The numeric! value ofthe foal slop, ane thus the per- ameters Pag, Bae and Wag, depends crtcaly on the or rate spacing A 2. Aforuia fer estimating the loca slope is te o ‘The above formula should be used for the sample spacing stipulated in ISO 3274 for the filter used, where z, is the height of the sth profile point and AX is’ the spacing be- tween adjacent profile points, 3.2.10 profile peak height 2p distance betwoen the X-axis and the highest point of the profile peak e1so pente du profil évalué un point x; Voir la figure 4. NoTes 1. La valeur numérique de la pente locale, et done les pa- rametres Pag, Rag et Wag, dépendent étroitement du pas aX. 2 La ponte locale peut étre estimée parla formule an ar” BOax ‘U2; est la hauteur du #m® point du profil ot AX le pas entre deux points agjacents du profil. Il convient utiliser la for mule cidessus pour le pas ¢'échantillonnage spécitié dans HSO 3274 en fonction du ftre utilisé 3.2.10 hauteur d'une saillie du profil Dp distance entre I'axe des X et le point le plus haut de Ia saillie du profil See figure 3. Voir la figure 3 az ~N oo abe Ie azw ax Figure 4— Local slope Figure 4 —Pente localiso 3.2.11 profile valley depth 2 distance between the Xaxis and tre lowest point of tho profile valey See figure 3. 3.2.12 Profile element height Zi sum of the height of the peak and cepth of the valley of a profile element See figure 3. length of the ¥axis segment intersecting with the profile element See figure 3, 3.2.14 material length of profi Mile) sum of the section lengths obtained, intersecting with the profile element by a line parallel to the X-axis at a given level, c| See figure 6. ISO 4287:1997(E/F) 3.2.11 profondeur d'un creux du prot 2 distance entre l'axe des X et le point le plus bas du creux du profil Voir la figure 3 3.2.12 hauteur d'un a somme de la hauteur de la saillie et de la profondeur du creux de I'élément du profil ment du profi Voir la figure 3. 3.2.13 largeur d'un élément du profil Xs longueur du segment de I'axe des X qui est coupe. par I'6iément du profil Voir la figure 3, 3.2.18 longueur portante du profil un niveau c Mlle) somme des longueurs des segments obtenus en coupant 'élément du profil par une droite paralléle Vaxe des X 4 un niveau donné, ¢ Voir la figure 5. Sampling Length Conguevt de Base MIC) = My My Figure 5 — Material length Figur —Longueur portanteISO 4287:1997(E/F) e1so 4 Surface profile parameter dt 4 Définitions des paramétres de profil 4.1. Amplitude parameters (peak and valley) 4.1. Paramétres d'amplitude (saillie et creux) aaa 444 maximum profile peak height hauteur maximale de saillie du profi Pp. Rp. Wp Pp. Rp, Wp largest profile peak height Zp within a sampling length plus grande des hauteurs de saillie du profil, Zp, & t'in- térieur d'une longueur de base See figure 6. Voir la figure 6. Zo. ze fo ay ‘Sampling tength | Ea Longueur de base igure 6 — Maximum profile peak height (example of a roughness profile) Figure 6 — Hauteur maximale de saillie du profil (exemple d'tn profil de rugosité) 10©\so ISO 4287:1997(E/F) 442 um profile valley depth profondeur maximale de creux du profil Py, Rv, We Pu, Rv, Wo largest profile valley depth Zy within a sarrpling length plus grande des profondeurs de creux du profil, Zv, & . Vintériour d'une lorgueur de base See figure 7. Voir la figure 7. Sampting Length L longueuh de Base Figure 7 — Maximum profile valley depth (example of a roughness profile) Figure 7 — Profondeur maximale de creux du profil (exemple d'un profil de rugosité) "ISO 4287:19971E/F) 413 maximum height of pr Pz, Re, We ‘sm of height of the largest profile peak height Zp and the largest profile valley depth Zv within e sampling length See figure 8 NOTE — In ISO 4287-1:1984, the Rz symbol was used to indicate tha “ten point height of irregularities”. In some countries there are surface roughness measuring instru- ments in use which measure the former Re poremeter. Therefore, cere must be taken whon using existing techni- cal documents and drawings because diferencas between results obtained with different types of instruments are not ‘always negligibly sell 41.4 mean height of profile elements Pe, Re, We mean value of the profile element heights Zr within a sampling length Pe, Re, We See figure 9. NOTE — The parameters Pe, Re, We fequire height end spacing discrimination. If not otherwise specified, the de- fault height discrimination shall be 10% of Pe, Re, We, re- spectively, and the default spacing discimination shall be 1% of the sampling length. Both conditions shall be met e1so 41.3 hauteur maximale du profil Pe, Re, We somme de la plus grande des hauteurs de salle du profil, Zp, et de la plus grande des profendeurs de reux du profi, 2, 8 “intéieur d'une longueur de base Voir la figure 8. NOTE — Dans ISO 4187-1:1984, le symbole Re était uti- sé pour identifier Ia chauteur des irregulartés sur dix points». Dans certains pays, certains instruments de mesu- re de la rugosité qui sont utilisés donnent cet ancien para- metre Re. Il faut done faire attention lorsqu'on utilise des dessins et documents techniques axistants, les differences entre résultats de mesure obtenus avec différents types diinstruments n'étent ras toujours négligeables, 414 hauteur moyenne des éléments du profil Pe, Re, We valeur moyenne des hauteurs des éléments du profil, 21,8 Vintérieur d'une longueur de base Pe, Re, We= YZ, mint Voir la figure 9. NOTE— Les pareméxtes Pe, Re, We nécessitent une dis- ‘crimination de hauteur et d'espacement. Sauf specification ‘contare, la discriminetion de hauteur par défaut doit etre de 10 % de Pe, Re, We respectivement, et la discrimination dl'espacement par défaut doit 6tre de 1°96 de le longueur de base. Les deux conditions doivant étra raspectées. I Samptin ena" | angueut de bese k Figure 8 — Maximum height of profile (example of a rougtness profile) Figure 8 — Hauteur maximale du profil (exemple de profil de rugosité) 2total height of profile Pt, Rt, We sum of the hsight of the largest profile poak height Zp and the largest profile valley depth Zv within the evaluation length NOTES 1 Since Pi, & and Wr are defined over tre evaluation length rather chan the sampling lenath, the following will always be true for any profile: Peo Pe Re» Re; Wh We 2 In the default case Pr is equal to Pr. In this case the use of Pris recommeded. 4.2 Amplitude parameters (average of Pa, Ra, Wa arithmetic mean of the absolute ordinate values Zix) ‘within a sampling length Pa, Ra, We 1 1 ; J [zt] de with [= Ip, Iror lw according to the case ISO 4287:1997(E/F) 4.15 hauteur totale du profil Pr, Ri, We somme de la plus grande des hauteurs de saillie du profil, Zp, et de la plus grande des profondeurs de creux du profil, Zv, 8 I'intérieur de la longueur d’éva- luation NOTES 1. Pr, Reet Wr étant definis sur la longueur d'évaluation ot non sur une longueur de base, la relation suivante sera ‘toujours respectée peur tout prot Pe Pe; Rt® Re, Wi We 2 Par défaut, Pe ost égal 8 Pt. Dans ce cas, ‘utlisation de Prest recommendée. 4.2 Paramétres d’amplitude (moyenne des ordonnées) 4.2.1 écart moyen arithmétique du profil évalué Pa, Ra, Wa moyenne arithmétique des valeurs absolues des or- données Z\x) a lintérieur d'une longueur d2 base Pa, Ra, We ! 1 7 fret dx avec I= Ip, ir ou Jw suivant le cas, Zhe zt zh 2h Samping tength ongueur de Figure 9 — Height of profile 2 ments (example of a roughness profile) Figure 9 — Hauteur moyenne des éléments du profil (exemple de profil de rugosité) 131SO 4287:1997(E/F) 422 root mean square deviation of the assessed profile Pa. Rq. Wa Toot mean scuare value of the ordinate values Z\x) within 2 samping length T J@oide ° Pa, Ra, Wa = with I= Ip, tr or bv according to the case. 4.2.3 skewness of the assessed profile Pk, Rsk, Wsk quotient of the mean cube value of the ordinate values Zils] and the cube of Pq, Rg or Wa respectively, within a sampling length Pi fs Rsk =—~|— | 23(x) de aplel (x) NOTES 1. The above equation defines Rsk; Psk and Wsk are defined Ina similer manner. 2. Psk, Rsk and Wek are measures of the asymmetry of the probability density function of the ordinate values. 3 These parameters are strongly influenced by isolated peaks or isolated valleys. 424 kurtosis of the assessed profi Phu, Rhu, Whu quotiont of tie mean quartic value of the ordinate values Z(x) ard the fourth power of Pg, Ry or Wy 1o- spectively within a sampling length t {4 Rhu = al 4 fers NOTES 1. The above equation defines Rhu; Phu and Wku are de- fined in a similar manner. 2. Phu, Rku and Wku are measures of the sharpness of the probability density function of the ordinate values, 2. These parameters are strongly influenced by isolated peaks or isolated valleys. 4 eso 4.2.2 écart moyen quadratique du profil évalué Pa, Ra, Wg moyenne quadratique des valeurs des ordonnées Z\x) 2 lintérieur d'une longueur de base 7 Pq, Rg. Wa = f Jee de ° avec 1 = Ip, Ir ou Iw suivant le cas. 4.23 factour d'asymétrie du profil évalué skewness, Pk, Rsk, Wk quotient de la moyenne des cubes des valeurs des ordonnées Zix) per le cube du paramétre Pq, Rq ou Wq selon le cas, 8 l'inténeur de la longueur de base : sk =|] f23¢ ee-gale [mee NoTES 1. equation c-dessus définit Rsk. Psk et Wst sont définis, de facon similaire. 2. Pak, Rsk ot Wsk roprésentent une mesure de l'asymétrie de la courbe de distribution d'amplitude. 3 Ces paramétres sont fortement influencés par des sales isolées ou des creux isolés, 424 facteur d'aplatissement du profil évalué kurtosis Phu, Rk, Whe quotient de la moyenne des valeurs a la puissance 4 des ordonnées Zix) par la veleur a la puissance 4 du parametre Pa, Rq ou Wa selon le cas, & [intérieur d'une longueur de base » 1 | 1 Pye de Rage fee Rhu NoTEs 1. Léquation ciddessus détinit Rhu; Phu et Wkx sont définis de fagon similare. 2 Phu, Rl et Wu représentent une mesure de l'aplatis- ‘sement de la courbe ce distribution d amplitude, 3 Ces paramétres sont fortement influencés par dos sailias isolées ou des creux isolés.@lso 4.3 Spacing parameters 4.3.1 mean width of the profi PS, RSm, WS mean value of the profile element widths Xs within a ‘sampling length elements Sm, RSm. WS = m See figure 16 NOTE — The parameters PSm, RSm, WSm require height ‘and spacing discrimination. If not otherwise specified, the default height discrimination shall be 10 9% of Pe, Re, We re spectively, and the default spacing discrimination shall be 1/96 of the samp ing length. Both conditions shall be met. 4.4 Hybrid parameters 444 root mean square slope of the assessed pro- file Phq, Rdg, Wg root mean square value of the ordinate slopes dZ/dx, within the sa"npling length ISO 4287:1997(E/F) 4.3 Paramétres d'espacement 4.3.1 jargeur moyenne des éléments du profil ’Sm, RSm, WSm valeur moyenne des largours des éléments du profil, Xs, a lintérieur dure longueur de base Sim, RS, WSm = LY" Xs, Voir la figure 10. NOTE — Les paramétres PSm, 25m, WSm nécessitent une discrimination de hauteur et d'espacement, Saut specifica tion contraire, la discrimination de hauteur par défeut cot Btre de 10 % de Pz, Re, We respectivement, et la discrimi- nation d'espacement par defaut doit 6tre da 1 % de le ion- gueur de base. Les deux conditions doivent etre respectées, 4.4 Paramétres hybrides 441 pente quadratique moyenne du profil évalué Pag, Rig, Wag valeur quadratique moyenne des pentes locales dZ/0X, & intérieur de la longueur de base Samptiog tength Congueur de base Figure 10 — Width of profil loments Figure 10 — Largeur des éléments du profil 15ISO 4287:1997|E/F) elso 45 Courbes et paramétres associés NOTE— All curves and related parameters are defined NOTE— Toutes les courbes et les parametres qui y sont over the evaluation length rather than the samrling length, associé sont dfinis sur la longuour d’évaluaticn plutot que as this provides more stable curves and related parameters. ssur la longueur de base, afin dobtenir des courbes et des parametres associés ayant une plus grande stabiité 46.1 taux de longueur portante Pmrle), Rm), Weare) Parte), Rrarle), Wrerlct ratio of the marerial length of the profile elements rapport de la longueur portante du profil 8 un niveau Milo) at 2 given level c to the evaluation length donné c, Mite) & la longueur devaluation Pe ene in) = ML rtm Wr) = ME 48.2 ratio curve of the profile courbe du taux de longueur portante du e (Abbott Firestone curve) profi curve representing the material ratio of the profile sa __(Courbe d’Abbott Firestone) function of level coutbe représentant le taux de longueur portante du profil en fonction du niveau See figure 11. Voir la figure 11 NOTE — This curve can be interpreted as she sample cumulative probability function of the oinate values Zi), NOTE — Cette courke peut Btre interprétée comme la within an eveluaticn length. fonction de distribution cumulée des ordonnées Zte) & Vin terieur de la longueur c’évaluation Meantine Gane moyenne’ Br } NY Wier Py 0 3 40 60 700 Evaluation Length Ree teh % Ungueur vacation Figure 11 — Material ratio curve Figure 11 — Courbe du taux de longueur portante 16eso 45.3 profile section height difference Pb, Réc, Wee vertical distance between two section levels of given material ratio Be = C(Bmsi)— C(Rrnr2} (Rone < Ren NOTE — The above equation defines Rd; Pé&e and Wée are defined in a similar manner. 4 relative materi Por, Rr, Wrr material ratio determined at a profile section level R6e, related to a reference CO ratio Pmr, Rar, Wonr = Prar, Rrar, Wmr (C1) where C1 = CO - fe (or Pbe or W5c) CO = C\Pmrki, Rr, Wor} Soe figure 12. ISO 4287:1997(E/F) 45.3 différence de hauteur de coupe du profil Pb, Rbe, Woe distance verticals entre deux niveaux de coupe d'une ‘courbe du taux de longueur portante 6 = C(Rmr') = C(Rmr2}( Rr < Rrnr2) NOTE — L'équation ci-dessus définit Rée. Pée et Wée sont efinis de fagon simile. 45.4 taux de longueur portante relatif Prr, Rr, Wmir taux de longueur rortante déterminé pour un niveau de coupe, & une hauteur Ré par rapport & une réFé- rence CO Pont, Rr, Wmr = Pmr, Rmr, Wear (C1) ou C1 = C0 ~ Rd& (ou P& ou WE) CO = € (Pmr0, Rr, Wmir0) Voir la figure 12. 0 - be a ow 2 30 40 So 6070 90D Rare Rew Figure 12 — Profile section level separation Figure 12 — Taux de longueur portante relatif WISO 4287:1997(E/F) e1so 45.5 45.5 profile height amplitude curve courbe de distribution d'amplitude sample probatility density function of the ordinate 2x) fonction représentant la distribution des ordonnées within the evaluation length 2x) V'intérieur de fa longueur d’évaluation See figure 13, Voir la figure 13. NOTE— For profile height amplitude curve parameters, NOTE— Voir en 4.2 les paramétres associés & la courbe see 4.2 de distribution dempltude. Mean tine | Uigre moyenne | Evaluation Anplituce densit su i Bishrbution d anpitude Figure 13 — Profile height amplitude distribution curve Figure 13 — Courbe de distribution d'amplitude 18eso ISO 4287:1997(E/F) Annex A Annexe A (normative) (normative) Text equivalents Equivalents textuels In order to facilitate alphanumeric rotation by means _ Ain de faciliter les notations alphanumeéricues sur des of computers, the following text equivalents are _ordinateurs, les équivalents textuels suivants sont re recommended: commandés. Text equivalent Equivalent textu Pda dq 19ISO 4287:1997(E/F) e1so Annex B Annexe B (informative) (informative) Flowchart for surface assessment gramme pour I'évaluation de surface cut seating Eevee \ | ese ;U__] | | Lt | Rougrness Rovgrness orefie aoa Protite recording sat) | Algerie Enesictranent eu profil | raqosite cerusosité uJ Primary ora rote ther Characteristic functions Pratt primar Filtre de prot Fonctons Coractertiques de (“som y inoss Parameters of rote iter profie Agila Toughness waviness Futrecepeott| “| Prot Aigeimne and primary protes Sonaaarion Agrrimme | Parandtres des orofis | | derugesit.¢ondtation ef duprofi primaire | T | | | Pr | algortim Agoritine dy profitprinaire Figure B.1 20eis ISO 4287:1997(E/F) Annex C Annexe C (informative) (informative) Comparison of basic terms Comparaison des symboles and parameter symbols between des termes de base ISO 4287-1:1984 and ISO 4287:1996 et des paramétres entre ISO 4287-1:1984 et I'ISO 4287:1996 Table C.1 — Basie terms Tableau C.1— Termes de base Coase escan | jascaon edition Edition 1984 Edition 1996 rane Oe [eerae, ip 3.1.10 Evaluation length 4 h ~~ Longueur d'évaluatioy 7 i" veel toe = z yeniee, x | Hauteur d'une sale 4u profil ve 2 Profondeur d'un creux du profil » ° Longueur porante du profil é un niveau c Me Mie) 211SO 4287:1997(E/F) Table C2 — Parameters of surface texture Tableau C.2— Paramétres d'état de surface elso Parametors, 1996 edition 1388 aa 7 Paremetre Edition | eehon ‘sampling mea de rédition 1996 Edition | Edition length!) de Védition 1998 1984 | 1996 longueur de base’! aad ‘Maximum profile height 2 Hauteur maximals de saflio Ro | Be x 412 Maximum profile valley depth , Profondeur maximale de creux Rn | Re x ai8 Maximum height of the profile 2 Havteur maximals du peo _ | x ana ‘Mean height of the profite 2 Hauteur moyenne des éléments du profil Re Re x a5 Total height of the profile _ Heuteur totale du profil Re x 424 ‘Aithmetical mea deviation of the assessed profile |p | gaa x Ecart moyen aritrmétique du profil évalué % 422 Hoot mean square deviation afte assessed profile |» | gyn x Ecart moyen quadratique du profil évalué J 428 Skewness of the assessed profile st mut x Fectour d'asymétie du profil évalué a st 424 Kurtosis of the assessed profile | pats x Fectour d'eplatissement du prof évalué tw at ‘Mean width of the profil elements Largaur moyenne des éléments du profil Sm_|_ Bsn x aaa Root mean squara slope of the assessed profile Pente quadratique moye ine du profil évalué Aa Rag x a4 Material ratio of tre profile Toux de longueur portanite Brel x 453 Profile section height diflerence 2 Ditférence de hautour de Coupe du profil — | x 454 Relative material ato Taux de longueur portante relat to | amr x = ‘Ten point height deletes as an ISO paremeten rn Hauteur sur dix points (paramétre ISO supprimé) e | 1) This sampling length is dr, lw and for R-, W- and P-paremeters respectively; Ip Is equal to Un 2) Parameters which are defined for three 2rofiles: primary profiles, waviness profile and roughness profiles. Only the roughness profile parameter is indicated in the table. As an example, the three parameters are witten Pa (primary profil), Wa (waviness profile) and Ra (roughness profil) 1) Cette longueur de base est tr, tw et lp pou' les paramétres R, Wet P respectivement; ip est égel 8 In 2) Paremetres setinis sur les dix profis: prof | primairo, profil d’onduletion et profil de rugasité. Seul le parametre du profil de rugosité est symbolisé dans les tableaux. A tite d'exomple, les tiois paramatres sont symbolisés, respactvement, Pa (profil primaire), Wa (profil d'onduiation et Re (profil de rugosité).e1so Annex D (informative) Relationship to the GPS matrix model For full detals about the GPS rratrix model, see ISO/TR 14638. D.1 Information about this International Standard and its use 1S 4287 is a major rewrite and reorgenization of |S 4287-1:1984 that, together with ISO 11562 and 1S 3274, additionally defines the waviness profile, the primary provile and their parameters in a consis ‘ent manner. D.2 Position in the GPS matrix model ‘This International Standard is a general GFS standard ‘that influences chain link 2 of the chains of standards. on roughness profile, waviness profile and primary profile in the general GPS matrix, as grap vical illus- trated in figure D.1 D.3 Related International Standards The related International Standards are trose of the chains of standards indicated in figure D.1 ISO 4287:1997(E/F) Annexe D (informative) Relation avec la matrice GPS Pour de plus ampl matrice GPS, voir I renseignements & propos de la |O/TR 14638. D.1_ Information sur la présente Norme internationale et son utilisation La présente Norme internationale constitue une réor- ganisation et ure réécriture importantes de MISO 4287-1:1984; avec MSO 11862 et (ISO 3274, elle sjoute, de fagan cohérente, les definitions du profil d’ondulation, cu profil primaire ainsi que de leurs parametres, D.2_ Situation dans la matrice GPS La présente Norme internationale est une norme GPS générale, qui influence le maillon 2 des chaines de normes relatives au profil de rugosité, au profil d’ondu- Net au profil primaire de la matrice GPS générale, comme illustré a la figure D.1 D.3 Normes internationales associées Les Normes internationales associées sort celles des chaines de normes indiquées sur la figure D.1 231SO 4287:1997(E/F) 24 Fundamental ors. standards Global GPS standards General GPS matrix Chain tink number [2 See Cistance Fadus Angle Form of ine independent of datum Form of line dependent on datum Form of surface independent of daturn Form of surface dependent on datum (Orientation Tocation Girovlar run-out "otal rur-aut Datum profiles, Foughness profile Wiaviness profile Frimary profile Surface imperfections Edges. Figure D.1 Normes do base Matrice GPS générale Maillon n® 112 Taille Distance Fayon. Ag Forme dune Ina indépandante une raféronca, Forme dune igne dopendante @une riférence Forme d'une surface indépandante dune raference Forme d'une surface dependants dune reference: Orientation Fosition Eortemert areas Eatterert total Feferences rofl de ragosité Frofir ondulaton Frofi primaire Imperfections de surface Brdtes Figure 0.1 e1s0Iso ISO 4287:1997(E/F) Annex E Annexe E (informative) (informative) Bibliography Bibliographie {1} ISO/TR 14€38:1995, Geometrical Product Specif: 1] ISOJTR 14638:1995, Spécification aéométrique cation (GPS) — Masterplan. des produits (GPS) — Schéma directeur. [2] VIM:199, International vocabulary of basic and [2], VIM:1993, Vocabulaire international des termes general terms in metrology. 3IPM, IEC, IFC, fondamentaux et généraux de métrologie. BIPM, ISO, IUPAC, IUPAP, OIML. CEI, FICC, ISO, OIML, UICPA, UIPPA. 25ISO 4287:1997(E/F) CTise) ICS 01,040.17; 17.040.20 Descriptors: geometrical promuct specifications, surface properties, surface condition, roughness, surface waviness, text protles, vo- cabulary./ Deseripteurs: spécifcstion geometique des proguts, propeiste de surtace, état de surface, rugosite, cndulston de surface, profi'ge ia texture, vocabulaire Frice based on 25 pages / Prix basé sur 25 pages