Câu 1.

Mẫu vật liệu bột nano tinh thể với kích thước hạt trung bình 70nm
được quan sát bằng TEM, HRTEM. Các ảnh này có dạng thế nào (vẽ hình)? Giải thích
sự khác biệt về hình ảnh trên các hình chụp được.
TEM: Nhìn được hình dạng bên ngoài, bên trong có thể nhìn nhưng không rõ
Dựa trên tương phản là tương phản biên độ

HRTEM: Ngoài hình dạng bên ngoài, có thể nhìn thấy các vạch hoặc các lớp nguyên
tử bên trong.
Dựa trên tương phản là tương phản pha

Câu 2.
a) Điểm khác nhau cơ bản khi quan sát sợi cotton bằng kính hiển vi quang học
thường (OM) và kính hiển vi quét (SEM) ở độ phóng đại thấp ( từ 50-100 lần)
 Bề mặt gãy đinh ốc: gồ ghề, ko đồng nhất
 Chỉ một phần bề mặt đượcquan sát rõ bởi OM
 Với SEM, độ sâu trường ảnh lớn, toàn bộ bề mặt được quan sát rõ nét
 Quan sát được ảnh 3 chiều
 SEM thường được trang bị kèm theo các phương pháp phân tích khác như
EDX, WDX, AuES
 SEM có độ phóng đại cao hơn, độ sâu trường ảnh cao hơn, độ phân giải tốt
hơn so với OM
 SEM cung cấp nhiều thông tin chi tiết hơn so với OM (ảnh topo, hình thái,
thành phần pha...)
 OM nhìn thấy màu sắc, còm SEM chỉ nhìn thấy trắng đen
b) Làm cách nào biết được các hạt vô cơ (TiO2, ZnO…) có dính trên sợi vải và
các hạt này có phân tán đều hay không? Giải thích?
Dựa vào phương pháp BSE
Vật liệu là sợi vải thì công thức bên dưới chỉ từ C,H,O có Z nhỏ còn nếu gắn Ti,
Zn thì Z nó lớn. Do đó khi chụp ảnh dựa trên tín hiệu điện tử phát xạ ngược (BSE)
thì các hạt này sẽ sáng màu hơn trên nền xám.
Phân tán đều hay không: những tín hiệu sáng này phân bố rải rác hay tập trung
 c) Một số thuốc nhuộm có chứa các kim loại nặng (Hg, Cd, As, Pb) rất có hại cho
sức khỏe. Làm cách nào để kiểm chứng được mẫu sợi này không chưa các kim
loại này? Giải thích?
Dùng BSE chụp sẽ biết được màu sắc của các kim loại nặng vì kim loại nặng có Z
lớn
Câu 3. Chúng ta có thể thu được gì khi quan sát bằng kính hiển vi?
Kính hiển vi cung cấp các dữ liệu của mẫu về:
1. Kích thước, độ phân tán,…
2. Hình thái: hình dạng, trạng thái bề mặt,…
Câu 4. Khi quan sát bằng kính hiển vi, theo em độ phóng đại hay độ phân giải quan
trọng hơn? Tại sao?
Độ phân giải nắm vai trò quyết định nghĩa là muốn nhìn rõ hay muốn nhìn to
 Nếu muốn nhìn to hay bé ta chọn độ phóng đại
 Nếu muốn nhìn rõ ta chọn độ phân giải
Câu 5. Phân biệt khoảng làm việc và khoảng rõ. Em hãy xác định mối liên hệ giữa hai
khoảng này
Khoảng làm việc là khoảng cách cần thiết giũa vật kính với mẫu để cho ảnh rõ.
Khoảng làm việc chính là tiêu cự của vật kính
Khoảng rõ là khi quan sát vật không đồng nhất, chỉ nhìn rõ một phần chứ không thể
nhìn rõ toàn bộ
Độ phóng đại ↑ tiêu cự ↓ khoảng làm việc ↓ khoảng rõ ↓
Câu 6. Trình bày sự khác biệt giữa phương pháp hiển vi quang học và kính hiển vi
điện tử.
Tên thiết bị Nguồn Tín hiệu phản hồi Độ phóng đại tối
đa và độ phân giải
Hiển vi quang học Bức xạ khả kiến – K 1000 lần
hệ thấu kính thủy d lớn ( không <0,2
tinh- camera, mắt μm

Hiển vi điện tử Phát xạ nhiệt hay K 1000000 lần

phát xạ trường d nhỏ

Câu 7. Điền đặc điểm các loại hiển vi điện tử vào các ô trống sau
Tên thiết bị Ký hiệu Đối tượng quan Electron quan Nguyên tắc quan
sát sát sát
Hiển vi điện tử TEM electron có năng Trên màn huỳnh
truyền qua lượng cao được quang
 phát ra từ súng
điện tử.
Hiển vi điện tử SEM Quan sát tín Các electron Trên màn hình
quét hiệu electron SE thoát ra từ bề thông thương
và BSE mặt mẫu
được thu nhận
bởi ống nhân
quang
điện.
Câu 8. Trong kính hiển vi điện tử quét, mẫu cần chụp cần phải có điều kiện gì? Có cần
xử lý mẫu trước khi khảo sát hay không? Tại sao?
Điều kiện là mẫu đo phải ở thể rắn rắn, khô, chịu được điều kiện chân không, mẫu
phải có kích thước phù hợp với giá mẫu tùy theo thiết bị, cần có dẫn điện (nếu không
dẫn điền thì phải phủ mẫu một lớp điện cực kì mỏng Carbon hoặc Vàng trước khi
chụp.
Cần xử lý mẫu trước khi khảo sát để đáp ứng các điều kiện trên.
Câu 9. Cho ví dụ khảo sát hình dạng ngoài và khảo sát bên trong mẫu bằng hiển vi
điện tử truyền qua
Câu 10. Lấy một mẫu gốm nhỏ từ bình gốm (hình a) đem đi khải sát bằng phương
pháp hiển vi điện tử quét (SEM):
a) Có cần xử lý mẫu trước khi khảo sát hay không? Biết gốm là chất cách điện
Cần xử lý mẫu trước khi khảo sát
Vì mẫu quan sát là chất cách điên thì điện tử sẽ tích tụ ở trên mẫu, làm cho mẫu bị
tích điện. Khi đó dòng điện tử bị đẩy ngược bởi lực Culong, vì thế rất ít điện tử thứ
cấp đến được đầu dò, do đó vật quan sát sẽ trắng, không thể quan sát được. Hiện
tượng này gọi là hiện tượng tích điện
Để hiện tượng tích điện không xảy ra thì phải tạo lớp màng mỏng dẫn điện trên bề
mặt mẫu bằng cách dùng máy phun, phun các kim loại quý như Au, Pt, Pd lên trên
bề mặt mẫu.
b) Nếu đánh bóng bề mặt mẫu sáng như gương thì khi quan sát mẫu sẽ rất khó
nhận biết được hình dạng của các hạt. Hãy cho biết nguyên nhân của hiện
tượng trên
Trong SEM, người ta chiếu mẫu bằng dòng điện tử và đo điện tử thứ cấp nắn ra từ
mẫu. Độ tương phản ảnh phụ thuộc vào độ chênh lệch số điện tử thú cấp bắn ra từ
các điểm khác nhau trên bề mặt mẫu. Để có sự khác biệt này thì các điểm trên bề
mặt mẫu phải có độ nghiêng khác nhau. Nếu đánh nóng mẫu như gương thì sẽ
không còn tương phản nữa nên khó nhận biết được hình dạng các hạt.
c) Trong trường hợp (b) làm cách nào để có thể quan sát các hạt?
Để có thể quan sát các hạt mẫu cần xử lý mẫu bằng phương pháp hóa học, nghiền
hay xử lý nhiệt đổ làm lộ ra nhanh ranh giới giữa các hạt, kho đó ảnh sẽ hiện rõ
hình dạng các hạt
Câu 11. Nêu sự khác biệt giữa phương pháp hiển vi điện tử quét môi trường (E-
SEM) và phương pháp hiển vi điện tử quét (SEM)
KHV điện tử quét môi trường khắc phục được khó khăn trong xử lý mẫu trên đây
đối với SEM
Hạn chế phát sinh từ chính bản thân mẫu
Xử lý bằng các phương pháp khác nhau (điện hóa, bằn phá ion...)
Có thể quan sát và phân tích các mẫu mà không cần xử lý như:
 Mẫu không dẫn điện
 Mẫu chứa nước hay dầu
 Mẫu nhả khí mạnh...
SEM:
 Mẫu dẫn điện
 Mẫu rắn, khô
 Chịu được điều kiện chân không
Câu 12. Trình bày ưu điểm và nhược điểm của phương pháp hiển vi điện tử truyền
suốt (TEM)
Ưu điểm :
Tạo ra ảnh hình thái cấu trúc vật rắn với độ tương phản, độ phân giải tốt (d nhỏ) &
ảnh thật tới cấp độ nguyên tử
Hình ảnh cấu trúc vi mô bên trong vật rắn
TEM kèm với các phương pháp phân tích khác với độ chính xác và độ phân giải
cao (đặc tính, cấu trúc hóa học, cấu trúc điện từ của mẫu rắn...)
Cho phép thực hiện các nghiên cứu hữu ích trong nghiên cứu vật liệu
Nhược điểm:
Đắt tiền do đòi hỏi của nhiều hệ thống chính xác cao: chân không, cao áp, thấu
kính điện từ, nguồn phát...
Trang bị đi kèm: PTN với chuẩn độ ẩm, sạch, ổn định về điện áp, nhiệt độ, cách ly
tiếng ồn, rung chuyển...
TEM đòi hỏi phòng xử lý mẫu cực kỳ tinh vi.
TEM là một con mắt siêu đẳng của thế giới nano, nhưng việc điều khiển,
 đầu tư nuôi “con mắt” lại không đơn giản chút nào.
TÓM TẮT:
-Vật liệu là các hạt TiO2
-Các hạt có dạng hình cầu, nhiều hình cầu
biến dạng, kích thước hạt trải dài, có những
hạt từ 0.2-1 μm, các hạt không đồng đều, bề
mặt nhám tương đối gồ ghề.
- Độ phóng đại 10000 lần

Khi độ phóng đại thấp hay còn gọi là thị trường mà thị trường là diện tích mà vùng
quan sát nó sẽ lớn nên vùng diện tích mà mình quan sát lớn nhất là ở độ phóng đại
thấp, diện tích quan sát mà càng nhỏ lại thì độ phóng đại ngày càng tăng. Vậy ta có độ
phóng đại tăng thị trường ngày càng nhỏ nhưng độ chi tiết quan sát nhỏ , độ phân giải
nhỏ. Độ phóng đại sẽ quan sát chi tiết được từng phiến lá nhỏ. “độ phóng đại cao ko
đặc trưng cho toàn bộ vùng diện tích mà mình quan sát

Dạng hình phiến, kích thước nano vật liệu đơn tinh thể TiO2 pha anatase, đều và đẹp.
ta thấy nó dạng hình góc cạnh rõ ràng, đa phần bốn cạnh tương đối gần bằng nhau

giống dạng hoa 3 chiều

 Hình A chụp ở độ phóng đại thấp
sau đó zoom hình để quan sát chi tiết
rõ hơn là hình B và C
Hình B và C giống nhau ở vật liệu là
2 kim tự tháp ghép lại với nhau
nhưng đỉnh bị gạt đi nên mình gọi là
lưỡng chóp cụt
Nhưng các hình đều có kích thước là
khác nhau và đa phần là lưỡng tháp
cụt
Đối với điện tử thứ cấp SE đó là chế độ ghi ảnh thông dụng nhất của SEM. Vậy thì
quy tắc ảnh của SEM là tương phản ảnh của điện tử thứ cấp chỗ nào phát ra hiệu suất
điện tử thứ cấp nhiều thì chỗ đó sẽ là vùng gang màu sáng còn chỗ nào ít thì gang màu
tối. vậy thì hiệu suất phát xạ điện tử SE nó phụ thuộc và 2 hiệu ứng đó là hiệu ứng
nghiêng và hiệu ứng biên
Khi thay đổi thế gia tốc thấp thì chiều sâu nó sẽ ít thế gia tốc càng cao thì thế điện tử
gia tốc nó sẽ càng nhiều nhưng số lượng tia BSE nó sẽ không đổi khác biệt là phân tán
rộng trong không gian
Hiệu suất phát xạ của BSE tỷ lệ với Z. Chỗ nào nguyên tố có Z thấp thì tương ứng chỗ
đó có số lượng BSE ít nên ảnh thu được sẽ là gang màu tối còn BSE nhiều thi ảnh thu
được sẽ là gang màu sáng
Ví dụ : Mẫu Al và Cu
Khi chụp ảnh thu tín hiệu BSE thì vùng của Al sẽ có gang màu tối hơn còn vùng của
Cu sẽ sáng hơn. Vì chùm tia điện tử tương tác với Cu nghĩa là Z lớn, số lượng điện tử
BSE phát ra của Cu nhiều do đó tín hiệu hình ảnh của Cu có gang màu sáng còn tín
hiệu điện tử BSE của Al nó ít do đó Al gang màu sẽ tối hơn.
Vật liệu là các hạt Fe gắn trên nền C
Khi nhìn vào hình bên tay trái không biết đâu
là Fe đâu là C nhưng khi chuyển sang đầu dò
mắc tín hiệu điện tử BSE thì sẽ cho hình ảnh
bên phía tay phải thì ảnh này có những chỗ có
màu sáng hơn hẳn. chỗ màu sáng hơn hẳn là vị
trí của Fe do Fe có Z lớn hơn C nên số lượng
điện tử BSE phát ra từ Fe rất lớn, nên tín hiệu thu được nhiều nên hình ảnh của nó
sáng trong chế độ ghi ảnh BSE
LƯU Ý: Chế độ ghi ảnh BSE chỉ cung cấp thông tin về vật liệu compozit đa pha, xem
cách phân bố như thế nào, chứ không phải ảnh thu được hình thái vật liệu. Ảnh BSE
không cung cấp chi tiết hình thái bề mặt của vật liệu tốt như tín hiệu SE.
-Độ phân giải dSEM < dOM
- Giữa SEM và OM thì SEM cho hình ảnh rõ nét hơn
- Bề mặt đinh óc đi lên đi xuống gồ ghề không bằng
phẳng, quan sát OM thì quan sát không được rõ
-SEM quan sát được khoảng rõ tốt hơn nhiều so với
OM, OM thì bị nhòe
*Hiện tượng tích điện xảy ra sẽ có hình dạng: khi chụp mẫu đưa về nó sẽ trắng xóa
*Thế gia tốc: khi càng tăng thế gia tốc thì thể tích tương tác ngày càng lớn thu được
tín hiệu điện tử SE, BSE càng nhiều
Sự khác biệt 1kV và 10kV là:
Vật liệu là BN(Bo nitrua)
Hình dạng là dạng đĩa, bao gồm nhiều đĩa chồng
lên nhau
Với 1kV sẽ quan sát được hình ảnh trên bề mặt
tức là những cái đĩa tinh thể BN nào trên bề mặt
thì sẽ quan sát được, còn đĩa nào bị che ở phần
dưới thì sẽ không quan sát được. Nhưng khi tăng
thế gia tốc lên 10kV thì thể tích tương tác ngày
càng lớn nghĩa là nó đi xuyên vào bên trong, khi
xuyên vào bên trong mình sẽ có được tín hiệu ở
bên trong và tín hiệu bên trong nó sẽ ít hơn bên ngoài. Nhưng khi thấy được tín hiệu
bên trong thì đâu đó thấy được hình ảnh những đĩa nằm bên dưới.
Mẫu là lá đặt dưới cái ray kim loại đan lại thành hình vuông
Chụp ở thế 5kV là quan sát được trên bề mặt lá còn
phần ray bị che bởi bề mặt lá thì sẽ không thấy nhưng
khi tăng thế gia tốc lên 25kV thì phần lá nhìn
không thấy rõ nhưng phần bên dưới bị che thì nó đã
xuất hiện.
 Thế cao: làm giảm độ tương phản, dễ gây hiệu ứng tích điện
 Thế càng cao thì electron tích trên vật càng nhiều dê gây ra hiện tượng tích điện
nếu trong trường hợp mẫu không dẫn điện tốt
 Thế cao độ phân giải ngày càng nhỏ
*Bán kính chùm electron (spot size)
Spot size càng nhỏ, độ phóng đại càng cao, tỉ lệ signal/noise càng tăng, độ mịn của
ảnh càng giảm
Vd:
10pA sẽ có kích thước chùm tia điện tử nhỏ nhất, quan
sát được chi tiết các biên giữa các hạt vật liệu này rất rõ,
độ mịn sẽ giảm.
1nA thì biên nó bị nhòe, không quan sát được rõ

Khoảng làm việc càng nhỏ độ phóng đại càng lớn, thị trường quan sát càng nhỏ,
chi tiết càng rõ ràng, khoảng rõ càng nông

hình 1 có khoảng làm việc nhỏ hơn vì độ phân giải tốt, quan sát
chi tiết ro ràng hơn ( quan sát được thân cây, các cường vân trên
thân cây rõ ràng, trên thân cây có các gai nhỏ mình có thể quan
sát dễ dàng) nhưng khoảng rõ độ sâu trường ảnh nông hơn

độ phóng đại nhỏ thì quan sát được chiều sâu nhưng chi tiết trên
thân cây không quan sát rõ được

KÍNH HIỂN VI ĐIỆN TỬ QUÉT MÔI TRƯỜNG (ESEM)

Sự khác biệt giữa SEM và ESEM
Yêu cầu chụp ảnh với SEM: Mẫu phải khô, là chất rắn dẫn điện (kim loại hay mẫu
phải được phủ bằng lớp KL dẫn điện nếu mẫu ko dẫn điện)
Trường hợp đối với ESEM ví dụ mẫu không khô như mẫu sinh học, mẫu tồn tại trong
điều kiện môi trường nên SEM không chụp được vậy kính hiển vi điệm tử quét môi
trường nó sẽ khắc phục được khó khăn trong xử lý mẫu trên đây đối với SEM.
Ví dụ
Hợp kim có bề mặt nứt gãy, khi mà kim loại có hoạt tính cao, nhưng khi đứt gãy thì
thấy bề mặt nứt gãy này nó có hoạt tính rất mạnh với môi trường xung quanh se phản
ứng ngay tức thì, nhưng mình mong muốn khi vừa đứt gãy xong mình sẽ quan sát
được nó. Khi đưa vào SEM sẽ tốn một khoảng thời gian, khi đó kim loại se bị oxy hóa
nên khi quan sát trong SEM se thấy bề mặt bị oxy hóa chứ không phải bề mặt bị nứt
gãy. xử lý bằng các phương pháp khác nhau (điện hóa, bắn phá ion…) nhưng chỉ để
bắn phá được bề mặt mẫu mà chỉbóc đi các sản phẩm trên bề mặt nhưng quá trình oxi
hóa vẫn còn ảnh hưởng đến phần nền kim loại nên cung không quan sát được bề mặt
thực tế. Muốn quan sát được bề mặt thực tế vừa nứt gãy phải sử dụng ESEM.
Đối tượng quan sát của ESEM:
Có thể quan sát và phân tích các mẫu mà không cần xử lý như:
Mẫu không dẫn điện
Mẫu chứa nước hay dầu
Mẫu nhả khí mạnh...
Ví dụ nuổi một đơn tinh thể nào đó, khi nuôi đơn tinh thể như vậy thì đòi hỏi điều
kiện môi trường phải tác động càng ít càng tốt.
Đối với SEM mình muốn biết nuôi đơn tinh thể từng ngày như thế nào thì phải lấy
đơn tinh thể đó ra, làm khô và đưa vào SEM chụp xong đưa lại kết tinh, vậy khi lấy ra
là đã thay đổi điều kiện của nó phát triển tinh thể rồi. vậy bây giờ mình phải để
nguyên nó trong dung dịch, đưa nó vào ESEM, khi đó trong ESEM se thiết kế một
buồng chứa mẫu nó sẽ đặc biệt riêng, lúc đó ta sẽ quan sát được tinh thể phát triển
theo thời gian trong dung dịch mà không cần lấy mâu ra ngoài
Giữa kính hiển vi điện tử
quang học (OM) và kính hiển
vi điện tử quét (SEM) khác
nhau ở:

Dựa trên thực tế tế đối tượng ở đây là con trùng tia

- Dựa vào độ phân giải, hình ảnh nhìn rõ hơn, sắc nét hơn,chi tiết hơn thì nó se liên
quan đến độ phân giải: Trùng tia chụp bên hình ảnh SEM độ phân giải tốt hơn
nhiều so với OM
- Dựa vào độ sâu trường ảnh (khoảng rõ) liên quan đến nhìn nền đằng sau, nhìn vào
được bên trong của con trùng tia, nhìn được cái khoảng sâu bên trong, liên quan
đến chiều còn lại: Đối với kính hiển vi điện tử quét SEM thì khoảng rõ mà thu
nhận được trong SEM nó sẽ sâu hơn so với bên OM . Khoảng rõ mà sâu thì nhìn
được theo 3 chiều, còn đối với OM thì chủ yếu trên bề mặt 2 chiều, chiều sâu phía
bên trong sẽ không nhìn thấy được
- Nếu nhìn bằng kính hiển vi quang học thì giả sử đối tượng có màu thì se nhìn
thấy, quan sát được màu sắc vì nguồn của mình tác nhân thử khi tương tác với vật
chất trong kính hiển vi quang học dùng nguồn ánh sáng khả kiến do đó nếu nó thu
một phần của vùng ánh sáng khả kiến thì se được màu phụ của nó. Trong kính
hiển vi điện tử quét SEM thì không bao giờ thấy được màu sắc, chỉ thấy được
tương phản ảnh trắng và đen.
KÍNH HIỂN VI TRUYỀN QUA (TEM)
Độ phân giải của SEM: tùy thuộc vào nguồn phát chùm tia điện tử sử dụng nguồn
phát xạ nhiệt hay phát xạ trường, đối với phát xạ trường thì cho độ phân giải tốt nhất
dao động khoảng 2-5nm, do đó độ phân giải nhỏ nhất của SEM mà có thể đạt đến tức
là khoảng cách giữa 2 điểm gần nhất tầm khoảng 2nm, dưới 2 nm thì không nhìn rõ
nữa đối với kính hiển vi điện tử quét.
Đối với ảnh TEM thì phương pháp TEM cho thấy độ phân giải nó xuống rất là nhỏ
HRTEM: TEM có độ phân giải cao (cao là ứng với độ phân giải tốt tức là d nhỏ)
Trong hình (a) có: đơn tinh thể
Silicon gắn trên bề mặt SiO2 vô định
hình.
Hình a chia ra 2 vùng ranh giới
Vùng Si và SiO2 có sự khác biệt là
Đối với SiO2 vô định hình thì bề mặt
của nó cách sắp xếp một cách hôn
loạn không theo một trật tự nhất định
nhưng đối với Si mà đơn tinh thể thì
nó sắp xếp một cách trật tự bao gồm các vạch sắp xếp những vạch này gọi là: với độ
phân giải với kích thước 5nm thì tương đối chưa hình dung được khoảng cách 2 điểm
gần nhất nên tương đối mờ không nhìn thấy được. vậy hình d là hình phóng đại của
vùng Si, khi phóng đại lên thì thước đo giảm xuống 2nm nên ta nhìn thấy trên ảnh có
những chấm trắng và xếp theo từng lớp, đây là các lớp Si hay các cột Si, hình d cũng
là phương pháp HRTEM nhưng mình tăng độ phóng đại lên 1,2 triệu lần và khoảng
cách nhỏ nhất 2 điểm thấy được là 0,2nm nhưng ở đây nhìn tốt hơn là 0,17nm vậy
cấp độ nhìn dưới nm như vậy gọi là cấp độ nguyên tử, quan sát được sự sắp xếp của
các nguyên tử bên trong.
 Hình a:
Vùng Fe3O4 nó sẽ đậm màu hơn và se có
biên với vùng bên ngoài
Nhìn vào phía trong Fe3O4 sẽ có những vân
màu sáng nhưng mà không có rõ ràng lắm,
đối với ZnS cũng có đường vân màu trắng
nhưng hiện giờ thang đo 5nm thì chưa rõ
lắm.
Đối với hình b phóng đại vùng Fe3O4 thì sẽ thấy các đường vân sáng sắp xếp có trật
tự khoảng cách giữa 2 đường vân là 0,26nm. Những đường vân sáng như vậy đó là
các lớp nguyên tử tương ứng các họ mặt mạng, mỗi vật liệu khác nhau nó sẽ có sắp
xếp 1 họ khác nhau, ở đây trong trường hợp Fe3O4 (311) họ mặt mạng này và cách
sắp xếp của họ mặt mạng này và khoảng cách của họ mặt mạng này nó sẽ đặc trưng
cho phần nền này.
Hình c phóng đại ZnS cũng có đường vân sáng nhưng nó sắp xếp theo một kiểu khác
và khoảng cách 0,31nm và có họ mặt mạng là (111)
Độ phân giải là yếu tố quyết định
Độ phóng đại là phóng lớn hình ảnh nhưng khi phóng lớn như vậy thì chưa chắc nhìn
chi tiết bên trong, phóng lớn mà hình ảnh nhòe cũng không có ý nghĩa gì cái mà
chúng ta cần là quan sát chi tiết nghĩa là chúng ta đang đi về độ phân giải nên độ phân
giải nó quan trọng hơn độ phóng đại