3.

Desfășurarea lucrării
Se efectuează o încercare de fiabilitate asupra a 1000 de tranzistoare măsurate la intervale de 100 de
ore. Numărul cumulat al tranzistoarelor defecte identificate la fiecare măsurătoare - r(ti) - este dat în tabelul
de mai jos.

1. Calculaţi valorile estimate ale indicatorilor de fiabilitate:

Fˆ (ti ) - funcţia de repartiţie;
Rˆ (ti ) - funcţia de fiabilitate;

fˆ (ti , ti + t ) - densitatea de probabilitate a timpului de funcţionare;

zˆ(ti , ti + t ) - rata defectărilor.

ti r(ti) Δr(ti) n(ti) ^F(ti) ^R(ti) ^f(ti, ti+Δt) ^z(ti, ti+Δt)

100 50 50 950 0.05 0.95 0.0005 0.000526
200 90 40 910 0.09 0.91 0.0004 0.00044
300 122 32 878 0.122 0.878 0.00032 0.000364
400 147 25 853 0.147 0.853 0.00025 0.000293
500 167 20 833 0.167 0.833 0.0002 0.00024
600 184 17 816 0.184 0.816 0.00017 0.000208
700 200 16 800 0.2 0.8 0.00016 0.0002
800 216 16 784 0.216 0.784 0.00016 0.000204
900 231 15 769 0.231 0.769 0.00015 0.000195
1000 245 14 755 0.245 0.755 0.00014 0.000185
1100 260 15 740 0.26 0.74 0.00015 0.000203
1200 274 14 726 0.274 0.726 0.00014 0.000193
1300 288 14 712 0.288 0.712 0.00014 0.000197
1400 301 13 699 0.301 0.699 0.00013 0.000186
1500 315 14 685 0.315 0.685 0.00014 0.000204
1600 328 13 672 0.328 0.672 0.00013 0.000193
1700 341 13 659 0.341 0.659 0.00013 0.000197
1800 354 13 646 0.354 0.646 0.00013 0.000201
1900 368 14 632 0.368 0.632 0.00014 0.000222
2000 380 12 620 0.38 0.62 0.00012 0.000194
2100 392 12 608 0.392 0.608 0.00012 0.000197
2200 405 13 595 0.405 0.595 0.00013 0.000218
2300 417 12 583 0.417 0.583 0.00012 0.000206
2400 430 13 570 0.43 0.57 0.00013 0.000228
2500 444 14 556 0.444 0.556 0.00014 0.000252
2600 460 16 540 0.46 0.54 0.00016 0.000296
2700 480 20 520 0.48 0.52 0.0002 0.000385
2800 505 25 495 0.505 0.495 0.00025 0.000505
2900 535 30 465 0.535 0.465 0.0003 0.000645
3000 575 40 425 0.575 0.425 0.0004 0.000941
2. Reprezentaţi pe acelaşi grafic funcţia de repartiţie şi funcţia de fiabilitate.

2
 1
0.9
0.8
0.7
0.6
0.5
0.4
0.3
0.2
0.1
0
100 300 500 700 900 1100130015001700190021002300250027002900

3. Reprezentaţi pe acelaşi grafic densitatea de probabilitate a timpului de funcţionare şi rata defectărilor.

0.001
0.0009
0.0008
0.0007
0.0006
0.0005
0.0004
0.0003
0.0002
0.0001
0

4. Să se calculeze cuantilele de ordinul 0,1, 0,5 şi 0,9 ale timpului de funcţionare.

t̂ 0,1 = 200 ore

t̂ 0,5 = 2700 ore
t̂ 0,9 = nu se poate preciza deoarece dupa 3000 de ore s − au defectat doar 575 produse

5. Să se calculeze funcţia de fiabilitate pentru un interval de funcţionare între 500 şi 1500 de ore.

̂ (1500)
R 0,685
̂ (500, 1500) =
R = = 0,82
R̂ (500) 0,833

6. Să se calculeze media timpului de funcţionare ( m̂ ), dispersia ( D̂ ) şi abaterea medie pătratică ( ̂ ).

Deoarece nu s-au defectat toate produsele acesti parametrii nu pot fi calculati prin metoda
neparametrica.
Problemă

3
Rezultatele experimentale obţinute într-o încercare de fiabilitate trunchiată fără înlocuire efectuată asupra
unui eşantion de n=200 de tranzistoare vreme de 1000 de ore sunt prezentate în tabel. Să se estimeze
neparametric şi să se reprezinte grafic funcția de fiabilitate și rata de defectare a tranzistoarelor.

Interval de timp (ore) 0 - 100 100 - 200 200 - 400 400 - 600 600 - 800 800 - 1000
Număr de defectări în
5 7 5 2 1 2
interval

1) Calculați:
𝐹̂ (200); 𝑅̂ (600); 𝐹̂ (1500); 𝑓̂(200,400); ẑ̄ (100,600); 𝑅̂ (200,600); 𝑚 ̂ ; t̂0,05; t̂0,1; t̂0,2
̂; σ

4
2) Să se reprezinte grafic funcția de fiabilitate și rata de defectare a tranzistoarelor

ti r(ti) Δr(ti) n(ti) ^F(ti) ^R(ti) ^f(ti, ti+Δt) ^z(ti, ti+Δt)

100 5 5 195 0.025 0.975 0.00025 0.000256
200 12 7 188 0.06 0.94 0.00035 0.000372
400 17 5 183 0.085 0.915 0.000125 0.000137
600 19 2 181 0.095 0.905 0.00005 5.52E-05
800 20 1 180 0.1 0.9 0.000025 2.78E-05
1000 22 2 178 0.11 0.89 0.00005 5.62E-05

Functia de fiabilitate
1

0.98

0.96

0.94

0.92

0.9

0.88

0.86

0.84
100 200 400 600 800 1000

Rata de defectare a tranzistoarelor

0.0004

0.00035

0.0003

0.00025

0.0002

0.00015

0.0001

0.00005

0
100 200 400 600 800 1000