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Sedra ch4MOSFETs 21 11 19
Sedra ch4MOSFETs 21 11 19
1
Introdução
- Podem ser densamente integrados (>200 miliões num único circuito integrado, Very-
large-scale-integrated circuit, VLSI).
Microelectronic Circuits - Fifth Edition Sedra/Smith Copyright © 2004 by Oxford University Press, Inc. 2
4.1 Estrutura do dispositivo e funcionamento físico
O MOSFET de intensificação (ou enriquecimento) é o FET mais amplamente utilizado
Intensificação = enhancement
0.2~100 μm
2-~50 nm
0.1~3 μm
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MOS 3
Outro nome para o MOSFET:
FET de porta isolada, Insulated-gate FET, IGFET (almost no current through the gate : ~10-15 A)
4.1.2 Operação sem tensão na porta
Não há fluxo de corrente quando
Entre o dreno e a fonte: Duas junções p-n aplicamos um VDS pois RDS da ordem
de costas uma para a outra dos 1012 Ω
4.1.3 Criando um canal para o fluxo de i υGS > 0 repele as lacunas da região p e
atrai os electrões livres das zonas n+
Um canal n é formado no substrato de tipo p
camada de inversão (passa de p para n!).
- Se aplicarmos um vDS, a corrente flui através deste
canal (NMOS)
- Tensão de limiar (Threshold voltage) Vt : o valor
de υGS para o qual a quantidade de electrões livres
acumulados no canal é suficiente para formar um
canal condutor.(+0.5 ~ 1 V)
O dispositívo funciona como uma resistência cujo valor é determinado por υGS. A conductância do
canal é proporcional a υGS – Vt’ e logo iD é proporcional a (υGS – Vt) e υDS.
Aumentando υDS acima desse valor tem, teóricamente, nenhum efeito Quando υDS
na forma e na corrente do canal: Saturação! υ pequeno ou 0 V
=υ -V DSsat
Copyright GS
© 2004 by t
Oxford University Press, Inc.
Microelectronic Circuits - Fifth Edition Sedra/Smith 5
Tríodo Saturação
2 n L
No início da região de saturação, υDS= υGS-Vt (saturation region) (4.6a)
1 W W
D = n ox - Fifth
iMicroelectronic
( C )
Circuits ( GS − V
Edition t)
2
(4.6)
Sedra/Smith
L
Razão de aspecto do
Copyright :© 2004
Aspect ratio
by Oxford of the
University MOSFET
Press, Inc. Exemplo. 4.1 p148 7
2 L MOSFET
4.1.7 O MOSFET de intensificação de canal p Foi originalmente dominante no fabrico dos
dispositivos MOS
É fabricado num substrato do tipo n com regiões
p+ para o dreno e para a fonte Foi virtualmente substituido pelo NMOS que é
Os portadores de carga são as lacunas. menor, mais rápido e necessita de uma tensão
de alimentação menor (poia a mobilidade dos
υGS, υDS, e Vt são negativos. A corrente fluí da electrões é maior do que as lacunas).
fonte para o dreno.
Mas os PMOS ainda são encontrados nos
4.1.8 Complementary MOS, or CMOS circuitos discretos e nos circuitos MOS
complementares (CMOS)!
CMOS é a tecnologia de CI
mais utilizada nos projectos
de circuitos analógicos e
digitais
Figure 4.9 Secção transversal de um circuito integrado CMOS. Note que o transístor PMOS é formado
numa região separada, do tipo n, conhecida como cavidade ou poço n. Outro arranjo tb possível é ter
um corpo tipo n e o dispositivo n é formado numa cavidade p. Não são mostradas as ligações que
devem ser feitas ao corpo tipo p e ao poço n; A serve©como
Copyright 2004 by terminal de Press,
Oxford University corpoInc.para o dispositivo canal p.
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4.2 As características Corrente-Tensão Analíse detalhada das eqs 4.5 e 4.6
(b) Símbolo modificado com uma seta na fonte para indicar que o dispositívo é de
canal n
(c) Símbolo simplificado qaundo a fonte está ligada ao corpo ou quando o efeito do
corpo pode ser desprezado.
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4.2.2 As características iD-vDS Amplificadores – Região de Saturação
A υGD =υGS – υDS = Vt ou υDS = υGS - Vt , a profundidade do canal no dreno é quase zero! O
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canal está estrangulado ( pinched off).
W 1 2
Eq.(4.5) i D = kn (
GS − V ) − (4.11)
L
t DS
2 DS
W
Considerando vDS pequeno, obtemos: iD = kn (GS − Vt ) DS (4.12)
L
−1
DS W
rDS = kn (VGS − Vt ) (4.13)
iD DS small L
GS =VGS
O funcionamento do MOSFET como resistência linear é controlada pela sobretensão porta-fonte, Vov
W
rDS = 1 kn OV
V (4.15)
L
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Para operação na região de saturação: GS Vt (Induced channel) Igual
(4.16)à região de tríodo
GD Vt (Pinched-off channel) (4.17) (υGD =υGS – υDS) DS GS − Vt (Pinched-off channel) (4.18)
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Na fronteira entre regiões de tríodo e
saturação:
DS = GS − Vt (Boundary) (4.19)
W (4.11) 1 2
Eq.(4.5) i D = kn (
GS − Vt ) DS − DS (4.11)
L 2
1 W
iD = kn (GS − Vt )2 (4.20) Saturation current
2 L
1 W 2
iD = kn DS (4.21) Saturation current
2 L
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1 W
4.2.3 Resistência finita na região de saturação iD = kn (GS − Vt )2 (4.20) Saturation current
2 L
A Eq.(4.20) mostra que iD é independente de υDS
Mas, na prática, aumentando υDS acima de υDSsat afecta o comprimento do canal.
Figure 4.15 Aumentando vDS acima de vDSsat faz com que o ponto de estrangulamento do
canal afaste ligeiramente do dreno, reduzindo o comprimento efectivo do canal (de ΔL).
Assuming L = DS , 1 W
iD = k 1 + DS (GS − Vt )2
2 n L L (1+x)a=(1+ax) se x<<1
let = , process-technology parameter (V -1 )
L
1 W
iD = kn (GS − Vt )2 ( 1 + DS ) (4.22)
2 L
Considerando ainda VA = 1 / , Early voltage
VA = VA L : V = 5~50 [V/m], entirely process-techology parameter
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1 W
i D = kn (GS − Vt )2 ( 1 + DS ) (4.22) : [V -1 ]
2 L
kn W
-1 -1
i
ro D (4.23) ro = (VGS − Vt )2 (4.24)
DS GS constant 2 L
1 W 1
let I D = kn (VGS − Vt )2 , ro = (4.25) VA = 1 /
2 L ID
VA
ro = (4.26)
ID
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4.2.4 Caracteristícas do MOSFET de intensificação canal p
Vt = Vt + [ 2 f + VSB − 2 f ] (4.33)
2 f ( physical − parameter ) = 0.6 V
2qN A s
(body − effect − parameter ) = (4.34)
Cox
O efeito de corpo pode causar degradação
considerável no desempenho do circuito (Cap. 6)
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4.2.6 Efeito da temperatura
Vt e k’ diminuem com o aumento da temperatura. O efeito global é a diminuição
da corrente do dreno pois o efeito do k’ é dominante.
- Este resultado muito interessante é utilizado na aplicação do MOSFET em
circuitos de potência (Cap. 11).
4.2.7 Ruptura e proteção da entrada
Avalanche suave : υDS (20~150 V) ruptura entre o dreno e o substrato resultando
num aumento relativa/ rápido da corrente
VS − VSS VDD − VD
RS = RD =
ID ID
−1.2 − ( −2.5) 2.5 − 0.5
= = 3.25 k = = 5 k
0.4 0.4
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EXEMPLO 4.3
Projecte o circuito para obter ID = 0.08 mA.
R=? VD = ?, μnCox =200 μA/V2, L=0.8 μm. • Para operação na região de tríodo,
GS Vt (Induced channel) (4.8)
DS GS − Vt (Continuous channel) (4.10)
• Para operação na região de saturação,
GS Vt (Induced channel) (4.16)
DS GS − Vt (Pinched-off channel) (4.18)
Determinação de VGS!
VDS 0.1
rDS = = = 253
ID 0.395
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Exemplo 4.5 Vt = 1 V, kn (W / L) = 1 mA/V 2 , = 0
RG 2 10
VG = VDD = 10 = +5 V
RG 2 + RG 1 10 + 10
ID = ?
I =?
VD = ?
VG = ?
VS = ?
VD 3
RD = = = 6 k
I D 0.5
4
VDmáx=|Vt| + VG = 1 V + 3V= 4 V RD = = 8 k
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0.5 26
Exemplo 4.7 Vt= ±1 V, k’(W/L) 1 mA/V2 para NMOS e PMOS
-Determine iDN, iDP, υO, for υI =0 V, +2.5 V, e -2.5 V.
Para υI =0 V,
I DN = 0 Qp, tríodo !
O MOSFET como uma fonte de corrente controlada por tensão Amplificador de Transconductância
iD υGS Região de Saturação !!!
1 W
iD = kn (GS − Vt )2 (4.20) Saturation current Não linear !
2 L
Para amplificação linear, necessitamos de tensão de polarização CC VGS e um sinal de entrada υgs pequeno.
4.4.1 Operação para grandes sinais: 4.4.2 Derivação Gráfica das Características de Transferência
Características de transferência
DS = VDD − RD i D (4.36)
Estrutura básica do amplificador
Fonte –Comum (FC) VDD 1
iD = − (4.37)
RD RD DS
Equação da recta de
carga (Load-line)
Microelectronic
O = DS = V DD −- R
Circuits D iD
Fifth Edition (4.35)
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O = DS = VDD − RD i D (4.35)
4.4.2 Derivação Gráfica das υO
Características de Transferência
υI = υGS
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4.4.5 Expressão Analítica da característica de Transferância
Região de corte, XA: υI < Vt, υO = VDD
O = VDD − RD i D 1 W
iD = ( nCox ) ( I − Vt )
2
2 L
1 W
O = VDD − RD nCox ( I − Vt )
2
(4.39)
2 L
At Q, d O W
A A = − RD nCox (V − Vt ) (4.40)
d I I = VIQ
L IQ
VIQ − Vt = VOV
Para o ponto Q, υI = VIQ, υO = VOQ ,
VRD =VDD - VOQ
2(VDD − VOQ ) 2VRD
A = − =− (4.41)
VOV VOV
Ponto final da região de saturação VOB = VIB − Vt (4.42)
4.5.2 Polarização com VG fixo e com resistência na fonte - Para dados VG e RS,
Técnica de polarização excelente para MOSFETs discretos
VG = VGS + RS I D (4.46)
ID =
1
2
W
( nCox )
L
}
(VGS − Vt ) (a)
2
ID, VGS podem ser
determinados
- Para um FET,
VG fixo e ID aumenta. –> (4.46) VGS diminui.
–> (a) ID diminui.–> ID estabiliza.
Rs providencia realimentação negativa resultando num
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D estabilizado. Rs : Resistência
University Press, Inc. de Degeneração 32
(a) Circuíto básico
(c) Implementação prática (d) Acoplamento de uma fonte de sinal à
com apenas uma fonte. porta usando um condensador CC1
Para as Fig.s c e d
- RG : ~ MΩ para termos uma impedância de entrada elevada para a fonte de sinal (Fig. d)
Para a Fig. e
- RG : Para ter a porta ligada à massa em CC
Para uma impedância de entrada elevada para a fonte de sinal.
VDD − VD 15 − 10
RD = = = 10 k
ID 0.5
VS 5
RS = = = 10 k
RS 0.5
I D = 12 kn (W / L)VOV
2
0.5 = 12 1 VOV
2
VGS = Vt + VOV = 1 + 1 = 2 V
VG = VS + VGS = 5 + 2 = 7 V
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4.5.3 Polarização usando uma resistência de realimentação do Dreno para a Porta
- Bom para MOSFETs discretos
- RG : Resistência de realimentação ~ MΩ
2 L
- Feedback mechanism – negative feedback or degeneration
ID increases. – (4.49) VGS decreases. – (a) ID decreases.
ID is stabilizes !
- Bias for Common source amplifier Porque não curto circuitar a
- Drawback of a limited output voltage swing. porta e o dreno em vez de RG?
I D1 = I REF
V + VSS − VGS
= DD
R
}
(4.51)
ID1, VGS can be
determined.
1 W
I = I D2 = kn (VGS − Vt )2 (4.52) ID2 can be determined.
2 L 2
(W / L)2 What about Projecte ? Implementation of the constant-current
I = I REF (4.53) source using a current mirror.
(W / L)1 D4.22, p286
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4.6 Funcionamento e modelos para pequenos sinais
1 W
For dc bias current, I D = kn (VGS − Vt ) 2 (4.54)
2 L
VDS = VD = VDD − RD I D (4.55) For saturation, we must have VD VGS − Vt
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4.6.3 O ganho de tensão d
A = − gm RD (4.65)
gs
For small-signal
condition
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4.6.4 Separating the DC Analysis and the Signal Analysis
For the signal analysis,
Ideal constant voltage sources are replaced by short circuits.
Ideal constant current sources are replaced by open circuits.
4.6.5 Modelo equivalente para pequenos sinais: o modelo π-híbrido
FET behaves as a voltage-controlled current source.
The input impedance is very, very high.
The output impedance is also high. Modelo π-híbrido
gm = 2kn W / L I D (4.70)
cf.) Transconductance of BJT is proportional to the bias current
and independent of physical size and geometry of the device.
Practical Exemplo
k = 120 A/V 2 , I D = 0.5 mA
- gm = 0.35 mA/V for W/L =1
- gm = 3.5 mA/V for W/L =100
- gm = 20 mA/V for BJT with IC = 0.5 mA.
1 W
Eq. 4.6a, I D = nCox (VGS − Vt )2
2 L
kn (W / L) = 2 I D /(VGS − Vt )2 Three Projecte Parameters
2I D 2I
gm = = D (4.71) W/L, VOV, ID
VGS − Vt VOV
Two the above can be chosen independently.
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Exemplo 4.10 Sol) gm = kn (W / L)(VGS − Vt ) VGS = VD = ?
Vt=1.5 V, kn’ (W/L) =0.25 mA/V2, VA = 50 V. 1 W
ID = kn (VGS − Vt )2
Small-signal gain=?, input resistance=?,
maximum input signal =?
Eq. 4.6a,
2 L
VD = 15 − RD I D = 15 − 10 I D (4.74)
}
VA i
ro = (4.66) Rin =?
ID ii
o
o = − gm gs ( RD // RL //ro ) A = = − gm ( RD // RL //ro )
i
= −0.725(10 // 10 // 47) = −3.3 V/V
i
o
ii = ( i − o ) / RG = 1−
RG i
4.3 i i RG
= i [1 − ( −3.3)] = Rin = = 2.33 M
RG RG ii 4.3
To stay in saturation region,
DS min = GS max − Vt
DS GS − Vt
VDS − A i = VGS + i − Vt 4.4 − 3.3 i = 4.4 + i − 1.5
i = 0.34 V
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4.6.6 O modelo T
Modelo π-híbrido
Modelo T
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small-signal Equivalent Circut Model when VSB = 0 (i.e., No Body Effect)
small-signal Equivalent Circut Model when VSB 0 (i.e., Including Body Effect)
Table 4.2
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4.7 Caracterizando
amplificadores
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4.7 Amplificadores MOS de estágio simples
IC MOS amplifiers : Chap. 6 4.7 is useful to understand IC amplifier.
4.7.2 Characterizing Amplifiers
The material of Sect. 1.5 was limited to unilateral amplifiers.
2. Ri, Ro, Aυo, Ais, Gm do not depend on the value of Rsig and RL.
Rin, Rout, Aυ, Ai, Gυo, Gυ may depend on the value of Rsig and RL.
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4.7 Amplificadores MOS de estágio simples discretos
Amlificadores MOS integrados : Cap. 6 O subcapítulo 4.7 é útil para perceber os amplificadores MOS integrados!
4.7.2 Estrutura básica
Fig. 4.42 Estrutura básica do circuito utilizado para implementar os amplificadores MOS de estágio simples discretos.
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4.7.3 Amplificadores Fonte Comum (FC) - O amplificador com MOSFETs mais utilizado!
gm = kn (W / L)(VGS − Vt ) = kn (W / L)VOV (4.69)=(4.61)
Condensador de gm = 2kn W / L I D (4.70)
acoplamento (~μF) 2I D 2I
gm = = D (4.71)
VGS − Vt VOV
Condensador de acopla-
mento (~μF), para fazer
com que o sinal variável
fique aterrado.
Rin
G = A
Rin + Rsig
Rout = ro RD (4.83)
RG
= g ( r RD RL ) (4.82)
RG + Rsig m o
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4.7.3 Amplificadores Fonte Comum (FC)
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4.7.4 Amplificador Fonte Comum (FC) com uma resistência na fonte
RSac
gm ( RD RL )
o = − id ( RD RL ) = − i
RSdc 1 + gm RS
}
(4.86) - Rs diminui υgs reduzindo a distorção não linear.
gm 1/ gm + RS 1 + gm RS entre ganho de
(4.86), (4.58)
i gm i tensão e as
- Rs aumenta a largura de banda (Sect. 4.12).
id = i = = (4.87) outras
1/ gm + RS 1 + gm RS - Rs diminui o ganho de tensão. (4.90)
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vantagens! 51
4.7.5 O amplificador Porta Comum (PC) (b) Circuito equivalente
para pequenos sinais
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1 gm ( RD RL )
Rin = (4.91) Rin = Ri = RG (4.84 CS) G = (4.96b)
gm 1 + gm Rsig
Rin
i = sig (4.92) RG gm ( RD RL )
Rin + Rsig G = (4.90 CS)
RG + Rsig 1 + gm RS
1
gm 1
i = sig = sig (4.93) Rout = Ro = RD (4.97) same as in CS
1 1 + gm Rsig
+ Rsig
gm
Rin Rsig
1 Using Fig. 4.45(c), ii = isig = isig (4.98)
Rsig >> Rin + Rsig 1
gm Rsig +
gm
ac ground
(c) Small-signal analysis performed directly on (d) Circuit for determining the output resistance Rout of the
the circuit. source follower.
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Circuito equivalente Normally, ro >> 1 / gm , A o 1 Significa que a tensão na fonte segue
para pequenos sinais a tensão da porta: Seguidor de Fonte!
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O amplificador Porta
Comum (PC)
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Taylor expansion, (1+x)-1 =1- x+ x2/2-….
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4.8 As capacidades internas do MOSFET e o modelo para altas frequências
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4.8.4 A frequência de ganho unitário fT
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4.9 Resposta em frequência do amplificador FC
Produto GLB=|AM|LB=Constante
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4.9.2 Resposta em altas frequências
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Selecionando valores para os condensadores de acoplamento e de derivação
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