Professional Documents
Culture Documents
Carta C y U
Carta C y U
pequeñas piezas
en tarjetas electrónicas se cuantifi ca el número
de
defectos de diferente tipo por medio de una
muestra de
10 tarjetas. Los defectos encontrados en las
últimas 30
muestras se listan a continuación (datos en
orden por
renglón).z
c=875/35= 25
lcs=25+3*raiz25= 40
lcs=25-3*raiz25= 10
unidades de inspeccion defectos C LCS LCI
1 28 25 40 10
2 22 25 40 10
3 25 25 40 10
4 21 25 40 10
5 26 25 40 10
6 22 25 40 10
7 36 25 40 10
8 22 25 40 10
9 32 25 40 10
10 22 25 40 10
11 23 25 40 10
12 27 25 40 10
13 26 25 40 10
14 18 25 40 10
15 29 25 40 10
16 24 25 40 10
17 6 25 40 10
18 20 25 40 10
19 25 25 40 10
20 29 25 40 10
21 26 25 40 10
22 24 25 40 10
23 32 25 40 10
24 31 25 40 10
25 29 25 40 10
26 24 25 40 10
27 27 25 40 10
28 21 25 40 10
29 27 25 40 10
30 31 25 40 10
31 20 25 40 10
32 22 25 40 10
33 28 25 40 10
34 26 25 40 10
35 24 25 40 10
suma 875 25
}
Chart Title
45
40
35
30
25
20
15
10
0
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 33 34
3.91927599
2.40981492
r
Chart Title
5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22
Ui U lcs lci