Universidad Nacional de Ingeniera Facultad de Ciencias Escuela Profesional de Fsica

Reconocimiento de un Microscopio Electrnico de Transmisin

Introduccin a la Microscopia Electrnica

ALUMNOS: GONZALES LORENZO CARLOS DAVID 20030196E

Prof. Alcides Lpez

2009-I 18 de abril del 2009

Reconocimiento de un Microscopio Electrnico de Transmisin

Gonzales Lorenzo Carlos David
Facultad de Ciencias, Universidad Nacional de Ingeniera E-mail: lorentz19_3abn@hotmail.com

En este trabajo se presenta un estudio general del Microscopio Electrnico de Trasmisin (MET) que se encuentra en el laboratorio de la facultad; primero un reconocimiento de los componentes internos principales, as como tambin de los principios fsicos en que esta basado su funcionamiento, el manejo de los comandos en la tabla de controles, las precauciones y el cuidado que se debe tener al momento de manejar el MET. Palabras Claves: Microscopio Electrnico de Trasmisin (MET). In this work a conspectus of Transmissions Electron Microscope (MET) that is in the faculty's laboratory shows up; first a recognition of the internal main components, as well as of the physical principles in than this once his functioning was based, the handling of the commands in the board of controls; precautions and the care that one should have at the moment of driving the MET. Key words: Transmission Electron Microscopy (TEM).

1. Introduccin Un microscopio es, bsicamente, un sistema ptico que transforma un objeto en una imagen, la cual amplifica (magnifica) detalles caractersticos del objeto. Con el microscopio de luz se resuelven detalles del orden del micrn, mientras que con el microscopio electrnico se alcanzan a resolver objetos del orden de los angstrom. En el microscopio electrnico, un haz de electrones incide sobre una muestra y de la interaccin de estos electrones con los tomos de la misma, surgen seales que son captadas por algn detector o bien, proyectadas directamente sobre una pantalla. Dentro de la familia de microscopios electrnicos, se encuentran el Microscopio Electrnico de Transmisin (TEM) y el Microscopio Electrnico de Barrido (SEM). Cada uno de ellos, permite el estudio de diferentes caractersticas de una muestra. El SEM provee informacin sobre morfologa y caractersticas de la superficie, mientras que con el TEM podemos observar la estructura interna y detalles ultraestructurales. Un gran avance se ha alcanzado con la incorporacin de tcnicas de procesamiento de imgenes para revelar detalles especficos de inters, algunos de ellos ligados a la ultraestructura de la muestra.

2. Microscopio Electrnico Un microscopio electrnico es aqul que utiliza electrones en lugar de fotones o luz visible para formar imgenes de objetos diminutos. Los microscopios electrnicos permiten alcanzar una capacidad de aumento muy superior a los microscopios convencionales (hasta 500.000 aumentos comparados con los 1000 de los mejores microscopios pticos) debido a que la longitud de onda de los electrones es mucho menor que la de los fotones "visibles". El primer microscopio electrnico fue diseado por Ernst Ruska y Max Knoll entre 1925 y 1930, quines se basaron en los estudios de Louis-Victor de Broglie acerca de las propiedades ondulatorias de los electrones. Un microscopio electrnico, como el de la figura1, funciona con un haz de electrones generados por un can electrnico, acelerados por un alto voltaje y focalizados por medio de lentes magnticas (todo ello al alto vaco ya que los electrones son absorbidos por el aire). Los electrones atraviesan la muestra (debidamente deshidratada) y la amplificacin se produce por un conjunto de lentes magnticas que forman una imagen sobre una placa fotogrfica o sobre una pantalla sensible al impacto de los electrones que transfiere la imagen formada a la pantalla de un ordenador. Los microscopios electrnicos slo se pueden ver en blanco y negro, puesto que no utilizan la luz, pero se le pueden dar colores en el ordenador.

2.1 Microscopio Electrnico de Transmisin (TEM) Un Microscopio Electrnico de Transmisin (TEM, por sus siglas en ingls, o MET, en espaol) es un microscopio que utiliza un haz de electrones para visualizar un objeto, debido a que la potencia amplificadora de un microscopio ptico est limitada por la longitud de onda de la luz visible. Lo caracterstico de este microscopio es el uso de una muestra ultrafina y que la imagen se obtenga de los electrones que atraviesan la muestra

Estos componentes estn ensamblados en una columna vertical la cual se encuentra en alto vaco. El can de electrones, es la fuente emisora del haz de electrones. Se encuentra ubicado en la parte superior de la columna. Est constituido por un filamento (ctodo), un cilindro con una apertura central, llamado cilindro de Wehnelt que rodea al filamento y tiene un potencial ligeramente ms negativo que ste. El nodo se encuentra por debajo del cilindro de Wehnelt. El filamento es calentado por el pasaje de corriente (alrededor de 2800 K). Los electrones emitidos termoinicamente por el ctodo son acelerados hacia el nodo, pasan por la apertura circular central de ste y un haz de alta energa es emitido hacia la columna del microscopio. El sistema de lentes est formado por lentes condensadores, objetivo, intermedia y proyectora. Las lentes condensadoras, en los microscopios, ms modernos son dos. La primera, proyecta la imagen punto de entrecruzamiento demagnificada (spot size), mientras que la segunda controla su dimetro y el ngulo de convergencia en que incide sobre la muestra. Limita al haz que incide sobre la muestra. La lente objetivo forma la primera imagen, localizada debajo del espcimen. Es considerada el componente ms importante del microscopio electrnico. Cualquier defecto en sta, ser magnificado y transmitido al resto del sistema ptico. Por lo tanto, de ella dependen, en gran medida, la resolucin final y la correccin de las aberraciones. Las lentes intermedia y proyectora son las encargadas de amplificar la imagen dada por la lente objetivo y proyectarla sobre la pantalla fluorescente. La pantalla del microscopio electrnico de transmisin est recubierta por una pintura de fluoruros de Zn y Cd, que florece cuando es bombardeada por electrones, generando una imagen en el rango de las longitudes de onda del visible. Sistema de vaco, para conseguir el flujo ininterrumpido de electrones, el TEM debe operar a bajas presiones, tpicamente en el orden de 10 4 a 10 8 kPa. La necesidad de esto se debe a dos razones: primero, permitir una diferencia de voltaje entre el ctodo y tierra sin que se produzca un arco voltaico. Segundo, reducir la frecuencia de las colisiones de los electrones con los tomos del aire a niveles despreciables. Ya que el TEM, contrariamente a un CRT, es un sistema que debe permitir la reposicin de componentes, la insercin de muestras y, particularmente en modelos antiguos, el cambio de

Figura 1. Microscopio Electrnico de Transmisin, Philips EM 301TEM Debido a que los electrones tienen una longitud de onda mucho menor que la de la luz visible, pueden mostrar estructuras mucho ms pequeas. El sistema ptico-electrnico del microscopio electrnico de transmisin est constitudo por las siguientes partes: 1. 2. 3. 4. 5. Can de electrones Sistema de lentes Pantalla fluorescente Sistema de Vaco Sistema de registro

carrete de pelcula, se hace imprescindible la posibilidad de reproducir el vaco regularmente. Por ello los TEMs estn equipados con sistemas de bombeo completos y su sellado de vaco no es permanente. Sistema de registro, que muestra la imagen que producen los electrones, que suele ser una computadora. El microscopio electrnico de transmisin emite un haz de electrones dirigido hacia el objeto que se desea aumentar. Una parte de los electrones rebotan o son absorbidos por el objeto y otros lo atraviesan formando una imagen aumentada de la muestra. Mediante el microscopio electrnico de transmisin podemos estudiar la ultraestructura de un material orgnico o inorgnico.

3. Parte Experimental En este caso tenemos el TEM Philips EM300G: Primero se realiza el proceso de vaciado del sistema Interno del TEM, para ello se enciendo el sistema de refrigeracin luego se enciende la Bomba mecnica y comienza el pre vacio bajo el cual corresponde al control PVL, luego sigue con el PV1 que corresponde al pre vacio de la parte debajo de la tapa en la torre de lentes. EL PV2 corresponde al pre vacio de la parte superior de la tapa que corresponde a la torre donde se ubica el filamento y las lentes. En esta parte hay un proceso de vaciado donde primeramente trabaja la bomba mecnica y luego la parte de abajo con PV1 en donde se encuentran la bombas difusoras de aceite y las bombas difusoras de mercurio que junto con el buffer que acta como un abomba esttica siguen el proceso de vaciado del TEM , luego se conecta con la parte superior la cual esta a un vacio previo hecho por la bomba mecnica y finalmente llegar a un alto vaco. El control HV High Vacuum me indica que el sistema ya se encuentra en alto vaco. Si las lmparas de vacio estn apagadas me indica que todo esta correctamente ya estamos en alto vacio y podemos prender la alta tensin y prender el filamento. El control 20 es la luz del panel. El control 19 es el Meter Selector selector como multmetro; mide el alto vacio, la corriente del filamento, la corriente del condensador 1 y 2, pre vaco tambin mide el alto vacio el control ya esta calibrado y se conocen los niveles a los cuales se trabaja apropiadamente. Los controles 27 y 28 son las lentes Objetive Stigmator y el Condenser Stigmator respectivamente, estas trabajan en los ejes de compensacin esto es para la iluminacin, la iluminacin tambin se astigmatiza igual tenemos el control de astigmatismo para la obejtiva y el condensador. El control 22 es el Deflection nos indica que el haz que llego a la muestra nosotros podemos desviarlas o inclinar el haz y se aplica para algunas tcnicas como las de campo oscuro y difraccin. Para poder alinear el haz se trabaja sin deflexin.

Figura 2. Seccin transversal de un TEM indicando sus componentes.

En la torre de lentes encontramos el Wobbler es el sistema de alineamiento lo que hace es alternar la corriente de la lente objetiva y hace cambiar la potencia ptica de las lentes.

 El control 40 es de Transporte, este comando transporta la placa fotogrfica lo coloca a su sitio para su exposicin y luego recogerlo. Actualmente este dispositivo ya no funciona, en lugar de esto se ah cambiado por un acamara fotogrfica de 35mm. El control 11 corresponde al filamento Filament; en vacio optimo recin se puede prender la alta tensin y despus prender el filamento con este control. La alta tensin lo podemos escoger de los controles 10, las cuales indican valor desde 0 hasta los 100 kV ; este es el potencial que va ah acelerar a los electrones las cuales alcanzan los 80 mil o 100 mil voltios. Para extraer los electrones el filamento por la apretura del condensador la cual es una lente electrosttica se necesita solo un voltaje 2000 voltios luego los electrones es el acelerado por el nodo con un voltaje de 80-100kV. El dimetro de las lentes es de aproximadamente 0.5mm y estn constituidos por dos piezas polares. Una lente es electrosttica producida por el condensador y la otra lente tiene un campo magntico producida por una bobina interna, este campo se concentra en estas dos puntas polares y esta viene hacer la lente es decir que la lente es puro campo magntico distorsionado pero con simetra en el eje. Las lentes al trabajar con corriente se calientan es por ello que la columna de lentes tiene un sistema de refrigeracin de modo que toda la columna se mantenga refrigerada y el alineamiento y calibracin sean adecuadas de aproximadamente de 15 a 20 C. En este microscopio se hacen 4 etapas importantes, hay 4 modos de operacin: 1. Modo imagen: Para ver la imagen. 2. Seleccin de rea: para ubicar el rea deseada. 3. Modo de difraccin: para ver la imagen en modo de Difraccin. 4. Scan: se refiere al modo panormico, para ver la mayor cantidad de muestra ya que no siempre es muy fcil ubicar se hace un panormico para ver que parte se va a a observar. No se necesita apagar el filamento para hacer el cambio de modo. Exposure Time control 38, se refiere al tiempo de exposicin de la muestra para la pelcula fotogrfica. Es el tiempo de exposicin del disparador. El SHUTTER se encuentra en el centro de la columna es una plaquita que gira y regresa, es una

compuerta para los electrones y en el momento de exposicin de la muestra esta se abre y cierra el tiempo necesario para tomar la imagen que generalmente es de 1/8 de segundo. El control 30 es el Meter Selector es como otro multmetro que mide tensin, exposicin, temperatura, difraccin, corriente de la lente objetivo, intermedia y proyectora. El selector de amplificacin, da una corriente a cada lente, combinacin de corrientes, cambia la potencia de las lentes. Se puede alinear la lente difractora-projectoraintermedia. Una vez que atraviesan la muestra los electrones se producen varios procesos: se difractan, se amortiguan etc., los que logran pasar la muestra se les hace cambiar su camino ptico para formar la imagen. La muestra se coloca entre el wobbler y el la lente objetivo. Una vez que los electrones atraviesan la muestra recin empieza el proceso de formacin de imagen. Los electrones llegan a la placa fotogrfica directamente. En este caso la placa fotogrfica se impresiona con electrones. El tiempo de exposicin la cual es de 1/8 s, es el tiempo para exponer la imagen ya formada libre de astigmatismo bien hecha lista para fotografiarla. Al apagar el sistema, primero se apaga el filamento luego la alta tensin y ya no tengo electrones en el sistema solamente alto vacio. 3.1 Observaciones del TEM Tener en cuenta que en el TEM si una sola cosa no esta correcta el sistema deja de funcionar; tiene su propio sistema de seguridad. El bloque lente objetivo, esta lente se encuentra debajo de la muestra. La colocacin aparente de la bobina no corresponde a la colocacin de la lente objetiva, es decir la bobina no es la lente. Los Diafragmas, son discos de platino con un orificio de 20 a 200micras, sirven para disminuir la cantidad de electrones o para mejorar el contraste. Hay manguerita con agua que conecta todas las lentes de la columna para su refrigeracin. La lente electrosttica es la primera abertura es una lente gruesa que sirve para extraer los electrones y agruparlos de una manera gruesa y los bota para ser acelerados.

 El que acelera los electrones es el nodo, lo que hace es a los electrones agrupados que salen los acelera con un voltaje de 80 mil a 100mil voltios. Para colocar la muestra hay un sistema de compuerta para que no deje pasar el aire al vacio interno de la columna pero de todas formas entra algo de aire a la columna pero es eliminado rpidamente por el sistema de vacio del TEM, al colocar la muestra hay que tener en cuenta que primero se debe apagar la alta tensin y apagar el filamento para evitar que la pequea cantidad de aire que ingresa oxide al filamento es decir que pueda quemar el filamento. Las bombas difusoras necesitan del vacio de las bombas mecnicas para su buen funcionamiento. Como las bombas mecnicas producen mucho ruido y por tal movimiento en la columna de lentes lo que

se hace es que se guarda vacio con la bomba mecnica en el buffer y esta funciona como una bomba mecnica esttica. La rejilla de difraccin en este microscopio tiene 1000 celdas por pulgada y cada celda es de 25 micras. La muestra que se analizo en el laboratorio fue una lamina de oro de en la cual se puede visualizar los la imagen aumentada en el SCREEN y para poderle hacerle difraccin se saca el diafragma del objetivo que le daba contraste y se coloca el diafragma de rea selecta y seleccionamos el rea a difractar de all el nombre de la tcnica de difraccin de electrones de rea selecta.

Figura 3. Diagrama de bloques de un TEM con capacidad STEM.

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1. 2. 3. 4. 5. 6.

Transmission Electron Microscopy, David Williams, Barry Carter, Plenum Publishing Corporations, New York. Transmission Electron Microscopy and Diffactrometry of Materials, Brentz fultz, James M. Howe, 3rd Edition, Editorial Springer, California Institute of Technology. http://www.reduaz.mx/eninvie/CD2k6/Inst/66.pdf http://www.criba.edu.ar/cribabb/servicios/secegrin/microscopia/apunte_col.htm http://www.ugr.es/~arios/Documentos/ProgramaM.doc http://es.wikipedia.org/wiki/Archivo:Electron_microscope.svg