111 VLSI Testing/Verification Homework

問答題

1. (40%)參考右圖:
(a)請找出一個測試樣本可測到到 g 處
的 “stuck at 0” 的fault?
(b)請找出一個測試樣本可測到到 h 處
的 “stuck at 1” 的fault?
(c) 請用Boolean difference的原理，找
出所有可測到h的stuck-at-1的faults。
(d) 在functional verification時，要達到
訊號toggle coverage 100% (包括PI, PO和內
部訊號)，要給怎樣的一組輸入樣本?

2. (10%)右圖經過 equivalence 和dominance

fault collapsing 後，還有幾個那些single
stuck at faults 要測試?

3. (10%)參考右圖個線性回饋移位暫存器
(Linear-Feedback Shift-Register - LFSR)。
請問從初始狀態(y1, y2, y3, y4) = (0, 0, 0,
1)在經過21個時間週期後，狀態為和
何？

4. (10%)假設LFSR代表多項式x5+x3+x+1 (101011)，output response是 1011010101011101，請問得到

的signature是?

5. (10%) 何為scan cell? 為何scan design可以增加可測性?

6. (20%) 簡要解釋下列名詞: (a) BIST (2) Yield (3) Code coverage (4) Fault Simulation