UNIVERSIDAD

NACIONAL MAYOR DE
SAN MARCOS

FACULTAD: ING.ELECTRONICA, ELECTRICA

Y TELECOMUNICACIONES
ESCUELA: INGENIERIA ELECTRONICA
CURSO: MICRO/NANO SISTEMAS
ELECTRONICOS
TEMA: “MODELO DE FALLOS PARA
PUERTAS LÓGICAS”
PROFESOR: RUBEN V. ALARCON MATUTTI

HORARIO: JUEVES 6-8 PM

1) Considerando el circuito mostrado, se pide encontrar el vector (o
los vectores) que permite detectar en cada caso lo indicado.
Emplear el método CAMINO DE SENSIBILIZACIÓN:

En el circuito: 16 fallos
08→S-AT-0
08→S-AT-1

a) Para el modelo Stuck-At-1, hallar los vectores de test para la

línea h.

Procedimiento:
1) Disparar el Fallo
h=0 (valor complemento del fallo)

2) Propagación del fallo

r=1, t=1, j=0 → F = 0
3) Propagación de las entradas
x1 = 1, x2 = 1, x3 = d, x4= 1
 Luego los vectores de test <x1, x2, x3, x4> = <1, 1, 1, 1>;
<1, 1, 0, 1>

Tal que:
{ 0 , No hay fallo
F= 1, Existe el fallo S− AT −1

b) Para el modelo Stuck-At-0, hallar los vectores de test para la

línea j.

Procedimiento:
1) Disparar el Fallo
j=1 (valor complemento del fallo

2) Propagación del fallo

r=0, t=0, j=1 → F = 0
 3) Propagación de las entradas
x1 = d, x2 = 0, x3 = 0, x4= 1

Luego los vectores de test <x1, x2, x3, x4> = <1, 0, 0, 1> =
<0, 0, 0, 1>
Tal que:
{ 0 , No hay fallo
F= 1, Existe el fallo S− AT −0

2) Para el circuito lógico de la pregunta 1) resolver lo pedido

empleando el método de DIFERENCIAS BOOLENAS.

Analizando el circuito se obtienen las siguientes funciones booleanas

F ( x )= X 1+ X 2+ X 2 + X 3 + X 4
h=X 2 , j=X 2 + X 3
 a) Para el modelo Stuck – At – 1, hallar los vectores de test para la
línea h.

S-At-1 en la línea h o X 2 .

df (x)
=f X ⨁ f X =f X ⨁ f X
d X2 2 2 2 2

Evaluamos a F ( x ) cuando X 2 =0 ó X 2 =1,

Resulta que:
F ( x ) = X 1+ X 4

También, evaluamos a F ( x ) cuando X 2 =1 ó X 2 =0,

Resulta que:
F ( x ) = X 3+ X 4

Reemplazando:
df ( x)
=[ X 1 + X 4 ]⨁[ X 3 + X 4 ]
d X2

df (x)
=( X 1 + X 4 )( X 3 X 4 ) + ( X 1 X 4 ) ( X 3+ X 4 )
d X2

La condición:
df ( x)
X2 . =1
d X2

X 2 . [ ( X 1 + X 4 ) ( X 3 X 4 ) + ( X 1 X 4 ) ( X 3 + X 4 ) ] =1

Los vectores de test serán:

¿ X 1 , X 2 , X 3 , X 4 >¿ = ¿ 0,1,1,1>¿; ¿ 1,1,0,1>¿

Si:

f=
{ 0 no hay fallo
1 existe S− AT −1 en X 2 ó h

Entonces bajo esta condición, evaluando los vectores de test en la función

F ( x ), nos percatamos que existe fallo S− AT −1 en h ó X 2 con el vector
¿ 1,1,0,1>.
 b) Para el modelo Stuck-At-0, hallar los vectores de test para la línea
j.

Stuck-At-0 en la línea j ó X 2+ X 3

df ( x )
=f ⨁ f X + X =f ( X ¿ ¿2+ X )⨁ f
d ( X 2 + X 3) X 2
+X 3 2 3 3 (X 2 + X 3 ) ¿

Evaluamos a F ( x ) cuando X 2+ X 3=0, se obtiene:

F ( x ) = X 1+ X 2 + X 4

También, evaluamos a F ( x ) cuando X 2+ X 3=1

Resulta que:
F ( x )=0

Reemplazando:
df (x )
=[ X 1+ X 2+ X 4 ]⨁[0]
d ( X 2 + X 3)

df (x )
=X 1 + X 2+ X 4
d ( X 2 + X 3)

La condición:
df ( x )
X 2+ X 3 . =1
d (X 2 + X 3 )

X 2+ X 3 [ X 1 + X 2 + X 4 ]=1

Los vectores de test serán:

¿ X 1 , X 2 , X 3 , X 4 >¿ = ¿ 0,0,0,1>¿; ¿ 1,0,0,1>¿

Si:

{
f = 0 existe S− AT −0 en X 2 + X 3 ó j
1no existe fallo

Entonces bajo esta condición, evaluando los vectores de test en la función

F ( x ), nos percatamos que existe fallo S− AT −1 en jó X 2 + X 3con ambos
vectores.