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Objetivos:
● Realizar as etapas práticas de um Sistema de Medição por Atributo, incluindo a
consulta a Norma Técnica para dimensionar a amostra a ser utilizada no sistema
de medição.
● Estudar uma distribuição amostral de dados experimentais e verificar sua
normalidade, estimando suas características (média e desvio padrão).
● Elaborar um Teste de Hipóteses sobre os dados experimentais obtidos.
Fonte: http://www.portalaction.com.br/inferencia-0
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Fonte : http://www.portalaction.com.br/content/62-distribui%C3%A7%C3%A3o-
normal
2- Teste de Hipóteses
Vimos em aula, que num Teste de Hipóteses sempre testamos uma Hipótese
nula, H0 contra uma Hipótese alternativa H1. No caso dessa Oficina, essas Hipóteses
provavelmente terão o formato:
H0: µ=µ0
H1: µµ0
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Aceitar H0 Rejeitar H0
H0 verdadeira Decisão correta Erro do tipo I
H0 falsa Erro do tipo II Decisão correta
Fonte: http://www.portalaction.com.br/inferencia/511-erros-cometidos-nos-
testes-de-hipoteses
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Nessa Oficina, cada equipe deverá elaborar um Teste de Hipóteses relacionado com
os valores das capacitâncias medidas em sua amostra. A Hipótese nula poderá
relacionar o valor da média obtida com as especificações do fabricante, ou com o valor
obtido por outra equipe de colegas.
Vale lembrar aqui que a compatibilidade entre resultados medidos pode ser testada
utilizando os conceitos de Erro Normalizado ou z’-score, abaixo reproduzidos, que
levam em conta as incertezas dos resultados comparados.
Va − Vb
Erro Normalizado: En =
2
UVa + UVb
2
(Va ± UVa) e (Vb ± UVb) , resultados com respectivas incertezas expandidas para um
intervalo de 95% de probabilidade
Va − Vb
z´-score: z ' =
2
uVa + uVb
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Note que essa etapa é de grande importância para garantir a qualidade do Sistema e
também seguir um grau de padronização que resulte em credibilidade nos resultados
obtidos, e possibilidade de comparação entre vários Sistemas de Medição. Ou seja, a
escolha da amostra não pode ser feita arbitrariamente.
Por sorte, existem Normas Técnicas [2,3] que traduzem os cálculos estatísticos
complexos relacionados aos parâmetros de um Sistema de Medição por Atributo, por
Tabelas convenientes, que facilitam e padronizam as várias etapas do processo. Vamos
utilizar parcialmente e de forma simplificada essas Normas, mas sabendo de sua
existência, poderemos consultá-las com detalhes quando precisarmos resolver um
problema profissional similar.
Com base nessas Normas, vamos utilizar um Plano de Amostragem Simples
(existem também os tipos: Duplo e Múltiplo). No Plano Simples, a quantidade de
unidades de produto inspecionada deve ser igual ao tamanho da amostra dada pelo
plano. Se o número de unidades defeituosas encontradas na amostra for igual ou menor
do que o número de aceitação (Ac), o lote deverá ser considerado aceito. Sendo o
número de unidades defeituosas igual ou maior do que o número de rejeição (Re), o lote
deverá ser rejeitado.
Para utilizar as Tabelas disponíveis na Norma, após escolhido o tipo de Plano de
Amostragem, é preciso também definir:
• o nível de inspeção, que fixa a relação entre o tamanho do lote e o tamanho
da amostra, e deverá ser prescrito pelo responsável pela inspeção. Três níveis
de inspeção I, II e III são disponíveis para uso geral. Normalmente, adota-se
a inspeção em nível II. A inspeção em nível I poderá ser adotada quando for
necessária menor discriminação ou então o nível III, quando for necessária
maior discriminação. Ou seja, o nível I determina uma amostra menor, o
nível II, uma amostra média, e o nível III (mais exigente), uma amostra
maior.
• o nível de qualidade aceitável – NQA, isto é, a máxima porcentagem
defeituosa que, para fins de inspeção por amostragem, pode ser considerada
satisfatória como média de um processo.
Nota: nível de porcentagem defeituosa = 100 (número de unidades
defeituosas) / (número de unidades inspecionadas)
• o regime de inspeção: normal, severo ou atenuado. Normalmente é
empregado o regime normal, e, dependendo do resultado da inspeção da
amostra de um primeiro lote, recomenda-se a alteração para regime severo
ou atenuado na inspeção do próximo lote.
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4- Problema Proposto
As equipes deverão:
4.1 Desenvolver um Sistema de Medição por Atributo para tomada de decisão se o lote
de capacitores poderá ser adotado com tolerância de 5%, ao invés de 20%, conforme
indicado pelo fabricante.
• Deverá ser utilizado um Plano de Amostragem Simples.
• Deverá ser usado um nível de inspeção II e regime de inspeção Normal;
• O nível de qualidade aceitável (NQA) deverá ser de 4%
• Obter, a partir das Tabelas disponíveis no Apêndice, a dimensão N da amostra
necessária e os valores de Ac e Re.
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Terminal positivo
Sinal de menos
Terminal negativo
4.3 A partir das medidas realizadas, indique se o lote poderá ser vendido com a
especificação de (100µF5%), ou seja, apresente o resultado do seu Sistema de Medição
por Atributo, de acordo com a Norma Técnica ABNT NBR5426. Para qual valor de
NQA o lote poderia ser aceito?
4.4 Calcule a média e o desvio padrão das medidas de capacitância realizadas, e anote
esses valores: x1 e 1.
Nota1: Uma regra prática para se fazer um histograma é utilizar um número de classes
(ou seja, de intervalos) igual à raiz quadrada do número de medidas, isto é: k= N [4].
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1 ( x − x )2
y= exp − (1)
2 2
2
onde x é a média e é o desvio padrão.
Isso pode ser feito, extraindo-se do histograma o valor de pico ymax, e o correspondente
valor de x (que é uma boa aproximação para o valor de x ). Para o valor aproximado de
, basta verificar quais são os valores de x correspondentes a
exp(-0,5). ymax 0, 6 ymax . Observe na expressão da função gaussiana, que esses
valores correspondem às abcissas (x - σ) e (x + σ) .
Nota: Nesse ponto, você poderá considerar o desvio padrão da distribuição normal
obtida acima como a incerteza tipo A dos valores de capacitância, e a incerteza do
multímetro como sendo a incerteza tipo B. Não se esqueça de fazer o cálculo da
incerteza padrão combinada associada ao valor médio de capacitância que você obteve.
5- Bibliografia
[1] http://www.portalaction.com.br/inferencia/21-lei-fraca-dos-grandes-numeros-e-
teorema-central-do-limite, acessado em 07/02/2019
[2] Norma ABNT NBR 5426: Planos de amostragem e procedimentos na inspeção por
atributos, 1985/1989.
[3] Norma ABNT NBR 5427: Guia para utilização da norma NBR 5426 - Planos de
amostragem e procedimentos na inspeção por atributos, 1985/1989.
[4] Abackerli, A.J.; et al. Metrologia para a Qualidade, 1ª.Ed., Rio de Janeiro: Elsevier,
2015.
6- Autores
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