Reconhecimento de Materiais Por Espectroscopia de Raios-X

Autor: Luiz Gustavo Silva de Oliveira. Colaboradores: Aulos Rafael Dutra de Sousa, Rodrigo Vieira Pimentel Gouveia, Rodrigo Francisco dos Santos. 05/2011 - IF-UFRJ

Por diversas vezes queremos conhecer a composio de um material. Para esse m podemos usar diversos mtodos e ferramentas. Este trabalho prope-se a demonstrar uma dessas formas, a saber, a espectroscopia de raios-x emitida pelos materiais estudados.

2 Emisso de Raios-X Caractersticos

O processo, para o mtodo PIX, inicia-se com a acelerao de ons (comumente prtons ou alfas) at que eles atinjam uma energia suciente para gerar raiosx ao nal do processo. Esses ons acelerados colidem com a amostra da qual queremos saber a composio. Os eltrons nos tomos do material recebem, ento, este impacto, e como os ons no feixe incidente so muito energticos (Tipicamente alguns MeV's), eles podem, ao receber tamanho impacto, acabar sendo desttuidos do tomo do material e deixando em seu lugar um buraco. Seguido a isso, os eltrons em camadas mais exteriores do tomo perdem energia emitindo raios-x, e assim so levados a descer de suas camadas at que as camadas mais fundamentais estejam novamente preenchidas de eltrons. Mas essa parte da histria, pois os ons, como partculas carregadas, no s perdem energia ao doarem-na para os eltrons nos tomos dos constituintes do material, mas tambm pela desacelerao, neste caso abrupta, que ocorre ao serem freadas, a qual se d o nome de

1 Introduo
Procuramos saber a composio elementar de alguns materiais por meio da anlise de seus espectros de emisso de radiao na regio dos raios-x. Para isso precisamos saber extamente como todo o processo de emisso ocorre e necessitamos de uma ferramenta hbil o bastante para analisar estes espectros. O trabalho como um todo est baseado nesses dois pontos cruciais, e a discusso dos resultados nos levar a saber que elementos esto presentes nas amostras estudadas. A aplicao de um projeto como esse se estende a muitos campos da cincia, sendo o principal, a cincia dos materiais, que pode nos responder algumas questes muito teis para Engenharia e at Astronomia, da a necessidade de se obter vrias formas de reconhecer os compostos de um material, dado que as condies podem variar muito para as muitas situaes onde esse estudo necessrio.

bremsstrahlung, e que apresenta um espectro con-

tnuo de energia, ou freqncia. Porm a intensidade do espectro discreto do raios-x emitidos pela amostra , em geral, muito maior de forma que a radiao que queremos estudar facilmente localizada e identicada O espectro desta radiao emitida como uma identidade dos elementos que esto presentes no

material, e pode ser usada para realmente obter essa identidade uma vez que tenhamos os aparelhos e ferramentas precisas para isso. Vale lembrar que essas transies dos eltrons mais perifricos para camadas de mais baixa energia ocorrem de forma a obedecer a Lei de Moseley. Abaixo reproduzimos, esquematicamente, como ocorre todo o processo e a equao a qual nos referimos:

for bombardeado com raios-X com energia sucientemente alta (uorescncia). Obviamente para detectar quaisquer dessas caractersticas necessitamos interagir com a radiao. Isso feito atravs dos mtodos que descrevemos abaixo detalhadamente.

3.2
3.2.1

Mtodos De Espectroscopia
Mtodo XRF

O presente mtodo, X-Ray Fluorescence, se baseia no efeito fotoeltrico, utilizando radiao incidente de alta energia. O processo, ao nal, como o processo PIXE: os eltrons mais externos so levados a sanar a vacncia das camadas K e L que geralmente so esvaziadas nesses processos. Ao realizar essas ,

onde

1/2

= An (Z b) Z,
e

transies, tais como

M L, L K , M K

os eltrons emitem radiao eletromagntica na faixa dos raios-x. Abaixo segue um esquema detalhando os passos ocorridos ao longo do processo:

a freqncia da radiao emitida por um

elemento com nmero atmico K, L ou M.

An

so con-

stantes que dependem da linha espectral considerada: J no processo XRF, temos um feixe incidente de raios-x de alta energia ou raios gamma, e a interao principal entre o feixe e a amostra j no mais a coliso entre partculas carregadas, mas o efeito fotoeltrico, atravs do qual eltrons, geralmente em camadas mais internas (K , L) so ejetados do material.

3 Espectroscopia de Raios-X e Seus Mtodos

3.1 Espectroscopia de Raios-X
Podemos saber, ento, informaes fre3.2.2 Mtodo PIXE

Sabemos que ao nal do processo descrito h a emisso de ftons. a respeito da amostra e seus constituintes a partir desses ftons e suas caractersticas tais como: qncia, energia ou comprimento de onda. Qualquer elemento, se usado como alvo em um tubo de raios-X e bombardeado com eltrons com energia sucientemente alta, emitir uma linha caracterstica do espectro. Estas mesmas linhas sero emitidas se o elemento

Este o mtodo que foi utilizado na coleta do espectro que analisamos. Ele est basicamente ligado a coliso de ons, prtons ou alfas, em eltrons de camadas mais fundamentais. Por isso, apresenta uma curva contnua, mas que acentuada em picos discretos e bem pronunciados, sendo esses representantes do raios-x. Um grco tpico de coletas por esse mtodo tem o comportamento muito similar ao que dado abaixo:

4 Ferramenta de Anlise: GUPIX

Trata-se de um software desenhado totalmente para a coleta de dados e espectros resultantes de um processo PIXE. Alm disso, pode-se obter atravs dele uma calibrao de energias para todo o espectro. No nosso caso, os canais com energia conhecida foram o do Oxignio e do Silcio, pelo qual tomamos a calibrao do espectro obtido anteriormente. Feita esta calibrao o software permite a comparao da energia dos picos dados no espectro com energias tabeladas, presentes em um local dentro da prpria ferramenta. A maneira de obter as identidades dos constituintes da amostra simples: Temos vrios picos ao longo do espectro, xamos nossa ateno em algum especco e vamos comparando a sua energia com as energias tabeladas (e calibradas com o grco) que so dadas pelo GUPIX. Sabemos que h vrios elementos cujos espectros de emisso de raios-x tm, ao menos, um mximo muito prximo ao pico observado no espectro, por isso a chance de ser um especco elemento o responsvel por aquele pico deve ser analisada com cuidado. Fazendo isso para todos os picos, obteremos, nalmente a constituio da amostra considerada, a medida que conseguirmos identicar o tomo emissor do raio-x de cada pico. Uma imagem do programa em funcionamento pode ser facilmente obtida no site ocial:

5 Dados da Amostra
Os dados aqui representados so referentes a amostra Run52.PIX que nos foi apresentada. Uma outra amostra foi usada a nvel de calibrao, a saber, uma amostra contendo Oxignio e Silcio, como dito anteriormente tomados como dados de calibrao. Os picos obtidos no espectro esto situados (aproximadamente) s seguintes energias:

Pico 1 2 3 4

Energia ( KeV ) 0,260 0,765 1,010 2,260

A ttulo de informao, as energias de calibrao so:

Material Energia ( KeV )

Oxignio 0,525

Silcio 1,739

6 Anlise de Resultados
Para o pico de nmero 1,

E 0, 26 KeV

, temos

T alio : M 2, 268 KeV T ungstnio : M2 e

apenas um candidato, pois o nico cuja energia de emisso de raios-x est prximo:

Carbono : K 0, 277 KeV

No pico de nmero 2, temos dois candidatos que se aproximam muito do valor observado, a saber:

onde, para o ltimo no h valor de referncia. Ento, os elementos presentes na amostra, ao que tudo indica, seriam estes:

F erro : L 0, 718 KeV

e:

C , F e , Cu , T l
posto que emitem raios-x prximo aos picos observados e so relativamente comuns na natureza.

Antimnio : M o
A energia da emisso do Sb no canal

Poderamos aqui tentar encontrar a quantidade de cada um destes materiais na amostra, para saber a

no gura

proporo presente de todos.

Porm, em vista de

nas tabelas encontradas e tomadas como base para este trabalho, de forma que podemos tomar esse tipo de processo ocorrendo com muita raridade e/ou sendo pouco observado. Ento aqui temos, mas no com tanta certeza como no pico 1, que temos apenas um candidato, realmente. Analisando o pico 3 e seguindo a tabela, vemos que os possveis tomos so:

alguns aspectos no podemos, realmente, obter tais dados a partir do espectro coletado. Primeiramente, temos que a contagem de pulsos, processo feito na captura do espectro, um processo estatstico, isto , leva em considerao a mdia de pulsos por segundo, j que a radioatividade tem um comportamento probabilstico. Da que a altura dos picos no levam ao conhecimento das propores dos materiais. Outro motivo para no sabermos responder o quanto de cada tomo h no material como um todo que o software usado, Gupix, no s recebe essas contagens mas faz uma anlise embutida a este processo,

Brio : M a Cobre : L 0, 959 KeV

a convoluo, com isto temos que os picos do espectro so relacionados com as sees de choque que esto gravadas na memria do programa e isto leva, mais uma vez, a impossibilidade de saber a quantidade de cada elemento citado. Fora estas, ainda h a resoluo do detector e analisador de canais que estamos usando, informaes estas que no recebemos. Por tudo isso, podemos apenas dizer a constituio da amostra e no a proporo dos constituintes.

N eodmio : M 0, 978 KeV

Novamente, no h dados informando a energia para o canal

do elemento Brio, e ainda que o

canal do Nd esteja com uma energia muito prxima observada, o Cobre ainda um forte candidato, j que mais comum e abundante na natureza. Por m, o ltimo pico tem quatro elementos possivelmente responsveis, vamos a eles:

7 Concluso
O mtodo PIXE de espectroscopia se mostrou muito preciso e a amostra foi determinada dentro de alguns parmetros condizentes com o trabalho efetu-

Irdio : M 1, 978 KeV M olibdnio : L 2, 293 KeV e

4

ado.

Pde-se ver que os elementos que compem a

amostra obedecem muito bem a Lei de Moseley, e o programa utilizado, GUPIX, realiza o trabalho para o qual foi designado muito bem.

8 Bibliograa
Tabela de energias de emisso de Raios-X: http://www.lip.pt/~luis/tabelas/TabelaRX.pdf

Tese: Padronizao de Anlise PIXE de Amostras Slidas em Alvos Espessos. Autor: Jim Heijji Aburaya, IF-USP, 2005

Site

Ocial

do

Software

Gupix:

http://pixe.physics.uoguelph.ca/home/