Herramientas Planes de Muestreo

El plan de muestreo es un plan especfico que determina el tamao o tamaos de muestras a ser utilizados y el criterio asociado de aceptacin o rechazo. El muestreo de aceptacin es la inspeccin por muestras en la que se toma la decisin de aceptar o no un producto o servicio; tambin la metodologa que trata de los procedimientos por los que las decisiones de aceptar o no se basan sobre los resultados de la inspeccin de las muestras. El muestreo es recomendable hacerlo bajo las siguientes condiciones: 1. Cuando la prueba es destruida 2. Cuando el costo de inspeccin del 100% es extremadamente alto 3. Cuando la inspeccin del 100% no sea tecnolgicamente prctica, o cuando requiera mucho tiempo calendario de modo que la programacin de la produccin se vea seriamente impactado 4. Cuando existan muchos productos a ser inspeccionados y el promedio de error de la inspeccin sea suficientemente alto de modo que la inspeccin del 100% pueda permitir el paso de un mayor porcentaje de unidades defectuosas que si se usara un muestreo 5. Cuando el fabricante tenga una excelente historia de calidad, y se desee reducir la inspeccin del 100% de productos, pero la capacidad del proceso del fabricante sea suficientemente baja como para hacer la no inspeccin una alternativa satisfactoria 6. Cuando existan serios riesgos potenciales de confiabilidad del producto, y a pesar de que el proceso del fabricante sea satisfactorio, sea necesario un programa de monitoreo continuo del producto

Ventajas del muestreo sobre la inspeccin del 100% 1. 2. 3. 4. 5. 6. Es ms barato porque hay menos inspeccin. Hay menos manejo del producto, por lo que se reducen los daos. Es aplicable a pruebas destructivas. Menos personal se involucran en actividades de inspeccin. Frecuentemente reduce la cantidad de error de inspeccin. El rechazo de lotes completos continuamente provee de una mayor motivacin del fabricante para el mejoramiento de la calidad.

Desventajas del muestreo sobre la inspeccin del 100% 1. Existe el riesgo de la aceptacin de "malos" lotes y de rechazo de

"buenos" lotes. 2. Usualmente se genera menos informacin acerca del producto o acerca del proceso de manufactura del producto. 3. El muestreo requiere planeacin y documentacin del proceso de muestreo mientras no exista 100% de inspeccin.

Los planes de muestreo estn divididos en dos grupos: 1. Planes de muestreo por atributos (pasa no pasa). 2. Planes de muestreo por variables (examen de muestras por mediciones en escala numrica).

Planes de muestreo por atributos: 1. Muestreo Sencillo: Decidir la aceptacin o rechazo de un lote, de acuerdo con n unidades de una muestra tomadas aleatoriamente de ese lote. 2. Muestreo Doble: Basado en el resultado del muestreo inicial se puede tomar una decisin de las siguientes: 1) Aceptar el lote, 2) Rechazar el lote, 3) Tomar una segunda muestra. Si se toma una segunda muestra, la informacin de ambas es combinada con el fin de decidir aceptar o rechazar el lote. Este es el mtodo ms usado. 3. Muestreo Mltiple: Este es la extensin del muestreo doble, pero el tamao de la muestra es ms pequeo que en el muestreo simple o doble. La combinacin de los diferentes muestreos definir la aceptacin o rechazo del lote. Formacin de Lotes para muestreo:

Los lotes deben ser homogneos: Las unidades deben ser producidas por las mismas maquinas, mismo operador y hechos de materia prima comn y producidos aproximadamente al mismo tiempo. De no ser as hara ms difcil tomar acciones correctivas para eliminar la fuente de los productos defectuosos. Es preferible tener lotes grandes que pequeos: Son econmicamente eficiente lotes ms grandes que pequeos. Los lotes deben estar conformados para los sistemas de manejo de material usados tanto en las instalaciones del fabricante y del consumidor.

Tablas y planes de muestreo publicadas: 1. Tablas de Dodge-Roming: En estas tablas se incluyen planes para el muestreo sencillo y para el doble. Permite una proteccin, ya sea por el lmite PCF o por el porcentaje de defectuosos tolerables en el lote (TPDL). El TPDL proporciona el nivel de calidad lmite (NCL) como enfoque de ndice para las tablas 2. MIL STD-105E: En estas tablas se incluyen tres clases de muestreo: sencillo, doble y mltiple. Para el empleo de estas tablas es necesario conocer a) El tamao de lote que se presenta a inspeccin, y b) La proteccin por NCA que se desea para el material considerado. Las tablas indican el tamao de la muestra requerida y nmero de defectuosos que se puede permitir en ese tamao de muestra. Si la muestra no contiene un nmero mayor de defectuosos que los permitidos, se acepta el lote. Pero si la muestra contiene mayor nmero de defectuosos que los que se puedan permitir, el lote puede ser rechazados o bien inspeccionado 100%. 3. Planes secuenciales: Estos planes tiene que ver con la inspeccin de muestras en la que, despus de que se ha inspeccionado cada unidad, se toma la decisin de aceptar el lote de no aceptarlo o de inspeccionar otra unidad. Estos planes implican unidades individuales y, por tanto, difieren del muestreo mltiple en los planes de tipo NCA que implican muestreos de grupos de unidades. La diferencia entre este tipo y los muestreos sencillos o dobles son:
o o

Como el tamao de la muestra es muy pequeo, los resultados de estas muestras se analizan con mas frecuencia. Estos planes son de "doble accin". En las tablas normales, por ejemplo slo se necesita especificar una meta para la calidad: un lote que contenga X por ciento de defectuosos deber aceptarse, siendo satisfactorio continuar hasta Y1 por ciento para riesgo del producto. Con los planes de secuencia regular, la doble accin implica que tambin se necesita establecer una segunda meta: se necesita rechazar un lote si contiene ms de X2 por ciento de defectuosos, y puede ser satisfactorio continuar hasta Y2 por ciento del riesgo para aceptar un lote de tan baja calidad como este.

4. Muestreo continuo:

Estos planes estn diseados para la aplicacin en un flujo continuo de unidades individuales de producto que (a) implique aceptacin o rechazo en una base unidad por unidad y (d) use periodos alternados de inspeccin y muestreos continuos normalmente disponibles se designan CSR-1, CSR-2, CSP-3, CSP-A, CSP-M, CST-T, CSP-F, CSP-R, Y CSP-1. El procedimiento es, al inicio de la produccin, inspeccionar el 100% de la unidades consecutivamente y continuar hasta que un cierto nmero de unidades, designadas i en los trminos de muestreo tcnicos para CSP-1, cumpla con los requisitos. Descontinuar la inspeccin 100% e inspeccionar solo una fraccin -designada f. Cuando se encuentra una unidad mal conformada, regresar inmediatamente a la inspeccin 100% de unidades sucesivas y continuar hasta que i unidades sucesivas no contengan unidades mal conformadas cuando se resuma la inspeccin de muestras. En el CSP-2, la calificacin para el muestreo es la misma que para CSP-1; esto es, i unidades buenas deben pasar por la inspeccin 100% antes de pasar por el muestreo. Sin embargo, cuando se encuentra una unidad mal conformada, no se retorna de inmediato a la inspeccin 100%; en vez de esto, se mantiene cuidadosos registro en las unidades seguidas de la muestra, an en la tasa f. Si cualquiera de las unidades i siguientes muestreadas estn mal conformada, se retorna ala inspeccin 100%, pero si no hay defectuosos en las siguientes i unidades, el mismo procedimiento de seguimiento se sigue. CSP-3 empieza con la misma calificacin para i como en CSP-2 y entra al muestreo a una tasa especificada f. Cuando se encuentra la primera unidad mal conformada, las siguientes cuatro unidades se inspeccionan, y cualquier defecto en estas unidades lleva ala inspeccin 100%. Si las cuatro unidades son buenas, entonces cuentan como las primeras cuatro de las unidades i conformadas requeridas para permanecer en la inspeccin de muestreo. CSP-M, despus de que i unidades conformadas se aceptan en la inspeccin 100%, se instituye el muestreo a una tasa f. Si las siguientes i unidades inspeccionadas bajo muestreo son buenas, la tasa pasa a ser f2. Si las siguientes i muestras son conformadas, la tasa pasa entonces a ser f3. 5. Muestreo en cadena y planes "salta un lote" El muestreo en cadena fue desarrollado por Harold Dodge para proporciona una mayor probabilidad de aceptacin de los lotes de una calidad relativamente alta.19 El muestreo "salta un lote" tiene que ver con un plan en que algunos lotes en una serie se aceptan sin inspeccin ( como no sea posibles revisiones de puntos) cuando los resultados de muestreo para un nmero establecido de los lotes inmediatamente procedentes han cumplido con el criterio establecido. 6. Tablas de muestreo de Columbia

Estas tablas, bastante flexibles, permiten el muestreo sencillo, el doble y el mltiple, as como tambin una proteccin por el NCA y por el LPCF. Su empleo es muy semejante al de las tablas ya descritas. Ir a pgina principal

ltima actualizacin 12 de septiembre del 2005 Nuviq Ingenieros de Calidad Carrizos 17, Jardines de San Mateo 53240 Naucalpan Estado de Mxico (52) 55 53486606