Professional Documents
Culture Documents
Figura 1.2
1
Xc = 2𝜋𝑓𝐶
Multímetro.
Generador de señales.
Osciloscopio.
Fuente de poder DC.
Punta de prueba de osciloscopio.
1 transistor 2N2222.
Resistores de 56KΩ, 12KΩ, 10KΩ, Figura 2.3
1.5KΩ, 1KΩ, 0.68KΩ
Condensadores de 100uF y 2 de 22uF.
Protoboard.
En esta última figura se muestra el miliamperímetro
B. Esquemas
que usaremos para realizar las mediciones
C. Procedimiento
III. RESULTADOS
Valor calculado:
Para hallar VCEQ e ICQ, desarrollamos en análisis DC,
En la figura 2.2 se muestra el circuito de la en otras palabras quitamos los condensadores:
figura 2.1 implementado en protoboard. VCEQ =7.78V, ICQ =1.945mA
Y para hallar Av, colocamos los condensadores y
trabajamos en análisis AC, hallamos la tensión de
salida y la dividimos con la de entrada: Av=6.52
Valor simulado
decibeles vs frecuencias
50
0
1 100 10000 1000000
-50
-100
-150
-200
V. CONCLUSIONES
Vemos que en altas frecuencias aparecen las
capacidades parásitas del transistor: Cbe, Cbc y
Cce.
Observamos que ocurre la caída del ancho de
banda hasta lograr un valor casi nulo que se da a
cierta frecuencia, cuando la salida del
amplificador cae en 0.7 de su valor en
frecuencias medias.
La mejor manera de realizar el análisis en alta
frecuencia es utilizando el modelo de parámetro
híbrido (π), puesto que aparecen los parámetros
deseados.
Cuando el condensador está en una parte de la
resistencia del emisor y lo conectamos a toda
resistencia del emisor, obtenemos una máxima
amplificación del circuito que nos da un
amplificador con mayor rango de amplificación.
REFERENCIAS
1]Robert L. Boylestad “Electrónica: Teoría de
Circuitos y Dispositivos Electrónicos” (10ma
edición).
[2] David A. Hodges “Darlington’s Contributions
to Transistor Circuit Design