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net/publication/271273159
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All content following this page was uploaded by Gilberto Bolaños on 25 January 2015.
a
Física de Bajas Temperaturas (FISBATEM), Universidad del Cauca Popayán.
b
Grupo de Investigación en Sistemas Dinámicos, Instrumentación y Control (SIDICO), Universidad del Cauca, Popayán.
Resumen
El estudio, caracterización y análisis de propiedades piezoeléctricas en películas delgadas de materiales con centro de
simetría no definido, son de gran importancia para el desarrollo de innovadoras aplicaciones tecnológicas. En este trabajo
se presenta el diseño e implementación de un sistema variador de frecuencia que permite caracterizar propiedades de
materiales piezoeléctricos en forma de película delgada. El sistema suministrará voltajes con frecuencias deseadas en el
rango del ultrasonido bajo, de modo que las propiedades piezoeléctricas no se afecten, cambiando la estructura cristalina.
El sistema hace uso de un microcontrolador, una ley de control que permite realizar variaciones de frecuencia entre (0 y
10KHz) y otros elementos activos que completan la bucla típica de control, generando una solución específica al reto de
caracterización antes mencionado. Para la etapa de diseño y simulación del sistema propuesto, se hace uso de la
herramienta computacional ISIS 7.5 y matlab 7.0 para la etapa de diseño y simulación del controlador, que esté acorde con
el proceso a controlar, para su respectiva implementación.
Palabras clave: Piezoelectricidad, Estructura Cristalina, Microcontrolador, Bucla Típica de Control, Control PI,
Oscilador Controlado por Tensión, Conversión Digital Análoga, Película Delgada.
Abstract
The study, characterization and analysis of piezoelectric properties in thin films of materials with no definite center of
symmetry, have great importance for the future development of innovative technological applications. This paper presents
the design and implementation of a variable frequency system to characterize properties of piezoelectric materials in thin
film form. The system will supply voltages with desired frequencies in the range of low ultrasound, so that the
piezoelectric properties are not affected by changing the crystal structure. The system makes use of a microcontroller, a
control law that allows for frequency variations between (0 and 10 KHz) and other active elements that complete the
typical loop control, thereby creating a specific solution to the challenge of characterization mentioned above. For stage
design and simulation of the proposed system makes use of the computational tool matlab 7.0 and ISIS 7.5 for Stage
Design and simulation of the controller, which is consistent with the process control for their respective implementation.
Keywords: Piezoelectricity, Crystal structure, Microcontroller, Typical Control Loop, PI Control, Voltage Controlled
Oscillator, Digital Analog Conversion, Thin Film.
* diegosalazar @unicauca.edu.co
D. Salazar Alarcón, G.Bolaños, D. Bravo-Montenegro: Diseño E Implementación De Un Sistema Variador De Frecuencia, Para
Caracterización De Películas Delgadas Piezoeléctricas
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Rev.Col.Fís., Vol. 43, No. 3 de 2011.
El rango de voltajes dc que ofrece el dispositivo está un microcontrolador PIC18F4550 de microchip y simulado
entre 0.074V y 4.059V. en ISIS 7.5.
Para la manipulación del FSS se realizó la interfaz con
Labview 8.0 via serial RS-232, y la posibilidad de
manipulación manual con un dial. Lo anterior se ilustra en
las figuras 4a, 4b y 5 respectivamente:
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Caracterización De Películas Delgadas Piezoeléctricas
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Fig. 10. Respuesta del FSS en S ante una entrada escalón unitario
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Caracterización De Películas Delgadas Piezoeléctricas
estable, sin sobrepaso, y con un tiempo de estabilización 13.84KHz, sobrepasando el valor inicial de diseño
de aproximadamente 1.8 segundos. propuesto de 10KHz, brindando la posibilidad de
aumentar en amplitud la señal de salida representada en un
En la figura 11 se observa la respuesta al escalón
voltaje desde 3.4V hasta 40V.
unitario en z del FSS. Se corrobora la estabilidad del
sistema, no existe sobrepaso y presenta un tiempo de Se construyo el FSS utilizando seis software diferentes,
estabilización aproximado entre 2 y 3 segundos. ofreciendo una solución de caracterización de películas
delgadas piezoeléctricas, ya que mediante la emisión de
una señal con amplitud constante y con el rango de
frecuencia ya mencionado, o con la introducción de la
señal amplificada a manera de voltaje sobre la película, se
brindan dos posibilidades de estimular una respuesta en el
material piezoeléctrico activo a analizar, ya sea como
voltaje o como deformación.
Se hizo el diseño y la implementación de una etapa de
realimentación, que pudo ser simulada, implementada y
verificada como elemento funcional dentro del FSS.
5. Agradecimientos
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