Efekt 1 1. Badania profilometryczne Profilometr przyrzd pomiarowy sucy do pomiaru parametrw chropowatoci i falistoci powierzchni.

. W zalenoci od metody pomiaru rozrniamy: - profilometry stykowe - profilometry bezstykowe optyczne: -metoda przekroju wietlnego, -pomiar zogniskowan wizk laserow -pomiar triangulacyjny, -pomiar interferencyjny Profilometria Stereopary: Dwa zdjcia tego samego miejsca zarejestrowane przy dwch rnych pochyleniach prbki Metoda linii kontaminacyjnych - Wgiel zawarty m.in. w CO2 komorze preparatowej mikroskopu SEM osadza si na powierzchni badanej prbki, Efekt ten jest szczeglnie silny w miejscach oddziaywania wizki elektronw z powierzchni prbki, Gdy wizk a ta przemieszcza si po powierzchni wzdu linii prostej, na obrazie mikroskopowym pojawia si ciemniejsza linia, Obrt prbki o pewien kt sprawia, e widoczny staje si profil powierzchni Profilometria na zgadach przeom, niklowanie, miedziowanie, inkludowanie, ciecie, szlifowanie, pol erowanie, rejestracja profilu, analiza 2. Mikroskop si atomowych rodzaj mikroskopu ze skanujc sond. Umoliwia uzyskanie obrazu powierzchni ze zdolnoci rozdzielcz rzdu wymiarw pojedynczego atomu dziki wykorzystaniu si oddziaywa midzyatomowych, na zasadzie przemiatania ostrza nad lub pod powierzchni prbki. - sonda zamocowana na na cienkiej dwigience o dugoci rzdu 100-200 m przemieszcza si nad powierzchni prbki. - siy oddziaywania pomidzy ostrzem i prbk - atomowe siy van der Waalsa, powoduj wychylenie bd skrcenie dzwigienki, ktrych rejestracja umoliwia stworzenie obrazu topograficznego. - stosowane s dwa tryby pracy: tryb kontaktowy. Ostrze porusza si bdc w delikatnym kontakcie z powierzchni. Dziaajce siy kontaktowe, powoduj odksztacenie dwigienki, proporcjonalnie do zmian topografii prbki. tryb bezkontaktowy. Ostrze wprawiane jest w wibracje o czstoci bliskiej rezonansowej i amplitudzie rzdu kilku nanometrw. Podczas ruchu ostrza ponad powierzchni, system mierzy zmian czstoci mplitudy drga. Czsto drga zmienia si z gradient em si na ni dziaajcych. Gradient natomiast, bdcy pochodn siy, zmienia si wraz z odlegoci ostrze -prbka. Odlego ta zmienia si w zakresie od kilku do kilkudziesiciu nanometrw i jest zwizana z oddziaywaniem przycigajcym si van der Waalsa . 3. Mikroskopia konfokalna odmiana mikroskopii wietlnej charakteryzujca si powikszonym kontrastem i rozdzielczoci. Uywana do uzyskania wysokiej jakoci obrazw oraz rekonstrukcji obrazw w trzech wymiarach. -rdem wiata jest laser -wizka o rednicy okoo 5mm przechodzi przez przeson -wizka ta omiata powierzchni prbki podobnie, jak strumie elektronw powierzchni ekranu w telewizorze -obraz tej przesony jest odwzorowywany na okrelonej paszczynie zgadu -w tym samym miejscu odwzorowywana jest druga przesona znajdujca si przed detektorem -jedynie wiato odbite (lub wyemitowane) od okrelonej paszczyzny trafia do detektora -sygna wychodzcy z detektora jest proporcjonalny do natenia wiata wpadajcego do niego -uzyskuje si w ten sposb binarny obraz punktw lecych na danej paszczynie -z obrazw tych tworzy si finalny obraz przedstawiajcy prbk w przestrzeni 3D 4. Tomografia komputerowa - jest rodzajem tomografii rentgenowskiej, metod diagnostyczn pozwalajc na uzyskanie obrazw tomograficznych (przekrojw) badanego obiektu. Wykorzystuje ona zoenie projekcji obiektu wykonanych z rnych kierunkw do utworzenia obrazw przekrojowych (2D) i przestrzennych (3D). Urzdzenie do TK nazywamy tomografem, a uzyskany obraz tomogramem. Tomografia komputerowa jest szeroko wykorzystywana w medycynie i technice. -Niewystarczajca zdolno rozdzielcza mikrotomografw, -Dwie metody: tomografia TEM oraz FIB-SEM. TOMOGRAFIA TEM -Idea taka sama, jak w przypadku mikrotomografii, -W tomografii elektronowej TEM niemoliwe jest rejestrowanie obrazw 2D w penym zakresie ktowym. TOMOGRAFIA FIB-SEM -Technika ta jest nowoczesn wersj metody zgadw rwnolegych opartej na koncepcji Sorbyego, ktry pod koniec XIX wieku stwierdzi, e dla poznania rzeczywistej struktury masywnej prbki konieczne jest wykonanie serii zgadw metalograficznych oraz zarejestrowanie ujawnionej na nich struktury . -W tomografii elektronowej FIB-SEM stosowane s mikroskopy wyposaone w system usuwajcy z du dokadnoci kolejne warstwy badanej prbki za pomoc zogniskowanej wizki jonw (zazwyczaj galu) oraz ukad rejestrujcy mikrostruktur odsonitych powierzchni przy wykorzystaniu technik dostpnych w SEM

Efekt 2 1. Zjawisko pezania oraz metody badania i opisu Pezanie jest zjawiskiem polegajcym na trwaym stopniowym odksztacaniu si cia poddanych dugotrwaem u staemu obcieniu, w warunkach niespenionego napreniowego kryterium plastycznoci. Podstawowymi parametrami odpowiedzialnymi za proces pezania s naprenie i temperatura a ich wzrost prowadzi do intensyfikacji tego zjawiska. Ponadto jest zalene o d rodzaju i stanu materiau. W temperaturze pokojowej pezanie wykazuj np. ow, cyna i cynk. Przebieg procesu pezania mona podzieli na trzy etapy: 1. Charakteryzuje si malejca prdkoci odksztace w czasie. 2. Przebiega przy staej prdkoci odksztace, 3. Rosnca prdko odksztace, a do zniszczenia materiau. Badanie pezania materiaw odbywa si poprzez prb pezania (przeprowadzan na specjalnej maszynie badawczej - pezarce), polegajc na ogrzaniu prbki materiau do danej temperatury, obcieniu sta si, zwykle rozcigajc, oraz mierzeniu wydue w czasie prby i czasu potrzebnego do zerwania prbki. Do opisu testu pezania suy wykres odksztacenie pezania wzgldem czasu, ktry jest rejestrowany w okrelonych odstpach c zasu. 2. Badania zmczeniowe, wskaniki ilociowo opisujce to zjawisko Badania wytrzymaoci zmczeniowej materiaw przeprowadza si na polerowanych prbkach o staym przekroju. Wytrzymao ta zaley w gwnej mierze od trzech czynnikw: materiau, rodzaju obcienia, cyklu napre. Badania zmczeniowe moemy podzieli na: 1. badania elementw konstrukcyjnych lub caej konstrukcji przeprowadzone na specjalnie zbudowanych w tym celu stanowiskach lub bezporednio w warunkach eksploatacyjnych, 2. badania odpowiednio przygotowanych (znormalizowanych) prbek. Do bada zmczeniowych prbek stosuje si maszyny o specjalnej konstrukcji zwane zmczeniwkami. Najczciej przeprowadza si prby na maszynach, ktre realizuj: osiowe ciskanie rozciganie (tzw. pulsatory), - zginanie o cyklu symetrycznym sinusoidalnym, realizowane przez ruch obrotowy prbki, przy staym kierunku obcienia, skrcanie o cyklu symetrycznym sinusoidalnym, realizowane w postaci skrtnych drga wymuszonych. Cech charakterystyczn bada zmczeniowych jest duy rozrzut otrzymywanych wynikw poszczeglnych prb. Dlatego te badania musz by przeprowadzone dla serii prbek a ich wyniki opracowane metodami statystycznymi. Wskaniki: Wytrzymao zmczeniowa rzeczywistego elementu konstrukcyjnego zaley od czynnikw, takich jak ksztat elementu, stan powierzchni, wymiary. Wpyw tych czynnikw ujmowany jest powszechnie w obliczeniach zmczeniowych przez wprowadzenie nastpujcych wspczynnikw: 1. wspczynnik ksztatu k, 2. wspczynnik dziaania karbu k, 3. wspczynnik stanu powierzchni p, 4. zmczeniowy wspczynnik spitrzenia napre, 5. wspczynnik wielkoci przedmiotu .

Efekt 3 2. Ra liczby przeci Za pomoc ry liczby przeci mona w sposb graficzny przedstawi stopie zorientowania struktury. W przypadku ukadu izotropowego ra liczby przeci ma ksztat koa ze rodkiem w pocztku ukadu wsprzdnych biegunowych 3. Systematyka przeksztace stosowanych w komputerowej analizie obrazu przeksztacenia geometryczne-Przeksztacenia geometryczne maj due znaczenie w przypadku artystycznej obrbki obrazw. W komputerowej analizie obrazu dla potrzeb materiaoznawstwa stosuje si je do wyznaczania rednic Fereta przeksztacenia punktowe - binaryzacja(manualna i automatyczna), operacje logiczne (gwnie na obrazie binarnym), dziaania arytmetyczne(obraz szary), przeksztacenia typu LUT, przeksztacenia histogramowe, przeksztacenia histogramowe filtry-Oblicze dokonuje si dla wszystkich pikseli obrazu wyjciowego. Dla caego obrazu stosuje si ten sam filtr bez wzgldu na warto danego piksela i konfiguracj jego otoczenia FILTRY WYGADZAJCE >> Przeksztacenia te s wykorzystywane do usunicia lub zminimalizowania lokalnego szumuwy stpujcego w analizowanym obrazie. Zazwyczaj stosuje si filtry modelujce rozkad normalny filtry Gaussa. FILTRY WYOSTRZAJCE(filtr nieliniowy) wyznaczenie redniej, minimalnej, oraz maksymalnej wartoci w otoczeniu analizowanego piksela, gdy warto analizowanego piksela jest mniejsza od wartoci redniej przypisana zostaje mu warto minimalna, w przeciwnym przypadku warto maksymalna ,(filtry liniowe) przeksztacenia morfologiczne: erozja, dylatacja, otwarcie, zamknicie 4. Dylatacja, erozja, zamykanie, otwieranie, filtr medianowy zasada dziaania oraz zastosowanie DYLATACJA - Kademu pikselowi zostaje przypisana maksymalna warto z jego otoczenia. Konsekwencj dylatacji jest zwikszenie obiektu, zniknicie detali i wypenienie dziur w niespjnym obszarze. Czsto, aby uzyska podany efekt stosuje si dylatacje wielokrotn. EROZJA Kademu pikselowi zostaje przypisana minimalna warto z jego otoczenia. Konsekwencj erozji jest zmniejszenie obiektu, zniknicie wskich gazi i maych obiektw, likwidacja szumu, rozszerzenie si dziur w niespjnym obszarze - przyjmuj one ksztat elementu strukturalnego. EROZJA WARUNKOWA Kady obiekt jest reprezentowany na obrazie kocowym przynajmniej przez jeden marker ZAMKNICIE (CLOSING) jest zoeniem dylatacji i erozji z tym samym krokiem. Domknicie usuwa z obrazu wszelkie dziury oraz wklsoci mniejsze od elementu strukturalnego. Moe skutkowa poczeniem si blisko pooonych detali (operacja ekstensywna). OTWARCIE (OPENING) jest zoeniem erozji i dylatacji z tym samym krokiem. Operacja otwarcia zachowuje rozmiary obie ktw obrazu przy ich jednoczesnym wygadzeniu - usuniciu wszystkich wystajcych elementw. FILTR MEDIANOWY Odczyt wartoci pikseli w otoczeniu analizowanego piksela. Uporzdkowanie odczytanych wartoci w cig rosncy. Przypisanie analizowanemu pikselowi wartoci rodkowego wyrazu tego cigu. Filtr medianowy jest nieliniowym filtrem, ktrego dziaanie polega na wyborze wartoci rodkowej uporzdkowanego rosnco cigu wartoci jasnoci pikseli przetwarzanego punktu i jego otoczenia. Jest to filtr stosowany do usuwania zakce z obrazu w postaci szumw. Dziaanie filtra jest szczeglnie przydatne w przypadku zakce typu "pieprz i sl". Filtr medianowy w przeciwiestwie do filtrw konwolucyjnych nie powoduje utraty informacji o krawdziach obiektw poprzez ich rozmywanie. Zalet filtra jest to, e wszystkie wartoci znacznie odbiegajce od redniej s zupenie pomijane przy wyznaczaniu nowej wartoci punktu. SZKIELETYZACJA Przeksztacony obraz staje si obrazem wyjciowym dla kolejnego przeksztacenia ze wzorcem obrconym o 45. Proces ten jest powtarzany do chwili, gdy kolejny otrzymany obraz jest identyczny z obrazem go poprzedzajcym.