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Fisica Cuantica PDF
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COMPLEMENTOS de FSICA
E.T.S. de Ingeniera Informtica
UNIVERSIDAD DE SEVILLA
II
Apuntes de CF
FLML
Prefacio
La presente coleccin de notas sobre Fsica Cuntica y Fsica del
Estado Slido pretende ser una ayuda al estudiante en la asignatura cuatrimestral Complementos de Fsica de la E.T.S. de Ingeniera Informtica de la Universidad de Sevilla. Aunque estas notas han sido
inspiradas por diversas fuentes (permtaseme destacar y agradecer la
importante contribucin de los profesores de la ETS de Ingeniera Informtica del Departamento de Fsica Aplicada 1 de la Universidad de
Sevilla), cualquier defecto o error slo es atribuible al autor de estos
apuntes. Es importante resaltar que estas notas no pueden ni deben
sustituir a otros textos ms elaborados sobre la materia.
El objetivo principal de la materia presentada es dotar al alumno
de algunos de los fundamentos fsicos elementales en los que se basa
el funcionamiento de los dispositivos y sistemas usados en Informtica. Gran parte de la tecnologa actual de los computadores se basa
en la Electrnica. Dado que la Electrnica consiste bsicamente en el
control del flujo de los electrones en materiales conductores y semiconductores, es evidente la necesidad de estudiar el comportamiento
de dichos electrones en metales y semiconductores. Este estudio se
llevar a cabo mediante una serie de temas introductorios de Fsica
Cuntica y Atmica donde se presentan las propiedades fundamentales de las partculas cunticas. Posteriormente se analiza el comportamiento de los electrones en metales y semiconductores, para lo cual
debemos considerar sus caractersticas cunticas y estadsticas. Finalmente, estudiaremos el comportamiento de la unin p-n puesto que
es la base de multitud de dispositivos electrnicos y optoelectrnicos
usados en la tecnologa de los computadores.
F RANCISCO L. M ESA L EDESMA
Sevilla, febrero de 2001
III
IV
Apuntes de CF
FLML
ndice general
1.
1.1. Introduccin . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
1.2.1.
Espectros pticos . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Dualidad de la radiacin . . . . . . . . . . . . . . . . .
10
11
15
15
17
1.5.3.
Naturaleza de la onda . . . . . . . . . . . . . . .
19
21
1.3.
1.6.1.
2.
Principio de incertidumbre
posicin/momento . . . . . . . . . . . . . . . . .
21
24
26
29
29
32
32
2.2.2.
33
2.2.3.
36
39
40
2.4.1.
Nmeros cunticos . . . . . . . . . . . . . . . .
40
2.4.2.
44
NDICE GENERAL
VI
3.
4.
5.
6.
Apuntes de CF
45
47
Materia Condensada
51
51
3.2.
Gas . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
53
3.3.
Monocristal . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
56
3.4.
Estructuras reticulares . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
57
57
58
60
61
63
4.1.
Fenomenologa . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
63
4.2.
65
66
68
69
69
70
70
73
74
74
77
77
79
82
5.2.
84
5.3.
Masa efectiva . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
86
5.4. Huecos . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
90
92
95
FLML
NDICE GENERAL
VII
6.1. Introduccin . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
95
6.2.
96
98
98
6.3.2.
111
. . . . . . . . . . . . . . . 132
Apuntes de CF
NDICE GENERAL
VIII
Unin p-n
137
167
169
C. Promedios estadsticos
171
Apuntes de CF
173
175
FLML
Captulo 1
Fundamentos de Fsica
Cuntica
1.1. Introduccin
De una forma muy genrica denominaremos Fsica Cuntica a
la Fsica que se desarroll a principios del siglo XX para explicar el
comportamiento de los fenmenos que ocurren a muy pequea escala
(el mbito microscpico donde los rdenes de magnitud involucrados son: distancia 1 , masa 1027 kg, energa 1019 J). Esta
nueva Fsica complementa a la denominada Fsica Clsica que se desarroll para ser aplicada en el mbito macroscpico (fenmenos que
involucran rdenes de magnitud del orden de 1 m, 1 kg, 1 J) y que podemos identificar, por ejemplo, con las leyes de Newton, las ecuaciones de Maxwell, etc. Antes de introducir los fundamentos de la Fsica
Cuntica, es conveniente resaltar que la Fsica Cuntica trajo consigo,
adems de nuevos resultados, cambios conceptuales muy importantes
que afectan a la forma en la que habitualmente entendemos el mundo
que nos rodea. No obstante, cabe sealar que estos cambios conceptuales afectan drsticamente a nuestra visin del mundo microscpico pero no tanto a la del mundo macroscpico (aunque obviamente
muchos fenmenos macroscpicos slo pueden entenderse con base
en los principios de la Fsica Cuntica).
La Fsica siempre afronta el estudio de los fenmenos mediante el
estudio de modelos, esto es, representaciones parciales de la realidad.
Es entonces importante aclarar que lo que se estudia no es directamente la realidad sino el modelo que nosotros hacemos de ella. Usualmente, el modelo es una simplificacin de la realidad que recoge, no
obstante, las caractersticas esenciales del aspecto fsico en el que estemos interesados. As, si queremos estudiar el efecto de la gravedad sobre los cuerpos, un posible modelo elemental sera el suponer que los
cuerpos son puntuales (su masa est concentrada en un punto), que
la gravedad es constante y que se desprecia el efecto del rozamiento
1
FLML
1.2.1.
Espectros pticos
Es un hecho bien conocido que cualquier cuerpo caliente emite radiacin electromagntica1 . La distribucin con respecto a la frecuencia, ,
de esta radiacin se conoce como espectro. Las observaciones experimentales permitieron establecer la existencia de varios tipos de espectros: espectros discretos (emitidos por gases de tomos aislados),
espectros de bandas (emitidos por gases moleculares) y espectros continuos (emitidos por cuerpos slidos). A continuacin esbozaremos
algunas de las caractersticas de los espectros discretos y continuos.
Espectros Discretos
Empricamente se comprob que la radiacin emitida (y absorbida) por sustancias formadas por elementos qumicos aislados
(en forma de gases) tena un carcter discreto; esto es, estas sustancias solo emiten (y absorben) radiacin para un conjunto discreto de frecuencias. Este hecho experimental era muy sorprendente e imposible de explicar en el marco de la Fsica Clsica.
Para el caso del hidrgeno (H) se comprob que su espectro est
formado por una familia de lneas espectrales cuya longitud de
onda ( = c/, c 3 108 m/s) sigue la siguiente ley emprica:
1
1
1
= R
2
(1.1)
m < n( N ) ,
m2
n
que se conoce como formula de Rydberg-Ritz y donde R =
1,0967 107 m1 es la denominada constante de Rydberg. Para
cada valor de m y variando n se obtienen distintas familias de
lneas espectrales conocidas como las series del hidrgeno. Una
expresin particular para el espectro visible del H, conocido como serie de Balmer, fue obtenida en 1885 por Balmer, siendo, no
obstante un caso particular de la ley general (1.1) cuando m = 2.
Es importante resaltar que la frmula de Rydberg-Ritz es una ley
completamente emprica que fue propuesta en ese momento sin
1 La explicacin clsica de este hecho se basa en la suposicin de que la temperatura es una medida de la energa cintica media de las partculas que componen
la materia. Dado que la materia est compuesta de tomos y stos a su vez estn
formados por partculas cargadas, un cuerpo caliente puede considerarse como un
conjunto de osciladores cargados (se supone que, debido a su menor masa, la carga
negativa oscila en torno al ncleo de carga positiva). Estos osciladores de carga emiten entonces radiacin electromagntica al igual que lo hacen los dipolos elctricos
oscilantes.
FLML
Apuntes de CF
R(n)
curva terica
curva
experimental
Cuando la expresin terica (1.2) se comparaba con los datos experimentales (ver figura adjunta), se observaba una buena concordancia para bajas frecuencias pero una discrepancia total para frecuencias
altas. Esta discrepancia es tan importante (para frecuencias muy altas R() tiende a cero segn los datos experimentales mientras que el
resultado terico tiende a infinito) que se conoce como catstrofe ultravioleta puesto que las diferencias empiezan a ser muy importantes
para frecuencias de radiacin ultravioleta. La catstrofe ultravioleta
es una clarsima constatacin de que haba algo fundamentalmente
errneo en la aplicacin de las leyes conocidas hasta ese momento al
estudio del espectro de radiacin del cuerpo negro.
Afortunadamente, en 1900 Planck incorpor un nuevo enfoque a
este problema que sorprendentemente conduca a una teora que se
ajustaba perfectamente a los resultados experimentales. La propuesta
de Planck fue que
Hiptesis de Planck
los osciladores atmicos realizan intercambios de energa con la radiacin de modo que la accin, S
(energatiempo), vara nicamente en mltiplos de
h = 6,62 1034 Js.
La cantidad de intercambio de accin mnima, h, se conoce como constante de Planck y tiene por valor
Constante de Planck
(1.3)
FLML
n = 1, 2, . . . ,
(1.4)
1
= nh .
T
(1.5)
2.
I(n)
+ C
A -
i
V
Apuntes de CF
(1.6)
I2(n)
I1(n)
I2(n)>I1(n)
VAC
VR
VR
Existe cierta frecuencia para la radiacin incidente, conocida como frecuencia umbral, 0 , por debajo de la cual no existe emisin
fotoelctrica, independientemente de la intensidad de dicha radiacin; es decir, i = 0 I () si < 0
Al aumentar la intensidad de la radiacin, aumenta el nmero
de fotoelectrones emitidos y, en consecuencia, la intensidad de
la corriente es mayor.
Para una frecuencia fija, la energa cintica de los fotoelectrones
no depende de la intensidad de la radiacin incidente.
La energa cintica mxima de los fotoelectrones (cuya magnitud
es proporcional al potencial de frenado VR ) muestra una dependencia lineal de la frecuencia.
n0
1
0 cE02 ,
2
(1.7)
FLML
2
P
100
= 0,08
= W/m2 ,
2
2
4R
41
por lo que la potencia captada por cada tomo vendr dada por
2
=
Ptomo = I rtomo
2
1020 = 2 1020 W .
e
Ptomo
4 1,6 10 19
32 s .
2 1020
Apuntes de CF
paso ms extendiendo la nueva idea de cuantizacin a la propia energa radiante (y no slo a su posible intercambio). En concreto, Einstein
explic el efecto fotoelctrico a partir de las dos siguientes hiptesis:
1.
(1.8)
(h = h/2, = 2).
hn
Radiacin incidiendo
en el metal
Metal
electrn liberado
del metal
e-
Ec
2.
El efecto fotoelctrico es fruto de procesos individuales de intercambio instantneo de la energa del fotn con la del electrn.
VR =
h
e
.
e
e
(1.10)
FLML
nmero de choques y, en consecuencia, puede relacionarse con la densidad de fotones, N f (nmero de fotones por unidad de tiempo y rea),
de la radiacin. Podemos escribir, por tanto, que
I = N f h .
(1.11)
Por otra parte, dado que los fotones transportan una energa E,
tambin deben transportar un momento lineal p. En su teora de la
Relatividad Especial, Einstein demostr que el momento lineal de los
fotones estaba relacionado con su energa mediante la siguiente relacin:
E
p= ,
(1.12)
c
siendo c la velocidad de la luz. Como la energa del fotn es E = h,
encontramos que
h
h
,
(1.13)
p=
=
c
(a) Para calcular el nmero de fotones por unidad de tiempo y rea debemos aplicar la expresin (1.11), para lo cual debemos obtener primero
la frecuencia, , de la radiacin:
=
c
3 108
=
= 1,5 1015 Hz ,
2 107
I
3 103
fotones
=
3,017 10 15
.
E
m2 s
9,95 10 19
h
6,63 10 34
=
3,31 10 27 kgm/s
2 107
(c) Finalmente la energa cintica de los fotoelectrones emitidos, de acuerdo a la expresin (1.10), vendr dada por
Ec = h e = 6,21 eV 1 eV = 5,21 eV .
FLML
Apuntes de CF
10
1.3.
Dualidad de la radiacin
el cuadrado de la amplitud del campo elctrico de la onda electromagntica, E02 (r, t), es proporcional a la probabilidad de localizar en un instante t a los fotones en un
dV centrado en el punto r.
Desde el punto de vista del modelo fotnico, el campo elctrico
de la onda electromagntica juega el papel de una funcin matemtica que determina la probabilidad de encontrar a los fotones en un
determinado punto e instante. En aquellos puntos donde el campo
elctrico tenga un valor alto de amplitud ser, por tanto, ms probable encontrar fotones que all donde la amplitud presente un valor
bajo. En la prctica, la conveniencia de usar uno de los dos modelos
(OEM/fotones) vendr determinada por la relacin entre la cantidad
Apuntes de CF
FLML
11
2.
Apuntes de CF
12
1.
Ei
n = 1, 2, 3, . . .
(1.15)
2.
3.
hn
Ef
Ei E f
.
h
(1.16)
Fc
m e v2
e2
=
.
r
40 r2
Fe
(1.18)
e2
me n2 h 2
=
,
r m2e r2
40 r2
(1.19)
siendo
r0 =
Apuntes de CF
40 h 2
0,53
e2 m e
(1.20)
(1.21)
FLML
13
(1 = 1010 m).
El electrn en el tomo de hidrgeno slo puede tomar aquellas
rbitas discretas cuyos radios verifiquen (1.20). Dado que la menor rbita que puede tomar el electrn en el tomo de hidrgeno
es r0 , este dato podra ser considerado como el tamao de dicho tomo. Comprobaciones experimentales demuestran que r 0
coincide muy aproximadamente con el tamao medido para el
radio de los tomos de hidrgeno.
Cuantizacin de la energa del tomo de H
En una rbita estacionaria, y que por tanto verifica (1.18), debe
cumplirse que
e2
.
(1.22)
m e v2 =
40 r
La energa, E, del electrn en una rbita estacionaria (y, en consecuencia, en un estado estacionario) ser la suma de su energa
cintica, Ec , ms la energa potencial electrosttica, E p , debido al
efecto de carga positiva del ncleo, esto es,
E = Ec + E p =
1
1 e2
m e v2
,
2
40 r
(1.24)
donde E0 es la energa del estado elemental del tomo de hidrgeno (n = 1), que viene dada por
e2
e4 m e
= 2 2 13,6 eV .
E0 =
80 r0
80 h
n=
n=3
n=2
E = 0
n=1
E1= -E0
E2= -E0 /4
(1.25)
Los posibles estados de energa con n > 1 se conocen como estados excitados. El hecho de que la energa de los distintos estados
sea negativa debe entenderse en el sentido de que hay que proporcionar energa para sacar al electrn de esos estados, esto
es, el electrn est ligado al tomo de hidrgeno por esa cantidad de energa. En este sentido, podemos decir que la energa de
ionizacin del tomo de hidrgeno es de 13.6 eV; es decir, hay que
dar al menos esa energa al tomo de H en su estado fundamental para poder extraerle el electrn.
FLML
Apuntes de CF
14
hc n2f
ni
(1.27)
donde E0 /hc 1,0974 107 m1 . Esta expresin terica, obtenida nicamente a partir de las hiptesis de Bohr, coincide plenamente con la frmula emprica de RydbergRitz (1.1). Si admitimos que esta sorprendente y total coincidencia no es mera casualidad debemos entonces admitir que el modelo de Bohr
proporciona un marco terico novedoso, muy original y consistente para entender el espectro del tomo de hidrgeno. Podemos afirmar, por tanto, que el espectro discreto del H es fruto de
la cuantizacin de los estados energticos de este tomo2 y de la naturaleza fotnica de la radiacin.
Es interesante notar finalmente que, aunque el modelo atmico de
Bohr proporcion un marco terico muy satisfactorio que pudo explicar las caractersticas esenciales del tomo de hidrgeno, cuando este
mismo modelo se intento aplicar a tomos con ms de un electrn no
result tan eficaz. Por ejemplo, este modelo no pudo explicar el valor
de la energa de ionizacin ni el espectro discreto del tomo de helio (el tomo de helio consta ya de dos protones en el ncleo y dos
electrones orbitando). Este hecho debe interpretarse en el sentido de
que, aunque el modelo de Bohr supuso un avance fundamental en la
comprensin del tomo, era un modelo simple que no tena en cuenta
algunas de las propiedades ms caractersticas (todava por descubrir)
de las partculas cunticas. Los apartados siguientes explorarn algunas de estas propiedades.
E JEMPLO 1.3 Un tomo de H es excitado de manera que al volver a su estado fundamental (de mnima energa) emite una radiacin de frecuencia =
3,023 10 15 Hz. Calcule el nmero cuntico del estado excitado as como su
radio.
2 Un
Apuntes de CF
FLML
15
n=
E0
=
En
E0
,
n2
13,6
=3.
1,55
El movimiento de una partcula material viene determinado por las propiedades ondulatorias de propagacin
de una onda piloto cuya longitud de onda, , y frecuencia, , estn asociadas con el momento lineal, p, y
la energa, E, de la partcula segn
=
=
h
p
E
h
o bien
p = h k
(1.28)
o bien
E = h .
(1.29)
Relaciones de de Broglie
Apuntes de CF
16
(1.30)
p2
,
2m0
(1.31)
h
.
2m0 Ec
(1.33)
Es interesante resaltar que, debido al pequeo valor de la constante de Planck, los fenmenos tpicamente ondulatorios de interferencia
y/o difraccin de las partculas macroscpicas son prcticamente imposibles de detectar. Dado que la longitud de onda de estas partculas
macroscpicas es mucho menor que las distancia tpicas en el mbito macroscpico, podemos ignorar el carcter ondulatorio de estas
partculas.
E JEMPLO 1.4 Calcular la longitud de onda asociada a (1) una pelota de tenis de
m = 50g y v = 40m/s; y (b) un electrn sometido a un potencial de aceleracin
V = 100V.
(1) En este caso, el momento lineal es
p = mv = 0,05 40 = 2 kgm/s
y la longitud de onda ser
=
h
6,6 10 34
=
3,3 10 34 m .
p
2
Como puede observarse, la longitud de onda asociada a la pelota de tenis es muchsimo ms pequea que el tamao de un tomo de H. Esta es
tan pequea que es totalmente indetectable por cualquier dispositivo experimental. Una posible manera de aumentar esta es hacer que la masa de la
3 partcula
Apuntes de CF
FLML
17
partcula sea muy pequea, en la prctica del orden de la masa de las partculas elementales (electrones, protones, ....)
(2) Si el electrn est sometido a cierto potencial de aceleracin, V, entonces,
supuesto que parte del reposo, la energa cintica que adquiere ser justamente la energa potencial elctrica que pierde la partcula cargada, esto es,
Ec = eV = 100 eV .
La longitud de onda asociada a esta partcula ser entonces
=
h
6,6 10 34
=
1,2 .
2 9,1 10 31 1,6 10 19 100
2m e eV
Esta longitud de onda es muy pequea pero al menos es del orden del tamao de los tomos.
a)
b)
q
f
q
eDetector
f
Monocristal
Detalle de reflexin
en monocristal
acelerados por un potencial elctrico V. Estos electrones, previamente emitidos por una resistencia incandescente, adquieren una energa
FLML
Apuntes de CF
18
(1.34)
Si los electrones se comportasen como partculas, entonces, tras chocar con el monocristral, rebotaran tal y como lo haran pelotas de tenis que chocasen contra una piedra, esto es, saldran rebotados en todas direcciones sin que haya direcciones privilegiadas. Adems, este
efecto sera independiente de la energa cintica de las partculas, esto es, del potencial de aceleracin V. No obstante, si los electrones se
comportasen como ondas, entonces los electrones dispersados lo haran mayoritariamente en aquellas direcciones privilegiadas para las
que exista interferencia constructiva.
(1)
q
(2)
Admitiendo que los electrones presentan un comportamiento ondulatorio, la onda incidente se reflejar en cada uno de los planos atmicos (ver detalle en Fig. 1.1b), existiendo una interferencia constructiva de las ondas reflejadas en planos paralelos consecutivos si se cumple la condicin de Bragg, esto es, si la diferencia de camino entre los
rayos (1) y (2) es justamente un mltiplo de la longitud de onda:
2d sen = n .
diferencia de
camino
(1.35)
h
h
,
=
p
2me eV
(1.36)
lo que implicara que el detector mostrara unos mximos de dispersin para los ngulos n relacionados con los n (2n + n = ) que
verificasen
h
.
(1.37)
sen n = n
2d 2me eV
El experimento de Davisson y Germer demostr que esta suposicin
terica estaba en excelente acuerdo con la experiencia, confirmando
fehacientemente que los electrones (y por ende, todas las partculas
materiales) presentaban un carcter ondulatorio.
E JEMPLO 1.5 En un dispositivo experimental como el del experimento de Davisson y Germer, los electrones son acelerados por un potencial V antes de incidir
sobre un monocristal de Ni cuya distancia entre planos atmicos es de 0.91.
Si el detector se sita en un ngulo = 40 o , calcule el valor del potencial de
aceleracin para el cual se detecta en ese ngulo el mximo de dispersin de
primer orden.
Dado que 2 + = 180o , el ngulo relacionado con la posicin del
detector ser
180o 40o
= 70o .
=
2
Apuntes de CF
FLML
19
,
2d 2m e eV
1.5.3.
h2
8d2 sen2 1 me e
(6,6 10 34 )2
51,1 V .
8 (0,91 10 10 )2 (0,9397) 2 9,1 10 31 1,6 10 19
Naturaleza de la onda
En el Apartado 1.3 se discuti que la relacin existente entre la interpretacin ondulatoria y la corpuscular de la radiacin electromagntica poda hacerse mediante la interpretacin que se le daba al campo elctrico en un punto como una medida de la probabilidad de encontrar a los fotones en cierto instante en el entorno de dicho punto.
En este sentido, en 1926 Max Born extendi esta interpretacin probabilstica igualmente al caso de las partculas materiales. Segn la
interpretacin de Born, lo que se est propagando en forma de onda
(asociado al movimiento de las partculas) no es algo material sino
una magnitud representada matemticamente por (r, t), que se conoce como funcin de onda y que posee el siguiente significado fsico:
(1.38)
|(r, t)|2 dV = 1 ,
(1.39)
todo el
espacio
Apuntes de CF
20
Partcula localizada
Si una partcula est localizada existir entonces ms probabilidad de encontrarla en algunos sitios que en otros. Consecuentemente P( x, t) debe depender de la posicin, lo cual se puede
conseguir si su funcin de onda asociada, ( x, t), viene dada por
un grupo de ondas, por lo que podr expresarse como
( x, t) =
k0 +k
k0 k
(1.41)
d
1 dE
.
=
dk
h dk
(1.42)
Es interesante resaltar que la funcin de onda, , no es una magnitud estadstica, en el sentido de que describa el comportamiento de
un colectivo muy numeroso de partculas que se manifiestan simultneamente, sino que es una propiedad intrnseca de cada partcula,
independiente del colectivo 4 . En este sentido, la interpretacin probabilstica de Born nos impone una restriccin al conocimiento que podemos tener sobre la partcula, es decir, todo lo que nos puede dar la
Fsica Cuntica sobre la posicin de una partcula es una informacin
4 Cuando
Apuntes de CF
FLML
21
1.6.1.
Principio de incertidumbre
posicin/momento
Si tenemos en cuenta que todo fenmeno ondulatorio estar afectado intrnsecamente por la anterior incertidumbre en la medida de
su posicin y longitud de onda y lo relacionamos ahora con la existencia de la dualidad onda/corpsculo tanto para la radiacin como para
la materia, parece entonces razonable prever la existencia de incertidumbre en la determinacin de ciertas magnitudes fsicas en cualquier
fenmeno natural. En este sentido, en 1927 W. Heisenberg postul el
siguiente principio para la medida de la posicin y el momento de una
partcula:
En un experimento NO es posible determinar simultneamente y con toda precisin una componente del momento de una partcula, por ejemplo p x , y la posicin
de la coordenada correspondiente x. Si representa la
incertidumbre en la medida, encontraremos que
px x h .
FLML
(1.43)
Apuntes de CF
Dpx
q
Una manera de ver que la dualidad onda/corpsculo de la materia est intrnsecamente relacionada con el anterior principio de incertidumbre puede obtenerse a partir de la determinacin de la posicin
de una partcula hacindola pasar por una rendija de anchura x (sta sera justamente la incertidumbre en su posicin). Al pasar por la
rendija, la partcula sufrira difraccin debido a su carcter ondulatorio. El estudio de la difraccin de una onda plana que incide normal a
la rendija muestra que, para la configuracin mostrada en la figura, el
primer mnimo de difraccin se produce para un ngulo tal que
Dx
sen =
.
x
(1.44)
(1.45)
donde p es el mdulo del momento de la partcula, que no habr cambiado al atravesar sta la rendija. Teniendo ahora en cuenta la relacin
de de Broglie (1.28) y las dos expresiones anteriores, podemos escribir
h
x
(1.46)
px x = h .
(1.47)
px =
y finalmente
Notemos que el simple anlisis anterior, basado en el carcter ondulatorio de la partcula, nos ha conducido a una expresin que relaciona
las incertidumbres de la posicin y el momento, siendo adems congruente con (1.43).
El principio de incertidumbre puede tambin relacionarse con la
existencia de un mnimo de accin, h, descrito en el Apartado 1.2.1.
Debe tenerse en cuenta que cualquier descripcin de un fenmeno requiere cierta interaccin con dicho fenmeno. Debido a la existencia
de un mnimo de accin, esta interaccin no puede hacerse infinitesimal, por lo que la correspondiente descripcin siempre estar sujeta a
cierta incertidumbre.
Es importante destacar tres puntos con respecto al principio de incertidumbre:
Apuntes de CF
1.
2.
3.
23
La Luna
Sabiendo que la masa de la Luna es m 6 10 22 kg, que su velocidad
media es v 103 m/s y que su posicin se determina con una incertidumbre de x 10 6m (con una incertidumbre tan pequea, p x se
maximiza), la incertidumbre en el momento vendr dada por
p x
h
1028 kgm/s .
x
1053 .
px
1025
La incertidumbre relativa para el momento, incluso intentando maximixarla, es tremendamente pequea; tanto que en la prctica sera totalmente indetectable. Consecuentemente, para el caso de la Luna en
su rbita alrededor de la Tierra, el concepto de trayectoria es aplicable.
Electrn en tomo de hidrgeno
Con el fin de obtener el mnimo de imprecisin en el momento, supongamos que la imprecisin en la determinacin de x es mxima, es
decir, que slo sepamos que el electrn est dentro del tomo. Dado que el tamao del tomo vena dado por r0 , entonces diremos que
x r0 1010 m y, por tanto,
p x
FLML
h
1024 kgm/s .
x
Apuntes de CF
24
0,5 ,
px
2 1024
esto es, una incertidumbre relativa muy importante, lo que indica claramente que no podramos hablar de la trayectoria del electrn en el
tomo de H.
(x )max = a ,
y, en consecuencia, la mnima incertidumbre en el momento ser
(px )min =
h
.
a
Teniendo en cuenta que el mnimo valor del momento, p min , debe ser
del orden del mnimo valor de su incertidumbre, entonces tenemos
que
pmin (px )min ,
por lo que la energa cintica mnima de la partcula tomar el valor
( Ec )min =
p2min
h2
,
2m
2ma2
(1.48)
esto es, una partcula localizada no puede estar en reposo (con energa
cintica nula).
E t h ,
(1.49)
FLML
25
El principio de incertidumbre energatiempo puede tambin interpretarse diciendo que una determinacin de la energa de un sistema que presente una incertidumbre, E, debe tomar al menos un
intervalo de tiempo
h
.
t
E
Anlogamente, si un sistema permanece en cierto estado durante un
tiempo no mayor que t, la energa en ese estado presentar una incertidumbre de al menos
h
.
E
t
Cuando hablamos de la incertidumbre en la energa de cierto estado
debe entenderse que nos referimos a la incertidumbre en la energa
puesta en juego en la transicin a otro estado de referencia, usualmente el estado fundamental.
E JEMPLO 1.7 Se sabe que el tiempo de vida media, , de cierto estado atmico
es de 100 s. Determine (1) la incertidumbre en la energa de dicho estado y (2)
la incertidumbre en la longitud de onda de la radiacin emitida en la transicin
hacia el estado fundamental, sabiendo que en sta se emite una radiacin de
= 100 nm.
1.
El tiempo de vida media es una medida del tiempo que tarda en realizarse cierta transicin, por lo que podemos identificar t . La incertidumbre en la energa puesta en juego en la transicin ser entonces
E
2.
h
1,009 10 34
1020 J 6,25 10 2 eV .
t
104
hc
,
E
(100 10 9 )2
1020 5 .
6,6 10 34 3 108
0,5 nm
=
= 0,005 .
100 nm
FLML
Apuntes de CF
26
Apuntes de CF
FLML
27
1.9: Se ilumina con luz de 280 nm la superficie de una aleacin metlica rodeada de
oxgeno. A medida que la superficie se oxida, el potencial de frenado cambia de 1.3
a 0.7 eV. Determinar qu cambios se producen en: (a) la energa cintica mxima de
los electrones emitidos por la superficie; (b) la funcin de trabajo; (c) la frecuencia
umbral; y (d) la constante de Planck.
Sol. (a) Ec disminuye en 0,6 eV; (b) e aumenta en 0.6 eV; (c) 0 aumenta en 1,46
1014 Hz; (d) h no vara.
1.10: Experimentalmente se observa que no todos los fotones que chocan contra la
superficie metlica son capaces de extraer un fotoelectrn. En un experimento, luz
de longitud de onda 4366 ilumina una superficie de sodio de funcin trabajo 2.5
eV dando lugar a una emisin de 8,3 103 C/J. Cuntos fotones se requieren para
emitir un fotoelectrn?.
Sol. 365 fotones.
1.11: Suponer un tomo de hidrgeno en el estado n = 2 y un electrn en rbita
circular. Determinar: (a) el radio de la rbita; (a) la energa potencial elctrica; (a) la
energa cintica; y (a) le energa total del electrn en esa rbita.
Sol. (a) r = 2,12; (b) E p = 6,79 eV; (c) Ec = 3,39 eV; (d) E = 3,39 eV.
1.12: Cul es el mnimo potencial de aceleracin capaz de excitar un electrn para
sacar un tomo de Hidrgeno de su estado fundamental?
Sol. Va = 10,2 V.
1.13: En una transicin a un estado de energa de excitacin de 10.19 eV, un tomo de
hidrgeno emite un fotn cuya longitud de onda es de 4890 . Determinar la energa
del estado inicial del que proviene la desexcitacin y los nmeros cunticos de los
niveles energticos inicial y final. A qu transicin corresponde?.
Sol. 4 2.
1.14: Cul es el mayor estado que pueden alcanzar tomos no excitados de hidrgeno cuando son bombardeados con electrones de 13.2 eV?
Sol. n = 5.
1.15: Si la vida promedio de un estado excitado del hidrgeno es del orden de 10 8 s,
estimar cuntas revoluciones da un electrn cuando se encuentra inicialmente a) en el
estado n = 2 y b) en el estado n = 15, antes de experimentar una transicin al estado
fundamental. c) Comparar estos resultados con el nmero de revoluciones que ha
dado la Tierra en sus dos mil millones de aos existencia.
Sol.: a) 8,22 106 rbitas; b) 1,95 104 .
1.16: Calcular la energa, el momento lineal y la longitud de onda del fotn que es
emitido cuando un tomo de hidrgeno sufre una transicin desde el estado 3 al
estado fundamental.
Sol.: E = 12,07 eV, p = 6,44 1027 kgm/s, = 1030 .
1.17: Para transiciones en tomos de hidrgeno correspondientes a n = 1, demuestre que para valores muy grandes de n, la energa de la transicin
viene dada
por
1 e2
40 hc
, cuyo
1.18: Compare la frecuencia de revolucin en el tomo de hidrgeno con la frecuencia del fotn emitido en una transicin para la que n = 1 cuando los estados iniciales
son a) n = 10, b) n = 100 y c) n = 1000.
Sol.: A medida que n aumenta ambos valores se aproximan.
1.19: Un haz de partculas (q=+2e), que es acelerado mediante una diferencia de
potencial de 10 V, incide sobre un cristal de NaCl (d = 2,82 ). Cul es el mximo
orden de la reflexin de Bragg que puede ser observada?.
Sol.: n max = 125.
FLML
Apuntes de CF
28
Apuntes de CF
FLML
Captulo 2
Ecuacin de Schrdinger.
Aplicaciones
2.1. Ecuacin de Schrdinger
La primera formulacin que se realiz de la teora cuntica aport
una visin novedosa y revolucionara de multitud de fenmenos. No
obstante, esta teora presentaba una seria de inconvenientes, entre los
que cabe destacar lo siguiente:
Slo era aplicable a sistemas peridicos.
No explicaba las diferentes probabilidades de transicin entre
distintos niveles energticos.
No explicaba el espectro de los tomos multielectrnicos.
Asignaba trayectorias a los electrones, lo cual es incompatible
con el principio de incertidumbre.
Bsicamente, lo que faltaba era una teora unificadora que diera cuenta de los diversos fenmenos cunticos, a saber: dualidad onda/corpsculo de la radiacin/materia, principio de incertidumbre, naturaleza
probabilstica de los fenmenos, etc.
Tal como ya se apunt en el Apartado 1.5.3, la descripcin de los
fenmenos cunticos se realizar a travs de una funcin de onda,
(r, t), que describe completamente el estado de un sistema dado. A
partir de esta funcin de onda se podrn obtener los valores medios
de las distintas magnitudes observables asociadas al sistema as como
la probabilidad de encontrar a las partculas en distintos puntos del
espacio. Puede, por tanto, concluirse que
30
En 1925, E. Schrdinger plante como un postulado la ecuacin diferencial que permite calcular la funcin de onda, (r, t), cuando se
conoce la energa potencial, E p (r, t) (o a menudo simplemente potencial), de la que derivan las interacciones que actan sobre el sistema.
Para el caso de un sistema monodimensional, la ecuacin de Schrdinger para la funcin de onda ( x, t) es
Ecuacin de Schrdinger para
un sistema monodimensional
h 2 2
.
+ E p ( x, t) = jh
2
2m x
t
(2.1)
|( x, t)| dx =
2
( x, t)( x, t) dx = 1 ,
(2.2)
probabilidad de encontrar a la
,
partcula en el instante t
( x, t)( x, t)dx =
entre x y x + dx
(2.3)
x =
x dx
(2.4)
(en analoga con la expresin (C.5) del Apndice C). Para cualquier
otra magnitud, f ( x ), que sea funcin de x, su valor esperado podr
calcularse mediante
f ( x ) =
f ( x ) dx .
(2.5)
Apuntes de CF
FLML
31
Estados estacionarios
Existen multitud de situaciones en las cuales la energa potencial,
E p , del sistema no depende del tiempo sino nicamente de la posicin
de los distintos componentes del sistema, en cuyo caso tendremos que
E p = E p ( x ) (por ejemplo, la energa potencial electrosttica)2 . Para
estas situaciones encontramos que la funcin de onda puede escribirse
como el producto de dos funciones ( x ) y g(t), de modo que ( x, t) =
( x ) g(t). Al sustituir esta forma de la funcin de onda en la ecuacin
(2.1), obtenemos que
h 2
d2 ( x )
dg(t)
g(t)
,
+ g(t) E p ( x )( x ) = jh ( x )
2m
dx2
dt
que tras dividir ambos miembros por ( x ) g(t) queda como
1
h 2 d2 ( x )
1
dg(t)
.
+
E
(
x
)
(
x
)
=
j
h
p
( x )
2m dx2
g(t)
dt
(2.6)
Notemos que la nica posibilidad de que los dos miembros de la ecuacin anterior sean iguales consiste en que ambos sean idnticos a una
constante que denominaremos E de momento. Al igualar cada uno de
los miembros de (2.6) a dicha constante obtenemos las dos siguientes
ecuaciones diferenciales ordinarias acopladas:
h 2 d2 ( x )
+ E p ( x )( x ) = E( x )
2m dx2
jE
dg(t)
= g(t) .
dt
h
(2.7a)
(2.7b)
(2.9)
de sistemas conservativos, en los cuales la fuerza que acta sobre el sistema se calcula
a partir del gradiente de la energa potencial, esto es,
F(x) =
FLML
dE p ( x )
.
dx
Apuntes de CF
32
|( x, t)|2 = ( x, t)( x, t)
= ( x )e+ jEt/h ( x )e jEt/h = |( x )|2
(2.10)
h 2 d2 ( x )
+ E p ( x )( x ) = E( x )
2m dx2
(2.11)
h 2 d2 ( x )
= E( x ) ,
2m dx2
(2.12)
2mE
(2.13)
h 2 k2
,
2m
(2.14)
h 2
o equivalentemente
E = h =
como
Apuntes de CF
d2 ( x )
+ k2 ( x ) = 0 .
dx2
(2.15)
FLML
33
(2.16)
Si tenemos en cuenta las relaciones de de Broglie (E = h , p = h k), podemos comprobar que la solucin de la ecuacin de Schrdinger para
una partcula libre coincide con la expresin obtenida previamente en
(1.40) mediante razonamientos puramente heursticos.
Si en la expresin de la energa de la partcula libre,
E = p2 /2m ,
sustituimos el valor de E y p por sus equivalentes segn de Broglie,
obtenemos que
h 2 k2
,
h =
2m
expresin que es idntica a (2.14), confirmando as la congruencia de
la presente formulacin con las hiptesis de de Broglie.
2.2.2.
0>x>a.
Ep(x)
x
x=0
x=a
(2.18)
En el interior del pozo de potencial, dado que la partcula no esta afectada por fuerza alguna, la funcin de onda ser la solucin de
d2 ( x )
+ k2 ( x ) = 0 ,
dx2
siendo
k=
FLML
2mE
,
h
(2.19)
(2.20)
Apuntes de CF
34
por lo que
B = A .
( x ) = A e+ jkx e jkx = C sen kx ,
donde C = 2jA. Al imponer ahora la condicin (2.18) en el extremo
x = a, es decir: ( a) = 0, tenemos que
sen ka = 0
ka = n ,
esto es,
,
n = 1, 2, 3, . . .
(2.21)
a
Es interesante notar que la condicin de contorno en x = a no ha
fijado el valor de la constante C sino ms bien el de la variable k y de
aqu que los posibles valores de la energa, teniendo en cuenta (2.20),
vengan dados por
kn = n
Energa de la partcula en un
pozo monodimensional
En =
h 2 k2n
h 2 2
= n2
= n2 E0 , n 1 .
2m
2ma2
(2.22)
La expresin anterior nos dice que la energa de una partcula cuntica en un pozo monodimensional de paredes infinitas no puede tomar
cualquier valor sino solamente ciertos valores permitidos, esto es, la
energa esta cuantizada. El estado n = 1 se denomina estado fundamental, siendo su valor de energa E0 . Los estados con n > 1 se denominan estados excitados.
El valor de la constante C se determina al imponer la siguiente
condicin de normalizacin (2.2):
a
0
|C |2 sen2 (kx ) dx = |C |2
a
= 1,
2
luego
|C |2 =
2
.
a
n
2
sen
x ,
(2.23)
n ( x ) =
a
a
donde el numero n se denomina nmero cuntico y define el estado
de la partcula en el pozo monodimensional.
Es interesante notar que el estado de mnima energa de la partcula en el pozo viene dado por E0 , lo que significa que el valor de
Apuntes de CF
FLML
y(x)
n=1
35
|y(x)|2
n=2
n=3
x=0
x=a
x=0
x=a
mnima energa no es nulo. Este sorprendente hecho ya fue expuesto en el Apartado 1.6.1 como una posible consecuencia del principio
de incertidumbre posicin/momento. En concreto, la expresin (1.48)
estableca que la energa de la partcula en el pozo deba ser
h2
.
2ma2
Este hecho muestra de nuevo que la formulacin basada en la ecuacin de Schrdinger es congruente con el principio de Heisenberg.
E
FLML
(1,05 10 34 )2 2
h 2 2
=
= 1,49 10 18 J = 9,34 eV ,
2m e a2
2 9,1 10 31 (2 1010 )2
Apuntes de CF
36
2.2.3.
z
c
a
x
hc
6,6 10 34 3 108
=
= 8,86 nm .
15E0
2,23 10 17
+ 2 + 2 + E p ( x, y, z) = E ,
(2.25)
2m x2
y
z
o bien usando el operador 2 2 /x2 + 2 /y2 + 2 /z2 ,
h 2 2
+ E p ( x, y, z) = E .
(2.26)
2m
Si ahora tenemos en cuenta la forma de la energa potencial dada en
(2.24), la ecuacin anterior puede reescribirse como
2 2 2
+ 2 + 2 + k2 = 0
x2
y
z
0 < x < a,
Apuntes de CF
0 < y < b,
(2.27)
0<z<c,
FLML
37
X ( x) = 0
para
0xa
(2.28a)
Y (y) = 0
para
0yb
(2.28b)
Z (z) = 0
para
0zc
(2.28c)
donde
k2x + k2y + k2z = k2 =
2mE
.
(2.29)
h 2
Ntese que cada una de las ecuaciones (2.28a)(2.28c) es equivalente a
la ecuacin (2.19) ya resuelta para el caso del pozo monodimensional.
Consecuentemente, la solucin del presente vendr dada por
kx = nx
, ky = ny , kz = nz ,
a
b
c
(2.30)
n
8
y
x
z
sen
x sen
y sen
z . (2.31)
n x ny nz ( x, y, z) =
abc
a
b
c
Teniendo en cuenta (2.30) y (2.29), los valores de energa de cada estado vienen finalmente dados por
n2y
h 2 2 n2x
n2z
h 2 k2
.
(2.32)
+
+
=
En x n y n z =
2m
a2
b2
c2
2m
Funcin densidad de estados
z
h 2 2
2
2
2
2
2
2
=
+
n
+
n
=
+
n
+
n
n
n
x
y
z
x
y
z E0 ,
2mL2
(2.33)
x
Apuntes de CF
38
donde
E0 =
h 2 2
.
2mL2
(2.34)
Segn muestra la expresin (2.33), los valores de la energa muestran degeneracin, esto es, existen distintos estados (o, lo que es lo mismo, estados caracterizados por ternas distintas de nmeros cunticos)
que presentan el mismo valor de la energa. Para ver esto en ms detalle considrese la siguiente tabla:
14E0
12E0
11E0
9E0
6E0
3E0
Energa
Degeneracin ( g)
3E0
6E0
9E0
11E0
12E0
(1, 1, 1)
(2, 1, 1), (1, 2, 1), (1, 1, 2)
(2, 2, 1) , (2, 1, 2), (1, 2, 2)
(3, 1, 1), (1, 3, 1), (1, 1, 3)
(2, 2, 2)
(1, 2, 3), (1, 3, 2), (2, 1, 3)
(2, 3, 1), (3, 1, 2), (3, 2, 1)
1
3
3
3
1
14E0
Cubo microscpico
Cubo macroscpico
donde podemos ver que, por ejemplo, seis estados distintos presentan
idntico valor de energa, E = 14E0 .
Pozo de potencial de dimensiones macroscpicas
En el caso de que la partcula (por ejemplo, un electrn) est en el interior de un pozo cuyas dimensiones sean macroscpicas, por ejemplo:
L 1cm, la mnima diferencia energtica entre los distintos estados,
E E0 , se hace extremadamente pequea:
E =
(1034 )2 10
h 2 2
1033 J 1014 eV .
2mL2
1030 (102 )2
Este valor tan diminuto para E hace que, a efectos prcticos, podamos despreciar el hecho de que el espectro de energa est cuantizado
y consideremos a la energa, E, como una variable continua ms bien
que discreta. En consecuencia, incluso en un intervalo infinitesimal de
energa, dE, existirn muchos estados distintos. En esta situacin es
conveniente introducir el concepto de funcin densidad de estados,
g( E). Esta funcin mide la densidad energtica de estados, es decir,
.
g( E)dE =
de energa estn comprendidos en el
intervalo entre E y E + dE
Una manera directa de obtener la funcin densidad de estados requiere el clculo, en primer lugar, del nmero de estados, N ( E), cuyas
energas son menores o iguales que E:
N ( E) = Nmero de estados cuya energa E .
Apuntes de CF
FLML
39
Para llevar a cabo el clculo anterior, considrese la siguiente construccin en la que cada punto, de coordenadas (n x , ny , nz ), representa
un estado cuntico distinto (ntese que n 1, por lo que los puntos
slo aparecen en el octante mostrado). La distancia, R, desde el origen
a cada uno de los puntos viene dada por
R2 = n2x + n2y + n2z ,
o equivalentemente, teniendo en cuenta la expresin de la energa dada por (2.33),
1
E 2
.
(2.35)
R=
E0
El nmero de estados con energas menores o iguales que E puede, por
tanto, calcularse muy aproximadamente como el nmero de puntos
cuya distancia al origen es menor que R( E), esto es
N ( E) =
1
8
E
E0
por lo que
N ( E) =
1 4
E3/2
[ R( E)]3 =
.
8 3
6 E03/2
(2.36)
4Eo3/2
E1/2 dE ,
(2.37)
g(E)
4Eo3/2
4V (2m3 )1/2
V (2m)3/2
=
,
h3
4h3 2
(2.39)
siendo V = L 3 el volumen de la regin macroscpica donde se encuentra la partcula. Este importante resultado ser ampliamente usado en posteriores temas cuando se estudien electrones libres en slidos.
Apuntes de CF
40
Ep(x)
w
V0
x=L
y(x)
Nmeros cunticos
Tal como ya se ha descrito, una de las caractersticas ms importantes de la ecuacin de Schrdinger es que es consistente con muchos de
los postulados de la Fsica Cuntica, hacindose stos explcitos cuando se resuelve matemticamente la ecuacin. Esto ha sido observado,
por ejemplo, en la cuantizacin de los niveles energticos para la partcula en un pozo de potencial. En este sentido, podremos esperar que
la aplicacin de la ecuacin de Schrdinger a la resolucin del tomo
de Hidrgeno reproduzca algunos de los postulados de Bohr, adems
de proporcionar informacin adicional que permita explicar algunos
de los resultados que el modelo de Bohr no poda.
Para resolver la ecuacin de Schrdinger para un tomo hidrogenoide (esto es, aqul compuesto de un ncleo en reposo con una carga positiva Ze y un electrn de carga e orbitando en torno a dicho
Apuntes de CF
FLML
41
ncleo) debemos obtener, en primer lugar, la energa potencial del sistema. Dado que el sistema que estamos estudiando es un conjunto de
partculas cargadas, la energa potencial del sistema debe dar cuenta
de la atraccin electrosttica existente entre el ncleo y el electrn (es
fcil comprobar que la interaccin gravitatoria es totalmente despreciable respecto a la electrosttica), por lo que encontramos que
E p (r ) =
1 Ze2
.
40 r
Ep(r)
r
(2.40)
h 2 2
1 Ze2
= E .
2m
40 r
(2.41)
q
r
x
(2.42)
Apuntes de CF
42
El valor ms probable del radio en el que se puede localizar al electrn aumenta al incrementarse n. Esto sugiere la
existencia de capas en el tomo.
Nmero cuntico orbital l,
Los valores que puede tomar este nmero cuntico son
l = 0, 1, 2, . . . , n 1 .
(2.44)
0
s
1
p
2
d
3
f
...
...
(2.46)
(2.47)
En presencia de un campo magntico, la aparicin de este nmero cuntico da lugar al efecto Zeeman. Este efecto
consiste en que cada raya espectral en ausencia de campo
magntico se desdobla en tres si B = 0. Un anlisis semiclsico muestra que la energa del sistema en presencia de
un campo magntico no slo depende del nmero cuntico
principal n sino que tambin aparece una energa potencial,
E p,m , de origen magntico que viene dada por
E p,m = ml B B ,
Apuntes de CF
(2.48)
FLML
43
(2.49)
s
1
p
3
d
5
f
7
...
...
Cada uno de los estados degenerados anteriores se desdoblar en 2l + 1 estados en presencia de un campo magntico. La aparicin de estos nuevos valores de la energa hace
que aparezcan ms rayas espectrales, de modo que cuando
se tienen en cuenta las reglas de seleccin (reglas que nos dicen que las nicas transiciones entre estados permitidas son
aquellas que verifican l = 1, ml = 0, 1), cada una de
las rayas espectrales originales (cuando B = 0) se desdobla
en tres.
E JEMPLO 2.2 Obtenga el valor del campo magntico aplicado a un gas de hidrgeno si existe una variacin mnima de 120 en la raya espectral correspondiente a la transicin 3 2.
La frmula de Rydberg-Ritz, expresin (1.1), nos dice que la longitud de
onda correspondiente a una transicin con n = 3 y m = 2 es
1
1
1
= 1,0968 10 7
= = 6562,9 .
22
32
Si tenemos en cuenta que la energa debida a la emisin de fotones de longitud de onda es
hc
,
E=
FLML
hc
6,6 10 34 3 108
=
1,2 10 8 = 5,5 10 21 J .
2
(6,57 10 7 )2
Apuntes de CF
44
2.4.2.
E
5,5 10 21
=
= 593,8 T .
B
9,27 10 24
ms = 1/2 .
(2.51)
Apuntes de CF
FLML
45
dado por
e
S,
(2.52)
m
que es, por ejemplo, responsable del origen del campo magntico natural que presentan ciertos materiales (imanes, ferritas,
etc...).
pm,s =
1
0
1s
2
0
2s
1
2p
0
3s
3
1
3p
4
2
4d
0
4s
1
4p
2
4d
3
4f
0
5s
5
1
5p
...
...
Apuntes de CF
46
estado l
nmero mximo de electrones
s
2
p
6
d
10
f
14
...
...
1s
2s2 2p6
3s2 3p6 3d1 0
4s2 4p6 4d1 04f1 4
5s2 5p6 .....
4
1s2 2s2 2p6 3s2 3p6 4s2 3d1 04p6 5s2 4d1 05p6 6s2 4f1 .....
El que se llene antes el nivel 4s que el 3d reside en el hecho anteriormente sealado de que niveles con un bajo valor de l tienden a tener
menos energa y pueden as compensar el incremento producido por
el aumento del nmero cuntico n.
Dado que la interaccin entre distintos tomos se llevar a cabo
fundamentalmente mediante la interaccin de los electrones de sus capas ms externas, la explicacin de las propiedades de los elementos
Apuntes de CF
FLML
47
distribuidos en los distintos grupos de la Tabla Peridica puede relacionarse con la configuracin de sus electrones en las ltimas capas.
Por ejemplo, el comportamiento de las fuerzas interatmicas que condicionarn la formacin de molculas y cristales estar determinado
por la estructura de las capas electrnicas ms externas de los tomos
que interaccionan. Un parmetro importante en este sentido es la electronegatividad, que mide la capacidad de un tomo para capturar o
ceder un electrn de valencia (electrn de su ltima capa). Puede as
explicarse, por ejemplo, el comportamiento inerte de los gases nobles
en funcin de su escasa tendencia a captar o ceder electrones ya que
poseen su capa ms externa p completamente llena. Este hecho, que
implica la ausencia de momento dipolar magntico y elctrico en estos
elementos (dada su distribucin de carga esfrica y la compensacin
mutua de los spines electrnicos) junto con la importante diferencia
energtica que existe entre la capa p llena y la siguiente s, da lugar a
que se necesite mucha energa para romper la muy estable simetra
esfrica de carga usualmente esta energa no est disponible a las
temperaturas ordinarias. Explicaciones de esta misma ndole justificarn tambin el comportamiento de los tomos de los restantes grupos.
FLML
Apuntes de CF
48
Apuntes de CF
FLML
49
2.18: (a) Cul es la configuracin electrnica del litio (Li, Z = 3)?. (b) Suponiendo
que el Li es equivalente a un tomo de hidrgeno, calcular la energa de ionizacin del
electrn de valencia 2s. (c) La energa de ionizacin determinada experimentalmente
para el Li es de 5.39 eV, cul es la carga efectiva positiva que ve el electrn?. (d)
Repetir el clculo anterior pata el potasio (K) que posee un electrn de valencia en el
subnivel 4s, siendo su energa de ionizacin 4.34 eV.
Sol. K: Z eff 2,26e.
FLML
Apuntes de CF
Captulo 3
Materia Condensada
3.1. Estados de Agregacin de la Materia
Recordemos que uno de los objetivos finales de la presente asignatura ser proporcionar los fundamentos fsicos que nos permitan entender el funcionamiento de los dispositivos electrnicos usados en la
actual tecnologa de los computadores. Dado que este funcionamiento se basa en las propiedades del transporte de carga en metales y
semiconductores, los temas anteriores han estado dedicados al estudio de las propiedades cunticas de las partculas portadoras de carga
(fundamentalmente electrones). No obstante, dicho transporte de carga no slo depende de las propiedades intrnsecas de los electrones
sino tambin de la disposicin de los tomos en los slidos. En este sentido, el presente tema mostrar una descripcin elemental de la estructura interna de la materia, haciendo especial hincapi en la estructura
de los metales y semiconductores.
Una posible clasificacin de la materia divide a sta en materia
condensada y materia gaseosa, con las siguientes propiedades generales:
nmero tomos/m3
densidad de masa
distancia interatmica
Materia Condensada
Predominio energa potencial
de interaccin entre sus
componentes
Presencia de orden espacial
en sus componentes
n 1028 tomos/m3
103 kg/m3
d3
Materia Gaseosa
Predominio energa cintica
de traslacin
Distribucin catica de sus
componentes
n 1025 tomos/m3
1 kg/m3
d 200
52
MONOCRISTAL
Anisotropa
POLICRISTAL
Isotropa
estadstica
AMORFO
LQUIDO
GAS
Isotropa
Orden de corto alcance
Desorden
Monocristal:
Presenta fuertes interacciones entre sus partculas componentes
(tomos, grupos de tomos,...), que estn casi en reposo (excepto
por pequeas oscilaciones) en un mnimo de energa potencial.
Las partculas estn dispuestas segn un orden espacial bien determinado que define una estructura peridica tridimensional.
Ejemplos: mayora de metales puros, muchos compuestos inicos, ...
Policristal:
Est compuesto de pequeas regiones o granulos, cada una de
las cuales con la estructura de un monocristal de tamao y orientacin irregular.
Amorfos:
Aunque sus componentes estn bsicamente en reposo, stos
no presentan una estructura espacial bien definida. Ejemplo: vidrios, plsticos, madera, ....
Lquidos:
Sus componentes no presentan fuertes interacciones entre s por
lo que pueden moverse, dando lugar a que estas sustancias adopten la forma de los recipientes que las contienen.
Gases:
Sus componentes apenas interaccionan entre s, estando dotados bsicamente de energa cintica. Pueden considerarse como
un caso extremo de lquidos, presentando menos densidad que
stos.
A continuacin estudiaremos elementalmente los dos casos extremos: gases y monocristales.
Apuntes de CF
FLML
3.2. Gas
3.2.
53
Gas
(3.1)
Gas como un colectivo muy numeroso de partculas rgidas e independientes en constante movimiento cuyas
nicas interacciones se producen a travs de choques
elsticos entre ellas y con las paredes del recipiente que
las contiene.
(Debe notarse que si las partculas del gas estuviesen uniformemente
distribuidas, entonces el movimiento trmico de stas no da lugar a un
movimiento neto; es decir, en un promedio temporal, las partculas no
se desplazan.)
A partir de la descripcin anterior y usando las leyes de movimiento de Newton, la teora cintica nos permite establecer que
PV =
2
N Ec ,
3
(3.2)
PV =
2
N A Ec .
3
Ec =
FLML
3 R
T,
2 NA
Apuntes de CF
54
o, equivalentemente,
Ec =
3
kB T ,
2
(3.3)
siendo
kB =
R
= 1,38 1023 J/K = 8,63 105 eV/K ,
NA
(3.4)
v 2 v2 ,
encontramos, de acuerdo a la expresin (3.3), que
3
1
mv2 = k B T ,
2
2
de donde podemos obtener el siguiente valor para la velocidad media:
3k B T
3RT
v =
=
,
(3.5)
m
M
siendo M = N A m el peso molecular del gas (peso de 1 mol de partculas).
Es interesante notar que esta velocidad es del mismo orden de magnitud que
la velocidad de propagacin del sonido en el gas (el aire contiene aproximadamente un 70 % de nitrgeno).
En el presente ejemplo, M = 14 g = 14 10 3 kg, por lo que
3 8,314 300
v =
731,08 m/s ,
14 10 3
que es aproximadamente el doble de la velocidad del sonido en el aire.
FLML
3.2. Gas
55
(3.6)
Teorema de equiparticin de
la energa
(3.7)
FLML
Apuntes de CF
56
E
.
fMB ( E) exp
kB T
(3.9)
3.3.
Monocristal
Red cristalina es un conjunto infinito y discreto de puntos con una disposicin y orientacin que aparece exactamente la misma desde cualquier punto del conjunto.
Tal como muestra la Fig. 3.1, la red cristalina es una estructura puramente geomtrica que se forma mediante la traslacin peridica (de
periodo T) de una malla o celdilla elemental.
Una de las caractersticas esenciales de esta red cristalina es que
pone de manifiesto la importancia que tiene la disposicin geomtrica
de la estructura espacial peridica del cristal con independencia de
Apuntes de CF
FLML
57
+ T=
a
Celdilla
elemental
Red cristalina
F IGURA 3.1: Formacin de una red cristalina bidimensional a partir de la repeticin
peridica, con periodo T = n 1 a + n2 b, de la celdilla elemental.
Red cristalina
Motivo
Estructura reticular
3.4.
Estructuras reticulares
FLML
Apuntes de CF
58
Cbica
[P]
Cbica centrada
en el interior (bcc)
[Ba,Cr,Cs,Fe,K,..]
Cbica centrada
en las caras (fcc)
[Ag,Al,Au,Cu,..]
(a)
(b)
F IGURA 3.4: (a) Estructura tipo diamante formada por la interpenetracin de dos redes cbicas centradas en las caras y desplazadas una respecto a la otra 1/4 a lo largo
de la diagonal del cubo. (b) Detalle que muestra la disposicin tetradrica de los tomos de las sustancias que cristalizan en esta red cristalina.
por tomos del grupo IV (C, Si, Ge, ...), o bien aqullas formadas por
tomos del grupo III y V, cristalizan en este tipo de red. Dado que la
mayora de los materiales semiconductores estn formados por tomos
de los grupos anteriores, los semiconductores suelen presentar una estructura tipo diamante. Segn muestra la Fig. 3.4(a), la estructura tipo
diamante puede visualizarse como dos redes cbicas fcc interpenetradas y desplazadas una sobre la otra 1/4 sobre la diagonal del cubo,
dando as lugar a una disposicin tetradrica (ver Fig. 3.4b) en la que
cada tomo puede considerarse localizado en el centro de un tetraedro y formando un enlace con cada uno de sus cuatro vecinos ms
prximos. Segn veremos en temas posteriores, esta disposicin tetradrica determina alguna de las propiedades ms caractersticas de
los semiconductores.
FLML
59
stas como empaquetamientos espaciales de esferas rgidas en forma simtrica y compacta. Algunos de los parmetros ms importantes de las
redes cristalinas, fruto de la consideracin anterior, se describen a continuacin.
Nmero de partculas por celdilla elemental, nc
El nmero de partculas por celdilla elemental puede obtenerse
como
nV
n
(3.10)
+ nI + F ,
nc =
8
2
donde n V es el nmero de partculas en los vrtices, n I en el interior y
n F en las caras.
E JEMPLO 3.2 Calcule la densidad del silicio sabiendo que la arista de su celdilla
unidad es a = 5,43 10 8 cm y que su peso atmico es A = 28,1 g.
Dado que el Si cristaliza en una red tipo diamante que est formada por
2 redes fcc interpenetradas, el nmero de tomos por celdilla elemental ser
el doble del de una red fcc. Para la red fcc tenemos que n V = 8, n I = 0 y
n F = 6, por lo que
8
6
nc (fcc) = + 0 + = 4 .
8
2
Para el silicio tendremos, por tanto, que cada celdilla elemental tiene 8 tomos. Si n es el nmero de tomos por m3 , ser
Nmero de tomos por celdilla unidad
nc
= 3
Volumen celdilla unidad
a
8
22
3
=
5 10 tomos/cm .
(5,43 10 8 )3
n=
A nc
,
N A a3
(3.11)
28,1
5 1022 2,3 g/cm3 .
6,02 10 21
ndice de coordinacin
En una celdilla elemental, el ndice de coordinacin es el nmero
de nodos reticulares adyacentes. Este ndice suele determinar el tipo
de enlace que cohesiona a la sustancia.
FLML
Apuntes de CF
60
Fraccin de empaquetamiento, f c
Considerando que cada nodo de la celda unidad es el centro de
una esfera rgida, de modo que las esferas se distribuyen de la forma ms compacta posible, definimos la fraccin de empaquetamiento
como
Volumen de las esferas
n V
= c 3 esf .
(3.12)
fc =
Volumen de la celda
a
La fraccin de empaquetamiento nos proporciona una medida de
lo llena que est la estructura reticular. De las redes cbicas, la ms
compacta es la fcc, mientras que la de menor fraccin de empaquetamiento es la cbica simple.
1
2
a
R= a=
4
8
de donde
y por tanto
4
4
3
nc Vesf
=
3
a
2
=
0,74
6
f c (fcc) =
2
a
4
3
a3
FLML
61
(1)
q
(2)
diferencia de
camino =2dsenq
2d sen n = n .
Aunque la ley de Bragg es una consecuencia de la periodicidad de
la red, sta no manifiesta la composicin de la base de tomos de la
estructura reticular (es decir, si la base es un tomo, un conjunto de
tomos,...). Un estudio ms riguroso muestra que la composicin de
la base se refleja en la intensidad relativa de los diversos rdenes de
difraccin.
FLML
Apuntes de CF
62
Apuntes de CF
FLML
Captulo 4
Fenomenologa
l
,
S
(4.2)
(4.4)
Conductor
64
En funcin del nmero de portadores de carga por unidad de volumen, n, y de la velocidad de arrastre, v a , de estos portadores, la densidad de corriente se define como
J = nqv a .
(4.5)
v a = E ,
(4.6)
0
1 + ( T T0 )
(4.8)
T
decrece con las imperfecciones y/o impurezas de la red.
n 1028 m3 . La concentracin de electrones libres apenas
vara con la temperatura.
Semiconductores
FLML
65
d
> 0, la conductividad aumenta al aumentar la temperadT
tura. Experimentalmente se encuentra que la dependencia
de la conductividad con la temperatura es del tipo
= 0 e/T
lns
(4.9)
1/T
Aislantes
2.
3.
Dado que los dos primeros modelos tratan sobre electrones libres, el
presente tema estar dedicado a ellos, dejndose el tercer modelo para
el siguiente tema.
4.2.
Este primer modelo, desarrollado a finales del siglo XIX y principios del XX (despus del descubrimiento de los electrones en 1897),
propone una teora clsica para la conduccin elctrica en los metales.
El modelo parte del hecho de que muchos metales presentan estructuras reticulares y asume que las fuerzas de cohesin de los metales se
deben al tipo particular de enlace que presentan, esto es, el enlace metlico. En los slidos que presentan este tipo de enlace, se supone que
FLML
Apuntes de CF
66
3k B T
me
(4.10)
FLML
67
eE
,
me
(4.11)
ne2
E,
me
(4.12)
se encuentra que sta es proporcional al campo aplicado, justificndose de este modo la expresin (4.3) para la ley de Ohm. El coeficiente de
proporcionalidad entre J y E nos proporciona la siguiente expresin
para la conductividad elctrica:
=
ne2
.
me
(4.13)
I
Conductor de Cu
Dado que
I
= nev a ,
S
encontramos que la velocidad de arrastre puede expresarse como
J=
va =
I
.
Sne
= N A nmero de moles en 1 m3 ,
donde es el nmero de electrones de valencia (que en el caso del Cu es 1).
El nmero de moles por m3 , , puede calcularse como
=
masa de 1 m3
(gr/m3 )
.
=
masa de 1 mol
A
9 106
8,47 10 28 m3 ,
64
FLML
8,47
10 28
0,1
7,4 m/s .
1,6 10 19 106
Apuntes de CF
68
L0
L
,
= 0
vT
3k B
T
me
(4.14)
donde se ha usado la expresin (4.10) para v T en funcin de la temperatura. Al introducir (4.14) en (4.13) se obtiene finalmente que
ne2 L0
T 1/2 .
=
3k B me
(4.15)
0,78 10 7 (m)1
Apuntes de CF
FLML
69
2.
Ep
Modelo monodimensional
de la Ep de los e en el
interior del conductor.
Apuntes de CF
70
4E03/2
E1/2
(4.16)
h 2 2
.
2me a2
(n x , ny , nz , ms )
La introduccin de este nuevo nmero cuntico introduce una nueva
doble degeneracin (que no fue tenida en cuenta en el Apartado 2.2.3),
de modo que la funcin densidad de estados que debe usarse ser la
dada en (4.16) multiplicada por 2, esto es,
g(E)
g( E) =
2E03/2
E1/2 =
(4.17)
(gas clsico ) .
(4.18)
FLML
71
fFD(E)
1
(4.19)
T=0K
T >0K
siendo E F la energa de Fermi que puede definirse, para nuestros propsitos, como el valor de energa para el cual la funcin distribucin
vale 1/2.
EF
F
f MB ( E) .
fFD ( E)
(4.20)
Si analizamos con detenimiento la dependencia de (4.19) con respecto a la temperatura, nos encontramos con que a T = 0 K, la funcin
distribucin de Fermi-Dirac equivale a la siguiente funcin escaln:
1 si E < EF
(4.21)
f FD ( E) =
0 si E > EF ,
esto es, todos los estados presentan probabilidad unidad de ocupacin
si E < E F y probabilidad nula si E > EF . Podemos comprobar que
esta propiedad apenas vara con la temperatura, excepto en la regin
donde
|E E F | 4k B T ,
fFD(E)
8kT
T=0K
EF
(4.22)
podemos observar que la funcin f FD ( E) slo mostrar cambios apreciables (respecto a su comportamiento para T = 0 K) para temperaturas muy altas, T 3000 K. Esto implicar que en muchos casos de
inters prctico (por ejemplo, a temperatura ambiente), en vez de usar
la expresin complicada (4.19) puede usarse directamente la funcin
escaln (4.21).
Bajo las condiciones anteriores, la distribucin de portadores de
carga con respecto a la energa, dN/dE, muestra entonces que a T >
0 K existen pocos electrones con energas mayores que E F . Esto quiere decir que a temperatura ambiente y similares, la distribucin de
energa es bsicamente la misma que la que se encuentra a T = 0 K.
Fsicamente, esto implica que un aumento moderado de la temperatura respecto a T = 0 K tiene muy poco efecto en el gas cuntico de
electrones.
FLML
T >0K
T=3000K
kBT-EF
EF
dN
dE
T=0K
T >0K
E
Apuntes de CF
72
0
dN ( E)
EF
0
dN ( E) = N ( E F ) ,
(4.24)
es decir,
el nivel de Fermi, E F , puede identificarse con el mximo valor de la energa correspondiente a un estado
ocupado, existiendo como mximo dos electrones en
cada nivel de energa.
Dado que el nmero de electrones con energas E E F sern precisamente todos los del conductor, encontramos que
N ( EF ) = nV .
(4.25)
EF
0
g( E) dE
EF
8V (2m3 )1/2
0
h3
E1/2 dE =
Igualando ahora los resultados de las expresiones (4.25) y (4.26), podemos concluir que
Energa de Fermi en un
conductor
h2
EF =
2me
3n
8
2/3
.
(4.27)
FLML
73
Ec =
0
E dN ( E)
dN ( E)
EF
=
0
E CE1/2 dE
EF
0
CE1/2 dE
3
EF
5
(4.28)
2EF
.
5k B
Apuntes de CF
74
que no se dan las condiciones para que se produzcan estas reflexiones y, por tanto, los electrones podran vagar libremente por
la red sin que sta les ofreciera resistencia alguna (lo que dara
lugar a un valor de conductividad infinito).
El origen de una conductividad finita no se debe entonces al proceso anterior de choques sino que surge fruto de la dispersin de
las ondas electrnicas por las imperfecciones (impurezas y vibraciones trmicas) en la periodicidad del cristal. En particular,
el efecto ms importante proviene de las vibraciones trmicas de
los iones en la red. El efecto de estas vibraciones es aumentar la
seccin eficaz de los iones dando lugar a una dispersin apreciable. Los clculos muestran que el camino libre medio entre
colisiones viene dado por
L0 T 1 ,
(4.29)
Apuntes de CF
FLML
75
4.3: En qu intervalo de energa, expresado en unidades de k B T, la funcin distribucin de Fermi-Dirac cambia de valor 0.90 a 0.10?
Sol.: 4,4 k B T.
4.4: Estimar la fraccin de electrones libres en el cobre que estn excitados a temperatura ambiente. EF (Cu)=6.95 eV.
Sol.: 1 %.
4.5: Calcular la energa de Fermi y la temperatura de Fermi para el oro y el hierro
sabiendo que la densidad electrnica es n(Au) = 5,90 1022 cm3 y n(Fe) = 17
1022 cm3 .
4.6: Considere un sistema con N partculas que nicamente dispone de dos estados
de energa accesibles: E1 = E y E2 = E. Si la probabilidad de ocupacin de un nivel
de energa a temperatura T viene dada por la distribucin de Maxwell-Boltzmann
f = e E/( k B T) , calcule a) la proporcin de partculas, N1 /N2 , en los niveles E1 y E2 ,
b) la cantidad de partculas en cada nivel de energa y c) la energa total del sistema
U.
Sol.: a) N1 /N2 = e2E/kT ; b) como N = N1 + N2 , N1 /N = 1/(1 + e2E/kT ),
N2 /N = e2E/kT /(1 + e2E/kT ); c) U = N1 E1 + N2 E2 = NE tanh ( E/kT ).
4.7: En la distribucin de Fermi si E = E E F , calcule f FD ( E) para E = 2k B T,
4k B T, 10k B T. Qu conclusiones puede extraer de los anteriores resultados?. Demuestre igualmente que f FD ( EF E) = 1 f FD ( EF + E) y discuta los resultados.
4.8: A una temperatura de 300 K (EF = 5,1eV): (a) cul es la probabilidad de que un
estado est ocupado para energas de 5 y 6 eV?; (b) a qu temperatura la probabilidad
de ocupacin del estado de energa E = 5,2eV es de 0.1?
Sol.: (a) 0.979, 7,08 1016 ; (b) T = 528 K.
4.9: Sabiendo que la energa de Fermi para el cobre es de 7.0 eV, determnese a
1000 K : (a) la energa a la que la probabilidad, f F ( E), del estado que ocupar un
electrn de conduccin sea de 0.9; (b) la funcin distribucin de estados o densidad
de estados, g( E), por unidad de volumen; y (c) la funcin de distribucin de partculas dn( E) = g( E) f FD ( E).
Sol.: 6.81 eV; 1,79 1028 m3 eV1 ; 1,6 1028 m3 eV1 .
4.10: Un cubo muy pequeo de Cu tiene 0.1 mm de lado. Cuntos electrones de
conduccin contiene que posean energas comprendidas entre 5 y 5.025 eV?
Sol.: 3,8 1014 electrones.
4.11: El magnesio es un metal bivalente con un peso atmico de 24.32 g/mol y una
densidad de 1.74 g/cm3 . (a) Cul es la densidad de electrones libres?; (b) Cul es
la energa de Fermi?; y (c) Cul es la longitud de onda de De Broglie de los electrones
en el nivel de energa de Fermi?.
Sol.: (a) 8,4 1028 m3 ; (b) EF = 7,07 eV; (c) = 4,62 .
4.12: Los niveles energticos electrnicos en un pozo infinito de potencial tridimensional estn dados por la expresin: E(n 1 , n2 , n3 ) = E0 (n21 + n22 + n23 ). Encontrar las
diferencias fraccionales, [ E(n i , n j , n k ) E(n i , n j , n k )] /E(n i , n j , n k ), en la energa entre
los pares de estados dados por: (a) E(1, 1, 1) y E(1, 1, 2); (b) E(10, 10, 10) y E(9, 10, 11);
y (c) E(100, 100, 100) y E(99, 100, 101). (d) Qu conclusin puede ser deducida de
estos resultados?
4.13: Si admitimos que, segn la teora cuntica del electrn libre, la energa media
de un electrn el cobre viene dada por
E = 35 EF +
FLML
2
4
kB T
k T,
EF B
Apuntes de CF
76
2EF 1/2
, como
me
aquella que adquieren los electrones de conduccin en el gas de Fermi, calcule el
recorrido libre medio, l, de los electrones en el oro sabiendo que E F = 5,53 eV y =
2,04 cm. Compare este valor con la distancia promedio entre tomos y discuta el
resultado.
Sol. l= 414 .
4.14: Si consideramos a la velocidad de Fermi, definida como v F =
4.15: Calcule la energa de Fermi (el valor de la energa del ltimo estado lleno a
T = 0 K) para un conductor monodimensional que consta de 23 electrones en un
pozo de potencial monodimensional de paredes infinitas y anchura 6 . Tenga en
cuenta que el principio de exclusin prohbe la existencia de ms de dos electrones en
el mismo estado cuntico.
Sol. E F = 149, 4 eV.
Apuntes de CF
FLML
Captulo 5
siendo
h 2 d2
+ E p ( x ) = E
2me dx2
E p ( x ) = E p ( x + a) .
77
(5.2)
E p (r) = E p (r + T)
78
Ep
e2
Ep=-K r
(a)
(b)
F IGURA 5.1: (a) Energa potencial (o, simplemente, potencial) debida a la interaccin
culombiana de un electrn con un ion positivo. (b) Potencial de un electrn en una
red monodimensional de iones positivos.
Esta tarea fue llevada a cabo por Bloch, quien encontr que la funcin
de onda de un electrn en la red peridica monodimensional deba
ser del tipo
(5.3)
( x ) = uk ( x )e jkx
con
uk ( x ) = uk ( x + a) ,
que puede verse como la funcin de onda del electrn libre (e jkx )
modulada por una funcin uk ( x ) que presenta la misma periodicidad
que la red.
Operando con este tipo de funciones de onda encontraramos que
los niveles de energa del slido se agrupan en bandas de energa,
segn nos muestra la relacin E k en la Figura 5.2(a). La energa
F IGURA 5.2: (a) Relacin de dispersin E k para un electrn que se mueve en una
red peridica monodimensional de periodo a. (b) Diagrama simplificado de bandas
de energas permitidas y prohibidas.
E = E(k) es una funcin continua en ciertos intervalos de k que experimenta saltos para determinados valores del nmero de ondas
Apuntes de CF
FLML
5.1.
Modelo cuntico del electrn ligado
79
b)
E1
E2
F IGURA 5.3: Funcin de onda asociada con (a) estado fundamental y (b) primer estado
excitado de una partcula en un pozo de potencial finito.
Para el caso del pozo doble de potencial finito (Fig. 5.4a), un electrn en el estado fundamental que est el pozo 1 tendr una funcin
FLML
Apuntes de CF
80
F IGURA 5.4: (a) Pozo doble finito monodimensional. (b) Funcin de onda asociada
de un electrn que est en el pozo 1 en el estado fundamental. (c) Funcin de onda
asociada de un electrn que est en el pozo 2 en el estado fundamental. (d) Funcin
de onda simtrica que representa a un electrn que puede estar con igual probabilidad en ambos pozos. (e) Densidad de probabilidad asociada con el caso anterior.
(f) Funcin de onda antisimtrica que representa a un electrn que puede estar con
igual probabilidad en ambos pozos. (g) Densidad de probabilidad asociada con el
caso anterior.
Apuntes de CF
FLML
5.1.
Modelo cuntico del electrn ligado
81
( x ) debe presentar un aspecto similar en aquellas regiones correspondientes al caso de un electron localizado en un nico pozo.
yS
yA
|yS|2
|yA|
ES=EA
F IGURA 5.5: Forma de las funciones de onda simtrica y antisimtrica cuando los
pozos de potencial finito se aproximan.
que la funcin de onda simtrica, S , presenta para este caso una forma similar a la funcin de onda correspondiente al estado fundamental del pozo simple finito de anchura doble (Fig. 5.3a) y, anlogamente,
la funcin de onda antisimtrica, A , es similar a la funcin de onda
del primer estado excitado del pozo simple finito de anchura doble
(Fig. 5.3b). Dado que las funciones del pozo simple correspondan a
diferentes niveles de energa, puede concluirse que
Apuntes de CF
82
E2
E2
E1
E1
distancia
interatmica
F IGURA 5.6: Modificacin de los niveles energticos asociados a los electrones externos de un sistema de 2 tomos
El fenmeno de desdoblamiento observado para dos tomos puede claramente extenderse a un sistema de ms tomos (por ejemplo 5,
tal como muestra la Fig. 5.7). En este caso encontraremos que por cada
nivel original de las capas del tomo individual aparecern ahora tantos niveles como tomos haya en el sistema multiatmico. Igualmente
observamos cmo los niveles de las capas ms externas (nivel E2 ) sufre un desdoblamiento ms amplio que el correspondiente a las capas
ms internas (nivel E1 ).
Si este modelo se sigue extendiendo hasta completar el nmero
total de tomos del slido (n 1028 m3 ), los niveles discretos de energas (correspondientes al despliegue de los niveles originales de los
tomos individuales) apareceran ahora tan cerca que daran lugar a
una configuracin cuasicontinua de niveles energticos. Debido a esta
Apuntes de CF
FLML
5.1.
Modelo cuntico del electrn ligado
83
E
E2
E2
E1
E1
distancia
interatmica
F IGURA 5.7: Modificacin de los niveles energticos asociados a los electrones externos de un sistema monodimensional de N tomos
E
3s
2N
3s
6N
2p
2p
2N
2s
2s
2N
Banda 1s
1s
Debido a que las propiedades fsicas de los slidos dependen bsicamente de la configuracin de las ltimas bandas de energa, stas
sern la de mayor inters para la conductividad elctrica. La denominacin usual para estas ltimas bandas es la siguiente:
Banda de Valencia (BV): es la banda de energa ms alta conteniendo electrones.
Bandas Prohibidas (BP): corresponden a aquellos valores de energa en los cuales no hay niveles permitidos.
Banda de Conduccin (BC): Si la BV est parcialmente llena, esta banda se denomina banda de conduccin y si la BV est totalmente llena (a T = 0 K) entonces la BC ser aquella banda
inocupada inmediatamente superior a la BV.
Debe notarse que la anterior discusin sobre la formacin de bandas se basa en un modelo simplificado monodimensional que no ha
FLML
Apuntes de CF
84
tenido en cuenta las caractersticas tridimensionales del cristal. Cuando stas se tienen en cuenta, la formacin de bandas de energa puede
presentar algunas variaciones importantes respecto al modelo simple
presentado anteriormente. En concreto cabe destacar el fenmeno de
hibridacin de bandas, que consiste en la existencia de bandas de energa formadas combinando niveles de energa procedentes de diferentes niveles originales.
5.2.
El modelo de bandas expuesto anteriormente podr explicar satisfactoriamente la existencia de conductores y semiconductores/aislantes. Debe notarse que para que los electrones respondan al campo
elctrico externo (y por tanto contribuyan a la corriente elctrica), stos deben poder ganar energa y situarse en estados energticos superiores. En consecuencia, slo aquellos electrones que posean estados superiores prximos disponibles vacos y permitidos respondern a
la accin del campo elctrico externo. Siguiendo este mismo razonamiento podemos igualmente concluir que aquellos electrones cuyas
energas correspondan a las de una banda completamente llena NO
contribuirn a la corriente,
Jbanda llena = 0 .
(5.4)
FLML
T=0 K
85
BC
Eg
BV
Aislante
BC
Semiconductor
(BC)
BV
BV
Conductor
F IGURA 5.9: Situacin de las bandas energticas ms externas para Aislante, Semiconductor y Conductor
3s
1N
2p
6N
2s
2N
1s
2N
tomo de Na
Slido de Na
Apuntes de CF
86
2N
de 8N
Banda 3s3p
6N
Banda 2p
2N
Banda 2s
2N
Banda 1s
Situacin para Mg
2N
de 4N
Banda 2p
2N
Banda 2s
2N
Banda 1s
Situacin aparente para C
E
2p
Eg
2s
1s
ro
Separacin
interatmica
E
Eg
5.3.
Masa efectiva
Una de las consecuencias ms importantes de la existencia de bandas en los slidos se manifiesta en la respuesta que presentan los electrones ligados a un campo elctrico externo, E . La distinta respuesta
de los electrones en funcin de su situacin en las bandas de energa
ser recogida por la magnitud masa efectiva, m . En concreto, esta magnitud nos relacionar directamente la aceleracin, a, del electrn con
Apuntes de CF
FLML
87
Fext
.
m
(5.5)
(5.6)
Esta expresin nos clarifica que en aquellos casos en los que existan
fuerzas internas no existir una relacin trivial entre la aceleracin y
las fuerzas externas dado que ser precisamente la masa efectiva (m )
la que recoger el efecto global de las fuerzas internas.
Electrn libre
Antes de tratar el electrn ligado, repasaremos brevemente las caractersticas bsicas que se encontraron para el electrn libre. En concreto se encontr que la energa del electrn libre (ver expresin (2.14))
vena dada por la siguiente expresin:
E=
h
k2 .
2me
(5.7)
Dado que en el presente caso slo actan sobre el electrn la fuerza externa debido al campo elctrico aplicado (E ), tendremos que la
ecuacin (5.6) viene dada por
Fext = eE = me a ,
(5.8)
eE
.
me
(5.9)
Apuntes de CF
88
Parte cuntica.
El movimiento del electrn se supone que est regido por las
caractersticas de propagacin de su funcin de onda asociada.
En este sentido, la velocidad del electrn, v, vendr dada por la
velocidad de grupo de la onda,
vg =
d
.
dk
= Fext dx = eE dx = eE
dx
dt = eE vdt
dt
(5.11)
(5.13)
eE dv
,
h dk
que puede reescribirse al sustituir el valor de v(k) dado por (5.10) como
eE 1 d2 E
(5.14)
a=
h h dk2
Apuntes de CF
FLML
89
o, equivalentemente,
a=
eE
2
1 d E
h 2 dk2
1 .
(5.15)
m = h
d2 E
dk 2
1
.
(5.16)
h 2
dE
=
k
dk
me
luego segn (5.16)
h 2
d2 E
=
,
me
dk2
m = me .
k
v
k
2
1 dE
,
h dk
,
m = h
dk2
d E/dk
m*
Apuntes de CF
90
1.
2.
3.
5.4. Huecos
BC
Eg
BV
El hecho de que la masa efectiva de los electrones en el borde superior de la banda sea negativa tiene unos efectos trascendentales sobre
el fenmeno de conductividad elctrica en el slido. En este sentido
estudiaremos la contribucin a la corriente elctrica de los electrones
de una banda cuasillena. Esta situacin se encuentra tpicamente para un semiconductor intrnseco en el que algunos electrones del borde
superior de la BV migran hacia la BC por excitacin trmica. Como ya
hemos discutido, los electrones que han migrado a la BC contribuirn
a la corriente elctrica del modo usual a como lo hacen los electrones
libres en los metales. Para tratar la contribucin a la corriente elctrica
de los electrones que permanecen en la BV (que se denominar J resto ),
analizaremos en primer lugar una situacin que involucra a todos los
electrones de la BV menos a uno. Tal como ya se seal en el apartado
5.2, debemos notar que la corriente elctrica de una banda totalmente
llena es nula:
Jllena = 0 .
Esta corriente puede a su vez descomponerse en la corriente, J i ,
producida por un nico electrn i situado en el borde superior de la
BV ms la producida por el resto de electrones de dicha banda, J resto .
Apuntes de CF
FLML
5.4. Huecos
91
Es claro que esta ltima corriente describe la contribucin de los electrones de la banda de valencia cuasillena, pudindose escribir como
Jresto = Jllena Ji = Ji ,
es decir, la corriente debida a todos los electrones de la BV menos el
electrn i es equivalente a menos la corriente del electrn i situado en
el borde superior de la BV. Dado que
Ji = evi
y teniendo en cuenta que la velocidad, v i , puede escribirse, en analoga con la expresin (4.11), como
vi = ai i ,
encontramos que
Jresto = eai i .
(5.17)
Fexterna
eE
=
.
mi
mi
Apuntes de CF
92
(5.19)
Apuntes de CF
FLML
93
FLML
Apuntes de CF
Captulo 6
Bandas de Energa en
Semiconductores
6.1. Introduccin
El estudio terico de los semiconductores fue realizado bsicamente (Wilson, Shockley,...) en la dcada de los 30 del siglo XX. No obstante, el uso tecnolgico de los semiconductores no se inici hasta unas
dos dcadas despus debido, en gran parte, a la dificultad en la obtencin de muestras puras de material semiconductor. Desde un punto de
vista tecnolgico, algunas de las caractersticas que hacen atractivos a
los semiconductores pueden ser las siguientes:
Aparicin de dos tipos de portadores de carga: electrones (e )
en BC y huecos (h + ) en BV. El hecho de que la conduccin elctrica se produzca por dos tipos de portadores ofrece una mayor
flexibilidad de diseo y ampla considerablemente las posibilidades tecnolgicas de estos materiales respecto a los conductores y/o aislantes.
Las propiedades fsicas de los semiconductores son altamente
dependientes de la concentracin de impurezas aadidas al material. Esto permite construir muestras de semiconductor con
muy diversas caractersticas fsicas, propiedad que puede ser
eficazmente usada para el diseo de dispositivos electrnicos y
optoelectrnicos.
La mayora de los componentes electrnicos y optoelectrnicos
pueden realizarse sobre la misma muestra de semiconductor por
lo que se pueden integrar en un mismo chip muchos dispositivos
diferentes.
El inters prctico de los semiconductores se pone de manifiesto en
su amplia utilizacin en la tecnologa actual. Su uso es fundamental en
95
96
Prcticamente todos los elementos usados en Electrnica pueden realizarse usando materiales semiconductores de distinto
tipo (por ejemplo: resistencias, diodos, transistores, puertas lgicas, etc) y, por tanto, pueden ser integrados conjuntamente en
un mismo chip.
Comunicaciones.
6.2.
Generacin trmica
BC
BV
Apuntes de CF
FLML
97
T RANSICIONES D IRECTAS.
Este tipo de transiciones se da cuando el mnimo de la BC
coincide, para el mismo valor de k (usualmente k = 0), con
el mximo de la BV. Este hecho permite que pueda darse la
mnima transicin energtica entre las dos bandas sin que
haya un cambio en el momento lineal (debido a que k no
vara). En este tipo de transiciones se absorbe un fotn simultneamente a la transicin electrnica entre bandas.
T RANSICIONES I NDIRECTAS.
En este caso, la forma de las bandas es tal que el mnimo
de la BC y el mximo de la BV no ocurren para el mismo
valor de k. Este hecho implica que una transicin electrnica entre BV y BC debe llevar aparejado un proceso que d
cuenta del cambio de momento lineal necesario. En la prctica esto implica que el electrn debe primero realizar una
transicin haca otro estado (usualmente un estado energtico provocado por la presencia de algn defecto en la red)
y desde ah realizar la transicin entre bandas sin intercambio de momento. En otras muchas transiciones indirectas,
el proceso de cambio de momento suele deberse a un intercambio de calor con la red.
Adicin de impurezas.
Si se aaden tomos de elementos que no estn en la columna IV
(usualmente llamados impurezas substitutorias), se produce un
incremento de la concentracin de electrones en BC y/o huecos
en BV. La seleccin del tipo de impureza que se aade provocar
un aumento considerable del nmero de e o bien de h+ . Es interesante notar que este proceso de generacin, al contrario que
los anteriores, no genera pares de e /h+ sino que slo genera un
tipo de portadores.
Un estudio de las causas que intervienen en la generacin y recombinacin de pares e /h+ nos permitira concluir que la velocidad de
generacin de pares e /h+ , G, depende de la temperatura de operacin y del proceso concreto que origina dicha generacin, mientras
que la velocidad de recombinacin de estos pares, R, se encuentra que
FLML
Apuntes de CF
98
R = r np ,
(6.1)
BC
BV
Apuntes de CF
A T = 0 K.
Dado que la estructura reticular tpica de los semiconductores
es la estructura tipo diamante (ver Apartado 3.4), cada uno de los
tomos del cristal aparece rodeado de cuatro vecinos prximos
de manera que forma un doble enlace covalente con cada uno de
ellos (cada tomo proporciona cuatro electrones) para obtener
la configuracin del octete. Esta configuracin no deja ningn
electrn fuera de los enlaces covalentes, por lo que el material se
comporta como un aislante.
Desde el punto de vista del modelo de bandas, la anterior configuracin se traduce en la presencia de una Banda de Valencia
completamente llena y una Banda de Conduccin completamente vaca separadas por una banda prohibida de anchura Eg .
FLML
99
A T > 0 K.
Debido a la agitacin trmica, existe cierta probabilidad de que
alguno de los enlaces covalentes del cristal pueda romperse dando lugar a un electrn que no est localizado en las inmediaciones de un tomo particular (est deslocalizado y extendido por
la red por lo puede funcionar como un portador de carga para
conducir una corriente a travs del cristal). A su vez, queda un
enlace roto que puede ser ocupado por alguno de los electrones
adyacentes provocando de esta manera otro posible movimiento adicional de cargas que puede identificarse con la aparicin
de un hueco1 .
e-
n = p ni .
(6.2)
BC
BV
Concentracin de e y h+ es la
misma en un semiconductor
intrnseco
(6.3)
1 Tal como muestra la figura adjunta, la aparicin de un par e /h+ en la red podra tambin considerarse teniendo en cuenta que, en dicha red, un tomo con un
enlace roto puede verse como un tomo normal ms un par e /h+ . Para visualizar esto, consideremos que cada tomo de la red contribuye a los enlaces con cuatro
de sus electrones y, en este sentido, caractericemos cada tomo por sus cuatro electrones de valencia junto con sus correspondientes cuatro protones que den cuenta de la
neutralidad de la carga en el tomo. En este sentido, un tomo normal ms un par
e /h+ , tras la posible recombinacin de uno de los electrones ligados al tomo con
el hueco, sera equivalente al tomo con uno de sus enlaces rotos.
4
tomo normal +
par e- / h+
FLML
4
e- y h+ que
se recombinan
tomo con un
enlace roto
Apuntes de CF
100
6.3.2.
fn(E)
1
f n ( E) =
EF
fp(E)
1
.
E EF
exp
+1
kB T
(6.4)
EF
BC
EC
EF
EV
BV
Apuntes de CF
FLML
101
EF
E
g(E)
F IGURA 6.1: Funcin densidad de estados para electrones libres en un metal.
FLML
Apuntes de CF
102
(2me )3/2
( E EC )1/2
2h3 2
(6.6)
E
BC
EC
EC
BV
gn(E)
Huecos en Banda de Valencia
Anlogamente al caso de los electrones en BC, la densidad de huecos en BV, g p ( E), viene dada por
g p ( E) =
(2mh )3/2
( EV E)1/2 ,
2h3 2
(6.7)
E
BC
EV
BV
gp(E)
Apuntes de CF
FLML
103
( E EC )1/2
,
E EF
exp
+1
kB T
dn
= gn ( E ) f n ( E ) = C n
dE
(6.8)
BC
EC
EF
EV
BV
gn(E)
fn(E)
dn/dE
dp
= g p ( E) f p ( E) = C p
dE
( EV E)1/2
.
EF E
exp
+1
kB T
(6.9)
E
BC
EC
EF
EV
BV
gp(E)
fp (E)
dp/dE
FLML
Apuntes de CF
104
E
e
EF
METAL
g(E)
f (E)
BC
EF
h+
BV
AISLANTE
BC
EF
h+
BV
SEMICONDUCTOR
Apuntes de CF
FLML
105
Si ;
T=0 K
T>0K
+
P=>P + e
F IGURA 6.5: Estructura de bandas de un semiconductor dopado con impurezas donadoras. A bajas temperaturas, el nmero de transiciones de electrones a la BC se debe
principalmente a la presencia de los tomos donadores (ocurren pocas transiciones
de origen trmico).
de un nuevo nivel de energa, E D , (con 2ND estados posibles) correspondiente a los electrones deslocalizados de los tomos de impurezas
donadoras. Este nivel de energa aparecer cercano al borde inferior
de la BC y as, por excitacin trmica, existir una alta probabilidad
FLML
Apuntes de CF
106
tomo Si +
carga neg. fija + h+
3
e- y h+ que
se recombinan
tomo Al
F IGURA 6.6:
de que los electrones de este estado pasen a la BC y, por tanto, incrementen la concentracin de electrones en dicha banda. Debe notarse
que el aumento de electrones en esta banda no va acompaado de un
incremento anlogo de huecos en BV dado que la correspondiente carga positiva corresponde al ion de la impureza donadora permanecer
fijo en el cristal.
La discusin anterior tambin nos permite predecir cualitativamente que la posicin del nivel de Fermi a T = 0 K debe estar situada
entre E D y EC , puesto que as aseguraramos que a 0 K no hay electrones en BC y el nivel E = E D est lleno.
Si
Al
T=0K
h+
T>0K
-
Al=>Al + h
Apuntes de CF
FLML
107
p>>n
EC
e- portadores minoritarios
EA
EV
h+ portadores mayoritarios
T=0K
T > 0 K (~50 K)
FLML
Apuntes de CF
108
BC
e
EF
h+
BV
Semic. Intrnseco
BC
e
EF
h+
BV
Semic. tipo n
BC
e
EF
+
h
BV
Semic. tipo p
Apuntes de CF
FLML
109
que puede producir una radiacin de 1.5 MeV?; b) si la resolucin del detector es
de 4 103 pares e/h, cul es la resolucin de la energa ptima del detector?
Sol. (a) N = 2,238 106 , (b) E = 2,68 103 eV.
6.3: La luz visible del espectro est compuesta por fotones con longitudes de onda
comprendidas entre 4000 y 7000 (equivalente a energas entre 1.8 y 3.1 eV). Para
el diamante el ancho de la BP es de 6 eV. Explicar por qu el diamante es transparente.
Asimismo, explicar por qu el Si cuya BP es de 1.1 eV es transparente al infrarrojo (IR)
de frecuencia comprendida entre 1012 y 1014 Hz y no lo es a la radiacin visible.
6.4: Suponer que la energa de Fermi de un semiconductor intrnseco est en mitad
de su banda de energa prohibida y que la anchura de sta es grande en comparacin
con kT. Demostrar que la probabilidad de ocupacin de un estado de energa E est
dada aproximadamente por a) f n ( E) = e( E EF ) /kT para un electrn en la banda de
conduccin y b) f p ( E) = 1 f n ( E) = e( EF E) /kT para un hueco en la banda de
valencia.
6.5: El GaAs es un semiconductor con una banda prohibida (BP), Eg = 1,43 eV. Dentro de esta BP aparecen niveles de energa debidos a impurezas. Medidos respecto a
la BV estos niveles estn a 0.05 eV para el Al y 1.38 para el P. Cul de estas impurezas
acta como donadora y cul como aceptora?. Razone la respuesta.
FLML
Apuntes de CF
Captulo 7
Portadores de carga en
Semiconductores
7.1. Introduccin
Tal como se ha venido sealado, las propiedades elctricas de los
semiconductores vienen bsicamente determinadas por la presencia
de electrones en la BC y de huecos en la BV (dado que son estos portadores de carga los que determinen el flujo de corriente elctrica en el
material). Por este motivo, este tema estar dedicado al estudio de las
propiedades de estos portadores de carga. En particular estudiaremos
en primer lugar cuntos portadores hay para poder as determinar los
factores que influyen en la conductividad elctrica del semiconductor. Posteriormente estudiaremos la respuesta de un semiconductor al
efecto de un campo externo, para lo cual analizaremos los distintos tipos de corriente que aparecen y dedicaremos una especial atencin a
un nuevo tipo de corriente (corriente de difusin) que surge fruto de
una concentracin no uniforme de portadores. Finalmente obtendremos las ecuaciones que determinan la distribucin espacial de portadores en algunas situaciones de gran inters prctico.
(7.1)
donde n y p son las movilidades de los electrones y huecos respectivamente. Es interesante notar que las movilidades dependen inversamente de la masa efectiva. Por ejemplo para electrones en BC, an
analoga con la expresin (4.12) para electrones libres en metales, se
111
112
tiene que
ne2 n
E
me
(donde se ha usado la masa efectiva en vez de la masa en reposo), por
lo que
ne2 n
,
n =
me
y dado que n = enn , encontramos finalmente que
en
(7.2)
n = .
me
Jn =
BC
dn
dE =
dE
BC
gn ( E) f n ( E) dE .
(7.3)
Al sustituir las expresiones matemticas encontradas en el tema anterior para gn ( E) y f n ( E), la integral (7.3) (as como su equivalente
para el clculo de p) presenta una forma para la que no es posible
encontrar su primitiva en forma cerrada. Para intentar solventar este inconveniente, podemos hacer uso del hecho de que, en muchas
situaciones tpicas (para temperaturas no excesivamente altas y siempre que la concentracin de impurezas que se aadan sea una fraccin
del nmero de tomos originales del cristal), la posicin del nivel de
Fermi est situada por debajo de E C (o bien arriba de EV para huecos
en BV) al menos unas cuantas unidades de k B T. Cuando se dan estas
condiciones, es decir, si
Condiciones de un conductor
NO degenerado
EC E F k B T
(7.4a)
EF EV k B T ,
(7.4b)
se dice que el semiconductor es no degenerado. Este hecho nos permite usar la siguiente expresin aproximada para la probabilidad de
ocupacin de electrones en BC:
1
E E F
exp
.
(7.5)
f n ( E) =
E EF
kB T
E
E
C
exp
+1
kB T
Ntese que la anterior expresin aproximada de la funcin distribucin de Fermi-Dirac tiene la misma forma que la funcin distribucin
de Maxwell-Boltzmann, tal como ya se discuti en (4.20). Dado que
f n ( E) decae exponencialmente a cero para valores de energa alejados
de EC (E EC ), el lmite de integracin superior de la BC puede sustituirse por infinito, de modo que la concentracin de electrones puede
obtenerse con buena aproximacin como
E EF
dE .
(7.6)
Cn ( E EC )1/2 exp
n=
kB T
EC
Apuntes de CF
FLML
113
E EC
,
kB T
(7.7)
Concentracin de electrones
en BC
donde NC es una constante del semiconductor llamada densidad efectiva de estados en BC que viene dada por
NC = 2
me k B T
3/2
.
2h2
(7.8)
Concentracin de huecos en BV
(7.9)
mh k B T
3/2
2h2
(7.10)
Apuntes de CF
114
Ei EV
pi = NV exp
,
kB T
(7.12)
(7.13)
(7.14)
np = n2i .
(7.15)
Esta ley conocida como ley de accin de masas muestra que el producto de la concentracin de electrones en BC por huecos en BV para
cualquier semiconductor es siempre igual al cuadrado de la concentracin intrnseca de electrones y/o huecos.
Apuntes de CF
FLML
115
Eg
.
NC NV exp
2k B T
(7.16)
Concentracin de e y h+ en un
semiconductor intrnseco
1,1 40
ni = 4,39 5,95 10 24 exp
1,42 10 15 m3 ,
2
donde hemos hecho uso de que, a temperatura ambiente, k B T 1/40 eV.
En el apartado 5.2 se discuti que la anchura de la BP, E g , determinaba el que un slido fuese considerado aislante o bien semiconductor. La expresin (7.16) muestra que la concentracin de electrones
en la BC decrece exponencialmente al aumentar Eg , justificando claramente porqu el diamante (E g 6 eV) es un buen aislante y sin
embargo el Si (Eg 1 eV) es un semiconductor.
Eg ( C)
NC NV C exp
n i ( C)
2k B T
=
.
Eg (Si)
ni (Si)
NC NV Si exp
2k B T
Despreciando las posibles pequeas diferencias existentes respecto a las masas efectivas en el diamante y en el silicio obtenemos que
6 (eV)
exp
2,5 (eV)
n i ( C)
2k B T
= exp
.
1 (eV)
ni (Si)
kB T
exp
2k B T
FLML
Apuntes de CF
116
n + NA = p + ND + .
(7.17)
Si la temperatura de operacin es tal que las impurezas se han ionizado completamente (lo cual puede considerarse que ocurre aproximadamente a temperatura ambiente), esto es, si N A NA y ND + ND ,
entonces la ecuacin de neutralidad de la carga espacial en el semiconductor puede escribirse como
n + NA = p + ND .
(7.18)
Esta ley junto con la ley de accin de masas (7.15) nos permitir calcular las concentraciones de e y h+ en funcin de las concentraciones
Apuntes de CF
FLML
117
de impurezas donadoras/aceptoras y la concentracin intrnseca. Para ello, partiendo de p = n 2i /n y sustituyndolo en (7.18), obtenemos
que
n + NA =
n2i
+ ND
n
n2 ( ND NA )n n2i = 0 .
7.3.1.
n2i
.
n
(7.20)
Clculo aproximado de n y p
n2i
ND
(7.21)
.
(7.22)
Semiconductor tipo p
Si en este caso ND = 0, la ecuacin de neutralidad de la carga
queda como
n + NA = p .
Suponiendo de nuevo que la generacin de huecos por excitacin trmica puede despreciarse frente a la generacin de huecos debido a la ionizacin de las impurezas aceptoras, esto es,
cuando
NA n i ,
FLML
Apuntes de CF
118
n2i
NA
(7.23)
.
(7.24)
ND = 0 .
Por otra parte, segn el dato para n i obtenido en el ejemplo 7.1, tenemos que
NA n i ,
por lo que podemos usar las aproximaciones (7.23) y (7.24) para obtener finalmente que
p 1019 m3
n
(1,42 10 15 )2
2 1011 m3 .
1019
Apuntes de CF
FLML
119
La expresin anterior indica que el nivel de Fermi para un semiconductor intrnseco se sita aproximadamente en el centro de la BP, desviado de ella el factor 34 k B T ln(mh /me ). Supuesto que la temperatura
no es muy alta y que m e mh , este factor es despreciable respecto al
primer trmino y, por tanto,
Ei EV +
Eg
2
para la mayora de los casos tpicos en los semiconductores intrnsecos, tal y como ya se predijo de forma cualitativa en el Apartado 6.3.2.
Semiconductores extrnsecos
En el supuesto de que se cumplan las aproximaciones (7.4a) y (7.4b)
dadas en el apartado 7.3.1, la posicin del nivel de Fermi en semiconductores extrnsecos puede igualmente determinarse con facilidad.
Semiconductor tipo n
Dado que en este caso n p, la expresin (7.25) nos dice que
la posicin del nivel de Fermi se desplazar claramente hacia el
borde inferior de BC (tal y como ya se predijo anteriormente de
una forma cualitativa). Una expresin til para el clculo de EF
se obtiene al combinar las ecuaciones (7.7) y (7.21),
EC E F
,
ND = NC exp
kB T
y despejar E F , de donde
EF = EC kT ln
NC
.
ND
(7.27)
EF
EC
ED
Ei
EV
Apuntes de CF
120
EC
Ei
EA
EV
Semiconductor tipo p
Segn la expresin (7.25), para un semiconductor tipo p (p n),
la posicin del nivel de Fermi se desplaza hacia el borde superior
de BV. De forma aproximada, se puede calcular E F sustituyendo
(7.23) en la expresin (7.9)
EF EV
NA = NV exp
kB T
y despejando de aqu E F para obtener
EF = EV + kT ln
NV
.
NA
(7.28)
E JEMPLO 7.4 Para el problema del Ejemplo 7.3, calcular la posicin del nivel de
Fermi a temperatura ambiente.
Dado que en el presente caso NA = 1019 m3 y que, segn el Ejemplo 7.1,
NV = 5,95 10 24 m3 , al sustituir en (7.28) obtenemos que
EF EV = kT ln
NV
5,95 10 24
= 0,025 ln
= 0,33 eV.
NA
1019
Apuntes de CF
FLML
121
encontrndose experimentalmente una dependencia con la temperatura tal que existe una relacin lineal entre el ln y el inverso de la
temperatura, 1/T. A continuacin veremos que esta dependencia puede ya explicarse a partir de las expresiones obtenidas anteriormente en
el tema.
Semiconductor Intrnseco
Dado que en este caso n = p n i , (7.1) puede reescribirse como
= e( n + p ) n i .
(7.29)
(7.30)
FLML
Apuntes de CF
122
4927
( T = 300 K)
2 8,625 10 5 500 300
y, por tanto,
( T = 500 K) 0,2 ( m) 1 .
E
Movimiento
corriente
Hasta ahora, la nica corriente que se ha estudiado es la relacionada con el movimiento de cargas provocado por la presencia de un
campo elctrico externo E . Esta corriente se denomin corriente de
arrastre y su forma para electrones y huecos era
J p,arr = e p pE
(7.31a)
Jn,arr = en nE .
(7.31b)
FLML
123
d ( x )
,
dx
d ( x )
,
dx
(7.32)
donde D es el coeficiente de difusin caracterstico de cada tipo de proceso. El signo menos en la expresin anterior se aade para indicar
que el movimiento de las partculas se producir desde donde hay
ms concentracin hasta donde hay menos, es decir, en el sentido decreciente de la concentracin.
7.5.2.
Corriente de difusin
Apuntes de CF
124
p(x)
Movimiento
n(x)
corriente
(7.33a)
(7.33b)
siendo Dn y D p los coeficientes de difusin para e y h+ respectivamente. La densidad de corriente de difusin para electrones y huecos
se obtendr simplemente multiplicando la carga por el flujo de difusin de partculas por unidad de tiempo, por lo que
dp( x )
dp( x )
(7.34a)
= eD p
J p,dif ( x ) = (+e) D p
dx
dx
dn( x )
dn( x )
.
(7.34b)
= eDn
Jn,dif ( x ) = (e) Dn
dx
dx
Electrones y huecos se mueven en el mismo sentido si sus respectivas
concentraciones varan del mismo modo. En este caso, sus corrientes
de difusin resultan en sentidos opuestos.
Apuntes de CF
(7.35)
(7.36)
FLML
125
(7.37)
n(x)
p(x)
MOVIMIENTO
CORRIENTE
ARRASTRE
DIFUSIN
F IGURA 7.1: Sentido de las corrientes de difusin y de arrastre para electrones y huecos.
los portadores minoritarios pueden contribuir significativamente a la corriente total mediante procesos de difusin.
7.5.4.
Apuntes de CF
126
Semicond
Inhomog
I=0
A
Jp=Jp,d fi+Jp,arr
Jp,d fi
Ei
(7.39)
Apuntes de CF
FLML
127
Ei =
dV ( x )
,
dx
(7.41)
Jp,dif(x)
dV =
kB T 2
Jp,arr
Ei(x)
d lnp ,
V1
p2
kB T
ln
,
e
p1
(7.42)
V2
nes3 ,
n 1 p1 = n 2 p2 .
3 Notar que si p = p ( x ), esto implica que n = n ( x ) dado que donde hay mayor
concentracin de huecos, habr mayor recombinacin y por tanto esto afectar a la
concentracin de electrones.
FLML
Apuntes de CF
128
n( x ) p( x ) = n2i .
(7.45)
E JEMPLO 7.6 Una muestra de Si es dopada con tomos donadores de tal manera que Nd ( x ) = N0 exp( ax ). (a) Encuentre una expresin para el campo
interno supuesto que Nd ni . (b) Calcule el valor del campo si a = 1 (m) 1 .
(a) Partiendo de que Jn ( x ) = 0 y siguiendo un proceso anlogo al realizado en la seccin anterior, llegamos a que
Ei =
kB T d
ln n( x ) ,
e dx
Ei =
kB T
a.
e
7.6.
FLML
129
Desequilibrio estacionario
Existe accin externa pero tras cierto tiempo de transicin (usualmente muy pequeo) se alcanza una situacin en la que las variables del sistema permanecen constantes en el tiempo.
No equilibrio
Cuando las variables del sistema varan con el tiempo.
Ya se discuti en el Apartado 6.2 que, en un semiconductor en
equilibrio trmico, el proceso de generacin de portadores de carga era
interno (generacin trmica fundamentalmente), debindose cumplir
adems que la velocidad de generacin interna, Gint , fuese igual a la
velocidad de recombinacin, R, ver expresin (6.3).
Si existen acciones externas, adems de los procesos de generacin
interna, pueden darse otros procesos de generacin debidos a causas
externas, Gext : iluminacin, campos intensos aplicados, etc, que rompen la situacin de equilibrio. Si consideramos que, en estas situaciones de no equilibrio, todos los procesos de generacin/recombinacin
slo crean/destruyen pares de e /h+ , entonces es conveniente introducir el concepto de velocidad de recombinacin neta, U, que se define
como la diferencia entre la velocidad de recombinacin y la de generacin interna,
U = R Gint .
(7.46)
(Notemos que U nos informa bsicamente sobre los procesos internos, es decir, recombinacin y generacin interna de pares e /h+ ).
Dado que la accin externa provoca una descompensacin entre los
procesos de generacin y recombinacin, existir una variacin de las
concentraciones de portadores con el tiempo, que pueden expresarse
como
n
= Gn,ext U
(7.47a)
t gr
p
= G p,ext U .
(7.47b)
t gr
Teniendo en cuenta la expresin (6.1) para la velocidad de recombinacin, R, y que segn (6.3) Gint = Rint = r n2i , la velocidad de
recombinacin neta puede escribirse como
U = R Gint = r np r n2i = r (np n2i ) .
(7.48)
Apuntes de CF
130
n Concentracin de portadores
n0 Concent. portad. en equilibrio
n Concent. de port. en exceso
escribir que
n = n0 + n
(7.49a)
p = p0 + p .
(7.49b)
(7.50)
n n0
p p0
I NYECCIN DBIL
Semiconductor tipo n
Semiconductor tipo p
p
,
p
(7.51)
p
t
g r
p
t
g r
= G p,ext
p
.
p
(7.52)
FLML
131
2.
En consecuencia, para un semiconductor tipo n, la variacin temporal total de la concentracin de portadores minoritarios (huecos),
vendr dada por
p
p
p
=
+
(7.53)
t
t transp
t genrec
p
t
incremento neto
del nmero de
huecos por unidad
de tiempo en dV
p
t
+
transp
diferencia entre el
nmero de h +
entrando y saliendo
de dV en unidad tpo.
Gext
nmero de h +
generados en dV
en la unidad de tpo.
debido a accin ext.
velocidad de gener.
h+ en dV debido
a acciones externas
U [= R Gint ]
nmero de h +
recombinados en dV
en la unidad de tpo
velocidad de recomb.
neta de h+ en dV
La expresin anterior nos dira, por ejemplo, que si en dV se acumulan 3 h+ por unidad de volumen en la unidad de tiempo puede
ser debido a que han entrado 12, han salido 11, se han generado por
acciones externas 3, por acciones internas 1 y se han recombinado globalmente 2.
La variacin de la concentracin debida a la generacin/recombinacin de portadores fue analizada en el Apartado 7.6 donde se obtuvo en (7.52) para la concentracin de portadores minoritarios que
p
p
= G p,ext
.
t genrec
p
FLML
Apuntes de CF
132
p( x, t)
1 J p
p
=
+ G p,ext .
t
e x
p
(7.54)
+ Gn,ext .
t
e x
n
(7.55)
FLML
133
( p0 + p)
p
.
= eD p
x
x
(7.56)
(7.58)
x=0
Se mantiene un exceso de
portaores para todo x
En x=0 , d p(x=0) =D p
donde L p = D p p se conoce como longitud de difusin para huecos. (Ntese que las derivadas que aparecen en la ecuacin son totales).
Si, por ejemplo, se supone que un exceso de huecos son inyectados
en el semiconductor a travs de la superficie en x = 0, tal que p( x =
0) = p, al resolver (7.59) obtenemos que
p( x ) = Aex/L p + Be x/L p .
Dado que la solucin anterior no puede crecer para x , la constante A debe hacerse cero. Por otra parte, dado que
p( x = 0) p = B ,
tenemos finalmente que
FLML
Apuntes de CF
134
p(x)
p( x ) = p0 + p e x/L p .
D p
p0
x
(7.60)
Apuntes de CF
FLML
135
es n = 1500 cm2 /Vs, determinar su resistencia a 300 K demostrando que la contribucin de huecos es despreciable a la conductividad. Datos: p = 475 cm2 /(Vs);
n i = 1,45 1016 m3
Sol. R 66 .
7.10: A una barra de Ge de 10 cm de longitud y 2 cm2 de seccin se le aplica una
d.d.p. de 10 V entre sus extremos. Conociendo como datos la concentracin intrnseca
de portadores, n i = 2,36 1019 m3 , que n (300K) = 0,39 m2 /(Vs) y que p (300K) =
0,182 m2 /(Vs), determinar : a) la resistividad del Ge; b) la resistencia de la barra; c) la
velocidad de arrastre de electrones y huecos; y d) la corriente que circula por la barra.
Sol. (a) = 0,462 m; (b) R = 231,2 ; (c) vn = 39 m/s, v p = 18 m/s.
7.11: Una muestra de Ge tipo N posee una concentracin de impurezas donadoras
dada por ND = 1015 cm3 . Determinar la concentracin de electrones y huecos a 500
K sabiendo que la concentracin intrnseca viene dada por la expresin
n i = CT 3/2 exp( Eg /(2kT )) ,
siendo C = 1,91 1021 m3 K3/2 , Eg = 0,67 eV.
Sol. p = 8,34 1021 m3 , n = 9,34 1021 m3 ]
7.12: Una muestra de Si es dopada con 1017 tomos/cm3 de fsforo. a) Qu valor
tendr la resistividad del material?. b) Calcule la tensin Hall que se medira en una
muestra de 100 m de espesos recorrida por una corriente de 1 mA y sometida a un
campo magntico de 1 kG.
Sol.: a) = 0,0893 cm; b) |VH | = 62,5m.
7.13: Una muestra de Si a 300 K presenta dos niveles independientes de donadores
con densidades ND1 = 1 1016 cm3 y ND2 = 2 1016 cm3 , localizados a 100
meV y 200 meV por debajo del borde inferior de BC. Supuesta ionizacin total de los
donadores, obtenga la ecuacin de neutralidad de la carga para este caso y encuentre
el valor de la concentracin de electrones en BC. Cmo cambiar este valor si se
aaden impurezas aceptoras con una densidad de 0,9 1016 cm3 ?.
7.14: Una muestra intrnseca de InP es dopada con impurezas aceptoras desde un
lado de tal modo que obtenemos un perfil dado por N A (z) = NA (0)ebz , donde z
representa la coordenada en el interior de la muestra y N A (0) la concentracin en la
superficie. Adems se cumple que para z , N A n i , la concentracin intrnseca
de portadores. a) Calcule el perfil de dopado y encuentre una expresin para el campo
elctrico que se instaurara en equilibrio trmico si N A n i . b) Obtenga el valor del
campo elctrico si b = (2m) 1 .
FLML
Apuntes de CF
Captulo 8
Unin p-n
8.1. Introduccin
Las aplicaciones elctricas y pticas ms interesantes de los semiconductores surgen cuando se dopan regiones vecinas con distintos
tipos de impurezas. En este sentido, la mayora de los dispositivos semiconductores usados en Electrnica contienen al menos una unin
entre un material tipo p y uno tipo n. Las uniones p-n son fundamentales para la realizacin de funciones tales como la rectificacin, amplificacin y conmutacin tanto de seales electrnicas como optoelectrnicas. En consecuencia, podemos considerar a la unin p-n como el elemento bsico operativo de diversos componentes electrnicos
y optoelectrnicos como diodo rectificador, diodo Zener, diodo tnel,
transistor bipolar, fotodiodo, LDR, clula fotovoltaica, diodo LED, lser de inyeccin, etc.
Para el estudio de la unin p-n se usar un modelo simplificado
que es la unin abrupta. Esta unin no es en sentido estricto la que se
encuentra en los diversos dispositivos pero es suficientemente simple como para poder ser tratada cualitativa y cuantitativamente y, por
otro parte, es suficientemente realista como para ofrecer un comportamiento fsico muy prximo al que ocurre en las uniones difusas.
En principio estudiaremos la unin p-n en equilibrio (esto es, sin
accin externa) para despus analizar el efecto de una polarizacin
externa sobre la unin. En primer lugar estudiaremos este efecto desde un punto de vista cualitativo para posteriormente obtener las expresiones de las diversas corrientes. Es interesante sealar el enorme
cambio que se observa en la caracterstica I V de una unin p-n
respecto a la caracterstica de una muestra homognea de semiconductor dopado (que se comporta como una simple resistencia). Aparecen nuevos efectos fsicos relacionados con la unin que abren muchas
posibilidades al diseo de nuevos y eficaces dispositivos.
Una vez realizado el estudio bsico de las corrientes de la unin,
137
138
estudiaremos tambin su comportamiento optoelectrnico con el objetivo de aplicarlo al anlisis de diversos componentes como el diodo
LED y el diodo lser.
NA
S
Semiconductor
Intrnseco
| Jarrastre | = | Jdifusin | .
Los h+ que viajan desde p n provienen mayoritariamente de la
ionizacin de las impurezas aceptoras en el lado p y, anlogamente,
los e desde p n , de la ionizacin de las impurezas donadoras en
el lado n. Tal como muestra la Fig. 8.1, este desplazamiento de portadores de carga, dejando tras de s un defecto de carga fija, provoca
la aparicin de una regin de carga neta en las proximidades de la
unin. Esta regin de carga neta, o regin de carga espacial/regin
de transicin, est compuesta por cierta cantidad de cargas negativas
fijas en el lado p y la misma cantidad de cargas positivas en el lado
n. El campo electrosttico interno se genera debido a la aparicin de
estas cargas y es importante sealar que
FLML
139
acompaado de la aparicin de una diferencia de potencial correspondiente, de tal modo que el potencial toma un valor Vn en la zona neutra
n y Vp en la zona neutra p; siendo su diferencia V0 = Vn Vp conocida
como potencial de contacto1 .
El clculo del potencial de contacto puede realizarse, por ejemplo,
siguiendo la expresin (7.42), que nos deca que
V21 =
p2
kT
ln
q
p1
V21 Vn Vp = V0
y
p2 pn0 ,
FLML
Apuntes de CF
140
reescribirse como
V0 =
p p0
kT
ln
.
q
pn0
(8.1)
n2i
,
ND
pn0
V0 =
NA ND
kT
ln
.
q
n2i
(8.2)
(8.3)
qV0
exp
kT
EFp EV p
= exp
kT
EFn EVn
exp
kT
,
Apuntes de CF
EV p EVn = qV0 .
(8.4)
141
la carga espacial de la regin de transicin puede considerarse debida nicamente a las impurezas donadoras/aceptoras fijas ionizadas.
Consideraremos, por tanto, que no hay portadores de carga libres
en esta regin. El clculo de la carga neta en ambos lados de la regin
de transicin debe tener slo en cuenta la concentracin de impurezas
ionizadas, esto es,
Q(+) = qND Sxn0
Q() = qNA Sx p0 .
w
Zona
Neutra
Zona
Neutra
n
-xp0
xn0
(8.5)
ND xn0 = NA x p0 .
(8.6)
y por tanto
Esta expresin nos dice que las distancias de las zonas de carga espacial positiva y negativa son las mismas nicamente si ND = NA .
A medida que la concentracin de impurezas en una de estas zonas
aumente, la longitud de esta zona disminuye.
Si la anchura de la zona de carga espacial se denomina
w = xn0 + x p0 ,
(8.7)
FLML
N N
kT
ln A 2 D 0,85 V .
q
ni
Apuntes de CF
142
1
1
+ 22
10
4 1024
1/2
0,334 m .
x p0 = 8,3 .
0 < x < x n0
x p0 < x < 0 .
E0 =
Apuntes de CF
1,6 10 19
= 5,1 106 V/m .
(12)(8,85 10 12 )(1022 )(3,33 10 5 )
FLML
143
Semiconductor
dopado
(a)
(b)
Apuntes de CF
144
FLML
145
(b)
Polarizacin directa
(V=Vf )
(c)
Polarizacin inversa
(V= -Vr )
Vr
Vf
w
n
(V0 -Vf )
Vn
V0
(V0+Vr)
Vp
q(V0 -Vf)
ECp
qV0
EFp
ECn
EFn
q(V0+Vr)
qVf
EVp
EVn
Flujo de
patculas
Corriente
Flujo de
patculas
Corriente
Flujo de
patculas
Corriente
(1) Difusin huecos
(2) Arrastre huecos
(3) Difusin electrones
(4) Arrastre electrones
(1)
(2)
(3)
(4)
F IGURA 8.3: Efecto de la polarizacin externa sobre la unin p-n.
Apuntes de CF
146
las corrientes de arrastre son relativamente insensibles a las variaciones en la altura de la barrera de
potencial.
El hecho de que la corriente de arrastre en la unin sea despreciable respecto a la difusin en la unin puede entenderse si notamos que dicha corriente de arrastre proviene de los portadores minoritarios que llegan a la regin de transicin y que son
barridos por el campo en esta regin. En concreto, esta corriente
estar mantenida por e que viajan desde p n y por h + de
p n (por ejemplo, electrones del lado p que por difusin aparecen en la regin de transicin y son barridos por el campo llegando a la zona n). Dado que la concentracin de portadores minoritarios proviene de la generacin de pares e /h+ (en el presente caso nicamente por efecto de la excitacin trmica) y sta
no se ve afectada por el potencial externo aplicado, puede deducirse que esta corriente de minoritarios depende bsicamente de
la velocidad de generacin de pares e /h+ en las zonas respectivas y apenas del voltaje exterior2 . Por este motivo, esta corriente
de arrastre de minoritarios tambin se conoce como corriente de
generacin.
2 Este
hecho tambin puede verse como que el campo es capaz de barrer todos los
portadores minoritarios que llegan a la unin y el ritmo de aparicin de estos porta-
Apuntes de CF
FLML
147
Corriente Total.
La Fig. 8.3 muestra que la corriente total es la suma de las corrientes de difusin, que se producen desde p n , ms las de arrastre, cuyo sentido es desde p n . Dado que ambas corrientes
han sido analizadas anteriormente, tendremos para la corriente
total que
Polarizacin inversa:
Corriente de difusin disminuye considerablemente (se hace prcticamente despreciable). La nica corriente que queda es la relativamente pequea corriente de generacin en
el sentido p n .
Polarizacin directa:
La corriente de difusin (p n ) es ahora claramente favorecida mientras que la corriente de arrastre (p n ) apenas vara. Esto da lugar a un incremento considerable de la
corriente total en el sentido p n .
Ntese que la corriente de difusin en polarizacin directa puede crecer indefinidamente mientras que esta corriente en polarizacin inversa slo puede disminuir hasta hacerse nula.
(8.10)
FLML
Apuntes de CF
148
(8.11)
La expresin anterior nos indica que la concentracin de minoritarios sufre un fuerte incremento (exponencial) en polarizacin directa
respecto a la que exista en equilibrio. En polarizacin inversa (V < 0),
la concentracin sufrira igualmente una disminucin muy considerable. Dado que hemos comprobado que un voltaje aplicado, V, incrementa la probabilidad de que un portador se pueda difundir a travs
de la unin en un factor dado por exp(qV/kT ), esto nos permite suponer que la corriente de difusin presentar similarmente una dependencia con respecto al voltaje aplicado del tipo
Idif = I0,dif eqV/kT
(8.12)
(lo que en ltima instancia provoca que el diodo presente un comportamiento claramente no recproco en su caracterstica I V, tal como
muestra la Fig. 8.2).
Puesto que en equilibrio (V = 0) la corriente total es cero debido a
que la corriente de difusin (I0,dif ) y la de generacin (Igen ) se cancelan,
encontramos que
I (V = 0) = I0,dif | Igen | = 0 ,
(8.13)
(8.14)
I = I0 eqV/kT 1 .
(8.15)
(8.16)
FLML
149
(8.17)
pn = pn ( xn0 ) pn0 = pn0 eqV/kT 1
y similarmente para e en el lado p,
n p = n p0 eqV/kT 1 .
(8.18)
Esta situacin de inyeccin constante de minoritarios fue ya estudiada en el Apartado 7.7.2, donde vimos que daba lugar a una difusin de estos minoritarios hasta que se recombinaban. Para el presente
cado tendremos que
pn ( xn ) = pn e xn /L p = pn0 (eqV/kT 1)e xn /L p
n p ( x p ) = n p e
x p /Ln
= n p0 (e
qV/kT
1)e
x p /Ln
(8.19a)
, (8.19b)
-xpo
n
n(xp)
p(xn)
npo
xp
xno
pno
o
xn
Apuntes de CF
150
Dp
dpn ( xn )
= qS
pn ( xn ) ,
dxn
Lp
(8.20)
qSD p
qSD p
pn =
pn0 eqV/kT 1 .
Lp
Lp
(8.21)
Anlogamente, la corriente de electrones inyectada en el lado p ser
I p ( xn = 0) I pdif ( xn = 0) =
In ( x p = 0) =
qSDn
n p0 eqV/kT 1 .
Ln
(8.22)
Si se supone despreciable la recombinacin en la regin de transicin, los e que se inyectan al lado p (x p = 0) deben haber atravesado
la superficie situada en xn = 0. Debido a este hecho, la corriente total
que cruza la unin en xn = 0 puede escribirse como
I = I p ( xn = 0) + In ( x p = 0)
Dp
Dn
pn0 +
n p0
eqV/kT 1 .
= qS
Lp
Ln
Dado que la corriente total debe ser constante a travs del dispositivo
(al no haber generacin ni acumulacin de carga neta), la expresin
anterior nos proporciona justamente la corriente total para cada punto
de la unin p-n,
I = I0 eqV/kT 1 ,
(8.23)
donde I0 se conoce como corriente inversa de saturacin y tiene por valor
I0 = qS
Dp
Dn
pn0 +
n p0
Lp
Ln
.
FLML
151
I
In(xn)
qSD p
I p ( xn ) =
pn e xn /L p .
Lp
(8.24)
Ip(xn)
xn
Corrientes en la zona neutra n
+
de una unin p -n
(8.25)
FLML
Apuntes de CF
152
BC
BC
Eg
m
Transicin
Directa
m
Transicin
Indirecta
Eg
k
M
BV
BV
(a)
(b)
h
.
2a
= 10
,
pmax
que nos indica que las diferencias de momento requeridas en una transicin indirecta no pueden ser satisfechas nicamente por la participacin de un fotn ptico. Debemos admitir entonces que la transicin
anterior debe realizarse con la participacin conjunta de otro proceso que proporcione la cantidad de momento requerido (en concreto,
participa un fonn, que puede verse como una oscilacin colectiva de
la red). Por el contrario, en el caso de una transicin directa, los pequeos cambios de momento requeridos en el proceso s pueden ser
satisfechos nicamente por un fotn.
Apuntes de CF
FLML
153
Tal como se ha venido discutiendo en este tema, en la zona de transicin de una unin p-n se igualan los niveles de Fermi de ambas regiones dando lugar a un potencial de contacto, segn se muestra en la
Figura 8.6(a). Si la anterior unin p-n se somete ahora a una fuente de
tipo p
tipo n
tipo p
tipo n
BC
BC
EFn
Ec
EF
qV
EFp
BV
BV
Ev
(b)
(a)
tensin externa de modo que eleva el potencial del lado p con respecto al del lado n, lo que se denomina polarizacin directa, el esquema
energtico resultante puede verse en la Figura 8.6(b). En esta situacin,
los electrones del lado n se desplazarn hacia el lado p y anlogamente
huecos del lado p viajarn hacia el lado n. En consecuencia, electrones
y huecos se encontrarn en la misma regin espacial, siendo posible
su recombinacin mediante las transiciones directas/indirectas que
antes se mencionaron (ver Figura 8.7).
ENERGA LIBERADA EN
LA RECOMBINACIN
Tipo n
RECOMBINACIN DE
ELECTRONES Y HUECOS
+
Tipo p
REGIN DE
TRANSICIN
FLUJO NETO
DE ELECTRONES
+
F IGURA 8.7: Flujo de portadores en un diodo semiconductor polarizado direc-
tamente.
Apuntes de CF
154
tipo n
tipo n
tipo p
BC
EFn
BC
tipo p
eV
EF
EC
EFp
BV
BV
EV
(a)
Estados electrnicos
llenos a T=0K
(b)
FLML
155
La recombinacin de portadores ms probable en un semiconductor que forma una unin p-n se produce cuando electrones y huecos
se encuentran en la misma regin espacial. Segn se ver ms adelante, para densidades de corriente moderadas, la radiacin emitida tiene
caractersticas de emisin espontnea y nicamente a partir de cierta
intensidad umbral, IU , se producir emisin estimulada.
Dado que los procesos de emisin y absorcin mediante recombinacin o generacin de pares e /h+ pueden considerarse como procesos de interaccin luz-materia, para que exista accin lser la cuestin es la siguiente:
Bajo qu condiciones la razn de emisin estimulada supera a la absorcin en una unin p-n en polarizacin directa?
Dado que los procesos de interaccin radiacin-semiconductor ocurrirn predominantemente en la regin de transicin, los procesos involucrados se suponen asociados a transiciones entre un grupo de niveles del borde inferior de la Banda de Conduccin y un grupo de
niveles del borde superior de la Banda de Valencia (ver Figura 8.9).
REGIN DE
TRANSICIN
Niveles
electrnicos
ocupados
BC
tipo n
Inversin de poblacin
entre estos 2 grupos
de niveles
tipo p
BV
NIVEL LASER
SUPERIOR
Niveles
electrnicos
vacos
NIVEL LASER
INFERIOR
F IGURA 8.9: Niveles involucrados en la accin laser de una regin de transicin de una unin p-n degenerada.
2.
FLML
Apuntes de CF
156
3.
o bien
f c (1 f v )
(8.26)
(8.27)
Para que el ritmo de emisin estimulada supere a la absorcin deber ocurrir que f c (1 f v ) > f v (1 f c ), que puede expresarse simplemente como
(8.28)
f c ( E2 ) > f v ( E1 ) ,
esto es, la probabilidad de ocupacin en el nivel de energa E2 en BC debe
ser mayor que la del estado E1 en BV (ntese que esto nunca podra
ocurrir en un semiconductor homogneo intrnseco o extrnseco con
cualquier nivel de dopaje ni tampoco en una unin p-n en equilibrio).
Dado que el tiempo de vida medio de los portadores es mucho
mayor que el tiempo en que los electrones/huecos en ambas bandas
alcanzan el equilibrio trmico, se supone que la probabilidad de ocupacin de los niveles energticos correspondiente a los electrones o
huecos inyectados en la regin de transicin viene descrita por la estadstica de FermiDirac y por tanto
E1 EFp
E2 EFn
1
1
y
f v = 1 + exp
.
f c = 1 + exp
kT
kT
En vista de la anterior expresin, la condicin (8.28) viene dada por
E1 EFp
E2 EFn
(8.29)
< exp
exp
kT
kT
que puede reducirse a
EFn EFp > E2 E1 .
Apuntes de CF
(8.30)
FLML
157
(8.31)
2.
3.
El semiconductor debe ser directo (para que las posibles recombinaciones electrnhueco se realicen con la mayor probabilidad
de emisin de fotones).
Apuntes de CF
158
van encaminadas a reducir esta corriente umbral y as asegurar funcionamientos muy duraderos a temperatura ambiente.
Regin activa
Haz lser
Cara Reflectiva
Regin de
Transicin
Cara de salida
parcialmente
reflectante
Sustrato
plano de la unin, proviene de los bordes pulidos del cristal semiconductor que actan como espejos debido al alto ndice de refraccin de
los semiconductores ( 3 4), que hace que estas caras pulidas reflejen aproximadamente el 30 % de la luz incidente.
Una de las caractersticas ms determinantes en las propiedades
del lser semiconductor es la estructura de las capas adyacentes a la
capa activa (regin de transicin donde se realiza la accin lser). En
los primeros diodos lser, todas las capas estaban construidas sobre
la base del mismo material y por tanto se denominan homoestructuras. Posteriores desarrollos llevaron a la realizacin de lseres semiApuntes de CF
FLML
159
PERFIL DEL
CONFINAMIENTO
NDICE DE
REFRACCIN
P-GaAs
GaAs
Capa Activa
N-GaAs
Lser de Homounin
Heterouniones
P-GaAlAs
GaAs
Capa Activa
N-GaAlAs
N-GaAs
Apuntes de CF
160
Aislante
0.2m m
GaAs
Regin activa
n-Ga1-zAlzAs
n-Ga1-yAlyAs
3m m
Contacto
Sustrato
n-GaAs
Pozos cunticos
Un tipo de confinamiento distinto basado en fenmenos cunticos se ha conseguido mediante el uso de capas de material muy finas
( 10 nm) que se comportan respecto a los electrones como un pozo cuntico. La idea bsica del pozo cuntico se consigue al intercalar
una capa muy fina con una banda prohibida de anchura pequea entre
capas gruesas con anchuras de banda prohibida mayores. Los electrones que pasan por esta configuracin de bandas pueden ser capturados en el pozo cuntico. Estos electrones capturados tienen suficiente
energa para permanecer en la Banda de Conduccin del material que
forma la fina capa de pequea anchura de banda prohibida, pero no
para entrar en la capa de mayor anchura de banda prohibida.
Si los pozos cunticos se colocan en una unin p-n de un diodo
lser, permiten concentrar en capas muy finas los electrones y huecos,
consiguiendo una eficaz recombinacin de stos que disminuye considerablemente la intensidad umbral. Adems, dado que las capas de
confinamiento tienen diferentes ndices de refraccin, tambin posibilitan el confinamiento de luz.
Longitud de onda
En general, los medios activos de los diodos lser presentan altas
ganancias, de forma que no se requieren muchas oscilaciones en la cavidad resonante para producir accin lser. Dado que tpicamente la
regin que acta de cavidad tiene una longitud de 300 500m, los
modos resonantes de esta cavidad estn ms separados que en otros
lseres (cuyas cavidades resonantes son al menos de 1030 cm) y
Apuntes de CF
FLML
161
Modulacin
Segn puede observarse en la Figura 8.10, la salida ptica del diodo lser depende linealmente de la corriente que circula a travs de
ste. Esta simple dependencia lineal hace que la modulacin del haz
pueda conseguirse modulando directamente la corriente de alimentacin, constituyendo este hecho una de las principales ventajas de los
lseres de inyeccin. Dado que la respuesta de la salida ptica a las
variaciones de la corriente de alimentacin es muy rpida, se consiguen anchuras de banda tpicas en la modulacin del orden de los
Gigahertzios.
Apuntes de CF
162
FLML
Detector
Luz reflejada
163
Bits de datos
Disco ptico
Lente de
focalizacin
Luz enfocada sobre
la marca que se lee
focalizada sobre una diminuta regin de un disco que gira rpidamente. La superficie del disco est cubierta con minsculas partculas, con
diferente reflectividad que el fondo del disco, de acuerdo a un cierto
patrn de bits de datos. La luz lser reflejada por el disco es enfocada
sobre un detector que genera una seal elctrica en forma de una serie
de pulsos correspondientes al patron de datos registrado en el disco.
Debido a que el haz del diodo lser puede ser enfocado sobre una
regin que cubre aproximadamente un dimetro de una longitud de
onda, esto significa que el uso de diodos lser de = 780 nm permite
que cada una de las marcas del disco debe cubrir aproximadamente
1 m2 . De este modo, un CD-ROM de 12 cm de dimetro permite almacenar 600 MBytes, incrementndose considerablemente la densidad de almacenamiento de datos con respecto a los anteriores discos
magnticos. La focalizacin a distinta profundidad permite igualmente el uso de discos pticos multicapas, dando as lugar a un incremento
adicional muy importante de la cantidad de informacin que se puede
almacenar.
Dado que los diodos lser son muy pequeos y pueden ser montados en la cabeza lectora, esto permite un acceso a la informacin
muy rpido (si se dispone de un software de control adecuado) con
independencia de donde est localizada en el disco. Por otra parte, los
diodos lser requieren poca potencia para su funcionamiento, siendo
adems esta potencia del mismo orden que la que se usa en los dispositivos electrnicos, aumentando as la compatibilidad entre la parte
electrnica y la ptica.
FLML
Apuntes de CF
164
Campo magnetizante
sobre el rea caliente
Electroimn
F IGURA 8.15: Esquema de grabacin de un disco magnetoptico.
Apuntes de CF
FLML
165
Corriente de
alimentacin
TRANSMISOR
DIODO
LSER
Seal
elctrica
Seal de
pulsos de
salida
DETECTOR
ELECTRNICA DE
DECODIFICACIN
seal que alcanza el transmisor genera una corriente que pasa a travs
de un lser semiconductor. La seal es una serie de pulsos elctricos
que genera una correspondiente serie de pulsos luminosos en el diodo
lser. El lser emite los pulsos directamente al ncleo de la fibra ptica,
siendo transmitida por sta (hasta 104 km) a un receptor lejano. All,
un detector de luz convierte los pulsos luminosos en pulsos elctricos.
FLML
Apuntes de CF
166
8.2: Compare los valores del potencial de contacto del problema anterior para el Si
con los que se obtendran en uniones hechas en Ge y GaAs con los mismos niveles de
dopaje.
8.3: La corriente a travs de una unin p-n a 300 K es 0.01 A para una polarizacin
inversa de 10 V. Calcule el valor de la corriente a travs de la unin para polarizaciones directas de (a) 0.1 V, (b) 0.3 V, y (c) 0.5 V.
8.4: Teniendo en cuenta que la corriente de saturacin inversa debe ser lo ms pequea posible en una unin p-n ideal qu material es ms adecuado para la fabricacin
de uniones p-n?. Eg (Si) = 1,1 eV.
8.5: La corriente de saturacin inversa para una unin p-n es I0 = 5 109 A. Para
una polarizacin directa de 0.45 V, (a) calcule la corriente a travs de la unin a T =
27o C; (b) si el voltaje a travs de la unin se supone constante e I0 no cambia con la
temperatura, cul es la corriente a travs de la unin a T = 47o C?.
Sol. (a): 0.18 A, (b) 0.06 A.
8.6: Una unin p+ -n en Si est dopada con Nd = 1016 cm3 , siendo D p = 10 cm2 /s,
p = 0,1 m y el rea de la unin S = 104 cm2 . Calcule la corriente de saturacin
inversa y la corriente directa cuando V = 0,6 V.
Apuntes de CF
FLML
Apndice A
Constantes fundamentales
Constante de Planck:
h=
6,626 1034 Js
4,136 1015 eVs
Velocidad de la luz:
c=
me =
9,109 1031 kg
e=
1,602 1019 C
mp =
1,673 1027 kg
Nmero de Avogadro:
NA =
kB =
Constante de Boltzmann:
167
Apndice B
(B.1)
2m0 Ec
h
Ec
1+
2m0 c2
1/2 .
(B.5)
170
es decir, si la velocidad de la partcula, v, es mucho menor que la velocidad de la luz (v2 c2 ), entonces la masa de la partcula puede
igualarse a su masa en reposo,
m m0 ,
y las expresiones (B.4) y (B.5) pueden simplificarse en
p = 2mEc = mv .
(B.6)
y
=
Apuntes de CF
h
.
2mEc
(B.7)
FLML
Apndice C
Promedios estadsticos
C.1. Sistemas Discretos
Sea un sistema discreto compuesto de NTotal = 18 alumnos. Supngase que la distribucin de notas ha sido la siguiente: un alumno ha
obtenido un uno, N1 = 1, un alumno ha obtenido un dos, N2 = 1,
N3 = 2, N4 = 0, N5 = 4, N6 = 2, N7 = 3, N8 = 1, N9 = 4, N10 = 0.
Cada Ni puede reinterpretarse como una medida de la probabilidad
de que un alumno de este colectivo obtenga una determinada nota.
Una representacin grfica de esta distribucin se representa a continuacin
0
0
10
Calificacin (C)
Dado que 10
i =1 Ni = NTotal , la probabilidad de obtener una determinada nota vendr dada por
ni =
Ni
,
NTotal
(C.1)
172
C =
10
i =1 Ni Ci
=
10
i =1 Ni
10
n i Ci .
(C.2)
i =1
F =
C.2.
10
n i F ( Ci ) .
(C.3)
i =1
Sistemas Continuos
dx .
( x ) dx = 1 .
(C.4)
x =
x ( x ) dx .
(C.5)
f ( x ) =
Apuntes de CF
f ( x ) ( x ) dx .
(C.6)
FLML
Apndice D
Propiedades de algunos
materiales semiconductores
Para el silicio (Si), germanio (Ge) y arsenuro de galio (GaAs) a
T = 300 K, encontramos que
Si
Ge
GaAs
Eg
(eV)
1.11
0.67
1.43
me /me
mh /me
1.1
0.55
0.067
0.56
0.37
048
n
(cm2 /Vs)
1350
3900
8500
173
p
(cm2 /Vs)
480
1900
400
Apndice E
y, anlogamente,
1 2 g1 f1 g2 (1 f2 )
(E.1)
2 1 g2 f2 g1 (1 f1 ) .
(E.2)
(E.3)
(E.4)
y dado que g1 = g2 (puesto que estas magnitudes dependen directamente de las caractersticas de los metales), la igualdad anterior exige
que
(E.5)
f 1 ( E) = f 2 ( E) ,
y por tanto
E E F1
1 + exp
kB T
1
E E F2
= 1 + exp
kB T
175
1
.
(E.6)
176
Para que se satisfaga la igualdad anterior para cualquier valor de energa, E, debe ocurrir que
EF1 = EF2 ,
lo que implica que no existe ninguna discontinuidad en el nivel de
Fermi en equilibrio. De forma ms general, esta propiedad puede establecerse como la inexistencia de gradiente en el nivel de Fermi en
equilibrio,
dE F
=0 .
(E.7)
dx
Apuntes de CF
FLML